WO2020162409A1 - プラスチック光ファイバのコア径計測方法およびそれに用いるプラスチック光ファイバのコア径計測装置、プラスチック光ファイバの欠陥検出方法およびそれに用いるプラスチック光ファイバの欠陥検出装置 - Google Patents

Abstract

プラスチック光ファイバ（ＰＯＦ）のコア径を正確に計測することができるＰＯＦのコア径計測方法およびＰＯＦのコア径計測装置、ＰＯＦの欠陥検出方法およびそれに用いるＰＯＦの欠陥検出装置を提供するため、ＰＯＦ１の側面に向って光を照射する光照射機構２，２'と、上記ＰＯＦ１に対して上記光照射機構２、２'と反対側に設けられる撮像機構３、３'と、上記撮像機構３、３'によって得られたＰＯＦ１の画像データを処理してＰＯＦ１のコア径を算出するデータ処理機構とを備え、上記光照射機構２、２'の発光幅をＷとし、上記光照射機構２、２'の発光位置と上記ＰＯＦ１の側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）が０．９～１．３となるように上記光照射機構２、２'を配置した。

Description

プラスチック光ファイバのコア径計測方法およびそれに用いるプラスチック光ファイバのコア径計測装置、プラスチック光ファイバの欠陥検出方法およびそれに用いるプラスチック光ファイバの欠陥検出装置

　本発明は、通信用途等に用いられるプラスチック光ファイバ（以下「ＰＯＦ」ということがある）のコア径を計測する方法およびそれに用いるＰＯＦのコア径計測装置、ＰＯＦの欠陥検出方法およびそれに用いるＰＯＦの欠陥検出装置に関し、より詳細には、ＰＯＦの製造工程においてインラインで、連続的にＰＯＦのコア径を計測することのできる方法およびその装置、ＰＯＦの欠陥を検出することのできる方法およびその装置に関するものである。

　ＰＯＦは、素材がプラスチックであることから、軽量で良好な可撓性を有し、低コストで製造可能であるため、近年、需要が拡大している。このようなＰＯＦは、一般的に、溶融押出成形や界面ゲル重合法によるプリフォームを溶融加熱延伸する方法等により製造されている。しかし、ＰＯＦを製造するための装置を連続的に長時間運転すると、均一的な品質を担保することが困難になる場合がある。

　このため、例えば、特許文献１では、製造されるＰＯＦの製品品質（光信号の伝送損失）を向上させるために、製造しながら光伝送損失を計測する検査装置が提案されている。また、特許文献２では、ポリマークラッド光ファイバの被覆の異常部を検出する被覆異常部検出方法が提案され、信頼性の要求に応えるとしている。

　しかしながら、特許文献１のものは、実際にＰＯＦのコア内にレーザー光を通過させてレーザー光の散乱の程度を確認し、ＰＯＦの光損失を計測するものであり、コアに欠陥（異物や亀裂、気泡など）が生じているか否かを判断することはできるものの、形成されたコアの径を計測することはできない。

　また、特許文献２のものは、ＰＯＦに検査光を入射しＰＯＦの画像における輝度の経時変化によって、その被覆クラッドの異常部から外部に漏れた検査光の有無を判定し、これに基づいて異常部を検出するものである。しかし、このものも、上記特許文献１のものと同様、形成されたコアの径を計測することはできない。

特開２０１４－２００２号公報 特開２０１６－８５１３８号公報

　一方、ＰＯＦにおけるコア径の変動は、帯域幅の低下につながることから、常時安定したコア径のＰＯＦを提供することが、光通信の信頼性を高める上で重要である。そこで、コア径の正確な計測を連続的に行うことができれば、インラインで、コア径が規定の範囲から外れたものだけを除外することができるため、その技術の確立が強く求められている。また、ＰＯＦの欠陥の検出を連続的に行うことができれば、インラインで欠陥を有する箇所だけを除外することができるため、その技術の確立も期待されている。

　本発明はこのような事情に鑑みなされたもので、ＰＯＦのコア径を正確に計測することができるＰＯＦのコア径計測方法およびそれに用いるＰＯＦのコア径計測装置、ＰＯＦの欠陥検出方法およびそれに用いるＰＯＦの欠陥検出装置を提供する。

　上記の目的を達成するため、本発明は、以下の［１］～［１４］を提供する。
［１］ＰＯＦのコア径を計測する方法であって、上記ＰＯＦの一方の側面に向って光を照射する光照射機構と、上記ＰＯＦの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する撮像機構とを設け、上記光照射機構によりＰＯＦの側面に光を照射し、上記撮像機構によって上記ＰＯＦの反対側の側面を撮像し画像データを得る撮像工程と、上記撮像機構により得られたＰＯＦの画像データを処理するデータ処理工程とを備え、上記撮像工程において、上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記ＰＯＦの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）が０．９～１．３となるように上記光照射機構とＰＯＦを配置し、上記データ処理工程において、上記ＰＯＦの画像データからＰＯＦの側面における光強度分布を取得し、上記光強度分布に基づき上記ＰＯＦのコア径を算出するＰＯＦのコア径計測方法。
［２］上記撮像工程において、上記ＰＯＦに対する光照射と撮像を、少なくとも２方向から行い、上記ＰＯＦの、方向の異なる少なくとも２つの側面の画像データを得るとともに、上記データ処理工程において、上記少なくとも２つの画像データから取得される光強度分布に基づき上記ＰＯＦのコア径を算出する、［１］に記載のＰＯＦのコア径計測方法。［３］上記データ処理工程において、上記ＰＯＦの画像データから取得したＰＯＦの径方向における光強度分布に基づいて、上記ＰＯＦのコア径とともにクラッド径を算出する、［１］または［２］に記載のＰＯＦのコア径計測方法。
［４］上記データ処理工程において、算出された上記ＰＯＦのコア径とクラッド径に基づき上記ＰＯＦのコアの偏心量を算出する、［３］に記載のＰＯＦのコア径計測方法。

