WO2018207727A1 - 超電導線材および超電導コイル - Google Patents

超電導線材および超電導コイル Download PDF

Info

Publication number
WO2018207727A1
WO2018207727A1 PCT/JP2018/017614 JP2018017614W WO2018207727A1 WO 2018207727 A1 WO2018207727 A1 WO 2018207727A1 JP 2018017614 W JP2018017614 W JP 2018017614W WO 2018207727 A1 WO2018207727 A1 WO 2018207727A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
superconducting
layer
stress
coil
laminate
Prior art date
Application number
PCT/JP2018/017614
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
直識 中村
Original Assignee
株式会社フジクラ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2017095548A external-priority patent/JP6349439B1/ja
Priority claimed from JP2017095696A external-priority patent/JP6318284B1/ja
Application filed by 株式会社フジクラ filed Critical 株式会社フジクラ
Priority to CN201880024565.XA priority Critical patent/CN110494935A/zh
Priority to US16/612,238 priority patent/US20200211741A1/en
Priority to RU2019135320A priority patent/RU2719388C1/ru
Priority to EP18798094.1A priority patent/EP3624143A4/en
Publication of WO2018207727A1 publication Critical patent/WO2018207727A1/ja

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B12/00—Superconductive or hyperconductive conductors, cables, or transmission lines
    • H01B12/02—Superconductive or hyperconductive conductors, cables, or transmission lines characterised by their form
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N60/00—Superconducting devices
    • H10N60/20—Permanent superconducting devices
    • H10N60/203—Permanent superconducting devices comprising high-Tc ceramic materials
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/08—Oxides
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B12/00—Superconductive or hyperconductive conductors, cables, or transmission lines
    • H01B12/02—Superconductive or hyperconductive conductors, cables, or transmission lines characterised by their form
    • H01B12/06—Films or wires on bases or cores
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F6/00—Superconducting magnets; Superconducting coils
    • H01F6/06—Coils, e.g. winding, insulating, terminating or casing arrangements therefor

