CH644694A5 - Thermoanalysevorrichtung. - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Thermoanalysevorrichtung zum Erwärmen und Abkühlen einer Probe auf eine oder mehrere 60 Temperaturen innerhalb eines vorbestimmten Temperaturbereichs.
Materialien erfahren bei verschiedenen Temperaturen über einen weiten Temperaturbereich bezeichnende Änderungen. Beispielsweise können sich Eigenschaften wie die Grösse, die 65 Farbe, das Gewicht, die elektrischen und magnetischen Eigenschaften oder ähnliche Eigenschaften bezeichnend bei einer oder mehreren Temperaturen ändern, auf die eine Probe erwärmt oder abgekühlt wird. Es ist wichtig, die genauen Temperaturen
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zu kennen, bei denen diese Eigenschaften eine Änderung er- peratur speichert, die um den Unterschied zwischen der eingege-
fahren. benen Temperatur und der tatsächlichen Probentemperatur
Die zu prüfenden Materialproben werden in einen Ofen erhöht wird.
gegeben und während der Analyse über einen gewissen Tempe- Nachdem drei Punkte in dieser Weise geeicht sind, werden die raturbereich erwärmt oder abgekühlt. Aufgrund von Einflüssen, 5 drei eingegebenen Temperaturen und die Unterschiede zwischen wie beispielsweise der geringen thermischen Kopplung, dem den Ofentemperaturen und den eingegebenen Temperaturen in
Auftreten von Wärmegradienten, der Ofengeometrie und ähnli- einem Computerspeicher gespeichert und dazu benutzt, einen chen Einflüssen, kann jedoch die Temperatur der zu prüfenden Korrekturfaktor für den Rest der Prüftemperaturskala zu liefern.
Probe und des Ofens verschieden sein. Dieser Temperaturunter- Im folgenden wird anhand der zugehörigen Zeichnungen ein schied wird gewöhnlich dadurch so klein wie möglich gehalten, io besonders bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung näher dass von Hand aus im Messtemperaturbereich an zwei Punkten erläutert:
eine Eichung erfolgt. Die tatsächliche Probentemperatur wird Fig. 1 zeigt das Blockschaltbild einer automatischen Eichvor-
somit an zwei Punkten gleich der gewünschten Probentempera- richtung gemäss eines Ausführungsbeispiels der Erfindung;
tur durch ein Erhöhen oder Herabsetzen der Ofentemperatur Fig. 2 zeigt in einer graphischen Darstellung die Beziehung gemacht. Dieses Verfahren ist langwierig und zeitraubend, da die is gegebener Parameter bei einem Ausführungsbeispiel der Erfin-
Eichung an einem Punkt die Eichung am anderen Punkt zerstört dung ;
und viel Probieren erforderlich ist, bevor von Hand aus eine Fig. 3 zeigt das Blockschaltbild eines Regelkreises gemäss geeignete Eichung erreicht wird. Nach dem Eichen ist es eines Ausführungsbeispiels der Erfindung.
bekannt, auf welcher Temperatur der Ofen an den Eichpunkten In Fig. 1 ist eine automatische Temperatureichvorrichtung für gehalten werden muss, um die Probe auf der gewählten Tempe- 20 ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt. Eine Tastatur ratur an diesen Punkten zu halten. Wenn die gewählte Proben- 11 weist Ausgangsklemmen auf, die mit einem T-Set-Register 12,
temperatur jedoch nicht an einem Eichpunkt liegt, werden die einem Geschwindigkeitsregister 13 und einem Zeitablaufzähler
Kompensationen an beiden Eichpunkten dazu verwendet, pro- 14 verbunden sind. Die Ausgangsklemme der Tastatur, die mit gressiv die Ofentemperatur so zu beeinflussen, dass die Probe dem T-Set-Register 12 verbunden ist, liegt auch an einem annähernd auf der gewünschten Temperatur gehalten wird. 25 Subtrahierglied 15.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Thermoanalysevorrichtung Die Ausgangsklemmen des Geschwindigkeitsregisters 13 und der eingangs genannten Art zu schaffen, die automatisch so des Zeitablaufzählers 14 sind mit einem Multiplikationsglied 16
gesteuert werden kann, dass der Unterschied zwischen der verbunden, dessen Ausgang als ein Eingangeines algebraischen erwünschten Probentemperatur und der tatsächlichen Proben- Addiergliedes 17 dient.
