WO2019035306A1 - 植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム及び植物生育指標算出システム - Google Patents

植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム及び植物生育指標算出システム Download PDF

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WO2019035306A1
WO2019035306A1 PCT/JP2018/026850 JP2018026850W WO2019035306A1 WO 2019035306 A1 WO2019035306 A1 WO 2019035306A1 JP 2018026850 W JP2018026850 W JP 2018026850W WO 2019035306 A1 WO2019035306 A1 WO 2019035306A1
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WO
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sunlight
light intensity
plant growth
reflected light
growth index
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PCT/JP2018/026850
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English (en)
French (fr)
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義朗 平原
片桐 哲也
Original Assignee
コニカミノルタ株式会社
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    • AHUMAN NECESSITIES
    • A01AGRICULTURE; FORESTRY; ANIMAL HUSBANDRY; HUNTING; TRAPPING; FISHING
    • A01GHORTICULTURE; CULTIVATION OF VEGETABLES, FLOWERS, RICE, FRUIT, VINES, HOPS OR SEAWEED; FORESTRY; WATERING
    • A01G7/00Botany in general
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration

Definitions

  • the present invention relates to a plant growth index calculation method, a plant growth index calculation program, and a plant growth index calculation system, and in particular, a plant growth index for calculating a plant growth index using light intensity information of sunlight and correction information on plants and fields.
  • the present invention relates to an index calculation method, a plant growth index calculation program, and a plant growth index calculation system.
  • Patent Document 1 discloses an apparatus for optically measuring the degree of plant growth.
  • This plant growth measuring apparatus causes the sunlight reflected by the plant to be incident and spectrally split, and the first light receiving unit for measuring the reflection intensity of light of two or more specific wavelengths to directly enter the sunlight.
  • a second light receiving portion that splits the light into the same wavelength as the first light receiving portion and measures the light receiving intensity as the reference light, and the reflection intensity of the specific wavelength detected by the first light receiving portion Corrected based on the received light intensity of the reference light detected by the light receiving part of the plant, and measured the leaf color (SPAD value) of the measured plant, plant height, dry weight, (plant height ⁇ number of stems), ⁇ plant height ⁇ based on the corrected reflection intensity
  • a computing unit for obtaining at least one of leaf color (SPAD value) and ⁇ plant height ⁇ number of stems ⁇ leaf color (SPAD value) ⁇ .
  • the measuring device disclosed in Patent Document 1 determines the incident light intensity of sunlight incident on a plant and the reflected light intensity of sunlight reflected by the plant, and estimates the growth state of the plant from the reflected light intensity to the incident light intensity.
  • the calculation accuracy of the plant growth index can be enhanced by utilizing reflected light of light of two or more specific wavelengths such as visible light and infrared light.
  • the growth state of a plant can be estimated from the reflected light intensity with respect to the incident light intensity, but it is known that the characteristic of the reflected light differs depending on the incident light, that is, the component of sunlight.
  • the components of this sunlight are the direct achievement and the scattering component, and in particular, the direct achievement greatly affects the specular reflection component, so it is assumed that the growth state is estimated using the incident light intensity in which the direct achievement and the scattering component are mixed. , The estimation accuracy may be reduced.
  • the ratio of the direct achievement and the scattering component changes depending on the degree of the cloud, so the growing condition is determined using the incident light intensity where the direct achievement and the scattering component are mixed. If estimated, the estimation accuracy may be reduced.
  • the measuring device disclosed in Patent Document 1 separates sunlight and acquires a spectrum, but the reflection intensity of light of each specific wavelength is a combination of a direct achievement component and a scattering component. Data, it is impossible to suppress the decrease in the estimation accuracy of the growth state. Moreover, in this method, the ratio of the directly achieved component to the weather change and the scattered component can not be obtained, and therefore, it is not possible to suppress the decrease in the estimation accuracy of the growth state.
  • an apparatus for separating the directly achieved component and the scattered component is also marketed (for example, the Routing Shadow Blade PRB-100 of Preed Co., Ltd.).
  • This device is equipped with a shielding blade, and by intermittently driving the shielding blade in a state of being inclined according to the latitude of the installation position, it is possible to simultaneously measure total solar radiation and scattered solar radiation.
  • this device uses a full solar radiation meter, a wide-angle lens must be used. Therefore, it is necessary to correct information which changes according to the characteristics of the lens periphery, which complicates the processing.
  • the device since the device is basically always installed for the purpose of use, it is necessary to accurately obtain the latitude and longitude after the installation of the device and to calculate the control position of the light shielding blade. Therefore, calibration is required every time the installation position of the apparatus is changed, and the operation becomes complicated.
  • the main purpose is the plant growth index calculation method which can calculate appropriately the plant growth index showing the degree of growth in a plant, plant growth index calculation It is providing a program and a plant growth index calculation system.
  • One aspect of the present invention is a control device, a reflected light measurement device that measures the reflected light intensity of a measurement object having a plurality of leaves based on an instruction of the control device, and a sun based on the instruction of the control device
  • a method for calculating a plant growth index in a system including a solar light measurement device for measuring light intensity of light, wherein the reflected light measurement device measures the first wavelength and the second wavelength different from the first wavelength.
  • a first process of measuring the reflected light intensity of the object a second process of measuring the light intensity of the sunlight at a fourth wavelength different from the third wavelength and the third wavelength;
  • the control device represents the degree of growth in the measurement object using the reflected light intensity information of the measurement object acquired from the reflected light measurement device and the light intensity information of the sunlight acquired from the sunlight measurement device.
  • the plant growth index is calculated by correcting the intensity information.
  • One aspect of the present invention is a control device, a reflected light measurement device that measures the reflected light intensity of a measurement object having a plurality of leaves based on an instruction of the control device, and a sun based on the instruction of the control device
  • a first process of acquiring reflected light intensity information of the object to be measured measured at a second wavelength different from one wavelength, measured at a fourth wavelength different from the third wavelength and the third wavelength from the solar light measuring device The second process of acquiring the light intensity information of the sunlight, the plant growth index indicating the degree of growth in the measurement object is calculated using the reflected light intensity information of the measurement object and the light intensity information of the sunlight
  • Third process And in the third processing, the reflected light intensity information of the measurement object is corrected based on the light intensity information of the sunlight, the correction object related to at least one of
  • a plant growth index calculation system comprising: a sunlight measurement device that measures light intensity of light, wherein the reflected light measurement device is a measurement target of a first wavelength and a second wavelength different from the first wavelength.
  • the reflected light intensity can be measured, and the sunlight measuring device can measure the light intensity of the sunlight at a third wavelength and a fourth wavelength different from the third wavelength, and the control device can measure the reflected light.
  • a plant growth index indicating the degree of growth in the measurement object is calculated.
  • An arithmetic unit The part corrects the reflected light intensity information of the measuring object based on the light intensity information of the sunlight, the correction information on at least one of the measuring object and the field where the measuring object is grown, and the plant growth index Calculate
  • the plant growth index calculation method it is possible to appropriately calculate a plant growth index that indicates the degree of growth in plants.
  • the control device the reflected light measurement device which measures the reflected light intensity of the measuring object having a plurality of leaves based on the instruction of the control device, and the light intensity of the sunlight based on the instruction of the control device It is because the following processes are performed in the system containing a sunlight measuring device. That is, the first process in which the reflected light measuring device measures the reflected light intensity of the measuring object at the first wavelength and the second wavelength, and the sunlight measuring device measures the light intensity of the sunlight at the third wavelength and the fourth wavelength.
  • the incident light intensity of the sunlight incident on the plant and the reflected light intensity of the sunlight reflected by the plant can be determined, and the growth state of the plant can be estimated from the reflected light intensity with respect to the incident light intensity.
  • the calculation accuracy of the plant growth index can be enhanced by utilizing reflected light of light of two or more specific wavelengths such as light and infrared light.
  • the above method is based on the case of growing a plant having general characteristics in a field having general characteristics, it varies in the fields of various characteristics (for example, the state of the soil, the ratio of the water surface).
  • various characteristics for example, variety, planting interval, planting depth, plant coverage
  • the reflected light intensity in a plant changes depending on the physical characteristics specific to the plant variety, the plant variety is not considered in calculating the plant growth index.
  • the density of plants increases and the reflected light intensity in plants also increases as the growth progresses, however, when calculating the plant growth index , Planting condition of the plant is not considered.
  • the thickness of the strain and the amount of leaves increase, and the area ratio of leaves to soil (plant coverage rate) increases and the reflected light intensity in plants also increases, but calculation of plant growth index At that time, changes in vegetation coverage were not taken into consideration.
  • the reflected light intensity to be measured is not only the reflection component of light that sunlight directly enters the plant, but also the reflection component on the soil or water surface, or the component of light reflected on the soil or water surface and incident on the plant. Therefore, correction is required to increase the calculation accuracy of the plant growth index.
  • sunlight contains a direct achievement component and a scattering component
  • the estimation accuracy of the growth state fluctuates depending on the component of sunlight.
  • the directly achieved component greatly affects the specular reflection component, and there is a possibility that the estimation accuracy of the growth state may be lowered by the fluctuation of the reflected light intensity.
  • the ratio between the directly achieved component and the scattering component also changes, which may lower the estimation accuracy of the growth state.
  • the measuring device disclosed in Patent Document 1 makes sunlight reflected by plants incident and spectrally separates, measures reflection intensity of light of two or more specific wavelengths, and directly converts sunlight into sunlight. It is incident and spectrally separated, its received light intensity is measured as the reference light, the reflection intensity of the specific wavelength is corrected based on the received light intensity of the reference light, and the plant growth rate is determined based on the corrected reflection intensity.
  • the sunlight spectrum acquired by this method is data in which the directly achieved component and the scattered component are combined, it is not possible to suppress the decrease in the estimation accuracy of the growth state.
  • the ratio of the directly achieved component to the weather change and the scattered component can not be obtained, it is not possible to suppress a decrease in the estimation accuracy of the growth state.
  • a device for example, a measuring device whose side view and plan view are shown in FIGS. 15A and 15B
  • a device that separates the directly achieved component and the scattering component by intermittently driving the shielding blade
  • a device for example, a measuring device whose side view and plan view are shown in FIGS. 15A and 15B
  • a device that separates the directly achieved component and the scattering component by intermittently driving the shielding blade
  • an actinometer it is necessary to use a wide-angle lens, and it is necessary to correct information that changes according to the characteristics of the lens periphery, which complicates processing.
  • the latitude and longitude must be accurately determined to calculate the control position of the light shielding blade, and calibration is required each time the installation position of the device is changed, which makes the operation complicated.
  • a control device a reflected light measurement device that measures the reflected light intensity of a measurement object having a plurality of leaves based on an instruction of the control device, and an instruction of the control device.
  • the reflected light measurement device measures the reflected light intensity of the measuring object at a first wavelength and a second wavelength different from the first wavelength.
  • the sunlight measuring device measures the light intensity of the sunlight at the fourth wavelength different from the third wavelength and the third wavelength
  • the control device determines the reflected light intensity information of the measuring object obtained from the reflected light measuring device and the sun
  • a plant growth index representing the degree of growth in a measurement object using light intensity information of sunlight obtained from a light measurement device, a field where the light intensity information of sunlight, the measurement object and the measurement object grow About at least one of Based on the correction information, to correct the reflected light intensity information of the measurement object, it calculates a plant growth index.
  • the control device when calculating a plant growth index, separates the light intensity information of sunlight into a direct achievement component and a scattering component, and based on the direct achievement component and the scattering component, the reflected light intensity information of the measuring object Is corrected to calculate a plant growth index that indicates the degree of growth in the measurement target.
  • a scattering reflection plate (preferably having ideal Lambertian reflection characteristics) for scattering and reflecting the incident sunlight into the sunlight measuring device (a light receiving reflector installed at a predetermined position with respect to the scattering reflection plate) And a light shielding portion capable of shielding sunlight incident on the scattering reflection plate, and the sunlight measuring apparatus is configured in a state where the sunlight incident on the scattering reflection plate is shielded by the light shielding portion
  • the light amount QA of the sunlight incident on the light receiving portion and the light amount QB of the sunlight incident on the light receiving portion in a state where the sunlight incident on the scattering reflection plate is not blocked by the light shielding portion are measured.
  • the control device sets the light quantity QA as the scattering component of the light quantity incident on the light receiving part of sunlight, and directly achieves the light quantity QC obtained by subtracting the light quantity QA from the light quantity QB entering the light receiving part of sunlight Set to Then, when calculating the plant growth index, the control device corrects the reflected light intensity based on the direct achievement and the scattering component.
  • the control device may calculate the degree of diffusion based on the direct achievement and the scattering component when calculating the plant growth index, and the control device may calculate the longitude and latitude of the installation position of the sunlight measurement device.
  • the sun height is calculated based on the date and time information when the sun light measuring device measured the light intensity of the sun light, and the reflected light intensity information of the measurement object, the directly achieved part of the sun light and the scattered component, or the diffusivity
  • the plant growth index may be calculated on the basis of and the sun height.
  • the information depending on the direct achievement component is calculated using the direct achievement component to calculate the plant growth index. It is possible to judge the influence of sunlight in the simple and appropriate manner.
  • correction information on at least one of the measurement target and the field where the measurement target is grown is created in advance, and the control device calculates the plant growth index based on the correction information when calculating the plant growth index.
  • the reflected light intensity information of is corrected to calculate a plant growth index that represents the degree of growth in the measurement object.
  • the correction information includes, for example, variety information indicating the reflected light intensity according to the variety of the plant, planting information indicating the reflected light intensity according to at least one of the planting interval and planting depth of the plant, and the soil of the field.
  • the reflected light intensity is obtained in advance when each element is changed such as plant variety, planting interval, planting depth, plant coverage, soil condition, water surface ratio, and correction information is created. deep.
  • the reflected light intensity of each product is measured and stored by an experiment using a plurality of samples of different products, or the experiment using a plurality of samples of planting intervals and planting depths Measuring and storing the reflected light intensity at the planting interval of the planting depth and the planting depth, or measuring and storing the reflected light intensity in each soil state by an experiment using a plurality of soil samples, etc.
  • the reflected light intensity at each water surface ratio is measured and stored, for example, by an experiment using a plurality of water surface ratio samples.
  • the reflected light measurement device measures the reflected light intensity of the measurement target (reflected light intensity of the two wavelengths of the first wavelength and the second wavelength), and the sunlight measurement device measures the light intensity of the sunlight (third wavelength and the third wavelength
  • the light intensity of two wavelengths of four wavelengths is measured, and the control device uses the reflected light intensity information of the measuring object obtained from the reflected light measuring device and the light intensity information of sunlight obtained from the sunlight measuring device, A plant growth index that represents the degree of growth in the measurement target is calculated.
  • the control device corrects the reflected light intensity of the measurement target based on the correction information stored in advance to calculate a plant growth index.
  • the reflected light intensity corresponding to at least one of the measurement object and the field in the correction information corresponds to a predetermined reference with respect to at least one of the above elements.
  • a correction amount for matching with the reflected light intensity to be calculated is calculated, and the reflected light intensity of the measuring object is corrected using the calculated correction amount to calculate a plant growth index.
  • FIGS. 1 to 7 are schematic diagrams showing an example of the plant growth index calculation system of the present embodiment
  • FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the plant growth index calculation system of the present embodiment
  • FIG. 6A, 6B and 6C are three side views (a front view, a side view, and a plan view) showing the configuration of the solar light measurement device of the present embodiment
  • FIG. 7 is a flowchart showing the operation (growth index calculation processing) of the control unit of this embodiment.
  • the plant growth index calculation system 10 of this example is a reflection that measures the light intensity of the reflected light of the measuring object having a plurality of leaves at a second wavelength different from the first wavelength and the first wavelength.
  • a flying object such as a remote-controlled or autonomous multicopter or unmanned aerial vehicle (so-called drone) Ru.
  • the plant growth index calculation system 10 includes a reflected light measurement unit 20 (corresponding to the reflected light measurement device 11 in FIG. 1), a GPS (Global Positioning System) unit 21 and An azimuth meter 22, an inclinometer 23, a sunlight measurement unit 30 (corresponding to the sunlight measurement device 12 in FIG. 1), a control unit 40 (corresponding to the control unit 13 in FIG. 1), a storage unit 50, A clock unit 60, an I / F unit 70, a power supply unit 80 and the like are included.
  • FIG. 1 illustrates a system in which the reflected light measurement device 11, the sunlight measurement device 12, and the control device 13 are integrally configured and mounted on an airborne flight vehicle, the plant growth index calculation system 10, the reflected light measurement device 11 and the solar light measurement device 12 are separately configured, the reflected light measurement device 11 is mounted on an aerial capable flight object, and the sunlight measurement device 12 is installed on the ground It is good also as a system mounted in.
  • the reflected light measurement device 11 and the sunlight measurement device 12 may be mounted on a flying object, and the control device 13 may be configured as an independent device.
  • the reflected light measurement device 11 measures the light intensity of the reflected light to be measured based on the instruction of the control device 13 and the solar light measurement device 12 measures the sun based on the instruction of the control device 13.
  • the light intensity of the light is measured, and the control device 13 acquires the reflected light intensity information of the measurement object from the reflected light measurement device 11, and acquires the sunlight intensity information from the sunlight measurement device 12, and performs measurement using these Calculate the target plant growth index.
