CN101222251A - 单时隙数控衰减的方法和*** - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种单时隙数控衰减的方法和***，所述方法包括：检测每个时隙的功率值；根据所述检测的功率值和***需要设置所述时隙的衰减值；将所述衰减值转换成控制信号并传到控制电路对所述时隙进行衰减。所述***包括：采样模块，用于经过ADC检测获取采样功率值；FPGA模块，用于补偿时延控制量；还用于根据时间特征窗查找出上行、下行时隙、切换点位置以及每个时隙的训练序列码的位置，依据所述功率值以及TD－SCDMA信号的时间特性，获得每个时隙的功率值；以及MCU和衰减控制电路。本发明针对TD－SCDMA***的特性，对无线帧各个子帧的每个时隙单独进行数控衰减，进而对各个时隙的输出功率进行有效的控制。
Description
【技术领域】
本发明涉及通信领域的时分***，尤其涉及单时隙数控衰减的方法和***。
【背景技术】
TD-SCDM***与其他3G***的最大不同在于物理层技术不同。在TD***中其上下行信道所使用的频率相同，每个无线帧长10ms。TD-SCDMA将每个无线帧分成2个5ms子帧，两个子帧的帧结构完全相同。
如图1所示，每个子帧由7个长度为675us的常规时隙(TS0-TS6)和3个特殊时隙(下行导频时隙DwPTs、保护间隔GP和上行导频时隙UpPTs)组成。常规时隙用来传送用户数据或控制信息，TS0总是固定地用作下行时隙来发送***广播信息，而TS1总是固定地用作上行时隙。其他的常规时隙可以根据需要灵活地配置成上行或下行以实现不对称业务的传输，用作上行链路的时隙和用作下行链路的时隙之间由1个转换点分开。除了DwPTs以及TS0时隙是常输出且功率恒定以外，其它时隙在有业务接入时才有突发脉冲，接入用户数量不同，其功率也就不同。
在TD-SCDMA***中，每个5ms的子帧中设有两个转换点，第1个转换点固定在TS0结束处，而第2个转换点则取决于小区上、下行时隙的配置。
由于TD-SCDMA***是干扰受限***，一般需要进行必要的功率控制以有效地限制***内部的干扰电平，从而降低小区内和小区间的干扰。另外，功率控制还可以克服蜂窝***的“远近效应”，并减小用户终端设备的功耗。而通过数控衰减能够达到功率控制的目的。
目前，对无线帧进行衰减的方法一般是对时隙功率进行衰减，将所有的时隙衰减一个固定的值。该方法的不足之处在于，由于TD-SCDMA***中各个子帧的时隙功率大小不一致，对所有的时隙衰减一个固定值可能导致一部分功率较大的时隙在衰减之后功率仍然比较大，不能起到降低小区内和小区间干扰的作用；而对一些原本功率就较小的时隙进行衰减，则衰减之后该时隙的功率可能变得很小，不能达到预期要求的信号覆盖范围，也可能导致用户终端设备功耗增大。
【发明内容】
本发明的发明目的是提供一种单时隙数控衰减的方法和***，以达到有效控制功率的目的。
为达到上述发明目的，本发明提出以下的技术方案：
一种单时隙数控衰减的方法，该方法包括以下步骤：
a、检测每个时隙的功率值；
b、根据所述检测的功率值和***需要设置所述时隙的衰减值；
c、将所述衰减值转换成控制信号并传到控制电路对所述时隙进行衰减。
其中，所述步骤a具体包括：
a1、FPGA补偿时延控制量；
a2、射频模块提供TD-SCDMA信号，经过ADC检测获取采样功率值；
a3、FPGA根据时间特征窗查找出上行、下行时隙、切换点位置以及每个时隙的训练序列码的位置，依据所述功率值以及TD-SCDMA信号的时间特性，获得每个时隙的功率值。
在一个实施例中，所述步骤b具体包括：
b11、根据***要求及所述功率值判断需要设置衰减值时，根据需求设置当前时隙所需输出功率，当前时隙输出功率减去当前时隙所需输出功率即得到该时隙数控衰减值；
b12、采用终端工具设置所述衰减值，并通过协议传送到MCU。
在另一个实施例中，所述步骤b具体包括：
b21、获得所述时隙的实际增益和最大增益，实际输出功率和最大功率；
