WO2018114816A1 - Verfahren zur positionierung eines bauelements eines optischen systems - Google Patents

Verfahren zur positionierung eines bauelements eines optischen systems Download PDF

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WO2018114816A1
WO2018114816A1 PCT/EP2017/083341 EP2017083341W WO2018114816A1 WO 2018114816 A1 WO2018114816 A1 WO 2018114816A1 EP 2017083341 W EP2017083341 W EP 2017083341W WO 2018114816 A1 WO2018114816 A1 WO 2018114816A1
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optical system
positioning
components
component
magnetic field
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PCT/EP2017/083341
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English (en)
French (fr)
Inventor
Pascal Marsollek
Stefan Hembacher
Original Assignee
Carl Zeiss Smt Gmbh
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    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/18—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors
    • G02B7/182—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors
    • G02B7/1822—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors comprising means for aligning the optical axis
    • G02B7/1827—Motorised alignment
    • G02B7/1828—Motorised alignment using magnetic means
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
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    • G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
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    • G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70908—Hygiene, e.g. preventing apparatus pollution, mitigating effect of pollution or removing pollutants from apparatus
    • G03F7/70941—Stray fields and charges, e.g. stray light, scattered light, flare, transmission loss

Definitions

  • the invention relates to a method for positioning a component of an optical system.
  • the invention also relates to an optical system.
  • optical components must be precisely positioned.
  • Devices for positioning an optical component, in particular a mirror of a projection exposure apparatus are known, for example, from DE 10 2012 202 169 A1 and DE 10 2012 202 170 A1.
  • the essence of the invention is to compensate for the effect of a stray magnetic field on the positioning of one or more of the components of an optical system.
  • a correction signal for an actuator of a displacement device of one of the components of the optical system is determined from the information about the stray magnetic field detected by the sensor device in the region of one or more of the components of the optical system.
  • an optical error caused by the effect of the stray magnetic field on positioning of one or more of the components can be at least partially, in particular completely compensated.
  • By detecting the actual magnetic stray field a much more precise compensation of the effects of the stray magnetic field on the positioning of one or more of the components of the optical system is possible.
  • the use of a sensor device for determining the magnetic stray field makes it possible, in particular, to detect a magnetic field which is actually present. to determine table stray field, in particular its strength and / or direction, without this model assumptions would have to be made.
  • the stray magnetic field can in particular be generated by an electromagnetic device, in particular a controllable electromagnetic device for displacing one of the components of the optical system.
  • a force feedforward model or a position feedforward model is used to determine the correction signal.
  • the stray magnetic field is determined by means of the sensor device.
  • the translation from the stray field to the force or to the position is generated via measurements or with the help of a simulation.
  • the sensor device and the displacement device are arranged in the region of different components of the optical system.
  • the sensor device can in particular serve for the displacement of a further optical component and / or for the displacement of a platform (a so-called stage).
  • stage a so-called stage
  • the displacement device can serve in particular for displacing an active optical component, in particular a position-regulated actuated optical component, in particular a position-regulated actuated mirror.
  • the displacement device may alternatively or additionally serve for the displacement of a passive optical component, in particular a non-position-controlled actuated component.
  • the sensor device and the displacement device are arranged in the region of the same component of the optical system. This allows a particularly simple compensation for the effects of the stray magnetic field. In addition, in this case, a complete compensation of the effects of the stray magnetic field is possible in principle. In particular, it may be provided to compensate for the effects of the magnetic stray field on the corresponding component to at least 50%, in particular at least 70%, in particular at least 90%.
  • the stray magnetic field is detected by the sensor device in a plurality of directions and / or at a plurality of positions.
  • the sensor device may in particular comprise a plurality of sensor elements.
  • the detection of the magnetic field is understood here and below to mean the actual measurement thereof by means of the sensor device, in particular by means of at least one of the sensor elements thereof.
  • the determination of the stray magnetic field can also comprise, in addition to the measurement of the same, further processing steps of the measurement results.
  • a larger number of sensor elements leads to an improvement of the measurement information, in particular the spatial distribution of the stray field.
  • the sensor elements can be oriented differently.
  • Another object of the invention is to improve an optical system. This object is achieved by an optical system having a plurality of components and at least one sensor device for detecting a magnetic stray field, wherein the Sensor device is a component of a forward control device for controlling the positioning of at least one of the components of the optical system.
  • Such an optical system enables an improved, in particular a more precise positioning of the components.
  • positioning the components of the optical system in particular the method described above can be used.
  • the sensor device for detecting the spatial distribution of the stray field comprises a plurality of sensor elements. It may in particular comprise two, three or more sensor elements.
