CN101234015B - 光图像计测装置 - Google Patents

光图像计测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101234015B
CN101234015B CN200710301393XA CN200710301393A CN101234015B CN 101234015 B CN101234015 B CN 101234015B CN 200710301393X A CN200710301393X A CN 200710301393XA CN 200710301393 A CN200710301393 A CN 200710301393A CN 101234015 B CN101234015 B CN 101234015B
Authority
CN
China
Prior art keywords
aforementioned
image
light
picture frame
scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN200710301393XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN101234015A (zh
Inventor
木川勉
冈田浩昭
林健史
塚田央
福间康文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Publication of CN101234015A publication Critical patent/CN101234015A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101234015B publication Critical patent/CN101234015B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02055Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
    • G01B9/02062Active error reduction, i.e. varying with time
    • G01B9/02067Active error reduction, i.e. varying with time by electronic control systems, i.e. using feedback acting on optics or light
    • G01B9/02068Auto-alignment of optical elements
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/102Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for optical coherence tomography [OCT]
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/12Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for looking at the eye fundus, e.g. ophthalmoscopes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02015Interferometers characterised by the beam path configuration
    • G01B9/02029Combination with non-interferometric systems, i.e. for measuring the object
    • G01B9/0203With imaging systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02041Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques
    • G01B9/02044Imaging in the frequency domain, e.g. by using a spectrometer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02055Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
    • G01B9/02062Active error reduction, i.e. varying with time
    • G01B9/02064Active error reduction, i.e. varying with time by particular adjustment of coherence gate, i.e. adjusting position of zero path difference in low coherence interferometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02083Interferometers characterised by particular signal processing and presentation
    • G01B9/02089Displaying the signal, e.g. for user interaction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/0209Low-coherence interferometers
    • G01B9/02091Tomographic interferometers, e.g. based on optical coherence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/65Spatial scanning object beam

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

一种可以取得被测定物体的目标深度位置的图像的技术。眼底观察装置(光图像计测装置)(1)将低相干光(L0)分割成朝向眼底(Ef)的信号光(LS)以及朝向参照镜(174)的参照光(LR),使经由眼底(Ef)的信号光(LS)和经由参照镜(174)的参照光(LR)两者重叠以产生干涉光(LC),并检测该干涉光(LC)来形成OCT图像。分析部(231)分析形成的OCT图像,并对在图框(F)内的该OCT图像的位置进行指定。控制部(210)基于指定的位置,控制参照镜驱动机构(243)来移动参照镜(174),以使得图像形成部(220)所新形成的眼底(Ef)的OCT图像被配置在图框(F)内的指定位置。