temperatur möglichst klein ist. 30 Ein T-Init-Register 18, das die letzte Temperatur enthält, auf
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäss gelöst durch einen die die Vorrichtung vor der laufenden Abfragung eingestellt war,
Ofen, eine erste Einrichtung, die ein Signal liefert, das proportio- liefert ein zweites Eingangssignal dem algebraischen Addierglied nal zu der Temperatur einer im Ofen anzuordnenden Probe ist, 17. Die Ausgangsklemme des Addiergliedes 17 ist mit einem durch eine zweite Einrichtung, die ein Signal liefert, das propor- Digitalanalogwandler 19 verbunden. Wie es mehr im einzelnen tional zur Temperatur des Ofens ist, und die eine Heizeinrich- 35 im folgenden beschrieben wird, liefert der Ausgang des Addier-
tungzum Erhöhen der Temperatur des Ofens aufweist, und gliedes 17 in digitaler Form ein fortlaufendes Ausgangssignal, das durch eine Rechnereinrichtung, die zwischen der ersten und der die eingestellte Ofentemperatur wiedergibt, und das durch den zweiten Einrichtung angeordnet ist, und dass die Rechnerein- Digitalanalogwandler 19 in eine analoge Form gebracht wird, um richtung eine Eicheinrichtung aufweist, die die Vorrichtung auf es dazu zu verwenden, die Ofentemperatur entsprechend zu wenigstens drei gewählte Probentemperaturen eicht, damit die 40 ändern.
tatsächliche Probentemperatur mit jeweils irgendeiner der drei Die Ausgangsklemme des Addiergliedes 17 liegt darüberhin-
durch die Vorrichtung geforderten gewählten Temperaturen aus an einem Subtrahierglied 20, dessen zweiter Eingang mit dem
übereinstimmt. T-Set-Register 12 verbunden ist.
Mit der Thermoanalysevorrichtung kann die zu prüfende Die Ausgangsklemme des T-Set-Registers 12 liegt an einem
Probe in einem Ofen auf verschiedene Temperaturen mit ver- 43 Addierglied 21, dessen Ausgang mit dem T-Set-Register 12
schiedenen Geschwindigkeiten erwärmt oder abgekühlt werden. verbunden ist.
Die Vorrichtung weist eine automatische Eicheeinrichtung auf, An einem Analogdigitalwandler 22 liegt fortlaufend die Tem-mit der die tatsächliche Temperatur der Probe in Übereinstim- peratur der Probe 32 in einem Ofen 31. Ein Thermoelement 34, mung mit der gewählten Probentemperatur an drei Punkten in das in der Nähe der Probe 32 angeordnet ist, kann beispielsweise dem Temperaturbereich gebracht wird, in dem die Probe zu 50 dazu verwendet werden, die Temperatur der Probe 32 aufzuneh-prüfen ist. Jeder Punkt wird separat über eine digitale elektroni- men und in eine analoge Spannung umzuwandeln. Die die sehe Einrichtung geeicht, in die die gewünschte Temperatur tatsächliche Probentemperatur wiedergebende analoge Spaneingegeben und mit der tatsächlichen Temperatur der Probe nung wird durch den Analogdigitalwandler 22 in eine digitale verglichen wird. Der Unterschied zwischen der gewünschten Form gebracht.