  • Hall sensors can serve as sensor elements.
  • Other sensor elements such as MDR (magnetic dependent resistor), SQUID (superconducting quantum device) and others are also possible.
  • the sensor device is arranged such that it has a distance to a component which can be influenced by the stray field which is at most 100 mm, in particular at most 10 mm, in particular at most 1 mm.
  • an actuator of a displacement device for compensating the effect of the stray magnetic field on the positioning of at least one of the components of the optical system has a control bandwidth of at least 1 Hz, in particular at least 10 Hz, in particular at least 30 Hz, in particular at least 50 Hz. in particular at least 100 Hz, in particular at least 200 Hz, in particular at least 300 Hz, in particular at least 500 Hz.
  • the desired control bandwidth can be selected depending on the expected interference frequency.
  • the optical system comprises at least one regulator device, which is connected in a signal-transmitting manner with the sensor device for detecting the stray magnetic field and in addition thereto with a sensor device for detecting the positioning of one of the components.
  • the sensor device for detecting the stray magnetic field in particular a regulation of a positioning of one or more of the components of the optical system is possible, in which not only sensory detected position data, in particular in a feedback loop (Feed Back), but also in addition to this determined information about the magnetic Stray field can be used to control the positioning of one or more of the components of the optical system.
  • the components are in particular optical components.
  • the information about the stray magnetic field determined by the sensor device can be transmitted as correction signals to a controller for regulating the positioning of one or more of the components of the optical system.
  • the data acquired by the sensor device for detecting the stray magnetic field can first be further processed by means of a control device, in particular with a computing unit.
  • the optical system comprises a illumination optics of a projection exposure apparatus and / or a projection optics of a projection exposure apparatus.
  • it may be formed by an illumination optical unit of a projection exposure apparatus, a projection optics of a projection exposure apparatus or a projection exposure apparatus.
  • the advantages of the invention are particularly useful.
  • Especially in EUV projection exposure systems and their components is a high-precision positioning of the components essential to ensure the optical quality, in particular the precision of these systems.
  • FIG. 1 shows schematically a meridional section through a projection exposure apparatus for EUV projection lithography, schematically an optical system with a precontrol for positioning a component, wherein a sensor element is arranged on a passive optical component and a correction signal for correcting the positioning of a holding device, for example one 2, a further alternative to the embodiment according to FIG. 2, wherein the correction signal is applied to an actuator of an active optical component, an alternative to the embodiment according to FIG. 4, wherein the correction signal is applied to an alternative / parallel manipulator to the mirror position manipulator, an alternative to the embodiment of Fig. 3, wherein the compensation signal is applied to an actuator of an active optical device to correct the interference by an a to correct another optical element,
  • FIG. 7 shows a schematic representation of an optical system with a controlled positioning of an optical component without consideration of magnetic fields
  • 8 is a schematic representation corresponding to FIG. 7 with a feed-forward control for the consideration of magnetic fields
  • Fig. 9 is a representation according to FIG. 8, wherein additionally a sensor for calibration
  • FIG. 10 shows an alternative representation of the system according to FIG. 6.
  • An illumination system 2 of the projection exposure apparatus 1 has, in addition to a radiation source 3, an illumination optical system 4 for exposing an object field 5 in an object plane 6.
  • a reticle 7 arranged in the object field 5 is exposed here, which is held by a reticle holder 8, which is only partially shown.
  • a projection optical system 9 is used to image the object field 5 into an image field 10 in an image plane 11.
  • a structure is depicted on the reticle 7 on a photosensitive layer of a wafer 12 arranged in the image plane 11 in the region of the image field 10, which is likewise schematically represented Wafer holder 13 is held.
  • the radiation source 3 is an EUV radiation source with an emitted useful radiation in the range between 5 nm and 30 nm.
  • the radiation source 3 can also be a radiation source with an emitted useful radiation in another wavelength range.
  • the high-precision positioning of an optical component according to the invention, in particular for use in an EUV projection exposure apparatus is advantageous. It can be a plasma source, for example a GDPP source (plasma generation by gas discharge, gas discharge-produced plasma) or an LPP source (plasma generation by laser, laser-produced plasma).
  • a radiation source based on a synchrotron can also be used for the radiation source 3. Information about such a radiation source is found by the person skilled in the art, for example from the US
  • EUV radiation 14 emitted by the radiation source 3 is emitted by a collimator.
  • Lektor 15 bundled. After the collector 15, the EUV radiation 14 propagates through an intermediate focal plane 16 before striking a field facet mirror 17 with a plurality of field facets 23.
  • the field facet mirror 17 is arranged in a plane of the illumination optics 4, which is optically conjugate to the object plane 6.
