CN101160506A - 交叉四元和垂直接合的惯性传感器 - Google Patents

交叉四元和垂直接合的惯性传感器 Download PDF

Info

Publication number
CN101160506A
CN101160506A CNA2006800124224A CN200680012422A CN101160506A CN 101160506 A CN101160506 A CN 101160506A CN A2006800124224 A CNA2006800124224 A CN A2006800124224A CN 200680012422 A CN200680012422 A CN 200680012422A CN 101160506 A CN101160506 A CN 101160506A
Authority
CN
China
Prior art keywords
framework
lever
interconnection
inertial sensor
deflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2006800124224A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101160506B (zh
Inventor
约翰·A·吉恩
邝锦波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Analog Devices Inc
Original Assignee
Analog Devices Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Analog Devices Inc filed Critical Analog Devices Inc
Publication of CN101160506A publication Critical patent/CN101160506A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101160506B publication Critical patent/CN101160506B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5719Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis
    • G01C19/5733Structural details or topology
    • G01C19/574Structural details or topology the devices having two sensing masses in anti-phase motion
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)
  • Micromachines (AREA)

Abstract

本发明提供了一种包括四个传感器元件的交叉四元结构的惯性传感器。每一个传感器元件具有框架及悬置在框架内的谐振器。布置传感器元件使得允许框架彼此反相移动,但基本防止框架彼此同相移动。这些传感器元件可以以水平接合的布置方式、垂直接合的布置方式或完全接合(即,水平和垂直接合)的布置方式配置。可以垂直接合一对传感器元件。