Definitions

  • the present invention relates to a superconducting wire and a superconducting coil.
  • This application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2017-095548 and Japanese Patent Application No. 2017-095696 filed on May 12, 2017, the contents of which are incorporated herein by reference.
  • Superconducting wires for example, Y-based oxide superconducting wires
  • the superconducting wire may be deteriorated by peeling stress caused by the difference in thermal shrinkage between the impregnated material and the wire after cooling after coiling.
  • the superconducting wire is brought into contact with the flange portion of the winding frame, the flange portion of the delivery (or take-up) reel, etc. during the manufacturing process of the coil, so that a part of the laminated structure is peeled off at the edge portion. Damage may occur and deterioration may progress from the damaged part.
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a superconducting wire and a superconducting coil which are unlikely to deteriorate due to damage such as layer peeling.
  • 1st aspect of this invention is a superconducting wire, Comprising: The superconducting laminated body by which the superconducting layer was formed in the tape-shaped base material through the intermediate
  • the residual stress in the side surface covering the side surface of the superconducting laminate in the stabilization layer is a tensile stress along the thickness direction of the superconducting laminate.
  • the residual stress is preferably 0.2 MPa or more.
  • the stabilizing layer is preferably a plating layer.
  • a fifth aspect of the present invention is a superconducting coil, comprising the superconducting wire according to any one of the first to fourth aspects, wherein the superconducting wire is laminated in the thickness direction of the superconducting coil, and
  • the internal residual stress in the side surface covering the side surface of the superconducting laminate is a tensile stress along the thickness direction of the superconducting laminate, and the residual stress is the maximum application in the radial direction of the superconducting coil. Greater than stress.
  • the residual stress inside the stabilization layer is a tensile stress
  • a repulsive force in the direction opposite to the residual stress is generated in the superconducting laminate. Therefore, for example, the peeling stress of the superconducting laminate is relaxed, and damage such as peeling of the oxide superconducting layer can be avoided.
  • the residual stress inside the stabilization layer of the oxide superconducting wire is a tensile stress, and the residual stress is larger than the maximum applied stress in the radial direction of the superconducting coil. Therefore, the peeling stress of the superconducting laminate is relaxed by the repulsive force in the direction opposite to the residual stress, and damage such as peeling of the oxide superconducting layer can be avoided. Therefore, deterioration due to breakage can be prevented.
  • FIG. 1 is a schematic view showing the structure of an oxide superconducting wire (superconducting wire) according to this embodiment.
  • FIG. 1 schematically shows the structure of a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the oxide superconducting wire 10.
  • the oxide superconducting wire 10 of this embodiment includes a superconducting laminate 15 and a stabilization layer 16.
  • the superconducting laminate 15 has a structure in which an oxide superconducting layer 13 and a protective layer 14 are formed on a base material 11 via an intermediate layer 12.
  • the superconducting laminate 15 has a configuration in which an intermediate layer 12, an oxide superconducting layer 13, and a protective layer 14 are laminated in this order on one surface of a tape-like substrate 11.
  • the Y direction is the thickness direction of the oxide superconducting wire 10 and is a direction in which layers such as the base material 11, the intermediate layer 12, the oxide superconducting layer 13, and the protective layer 14 are laminated.
  • the X direction is the width direction of the oxide superconducting wire 10 and is the direction perpendicular to the longitudinal direction and the thickness direction of the oxide superconducting wire 10.
  • the base material 11 has a tape shape and is formed of, for example, metal.
  • the metal constituting the substrate 11 include a nickel alloy typified by Hastelloy (registered trademark); stainless steel; an oriented Ni—W alloy in which a texture is introduced into the nickel alloy.
  • the thickness of the substrate 11 may be appropriately adjusted according to the purpose, and is in the range of, for example, 10 to 500 ⁇ m.
  • the intermediate layer 12 is provided between the base material 11 and the oxide superconducting layer 13.
  • the intermediate layer 12 is formed on one main surface 11 a of the substrate 11.
  • the intermediate layer 12 may have a multilayer structure, and may include, for example, a diffusion prevention layer, a bed layer, an alignment layer, a cap layer, and the like in the order from the substrate 11 side to the oxide superconducting layer 13 side. These layers are not necessarily provided one by one, and some layers may be omitted, or two or more of the same kind of layers may be laminated repeatedly.
  • the diffusion preventing layer has a function of suppressing a part of the components of the base material 11 from diffusing and mixing as impurities into the oxide superconducting layer 13 side.
  • the diffusion preventing layer is made of, for example, Si 3 N 4 , Al 2 O 3 , GZO (Gd 2 Zr 2 O 7 ) or the like.
  • the thickness of the diffusion preventing layer is, for example, 10 to 400 nm.
  • a bed layer may be formed on the diffusion preventing layer in order to reduce the reaction at the interface between the base material 11 and the oxide superconducting layer 13 and improve the orientation of the layer formed thereon.
  • the material of the bed layer include Y 2 O 3 , Er 2 O 3 , CeO 2 , Dy 2 O 3 , Eu 2 O 3 , Ho 2 O 3 , and La 2 O 3 .
  • the thickness of the bed layer is, for example, 10 to 100 nm.
  • the orientation layer is formed from a biaxially oriented material in order to control the crystal orientation of the cap layer thereon.
  • the material of the alignment layer include Gd 2 Zr 2 O 7 , MgO, ZrO 2 —Y 2 O 3 (YSZ), SrTiO 3 , CeO 2 , Y 2 O 3 , Al 2 O 3 , Gd 2 O 3 , Examples thereof include metal oxides such as Zr 2 O 3 , Ho 2 O 3 , and Nd 2 O 3 .
  • the alignment layer is preferably formed by an IBAD (Ion-Beam-Assisted Deposition) method.
  • the cap layer is formed on the surface of the above-described alignment layer, and is made of a material that allows crystal grains to self-align in the in-plane direction.
  • the material of the cap layer for example, CeO 2, Y 2 O 3 , Al 2 O 3, Gd 2 O 3, ZrO 2, YSZ, Ho 2 O 3, Nd 2 O 3, LaMnO 3 , and the like.
  • Examples of the thickness of the cap layer include a range of 50 to 5000 nm.
  • the oxide superconducting layer 13 is composed of an oxide superconductor.
  • the oxide superconductor is not particularly limited, and examples thereof include a RE—Ba—Cu—O-based oxide superconductor represented by a general formula REBa 2 Cu 3 O X (RE123).
  • the rare earth element RE may be one or more of Y, La, Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, and Lu. Among these, one of Y, Gd, Eu, and Sm, or a combination of two or more of these elements is preferable.
  • X is 7-x (oxygen deficiency x: about 0 to 1).
  • the thickness of the oxide superconducting layer 13 is, for example, about 0.5 to 5 ⁇ m, and is preferably uniform in the longitudinal direction.
  • the oxide superconducting layer 13 is formed on the main surface 12a of the intermediate layer 12 (the surface opposite to the substrate 11 side).
  • the protective layer 14 has functions such as bypassing an overcurrent generated at the time of an accident and suppressing a chemical reaction occurring between the oxide superconducting layer 13 and a layer provided on the protective layer 14.
