WO2020095679A1 - プローブピンおよび検査治具 - Google Patents
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Definitions
- the present disclosure relates to a probe pin and an inspection jig.
- continuity inspection and operation characteristic inspection are performed in the manufacturing process. These inspections are performed by connecting the terminals for connecting to the main body substrate installed in the electronic component module and the terminals of the inspection device using the probe pins.
- This probe pin is provided with a pair of contacts capable of contacting the electrode terminal of the electronic component and the electrode terminal of the connected electronic component, respectively, and a meandering portion interposed between the pair of contacts to connect the pair of contacts. There is.
- the meandering portion expands and contracts along the arrangement direction connecting the pair of contacts, and each contact reciprocates along the arrangement direction.
- some inspection devices and inspection objects are configured to be connected to a probe pin via a conductor portion of an electric wire.
- the probe pin is configured to connect the electromagnetic component and the connected electronic component by contacting each contact with the electrode terminal of the electromagnetic component and the electrode terminal of the connected electronic component in the arrangement direction. .. For this reason, for example, when one or both of the electromagnetic component and the connected electronic component are configured to be connectable to the probe pin only through the conductor portion of the electric wire, when the probe pin is used, In some cases, it may not be possible to connect the component to the connected electronic component.
- the present disclosure aims to provide a probe pin capable of connecting a conductor portion of an electric wire, and an inspection jig including the probe pin.
- An example probe pin of the present disclosure is An elastic portion elastically deformable along the first direction, A connection portion is provided at one end of the elastic portion in the first direction and is capable of connecting the conductor portion of the electric wire.
- the inspection jig of the example of the present disclosure is The probe pin, A housing having an accommodating portion in which the probe pin is accommodated so that the connecting portion is exposed to the outside.
- the probe pin it is provided with an elastic portion that is elastically deformable along the first direction and a connecting portion that is provided at one end of the elastic portion in the first direction and that can connect the conductor portion of the electric wire.
- a probe pin capable of connecting the conductor portion of the electric wire can be realized.
- the inspection device Even if one or both of the inspection device and the inspection object cannot be connected by the probe pin only via the conductor portion of the electric wire, the inspection device and It is possible to realize an inspection jig that can connect inspection objects.
- Sectional drawing which followed the II-II line of FIG. The perspective view showing the probe pin of a 1st embodiment of this indication.
- the top view of the probe pin of FIG. The top view which shows the 1st modification of the inspection jig of FIG.
- the top view which shows the 2nd modification of the inspection jig of FIG. The perspective view which shows the inspection jig of 2nd Embodiment of this indication.
- Sectional drawing which followed the VIII-VIII line of FIG. The perspective view which shows the probe pin of 2nd Embodiment of this indication.
- the probe pin 10 according to the first embodiment of the present disclosure is used in a state of being housed in a housing 100, for example, as shown in FIGS. 1 and 2, and constitutes the inspection jig 1 together with the housing 100.
- the inspection jig 1 accommodates a plurality of elongated thin plate-shaped conductive probe pins 10.
- the housing 100 has, for example, a substantially rectangular column shape.
- an accommodating portion 110 capable of accommodating the probe pin 10 with the connecting portion 30 of the probe pin 10 to be described later being exposed to the outside of the housing 100.
- the accommodating portions 110 extend along the first direction (for example, the Y direction) and are arranged side by side in the plate thickness direction (for example, the X direction) of the accommodated probe pins 10 at intervals. ..
- the row formed by the four accommodating portions 110 arranged side by side in the plate thickness direction of the accommodated probe pins 10 is orthogonal to the arrangement direction of the rows of the four accommodating portions 110 (for example, , Z direction) are provided at intervals.
- a first opening 111 and a second opening 112 are provided at both ends of each housing 110 in the first direction.
- the first opening 111 is open to the first surface 101, which is one of a pair of surfaces of the housing 100 facing each other in the Y direction.
- the connecting portion 30 of the probe pin 10 is exposed to the outside of the housing 100 through the first opening 111.
- a terminal hole 120 extending along the Y direction from a second surface 102 opposite to the first surface 101 in the Y direction is provided inside the housing 100.
- a second opening 112 is opened on the bottom surface 121 of the terminal hole 120.
- the contact portion 40 of the probe pin 10 which will be described later, protrudes toward the inside of the terminal hole 120 through the second opening 112, and is inserted into the terminal hole 120, for example, the connection terminal 300 (FIG. 4) of the inspection device. It is arranged so that it can be contacted.
- each probe pin 10 has a plate-like shape and is provided with elastic portions 20 that are elastically deformable along the Y direction (an example of the first direction) and both ends of the elastic portion 20 in the Y direction.