［５］コアとクラッドとを有するＰＯＦのコア径を計測する装置であって、上記ＰＯＦの一方の側面に向って光を照射する光照射機構と、上記ＰＯＦに対して上記光照射機構と反対側に設けられ、上記ＰＯＦの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する撮像機構と、上記撮像機構によって得られたＰＯＦの画像データを処理するデータ処理機構とを備え、上記光照射機構の発光幅をＷとし、上記光照射機構の発光位置と上記ＰＯＦの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）が０．９～１．３となるように上記光照射機構が配置されており、上記データ処理機構が、上記ＰＯＦの画像データからＰＯＦの径方向における光強度分布を取得し、上記光強度分布に基づき上記ＰＯＦのコア径を算出するよう設定されているＰＯＦのコア径計測装置。
［６］上記光照射機構による光照射と撮像機構による撮像が、上記ＰＯＦに対し少なくとも２方向から行われ、上記ＰＯＦの、方向の異なる少なくとも２つの側面の画像データが得られるようになっており、上記データ処理機構が、上記少なくとも２つの画像データから取得される光強度分布に基づき上記ＰＯＦのコア径を算出するよう設定されている、［５］に記載のＰＯＦのコア径計測装置。
［７］上記ＰＯＦを介して対峙する光照射機構と撮像機構からなる撮像ユニットが、少なくとも２セット、ＰＯＦに対し方向が異なる配置で設けられている、［６］に記載のＰＯＦのコア径計測装置。
［８］上記ＰＯＦを介して対峙する光照射機構と撮像機構からなる撮像ユニットが単一で設けられており、上記ＰＯＦと、上記撮像ユニットとの相対的な配置が変更可能になっている、［６］に記載のＰＯＦのコア径計測装置。
［９］上記データ処理機構が、上記ＰＯＦの画像データから取得したＰＯＦの径方向における光強度分布に基づいて、上記ＰＯＦのコア径とともにクラッド径を算出するよう設定されている、［５］～［８］のいずれかに記載のＰＯＦのコア径計測装置。
［１０］上記データ処理機構が、算出された上記ＰＯＦのコア径とクラッド径に基づき上記ＰＯＦのコアの偏心量を算出するよう設定されている、［９］に記載のＰＯＦのコア径計測装置。

［１１］ＰＯＦの欠陥を検出する方法であって、上記ＰＯＦの一方の側面に向って光を照射する光照射機構と、上記ＰＯＦの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する上記光照射機構に対応する撮像機構とを設け、上記光照射機構がいずれもＰＯＦの側面に光を照射し、上記光照射機構に対応する撮像機構によって上記ＰＯＦの反対側の側面を撮像し画像データを得る撮像工程と、上記撮像機構により得られた画像データを処理するデータ処理工程とを備え、上記撮像工程において、上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記ＰＯＦの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）がいずれも０．９～１．３となるように上記光照射機構とＰＯＦを配置し、上記撮像工程において、上記ＰＯＦに対する光照射と撮像を、少なくとも２方向から行い、上記ＰＯＦの、方向の異なる少なくとも２つの側面の画像データを得るとともに、上記データ処理工程において、上記少なくとも２つの画像データからＰＯＦの側面における少なくとも２つの光強度分布を取得し、上記少なくとも２つの光強度分布に基づき上記ＰＯＦの欠陥を検出するＰＯＦの欠陥検出方法。
［１２］ＰＯＦの欠陥を検出する装置であって、上記ＰＯＦの一方の側面に向って光を照射する光照射機構と、上記ＰＯＦの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する上記光照射機構に対応する撮像機構とを設け、上記光照射機構がいずれもＰＯＦの側面に光を照射し、上記光照射機構に対応する撮像機構によって上記ＰＯＦの反対側の側面を撮像し画像データを得る撮像機構と、上記撮像機構により得られた画像データを処理するデータ処理機構とを備え、上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記ＰＯＦの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）がいずれも０．９～１．３となるように上記光照射機構が配置されており、上記記撮像工程において、上記ＰＯＦに対する光照射と撮像が、少なくとも２方向から行われ、上記ＰＯＦの、方向の異なる少なくとも２つの側面の画像データが得られるようになっており、上記データ処理機構が、上記少なくとも２つの画像データから取得される光強度分布に基づき上記ＰＯＦの欠陥を検出するよう設定されているＰＯＦの欠陥検出装置。

［１３］ＰＯＦの欠陥を検出する方法であって、上記ＰＯＦの一方の側面に向って光を照射する少なくとも３つの光照射機構と、上記ＰＯＦの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する上記光照射機構に対応する撮像機構とを設け、上記光照射機構がいずれもＰＯＦの側面に光を照射し、上記光照射機構に対応する撮像機構によって上記ＰＯＦの反対側の側面を撮像し少なくとも３つの画像データを得る撮像工程と、上記撮像機構により得られた少なくとも３つの画像データを処理するデータ処理工程とを備え、上記撮像工程において、上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記ＰＯＦの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）がいずれも０．９～１．３となるように上記光照射機構とＰＯＦを配置し、上記データ処理工程において、上記少なくとも３つの画像データからＰＯＦの側面における少なくとも３つの光強度分布を取得し、上記少なくとも３つの光強度分布に基づき上記ＰＯＦの欠陥を検出するＰＯＦの欠陥検出方法。
［１４］ＰＯＦの欠陥を検出する装置であって、上記ＰＯＦの一方の側面に向って光を照射する少なくとも３つの光照射機構と、上記ＰＯＦの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する上記光照射機構に対応する撮像機構とを設け、上記光照射機構がいずれもＰＯＦの側面に光を照射し、上記光照射機構に対応する撮像機構によって上記ＰＯＦの反対側の側面を撮像し少なくとも３つの画像データを得る撮像機構と、上記撮像機構により得られた少なくとも３つの画像データを処理するデータ処理機構とを備え、上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記ＰＯＦの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）がいずれも０．９～１．３となるように上記光照射機構が配置されており、上記データ処理機構が、上記少なくとも３つの画像データからＰＯＦの側面における少なくとも３つの光強度分布を取得し、上記少なくとも３つの光強度分布に基づき上記ＰＯＦの欠陥を検出するよう設定されているＰＯＦの欠陥検出装置。