  • the EUV radiation 14 is hereinafter also referred to as illumination light or as imaging light.
  • the EUV radiation 14 is reflected by a pupil facet mirror 18 having a multiplicity of pupil facets 24.
  • the pupil facet mirror 18 is arranged in a pupil plane of the illumination optics 4, which is optically conjugate to a pupil plane of the projection optics 9.
  • Field facets of the field facet mirror 17 are imaged into the object field 5 with the aid of the pupil facet mirror 18 and an imaging optical subassembly in the form of a transmission optical unit 19 with mirrors 20, 21 and 22 designated in the sequence of the beam path.
  • the last mirror 22 of the transmission optics 19 is a mirror for grazing incidence ("grazing incidence mirror").
  • the pupil facet mirror 18 and the transmission optics 19 form a sequential optics for transferring the illumination light 14 into the object field 5.
  • the transfer optics 19 can then be dispensed with when the pupil facet mirror 18 is disposed in an entrance pupil of the projection optics 9.
  • FIG. 1 For easier description of positional relationships, a Cartesian xyz coordinate system is shown in FIG.
  • the x-axis extends in Fig. 1 perpendicular to the plane in this.
  • the y-axis is to the right.
  • the z-axis runs down.
  • the object plane 6 and the image plane 11 are both parallel to the xy plane.
  • the reticle holder 8 is controllably displaceable in such a way that, in the projection exposure, the reticle 7 can be displaced in a direction of displacement in the object plane 6 parallel to the y-direction. Accordingly, the wafer holder 13 is controllably displaced such that the wafer 12 is displaceable in a displacement direction in the image plane 11 parallel to the y-direction. As a result, the reticle 7 and the wafer 12 can be scanned on the one hand by the object field 5 and on the other hand by the image field 10.
  • the direction of displacement will also be referred to as scanning Direction designated.
  • the displacement of the reticle 7 and the wafer 12 in the scan direction may preferably take place synchronously with one another.
  • the projection optical system 9 comprises at least one optical component for imaging the object field 5 into the image field 10
  • Component is in particular a mirror. This preferably carries a multilayer coating for optimizing the reflectivity of the wavelength of the useful radiation 14.
  • the projection optics 9 comprises in particular at least four mirrors. It can have five, six, seven, eight or more mirrors. In this case, one or more of the mirrors may have a passage opening for the useful radiation 14. In particular, the mirror, which is arranged closest to the image field 10, and which forms the penultimate mirror in the beam path of the projection optics 9, may have a passage opening for the useful radiation 14.
  • the reticle 7 and the wafer 12 carrying a photosensitive coating for the illumination light 14 are provided. Subsequently, at least a portion of the reticle 7 is projected onto the wafer 12 with the aid of the projection exposure apparatus 1.
  • the reticle holder 8 and / or the wafer holder 13 can be displaced in the direction parallel to the object plane 6 or parallel to the image plane 11.
  • the displacement of the reticle 7 and the wafer 12 may preferably take place synchronously with each other.
  • the photosensitive layer exposed to the illumination light 14 is developed on the wafer 12. In this way, a microstructured or nanostructured component, in particular a semiconductor chip, is produced.
  • a method for positioning a component of the projection exposure apparatus 1, in particular the illumination optics 4, the illumination system 2 or the projection optics 9 will be described.
  • the magnetic stray fields 25 are shown schematically in FIGS. 2 to 6.
  • the magne- The stray fields 25 can interact with the components of the projection exposure apparatus 1, in particular with the optical components of the illumination optics 4 and / or the projection optics 9.
  • a force interaction with components of the optical system and / or a change in length of holding structures, in particular due to magnetostrictive effects may occur.
  • both effects generally occur.
  • the actuators 30 form actuators of a displacement device for displacing the optical component 38.
  • the interaction between the stray magnetic fields 25 and the components of the projection exposure apparatus 1 can lead to undesired disturbances in the positioning of these components. For this purpose, it does not matter in principle, whereby the magnetic stray fields 25 are generated. However, if the cause of the stray fields 25 is known, this can be taken into account in the models described in more detail below.
  • the invention it is provided to compensate for the undesired interference caused by the interaction of the positioning of one or more of the components of the projection exposure apparatus 1 by means of correction signals.
  • a passive component in this case a fixed, that is not understood to be displaceable component understood.
  • an active component is understood to be a displaceable component, in particular a component which can be displaced controllably by means of an actuator device.
  • a feed forward model is provided.
  • this may be a force pilot model or a position pilot model or a combination of such models.
  • a correction signal for displacing the entire component to a holding device thereof can be applied, provided that the holding device has suitable means for this purpose.