- the connecting portion 30 and the contact portion 40 are provided.
- Each probe pin is formed by, for example, an electroforming method, and the elastic portion 20, the connecting portion 30, and the contact portion 40 are arranged in series along the Y direction and are integrally configured.
- the elastic portion 20 has a plurality of elastic pieces (four elastic pieces in the first embodiment) 21, 22, 23, 24 which are arranged with a gap therebetween.
- each elastic piece 21, 22, 23, 24 has an elongated strip shape and has two extending portions 201, 202 and two extending portions 201, 202 respectively connected to the connecting portion 30 and the contact portion 40. It has one curved portion 203 connected to 201 and 202.
- Each of the extending portions 201 and 202 is, for example, arranged on one side in the width direction (for example, the Z direction) of the main body portion 31 of the connecting portion 30 or the main body portion 41 of the contact portion 40, and a direction intersecting the first direction. Along a substantially straight line.
- one end of the extending part 201 in the extending direction constitutes an end of the elastic part 20 on the side of the connecting part 30, and one end of the extending part 202 in the extending direction is a contact part of the elastic part. It constitutes the end on the 40 side.
- the elastic pieces 21, 22, 23, 24 have substantially the same cross-sectional shape.
- the connecting portion 30 is configured to be able to connect the conductor portion 200 of the electric wire.
- the connecting portion 30 includes a main body 31 extending in the Y direction and a direction (eg, Z A pair of elastic holding pieces 32, 33 that are elastically deformable in the direction).
- One end of the body portion 31 in the Y direction is connected to the elastic portion 20.
- the elastic sandwiching pieces 32 and 33 are arranged with a gap 34 therebetween in a second direction (for example, the Z direction) orthogonal to the first direction.
- the connecting portion 30 has a pair of elastic holding pieces 32, 33 capable of holding the conductor portion 200 of the electric wire.
- the connecting portion 30 also has a substantially C-shaped through hole 36 that penetrates the connecting portion 30 in the plate thickness direction.
- the end portion 341 of the gap 34 on the main body 31 side has a substantially circular shape when viewed in the plate thickness direction (for example, the X direction).
- a through hole 36 is arranged around the end 341 of the gap 34 on the main body 31 side. The through hole 36 facilitates elastic deformation of the elastic holding pieces 32, 33 in the Z direction.
- the contact portion 40 extends in the Y direction and extends in the Y direction from the main body portion 41 having one end in the Y direction connected to the elastic portion 20 and the other end in the Y direction of the main body portion 41.
- Stoppers 44 are provided on the facing surfaces of the leg portions 42 and 43 that face each other. The stoppers 44 project from the facing surfaces of the leg portions 42 and 43 in directions approaching each other. The stopper 44 can prevent, for example, excessive insertion of the connection terminal 300 of the inspection device.
- each support portion 50 extends in the Z direction from the body portions 31 and 41, and when the probe pin 10 is housed in the housing portion 110 of the housing 100, as shown in FIG. Is arranged so as to abut. In other words, the probe pins 10 are held in the housing portion 110 by the support portions 50.
- the elastic portion 20 that is elastically deformable along the Y direction and the connection portion that is provided at one end of the elastic portion 20 in the Y direction and that can connect the conductor portion 200 of the electric wire. 30 and 30 are provided.
- the connecting portion 30 can realize the probe pin 10 to which the conductor portion 200 of the electric wire can be connected.
- the connecting portion 30 has a pair of elastic holding pieces 32 and 33 that extend along the Y direction and elastically deform in a direction away from each other to hold the conductor portion 200 of the electric wire. .. Since the conductor portion 200 of the electric wire can be held by the pair of elastic holding pieces 32 and 33, the probe pin 10 capable of connecting the conductor portion 200 of the electric wire by crimping can be realized.
- the inspection jig 1 even if one or both of the inspection device and the inspection object can be connected by the probe pin 10 only via the conductor portion 200 of the electric wire, The inspection jig 1 capable of connecting the inspection device and the inspection object can be realized.
- each accommodation portion 110 of the housing 100 is not limited to one and may be plural.
- a plurality of probe pins 10 are stacked in the plate thickness direction in a state of being in contact with each other,
- the probe pin laminated body 2 to which the conductor portion 200 is connected can be accommodated.
- the inspection jig 1 capable of flowing a large current as compared with the inspection jig 1 in which one probe pin 10 is housed and held. it can.
- the accommodating portions 110 are arranged side by side in the plate thickness direction (for example, the X direction) of the accommodated probe pins 10 and are connected in the Z direction.
- the parts 30 can be arranged in a zigzag pattern with alternating offsets.
