CN101452200B - 镜头杂散光检测*** - Google Patents
镜头杂散光检测*** Download PDFInfo
- Publication number
- CN101452200B CN101452200B CN2007102028105A CN200710202810A CN101452200B CN 101452200 B CN101452200 B CN 101452200B CN 2007102028105 A CN2007102028105 A CN 2007102028105A CN 200710202810 A CN200710202810 A CN 200710202810A CN 101452200 B CN101452200 B CN 101452200B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- lens
- laser
- object distance
- stray light
- image sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B43/00—Testing correct operation of photographic apparatus or parts thereof
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0221—Testing optical properties by determining the optical axis or position of lenses
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/0018—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means for preventing ghost images
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Focusing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明提供一种镜头杂散光检测***,其包括一个杂散光分析光源、一个影像感测器、一个激光光源、一个激光聚焦装置、一个波前传感器、一个处理器、一个物距调节装置及一个影像感测器移动装置。所述物距调节装置用于改变激光的聚焦点与波前传感器之间的距离。所述影像感测器移动装置用于将影像感测器移动到镜头对不同物距的对应焦点位置。所述处理器包括:物距设置模块,用于设置需要的物距;物距获取模块,用于获取激光焦点到波前传感器的物距;物距调节模块,用于控制物距调节装置;焦距控制模块,用于控制影像感测器移动装置;杂散光分析模块,用于分析影像感测器的杂散光状况。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于检测镜头杂散光的检测***。
背景技术
随着数码技术的不断发展,数码相机已被人们广泛应用,特别是近年来移动电话及PDA(Personal Digital Assistant,个人数位助理)等便携式电子装置也快速向高性能、多功能化方向发展,数码相机与该等便携式电子装置的结合已成为发展移动多媒体技术的关键。人们对数码相机需求量不断增长的同时,对数码相机性能的要求也越来越高。
然而,镜头在组装后,因为使用的材料尺寸公差、表面粗糙度、表面反射与折射、各材料零件间相互搭配的可行性、组装程序与能力等影响,而产生非设计评估期间所预期的杂散光。
现有杂散光检测只能检测镜头在固定物距下的杂散光影响。此种检测方法难以检测在不同物距下的镜头的不同对焦位置时,杂散光对镜头的影响。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种可以检测镜头对不同对焦位置的杂散光影响的***。
一种镜头杂散光检测***,其包括一个杂散光分析光源、一个影像感测器、一个激光光源、一个激光聚焦装置、一个波前传感器、一个处理器、一个物距调节装置、一个影像感测器移动装置及一个镜头切换装置。所述激光光源及激光聚焦装置位于激光光源的光路上,当对焦时所述镜头及影像感测器位于激光的光路上;当测试杂散光时,所述镜头及影像感测器位于杂散光分析光源的光路上。所述物距调节装置用于改变激光的聚焦点与波前传感器之间的距离,所述影像感测器移动装置用于将影像感测器移动到镜头对不同物距的对应焦点位置,所述镜头切换装置用于将镜头及影像感测器置于激光光路或杂散光分析光源的光路上,所述处理器包括:物距设置模块,用于设置需要的物距;物距获取模块,用于根据波前传感器的输出信号,并利用波前重构算法计算出激光的波前曲率半径作为物距;物距调节模块,用于根据设置的物距控制物距调节装置;调焦/测试切换模块,用于控制镜头切换装置及控制激光光源和杂散光分析光源的开闭;焦距控制模块,用于根据影像感测器感测影像的清晰程度控制影像感测器移动装置;杂散光分析模块,用于分析影像感测器在杂散光分析光源下的镜头的杂散光状况。
附图说明
图1是本发明提供的用于调焦的镜头杂散光检测***的硬件架构图。
图2是本发明提供的用于调焦的镜头杂散光检测***的处理器的功能模块图。
具体实施方式
下面将结合附图,对本发明作进一步的详细说明。
请参阅图1为本发明提供的一种镜头杂散光检测***100。其包括一个杂散光分析光源10、一个影像感测器11、一个激光光源12、一个激光聚焦装置13、一个波前传感器14、一个处理器15、一个物距调节装置16、一个影像感测器移动装置17及一个镜头切换装置18。
为了实现镜头90在大范围内进行对焦调整,在激光聚焦装置13与波前传感器14之间可以单独增加准直仪20或单独增加可调式镜片组21,也可以两个都增加。在本实施方式中,增加准直仪20及可调式镜片组21。
所述镜头90及所述影像感测器11位于镜头切换装置18上,所述镜头切换装置18用于将镜头90及影像感测器11置于激光光路或杂散光分析光源12的光路上。当需将影像感测器11设置于镜头90对某个物距的成像焦点时,所述镜头切换装置18将镜头90及影像感测器11置于激光光路上,同时将波前传感器14移出激光光路;当需进行杂散光测试时,所述镜头切换装置18将镜头90及影像感测器11置于杂散光分析光源10的光路上,将波前传感器14移回激光光路上,并打开杂散光分析光源。所述镜头切换装置18可以采用转盘或滑轨的方式进行镜头90、波前传感器14及影像感测器11的位置切换。
