CN101545946A - 用于产品可靠性测试板的跳线板 - Google Patents
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Abstract
本发明揭露了一种用于产品可靠性测试板的跳线板,其将针对不同产品的走线整合到不同的跳线板上,以于不同产品测试中为测试板配置不同的跳线板,避免了多次插拔电阻所带来的问题,提高了产品测试效率。该跳线板包括:一板体,整合有与测试板的连线区相对应的信号走线与多条连接跳线;多个针脚,以***测试板的连线区,其中当针脚***连线区时,板体的信号走线与测试板连线区的走线通过针脚电性连接且连接跳线接通电偏压信号与测试芯片的测试引脚。
Description
技术领域
本发明涉及一种产品可靠性测试用板,特别是涉及一种用于产品可靠性测试板的跳线板。
背景技术
产品可靠性测试中往往需使用对应的测试板,例如在高速加温和加湿的应力试验(HAST,Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test)中,需要用到HAST板。其通常由放置测试芯片用的测试座与相应的印刷电路板(PCB)组成。于测试中,将待测试产品(芯片)置于HAST板的测试座中,再将HAST板与机台内的扩展板(Extension Board)相连,电偏压(Electric Bias)便可以加到测试产品的引脚上。
然而测试的产品种类不一,例如包括静态随机存储器(SRAM)和动态随机存储器(DRAM)以及Nand和Nor规格的闪存等,即使它们封装类型相同,但信号和电源引脚的分布位置却不相同,为此HAST板上设有电阻连接区域,以供插接电阻,而将引脚连接到相应的通道上。然而每对一种产品进行HAST的环境测试,就需要重新配置电阻连线而需要多次插拔电阻;如此将花费大量的时间和人力,对于测试效率的提高非常不利,甚至延误产品的测试周期,同时很容易出错。
故,现有HAST测试中存在如下缺点:
1.不能灵活应用,不同的产品需要用到不同的连线,所以每做一次HAST测试就需要重新用电阻改变板子的连线以适应不同的产品。
2.效率低下,同一HAST板要用于不同产品,需花费大量时间来改造,重复劳动较多。
3.改造伴随着较高风险,有可能接错线,造成测试样品的损坏,更有可能造成HAST板的损坏。
4.更换产品时插拔式电阻的可靠性也存在问题,接触可能不够良好。
5.可能影响到信号质量和HAST板性能。
同样的问题也存在于其他产品可靠性测试中,如:温湿偏置(THB,Temperature Humidity Bias)测试。为此,如何提高可靠性测试的效率,已成为业界一重要问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于产品可靠性测试板的跳线板,以解决现有技术中效率低下的问题。
本发明的另一目的在于提供一种产品可靠性测试板,以解决现有技术中效率低下的问题。
为此,本发明提供一种跳线板,用于产品可靠性测试板,该测试板包括电性连接的测试区与连线区,其中测试区用以放置测试芯片,连线区用以插置跳线板,且连线区具有多条走线且外接有一电偏压信号,该跳线板包括:一板体,整合有与连线区相对应的信号走线与多条连接跳线;多个针脚,以***上述连线区,其中当针脚***连线区时,板体的信号走线与测试板连线区的走线通过针脚电性连接且连接跳线接通上述电偏压信号与测试芯片的测试引脚。
进一步的,上述连接跳线为电阻。
进一步的,上述板体具有多个插孔,分别电性连接于上述多个针脚。
进一步的,上述连接跳线连接于上述两插孔之间。
本发明另提供一种产品可靠性测试板,包括:一测试区,以放置测试芯片;一连线区,具有多条走线,该连线区电性连接上述测试区且外接有一电偏压信号;一跳线板,插置于上述连线区,其包括:一板体,整合有与连线区相对应的信号走线与多条连接跳线;多个针脚,以***上述连线区,其中当针脚***连线区时,板体的信号走线与测试板连线区的走线通过针脚电性连接且连接跳线接通上述电偏压信号与测试芯片的测试引脚。
进一步的,测试区放置不同的测试芯片时,连线区插置具有不同连接跳线布局的跳线板。
进一步的,上述连接跳线为电阻。
进一步的,上述板体具有多个插孔,分别电性连接于上述多个针脚。
进一步的,上述连接跳线连接于上述两插孔之间。
进一步的,上述连线区具有多个孔座,以插置上述跳线板。
综上所述,本发明在不改变原有测试板的基础上,于其上增加了可插拔的跳线板,且跳线板已经针对不同的产品做好与之匹配的连线方式。故每对一种产品做测试时,只需选用相应的跳线板,而不需要每次插拔电阻。如此,配置灵活,即插即用,更避免了跳错线的风险,而极大的提供了产品测试的效率。
附图说明
图1为产品可靠性测试中用到的HAST板的示意图;
图2为本发明一实施例所提供的跳线板的俯视图;
图3为本发明一实施例所提供的跳线板的侧视图。
具体实施方式
为使本发明的目的、特征更明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步的说明。
为方便说明,此处仍以高速加温和加湿的应力试验(HAST,Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test)中用到的HAST板为例,然而本发明并不以此为限,本领域的技术人员可据此提示将其用到其他具有相似结构的测试板(例如THB板)中。由背景技术的描述中可以知道,已知的HAST板存在一些弊端,然而HAST的制造成本昂贵。故考虑到成本,本发明在不改变原有HAST板的基础上,为其配备了针对不同产品的跳线板,以实现HAST板的灵活使用。