- each housing 110 changes its shape, size, and arrangement according to the shape and size of the probe pin 10 housed therein, or the arrangement of the inspection device and the connection terminal of the inspection object. be able to.
- the inspection jig 1 may include at least one probe pin 10 and a housing 100 that accommodates the probe pin 10 therein.
- the probe pin 10 As shown in FIGS. 7 to 10, the probe pin 10 according to the second embodiment of the present disclosure is configured such that the connecting portion 30 has a soldering portion 35 to which the conductor portion 200 of the electric wire can be connected by soldering. It is different from the first embodiment in that.
- the same parts as those in the first embodiment will be designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. Differences from the first embodiment will be described.
- the inspection jig 1 includes a housing 100 having a substantially L-shaped cross section along the first direction (for example, the Y direction).
- the probe pins 10 accommodating 15 accommodating portions 110 are arranged in a line in the plate thickness direction at intervals.
- each probe pin 10 is composed of a plurality of elastic pieces (two elastic pieces in this embodiment) 25 and 26 arranged with a gap therebetween.
- each elastic piece 25, 26 is in the shape of an elongated strip and is adjacent to a plurality of extending portions extending in the Z direction (in the second embodiment, ten extending portions 28 as an example).
- a plurality of curved portions 27 in the second embodiment, nine curved portions 27 in the second embodiment, both ends of which are connected to the extending portion 28, have a meandering shape in which they are alternately connected in the Z direction. ing.
- each extending portion 28 at both ends in the Y direction of each elastic piece 25, 26 are connected to the main body portion 31 of the connecting portion 30 and the main body portion 41 of the contact portion 40, respectively.
- each extending portion 28 is arranged closer to the other end side than one end in the width direction of the main body 41 when viewed along the plate thickness direction of the probe pin 10.
- each extending portion 28 is arranged above the lower end in the Z direction in the width direction of the main body 41 in the Z direction when viewed along the plate thickness direction of the probe pin 10.
- each extending portion 28 extends in a substantially linear shape along a direction intersecting the first direction (for example, an orthogonal direction), and one end portion of the extending portion 201 in the extending direction is an elastic portion.
- the end portion of the extension portion 202 on the side of the contact portion 40 is formed, and the one end portion of the extension portion 202 in the extending direction forms the end portion of the elastic portion on the contact portion 40 side.
- the connecting portion 30 of each probe pin 10 includes a main body portion 31 extending in the Y direction and having one end in the Y direction connected to the elastic portion 20, and the other end portion of the main body portion 31 in the Y direction. And the connected soldering portion 35.
- the soldering portion 35 has a substantially rectangular ring shape when viewed from the plate thickness direction of the probe pin 10 (for example, the X direction).
- the soldering portion 35 of the connecting portion 30 of each probe pin 10 projects to the outside of the housing 100 via the first opening portion 111 of the housing portion 110.
- the contact portion 40 of each probe pin 10 includes a body portion 41 extending in the Y direction and having one end in the Y direction connected to the elastic portion 20, and the other end in the Y direction of the body portion 41. It has a pair of contact portions 421 and 431 protruding in the Y direction.
- the connecting portion 30 has the soldering portion 35 to which the conductor portion 200 of the electric wire can be connected by soldering.
- the soldering portion 35 can realize the probe pin 10 to which the conductor portion 200 of the electric wire can be connected by soldering.
- the soldering portion 35 is not limited to the second embodiment, and any configuration can be adopted as long as the conductor portion 200 of the electric wire can be connected by soldering.
- connection part 30 is not limited to the first embodiment and the second embodiment, and other configurations capable of connecting the conductor part 200 of the electric wire can be adopted.
- the probe pin 10 of the first aspect of the present disclosure is An elastic portion 20 that is elastically deformable along the first direction,
- the elastic portion 20 is provided at one end in the first direction and includes a connecting portion 30 to which the conductor portion 200 of the electric wire can be connected.
- the probe pin 10 of the first aspect capable of connecting the conductor portion 200 of the electric wire can be realized by the connecting portion 30.
- the probe pin 10 of the second aspect of the present disclosure is
- the connecting portion 30 extends along the first direction and has a pair of elastic holding pieces 32 and 33 that can elastically deform in a direction away from each other to hold the conductor portion 200.
- the probe pin 10 of the second aspect since the conductor portion 200 of the electric wire can be held by the pair of elastic holding pieces 32 and 33, the probe pin 10 capable of connecting the conductor portion 200 of the electric wire by crimping is realized. it can.
- the probe pin 10 of the third aspect of the present disclosure is
- the connection part 30 has a soldering part 35 to which the conductor part 200 can be connected by soldering.
- the soldering portion 35 can realize the probe pin 10 that can connect the conductor portion 200 of the electric wire by soldering.