  • Examples of the material of the protective layer 14 include silver (Ag), copper (Cu), gold (Au), an alloy of gold and silver, other silver alloys, copper alloys, and gold alloys.
  • the protective layer 14 covers at least the main surface 13a of the oxide superconducting layer 13 (the surface opposite to the intermediate layer 12 side).
  • the protective layer 14 may cover part or all of the region selected from the side surface of the oxide superconducting layer 13, the side surface of the intermediate layer 12, the side surface of the base material 11, and the back surface.
  • the protective layer 14 may be composed of two or more metal layers or two or more metal layers.
  • the thickness of the protective layer 14 is not particularly limited, and examples thereof include about 1 to 30 ⁇ m.
  • the shape of the cross section perpendicular to the longitudinal direction of the superconducting laminate 15 is rectangular.
  • the superconducting laminate 15 has a rectangular shape whose width is larger than the thickness, that is, a rectangular cross section.
  • reference numeral 15 a denotes a first main surface of the superconducting laminate 15 (main surface 14 a of the protective layer 14: a surface opposite to the oxide superconducting layer 13 side).
  • 15b is the side surface of the superconducting laminate 15 (the side surface of the base material 11, the side surface of the intermediate layer 12, the side surface of the oxide superconducting layer 13, and the side surface of the protective layer 14).
  • 15 c is a second main surface of the superconducting laminate 15 (a surface opposite to the main surface 11 a of the base material 11).
  • the stabilization layer 16 is formed so as to cover the superconducting laminate 15.
  • the stabilization layer 16 includes a surface (main surface 14a) of the protective layer 14, a side surface of the protective layer 14, a side surface of the oxide superconducting layer 13, a side surface of the intermediate layer 12, a side surface of the base material 11, and a back surface (base) of the base material 11. A part or all of the region selected from the surface opposite to the main surface 11a of the material 11 is covered.
  • the thickness of the stabilization layer 16 is not particularly limited, but may be about 10 to 300 ⁇ m, for example.
  • the stabilization layer 16 has a function as a bypass part that commutates an overcurrent generated when the oxide superconducting layer 13 transitions to a normal conducting state.
  • the constituent material of the stabilization layer 16 include metals such as copper, copper alloy, aluminum, aluminum alloy, and silver.
  • the oxide superconducting wire 10 is used for a superconducting fault current limiter, it is necessary to instantaneously suppress the overcurrent generated at the time of transition to the normal conducting state. Good.
  • the high resistance metal include Ni-based alloys such as Ni—Cr.
  • the stabilization layer 16 provides good electrical connection between the oxide superconducting layer 13 and the stabilization layer 16. Since the stabilization layer 16 covers the side surface of the oxide superconducting layer 13, the anti-peeling property and waterproofness of the oxide superconducting layer 13 are improved. A portion of the stabilization layer 16 that covers the first main surface 15a of the superconducting laminate 15 is referred to as a first main surface portion 16A. A portion of the stabilization layer 16 that covers the side surface 15b of the superconducting laminate 15 is referred to as a side surface portion 16B. A portion of the stabilization layer 16 that covers the second main surface 15c of the superconducting laminate 15 is referred to as a second main surface portion 16C.
  • FIG. 2 is a diagram schematically showing a cross section of the oxide superconducting wire 10.
  • F ⁇ b> 1 and F ⁇ b> 2 are residual stresses inside the stabilization layer 16.
  • F1 is the residual stress of the first main surface portion 16A and the second main surface portion 16C.
  • F2 is the residual stress of the side surface portion 16B.
  • the residual stresses F1 and F2 are stresses in the tensile direction (tensile stress). That is, the residual stress F1 is a tensile stress in a direction in which the width (dimension in the X direction) of the first main surface portion 16A and the second main surface portion 16C is expanded.
  • the residual stress F2 is a tensile stress in the direction in which the thickness dimension (dimension in the Y direction) increases in the side surface portion 16B.
  • a repulsive force in the direction opposite to the residual stresses F1 and F2 is generated as shown by broken arrows in FIG.
  • the residual stresses F1 and F2 are preferably 0.2 MPa or more.
  • the superconducting coil it is possible to relieve the external stress by performing a release treatment on the surface of the wire, but it is not easy to avoid the peeling stress at the time of cooling the coil.
  • the residual stresses F1 and F2 are 0.2 MPa or more, the peeling stress can be sufficiently relaxed and peeling can be prevented.
  • the residual stresses F1 and F2 are both tensile stresses, but at least the residual stress F2 only needs to be tensile stress.
  • At least a part of the stabilization layer 16 is preferably a plating layer formed by plating on the outer peripheral surface of the superconducting laminate 15. If the stabilization layer 16 is a plating layer, the residual stresses F1 and F2 can be easily adjusted.
  • the stabilization layer 16 can be formed by electrolytic plating. At least a part of the stabilization layer 16 may be formed by a method of further forming a metal film by electrolytic plating on a metal film formed by sputtering or electroless plating.
  • the stabilization layer 16 is formed on the outer peripheral surface of the superconducting laminate 15 by electrolytic plating while immersing the superconducting laminate 15 in the plating bath and taking the superconducting laminate 15. At this time, (i) the type and concentration of the additive added to the plating bath, (ii) the temperature of the plating bath, (iii) the pH of the plating bath, (iv) the current density during the plating treatment, (v) the plating time, The residual stresses F1 and F2 of the stabilization layer 16 can be adjusted by adjusting the above.
  • the residual stress of the stabilization layer 16 tends to be compressive stress in an alkaline bath (cyan bath or the like) and tensile stress in an acidic bath (copper sulfate bath or the like).
  • the relationship between the residual stress in the metal layer formed by plating and the plating conditions is widely known in the surface technical field. For example, (Reference 1) Practical surface technology Vol.22 (1975) No.2 Introduction to easy plating theory (6), and (Reference 2) Surface technology Vol.43, No.7, 1992 There is a description in the internal stress.
  • a known strip electrodeposition stress measurement method can be used to measure the residual stresses F1 and F2 of the stabilization layer 16.
  • the strip electrodeposition stress measurement method is described in the above-mentioned document 2.
  • a strip type electrodeposition stress tester (“683EC Analyzer” manufactured by Fuji Kasei Co., Ltd.) can be used.
  • a spiral contractometer method, an X-ray diffraction method, or the like can be employed.
  • FIG. 3 is a diagram showing a superconducting coil 100 which is an example of a superconducting coil provided with the oxide superconducting wire of this embodiment.
  • the superconducting coil 100 is configured by laminating a plurality of coil bodies 101.
  • the coil body 101 is a pancake coil, and the oxide superconducting wire 10 shown in FIG. 1 is laminated and wound in the thickness direction.
  • the pancake coil is a coil configured by winding a tape-shaped oxide superconducting wire so as to be wound repeatedly.
  • the coil body 101 of the superconducting coil 100 shown in FIG. 3 has an annular shape.
  • the coil body 101 is covered with an impregnating resin layer (not shown).
  • the impregnated resin layer is made of an epoxy resin, a phenol resin, or the like.