　すなわち、本発明者らは、今後増産が見込まれるＰＯＦの製品規格を担保するため、ＰＯＦの製造工程においてインラインでＰＯＦのコア径を計測することができる装置を得ることを目的として研究を行った。そして、ＰＯＦの端面においてコア径を計測していては、ＰＯＦの長手方向に沿って連続的にコア径を計測することはできないことから、ＰＯＦの側面方向から計測することを想起し、研究を重ねる過程で、ＰＯＦの一方の側面に向って光を照射し、その光が照射される側面の反対側の側面を撮像すると、上記ＰＯＦがいわばレンズのように働き、ＰＯＦを透して見える明暗の状態から、上記ＰＯＦの画像データにおいてコアとクラッドの界面の位置を特定できることが判明した。

　そして、本発明者らは、さらに研究を重ねた結果、上記光照射機構の発光幅をＷとし、上記光照射機構と上記ＰＯＦの最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）を所定の範囲に設定すると、高い精度で正確にコアとクラッドの界面の位置を特定することができ、ひいてはコア径の値を正確に求めることができることおよびＰＯＦが有する欠陥の検出が容易にできることを見出した。

　本発明のＰＯＦのコア径計測方法によれば、上述のとおり、長手方向に延びるＰＯＦの側方に、特定の配置で光照射機構と撮像機構を設け、ＰＯＦの側面に光照射を与えながらその反対側の側面の画像データを得るだけで、簡単かつ正確にＰＯＦのコア径を計測することができる。そして、この計測方法によれば、ＰＯＦを長手方向に移動させながら、連続的に計測を行うことができるため、ＰＯＦの製造工程途中において、インラインで計測処理、すなわちコア径のばらつきが規格内に収まっているか否かの品質検査を行うことができる。したがって、高品質のＰＯＦを安定的に供給することができる。

　また、本発明のＰＯＦのコア径計測装置によれば、ＰＯＦの製造ラインの途中に、特定の配置で光照射機構と撮像機構を設け、上記撮像機構から得られる画像データを、特定のデータ処理機構によって処理するだけで、簡単かつ正確にＰＯＦのコア径を算出することができる。したがって、ＰＯＦの製造スピードを下げることなく、効率よく高品質のＰＯＦを提供することができる。そして、このコア径計測装置の設置には、大幅な設備変更や追加スペースの確保がいらないという利点を有する。

　さらに、本発明のＰＯＦの欠陥検出方法によれば、ＰＯＦに対して向きが異なる３方向の画像データが得られるため、周方向の死角がなくなり、欠陥の検出漏れを抑制することができる。また、欠陥が含まれた層を特定することもできるため、伝達損失の原因となるものだけを効率的に検出することができ、過検出を抑制することができる。

　また、本発明のＰＯＦの欠陥検出装置によれば、ＰＯＦの製造ラインの途中に設けるだけで、ＰＯＦに含まれた欠陥（異物、気泡等）を簡単に検出することができる。このため、ＰＯＦの製造スピードを下げることなく、効率よく高品質のＰＯＦを提供することができる。そして、この欠陥検出装置の設置もまた、大幅な設備変更や追加スペースの確保がいらないという利点を有する。

本発明の装置の一例を示す模式的な構成図である。 （ａ）は上記装置の要部をＰＯＦ正面方向（断面方向）から示す模式的な説明図、（ｂ）は同じくその要部をＰＯＦ側面方向から示す模式的な説明図である。 ＰＯＦの構成を示す模式的な断面図である。 （ａ）～（ｃ）は、いずれも上記装置による画像データの説明図である。 ２方向から得られた２つの画像による補正処理の説明図である。 ２方向から得られた２つの画像による補正処理の説明図である。 上記装置の変形例を示す模式的な構成図である。 本発明の装置の他の例を示す模式的な構成図である。 実施例６としてコア径を計測した値と実際の測定値とを対比して示したグラフ図である。 実施例６としてコアの偏心量を計測した値と実際の測定値とを対比して示したグラフ図である。 実施例７としてコア径を計測した値と実際の測定値とを対比して示したグラフ図である。 実施例７としてコアの偏心量を計測した値と実際の測定値とを対比して示したグラフ図である。 欠陥の検出方法の処理フロー（Ｉ）の手順を説明する図である。 欠陥の検出方法の処理フロー（II）の手順を説明する図である。

　つぎに、本発明の実施の形態について詳しく説明する。ただし、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。

　本発明の一実施の形態であるＰＯＦのコア径計測方法（以下、単に「コア径計測方法」という場合がある）は、ＰＯＦの一方の側面に向って光を照射する光照射機構と、上記ＰＯＦの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する撮像機構とを設け、上記光照射機構によりＰＯＦの側面に光を照射し、上記撮像機構によって上記ＰＯＦの反対側の側面を撮像し画像データを得る撮像工程と、上記撮像機構により得られたＰＯＦの画像データを処理するデータ処理工程とを備えている。そして、上記撮像工程において、上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記ＰＯＦの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）が０．９～１．３となるように上記ＰＯＦを配置し、上記データ処理工程において、上記ＰＯＦの画像データからＰＯＦの側面における光強度分布を取得し、上記光強度分布に基づき上記ＰＯＦのコア径を算出するものである。

　本発明の一実施の形態であるコア径計測方法を実施するための装置の一例を、図１に模式的に示す。この装置は、図において太矢印で示すように走行するＰＯＦ１のコア径を計測するためのもので、ＰＯＦ１の側面に向って、垂直方向に光照射を行う第１の光照射機構２と、上記ＰＯＦ１に対して上記光照射機構２と反対側に設けられ、上記ＰＯＦ１の、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する第１の撮像機構３とを備えている。この第１の光照射機構２と第１の撮像機構３は、図２（ａ）およびその右側面図である図２（ｂ）に模式的に示すように、ＰＯＦ１を介して、互いに対峙するように配置されており、両者によって、１セットの撮像ユニットＡが構成されている。

　そして、上記撮像ユニットＡ（図１に戻る）に対しＰＯＦ１の周方向に９０°角度を変えた方向、すなわち光照射を水平方向に行う配置で、第２の光照射機構２'と第２の撮像機構３'からなる撮像ユニットＢが設けられている。