- the inspection jig 1 is A probe pin 10 of the above aspect,
- the housing 100 has a housing 110 in which the probe pin 10 is housed so that the connection part 30 is exposed to the outside.
- the probe pin 10 is configured so that one or both of the inspection device and the inspection object can be connected only via the conductor portion 200 of the electric wire. Also, the inspection jig 1 capable of connecting the inspection device and the inspection object can be realized.
- the inspection jig 1 is The probe pin 10 is a probe pin laminated body 2 in which a plurality of the probe pins 10 are laminated in a plate thickness direction in a state of being in contact with each other and the conductor portion 200 of one electric wire is connected,
- the housing portion 110 can house the probe pin stack 2.
- the inspection jig 1 of the fifth aspect capable of passing a larger current than the inspection jig 1 in which one probe pin 10 is housed and held by the probe pin laminated body 2, for example. 1 can be obtained.
- the inspection jig 1 is The probe pin 10 is a plurality of the probe pins 10,
- the accommodating part 110 is a plurality of accommodating parts 110 capable of accommodating at least one probe pin 10 in each,
- Each of the accommodating portions 110 is arranged side by side in the plate thickness direction of the accommodated probe pins 10 with a space therebetween, and the second direction intersects with the plate thickness direction when viewed from the first direction.
- the connecting portions 30 are arranged in a zigzag pattern in which the connecting portions 30 are alternately displaced.
- the probe pin of the present disclosure can be applied to an inspection jig used for inspection of semiconductors such as a camera device, a USB device, or a QFN device and a SON device.
- the inspection jig of the present disclosure can be applied to, for example, an inspection apparatus used for inspecting a semiconductor such as a camera device, a USB device, or a QFN device and a SON device.
- an inspection apparatus used for inspecting a semiconductor such as a camera device, a USB device, or a QFN device and a SON device.
- Probe pin laminated body 10 Probe pin 20 Elastic part 201, 202 Extension part 203 Bending part 21, 22, 23, 24 Elastic piece 25, 26 Elastic piece 27 Bending part 28 Extension part 30 Connection part 31 Main body Part 32, 33 Elastic clamping piece 34 Gap 341 End part 35 Soldering part 36 Through hole 40 Contact part 41 Main body part 42, 43 Leg part 44 Stopper 50 Support part 100 Housing 101 First surface 102 Second surface 110 Storage part 111th 1 Opening 112 Second Opening 120 Terminal Hole 200 Conductor 300 Connection Terminal
