AT217731B - Prismen- oder Spiegelsystem zum Justieren von Teilen optischer Instrumente - Google Patents
Prismen- oder Spiegelsystem zum Justieren von Teilen optischer InstrumenteInfo
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Description
<Desc/Clms Page number 1> Prismen-oder Spiegelsystem zum Justieren von Teilen optischer Instrumente EMI1.1 <Desc/Clms Page number 2> neigte, teildurchlässige Reftexionsflächen4 und 5 sowie zwei symmetrisch und parallel zu diesen angeordnete Vollreflektoren 6 und 7. Das einfallende Strahlenbündel wird an der teildurchlässigen Reflexionsfläche4 aufgespalten in ein durchgelassenes, an der teildurchlässigenReflexiansfläche 5 rechtwinklig abgelenktes Strahlenbündel a sowie ein an der teildurchlässigen Reflexionsfläche 4 rechtwinklig abgelenk- tes und an den beiden Vollreflektoren 6 und 7 zweimal rechtwinklig abgelenlttes Teilstrahlenbündel b, welches beim Durchsetzen der teildurchlässigen Reflexionsfläche 5 mit dem ersten Teilstrahlenbündel wieder vereinigt wird. Beiden Teilstrahlenbündeln entsprechen je zwei Bildebenen la und 2a bzw. 1b und 2b, deren zwei, nämlich la und 2b, in einer Ebene zusammenfallen. Diese ist durch Heben oder Senken des Mikroskoptubus leicht aufzufinden, da allein in ihr die Blenden 1 und 2 zugleich abgebildet werden. Die Beleuchtung der Blenden kann mit durchfallendem Licht oder, von der gegenüberliegenden Seite des Strahlenteilers her, mit auffallendem Licht erfolgen. Die teildurchlässigen Reflektoren werden zweckmässig durch die tellversplegelten Basisflächen rechtwinkliger Dreieckprismen 8 und 9 gebildet, die mit Ergänzungsprismen 10 und 11 gleicher Grösse verkittet sind. Die so gebildeten Teilungswürfel sind zur Vermeidung von Reflexionsverlusten und Brechungs- sprüngen ebenfalls mit einem Medium gleichen Brechungsvermögens miteinander verkittet. Die Volare flektoren 6 und 7 werden zweckmässig durch die vollverspiegelten Kathetenflächen eines totalreflektierenden Dreikantprismas 12 gebildet. Das Strahlenteilungssystem nach Fig. 1 kann, wie aus Fig. 2 ersichtlich, auch bei optischen Instrumenten Anwendung finden, in denen die zu justierenden Elemente in der gleichen optischen Achse wie das abbildende Element liegen. Ferner lässt Fig. 2 erkennen, dass die Vollreflektoren 6', 7'des Strahlenteilersystems in Richtung von dessen Symmetrieachse verschieblich angeordnet sein können, um die Differenz der optischen Weglänge der beiden Teilstrahlenbündel a und b in beliebigen Grenzen verändern zu können. In der in Fig. 2 dar- EMI2.1 unabgelenkt5t hindurchtretende Teilstrahlenbündel a mit dem auf dem Umweg über die Vollreflektoren 6', 7'zweimal und sodann an dem zweiten teildurchlässigen Reflektor 5t reflektierten zweiten Teilstrahlenbündel b vereinigt. Die beiden VollreflektorenS', 7'werden beispielsweise mittels eines Schlittens 18 mit Spindeltrieb 19 auf den richtigen Abstand (gleiche optische Weglänge) verschoben. Fig. 3 zeigt eine abgewandelte Ausführungsform eines Strahlungsteilersystems mit Wiedervereinigung det Teilstrahlenbündel nach der Erfindung. Es enthält einen im Winkel von 45 zur Richtung des zu teilenden Strahlenbündels geneigten, teildurchlässigen Reflektor und einen senkrecht zum abgelenkten Teilstrahlenbündel stehenden teildurchlässigen Reflektor, sowie einen diesem nachgeordneten Tripelspiegel.. Die beiden teildurchlässigen Reflektoren werden zweckmässig gebildet durch die teildurchlässig verspie- EMI2.2 13che 15 desselben. Das von links einfallende, zu teilende und wieder zu vereinigende StrahlenbilndelwM an der Diagonalfläche des Teilungswürfels im rechten Winkel nach unten reflektiert. Das reflektierte Strahlenbündel wird geteilt an der teildurchlässigen Basisfläche 15, wobei ein Teil a an dieser nach oben reflektiert wird und, die Diagonalfläche 13 des Teilungswürfels durchsetzend. oben austritt. Das durch die EMI2.3 vereinigt. Der Abstand des Tripelspiegels vom Teilungswülfel ist so gewählt, dass der durch den Tripelspiegel bestimmte Umweg der Abstandsdifferenz der beiden in einer gemeinsamen Bildebene darzustellenden Objekte entspricht. Die Anordnung ist unempfindlich gegen Verkippungen bei einer Verschiebung des Tripelspiegels 16. Fig. 4 zeigt eine weitere abgewandelte Ausführungsform eines Strahlenteilers nach der Erfindung, dessen teildurchlässige Reflexionsfläche wiederum durch die teildurchlässig verspiegelte Diagonalfläche 13'des Teilungswürfels 14'gebildet wird. Die entsprechend der Anordnung nach Fig. 3 durch den Tripelspiegel 16'verursachte Bildumkehr wird bei der Anordnung nach Fig. 4 durch einenzweiten Tripelspiegel 17'wieder aufgehoben, welcher der der Strahleneintrittsfläche des Teilungswürfels gegen- überliegenden Fläche aufsitzt. Das von links einfallende Strahlenbündel wird an der teildurchlässigen