Description

交叉四元和垂直接合的惯性传感器
技术领域
本发明一般地涉及传感器,且更具体地,本发明涉及惯性传感器。
背景技术
惯性传感器,如MEMS陀螺仪,常常在驱动频率受到旋转振动噪声(其通常被称作“振摆”)的不利影响。特别是,如果MEMS陀螺仪不能够区分旋转振动和它们意图检测的实际运动的话,那么它们可能产生错误的读数。
另外,诸如陀螺仪的具有振动质块的MEMS器件的几何形状的变形可能在与纵向驱动指成横向的力上产生不均衡。这种不均衡导致难以与科里奥利力(Coriolis force)区分开的净力。因此,陀螺仪可能产生错误的输出。存在这些几何变形的至少两个来源。一个源自基板的表面剪切(如,源自切割时的释放/晶片弯曲)。另一个源自封装的差胀(differential expansion)和所施加的加速度(如,对角地,GxG)。在Green,J.A.的“Progress in Integrated Gyroscopes”,IEEE PLANS 2004Proceedings,pp.1-6中,讨论了GxG误差的某些原因,通过引用将其全文结合在此。
发明内容
本发明的特定实施例提供了一种具有四个传感器元件的交叉四元结构的惯性传感器。每个传感器元件具有框架及悬置在框架内的移动质块。至少两对相邻的框架通过接合件互连,该接合件允许框架彼此反相移动,但基本防止框架彼此同相地移动。这四个传感器元件可以以水平接合的布置方式、垂直接合的布置方式或完全接合(即,水平和垂直接合)的布置方式配置。本发明的特定实施例提供了一种具有一对垂直接合的传感器元件的惯性传感器。
根据本发明一个方面,提供了这样一种惯性传感器,其具有至少一个基板和在该至少一个基板上方的平面内以交叉四元结构布置的四个传感器元件。四个陀螺仪包括:具有悬置在第一框架内的第一谐振器的第一传感器元件;具有悬置在第二框架内的第二谐振器的第二传感器元件;具有悬置在第三框架内的第三谐振器的第三传感器元件;以及具有悬置在第四框架内的第四谐振器的第四传感器元件。第一和第三框架被接合以在平面内沿第一轴共线地移动。第二和第四框架被接合以沿与第一轴平行的该平面内的第二轴共线地移动。至少两对相邻的传感器元件的框架通过接合件互连,该接合件允许框架的反相移动,但基本防止框架的同相移动。
在典型的实施例中,使第一和第二谐振器在该平面内沿着与第一和第二轴垂直的第三轴共线且彼此反相地移动,使第三和第四谐振器在该平面内沿着与第三轴平行的第四轴共线且彼此反相地移动,使第一和第三谐振器彼此反相地移动,并使第二和第四谐振器彼此反相地移动。
在这种结构中,基板绕垂直于该平面的轴的旋转导致框架移动。具体的,基板在第一方向上的旋转导致第一和第三框架向彼此移动,并使第二和第四框架相互远离地移动,同时第一和第二质块向彼此移动;而基板在第二方向上的旋转导致第一和第三框架相互远离地移动,并使第二和第四框架向彼此移动,同时第一和第二质块向彼此移动。
在特定实施例中,第一和第二框架通过第一水平接合件互连,该接合件允许框架沿它们各自的轴的反相移动,但基本防止框架的同相移动;而第三和第四框架通过第二水平接合件互连,该接合件允许框架沿它们各自的轴的反相移动,但基本防止框架的同相移动。
第一和第二水平接合件每一个都可以包括接合在框架之间的至少一个棒条(bar),该至少一个棒条由锚固到至少一个基板的结构支撑。这些结构允许该至少一个棒条在框架彼此反相地移动时在枢轴点处旋转,而基本防止框架的同相移动。
在一个示例性实施例中,第一和第二水平接合件的每一个都包括:第一对短挠曲,其从框架之一延伸,并通过第一长挠曲互连;第二对短挠曲,其从另一个框架延伸,并通过第二长挠曲互连;棒条,其基本在第一和第二长挠曲的中点处将第一长挠曲接合到第二长挠曲;以及锚固挠曲,其支撑该棒条。锚固挠曲与棒条基本在棒条和锚固挠曲的中点处相交。锚固挠曲的每一端被锚固于基板。
在另一示例性实施例中,第一和第二水平接合件的每一个都包括:第一挠曲,其从框架之一延伸;第二挠曲,其从另一个框架延伸;棒条,其接合在第一和第二挠曲之间;以及至少一个锚固挠曲,其支撑该棒条。每一个锚固挠曲包括在一端处锚固于该至少一个基板的且向后折180度与棒条相会的结构。
在特定的其他实施例中,第一和第三框架通过第一垂直接合件互连,该接合件允许框架沿它们各自的轴的反相移动,但基本防止框架的同相移动;而第二和第四框架通过第二垂直接合件互连,该接合件允许框架沿它们各自的轴的反相移动,但基本防止框架的同相移动。
第一和第二垂直接合件的每一个都可以包括:接合到框架之一的第一对互连的杠杆,该第一对杠杆包括第一杠杆和第二杠杆;接合到另一框架的第二对互连的杠杆,该第二对杠杆包括第三杠杆和第四杠杆;多个杠杆支撑结构,其允许杠杆在框架彼此反相地移动时枢轴转动;第一接合挠曲,其基本在第一杠杆和第三杠杆各自的枢轴点之间互连第一杠杆和第三杠杆;以及第二接合挠曲,其基本在第二杠杆和第四杠杆各自的枢轴点之间互连第二杠杆和第四杠杆。该接合挠曲基本防止框架的同相移动。典型地,在框架的反相移动期间,每个接合挠曲的两端在相同的方向上相对于框架的移动横向地移动基本相同的量,但在框架的同相移动期间被迫使在相对的方向上移动。
多个杠杆支撑结构典型地包括至少一个枢轴挠曲,其在一端接合到杠杆,而在另一端接合到被锚固到基板的结构。该至少一个枢轴挠曲可以包括在一点处互连的第一枢轴挠曲和第二枢轴挠曲。枢轴挠曲的互连点可以是向着杠杆的中央,或者向着离框架最近的杠杆的边缘。第一接合挠曲优选基本与第一和第三杠杆的互连点成一线,而第二接合挠曲优选基本与第二和第四杠杆的互连点成一线。被锚固到基板的结构典型地是被锚固到基板的棒条。每一对杠杆典型地由杠杆挠曲互连。每一个杠杆典型地通过悬置挠曲被连接到各自的框架。
为了检测框架的移动,每一个框架可以包括指状结构,其与被锚固到基板的固定传感指成指状交叉,用于静电感测框架的移动。为了使质块移动,每个质块可以包括指状结构,其与锚固于基板的固定驱动指成指状交叉,用于使质块静电移动。
在特定的其他实施例中,第一和第二框架通过第一水平接合件互连,第三和第四框架通过第二水平接合件互连,第一和第三框架通过第一垂直接合件互连,第二和第四框架通过第二垂直接合件互连。
根据本发明的另一方面,提供一种惯性传感器,其具有至少一个基板和在该至少一个基板上方基本在平面内以交叉四元结构布置的四个传感器元件。这四个传感器元件包括:具有悬置在第一框架内的第一谐振器的第一传感器元件;具有悬置在第二框架内的第二谐振器的第二传感器元件;具有悬置在第三框架内的第三谐振器的第三传感器元件;以及具有悬置在第四框架内的第四谐振器的第四传感器元件。第一和第三框架接合以在平面内沿第一轴共线地移动。第二和第四框架接合以在与第一轴平行的该平面内的第二轴共线地移动。该惯性传感器还包括这样的装置,其用于互连第一对相邻的传感器元件的框架,以允许框架的反相移动,但基本防止框架的同相移动。该惯性传感器还包括这样的装置,其用于互连第二对相邻的传感器元件的框架,以允许框架的反相移动,但基本防止框架的同相移动。
该惯性传感器还包括第三装置,其用于互连第三对相邻的传感器元件的框架,以允许框架的反相移动,但基本防止框架的同相移动;以及第四装置,其用于互连第四对相邻的传感器元件的框架,以允许框架的反相移动,但基本防止框架的同相移动。
根据本发明的另一方面,提供一种惯性传感器,其具有:至少一个基板;在该至少一个基板上方基本在平面内的一对传感器元件,每个传感器元件具有悬置在框架内的谐振器,框架被配置为在该平面内沿着轴共线地移动;以及垂直接合件,其互连这些框架,允许框架沿它们共线的轴反相地移动,但基本防止框架同相移动。