b22、判断各个时隙的实际增益是否大于其最大增益，如果是，则所述实际增益减去最大增益得到的数值为该时隙的衰减值；否则转步骤b23；
b23、判断该时隙的实际输出功率是否大于该时隙的最大功率，如果是，则输出功率减去最大功率为第一衰减值；否则，第一衰减值为0；
b24、所述时隙的实际输出功率减去功率最小的时隙的输出功率，得到第二衰减值；
b25、所述第一衰减值与第二衰减值相加得到该时隙实际的衰减值。
其中，所述步骤b21具体包括：
根据直放站的额定功率值计算每个时隙的最大功率值；
采用ADC采样电路采样检测并运算出该时隙的输入功率和输出功率；
由输出功率减去输入功率得到该时隙的实际增益，再根据直放站的额定增益计算出该时隙的最大增益。
其中，所述步骤c具体包括：
c1、进行公式/算法进行处理后，将衰减值并转换成衰减控制信号传送给FPGA；
c2、FPGA根据时间特征窗查找出对应的时隙，将所述衰减控制信号发送到衰减电路对各个时隙进行衰减。
一种单时隙数控衰减的***，该***包括：
采样模块，用于经过ADC检测获取采样功率值；
FPGA模块，用于补偿时延控制量；还用于根据时间特征窗查找出上行、下行时隙、切换点位置以及每个时隙的训练序列码的位置，依据所述功率值以及TD-SCDMA信号的时间特性，获得每个时隙的功率值；
MCU，用于获得所述时隙的衰减值；还用于将所述衰减值转换成控制信号；
衰减控制电路，用于根据所述控制信号对所述时隙进行衰减。
优选地，该***还包括终端工具模块，用于设置所述时隙的衰减值，并将所述衰减值传送到MCU；所述衰减值通过以下方法获得：
根据***要求及所述功率值判断需要设置衰减值时，根据需求设置当前时隙所需输出功率，当前时隙输出功率减去当前时隙所需输出功率即得到该时隙数控衰减值。
其中，所述MCU获得所述时隙的衰减值的过程为：
获得所述时隙的实际增益和最大增益，实际输出功率和最大功率；
判断各个时隙的实际增益是否大于其最大增益，如果是，则所述实际增益减去最大增益得到的数值为该时隙的衰减值；
否则判断该时隙的实际输出功率是否大于该时隙的最大功率，如果是，则输出功率减去最大功率为第一衰减值；否则，第一衰减值为0；
所述时隙的实际输出功率减去功率最小的时隙的输出功率，得到第二衰减值；
所述第一衰减值与第二衰减值相加得到该时隙实际的衰减值。
其中，所述MCU中获得所述时隙的实际增益和最大增益的过程为：
根据直放站的额定功率值计算每个时隙的最大功率值；
采用ADC采样电路采样检测并运算出该时隙的输入功率和输出功率；
由输出功率减去输入功率得到该时隙的实际增益，再根据直放站的额定增益计算出该时隙的最大增益。
从以上技术方案可以看出，本发明针对TD-SCDMA***的特性，对无线帧各个子帧的每个时隙单独进行数控衰减，进而对各个时隙的输出功率进行有效的控制。
本发明在现有的射频模块中增加数控衰减电路和软硬件控制电路，由用户根据硬件器件、环境因素或***要求等提出控制需求数据，由用户自定义或者***根据设定条件自行判断后提出需求，通过软件算法将控制数据发送至MCU，MCU根据预设的公式或算法进行计算，所得数据经过软硬件控制电路转换后送至数控衰减电路，根据不同时隙的需求，传输控制其变化的数据不同，从而达到控制射频模块在不同时隙的功率和线性度，从而降低硬件器件、环境因素对***射频指标造成的影响，起到保护当前空间信号不受干扰，保护设备的正常运行。同时根据***需求采用用户自定义方式或***自动控制方式，提高***稳定性及兼容性和抗干扰能力。且自动控制方式只需通过软件进行处理，无须额外增加硬件成本。
【附图说明】
图1为本发明无线帧结构；
图2为本发明方法的基本流程图；
图3为本发明方法实施例一的流程图；
图4为本发明方法实施例二的流程图；
图5为本发明***实施例一的结构框图；
图6为本发明***实施例二的结构框图。
【具体实施方式】
下面结合具体实施例对本发明的技术方案进行详细描述。
为达到发明目的，本发明提供一种单时隙数控衰减的方法，如图2所示，该方法主要包括以下步骤：
步骤S101、检测每个时隙的功率值。