Temperatur und der tatsächlichen Temperatur der Probe dient 55 Der Analogdigitalwandler 22 liegt mit einem Ausgang an dazu, ein Register fortzuschreiben, das die ursprünglich eingege- einem logischen Verknüpfungsglied 28, dessen Ausgang mit bene Temperatur enthält. Dieser Vorgang wird wiederholt, bis einem Ts 1-Register 23 verbunden ist. Das Tsl-Register 23 ist mit die tatsächliche Probentemperatur mit der eingegebenen Tempe- einem Subtrahierglied 24 und gleichfalls mit einem Ts2-Register ratur übereinstimmt. Die justierte Ofentemperatur, die notwen- 25 verbunden. Der Ausgang des Tsl-Registers 23 liegt über ein dig ist, damit die tatsächliche Temperatur der Probe zwangsweise 60 logisches Verknüpfungsglied 29 am Subtrahierglied 15. Die mit der eingegebenen Temperatur übereinstimmt, wird dadurch Ausgangsklemme des Subtrahiergliedes 24 ist mit einer Schwelerhalten, dass der Multiplikant einer gewählten Temperaturan- lenwertschaltung26 verbunden. Die Schwellenwertschaltung 26 stiegsgeschwindigkeit und der abgelaufenen Zeit der Anfangs- stellt fest, dass das Ausgangssignal des Subtrahiergliedes 24 temperatur der Vorrichtung zuaddiert wird, bis die eingegebene innerhalb bestimmter Grenzen gleich Null ist, d. h. dass die in Temperatur mit der tatsächlichen Probentemperatur überein- 65 den Registern 23 und 25 eingeschriebenen Temperaturen innerstimmt. Während jedes Zyklus bis zum endgültigen Abgieich halb bestimmter Grenzen gleich sind. Die Schwellenwertschal-wird das die Anfangstemperatur enthaltende Register über ein tung liefert einen Ausgangsimpuls einer Steuerung 27, wenn Register fortgeschrieben, das ursprünglich die eingegebene Tem- diese Bedingung der Übereinstimmung erfüllt ist.
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Die Steuerung 27 liegt mit ihrem Ausgang an dem Verknüpfungsglied 28 und am Ts 1-Register 23.
Die Steuerung 27 enthält eine Taktimpulsquelle, um einen wiederkehrenden Impuls zu liefern, der periodisch das Verknüpfungsglied 28 öffnet, um die laufende Probentemperatur in das Tsl-Register 23 einzuschreiben. Gleichzeitig liegt der Impuls am Tsl-Register, um die in das Tsl-Register 23 geschriebene Temperatur auf das Ts2-Register zu übertragen. Während des Intervalls zwischen den Impulsen erfolgt ein Vergleich der beiden Temperaturen in den Registern 23 und 25 im Komparator oder Subtrahierglied 24. Dieses Verfahren, bei dem periodisch die laufende Probentemperatur in das Register 23 eingeschrieben wird und der Inhalt des Registers 23 auf das Register 25 übertragen wird, wird fortgesetzt, bis die beiden Temperaturen innerhalb bestimmter Grenzen übereinstimmen. Wenn die beiden Temperaturen in den Registern 23 und 25 übereinstimmen, hat die Probentemperatur einen Gleichgewichtszustand erreicht und wird die Taktimpulsquelle in der Steuerung 27 durch einen Impuls von der Schwellenwertschaltung 26 ausser Betrieb gesetzt. Der Impuls von der Schwellenwertschaltung dient auch dazu, das Verknüpfungsglied 29 zu öffnen, um die stabilisierte Temperatur als Eingangssignal dem Subtrahierglied 15 zu liefern.
Während des Betriebes benutzt die Bedienungsperson die Tastatur ll,umeineT-Set-Temperatur auszuwählen, die beispielsweise T MIN sein kann. Die Geschwindigkeit, d. h. die Temperaturgrade pro Zeiteinheit, wird gleichfalls gewählt.