  • the plant growth index calculation system 10 may be a system in which the reflected light measurement device 11, the sunlight measurement device 12, and the control device 13 are configured as separate devices.
  • the reflected light measurement device 11 is mounted on the flying object, the light intensity of the reflected light to be measured is measured based on the instruction of the control device 13, and the sunlight measurement device 12 is installed on the ground.
  • the light intensity of the sunlight is measured based on the instruction of the control device 13 (preferably, measurement is performed so that the sunlight can be separated into the directly achieved component and the scattering component).
  • the control apparatus 13 acquires sunlight intensity information from the solar light measuring device 12, and uses these for the plant growth index of a measuring object. calculate.
  • the reflected light measurement device 11 has the functions of a reflected light measurement unit 20, a GPS unit 21, an azimuth meter 22, an inclinometer 23, an I / F unit 70, and a power supply unit 80.
  • the measuring device 12 may have the functions of a sunlight measurement unit 30, an I / F unit 70, and a power supply unit 80 shown in FIG.
  • the control device 13 may be a computer device having the functions of the control unit 40, the clock unit 60, the storage unit 50, the I / F unit 70, and the power supply unit 80 shown in FIG.
  • the reflected light measurement unit 20 is connected to the control unit 40, and is a device that measures the light intensity of the reflected light of the measurement target at different first and second wavelengths under the control of the control unit 40, and the measurement results are It is output to the control unit 40 as reflected light intensity information.
  • the first wavelength and the second wavelength can be appropriately set according to the desired plant growth index, and for example, in the case of obtaining an NDVI (Normalized Difference Vegetation Index) value, the wavelength of visible light near 650 nm and 750 nm or more The wavelength of infrared light can be used.
  • NDVI Normalized Difference Vegetation Index
  • the reflected light measurement unit 20 includes a first visible imaging unit that generates an image of visible light (visible image), and a first infrared imaging unit that generates an image of infrared light (infrared image). , And outputs image data of visible light and image data of infrared light to the control unit 40 as reflected light intensity information.
  • the first visible imaging unit is a so-called visible camera or the like, for example, a first band pass filter transmitting light in a relatively narrow band having a central wavelength of 650 nm, a visible light to be measured which has passed through the first band pass filter.
  • a first imaging optical system for forming an optical image of light on a predetermined imaging surface, a light receiving surface being disposed to coincide with the first imaging surface, and an optical image of visible light to be measured being electrically
  • a first image sensor that converts signals into signals
  • a first digital signal processor (DSP) that performs known image processing on the output of the first image sensor to generate first image data Rv of visible light, etc.
  • the image data Rv is output to the control unit 40.
  • the second infrared imaging unit is a so-called infrared camera or the like, and for example, transmits a second band pass filter and a second band pass filter that transmit light in a relatively narrow band having a central wavelength of 800 nm.
  • a second imaging optical system for forming an optical image of infrared light to be measured on a predetermined imaging surface, a light receiving surface being disposed to coincide with the second imaging surface, and infrared light of the measurement target
  • the second image sensor that converts an optical image into an electrical signal
  • the second DSP that generates the second image data Ri of infrared light by applying known image processing to the output of the second image sensor, etc.
  • the second image data Ri is output to the control unit 40.
  • the reflected light measurement unit 20 includes the first visible imaging unit and the first infrared imaging unit.
  • the reflected light measurement unit 20 is configured to receive red light, R pixels, and green light.
  • Image sensor RGB Ir image sensor
  • RGB Ir image sensor RGB Ir image sensor
  • IR pixels IR pixels to receive infrared light are arranged in 2 rows and 2 columns
  • white light is received
  • Image sensor WYRIr image sensor
  • W pixels, Y pixels that receive yellow light, R pixels that receive red light, and IR pixels that receive infrared light are arranged in 2 rows and 2 columns It is good also as composition provided with one imaging part.
  • the reflected light measurement unit 20 may be configured to include a spectroscope.
  • the GPS unit 21 is connected to the control unit 40, and the satellite positioning system for measuring the current position on the earth according to the control of the control unit 40 determines the position of the plant growth index calculation system 10 (see FIGS. 2 and 3). In the case of the configuration, it is a device that measures the position of the reflected light measurement device 11, and outputs the positioning result (latitude X, longitude Y, height Z) to the control unit 40.
  • the GPS unit 21 may be a GPS having a correction function of correcting an error such as DGSP (Differential GSP).
  • An azimuth meter (compass) 22 is connected to the control unit 40, and according to the control of the control unit 40, measures the orientation based on geomagnetism etc., thereby determining the orientation of the measurement direction of the plant growth index calculation system 10 (FIG.
  • the azimuth of the measurement direction of the reflected light measurement device 11 is measured, and the measured azimuth ⁇ C is output to the control unit 40.
  • the azimuth CC is represented as 0 degree in the north, 90 degrees in the east, 180 degrees in the south, and 270 degrees in the west.
  • the inclinometer 23 is connected to the control unit 40, and measures the inclination according to the control of the control unit 40 to measure the angle of the measurement direction of the plant growth index calculation system 10 (in the case of the configuration of FIG. 2 and FIG. It is a device that measures the angle of the measurement direction of the light measurement device 11, and outputs the measured angle ⁇ to the control unit 40.
  • the sunlight measurement unit 30 is connected to the control unit 40, and is a device that measures the light intensity of sunlight at the third and fourth wavelengths different from each other according to the control of the control unit 40.
  • the light intensity information is output to the control unit 40.
  • the third and fourth wavelengths can be appropriately set according to the plant growth index to be determined, but in the present embodiment, the third wavelength is the first wavelength described above, and the fourth wavelength is the second wavelength described above. There is.
  • the sunlight measurement unit 30 has a second visible imaging unit having the same configuration as the first visible imaging unit of the reflected light measurement unit 20 and a second infrared imaging unit having the same configuration as the first infrared imaging unit of the reflected light measurement unit 20.
  • a two-infrared imaging unit and outputs image data of visible light and image data of infrared light to the control unit 40 as light intensity information of sunlight.
  • the second visible imaging unit generates third image data Sv of visible light and outputs the third image data Sv to the control unit 40
  • the second infrared imaging unit generates fourth image data Si of infrared light. Output to the control unit 40.
  • FIG. 5 is a perspective view showing an appearance configuration of the sunlight measurement unit 30, and FIGS. 6A, 6B, and 6C are three views (a front view, a side view, a plan view) showing the configuration of the sunlight measurement unit 30. As shown in FIG. 5 and FIGS.
  • the sunlight measurement unit 30 of the present embodiment scatters and reflects the incident sunlight (preferably, it has an ideal Lambertian reflection characteristic) and a scattering reflector 31
  • a light receiving unit 32 (a second visible imaging unit and a second infrared imaging unit) installed at a predetermined position with respect to the scattering / reflecting plate 31 and shielding sunlight incident on the scattering / reflecting plate 31
  • the light shielding part 33 which can be provided, the housing
  • the scattering / reflecting plate 31 is supported by the housing 34, and the light receiving unit 32 is supported by the support column 35. They are arranged oppositely (the opposite sides are arranged horizontally) such that the central axes coincide.
  • the light shielding portion 33 is rotatably supported by the housing 34 and the support column 35 with the central axes of the scattering / reflecting plate 31 and the light receiving portion 32 as the rotation axis O, by a motor disposed inside the housing 34 Rotate at a high speed (preferably repeat 180 ° forward / reverse rotation).
  • the light shielding portion 33 includes two portions facing each other across the rotation axis O. These portions shield the sunlight incident on the scattering / reflecting plate 31 according to the rotation angle, and the amount of the sunlight is It is arranged to change.
  • the solar light measurement unit 30 is arranged on the straight line connecting the sun and the scattering / reflecting plate 31 in the first state in which the light shielding unit 33 is disposed on the straight line connecting the sun and the scattering / reflecting plate 31. And a second state in which is not arranged.
  • the light shielding unit 33 is installed so that one part of the light shielding unit 33 is substantially on the north side, and the light reflected by the scattering / reflecting plate 31 is imaged by the light receiving unit 32 while rotating the light shielding unit 33.
  • the light amount QA of sunlight incident on the light receiving portion 32 in a state where the sunlight incident on the scattering / reflecting plate 31 is blocked by the light blocking portion 33, and The light amount QB of the sunlight incident on the light receiving unit 32 in a state where the sunlight incident on the scattering / reflecting plate 31 is not shielded by the light shielding unit 33 is measured.
  • the light quantity QA is a scattering component of the light quantity incident on the light receiving unit 32
  • the light quantity QC is one of the light quantities incident on the light receiving unit 32. It will be directly achieved.
  • Control part 40 controls each part of plant growth index calculation system 10, and calculates a plant growth index.
  • the control unit 40 is configured to include, for example, a central processing unit (CPU) and peripheral circuits thereof.
  • the control unit 40 executes the program (plant growth index calculation program) recorded in the computer readable recording medium by the CPU, whereby the control unit 40 controls the information acquisition unit 41, the sun angle calculation unit 42, the sun direction calculation unit 43, and the diffusion. It functions as a degree calculating unit 44, a leaf density calculating unit 45, and a growth index calculating unit 46.
  • the information acquisition unit 41 causes the reflected light measurement unit 20 to generate the first image data Rv of visible light and the second image data Ri (reflected light intensity information) of infrared light. 1. Acquire image data Rv and second image data Ri of infrared light. Further, the information acquisition unit 41 causes the sunlight measurement unit 30 to generate third image data Sv of visible light and fourth image data Si (light intensity information of sunlight) of infrared light, and the sunlight measurement unit 30 The third image data Sv of visible light and the fourth image data Si of infrared light are acquired.
  • the information acquiring unit 41 receives the light intensity of each pixel of the third image data Sv and the fourth image data Si in a state in which the sunlight that enters the scattering / reflecting plate 31 is shielded by the light shielding unit 33
  • the light quantity QA of the sunlight incident on the light source 32 and the light quantity QB of sunlight incident on the light receiving section 32 in a state where the light incident on the scattering / reflecting plate 31 is not blocked by the light shielding section 33 are acquired separately.
  • ⁇ 1 arctan [cos (Y) cos ( ⁇ ) sin (h) / [sin (Y) sin ( ⁇ ) -sin ( ⁇ )]] (5)
  • the diffusion degree calculation unit 44 obtains the diffusion degree W based on the measurement result of the sunlight measurement unit 30. For example, the diffusivity calculating unit 44 calculates the amount of light QA of sunlight incident on the light receiving unit 32 in a state where sunlight incident on the scattering / reflecting plate 31 is blocked by the light shielding unit 33, and The light quantity QC is obtained by subtracting the light quantity QA from the light quantity QB using the light quantity QB of sunlight incident on the light receiving part 32 in a state where the light is not blocked by the light shielding part 33.
  • the light amount QA is a scattering component of the light amount incident on the light receiving portion 32
  • the light amount QC is a direct achievement of the light amount incident on the light receiving portion 32
  • the diffusion degree W is light amount QA / light amount QB or light amount QA / It becomes the light quantity QC.
  • the leaf density calculation unit 45 obtains the leaf density based on the growth information stored in the growth information storage unit 52 described later. For example, when the growth information is information indicating the correspondence between the number of days from planting (for example, rice planting) and the leaf density L, the leaf density calculator 45 uses the planting information acquired through the I / F unit 70. The leaf density corresponding to the number of days is calculated from the growth information stored in the growth information storage unit 52.
  • the plant growth index calculation system 10 may further include an input unit (for example, a ten key or a keyboard) for inputting data from the outside, and may be configured to input the number of days since planting via the input unit.
  • the growth index calculation unit 46 is the light intensity information of the reflected light of the first wavelength and the second wavelength acquired by the information acquisition unit 41, the light intensity information of the sunlight of the third wavelength and the fourth wavelength, and the sun angle calculation unit 42. Based on the determined sun height A or the sun angle ⁇ , a plant growth index indicating the degree of growth in the measurement object is determined.
  • the growth index computing unit 46 further performs measurement based on the sun direction ⁇ obtained by the sun direction computing unit 43, the measurement angle ⁇ obtained by the inclinometer 23, and the leaf density L obtained by the leaf density computing unit 45. Determine a plant growth index that indicates the degree of growth in the subject.
  • the information acquiring unit 41 of the present embodiment separates and acquires the light intensity information of sunlight into the direct achievement component and the scattering component.
  • the plant growth index can be accurately calculated by correcting the light intensity information of the reflected light based on the directly achieved component and the scattering component (or the diffusivity W calculated by the diffusivity calculating unit 44).
  • the storage unit 50 is connected to the control unit 40, and stores various programs and various data under the control of the control unit 40.
  • the various programs include, for example, a control program for controlling each part of the plant growth index calculation system 10, a plant growth index calculation program for obtaining a plant growth index to be measured, and the like.
  • the various data described above include data necessary for calculation of a plant growth index, such as growth information for obtaining leaf density.
  • the storage unit 50 includes, for example, a storage device such as a ROM (Read Only Memory), which is a nonvolatile storage element, or an EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read Only Memory), which is a rewritable nonvolatile storage element.
  • the storage unit 50 includes a RAM (Random Access Memory) as a working memory of the control unit 40, which stores data and the like generated during execution of the program.
  • the storage unit 50 may include a relatively large-capacity HDD (Hard Disk Drive), an SSD (Solid State Drive), or the like.
  • the storage unit 50 includes a growth information storage unit 52 that stores growth information.
  • This growth information is, for example, information indicating the correspondence between the number of days since planting (for example, rice planting) and the leaf density L. Instead of the number of days since planting, any of date, leaf age, average plant height and average number of stems may be used.
  • the growth information is created in advance based on the average value or the like obtained from a plurality of samples, and is stored in, for example, the growth information storage unit 52 as a look-up table.
  • the clock unit 60 is connected to the control unit 40, measures the date and time, and the minutes according to the control of the control unit 40, and outputs the measured current date and time information T to the control unit 40.
  • the I / F unit 70 is connected to the control unit 40, and between the control unit 40 and an external device under the control of the control unit 40 (in the case of the configuration of FIG. 2, the reflected light measurement device 11 and the control device 13, Between the sunlight measurement device 12 and the control device 13 and between the reflected light measurement device 11 and the control device 13 and between the sunlight measurement device 12 and the control device 13 in the case of the configuration of FIG. It is a circuit to do.
  • an interface circuit of RS232C which is a serial communication method, an interface circuit using Bluetooth (registered trademark) standard, an interface circuit for performing infrared communication such as IrDA (Infrared Data Association) standard, USB (Universal Serial Bus) standard
  • the I / F unit 70 is a communication card or the like that communicates by wire or wirelessly, and may communicate with an external device via a communication network such as Ethernet (registered trademark) environment, for example.
  • the power supply unit 80 supplies power to each part of the plant growth index calculation system 10 (each part of the reflected light measurement device 11, the solar light measurement device 12 and the control device 13 in the case of the configuration of FIG. It is a circuit to supply.
  • or FIG. 4 is an example of the plant growth index calculation system 10 of a present Example,
  • the structure and control are changeable suitably.
  • the plant growth index calculation system 10 may be provided with an input unit for inputting various commands, various data, etc. as necessary, and output various commands, various data, measurement results, etc. input by the input unit.
  • An output unit or the like may be provided.
  • the CPU of the control unit 40 develops a plant growth index calculation program stored in a computer readable recording medium such as the storage unit 50 (ROM, EEPROM, HDD, SSD, etc.) in the storage unit 50 (RAM) and executes it.
  • a plant growth index calculation program stored in a computer readable recording medium such as the storage unit 50 (ROM, EEPROM, HDD, SSD, etc.) in the storage unit 50 (RAM) and executes it.
  • the plant growth index calculation system 10 is arranged such that the reflected light measurement unit 20 is directed to the foliage to be measured by the user (operator).
  • the control unit 40 executes initialization of necessary parts, and the control unit 40 executes an information acquisition unit 41, a sun angle calculation unit 42, and the like by executing the plant growth index calculation program. It functions as a sun direction calculation unit 43, a diffusion degree calculation unit 44, a leaf density calculation unit 45, and a growth index calculation unit 46.
  • plant growth index calculation system 10 operates as follows.
  • the control unit 40 acquires light intensity information from the reflected light measurement unit 20 and the sunlight measurement unit 30 (S101). Specifically, the control unit 40 (the information acquisition unit 41) causes the reflected light measurement unit 20 to measure the light intensity of the reflected light to be measured, and the first image data Rv and visible light from the reflected light measurement unit 20 The second image data Ri in infrared light is acquired. In addition, the control unit 40 (the information acquisition unit 41) causes the sunlight measurement unit 30 to measure the light intensity of sunlight, and the third image data Sv in visible light and the third in infrared light from the sunlight measurement unit 30. 4 Acquire image data Si.
  • the control unit 40 (the information acquisition unit 41) blocks the sunlight incident on the scattering / reflecting plate 31 by the light shielding unit 33 as the light intensity of each pixel of the third image data Sv and the fourth image data Si. Acquires the light quantity QA of sunlight incident on the light receiving section 32 in a lighted state and the light quantity QB of sunlight incident on the light receiving section 32 in a state where the sunlight incident on the scattering / reflection plate 31 is not blocked by the light shielding section 33 Do.