所述激光光源12、激光聚焦装置13、准直仪20及可调式镜片组21位于同一光路上。
在本实施方式中,所述激光光源12采用激光二极管,也可以采用其他激光器。所述激光聚焦装置13为一个使激光成像的小孔或聚焦透镜。在本实施方式中为一个具有可以使激光成像的小孔的挡光板。所述波前传感器14为哈特曼波前传感器。所述处理器15从哈特曼波前传感器中算出子孔径会聚光斑重心与标定重心在二维方向上的偏移量,由子孔径的焦距和偏移量求出子孔径的波前斜率,再由重构算法重构出波前的检测数据,计算出波前曲率半径,从而计算出激光束的虚拟物距。所述波前传感器14也可以采用自参考波前传感器,所述处理器15根据自参考波前传感器的输出的移相干涉图做一次矩阵运算后得到波前信息,计算出波前曲率半径,从而计算出激光聚焦装置中激光的聚焦点与波前传感器之间激光光路方向的距离。在本实施方式中,所述波前传感器14为哈特曼波前传感器。
所述物距调节装置16用于改变激光的聚焦点与波前传感器之间的距离。其可以通过改变准直仪20与激光聚焦装置13之间的距离或可调式镜片组21内各镜片之间的距离,也可以都进行调节,来改变所述激光光源12发出的激光经过准直仪20及可调式镜片组21的激光的波前曲率半径,从而改变激光的聚焦点与波前传感器14之间的距离。在本实施方式中,所述影像感测器移动装置17对激光聚焦装置13、调节准直仪20、激光聚焦装置13及可调式镜片组21内各镜片之间的距离均沿激光光路方向进行调节。
所述影像感测器移动装置17用于将影像感测器11移动到镜头90对不同物距的对应焦点位置。为了获取镜头90对不同物距的杂散光影响状况,所以需镜头90对不同物距进行对焦。在本实施方式中,所述影像感测器移动装置17将影像感测器11移动到镜头90对不同物距激光的焦点处。所述影像感测器移动装置17采用螺纹方式或滑轨方式调节镜头90相对影像感测器11的距离。在本实施方式中,采用螺纹方式。
请参阅图2为处理器的功能模块图。所述处理器15包括:物距设置模块150、调焦/测试切换模块151、物距调节模块152、焦距控制模块153、物距获取模块154及杂散光分析模块155。所述物距设置模块150用于设置需要的物距。调焦/测试切换模块151,用于控制镜头切换装置及控制激光光源和杂散光分析光源10的开闭。当需对镜头对焦时,所述调焦/测试切换模块151将镜头90及影像感测器11置于激光光路上,将波前传感器14移出激光光路。当需进行杂散光测试时,所述调焦/测试切换模块151控制所述镜头切换装置18将镜头90及影像感测器11置于杂散光分析光源10的光路上,将波前传感器14移回激光光路上,并打开杂散光分析光源10。物距获取模块154,用于根据波前传感器14的输出信号,并利用波前重构算法计算出激光的波前曲率半径作为物距。在本实施方式中,该模块154算出子孔径会聚光斑重心与标定重心在二维方向上的偏移量,由子孔径的焦距和偏移量求出子孔径的波前斜率,再由重构算法重构出波前的检测数据,计算出波前曲率半径,从而计算出激光束的虚拟物距。物距调节模块152,用于根据设置的物距控制物距调节装置。所述物距调节模块152根据测得的物距与设置的物距之间的差,算出激光聚焦装置13、调节准直仪20、激光聚焦装置13及可调式镜片组21内各镜片需沿激光光路方向的位移量。若需远物距,则将所述各装置将激光焦点沿光路方向远离波前传感器14移动;若需近物距,则将所述各装置将激光焦点沿光路方向靠近波前传感器14移动。焦距控制模块153,用于根据影像感测器11感测影像的清晰程度控制影像感测器移动装置17。该模块根据激光在影像感测器11上成像的锐度控制镜头90与影像感测器11之间的距离,使影像感测器11位于镜头90在此物距下的焦点上。所述杂散光分析模块155,用于分析影像感测器11在此焦距下的杂散光对镜头90的影响。
当完成一次该测试需进行下一次测试时,重新进行一次定物距、聚焦及测试的过程,最终完成镜头90在不同物距下受杂散光的影响的测试。
通过本发明的镜头杂散光检测***可以使镜头对不同物距进行对焦,并对镜头不同对焦状况下进行杂散光进行检测。从而达到测试镜头在不同聚焦处杂散光的影响,提高检测镜头杂散光的能力。
可以理解的是,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形,而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (7)
1.一种镜头杂散光检测***,其包括一个杂散光分析光源及一个影像感测器,其特征在于,所述镜头杂散光检测***还包括一个激光光源、一个激光聚焦装置、一个波前传感器、一个处理器、一个物距调节装置、一个影像感测器移动装置及一个镜头切换装置,所述激光光源及激光聚焦装置位于激光光源的光路上,当对焦时所述镜头及影像感测器位于激光的光路上,当测试杂散光时,所述镜头及影像感测器位于杂散光分析光源的光路上,所述物距调节装置用于改变激光的聚焦点与波前传感器之间的距离,所述影像感测器移动装置用于将影像感测器移动到镜头对不同物距的对应焦点位置,所述镜头切换装置用于将镜头及影像感测器置于激光光路或杂散光分析光源的光路上,所述处理器包括:物距设置模块,用于设置需要的物距;物距获取模块,用于根据波前传感器的输出信号,并利用波前重构算法计算出激光的波前曲率半径作为物距;物距调节模块,用于根据设置的物距控制物距调节装置;调焦/测试切换模块,用于控制镜头切换装置及控制激光光源和杂散光分析光源的开闭;焦距控制模块,用于根据影像感测器感测影像的清晰程度控制影像感测器移动装置;杂散光分析模块,用于分析影像感测器在杂散光分析光源下的镜头的杂散光状况。
2.如权利要求1所述的镜头杂散光检测***,其特征在于,所述波前传感器为哈特曼波前传感器。
3.如权利要求1所述的镜头杂散光检测***,其特征在于,所述波前传感器为自参考波前传感器。
4.如权利要求1所述的镜头杂散光检测***,其特征在于,所述激光聚焦装置为一个使激光成像的小孔或聚焦透镜。
5.如权利要求1所述的镜头杂散光检测***,其特征在于,所述镜头杂散光检测***还包括准直仪及可调式镜片组。
6.如权利要求1所述的镜头杂散光检测***,其特征在于,所述物距调节装置用于沿激光光路移动激光聚焦装置。
7.如权利要求5所述的镜头杂散光检测***,其特征在于,所述物距调节装置用于沿激光光路移动准直仪或可调式镜片组或均进行移动。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2007102028105A CN101452200B (zh) | 2007-11-30 | 2007-11-30 | 镜头杂散光检测*** |