Diese Geschwindigkeit bestimmt die Zunahme- oder Abnahmegeschwindigkeit derTemperatur des Ofens. Wenn die Bedienungsperson einen nicht dargestellten Eichknopf drückt, wird der Zeitzähler 14 in Gang gesetzt. Der Zeitablauf und die Geschwindigkeit werden fortlaufend im Multiplikationsglied 16 multipliziert und zu der im Register 18 gespeicherten Temperatur zuaddiert, die die Anfangs- oder Ausgangstemperatur des Ofens ist. Das Ausgangssignal des Addiergliedes 17 liegt am Subtrahierglied oder Komparator 20. Wenn die beiden Eingangssignale des Subtrahiergliedes 20 übereinstimmen, wird der Zeitzähler durch einen Impuls vom Subtrahierglied 20 angehalten. Dieser Impuls liegt auch an der Steuerung 27, um die darin enthaltene Taktimpulsquelle anzuschalten, die vorher durch einen Impuls von der Schwellenwertschaltung 26 abgeschaltet war, der die Probentemperaturstabilität angibt.
Der Zyklus, in dem das Verknüpfungsglied 29 geöffnet und geschlossen wird, der Unterschied zwischen der Temperatur der Probe und der ursprünglich gewählten Temperatur zur früheren Temperatur T-Set addiert wird und die neue Temperatur T-Set programmiert wird, wird fortgesetzt, bis das Ausgangssignal vom Digitalanalogwandler 19 die Ofentemperatur in ausreichendem Masse so ändert, dass die Probentemperatur gleich der ursprünglich gewählten Temperatur ist. Zu diesem Zeitpunkt wird das Ausgangssignal des Subtrahiergliedes 15 gleich Null.
Eine Steuerung 40 dient dazu, das Subtrahierglied 30 nur dann einzuschalten, wenn der Unterschied der Eingangssignale des Subtrahiergliedes 30 gleich Null ist, wodurch sichergestellt wird, dass der im Speicher 36 gespeicherte Unterschied stabilisiert ist.
Die Steuerung 40 dient zusätzlich dazu, die Übertragung des Inhalts vom Register 12 auf das Register 18 und das Wiederingangsetzen des Zählers 14 zum geeigneten Zeitpunkt, d. h.
dann zu steuern, wenn jeder neue Vergleich am Subtrahierglied 15 nicht gleich Null ist.
Nachdem ein Gleichgewicht erreicht ist, wird die tatsächliche Probentemperatur vom Verknüpfungsglied 29 im Subtrahierglied 15 mit dereingetastetenTemperaturverglichen. Wenn ein Unterschied besteht, wird dieser zur Temperatur im Register 12 im Addierglied 21 addiert und in das Register 12 eingegeben. Die ursprüngliche in das Register 12 geschriebene Temperatur wird gleichzeitig auf das Register 18 übertragen und stellt die neue Anfangstemperatur des Programms dar.
Die Temperatur der Probe, die sich als Folge der auf das Ausgangssignal des Digitalanalogwandlers 19 ansprechenden Ofentemperatur geändert hat, wird verglichen, wie es oben beschrieben wurde. Bei erreichter Stabilität, die durch die Schwellenwertschaltung 26 festgestellt wird, wird das Verknüpfungsglied 29 geöffnet und werden die Probentemperatur und die ursprünglich eingegebene Temperatur verglichen, während der Unterschied dazwischen derTemperatur im Register 12 zuaddiert wird. Dieser Vorgang wird wiederholt, bis die ursprünglich eingegebene Temperatur mit der Probentemperatur übereinstimmt.
Wenn die ursprünglich eingegebene Temperatur, d. h. T MIN mit der Probentemperatur übereinstimmt, ist das Ausgangssignal vom Subtrahierglied 15 gleich Null und ist das Ausgangssignal vom Addierglied 17 gleich der in das Register 12 eingeschriebenen Temperatur. Der Digitalanalogwandler liefert dann ein Ausgangssignal, das die Temperatur wiedergibt, die der Ofen haben sollte, damit die Probentemperatur gleich derTemperatur T MIN ist. Zu diesem Zeitpunkt ist die Vorrichtung am Punkt T MIN geeicht.