  • the control unit 40 acquires various types of information from the GPS unit 21, the azimuth meter 22 and the inclinometer 23 (S102). Specifically, the control unit 40 (information acquisition unit 41) acquires the latitude X and the longitude Y from the GPS unit 21. Further, the control unit 40 (information acquisition unit 41) acquires the azimuth ⁇ C from the azimuth meter 22. Further, the control unit 40 (the information acquisition unit 41) acquires the measurement angle ⁇ from the inclinometer 23.
  • control unit 40 acquires date and time information T from the clock unit 60 (S103).
  • the control unit 40 receives the light amount QA of the sunlight incident on the light receiving unit 32 in a state where the sunlight incident on the scattering and reflecting plate 31 is blocked by the light shielding unit 33; 31 using the light amount QB of the sunlight incident on the light receiving unit 32 in a state where the sunlight incident on 31 is not blocked by the light shielding unit 33, and calculating the light intensity QC obtained by subtracting the light intensity QA from the light intensity QB.
  • the image data Sv and the fourth image data Si are separated into direct achievement components (Svd, Sid) and scattering components (Svs, Sis) (S104).
  • control unit 40 obtains the diffusion degree W (S105). Specifically, the control unit 40 (the diffusion degree calculation unit 44) obtains the diffusion degree W by dividing the light amount QA by the light amount QB or dividing the light amount QA by the light amount QC.
  • control unit 40 calculates the sun height A or the sun angle ⁇ based on the latitude X and longitude Y acquired by the GPS unit 21 and the date and time information T measured by the clock unit 60. It asks for (S106).
  • control unit 40 (the sun direction calculation unit 43), if necessary, the relative direction of the sun and the camera based on the azimuth ⁇ C measured by the azimuth meter 22 and the date and time information T measured by the clock unit 60. Determine ⁇ (S107).
  • control unit 40 (the leaf density calculation unit 45) generates, from the planting based on the growth information G stored in the growth information storage unit 51 and the date and time information T measured by the clock unit 60, as necessary.
  • the leaf density L corresponding to the number of days is calculated (S108).
  • control unit 40 determines the reflection of the measurement target acquired in S101 based on the direct achievement of the sunlight intensity obtained in S104 and the scattering component (or the diffusivity W calculated in S105).
  • the light intensity is corrected to calculate a plant growth index (S109).
  • control unit 40 determines the reflected light intensity of the measurement target acquired in S101, the direct achievement of the sunlight intensity determined in S104, and the scattering component (or the diffusivity calculated in S105) W), the sun height A (or the sun angle ⁇ ) obtained in S106, and, if necessary, the plant growth index based on the relative direction ⁇ of the sun and the camera calculated in S107 and the leaf density L calculated in S108 Calculate For example, according to Equation 11, a plant growth index can be calculated using the reflected light intensity of the measurement object, the direct achievement of the sunlight intensity, the scattering component, and the sun height A.
  • control unit 40 stores the plant growth index calculated in S109 in the storage unit 50 in association with the date and time information T acquired in S103, or via the I / F unit 70.
  • the data describing the plant growth index at each position of the field is output to an image forming apparatus such as MFP (Multi-Functional Peripherals) so that the map of plant growth index can be printed or output to an external computer device. Make it possible to display a map of plant growth indicators.
  • MFP Multi-Functional Peripherals
  • the information depending on the direct achievement component is calculated using the direct achievement component.
  • FIG. 8 is a block diagram showing the configuration of the plant growth index calculation system of the present embodiment
  • FIGS. 9 to 14 are tables used in the plant growth index calculation method of the present embodiment.
  • the control unit 40 of the plant growth index calculation system 10 separates the light intensity information of sunlight obtained by the measurement into the direct achievement component and the scattering component, and calculates the plant growth index.
  • the control unit 40 of the plant growth index calculation system 10 performs measurement when calculating the plant growth index. The case where the reflected light intensity information of the measurement object is corrected based on the correction information on the field where the object and / or the measurement object are grown will be described.
  • the plant growth index calculation system 10 of this embodiment can be configured as shown in FIG. 1 to FIG. 3 as in the first embodiment. However, based on the configuration of FIG.
  • the plant growth index calculation system 10 includes the reflected light measurement unit 20 (corresponding to the reflected light measurement device 11 in FIG. 1), the GPS unit 21, and the orientation as in the first embodiment.
  • a total of 22 an inclinometer 23, a sunlight measurement unit 30 (corresponding to the sunlight measurement device 12 in FIG. 1), a control unit 40 (corresponding to the control unit 13 in FIG. 1), a storage unit 50, and a timepiece unit 60, an I / F unit 70, a power supply unit 80 and the like.
  • the sunlight measuring unit 30 When the sunlight measuring unit 30 is installed on the ground like the sunlight measuring device 12 of FIG. 3, the sunlight is incident on the scattering and reflecting plate 31 as a structure as shown in FIG. 5 as in the first embodiment.
  • the amount of light QB of sunlight can be measured.
  • the light quantity QA is a scattering component of the light quantity incident on the light receiving unit 32
  • the light quantity QC is one of the light quantities incident on the light receiving unit 32. It will be directly achieved.
  • Control part 40 controls each part of plant growth index calculation system 10, and calculates a plant growth index.
  • the control unit 40 is configured to include, for example, a central processing unit (CPU) and peripheral circuits thereof. By executing a program (plant growth index calculation program) recorded in a computer readable recording medium by the CPU, the control unit 40 controls the information acquisition unit 41, the sun angle calculation unit 42, and the sun as in the first embodiment. It functions as a direction calculation unit 43, a diffusion degree calculation unit 44, a leaf density calculation unit 45, and a growth index calculation unit 46.
  • the information acquisition unit 41 acquires the first image data Rv of visible light and the second image data Ri (reflected light intensity information) of infrared light from the reflected light measurement unit 20. In addition, the information acquisition unit 41 acquires, from the sunlight measurement unit 30, the third image data Sv of visible light and the fourth image data Si (light intensity information of sunlight) of infrared light. At that time, when the sunlight measurement unit 30 has the structure shown in FIG. 5, the information acquisition unit 41 causes the light intensity of each pixel of the third image data Sv and the fourth image data Si to be incident on the scattering reflection plate 31.
  • the light quantity QB of the sun light is separately acquired.
  • the diffusion degree calculation unit 44 obtains the diffusion degree W based on the measurement result of the sunlight measurement unit 30. For example, the diffusion degree calculation unit 44 obtains the standard deviation ⁇ sv of the third image data Sv in the visible light generated by the second visible image pickup unit, and divides the diffusion coefficient W by this standard deviation ⁇ sv. Ask for Alternatively, for example, the diffusivity calculating unit 44 obtains the standard deviation ⁇ si of the fourth image data Si in the infrared light generated by the second infrared imaging unit, and divides the predetermined coefficient K by the standard deviation ⁇ si.
  • the diffusion degree W is determined by The predetermined coefficient K is a coefficient for normalizing so that the diffusivity W becomes 0 in the case of clear weather without clouds, and becomes 1 in the case of cloudy weather. Also, for example, the diffusion degree calculation unit 44 acquires the shutter speed (for example, the shutter speed of the first visible image pickup unit) ss of the reflected light measurement unit 20 from the reflected light measurement unit 20 and It can also be done.
  • the shutter speed for example, the shutter speed of the first visible image pickup unit
  • the diffusivity calculation unit 44 makes the sunlight incident on the scattering / reflecting plate 31 incident on the light receiving unit 32 in a state of being shielded by the light shielding unit 33
  • the light quantity QA is subtracted from the light quantity QB using the light quantity QA of sunlight and the light quantity QB of sunlight incident on the light receiving part 32 in a state where the sunlight entering the scattering reflection plate 31 is not blocked by the light shielding part 33 Determine the light quantity QC.
  • the light amount QA is a scattering component of the light amount incident on the light receiving portion 32
  • the light amount QC is a direct achievement of the light amount incident on the light receiving portion 32
  • the diffusion degree W is light amount QA / light amount QB or light amount QA / It becomes the light quantity QC.
  • the leaf density calculation unit 45 obtains the leaf density based on the growth information stored in the growth information storage unit 52 described later. For example, when the growth information is information indicating the correspondence between the number of days from planting (for example, rice planting) and the leaf density L, the leaf density calculator 45 uses the planting information acquired through the I / F unit 70. The leaf density corresponding to the number of days is calculated from the growth information stored in the growth information storage unit 52.
  • the plant growth index calculation system 10 may further include an input unit (for example, a ten key or a keyboard) for inputting data from the outside, and may be configured to input the number of days since planting via the input unit.
  • the growth index calculation unit 46 is the light intensity information of the reflected light of the first wavelength and the second wavelength acquired by the information acquisition unit 41, the light intensity information of the sunlight of the third wavelength and the fourth wavelength, and the sun angle calculation unit 42. Based on the determined sun height A or the sun angle ⁇ , a plant growth index indicating the degree of growth in the measurement object is determined.
  • the growth index computing unit 46 further performs measurement based on the sun direction ⁇ obtained by the sun direction computing unit 43, the measurement angle ⁇ obtained by the inclinometer 23, and the leaf density L obtained by the leaf density computing unit 45. Determine a plant growth index that indicates the degree of growth in the subject.
  • the growth index calculation unit 46 calculates the direct achievement of the light amount incident on the light reception unit 32 and the scattering component (or the diffusivity calculated by the diffusivity).
  • the plant growth index can also be calculated by correcting the light intensity information of the reflected light based on W). For example, when NDVI is determined as a plant growth index, the plant growth index can be calculated according to Equation 11.
  • the growth index computation unit 46 corrects the correction information (type information indicating reflected light intensity according to the type of plant, planting interval of plant, and planting depth). Planting information showing reflected light intensity according to at least one of them, vegetation coverage information showing reflected light intensity according to vegetation coverage, soil information showing reflected light intensity according to the condition of soil in the field, percentage of water surface in the field The light intensity information of the reflected light is corrected based on water surface information etc. indicating the reflected light intensity according to the above, and the plant growth index is calculated (or the plant growth index calculated once is corrected).
  • the correction information type information indicating reflected light intensity according to the type of plant, planting interval of plant, and planting depth. Planting information showing reflected light intensity according to at least one of them, vegetation coverage information showing reflected light intensity according to vegetation coverage, soil information showing reflected light intensity according to the condition of soil in the field, percentage of water surface in the field.
  • the growth index computing unit 46 corrects the information with reference to the correction information (reflected light intensity corresponding to various kinds).
  • the correction information reflected light intensity corresponding to various kinds.
  • a correction amount for matching the reflected light intensity corresponding to the type with the reflected light intensity corresponding to the reference type is calculated, and the light intensity information of the reflected light is corrected using the calculated correction amount. , Calculate or correct plant growth index.
  • At least one of the planting interval and planting depth of the plant to be measured is obtained in advance from the producer etc., and the growth index computing unit 46 corrects the correction information (according to various planting intervals and / or planting depth Reflected light intensity), among the correction information, the reflected light intensity corresponding to at least one of the planting interval and planting depth corresponds to at least one of the reference planting interval and planting depth
  • a plant growth index is calculated or corrected by calculating a correction amount to match the reflected light intensity and correcting the light intensity information of the reflected light using the calculated correction amount.
  • the growth index computing unit 46 determines the coverage rate (area ratio of leaves to soil) of the field to be measured from the variety of the plant to be measured and at least one of the planting interval and the planting depth, The standard deviation ⁇ of the external reflected light intensity is determined, and the predetermined coefficient K is divided by the determined standard deviation ⁇ to determine the coverage rate of the field to be measured, and correction information (reflected light according to various coverage rates) Of the correction information, the correction amount is calculated using the correction amount calculated to match the reflected light intensity corresponding to the coverage with the reflected light intensity corresponding to the reference coverage. The plant growth index is calculated or corrected by correcting the light intensity information of light.
  • the type of soil is obtained in advance from a producer or the like, the reflectance of the soil is measured in advance, and the like to obtain the state of the soil of the field to be measured.
  • Correction light intensity corresponding to the state of the soil with reference to the reflected light intensity corresponding to the state of the soil) and the correction amount for adjusting the reflected light intensity corresponding to the state of the soil to the reflected light intensity corresponding to the state of the reference soil The plant growth index is calculated or corrected by correcting the light intensity information of the reflected light using the calculated and calculated correction amount.
  • the growth index calculation unit 46 corrects the information (reflected light intensity according to the ratio of various water surfaces)
  • the correction amount for adjusting the reflected light intensity corresponding to the ratio of the water surface to the reflected light intensity corresponding to the ratio of the reference water surface among the correction information is calculated with reference to
  • the plant growth index is calculated or corrected by correcting the light intensity information of light.
  • the correction amount can be calculated for at least one element.
  • criteria of each element of variety, planting interval, planting depth, plant coverage rate, soil condition, water surface ratio can be set appropriately, for example, average information of each element or information with high frequency It is defined as a reference, and the reflected light intensity corresponding to at least one of the measurement target and the field where the measurement target is grown in the correction information for at least one element by the growth index calculation unit 46 The amount of correction to match the corresponding reflected light intensity can be calculated.
  • the storage unit 50 is connected to the control unit 40, and stores various programs and various data under the control of the control unit 40.
  • the various programs include, for example, a control program for controlling each part of the plant growth index calculation system 10, a plant growth index calculation program for obtaining a plant growth index to be measured, and the like.
  • the various data include correction information, growth information and the like.
  • the storage unit 50 includes, for example, a storage device such as a ROM, which is a nonvolatile storage element, and an EEPROM, which is a rewritable nonvolatile storage element.
  • the storage unit 50 includes a RAM or the like which is a working memory of a so-called control unit 40 which stores data and the like generated during execution of the program.
  • the storage unit 50 may include a relatively large capacity HDD, an SSD, or the like.
  • the storage unit 50 functionally includes a correction information storage unit 51 and a growth information storage unit 52 in order to store the information.
  • the correction information is information describing the reflected light intensity when each element such as the kind, planting interval, planting depth, plant coverage, soil condition, water surface ratio is changed, for example, various kinds or varieties It is the information which described visible and infrared catoptric light intensity at the time of changing the number of days from planting and accumulated sunshine time to planting interval and planting depth. Further, the correction information is, for example, information describing visible and infrared reflected light intensities when the solar altitude is changed with respect to various coverage rates, soil conditions, and water surface ratios.
  • FIG. 9 is an example of the variety information, and when the number of days from planting and the cumulative sunshine duration are changed for various varieties (in FIG. 9, varieties 1 to n) (days 1 to days i in FIG. 9) , Visible and infrared reflected light intensities of cumulative sunshine time 1 to cumulative sunshine time i) are described.
  • FIG. 10 is an example of planting information, and when the number of days from planting and the cumulative sunshine duration are changed with respect to various planting intervals (interval 1 to interval n in FIG. 10) (days 1 in FIG. 10) The visible and infrared reflected light intensities of ⁇ days i, cumulative sunshine hours 1 ⁇ cumulative sunshine hours i) are described.
  • FIG. 9 is an example of the variety information, and when the number of days from planting and the cumulative sunshine duration are changed for various varieties (in FIG. 9, varieties 1 to n) (days 1 to days i in FIG. 9) , Visible and infrared reflected light intensities of cumulative sunshine time 1 to cumulative sunshine time i) are
  • FIG. 11 shows another example of planting information, in which the number of days since planting and the cumulative sunshine duration are changed with respect to various planting depths (depth 1 to depth n in FIG. 11) (in FIG. 11)
  • the visible and infrared reflected light intensities of days 1 to i, cumulative sunshine hours 1 to cumulative sunshine hours i) are described.
  • FIG. 12 is an example of vegetation coverage information, and when the solar altitude is changed with respect to various vegetation coverages (in FIG. 12, vegetation coverage 1 to vegetation coverage n) (in FIG. 12, solar altitude 1 to solar altitude i)
  • FIG. 13 is an example of soil information, and is visible when the solar altitude is changed (in FIG.
  • FIG. 14 is an example of water surface information, and is visible when the solar altitude is changed for various water surface ratios (ratio 1 to ratio n in FIG. 14) (in FIG. 14, solar altitude 1 to solar altitude i) And infrared reflected light intensity is described.
  • the growth information is, for example, information indicating the correspondence between the number of days since planting (for example, rice planting) and the leaf density L. Instead of the number of days since planting, any of date, leaf age, average plant height and average number of stems may be used.
  • the growth information is created in advance based on the average value or the like obtained from a plurality of samples, and is stored in, for example, the growth information storage unit 52 as a look-up table.
  • the control unit 40 (the control device 13 in the case of the system configurations of FIG. 2 and FIG. 3) of the plant growth index calculation system 10 of the present embodiment will be described.
  • the CPU of the control unit 40 stores a plant growth index calculation program stored in a computer readable recording medium such as the storage unit 50 (ROM, EEPROM, HDD, SSD, etc.) as the storage unit 50 (RAM).
  • ROM read-only memory
  • EEPROM electrically erasable programmable read-only memory
  • HDD high-d-only memory
  • SSD storage unit 50
  • the plant growth index calculation system 10 is arranged such that the reflected light measurement unit 20 is directed to the foliage to be measured by the user (operator).
  • the control unit 40 executes initialization of necessary parts, and the control unit 40 executes an information acquisition unit 41, a sun angle calculation unit 42, and the like by executing the plant growth index calculation program. It functions as a sun direction calculation unit 43, a diffusion degree calculation unit 44, a leaf density calculation unit 45, and a growth index calculation unit 46.
