CH298170A - Vorrichtung zum berührungslosen Messen der Dicke von bandförmigem Gut, insbesondere zur laufenden Messung der Banddicke von sich bewegendem Walzgut. - Google Patents
Vorrichtung zum berührungslosen Messen der Dicke von bandförmigem Gut, insbesondere zur laufenden Messung der Banddicke von sich bewegendem Walzgut.Info
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Description
Vorrichtung zum berührungslosen Messen der Dicke von bandförmigem Gut, insbesondere zur laufenden Messung der Banddicke von sich bewegendem Walzgut. Die Erfindung hat eine Vorrichtung zum berührungslosen Messen der Dicke von bandförmigem Gut zum Gegenstand, insbesondere zur laufenden Messung der Banddicke von sich bewegendem Walzgut, bei der unter Verwendung einer Strahlenquelle, von strahlungs- empfindlichen Messempfängern und einer den Dickensollwert darstellenden Ma¯platte die Intensitätsunterschiede an den Messempfängern die Dickenabweichungen des Gutes vom Sollwert anzeigen. Die Vorrichtung gemma3 der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass in einem Strahlenbündel zwischen der Strahlenquelle und dem einen Me¯empfÏnger die Massplatte und in einem andern Strahlenbündel zwischen der Strahlungsquelle und'dem andern Messemp- fÏnger während des Messens nur das zu messende Gut ist, und da¯ vor und nach dem Messen statt des zu messenden Gutes in das entsprechende Strahlenbündel ebenfalls eine Massplatte eingeführt wird, deren Einfallund Rückziehbewegung selbsttätig in AbhÏn gigkeit vom Eintritt und Austritt des zu messenden Gutes aus dem Strahlenbündel erfolgt. Durch die Erfindung wird erreicht, dass die beiden Messempfänger stets gleichmässig beaufschlagt werden, ob d'as zu messende Gut durch die Vorrichtung lÏuft oder nicht. Dies trÏgt sehr zu einer Erhöhung des ge nauen Arbeitens der Vorrichtung bei. Als Strahlenquelle kann jede beliebige zum Messen geeignete Strahlungsenergie verwendet werden, zum Beispiel eine Röntgen.- robre oder radioaktive Strahlenquelle mit Gamma-oder Betastrahlen oder sonstige entsprechende Strahlungsenergie. In der Zeichnung ist der Erfindungs- gegenstand in zwei beispielsweisen Ausfüh- rungsformen veranschaulicht. Fig. 1 zeigt eine erste Ausführungsform. In den Fig. 2 und 3 ist eine andere Ausführungsform im Längs-und Querschnitt dargestellt. Die Vorrichtung nach Fig. 1 weist eine Strahlenquelle, zum Beispiel eine Röntgenröhre 1, und zwei Messempfänger 2 und 3, vorzugsweise Geiger-Müller-Zählrohre, auf, die in einem Wagen senkrecht-zur Walzrichtung ber die Breite des Walzgutes 6 verschiebbar untergebracht sind. Die Strahlung der Rönt- genröhre 1 wird durch Leit. offnungen einer Abschirmplatte 4, zum Beispiel einer Bleiplatte, auf die Me¯empfÏnger 2 und 3 gerichtet. Die zwischen den Messempfängern 2, 3 und der Platte 4 angeordnete Sollwert-Massplatte 5 aus dem Werkstoff des zu messenden Gutes hat die Solldieke dieses Gutes, so deass ¯ im Ruhezustand!dieMessempfänger2 und 3 gleiche Strahlungsintensität zeigen bzw. darauf abgestimmt werden können. Hierzu ist die Platte 5 so weit verschoben, dass die Strahlen b ndel 7 und 8 zugleich durch die Massplatte gehen, solange das zu messende Gut 6 sich nicht in dem Strahlenbündel 8 (das heisst ausser Messstellung) befindet. In der Messstellung wird die Massplatte 5 so weit zurück- gezogen, dass der Strahl zum Messempfänger 3 an ihr vorbeigehtund seine Intensität nur vom Durchgang durch das Walzgut beeinflusst wird, während die Intensität des Strahls zum Messempfänger 2 unverändert durch die Stärke der Massplatte 5 bestimmt wird. Die Ablesung des Intensitätsunterschiedes zwischen den Messempfängern 2 und 3 zeigt die Abweichung der Dicke des zu messenden Gutes von der Solldicke nach Ausmass und Vorzeichen an. In Ruhestellung, das heisst vor und nach dem Messen, wird auf die gewünschte Solldicke des Walzgutes eingestellt. Die Ein- stellung ist leicht möglich, da beide Strahlen- bündel durch dieselbe Massplatte gehen. Hierzu sind die Biindel dicht nebeneinander gelagert, so dass die Auftreffrichtung nahezu dieselbe ist. Die Betätigung der Massplatte 5 erfolgt selbsttÏtig, beispielsweise in der Weise, da. ¯ die Platte 5 mit HilfeeinesBeiaisund eines Elektromagneten 9 beim Eintritt von Walzgut in die Vorrichtung aus dem Strahlenbündel 8 zuriiekgezogen wird. Wenn das Walzgutende die Vorrichtung verlässt, erfolgt mit Hilfe einer Feder 10 sogleich wieder ein