Der Unterschied zwischen der ursprünglich eingetasteten Temperatur T MIN und dem endgültigen stabilisierten Ausgangssignal des Addiergliedes 17 ist gleich AT MIN. Dieser Unterschied wird durch das Subtrahierglied 30 gebildet und aus später beschriebenen Gründen in den Computerspeicher 36 eingespeichert. Die ursprüngliche Temperatur T MIN wird gleichfalls im Computerspeicher gespeichert. Das Verfahren muss für T MID und T MAX wiederholt werden.
Wie es oben beschrieben wurde, wird die Vorrichtung an drei Punkten im Temperaturbereich geeicht. Es werden somit drei Temperaturen, eine kleinste Temperatur, eine grösste Temperatur und eine mittlere Temperatur, die gleich der Hälfte des Unterschiedes zwischen der kleinsten und der grössten Temperatur ist, gewählt. Der Einfachheit halber werden diese drei Temperaturen im folgenden als T MIN, T MAX und T MID jeweils bezeichnet.
Die Vorrichtung wird an jedem Punkt automatisch dadurch geeicht, dass die Temperatur T MIN eingetastet wird und das Eichprogramm in Gang gesetzt wird. Wenn der Zyklus beendet ist, wird die tatsächliche Probentemperatur immer gleich der Temperatur T MIN sein, wenn die Temperatur T MIN die gewählte Temperatur ist. Die Vorrichtung wird für T MAX in ähnlicher Weise geeicht, so dass dann, wenn der Programmablauf beendet ist, die tatsächliche Probentemperatur immer gleich T MAX sein wird, wenn die Temperatur T MAX gewählt ist. Die Vorrichtung wird auf die Temperatur T MID, die gleich einer Temperatur T MAX-T MIN geteilt durch 2 ist, in ähnlicher Weise geeicht, woraufhin die tatsächliche Probentemperatur gleich T MID sein wird, wenn die Temperatur T MID die gewählte Temperatur ist.
Während die Eichung an drei Punkten für die meisten Anwendungszwecke angemessen ist, versteht es sich, dass die Vorrichtung auch an mehr als drei Punkten geeicht werden kann, da mit zusätzlichen Eichpunkten die Genauigkeit zunimmt.
Fig. 2 zeigt die Beziehung zwischen der Probentemperatur und der Ofentemperatur. Aus Fig. 2 ist ersichtlich, dass der Ofen eine Temperatur T MIN + AT MIN haben muss, damit die Probe eine Temperatur T MIN hat. In ähnlicher Weise müssen AT MID und AT MAX die Temperaturen T MID und T MAX zuaddiert werden, um die Probe auf den Temperaturen T MID und T MAX jeweils zu halten.
Wie es oben beschrieben wurde, stimmt die Probe an den Eichpunkten T MIN, T MID und T MAX genau mit den gewählten Eichpunkten überein. Wenn j edoch eine Temperatur zwischen T MIN und T MID oder zwischen T MID und T MAX gewählt ist, führt die Vorrichtung eine Interpolation durch, indem sie einen Korrekturfaktor der angeforderten Ofentemperatur für jede gewählte Probentemperatur zuaddiert.
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Die Verwendung von drei Eichpunkten und daher von zwei Korrekturfaktoren macht die Vorrichtung genauer, als wenn zwei Eichpunkte verwendet würden, da die Ofentemperaturabweichung von der gewählten Probentemperatur nicht notwendigerweise linear sein muss. Das ist leicht anhand von Fig. 2 zu erkennen, in der die Nichtlinearität durch eine gestrichelte Linie zwischen T MIN und T MAX dargestellt ist, falls keine Eichung am Punkt T MID erfolgen würde. Die gestrichelten Linien b und c geben die Wirkung derselben Nichtlinearität wieder, wenn T MID ein Eichpunkt ist und die tatsächliche Probentemperatur zwangsweise zur Übereinstimmung der gewählten Probentemperatur an drei Punkten statt an zwei Punkten gebracht wird.