  • plant growth index calculation system 10 operates as follows.
  • the sunlight measuring unit 30 has a structure as shown in FIG. 5, and the amount of light in the state where sunlight incident on the scattering / reflecting plate 31 is blocked by the light shielding unit 33 It is assumed that the amount of sunlight in a state where the sunlight is not blocked by the light blocking portion 33 is measured.
  • the control unit 40 acquires light intensity information from the reflected light measurement unit 20 and the sunlight measurement unit 30 (S101). Specifically, the control unit 40 (the information acquisition unit 41) causes the reflected light measurement unit 20 to measure the light intensity of the reflected light to be measured, and the first image data Rv and visible light from the reflected light measurement unit 20 The second image data Ri in infrared light is acquired. In addition, the control unit 40 (the information acquisition unit 41) causes the sunlight measurement unit 30 to measure the light intensity of sunlight, and the third image data Sv in visible light and the third in infrared light from the sunlight measurement unit 30. 4 Acquire image data Si.
  • the control unit 40 (the information acquisition unit 41) blocks the sunlight incident on the scattering / reflecting plate 31 by the light shielding unit 33 as the light intensity of each pixel of the third image data Sv and the fourth image data Si. Acquires the light quantity QA of sunlight incident on the light receiving section 32 in a lighted state and the light quantity QB of sunlight incident on the light receiving section 32 in a state where the sunlight incident on the scattering / reflection plate 31 is not blocked by the light shielding section 33 Do.
  • the control unit 40 acquires various types of information from the GPS unit 21, the azimuth meter 22 and the inclinometer 23 (S102). Specifically, the control unit 40 (information acquisition unit 41) acquires the latitude X and the longitude Y from the GPS unit 21. Further, the control unit 40 (information acquisition unit 41) acquires the azimuth ⁇ C from the azimuth meter 22. Further, the control unit 40 (the information acquisition unit 41) acquires the measurement angle ⁇ from the inclinometer 23.
  • control unit 40 acquires date and time information T from the clock unit 60 (S103).
  • the control unit 40 receives the light amount QA of the sunlight incident on the light receiving unit 32 in a state where the sunlight incident on the scattering and reflecting plate 31 is blocked by the light shielding unit 33; 31 using the light amount QB of the sunlight incident on the light receiving unit 32 in a state where the sunlight incident on 31 is not blocked by the light shielding unit 33, and calculating the light intensity QC obtained by subtracting the light intensity QA from the light intensity QB.
  • the image data Sv and the fourth image data Si are separated into direct achievement components (Svd, Sid) and scattering components (Svs, Sis) (S104).
  • control unit 40 obtains the diffusion degree W (S105). Specifically, the control unit 40 (the diffusion degree calculation unit 44) obtains the diffusion degree W by dividing the light amount QA by the light amount QB or dividing the light amount QA by the light amount QC.
  • control unit 40 calculates the sun height A or the sun angle ⁇ based on the latitude X and longitude Y acquired by the GPS unit 21 and the date and time information T measured by the clock unit 60. It asks for (S106).
  • control unit 40 (the sun direction calculation unit 43), if necessary, the relative direction of the sun and the camera based on the azimuth ⁇ C measured by the azimuth meter 22 and the date and time information T measured by the clock unit 60. Determine ⁇ (S107).
  • control unit 40 (the leaf density calculation unit 45) generates, from the planting information, based on the growth information G stored in the growth information storage unit 52 and the date and time information T measured by the clock unit 60, as necessary.
  • the leaf density L corresponding to the number of days is calculated (S108).
  • the control unit 40 outputs the reflected light intensity of the measurement target obtained in S101 and the direct achievement component of the sunlight intensity obtained in S104 and the scattering component (or the diffusivity W calculated in S105)
  • the plant growth index is calculated based on the sun height A (or the sun angle ⁇ ) obtained in S106 and, if necessary, the relative direction ⁇ between the sun and the camera calculated in S107 and the leaf density L calculated in S108 (S109).
  • a plant growth index can be calculated using the reflected light intensity of the measurement object, the direct achievement of the sunlight intensity, the scattering component, and the sun height A.
  • the reflected light intensity is obtained in advance when each element of variety, planting interval, planting depth, plant coverage rate, soil condition, water surface ratio is changed, and correction information is created, and the storage unit 50 (
  • the control information stored in the correction information storage unit 51), the control unit 40 (growth index calculation unit 46) refers to the correction information stored in the storage unit 50 (correction information storage unit 51), the type, planting interval, At least one element selected from planting depth, plant coverage, soil condition, and water surface ratio, among the correction information, the reflected light intensity corresponding to at least one of the target plant and the field
  • the amount of correction to match the reflected light intensity corresponding to a predetermined reference is calculated, and the reflected light intensity of the measuring object obtained in S101 is corrected using the calculated amount of correction, to calculate or correct the plant growth index Do.
  • control unit 40 stores the plant growth index calculated or corrected in S109 in the storage unit 50 in association with the date and time information T acquired in S103, or the I / F unit 70.
  • the data is output to the outside through (S110).
  • the data describing the plant growth index at each position of the field is output to an image forming apparatus such as MFP (Multi-Functional Peripherals) so that the map of plant growth index can be printed or output to an external computer device. Make it possible to display a map of plant growth indicators.
  • MFP Multi-Functional Peripherals
  • the reflected light intensity is obtained in advance when each element of plant variety, planting interval, planting depth, plant coverage rate, soil condition, and water surface ratio is changed. Correction information is prepared and corrected when calculating a plant growth index using the reflected light intensity information of the measuring object obtained from the reflected light measuring device and the light intensity information of sunlight obtained from the sunlight measuring device.
  • At least one of the plant variety, planting interval, planting depth, plant coverage, soil condition, water surface ratio, among the correction information, the plant to be measured and the measurement target A correction amount for matching the reflected light intensity corresponding to at least one of the fields in which the plant is grown with the reflected light intensity corresponding to a predetermined reference is calculated, and the reflected light intensity of the measuring object is calculated using the calculated correction amount.
  • Correct and calculate plant growth index or correct The Rukoto, in the case of growing a plant of various properties in the field of various properties, it is possible to properly calculate the plant growth index.
  • the plant variety, planting interval, planting depth, plant coverage rate, soil condition, water surface ratio are exemplified as the correction information on plants and fields, but the correction information on plants and fields is not limited to these It is not limited to.
  • the third wavelength is the first wavelength
  • the fourth wavelength is the second wavelength
  • the sunlight measurement unit 30 measures the light intensity of sunlight at the third wavelength and the fourth wavelength.
  • the 3rd wavelength and the 4th wavelength are not limited to these.
  • the sunlight measurement unit 30 is an arbitrary third wavelength and fourth wavelength.
  • the light intensity of sunlight is measured by two wavelengths, and the light intensity of sunlight is calculated by calculating the light intensity of sunlight of the first wavelength and the second wavelength based on the wavelength characteristics of the light intensity of each light intensity.
  • Information may be output, and the control unit 40 (control device 13) may perform calculation for obtaining the NDVI value.
  • the NDVI value is obtained as the plant growth index, but, for example, RVI (Ratio Vegetation Index, Specific Vegetation Index), DVI (Difference Vegetation Index, Differential Vegetation Index), TVI (Transformed Vegetation Index)
  • RVI Rotary Vegetation Index
  • DVI Difference Vegetation Index
  • TVI Transformed Vegetation Index
  • IPVI Intelligent Vegetation Index
  • the present invention relates to a plant growth index calculation method for calculating a plant growth index using correction information on plants and fields, a plant growth index calculation program, a recording medium recording the plant growth index calculation program, and a plant growth index calculation system It is available.

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Abstract