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Abstract
プローブピンが、第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部と、弾性部の第1方向の一端に設けられ、電線の導体部を接続可能な接続部とを備える。
Description
本開示は、プローブピンおよび検査治具に関する。
電子部品モジュールでは、一般に、その製造工程において、導通検査および動作特性検査等が行われる。これらの検査は、プローブピンを用いて、電子部品モジュールに設置されている本体基板に接続するための端子と、検査装置の端子とを接続することにより行われる。
このようなプローブピンとしては、特許文献1に記載されたものがある。このプローブピンは、電子部品の電極端子および被接続電子部品の電極端子に対してそれぞれ接触可能な一対のコンタクトと、一対のコンタクト間に介在して一対のコンタクトを接続する蛇行部とを備えている。前記プローブピンでは、一対のコンタクトを結んだ配列方向に沿って蛇行部が伸縮し、各コンタクトがこの配列方向に沿って往復移動するように構成されている。
ところで、近年の検査装置および検査対象物の多様化に伴って、検査装置および検査対象物の中には、電線の導体部を介してプローブピンに接続するように構成されたものがある。
前記プローブピンは、各コンタクトが電磁部品の電極端子および被接続電子部品の電極端子に対して配列方向で接触することで、電磁部品と被接続電子部品とが接続されるように構成されている。このため、例えば、電磁部品および被接続電子部品の一方または両方が、電線の導体部を介さなければプローブピンに接続することができないように構成されていた場合、前記プローブピンを用いると、電磁部品と被接続電子部品と接続することができない場合がある。
本開示は、電線の導体部を接続可能なプローブピン、および、このプローブピンを備えた検査治具を提供することを目的とする。
本開示の一例のプローブピンは、
第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部と、
前記弾性部の前記第1方向の一端に設けられ、電線の導体部を接続可能な接続部と
を備える。
第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部と、
前記弾性部の前記第1方向の一端に設けられ、電線の導体部を接続可能な接続部と
を備える。
また、本開示の一例の検査治具は、
前記プローブピンと、
前記接続部が外部に露出するように前記プローブピンが収容された収容部を有するハウジングと
を備える。
前記プローブピンと、
前記接続部が外部に露出するように前記プローブピンが収容された収容部を有するハウジングと
を備える。
前記プローブピンによれば、第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部と、この弾性部の第1方向の一端に設けられて電線の導体部を接続可能な接続部とを備えている。この接続部により、電線の導体部を接続可能なプローブピンを実現できる。
前記検査治具によれば、前記プローブピンにより、検査装置および検査対象物の一方または両方が、電線の導体部を介さなければ接続することができないように構成されていたとしても、検査装置および検査対象物を接続可能な検査治具を実現できる。
以下、本開示の一例を添付図面に従って説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向あるいは位置を示す用語(例えば、「上」、「下」、「右」、「左」を含む用語)を用いるが、それらの用語の使用は図面を参照した本開示の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本開示の技術的範囲が限定されるものではない。また、以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本開示、その適用物、あるいは、その用途を制限することを意図するものではない。さらに、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは必ずしも合致していない。
(第1実施形態)
本開示の第1実施形態のプローブピン10は、例えば、図1および図2に示すように、ハウジング100に収容された状態で使用され、ハウジング100と共に検査治具1を構成する。この検査治具1には、一例として、細長い薄板状の導電性のプローブピン10が複数収容されている。
本開示の第1実施形態のプローブピン10は、例えば、図1および図2に示すように、ハウジング100に収容された状態で使用され、ハウジング100と共に検査治具1を構成する。この検査治具1には、一例として、細長い薄板状の導電性のプローブピン10が複数収容されている。
ハウジング100は、図1に示すように、一例として、略四角柱状を有している。このハウジング100の内部には、図2に示すように、後述するプローブピン10の接続部30がハウジング100の外部に露出した状態でプローブピン10を収容可能な収容部110が設けられている。各収容部110は、第1方向(例えば、Y方向)に沿って延びていると共に、収容されたプローブピン10の板厚方向(例えば、X方向)に間隔を空けて並んで配置されている。第1実施形態では、収容されたプローブピン10の板厚方向に並んで配置された4つの収容部110で構成された列が、4つの収容部110の列の配列方向に直交する方向(例えば、Z方向)に間隔を空けて2つ設けられている。
各収容部110の第1方向の両端部には、それぞれ第1開口部111および第2開口部112が設けられている。第1開口部111は、ハウジング100のY方向に相対する一対の面の一方である第1面101に開口している。この第1開口部111を介して、プローブピン10の接続部30がハウジング100の外部に露出している。