  • the plurality of coil bodies 101 may be electrically connected to each other.
  • Superconducting coil 100 can be used for superconducting equipment (not shown).
  • the residual stress F2 of the stabilization layer 16 is preferably larger than the maximum applied stress in the coil radial direction.
  • the peeling stress of the superconducting laminate 15 is relaxed by the repulsive force in the direction opposite to the residual stress F2, and damage such as peeling of the oxide superconducting layer 13 can be avoided. Therefore, deterioration due to the damage can be prevented.
  • the maximum applied stress in the coil radial direction can be set by adjusting the ratio of the inner diameter / outer diameter of the superconducting coil. The relationship between the ratio of the inner diameter / outer diameter of the coil and the applied stress in the coil radial direction is described in, for example, the following documents i) to iii).
  • the oxide superconducting wire 10 is wound around the winding frame to form a multilayer winding coil, and then impregnated with a resin such as an epoxy resin so as to cover the wound oxide superconducting wire 10.
  • a resin such as an epoxy resin
  • the residual stresses F1 and F2 inside the stabilization layer 16 are tensile stresses. Further, the residual stress F2 is larger than the maximum applied stress in the radial direction of the superconducting coil.
  • a superconducting coil in which an oxide superconducting wire is wound in a coil shape and impregnated with a resin such as an epoxy resin due to the difference in thermal expansion coefficient between the oxide superconducting wire and the resin during cooling, for example, superconducting lamination Stress (peeling stress) in the direction in which the body layer peels may work.
  • the oxide superconducting wire is peeled to a part of the layer at the edge portion (side surface portion) by contacting with the flange portion of the winding frame and the flange portion of the feeding (or winding) reel in the manufacturing process of the coil. Damage may occur.
  • the residual stresses F1 and F2 inside the stabilization layer 16 are tensile stresses, the residual stress is applied to the superconducting laminate 15 as indicated by broken arrows in FIG. A repulsive force in the opposite direction to F1 and F2 is generated. Therefore, for example, the peeling stress of the superconducting laminate 15 is relaxed, and damage such as peeling of the oxide superconducting layer 13 can be avoided. Further, in the superconducting coil 100 of the present embodiment, since the residual stress F2 is larger than the maximum applied stress in the radial direction of the superconducting coil, the peeling stress of the superconducting laminate 15 is relaxed by the repulsive force in the direction opposite to the residual stress F2. Damage such as peeling of the oxide superconducting layer 13 can be avoided. Therefore, deterioration due to the damage can be prevented.
  • the residual stress F2 in the side surface portion 16B of the stabilization layer 16 is a tensile stress along the thickness direction of the superconducting laminate 15, peeling can be reliably prevented by a repulsive force against a force in the peeling direction.
  • a tape-like substrate having a width of 12 mm, a length of 300 m, and a thickness of 75 ⁇ m made of Hastelloy C-276 (trade name: manufactured by Haynes, USA) was prepared.
  • the surface of the substrate was polished with an abrasive made of alumina (average particle size 3 ⁇ m), and then degreased and washed with an organic solvent (ethanol or acetone).
  • An intermediate layer was formed on the main surface of the substrate as follows.
  • the intermediate layer has a configuration in which a diffusion prevention layer, a bed layer, an alignment layer, and a cap layer are laminated in this order.
  • a diffusion prevention layer made of Al 2 O 3 and having a thickness of 100 nm was formed on the substrate by ion beam sputtering.
  • a 30 nm thick bed layer made of Y 2 O 3 was formed on the diffusion prevention layer by ion beam sputtering.
  • an alignment layer made of MgO and having a thickness of 5 to 10 nm was formed on the bed layer by IBAD.
  • a cap layer having a thickness of 500 nm made of CeO 2 was formed on the alignment layer by a PLD method (pulse laser deposition method).
  • An oxide superconducting layer having a thickness of 2 ⁇ m made of GdBa 2 Cu 3 O 7-x was formed on the cap layer by PLD.
  • a 2 ⁇ m-thick protective layer made of Ag was formed on the oxide superconducting layer by a DC sputtering method to obtain a superconducting laminate (raw material: width 12 mm).
  • This superconducting laminate (raw material) was subjected to oxygen annealing treatment (500 ° C., 10 hours) in an oxygen atmosphere in a heating furnace, and after 26 hours of furnace cooling, the superconducting laminate (raw material) was taken out from the heating furnace.
  • the superconducting laminate (raw material) was divided into three superconducting laminates (width 4 mm).
  • a Cu film (thickness of 1 ⁇ m on the back surface of the base material and thickness of 0.3 ⁇ m on the side surface of the superconducting laminate) is formed on the outer peripheral surface (back surface of the base material and side surfaces of the superconducting laminate) by DC sputtering. did.
  • a superconducting laminate having a length of 300 m was cut at the center in the length direction to obtain a superconducting laminate having a length of 150 m.
  • a stabilizing layer made of Cu having a thickness of 20 ⁇ m was formed on the outer peripheral surfaces of a plurality of superconducting laminates by electrolytic plating to obtain an oxide superconducting wire.
  • Table 1 shows the plating conditions (constituent materials of the stabilization layer, plating bath) when forming the stabilization layer.
  • An oxide superconducting wire was wound around a winding frame having an inner diameter of 30 mm to produce a coil body.
  • the coil body was vacuum impregnated with an epoxy resin to obtain a superconducting coil.
  • Ten superconducting coils having different maximum applied stresses in the coil radial direction were produced for each of Test Examples 1 to 4, and the number of deteriorated superconducting coils was recorded.
  • n value (10 ⁇ 8 to 10 ⁇ 6 V / cm range) measured in liquid nitrogen.
  • the n value is a multiplier when the approximate curve of the IV characteristic is expressed by a power multiplier.
  • n value changes, a voltage is locally generated from the wire inside the coil (the oxide superconducting wire deteriorates). It is an indicator that can be judged.
  • the measured n value was 20 or less, it was determined that the oxide superconducting wire was deteriorated.
  • the maximum applied stress in the coil radial direction was set by adjusting the ratio of the inner diameter / outer diameter of the superconducting coil.
  • the residual stress (residual stress F1, F2 shown in FIG. 2) of the stabilization layer was measured.
  • the residual stress was measured by the strip electrodeposition stress measurement method using the strip type electrodeposition stress tester manufactured by Fuji Kasei Co., Ltd. “Compression” in Table 1 means compressive stress, and “tensile” means tensile stress.
  • the residual stress is expressed as a negative number for compressive stress and as a positive number for tensile stress.
  • both the residual stress F1 and the residual stress F2 are tensile stresses, but only the residual stress F2 may be tensile stress.
  • the stabilization layer may be formed by a method other than plating (for example, a sputtering method), but is preferably formed by plating.
  • the stabilizing layer is preferably configured to cover all the surfaces (first main surface, side surface, and second main surface) of the superconducting laminate, but may be configured to cover at least the side surfaces of the superconducting laminate.
  • the stabilization layer may be configured to cover the first main surface and both side surfaces of the superconducting laminate.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)