Die Temperatur, auf die der Ofen zu korrigieren ist, ist gegeben durch
T Ofen = T + AT j + Aj (T-Tj)
wobei
T = nicht korrigierte Programmtemperatur und für T kleiner als T MID
T j = T MIN . = AT MID - AT MIN J T MID — T MIN
und für T grösser als T MID
Aj =
T j = T MID AT MAX - AT MID T MAX - T MID
Es ist ersichtlich, dass die Aj-Ausdrücke den Korrekturfaktor für die Ofentemperatur zwischen T MIN und T MID und zwischen T MID und T MAX liefern.
Nach Beendigung der Eichung wird der Korrekturfaktor dazu verwendet, die notwendige Ofentemperatur für irgendeine Probentemperatur an einem einzelnen Punkt oder bei einer Änderung der gewählten Temperatur zu berechnen. Es erfolgt eine automatische Korrektur des Unterschiedes zwischen der tatsächlichen Ofentemperatur und der erforderlichen Ofentemperatur, indem automatisch die erforderliche Ofentemperatur für irgendeine gewählte Probentemperatur berechnet wird. Für irgendeine gewählte Probentemperatur liefert somit die Mikroprozessorschaltung 35 in Fig. 3 in Verbindung mit dem Speicher 36 ein Ausgangssignal in digitaler Form, das die erforderliche Ofentemperatur wiedergibt und im Analogdigitalwandler 19 in analoge Form überführt wird, wobei das analoge Signal im geschlossenen Regelkreis in Fig. 3 zur Korrektur der Ofentemperatur verwendet wird.
Fig. 3 zeigt einen Ofen 31, der eine Prüfprobe 32 enthält, die im Ofen in irgendeiner zweckmässigen Weise angebracht ist. Ein Thermoelement 33 ist nahe an der Prüfprobe 32 angeordnet und liefert eine Spannung, die die Probentemperatur wiedergibt, s Diese Spannung liegt am Mikroprozessor oder Computer bzw. Rechner 35 über einen Verstärker 34 und den Analogdigitalwandler 22. Die Tastatur 11 ist mit dem Mikroprozessor 35 verbunden, dessen Ausgang über den Digitalanalogwandler 19 und einen Verstärker 37 an der Heizsteuerung 38 liegt.
10 Im Ofen 31 ist ein kombiniertes Heiz- und Temperatursensorelement 39 angeordnet, das mit der Heizsteuerung 38 verbunden ist. Das Ausgangssignal des Verstärkers 37 ist zu dem Wert proportional, auf dem die Ofentemperatur gehalten werden muss, um die Probentemperatur auf irgendeinem gewählten 15 Wert zu halten. Das Element 39 hat einen Temperatursensorteil, der die Temperatur des Ofens 31 aufnimmt und eine dazu proportionale Spannung der Heizsteuerung 38 liefert. Der Unterschied zwischen der Spannung für die geforderte Temperatur vom Verstärker 37 und der Spannung vom Element 39 ist der 20 genaue Angabewert der erforderlichen Änderung. Da diese Temperaturänderung derart sein kann, dass die Temperatur des Ofens 31 erhöht oder herabgesetzt wird, kann der Spannungsunterschied dazu benutzt werden, das Tastverhältnis der Spannung zum Heizteil des Elementes 39 zu regulieren, bis die beiden Spannungen übereinstimmen. Es können auch andere bekannte Verfahren dazu benutzt werden, die Ofentemperatur unter Verwendung des Spannungsunterschiedes zu ändern.
Im Mikroprozessor 35 sind die automatische Eichvorrichtung 30 von Fig. 1 sowie der Speicher 36 aufgenommen. Im Mikroprozessor ist auch ein Standardtyp einer Prozessoreinheit aufgenommen , die in Verbindung mit dem Speicher 3 6 den Korrekturfaktor in die Anforderungstemperatur für den Ofen einführt.