步骤S102、根据所述检测的功率值和***需要设置所述时隙的衰减值。
步骤S103、将所述衰减值转换成控制信号并传到控制电路对所述时隙进行衰减。
首先检测每个时隙(一般包括TS0、TS1、TS2、TS3、TS4、TS5和TS6)的功率值，然后根据检测的功率值和***需要分别计算出每个时隙应当衰减的数值，将该衰减值设置后可传到MCU，MCU将所述衰减值转换成控制信号后，将衰减控制信号传到控制电路，对对应的时隙进行衰减。
本发明针对TD-SCDMA***的特性，对无线帧各个子帧的每个时隙单独进行数控衰减，而不是每个时隙都衰减一个固定的值，从而可以对各个时隙的输出功率进行有效的控制，避免了输出功率高的时隙没有得到足够的衰减引起小区内和小区间干扰，而输出功率低的时隙由于衰减过度导致功率过低，不能使信号达到有效覆盖范围，也可能引起用户终端功耗增大。
对于步骤S101，该步骤具体过程为：
首先，由于基站与直放站链路之间总是有一定的距离，所以终端用户手机与基站之间也存在一定距离，可通过监控设置，传送给同步模块的FPGA，由FPGA补偿时延控制量，确保链路功率检测值的精确性，避免发生采样数据不够准确的情况，例如，对时隙TS4进行采样却获得时隙非TS4训练序列码(midamble)位置的数据。
接着，由射频模块提供TD-SCDMA信号，经过ADC检测获取整个子帧的功率值。
然后，FPGA根据时间特征窗查找出上行、下行时隙、切换点位置以及每个时隙的训练序列码的位置，依据所述功率值以及TD-SCDMA信号的时间特性，获得每个时隙的功率值，进一步确保链路功率检测值的精确性。
在优选的实施例中，同步控制模块根据时间窗原则来寻找下行导频信号、第一切换点、第二切换点，同时查找下行链路、上行链路每个时隙的切换点。
根据时间窗原则来寻找各切换点的位置，首先要确定下行导频时隙在时域上的具***置，就要根据TD的时隙特征查找到相应的特征窗。首先介绍TD时隙的特征：TS0的有数据长度为848码片长度(662.5us)，而TS0和DwPTS之间的间隔宽度为48码片长度(37.5us)，DwPTS的宽度为64码片(50us)。根据这一特征，可以通过快速功率检测的方式在时域上面查找该特征窗的位置，从而确定DwPTS在时域上的具***置：如果检测到连续48码片的低电平，再检测到连续64码片的高电平，则可确定特征窗的位置。
查找特征窗的关键在于如何设置低电平和高电平的参考值。由于外部干扰的存在，时隙的低电平和高电平都是相对变化的，所以低电平和高电平的参考值也应当进行相应的动态变化，才能准确地找到特征窗。在每个TD-SCDMA每个子帧中，都有一个保护时隙GP，且GP的功率是最低的。根据GP这一特性，可以将上一次GP的值设为特征窗的低电平参考值，在该低电平参考值的基础上，根据器件特性在低电平参考值上加一个常数得到高电平参考值。确定了低电平和高电平的参考值之后，就可以对时隙的电平进行检测，进而查找到特征窗。
值得注意的是，设置低电平和高电平的参考值并不仅仅限制于上述的实现方法。例如，首先设置高电平参考值，然后减去一个常数得到低电平参考值，也应当在本发明的保护范围之内。
确定下行导频时隙的位置之后，根据TD-SCDMA子帧时隙的分布特征，即可查找到其他时隙的具***置。FPGA对采样功率进行特征窗分析，根据门限自适应调整的特征窗匹配方式来查找下行导频信号、第一切换点、第二切换点，同时查找下行链路、上行链路每个时隙的切换点。
对于步骤S102，其获得各个时隙衰减值有两种方式，方式一：TD-SCDMA-RF直放站单时隙数控衰减用户自定义方式；方式二：TD-SCDMA-RF直放站单时隙数控衰减***自动控制方式。
对于方式一，获得衰减值的过程一般可以是：
根据***要求及所述功率值判断需要设置衰减值时，根据需求设置当前时隙所需输出功率，当前时隙输出功率减去当前时隙所需输出功率即得到该时隙数控衰减值；
根据直放站的额定功率值计算出每个时隙的所能承受最大功率值，用户可以根据单时隙功率检测值，结合***要求判断是否需要进行功率控制。由于各个时隙所容纳的用户数不一样，因此单个时隙的输出功率会出现不等，需要对单个时隙进行微调，对用户较多的时隙输出功率进行功率控制。