Abstract

超電導線材が、テープ状の基材に中間層を介して超電導層が形成された超電導積層体と、超電導積層体の少なくとも一部を覆う安定化層とを備え、安定化層は、内部の残留応力が引張応力である。

Description

超電導線材および超電導コイル
　本発明は、超電導線材および超電導コイルに関する。
　本願は、２０１７年５月１２日に出願された日本国特許出願第２０１７－０９５５４８号および日本国特許出願第２０１７－０９５６９６号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
　超電導線材（例えばＹ系酸化物超電導線材）は電流損失が低いため、電力供給用ケーブル、磁気コイル等として使用されている（例えば、特許文献１を参照）。超電導線材は、コイル化後、冷却の際に含浸材と線材との熱収縮率の差を原因とする剥離応力により劣化する可能性がある。また、上記超電導線材は、コイルの製造過程で巻き枠の鍔部、送出（または巻取）リールの鍔部などと接触することにより、エッジ部において積層構造体の一部の層に剥離等の損傷が生じ、損傷部分から劣化が進行する可能性がある。
日本国特開第２０１０－２１２１３４号公報
　本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、層の剥離等の損傷による劣化が起こりにくい超電導線材および超電導コイルを提供する。
　本発明の第１態様は、超電導線材であって、テープ状の基材に中間層を介して超電導層が形成された超電導積層体と、前記超電導積層体の少なくとも一部を覆う安定化層とを備え、前記安定化層は、内部の残留応力が引張応力である。
　本発明の第２態様は、上記第１態様の超電導線材において、前記安定化層のうち前記超電導積層体の側面を覆う側面部における残留応力は、前記超電導積層体の厚さ方向に沿う引張応力であることが好ましい。
　本発明の第３態様は、上記第１または第２態様の超電導線材において、前記残留応力は、０．２ＭＰａ以上であることが好ましい。
　本発明の第４態様は、上記第１～第３態様のいずれか１態様の超電導線材において、前記安定化層は、めっき層であることが好ましい。
　本発明の第５態様は、超電導コイルであって、上記第１～第４態様のいずれか１態様の前記超電導線材を備え、前記超電導線材は前記超電導コイルの厚さ方向に積層され、前記安定化層のうち前記超電導積層体の側面を覆う側面部における内部の残留応力は、前記超電導積層体の厚さ方向に沿う引張応力であり、前記残留応力は、前記超電導コイルの径方向の最大印加応力より大きい。
　上記本発明に係る態様によれば、安定化層の内部の残留応力が引張応力であるため、超電導積層体には、残留応力と反対方向の反発力が生じる。そのため、例えば超電導積層体の剥離応力が緩和され、酸化物超電導層等の剥離等の破損を回避することができる。
　また、上記本発明に係る態様によれば、酸化物超電導線材の安定化層の内部の残留応力は引張応力であり、その残留応力は、超電導コイルの径方向の最大印加応力より大きい。そのため、残留応力と反対方向の反発力によって、超電導積層体の剥離応力が緩和され、酸化物超電導層等の剥離等の破損を回避することができる。
　よって、破損による劣化を防ぐことができる。
本実施形態の酸化物超電導線材の構造を示す概略図である。 図１の酸化物超電導線材の断面を模式的に示す図である。 本実施形態の酸化物超電導線材を備えた超電導コイルを示す概略図である。
　以下、好適な実施形態に基づき、図面を参照して本発明を説明する。
　図１は、本実施形態の酸化物超電導線材（超電導線材）の構造を示す概略図である。図１は、酸化物超電導線材１０の長手方向に垂直な断面の構造を模式的に示している。
　図１に示すように、本実施形態の酸化物超電導線材１０は、超電導積層体１５と、安定化層１６とを備えている。
　超電導積層体１５は、基材１１上に中間層１２を介して酸化物超電導層１３および保護層１４が形成された構造を有する。詳しくは、超電導積層体１５は、テープ状の基材１１の一方の面上に、中間層１２と酸化物超電導層１３と保護層１４がこの順に積層された構成を有する。
　以下、必要に応じてＸＹ座標系に基づいて各方向の説明を行う。Ｙ方向は、酸化物超電導線材１０の厚さ方向であり、基材１１、中間層１２、酸化物超電導層１３、保護層１４等の各層が積層される方向である。Ｘ方向は、酸化物超電導線材１０の幅方向であり、酸化物超電導線材１０の長手方向および厚さ方向に垂直な方向である。
　基材１１は、テープ状であり、例えば金属で形成されている。基材１１を構成する金属の具体例として、ハステロイ（登録商標）に代表されるニッケル合金；ステンレス鋼；ニッケル合金に集合組織を導入した配向Ｎｉ－Ｗ合金などが挙げられる。基材１１の厚さは、目的に応じて適宜調整すればよく、例えば１０～５００μｍの範囲である。
　中間層１２は、基材１１と酸化物超電導層１３との間に設けられる。中間層１２は、基材１１の一方の主面１１ａに形成される。中間層１２は、多層構成でもよく、例えば基材１１側から酸化物超電導層１３側に向かう順で、拡散防止層、ベッド層、配向層、キャップ層等を有してもよい。これらの層は必ずしも１層ずつ設けられるとは限らず、一部の層を省略する場合や、同種の層を２以上繰り返し積層する場合もある。
　拡散防止層は、基材１１の成分の一部が拡散し、不純物として酸化物超電導層１３側に混入することを抑制する機能を有する。拡散防止層は、例えば、Ｓｉ３Ｎ４、Ａｌ２Ｏ３、ＧＺＯ（Ｇｄ２Ｚｒ２Ｏ７）等から構成される。拡散防止層の厚さは、例えば１０～４００ｎｍである。
　拡散防止層の上には、基材１１と酸化物超電導層１３との界面における反応を低減し、その上に形成される層の配向性を向上するためにベッド層を形成してもよい。ベッド層の材質としては、例えばＹ２Ｏ３、Ｅｒ２Ｏ３、ＣｅＯ２、Ｄｙ２Ｏ３、Ｅｕ２Ｏ３、Ｈｏ２Ｏ３、Ｌａ２Ｏ３等が挙げられる。ベッド層の厚さは、例えば１０～１００ｎｍである。
　配向層は、その上のキャップ層の結晶配向性を制御するために２軸配向する物質から形成される。配向層の材質としては、例えば、Ｇｄ２Ｚｒ２Ｏ７、ＭｇＯ、ＺｒＯ２－Ｙ２Ｏ３（ＹＳＺ）、ＳｒＴｉＯ３、ＣｅＯ２、Ｙ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３、Ｇｄ２Ｏ３、Ｚｒ２Ｏ３、Ｈｏ２Ｏ３、Ｎｄ２Ｏ３等の金属酸化物を例示することができる。配向層はＩＢＡＤ（Ion-Beam-Assisted Deposition）法で形成することが好ましい。
　キャップ層は、上述の配向層の表面に成膜されて、結晶粒が面内方向に自己配向し得る材料からなる。キャップ層の材質としては、例えば、ＣｅＯ２、Ｙ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３、Ｇｄ２Ｏ３、ＺｒＯ２、ＹＳＺ、Ｈｏ２Ｏ３、Ｎｄ２Ｏ３、ＬａＭｎＯ３等が挙げられる。キャップ層の厚さは、５０～５０００ｎｍの範囲が挙げられる。
　酸化物超電導層１３は、酸化物超電導体から構成される。酸化物超電導体としては、特に限定されないが、例えば一般式ＲＥＢａ２Ｃｕ３ＯＸ（ＲＥ１２３）で表されるＲＥ－Ｂａ－Ｃｕ－Ｏ系酸化物超電導体が挙げられる。希土類元素ＲＥとしては、Ｙ、Ｌａ、Ｃｅ、Ｐｒ、Ｎｄ、Ｓｍ、Ｅｕ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｍ、Ｙｂ、Ｌｕのうちの１種又は２種以上が挙げられる。中でも、Ｙ、Ｇｄ、Ｅｕ、Ｓｍの１種か、又はこれら元素の２種以上の組み合わせが好ましい。一般に、Ｘは、７－ｘ（酸素欠損量ｘ：約０～１程度）である。酸化物超電導層１３の厚さは、例えば０．５～５μｍ程度であり、長手方向に均一であることが好ましい。
　酸化物超電導層１３は、中間層１２の主面１２ａ（基材１１側とは反対の面）に形成されている。