植物における生育の度合いを表す植物生育指標を適切に算出することができる植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム及び植物生育指標算出システムを提供する。制御装置と、制御装置の指示に基づいて複数の葉を持つ測定対象の反射光強度を測定する反射光測定装置と、制御装置の指示に基づいて太陽光の光強度を測定する太陽光測定装置と、を含むシステムにおいて、反射光測定装置が、第1波長及び第2波長で測定対象の反射光強度を測定する第1処理と、太陽光測定装置が、第3波長及び第4波長で太陽光の光強度を測定する第2処理と、制御装置が、反射光測定装置から取得した測定対象の反射光強度情報と太陽光測定装置から取得した太陽光の光強度情報とを用いて、測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する第3処理と、を実行し、第3処理では、測定対象及び測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一方に関する補正情報に基づいて、測定対象の反射光強度を補正して、植物生育指標を算出する。

Description

植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム及び植物生育指標算出システム
 本発明は、植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム及び植物生育指標算出システムに関し、特に、太陽光の光強度情報や植物や圃場に関する補正情報を利用して植物生育指標を算出する植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム及び植物生育指標算出システムに関する。
 農業では、高品質及び安定多収穫な農作物の植物を育てるために、例えば追肥時期や追肥量等の施肥管理を適切に実施する必要がある。そのために、現状の植物の生育状態が判定されるが、従来は、葉色の濃さが植物の状態を表していることから、例えば黄緑色から濃い緑色まで徐々に色を変化させた複数の色見本を備える葉色板(葉色カラースケール)を用いて植物の生育状態を判定していた。しかしながら、このような葉色板を用いた植物の生育状態の判定では、主観的な判定となり、農業の工業化に適さないため、近年では、客観的な判定が可能な種々の装置の研究、開発が行われている。
 例えば、下記特許文献1には、植物の生育度を光学的に測定する装置が開示されている。この植物の生育度測定装置は、植物により反射された太陽光を入射させて分光し、2種以上の特定波長の光の反射強度を測定する第1の受光部と、太陽光を直接入射させて前記第1の受光部と同一波長の光に分光し、参照光としてその受光強度を測定する第2の受光部と、前記第1の受光部で検出した特定波長の反射強度を前記第2の受光部で検出した参照光の受光強度を基に補正し、補正された反射強度を基に、測定植物の葉色(SPAD値)、草丈、乾物重、(草丈×茎数)、{草丈×葉色(SPAD値)}及び{草丈×茎数×葉色(SPAD値)}の少なくとも1つを求める演算部と、を備える。
特許第4243014号公報
 特許文献1に開示された測定装置では、植物に入射する太陽光の入射光強度と植物で反射する太陽光の反射光強度とを求め、入射光強度に対する反射光強度から植物の生育状態を推定することができ、可視光と赤外光のような2種以上の特定波長の光の反射光を利用することによって、植物生育指標の算出精度を高めることができる。
 しかしながら、上記手法では、測定対象の植物の特性や当該植物を生育する圃場の特性を考慮していないため、様々な特性(例えば、土壌の状態、水面の割合)の圃場に、様々な特性(例えば、品種、植付間隔、植付深度、植被率)の植物を生育する場合、必ずしも植物生育指標を適切に算出できるとは限らず、植物生育指標の算出精度を高めるために補正が必要になる。
 前述のように、植物の生育状態は、入射光強度に対する反射光強度から推定することができるが、入射光つまり太陽光の成分によって反射光の特性が異なることが知られている。この太陽光の成分とは、直達成分と散乱成分であり、特に直達成分は正反射成分に大きく影響を与えるため、直達成分と散乱成分とが混在した入射光強度を用いて生育状態を推定すると、推定精度が低下する恐れがある。また、快晴時に比べて、太陽に雲がかかる天候では、雲のかかり具合によって直達成分と散乱成分の比率が変化するため、直達成分と散乱成分とが混在した入射光強度を用いて生育状態を推定すると、推定精度が低下する恐れがある。
 この問題に対して、特許文献1に開示された測定装置では、太陽光を分光してスペクトルを取得しているが、各々の特定波長の光の反射強度は、直達成分と散乱成分とを合わせたデータであるため、生育状態の推定精度の低下を抑制することはできない。また、この方法では、天候変化に対する直達成分と散乱成分の比率は得られないため、生育状態の推定精度の低下を抑制することはできない。
 また、直達成分と散乱成分とを分離する装置も販売されている(例えば、株式会社プリード社のローティングシャドウブレードPRB-100)。この装置は遮蔽ブレードを備え、設置位置の緯度に合わせて傾いた状態で遮蔽ブレードを間欠駆動させることにより、全天日射と散乱日射とを同時に測定することができる。しかしながら、この装置は全天日射計を用いるため、広角のレンズを用いなくてはならない。そのため、レンズ周辺の特性によって変化する情報を補正する必要があり、処理が複雑になる。また、使用目的上、基本的に装置は常設されるため、装置の設置後に緯度経度を正確に求め、遮光ブレードの制御位置を算出する必要がある。そのため、装置の設置位置を変更する度にキャリブレーションが必要となり、操作が煩雑になる。
 本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであって、その主たる目的は、植物における生育の度合いを表す植物生育指標を適切に算出することができる植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム及び植物生育指標算出システムを提供することにある。
 本発明の一側面は、制御装置と、前記制御装置の指示に基づいて、複数の葉を持つ測定対象の反射光強度を測定する反射光測定装置と、前記制御装置の指示に基づいて、太陽光の光強度を測定する太陽光測定装置と、を含むシステムにおける植物生育指標算出方法であって、前記反射光測定装置が、第1波長及び前記第1波長とは異なる第2波長で前記測定対象の反射光強度を測定する第1処理と、前記太陽光測定装置が、第3波長及び前記第3波長とは異なる第4波長で前記太陽光の光強度を測定する第2処理と、前記制御装置が、前記反射光測定装置から取得した前記測定対象の反射光強度情報と前記太陽光測定装置から取得した前記太陽光の光強度情報とを用いて、前記測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する第3処理と、を実行し、前記第3処理では、前記太陽光の光強度情報、前記測定対象及び前記測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一に関する補正情報に基づいて、前記測定対象の反射光強度情報を補正して、前記植物生育指標を算出する。
 本発明の一側面は、制御装置と、前記制御装置の指示に基づいて、複数の葉を持つ測定対象の反射光強度を測定する反射光測定装置と、前記制御装置の指示に基づいて、太陽光の光強度を測定する太陽光測定装置と、を含むシステムにおける前記制御装置で動作する植物生育指標算出プログラムであって、前記制御装置に、前記反射光測定装置から、第1波長及び前記第1波長とは異なる第2波長で測定した前記測定対象の反射光強度情報を取得する第1処理、前記太陽光測定装置から、第3波長及び前記第3波長とは異なる第4波長で測定した前記太陽光の光強度情報を取得する第2処理、前記測定対象の反射光強度情報と前記太陽光の光強度情報とを用いて、前記測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する第3処理、を実行させ、前記第3処理では、前記太陽光の光強度情報、前記測定対象及び前記測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一に関する補正情報に基づいて、前記測定対象の反射光強度情報を補正して、前記植物生育指標を算出する。
 本発明の一側面は、制御装置と、前記制御装置の指示に基づいて、複数の葉を持つ測定対象の反射光強度を測定する反射光測定装置と、前記制御装置の指示に基づいて、太陽光の光強度を測定する太陽光測定装置と、を含む植物生育指標算出システムであって、前記反射光測定装置は、第1波長及び前記第1波長とは異なる第2波長で前記測定対象の反射光強度を測定可能であり、前記太陽光測定装置は、第3波長及び前記第3波長とは異なる第4波長で前記太陽光の光強度を測定可能であり、前記制御装置は、前記反射光測定装置から取得した前記測定対象の反射光強度情報と前記太陽光測定装置から取得した前記太陽光の光強度情報とを用いて、前記測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する演算部を備え、前記演算部は、前記太陽光の光強度情報、前記測定対象及び前記測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一に関する補正情報に基づいて、前記測定対象の反射光強度情報を補正して、前記植物生育指標を算出する。
 本発明の植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム及び植物生育指標算出システムによれば、植物における生育の度合いを表す植物生育指標を適切に算出することができる。
 その理由は、制御装置と、制御装置の指示に基づいて複数の葉を持つ測定対象の反射光強度を測定する反射光測定装置と、制御装置の指示に基づいて太陽光の光強度を測定する太陽光測定装置と、を含むシステムにおいて、以下の処理を実行するからである。すなわち、反射光測定装置が、第1波長及び第2波長で測定対象の反射光強度を測定する第1処理と、太陽光測定装置が、第3波長及び第4波長で太陽光の光強度を測定する第2処理と、制御装置が、反射光測定装置から取得した測定対象の反射光強度情報と太陽光測定装置から取得した太陽光の光強度情報とを用いて、測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する第3処理と、を実行し、第3処理では、太陽光の光強度情報、測定対象及び測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一に関する補正情報に基づいて、測定対象の反射光強度を補正して、植物生育指標を算出するからである。
本発明の第1の実施例に係る植物生育指標算出システムの一例を示す模式図である。 本発明の第1の実施例に係る植物生育指標算出システムの他の例を示す模式図である。 本発明の第1の実施例に係る植物生育指標算出システムの他の例を示す模式図である。 本発明の第1の実施例に係る植物生育指標算出システムの構成を示すブロック図である。 本発明の第1の実施例に係る植物生育指標算出システムにおける太陽光測定装置の外観構成を示す斜視図である。 本発明の第1の実施例に係る植物生育指標算出システムにおける太陽光測定装置の構成を示す三面図(正面図)である。 本発明の第1の実施例に係る植物生育指標算出システムにおける太陽光測定装置の構成を示す三面図(側面図)である。 本発明の第1の実施例に係る植物生育指標算出システムにおける太陽光測定装置の構成を示す三面図(平面図)である。 本発明の第1の実施例に係る制御部の動作(生育指標算出処理)を示すフローチャー卜図である。 本発明の第2の実施例に係る植物生育指標算出システムの構成を示すブロック図である。 本発明の第2の実施例に係る植物生育指標の算出時に利用する補正情報(品種情報)を示すテーブルである。 本発明の第2の実施例に係る植物生育指標の算出時に利用する補正情報(植付間隔に関する植付情報)を示すテーブルである。 本発明の第2の実施例に係る植物生育指標の算出時に利用する補正情報(植付深度に関する植付情報)を示すテーブルである。 本発明の第2の実施例に係る植物生育指標の算出時に利用する補正情報(植被率情報)を示すテーブルである。 本発明の第2の実施例に係る植物生育指標の算出時に利用する補正情報(土壌情報)を示すテーブルである。 本発明の第2の実施例に係る植物生育指標の算出時に利用する補正情報(水面情報)を示すテーブルである。 従来の測定装置の外観構成(側面図)を示す図である。 従来の測定装置の外観構成(平面図)を示す図である。
 背景技術で示したように、農業では、高品質及び安定多収穫な農作物の植物を育てるために施肥管理を適切に実施する必要があり、植物の生育度を光学的に測定する装置が提案されている。この測定装置では、植物に入射する太陽光の入射光強度と植物で反射する太陽光の反射光強度とを求め、入射光強度に対する反射光強度から植物の生育状態を推定することができ、可視光と赤外光のような2種以上の特定波長の光の反射光を利用することによって、植物生育指標の算出精度を高めることができる。
 しかしながら、上記手法は一般的な特性を有する圃場に一般的な特性を有する植物を生育する場合を前提にしているため、様々な特性(例えば、土壌の状態、水面の割合)の圃場に、様々な特性(例えば、品種、植付間隔、植付深度、植被率)の植物を生育する場合、必ずしも植物生育指標を適切に算出できるとは限らない。
 例えば、植物の品種特有の物理特性によって植物での反射光強度は変化するが、植物生育指標の算出に際して、植物の品種は考慮されていない。また、植物の植付状態(例えば、植付間隔や植付深度)によって、特に生育が進むに従って植物の密集度が増加して植物での反射光強度も増加するが、植物生育指標の算出に際して、植物の植付状態は考慮されていない。また、植物の生育が進むに従って株の太さ及び葉の量が増加し、土壌に対する葉の面積比率(植被率)が増加して植物での反射光強度も増加するが、植物生育指標の算出に際して、植被率の変化は考慮されていない。また、測定される反射光強度は、太陽光が植物に直接入射した光の反射成分のみならず、土壌や水面での反射成分や、土壌や水面で反射して植物に入射した光の成分もあるため、土壌の状態や水面の割合によって反射光強度は変化するが、植物生育指標の算出に際して、土壌の状態や水面の割合は考慮されていない。そのため、植物生育指標の算出精度を高めるために補正が必要になる。
 また、太陽光は直達成分と散乱成分とを含み、太陽光の成分によって生育状態の推定精度が変動する。特に、直達成分は正反射成分に大きく影響を与え、反射光強度が変動することによって生育状態の推定精度を低下させる恐れがある。また、天候が変化した場合も直達成分と散乱成分の比率が変化するため、生育状態の推定精度を低下させる恐れがある。
 この問題に対して、特許文献1に開示された測定装置は、植物により反射された太陽光を入射させて分光し、2種以上の特定波長の光の反射強度を測定し、太陽光を直接入射させて分光し、参照光としてその受光強度を測定し、特定波長の反射強度を参照光の受光強度を基に補正し、補正された反射強度を基に、植物の生育度を求めているが、この手法で取得する太陽光スペクトルは直達成分と散乱成分を合わせたデータであるため、生育状態の推定精度の低下を抑制することができない。また、天候変化に対する直達成分と散乱成分の比率は得られないため、生育状態の推定精度の低下を抑制することができない。
 また、遮蔽ブレードを間欠駆動させることにより直達成分と散乱成分とを分離する装置(例えば、図15A、15Bに側面図及び平面図を示す測定装置)も販売されているが、この装置は全天日射計を用いるため、広角のレンズを用いなくてはならず、レンズ周辺の特性によって変化する情報を補正する必要があり、処理が複雑になる。また、装置の設置後に緯度経度を正確に求め、遮光ブレードの制御位置を算出しなければならず、装置の設置位置を変更する度にキャリブレーションが必要となり、操作が煩雑になる。
 そこで、本発明の一実施の形態では、制御装置と、制御装置の指示に基づいて、複数の葉を持つ測定対象の反射光強度を測定する反射光測定装置と、制御装置の指示に基づいて、太陽光の光強度を測定する太陽光測定装置と、を含むシステムにおいて、反射光測定装置が、第1波長及び第1波長とは異なる第2波長で測定対象の反射光強度を測定すると共に、太陽光測定装置が、第3波長及び第3波長とは異なる第4波長で太陽光の光強度を測定し、制御装置が、反射光測定装置から取得した測定対象の反射光強度情報と太陽光測定装置から取得した太陽光の光強度情報とを用いて、測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する際に、太陽光の光強度情報、測定対象及び測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一に関する補正情報に基づいて、測定対象の反射光強度情報を補正して、植物生育指標を算出する。
 一例として、植物生育指標を算出する際に、制御装置は、太陽光の光強度情報を直達成分と散乱成分とに分離し、直達成分と散乱成分とに基づいて、測定対象の反射光強度情報を補正し、測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する。
 具体的には、太陽光測定装置に、入射した太陽光を散乱反射する(好ましくは理想的なランバート反射特性を有する)散乱反射板と、散乱反射板に対して所定の位置に設置された受光部と、散乱反射板に対して入射する太陽光を遮蔽することができる光遮蔽部とを設け、太陽光測定装置は、散乱反射板に入射する太陽光が光遮蔽部によって遮蔽された状態で受光部に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板に入射する太陽光が光遮蔽部によって遮蔽されない状態で受光部に入射する太陽光の光量QBとを測定する。制御装置は、光量QAを太陽光の受光部に入射する光量のうちの散乱成分に設定し、光量QBから光量QAを減算した光量QCを太陽光の受光部に入射する光量のうちの直達成分に設定する。そして、制御装置は、植物生育指標を算出する際に、直達成分と散乱成分とに基づいて反射光強度を補正する。なお、制御装置は、植物生育指標を算出する際に直達成分と散乱成分とに基づいて拡散度を算出してもよく、また、制御装置は、太陽光測定装置の設置位置の経度及び緯度と、太陽光測定装置が太陽光の光強度を測定した日時情報と、に基づいて、太陽高度を算出し、測定対象の反射光強度情報と、太陽光の直達成分及び散乱成分、又は、拡散度と、太陽高度と、に基づいて、植物生育指標を算出してもよい。
 このように、太陽光の光強度情報を直達成分と散乱成分とに分離し、植物生育指標を算出する際に、直達成分のみ依存する情報は直達成分を用いて計算することにより、植物生育指標における太陽光の影響を簡便かつ適切に判断することができる。
 他の例として、測定対象及び測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一方に関する補正情報を予め作成しておき、制御装置は、植物生育指標を算出する際に、この補正情報に基づいて、測定対象の反射光強度情報を補正して、測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する。この補正情報は、例えば、植物の品種に応じた反射光強度を示す品種情報、植物の植付間隔及び植付深度のうち少なくとも一方に応じた反射光強度を示す植付情報、圃場の土壌の状態に応じた反射光強度を示す土壌情報、圃場における水面の割合に応じた反射光強度を示す水面情報の少なくとも1つであり、植物の品種と植物の植付間隔及び植付深度のうち少なくとも一方とから算出される、土壌に対する葉の面積比率を規定する植被率に応じた反射光強度を示す植被率情報を含んでいてもよい。具体的には、植物の品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合など各要素を変化させた時の反射光強度を予め取得して補正情報を作成しておく。例えば、品種が異なる複数のサンプルを用いた実験等によって、各々の品種での反射光強度を測定して記憶したり、複数の植付間隔や植付深度のサンプルを用いた実験等によって、各々の植付間隔や植付深度での反射光強度を測定して記憶したり、複数の土壌サンプルを用いた実験等によって、各々の土壌の状態での反射光強度を測定して記憶したり、複数の水面の割合のサンプルを用いた実験等によって、各々の水面の割合での反射光強度を測定して記憶したりする。
 そして、反射光測定装置が測定対象の反射光強度(第1波長及び第2波長の2波長の反射光強度)を測定すると共に、太陽光測定装置が太陽光の光強度(第3波長及び第4波長の2波長の光強度)を測定し、制御装置が、反射光測定装置から取得した測定対象の反射光強度情報と太陽光測定装置から取得した太陽光の光強度情報とを用いて、測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する。この際に、制御装置は、予め記憶した補正情報に基づいて、測定対象の反射光強度を補正して、植物生育指標を算出する。具体的には、予め記憶した補正情報を参照して、上記要素のうち少なくとも1つに対して、補正情報のうち測定対象及び圃場の少なくとも一方に対応する反射光強度を予め定めた基準に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した補正量を用いて測定対象の反射光強度を補正して、植物生育指標を算出する。
 これにより、様々な特性の圃場に様々な特性の植物を生育する場合において、植物生育指標を適切に算出することができる。
 上記した本発明の実施の形態についてさらに詳細に説明すべく、本発明の一実施例に係る植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム及び植物生育指標算出システムについて、図1乃至図7を参照して説明する。図1乃至図3は、本実施例の植物生育指標算出システムの一例を示す模式図であり、図4は、本実施例の植物生育指標算出システムの構成を示すブロック図、図5は、本実施例の太陽光測定装置の外観構成を示す斜視図、図6A、6B、6Cは、本実施例の太陽光測定装置の構成を示す三面図(正面図、側面図、平面図)である。また、図7は、本実施例の制御部の動作(生育指標算出処理)を示すフローチャー卜図である。
