CN101409078B - 擦除光盘中数据的方法和装置 - Google Patents

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Abstract

一种擦除光盘中数据的方法，该光盘的资料区沿光盘径向被划分为多个部分，该方法包括如下步骤：在该光盘资料区的每个部分采用多个预设擦除功率进行擦除测试；检测每个部分上被擦除区域内反射率，得到每个部分与所述多个预设擦除功率对应的多个反射率；比较所述多个反射率，求得该光盘的资料区各个部分中的最小反射率；确定每个部分中最小反射率对应的预设擦除功率为该部分最佳擦除功率；分别利用资料区的各部分对应的最佳擦除功率擦除资料区的各部分内的数据。本发明还提供一种对应的擦除光盘中数据的装置。

Description

擦除光盘中数据的方法和装置
技术领域
本发明涉及光存储技术，特别涉及擦除可重写光盘中数据的方法和装置。
背景技术
可擦除重写光盘主要为相变光盘(Phase Change Disk)。相变光盘的写入原理是通过光盘记录层材料的相变实现。常温下，光盘记录层材料的原子规则排列。如果光盘记录层材料受热达到熔点，其原子排列状态将变的不规则。此时若使记录层材料快速冷却，其原子便不能恢复规则排列，而是维持高温时的不规则排列；若将记录层材料慢慢冷却，其原子有足够时间做规则排列。
基于上述相变原理，若以高功率脉冲激光照射光盘记录层，并使其温度在瞬间急速升降，则被照射位置的记录层材料形成不规则排列，即为数据写入过程，该激光功率称为写入功率。若以低功率激光脉冲照射光盘记录层，其温度变化在熔点以下且持续较长时间，被照射位置的记最层材料的原子变成规则排列，此过程为数据擦除过程，该激光功率即为擦除功率。
请参阅图1，其为通常的擦除功率的确定方法示意图，光盘10从圆心100向外被分为多个区域，包括功率校正区(PCA，Power Calibration Area)102、节目存储区(PMA，Program Memory Area)104、导入区(Lead In)106、资料区(Data Area)108和导出区(Lead Out)120。通常的擦除功率确定方法为：首先通过光学读取头20在光盘10的功率校正区102以预设写入功率刻录测试数据，然后通过多种预设擦除功率擦除测试数据，并根据检测擦除后的效果比较得出最佳擦除功率，最后以此最佳擦除功率擦除整张光盘上的数据。然而，这样得出来的最佳擦除功率只是针对其预设写入功率对应的最佳擦除功率，该预设写入功率与该光盘上数据的实际写入功率必然有所差异，导致以此方法得到最佳擦除功率与真正需要的最佳擦除功率存在差异，影响擦除效果，从而影响后续的刻录品质。而且，受限于光盘的品质，光盘不同区域的材料特性也有所不同，利用统一的擦除功率进行擦除也将影响擦除效果，从而影响后续的刻录品质。
发明内容
鉴于此，有必要提供一种针对光盘实际特性进行数据擦除的方法。
还有必要提供一种针对光盘实际特性进行数据擦除的装置。
一种擦除光盘中数据的方法，该光盘的资料区沿光盘径向被划分为多个部分，该方法包括如下步骤：
在该光盘资料区的每个部分采用多个预设擦除功率进行擦除测试；
检测每个部分上被擦除区域内反射率，得到每个部分与所述多个预设擦除功率对应的多个反射率；
比较所述多个反射率，求得该光盘的资料区各个部分中的最小反射率；
确定每个部分中最小反射率对应的预设擦除功率为该部分的最佳擦除功率；
分别利用资料区的各部分对应的最佳擦除功率擦除资料区的各部分内的数据。
一种擦除光盘中数据的装置，包括光学读取头和激光控制器，所述光学读取头用于发射激光光束到所述光盘上；所述激光控制器用于控制所述光学读取头所发射激光光束的功率。所述擦除光盘中数据的装置还包括：
存储器，存储有预设擦除参数，包括多个预设擦除功率信息以及多个位置信息，该多个位置信息分别对应所述光盘资料区沿光盘径向分布的多个部分；
测试单元，用于根据存储器中的预设擦除参数产生测试控制信号，所述控制信号内容包括：根据该多个位置信息控制光学读取头分别在光盘资料区的各个部分进行擦除测试；根据多个预设擦除功率信息及所述激光控制器控制光学读取头在光盘的各个部分采用多个擦除功率进行擦除测试；
分析单元，用于根据该多个位置信息获得光盘资料区的各个部分上与多个预设擦除功率对应的多个反射率，并确定各个部分中最小反射率对应的预设擦除功率为与资料区各个部分对应的最佳擦除功率；
擦除单元，用于利用光盘资料区各个部分对应的最佳擦除功率擦除光盘资料区上对应部分的数据。
上述光盘数据擦除方法和装置直接对光盘资料区上的现有数据进行擦除测试，免去了通常技术中的试刻动作，既节省时间，也保证了所得出的最佳擦除功率为针对光盘当前数据的最佳擦除功率。使得擦除效果更好，更有利于提高后续的刻录品质。另外，上述擦除光盘中数据的方法和装置将光盘的资料区划分为多个部分，针对各个部分分别求得对应的最佳擦除功率，有效的解决了由于光盘的材质不均造成的最佳擦除功率不同的问题。
附图说明
图1为通常光盘数据擦除方法示意图。
图2为一较佳实施方式的擦除光盘中数据的方法示意图。
图3为一较佳实施方式的擦除光盘中数据的方法流程图。
图4为一较佳实施方式的擦除光盘中数据的装置结构图。
具体实施方式
请参阅图2和图3，其为一较佳实施方式的擦除光盘中数据的方法示意图和流程图。如图2所示，待擦除光盘300从圆心301向外被分为多个区域，包括功率校正区302、节目存储区304、导入区306、资料区308和导出区310。光盘300的资料区308沿径向由内向外被划分为内区308a、中区308b和外区308c三个部分，如图4所示，该擦除光盘中数据的方法包括如下步骤：
步骤S31，采用多个预设擦除功率在光盘300的资料区308的各个部分(内区308a、中区308b和外区308c)进行擦除测试。本实施方式中，预设擦除功率为五个，以该五个预设擦除功率对内区308a、中区308b和外区308c中的每个部分上现有的数据进行擦除测试。
步骤S33，检测资料区308的每个部分上被擦除区域的反射率，得到与所述多个预设擦除功率对应的多个反射率。
步骤S35，比较求得光盘300的资料区308的各个部分中的最小反射率。
步骤S37，确定每部分中最小反射率对应的预设擦除功率为该部分的最佳擦除功率。
步骤S39，分别利用各部分对应的最佳擦除功率擦除各部分内的数据。
步骤S41，利用光盘300的资料区308中最靠光盘300圆心301部分的最佳擦除功率，即内区308a的最佳擦除功率擦除该部分与圆心301之间的数据，即导入区306的数据。因导入区306距离资料区308的内区308a较近，其材质特性与之也会最接近，为此，这些区域的数据均通过内区308a对应的最佳擦除功率进行擦除。
步骤S43，利用光盘300的资料区308中最靠光盘300外边缘部分的最佳擦除功率，即外区308c的最佳擦除功率擦除该部分与外边缘之间的数据，即导出区310的数据。因导出区310距离资料区308的外区308c较近，其材质特性与之也会最接近，为此，该区域的数据均通过外区308c对应的最佳擦除功率进行擦除。
上述擦除光盘中数据的方法直接对光盘300上的现有数据进行擦除测试，免去了通常技术中的试刻动作，既节省时间，也保证了所得出的最佳擦除功率为针对光盘300当前数据的最佳擦除功率，使得擦除效果更好，更有利于提高后续的刻录品质。另外，上述擦除光盘中数据的方法将光盘300的划分为多个部分，针对各个部分分别求得对应的最佳擦除功率，有效的解决了由于光盘300的材质不均造成的最佳擦除功率不同的问题。
请参阅图4，其为一较佳实施方式的擦除光盘中数据的装置200的结构图，包括主轴马达202、主轴马达驱动器204、光学读取头206、步进马达208、步进马达驱动器210、激光控制器212、存储器214、处理器216和伺服控制器218。
主轴马达202用于带动光盘300旋转。
主轴马达驱动器204用于控制主轴马达202的转速。
光学读取头206用于发射激光光束到光盘300上进行读写和擦除动作。
步进马达208用于带动光学读取头206沿光盘300的径向方向移动，其也可为直流马达等。
步进马达驱动器210用于控制步进马达208的转动，从而调节光学读取头206的位置。
激光控制器212用于控制光学读取头206所发射激光光束的功率。
存储器214存储有预设擦除参数，包括主轴马达转速信息、多个擦除功率信息以及多个位置信息。该多个位置信息对应光盘300的资料区308上沿着径向方向的多个部分，本实施方式为内区308a、中区308b和外区308c三个部分。
处理器216用于产生控制主轴马达202、光学读取头206、步进马达208工作的控制信号。
伺服控制器218用于根据该控制信号产生对应的驱动信号并发送给主轴马达驱动器204和步进马达驱动器210，主轴马达驱动器204和步进马达驱动器210根据接收到的驱动信号控制对应器件的工作。
处理器216包括测试单元260、分析单元270和擦除单元280。
测试单元260用于根据存储器214中的预设擦除参数产生控制主轴马达202、光学读取头206、步进马达208进行擦除测试的测试控制信号。所述控制信号内容包括：根据主轴马达转速信息及主轴马达驱动器204控制主轴马达202的转速；根据多个擦除功率信息及激光控制器212控制光学读取头206在资料区308的各个区域上采用多个擦除功率进行擦除测试；根据多个位置信息及步进马达208切换光学读取头206所发射的激光光束在光盘300的资料区308上内区308a、中区308b和外区308c三个部分的位置。
分析单元270用于根据检测光盘300的资料区308上各个部分中被擦除区域的反射率求得该部分对应的最佳擦除功率，分析单元270包括检测模块272和比较模块274。检测模块272用于通过激光控制器212获得光盘300的资料区308上各个部分中被擦除区域的多个反射率。比较模块274用于比较资料区308上各个部分对应的多个反射率，并确定各部分的最小反射率及最小反射率对应的预设擦除功率为对应部分的最佳擦除功率。
擦除单元280用于根据所述最佳擦除功率产生擦除信号给伺服控制器218，以擦除光盘300上对应部分的数据。进一步的擦除单元280还用于利用光盘300的资料区308中最靠光盘300圆心301部分的最佳擦除功率擦除该部分与圆心301之间的数据，以及利用光盘300的资料区308中最靠光盘300外边缘部分的最佳擦除功率擦除该部分与外边缘之间的数据。
上述擦除光盘中数据的装置直接对光盘300上的现有数据进行擦除测试，免去了通常技术中的试刻动作，既节省时间，也保证了所得出的最佳擦除功率为针对光盘300当前数据的最佳擦除功率，使得擦除效果更好，更有利于提高后续的刻录品质。另外，上述擦除光盘中数据的装置将光盘300的划分为多个部分，针对各个部分分别求得对应的最佳擦除功率，有效的解决了由于光盘300的材质不均造成的最佳擦除功率不同的问题。

Claims (7)

1.一种擦除光盘中数据的方法，该光盘的资料区沿光盘径向被划分为多个部分，该方法包括如下步骤：
在该光盘资料区的每个部分采用多个预设擦除功率进行擦除测试；
检测每个部分上被擦除区域内反射率，得到每个部分与所述多个预设擦除功率对应的多个反射率；
比较所述多个反射率，求得该光盘的资料区各个部分中的最小反射率；
确定每个部分中最小反射率对应的预设擦除功率为该部分的最佳擦除功率；
分别利用资料区的各部分对应的最佳擦除功率擦除资料区的各部分内的数据。
2.如权利要求1所述的擦除光盘中数据的方法，其特征在于：还包括如下步骤：
利用光盘的资料区中最靠光盘圆心部分的最佳擦除功率擦除该部分与圆心之间的数据。
3.如权利要求1所述的擦除光盘中数据的方法，其特征在于：还包括如下步骤：
利用光盘的资料区中最靠光盘外边缘部分的最佳擦除功率擦除该部分与外边缘之间的数据。
4.一种擦除光盘中数据的装置，包括光学读取头和激光控制器，所述光学读取头用于发射激光光束到所述光盘上；所述激光控制器用于控制所述光学读取头所发射激光光束的功率；其特征在于，所述擦除光盘中数据的装置还包括：
存储器，存储有预设擦除参数，包括多个预设擦除功率信息以及多个位置信息，该多个位置信息分别对应所述光盘资料区沿光盘径向分布的多个部分；
测试单元，用于根据存储器中的预设擦除参数产生测试控制信号，所述控制信号内容包括：根据该多个位置信息控制光学读取头分别在光盘资料区的各个部分进行擦除测试；根据多个预设擦除功率信息及所述激光控制器控制光学读取头在光盘的各个部分采用多个擦除功率进行擦除测试；
分析单元，用于根据该多个位置信息获得光盘资料区的各个部分上与多个预设擦除功率对应的多个反射率，并确定各个部分中最小反射率对应的预设擦除功率为与资料区各个部分对应的最佳擦除功率；
擦除单元，用于利用光盘资料区各个部分对应的最佳擦除功率擦除光盘资料区上对应部分的数据。
5.如权利要求4所述的擦除光盘中数据的装置，其特征在于：所述分析单元包括检测模块和比较模块，所述检测模块用于通过光学读取头获得光盘资料区的被擦除区域上与多个预设擦除功率对应的多个反射率；所述比较模块用于比较所述多个反射率，并确定各部分最小反射率及最小反射率对应的预设擦除功率为对应部分的最佳擦除功率。
6.如权利要求4所述的擦除光盘中数据的装置，其特征在于：所述擦除单元还用于利用光盘资料区中最靠光盘圆心部分对应的最佳擦除功率擦除该部分与圆心之间的数据。
7.如权利要求4所述的擦除光盘中数据的装置，其特征在于：所述擦除单元还用于利用光盘资料区中最靠光盘外边缘部分对应的最佳擦除功率擦除该部分与外边缘之间的数据。
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