该垂直接合件可以包括:接合到框架之一的第一对互连的杠杆,该第一对杠杆包括第一杠杆和第二杠杆;接合到另一框架的第二对互连的杠杆,该第二对杠杆包括第三杠杆和第四杠杆;多个杠杆支撑结构,其允许杠杆在框架向彼此反相移动时枢轴转动;第一接合挠曲,其基本在第一杠杆和第三杠杆各自的枢轴点处互连第一杠杆和第三杠杆;以及第二接合挠曲,其基本在第二杠杆和第四杠杆各自的枢轴点处互连第二杠杆和第四杠杆。该接合挠曲基本防止框架的同相移动。
附图说明
从下面参考附图的进一步说明中,将更加全面地理解本发明的前述内容和优点,在附图中:
图1A示出了根据本发明示例性实施例的以水平接合的交叉四元结构布置的四个陀螺仪的图示;
图1B示出了根据本发明示例性实施例的以垂直接合的交叉四元结构布置的四个陀螺仪的图示;
图1C示出了根据本发明示例性实施例的以垂直和水平接合的交叉四元结构布置的四个陀螺仪的图示;
图2示意性地示出了根据本发明的示例性实施例的用于水平接合两个陀螺仪框架的第一示例性水平接合装置;
图3示意性地示出了根据本发明的示例性实施例的用于水平接合两个陀螺仪框架的第二示例性水平接合装置;
图4示意性地示出了根据本发明的示例性实施例的示例性平衡器;
图5示出了根据本发明的第一示例性实施例的以垂直和水平接合的“交叉四元”结构布置的四个陀螺仪;
图6示出了根据图5中所示的示例性实施例的在陀螺仪之间的不同接合件的位置;
图7A和7B示出了根据图5中所示的示例性实施例的谐振器的同相移动和反相移动的表示;
图8A和8B示出了根据图5中所示的示例性实施例,当惯性传感器绕Z轴旋转时陀螺仪框架移动的表示;
图9A示出了根据图5中所示的第一示例性实施例的在两个陀螺仪之间的垂直接合件的一部分;
图9B示出了与图9A中相同的部分,其中标出了相关特征;
图10A示出了图9A中所示的互连部分的突出显示的部分;
图10B示出了图10A中突出显示的部分的放大图;
图11示出了根据本发明第二示例性实施例的以“交叉四元”结构布置的四个陀螺仪;
图12A示出了图11中所示的交叉四元结构的突出显示部分;
图12B示出了图12A中突出显示的部分的放大图;以及
图12C示出了与图12B中相同的部分,其中标出了相关特征。
附图是用于示例说明的目的,并且可以不按比例绘制。
具体实施方式
在本发明的特定实施例中,惯性传感器包括以“交叉四元”结构布置的四个传感器元件。在优选实施例中,这些传感器元件是微机电***(即,“MEMS”)陀螺仪。传感器元件组合在一起从而有效地执行单个陀螺仪的功能。传感器元件典型地被悬置在一个或多个下基板(未示出)上方,且在不同点处固定到基板(或多个基板)。在美国专利6122961中讨论了对于使用交叉四元结构的陀螺仪的期望,通过引用将该专利的公开全文结合在此。
每个陀螺仪具有至少一个悬置在框架内的谐振器(质块)。出于讨论的目的,惯性传感器的谐振器被配置为沿着两个平行的X轴移动,同时惯性传感器的框架被配置为沿着垂直于X轴的两个平行的Y轴移动。因此,惯性传感器绕Z轴的旋转使得每个谐振器产生施加到其对应的陀螺仪框架的科里奥利力。在受到该科里奥利力时,框架沿Y轴移动。框架和基板(或多个基板)上容性耦合的指检测这些Y轴移动,这些移动被转译成表示角加速度幅度的信号。在本发明的实施例中,至少两对相邻的陀螺仪的框架通过接合件互连,该接合件允许框架的反相移动,但基本防止框架的同相移动。
图1A示出了根据本发明示例性实施例的以水平接合的交叉四元结构布置的四个陀螺仪16A-D的表示。这里,顶部的一对陀螺仪框架和底部的一对陀螺仪框架通过接合件99(下面称之为“水平的”接合件)互连,该接合件允许框架沿分开的平行的Y轴反相移动。每个陀螺仪优选通过平衡器97而支撑在与水平接合件99相对的侧上,该平衡器抵消该水平接合件的某些影响。下面说明示例性的水平接合件99和平衡器97。每个陀螺仪还优选通过悬置件93支撑在它剩余的两侧的每一侧上。
图1B示出了根据本发明示例性实施例的以垂直接合的交叉四元结构布置的四个陀螺仪16A-D的图示。这里,左侧的一对陀螺仪框架和右侧的一对陀螺仪框架通过接合件95(下面,称之为“垂直”接合件)互连,该接合件允许框架沿Y轴共线地反相移动。示例性的垂直接合件将在下文中说明。每个陀螺仪优选通过悬置件93支撑在与垂直接合件95相对的侧上。
图1C示出了根据本发明示例性实施例的以垂直和水平接合的交叉四元结构布置的四个陀螺仪16A-D的图示。这里,顶部的一对陀螺仪框架和底部的一对陀螺仪框架通过接合件99互连,该接合件允许框架沿分开的平行的Y轴的反相移动,而左侧的一对陀螺仪框架和右侧的一对陀螺仪框架通过接合件95互连,该接合件允许框架的共线的反相移动。每个陀螺仪优选通过悬置件93支撑在与垂直接合件95相对的侧上。
在所示的实施例中,陀螺仪16A-16D类似于在美国专利6505511和6122961中所公开的,这里通过引用将这些公开全文结合在此。陀螺仪16A-16D也可以类似于美国专利6877374中所公开的,这里也通过引用将该专利的公开全文结合在此。
优选将陀螺仪16A-16D配置并操作以便具有共同的质心。为此,每个对角的一对陀螺仪的谐振器和框架典型地彼此同相地操作,而任意的一对相邻的陀螺仪的谐振器和框架典型地彼此反相地操作。因此,下式通常成立:
V1+V4=V2+V3,
其中:
V1是第一陀螺仪16A对旋转点的矢量距离,
V2是第二陀螺仪16B对旋转点的矢量距离,
V3是第三陀螺仪16C对旋转点的矢量距离,而
V4是第四陀螺仪16D对旋转点的矢量距离。
请注意,在考虑该式时应考虑矢量距离的符号。当该关系成立时,陀螺仪作为整体基本上变得对绕该旋转点的角加速度不敏感到框架的响应彼此匹配的程度。接合件克服了由于制造容差而引起的不匹配,并因此改善了对角加速度的拒绝。
然而,这种布置不应不利地影响惯性传感器检测基础角速度,设计该惯性传感器的目的是检测基础角速度。
因此,本发明的实施例应当基本上对表面剪切不敏感,并且如上所述,也使得角加速度噪声被消除。
图2示意性地示出了根据本发明的示例性实施例的用于水平互连两个陀螺仪框架(例如陀螺仪16A和16B的框架或陀螺仪16C和16D的框架)的第一示例性水平接合装置99,如图1A和1C中所示的那些。为方便起见,示出了陀螺仪16A和16B的框架。具体的,第一框架16A具有与第一长挠曲22A接合的第一对短挠曲20A。以相应的方式,第二框架16B具有与第二长挠曲22B接合的第二对短挠曲20B。棒条24将第一长挠曲22A固定到第二长挠曲22B。为了提供一定的稳定性,一对锚固件26A和26B在棒条24的两侧上延伸,并通过锚固挠曲28与条24接合。
当促使两个框架16A和16B同相移动时,该布置基本是非顺应性的。相反,当促使两个框架16A和16B反相移动时,该布置基本是顺应性的。换句话说,当沿Y轴向上推动第一框架16A时,第二框架16B被沿Y轴向下推动。然而,如果沿Y轴向上推动这两者,则该布置应当基本上是非顺应性的。在某些实施例中,当框架16A和16B在Y方向上移动时,该布置允许框架16A和16B旋转一定程度。
图3示意性地示出了根据本发明的示例性实施例的用于水平互连两个陀螺仪框架(例如陀螺仪16A和16B的框架或陀螺仪16C和16D的框架)的第二示例性水平接合装置99,如图1A和1C中所示的那些。具体的,在该示例性实施例中,锚固挠曲28实际上向外延伸,并然后回折180度来与棒条24相遇。此外,该接合装置还具有刻蚀补偿器。折叠的锚固挠曲28允许棒条24绕枢轴点的旋转,但基本防止与棒条24的轴垂直的平移。此外,该实施例在每个框架上使用单个端挠曲20,而不是在每个框架上具有一对短挠曲20.。
水平接合装置99有效地向框架16的移动增加了质量和刚度。由于每个框架仅沿其一个侧面被接合到相邻的框架,因此接合装置99有效地使每个框架的移动不平衡。因此,具有水平接合件的惯性传感器优选包括许多平衡器97,以帮助抵消水平接合装置99的影响。具体的,平衡器97优选被接合到每个陀螺仪框架的与具有水平接合装置99的侧相对的侧上。每个平衡器97的结构典型地是水平接合装置99的一半的等效物,并因此基本施加相同但相反的机械作用在其各自陀螺仪框架上。