Diagonalfläche des Teilungswürfels aufgespalten in ein hindurchgelassenes und am Tripelspiegel 17'In sich selbst und sodann an der EMI2.4 gen Diagonalfläche rechtwinklig abgelenktes und am Tripelspiegel 16'in sich selbst reflektiertes Teilstrahlenbündel b, das an seiner Durchstossungsfläche der Diagonalfläche 13'mit dem Teilstrahlenbündel a wieder vereinigt wird. <Desc/Clms Page number 3> Ausführungen der in den Fig. 2,3 und 4 gezeigten Art mit verschieblichem Vollreflektor gestatten es, auch eine grössere Reihe von Blenden im Strahlengang in ihrer Lage zueinander zu justieren, ohne dass es axialer Verschiebungen derselben bedarf. Allein durch die axiale Verschiebung des einen Vollreflektors erhält man jeweils zwei der Blenden zugleich scharf abgebildet. Durch die angeführten Ausführungsbeispiele ist das Wesen der Erfindung nicht erschöpft. Die gleiche Wirkung kann auch mit Prismen anderer Form erzielt werden, wie beispielsweise auch das System nach Fig. 1 aus zwei V -förm1g aneinandergesetzten rhombischen Prismen und einem mit diesem verkitteten Dreieckprisma mit teildurchlässig verspiegelten Kathetenflächen bestehen kann. Zur Erzeugung mindestens annähernd gleich heller Bilder in der gemeinsamen Bildebene empfiehlt es sich, die Teilungsflächen in den Systemen nach Fig. 1, 2 und 4 mit einem 5ago durchlässigen Reflexionsbelag zu versehen, während die Diagonalfläche des Teilungswürfels nach Fig. 3 zweckmässig eine Durchlässigkeit von zuid die Basisfläche des Teilungswürfels eine Durchlässigkeit von 60% haben sollte, PATENTANSPRÜCHE : 1. Anordnung zum Justieren zweier in einem gemeinsamen Strahlengang eines optischen Instrumentes mit verschiedenem Abstand von einem abbildenden System angeordneter Objekte (Blenden, Marken), gekennzeichnet durch einen dem abbildenden System vorzuordnendenStrahlenteiler mit teildurchlässigen EMI3.1 bzw. 6'7'bzw. 16 bzw. 16', 17') durch welchen zwei ausgangsseitig wieder miteinander vereinigte Teilstrahlenbündel (a, b) verschiedener und so bemessener optischer Weglänge erzeugt werden, dass eine Bildebene des einen Objekts mit einer solchen des andern zusammenfällt.
Claims (1)
- 2. Anordnung nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass das Strahlenteilungssystem zwei im Winkel von 45 zur Richtung des zu teilenden Strahlenbündels und im Winkel von 900 zueinander geneigte teildurchlässige Reflexionsflächen (4,5) sowie zwei symmetrisch und parallel zu diesen angeordnete Vollreflektoren (6, 7) enthält.3. Anordnung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Vollreflektoren (6', 7') des Strahlenteilersystems in Richtung von dessen Symmetrieachse verschieblich angeordnet sind.4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Strahlenteilungssystem einen im Winkel von 450 zur Richtung des zu teilenden Strahlenbündels geneigten, teildurchlässigen Reflektor (13) und einen senkrecht zum abgelenkten Teilstrahlenbilndel stehenden teildurchlässigen Reflektor (15) sowie einen diesem nachgeordneten Tripelspiegel (16) enthält.5. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Strahlenteilungssystem einen im Winkel von 450 zur Richtung des zu teilenden Strahlenbündels geneigten teildurchlässigen Reflektor (13') und je einen dem hindurchgelassenen und dem abgelenkten Teilstrahlenbündel zugeordneten Tripelspiegel (16', 17') enthält.6. Anordnung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens der dem am teildurchlässigen Reflektor abgelenkten Teilstrahlenbündel zugeordnete Tripelspiegel (16 bzw. 16 ") axial verschieblich angeordnet ist.7. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die teildurchlässigen Reflektoren durch die teilverspiegelten Basisflächen rechtwinkliger Dreieckprismen gebildet sind, die mit Ergänzungsprismen gleicher Grösse verkittet sind.8. Anordnung nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch einen Teilungswürfel mit teildurchlässig verspiegelter Diagonal- und Basisfläche. EMI3.2 Anordnung nachsigen Reflexionsbelag versehen ist.10. Anordnung nach Anspruch 2 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Teilungsflächen (4,5 bzw.13') je mit einem 5Yto durchlässigen Raflexionsbelag versehen sind.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE217731X | 1959-06-09 |
Publications (1)
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AT217731B true AT217731B (de) | 1961-10-25 |
Family
ID=5830905
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
AT410860A AT217731B (de) | 1959-06-09 | 1960-05-30 | Prismen- oder Spiegelsystem zum Justieren von Teilen optischer Instrumente |
Country Status (1)
Country | Link |
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AT (1) | AT217731B (de) |
-
1960
- 1960-05-30 AT AT410860A patent/AT217731B/de active
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