Verschieben der Platte 5 in den Bereich des Bündels 8. Auf diese Weise ist eine stets gleichmässige Beaufschlagung der Messempfänger gesichert. Diese Ausführungsform eignet sich besonders für die Messung von Walzgut in hei¯em, glühendem Zustand, da sie erlaubt, den Messempfänger 3 in genügendem Abstand vom heissen Walzgut anzuordnen, um ihn vor der Hitzestrahlung zu schützen. Bei der Ausf hrung der Fig. 2 und 3 führt ebenfalls von der Strahlenquelle 11 ein Strahlenbündel 12 durch das vorbeibewegte und zu messende Gut T3 und wirkt auf einen Messempfänger 14, zum Beispiel ein Geiger Miiller-Zählrohr. Das der Vergleichsmessung dienende Strahlenbündel ist so gelegt, dass eine schädliche Beeinträchtigung durch Streu- strahlen oder dergleichen auf das erstere Strahlenbündel 12 sich nicht auswirken kann. In dem Beispiel liegt die Achse des Strahlen bündels 15 ungefähr im rechten Winkel zu dem Strahlenbündel 112. Das Strahlenbündel 15 geht durch die Sollwert-Massplatte 16 zu dem Messempfänger 17. Hierbei ist es wesent- lich, dass einerseits die Messempfänger 14 sowie anderseits die Massplatte 16 und das zu messende Gut 1t3 in gleichem Abstand von der Strahlenquelle 11 liegen. Durch die Wah rung dieser annähernd gleichen Abstände wird erreicht, dass etwa doch noch auftretende Streustrahlen in beiden, FÏllen in ihrer Aus wirkung auf die Messempfänger gleich sind. Diese gegenüber der Anordnung nach Fig. 1 höheren Ansprüche an die Messgenauigkeit können bei der Anordnung nach Fig.-2 des wegen gestellt werden, weil sie f r Walzgut von niedriger Temperatur bestimmt ist. In den Strahlengang zwischen die Strahlenquelle 11 und den Messempfänger 14 wird eine wei tere Massplatte 18 dann eingeführt, wenn das zu messende Gut 13 das Strahlenbündel ver lassen hat. Diese Massplatte 18'bewegt sich an die Stelle des zu messenden Gutes 13, so dass auch mit der Massplatte stets die Ab- standsverhältnisse gewahrt bleiben. Auf diese Weise erhält man identische Vergleichsbedin gungenb als Voraussetzung für eine hohe Ge nauigkeit in der Auswertung. Die Massplatte 18 kann auf jede beliebige Weise bei ausge laufenem Gut 13 selbsttätig in das Strahlen b ndel gebracht werden, zum Beispiel auf mechanischem Wege durch das Gut 13 selbst oder elektrisch durch einen Magneten oder dergleichen. Beim Eintritt des Gutes 13 in die Vorrichtung wird die Massplatte 18 ebenso selbsttätig aus dem Strahlenbündel zurück- gezogen. In der'Zeichnung wird die Ma¯ platte 18 durch einen um den Punkt 19 dreh- baren Hebel 20 verschwenkt, der in Berüh- rung mit dem Gut 13 steht. Strahlenquelle und Messempfänger wer d, en vorteilhaft in'Gehäusen2'!und 22 un tergebracht, die unter ¯berdruck gehalten werden, um dadurch alle empfindlichen Teile besonders wirksam gegen Schäden durch ein dringende Fremdkörper, zum Beispiel Eisenoxyde in Warmwalzwerken, zu schützen. Zur Erhöhung der Arbeitsgenauigkeit kann weiterhin Vorsorge getroffen werden, dass der Beharrungszustand der Messempfänger und auch der Strahlenquelle stets unverändert bleibt, was Voraussetzung f r eine einwand- freie und zuverlässige Auswertung der Diffe renzablesungen ist. Hierzu wird die Kühlung sowohl der Strahlenquelle, zum Beispiel der Röntgenröhre, als auch der Messempfänger ge genseitig so abgestimmt, dass sich bei lÏngerem Betrieb ein gleichmässiger ErwÏrmungszustand dieser Teile ergibt. Dies kann man beispielsweise dadurch erreichen, dass das Kühl- mittel von dem am meisten erwärmten Mess empfänger lmter Zwischenschaltung von Re gulierungen im Kreislauf durch die andern Teile str¯mt. Das berührungslose Messen von laufendem Gut ist an sich bereits in verschiedener Weise versucht worden. Beispielsweise ist ein Ge rat zur Blechdickenmessung bekannt, bei dem Gamma-und Betastrahlen durch Verwendung von Radium oder eines radioaktiven Isotops des Strontiums benutzt werden, die das zu messende Blech durchbringen und auf der andern Seite mit Hilfe eines Zählrohres oder dergleichen registriert werden. Die Absorption der Strahlen beziehungsweise die Streu- strahlung bildet hierbei das direkte Mass für die Messung. Es ist ferner bekannt, das berührungslose Dickenmessen mit. Hilfe von Röntgetröhret durchzuführen. In dem einen Fall werden zwei Röntgenröhren verwendet, von denen die eine das Werkstück und die andere ein Vergleichsstüek durch- strahlt. Zur Anzeige dienen Leuchtschirme, deren Licht von den Photokathoden zweier