图4示意性地示出了根据本发明的示例性实施例的示例性平衡器97的细节。如所示的,每个平衡器97的结构实质上是图3中所示的接合装置的一半的等效物。
图5示出了根据本发明第一示例性实施例的以垂直和水平接合的“交叉四元”结构布置的四个陀螺仪。具体地,该交叉四元结构包括陀螺仪50A、50B、50C和50D。每个陀螺仪包括框架(52A、52B、52C和52D)和可移动地悬置在框架的内周中的谐振器(54A、54B、54C和54D)。陀螺仪50A和50B的框架52A和52B基本如上面参考图3所述地接合,陀螺仪50C和50D的框架52C和52D也是如此。此外,根据本发明的示例性实施例,陀螺仪50A和50C的框架52A和52C彼此接合,陀螺仪50B和50D的框架52B和52D也是如此。图6示出了陀螺仪之间的不同接合件的位置。陀螺仪50A/50B和50C/50D之间的接合件已在上面参照图2-4进行了说明。陀螺仪50A/50C和50B/50D之间的接合件将在下面说明。
每一对陀螺仪50A/50B和50C/50D的谐振器彼此反相地操作。此外,在本发明的一个示例性实施例中,陀螺仪50A和50B的谐振器与陀螺仪50C和50D的对应谐振器反相地操作。因此,对角相对的陀螺仪的谐振器彼此同相地操作,而任何一对相邻的陀螺仪的谐振器彼此反相地操作。图7A和7B示出了根据本发明的该示例性实施例的谐振器的同相移动和反相移动的表示。
此外,还接合每一对陀螺仪50A/50B和50C/50D的框架以允许在相反的方向上移动,但基本限制在相同方向上的移动。此外,根据本发明的示例性实施例,接合陀螺仪50A和50C的框架以允许在相反方向上的移动,但基本限制在相同方向上的移动,陀螺仪50B和50D的框架也是如此。陀螺仪50A/50C的框架对陀螺仪50B/50D的框架反相地移动。因此,对角相对的陀螺仪的框架彼此同相地操作,而任意一对相邻的陀螺仪的框架彼此反相地操作。
如上述所讨论的,使谐振器在X轴上前后振动。惯性传感器绕Z轴的旋转使得框架在Y轴上移位。图8A示出了当陀螺仪绕Z轴顺时针旋转而谐振器如图7A中所示移动时,陀螺仪框架相对于基板(或多个基板)的移动的表示。在此情况下,陀螺仪50A和50C的框架52A和52C向彼此移动,而陀螺仪50B和50D的框架52B和52D彼此远离地移动。图8B示出了当陀螺仪绕Z轴逆时针旋转而谐振器如图7A中所示移动时,陀螺仪框架相对于基板(或多个基板)的移动的表示。在此情况下,陀螺仪50A和50C的框架52A和52C彼此远离,而陀螺仪50B和50D的框架52B和52D向彼此移动。应当注意,当谐振器如图7B所示移动时,框架的移动可能是相反的。
如上述所讨论的,陀螺仪50A和50C的框架52A和52C垂直接合,陀螺仪50B和50D的框架52B和52D也是如此。在本发明的示例性实施例中,框架对通过多种杠杆和挠曲来垂直接合,所述杠杆和挠曲允许框架的期望的共线反相移动,但基本限制框架的同相移动。
图9A示出了陀螺仪50A和50C之间互连的一部分。图9B示出了与图9A中相同的部分,其中标出了相关特征。为了方便,仅示出了互连特征的大约一半(剩余的互连特征基本是所示出的沿穿过杠杆挠曲66A和66C的线的镜像)。其中,互连包括杠杆56A和56C、杠杆57A和57C(其基本是杠杆56A和56C的镜像)、以及棒条58A和58C。杠杆56A和56C通过悬置挠曲60A和60C分别被接合到框架52A和52C,通过杠杆挠曲66A和66C被接合到杠杆57A和57C,以及通过枢轴挠曲62A、64A、62C和64C被接合到杠杆58A和58C。杠杆56A和56C也通过接合挠曲70互连。棒条58A和58C分别通过锚固件68A和68C被锚固到基板。应当注意,由于该示例性互连的镜像特性,该互连在互连的另一侧上包括基本一致的锚固件、杠杆和挠曲。图10A示出了图9A中所示的互连的一部分的突出显示的部分。图10B示出了图10A中突出显示的部分的放大图。
应当注意,使悬置件(suspension)62A和62C的枢轴点对准,以使得它们彼此直接相反,并且在枢轴点之间的杠杆56A和56C中嵌入接合挠曲70。当框架相对彼此反相地移动时,接合挠曲70的两端以基本相同的方向相对于框架的移动横向地移动基本相同的量。因此,接合挠曲70仅需要弯曲非常小的量,来适应(accommodate)运动。因此,该接合挠曲对所期望的运动的刚度几乎没有贡献。
例如,参考图9B,当框架52A和52C彼此远离移动时,悬置挠曲60A和60C被拉得彼此远离,导致悬置挠曲60A和60C附近的杠杆56A和56C的端部被彼此远离地拉开,并使得杠杆56A和56C的相对端向彼此移动。枢轴挠曲62A和64A允许杠杆56A相对于棒条58A枢轴转动,而枢轴挠曲62C和64C允许杠杆56C相对于棒条58C枢轴转动。接合挠曲70被基本定位在杠杆56A和56C的枢轴点上,并且允许杠杆56A和56C相对于彼此枢轴转动。同时,杠杆57A和57C相对于杠杆56A和56C成镜像移动,使得枢轴挠曲66A和66C向彼此移动。杠杆挠曲66A允许杠杆56A和57A相对于彼此枢轴转动,而杠杆挠曲66C允许杠杆56C和57C相对于彼此枢轴转动。
当框架52A和52C向彼此移动时,悬置挠曲60A和60C被推向彼此,导致悬置挠曲60A和60C附近的杠杆56A和56C的端部被推向彼此,并使得杠杆56A和56C的相对端彼此远离。枢轴挠曲62A和64A允许杠杆56A相对于棒条58A枢轴转动,而枢轴挠曲62C和64C允许杠杆56C相对于棒条58C枢轴转动。接合挠曲70允许杠杆56A和56C相对于彼此枢轴转动。同时,杠杆57A和57C相对于杠杆56A和56C成镜像移动,使得枢轴挠曲66A和66C彼此远离地移动。枢轴挠曲66A允许杠杆56A和57A相对于彼此枢轴转动,而枢轴挠曲66C允许杠杆56C和57C相对于彼此枢轴转动。
另一方面,如果迫使框架在相同的方向上移动,那么相应地迫使接合挠曲70的端部在相反的方向移动。接合挠曲70较强地抵抗在相反方向上的这种移动,代之以优待期望的交叉四元运动。因此,该互连允许期望的框架的反相移动,但基本防止框架的同相移动。
在图11中所示的替换实施例中,枢轴挠曲方向与图9和10中所示的相反,并且接合挠曲和悬置枢轴点之间的距离增加。其中,这允许期望的运动较低的整体刚度(这对于制造较小的结构是有用的)。此外,通过增加接合挠曲和悬置枢轴点之间的距离,互连甚至更加歧视框架的同相移动。
图11示出了根据本发明第二示例性实施例的以“交叉四元”结构布置的四个陀螺仪。图12A示出了图11中所示的交叉四元结构的突出显示部分。图12B示出了图12A中突出显示的部分的放大图。图12C示出了与图12B中相同的部分,其中标出了相关特征。如图12C中所示,枢轴挠曲62C和64C的方向与图9和图10中所示的枢轴挠曲相反。枢轴挠曲62C和64C的交叉点在最接近框架56C的杠杆56C的边缘的附近,而不是如图9和10中的情况那样向着杠杆的中央。为便于参考示出了框架52C、谐振器54C、杠杆挠曲66C和接合挠曲70。在该结构中,接合挠曲和枢轴挠曲的交叉点之间的距离增加,以便更加歧视框架的同相移动。
应当注意,上面参考图9-12所述的示例性垂直接合件可以被用在如图1B中所示的垂直接合的交叉四元陀螺仪结构中。
应当注意,本发明的特定特征和优点可以利用单对垂直接合的陀螺仪来实现(例如,仅如图1B中所示的左侧或右侧的一对陀螺仪)。因此,使惯性传感器具有单对垂直接合的陀螺仪是在本发明的范围之内。
在示例性的实施例中,陀螺仪允许在大约17伏操作。
本发明可以以其他的具体形式来实施,而不偏离本发明的实际范围。所示出的实施例无论从哪一方面来讲都被认为仅是示例性的而不是限制性的。