US12/033,213 US7697124B2 (en) | 2007-11-30 | 2008-02-19 | Apparatus for measuring stray light in lens module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2007102028105A CN101452200B (zh) | 2007-11-30 | 2007-11-30 | 镜头杂散光检测*** |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101452200A CN101452200A (zh) | 2009-06-10 |
CN101452200B true CN101452200B (zh) | 2010-11-10 |
Family
ID=40675375
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2007102028105A Expired - Fee Related CN101452200B (zh) | 2007-11-30 | 2007-11-30 | 镜头杂散光检测*** |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7697124B2 (zh) |
CN (1) | CN101452200B (zh) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101630118B (zh) * | 2008-07-17 | 2012-05-23 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 镜头模组眩光检测设备及其检测方法 |
CN102103034B (zh) * | 2009-12-21 | 2012-08-22 | 富士迈半导体精密工业(上海)有限公司 | 光学特性测量***与方法 |
US9030657B2 (en) * | 2010-07-14 | 2015-05-12 | William P. Kuhn, Ph.D., Llc | Device and method for subaperture stray light detection and diagnosis |
US9090315B1 (en) * | 2010-11-23 | 2015-07-28 | Piedra—Sombra Corporation, Inc. | Optical energy transfer and conversion system |
CN102901620B (zh) * | 2012-10-31 | 2014-12-24 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 通用型高精度激光合束***装调检测装置及其应用 |
CN102928385A (zh) * | 2012-11-26 | 2013-02-13 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种便携式倾斜照明结构杂散光检测装置 |
TW201441670A (zh) * | 2013-04-26 | 2014-11-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 鏡頭模組檢測裝置 |
CN103309147B (zh) * | 2013-06-28 | 2016-03-02 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 可见光相机焦平面快速对准方法及装置 |
CN103868679B (zh) * | 2014-02-28 | 2016-05-04 | 北京空间机电研究所 | 一种红外光学遥感器杂散辐射测试装置 |
CN103983433A (zh) * | 2014-03-26 | 2014-08-13 | 歌尔声学股份有限公司 | 摄像镜头杂散光测试工装及测试方法 |
CN104580915B (zh) * | 2015-01-28 | 2017-09-12 | 苏州科达科技股份有限公司 | 一种ptz摄像机聚焦方法及*** |
CN104697751A (zh) * | 2015-03-20 | 2015-06-10 | 哈尔滨工业大学 | 复杂空间光学探测***的杂散辐射多尺度仿真方法 |
EP3291552A1 (en) | 2016-08-31 | 2018-03-07 | Autoliv Development AB | Stray light effect testing of a camera |
US11635326B2 (en) | 2019-04-02 | 2023-04-25 | Waymo Llc | Stray-light testing station |
CN112087621B (zh) * | 2019-06-14 | 2022-07-05 | 宁波舜宇光电信息有限公司 | 镜头检测设备和方法 |
CN111060290B (zh) * | 2019-12-27 | 2021-11-02 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种激光扫描式高灵敏度日冕仪杂光检测装置 |
CN113701676B (zh) * | 2021-08-02 | 2022-11-25 | 清华大学 | 杂散光测量装置及方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4526470A (en) * | 1982-03-05 | 1985-07-02 | Beckman Instruments, Inc. | Stray light measurement and compensation |
US5801829A (en) * | 1995-02-25 | 1998-09-01 | Hewlett-Packard Company | Method for measurment and compensation of stray light in a spectrometer |