　なお、上記撮像ユニットＡがＰＯＦ１と交差する位置Ｐと、撮像ユニットＢがＰＯＦ１と交差する位置Ｑは、ＰＯＦ１の長手方向に沿って所定距離だけずれている。この距離は、ＰＯＦ１の走行によって移動する距離を考慮して設定されており、Ｐの位置において撮像ユニットＡによって撮像される第１の画像データと、Ｑの位置において撮像ユニットＢによって撮像される第２の画像データとが、ＰＯＦ１の同じ位置の、９０°角度を変えた２つの側面の画像データとなるよう予め設定されている。

　この装置が計測の対象とするＰＯＦ１は、図３に示すとおり、重合体をマトリックスとする有機化合物からなるコア４と、このコア４と屈折率の異なる有機化合物からなるクラッド５と、その外側にこれを被覆するオーバークラッド６とで構成されている。通常、コア４は、クラッド５と比較して屈折率が高く設計されており、光をほぼ全反射させることができる。このため、ＰＯＦ１は、光をコア４内に閉じこめた状態で伝搬させることができるようになっている。なお、この例では、オーバークラッド６を設けているが、クラッド５が非常に硬質である等、コア４およびクラッド５を保護する必要がない場合には、オーバークラッド６は設けなくてもよい。

　上記ＰＯＦ１に光を照射する第１および第２の光照射機構２、２'としては、例えば、発光ダイオード（ＬＥＤ）、レーザー、ハロゲンランプ等の各種光源を用いることができる。なかでも、屈折率波長分散による画像や検出精度の低下を防止できる点から、複数の波長の光が混在したような白色光よりも、単一波長に近い光を光源とするものが好ましい。単一波長の光としては、例えば、青、緑、赤色等の可視光を用いることができるが、撮像対象であるＰＯＦ１の材料の波長分散の影響が小さい波長を用いることが好ましく、ＰＯＦ１の材料として、ポリカーボネート（ＰＣ）、ポリメチルメタクリレート（ＰＭＭＡ）を用いる場合には、屈折率波長分散は長波長に行くほど収束し、長波長分散の影響が少なくなることから、赤色の波長の光源を用いることが好ましい。また、光源からの出射光としては、平行光、拡散光のいずれも用いることができるが、様々な角度からＰＯＦ１に入射させることができる点から、拡散光を用いることが好ましい。

　そして、上記第１および第２の光照射機構２、２'は、光照射機構２、２'の発光幅をＷとしたときに、光照射機構２、２'の発光位置と上記ＰＯＦ１の側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）が０．９～１．３となるように配置することが重要である［図２（ａ）を参照］。

　すなわち、この装置では、ＰＯＦ１の一方の側面に向って光を照射し、その光が照射される側面の反対側の側面を撮像すると、上記ＰＯＦ１がいわばレンズのように働き、ＰＯＦ１を構成するコア４、クラッド５、オーバークラッド６の各層の屈折率の違いにより、光の明暗が、各界面でそれぞれずれて表れることから、上記ＰＯＦ１のコア４とクラッド５の界面、クラッド５とオーバークラッド６との界面、の各位置を特定できる、という原理にもとづいて、画像データの解析を行うことを特徴としている。

　そして、上記画像データの明暗による解析を精度よく行うには、ＰＯＦ１に対する光量および光の当たり方が重要であり、そのためには、発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）が上記のとおり、０．９～１．３となるように設定することが必要である。なかでも、この比が１．０～１．２５であることが好ましく、１．１～１．１５であることがより好適である。

　ちなみに、上記Ｄ／Ｗが０．９よりも小さいと、発光部が光量のわりに近すぎて、得られる画像データが、例えば図４（ａ）に模式的に示すように、ＰＯＦ１全体が白く光り、オーバークラッド６の周囲だけが暗く陰になるため、本来視認できるはずのコア４とクラッド５の界面を示す線１０（図では破線）も、クラッド５とオーバークラッド６の界面を示す線１１（図では破線）も全くわからない。

　これに対し、上記Ｄ／Ｗが適正範囲であると、得られる画像データが、例えば図４（ｂ）に模式的に示すように、光の明暗が各層の屈折率に応じてずれて表れるため、コア４とクラッド５の界面を示す線１０と、クラッド５とオーバークラッド６の界面を示す線１１とを、線としてはっきり視認することができる。

　そして、逆に、上記Ｄ／Ｗが１．３よりも大きいと、発光部が光量のわりに遠すぎて、得られる画像データが、例えば図４（ｃ）に模式的に示すように、暗い部分が多くなりすぎるため、この場合も、各界面を示す線１０、１１（図では破線）がわからない。

　なお、上記第１の光照射機構２の発光幅Ｗは、ＰＯＦ１を介して第１の光照射機構２を第１の撮像機構３と対峙させたときに、第１の撮像機構３の撮像面と第１の光照射機構２の発光面とが平行になる配置において、その発光面の最長幅（発光面が平面視円状のときは最長径）をいう。第２の光照射機構２'のＷについても同様である。

　上記光が照射されたＰＯＦ１の側面を撮像する第１の撮像機構３としては、例えば、ラインセンサカメラ、エリアセンサカメラ等の、対象物の画像をレンズによって素子面に結像させ、光の量を信号に変換して出力させるものを好ましく用いることができる。なかでも、シャッタースピードを速くすることで走行中の被写体の振れの影響を低減できる点から、エリアセンサカメラを用いることがより好ましい。第２の撮像機構３'についても同様である。

　上記第１の撮像機構３は、上記ＰＯＦ１を介して上記第１の光照射機構２と対峙した位置に配置される。そして、上記第１の光照射機構２と第１の撮像機構３は、互いの中心が、ＰＯＦ１を介して同一軸上に配置されることが好ましいが、後述するデータ処理機構によって画像データ処理を補正できる範囲において、必ずしも同一軸上に配置されなくてもよい。第２の撮像機構３'についても同様である。

　上記装置では、上記第１の光照射機構２および撮像機構３からなる撮像ユニットＡと、第２の光照射機構２'および撮像機構３'からなる撮像ユニットＢの、２つの撮像ユニットにより、ＰＯＦ１の、９０°角度を変えた２つの側面の画像データが得られるようになっている。そして、得られた画像データは、予めコア径計測のための演算処理回路等が組み込まれたデータ処理機構（図１において図示せず）に送られて、処理されるようになっている。