また、ハウジング100の内部には、Y方向における第1面101の反対側の第2面102からY方向に沿って延びる端子穴120が設けられている。この端子穴120の底面121には、第2開口部112が開口している。この第2開口部112を介して、後述するプローブピン10の接触部40が、端子穴120の内部に向かって突出して、例えば、端子穴120に挿入された検査装置の接続端子300(図4参照)に接触可能に配置されている。
各プローブピン10は、図3に示すように、板状で、Y方向(第1方向の一例)に沿って弾性変形可能な弾性部20と、この弾性部20のY方向の両端にそれぞれ設けられた接続部30および接触部40とを備えている。各プローブピンは、例えば、電鋳法で形成され、弾性部20、接続部30および接触部40が、Y方向に沿って直列的に配置されかつ一体に構成されている。
弾性部20は、図4に示すように、相互に隙間を空けて配置された複数の弾性片(第1実施形態では、4つの弾性片)21、22、23、24を有している。各弾性片21、22、23、24は、図4に示すように、細長い帯状で、接続部30および接触部40にそれぞれ接続された2つの延在部201、202と、2つの延在部201、202に接続された1つの湾曲部203とを有している。各延在部201、202は、一例として、接続部30の本体部31または接触部40の本体部41の幅方向(例えば、Z方向)の一方側に配置され、第1方向に交差する方向に沿って略直線状に延びている。また、延在部201のその延在方向の一端部が、弾性部20の接続部30側の端部を構成し、延在部202のその延在方向の一端部が、弾性部の接触部40側の端部を構成している。各弾性片21、22、23、24は、一例として、略同一の断面形状を有している。
接続部30は、図4に示すように、電線の導体部200を接続可能に構成されている。詳しくは、接続部30は、Y方向に延びる本体部31と、この本体部31のY方向の他端から第1方向(例えば、Y方向)に沿って延びて相互に離れる方向(例えば、Z方向)に弾性変形可能な一対の弾性挟持片32、33とを有している。本体部31は、Y方向の一端が弾性部20に接続されている。各弾性挟持片32、33は、第1方向に直交する第2方向(例えば、Z方向)に相互に隙間34を空けて配置されている。この隙間34に電線の導体部200を挿入することで、電線の導体部200が各弾性挟持片32、33によって挟持される。言い換えると、接続部30は、電線の導体部200を挟持可能な一対の弾性挟持片32、33を有している。
また、接続部30は、接続部30をその板厚方向に貫通する略C字状の貫通孔36を有している。隙間34の本体部31側の端部341は、板厚方向(例えば、X方向)から見て、略円形状を有している。この隙間34の本体部31側の端部341まわりに、貫通孔36が配置されている。この貫通孔36により、各弾性挟持片32、33のZ方向にける弾性変形を容易にしている。
接触部40は、図4に示すように、Y方向に延びると共にY方向の一端が弾性部20に接続された本体部41と、この本体部41のY方向の他端からY方向に延びて相互に離れる方向(例えば、Z方向)に撓み可能な一対の脚部42,43と、検査対象物の凸接点に接触可能に一対の脚部42,43の先端に配置された一対の接点部421,431とを有している。各脚部42,43の相互に対向する対向面には、ストッパ44がそれぞれ設けられている。各ストッパ44は、各脚部42,43の対向面から互いに接近する方向に突出している。このストッパ44により、例えば、検査装置の接続端子300の過剰挿入を防止することができる。
また、接続部30および接触部40には、それぞれ支持部50が設けられている。各支持部50は、本体部31、41からZ方向に延びており、図2に示すように、プローブピン10がハウジング100の収容部110に収容されたときに、収容部110の内周面に当接するように配置されている。言い換えると、各支持部50によって、プローブピン10が収容部110に保持される。
第1実施形態のプローブピン10によれば、Y方向に沿って弾性変形可能な弾性部20と、この弾性部20のY方向の一端に設けられて電線の導体部200を接続可能な接続部30とを備えている。この接続部30により、電線の導体部200を接続可能なプローブピン10を実現できる。
第1実施形態では、接続部30は、Y方向に沿って延びると共に、相互に離れる方向に弾性変形して電線の導体部200を挟持可能な一対の弾性挟持片32、33を有している。一対の弾性挟持片32、33により、電線の導体部200を挟持することができるので、電線の導体部200を圧着により接続可能なプローブピン10を実現できる。
また、検査治具1によれば、プローブピン10により、検査装置および検査対象物の一方または両方が、電線の導体部200を介さなければ接続することができないように構成されていたとしても、検査装置および検査対象物を接続可能な検査治具1を実現できる。
なお、ハウジング100の各収容部110に収容されるプローブピン10は、1つに限らず、複数であってもよい。例えば、図5に示すように、各収容部110には、複数のプローブピン10(図5では、3つのプローブピン10)が相互に接触した状態で板厚方向に積層され、1つの電線の導体部200が接続されるプローブピン積層体2を収容することができる。このように、プローブピン積層体2を用いることで、例えば、1つのプローブピン10が収容保持された検査治具1と比較して、大きな電流を流すことができる検査治具1を得ることができる。
また、図6に示すように、各収容部110は、例えば、収容されたプローブピン10の板厚方向(例えば、X方向)に間隔を空けて並んで配置されていると共に、Z方向に接続部30が交互にずれた千鳥状に配置することができる。このように、各収容部110は、収容されるプローブピン10の形状および大きさ、あるいは、検査装置および検査対象物の接続端子の配置などに応じて、その形状、大きさおよび配置を変更することができる。