Description

光图像计测装置 
技术领域
本发明关于一种光图像计测装置,将光束照射到被测定物体上,使用其反射光或穿透光,形成被测定物的表面形态。 
背景技术
近年来,使用雷射光源等的光束来形成显示被测定物体表面形态与内部型态的光图像计测技术备受瞩目。此光图像计测技术因为不像X射线CT装置般的对人体有侵袭性,所以受期望能在医疗领域的应用开展。 
特开平11-325849号公报(专利文件1)揭示一种光图像计测装置,其结构为:测定臂通过旋转式转向镜(检流计镜)对物体进行扫描,在参照臂上设置参照镜,而更在其出口处,利用干涉仪,将来自计测臂和参照臂的光束的干涉而呈现的光的强度以分光仪进行分析,并在参照臂设置装置以不连续的值阶段地改变参照光光束的相位。 
专利文件1的光图像计测装置是使用以德国专利申请案公开第DE4309056A号说明书(专利文件2)为基本技术,即所谓的傅立叶OCT(Fourier Domain Optical Coherence Tomography)的手法。也就是说,对被测定物体照射低相干光,取得其反射光的频谱强度分布,在其该分布做傅立叶变换,借此将被测定物体的深度方向(z方向)的形态图像化。 
再者,专利文件1记载的光图像计测装置具备扫描光束(信号光)的检流计镜,借此可以形成被测定物体所要的测定对象区域的图像。另外,在此光图像计测装置中,因为仅在与z方向垂直的一个方向(x方向)对光束进行扫描,形成的图像会成为沿着光束扫描方向(x方向)且在深度方向(z方向)的二维剖面图像。 
另外,日本专利申请公开第特开2003-543号公报(专利文件3)揭示将这种光图像计测装置应用在眼科领域的架构。 
光图像计测装置是对与参照臂长度(参照光的光路径长)约略相同的深度进行计测,并且形成图像。因此,为了取得所需要的深度位置的图像,必须要在与该深度位置相对应的位置上配置参照镜。此参照镜的定位,即在深度方向的计测位置的定位,若是以使用低相干光来看,必须要精密地进行。 
另外,在光图像计测装置中,在与参照光光路径长一致的深度位置(z方向的原点)的计测感度是最好的。随着越远离该原点,计测感度会降低。由此观点来看也可以知道在深度方向的计测位置的定位是需要精密度。 
但是,旧有的光图像计测装置的问题是不容易进行在此被测定物体深度方向的计测位置的定位。 
这种深度方向的计测位置的定位,例如在像计测生体的场合中被测定物体在计测中于深度方向上移动的情况是重要的。也就是说,对于计测中被测定物体在深度方向上移动的场合,恐怕有无法取得目标的深度位置的图像。例如,即使在事前进行深度方向的计测位置的定位,但由於被测定物体的移动,计测位置在深度方向有可能偏离,而无法取得目标的深度位置的图像。另外,即使可以取得目标深度位置的图像,也因为目标的深度位置远离z方向的原点,恐怕只能得到精确度地的图像。 
另外,在对眼底的多数个部位取得图像的场合等,由于眼底表面(网膜)为曲面的影响,在各部位的深度方向的计测位置未有偏移的情况。例如,在眼底中心的图像以及在远离中心部位的图像由于和深度方向的计测位置不同,会有产生在图框内图像位置偏移的状况。另外,此问题不仅只有发生在取得眼底图像的场合,一般来说,也会发生在取得因部位而与深度方向的计测位置相异的任意被测定物体的图像的时候。 
发明内容
本发明是为了要解决上述的问题,提供一种光图像计测装置,可以取得被测定物体的目标深度位置。 
为达成上面叙述,本发明的第一观点是提供一种光图像计测装置,其包括:光源、干涉光产生元件、变更元件、检测元件、图像形成元件、分析元件及控制元件。光源输出低相干光。干涉光产生元件将输出的低相干光分割成导向被测定物体的信号光以及导向参照物体的参照光,并使经由被测定物体的信号光和经由参照物体的参照光重叠,以产生干涉光。变更元件改变信号光和参照光的光路径长度差。检测元件检测产生的干涉光。 
图像形成元件基于检测元件的检测结果,在预定的图框内形成被测定物体的图像。分析元件分析形成的图像,对在预定图框内的图像的位置进行指定。控制元件基于指定的位置,控制变更元件,改变光路径长度差,以使得图像形成元件所新形成的被测定物体的图像被配置在预定图框内的指定位置。 
发明效果 
根据本发明的话,分析图像形成元件形成的图像,对在预定图框内的该图像位置进行指定,并且基于指定的位置控制变更元件。借此,可以改变光路径长度差,以使得图像形成元件所新形成的被测定物体的图像被配置在预定图框内的预定位置上。因此,通过将图框内的预定位置设定为与被测定物体的目标深对位置相对应的位置,可以取得被测定物体的目标深度位置的图像。 
另外,图框内的预定位置例如可以设定在能够以高感度计测被测定物体的目标深度位置的位置。 
附图说明
图1是表示本发明的眼底观察装置较佳的实施形态的整体结构的一例的概略结构图。 
图2是表示本发明的眼底观察装置较佳的实施形态中内设在眼底相机单元内的扫描单元的结构的一例的概略结构图。 
图3是表示本发明的眼底观察装置较佳的实施形态中OCT单元的结构的一例的概略结构图。 
图4是表示本发明的眼底观察装置较佳的实施形态中演算控制装置的硬件结构的一例的概略方块图。 
图5是表示本发明的眼底观察装置较佳的实施形态的控制***结构的一例的概略方块图。 
图6是表示本发明的眼底观察装置中操作面板的外观结构的一个例子的示意图。 
图7是表示本发明的眼底观察装置较佳的实施形态中演算控制装置的功能结构的一例的概略方块图。 
图8是表示本发明的眼底观察装置较佳的实施形态的信号光的扫描形态的一例的概略图。图8(A)表示从信号光相对于受检眼的入射侧观察眼底时的信号光的扫描形态的一例。而且,图8(B)表示各扫描线上扫描点的排列形态的一例。 
图9是表示本发明的眼底观察装置较佳的实施形态的信号光的扫描形态、以及沿着各扫描线而形成的断层图像形态的一例的概略图。 
图10是表示用来说明本发明眼底观察装置的较佳实施型态的使用形态的一个例子的流程图。 
图11是表示用来说明本发明眼底观察装置的较佳实施型态的使用形态的一个例子的流程图。 
图12是表示用来说明本发明眼底观察装置的较佳实施型态的使用形态的具体例的概略说明图。 
图13是表示用来说明本发明眼底观察装置的较佳实施型态的使用形态的具体例的概略说明图。 
图14是表示用来说明本发明眼底观察装置的较佳实施型态的使用形态的具体例的概略说明图。 
图15是表示用来说明本发明眼底观察装置的较佳实施型态的使用形态的一个例子的流程图。 
图16是表示用来说明本发明眼底观察装置的较佳实施型态的使用形态的一个范例的概略说明图。 
图17是表示用来说明本发明眼底观察装置的较佳实施型态的使用形态的一个范例的概略说明图。 
具体实施方式
以下参照图式对本发明的光图像计测装置的一例进行详细说明。 
装置结构 
首先,参照图1-图7说明本发明的光图像计测装置的实施例的结构。图1表示具有本发明光图像计测装置功能的眼底观察装置1的整体结构的一个例子。图2表示眼底相机单元1A内的扫描单元141的结构的一个例子。图3表示OCT单元150的结构的一个例子。图4表示演算控制装置200的硬件结构的一个例子。图5表示眼底观察装置1的控制***的结构的一个例子。图6表示设置在眼底相机单元1A的操作面板3a的结构的一个例子。图7表示演算控制装置200的控制***结构的一个例子。 
整体结构 
如图1所示,本实施例的眼底观察装置1的结构是包含眼底相机单元1A、OCT单元150以及演算控制装置200。眼底相机单元1A具有与旧有眼底相机大约相同结构的光学***,以拍摄眼底表面的二维图像。OCT单元150置放作为光图像计测装置之功能的光学***。演算控制装置200具备计算器,以进行各种演算处理和控制处理。 
连接线152的一端安装在OCT单元150上。该连接线152的另一端上安装有连接眼底相机单元1A的连接部151。在连接线152的内部导通有光纤。OCT单元150与眼底相机单元1A经过连接线152而光学性连接。 
眼底相机单元的结构 
眼底相机单元1A是一种基于光学方式取得数据(摄像装置10、12检测出的数据),形成受检眼的眼底的表面二维图像的装置,具有与图36所示先前的眼底相机1000大致相同的外观结构。在此,“眼底的表面二维图像”是表示拍摄眼底表面的彩色图像和黑白图像、更有荧光图像(荧光黄荧光图像、碘氰绿荧光图像)等。而且,眼底相机单元1A与图37所示先前的光学***同样具备:照明光学***100,对受检眼E的眼底Ef进行照明;以 及拍摄光学***120,将该照明光的眼底反射光引导向摄像装置10。 
另外,在后面会详述,但是在本实施形态的拍摄光学***120的摄像装置10,为检测具有近红外区域的波长的照明光。在该拍摄光学***120中,另外设有照明光摄像装置12,用以检测具有可视光区域的波长的照明光。而且,该拍摄光学***120将由OCT单元150发出的信号光引导到眼底Ef,并且将经过眼底Ef的信号光引导到OCT单元。 
照明光学***100包含观察光源101、聚光镜102、拍摄光源103、聚光镜104、激发滤光片105及106、环形透光板107、镜片108、液晶显示器109、照明光圈110、中继透镜111、开孔镜片112、物镜113而构成。 
观察光源101输出包含波长例如约400nm-700nm的范围的可视区域的照明光。该观察光源101相当于本发明的“可视光源”的一例。另外,该拍摄光源103输出包含波长例如约700nm-800nm的范围的近红外区域的照明光。该拍摄光源103输出的近红外光,设定成较在OCT单元150使用的光的波长短(后面再述)。 
拍摄光学***120包含物镜113、开孔镜片112(的孔部112a)、拍摄光圈121、阻挡滤光片122及123、倍率可变透镜124、中继透镜125、拍摄透镜126、分色镜134、向场透镜(视场透镜)128、半反射镜135、中继透镜131、分色镜136、拍摄透镜133、摄像装置10(摄像元件10a)、反射镜片137、拍摄透镜138、摄像装置12(摄像元件12a)、透镜139、及LCD(Liquicl Crystal Display,液晶显示器)而构成。 
在本实施形态的拍摄光学***120,与图37所示的先前的拍摄光学***120不同,设有分色镜134、半反射镜片125、分色镜136、反射镜片137、拍摄透镜139及LCD140。 
分色镜134为用以反射照明光学***100发出的照明光的眼底反射光(包含波长约400nm-800nm的范围),并且为可供由OCT单元的信号光(包含波长约800nm-900n范围,后述)透过的构造。 
另外,分色镜136,可透过由照明光学***100输出的具有可视区域的波长的照明光(由观察光源101输出的波长约400nm-700nm的可视光),并可反射具有近红外区域的波长的照明光(由拍摄光源103输出的波长约700nm-800nm的近红外光)。 
在LCD140显示有为了使受检验E的视线固定的视线固定标(内部视线固定标)等。由该LCD140发出的光经透镜139聚光的后,由半反射镜135反射,通过向场透镜128反射到分色镜136。然后,通过拍摄透镜126、中继透镜125、倍率可变透镜124、开孔镜片112(的孔部112a)、物镜113等,射入受检眼E。由此,该视线固定标等投影到受检眼E的眼底Ef。 
摄像元件10a为内藏在电视相机等的摄像装置10的CCD或CMOS等的 摄像元件,特别是检测近红外区域的波长的光(即摄像装置10为检测近红外光的红外线电视相机)。该摄像装置10输出图像讯号,作为检测近红外光的结果。 
触摸屏11依据该图像讯号显示眼底Ef的表面的二维图像(眼底图像Ef’)。另外,该图像讯号被送到演算控制装置200,在其显示器(后述)显示眼底图像。 
又,使用该摄像装置10拍摄眼底时,可利用由照明光学***100的拍摄光源103输出的近红外区域波长的照明光。 
另一方面,摄像元件12a为内藏在电视相机等摄像装置12的CCD或MOS等的摄像元件,特别是检测可视光区域波长的光(即摄像装置12为检测可见光的电视相机)。该摄像装置12输出图像讯号,作为检测可视光的结果。 
该触摸屏11依据该图像讯号显示眼底Ef的表面的二维图像(眼底图像Ef’)。另外,该图像讯号被送到演算控制装置200,在其显示器(后述)显示眼底图像。 
又,使用该摄像装置12拍摄眼底时,可利用从照明光***100的观察光源101输出的可视光区域波长的照明光。 
眼底相机单元1A中设有扫描单元141及透镜142。扫描单元141具备如下结构,即,对OCT单元150输出的光(信号光,后述)的对眼底Ef的照射位置进行扫描。 
透镜142使来自OCT单元150的信号光LS通过连接线152,引导成为平行光束,并将其射入扫描单元141。而且,透镜142的作用为使经过扫描单元141而来的信号光LS的眼底反射光聚焦。 
图2中表示扫描单元141的具体结构的一例。扫描单元141包含检流计镜(galvanometer mirror)141A、141B以及反射镜片141C、141D而构成。 
检流计镜141A、141B设为可以分别以旋转轴141a、141b为中心而旋转的反射镜。各检流计镜141A、141B通过后述的驱动机构(图5所示的镜片驱动机构241、242),分别以旋转轴141a、141b为中心而旋转,分别变更其反射面(把信号光LS反射的面)的方向,即检流计镜141A、141B的位置。 
旋转轴141a、141b以相互正交的方式而配设。在图2中,检流计镜141A的旋转轴141a配设为平行于该图的纸面,且检流计镜141B的旋转轴141b配设为垂直于该图的纸面。 
即,检流计镜141B可以向图2中的两侧箭头所示方向旋转,检流计镜141A可以向正交于该两侧箭头的方向旋转。以此,该一对检流计镜141A、141B分别发挥作用,使信号光LS的反射方向变更为相互正交的方向。另外, 从图1、图2可以明白,当使检流计镜141A旋转,信号光LS在x方向上扫描,而当使检流计镜141B旋转,信号光LS在y方向上扫描。 
由检流计镜141A、141B所反射的信号光LS,向与由反射镜片141C、141D所反射而入射至检流计镜141A时相同的方向行进。 