　保護層１４は、事故時に発生する過電流をバイパスしたり、酸化物超電導層１３と保護層１４の上に設けられる層との間で起こる化学反応を抑制する等の機能を有する。保護層１４の材質としては、例えば銀（Ａｇ）、銅（Ｃｕ）、金（Ａｕ）、金と銀との合金、その他の銀合金、銅合金、金合金などが挙げられる。保護層１４は、少なくとも酸化物超電導層１３の主面１３ａ（中間層１２側とは反対の面）を覆っている。
　保護層１４は、酸化物超電導層１３の側面、中間層１２の側面、基材１１の側面及び裏面から選択される領域の一部または全部を覆ってもよい。保護層１４は２種以上又は２層以上の金属層から構成されてもよい。保護層１４の厚さは、特に限定されないが、例えば１～３０μｍ程度が挙げられる。
　超電導積層体１５の長手方向に垂直な断面の形状は矩形状である。超電導積層体１５は、厚さより幅の方が大きい矩形状、すなわち平角型の断面を有する。図１において、１５ａは超電導積層体１５の第１主面（保護層１４の主面１４ａ：酸化物超電導層１３側とは反対の面）である。１５ｂは超電導積層体１５の側面（基材１１の側面、中間層１２の側面、酸化物超電導層１３の側面、および保護層１４の側面）である。１５ｃは超電導積層体１５の第２主面（基材１１の主面１１ａとは反対の面）である。
　安定化層１６は、超電導積層体１５を覆って形成される。安定化層１６は、保護層１４の表面（主面１４ａ）、保護層１４の側面、酸化物超電導層１３の側面、中間層１２の側面、基材１１の側面、基材１１の裏面（基材１１の主面１１ａとは反対の面）から選択される領域の一部または全部を覆う。安定化層１６の厚さとしては、特に限定されないが、例えば１０～３００μｍ程度が挙げられる。
　安定化層１６は、酸化物超電導層１３が常電導状態に転移した時に発生する過電流を転流させるバイパス部としての機能を有する。安定化層１６の構成材料としては、銅、銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金、銀等の金属が挙げられる。
　酸化物超電導線材１０が超電導限流器に使用される場合は、常電導状態への転移時に発生する過電流を瞬時に抑制する必要があるため、安定化層１６に高抵抗金属を用いてもよい。高抵抗金属としては、例えば、Ｎｉ－Ｃｒ等のＮｉ系合金などが挙げられる。
　安定化層１６によって、酸化物超電導層１３と安定化層１６との間の電気的接続が良好となる。安定化層１６は、酸化物超電導層１３の側面を覆っているため、酸化物超電導層１３の剥離防止性、防水性が向上する。
　安定化層１６のうち超電導積層体１５の第１主面１５ａを覆う部分を第１主面部１６Ａという。安定化層１６のうち超電導積層体１５の側面１５ｂを覆う部分を側面部１６Ｂという。安定化層１６のうち超電導積層体１５の第２主面１５ｃを覆う部分を第２主面部１６Ｃという。
　図２は、酸化物超電導線材１０の断面を模式的に示す図である。図２に示すように、Ｆ１，Ｆ２は、安定化層１６の内部の残留応力である。詳しくは、Ｆ１は、第１主面部１６Ａおよび第２主面部１６Ｃの残留応力である。Ｆ２は、側面部１６Ｂの残留応力である。
　残留応力Ｆ１，Ｆ２は、引張方向の応力（引張応力）である。すなわち、残留応力Ｆ１は、第１主面部１６Ａおよび第２主面部１６Ｃにおける幅（Ｘ方向の寸法）が拡張する方向の引張応力である。残留応力Ｆ２は、側面部１６Ｂにおいて厚さ寸法（Ｙ方向の寸法）が増す方向の引張応力である。超電導積層体１５には、図２に破線の矢印で示すように、残留応力Ｆ１，Ｆ２と反対方向の反発力が生じる。
　残留応力Ｆ１，Ｆ２は、０．２ＭＰａ以上であることが好ましい。
　超電導コイルでは、線材表面に離型処理を施すことなどにより外部応力を緩和することが可能であるが、前述のコイル冷却時の剥離応力については回避するのが容易ではない。これに対し、残留応力Ｆ１，Ｆ２が０．２ＭＰａ以上であると、上記剥離応力を十分に緩和でき、剥離を防ぐことができる。
　なお、酸化物超電導線材１０では、残留応力Ｆ１，Ｆ２がともに引張応力であるが、少なくとも残留応力Ｆ２が引張応力であればよい。
　安定化層１６の少なくとも一部は、超電導積層体１５の外周面に、めっきによって形成されためっき層であることが好ましい。安定化層１６がめっき層であると、残留応力Ｆ１，Ｆ２の調整が容易となる。
　安定化層１６は、電解めっきにより形成することができる。安定化層１６の少なくとも一部は、スパッタ法または無電解めっきにより形成した金属膜の上にさらに電解めっきにより金属膜を形成する方法によって形成してもよい。
　安定化層１６を電解めっきにより形成するには、例えば次の方法が可能である。めっき浴に超電導積層体１５を浸漬させ、超電導積層体１５を引き取りつつ、超電導積層体１５の外周面に、電解めっきにより安定化層１６を形成する。この際、（i）めっき浴に添加する添加剤の種類および濃度、（ii）めっき浴の温度、（iii）めっき浴のｐＨ、（iv）めっき処理時の電流密度、（v）めっき時間、などの調整によって、安定化層１６の残留応力Ｆ１，Ｆ２を調整できる。例えば、銅（Ｃｕ）めっきの場合、安定化層１６の残留応力は、アルカリ性浴（シアン浴等）では圧縮応力となりやすく、酸性浴（硫酸銅浴等）では引張応力となりやすい。
　なお、めっきにより形成された金属層における残留応力とめっき条件との関係については、表面技術分野において広く知られている。例えば、（文献１）実務表面技術 Vol.22 (1975) No.2 やさしいメッキ理論入門（６）、および（文献２）表面技術 Vol.43, No.7, 1992 電気めっきにより形成された皮膜の内部応力、などに記載がある。
　安定化層１６の残留応力Ｆ１，Ｆ２の測定には、公知のストリップ電着応力測定法を用いることができる。ストリップ電着応力測定法については、前述の文献２に記載がある。ストリップ電着応力測定法による残留応力の測定には、例えば、ストリップ式電着応力試験機（藤化成社製「６８３ＥＣアナライザー」）を使用できる。
　安定化層１６の残留応力Ｆ１，Ｆ２の測定方法としては、スパイラルコントラクトメーター法、Ｘ線回折法なども採用可能である。
　図３は、本実施形態の酸化物超電導線材を備えた超電導コイルの一例である超電導コイル１００を示す図である。
　超電導コイル１００は、複数のコイル体１０１が積層されて構成されている。コイル体１０１は、パンケーキコイルであって、図１に示す酸化物超電導線材１０が厚さ方向に積層されて巻回されている。パンケーキコイルとは、テープ状の酸化物超電導線材を重ね巻きするように巻回して構成されたコイルである。図３に示す超電導コイル１００のコイル体１０１は円環状である。コイル体１０１は、含浸樹脂層（図示略）で覆われている。含浸樹脂層は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂等からなる。複数のコイル体１０１は、互いに電気的に接続されていてよい。超電導コイル１００は、超電導機器（図示略）に使用できる。
　超電導コイル１００において、安定化層１６の残留応力Ｆ２は、コイル径方向の最大印加応力より大きいことが好ましい。本構成によれば、残留応力Ｆ２と反対方向の反発力によって、超電導積層体１５の剥離応力が緩和され、酸化物超電導層１３等の剥離等の破損を回避することができる。よって、上記破損による劣化を防ぐことができる。
　コイル径方向の最大印加応力は、超電導コイルの内径／外径の比を調整することによって設定できる。コイルの内径／外径の比と、コイル径方向の印加応力との関係については、例えば、次に示す文献i）～iii）に記載されている。
i）Generalized plane strain analysis of superconducting solenoids JOURNAL OF APPLIED PHYSICS vol.86、number12