　上記２つの撮像ユニット、すなわち、第１の光照射機構２および撮像機構３からなる撮像ユニットＡと、第２の光照射機構２'および撮像機構３'からなる撮像ユニットＢとは、ＰＯＦ１を長手方向に横切る同一平面上に配置されることが好ましい。２つの撮像ユニットが上記同一平面上に配置されると、各撮像ユニットによりＰＯＦ１を径方向に水平な平面上において画像を得ることができるため、走行中にＰＯＦ１が安定しない場合であっても高い精度でＰＯＦ１のコア径を算出することができる。

　なお、上記２つの撮像ユニットを上記同一平面上に配置する場合には、各撮像ユニットの光照射機構から発せられる光が干渉し合い、正確な算出および検出ができなくなることがあるが、例えば、各撮像ユニットの光照射機構から発せられる光の波長を互いに異なるものとし、各撮像機構の前に特定の波長帯のみ透過し得るバンドパスフィルタを設置することにより正確な算出および検出を維持することができるため好ましい。

　上記データ処理機構は、どのような画像解析ソフトをベースにするものであっても、全く専用に作成されたソフトであってもよいが、上記第１の撮像機構３および第２の撮像機構３'から送られてきた画像データの光強度分布を取得し、その分布状態を解析して所定の演算式に当てはめることにより、目的とするコア径が算出されるようになっている。このとき、９０°角度を変えて得られた２つの画像データから、ＰＯＦ１自体が傾いていたり、コア４がＰＯＦ１において偏心していたりして、２つの画像データにずれがある場合、そのずれ方に応じて、さらに補正処理がなされるようになっている。

　例えば、図５に示すように、一方の画像データ（０°画像）と他方の画像データ（９０°画像）が、互いに異なる傾きで傾いた状態で撮像されている場合、両方の画像データ（０°画像、９０°画像）を画像回転処理によって、互いに所定角度ずつ周方向に回転させて両者が極力傾いていない画像として再修正することが行われる。

　また、２つの画像データから得られたコア４とクラッド５の界面の位置、クラッド５とオーバークラッド６の界面の位置から、例えば図６に示すように、各層の径の大きさと中心位置を求め、各層の中心位置のずれからコア４の偏心量を算出し、コア径を修正して、より高い精度でコア径を求めることができるようになっている。

　このように、上記装置によれば、長手方向に延びるＰＯＦ１に対し、特定の配置で第１の光照射機構２と第１の撮像機構３を設け、上記撮像機構３から得られる画像データを、特定のデータ処理機構によって処理するだけで、簡単かつ正確にＰＯＦ１のコア径を算出することができる。

　そして、上記画像データの取得を、ＰＯＦ１の側面方向から行うため、ＰＯＦ１の製造ラインの途中にもしくは末端において、この装置をインラインで組み込むことができ、ＰＯＦ１を断続的に走行させながら、コア径の計測を行うことができる。特に、対象物が移動していても撮像が可能な第１の撮像機構３を用いる場合には、とりわけ、ＰＯＦ１の製造スピードを下げることなく、効率よくＰＯＦ１のコア径の計測を行うことができ、好適である。しかも、上記装置の設置には、大幅な設備変更や追加スペースの確保がいらないという利点を有する。

　また、上記の装置は、ＰＯＦ１に対し、２つの撮像ユニットＡ、Ｂを設けて、周方向に異なる２方向の画像データを得ることができるため、コア４の芯ずれやＰＯＦ１自体の傾き等を修正して、高い精度でコア径計測を行うことができるようになっている。したがって、一方向からの画像データに基づいてコア径を計測する場合に比べて、より高品質のＰＯＦ１を提供することができる。そして、さらに計測精度を高めるために、３セット以上の、方向の異なる撮像ユニットを用いることもできる。

　３セット以上の、方向の異なる撮像ユニットを用いると、走行中のＰＯＦのコア径の計測の精度が向上するだけでなく、欠陥が存在する層を特定することができる。例えば、異物や気泡等がコア層に存在すると、上記異物等は光の伝送損失を大きくする原因となる。一方で、コア層以外、例えば、クラッド層に異物等が存在しても、上記異物等は光の伝送損失に影響を与えない。よって、コア層を特定した上で異物等を検出することにより、伝送損失の原因となる異物等のみを効率的に特定することができ、過検出を抑制することができる。

　すなわち、図７に示すように、３セットの方向の異なる撮像ユニットＡ，Ｂ，Ｃを用い、各撮像ユニット間をＰＯＦ１の周方向に等間隔、すなわち各撮像ユニットを、周方向に１２０°ずつ向きを変え、ＰＯＦ１の長手方向を横切る同一平面上に配置すると、ＰＯＦ１について周方向に１２０°ずつ向きを変えた異なる３方向の画像データが得られる。上記周方向に１２０°ずつ向きを変えた３方向からの画像データを用いて欠陥の検出を行うと、周方向の死角がなくなり、欠陥の検出漏れを抑制することができる。なお、図７において、符号Ｒは撮像ユニットＣがＰＯＦ１と交差する位置であり、符号２''は撮像ユニットＣが有する第３の光照射機構であり、符号３''は同じく撮像ユニットＣが有する第３の撮像機構である。また、図７では、３セットの方向の異なる撮像ユニットＡ，Ｂ，Ｃを用いた例を示しているが、当然、４セット以上の方向の異なる撮像ユニットを用いてもよいし、単一の撮像ユニットをＰＯＦ１の周方向に等間隔に配置を変えて撮像し、ＰＯＦ１について周方向に向きを変えた異なる複数方向の画像データを得るようにしてもよい。

　もちろん、非常に真円度の高いコア４を有するＰＯＦ１を対象とする場合や、ＰＯＦ１の直線度を高めた状態で計測できる場合等においては、必ずしも、複数の撮像ユニットを設ける必要はなく、単一の撮像ユニットを用いても差し支えない。

　なお、周方向に異なる２つ以上の画像データを得るために、上記の装置のように、ＰＯＦ１の周囲に、複数の撮像ユニットを、方向を変えて配置するのではなく、単一の撮像ユニットを、ＰＯＦ１に対して相対的に配置を変えうるように設定してもよい。その例を、図８に模式的に示す。