Claims (26)

1.一种惯性传感器,包括:
至少一个基板;和
四个传感器元件,其在该至少一个基板上方基本在平面内以交叉四元结构布置,所述四个传感器元件包括:
具有悬置在第一框架内的第一谐振器的第一传感器元件;
具有悬置在第二框架内的第二谐振器的第二传感器元件;
具有悬置在第三框架内的第三谐振器的第三传感器元件;以及
具有悬置在第四框架内的第四谐振器的第四传感器元件,
其中,第一和第三框架被配置为在该平面内沿第一轴共线地移动,第二和第四框架被配置为沿与第一轴平行的该平面内的第二轴共线地移动,并且至少两对相邻的传感器元件的框架通过接合件互连,所述接合件允许框架的反相移动,但基本防止框架的同相移动。
2.如权利要求1所述的惯性传感器,其中:
使得第一和第二谐振器在所述平面内沿着与第一和第二轴垂直的第三轴共线地且彼此反相地移动;
使得第三和第四谐振器在所述平面内沿着与所述第三轴平行的第四轴共线地且彼此反相地移动;
使得第一和第三谐振器彼此反相地移动;以及
使得第二和第四谐振器彼此反相地移动。
3.如权利要求1所述的惯性传感器,其中,所述至少一个基板绕垂直于所述平面的轴的旋转导致框架的移动。
4.如权利要求3所述的惯性传感器,其中:
所述基板在第一方向上的旋转导致第一和第三框架向彼此移动,并导致第二和第四框架相互远离地移动,同时第一和第二质块向彼此移动;以及
所述基板在第二方向上的旋转导致第一和第三框架相互远离地移动,并导致第二和第四框架向彼此移动,同时第一和第二质块向彼此移动。
5.如权利要求1所述的惯性传感器,其中:
第一和第二框架通过第一水平接合件互连,该接合件允许所述框架沿它们各自的轴的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动;以及
第三和第四框架通过第二水平接合件互连,该接合件允许框架沿它们各自的轴进行的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动。
6.如权利要求5所述的惯性传感器,其中,第一和第二水平接合件的每一个都包括:
接合在第一和第二框架之间的至少一个棒条,所述至少一个棒条由被锚固到所述至少一个基板的结构来支撑,所述结构允许所述至少一个棒条在所述框架彼此反相移动时在枢轴点处旋转,但基本防止所述框架的同相移动。
7.如权利要求6所述的惯性传感器,其中,所述第一和第二水平接合件的每一个都包括:
第一对短挠曲,其从框架之一延伸,并通过第一长挠曲互连;
第二对短挠曲,其从框架的另一个延伸,并通过第二长挠曲互连;
棒条,其基本在所述第一和第二长挠曲的中点处将所述第一长挠曲接合到所述第二长挠曲;以及
锚固挠曲,其支撑所述棒条,所述锚固挠曲与所述棒条基本在所述棒条和锚固挠曲的中点处交叉,所述锚固挠曲的每一端被锚固于所述基板。
8.如权利要求6所述的惯性传感器,其中,所述第一和第二水平接合件的每一个都包括:
第一挠曲,其从所述框架之一延伸;
第二挠曲,其从所述框架的另一个延伸;
棒条,其接合在所述第一和第二挠曲之间;以及
至少一个锚固挠曲,其支撑所述棒条,每一个锚固挠曲包括这样的结构,其在一端锚固于所述至少一个基板的且向后折180度与所述棒条相会。
9.如权利要求1所述的惯性传感器,其中:
所述第一和第三框架通过第一垂直接合件互连,该接合件允许所述框架沿它们各自的轴的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动;以及
所述第二和第四框架通过第二垂直接合件互连,该接合件允许所述框架沿它们的共线的轴反相移动,但基本防止所述框架的同相移动。
10.如权利要求9所述的惯性传感器,其中,所述第一和第二垂直接合件的每一个都包括:
接合到所述框架之一的第一对互连的杠杆,所述第一对杠杆包括第一杠杆和第二杠杆;
接合到所述框架的另一个的第二对互连的杠杆,所述第二对杠杆包括第三杠杆和第四杠杆;
多个杠杆支撑结构,其允许杠杆在框架彼此反相移动时枢轴转动;
第一接合挠曲,其基本在所述第一杠杆和第三杠杆各自的枢轴点之间互连所述第一杠杆和第三杠杆;以及
第二接合挠曲,其基本在所述第二杠杆和第四杠杆各自的枢轴点之间互连所述第二杠杆和第四杠杆,其中,所述接合挠曲基本防止所述框架的同相移动。
11.如权利要求10所述的惯性传感器,其中,在所述框架的反相移动期间,每一个接合挠曲的两端在相同的方向上相对于所述框架的移动横向地移动基本相同的量,但在所述框架的同相移动期间,所述每一个接合挠曲的两端被迫使在相反的方向上移动。
12.如权利要求10所述的惯性传感器,其中,所述多个杠杆支撑结构包括:
至少一个枢轴挠曲,其在一端处接合到杠杆而在另一端处接合到被锚固于所述基板的结构。
13.如权利要求12所述的惯性传感器,其中,所述至少一个枢轴挠曲包括在一点处互连的第一枢轴挠曲和第二枢轴挠曲。
14.如权利要求13所述的惯性传感器,其中,所述互连点向着所述杠杆的中央。
15.如权利要求13所述的惯性传感器,其中,所述互连点向着离所述框架最近的杠杆的边缘。
16.如权利要求13所述的惯性传感器,其中:
所述第一接合挠曲基本与所述第一和第三杠杆的互连点成一线;以及
所述第二接合挠曲基本与所述第二和第四杠杆的互连点成一线。
17.如权利要求12所述的惯性传感器,其中,所述被锚固于所述基板的结构是被锚固于所述基板的棒条。
18.如权利要求10所述的惯性传感器,其中,每一对杠杆由杠杆挠曲互连。
19.如权利要求10所述的惯性传感器,其中,每一个杠杆通过悬置挠曲连接到各自的框架。
20.如权利要求1所述的惯性传感器,其中,每一个框架包括指状结构,所述指状结构与锚固于所述至少一个基板的固定传感指成指状交叉,用于静电感测所述框架的移动。
21.如权利要求1所述的惯性传感器,其中,每一个质块包括指状结构,所述指状结构与锚固于所述至少一个基板的固定驱动指成指状交叉,用于静电移动所述质块。
22.如权利要求1所述的惯性传感器,其中:
所述第一和第二框架通过第一水平接合件互连,所述接合件允许所述框架沿它们各自的轴的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动;
所述第三和第四框架通过第二水平接合件互连,所述接合件允许所述框架沿它们各自的轴的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动;
所述第一和第三框架通过第一垂直接合件互连,所述接合件允许所述框架沿它们的共线的轴的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动;以及
所述第二和第四框架通过第二垂直接合件互连,所述接合件允许所述框架沿它们的共线的轴的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动。
23.一种惯性传感器,包括:
至少一个基板;和
四个传感器元件,其在该至少一个基板上方基本在平面内以交叉四元结构布置,所述四个传感器元件包括:
具有悬置在第一框架内的第一谐振器的第一传感器元件;
具有悬置在第二框架内的第二谐振器的第二传感器元件;
具有悬置在第三框架内的第三谐振器的第三传感器元件;以及
具有悬置在第四框架内的第四谐振器的第四传感器元件,
其中,所述第一和第三框架被配置为在所述平面内沿第一轴
共线地移动,所述第二和第四框架被配置为在与所述第一轴平行
的所述平面内的第二轴共线地移动;
第一装置,其用于互连第一对相邻的传感器元件的框架,以允许所述框架的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动;以及
第二装置,其用于互连第二对相邻的传感器元件的框架,以允许所述框架的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动。
24.如权利要求23所述的惯性传感器,进一步包括:
第三装置,其用于互连第三对相邻的传感器元件的框架,以允许所述框架的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动;以及
第四装置,其用于互连第四对相邻的传感器元件的框架,以允许所述框架的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动。
25.一种惯性传感器,包括:
至少一个基板;
在该至少一个基板上方基本在平面内的一对传感器元件,每一个传感器元件具有悬置在框架内的谐振器,所述框架被配置为在所述平面内沿着轴共线地移动;以及
垂直接合件,其互连所述框架,并允许所述框架沿它们共线的轴的反相移动,但基本防止所述框架的同相移动。
26.如权利要求25所述的惯性传感器,其中,所述垂直接合件包括:
接合到所述框架之一的第一对互连的杠杆,所述第一对杠杆包括第一杠杆和第二杠杆;
接合到所述框架的另一个的第二对互连的杠杆,所述第二对杠杆包括第三杠杆和第四杠杆;
多个杠杆支撑结构,其允许所述杠杆当所述框架彼此反相移动时枢轴转动;
第一接合挠曲,其基本在所述第一杠杆和第三杠杆各自的枢轴点处互连所述第一杠杆和第三杠杆;以及
第二接合挠曲,其基本在所述第二杠杆和第四杠杆各自的枢轴点处互连所述第二杠杆和第四杠杆,其中,所述接合挠曲基本防止所述框架的同相移动。
CN2006800124224A 2005-04-14 2006-04-06 交叉四元和垂直接合的惯性传感器 Active CN101160506B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/106,053 2005-04-14
US11/106,053 US7421897B2 (en) 2005-04-14 2005-04-14 Cross-quad and vertically coupled inertial sensors
PCT/US2006/012963 WO2006113162A1 (en) 2005-04-14 2006-04-06 Cross-quad and vertically coupled inertial sensors