请参考图1,其为产品可靠性测试中用到的HAST板的示意图。该测试板10包括电性连接的测试区12与连线区14,其中测试区包括多个测试座122以放置测试芯片,连线区具有电偏压信号端PS以外接电偏压信号以及接地端GN,且可插置跳线板。
跳线板的结构请参考图2与图3,其分别为本发明一实施例所提供的跳线板的俯视图与侧视图。该跳线板20包括板体22与多个针脚26,以通过针脚26***测试板10的连线区14。板体22与连线区14内整合有相对应的信号走线且板体22上整合有多条连接跳线28。当针脚26***连线区14时,其电性连接板体22的信号走线与测试板连线区14的走线且连接跳线28接通电偏压信号与测试芯片的测试引脚。其中连接跳线28为电阻,且板体上具有多个与针脚电性连接的插孔24,连接跳线28便可以插接于两插孔24之间。另外,连线区14上具有多个孔座142,以供跳线板20的针脚26***。
如图1,电偏压信号加到测试板10的电偏压信号端PS后,通过测试板内部走线与孔座142中的PS1端接通,当跳线板20***测试板10时,通过针脚该电偏压信号便连接至插孔24的PS1端而加至连接跳线28的一端,而连接跳线28另一端***插孔24的DUT Pin端,如此便通过针脚连接到连线区14的DUTPin端,而连线区14的DUT Pin端通过测试板10的内部走线连接于测试芯片的测试引脚。如此,电偏压信号便可以加至测试芯片的测试引脚上。在本实施例中,该测试板10具有两个电偏压信号端PS,可外接两种电偏压信号故相应的孔座142与插孔24具有PS1与PS2端。
通过配置跳线板,本发明具有如下优点:
1.同一块测试板可以兼容相同封装的不同产品。
2.设计简单,可以重复利用,节约大量成本。
3.配置灵活,只需要转换相应的跳线板就可以为其他产品做测试。可以省去后续做其他产品测试时,重新一一电阻跳线的时间,大大提高测试效率并且节省了大量人力。
4.跳线板简单易行,不需要对板子进行修改,相应延长了板子的使用寿命。
5.提高连接的可靠性,将误操作风险降低到零。
以上仅为举例,并非用以限定本发明,本发明的保护范围应当以权利要求书所涵盖的范围为准。
Claims (10)
1.一种用于产品可靠性测试板的跳线板,其中上述测试板包括电性连接的测试区与连线区,其中测试区用以放置测试芯片,连线区用以插置跳线板,且连线区具有多条走线且外接有一电偏压信号,其特征是,该跳线板包括:
一板体,整合有与连线区相对应的信号走线与多条连接跳线;
多个针脚,以***上述连线区,
其中当针脚***连线区时,板体的信号走线与测试板连线区的走线通过针脚电性连接且连接跳线接通上述电偏压信号与测试芯片的测试引脚。
2.根据权利要求1所述的用于产品可靠性测试板的跳线板,其特征是,其中上述连接跳线为电阻。
3.根据权利要求1所述的用于产品可靠性测试板的跳线板,其特征是,其中上述板体具有多个插孔,分别电性连接于上述多个针脚。
4.根据权利要求3所述的用于产品可靠性测试板的跳线板,其特征是,其中上述连接跳线连接于上述两插孔之间。
5.一种产品可靠性测试板,其特征是,包括:
一测试区,以放置测试芯片;
一连线区,具有多条走线,该连线区电性连接上述测试区且外接有一电偏压信号;
一跳线板,插置于上述连线区,其包括:
一板体,整合有与连线区相对应的信号走线与多条连接跳线;
多个针脚,以***上述连线区,
其中当针脚***连线区时,板体的信号走线与测试板连线区的走线通过针脚电性连接且连接跳线接通上述电偏压信号与测试芯片的测试引脚。
6.根据权利要求5所述的产品可靠性测试板,其特征是,其中测试区放置不同的测试芯片时,连线区插置具有不同连接跳线布局的跳线板。
7.跟据权利要求5所述的产品可靠性测试板,其特征是,其中上述连接跳线为电阻。
8.根据权利要求5所述的产品可靠性测试板,其特征是,其中上述板体具有多个插孔,分别电性连接于上述多个针脚。
9.根据权利要求8所述的产品可靠性测试板,其特征是,其中上述连接跳线连接于上述两插孔之间。
10.根据权利要求5所述的产品可靠性测试板,其特征是,其中上述连线区具有多个孔座,以插置上述跳线板。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN200810035090A CN101545946A (zh) | 2008-03-25 | 2008-03-25 | 用于产品可靠性测试板的跳线板 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN200810035090A CN101545946A (zh) | 2008-03-25 | 2008-03-25 | 用于产品可靠性测试板的跳线板 |
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Publication Number | Publication Date |
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Family
ID=41193192
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN200810035090A Pending CN101545946A (zh) | 2008-03-25 | 2008-03-25 | 用于产品可靠性测试板的跳线板 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN101545946A (zh) |
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