検査治具1は、少なくとも1つのプローブピン10と、このプローブピン10を内部に収容するハウジング100とを備えていればよい。
(第2実施形態)
本開示の第2実施形態のプローブピン10は、図7~図10に示すように、接続部30が、半田付けにより電線の導体部200を接続可能な半田付け部35を有するように構成されている点で、第1実施形態とは異なっている。第2実施形態では、第1実施形態と同一部分に同一参照番号を付して説明を省略し、第1実施形態と異なる点について説明する。
本開示の第2実施形態のプローブピン10は、図7~図10に示すように、接続部30が、半田付けにより電線の導体部200を接続可能な半田付け部35を有するように構成されている点で、第1実施形態とは異なっている。第2実施形態では、第1実施形態と同一部分に同一参照番号を付して説明を省略し、第1実施形態と異なる点について説明する。
図7および図8に示すように、第2実施形態では、検査治具1は、第1方向(例えば、Y方向)沿いの断面が略L字状のハウジング100を備えている。このハウジング100には、15個の収容部110が収容されたプローブピン10の板厚方向に間隔を空けて一列に並んで配置されている。
各プローブピン10の弾性部20は、図10に示すように、相互に隙間を空けて配置された複数の弾性片(この実施形態では、2つの弾性片)25、26で構成されている。各弾性片25、26は、図10に示すように、細長い帯状で、Z方向に延びる複数の延在部(第2実施形態では、一例として、10個の延在部28)と、隣接する延在部28に両端が接続された複数の湾曲部27(第2実施形態では、一例として、9個の湾曲部27)とが、Z方向に沿って交互に接続された蛇行形状を有している。各弾性片25、26のY方向の両端の延在部部28が、接続部30の本体部31および接触部40の本体部41にそれぞれ接続されている。各延在部28は、一例として、プローブピン10の板厚方向に沿って見たときに、本体部41の幅方向の一方端よりも他方端側に配置されている。言い換えると、各延在部28は、プローブピン10の板厚方向に沿って見たときに、本体部41の幅方向におけるZ方向の下側の端よりも、Z方向の上側に配置されている。また、各延在部28は、第1方向に交差する方向(例えば、直交する方向)に沿って略直線状に延びており、延在部201のその延在方向の一端部が、弾性部20の接続部30側の端部を構成し、延在部202のその延在方向の一端部が、弾性部の接触部40側の端部を構成している。
各プローブピン10の接続部30は、図10に示すように、Y方向に延びると共にY方向の一端が弾性部20に接続された本体部31と、この本体部31のY方向の他端に接続された半田付け部35とを有している。この半田付け部35は、プローブピン10の板厚方向(例えば、X方向)から見て、略四角環状を有している。第2実施形態では、図8に示すように、各プローブピン10の接続部30は、半田付け部35が、収容部110の第1開口部111を介してハウジング100の外部に突出している。
各プローブピン10の接触部40は、図10に示すように、Y方向に延びると共にY方向の一端が弾性部20に接続された本体部41と、この本体部41のY方向の他端からY方向に突出する一対の接点部421,431とを有している。
第2実施形態のプローブピン10によれば、接続部30が、半田付けにより電線の導体部200を接続可能な半田付け部35を有している。この半田付け部35により、電線の導体部200を半田付けにより接続可能なプローブピン10を実現できる。
なお、半田付け部35は、第2実施形態に限らず、半田付けにより電線の導体部200を接続可能であれば、任意の構成を採用できる。
接続部30は、第1実施形態および第2実施形態に限らず、電線の導体部200を接続可能な他の構成を採用することもできる。
以上、図面を参照して本開示における種々の実施形態を詳細に説明したが、最後に、本開示の種々の態様について説明する。なお、以下の説明では、一例として、参照符号も添えて記載する。
本開示の第1態様のプローブピン10は、
第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部20と、
前記弾性部20の前記第1方向の一端に設けられ、電線の導体部200を接続可能な接続部30と
を備える。
第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部20と、
前記弾性部20の前記第1方向の一端に設けられ、電線の導体部200を接続可能な接続部30と
を備える。
第1態様のプローブピン10によれば、接続部30により、電線の導体部200を接続可能なプローブピン10を実現できる。
本開示の第2態様のプローブピン10は、
前記接続部30が、前記第1方向に沿って延びると共に、相互に離れる方向に弾性変形して前記導体部200を挟持可能な一対の弾性挟持片32、33を有している。
前記接続部30が、前記第1方向に沿って延びると共に、相互に離れる方向に弾性変形して前記導体部200を挟持可能な一対の弾性挟持片32、33を有している。
第2態様のプローブピン10によれば、一対の弾性挟持片32、33により、電線の導体部200を挟持することができるので、電線の導体部200を圧着により接続可能なプローブピン10を実現できる。
本開示の第3態様のプローブピン10は、
前記接続部30が、半田付けにより前記導体部200を接続可能な半田付け部35を有している。
前記接続部30が、半田付けにより前記導体部200を接続可能な半田付け部35を有している。
第3態様のプローブピン10によれば、半田付け部35により、電線の導体部200を半田付けにより接続可能なプローブピン10を実現できる。
本開示の第4態様の検査治具1は、
前記態様のプローブピン10と、
前記接続部30が外部に露出するように前記プローブピン10が収容された収容部110を有するハウジング100と