Elektronenvervielfacher aufgenommen wird. Die Zuverlässigkeit eines solchen Gerätes hÏngt davon ab, d'ass die Röntgenröhren aufeinander abgestimmt und geeicht mous- sen, was die gesamte Vorrichtung kompliziert. Man hat auch schon vorgeschlagen, nur eine Röntgenröhre anzuwenden und die In tensität der das zu messende Gut durchdringenden Strahlung mit einer Ionisationskam- mer oder dergleichen zu messen. Die Feststellun der Stärke des Gutes erfolgt unmittelbar auf Grund der AbhÏngigkeit der In- tensität zur Dicke nach dem bekannten ex- ponentiellen Gesetz. In einem andern Fall wird die Intensität zweier gleichartiger R¯nt genstrahlenbündel der gleichen Strahlenquelle miteinander verglichen, von denen das eine Strahlenb ndel durch das zu messende ge walzte Band und das andere durch ein Stüek mit vorgeschriebener'Solldicke aus gleichem Werkstoff geht. Hierbei ist die Anordnung so getroffen, dass das durch das zu messende Gut führende Strahlenbündel zugleich auch noch durch einen weiteren Messkeil geschickt wird. Es wird also auf der einen Seite die Banddicke des zu messenden Gutes zusätzlich einer Messkeildicke gegenüber einer Lehrenkeildicke auf der andern Seite verglichen. Eine solche Anordnung hat eine. verhältnis- mässig komplizierte Apparatur f r das Auswerten am Anzeigegerät und das Einstellen zur Folge.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH : Vorrichtung zum berührungslosen Messen der Dicke von bandf¯rmigem Gut, insbeson dere zur laufenden Messung der Banddicke von sich bewegendem Walzgut unter Verwen- dung einer Strahlenquelle, zweier strahlungs- empfindlicher Messempfänger und einer den Dickensollwert darstellenden Massplatte, wobei die Intensitätsunterschiede an den Messemp fängern die Dickenabweichungen des Gutes vom Sollwert anzeigen, dadurch gekennzeich net, dass in einem Strahlenbiindel zwisehen der Strahlenquelle und dem einen Messemp- fÏnger die Massplatte und in einem andern.Strahlenlbündel zwischen der Strah lungsquelle und dem andlern Messempfän- ger wÏhrend des Messens nur das zu messende Gut ist, und dass vor und nach dem Messen statt des zu messenden Gutes in das entsprechende Strahlenbündel ebenfalls eine Massplatte eingeführt wird, deren Einfallund Rückziehbewegung selbsttätig in Abhän- gigkeit vom Eintritt und Austritt des zu messendlen Gutes aus dem Strahlenbündel erfolgt.UNTERANSPR¯CHE: 1. Vorrichtung g nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Strah- lenbündel nahezu in gleicher Richtung verlaufen und die Sollwert-Massplatte in beide Strahlenbündel'zugleicheinschiebbar ist.2. Vorrichtung nach Patentanspruch und Unteranspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass die selbsttätige Verschiebung der Mass- platte mit Hilfe eines Elektromagneten und einer Federung in Abhängigkeit von dem Ein-und Austritt des Gutes in die und aus der Messstellung erfolgt.3. Vorrichtung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Strah lenbiindel im reehten Winkel zueinander angeordnet sind und dass einerseits die Messempfänger sowie anderseits die Sollwert-Mass- platte und das zu messende Gut. in gleichem Abstand von der Strahlenquelle liegen.4. Vorrichtung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, da¯ die K hlung sowohl der Strahlenquelle als auch der Me¯empfänger gegenseitig so abgestimmt ist, dass sich bei längerem Betrieb ein gleichmässiger Erwärmungszustand dieser'Teile ergibt.5. Vorrichtung nach Patentanspruch und Unteranspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Kühlmittel von dem am meisten erwärmten Messempfänger unter Zwischenschaltung von Regulierungen im Kreislauf durch die andern'Teile strömt.6. Vorrichtung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass Strahlungsquelle und Messempfänger in ihren Gehäusen unter Überdruek gehalten sind.
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US2951159A (en) * | 1953-05-04 | 1960-08-30 | Armstrong Cork Co | Method and apparatus for making repetitive measurements |
US3089031A (en) * | 1956-12-22 | 1963-05-07 | Degussa | Method and apparatus for testing structure of materials by means of roentgen, gamma or corpuscular rays |
US3001073A (en) * | 1957-05-23 | 1961-09-19 | Industrial Nucleonics Corp | Reflectivity comparison system |
US2951161A (en) * | 1957-05-31 | 1960-08-30 | Industrial Nucleonics Corp | Cascade standardization |
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