CN2636219Y (zh) * | 2003-07-24 | 2004-08-25 | 信统科技股份有限公司 | 光学镜头测试装置 |
US6900887B2 (en) * | 2003-09-09 | 2005-05-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and system for measuring stray light |
CN101050997A (zh) * | 2006-04-07 | 2007-10-10 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 镜头杂散光检测装置及方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6038038A (en) * | 1994-08-24 | 2000-03-14 | Xerox Corporation | Method for determining offset and gain correction for a light sensitive sensor |
-
2007
- 2007-11-30 CN CN2007102028105A patent/CN101452200B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-02-19 US US12/033,213 patent/US7697124B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4526470A (en) * | 1982-03-05 | 1985-07-02 | Beckman Instruments, Inc. | Stray light measurement and compensation |
US5801829A (en) * | 1995-02-25 | 1998-09-01 | Hewlett-Packard Company | Method for measurment and compensation of stray light in a spectrometer |
CN2636219Y (zh) * | 2003-07-24 | 2004-08-25 | 信统科技股份有限公司 | 光学镜头测试装置 |
US6900887B2 (en) * | 2003-09-09 | 2005-05-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and system for measuring stray light |
CN101050997A (zh) * | 2006-04-07 | 2007-10-10 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 镜头杂散光检测装置及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7697124B2 (en) | 2010-04-13 |
US20090141268A1 (en) | 2009-06-04 |
CN101452200A (zh) | 2009-06-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101452200B (zh) | 镜头杂散光检测*** | |
CN106679940B (zh) | 一种高精度激光发散角参数标定装置 | |
CN103201648B (zh) | 重叠关联成像术中探测的校准 | |
CN102175426B (zh) | 共焦干涉定焦及曲率半径测量方法 | |
CN102147240A (zh) | 差动共焦干涉元件多参数测量方法与装置 | |
CN102679895B (zh) | 反射式共焦透镜中心厚度测量方法 | |
CN107036534A (zh) | 基于激光散斑测量振动目标位移的方法及*** | |
CN101788271A (zh) | 共焦透镜中心厚度测量方法与装置 | |
CN102564611A (zh) | 大功率激光波前测量仪及波前测量方法 | |
CN102425998A (zh) | 光学元件抛光表面质量全参数检测装置和检测方法 | |
CN105066903A (zh) | 一种激光三维测量***及其测量方法 | |
CN103344416A (zh) | 一种体全息透射光栅衍射效率测试仪 | |
CN103123251B (zh) | 差动共焦内调焦法透镜光轴及厚度测量方法 | |
CN103471524A (zh) | 共焦抛物面顶点曲率半径测量方法 | |
CN102928196A (zh) | 自由曲面镜片的检测方法和装置 | |
CN103134443B (zh) | 一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置及方法 | |
CN1971232B (zh) | 具有主动式对准功能的哈特曼波前传感器及其检测方法 | |
CN103471525A (zh) | 差动共焦抛物面顶点曲率半径测量方法 | |
CN103063413A (zh) | 基于泰伯-莫尔技术的一体化长焦距测量装置 | |
Zhao et al. | Centroid shift analysis of microlens array detector in interference imaging system | |
CN109990732B (zh) | 横向相减差动共焦曲率半径测量方法 | |
CN207300182U (zh) | 定、变焦一体型反射式偏心测定仪 | |
TW200928335A (en) | Measuring system for stray light of lens | |
JP2003270091A (ja) | 光学系の波面収差測定方法及び波面収差測定装置 | |
Zhao et al. | Angles-centroids fitting calibration and the centroid algorithm applied to reverse Hartmann test |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20101110 Termination date: 20111130 |