ii）Degradation-Free Impregnated YBCO Pancake Coils by Decreasing Radial Stress in the Windings and Method for Evaluating Delamination Strength of YBCO-Coated Conductors IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY, VOL. 24, NO. 3, JUNE 2014
iii）Delamination Strengths of Different Types of REBCO-Coated Conductors and Method for Reducing Radial Thermal Stresses of Impregnated REBCO Pancake Coils DOI 10.1109/TASC.2014.2372048, IEEE Transactions on Applied Superconductivity
　超電導コイル１００を作製するには、酸化物超電導線材１０を巻き枠に必要な層数巻き付けて多層巻きコイルを構成した後、巻き付けた酸化物超電導線材１０を覆うようにエポキシ樹脂等の樹脂を含浸させて、酸化物超電導線材１０を固定する方法を採用できる。
　酸化物超電導線材１０は、安定化層１６の内部の残留応力Ｆ１，Ｆ２が引張応力である。また、残留応力Ｆ２は、超電導コイルの径方向の最大印加応力より大きい。
　酸化物超電導線材がコイル状に巻き回され、エポキシ樹脂などの樹脂が含浸された超電導コイルでは、冷却時に酸化物超電導線材と樹脂の熱膨張係数の差に起因して、冷却時に、例えば超電導積層体の層が剥離する方向の応力（剥離応力）が働くことがある。また、酸化物超電導線材は、コイルの製造過程で巻き枠の鍔部、送出（または巻取）リールの鍔部などと接触することにより、エッジ部（側面部）において一部の層に剥離等の損傷が生じる場合がある。
　本実施形態の酸化物超電導線材１０では、安定化層１６の内部の残留応力Ｆ１，Ｆ２が引張応力であるため、超電導積層体１５には、図２に破線の矢印で示すように、残留応力Ｆ１，Ｆ２と反対方向の反発力が生じる。そのため、例えば超電導積層体１５の剥離応力が緩和され、酸化物超電導層１３等の剥離等の破損を回避することができる。また、本実施形態の超電導コイル１００では、残留応力Ｆ２が超電導コイルの径方向の最大印加応力より大きいため、残留応力Ｆ２と反対方向の反発力によって、超電導積層体１５の剥離応力が緩和され、酸化物超電導層１３等の剥離等の破損を回避することができる。
　よって、上記破損による劣化を防ぐことができる。
　特に、安定化層１６の側面部１６Ｂにおける残留応力Ｆ２が、超電導積層体１５の厚さ方向に沿う引張応力であることにより、剥離方向の力に対する反発力によって剥離を確実に防ぐことができる。
　以下、図１に示す酸化物超電導線材１０を用いて構成した超電導コイルの試験結果について説明する。なお、本発明は以下に示す実施例に限定されない。
（試験例１～４）
　ハステロイＣ－２７６（商品名：米国ヘインズ社製）からなる幅１２ｍｍ、長さ３００ｍ、厚さ７５μｍのテープ状の基材を用意した。基材の表面を、アルミナからなる研磨剤（平均粒径３μｍ）を用いて研磨処理した後、有機溶剤（エタノールまたはアセトン）によって脱脂、洗浄した。
　次のようにして、基材の主面に中間層を形成した。中間層は、拡散防止層、ベッド層、配向層およびキャップ層をこの順に積層した構成である。
　イオンビームスパッタ法により、基材の上にＡｌ２Ｏ３からなる厚さ１００ｎｍの拡散防止層を形成した。次いで、イオンビームスパッタ法により、拡散防止層の上にＹ２Ｏ３からなる厚さ３０ｎｍのベッド層を形成した。次いで、ＩＢＡＤ法により、ベッド層の上にＭｇＯからなる厚さ５～１０ｎｍの配向層を形成した。次いで、配向層の上に、ＰＬＤ法（パルスレーザ蒸着法）によりＣｅＯ２からなる厚さ５００ｎｍのキャップ層を形成した。
　キャップ層の上に、ＰＬＤ法によりＧｄＢａ２Ｃｕ３Ｏ７－ｘからなる厚さ２μｍの酸化物超電導層を形成した。
　次いで、酸化物超電導層の上に、ＤＣスパッタ法によりＡｇからなる厚さ２μｍの保護層を形成し、超電導積層体（原材：幅１２ｍｍ）を得た。
　この超電導積層体（原材）を、加熱炉内にて酸素雰囲気中で酸素アニール処理（５００℃、１０時間）し、２６時間の炉冷後、加熱炉から取り出した。
　超電導積層体（原材）を３つの超電導積層体（幅４ｍｍ）に分割した。
　この超電導積層体の外周面（基材裏面および超電導積層体の側面）に、ＤＣスパッタ法により、Ｃｕ膜（基材裏面に厚さ１μｍ、超電導積層体の側面に厚さ０．３μｍ）を形成した。
　長さ３００ｍの超電導積層体を長さ方向の中央で切断し、長さ１５０ｍの超電導積層体を得た。
　複数の超電導積層体の外周面に、Ｃｕからなる厚さ２０μｍの安定化層を電解めっきにより形成し、酸化物超電導線材を得た。安定化層を形成する際のめっき条件（安定化層の構成材料、めっき浴）を表１に示す。
　酸化物超電導線材を内径３０ｍｍの巻き枠に巻き付け、コイル本体を作製した。このコイル本体にエポキシ樹脂を真空含浸して超電導コイルを得た。
　コイル径方向の最大印加応力が異なる超電導コイルを、試験例１～４についてそれぞれ１０個作製し、そのうち劣化した超電導コイルの数を記録した。
　劣化の判定は、液体窒素中で測定したｎ値（１０－８～１０－６Ｖ／ｃｍ範囲）の結果に基づく。ｎ値とは、Ｉ－Ｖ特性の近似曲線をべき乗数で表したときの乗数であり、このｎ値が変わると局所的にコイルの内部の線材から電圧が発生した（酸化物超電導線材が劣化した）と判断できる指標である。測定されたｎ値が２０以下である場合に、酸化物超電導線材が劣化したと判定した。
　コイル径方向の最大印加応力は、超電導コイルの内径／外径の比を調整することによって設定した。
　安定化層の残留応力（図２に示す残留応力Ｆ１，Ｆ２）を測定した。残留応力は、上記藤化成社製のストリップ式電着応力試験機を使用し、ストリップ電着応力測定法によって測定した。
　表１における「圧縮」は圧縮応力を意味し、「引張」は引張応力を意味する。残留応力は、圧縮応力については負の数で表し、引張応力については正の数で表す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
　表１に示すように、安定化層の残留応力が引張応力である試験例２～４では、残留応力が圧縮応力である試験例１とは異なり、コイルの劣化が起きなかったことが確認された。
　また、安定化層の残留応力（図２に示す残留応力Ｆ２）が引張応力であって、その残留応力が、超電導コイルの径方向の最大印加応力より大きい試験例では、コイルの劣化が起きなかったことが確認された。
　以上、本発明を好適な実施形態に基づいて説明してきたが、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の改変が可能である。
　図２に示す酸化物超電導線材１０では、残留応力Ｆ１と残留応力Ｆ２の両方が引張応力であるが、残留応力Ｆ２のみが引張応力であってもよい。
　安定化層は、めっき以外の方法（例えばスパッタ法等）によって形成されていてもよいが、めっきによって形成するのが好ましい。
　安定化層は、超電導積層体のすべての面（第１主面、側面および第２主面）を覆う構成が好ましいが、少なくとも超電導積層体の側面を覆う構成であればよい。例えば、安定化層は超電導積層体の第１主面と両側面を覆う構成であってもよい。
１０…酸化物超電導線材、１１…基材、１２…中間層、１３…酸化物超電導層、１４…保護層、１５…超電導積層体、１６…安定化層、１６Ｂ…側面部、Ｆ１，Ｆ２…残留応力