 図1に示すように、本実施例の植物生育指標算出システム10は、第1波長及び第1波長とは異なる第2波長で複数の葉を持つ測定対象の反射光の光強度を測定する反射光測定装置11と、第3波長及び第3波長とは異なる第4波長で太陽光の光強度を測定する太陽光測定装置12と、測定対象の反射光の光強度情報と太陽光の光強度情報とに基づいて、測定対象の植物生育指標を求める制御装置13と、を含み、これらが、遠隔操縦又は自律式のマルチコプター又は無人航空機(いわゆるドローン)などの飛行体に搭載されて構成される。
 図1の構成の場合、植物生育指標算出システム10は、図4に示すように、反射光測定部20(図1の反射光測定装置11に対応)と、GPS(Global Positioning System)部21と、方位計22と、傾斜計23と、太陽光測定部30(図1の太陽光測定装置12に対応)と、制御部40(図1の制御部13に対応)と、記憶部50と、時計部60と、I/F部70と、電源部80などで構成される。
 なお、図1では、反射光測定装置11と太陽光測定装置12と制御装置13とが一体的に構成され、空撮可能な飛行体に搭載されるシステムを例示したが、植物生育指標算出システム10を、反射光測定装置11と太陽光測定装置12とが別々に構成され、反射光測定装置11は空撮可能な飛行体に装着され、太陽光測定装置12は地上に設置される飛行体に搭載されるシステムとしてもよい。例えば、図2に示すように、反射光測定装置11と太陽光測定装置12とが飛行体に搭載され、制御装置13が独立した装置として構成されるシステムとしてもよい。図2の構成の場合、反射光測定装置11は、制御装置13の指示に基づいて測定対象の反射光の光強度を測定し、太陽光測定装置12は、制御装置13の指示に基づいて太陽光の光強度を測定し、制御装置13は、反射光測定装置11から測定対象の反射光強度情報を取得すると共に、太陽光測定装置12から太陽光強度情報を取得し、これらを用いて測定対象の植物生育指標を算出する。
 また、図3に示すように、植物生育指標算出システム10を、反射光測定装置11と太陽光測定装置12と制御装置13とが別々の装置として構成されるシステムとしてもよい。図3の構成の場合、反射光測定装置11が飛行体に搭載され、制御装置13の指示に基づいて測定対象の反射光の光強度を測定し、太陽光測定装置12が地上に設置され、制御装置13の指示に基づいて太陽光の光強度を測定(好ましくは、太陽光を直達成分と散乱成分とに分離できるように測定)する。また、制御装置13は、反射光測定装置11から測定対象の反射光強度情報を取得すると共に、太陽光測定装置12から太陽光強度情報を取得し、これらを用いて測定対象の植物生育指標を算出する。
 例えば、図3の構成の場合、反射光測定装置11は、反射光測定部20とGPS部21と方位計22と傾斜計23とI/F部70と電源部80の機能を備え、太陽光測定装置12は、図4に示す、太陽光測定部30とI/F部70と電源部80の機能を備えていてもよい。また、制御装置13は、図4に示す、制御部40と時計部60と記憶部50とI/F部70と電源部80の機能を備えるコンピュータ装置であってもよい。
 以下、図1の構成を前提にして、植物生育指標算出システム10の各部の動作について説明する。
 反射光測定部20は、制御部40に接続され、制御部40の制御に従い、測定対象の反射光の光強度を互いに異なる第1波長及び第2波長で測定する装置であり、その測定結果を反射光強度情報として制御部40へ出力する。この第1波長及び第2波長は、求める植物生育指標に応じて適宜設定可能であり、例えば、NDVI(Normalized Difference Vegetation Index)値を求める場合には、650nm近辺の可視光の波長及び750nm以上の赤外光の波長とすることができる。
 具体的には、反射光測定部20は、可視光の画像(可視画像)を生成する第1可視撮像部と、赤外光の画像(赤外画像)を生成する第1赤外撮像部と、を備え、可視光の画像データ及び赤外光の画像データを反射光強度情報として制御部40へ出力する。第1可視撮像部は、いわゆる可視カメラ等であり、例えば、波長650nmを中心波長とする比較的狭帯域で光を透過する第1バンドパスフィルタ、第1バンドパスフィルタを透過した測定対象の可視光の光学像を所定の結像面上に結像する第1結像光学系、第1結像面に受光面が一致するように配置され、測定対象の可視光の光学像を電気的な信号に変換する第1イメージセンサ、第1イメージセンサの出力に対して公知の画像処理を施して可視光の第1画像データRvを生成する第1デジタルシグナルプロセッサ(DSP)などで構成され、第1画像データRvを制御部40へ出力する。また、第2赤外撮像部は、いわゆる赤外カメラ等であり、例えば、波長800nmを中心波長とする比較的狭帯域で光を透過する第2バンドパスフィルタ、第2バンドパスフィルタを透過した測定対象の赤外光の光学像を所定の結像面上に結像する第2結像光学系、第2結像面に受光面が一致するように配置され、測定対象の赤外光の光学像を電気的な信号に変換する第2イメージセンサ、第2イメージセンサの出力に対して公知の画像処理を施して赤外光の第2画像データRiを生成する第2DSPなどで構成され、第2画像データRiを制御部40へ出力する。
 なお、上記では、反射光測定部20が第1可視撮像部及び第1赤外撮像部を備える構成としたが、反射光測定部20は、赤色の光を受光するR画素、緑色の光を受光するG画素、青色の光を受光するB画素及び赤外の光を受光するIR画素を2行2列に配列した単位配列を持つイメージセンサ(RGBIrイメージセンサ)や、白色の光を受光するW画素、黄色の光を受光するY画素、赤色の光を受光するR画素及び赤外の光を受光するIR画素を2行2列に配列した単位配列を持つイメージセンサ(WYRIrイメージセンサ)等の1つの撮像部を備える構成としてもよい。また、反射光測定部20は、分光器を備える構成としてもよい。
 GPS部21は、制御部40に接続され、制御部40の制御に従い、地球上の現在位置を測定するための衛星測位システムによって、当該植物生育指標算出システム10の位置(図2及び図3の構成の場合は反射光測定装置11の位置)を測定する装置であり、その測位結果(緯度X、経度Y、高度Z)を制御部40へ出力する。なお、GPS部21は、DGSP(Differential GSP)等の誤差を補正する補正機能を持ったGPSとしてもよい。
 方位計(コンパス)22は、制御部40に接続され、制御部40の制御に従い、地磁気等に基づいて方位を測定することによって、当該植物生育指標算出システム10の測定方向の方位(図2及び図3の構成の場合は反射光測定装置11の測定方向の方位)を測定する装置であり、測定した方位φCを制御部40へ出力する。この方位φCは、北を0度、東を90度、南を180度、西を270度として表される。
 傾斜計23は、制御部40に接続され、制御部40の制御に従い、傾斜を測定することによって、当該植物生育指標算出システム10の測定方向の角度(図2及び図3の構成の場合は反射光測定装置11の測定方向の角度)を測定する装置であり、測定した角度βを制御部40へ出力する。
 太陽光測定部30は、制御部40に接続され、制御部40の制御に従い、太陽光の光強度を互いに異なる第3波長及び第4波長で測定する装置であり、その測定結果を太陽光の光強度情報として制御部40へ出力する。この第3波長及び第4波長は、求める植物生育指標に応じて適宜設定することができるが、本実施例では、第3波長は前記した第1波長、第4波長は前記した第2波長としている。また、太陽光測定部30は、反射光測定部20の第1可視撮像部と同様の構成の第2可視撮像部と、反射光測定部20の第1赤外撮像部と同様の構成の第2赤外撮像部と、を備え、可視光の画像データ及び赤外光の画像データを太陽光の光強度情報として制御部40へ出力する。具体的には、第2可視撮像部は、可視光の第3画像データSvを生成して制御部40へ出力し、第2赤外撮像部は、赤外光の第4画像データSiを生成して制御部40へ出力する。
 図5は、太陽光測定部30の外観構成を示す斜視図、図6A、6B、6Cは、太陽光測定部30の構成を示す三面図(正面図、側面図、平面図)である。図5及び図6A、6B、6Cに示すように、本実施例の太陽光測定部30は、入射した太陽光を散乱反射する(好ましくは理想的なランバート反射特性を有する)散乱反射板31と、散乱反射板31に対して所定の位置に設置された受光部32(第2可視撮像部及び第2赤外撮像部)と、散乱反射板31に対して入射する太陽光を遮蔽することができる光遮蔽部33と、これらを保持する筐体34及び支柱35などを備える。散乱反射板31は筐体34に支持され、受光部32は支柱35に支持され、これらは中心軸が一致するように対向配置(各々の面が水平になるように対向配置)される。また、光遮蔽部33は、筐体34及び支柱35によって、散乱反射板31及び受光部32の中心軸を回転軸Oとして回転可能に支持され、筐体34の内部に配置されたモータによって等速で回転する(好ましくは180度の正回転/逆回転を繰り返す)。光遮蔽部33は回転軸Oを挟んで対向する2つの部位を備えており、これらの部位は、回転角に応じて散乱反射板31に入射する太陽光を遮蔽し、当該太陽光の量を変化させるよう配置されている。すなわち、太陽光測定部30は、太陽と散乱反射板31とを結ぶ直線上に光遮蔽部33が配置される第1状態と、太陽と散乱反射板31とを結ぶ直線上に光遮蔽部33が配置されない第2状態と、を選択的に作成可能な構造を有する。
 そして、光遮蔽部33の一方の部位が略北側になるように設置し、光遮蔽部33を回転させながら散乱反射板31で反射した光を受光部32で撮像する。具体的には、第3波長及び第4波長の各々に対して、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態で受光部32に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態で受光部32に入射する太陽光の光量QBとを測定する。ここで、光量QBから光量QAを減算した値を光量QCとすると、光量QAは、受光部32に入射する光量のうちの散乱成分となり、光量QCは、受光部32に入射する光量のうちの直達成分となる。
 制御部40は、植物生育指標算出システム10の各部を制御して植物生育指標を求める。制御部40は、例えば、CPU(Central Processing Unit)及びその周辺回路を備えて構成される。CPUでコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されたプログラム(植物生育指標算出プログラム)が実行されることにより、制御部40は、情報取得部41、太陽角度演算部42、太陽方向演算部43、拡散度演算部44、葉密度演算部45及び生育指標演算部46として機能する。
 情報取得部41は、反射光測定部20に可視光の第1画像データRv及び赤外光の第2画像データRi(反射光強度情報)を生成させ、反射光測定部20から可視光の第1画像データRv及び赤外光の第2画像データRiを取得する。また、情報取得部41は、太陽光測定部30に可視光の第3画像データSv及び赤外光の第4画像データSi(太陽光の光強度情報)を生成させ、太陽光測定部30から可視光の第3画像データSv及び赤外光の第4画像データSiを取得する。その際、情報取得部41は、第3画像データSv及び第4画像データSiの各画素の光強度を、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態で受光部32に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態で受光部32に入射する太陽光の光量QBと、に分離して取得する。
 太陽角度演算部42は、GPS部21で取得した緯度X及び経度Yと、時計部60で計測した年月日時分(日時情報Tと呼ぶ。)と、に基づいて、公知の手法によって、太陽角度αを求める。例えば、まず、1月1日からの通し日数dnからθ0=2π(dn-1)/365によってθ0を求める。次に、下記の式1によって太陽赤緯δを求め、式2によって均時差Eqを求める。次に、式3によって、日本標準時間JSTから太陽の時角hを求める。そして、式4によって太陽高度Aを求め、太陽角度α=π/2-太陽高度Aから太陽角度αを求める。
 δ=0.006918-0.399912cos(θ0)+0.070257sin(θ0)-0.006758cos(2θ0)-0.000907sin(2θ0)-0.002697cos(3θ0)-0.001480sin(3θ0) … (式1)
 Eq=0.000075+0.001868cos(θ0)+0.032077sin(θ0)-0.0014615cos(2θ0)-0.040849sin(2θ0) … (式2)
 h=(JST-12)π/12+標準子午線からの経度差+均時差Eq … (式3)
 A=arcsin[sin(Y)sin(δ)+cos(Y)cos(δ)cos(h)] … (式4)
 太陽方向演算部43は、GPS部21で取得した緯度X及び経度Yと、時計部60で計った日時情報Tと、に基づいて、公知の手法によって、太陽方位φ1を求める。具体的には、下記の式5によって太陽方位φ1を求める。この求めた太陽方位φ1と方位計22で求めた反射光測定部20の測定方向の方位φCと、に基づいて、太陽方向φを求める。具体的には、太陽方向演算部43は、方位計22で測定した方位φCと式5から求められる太陽方位φ1との差分として太陽方向φを求める(φ=φ1-φC)。
 φ1=arctan[cos(Y)cos(δ)sin(h)/[sin(Y)sin(α)-sin(δ)]] … (式5)
 拡散度演算部44は、太陽光測定部30の測定結果に基づいて、拡散度Wを求める。例えば、拡散度演算部44は、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態で受光部32に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態で受光部32に入射する太陽光の光量QBとを用い、光量QBから光量QAを減算して光量QCを求める。光量QAは、受光部32に入射する光量のうちの散乱成分となり、光量QCは、受光部32に入射する光量のうちの直達成分となり、拡散度Wは、光量QA/光量QB又は光量QA/光量QCとなる。
 葉密度演算部45は、後述する生育情報記憶部52に記憶された生育情報に基づいて葉密度を求める。例えば、前記生育情報が植え付け(例えば田植え)からの日数と葉密度Lとの対応関係を示す情報である場合は、葉密度演算部45は、I/F部70を介して取得された植え付けからの日数に対応する葉密度を生育情報記憶部52に記憶された生育情報から求める。なお、植物生育指標算出システム10は、外部からデータを入力するための入力部(例えばテンキーやキーボード等)をさらに備え、この入力部を介して植え付けからの日数を入力する構成としてもよい。
 生育指標演算部46は、情報取得部41が取得した第1波長及び第2波長の反射光の光強度情報、第3波長及び第4波長の太陽光の光強度情報、太陽角度演算部42で求めた太陽高度A又は太陽角度αに基づいて、測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を求める。好ましくは、生育指標演算部46は、更に、太陽方向演算部43で求めた太陽方向φ、傾斜計23で取得した測定角度β、葉密度演算部45で求めた葉密度Lに基づいて、測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を求める。
 この植物生育指標の算出に際して、本実施例の情報取得部41は、太陽光の光強度情報を、直達成分と散乱成分とに分離して取得しているため、受光部32に入射する光量の直達成分及び散乱成分(若しくは、拡散度演算部44が算出した拡散度W)に基づいて反射光の光強度情報を補正することにより、植物生育指標を正確に算出することができる。例えば、植物生育指標としてNDVIを求める場合、赤外領域における測定データの反射率を「赤外反射率」、可視領域における測定データの反射率を「可視反射率」とすると、
 NDVI=(赤外反射率-可視反射率)/(赤外反射率+可視反射率) … (式6)
 反射率=反射光強度/入射光強度 … (式7)
 より、
 NDVI=(Ri/Si-Rv/Sv)/(Ri/Si+Rv/Sv)
=(Ri-Rv×Si/Sv)/(Ri+Rv×Si/Sv) … (式8)
 となる。
 ここで、
 Si=直達成分Sid+散乱成分Sis … (式9)
 Sv=直達成分Svd+散乱成分Svs … (式10)
 であるから、太陽高度Aを用いると、
 NDVI=(Ri-Rv×(Sid×A+Sis)/(Svd×A+Svs))/(Ri+Rv×(Sid×A+Sis)/(Svd×A+Svs)) … (式11)
 となる。
 記憶部50は、制御部40に接続され、制御部40の制御に従って、各種プログラム及び各種データを記憶する。上記各種プログラムには、例えば、当該植物生育指標算出システム10の各部を制御する制御プログラムや、測定対象の植物生育指標を求める植物生育指標算出プログラム等が含まれる。また、上記各種データには、葉密度を求めるための生育情報等の、植物生育指標の演算に必要なデータが含まれる。記憶部50は、例えば不揮発性の記憶素子であるROM(Read Only Memory)や書き換え可能な不揮発性の記憶素子であるEEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory)等の記憶装置を備える。また、記憶部50は、上記プログラムの実行中に生じるデータ等を記憶する、いわゆる制御部40のワーキングメモリとなるRAM(Random Access Memory)等を備える。なお、記憶部50は、比較的大容量のHDD(Hard Disk Drive)やSSD(Solid State Drive)等を備えても良い。
 上記記憶部50は、生育情報を記憶する生育情報記憶部52を備える。この生育情報は、例えば、植え付け(例えば田植え)からの日数と葉密度Lとの対応関係を示す情報である。この植え付けからの日数に代え、日付、葉齢、平均草丈及び平均茎数のうちのいずれかが用いられても良い。この生育情報は、複数のサンプルから求めた平年値等に基づいて予め作成され、例えば、ルックアップテーブルとして生育情報記憶部52に記憶される。
 時計部60は、制御部40に接続され、制御部40の制御に従って、年月日時分を計測し、計測した現在の日時情報Tを制御部40へ出力する。
 I/F部70は、制御部40に接続され、制御部40の制御に従って、制御部40と外部装置との間(図2の構成の場合は、反射光測定装置11と制御装置13、及び、太陽光測定装置12と制御装置13、図3の構成の場合は、反射光測定装置11と制御装置13、及び、太陽光測定装置12と制御装置13との間)でデータの入出力を行う回路である。例えば、シリアル通信方式であるRS232Cのインターフェース回路、Bluetooth(登録商標)規格を用いたインターフェース回路、IrDA(Infrared Data Association)規格等の赤外線通信を行うインターフェース回路、USB(Universal Serial Bus)規格を用いたインターフェース回路等である。また、I/F部70は、有線又は無線によって通信する通信カード等であり、例えば、イーサネット(登録商標)環境等の通信ネットワークを介して外部装置と通信しても良い。
 電源部80は、植物生育指標算出システム10の各部(図2の構成の場合は、反射光測定装置11、太陽光測定装置12、制御装置13の各部)へ、各部に応じた電圧で電力を供給する回路である。
 なお、図1乃至図4は、本実施例の植物生育指標算出システム10の一例であり、その構成や制御は適宜変更可能である。例えば、植物生育指標算出システム10は、必要に応じて、各種コマンドや各種データ等を入力する入力部を備えて良く、また、入力部で入力された各種コマンドや各種データ及び測定結果等を出力する出力部等を備えても良い。
 次に、本実施例の植物生育指標算出システム10の制御部40(図2及び図3のシステムの構成の場合は制御装置13)の動作について説明する。制御部40のCPUは、記憶部50(ROM、EEPROM、HDD、SSD等)などのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶された植物生育指標算出プログラムを記憶部50(RAM)に展開して実行することにより、図7のフローチャート図に示す各ステップの処理を実行する。
 まず、ユーザ(オペレータ)によって測定対象の群葉に反射光測定部20が向くように、植物生育指標算出システム10が配置される。ユーザによって電源スイッチがオンされると、制御部40は、必要な各部の初期化を実行し、植物生育指標算出プログラムの実行によって、制御部40は、情報取得部41、太陽角度演算部42、太陽方向演算部43、拡散度演算部44、葉密度演算部45及び生育指標演算部46として機能する。そして、植物生育指標算出システム10は、次のように動作する。
 図7に示すように、制御部40(情報取得部41)は、反射光測定部20及び太陽光測定部30から光強度情報を取得する(S101)。具体的には、制御部40(情報取得部41)は、反射光測定部20に測定対象の反射光の光強度を測定させ、反射光測定部20から可視光での第1画像データRv及び赤外光での第2画像データRiを取得する。また、制御部40(情報取得部41)は、太陽光測定部30に太陽光の光強度を測定させ、太陽光測定部30から可視光での第3画像データSv及び赤外光での第4画像データSiを取得する。その際、制御部40(情報取得部41)は、第3画像データSv及び第4画像データSiの各画素の光強度として、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態で受光部32に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態で受光部32に入射する太陽光の光量QBと、を取得する。
 次に、制御部40(情報取得部41)は、GPS部21、方位計22及び傾斜計23から各種情報を取得する(S102)。具体的には、制御部40(情報取得部41)は、GPS部21から緯度X及び経度Yを取得する。また、制御部40(情報取得部41)は、方位計22から方位φCを取得する。また、制御部40(情報取得部41)は、傾斜計23から測定角度βを取得する。