　この装置は、第１の光照射機構２と第１の撮像機構３とで構成される単一の撮像ユニットと交差するようにＰＯＦ１を保持する保持機構１２を設け、この保持機構１２を、保持したＰＯＦ１ごと周方向に回動させて、ＰＯＦ１の、方向の異なる少なくとも２つの側面の画像データを得ることができるようにしたものである。なお、１３は、ＰＯＦ１と第１の光照射機構２との距離を微調整するための調整機構、１４は、ＰＯＦ１に対する計測位置を上下方向に微調整するための調整機構である。

　この装置によれば、図１に示す装置のように、複数の撮像ユニットを配置しなくても、ＰＯＦ１の周方向の向きを変えて複数の画像データを得ることができ、高い精度でコア径の計測および異物や気泡の混入を検出することができる。しかしながら、ＰＯＦ１を走行させながら計測や検出ができないため、試作品や完成品の検査等の用途に限られる。

　また、上記の装置とは逆に、走行するＰＯＦ１を中心として、その周囲に、周方向に回動しうる環状ベースを設け、この環状ベースの対角線上の一方に第１の光照射機構２を取り付け、他方に第１の撮像機構３を取り付けて、上記環状ベースを回動させることにより、ＰＯＦ１の、方向の異なる少なくとも２つの側面の画像データを得るようにしてもよい。この場合、異なる方向からの撮像は、ＰＯＦ１が停止するタイミングで行うことが好ましい。

　なお、すでに述べたとおり、少なくとも２方向から撮像した画像データに基づいてコア径を算出する場合、その補正処理のために、コア径のみならず、クラッド５およびオーバークラッド６のそれぞれの径も算出して、各層の外径と中心の位置を求める処理を行うことから、これらの数値を利用して、コア４の偏心量、ＰＯＦ１自体の外径の真円度等を求めることができる。

　特に、コア４の偏心量が大きく規格を外れる場合、光の伝送損失が大きくなるおそれがあることから、上記コア４の偏心量を併せて計測することは、実用的ニーズに沿うものである。

　以下、実施例および比較例をあげて、本発明をさらに具体的に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例に限定されるものではない。

［実施例１～５、比較例１～３］
　まず、図１に示す装置において、撮像ユニットＡの第１の光照射機構２の発光幅Ｗと、上記光照射機構２とＰＯＦ１の最短距離Ｄを、後記の表１に示すように設定することにより、実施例１～５および比較例１～３のコア径計測装置を作製した。なお、上記光照射機構２としてＬＥＤ（波長６３０ｎｍｔｙｐ．、拡散光、ＣＣＳ社製）を用い、ＰＯＦ１のすぐ外側（地合部）におけるカメラ受光量が１２８／２５６諧調以上となるよう光量を調整して使用した。また、撮像ユニットＢについても上記撮像Ａと同様の設定を行っている。

　そして、これらの装置を用いて、画像データの光強度分布に基づいてＰＯＦ１のコアとクラッドとの界面、およびクラッドとオーバークラッドとの界面の位置の特定を行うことができるか計測した。計測の結果、位置の特定ができたものを〇とし、できなかったものを×として、後記の表１に示した。
　なお、上記ＰＯＦ１は、コア径が１２０μｍであり、上記コアおよびクラッドは、いずれもメチルメタクリレート（ＭＭＡ）を主成分とする樹脂からなり、上記コアは、屈折率調整剤により屈折率が高められている。また、オーバークラッドはポリカーボネート（ＰＣ）系樹脂からなっている。上記「主成分」とは、その材料の特性に影響を与える成分の意味であり、その成分の含有量は、通常、材料全体の５０質量％以上である。
　そして、上記計測の結果に基づいて装置の評価を行い、その結果を後記の表１に併せて示した。評価方法は、以下のとおりである。

＜評価＞
◎：コアとクラッドとの界面およびクラッドとオーバークラッドとの界面のいずれも容易に特定できた。
〇：コアとクラッドとの界面およびクラッドとオーバークラッドとの界面のいずれも特定できた。
×：コアとクラッドとの界面およびクラッドとオーバークラッドとの界面のいずれかが特定できなかった。

　上記の結果から、発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）が０．９～１．３の範囲に設定された装置において、コア径を容易に計測できることがわかる。

［実施例６］
　つぎに、図７に示す装置を用い、ＰＯＦ１のコア４（図３参照）の径および偏心量の計測を、計測箇所を変えて１０回、インラインで行った。なお、図７の装置は、撮像ユニットＣを追加している以外は実施例２と同様の構成（発光幅等）である。また、計測対象のＰＯＦ１についても実施例２と同様のものを用いている。得られたコア４の径および偏心量を、実際に測定したコア４の径および偏心量と対比した結果を図９および図１０に示す。
　両者を対比した結果、コア４の径の差は最大で２．２μｍであり、コア４の偏心量の差は最大で１．６μｍであった。
　なお、実際に測定したＰＯＦ１のコア４の径および偏心量は、以下のとおりにして求めたものである。すなわち、ＰＯＦ１のコア４の径および偏心量を計測した箇所を実際に切断し、研磨する。その研磨面を顕微鏡にて拡大して観察し、顕微鏡断面画像を得る。この顕微鏡断面画像から、ＰＯＦ１のコア４の径および偏心量を特定し、この値を実際のコア４の径および偏心量とした。

［実施例７］
　図１に示す装置を用い、計測箇所を４箇所にした以外は、実施例６と同様にしてＰＯＦ１のコア４（図３参照）の径および偏心量の計測を行った。得られたコア４の径および偏心量を、実際に測定したコア４の径および偏心量と対比した結果を図１１および図１２に示す。
　両者を対比した結果、コア４の径の差は最大で２．９μｍであり、コア４の偏心量の差は最大で３．３μｍであった。

［実施例８］
　そして、図７に示す装置を用い、後記に示す欠陥の検出方法に従って、６．５ｍのＰＯＦ１において層を特定せず、ＰＯＦ１の全体に含まれる欠陥の検出を行った。その結果を下記の表２に示す。表２の結果から、層を特定せずに欠陥の検出を行った場合、コア４（図３参照）の欠陥も検出できるものの、伝送損失に関係のないオーバークラッド６内の異物が過剰に検出されることがわかる。