另外,如上所述,连接线152的内部导通有光纤152a,该光纤152a的端面152b是与透镜142相对而配设。从该端面152b所射出的信号光LS朝向透镜142使束径逐渐放大而行进,但通过该透镜142而成为平行光束。相反,信号光LS的眼底反射光通过该透镜142而朝向端面152b聚焦。 
OCT单元的结构 
接着,参照图3说明OCT单元150的结构。如同图所示,OCT单元150是一种装置,其基于利用光学扫描所取得的数据(利用后述的CCD检测出的数据),形成前述眼底的断层图像。     
此OCT单元150具备与旧有的光图像计测装置大致相同的光学***。亦即OCT单元150具备:干涉计,将从光源输出的光分割成参照光和信号光,将经过参照物体的参照光和经过被测定物体(眼底Ef)的信号光进行重叠,以产生干涉光;以及将检测结果的信号输出到演算控制装置200的元件。演算控制装置200分析此信号,形成被测定物体(眼底Ef)的图像。 
低相干光源160是由输出低相干光L0的超级发光二极管(SLD,superluminescent diode)或发光二极管(LED,light-emitting diode)等的宽带光源所构成。该低相干光L0例如具有近红外区域的波长,并且具有数十微米左右的时间性相干长度的光。 
低相干光L0具有比眼底相机单元1A的照明光(波长约400nm-800nm)更长的波长,例如含有约800nm-900nm范围的波长。 
从低相干光源160所输出的低相干光L0,例如通过由单模光缆(single-mode fiber)或极化保持光纤(polarization maintainingfiber)所构成的光纤161,被引导向光耦合器(coupler)162。光耦合器162将该低相干光源LO分割为参照光LR与信号光LS。 
另外,光耦合器162具有光分割元件(分光器)及光重叠的元件(耦合器)双方的功能,但惯用名叫“光耦合器”。 
从光耦合器162发生的参照光LR,被由单模光纤等构成的光纤163引导,从光纤端面射出,所射出的参照光LR通过准直透镜171,成为平行光束后,经过玻璃块172及密度滤光片173,并由参照镜片174(参照物体)而反射。 
由参照镜片174所反射的参照光LR再次经过密度滤光片173及玻璃块172,并通过准直透镜171而在光纤163的光纤端面上聚光。所聚光的参照 光LR通过光纤163而被引导向光耦合器162。 
另外,玻璃块172及密度滤光片173,是作为用以使参照光LR与信号光LS的光路长度(光学距离)一致的延迟元件而发挥作用,而且作为用以使参照光LR与信号光LS的色散特性一致的元件而发挥作用。 
另外,密度滤光片173也发挥使参照光光量减少的减光滤光片的作用,例如由旋转型ND(Neutral Density)滤光片构成。此密度滤光片173通过包含马达等的驱动装置的驱动机构(后述的密度滤光片驱动机构244,参照图5),而被旋转驱动,借此发挥使参照光LR的光量减少的作用。以此,可以变更对干涉光LC产生有贡献的参照光LR的光量。 
又,参照镜174为可沿参照光LR的进行方向(图3所示的箭头方向)移动的构造。因此,能够对应受检眼E的眼轴长度,确保参照光LR的光路长度。另外,通过移动参照镜174,可以取得眼底Ef的任意深度位置的图像。另外,参照镜174的移动可利用含有电动等的驱动装置的驱动机构(后述的参照镜片驱动机构243,参照图5)进行。 
另一方面,从光耦合器162发生的信号光LS,由单模光纤等构成的光纤164引导至连接线152的端部。在连接线152的内部导通有光纤152a。此处,光纤164与光纤152a可以由单一的光纤而构成,而且,也可以是将各个端面接合而一体形成的光纤。总的,光纤164、152a只要可以在眼底相机单元1A与OCT单元150的间传送信号光LS即可。 
信号光LS在连接线152内部被引导而被导向眼底相机单元1A。而且,信号光LS经过透镜142、扫描单元141、分色镜134、拍摄透镜126、中继透镜125、倍率可变透镜124、拍摄光圈121、开孔镜片112的孔部112a与物镜113,而入射受检眼E。另外,使信号光LS入射到受检眼E时,阻挡滤光片122、123分别事先从光路中退出。 
入射受检眼E的信号光LS在眼底Ef上成像并反射。此时,信号光LS不仅被眼底Ef的表面反射,也到达眼底Ef的深部区域并在折射率边界上产生散射。因此,信号光LS的眼底反射光成为包含反映眼底Ef的表面形态的信息、及反映在深部组织的折射率边界的背后散射(backscattering)的状态的信息的光。将该光简称为“信号光LS的眼底反射光”。 
信号光LS的眼底反射光向眼底相机单元1A的上述路径的相反方向行进,在光纤152a的端面152b上聚光,通过该光纤152而入射至OCT单元150,并通过光纤164而返回到光耦合器162。 
光耦合器162使经由眼底Ef而回来的该信号光LS与由参照镜片174所反射的参照光LR重叠,产生干涉光LC。所产生的干涉光LC通过单摸光纤等构成的光纤165,被引导向分光仪180。 
另外,本实施形态中是采用了迈克尔逊型干涉仪(Michelson interferometer),但也可以适当采用例如马赫-曾德(Mach-Zehnder)型等任意类型的干涉仪。另外,本发明的“干涉光产生元件例如以包含光耦合器162、信号光LS光路上的光学部材(也就是配置在光耦合器162和眼底Ef之间的光学部材)以及参照光LR的光路上的光学部材(也就是说配置在光耦合器162和参照镜174之间的光学部材)而构成,特别是以包含具备光耦合器162、光纤163和参照镜174的干涉仪而构成。 
分光仪(spectrometer)180包含准直透镜181、衍射光栅182、成像透镜183与CCD(Charge Coupled Device,电荷耦合器件)184而构成。本实施形态的衍射光栅182是透过型衍射光栅,但当然也可以使用反射型衍射光栅。而且,当然也可以应用其它光检测元件(检测机构)来代替CCD184。 
入射至分光仪180的干涉光LC通过准直透镜181而成为平行光束之后,被衍射光栅182分光(光谱分解)。所分光的干涉光LC通过成像透镜183而在CCD184的摄像面上成像。CCD184接收该干涉光LC并将其转换为电气检测信号,且将该检测信号输出到演算控制装置200中。CCD184作为本发明的“检测元件”的一个例子而发挥功能。 
演算控制装置的构造 
其次,说明演算控制装置200的构造。演算控制装置200进行以下处理对从OCT单元150的分光仪180的CCD154所输入的检测信号进行分析,形成受检眼E的眼底Ef的断层图像。此时的分析方法与旧有的傅立叶领域OCT方法是相同的。 
另外,演算控制装置200进行以下处理:依据由眼底相机单元1A的摄像装置10、12输出的图像信号,形成眼底Ef的表面(网膜)形态的二维图像(的图像数据)。 
而且,演算控制装置200执行眼底相机单元1A的各部分的控制、以及OCT单元150的各部分的控制。 
作为眼底相机单元1A的控制,例如进行观察光源101或拍摄光源103的照明光的输出控制、激发滤光片105、106或阻挡滤光片122、123在光路上的***/退出动作的控制、液晶显示器140的显示动作的控制、照明光圈110的移动控制(光圈值的控制)、拍摄光圈121的光圈值的控制、倍率可变透镜124的移动控制(倍率的控制)的控制等。而且,演算控制装置200对扫描单元141内的检流计镜141A、141B的动作(反射面方向的变更度作)进行控制。 
另一方面,OCT单元150的控制,例如是进行低相干光源160的低相干光的输出控制、参照镜174的旋转动作(参照光LR的光量的减少量变更动 作)的控制、CCD184的蓄积时间的控制等。 
参照图4,对如上所述发挥作用的演算控制装置200的硬件结构进行说明。 
演算控制装置200具备与先前的电脑同样的硬件结构。具体而言,包含微处理器201(CPU,MPU等)、RAM202、ROM203、硬盘驱动器(HDD,Hard DiskDriver)204、键盘205、鼠标206、显示器207、图像形成板208及通信接口(I/F)209。这些各个部分是通过总线200a而连接。 
微处理器201是由包含CPU(Central Processing Unit,中央处理单元)或MPU(Micro Processing Unit,微处理单元)等所构成,并将存储在硬盘驱动器204中的控制程序204a展开到RAM202上,以此在本发明中执行特征性动作。     
而且,微处理器201执行上述装置各部分的控制、或各种运算处理等。而且,执行与来自键盘205或鼠标206的操作信号对应的装置各个部分的控制、显示器207的显示处理的控制、通信接口209的各种数据或控制信号等的发送接收处理的控制等。 
键盘205、鼠标206及显示器207是作为眼底观察装置1的用户接口而使用的。键盘205是作为用以键入字符或数字等的设备而使用。鼠标206是作为用以对显示器207的显示画面进行各种输入操作的设备。 
而且,显示器207是LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示器)或CRT(Cathode Ray Tube,阴极射线管)等任意的显示设备,其显示由眼底观察装置1所形成的眼底Ef的图像,或显示各种操作画面或设定画面等。 
另外,眼底观察装置1的用户接口并不限定于这样的结构,也可以使用例如轨迹球(track ball)、控制杆、触摸面板式LCD、用于眼科检查的控制面板等具备显示输出各种信息的功能以及输入各种信息的功能的任意用户接口机构而构成。 
图像形成板208为处理形成受检眼E的眼底Ef的图像(图像数据)的专用电子电路。在该图像形成板208设有眼底图像形成板208a及OCT图像形成板208b。 
眼底图像形成板208a的动作,为依据眼底相机单元1A的摄像装置10,或摄像装置12的图像信号形成眼底图像的图像数据的专用电子电路。 
又,OCT图像形成板208b的动作为依据OCT单元150的分光仪180的CCD184的检测信号形成眼底Ef的断层图像的图像数据的专用电子电路。 
因设有上述的图像形成板208,可提高形成眼底图像和断层图像的图像数据的处理的处理速度。 
通信接口209进行以下处理:将来自微处理器201的控制信号发送到眼底相机单元1A或OCT单元150。另外,通信接口209进行以下处理:接收 由眼底相机单元1A的摄像装置10、12输出的图像信号,或从OCT单元150的CCD184输出的检测信号,进行对图像形成板208的输入等。此时,通信接口209的动作为将从摄像装置10、12的图像信号输入眼底图像形成板208a,将从CCD184的检测信号输入OCT图像形成板208b。 
而且,当演算控制装置200连接于LAN(Local Area Network,局域网)或互联网等网络时,在通信接口209中可以具备局域网卡等网络适配器(network adapter)或调制解调器(modem)等通信设备,并能够经过该网络而进行数据通信。此时,可以设置用于存储控制程序204a的服务器,并且,将演算控制装置200构成为该服务器的客户终端,借此可以在眼底观察装置1中执行本发明的动作。 
控制***的结构 
接着,参照图5-7,说明眼底观察装置1的控制***。在图5所示的方块图中,特别记载在眼底观察装置1具备的结构中关于本发明的动作和处理相关的部分。另外,在图6记载设置在眼底相机1A的操作面板3a结构的一个例子。图7记载演算控制装置200的详细结构。 
控制部 
眼底观察装置1的控制***是以演算图5所示的控制装置200的控制部210为中心而构成的。控制部210包含CPU201、RAM202、ROM203、硬盘驱动器204(控制程序204a)、通信接口209而构成。 
控制部210通过根据控制程序204a而动作的微处理器201,执行上述各种控制。尤其是,关于眼底相机单元1A,控制部210执行镜片驱动机构241、242的控制,从而变更检流计镜141A、141B的位置,以及利用内部固定视线标的显示动作的控制等等。 
另外,关于OCT单元150,控制部210低相干光源160和CCD184的控制、使密度滤光片173旋转的密度滤光片驱动机构244的控制、使参照镜片174在参照光LR的行进方向上移动的参照镜片驱动机构243的控制等等。 
在此,参照镜驱动机构243是作为本发明“驱动元件”的一个例子而发挥功能。另外,控制部210是作为本发明“控制元件”的一个例子而发挥功能。 
而且,控制部210执行如下控制:将由眼底观察装置1所拍摄的两种图像,即,通过眼底相机单元1A所获得的眼底Ef表面的二维图像(眼底图像Ef′)、以及基于由OCT单元150所获得的检测信号而形成的眼底Ef的断层图像,并列显示在用户接口(UI)240的显示部240A上,该些图像可分别在显示器204A上显示,也可以并排同时显示。 
移动距离判定部211 
控制部210中设有移动距离判定部211。详细情形在后文叙述,不过移动距离判定部211进行参照镜174的移动距离的计算结果以及实际的移动距离两者的比较。 
图像形成部 
图像形成部220为进行依据眼底相机单元1A的摄像装置10、12的图像信号,形成眼底图像的图像数据的处理,以及依据OCT单元150的CCD184的检测信号,形成眼底Ef的断层图像的图像数据的处理。 
特别是,在基于来自OCT单元150的检测信号的图像形成处理中,图像形成部220在预定的图框内形成断层图像。在此,所谓图框是指图像的形成范围的框。在显示图像时,该图框内所形成的图像被显示出来。 
当使眼底相机单元1A在x方向和y方向上移动时,该图框内形成的图像会在眼底Ef的表面方向上有变化。另外,当使参照镜174移动时,也就是说改变参照光LR的光路径长度时,该图框内形成的图像的深度位置会改变。通过适当地调整这种眼底相机1A的位置以及参照镜174的位置,可以将眼底Ef的所需的位置和深度的图像形成在该图框内。 
图像形成部220以包含图像形成板208和通信接口209等而构成。另外,“图像”以及与其对应的“图像数据”也有视作相同的情况。 
图像形成部220(OCT图像形成板208b)作为本发明的“图像形成元件”而发挥功能。 
图像处理部 