Wenn somit die Eichung beendet ist und die Temperatur T 35 MIN,TMID,TMAX, ATMIN, ATMIDund ATMAXim Speicher 36 gespeichert sind, löst der Mikroprozessor 35 fortlaufend die obige Gleichung, um den Korrekturfaktor der gewählten Temperatur zuzuaddieren oder von der gewählten Temperatur abzuziehen. Der benutzte Korrekturfaktor ist eine Funktion 40 vom T, d. h. davon abhängig, ob T zwischen T MIN und T MID oder T MID und T MAX liegt. Der Korrekturfaktor wird der geforderten Temperatur selbst dann zuaddiert, wenn die geforderte Temperatur sich ändert, beispielsweise vor einer tieferen oder höheren Anfangstemperatur auf eine gewählte Temperatur 45 ansteigt oder abfällt, und folgt derNeigung des Verlaufes der Ofentemperatur, die in Fig. 2 dargestellt ist.
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2 Blatt Zeichnungen
Claims (11)
- 644 694PATENTANSPRÜCHE1. Thermoanalysevorrichtung zum Erwärmen oder Abkühlen einer Probe auf eine oder mehrere Temperaturen innerhalb eines vorbestimmten Temperaturbereichs, gekennzeichnet durch einen Ofen (31), eine erste Einrichtung (33,34), die ein Signal liefert, das proportional zu der Temperatur einer im Ofen (31) anzuordnenden Probe (32) ist, durch eine zweite Einrichtung, die ein Signal liefert, das proportional zur Temperatur des Ofens (31) ist, und die eine Heizeinrichtung (38,39) zum Erhöhen der Temperatur des Ofens (31) aufweist, und durch eine Rechnereinrichtung (35), die zwischen der ersten und der zweiten Einrichtung angeordnet ist, wobei die Rechnereinrichtung (35) eine Eicheinrichtung aufweist, die die Vorrichtung auf wenigstens drei gewählte Probentemperaturen eicht, damit die tatsächliche Probentemperatur mit jeweils irgendeiner der drei durch die Vorrichtung geforderten gewählten Temperaturen übereinstimmt.
- 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,dass die Rechnereinrichtung (35) weiterhin eine Korrektureinrichtung aufweist, die die Vorrichtung für den durchgehenden Temperaturbereich zwischen den Eichpunkten korrigiert.
- 3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,dass die Eicheinrichtung eine erste Subtrahiereinrichtung (15), eine erste Schaltungseinrichtung, die mit der ersten Einrichtung (34) verbunden ist und ein digitales Ausgangssignal, das die Probentemperatur wiedergibt, als ein Eingangssignal der ersten Subtrahiereinrichtung (15) liefert, und eine Eingabeeinrichtung (11) aufweist, die mit der ersten Subtrahiereinrichtung (15) verbunden ist, um eine gewählte Probentemperatur als zweites Eingangssignal der ersten Subtrahiereinrichtung (15) zu liefern, wodurch die erste Subtrahiereinrichtung (15) den Unterschied zwischen der tatsächlichen Probentemperatur und der gewählten Probentemperatur bestimmt.
- 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,dass die Eicheeinrichtung weiterhin eine zweite Schaltungseinrichtung aufweist, die mit der ersten Subtrahiereinrichtung (15) verbunden ist und auf den Unterschied zwischen der gewählten Temperatur und der tatsächlichen Probentemperatur anspricht, um die Ofentemperatur zu ändern, bis dieser Unterschied gleich Null ist.
- 5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,dass die zweite Schaltungseinrichtung weiterhin eine erste Registereinrichtung (12), die mit der Eingabeeinrichtung (11) verbunden ist, um die gewählte Probentemperatur zu speichern, und eine erste Addiereinrichtung (21) aufweist, die mit der ersten Registereinrichtung (12) und der ersten Subtrahiereinrichtung (15) verbunden ist und mit einer Ausgangsklemme an der ersten Registereinrichtung (12) liegt, wobei die erste Registereinrichtung (12) durch jede neue Summe in der ersten Addiereinrichtung (21) fortgeschrieben wird.
- 6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,dass die zweite Schaltungseinrichtung weiterhin eine zweite Registereinrichtung (18) aufweist, die normalerweise die Anfangstemperatur der Vorrichtung speichert und die mit der ersten Registereinrichtung (12) verbunden ist, um den Inhalt der ersten Registereinrichtung (12) aufzunehmen, wenn die erste Registereinrichtung (12) fortgeschrieben wird.