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101160506A true CN101160506A (zh) 2008-04-09
CN101160506B CN101160506B (zh) 2013-02-06

Family

ID=36720678

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2006800124224A Active CN101160506B (zh) 2005-04-14 2006-04-06 交叉四元和垂直接合的惯性传感器

Country Status (8)

Country Link
US (1) US7421897B2 (zh)
EP (1) EP1889005B1 (zh)
JP (2) JP5554921B2 (zh)
KR (1) KR100988440B1 (zh)
CN (1) CN101160506B (zh)
AT (1) ATE518115T1 (zh)
TW (1) TWI292818B (zh)
WO (1) WO2006113162A1 (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102192733A (zh) * 2010-03-08 2011-09-21 罗伯特·博世有限公司 用于转速传感器的电极装置,转速传感器和求出转速的方法
CN102510995A (zh) * 2010-06-16 2012-06-20 丰田自动车株式会社 复合传感器
CN103852073A (zh) * 2012-11-28 2014-06-11 飞思卡尔半导体公司 用于微机电***(mems)设备的弹簧
JP2018100966A (ja) * 2016-12-19 2018-06-28 アナログ ディヴァイスィズ インク 同期化マスジャイロスコープ
CN108534769A (zh) * 2012-09-28 2018-09-14 意法半导体股份有限公司 加速度和角速度谐振检测集成结构及相关mems传感器设备
US10697774B2 (en) 2016-12-19 2020-06-30 Analog Devices, Inc. Balanced runners synchronizing motion of masses in micromachined devices

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2895501B1 (fr) * 2005-12-23 2008-02-29 Commissariat Energie Atomique Microsysteme, plus particulierement microgyrometre, avec au moins deux massesm oscillantes couplees mecaniquement
US7934423B2 (en) 2007-12-10 2011-05-03 Invensense, Inc. Vertically integrated 3-axis MEMS angular accelerometer with integrated electronics
US8250921B2 (en) 2007-07-06 2012-08-28 Invensense, Inc. Integrated motion processing unit (MPU) with MEMS inertial sensing and embedded digital electronics
US8462109B2 (en) 2007-01-05 2013-06-11 Invensense, Inc. Controlling and accessing content using motion processing on mobile devices
US8952832B2 (en) 2008-01-18 2015-02-10 Invensense, Inc. Interfacing application programs and motion sensors of a device
DE102007030120B4 (de) * 2007-06-29 2010-04-08 Litef Gmbh Drehratensensor
DE102007030119A1 (de) * 2007-06-29 2009-01-02 Litef Gmbh Corioliskreisel
US8215151B2 (en) * 2008-06-26 2012-07-10 Analog Devices, Inc. MEMS stiction testing apparatus and method
DE102008040525B4 (de) * 2008-07-18 2017-05-24 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Sensorelement
US7980133B2 (en) * 2008-08-19 2011-07-19 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for a micromachined multisensor
US8151641B2 (en) 2009-05-21 2012-04-10 Analog Devices, Inc. Mode-matching apparatus and method for micromachined inertial sensors
JP2012528335A (ja) * 2009-05-27 2012-11-12 キング アブドゥーラ ユニバーシティ オブ サイエンス アンド テクノロジー 面外サスペンション方式を使用するmems質量−バネ−ダンパシステム
US8266961B2 (en) * 2009-08-04 2012-09-18 Analog Devices, Inc. Inertial sensors with reduced sensitivity to quadrature errors and micromachining inaccuracies
US8783103B2 (en) * 2009-08-21 2014-07-22 Analog Devices, Inc. Offset detection and compensation for micromachined inertial sensors
DE102010040516A1 (de) 2009-09-09 2011-03-10 Continental Teves Ag & Co. Ohg Doppelaxialer, schockrobuster Drehratensensor mit ineinanderliegenden, linear schwingenden seismischen Elementen
US8421481B2 (en) * 2009-10-20 2013-04-16 Analog Devices, Inc. Detection and mitigation of particle contaminants in MEMS devices
US8701459B2 (en) * 2009-10-20 2014-04-22 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for calibrating MEMS inertial sensors
DE102010029634B4 (de) * 2010-06-02 2024-04-11 Robert Bosch Gmbh Drehratensensor
DE102010061755A1 (de) * 2010-11-23 2012-05-24 Robert Bosch Gmbh Drehratensensor und Verfahren zum Betrieb eines Drehratensensors
FI124020B (fi) 2011-03-04 2014-02-14 Murata Electronics Oy Jousirakenne, resonaattori, resonaattorimatriisi ja anturi
DE102011007805A1 (de) * 2011-04-20 2012-10-25 Maxim Integrated Gmbh Mikro-elektro-mechanischer Sensor
JP5822177B2 (ja) 2011-05-20 2015-11-24 セイコーエプソン株式会社 ジャイロセンサー、電子機器
US9212908B2 (en) 2012-04-26 2015-12-15 Analog Devices, Inc. MEMS gyroscopes with reduced errors
JP6191151B2 (ja) * 2012-05-29 2017-09-06 株式会社デンソー 物理量センサ
TWI508913B (zh) * 2013-10-03 2015-11-21 Pixart Imaging Inc 微機電元件與微機電應力補償結構
FR3013445B1 (fr) * 2013-11-20 2015-11-20 Sagem Defense Securite Capteur a element sensible mobile ayant un fonctionnement mixte vibrant et pendulaire, et procedes de commande d'un tel capteur
FI20155095A (fi) 2015-02-11 2016-08-12 Murata Manufacturing Co Mikromekaaninen kulmanopeusanturi
FI20155094A (fi) 2015-02-11 2016-08-12 Murata Manufacturing Co Mikromekaaninen kulmanopeusanturi
US9869552B2 (en) * 2015-03-20 2018-01-16 Analog Devices, Inc. Gyroscope that compensates for fluctuations in sensitivity
FI127202B (en) * 2015-04-16 2018-01-31 Murata Manufacturing Co Three axis gyroscope
US10359284B2 (en) 2015-12-10 2019-07-23 Invensense, Inc. Yaw rate gyroscope robust to linear and angular acceleration
ITUB20159197A1 (it) 2015-12-29 2017-06-29 St Microelectronics Srl Giroscopio microelettromeccanico con reiezione di disturbi e metodo di rilevamento di una velocita' angolare
US10514259B2 (en) 2016-08-31 2019-12-24 Analog Devices, Inc. Quad proof mass MEMS gyroscope with outer couplers and related methods
US10627235B2 (en) 2016-12-19 2020-04-21 Analog Devices, Inc. Flexural couplers for microelectromechanical systems (MEMS) devices
US10415968B2 (en) 2016-12-19 2019-09-17 Analog Devices, Inc. Synchronized mass gyroscope
US10948294B2 (en) 2018-04-05 2021-03-16 Analog Devices, Inc. MEMS gyroscopes with in-line springs and related systems and methods
US10760909B2 (en) 2018-06-18 2020-09-01 Nxp Usa, Inc. Angular rate sensor with in-phase drive and sense motion suppression
JP6897806B2 (ja) * 2019-02-15 2021-07-07 株式会社村田製作所 バランス型多軸ジャイロスコープ
EP3696503B1 (en) * 2019-02-15 2022-10-26 Murata Manufacturing Co., Ltd. Vibration-robust multiaxis gyroscope
US11193771B1 (en) 2020-06-05 2021-12-07 Analog Devices, Inc. 3-axis gyroscope with rotational vibration rejection
CN116075728A (zh) 2020-06-08 2023-05-05 美国亚德诺半导体公司 驱动和感测应力释放装置
WO2021252364A1 (en) 2020-06-08 2021-12-16 Analog Devices, Inc. Stress-relief mems gyroscope
US11519726B2 (en) 2020-06-19 2022-12-06 Analog Devices, Inc. Mechanism for selective coupling in microelectromechanical systems inertial sensors
US11698257B2 (en) 2020-08-24 2023-07-11 Analog Devices, Inc. Isotropic attenuated motion gyroscope
US11624613B2 (en) * 2020-12-03 2023-04-11 Murata Manufacturing Co., Ltd. Synchronized four mass gyroscope
US11525680B2 (en) 2021-02-17 2022-12-13 Nxp Usa, Inc. Angular rate sensor with centrally positioned coupling structures