［実施例９］
　さらに、図７に示す装置を用い、後記に示す欠陥の検出方法に従って、２４ｍのＰＯＦ１においてコア４（図３参照）を特定して、ＰＯＦ１の全体に含まれる欠陥の検出を行った。その結果を下記の表３に示す。表３の結果から、コア４を特定して欠陥の検出を行った場合、伝送損失に関係のないオーバークラッド６内の欠陥の過剰な検出が抑制され、コア４内の欠陥が効率よく検出できた。

［欠陥の検出方法］
　まず、図７に示す装置において、撮像ユニットＡ，Ｂ，Ｃを用いて、ＰＯＦ１について周方向に１２０°ずつ向きを変えた、３方向からの異なる画像データを得る。
　得られた画像データそれぞれに対し、図１３および下記に示す処理フロー（Ｉ）のとおり、検出候補物の重心座標を取得する。なお、処理フロー（Ｉ）において、「５．２値化抽出」は、閾値を１０とし、８ｂｉｔ画像データ２５６諧調の内、正常部に対し１０諧調差がある箇所を検出候補物として抽出している。
　つぎに、得られた検出候補物を、図１４および後記に示す処理フロー（II）に従って処理することにより、ＰＯＦ１の欠点（欠陥）を検出することができる。

［処理フロー（Ｉ）］
１．撮像ユニットＡ，Ｂ，Ｃを用いて異なる画像データを取得し、メモリに格納する。
２．画像データに対しエッジ検出処理を行い、画像内のＰＯＦ１の座標を取得する。
３．取得したＰＯＦ１の座標と設定値とを用い、ＰＯＦ１部分の画像を切出す。
４．切出されたＰＯＦ１の画像を予め登録している良品画像に照らして差分を異常部として特定する。
５．異常部の画像を設定された閾値に照らして２値化処理を行う。
６．異常部の２値化画像に対してブロブ処理解析を行い、異常部の重心座標を取得し、検出候補物として抽出する。

［処理フロー（II）］
１．処理フロー（Ｉ）により抽出された検出候補物の座標データのうち、ＰＯＦ１の流れ方向座標の若い順に、各撮像ユニットの検出候補物の座標データを準備する。
２．準備された座標データにおいて、互いのＰＯＦ１の流れ方向座標の差異が設定閾値以下のものを抽出する。
３．抽出された検出候補物の２つの流れ方向座標を使用し、２視野からそれぞれ光線追跡を行いＰＯＦ１断面における交点の座標を求める。
４．上記交点とコア４の中心座標との間の距離を計算して求める。
５．上記距離が設定閾値以下であるか否かを評価する。
６．上記閾値以下のものを欠点として検出する。

　上記実施例においては、本発明における具体的な形態について示したが、上記実施例は単なる例示にすぎず、限定的に解釈されるものではない。当業者に明らかな様々な変形は、本発明の範囲内であることが企図されている。

　本発明のＰＯＦのコア径計測方法およびコア径計測装置は、インラインでＰＯＦのコア径を計測する場合に有用である。

　１　ＰＯＦ
　２　第１の光照射機構
　２' 第２の光照射機構
　３　第１の撮像機構
　３' 第２の撮像機構

Claims (14)