 次に、制御部40(情報取得部41)は、時計部60から日時情報Tを取得する(S103)。
 次に、制御部40(情報取得部41)は、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態で受光部32に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態で受光部32に入射する太陽光の光量QBと、を用い、光量QBから光量QAを減算した光量QCを算出することによって、第3画像データSv及び第4画像データSiを直達成分(Svd、Sid)と散乱成分(Svs、Sis)に分離する(S104)。
 次に、制御部40(拡散度演算部44)は、拡散度Wを求める(S105)。具体的には、制御部40(拡散度演算部44)は、光量QAを光量QBで除算、又は、光量QAを光量QCで除算して拡散度Wを求める。
 次に、制御部40(太陽角度演算部42)は、GPS部21で取得した緯度X及び経度Y、ならびに、時計部60で計った日時情報Tに基づいて、太陽高度A又は太陽角度αを求める(S106)。
 次に、制御部40(太陽方向演算部43)は、必要に応じて、方位計22で測定した方位φC、ならびに、時計部60で計った日時情報Tに基づいて、太陽とカメラの相対方向φを求める(S107)。
 次に、制御部40(葉密度演算部45)は、必要に応じて、生育情報記憶部51に記憶された生育情報Gと時計部60で計った日時情報Tとに基づいて、植え付けからの日数に対応する葉密度Lを算出する(S108)。
 次に、制御部40(生育指標演算部46)は、S104で求めた太陽光強度の直達成分及び散乱成分(又はS105で計算した拡散度W)に基づいて、S101で取得した測定対象の反射光強度を補正し、植物生育指標を算出する(S109)。具体的には、制御部40(生育指標演算部46)は、S101で取得した測定対象の反射光強度と、S104で求めた太陽光強度の直達成分及び散乱成分(又はS105で計算した拡散度W)と、S106で求めた太陽高度A(又は太陽角度α)と、必要に応じて、S107で算出した太陽とカメラの相対方向φ及びS108で算出した葉密度Lに基づいて、植物生育指標を算出する。例えば、式11に従い、測定対象の反射光強度と太陽光強度の直達成分及び散乱成分と太陽高度Aとを用いて植物生育指標を算出することができる。
 次に、制御部40(生育指標演算部46)は、S109で算出した植物生育指標をS103で取得した日時情報Tに対応付けて記憶部50に記憶したり、I/F部70を介して外部へ出力したりする(S110)。例えば、圃場の各位置の植物生育指標を記述したデータをMFP(Multi-Functional Peripherals)などの画像形成装置に出力して植物生育指標のマップを印刷できるようにしたり、外部のコンピュータ装置に出力して植物生育指標のマップを表示できるようにしたりする。
 以上説明したように、本実施例では、太陽光の光強度情報を直達成分と散乱成分とに分離し、植物生育指標を算出する際に、直達成分のみ依存する情報は直達成分を用いて計算することにより、植物生育指標における太陽光の影響を適切に判断することができる。
 次に、本発明の第2の実施例に係る植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム及び植物生育指標算出システムについて、図8乃至図14を参照して説明する。図8は、本実施例の植物生育指標算出システムの構成を示すブロック図であり、図9乃至図14は、本実施例の植物生育指標算出方法で利用するテーブルである。
 前記した第1の実施例では、植物生育指標算出システム10の制御部40が、測定により得られた太陽光の光強度情報を直達成分と散乱成分とに分離し、植物生育指標を算出する際に、この直達成分と散乱成分とに基づいて測定対象の反射光強度情報を補正したが、本実施例では、植物生育指標算出システム10の制御部40が植物生育指標を算出する際に、測定対象及び/又は測定対象を生育する圃場に関する補正情報に基づいて、測定対象の反射光強度情報を補正する場合について説明する。なお、本実施例の植物生育指標算出システム10は、実施例1と同様に図1乃至図3に示す構成とすることができるが、以下、図1の構成を前提にして、植物生育指標算出システム10の各部の動作について説明する。図8に示すように、本実施例の植物生育指標算出システム10は、実施例1と同様、反射光測定部20(図1の反射光測定装置11に対応)と、GPS部21と、方位計22と、傾斜計23と、太陽光測定部30(図1の太陽光測定装置12に対応)と、制御部40(図1の制御部13に対応)と、記憶部50と、時計部60と、I/F部70と、電源部80などで構成される。
 この太陽光測定部30は、図3の太陽光測定装置12のように地上に設置される場合は、実施例1と同様、図5に示すような構造として、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態で受光部32に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態で受光部32に入射する太陽光の光量QBとを測定することができる。ここで、光量QBから光量QAを減算した値を光量QCとすると、光量QAは、受光部32に入射する光量のうちの散乱成分となり、光量QCは、受光部32に入射する光量のうちの直達成分となる。
 制御部40は、植物生育指標算出システム10の各部を制御して植物生育指標を求める。制御部40は、例えば、CPU(Central Processing Unit)及びその周辺回路を備えて構成される。CPUでコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されたプログラム(植物生育指標算出プログラム)が実行されることにより、制御部40は、実施例1と同様、情報取得部41、太陽角度演算部42、太陽方向演算部43、拡散度演算部44、葉密度演算部45、生育指標演算部46として機能する。
 情報取得部41は、反射光測定部20から可視光の第1画像データRv及び赤外光の第2画像データRi(反射光強度情報)を取得する。また、情報取得部41は、太陽光測定部30から可視光の第3画像データSv及び赤外光の第4画像データSi(太陽光の光強度情報)を取得する。その際、太陽光測定部30が図5に示す構造の場合は、情報取得部41は、第3画像データSv及び第4画像データSiの各画素の光強度を、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態で受光部32に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態で受光部32に入射する太陽光の光量QBと、に分離して取得する。
 太陽角度演算部42は、GPS部21で取得した緯度X及び経度Yと、時計部60で計測した年月日時分(日時情報Tと呼ぶ。)と、に基づいて、公知の手法によって、太陽角度αを求める。例えば、まず、1月1日からの通し日数dnからθ0=2π(dn-1)/365によってθ0を求める。次に、式1によって太陽赤緯δを求め、式2によって均時差Eqを求める。次に、式3によって、日本標準時間JSTから太陽の時角hを求める。そして、式4によって太陽高度Aを求め、太陽角度α=π/2-太陽高度Aから太陽角度αを求める。
 太陽方向演算部43は、GPS部21で取得した緯度X及び経度Yと、時計部60で計った日時情報Tと、に基づいて、公知の手法によって、太陽方位φ1を求める。具体的には、式5によって太陽方位φ1を求める。この求めた太陽方位φ1と方位計22で求めた反射光測定部20の測定方向の方位φCと、に基づいて、太陽方向φを求める。具体的には、太陽方向演算部43は、方位計22で測定した方位φCと式5から求められる太陽方位φ1との差分として太陽方向φを求める(φ=φ1-φC)。
 拡散度演算部44は、太陽光測定部30の測定結果に基づいて、拡散度Wを求める。例えば、拡散度演算部44は、第2可視撮像部で生成された可視光での第3画像データSvの標準偏差σsvを求め、この標準偏差σsvで所定係数Kを除算することで拡散度Wを求める。あるいは、例えば、拡散度演算部44は、第2赤外撮像部で生成された赤外光での第4画像データSiの標準偏差σsiを求め、この標準偏差σsiで所定係数Kを除算することで拡散度Wを求める。上記所定係数Kは、雲がない快晴の場合に拡散度Wが0となり、曇天の場合に拡散度Wが1となるように正規化するための係数である。また、例えば、拡散度演算部44は、反射光測定部20のシャッタースピード(例えば第1可視撮像部のシャッタースピード)ssを反射光測定部20から取得し、このシャッタースピードssをそのまま拡散度Wとすることもできる。また、太陽光測定部30が図5に示す構造の場合は、拡散度演算部44は、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態で受光部32に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態で受光部32に入射する太陽光の光量QBとを用い、光量QBから光量QAを減算して光量QCを求める。光量QAは、受光部32に入射する光量のうちの散乱成分となり、光量QCは、受光部32に入射する光量のうちの直達成分となり、拡散度Wは、光量QA/光量QB又は光量QA/光量QCとなる。
 葉密度演算部45は、後述する生育情報記憶部52に記憶された生育情報に基づいて葉密度を求める。例えば、前記生育情報が植え付け(例えば田植え)からの日数と葉密度Lとの対応関係を示す情報である場合は、葉密度演算部45は、I/F部70を介して取得された植え付けからの日数に対応する葉密度を生育情報記憶部52に記憶された生育情報から求める。なお、植物生育指標算出システム10は、外部からデータを入力するための入力部(例えばテンキーやキーボード等)をさらに備え、この入力部を介して植え付けからの日数を入力する構成としてもよい。
 生育指標演算部46は、情報取得部41が取得した第1波長及び第2波長の反射光の光強度情報、第3波長及び第4波長の太陽光の光強度情報、太陽角度演算部42で求めた太陽高度A又は太陽角度αに基づいて、測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を求める。好ましくは、生育指標演算部46は、更に、太陽方向演算部43で求めた太陽方向φ、傾斜計23で取得した測定角度β、葉密度演算部45で求めた葉密度Lに基づいて、測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を求める。
 また、太陽光測定部30が図5に示す構造の場合は、生育指標演算部46は、受光部32に入射する光量の直達成分及び散乱成分(若しくは、拡散度演算部44が算出した拡散度W)に基づいて反射光の光強度情報を補正することにより、植物生育指標を算出することもできる。例えば、植物生育指標としてNDVIを求める場合、式11に従い、植物生育指標を算出することができる。
 上記植物生育指標を算出する際、本実施例では、生育指標演算部46は、後述する補正情報(植物の品種に応じた反射光強度を示す品種情報、植物の植付間隔及び植付深度のうち少なくとも一方に応じた反射光強度を示す植付情報、植被率に応じた反射光強度を示す植被率情報、圃場の土壌の状態に応じた反射光強度を示す土壌情報、圃場における水面の割合に応じた反射光強度を示す水面情報など)に基づいて、反射光の光強度情報を補正して、植物生育指標を算出(又は、一旦算出した植物生育指標を補正)する。
 具体的には、例えば、測定対象の植物の品種の情報を予め生産者などから入手し、生育指標演算部46は、補正情報(様々な品種に応じた反射光強度)を参照して、補正情報のうち、その品種に対応する反射光強度を基準の品種に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した補正量を用いて反射光の光強度情報を補正することによって、植物生育指標を算出又は補正する。
 また、測定対象の植物の植付間隔及び植付深度のうち少なくとも一方を予め生産者などから入手し、生育指標演算部46は、補正情報(様々な植付間隔及び/又は植付深度に応じた反射光強度)を参照して、補正情報のうち、その植付間隔及び植付深度のうち少なくとも一方に対応する反射光強度を基準の植付間隔及び植付深度のうち少なくとも一方に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した補正量を用いて反射光の光強度情報を補正することによって、植物生育指標を算出又は補正する。
 また、生育指標演算部46は、測定対象の植物の品種と植付間隔及び植付深度のうち少なくとも一方とから測定対象の圃場の植被率(土壌に対する葉の面積比率)を求めたり、例えば赤外の反射光強度の標準偏差σを求め、求めた標準偏差σで所定係数Kを除算して、測定対象の圃場の植被率を求めたりし、補正情報(様々な植被率に応じた反射光強度)を参照して、補正情報のうち、その植被率に対応する反射光強度を基準の植被率に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した補正量を用いて反射光の光強度情報を補正することによって、植物生育指標を算出又は補正する。
 また、例えば土壌の種類を予め生産者などから入手したり、土壌の反射率を予め測定するなどして、測定対象の圃場の土壌の状態を求め、生育指標演算部46は、補正情報(様々な土壌の状態に応じた反射光強度)を参照して、補正情報のうち、その土壌の状態に対応する反射光強度を基準の土壌の状態に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した補正量を用いて反射光の光強度情報を補正することによって、植物生育指標を算出又は補正する。
 また、例えば水面の面積や反射率を予め測定するなどして、測定対象の圃場の水面の割合を求め、生育指標演算部46は、補正情報(様々な水面の割合に応じた反射光強度)を参照して、補正情報のうち、その水面の割合に対応する反射光強度を基準の水面の割合に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した補正量を用いて反射光の光強度情報を補正することによって、植物生育指標を算出又は補正する。
 なお、品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合の全ての要素に対して補正量を算出する必要はなく、少なくとも1つの要素に対して補正量を算出すればよい。また、品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合の各要素の基準は適宜設定することができ、例えば、各要素の平均的な情報や頻度が高い情報を基準として定めておき、生育指標演算部46により、少なくとも1つの要素に対して、補正情報のうち、測定対象及び測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一方に対応する反射光強度を、当該基準に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出することができる。
 記憶部50は、制御部40に接続され、制御部40の制御に従い、各種プログラム及び各種データを記憶する。上記各種プログラムには、例えば、当該植物生育指標算出システム10の各部を制御する制御プログラムや、測定対象の植物生育指標を求める植物生育指標算出プログラム等が含まれる。また、上記各種データには、補正情報、生育情報等が含まれる。記憶部50は、例えば不揮発性の記憶素子であるROMや書き換え可能な不揮発性の記憶素子であるEEPROM等の記憶装置を備える。また、記憶部50は、上記プログラムの実行中に生じるデータ等を記憶する、いわゆる制御部40のワーキングメモリとなるRAM等を備える。なお、記憶部50は、比較的大容量のHDDやSSD等を備えても良い。
 上記記憶部50は、上記情報を記憶するために、補正情報記憶部51、生育情報記憶部52を機能的に備える。
 補正情報は、品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合などの各要素を変化させた時の反射光強度を記述した情報であり、例えば、様々な品種や植付間隔、植付深度に対して、植付からの日数や累積日照時間を変化させた場合の可視及び赤外の反射光強度を記述した情報である。また、補正情報は、例えば、様々な植被率、土壌の状態、水面の割合に対して、太陽高度を変化させた場合の可視及び赤外の反射光強度を記述した情報である。
 図9は、品種情報の一例であり、様々な品種(図9では品種1~品種n)に対して植付からの日数や累積日照時間を変化させた時(図9では日数1~日数i、累積日照時間1~累積日照時間i)の可視及び赤外の反射光強度が記述される。図10は、植付情報の一例であり、様々な植付間隔(図10では間隔1~間隔n)に対して植付からの日数や累積日照時間を変化させた時(図10では日数1~日数i、累積日照時間1~累積日照時間i)の可視及び赤外の反射光強度が記述される。図11は、植付情報の他の例であり、様々な植付深度(図11では深度1~深度n)に対して植付からの日数や累積日照時間を変化させた時(図11では日数1~日数i、累積日照時間1~累積日照時間i)の可視及び赤外の反射光強度が記述される。図12は、植被率情報の一例であり、様々な植被率(図12では植被率1~植被率n)に対して太陽高度を変化させた時(図12では太陽高度1~太陽高度i)の可視及び赤外の反射光強度が記述される。図13は、土壌情報の一例であり、様々な土壌の種類(図13では土壌1~土壌n)に対して太陽高度を変化させた時(図13では太陽高度1~太陽高度i)の可視及び赤外の反射光強度が記述される。図14は、水面情報の一例であり、様々な水面の割合(図14では割合1~割合n)に対して太陽高度を変化させた時(図14では太陽高度1~太陽高度i)の可視及び赤外の反射光強度が記述される。
 また、生育情報は、例えば、植え付け(例えば田植え)からの日数と葉密度Lとの対応関係を示す情報である。この植え付けからの日数に代え、日付、葉齢、平均草丈及び平均茎数のうちのいずれかが用いられても良い。この生育情報は、複数のサンプルから求めた平年値等に基づいて予め作成され、例えば、ルックアップテーブルとして生育情報記憶部52に記憶される。
 次に、本実施例の植物生育指標算出システム10の制御部40(図2及び図3のシステム構成の場合は制御装置13)の動作について説明する。実施例1と同様、制御部40のCPUは、記憶部50(ROM、EEPROM、HDD、SSD等)などのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶された植物生育指標算出プログラムを記憶部50(RAM)に展開して実行することにより、図7のフローチャート図に示す各ステップの処理を実行する。
 まず、ユーザ(オペレータ)によって測定対象の群葉に反射光測定部20が向くように、植物生育指標算出システム10が配置される。ユーザによって電源スイッチがオンされると、制御部40は、必要な各部の初期化を実行し、植物生育指標算出プログラムの実行によって、制御部40は、情報取得部41、太陽角度演算部42、太陽方向演算部43、拡散度演算部44、葉密度演算部45、生育指標演算部46として機能する。そして、植物生育指標算出システム10は、次のように動作する。なお、以下では、太陽光測定部30が図5に示すような構造であり、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態における光量と、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態における光量とを測定するものとする。
 図7に示すように、制御部40(情報取得部41)は、反射光測定部20及び太陽光測定部30から光強度情報を取得する(S101)。具体的には、制御部40(情報取得部41)は、反射光測定部20に測定対象の反射光の光強度を測定させ、反射光測定部20から可視光での第1画像データRv及び赤外光での第2画像データRiを取得する。また、制御部40(情報取得部41)は、太陽光測定部30に太陽光の光強度を測定させ、太陽光測定部30から可視光での第3画像データSv及び赤外光での第4画像データSiを取得する。その際、制御部40(情報取得部41)は、第3画像データSv及び第4画像データSiの各画素の光強度として、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態で受光部32に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態で受光部32に入射する太陽光の光量QBと、を取得する。
 次に、制御部40(情報取得部41)は、GPS部21、方位計22及び傾斜計23から各種情報を取得する(S102)。具体的には、制御部40(情報取得部41)は、GPS部21から緯度X及び経度Yを取得する。また、制御部40(情報取得部41)は、方位計22から方位φCを取得する。また、制御部40(情報取得部41)は、傾斜計23から測定角度βを取得する。
 次に、制御部40(情報取得部41)は、時計部60から日時情報Tを取得する(S103)。
 次に、制御部40(情報取得部41)は、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽された状態で受光部32に入射する太陽光の光量QAと、散乱反射板31に入射する太陽光が光遮蔽部33によって遮蔽されない状態で受光部32に入射する太陽光の光量QBと、を用い、光量QBから光量QAを減算した光量QCを算出することによって、第3画像データSv及び第4画像データSiを直達成分(Svd、Sid)と散乱成分(Svs、Sis)に分離する(S104)。
 次に、制御部40(拡散度演算部44)は、拡散度Wを求める(S105)。具体的には、制御部40(拡散度演算部44)は、光量QAを光量QBで除算、又は、光量QAを光量QCで除算して拡散度Wを求める。
