CN101526582A - 边界扫描测试向量生成方法 - Google Patents
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Abstract
本发明揭示了一种边界扫描测试向量生成方法,其是通过整合被测装置的测试信息,而生成测试向量;具体步骤如下:a.提取测试信息;b.分析测试信息,生成测试向量矩阵;该种向量矩阵可为单个测试向量矩阵及网络互连测试向量矩阵,分别可进行单个装置自身测试及互联网络测试;本方法是通过整合被测装置的测试信息,而生成测试向量;通过本方法可方便生成测试向量及提取诊断所需信息,同时生成的测试向量可使检测较完备、操作更简便。
Description
技术领域
本发明涉及到一种测试向量生成方法,特别是涉及到一种边界扫描测试向量生成方法。
背景技术
对电路板上故障的检测,通常是采用探针、针床等传统检测设备进行测试。随着集成电路的发展进入超大规模集成电路时代,电路板的高度复杂性以及多层印制板、表面封装(SMT)、球栅阵列(BGA)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块(MCM)技术在电路***中的适用,使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至消失,电路和***的可测试性急剧下降。由于电路板的集成度越来越大,可供测试的结点间距离越来越小,有的甚至完全成为隐性结点,在这种情况下,如果只采用探针、针床等传统测试设备进行芯片故障测试就存在很多弊端,甚至无法进行有效测试。首先是芯片引脚间距越来越小,探针伸上去比较困难,如果一定要将探针伸上去还有可能损伤芯片本身;其次有的芯片引脚已经成为隐性结点,根本无法使用探针,比如BGA封装的芯片和MCM芯片等。这不但使测试成本在电路和***总开销中所占比例不断上升,测试周期加长,而且仍然有很多不可测的情况存在,因此常规测试方法正面临着日趋严重的测试困难。
针对这种情况,电子测试的研究方向也从接触式测试、测试针床、测试分析仪器等传统测试方法发展到了研究在电子***甚至芯片设计时就考虑***测试问题的新兴设计方法-DFT,通过它来解决现代***的测试问题。作为可测试性设计的结构化设计方法,主要有以下几种:扫描通路法、随机存取扫描法、扫描置入法、边界扫描(Boundary Scan)等。而边界扫描就是其中一种重要的有效的测试方法。
而在边界扫描中通常是通过对被测装置发送测试向量、取得反馈信息,并对反馈信息进行分析得出测试结果的。因此,在边界扫描中向量的生成是测试是否能顺利进行的关键问题。
发明内容
本发明的目的为提出一种方便生成测试向量及提取诊断所需信息、检测较完备的边界扫描测试向量生成方法,解决了边界扫描中向量生成及诊断信息提取的问题。
本发明技术方案为:一种边界扫描测试向量生成方法,其是通过整合被测装置的测试信息,而生成测试向量;
具体步骤如下:
a.提取测试信息;
b.分析测试信息,生成测试向量矩阵。
上述步骤b中测试向量矩阵可有两种方式:
当被测试的是单个装置时,只需进行单个装置自身测试,此种情况,则依据走步0算法生成单个测试向量矩阵;
当被测试为的是两个以上装置时,需进行互联网络测试,此种情况,则通过对所有网络中输出单元对应位置1、置0生成网络互连测试向量矩阵。
本方法是通过整合被测装置的测试信息,而生成测试向量;通过本方法可方便生成测试向量及提取诊断所需信息,同时生成的测试向量可使检测较完备、操作更简便。
附图说明
图1为本发明方法流程示意图。
具体实施方式
以下结合附图详述本发明的实施例。
本发明的方法是利用支持JTAG(Joint Text Action Group)标准的芯片的BSDL(Boundary-Scan Description Language)文件及电路板的.NET文件(例:Board Netlist文件)生成可用于JTAG边界扫描故障检测的测试向量档及诊断信息档。
图1为本发明方法流程示意图,如图所示,一种边界扫描测试向量生成方法,其是通过整合被测装置(芯片)的测试信息,而生成测试向量;
具体步骤如下:
a.提取测试信息;提取由用户提供的各芯片的BSDL文件及电路板.NET文件中的相关信息;
a1.紧跟步骤a之后,还可设置一判断所提取测试信息(BDSL文件)是否与被测芯片匹配步骤:如是,则执行下一步骤;否,则结束。
a2.如果所提取的BDSL文件与被测芯片匹配,则依据新片在扫描链中的顺序依次读取其BSDL文件中相关信息。
b.分析测试信息,生成测试向量矩阵;通过特定算法及逻辑,生成所需的测试向量文件及相关的诊断信息文件。
在步骤b之前,可设有一被测装置判定步骤:如果装置为一个,则b步骤中依据走步0算法生成单个测试向量矩阵;根据读取的信息对具有可测试边界扫描单元的并脚,依据走步0算法生成测试向量矩阵,并将测试矩阵及提取的测试相关信息(如,指令长度,相关指令串,向量数目等)写入TVF(test vectorfile)文件,存储,在下次检测时,调用该等TVF文件,则可生成相应测试向量矩阵,进行单个装置自身测试。
如果装置为两个以上,则b步骤中通过对所有网络中输出单元对应位置1、置0生成网络互连测试向量矩阵,并将测试矩阵及提取的测试相关信息(如,指令长度,相关指令串,向量数目等)写入TVF文件,存储,在下次检测时,调用该等TVF文件,则可生成相应测试向量矩阵,进行互联网络测试。
在步骤b之后,还设有一生成判定及显示诊断结果文件步骤;将BSDL文件中提前的诊断相关信息(如并脚名称,对应的边界扫描单元信息等)写入IFF(information file)文件,生成判定及显示诊断结果文件;当步骤b中生成的向量矩阵发送到被测芯片后,可接收到芯片的反馈信息,利用该IFF文件与芯片反馈信息进行对比,得出对被测芯片的检测结果,并可显示出该种测试结果。
测试向量生成方法结束。
Claims (6)
1.一种边界扫描测试向量生成方法,其特征在于,其是通过整合被测装置的测试信息,而生成测试向量;
具体步骤如下:
a.提取测试信息;
b.分析测试信息,生成测试向量矩阵。
2.根据权利要求1所述的边界扫描测试向量生成方法,其特征在于,在步骤b之前,可设有一被测装置判定步骤:如果装置为一个,则b步骤中生成单个测试向量矩阵;如果装置为两个以上,则b步骤中生成网络互连测试向量矩阵。
3.根据权利要求2所述的边界扫描测试向量生成方法,其特征在于,该单个测试向量矩阵是依据走步0算法生成。
4.根据权利要求2所述的边界扫描测试向量生成方法,其特征在于,该网络互连测试向量矩阵是通过对所有网络中输出单元对应位置1、置0生成。
5.根据权利要求1所述的边界扫描测试向量生成方法,其特征在于,在步骤b之后,还设有一生成判定及显示诊断结果文件步骤。
6.根据权利要求1所述的边界扫描测试向量生成方法,其特征在于,紧跟步骤a之后,还可设置一判断所提取测试信息是否与被测装置匹配步骤:如是,则执行步骤a;否,则结束。
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