Family Cites Families (95)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2309853A (en) 1941-04-10 1943-02-02 Sperry Gyroscope Co Inc Rate and attitude indicating instrument
US4381672A (en) 1981-03-04 1983-05-03 The Bendix Corporation Vibrating beam rotation sensor
US4654663A (en) 1981-11-16 1987-03-31 Piezoelectric Technology Investors, Ltd. Angular rate sensor system
US4510802A (en) 1983-09-02 1985-04-16 Sundstrand Data Control, Inc. Angular rate sensor utilizing two vibrating accelerometers secured to a parallelogram linkage
US4524619A (en) 1984-01-23 1985-06-25 Piezoelectric Technology Investors, Limited Vibratory angular rate sensor system
US4598585A (en) 1984-03-19 1986-07-08 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Planar inertial sensor
US4744249A (en) 1985-07-25 1988-05-17 Litton Systems, Inc. Vibrating accelerometer-multisensor
US4744248A (en) 1985-07-25 1988-05-17 Litton Systems, Inc. Vibrating accelerometer-multisensor
US4884446A (en) 1987-03-12 1989-12-05 Ljung Per B Solid state vibrating gyro
US5216490A (en) 1988-01-13 1993-06-01 Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Bridge electrodes for microelectromechanical devices
US5111693A (en) 1988-01-13 1992-05-12 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Motion restraints for micromechanical devices
US5016072A (en) 1988-01-13 1991-05-14 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Semiconductor chip gyroscopic transducer
US5195371A (en) 1988-01-13 1993-03-23 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Semiconductor chip transducer
US5025346A (en) 1989-02-17 1991-06-18 Regents Of The University Of California Laterally driven resonant microstructures
US5056366A (en) 1989-12-26 1991-10-15 Litton Systems, Inc. Piezoelectric vibratory rate sensor
US5144184A (en) 1990-01-26 1992-09-01 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical device with a trimmable resonant frequency structure and method of trimming same
US5016076A (en) 1990-02-28 1991-05-14 At&T Bell Laboratories Lateral MOS controlled thyristor
US5537144A (en) 1990-06-11 1996-07-16 Revfo, Inc. Electro-optical display system for visually displaying polarized spatially multiplexed images of 3-D objects for use in stereoscopically viewing the same with high image quality and resolution
US6155115A (en) 1991-01-02 2000-12-05 Ljung; Per Vibratory angular rate sensor
US5205171A (en) 1991-01-11 1993-04-27 Northrop Corporation Miniature silicon accelerometer and method
US5241861A (en) 1991-02-08 1993-09-07 Sundstrand Corporation Micromachined rate and acceleration sensor
DE4106288C2 (de) 1991-02-28 2001-05-31 Bosch Gmbh Robert Sensor zur Messung von Drücken oder Beschleunigungen
DE4107658A1 (de) 1991-03-09 1992-09-17 Bosch Gmbh Robert Montageverfahren fuer mikromechanische sensoren
ATE143489T1 (de) 1991-03-12 1996-10-15 New Sd Inc Stimmgabelinertialsensor mit einem ende und verfahren
US5203208A (en) 1991-04-29 1993-04-20 The Charles Stark Draper Laboratory Symmetrical micromechanical gyroscope
US5635639A (en) 1991-09-11 1997-06-03 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical tuning fork angular rate sensor
US5331852A (en) 1991-09-11 1994-07-26 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Electromagnetic rebalanced micromechanical transducer
US5313835A (en) 1991-12-19 1994-05-24 Motorola, Inc. Integrated monolithic gyroscopes/accelerometers with logic circuits
US5359893A (en) 1991-12-19 1994-11-01 Motorola, Inc. Multi-axes gyroscope
US5377544A (en) 1991-12-19 1995-01-03 Motorola, Inc. Rotational vibration gyroscope
US5329815A (en) 1991-12-19 1994-07-19 Motorola, Inc. Vibration monolithic gyroscope
US5408877A (en) 1992-03-16 1995-04-25 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical gyroscopic transducer with improved drive and sense capabilities
US5767405A (en) 1992-04-07 1998-06-16 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Comb-drive micromechanical tuning fork gyroscope with piezoelectric readout
US5349855A (en) 1992-04-07 1994-09-27 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Comb drive micromechanical tuning fork gyro
GB9212099D0 (en) 1992-06-06 1992-07-22 Lucas Ind Plc Angular rate sensor and method of production thereof
US5734105A (en) 1992-10-13 1998-03-31 Nippondenso Co., Ltd. Dynamic quantity sensor
US5367217A (en) 1992-11-18 1994-11-22 Alliedsignal Inc. Four bar resonating force transducer
US5650568A (en) 1993-02-10 1997-07-22 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Gimballed vibrating wheel gyroscope having strain relief features
US5555765A (en) 1993-02-10 1996-09-17 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Gimballed vibrating wheel gyroscope
US5492596A (en) 1994-02-04 1996-02-20 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method of making a micromechanical silicon-on-glass tuning fork gyroscope
US5481914A (en) 1994-03-28 1996-01-09 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Electronics for coriolis force and other sensors
DE4414237A1 (de) * 1994-04-23 1995-10-26 Bosch Gmbh Robert Mikromechanischer Schwinger eines Schwingungsgyrometers
US5987986A (en) 1994-07-29 1999-11-23 Litton Systems, Inc. Navigation grade micromachined rotation sensor system
US5646348A (en) 1994-08-29 1997-07-08 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical sensor with a guard band electrode and fabrication technique therefor
US5581035A (en) 1994-08-29 1996-12-03 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical sensor with a guard band electrode
DE4431338C2 (de) 1994-09-02 2003-07-31 Bosch Gmbh Robert Beschleunigungssensor
US5530342A (en) 1994-09-30 1996-06-25 Rockwell International Corporation Micromachined rate sensor comb drive device and method
JP3412293B2 (ja) 1994-11-17 2003-06-03 株式会社デンソー 半導体ヨーレートセンサおよびその製造方法
DE4442033C2 (de) 1994-11-25 1997-12-18 Bosch Gmbh Robert Drehratensensor
US5763781A (en) 1995-02-23 1998-06-09 Netzer; Yishay Coupled resonator vibratory rate sensor
GB2301671B (en) 1995-05-30 1999-10-13 Allied Signal Inc Angular rate sensor electronic balance
US5635640A (en) 1995-06-06 1997-06-03 Analog Devices, Inc. Micromachined device with rotationally vibrated masses
US5635638A (en) 1995-06-06 1997-06-03 Analog Devices, Inc. Coupling for multiple masses in a micromachined device
US5747961A (en) 1995-10-11 1998-05-05 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Beat frequency motor position detection scheme for tuning fork gyroscope and other sensors
US6064169A (en) 1995-10-11 2000-05-16 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Motor amplitude control circuit in conductor-on-insulator tuning fork gyroscope
US5600065A (en) 1995-10-25 1997-02-04 Motorola, Inc. Angular velocity sensor
JPH09196682A (ja) 1996-01-19 1997-07-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 角速度センサと加速度センサ
JP3039364B2 (ja) 1996-03-11 2000-05-08 株式会社村田製作所 角速度センサ
US5880369A (en) 1996-03-15 1999-03-09 Analog Devices, Inc. Micromachined device with enhanced dimensional control
US6250156B1 (en) 1996-05-31 2001-06-26 The Regents Of The University Of California Dual-mass micromachined vibratory rate gyroscope
US5992233A (en) 1996-05-31 1999-11-30 The Regents Of The University Of California Micromachined Z-axis vibratory rate gyroscope
US5696323A (en) 1996-06-25 1997-12-09 Alliedsignal, Inc. Two bar resonant beam Coriolis rate sensor
US5795988A (en) 1996-07-01 1998-08-18 Alliedsignal Inc. Gyroscope noise reduction and drift compensation
JP3702412B2 (ja) 1996-07-29 2005-10-05 アイシン精機株式会社 角速度検出装置
JPH1047966A (ja) 1996-07-31 1998-02-20 Aisin Seiki Co Ltd 角速度センサ
US5892153A (en) 1996-11-21 1999-04-06 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Guard bands which control out-of-plane sensitivities in tuning fork gyroscopes and other sensors
GB2320571B (en) 1996-12-20 2000-09-27 Aisin Seiki Semiconductor micromachine and manufacturing method thereof
US5955668A (en) 1997-01-28 1999-09-21 Irvine Sensors Corporation Multi-element micro gyro
US5783973A (en) 1997-02-24 1998-07-21 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Temperature insensitive silicon oscillator and precision voltage reference formed therefrom
US5911156A (en) 1997-02-24 1999-06-08 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Split electrode to minimize charge transients, motor amplitude mismatch errors, and sensitivity to vertical translation in tuning fork gyros and other devices
US6044707A (en) 1997-06-20 2000-04-04 Aisin Seiki Kabushiki Kaisha Angular rate sensor
US6032531A (en) 1997-08-04 2000-03-07 Kearfott Guidance & Navigation Corporation Micromachined acceleration and coriolis sensor
US6122961A (en) * 1997-09-02 2000-09-26 Analog Devices, Inc. Micromachined gyros
US6070464A (en) 1997-09-05 2000-06-06 Motorola, Inc. Sensing structure comprising a movable mass and a self-test structure
WO1999019734A2 (en) 1997-10-14 1999-04-22 Irvine Sensors Corporation Multi-element micro gyro
US6230563B1 (en) 1998-06-09 2001-05-15 Integrated Micro Instruments, Inc. Dual-mass vibratory rate gyroscope with suppressed translational acceleration response and quadrature-error correction capability
US5920012A (en) 1998-06-16 1999-07-06 Boeing North American Micromechanical inertial sensor
JP3882973B2 (ja) 1998-06-22 2007-02-21 アイシン精機株式会社 角速度センサ
US6009751A (en) 1998-10-27 2000-01-04 Ljung; Bo Hans Gunnar Coriolis gyro sensor
US6164134A (en) 1999-01-29 2000-12-26 Hughes Electronics Corporation Balanced vibratory gyroscope and amplitude control for same
JP4126833B2 (ja) 1999-03-12 2008-07-30 株式会社デンソー 角速度センサ装置
US6189381B1 (en) 1999-04-26 2001-02-20 Sitek, Inc. Angular rate sensor made from a structural wafer of single crystal silicon
US6289733B1 (en) 1999-05-12 2001-09-18 Hughes Electronics Corporation Planar vibratory gyroscopes
US6257059B1 (en) 1999-09-24 2001-07-10 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Microfabricated tuning fork gyroscope and associated three-axis inertial measurement system to sense out-of-plane rotation
US6311555B1 (en) 1999-11-17 2001-11-06 American Gnc Corporation Angular rate producer with microelectromechanical system technology
US6516666B1 (en) 2000-09-19 2003-02-11 Motorola, Inc. Yaw rate motion sensor
US6742389B2 (en) * 2001-01-24 2004-06-01 The Regents Of The University Of Michigan Filter-based method and system for measuring angular speed of an object
JP3870895B2 (ja) * 2002-01-10 2007-01-24 株式会社村田製作所 角速度センサ
EP1478902B1 (de) * 2002-01-12 2017-05-24 Robert Bosch Gmbh Drehratensensor
ATE509254T1 (de) * 2002-02-06 2011-05-15 Analog Devices Inc Mikrohergestellter kreisel
US7089792B2 (en) * 2002-02-06 2006-08-15 Analod Devices, Inc. Micromachined apparatus utilizing box suspensions
US6848304B2 (en) * 2003-04-28 2005-02-01 Analog Devices, Inc. Six degree-of-freedom micro-machined multi-sensor
US20050066728A1 (en) * 2003-09-25 2005-03-31 Kionix, Inc. Z-axis angular rate micro electro-mechanical systems (MEMS) sensor
US7036372B2 (en) * 2003-09-25 2006-05-02 Kionix, Inc. Z-axis angular rate sensor
WO2005103621A1 (en) 2004-04-14 2005-11-03 Analog Devices, Inc. Coupling apparatus for inertial sensors