计算出衰减值之后，可以采用终端工具设置所述衰减值，并通过协议传送到MCU。
对于方式二，获得衰减值的过程一般可以包括以下步骤：
步骤S201、获得所述时隙的实际增益和最大增益，实际输出功率和最大功率。该步骤具体过程为：根据直放站的额定功率值计算每个时隙的最大功率值，采用ADC采样电路采样检测并运算出该时隙的输入功率和输出功率，再由输出功率减去输入功率得到该时隙的实际增益，再根据直放站的额定增益计算出该时隙的最大增益。
步骤S202、判断各个时隙的实际增益是否大于其最大增益，如果是，则所述实际增益减去最大增益得到的数值为该时隙的衰减值；否则转步骤S203。
步骤S203、判断该时隙的实际输出功率是否大于该时隙的最大功率，如果是，则输出功率减去最大功率为第一衰减值；否则，第一衰减值为0。
步骤S204、所述时隙的实际输出功率减去功率最小的时隙的输出功率，得到第二衰减值。
步骤S205、所述第一衰减值与第二衰减值相加得到该时隙实际的衰减值。
对于步骤S103，所述衰减值进行公式/算法进行处理后，将衰减值并转换成衰减控制信号；传送给FPGA；FPGA根据时间特征窗查找出对应的时隙，将所述衰减控制信号发送到衰减电路对各个时隙进行衰减，从而实现单时隙衰减达到功率控制目的。
为更好地理解本发明的技术方案，对应于用户自定义方式和***自动控制方式，提供两个较优实施例，其流程图和结构框图如图3～图6所示。
实施例一：
步骤S301、设置时延，获取同步信息。
步骤S302、检测TS0、TS1、TS2、TS3、TS4、TS5和TS6的输出功率。
由射频模块提供TD-SCDMA信号，经过ADC检测获取采样功率强度；因基站与直放站链路之间总存在一定的距离，终端用户手机与基站之间也存在一定距离，我们可通过监控设置，传送给同步模块的FPGA，由FPGA补偿时延控制量，确保链路功率检测值的精确性；
同步控制模块FPGA依据ADC采样提供的功率强度及根据TD-SCDMA时间特征，根据时间特征窗找出上行、下行时隙，切换点的位置以及每个时隙的训练序列码的位置。
步骤S303、用户根据***要求及输出功率判断是否需要设置衰减值。
步骤S304、用户将设置值通过终端工具发送至MCU。
步骤S305、MCU经过运算处理后将衰减数值转成信号发送至FPGA.
步骤S306、FPGA根据TD-SCDMA信号特征，将衰减信息发送至衰减电路。
根据直放站的功率值计算出每个时隙的所能承受最大功率值，因用户数不同，导致单个时隙的输出功率不同，此时需对用户较多的时隙输出功率进行功率控制。用户根据需求设置当前时隙所需输出功率为标准，对其进行功率控制。当前时隙输出功率减去当前时隙所需输出功率即得到该时隙数控衰减值。
用户根据得到的衰减值，采用终端工具进行设置，通过MCU进行公式/算法进行处理后，将数值转换成控制信号，传送给FPGA，FPGA找出该时隙后，将衰减控制信号发送至衰减硬件电路。
实施例二：
步骤S401、设置时延，获取同步信息。
步骤S402、检测TS0、TS1、TS2、TS3、TS4、TS5和TS6的输入功率和输出功率。
由射频模块提供TD-SCDMA信号，经过ADC检测获取采样功率强度；因基站与直放站链路之间总存在一定的距离，终端用户手机与基站之间也存在一定距离，我们可通过监控设置，传送给同步模块的FPGA，由FPGA补偿时延控制量，确保链路功率检测值的精确性。
同步控制模块FPGA依据ADC采样提供的功率强度及根据TD-SCDMA时间特征，根据时间特征窗找出上行、下行时隙，切换点的位置以及每个时隙的训练序列码的位置，进一步确保链路功率检测值的精确性。
步骤S403、MCU根据直放站额定功率和额定增益计算出时隙的最大功率和时隙的最大增益。
步骤S404、判断直放站实际增益是否运行在最大增益之下。
步骤S405、利用实际增益减去最大增益得到衰减值。
步骤S406、判断直放站的时隙输出功率是否大于等于时隙最大输出功率。
步骤S407、获取第一衰减值。