1. 　プラスチック光ファイバのコア径を計測する方法であって、
   　上記プラスチック光ファイバの一方の側面に向って光を照射する光照射機構と、上記プラスチック光ファイバの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する撮像機構とを設け、上記光照射機構によりプラスチック光ファイバの側面に光を照射し、上記撮像機構によって上記プラスチック光ファイバの反対側の側面を撮像し画像データを得る撮像工程と、
   　上記撮像機構により得られたプラスチック光ファイバの画像データを処理するデータ処理工程とを備え、
   　上記撮像工程において、上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記プラスチック光ファイバの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）が０．９～１．３となるように上記光照射機構とプラスチック光ファイバを配置し、
   　上記データ処理工程において、上記プラスチック光ファイバの画像データからプラスチック光ファイバの側面における光強度分布を取得し、上記光強度分布に基づき上記プラスチック光ファイバのコア径を算出することを特徴とするプラスチック光ファイバのコア径計測方法。
2. 　上記撮像工程において、上記プラスチック光ファイバに対する光照射と撮像を、少なくとも２方向から行い、上記プラスチック光ファイバの、方向の異なる少なくとも２つの側面の画像データを得るとともに、上記データ処理工程において、上記少なくとも２つの画像データから取得される光強度分布に基づき上記プラスチック光ファイバのコア径を算出する請求項１記載のプラスチック光ファイバのコア径計測方法。
3. 　上記データ処理工程において、上記プラスチック光ファイバの画像データから取得したプラスチック光ファイバの径方向における光強度分布に基づいて、上記プラスチック光ファイバのコア径とともにクラッド径を算出する請求項１または２記載のプラスチック光ファイバのコア径計測方法。
4. 　上記データ処理工程において、算出された上記プラスチック光ファイバのコア径とクラッド径に基づき上記プラスチック光ファイバの偏心量を算出する請求項３記載のプラスチック光ファイバのコア径計測方法。
5. 　コアとクラッドとを有するプラスチック光ファイバのコア径を計測する装置であって、
   　上記プラスチック光ファイバの一方の側面に向って光を照射する光照射機構と、上記プラスチック光ファイバに対して上記光照射機構と反対側に設けられ、上記プラスチック光ファイバの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する撮像機構と、上記撮像機構によって得られたプラスチック光ファイバの画像データを処理するデータ処理機構とを備え、
   　上記光照射機構の発光幅をＷとし、上記光照射機構の発光位置と上記プラスチック光ファイバの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）が０．９～１．３となるように上記光照射機構が配置されており、
   　上記データ処理機構が、上記プラスチック光ファイバの画像データからプラスチック光ファイバの径方向における光強度分布を取得し、上記光強度分布に基づき上記プラスチック光ファイバのコア径を算出するよう設定されていることを特徴とするプラスチック光ファイバのコア径計測装置。
6. 　上記光照射機構による光照射と撮像機構による撮像が、上記プラスチック光ファイバに対し少なくとも２方向から行われ、上記プラスチック光ファイバの、方向の異なる少なくとも２つの側面の画像データが得られるようになっており、上記データ処理機構が、上記少なくとも２つの画像データから取得される光強度分布に基づき上記プラスチック光ファイバのコア径を算出するよう設定されている請求項５記載のプラスチック光ファイバのコア径計測装置。
7. 　上記プラスチック光ファイバを介して対峙する光照射機構と撮像機構からなる撮像ユニットが、少なくとも２セット、プラスチック光ファイバに対し方向が異なる配置で設けられている請求項６記載のプラスチック光ファイバのコア径計測装置。
8. 　上記プラスチック光ファイバを介して対峙する光照射機構と撮像機構からなる撮像ユニットが単一で設けられており、上記プラスチック光ファイバと、上記撮像ユニットとの相対的な配置が変更可能になっている請求項６記載のプラスチック光ファイバのコア径計測装置。
9. 　上記データ処理機構が、上記プラスチック光ファイバの画像データから取得したプラスチック光ファイバの径方向における光強度分布に基づいて、上記プラスチック光ファイバのコア径とともにクラッド径を算出するよう設定されている請求項５～８のいずれか一項に記載のプラスチック光ファイバのコア径計測装置。
10. 　上記データ処理機構が、算出された上記プラスチック光ファイバのコア径とクラッド径に基づき上記プラスチック光ファイバの偏心量を算出するよう設定されている請求項９記載のプラスチック光ファイバのコア径計測装置。
11. 　プラスチック光ファイバの欠陥を検出する方法であって、
    　上記プラスチック光ファイバの一方の側面に向って光を照射する光照射機構と、上記プラスチック光ファイバの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する上記光照射機構に対応する撮像機構とを設け、上記光照射機構がいずれもプラスチック光ファイバの側面に光を照射し、上記光照射機構に対応する撮像機構によって上記プラスチック光ファイバの反対側の側面を撮像し画像データを得る撮像工程と、
    　上記撮像機構により得られた画像データを処理するデータ処理工程とを備え、
    　上記撮像工程において、上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記プラスチック光ファイバの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）がいずれも０．９～１．３となるように上記光照射機構とプラスチック光ファイバを配置し、
    　上記撮像工程において、上記プラスチック光ファイバに対する光照射と撮像を、少なくとも２方向から行い、上記プラスチック光ファイバの、方向の異なる少なくとも２つの側面の画像データを得るとともに、上記データ処理工程において、上記少なくとも２つの画像データからプラスチック光ファイバの側面における少なくとも２つの光強度分布を取得し、上記少なくとも２つの光強度分布に基づき上記プラスチック光ファイバの欠陥を検出することを特徴とするプラスチック光ファイバの欠陥検出方法。
12. 　プラスチック光ファイバの欠陥を検出する装置であって、
    　上記プラスチック光ファイバの一方の側面に向って光を照射する光照射機構と、上記プラスチック光ファイバの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する上記光照射機構に対応する撮像機構とを設け、上記光照射機構がいずれもプラスチック光ファイバの側面に光を照射し、上記光照射機構に対応する撮像機構によって上記プラスチック光ファイバの反対側の側面を撮像し画像データを得る撮像機構と、
    　上記撮像機構により得られた画像データを処理するデータ処理機構とを備え、
    　上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記プラスチック光ファイバの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）がいずれも０．９～１．３となるように上記光照射機構が配置されており、
    　上記記撮像工程において、上記プラスチック光ファイバに対する光照射と撮像が、少なくとも２方向から行われ、上記プラスチック光ファイバの、方向の異なる少なくとも２つの側面の画像データが得られるようになっており、
    　上記データ処理機構が、上記少なくとも２つの画像データから取得される光強度分布に基づき上記プラスチック光ファイバの欠陥を検出するよう設定されていることを特徴とするプラスチック光ファイバの欠陥検出装置。
13. 　プラスチック光ファイバの欠陥を検出する方法であって、
    　上記プラスチック光ファイバの一方の側面に向って光を照射する少なくとも３つの光照射機構と、上記プラスチック光ファイバの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する上記光照射機構に対応する撮像機構とを設け、上記光照射機構がいずれもプラスチック光ファイバの側面に光を照射し、上記光照射機構に対応する撮像機構によって上記プラスチック光ファイバの反対側の側面を撮像し少なくとも３つの画像データを得る撮像工程と、
    　上記撮像機構により得られた少なくとも３つの画像データを処理するデータ処理工程とを備え、
    　上記撮像工程において、上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記プラスチック光ファイバの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）がいずれも０．９～１．３となるように上記光照射機構とプラスチック光ファイバを配置し、
    　上記データ処理工程において、上記少なくとも３つの画像データからプラスチック光ファイバの側面における少なくとも３つの光強度分布を取得し、上記少なくとも３つの光強度分布に基づき上記プラスチック光ファイバの欠陥を検出することを特徴とするプラスチック光ファイバの欠陥検出方法。
14. 　プラスチック光ファイバの欠陥を検出する装置であって、
    　上記プラスチック光ファイバの一方の側面に向って光を照射する少なくとも３つの光照射機構と、上記プラスチック光ファイバの、光が照射される側面の反対側の側面を撮像する上記光照射機構に対応する撮像機構とを設け、上記光照射機構がいずれもプラスチック光ファイバの側面に光を照射し、上記光照射機構に対応する撮像機構によって上記プラスチック光ファイバの反対側の側面を撮像し少なくとも３つの画像データを得る撮像機構と、
    　上記撮像機構により得られた少なくとも３つの画像データを処理するデータ処理機構とを備え、
    　上記光照射機構の発光幅をＷとし、光照射機構の発光位置と上記プラスチック光ファイバの側面との最短距離をＤとして、上記発光幅Ｗに対する最短距離Ｄの比（Ｄ／Ｗ）がいずれも０．９～１．３となるように上記光照射機構が配置されており、
    　上記データ処理機構が、上記少なくとも３つの画像データからプラスチック光ファイバの側面における少なくとも３つの光強度分布を取得し、上記少なくとも３つの光強度分布に基づき上記プラスチック光ファイバの欠陥を検出するよう設定されていることを特徴とするプラスチック光ファイバの欠陥検出装置。

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