- 7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,dass die zweite Schaltungseinrichtung eine zweite Addiereinrichtung (17), die mit derzweiten Registereinrichtung (18) verbunden ist, eine Wähleinrichtung, die mit der zweiten Addiereinrichtung (17) verbunden ist, um eine neue Temperatur der Vorrichtung zu wählen, und eine Einrichtung aufweist, die die Addiereinrichtung ( 17) mit der Heizeinrichtung (38) verbindet, so dass die Ofentemperatur von der Anfangstemperatur auf die neue Temperatur geändert wird.
- 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,dass die Rechnereinrichtung eine Speichereinrichtung (36), die mit der Eingabeeinrichtung (11) verbunden ist und eine dritte Subtrahiereinrichtung (30) aufweist, die mit der Speichereinrichtung (36) verbunden ist, wobei an der dritten Subtrahiereinrich-5 tung (30) Eingangssignale von der Eingabeeinrichtung (11) und der zweiten Addiereinrichtung (17) liegen, um jede gewählte Temperatur und den Unterschied zwischen einer gewählten Temperatur und der Temperatur am Ausgang der zweiten Addiereinrichtung (17) zu speichern.10 9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Wähleinrichtung ein Geschwindigkeitsregister (13), einen Zeitzähler (14), der mit einer zweiten Subtrahiereinrichtung (20) verbunden ist, und eine Multipliziereinrichtung (16) aufweist, die mit dem Geschwindigkeitsregister (13) und dem 15 Zeitzähler (14), um deren Ausgangssignale zu multiplizieren, und mit der zweiten Addiereinrichtung (17) verbunden ist, wobei der Zeitzähler (14) angehalten wird, wenn die Eingangssignale der zweiten Subtrahiereinrichtung (20) übereinstimmen.
- 10. Vorrichtung nach Anspruch 9, gekennzeichnet durch eine 20 erste Steuereinrichtung, die mit dem Zeitzähler (14) und der ersten Subtrahiereinrichtung (15) verbunden ist, um den Zeitzähler (14) wieder in Gang zu setzen, wenn die Eingangssignale der ersten Subtrahiereinrichtung (15) ungleich sind.
- 11. Vorrichtung nach Anspruch 10, gekennzeichnet durch eine zweite Steuerung, die mit der ersten Subtrahiereinrichtung (15) verbunden ist, um die dritte Subtrahiereinrichtung (30) einzuschalten, wenn die erste Subtrahiereinrichtung (15) ein Ausgangssignal gleich Null hat, wobei die zweite Steuereinrichtung auf ein von Null verschiedenes Ausgangssignal von der ersten Subtrahiereinrichtung (15) anspricht, um den Zeitzähler (14) wieder in Gang zu setzen.
- 12. Vorrichtung nach Ansprach 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung auf einer ersten gewählten Temperatur T MIN am unteren Ende derTemperaturskala, auf eine zweite gewählte Temperatur T MAX am oberen Ende derTemperaturskala und auf eine dritte gewählte Temperatur T MID geeicht ist, die gleich der Hälfte des Unterschiedes zwischen T MAX und T MIN ist, und dass die Rechnereinrichtung die Korrektur dann, wenn die geforderte Temperatur unter T MID liegt, nach der25303540GleichungT Ofen = T + AT MIN + A™E* ^™!N x (T - T MIN) TMID-TMIN v J45 und dann, wenn die angeforderte Temperatur grösser als T MIN ist, nach der GleichungT Ofen = T+ AT MID + X (T - T MID)TMAX-TMID v '50 berechnet, wobei T Ofen = erforderliche Ofentemperatur, T = unkorrigierte Temperatur, ATMIN, ATMID, ATMAX -Unterschied zwischen der gewählten Probentemperatur und der tatsächlichen Ofentemperatur, um die Probe auf der gewählten Temperatur T MIN, T MID und T MAX jeweils zu halten.55
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