步骤S408、第一衰减值等于0。
步骤S409、根据时隙间关系平衡各时隙的输出功率获得第二衰减值，两衰减值相加得到实际衰减值。
MCU根据直放站的额定功率值计算出每个时隙的所能承受最大功率值。MCU再根据ADC采样电路采样检测计算出当前时隙的输入功率和输出功率，根据输入功率和输出功率的差值，计算出设备的实际增益，根据设备的额定增益得到各时隙的最大增益，当前时隙的实际增益小于等于该时隙的最大增益时，判断当前时隙的输出功率是否大于该时隙的最大功率，如果输出功率大于最大功率，即输出功率减去最大功率即得第一衰减值，如果当前时隙的输出功率小于该时隙的最大功率，则该第一衰减值等于0；如果当前时隙的实际增益大于该时隙的最大增益时，当前时隙的实际增益减去该时隙的最大增益得到的数值直接作为当前时隙的衰减值，并发送至MCU处理。
判断当前几个时隙中输出功率最低为参照标准，假设TS0输出功率最低，以TS4时隙为例，MCU根据TS4时隙当前输出功率减去TS0时隙的输出功率，即得TS4时隙当前第二衰减值。
第一衰减值与第二衰减值相加即得到该时隙的实际衰减值。
步骤S410、MCU根据运算将衰减值转成信号发送至FPGA。
步骤S411、FPGA根据时隙特点，将衰减值发送至衰减电路。
MCU将此衰减值进行公式/算法进行处理后，将数值转换成控制信号，发送至FPGA，FPGA找到TS4时隙后，将衰减控制信号发送至衰减硬件电路。
本发明还提供了一种单时隙数控衰减的***，本发明***是在现有的射频模块中增加数控衰减电路和软硬件控制电路，如图5所示，所述数控衰减电路可以衰减控制电路实现，软硬件控制电路一般可以由采样模块、FPGA模块、MCU来实现。
采样模块，用于经过ADC检测获取采样功率值；
FPGA模块，用于补偿时延控制量；还用于根据时间特征窗查找出上行、下行时隙、切换点位置以及每个时隙的训练序列码的位置，依据所述功率值以及TD-SCDMA信号的时间特性，获得每个时隙的功率值；
MCU，用于获得所述时隙的衰减值；还用于将所述衰减值转换成控制信号；
衰减控制电路，用于根据所述控制信号对所述时隙进行衰减。
本发明***中各个时隙的衰减值可以两种方式实现，方式一：TD-SCDMA-RF直放站单时隙数控衰减用户自定义方式；方式二：TD-SCDMA-RF直放站单时隙数控衰减***自动控制方式。
在TD-SCDMA-RF直放站单时隙数控衰减用户自定义方式中，该***还包括终端工具模块，用于设置所述时隙的衰减值，并将所述衰减值传送到MCU；所述衰减值通过以下方法获得：
根据***要求及所述功率值判断需要设置衰减值时，根据需求设置当前时隙所需输出功率，当前时隙输出功率减去当前时隙所需输出功率即得到该时隙数控衰减值。
在TD-SCDMA直放站单时隙数控衰减***自动控制方式中，所述MCU获得所述时隙的衰减值的过程为：
获得所述时隙的实际增益和最大增益，实际输出功率和最大功率；
判断各个时隙的实际增益是否大于其最大增益，如果是，则所述实际增益减去最大增益得到的数值为该时隙的衰减值；
否则判断该时隙的实际输出功率是否大于该时隙的最大功率，如果是，则输出功率减去最大功率为第一衰减值；否则，第一衰减值为0；
所述时隙的实际输出功率减去功率最小的时隙的输出功率，得到第二衰减值；
所述第一衰减值与第二衰减值相加得到该时隙的实际衰减值。
其中，所述MCU中获得所述时隙的实际增益和最大增益的过程为：
根据直放站的额定功率值计算每个时隙的最大功率值；
采用ADC采样电路采样检测并运算出该时隙的输入功率和输出功率；
由输出功率减去输入功率得到该时隙的实际增益，再根据直放站的额定增益计算出该时隙的最大增益。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种单时隙数控衰减的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
a、检测每个时隙的功率值；
b、根据所述检测的功率值和***需要设置所述时隙的衰减值；
c、将所述衰减值转换成控制信号并传到控制电路对所述时隙进行衰减。