图像处理部230为进行对图像形成部220形成的图像的图像数据,实施各种图像处理和分析处理的装置。例如,图像处理部230进行依据基于OCT单元150的检测信号的断层图像,形成眼底Ef的三维图像的图像数据的处理,或进行图像的亮度补正与色散补正等的各种补正处理。 
在此,所谓的三维图像的图像数据是将排列成三维的多数个立体像素(voxel)分别赋予像素值而构成的一种图像数据,也称为立体数据(volumndata)或voxel数据等等。在显示基于立体数据的图像时,图像处理部230对此体数据进行绘制(rendering)(立体绘制或MIP(Maximum IntensityProjection:最大值投影)),形成从特定视线方向观看时的仿真三维图像的图像数据。基于此图像数据的仿真三维图像则显示在显示器207等的显示装置上。 
再者,在图像处理部230中设置分析部231。分析部231因为进行分析 处理,以进行在眼底Ef的深度方向上的计测位置的定位,所以作为本发明的“分析元件”的一个例子而发挥功能。分析部231中包含信号水平计算部231、信号水平判断部233、图像位置指定部234以及移动距离计算部235。以下,说明各部232-235。 
信号水平计算部 
信号水平计算部232分析通过图像形成部220的OCT图像形成板208b所形成的图像(OCT图像),计算出此OCT图像的信号水平。可以使用任何公知的方法来作为图像的信号水平的演算方法。另外,作为信号水平的计算对象等的OCT图像可以是二维的断层图像,也可以是一维的深度方向的图像(后述)。另外,信号水平意味者OCT图像的图像数据中所包含的信号成分的强度,是从OCT图像的图像数据去除噪声成分(的至少一部分)后所得到的的成分的强度。此信号成分是反映眼底Ef的形态的成分。 
信号水平判断部 
信号水平判断部233将由信号水平计算部232计算出的信号水平的数值以及预定的临界值做比较,并且判断他们的大小关系。此临界值是预先设定的,并存储在硬盘动器204a等。 
图像位置指定部 
图像位置指定部234对通过信号水平判断部233判断为信号水平超过临界值的OCT图像进行分析,求取在前述图框的预定部分图像的位置。此部分图像例如是相当于眼底Ef的预定深度位置的图像。作为此深度位置,例如可以是在构成眼底Ef的多数个层(神经纤维层、视细胞层、网膜色素上皮层等)中,使用OCT图像中像素值(亮度值等)最大的层。 
另外,通过图像指定部234指定的部分图像并不限定在上所述的例子,也可以是相当于构成眼底Ef的多数层中的任意层的图像。另外,也可以将相当于眼底Ef的表面的图像区域指定作为上述的部分图像。 
移动距离计算部 
移动距离计算部235基于图像位置指定不234所指定的部分图像的位置,计算出参照镜174的移动距离。 
更具体地来说明的话,移动距离计算部235首先对由图像位置指定部234所得的在图框内的部分图像的位置以及图框内的指定位置之间的位移进行计算。此指定位置是预先设定作为图框内的预定深度位置。另外,此指定位置是设定在对于取得OCT图像的计测中,计测感度较为良好的图框内 的位置。 
假设此图框内的指定位置的深度方向(z方向)的坐标设定为z0,部分图像的指定位置的坐标值设定为z的话,移动距离计算部235计算出位移Δz=z-z0。此方法例如在部分图像为一维图像的场合,和构成二维部分图像的各像素的z坐标值为相同的场合等,是有效的。 
另一方面,在部分图像为二维图像且包含相异z坐标值的像素的场合,应用上面的方法是困难的。另外,在部分图像包含多数个一维图像的场合,也难以应用上述方法。在此,对于这些场合,可以应用以下的方法来求得位移Δz。 
首先,求取指定的部分图像中的指定图像的z坐标值z1,并且以该z坐标值z1作为该部分图像的z坐标值。之后,计算z1-z0,以此演算结果最为位移Δz。另外,作为上述指定像素例如可以使用z坐标值为最大的像素和最小的像素、z坐标值为中间(最大和最小的中间)的像素、在与深度方向垂直的方向上作为中心的像素等。 
作为其它方法,可以是将构成部分图像的多数像素的z坐标值的平均值,定义作为该部分图像的z坐标值。例如,在考虑由多数个一维图像(后述的深度方向的图像)构成的部分图像的场合,可以在各一维像素中指定像素值最大的像素,并将指定的多数像素的z坐标值平均值定义作为该部分图像的z坐标值。 
当以上所述方式计算出位移Δz,移动距离计算部235计算出与该位移Δz相对应的参照镜174的移动距离。在图框中的z方向的距离是在眼底Ef的深度方向(z方向)上预先对应付上的。移动距离计算部235基于这种距离的对应关系,计算出在图框中与位移Δz相对应的眼底Ef的深度方向的距离。在光图像计测装置中,可以取得与从光耦合器162到参照镜174为止的光学距离几乎相等的眼底Ef深度距离的图像。因此,参照镜174的移动距离等于移动距离计算部235所计算出来的眼底Ef的深度距离。 
进行以上动作的图像处理部230是由包含微处理器201、RAM202、ROM203、硬盘驱动器204(控制程序204a)等而构成。 
用户接口 
用户接口(User Interface,UI)240设置显示部240A和操作部240B。显示部240A由显示器207等的显示装置所构成,并且作为本发明的“显示元件”的一个例子而发挥作用。另外,操作部240B由由键盘205和鼠标206等的输入装置和操作装置所构成的。 
操作面板 
对眼底相机单元1A的操作面板3a进行说明。例如如图36所示,此操作面板3a是配设在眼底相机单元1A的架台上。 
操作面板3a设置有:为了取得眼底Ef的表面二维图像而使用于操作要求的输入的操作部;以及为了取得眼底Ef的断层图像而使用于操作指示的操作部。 
通过设置这种操作面板3a,也可以和操作旧有的眼底摄影机时相同的要领,进行取得眼底图像Ef’的操作和取得断层图像双方的操作。 
如图6所示,在本实施例的操作面板3a,设置有菜单切换键301、裂像(split)切换键302、摄影光量切换键303、观察光量切换键304、颚托切换键305、摄影切换键306、焦段切换键307、图像替换切换键308、固定视线标替换切换键309、固定视线标位置调整切换键310、固定视线标尺寸替换切换键311以及模式替换旋钮312。 
菜单切换键301是一种切换键,其用来操作以显示用户为了选择指定各种菜单(摄影眼底Ef的表面二维图像或断层图像等时的摄影菜单,为了进行各种设定输入的设定菜单等等)的预定菜单画面。 
当操作此菜单切换键301,其操作信号输入到控制部210。控制部210对应此操作信号的输入,使菜单显示在触摸屏11或显示部240A。另外,在眼底相机单元1A上设置控制部(未图标),也可以使该控制部将菜单画面显示在触摸屏11上。 
分割切换键302是用在切换对焦用的裂像亮线(参照如特开平9-66031等,也称为裂像视标或裂像标记等)的点亮与熄灭的切换。控制部210对应该操作信号的输入,控制裂像亮线投影部,使裂像亮线投影到受检眼E。另外,使该列像亮线投影到受检眼E的结构(列像亮线投影部)例如是置放在眼底相机单元1A内(图1中省略)。 
摄影光量切换键303是一种切换键,其操作用来对应受检眼E的状态(例如水晶体的混浊度等)等,调整摄影光源103的输出光量(摄影光量)。在此摄影光量切换键303设有:为了增加摄影光量的摄影光量增加切换键“+”、为了减少摄影光量的摄影光量减少切换键“-”以及为了将摄影光量设定在预定的初期值(内设值)的复位切换键(中央按钮)。 
当操作摄影光量切换键303的其中一个,该操作信号输入到控制部210。控制部210对应该输入的操作信号,控制摄影光源103,调整摄影光量。 
观察光量切换键304是一种切换键,***作用来调整观察光源101的输出光量(观察光量)。在此观察光量切换键304设有例如为了调整观察光源101的输出光量(观察光量)的观察光量增加切换键“+”和为了减少观察光量的观察光量减少切换键“-”。 
当操作观察光量切换键304的其中一个,该操作信号输入到控制部210。 控制部210对应所输入的操作信号,控制观察光源101,调整观察光量。 
颚托切换键305是让的颚托(未显示)的位置进行移动的切换键。在颚托切换键305设置有例如使颚托向上移动的向上移动切换键(向上的三角形)和使颚托向下移动的向下切换键(向下的三角形)。 
当操作颚托切换键305的其中一个,该操作信号输入到控制部210。控制部210对应该输入的操作信号,控制颚托移动机构(未图标),使颚托往上方或下方移动。 
摄影切换键306是一种切换键,作为触发键(trigger switch)而操作,用来取得眼底Ef的表面二维图像或眼底Ef的断层图像。 
当摄影二维图像的菜单被选择时,若摄影切换键306***作,接受该操作信号的控制部210会控制摄影光源103而使摄影照明光输出,同时基于从检测该眼底反射光的摄像装置10所输出的图像信号,使眼底Ef的表面二维图像显示在显示部240A或触摸屏11。   
另一方面,当取得断层图像的菜单被选择时,若摄影切换键306***作,接受该操作信号的控制部210会控制低相干光源160而使低相干光L0输出,控制检流计镜141A、141B并使信号光LS扫描,同时基于检测干涉光LC的CCD184所输出的检测信号,使图像形成部220(及图像处理部230)形成的眼底Ef断层图像显示在显示部240A或触摸屏11。 
焦段切换键307是一种切换键,***作用来变更眼底Ef的摄影时的画角(变焦倍率)。在每次操作此焦段切换键307时,例如交替地设定成摄影画角为45度和22.5度。 
当操作此焦段切换键307,接受该操作信号的控制部210控制未图标的倍率可变透镜驱动机构,使倍率可变透镜124在光轴方向上移动,以变更摄影画角。 
图像切换键308是一种***作用来切换显示图像的切换键。当眼底观察图像(来自摄像装置12的图像信号)显示在显示部240A或触摸屏11时,若操作图像切换键308,接受此操作信号的控制部210使眼底Ef的断层图像显示在显示部240A或触摸屏11。 
另一方面,当断层图像显示在显示部240A或触摸屏11时,若操作图像切换键308,接受此操作信号的控制部210使眼底观察图像显示在显示部240A或触摸屏11。 
固定视线标替换切换键309是***作用来对利用LCD的内部固定视线标的显示位置(即在眼底Ef的内部固定视线标的投影位置)进行切换的切换键。通过操作此固定视线标替换切换键309,使内部固定视线标的显示位置例如在“为了取得眼底中心的周边区域的图像的固定视线位置”、“为了取得黄斑的周边区域的图像的固定视线位置”、“为了取得视神经乳突的周边 区域的图像的固定视线位置”之间做巡回替换。 
控制部210对应来自固定视线标替换切换键309的操作信号,使内部固定视线标显示在LCD140的表面上的相异位置。另外,对应上述三个固定视线位置的内部固定视线标的显示位置是例如基于临床数据而预先设定的,或者是对每个受检眼E或各图像摄影事先设定。 
固定视线标位置调整切换键310是***作用来调整内部固定视线标的显示位置的切换键。在此固定视线标位置调整切换键上设置有:使内部固定视线标的显示位置往上方移动的上方移动切换键、使往下方移动的下方移动切换键、使往左方移动的左方移动切换键、使往右方移动的右方移动切换键、使移动到预定初期位置(内设位置)的复位切换键。 
控制部210当接受到来自上述任一切换键的操作信号时,对应该操作信号控制LCD140,借此使内部固定视线标的显示位置移动。 
固定视线标尺寸替换切换键311是***作用来变更内部固定视线标的尺寸的切换键。当操作此固定视线标尺寸替换切换键311,接受该操作信号的控制部210变更显示在LCD140上的内部固定视线标的显示尺寸。内部固定视线标的显示尺寸例如在“一般尺寸”和“加大尺寸”之间交互切换。借此,变更投影在眼底Ef的固定视线标的投影像的尺寸。控制部210当接受到来自固定视线标尺寸替换切换键311的操作信号,对应该操作信号控制LCD140,借此变更内部固定视线标的显示尺寸。 
模式替换旋钮312是一种被旋转操作、用以选择各种摄影模式(对眼底Ef的二维图像进行摄影的眼底摄影模式、进行信号光LS的B扫描的B扫描模式、使信号光LS进行三维扫描的三维扫描模式等等)的旋钮。另外,此模式替换旋钮312也可以选择再生模式,其用以对取得的眼底Ef二维图像或断层图像进行再生显示。另外,也可以选择摄影模式,控制成在信号光LS的扫描后立刻进行眼底摄影。进行上述各模式的控制是由控制部210执行。 
以下,分别说明利用控制部210所进行的信号光LS的扫描的控制形态,以及利用图像形成部220与图像处理部230对OCT单元150的检测信号的处理状态。另外,对眼底相机单元1A的图像信号的图像形成部220等的处理,与先前的处理相同,故省略。 
关于信号光的扫描 
信号光LS的扫描如上所述,是通过变更眼底相机单元1A的扫描单元141的检流计镜141A、141B的位置(反射面的朝向)而进行。控制部210分别控制镜片驱动机构241、242,以此分别变更检流计镜141A、141B的反射面的朝向,从而在眼底Ef上扫描信号光LS。 
当变更检流计镜141A的反射面的朝向时,在眼底Ef的水平方向上(图1的x方向)扫描信号光LS。另一方面,当变更检流计镜141B的反射面的朝向时,在眼底Ef的垂直方向(图1的y方向)上扫描信号光LS。而且,同时变更检流计镜141A、141B两者的反射面的朝向,以此可以在将x方向与y方向合成的方向上扫描信号光LS。即,通过控制这两个检流计镜141A、141B,可以在xy平面上的任意方向上扫描信号光LS。 
图8表示用以形成眼底Ef的图像的信号光LS的扫描形态的一例。图8(A)表示从信号光LS入射受检眼E的方向观察眼底Ef(也就是从图1的-z方向观察+z方向)时,信号光LS的扫描形态的一例。而且,图8(B)表示眼底Ef上的各扫描线上扫描点(进行图像计测的位置;信号光LS的照射位置)的排列形态的一例。 
如图8(A)所示,在预先设定的矩形扫描区域R内扫描信号光LS。在该扫描区域R内,在x方向上设定有多条(m条)扫描线R1-Rm。当沿着各扫描线Ri(i=1-m)扫描信号光LS时,产生干涉光LC的检测信号。 
此处,将各扫描线Ri的方向称为“主扫描方向”,将与该方向正交的方向称为“副扫描方向”。因此,在主扫描方向上扫描信号光LS是通过变更检流计镜141A的反射面的朝向而进行,在副扫描方向上的扫描是通过变更检流计镜141B的反射面的朝向而进行。 