 次に、制御部40(太陽角度演算部42)は、GPS部21で取得した緯度X及び経度Y、ならびに、時計部60で計った日時情報Tに基づいて、太陽高度A又は太陽角度αを求める(S106)。
 次に、制御部40(太陽方向演算部43)は、必要に応じて、方位計22で測定した方位φC、ならびに、時計部60で計った日時情報Tに基づいて、太陽とカメラの相対方向φを求める(S107)。
 次に、制御部40(葉密度演算部45)は、必要に応じて、生育情報記憶部52に記憶された生育情報Gと時計部60で計った日時情報Tとに基づいて、植え付けからの日数に対応する葉密度Lを算出する(S108)。
 次に、制御部40(生育指標演算部46)は、S101で取得した測定対象の反射光強度と、S104で求めた太陽光強度の直達成分及び散乱成分(又はS105で計算した拡散度W)と、S106で求めた太陽高度A(又は太陽角度α)と、必要に応じて、S107で算出した太陽とカメラの相対方向φ及びS108で算出した葉密度Lに基づいて、植物生育指標を算出する(S109)。例えば、式11に従い、測定対象の反射光強度と太陽光強度の直達成分及び散乱成分と太陽高度Aとを用いて植物生育指標を算出することができる。
 その際、品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合の各要素を変化させた時の反射光強度を予め取得して補正情報を作成し、記憶部50(補正情報記憶部51)に記憶しておき、制御部40(生育指標演算部46)は、記憶部50(補正情報記憶部51)に記憶した補正情報を参照して、品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合の中から選択される少なくとも1つの要素に対して、補正情報のうち、測定対象の植物及び圃場のうち少なくとも一方に対応する反射光強度を予め定めた基準に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した補正量を用いて、S101で取得した測定対象の反射光強度を補正することにより植物生育指標を算出又は補正する。
 次に、制御部40(生育指標演算部46)は、S109で算出又は補正した植物生育指標をS103で取得した日時情報Tに対応付けて記憶部50に記憶したり、I/F部70を介して外部へ出力したりする(S110)。例えば、圃場の各位置の植物生育指標を記述したデータをMFP(Multi-Functional Peripherals)などの画像形成装置に出力して植物生育指標のマップを印刷できるようにしたり、外部のコンピュータ装置に出力して植物生育指標のマップを表示できるようにしたりする。
 以上説明したように、本実施例では、植物の品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合の各要素を変化させた時の反射光強度を予め取得して補正情報を作成しておき、反射光測定装置から取得した測定対象の反射光強度情報と太陽光測定装置から取得した太陽光の光強度情報とを用いて植物生育指標を算出する際に、補正情報を参照して、植物の品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合の少なくとも1つの要素に対して、補正情報のうち、測定対象の植物及び測定対象の植物を生育する圃場のうち少なくとも一方に対応する反射光強度を予め定めた基準に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した補正量を用いて測定対象の反射光強度を補正して植物生育指標を算出又は補正することにより、様々な特性の圃場に様々な特性の植物を生育する場合において、植物生育指標を適切に算出することができる。
 なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない限りにおいて、その構成や制御は適宜変更可能である。
 例えば、上記実施例では、植物や圃場に関する補正情報として、植物の品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合を例示したが、植物や圃場に関する補正情報はこれらに限定されない。また、上記実施例では第3波長を第1波長、第4波長を第2波長とし、太陽光測定部30(太陽光測定装置12)が第3波長及び第4波長で太陽光の光強度を測定したが、第3波長及び第4波長はこれらに限定されない。例えば、予め太陽光の光強度の波長特性が分かっており、生育情報としてNDVI値を求める場合には、太陽光測定部30(太陽光測定装置12)は第3波長及び第4波長として任意の2波長により太陽光の光強度を測定し、それぞれの光強度を太陽光の光強度の波長特性に基づき、第1波長及び第2波長の太陽光の光強度を算出して太陽光の光強度情報を出力し、制御部40(制御装置13)がNDVI値を求める計算を行ってもよい。
 また、上記実施例では、植物生育指標としてNDVI値を求める場合を示したが、例えば、RVI(Ratio Vegetation Index、比植生指標)やDVI(Difference Vegetation Index、差植生指標)、TVI(Transformed Vegetation Index)、IPVI(Infrared Percentage Vegetation Index)を求める場合も、本発明の手法を同様に適用することができる。
 本発明は、植物や圃場に関する補正情報を利用して植物生育指標を算出する植物生育指標算出方法、植物生育指標算出プログラム、当該植物生育指標算出プログラムを記録した記録媒体及び植物生育指標算出システムに利用可能である。
 10 植物生育指標算出システム
 11 反射光測定装置
 12 太陽光測定装置
 13 制御装置
 20 反射光測定部
 21 GPS部
 22 方位計
 23 傾斜計
 30 太陽光測定部
 31 散乱反射板
 32 受光部
 33 光遮蔽部
 34 筐体
 35 支柱
 40 制御部
 41 情報取得部
 42 太陽角度演算部
 43 太陽方向演算部
 44 拡散度演算部
 45 葉密度演算部
 46 生育指標演算部
 50 記憶部
 51 補正情報記憶部
 52 生育情報記憶部
 60 時計部
 70 I/F部
 80 電源部

Claims (36)

  1.  制御装置と、前記制御装置の指示に基づいて、複数の葉を持つ測定対象の反射光強度を測定する反射光測定装置と、前記制御装置の指示に基づいて、太陽光の光強度を測定する太陽光測定装置と、を含むシステムにおける植物生育指標算出方法であって、
     前記反射光測定装置が、第1波長及び前記第1波長とは異なる第2波長で前記測定対象の反射光強度を測定する第1処理と、
     前記太陽光測定装置が、第3波長及び前記第3波長とは異なる第4波長で前記太陽光の光強度を測定する第2処理と、
     前記制御装置が、前記反射光測定装置から取得した前記測定対象の反射光強度情報と前記太陽光測定装置から取得した前記太陽光の光強度情報とを用いて、前記測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する第3処理と、を実行し、
     前記第3処理では、前記太陽光の光強度情報、前記測定対象及び前記測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一に関する補正情報に基づいて、前記測定対象の反射光強度情報を補正して、前記植物生育指標を算出する、
     植物生育指標算出方法。
  2.  前記第3処理では、前記太陽光の光強度情報を直達成分と散乱成分とに分離し、前記直達成分と前記散乱成分とに基づいて、前記反射光強度情報を補正する、
     請求項1に記載の植物生育指標算出方法。
  3.  前記第3処理では、前記直達成分と前記散乱成分とに基づいて拡散度を算出する、
     請求項2に記載の植物生育指標算出方法。
  4.  前記第3処理では、前記太陽光測定装置の設置位置の経度及び緯度と、前記太陽光測定装置が前記太陽光の光強度を測定した日時情報と、に基づいて、太陽高度を算出し、前記測定対象の反射光強度情報と、前記太陽光の前記直達成分及び前記散乱成分、又は、前記拡散度と、前記太陽高度と、に基づいて、前記植物生育指標を算出する、
     請求項2又は3に記載の植物生育指標算出方法。
  5.  前記太陽光測定装置は、入射した太陽光を散乱反射する散乱反射板と、前記散乱反射板に対向配置された受光部と、前記散乱反射板に入射する太陽光を遮蔽する光遮蔽部と、を有し、
     前記第2処理では、前記散乱反射板に入射する太陽光が前記光遮蔽部によって遮蔽された状態で前記受光部に入射する太陽光の光量QAと、前記散乱反射板に入射する太陽光が前記光遮蔽部によって遮蔽されない状態で前記受光部に入射する太陽光の光量QBと、を測定し、
     前記第3処理では、前記光量QAを前記受光部に入射する太陽光の光量のうちの前記散乱成分に設定し、前記光量QBから前記光量QAを減算した光量QCを前記受光部に入射する太陽光の光量のうちの前記直達成分に設定する、
     請求項2乃至4のいずれか一に記載の植物生育指標算出方法。
  6.  前記第2処理では、前記第3波長及び前記第4波長の各々に対して、前記光量QA及び前記光量QBを測定し、
     前記第3処理では、前記第3波長及び前記第4波長の各々に対して、前記直達成分及び前記散乱成分を設定する、
     請求項5に記載の植物生育指標算出方法。
  7.  前記太陽光測定装置は、太陽と前記散乱反射板とを結ぶ直線上に前記光遮蔽部が配置される第1状態と、太陽と前記散乱反射板とを結ぶ直線上に前記光遮蔽部が配置されない第2状態と、を選択的に作成可能な構造を有する、
     請求項5又は6に記載の植物生育指標算出方法。
  8.  前記光遮蔽部は、前記受光部及び前記散乱反射板の中心軸を回転軸として等速で回転する、
     請求項7に記載の植物生育指標算出方法。
  9.  前記第3処理では、前記測定対象及び前記測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一方に関する補正情報に基づいて、前記測定対象の反射光強度情報を補正して、前記植物生育指標を算出する、
     請求項1乃至8のいずれか一に記載の植物生育指標算出方法。
  10.  前記補正情報は、植物の品種に応じた反射光強度を示す品種情報、植物の植付間隔及び植付深度のうち少なくとも一方に応じた反射光強度を示す植付情報、圃場の土壌の状態に応じた反射光強度を示す土壌情報、圃場における水面の割合に応じた反射光強度を示す水面情報の少なくとも1つである、
     請求項9に記載の植物生育指標算出方法。
  11.  前記補正情報は、前記品種と前記植付間隔及び前記植付深度のうち少なくとも一方とから算出される、土壌に対する葉の面積比率を規定する植被率に応じた反射光強度を示す植被率情報を含む、
     請求項10に記載の植物生育指標算出方法。
  12.  品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合の各要素 を変化させた時の反射光強度を予め取得して、前記補正情報を作成しておき、前記第3処理では、作成した前記補正情報を参照して、少なくとも1つの前記要素に対して、前記測定対象及び前記圃場のうち少なくとも一方に対応する反射光強度を、予め定めた基準に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した前記補正量を用いて前記測定対象の反射光強度情報を補正する、
     請求項10又は11に記載の植物生育指標算出方法。
  13.  制御装置と、前記制御装置の指示に基づいて、複数の葉を持つ測定対象の反射光強度を測定する反射光測定装置と、前記制御装置の指示に基づいて、太陽光の光強度を測定する太陽光測定装置と、を含むシステムにおける前記制御装置で動作する植物生育指標算出プログラムであって、
     前記制御装置に、
     前記反射光測定装置から、第1波長及び前記第1波長とは異なる第2波長で測定した前記測定対象の反射光強度情報を取得する第1処理、
     前記太陽光測定装置から、第3波長及び前記第3波長とは異なる第4波長で測定した前記太陽光の光強度情報を取得する第2処理、
     前記測定対象の反射光強度情報と前記太陽光の光強度情報とを用いて、前記測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する第3処理、を実行させ、
     前記第3処理では、前記太陽光の光強度情報、前記測定対象及び前記測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一に関する補正情報に基づいて、前記測定対象の反射光強度情報を補正して、前記植物生育指標を算出する、
     植物生育指標算出プログラム。
  14.  前記第3処理では、前記太陽光の光強度情報を直達成分と散乱成分とに分離し、前記直達成分と前記散乱成分とに基づいて、前記反射光強度情報を補正する、
     請求項13に記載の植物生育指標算出プログラム。
  15.  前記第3処理では、前記直達成分と前記散乱成分とに基づいて拡散度を算出する、
     請求項14に記載の制御プログラム。
  16.  前記第3処理では、前記太陽光測定装置の設置位置の経度及び緯度と、前記太陽光測定装置が前記太陽光の光強度を測定した日時情報と、に基づいて、太陽高度を算出し、前記測定対象の反射光強度情報と、前記太陽光の前記直達成分及び前記散乱成分、又は、前記拡散度と、前記太陽高度と、に基づいて、前記植物生育指標を算出する、
     請求項14又は15に記載の植物生育指標算出プログラム。
  17.  前記太陽光測定装置は、入射した太陽光を散乱反射する散乱反射板と、前記散乱反射板に対向配置された受光部と、前記散乱反射板に入射する太陽光を遮蔽する光遮蔽部と、を有し、
     前記第3処理では、前記太陽光測定装置から、前記散乱反射板に入射する太陽光が前記光遮蔽部によって遮蔽された状態で前記受光部に入射する太陽光の光量QAと、前記散乱反射板に入射する太陽光が前記光遮蔽部によって遮蔽されない状態で前記受光部に入射する太陽光の光量QBと、を取得し、前記光量QAを前記受光部に入射する太陽光の光量のうちの前記散乱成分に設定し、前記光量QBから前記光量QAを減算した光量QCを前記受光部に入射する太陽光の光量のうちの前記直達成分に設定する、
     請求項14乃至16のいずれか一に記載の植物生育指標算出プログラム。
  18.  前記第3処理では、前記太陽光測定装置から、前記第3波長及び前記第4波長の各々に対して測定した前記光量QA及び前記光量QBを取得し、前記第3波長及び前記第4波長の各々に対して、前記直達成分及び前記散乱成分を設定する、
     請求項17に記載の植物生育指標算出プログラム。
  19.  前記第3処理では、前記測定対象及び前記測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一方に関する補正情報に基づいて、前記測定対象の反射光強度情報を補正して、前記植物生育指標を算出する、
     請求項13乃至18のいずれか一に記載の植物生育指標算出プログラム。
  20.  前記補正情報は、植物の品種に応じた反射光強度を示す品種情報、植物の植付間隔及び植付深度のうち少なくとも一方に応じた反射光強度を示す植付情報、圃場の土壌の状態に応じた反射光強度を示す土壌情報、圃場における水面の割合に応じた反射光強度を示す水面情報の少なくとも1つである、
     請求項19に記載の植物生育指標算出プログラム。
  21.  前記補正情報は、前記品種と前記植付間隔及び前記植付深度のうち少なくとも一方とから算出される、土壌に対する葉の面積比率を規定する植被率に応じた反射光強度を示す植被率情報を含む、
     請求項20に記載の植物生育指標算出プログラム。
  22.  品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合の各要素を変化させた時の反射光強度を予め取得して、前記補正情報を作成しておき、前記第3処理では、作成した前記補正情報を参照して、少なくとも1つの前記要素に対して、前記測定対象及び前記圃場のうち少なくとも一方に対応する反射光強度を、予め定めた基準に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した前記補正量を用いて前記測定対象の反射光強度情報を補正する、
     請求項20又は21に記載の植物生育指標算出プログラム。
  23.  制御装置と、前記制御装置の指示に基づいて、複数の葉を持つ測定対象の反射光強度を測定する反射光測定装置と、前記制御装置の指示に基づいて、太陽光の光強度を測定する太陽光測定装置と、を含む植物生育指標算出システムであって、
     前記反射光測定装置は、第1波長及び前記第1波長とは異なる第2波長で前記測定対象の反射光強度を測定可能であり、
     前記太陽光測定装置は、第3波長及び前記第3波長とは異なる第4波長で前記太陽光の光強度を測定可能であり、
     前記制御装置は、前記反射光測定装置から取得した前記測定対象の反射光強度情報と前記太陽光測定装置から取得した前記太陽光の光強度情報とを用いて、前記測定対象における生育の度合いを表す植物生育指標を算出する演算部を備え、
     前記演算部は、前記太陽光の光強度情報、前記測定対象及び前記測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一に関する補正情報に基づいて、前記測定対象の反射光強度情報を補正して、前記植物生育指標を算出する、
     植物生育指標算出システム。
  24.  前記演算部は、前記太陽光の光強度情報を直達成分と散乱成分とに分離し、前記直達成分と前記散乱成分とに基づいて、前記反射光強度情報を補正する、
     請求項23に記載の植物生育指標算出システム。
  25.  前記演算部は、前記直達成分と前記散乱成分とに基づいて拡散度を算出する、
     請求項24に記載の植物生育指標算出システム。
  26.  前記演算部は、前記太陽光測定装置の設置位置の経度及び緯度と、前記太陽光測定装置が前記太陽光の光強度を測定した日時情報と、に基づいて、太陽高度を算出し、前記測定対象の反射光強度情報と、前記太陽光の前記直達成分及び前記散乱成分、又は、前記拡散度と、前記太陽高度と、に基づいて、前記植物生育指標を算出する、
     請求項24又は25に記載の植物生育指標算出システム。
  27.  前記太陽光測定装置は、入射した太陽光を散乱反射する散乱反射板と、前記散乱反射板に対向配置された受光部と、前記散乱反射板に入射する太陽光を遮蔽する光遮蔽部と、を有し、前記散乱反射板に入射する太陽光が前記光遮蔽部によって遮蔽された状態で前記受光部に入射する太陽光の光量QAと、前記散乱反射板に入射する太陽光が前記光遮蔽部によって遮蔽されない状態で前記受光部に入射する太陽光の光量QBと、を測定し、
     前記演算部は、前記光量QAを前記受光部に入射する太陽光の光量のうちの前記散乱成分に設定し、前記光量QBから前記光量QAを減算した光量QCを前記受光部に入射する太陽光の光量のうちの前記直達成分に設定する、
     請求項24乃至26のいずれか一に記載の植物生育指標算出システム。
  28.  前記太陽光測定装置は、前記第3波長及び前記第4波長の各々に対して、前記光量QA及び前記光量QBを測定し、
     前記演算部は、前記第3波長及び前記第4波長の各々に対して、前記直達成分及び前記散乱成分を設定する、
     請求項27に記載の植物生育指標算出システム。
  29.  前記太陽光測定装置は、太陽と前記散乱反射板とを結ぶ直線上に前記光遮蔽部が配置される第1状態と、太陽と前記散乱反射板とを結ぶ直線上に前記光遮蔽部が配置されない第2状態と、を選択的に作成可能な構造を有する、
     請求項27又は28に記載の植物生育指標算出システム。
  30.  前記光遮蔽部は、前記受光部及び前記散乱反射板の中心軸を回転軸として等速で回転する、
     請求項29に記載の植物生育指標算出システム。
  31.  前記反射光測定装置と前記太陽光測定装置と前記制御装置とは別々に構成され、前記反射光測定装置は空撮可能な飛行体に装着され、前記太陽光測定装置は地上に設置される、
     請求項23乃至30のいずれか一に記載の植物生育指標算出システム。
  32.  前記反射光測定装置と前記太陽光測定装置と前記制御装置とは一体的に構成され、空撮可能な飛行体に装着される、
     請求項23乃至30のいずれか一に記載の植物生育指標算出システム。
  33.  前記演算部は、前記測定対象及び前記測定対象を生育する圃場のうち少なくとも一方に関する補正情報に基づいて、前記測定対象の反射光強度情報を補正して、前記植物生育指標を算出する、
     請求項23乃至32のいずれか一に記載の植物生育指標算出システム。
  34.  前記補正情報は、植物の品種に応じた反射光強度を示す品種情報、植物の植付間隔及び植付深度のうち少なくとも一方に応じた反射光強度を示す植付情報、圃場の土壌の状態に応じた反射光強度を示す土壌情報、圃場における水面の割合に応じた反射光強度を示す水面情報の少なくとも1つである、
     請求項33に記載の植物生育指標算出システム。
  35.  前記補正情報は、前記品種と前記植付間隔及び前記植付深度のうち少なくとも一方とから算出される、土壌に対する葉の面積比率を規定する植被率に応じた反射光強度を示す植被率情報を含む、
     請求項34に記載の植物生育指標算出システム。
  36.  品種、植付間隔、植付深度、植被率、土壌の状態、水面の割合の各要素を変化させた時の反射光強度を予め取得して、前記補正情報を作成しておき、前記第3処理では、作成した前記補正情報を参照して、少なくとも1つの前記要素に対して、前記測定対象及び前記圃場のうち少なくとも一方に対応する反射光強度を、予め定めた基準に対応する反射光強度に合わせるための補正量を算出し、算出した前記補正量を用いて前記測定対象の反射光強度情報を補正する、
     請求項34又は35に記載の植物生育指標算出システム。
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