2.根据权利要求1所述的单时隙数控衰减的方法，其特征在于，所述步骤a具体包括：
a1、FPGA补偿时延控制量；
a2、射频模块提供TD-SCDMA信号，经过ADC检测获取采样功率值；
a3、FPGA根据时间特征窗查找出上行、下行时隙、切换点位置以及每个时隙的训练序列码的位置，依据所述功率值以及TD-SCDMA信号的时间特性，获得每个时隙的功率值。
3.根据权利要求1所述的单时隙数控衰减的方法，其特征在于，所述步骤b具体包括：
b11、根据***要求及所述功率值判断需要设置衰减值时，根据需求设置当前时隙所需输出功率，当前时隙输出功率减去当前时隙所需输出功率即得到该时隙数控衰减值；
b12、采用终端工具设置所述衰减值，并通过协议传送到MCU。
4.根据权利要求1所述的单时隙数控衰减的方法，其特征在于，所述步骤b具体包括：
b21、获得所述时隙的实际增益和最大增益，实际输出功率和最大功率；
b22、判断各个时隙的实际增益是否大于其最大增益，如果是，则所述实际增益减去最大增益得到的数值为该时隙的衰减值；否则转步骤b23；
b23、判断该时隙的实际输出功率是否大于该时隙的最大功率，如果是，则输出功率减去最大功率为第一衰减值；否则，第一衰减值为0；
b24、所述时隙的实际输出功率减去功率最小的时隙的输出功率，得到第二衰减值；
b25、所述第一衰减值与第二衰减值相加得到该时隙实际的衰减值。
5.根据权利要求4所述的单时隙数控衰减的方法，其特征在于，所述步骤b21具体包括：
根据直放站的额定功率值计算每个时隙的最大功率值；
采用ADC采样电路采样检测并运算出该时隙的输入功率和输出功率；
由输出功率减去输入功率得到该时隙的实际增益，再根据直放站的额定增益计算出该时隙的最大增益。
6.根据权利要求1～5任一项所述的单时隙数控衰减的方法，其特征在于，所述步骤c具体包括：
c1、进行公式/算法进行处理后，将衰减值并转换成衰减控制信号传送给FPGA；
c2、FPGA根据时间特征窗查找出对应的时隙，将所述衰减控制信号发送到衰减电路对各个时隙进行衰减。
7.一种单时隙数控衰减的***，其特征在于，该***包括：
采样模块，用于经过ADC检测获取采样功率值；
FPGA模块，用于补偿时延控制量；还用于根据时间特征窗查找出上行、下行时隙、切换点位置以及每个时隙的训练序列码的位置，依据所述功率值以及TD-SCDMA信号的时间特性，获得每个时隙的功率值；
MCU，用于获得所述时隙的衰减值；还用于将所述衰减值转换成控制信号；
衰减控制电路，用于根据所述控制信号对所述时隙进行衰减。
8.根据权利要求7所述的单时隙数控衰减的***，其特征在于，该***还包括终端工具模块，用于设置所述时隙的衰减值，并将所述衰减值传送到MCU；所述衰减值通过以下方法获得：
根据***要求及所述功率值判断需要设置衰减值时，根据需求设置当前时隙所需输出功率，当前时隙输出功率减去当前时隙所需输出功率即得到该时隙数控衰减值。
9.根据权利要求7所述的单时隙数控衰减的***，其特征在于，所述MCU获得所述时隙的衰减值的过程为：
获得所述时隙的实际增益和最大增益，实际输出功率和最大功率；
判断各个时隙的实际增益是否大于其最大增益，如果是，则所述实际增益减去最大增益得到的数值为该时隙的衰减值；
否则判断该时隙的实际输出功率是否大于该时隙的最大功率，如果是，则输出功率减去最大功率为第一衰减值；否则，第一衰减值为0；
所述时隙的实际输出功率减去功率最小的时隙的输出功率，得到第二衰减值；
所述第一衰减值与第二衰减值相加得到该时隙实际的衰减值。
10.根据权利要求9中任一项所述的单时隙数控衰减的***，其特征在于，所述MCU中获得所述时隙的实际增益和最大增益的过程为：
根据直放站的额定功率值计算每个时隙的最大功率值；
采用ADC采样电路采样检测并运算出该时隙的输入功率和输出功率；由输出功率减去输入功率得到该时隙的实际增益，再根据直放站的额定增益计算出该时隙的最大增益。
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