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102192733A (zh) * 2010-03-08 2011-09-21 罗伯特·博世有限公司 用于转速传感器的电极装置,转速传感器和求出转速的方法
CN102192733B (zh) * 2010-03-08 2016-02-24 罗伯特·博世有限公司 用于转速传感器的电极装置,转速传感器和求出转速的方法
CN102510995A (zh) * 2010-06-16 2012-06-20 丰田自动车株式会社 复合传感器
CN102510995B (zh) * 2010-06-16 2015-03-04 丰田自动车株式会社 复合传感器
CN108534769A (zh) * 2012-09-28 2018-09-14 意法半导体股份有限公司 加速度和角速度谐振检测集成结构及相关mems传感器设备
CN103852073A (zh) * 2012-11-28 2014-06-11 飞思卡尔半导体公司 用于微机电***(mems)设备的弹簧
JP2018100966A (ja) * 2016-12-19 2018-06-28 アナログ ディヴァイスィズ インク 同期化マスジャイロスコープ
US10697774B2 (en) 2016-12-19 2020-06-30 Analog Devices, Inc. Balanced runners synchronizing motion of masses in micromachined devices

Also Published As

Publication number Publication date
TWI292818B (en) 2008-01-21
CN101160506B (zh) 2013-02-06
JP2013083662A (ja) 2013-05-09
EP1889005B1 (en) 2011-07-27
JP2008537114A (ja) 2008-09-11
US7421897B2 (en) 2008-09-09
KR20070120197A (ko) 2007-12-21
KR100988440B1 (ko) 2010-10-18
EP1889005A1 (en) 2008-02-20
US20060230830A1 (en) 2006-10-19
ATE518115T1 (de) 2011-08-15
TW200704916A (en) 2007-02-01
WO2006113162A1 (en) 2006-10-26
JP5554921B2 (ja) 2014-07-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101160506B (zh) 交叉四元和垂直接合的惯性传感器
CN100559122C (zh) 带有传感元件的线性阵列的惯性传感器
CN1628238B (zh) 显微加工的陀螺仪
US20110030474A1 (en) Inertial Sensors with Reduced Sensitivity to Quadrature Errors and Micromachining Inaccuracies
CN102650519A (zh) 角速度传感器
JP2008014727A (ja) 加速度角速度センサ
CN102175236A (zh) 一种可调整降低正交误差的微陀螺仪
CN105157726A (zh) 双质量硅微陀螺仪的机械耦合误差抑制装置与方法
TWI600882B (zh) 三軸型陀螺儀
CN114942019A (zh) 具有中心定位的耦合结构的角速率传感器
CN204831318U (zh) Mems陀螺仪的机械耦合误差抑制装置
CN100437116C (zh) 提供两个加速度检测轴和一个角速度检测轴的微加工多传感器
JP2008039614A (ja) 加速度角速度センサ
US20240003685A1 (en) Mems gyroscope with enhanced robustness against vibrations and reduced dimensions
US20230400303A1 (en) Inertial navigation sensor with reduced footprint
CN102679969A (zh) 包括多个谐振结构的装置和带有正交抑制的显微加工的传感器
JP2008214964A (ja) 建物ユニット

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C53 Correction of patent of invention or patent application
CB02 Change of applicant information

Address after: Massachusetts, USA

Applicant after: ANALOG DEVICES, Inc.

Address before: Massachusetts, USA

Applicant before: Analog Devices Inc.

COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: APPLICANT; FROM: ANALOG DEVICES INC. TO: AMERICA ANALOG DEVICE INC.

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant