CN100347727C - 具有用于检测存储装置所存储信息产生变化的检测装置的数据载体 - Google Patents

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Abstract

在包括用于可修改的存储信息(I)的第一存储装置(5)的电路(2)中，电路(2)的环境参数可修改该信息(I)，环境参数作用于该第一存储装置(5)，首先，在第一存储装置(5)中提供了用于存储测试信息(TI)的测试存储区域(7)，其次提供了用于不可修改地存储参考信息(RI)的第二存储装置(16)，再者提供了检测装置(19)，可以将可能从第一存储装置所读取的测试信息(TI)和可能从第二存储装置(16)所读取的参考信息(RI)提供给该检测装置(19)，并借助读取的测试信息(TI)和读取的参考信息(RI)设计检测装置(19)以检测通过作用于第一存储装置(5)的环境参数引起的对原始存储的测试信息(TI)的修改。

Description

具有用于检测存储装置所存储信息产生变化的检测装置的数据载体
技术领域
本发明涉及一种包括电路的数据载体，该电路包括以下各组件，即设计用于可修改的存储信息、由电路环境参数修改的信息的第一存储装置，其中环境参数作用于该第一存储装置。
背景技术
本发明还涉及一种包括以下组件的电路，即被设计用于可修改的存储信息、由电路环境参数修改的信息的第一存储装置，其中环境参数作用于该第一存储装置。
在文献DE4205567A1中公开了用于上述第一段描述的类型的这种数据载体和用于上述第二段中描述的类型的这种电路。
所已知被设计用于与读/写站非接触性通信并包括已知电路的数据载体，包括被设计用于可修改的存储信息的第一存储装置。数据载体还包括一个存取控制装置和位于第一存储装置和存取控制装置之间的总线连接，其中在正常操作中，可通过期望的电子存取经由总线连接而连接到第一存储装置的存取控制装置，来修改第一存储装置中存储的信息。
在已知数据载体的例子中，所出现的问题是不仅能够经由总线连接通过期望的存取来修改第一存储装置中所存储的信息，而且还能够以另一方式，即通过作用于第一存储装置的环境参数诸如例如短波长光或电场或高温之类的非期望的影响来修改第一存储装置中所存储的信息。通过这种方式产生的存储信息的修改可导致数据载体的完全失效或危险性地误操作该数据载体或甚至有可能被用作犯罪目的来被利用。
发明内容
本发明的一个目的是消除与在上面第一段中描述的类型的数据载体以及在上面第二段中描述的类型的电路有关的上述问题，并提供一种改进的数据载体和改进的电路。
为了实现与在上面第一段中描述的类型的数据载体有关的上述目的，第一存储装置包括一个提供用于存储测试信息的测试存储区域，以及提供被设计用于不可修改地存储参考信息的第二存储装置，并提供检测装置，其中可以将从第一存储装置读取的测试信息以及从第二存储装置读取的参考信息提供给该检测装置，并借助所读取的测试信息和读取的参考信息来设计该检测装置以便检测通过作用于第一存储装置的环境参数对原始存储的测试信息所产生的修改。
为了实现与以上在第二段中所述类型的电路有关的上述目的，第一存储装置包括一个提供用于存储测试信息的测试存储区域，以及提供被设计用于不可修改地存储参考信息的第二存储装置，并提供检测装置，其中可以将从第一存储装置读取的测试信息以及从第二存储装置读取的参考信息提供给该检测装置，并借助所读取的测试信息和读取的参考信息来设计该检测装置以便检测通过作用于第一存储装置的环境参数对原始存储的测试信息所产生的修改。
从而实现了如下优点，环境参数已经或还未修改有关第一存储装置所存储信息的明确声明，因此与第一存储装置中存储的信息分别有关的无效性或有效性可以以一种可靠和可再现的方式生成。另外，所获得的优点在于存储信息的修改被无意识地产生，即由修改原始存储信息的环境参数意外地产生，或由于纯粹的技术或者甚至是犯罪原因，可以被有意识地事实上以百分之百的可靠性而检测到，这是因为测试信息和所述信息一起被存储在第一存储装置中，所以，共同受到作用于第一存储装置的环境参数的影响并共同经受因此产生的修改。
根据本发明的一种解决方案可以例如其特征在于为了安全的原因而以加密的方式存储测试信息或参考信息，并且检测装置包括用于解密两个信息单元中至少一个的解密装置。另外，根据本发明的解决方案可以其特征在于检测装置被设计为比较测试信息的表示与参考信息的表示，这两种表示可由适当的计算方法来计算。另外，检测装置可被设计用于执行所谓的重合方法。另外，检测装置可以作为相关器来实现。但是，已经证实提供包括用于比较存储的测试信息与存储的参考信息的比较装置的检测装置是特别有利的。这种有利之处可以如下来获得：即通过快速比较，可生成有关第一存储装置中所存储信息的可能修改以及因此可能无效的可靠声明，这可能甚至完全在硬件层次上执行。
在根据本发明的解决方案中，还已经证实提供了被提供以用于不可逆地启动检测装置的功能的启动装置，以及设计用于与启动装置协作的检测装置也是有利的。通过这种方式，所获得的优点是在测试状态时间周期正如例如在生产电路期间或之后，可以阻止检测装置的运行。另外，获得的有利之处在于可以在明确的时间开启检测装置的运行，以及一旦开启，检测装置的这种运行就不能够被取消，由此，从该时间起，可以可靠地检测由环境参数所产生的不论是因为何种原因对第一存储装置中所存储信息的任何修改。
在根据本发明的解决方案中，还已经证实提供这样的装置是有利的：设计检测装置用于产生并输出指示符信号，并该指示符信号被提供用来指示通过作用于第一存储装置的环境参数引起的对原始存储的测试信息的修改，和该电路被设计用来作为该指示符信号的函数影响它的操作行为。通过这种方式，所获得的优点是检测到由作用于第一存储装置的环境参数所引起的对测试信息的修改之后，可能影响操作行为以至可靠地阻止任何使用数据载体电路的犯罪动机。
在根据本发明的解决方案中，还已经证实提供如下信息也是有利的：测试信息由至少两个比特形成，其中至少两个比特关于其逻辑值方面彼此不同。通过这种方式，所获得的优点是测试信息由只具有逻辑值的比特组成的比特序列表示，该逻辑值在生产第一存储装置期间不会发生，或者在通过环境参数作用于第一存储装置所产生的对第一存储装置所存储的信息的修改之后也不出现，其中可能提及，为了完整起见，在两个例子中第一存储装置中的每个比特都表示为逻辑一或逻辑零。
在根据本发明的解决方案中，还已经证实提供采用集成电路的形式的电路也是有利的。通过这种方式，所获得的优点是尽可能大规模地经济地生产这种电路。
根据以下所述实施例的实例形成了本发明的上述方面及其他方面，并参考实施例的这些实例来说明这些方面。
附图说明
参考图中所示实施例的实例将进一步描述本发明，但是，本发明并不局限于此。
图1为根据本发明实施例的第一实例的数据载体的方框示意图。
图2所示为根据本发明实施例的第一实例，用于在根据本发明的数据载体的第一存储装置中存储信息的数据结构。
图3所示为根据本发明实施例的第二实例，用于在根据本发明的数据载体的第一存储装置中存储信息的数据结构。
具体实施方式
图1所示为被设计为用于与图1未示例出的通信站进行非接触式通信的数据载体1。为此，将数据载体1设计用于以非接触的方式从通信站接收信号S，其中该信号由高频载波形成，以及可能通过信号S来为数据载体1供电。另外，可通过信号S将询问信息从通信站传送到数据载体1，其中该信号表现出载波的幅度调制。另外，可通过信息S的方式将响应信息从数据载体1传送到通信站，其中信号S表现出可能由数据载体1所引起的载波的负载调制。应该提及，还可以提供载波的相位和频率调制以用于通信。
数据载体1包括电子集成电路2。该电路2包括设计用于接收信号S的收发信机装置3的组件。为此，收发信机装置3表现出与电路2相耦合的传输线圈结构，在图1中未示出，从而可以将在传输线圈结构出现的信号S提供给电路2。另外使用信号S来设计收发信机装置3，以便为电路2产生相对于参考电势GND的电源电压V。另外设计收发信机装置3以便解调在本例中所调制的接收信号S并输出通过调制的接收信号S而传送的询问数据RD。另外设计收发信机装置3用来接收响应数据AD，并且为了发送该响应数据AD，用于负载调制在本例中未经调制的接收信号S。
电路2还包括采用硬连线逻辑电路形式的数据处理装置4。该数据处理装置4还可以采用微计算机的形式。数据处理装置4被设计用于接收询问数据RD并处理该询问数据RD，以及作为询问数据RD的函数，产生响应数据AD并输出该响应数据AD给收发信机装置3。
电路2包括设计用于可修改地存储信息I的第一存储装置5，该信息I可通过电路2的环境参数来进行修改，其中环境参数作用于该第一存储装置5。在当前的例子中，第一存储装置5采用EEPROM的形式。但是应该提及，在这点上第一存储装置5还可以采用其他非易失性读/写存储器的形式，例如EPROM、闪存或磁的RAM。根据本发明，只要第一存储装置5受环境参数，诸如例如，短波长光、相对较强电磁场的高温的影响，就会由该环境参数引起对存储信息I的修改。这种修改通常删除信息I或至少使它不可用。第一存储装置5包括第一用户存储区域6和测试存储区域7。测试存储区域7被提供用于存储测试信息TI。用户存储区域6被提供用于存储用户信息UI。可以存储在第一存储装置5中的信息I因此由用户信息UI和测试信息TI构成。通过大量的比特表示信息I，其中这些比特被组织为所谓的面向扇区的数据结构。
图2所示为用于在第一存储装置5中存储信息I的这种面向扇区的数据结构。第一用户存储区域6包括大量的数据扇区，如该图中作为代表示出的第一数据扇区8和第二数据扇区9以及第三数据扇区10。大量数据扇区中的每一个都包括一个扇区存取控制字节11和四个扇区数据字节12、13、14和15，第一数据扇区8示例了这种情形，并作为大量数据扇区的代表。扇区存取控制字节11被提供用于存储控制数据，通过它启动(enable)或阻止存取四个扇区数据字节12、13、14和15。扇区数据字节12、13、14和15被提供用于存储用于表示用户信息UI的用户数据。测试存储区域7由位于第一存储装置5的最高存储地址中的测试信息字节形成。应该提及，在这种背景下还可以提供其他的位于第一存储装置5内的存储地址。另外还应该提及，存储的信息I不必专门以字节的形式存储，而是还可以存储为每个都包括有4个比特的逻辑半字节，或每个由16比特组成或通过任何其他比特组成的逻辑字。
图1中所示例的电路2还包括两个采用ROM形式的存储装置16。第二存储装置16包括第二用户存储区域17和参考存储区域18。第二用户存储区域17被提供用于不可修改地存储常量，这些常量是通过数据处理装置4处理数据或产生响应数据AD所需要的，但是以下将不对其进行详细说明。设计参考存储区域18用于不可修改地存储参考信息RI。同第一存储装置5一样，通过大量的比特来表示常量和参考信息RI，这些比特组织是类似于第一存储装置5中数据结构的一种数据结构。但是应该提及，第二存储装置16内出现的数据结构理论上可独立于，即不同于第一存储装置5中出现的数据结构。
电路2还包括检测装置19，其中可以将可能从第一存储装置5所读取的测试信息TI和可能从第二存储装置16所读取的参考信息RI提供给该检测装置，并且借助所读取的测试信息TI和所读取的参考信息RI来设计该检测装置，以检测通过作用于第一存储装置的环境参数引起的对原始存储的测试信息TI的修改。为此，检测装置19包括第一比较装置20，它被设计用于存取第一存储装置5(具体而言是存取测试存储区域7)以读取测试信息TI。另外还将第一比较装置20设计用于存取第二存储装置16(具体而言是存取参考存储区域18)以读取参考信息RI。第一比较装置20另外被设计用于比较存储的测试信息TI与存储的参考信息RI。另外还设计检测装置19以产生并输出指示符信号DS，其中该指示符信号D被提供用来指示已经发生通过作用于第一存储装置的环境参数引起的对原始存储的测试信息TI的修改，由作为测试信息TI与参考信息RI的比较结果而获得的第一比较装置20的比较结果形成该指示符信号DS。
应该提及，指示符信号DS还可以采用表示比较结果的形式。另外还应该提及，指示符信号DS还提供了对原始存储的测试信息TI修改的永久指示。例如当指示符信号DS表示PROM形式的存储单元的内容时或当指示符信号DS表示一次性(single-use)熔丝的导电状态时，就是这种情形。在本例中可以在所述数据处理之前，当每次产生足够用于数据处理的电源电压V时，检测对原始存储的测试信息TI的修改。但是应该提及，还可以在数据处理期间周期性或非周期性地执行所述检测。
数据处理装置4经由所谓的总线连接B连接到第一存储装置5和第二存储装置16，其中借助于总线连接B，可以将用户信息UI写入到第一存储装置5的第一用户存储区域6或从所述第一用户存储区域6读取用户信息以及可以从第二用户存储区域17读取表示存储常量的信息I。当接收到指示符信号DS时，数据处理装置4被设计用于阻止存取第一存储装置5和/或第二存储装置16。另外，数据处理装置4还被设计用于产生并输出响应数据AD，该数据指示已经发生通过作用于第一存储装置5的环境参数引起对原始存储的测试信息TI的修改。一旦已经接收到指示符信号DS，就永久性阻止数据处理装置4继续处理数据。因此，电路2还被设计用于作为指示符信号DS的函数影响它的操作行为。
通过通信装置可以将响应数据AD传送到读/写站，这里可能输出该数据给数据载体1的用户，可选地以可视显示信息的形式。
电路2还包括不可逆地启动检测装置19功能的启动装置(enabling means)21。为此，将启动装置21设计用于产生并输出可以表示启动状态或禁止状态的状态信号SC。检测装置19的第一比较装置20被设计用于接收该状态信号SC，其中如果表示启动状态，则启动检测装置19的功能，如果表示禁止状态，则不启动检测装置19的功能。因此，设计检测装置19被涉及为与启动装置21协作。
为了产生状态信号SC，启动装置21包括一个被设计用于输出测试信号SS给第一锯弓(saw bow)部件23的测试信号发生器22，该第一锯弓部件23构成了电路2的一个组件。启动装置21还包括被设计用于接收可输出到第一锯弓部件23的测试信号SS的第二比较装置24。第二比较装置24另外还连接到第二锯弓部件25，并且被设计用于接收可通过电路2的第二锯弓部件25提供的比较信号SS’。第二比较装置24还被另外设计用于比较测试信号SS与比较信号SS’，如果测试信号SS与比较信号SS’一致，则输出表示禁止状态的状态信号SC。如果测试信号SS与比较信号SS’不一致，则设计第二比较装置24输出表示启动状态的状态信号SC。
第一锯弓部件23和第二锯弓部件25是“锯弓”的组件，在布于晶片(wafer)内的集成电路2的例子中，锯弓形成了晶片锯区内的第一锯弓部件23和第二锯弓部件25之间的电导连接，以便可以根据电路2建立锯弓，电路2安排在晶片内并且可以执行测试，并设计在将电路2从晶片分离开来之后，具体而言是在电路2从晶片上锯下来之后不可以执行这些测试。如果从晶片上分离出该电路2，将锯弓切成方块，以便当电路2已从晶片上分离时，只有第一锯弓部件23和第二锯弓部件25作为原始锯弓的组件仍然位于电路2内。因此，当锯弓完整无缺时，由测试信号SS形成比较信号SS’，而当锯弓已经被切断或损坏时，只留下第一锯弓部件23和第二锯弓部件25位于电路2内，两个信号SS和SS’彼此不相同。在专利文献WO 02/09153 A2中公开了这种锯弓，其公开的内容在此被包含。
在如图3所示例的第一存储装置5的数据结构中，测试存储区域7分布于每个数据扇区上，以便每个数据扇区都具有分配给它的通过测试信息比特对BP、BPA和BPB所分别表示的“自己的”测试信息TI，首先的三个数据扇区8、9和10被示例为大量数据扇区的代表。在每个扇区存取控制字节11、11A和11B中，为分别分配给相应数据扇区8、9和10的测试信息TI、TIA和TIB保留两个比特。通过这种方式，可获得的优点在于，即使环境参数以分离的方式作用于第一存储装置5的一个区，实际上也可以百分之百可靠地检测出通过作用于第一存储装置5的环境参数引起的分别对原始存储的测试信息TI、TIA或ITB的修改。但是应该提及，在这点上，可以在每个数据扇区8、9和10内提供多于两个的比特以分别表示相应的测试信息TI、TIA和TIB，并且各个比特不必彼此相邻地排列。
在上述实施例的两个实例中，参考了基于数据扇区的数据结构。但是应该提及，还可以为第一存储装置5使用任何其他的数据结构。
以下参考根据图1的数据载体2的应用实例来说明数据载体1的操作模式。根据该应用实例，应当假设，在数据载体1的电路2位于半导体制造商晶片内以及锯弓完整无缺的时间点上，锯弓的第一锯弓部件23和第二锯弓部件25电导连接在一起构成了电路2的组件，由比特序列“01010110”表示的测试信息存储在第一存储装置5的测试存储区域7中。还应当假设只使用大量数据扇区中的第一扇区8并且控制数据存储在扇区存取控制字节11中，该控制字节使得能够加密存取四个扇区数据字节12、13、14和15。四个扇区数据字节12、13、14和15被提供用于存储表示用户信息UI的用户数据，其中用户数据允许明确地识别数据载体1的用户。用户数据可以由为用户提供数据载体1的服务提供商使用加密存取四个扇区数据字节12、13、14和15的代码从而存储在用户数据存储区域6中。还应当假设与测试存储区域7中存储的比特序列相同的比特序列存储在参考存储区域18中。然后，将从晶片上锯切电路2而将其从晶片切断，其中锯弓被破坏以及两个锯弓部件23和25在电路2内互相保持电气隔离。从该时间点开始，再也不能修改该第一测试信息TI。
在用户信息UI传送到服务提供商之后，通过半导体制造商使用提交给服务提供商的代码将识别用户所需的该用户信息UI存储在数据载体1中，因此可以使用数据载体1来启动存取限制存取的工业公司的区域。
在使用中，循环的数据载体1受极大范围环境的影响，环境影响由数据载体1或电路2的环境参数来表征。在当前例子中，应当假设将数据载体1无意中带入高频焊接设备的附近，其中通过高频焊接设备所产生的强大的高频场删除了第一存储装置5的内容。存储内容返回到“原始状态”，正如在生产第一存储装置5之后原始存在的内容一样并且其中第一存储装置5只包括表示逻辑一的比特。
没有或确实不能注意到第一存储装置5内容的这种删除的用户，将数据载体1带入读/写站的通信区域以获得存取该受限制的存取区。收发信机装置3接收读/写站输出的信号S，信号S由高频载波形成，并且它被提供用于与数据载体1通信并用于为数据载体1供电。首先，收发信机装置3产生电路2的电源电压V。
只要电源电压已经超出门限值，那么测试信号发生器22就会产生测试信号SS并把它输出到第一锯弓部件23和第二比较装置24。同时，第二比较装置24接收与测试信号SS不匹配的比较信号SS’，不匹配是因为锯弓只在电路2内部分存在。第二比较装置24然后产生表示启动状态的状态信号SC并将该状态信号SC输出到第一比较装置20。
在第一比较装置20，表示启动状态的状态信号SC导致第一比较装置20存取第一存储装置5并读取通过环境参数修改的测试信息TI，该测试信息TI在这点上表示为比特序列“11111111”。比较装置20还存取第二存储装置16并读取不能由环境参数修改的原始存储的比特序列“01010110”形式的参考信息RI。然后通过第一比较装置20比较测试信息TI与参考信息RI，其中比较发现已经通过作用于第一存储装置的环境参数引起对原始存储的测试信息TI的修改，这是因为测试信息TI不匹配参考信息RI。这种修改的测试信息TI的检测通过指示符信号DS被指示给数据处理装置4，借此在产生并输出响应数据AD之后停止数据处理装置4中任何进一步的处理，响应数据AD表示指示符信号DS的意义。通过收发信机装置3将响应数据AD传送到读/写站并在那里被解释为数据载体1已经变为无效的效果，这是因为已经修改了原始存储的测试信息TI并且因此可能假设任何使用第一存储装置5存储的其他信息I也很可能已经被修改。
根据本发明在数据载体1或电路2的情况下提供这些测量已经证实是有利的，因为除了已经删除扇区存取控制字节11以外，实际上可借此百分之百可靠地阻止非法使用第一数据扇区8，这本身断开了有欺诈性动机地使用数据载体2的道路。
在当前的例子中，已经描述了在根据本发明的数据载体1中使用根据本发明的电路2。但是应该提及，根据本发明的电路2还可以例如用于蜂窝电话或个人计算机中。应该提及，在这种背景下电路2可以包括存储器芯片，该芯片包括第一存储装置5、第二存储装置16和检测装置19，这种存储器芯片可例如用于所谓的SIM模块中，其中SIM模块当前被用在蜂窝电话中来识别一个用户。还应该提及，在这种背景下，除了第一存储装置5和第二存储装置16以及检测装置19以外，根据本发明的电路2还包括微处理器或接口芯片，以便例如通过根据本发明的电路2可以提供微处理器。
还应该提及，数据载体1的收发信机装置3还可以采用天线结构的形式。
还应该提及，还可以设计收发装置3用于电容性的(capacitive)通信或光通信中。
另外应该提及，还可以设计数据载体1用于传统的接触式通信。
另外还应该提及，数据载体1还可以包括它自己的电源，电源可采用例如至少一个电池或一个太阳能电池结构的形式。
应该提及，启动装置21可以采用一次可编程的PROM存储单元的一个比特的形式，其中在完成制造和测试电路2之后以及交付该电路2给消费者之前编程该PROM存储单元。该比特所表示的逻辑值构成了启动检测装置19功能的启动装置21的状态。在本文中，还应该提及，还可以代替单个比特而提供比特模式。如果第二存储装置16采用PROM的形式，那么还可以使用该PROM的至少一个存储单元以提供启动装置21。
应当提及，如果启动装置21采用一次可编程装置的形式，例如PROM或熔丝之类的形式，那么启动装置21可以被编程以便启动检测装置19，其中不是由电路2的制造商进行编程而是由数据载体的制造商或服务提供者进行编程，其中数据载体制造商使用电路2来生产数据载体1，服务提供者将数据载体1交付给终端用户。
另外应该提及，启动装置21采用在电路2中所提供的熔丝的形式，其中在交付电路2给消费者之前熔断该熔丝，以及熔丝的熔断状态即熔丝的非导电状态构成了启动装置21启动检测装置19功能的状态。
另外应该提及，可以类似于数据处理装置4而提供作为硬连线逻辑电路一部分的第二存储区域16。另外应该提及，在这种背景下第二存储装置16还可以采用微处理器的程序存储器的形式，其中参考信息RI还可以采用程序代码一部分的形式。另外应该提及，可以单独提供用于存储参考信息RI的第二存储装置16。
另外应该提及，可以使用数据处理装置4从有关的存储装置5和16读取测试信息TI和参考信息RI并将其提供给检测装置19。
另外应该提及，指示符信号DS还可以输出给两个存储装置5和16，并且两个存储装置5和16中的至少可以被设计为作为指示符信号DS的函数影响它的存取性。本发明的一种可能的实施例的特征在于，当提供指示对原始存储的测试信息TI修改的指示符信号DS时，不再可能存取存储装置5或16。
另外应该提及，指示符信号DS还可以输出给收发信机装置3，并且收发信机装置3可以被设计为作为指示符信号DS函数影响它们的通信能力。
另外应该提及，在第一存储装置5中，还可以为每种情况中的一个应用提供硬件密封的存储区域，以及这些存储区域中的每一个都可以包括它自己的测试信息TI。

Claims (11)

1、一种包括电路(2)的数据载体(1)，该电路(2)包括以下组件，即
被设计用于可修改地存储信息(I)的第一存储装置(5)，该信息(I)可通过电路(2)的环境参数修改，该环境参数作用于第一存储装置(5)，其特征在于，第一存储装置(5)包括提供用于存储测试信息(TI；TI、TIA、TIB)的测试存储区域(7)，和
提供了被设计用于不可修改地存储参考信息(RI)的第二存储装置(16)，和
提供了检测装置(19)，可以将可能从第一存储装置(5)所读取的测试信息(TI；TI、TIA、TIB)和可能从第二存储装置(16)所读取的参考信息(RI)提供给该检测装置(19)，借助读取的测试信息(TI；TI、TIA、TIB)和读取的参考信息(RI)，检测装置(19)被设计用来检测通过作用于第一存储装置(5)的环境参数引起的对原始存储的测试信息(TI；TI、TIA、TIB)的修改。
2、根据权利要求1所述的数据载体(1)，其特征在于，检测装置(19)包括用于比较存储的测试信息(TI；TI、TIA、TIB)与存储的参考信息(RI)的比较装置(20)。
3、根据权利要求1所述的数据载体(1)，其特征在于，启动装置(21)被提供以用于不可逆地启动检测装置(19)的功能，以及
检测装置(19)被设计用于与启动装置(21)协作。
4、根据权利要求1所述的数据载体(1)，其特征在于设计检测装置(19)用于产生并输出指示符信号(DS)，并该指示符信号(DS)被提供用来指示通过作用于第一存储装置(5)的环境参数引起的对原始存储的测试信息(TI；TI、TIA、TIB)的修改，和
该电路(2)被设计用来作为该指示符信号(DS)的函数影响它的操作行为。
5、根据权利要求1所述的数据载体(1)，其特征在于，测试信息(TI；TI、TIA、TIB)由至少两个比特形成，其中至少两个比特关于其逻辑值方面彼此不同。
6、一种包括以下组件的电路(2)，即
被设计用于可修改地存储信息(I)的第一存储装置(5)，该信息(I)可通过电路(2)的环境参数修改，该环境参数作用于第一存储装置(5)，其特征在于，第一存储装置(5)包括提供用于存储测试信息(TI；TI、TIA、TIB)的测试存储区域(7)，和
提供了被设计用于不可修改地存储参考信息(RI)的第二存储装置(16)，和
提供了检测装置(19)，可以将可能从第一存储装置(5)所读取的测试信息(TI；TI、TIA、TIB)和可能从第二存储装置(16)所读取的参考信息(RI)提供给该检测装置(19)，借助读取的测试信息(TI；TI、TIA、TIB)和读取的参考信息(RI)，检测装置(19)被设计用来检测通过作用于第一存储装置(5)的环境参数引起的对原始存储的测试信息(TI；TI、TIA、TIB)的修改。
7、根据权利要求6所述的电路(2)，其特征在于，检测装置(19)包括用于比较存储的测试信息(TI；TI、TIA、TIB)与存储的参考信息(RI)的比较装置(20)。
8、根据权利要求6所述的电路(2)，其特征在于，启动装置(21)被提供用于不可逆地启动检测装置(19)的功能，以及
检测装置(19)被设计用于与启动装置(21)协作。
9、根据权利要求6所述的电路(2)，其特征在于，检测装置(19)被设计用于产生并输出指示符信号(DS)，该指示符信号(DS)被提供用来指示通过作用于第一存储装置(5)的环境参数引起的对原始存储的测试信息(TI；TI、TIA、TIB)的修改，并且该电路(2)被设计用来作为该指示符信号(DS)的函数影响它的操作行为。
10、根据权利要求6所述的电路(2)，其特征在于，测试信息(TI；TI、TIA、TIB)由至少两个比特形成，其中该至少两个比特关于其逻辑值方面彼此不同。
11、根据权利要求6所述的电路(2)，其特征在于，所述电路(2)采用集成电路的形式。
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