Claims (5)

  1. 　テープ状の基材に中間層を介して超電導層が形成された超電導積層体と、前記超電導積層体の少なくとも一部を覆う安定化層とを備え、
    　前記安定化層は、内部の残留応力が引張応力である、超電導線材。
  2. 　前記安定化層のうち前記超電導積層体の側面を覆う側面部における残留応力は、前記超電導積層体の厚さ方向に沿う引張応力である、請求項１に記載の超電導線材。
  3. 　前記残留応力は、０．２ＭＰａ以上である、請求項１または２に記載の超電導線材。
  4. 　前記安定化層は、めっき層である、請求項１～３のうちいずれか１項に記載の超電導線材。
  5. 　超電導コイルであって、
    　請求項１～４に記載の前記超電導線材を備え、前記超電導線材は前記超電導コイルの厚さ方向に積層され、
    　前記安定化層のうち前記超電導積層体の側面を覆う側面部における内部の残留応力は、前記超電導積層体の厚さ方向に沿う引張応力であり、
    　前記残留応力は、前記超電導コイルの径方向の最大印加応力より大きい、超電導コイル。
PCT/JP2018/017614 2017-05-12 2018-05-07 超電導線材および超電導コイル WO2018207727A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201880024565.XA CN110494935A (zh) 2017-05-12 2018-05-07 超导线材以及超导线圈
US16/612,238 US20200211741A1 (en) 2017-05-12 2018-05-07 Superconducting wire and superconducting coil
RU2019135320A RU2719388C1 (ru) 2017-05-12 2018-05-07 Сверхпроводящий провод и сверхпроводящая катушка
EP18798094.1A EP3624143A4 (en) 2017-05-12 2018-05-07 SUPRAL CONDUCTIVE WIRE AND SUPRAL CONDUCTIVE COIL

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017095548A JP6349439B1 (ja) 2017-05-12 2017-05-12 超電導コイル
JP2017-095696 2017-05-12
JP2017-095548 2017-05-12
JP2017095696A JP6318284B1 (ja) 2017-05-12 2017-05-12 超電導線材

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2018207727A1 true WO2018207727A1 (ja) 2018-11-15

Family

ID=64104715

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2018/017614 WO2018207727A1 (ja) 2017-05-12 2018-05-07 超電導線材および超電導コイル

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20200211741A1 (ja)
EP (1) EP3624143A4 (ja)
CN (1) CN110494935A (ja)
RU (1) RU2719388C1 (ja)
WO (1) WO2018207727A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115171974B (zh) * 2022-07-22 2023-08-01 上海超导科技股份有限公司 铜合金加强的超导带材、加强方法、超导线圈及超导线缆

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010113919A (ja) * 2008-11-05 2010-05-20 Chubu Electric Power Co Inc 超電導テープ線材及びその製造方法並びに超電導コイル
JP2010212134A (ja) 2009-03-11 2010-09-24 Sumitomo Electric Ind Ltd 薄膜超電導線材および超電導ケーブル導体
JP2017095548A (ja) 2015-11-19 2017-06-01 信越化学工業株式会社 光半導体素子封止用熱硬化性エポキシ樹脂組成物及びそれを用いた光半導体装置
JP2017095696A (ja) 2015-11-18 2017-06-01 パイロットインキ株式会社 可逆熱変色性マイクロカプセル顔料、ならびにそれを含む液状組成物および積層体

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5411958B2 (ja) * 2012-03-22 2014-02-12 中部電力株式会社 エピタキシャル膜形成用配向基板及びその製造方法
NZ620910A (en) * 2012-06-11 2016-04-29 Fujikura Ltd Oxide superconducting wire and superconducting coil
RU2518505C1 (ru) * 2012-11-26 2014-06-10 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "НАНОЭЛЕКТРО" Ленточный втсп-провод
WO2014203494A1 (en) * 2013-06-19 2014-12-24 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Reinforced superconducting wire and method for manufacturing the same
KR102562414B1 (ko) * 2016-10-31 2023-08-01 스미토모 덴키 고교 가부시키가이샤 초전도 선재 및 초전도 코일

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010113919A (ja) * 2008-11-05 2010-05-20 Chubu Electric Power Co Inc 超電導テープ線材及びその製造方法並びに超電導コイル
JP2010212134A (ja) 2009-03-11 2010-09-24 Sumitomo Electric Ind Ltd 薄膜超電導線材および超電導ケーブル導体
JP2017095696A (ja) 2015-11-18 2017-06-01 パイロットインキ株式会社 可逆熱変色性マイクロカプセル顔料、ならびにそれを含む液状組成物および積層体
JP2017095548A (ja) 2015-11-19 2017-06-01 信越化学工業株式会社 光半導体素子封止用熱硬化性エポキシ樹脂組成物及びそれを用いた光半導体装置

Non-Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"Internal stress of coating film formed by electroplating", SURFACE TECHNOLOGY, vol. 43, no. 7, 1992
"Introduction to easy plating theory (6", PRACTICAL SURFACE TECHNOLOGY, vol. 22, no. 2, 1975
"Windings and Method for Evaluating Delamination Strength of YBCO-Coated Conductors", IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY, vol. 24, no. 3, June 2014 (2014-06-01)
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, vol. 86, no. 12
MIYAZAKI, H. ET AL.: "Delamination Strengths of Different Types of REBCO-coated Conductors and Method for Reducing Radial Thermal Stresses of Impregnated REBCO Pancake Coils", IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY, 9 January 2015 (2015-01-09), XP055546577, Retrieved from the Internet <URL:https://ieeexplore.ieee.org/document/7005471> [retrieved on 20180516] *
See also references of EP3624143A4

Also Published As

Publication number Publication date
US20200211741A1 (en) 2020-07-02
RU2719388C1 (ru) 2020-04-17
CN110494935A (zh) 2019-11-22
EP3624143A1 (en) 2020-03-18
EP3624143A4 (en) 2021-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10186651B2 (en) Oxide superconducting wire and method of manufacturing oxide superconducting wire
US20140155269A1 (en) Oxide superconductor wire and superconducting coil
JP2016522530A (ja) 補強された超電導線材およびその製造方法
US10332656B2 (en) Oxide superconducting wire
WO2014129586A1 (ja) 高温超電導コイルおよび超電導機器
JP6688914B1 (ja) 酸化物超電導線材及び超電導コイル
WO2018207727A1 (ja) 超電導線材および超電導コイル
JP6349439B1 (ja) 超電導コイル
JP6751054B2 (ja) 酸化物超電導線材、超電導コイル、および酸化物超電導線材の製造方法
JP2014220194A (ja) 酸化物超電導線材及びその製造方法
JP6318284B1 (ja) 超電導線材
US11756709B2 (en) Oxide superconducting wire
JP5405069B2 (ja) テープ状酸化物超電導体及びそれに用いる基板
US9570215B2 (en) Method for manufacturing precursor, method for manufacturing superconducting wire, precursor, and superconducting wire
JP6743233B1 (ja) 酸化物超電導線材
US11710583B2 (en) Oxide superconducting wire and superconducting coil
JP6743232B1 (ja) 酸化物超電導線材
JP6724125B2 (ja) 酸化物超電導線材及びその製造方法
JP2023032076A (ja) 超電導コイル
JP2019128989A (ja) 超電導線材および超電導線材の製造方法。

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 18798094

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2018798094

Country of ref document: EP

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2018798094

Country of ref document: EP

Effective date: 20191212