を備える。
前記態様のプローブピン10と、
前記接続部30が外部に露出するように前記プローブピン10が収容された収容部110を有するハウジング100と
を備える。
第4態様の検査治具1によれば、プローブピン10により、検査装置および検査対象物の一方または両方が、電線の導体部200を介さなければ接続することができないように構成されていたとしても、検査装置および検査対象物を接続可能な検査治具1を実現できる。
本開示の第5態様の検査治具1は、
前記プローブピン10が、複数の前記プローブピン10が相互に接触した状態で板厚方向に積層され、1つの前記電線の前記導体部200が接続されるプローブピン積層体2であり、
前記収容部110が、前記プローブピン積層体2を収容可能である。
前記プローブピン10が、複数の前記プローブピン10が相互に接触した状態で板厚方向に積層され、1つの前記電線の前記導体部200が接続されるプローブピン積層体2であり、
前記収容部110が、前記プローブピン積層体2を収容可能である。
第5態様の検査治具1によれば、プローブピン積層体2により、例えば、1つのプローブピン10が収容保持された検査治具1と比較して、大きな電流を流すことができる検査治具1を得ることができる。
本開示の第6態様の検査治具1は、
前記プローブピン10が、複数の前記プローブピン10であり、
前記収容部110が、各々に前記プローブピン10を少なくとも1つ収容可能な複数の前記収容部110であり、
前記収容部110の各々が、収容された前記プローブピン10の板厚方向に間隔を空けて並んで配置されていると共に、前記第1方向から見て、前記板厚方向に交差する第2方向に前記接続部30が交互にずれた千鳥状に配置されている。
前記プローブピン10が、複数の前記プローブピン10であり、
前記収容部110が、各々に前記プローブピン10を少なくとも1つ収容可能な複数の前記収容部110であり、
前記収容部110の各々が、収容された前記プローブピン10の板厚方向に間隔を空けて並んで配置されていると共に、前記第1方向から見て、前記板厚方向に交差する第2方向に前記接続部30が交互にずれた千鳥状に配置されている。
なお、前記様々な実施形態または変形例のうちの任意の実施形態または変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。また、実施形態同士の組み合わせまたは実施例同士の組み合わせまたは実施形態と実施例との組み合わせが可能であると共に、異なる実施形態または実施例の中の特徴同士の組み合わせも可能である。
本開示は、添付図面を参照しながら好ましい実施形態に関連して充分に記載されているが、この技術の熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した請求の範囲による本開示の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。
本開示のプローブピンは、例えば、カメラデバイス、USBデバイス、あるいは、QFNデバイスおよびSONデバイスなどの半導体の検査に用いる検査治具に適用できる。
本開示の検査治具は、例えば、カメラデバイス、USBデバイス、あるいは、QFNデバイスおよびSONデバイスなどの半導体の検査に用いる検査装置に適用できる。
1 検査治具
2 プローブピン積層体
10 プローブピン
20 弾性部
201、202 延在部
203 湾曲部
21、22、23、24 弾性片
25、26 弾性片
27 湾曲部
28 延在部
30 接続部
31 本体部
32、33 弾性挟持片
34 隙間
341 端部
35 半田付け部
36 貫通孔
40 接触部
41 本体部
42、43 脚部
44 ストッパ
50 支持部
100 ハウジング
101 第1面
102 第2面
110 収容部
111 第1開口部
112 第2開口部
120 端子穴
200 導体部
300 接続端子
2 プローブピン積層体
10 プローブピン
20 弾性部
201、202 延在部
203 湾曲部
21、22、23、24 弾性片
25、26 弾性片
27 湾曲部
28 延在部
30 接続部
31 本体部
32、33 弾性挟持片
34 隙間
341 端部
35 半田付け部
36 貫通孔
40 接触部
41 本体部
42、43 脚部
44 ストッパ
50 支持部
100 ハウジング
101 第1面
102 第2面
110 収容部
111 第1開口部
112 第2開口部
120 端子穴
200 導体部
300 接続端子
Claims (6)
- 第1方向に沿って弾性変形可能な弾性部と、
前記弾性部の前記第1方向の一端に設けられ、電線の導体部を接続可能な接続部と
を備える、板状のプローブピン。 - 前記接続部が、前記第1方向に沿って延びると共に、相互に離れる方向に弾性変形して前記導体部を挟持可能な一対の弾性挟持片を有している、請求項1のプローブピン。
- 前記接続部が、半田付けにより前記導体部を接続可能な半田付け部を有している、請求項1のプローブピン。
- 請求項1から3のいずれか1つのプローブピンと、
前記接続部が外部に露出するように前記プローブピンが収容された収容部を有するハウジングと
を備える、検査治具。 - 前記プローブピンが、複数の前記プローブピンが相互に接触した状態で板厚方向に積層され、1つの前記電線の前記導体部が接続されるプローブピン積層体であり、
前記収容部が、前記プローブピン積層体を収容可能である、請求項4の検査治具。 - 前記プローブピンが、複数の前記プローブピンであり、
前記収容部が、各々に前記プローブピンを少なくとも1つ収容可能な複数の前記収容部であり、
前記収容部の各々が、収容された前記プローブピンの板厚方向に間隔を空けて並んで配置されていると共に、前記第1方向から見て、前記板厚方向に交差する第2方向に前記接続部が交互にずれた千鳥状に配置されている、請求項4または5の検査治具。
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