在各扫描线Ri上,如图8(B)所示,预先设定有多个(n个)扫描点Ri1-Rin。 
为了执行图8所示的扫描,控制部210首先控制检流计镜141A、141B,将对眼底Ef的信号光LS的入射目标设定为第1扫描线R1上的扫描开始位置RS(扫描点R11)。接着,控制部210控制低相干光源160,使低相干光L0闪光,并使信号光LS入射于扫描开始位置RS。CCD184接收该信号光LS的扫描开始位置RS上因眼底反射光而来的干涉光LC,并将检测信号输出至控制部210。 
接着,控制部210控制检流计镜141A,并在主扫描方向上扫描信号光LS,将该入射目标设定为扫描点R12,使低相干光L0闪光而使信号光LS入射到扫描点R12。CCD184接收该信号光LS的扫描点R12上因眼底反射光而来的干涉光LC,并将检测信号输出至控制部210。 
控制部210同样,一边将信号光LS的入射目标依次移动为扫描点R13、R14、...、R1(n-1)、R1n,一边在各扫描点上使低相干光L0闪光,以此获取与各扫描点的干涉光LC相对应地从CCD184所输出的检测信号。 
当第1扫描线R1的最后的扫描点R1n上的计测结束时,控制部210同时控制检流计镜141A、141B,使信号光LS的入射目标沿着换线扫描r而移动到第2扫描线R2最初的扫描点R21为止。而且,对该第2扫描线R2的 各扫描点R2j(j=1-n)进行上述计测,以此分别获取对应于各扫描点R2j的检测信号。 
同样,分别对第3扫描线R3、...、第m-1扫描线R(m-1)、第m扫描线Rm进行计测,从而获取对应于各扫描点的检测信号。另外,扫描线Rm上的符号RE是对应于扫描点Rmn的扫描结束位置。 
以此,控制部210获取对应于扫描区域R内的m×n个扫描点Rij(i=1-m,j=1-n)的m×n个检测信号。以下,将对应于扫描点Rij的检测信号表示为Dij。 
如上所述的扫描点的移动与低相干光L0的输出的连动控制,例如,可以通过使控制信号相对于镜片驱动机构241、242的发送时序(timing)、与控制信号(输出要求信号)相对于低相干光源160的发送时序互相同步而实现。 
当控制部210如上所述使各检流计镜141A、141B动作时,存储有各扫描线Ri的位置或各扫描点Rij的位置(xy坐标系中的坐标),作为表示其动作内容的信息。该存储内容(扫描位置信息)与先前同样用于图像形成处理中。 
关于图像形成处理 
以下,针对图像处理部220及图像形成处理部230的OCT图像(眼底Ef的断层图像)有关的处理,说明其中之一例。 
图像处理部220执行沿着各扫描线Ri(主扫描方向)的眼底Ef的断层图像形成处理。另外,图像处理部230进行基于图像形成部220形成的断层图像的眼底Ef的三维图像的形成处理等。 
图像形成部220的断层图像的形成处理与先前同样,包含两阶段的运算处理。在第1阶段的运算处理,根据对应于各扫描点Rij的检测信号Dij,形成在该扫描点Rij的眼底Ef的深度方向(图1所示z方向)的图像。 
图9表示由图像处理部220所形成的断层图像(群)的形态。在第2阶段的运算处理,对于各扫描线Ri,根据其上的n个扫描点Ri1-Rin上的深度方向的图像,形成沿着该扫描线Ri的眼底Ef的断层图像Gi。此时,图像形成部220参照各扫描点Ri1-Rin的位置信息(上述扫描位置信息),决定各扫描点Ri1-Rin的排列及间隔,并形成该扫描线Ri。 
经过以上的处理,可获得副扫描方向(y方向)上不同位置上的m个断层图像(断层图像群)G1-Gm。 
接着,说明图像处理部230的眼底Ef的三维图像的形成处理。眼底Ef的三维图像是根据通过上述运算处理所获得的m个断层图像而形成。图像处理部220进行在邻接的断层图像Gi、G(i+1)之间内插图像的众所周知 的内插处理等,从而形成眼底Ef的三维图像。 
此时,图像处理部230参照各扫描线Ri的位置信息而决定各扫描线Ri的排列及间隔,从而形成该三维图像。该三维图像中,根据各扫描点Rij的位置信息(上述扫描位置信息)与深度方向的图像的z坐标,设定三维坐标系(x、y、z)。 
而且,图像处理部230根据该三维图像,可以形成主扫描方向(x方向)以外的任意方向的剖面上眼底Ef的断层图像。当指定剖面时,图像处理部230确定该指定剖面上的各扫描点(及/或所内插的深度方向的图像)的位置,并从三维图像中抽取各确定位置上深度方向的图像(及/或所内插的深度方向的图像),且通过将所抽取的多个深度方向的图像进行排列而形成该指定剖面上眼底Ef的断层图像。 
另外,图9所示的图像Gmj表示扫描线Rm上的扫描点Rmj上深度方向(z方向)的图像。同样,可用“图像Gij”表示在上述第1阶段的运算处理中所形成的、各扫描线Ri上的各扫描点Rij上深度方向的图像。 
使用型态 
说明具有以上所述结构的眼底观察装置1。图10、图11所示的流程图是表示眼底观察装置1的使用型态的一个例子。此流程图所示的使用形态是要达到在眼底Ef深度方向上的计测位置的定位自动化。图10的流程图所示的处理是为了取得眼底Ef的OCT图像的准备阶段的处理。另外,图11的流程图所示的处理是眼底Ef的OCT图像的真正计测。 
准备阶段:图10 
步骤1 
首先,控制部210控制参照镜驱动机构243,将参照镜174配置在预定的初期位置(S1)。此初期位置是预先设定的。在此实施例中,使参照镜174移动到参照光LR的光路径长度为最短的位置。也就是说,在参照镜174的可移动范围内,将参照镜174配置在最靠近光耦合器162侧的位置。 
步骤2 
接着,进行取得OCT图像的计测(S2)。以下说明此处理的具体例子。首先,控制部210控制低相干光源160以输出低相干光L0,同时控制镜片驱动机构241、242以扫描信号光LS。经过参照镜174的参照光LR以及经过眼底Ef的信号光LS通过光耦合器而重叠,并产生干涉光LC。干涉光LC被绕射光栅182分光,并且各频谱被CCD184检测出来。CCD184将检测信号传送到演算控制装置200。例如对一个扫描线Ri来进行这样的处理(也就 是说对n个扫描点Ri1-Rin进行该处理)。 
步骤3 
接着,图像形成部220基于从CCD184所输入的检测信号形成OCT图像(S3)。此时,通过进行例如下面的处理,能够达到缩短处理时间。 
首先,图像形成部220从由CCD184输入的n个检测信号中,取出在预定个数的扫描点的检测信号。另外,被取出的检测信号的数目是预先决定的,例如设定在10个左右。 
其次,图像形成部220基于取出的各检测信号,形成深度方向的图像Gij(OCT图像)。借此,获得预定个数的深度方向的图像。 
步骤4 
接着,信号水平计算部232计算通过图像形成部220所形成的OCT图像的信号水平(S4)。此时,信号水平计算部232例如计算出步骤3所形成的各深度方向的图像的信号水平。 
步骤5 
接着,信号水平判断部233判断信号水平计算部232计算出的信号水平是否超过临界值(S5)。此时,信号水平判断部233例如对步骤4计算出的各深度方向的图像信号水平判断是否超过临界值,当所有深度方向的图像的信号水平超过临界值时,判断为“是”。另外,也可以是当多数个深度方向的图像中有预定个数的信号水平超过临界值时,判断为“是”。 
在此,信号水平超过临界值是相当于在该OCT图像的图框内包含眼底Ef的断层图像。另一方面,信号水平在临界值以下是意味着在该OCT图像的图框内不包含眼底Ef的断层图像。另外,即使在该OCT图像的图框内包含眼底Ef的断层图像的场合,该断层图像是否配置在图框内的适当位置(例如计测感度良好的位置),在此阶段还是不明确。 
步骤6 
在步骤5信号水平被判断为临界值以下的场合(S5,否),控制部210控制参照镜驱动机构243,使参照镜174移动特定距离(S6)。此特定距离是预先设定的。 
在此实施例,因为参照光LR的光路径长度为最短的位置是参照镜174的初期位置(参照步骤1),参照镜174被移动而使参照光LR的光路径长度延长特定距离。 
当参照镜174延长特定距离时,回到步骤S2,再度执行到步骤5为止 的处理。通过此方式,到步骤5的判断结果为“是”为止,反复地进行步骤2至步骤5。换句话说,在OCT图像的图框内出现眼底Ef的断层图像为止,以每次特定距离的方式来变更参照光LR的光路径长度。 
步骤7 
当判断在步骤5信号水平超过临界值时(S5,是),图像位置指定部234对在各OCT图像中预定部分图像的图框的位置进行指定(S7)。 
步骤8 
接着,移动距离计算部235基于在步骤7指定的部分图像的图框内的位置,计算出参照镜174的移动距离(S8)。 
步骤9 
控制部210以步骤8计算出的移动距离移动参照镜174(S9)。借此,与该部分图像相当的眼底Ef的深度位置\以及图框内的指定位置成为一致。 
步骤10 
步骤9的参照镜174的移动一结束,检测者操作操作部240B(例如摄影切换键306),要求开始眼底Ef的OCT图像(断层图像)的计测。控制部210控制低相干光源160和镜片驱动机构241、242等,开始OCT图像的真正计测(S10)。 
真正计测:图11 
步骤11 
当开始真正处理时,控制部210将沿着某条扫描线Rk(k=1-m)的断层图像Gk显示在显示部240A上(S11)。此时,控制部210沿著扫描线Rk反覆地扫描信号光LS,以实时地更新断层图像Gk的显示图像。检测者确认在图框内的断层图像Gk的位置。必要的话,检测者调整参照镜174的位置,使断层图像Gk配置在图框内的所冀望的位置。 
步骤12 
接着,检测者操作操作部240B,开始断层图像的深度位置的固定(S12)。以此,在由此取得的断层图像的图框内的位置便被设定。作为此位置,例如设定与在步骤11所表示的断层图像Gk中的眼底Ef的预定层相当的部分图像的位置(z坐标值)。以此设定的位置为本发明的“指定位置”的一个范 例。 
步骤13 
接着,进行一条扫描线的计测(S13)。也就是说,控制部210控制低相干光源160和镜片驱动机构241、242等,对第一扫描线R1上的扫描点R11-R1n依序照射信号光LS。CCD184依序检测基于照射到各扫描点R11-R1n的信号光的干涉光LC,将检测信号传送到图像形成部220。 
步骤14 
图像形成部220基于由CCD184依序输入的检测信号,形成在各扫描点R11-R1n的深度方向的图像G11-G1n,并将这些图像G11-G1n并列,形成研这扫描线R1的断层图像G1(S14)。 
步骤15 
在此,由控制部判断眼底Ef的计测是否结束(S15)。在此使用形态,当对m条扫描线R1-Rm的计测结束时,判断为“计测结束”(S15;是)。 
步骤16 
在计测未结束的场合(S15;否),图像位置指定部234 
对在沿着扫描线Ri(i=1-m-1)的各深度方向的图像Gij中的上述图框内的位置,进行指定(S16)。 
此时,从沿着扫描线Ri的n个深度方向的图像Gij中,取出预定数目,近对这些预定数目的图像,指定在图框内的部分图像的位置,通过这种方式,可以达到缩短处理时间。 
步骤17 
接着,移动距离计算部235基于步骤16所指定的部分图像的在图框内的位置,计算出参照镜174的移动距离(S17)。 
步骤18 
控制部210在图8(A)所示的换线扫描r之间,以步骤17计算出的移动距离使参照镜174移动(S18)。 
更具体的说明的话,控制部210通过使低相干光源160和镜片驱动机构241、242的动作定时以及参照镜驱动机构243的动作定时两者同步,在沿着扫描线Ri扫描信号光LS时,固定参照镜174的位置,沿着换线扫描r进行扫描期间,使参照镜174移动。 
以此方式,以固定参照镜174的位置的状态,适当地进行在各扫描点Rij的计测,同时在不进行换线扫描r之间(也就是信号光LS的照射位置的移动之中),可以改变参照镜174的位置。 
参照镜174一移动,进行对下一条R(i+1)的计测(S13)。经过这样做,到在步骤15判断为“否”为止,进行对m条的扫描线R1-Rm的计测,并取得m个断层图像G1-Gm。以上,结束图10、图11所示的使用形态的说明。 
使用形态的变化例 
另外,在步骤17计算出的参照镜174的移动距离为较长的场合、在参照镜174的移动速度较迟缓的场合等,会有无法在一次换线扫描r期间仅以目标距离移动参照镜。在此场合,例如通过应用以下所述的结构,可以使参照镜174移动目标的距离。 
参照镜驱动机构243具有作为致动器并从控制部210接收脉冲信号而动作的脉冲马达(步进马达)。另外,参照镜驱动机构243是对应一个脉冲信号,以预定的单位距离使参照镜174移动。其次,此脉冲数和移动距离的关系(关系信息)预先记忆在硬盘驱动器204中。 
在步骤18,控制部210将预定的脉冲数的脉冲信号传送到参照镜驱动机构243。参照镜驱动机构243在一个换线扫描r期间,以对应该脉冲数的距离使参照镜174移动。 
移动距离判定部211基于传送到参照镜174的脉冲数和上述关系信息,求取在一个换线扫描r期间的参照镜174的移动距离d1。其次,移动距离判定部211对此移动距离d1和步骤17计算出的移动距离(目标移动距离)的大小关系进行判定。在实际移动距离d1等於目标移动距离的场合,依循上述图11进行处理。 
另一方面,在实际移动距离d1比目标移动距离短的场合,控制部210更对参照镜驱动机构243传送脉冲信号。参照镜驱动机构243在下个换线扫描r期间,以对应该脉冲信号的脉冲数的距离,使参照镜174移动。 
移动距离判定部211求取第二次的移动距离d2,并演算到此为止的移动距离d1+d2。之后,移动距离判定部211对此移动距离的总和d1+d1以及目标移动距离的大小关系进行判定。 
这种处理反复地进行到移动距离的总和等于目标移动距离为止。以此,可以在多数次换线扫描r期间,以目标移动距离使参照镜174移动。 
另外,也可以使用电位计或转子编码器等的编码器来检测参照镜174的位置和移动距离,以取得参照镜174的实际移动距离,以此来取代如上所述的基于传送到脉冲马达的脉冲数,求取参照镜174的实际移动距离。 
另外,也可以是基于步骤17计算的目标移动距离和一次换线扫描r期 间的移动距离(单位移动距离),决定使参照镜174移动的次数后,进行参照镜174的移动控制,以此来取代在每次移动参照镜174比较实际移动距离和目标移动距离。 
具体范例 
针对以上说明的眼底观察装置1的使用形态,参照图12-图14来说明具体范例。 
在上述使用形态的步骤5的判断结果为“否”的场合,当取得OCT图像时,获得如图11所示的OCT图像H1。此OCT图像H1是形成在图框F内,但是图框F内并没有包含眼底Ef的断层图像。在此场合,因为与参照镜174的位置相对应的深度位置是存在于玻璃体内,眼底Ef的断层图像并没有出现在图框F内。 
另外,图11的符号F0是表示在参照镜174的移动距离的计算处理中所说明的图框F内的指定位置。在图11所示的图框中,z坐标值小的一侧(也就是图11的纸面上方)的计测感度是良好的。这是因为如步骤1所说明一般,参照镜174的初期位置是对应到z坐标值小的一侧。 
当在步骤5的判断结果为“是”的场合取得OCT图像时,得到如图12所示的OCT图像H2。此OCT图像H2形成在图框F内,眼底Ef的断层图像是包含在图框F内的z坐标值大的一侧(即图12的纸面下方)的区域。另外,图12的符号h是表示与前述像素值最大的部分图像相当的眼底Ef的层。 
图12所示的OCT图像H2包含眼底Ef的断层图像,但是此断层图像是显示在计测感度不良的图框F内。在上述的使用形态,通过步骤7到步骤9的处理,使断层图像显示在计测感度良好的图框F内的区域。 
也就是说,在步骤7,对与OCT图像H2的层h相当的部分图像的图框F内的位置进行指定,在步骤8,计算出此层h的z坐标值和指定位置F0的z坐标值之间的位移。求得参照镜174的移动距离。之后,在步骤9,以该移动距离使参照镜174移动。 
通过进行这样的处理,如图14所示的OCT图像H3一般,将层h配置在图框F内的指定位置F0,显示眼底Ef的断层图像。指定位置F0如前面所述,是设定在计测感度良好的图框F内的位置。因此,与图13的OCT图像H2的断层图像相较下,在OCT图像H3的断层图像被清楚地显示。 
通过以上叙述,步骤11所显示的OCT图像如图14的OCT图像H3一般,层h配置在图框F内的指定位置F0,或者层h配置在图框F内的指定位置F0的附近位置。也就是说,与旧有的眼底像机相同,利用眼底观察装置1的检查能够以额托或颚托等将受检者的脸固定配制而进行,并可以回避受检眼E本身大规模的移动。另外,因为由血流等引起的眼底Ef往z方向移 动,计测深度会有偏移产生。 
图11所示的处理是将OCT图像配置在这种图框F内的适当位置,而进行新的计测。也就是说,此处理与步骤11所示的OCT图像相同,使OCT图像配置在图框F内的指定位置F0,而进行新的计测。以此,根据上述的使用形态的话,可以取得层h配置在图框F内的指定位置F0(或其附近位置)的m个OCT图像(断层图像G1-Gm)。 
其它使用形态 
参照图15的流程图来说明本实施形态的眼底观察装置1的其它使用形态。 
此使用形态说明对由眼底Ef表面为曲面所引起的计测位置在深度方向的偏移进行补正的处理,也就是说,说明对在图框内的OCT图像的位置偏移进行补正。 
在此,图16显示眼底图像Ef’上所设定的扫描区域R。在此扫描区域R中设定有多数条扫描线Ri(参照图8(A))。另外,图17表示眼底Ef的侧方剖面图。 
接着说明进行图15所示的处理前的准备阶段的处理。首先,对眼底图像Ef”进行拍摄,并使其显示在显示部240A上。眼底图像Ef’是显示在显示部240A的显示画面2400的眼底图像显示部2401。 
接着,检测者观察显示的眼底图像Ef’并且设定取得OCT图像的区域(扫描区域R)。扫描区域R例如是设定成该中心位置是配置在眼底Ef的视神经***(图16的眼底图像Ef’中显示为圆形的部分)的中心。另外,图16所示的Rc表示扫描线R1-Rm中通过视神经***中心位置的扫描线。接着,移到图15所示的处理。 
检测者操作操作部240B,对在眼底图像Ef’上的视神经***的中心位置(关注部位)进行指定。控制部210选择通过指定的位置的扫描线Rc,同时严这该扫描线Rc反复地使信号光LS扫描。控制部210使由此反复扫描依次获得的断层图像Gc(未图标),以实时来更新显示。断层图像Gc显示在显示画面2400的OCT图像显示部2402。断层图像Gc。以此,显示在扫描线Rc的位置上的断层图像Gc的实时图像(S31)。 
另外,OCT图像显示部2402的显示范围设定为与图框F相同的范围。但是,在将OCT图像放大显示的场合等,只有图框F内一部份范围的图像显示在OCT图像显示部2402。 
接着,检测者操作操作部240B,决定在图框F内的OCT图像的位置(S32)。为此,检测者通过一边确认显示在OCT图像显示部2402的断层图像Gc的位置,一边调整参照镜174的位置,使断层图像Gc显示在OCT图 像显示部2402内的所希望位置。在此,调整位置以使断层图像Gc的预定部分图像(层h、眼底表面等)配置在指定位置F0。 
此时,也可以对表示在OCT图像显示部2402的指定位置F0的位置的信息进行显示,以支持位置调整。另外,与前述使用形态相同,也可以自动地进行OCT图像的定位。 
OCT图像的定位一结束,检测者进行预定的操作以开始计测(S33)。接受此信息后,控制部210控制镜片驱动机构241、242,使信号光LS的照射位置在第一扫描线R1上(最初的扫描点R11上)移动。之后,控制部210控制低相干光源160和镜片驱动机构241、242等,在扫描线R1的各扫描点R11-R1n上依序扫描信号光LS。基于各信号光LS的干涉光LC被CCD184检测出来。 
图像形成部220基于由CCD184依序输入的检测信号,形成在各扫描点R11-R1n的深度方向的图像G11-G1n,并形成断层图像G1(S35)。 
在此,控制部210判断对扫描线R1-Rm的计测是否结束(S36)。 
在计测未结束的场合(S36;否),图像位置指定部234从沿着扫描线Ri(i=1-m-1)的n个深度方向的图像Gij中取出预定数目,对这些预定数目图像中、层h在图框F内的位置进行指定。以此,指定出在图框F内的断层图像Gi的位置(S37)。 
接着,移动距离计算部235基于步骤37所指定的层h在图框F内的位置,计算出参照镜174的移动距离(S38)。 
控制部210在进行换线扫描r的期间,以步骤38计算出的移动距离使参照镜174移动(S39)。直到步骤36判断出“是”为止,反复地进行上述处理,通过此方式可以取得与扫描线R1-Rm相对应的断层图像G1-Gm。 
在此使用形态,当使信号光LS从扫描线Rc移动到扫描线R1时,会产生深度方向的计测位置偏移。也就是说,如图17所示,因为扫描线Rc和扫描线R1之间存在z方向的位移Δ1,所以在扫描线Rc的计测深度和在扫描线R1的计测深度会产生该位移Δ1左右的偏移。 
另外,因为扫描线Ri(i=1-m-1)和扫描线R(i+1)之间存在微小的z方向位移,所以在扫描线Ri的计测深度和在扫描线R(i+1)的计测深度也产生些许偏移。 
根据此使用形态的话,可以逐次修正因为这种眼底Ef的曲面形状而造成的计测深度偏移,并且取得断层图像G1-Gm。 
另外,在此使用形态中,基于实际取得的OCT图像的在图框内的位置,修正计测深度的偏移,但是也可以是基于事先取得的计测深度位移来修正偏移。例如,在眼底Ef的曲率为已知的场合,可以由该曲率来演算出计测深度的位移。另外,在过去取得该眼底Ef的OCT图像的场合,可以基于过 去的OCT图像,演算计测深度的位移。 
作用、效果 
说明以上所述的眼底观察装置1的作用和效果。 
眼底观察装置1是作为可以计测眼底Ef的断层图像等的OCT图像而作用的。该眼底观察装置1是架构成对在图框F内的该OCT图像的位置进行指定,并且基于指定的位置,改变参照镜174的位置,以使新形成的OCT图像被配置在图框F内的预定位置。 
如上所述,根据此眼底观察装置1的话,因为可以取得配置在图框F内的指定位置的OCT图像,所以可以取得眼底Ef(被测定物体)的目标深度位置的图像。 
在此,所谓的图框F内的预定位置,在上述实施形态中,为层h被配置在指定位置F0一般的断层图像Gi的位置,一般来说,是设在可以较高感度来计测被测定物体的图框F内的位置。此层h是相当于眼底Ef的预定深度位置的部分图像。 
另外,眼底观察装置1因为架构成只有在利用扫描单元141的信号光LS的照射位置的移动中,使参照镜174移动,所以可以固定参照镜174的位置的状态下进行各扫描点Rij的计测,同时可以对为了取得断层图像G1-Gm的计测深度位置进行补正。特别是,眼底观察装置1沿着预先设定的多数条扫描线Ri对信号光LS进行扫描,并且只有在信号光LS的照射位置从这些扫描线Ri其中之一的扫描线移动到其它扫描线之间,来移动参照镜174。 
另外,眼底观察装置1计算出使新形成的OCT图像配置到预定位置的参照镜174的移动距离,同时在实际移动的距离比该计算出来的距离短的场合下,在下次以后的信号光LS的照射位置的移动之中,更使参照镜174移动,借此以该计算出的距离使参照镜174移动。以此,即使在眼底Ef在深度方向大规模移动的场合、在参照镜174的移动速度小的场合等等,也可以取得目标深度位置的OCT图像。 
另外,眼底观察装置1是架构成在扫描线Ri的多数个扫描点Rij上依次使信号光LS的照射位置移动,并检测出基于照射在各扫描点Rij的信号光的干涉光LC,同时对基于预定数目的干涉光LC的检测结果、深度方向的图像Gij的在图框F内的位置进行指定,并基于此指定的位置,使参照镜174移动,使得新的OCT图像配置在图框F内的指定位置。以此,可以达到缩短取得目标深度位置的OCT图像的处理时间,例如每个扫描线Ri可以大致以实时进行深度位置的补正。 
另外,眼底观察装置1架构成计算出所形成的OCT图像的信号水平,并 在该信号水平超过临界值的场合,可以使参照镜174移动;此外更移动参照镜174,以使新形成的OCT图像配置在预定位置。以此,在最初阶段图框F内没有显示出OCT图像的场合,可以自动地补正深度位置而使OCT图像呈现在图框F内,此外更可以补正深度位置,以使OCT图像配置在图框F内的预定位置。 
变化例 
以上说明的结构不过是实施本发明光图像计测装置的一个较佳实施例而已。因此,在本发明的旨趣内可以做任何适当的变化。 
例如,在上述实施例中,通过改变参照镜174的位置,来改变信号光的光路和参照光的光路之间的差(光路长度差),但是,变更光路长度差的方法并不限定于此方式。例如,使眼底相机单元1A和OCT单元150一整体地相对受检眼E移动,来改变信号光LS的光路径长度,借此得以变更光路长度差。另外,也可以通过使被测定物体在深度方向(z方向)移动,来改变光路径长度差。一般而言,可以应用改变信号光和参照光间的光路长度差的任意结构,作为“变更元件”。 
另外,在上述实施形态中,在换线扫描r之间(亦即,改变扫描线之间)进行信号光和参照光的光路径长度差的变更,但是进行光路径长度差的变更的时间点并不限定在此。例如,可以在使信号光LS的照射位置从任意扫描点移动到下一个扫描点之间来变更光路径长度差。一般而言,信号光和参照光的光路径长度差的变更可以在低相干光源160不点亮的时候、信号光没有照射到被测定物体的时候、CCD184不检测干涉光LC的时候等等不实际进行形成OCT图像的任意时间点来进行。 
另外,在上述实施例中,将参照光的光路径长度为最短的状态作为初期状态,并探求信号水平超过临界值的状态,但是也可以例如将参照光的光路径长度为最长的状态等的任意状态作为初期状态,并探求目的状态。 
另外,在上述实施形态中,一边阶段地将参照光的光路径长度变长,一边探求信号水平超过临界值的状态,但是,也可以是阶段地将参照光的光路径长度变短,并探求目的状态。其次,也可以是一边使参照光的光路径长度变长变短,到达追求到目的状态为止。另外,取代改变参照光的光路径长度的方式有:使信号光的光路径长度阶段地变长(或变短)以探求目的状态,或者是使信号光的光路径长度变长变短,到达追求到目的状态为止。 
另外,在上述实施例中,基于OCT图像的信号水平,判断图框内的被侧体物体的图像位置,但是也可以是基于相对于信号水平的噪声水平(S/N比),进行图像位置的判断。 
OCT图像的S/N比的演算是由分析部231(分析元件)进行。另外,作为 S/N比的算法,可以使用公知的任意方法。另外,作为S/N比的计算对象的OCT图像也可以是二维的断层图像,或也可以是一维的深度方向的图像。 
因为考虑这种S/N比,可以达到图像位置的判断的精确度提升。特别是,通过被测定物体和装置的状态等,OCT图像所包含的噪声较多的场合,或者无法有效地去除噪声的场合,希望可以考虑S/N比。 
上述实施例所说明的眼底观察装置是以包含傅立叶领域型的OCT装置来构成,但是也可以应用时间领域(time domain)型的OCT装置。另外,时间领域型的OCT装置例如有本案申请人的日本专利公开案特开2005-241464号公报等。另外,也可以使用扫查源(swept source)型等的其它任意型式的OCT装置。 
关于程序 
说明控制本发明装置的程序。在上述实施例中,控制程序204a相当于此程序。 
本程序是使光图像计测装置发挥作为以下的分析元件与控制元件的功能,其中光图像计测装置具有:光源,输出低相干光;干涉光产生元件,将输出的低相干光分割成导向被测定物体的信号光以及导向参照物体的参照光,并使经由被测定物体的信号光和经由参照物体的参照光重叠,以产生干涉光;变更元件,改变信号光和参照光的光路径长度差;检测元件,检测产生的干涉光;图像形成元件,基于检测元件的检测结果,在预定的图框内形成被测定物体的图像。分析元件分析形成的图像,对在预定图框内的图像的位置进行指定。控制元件,基于指定的位置,控制变更元件,改变光路径长度差,以使得前述图像形成元件所新形成的被测定物体的图像被配置在预定图框内的指定位置。 
根据本程序的话,因为可以取得配置在预定图框内的预定位置的图像,所以可以取得被测定物体的目标深度位置的图像。 
此程序可以记忆在可由计算器的驱动器装置读取的任意记忆媒体中。例如,可以使用光盘、光磁性盘(CD-ROM/DVD-RAM/DVD-ROM/MO等)、磁性内存(硬盘/软盘(floppy,登录商标)/ZIP等)等的记忆媒体。另外,也可以记忆在硬盘驱动器和内存等的记忆装置。其次,可以通过互联网和LAN斗的网络传送此程序。 

Claims (9)

1.一种光图像计测装置,其特征在于:包括:
光源,输出低相干光;
干涉光产生元件,将前述输出的低相干光分割成导向被测定物体的信号光以及导向参照物体的参照光,并使经由前述被测定物体的信号光和经由前述参照物体的参照光重叠,以产生干涉光;
变更元件,改变前述信号光和前述参照光的光路径长度差;
检测元件,检测前述产生的干涉光;
图像形成元件,基于前述检测元件的检测结果,在预定的图框内形成前述被测定物体的图像;
分析元件,分析前述形成的图像,对在前述预定图框内的该图像的位置进行指定;及
控制元件,基于前述预定图框内的前述指定位置,控制前述变更元件,改变前述光路径长度差,以使得前述图像形成元件所新形成的前述被测定物体的图像被配置在前述预定图框内的预定位置;
前述分析元件对前述形成的图像,指定出与前述被测定物体的预定深度位置相当的部分图像的在前述预定图框内的位置,
前述控制元件通过改变前述光路径长度差,以在前述新形成的图像中,使得前述部分图像配置在前述预定图框内的前述指定位置,借此将前述新形成图像配置在前述预定图框内的前述预定位置,
前述分析元件对前述形成的图像,求取在前述预定图框内的前述部分图像的位置,并且计算出前述求得的位置和前述预定图框内的前述指定位置间的位移,
前述控制元件,通过以对应前述位移的距离改变前述光路径长度差,借此将前述新形成图像的前述部分图像配置在前述预定图框内的前述指定位置。
2.根据权利要求1所述的光图像计测装置,其特征在于:还包括:
扫描元件,用以使对前述被测定物体的前述信号光的照射位置移动,
前述控制元件仅在前述扫描元件使前述照射位置移动的期间内,改变前述光路径长度差。
3.根据权利要求2所述的光图像计测装置,其特征在于:
前述分析元件计算出前述光路径长度差的变更距离,以将前述新形成图像配置在前述预定图框内的前述预定位置,
前述控制元件,在前述照射位置的移动中改变的前述光路径长度差比前述变更距离短的场合,更在后续前述扫描元件使前述照射位置移动时,改变前述光路径长度差,借此以前述变更距离改变前述光路径长度差。
4.根据权利要求2所述的光图像计测装置,其特征在于:
前述扫描元件,沿着预先设定的多数条扫描线,对前述信号光进行扫描,
前述控制元件,只有在将照射位置从前述多数条扫描线其中之一的扫描线移动至其它扫描线之间,改变前述光路径长度差。
5.根据权利要求2所述的光图像计测装置,其特征在于:
前述扫描元件是使前述照射位置在预先设定的扫描在线的多数个扫描点上依序移动,
前述检测元件检测出基于分别照射在前述多数个扫描点的前述信号光的干涉光,
前述分析元件对各个基于前述多数个干涉光中的预定数目干涉光的检测结果,由前述图像形成元件所形成的前述被测定物体的深度方向的图像,指定在前述预定图框内的位置,
前述控制元件基于对前述预定数目的前述深度方向的各个图像所指定的位置,控制前述变更元件,改变前述光路径长度差,使得由前述图像形成元件新形成的图像配置在前述预定图框内的前述预定位置。
6.根据权利要求1所述的光图像计测装置,其特征在于:
前述参照物体为反射前述参照光的反射镜,
前述变更元件还包括驱动元件,其使前述反射镜在前述参照光的行进方向上移动。
7.根据权利要求1所述的光图像计测装置,其特征在于:
前述分析元件分析前述形成的图像,计算出前述形成的图像的信号水平或相对信号水平的噪声比,并判断前述信号水平或相对信号水平的噪声比是否超过临界值,
前述控制元件,在判断超过前述临界值时而改变前述光路径长度差后,改变前述光路径长度差,以使由前述图像形成元件新形成的图像配置在前述预定图框内的前述预定位置上。
8.根据权利要求7所述的光图像计测装置,其特征在于:
前述控制元件当判断前述信号水平或相对信号水平的噪声比在临界值以下时,以指定距离改变前述光路径长度差,
前述分析元件在前述光路径长度差以指定距离改变后,计算出基于前述检测的干涉光的新图像的信号水平或相对信号水平的噪声比,并判断前述信号水平或相对信号水平的噪声比是否超过前述临界值。
9.根据权利要求1所述的光图像计测装置,其特征在于:
前述图像形成元件基于通过前述检测元件依序检测出的干涉光的检测结果,将前述被测定物体的图像依序形成在前述预定的图框内,
前述分析元件,对前述依序形成的图像,依序指定在前述预定图框内的前述预定位置,
前述控制元件基于前述依序指定的位置,逐次改变前述光路径长度差,将通过前述图像形成元件形成的下一个图像配置在前述预定图框内的位置。
CN200710301393XA 2006-12-26 2007-12-25 光图像计测装置 Expired - Fee Related CN101234015B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006349880 2006-12-26
JP2006349880A JP4996917B2 (ja) 2006-12-26 2006-12-26 光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラム
JP2006-349880 2006-12-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101234015A CN101234015A (zh) 2008-08-06
CN101234015B true CN101234015B (zh) 2011-03-02

Family

ID=39301108

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200710301393XA Expired - Fee Related CN101234015B (zh) 2006-12-26 2007-12-25 光图像计测装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7643154B2 (zh)
EP (1) EP1939580B1 (zh)
JP (1) JP4996917B2 (zh)
CN (1) CN101234015B (zh)

Families Citing this family (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7365856B2 (en) 2005-01-21 2008-04-29 Carl Zeiss Meditec, Inc. Method of motion correction in optical coherence tomography imaging
US7805009B2 (en) 2005-04-06 2010-09-28 Carl Zeiss Meditec, Inc. Method and apparatus for measuring motion of a subject using a series of partial images from an imaging system
US7659509B2 (en) * 2006-10-31 2010-02-09 Agilent Technologies, Inc. System for scanning probe microscope input device
US7952722B2 (en) * 2007-12-12 2011-05-31 Kabushiki Kaisha Topcon Optical image measurement device
JP5231802B2 (ja) * 2007-12-29 2013-07-10 株式会社ニデック 眼科撮影装置
JP5179265B2 (ja) * 2008-06-02 2013-04-10 株式会社ニデック 眼科撮影装置
JP5331395B2 (ja) * 2008-07-04 2013-10-30 株式会社ニデック 光断層像撮影装置
JP5679630B2 (ja) * 2008-12-26 2015-03-04 キヤノン株式会社 光断層撮像装置及びその方法
JP5404078B2 (ja) * 2009-02-03 2014-01-29 株式会社トプコン 光画像計測装置
JP5601609B2 (ja) * 2009-03-23 2014-10-08 株式会社ニデック 眼科観察プログラム及び眼科観察装置
JP5437755B2 (ja) 2009-04-15 2014-03-12 株式会社トプコン 眼底観察装置
JP5415812B2 (ja) * 2009-04-17 2014-02-12 株式会社トプコン 光画像計測装置及びその制御方法
JP5017328B2 (ja) * 2009-08-11 2012-09-05 キヤノン株式会社 断層像撮像装置およびその制御方法、プログラム、記憶媒体
JP5415902B2 (ja) * 2009-10-27 2014-02-12 株式会社トプコン 眼科観察装置
JP4916573B2 (ja) * 2010-01-28 2012-04-11 パナソニック株式会社 光干渉計測方法および光干渉計測装置
JP5511437B2 (ja) 2010-02-25 2014-06-04 株式会社ニデック 光断層像撮影装置
JP5754976B2 (ja) 2010-03-31 2015-07-29 キヤノン株式会社 画像処理装置、及び、制御方法
JP5601613B2 (ja) * 2010-07-05 2014-10-08 株式会社ニデック 眼底撮影装置
JP5901124B2 (ja) * 2011-03-10 2016-04-06 キヤノン株式会社 撮像装置およびその制御方法
US9033510B2 (en) 2011-03-30 2015-05-19 Carl Zeiss Meditec, Inc. Systems and methods for efficiently obtaining measurements of the human eye using tracking
JP5289496B2 (ja) * 2011-03-31 2013-09-11 キヤノン株式会社 眼科装置
JP5220208B2 (ja) * 2011-03-31 2013-06-26 キヤノン株式会社 制御装置、撮像制御方法、およびプログラム
JP5220155B2 (ja) 2011-03-31 2013-06-26 キヤノン株式会社 眼科装置および眼科装置の制御方法
US8733934B2 (en) * 2011-05-16 2014-05-27 Wavelight Gmbh Instrument for examining or machining a human eye
US8857988B2 (en) 2011-07-07 2014-10-14 Carl Zeiss Meditec, Inc. Data acquisition methods for reduced motion artifacts and applications in OCT angiography
JP6166509B2 (ja) 2012-01-16 2017-07-19 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像方法
US9101294B2 (en) 2012-01-19 2015-08-11 Carl Zeiss Meditec, Inc. Systems and methods for enhanced accuracy in OCT imaging of the cornea
JP2013146447A (ja) * 2012-01-20 2013-08-01 Canon Inc 撮影装置、画像処理方法、及びプログラム
JP6188297B2 (ja) 2012-01-25 2017-08-30 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム
JP5174258B2 (ja) * 2012-03-13 2013-04-03 キヤノン株式会社 断層像撮像装置およびその制御方法、プログラム
WO2013159280A1 (zh) * 2012-04-24 2013-10-31 深圳市斯尔顿科技有限公司 眼科光学相干断层成像***及快速切换实现前后节成像方法
JP5436630B2 (ja) * 2012-07-13 2014-03-05 キヤノン株式会社 断層像撮像装置および断層撮像方法、プログラム
CN102860814B (zh) * 2012-08-24 2015-06-10 深圳市斯尔顿科技有限公司 一种oct合成眼底图视盘中心定位方法及设备
EP2926722A4 (en) 2012-11-30 2016-12-21 Kk Topcon PHOTOGRAPHER FOR EYE BACKGROUND
JPWO2014084139A1 (ja) * 2012-11-30 2017-01-05 興和株式会社 光画像計測装置
EP2929327B1 (en) 2012-12-05 2019-08-14 Perimeter Medical Imaging, Inc. System and method for wide field oct imaging
JP6227337B2 (ja) * 2013-01-24 2017-11-08 株式会社日立エルジーデータストレージ 光計測装置
JP6300443B2 (ja) * 2013-01-31 2018-03-28 キヤノン株式会社 光断層撮像装置およびその制御方法
JP6274728B2 (ja) * 2013-01-31 2018-02-07 キヤノン株式会社 光干渉断層撮像装置およびその制御方法
JP6184113B2 (ja) * 2013-01-31 2017-08-23 キヤノン株式会社 光断層撮像装置およびその制御方法
JP6188339B2 (ja) * 2013-01-31 2017-08-30 キヤノン株式会社 光断層撮像装置およびその制御方法
JP5601623B2 (ja) * 2013-03-22 2014-10-08 株式会社ニデック 眼科撮影装置
JP5696178B2 (ja) * 2013-05-29 2015-04-08 株式会社トプコン 光断層画像化装置及びその作動方法
JP6367530B2 (ja) * 2013-07-11 2018-08-01 株式会社トーメーコーポレーション 断層画像撮影装置及び断層画像の画像生成制御方法
JP5584345B2 (ja) * 2013-10-28 2014-09-03 株式会社トプコン 光画像計測装置及び撮影装置
JP5714083B2 (ja) * 2013-12-02 2015-05-07 キヤノン株式会社 眼科装置、眼科用処理装置、眼科システム、断層画像取得方法、眼科用処理方法及びプログラム
JP5888343B2 (ja) * 2014-01-07 2016-03-22 株式会社ニデック 眼科撮影装置
JP6557229B2 (ja) * 2014-07-01 2019-08-07 興和株式会社 断層像撮影装置
JP6444080B2 (ja) 2014-07-14 2018-12-26 キヤノン株式会社 Oct装置およびその制御方法
JP5991415B2 (ja) * 2015-07-31 2016-09-14 株式会社ニデック 眼科撮影装置
EP3127472B1 (en) 2015-08-07 2019-10-09 Canon Kabushiki Kaisha Method and program for positioning an mage of an object on a tomogram and an optical coherence tomography apparatus therefor
JP6109369B2 (ja) * 2016-03-16 2017-04-05 キヤノン株式会社 撮像装置、制御装置及び制御方法
US11248904B2 (en) * 2017-03-29 2022-02-15 Rutgers, The State University Of New Jersey Systems and methods for real time measurement of surface curvature and thermal expansion of small samples
WO2019014767A1 (en) 2017-07-18 2019-01-24 Perimeter Medical Imaging, Inc. SAMPLE CONTAINER FOR STABILIZING AND ALIGNING EXCISED ORGANIC TISSUE SAMPLES FOR EX VIVO ANALYSIS
JP7202807B2 (ja) * 2018-08-10 2023-01-12 株式会社トプコン 眼科装置
JP7286853B2 (ja) * 2018-08-10 2023-06-05 株式会社トプコン 眼科装置、及びその制御方法
JP6732870B2 (ja) * 2018-12-19 2020-07-29 キヤノン株式会社 撮像装置
TWI682150B (zh) 2018-12-27 2020-01-11 財團法人工業技術研究院 自動校準光干涉裝置及光干涉裝置自動校準方法
JP7114655B2 (ja) * 2020-07-09 2022-08-08 キヤノン株式会社 撮像装置
US11819275B2 (en) 2020-12-16 2023-11-21 Canon Kabushiki Kaisha Optical coherence tomography apparatus, control method for optical coherence tomography apparatus, and computer-readable storage medium
DE102021131831A1 (de) 2021-12-02 2022-11-17 Lessmüller Lasertechnik GmbH Messvorrichtung für ein Bearbeitungssystem, Bearbeitungssystem und Verfahren zum Einstellen einer Messvorrichtung für ein Bearbeitungssystem

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1837782A (zh) * 2005-03-24 2006-09-27 株式会社拓普康 光图像计测装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4309056B4 (de) 1993-03-20 2006-05-24 Häusler, Gerd, Prof. Dr. Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Entfernung und Streuintensität von streuenden Punkten
JP3332802B2 (ja) * 1997-05-30 2002-10-07 武晃 吉村 光周波数掃引式断層画像測定装置
DE19814057B4 (de) 1998-03-30 2009-01-02 Carl Zeiss Meditec Ag Anordnung zur optischen Kohärenztomographie und Kohärenztopographie
DE19814070B4 (de) * 1998-03-30 2009-07-16 Carl Zeiss Meditec Ag Verfahren und Anordnung zur Kohärenz-Tomographie mit erhöhter Transversalauflösung
JP3819273B2 (ja) * 2000-10-31 2006-09-06 富士写真フイルム株式会社 画像化装置
DE10128219A1 (de) 2001-06-11 2002-12-12 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnungen für Kohärenz-topographisches Ray Tracing am Auge
JP2002236090A (ja) * 2001-11-30 2002-08-23 Olympus Optical Co Ltd 光断層イメージング装置
US7113818B2 (en) * 2002-04-08 2006-09-26 Oti Ophthalmic Technologies Inc. Apparatus for high resolution imaging of moving organs
JP2004073667A (ja) * 2002-08-21 2004-03-11 Pentax Corp 光断層内視鏡装置
CN1875242A (zh) * 2003-10-27 2006-12-06 通用医疗公司 用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备
US7145661B2 (en) * 2003-12-31 2006-12-05 Carl Zeiss Meditec, Inc. Efficient optical coherence tomography (OCT) system and method for rapid imaging in three dimensions
JP4546209B2 (ja) * 2004-09-30 2010-09-15 株式会社ニデック 眼科装置
JP2006122649A (ja) * 2004-09-30 2006-05-18 Nidek Co Ltd 被検物体の測定方法、及び該方法を用いた眼科装置
JP4566685B2 (ja) * 2004-10-13 2010-10-20 株式会社トプコン 光画像計測装置及び光画像計測方法
JP4907279B2 (ja) * 2005-09-30 2012-03-28 富士フイルム株式会社 光断層画像化装置
JP2007101250A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Fujifilm Corp 光断層画像化方法
JP4602372B2 (ja) * 2007-03-14 2010-12-22 株式会社トプコン 光画像計測装置及び光画像計測方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1837782A (zh) * 2005-03-24 2006-09-27 株式会社拓普康 光图像计测装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP特开2006-266861A 2006.10.05

Also Published As

Publication number Publication date
US20080151256A1 (en) 2008-06-26
EP1939580A3 (en) 2013-04-03
JP2008154939A (ja) 2008-07-10
CN101234015A (zh) 2008-08-06
US7643154B2 (en) 2010-01-05
EP1939580B1 (en) 2013-11-20
EP1939580A2 (en) 2008-07-02
JP4996917B2 (ja) 2012-08-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101234015B (zh) 光图像计测装置
CN101209199B (zh) 光图像计测装置
CN101084824B (zh) 眼底观察装置、眼科图像处理装置、以及眼科图像处理方法
CN101049230B (zh) 眼底观察装置
CN101273882B (zh) 光图像计测装置和光图像计测方法
CN101133943B (zh) 眼球运动测定装置
CN1939208B (zh) 眼底观察装置及眼底图像显示装置
CN101254090B (zh) 眼底观察装置以及眼底图像处理装置
CN101023861B (zh) 眼底观察装置
CN101204318B (zh) 眼底观察装置以及眼底图像显示装置
CN101268928B (zh) 眼底观察装置以及眼科图像显示装置
CN101229053B (zh) 光图像计测装置
CN101095610B (zh) 眼底观察装置
CN101040776B (zh) 眼底观察装置
CN101251365A (zh) 光图像计测装置
CN100998494B (zh) 光图像计测装置
CN100586364C (zh) 眼底观察装置
CN101677761A (zh) 光图像测量装置
CN101268927A (zh) 光图像计测装置以及图像处理装置
CN101273881A (zh) 光图像计测装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20110302

Termination date: 20131225