  • an undesired disturbance of the positioning of a passive component may be at least partially compensated, if appropriate, at another point in the system.
  • both pre-control models can be implemented.
  • the actuatable, displaceable components can also have controllers with feedback, that is, control loops, for their positioning.
  • Position sensors 39 serve as sensors in particular. The corresponding details are shown only schematically in the figures for reasons of clarity.
  • the effect of the magnetic stray field 25 on the positioning of one or more of the components of the projection exposure apparatus 1, in particular the effect on active components, in particular their actuators, and / or the effect on passive components, in particular, can be determined with the aid of the method described in more detail below due to magnetostrictive effects or because of a reluctance force acting on them, reduce, in particular minimize.
  • it is provided to determine a correction signal for an actuator of a displacement device of one or more of the components of the projection exposure apparatus 1.
  • the stray magnetic field 25 is detected by means of one or more sensor elements 31.
  • the sensor elements 31 form components of a sensor device.
  • the magnetic stray field in particular its strength and direction, is determined from the data acquired by means of the sensor elements 31. With the aid of a precontrol model, the effect of the stray magnetic field 25 on the positioning of one or more of the components of the projection exposure apparatus 1 is determined.
  • a control device 32 is shown schematically in the figures.
  • the control device 32 may in particular comprise a computing unit and / or a memory.
  • the measurement signal of the sensor device is evaluated to consider the stray magnetic field 25.
  • a prediction of the disturbance of the positioning of one or more of the components of the projection exposure apparatus 1 is made. In particular, a prediction is made of the associated disturbance of the optical properties of the projection exposure apparatus 1.
  • a correction signal for correcting the positioning of one or more of the components of the projection exposure apparatus 1 is determined.
  • complete correction of the disturbance is possible. It can also be provided to reduce, in particular to compensate, the disturbance of a specific optical component by means of a correction signal for influencing another optical component. A complete correction is not always possible. If the disturbance of one of the optical components is corrected by a correction signal for the displacement of another optical component, it is provided to first calculate a correction recipe and to determine therefrom an actuating signal.
  • the control device 32 and the control device 41 can also be designed as a common component. In particular, they can be connected to a common regulator 42 for generating a control signal in a signal-transmitting manner. This is particularly advantageous if the correction of the disturbance is carried out on the optical component concerned itself.
  • control device 32 is connected to the controller 42 of the control device 41 for controlling the actuators 30 of one of the displaceable optical components of the projection exposure apparatus 1 in a signal-transmitting manner.
  • the tax Direction 32 is used in particular for transmitting a correction signal to a controller 42 of the controller 41st
  • the actual magnetic stray field 25 in particular its strength and direction, is determined with the aid of the sensor device, modeling thereof can be dispensed with. It has been found that the use of the sensor device leads to a significantly improved, in particular a much more precise determination of the actual stray magnetic field 25. Changes in the magnetic stray field 25, which can occur, for example, due to aging effects of the components of the stray-field generator, can also be determined with the aid of the sensor device. In addition, the determination of the actual magnetic stray field 25 with the aid of the sensor device is independent of a priori assumptions of a model for modeling a corresponding stray field. It is also independent of model errors due to manufacturing and / or assembly inaccuracies of the stray generator and / or simulation inaccuracies of a corresponding model.
  • the pre-control model for determining the relationship between the stray magnetic field 25 and its effect on the positioning of one or more of the components of the projection exposure apparatus 1 can be generated by measurements, in particular calibration measurements, or by means of a simulation.
  • the results of the calibration measurements can be stored in particular in the previously mentioned memory of the control device 32.
  • the stray magnetic field 25 is caused by components of the reticle holder 8. This is not meant to be limiting.
  • the magnetic stray field 25 can also be caused by components of the wafer holder 13 and / or further components of the projection exposure apparatus 1 with permanent-magnetic or electromagnetic elements. In principle, it does not matter for the method according to the invention, as a result of which the stray magnetic field 25 is generated. However, if the source of stray field 25 is known, this can be taken into account in the feedforward model.
  • the sensor element 31 is arranged in the region of a holding device 33 of an optical component 34 of the projection exposure apparatus 1.
  • the holding device 33 comprises, in particular, a rigid platform 35, which is also referred to as a "frame.”
  • the holding device 33 comprises holding struts 36 arranged on the platform.
  • Optical component 34 can be, in particular, a mirror, in particular a mirror of illumination optics 4 or projection optics 9.
  • a correction signal ⁇ for displacing the reticle holder 8 is determined from the effect of the stray magnetic field 25 determined by the control device 32 on the positioning of the optical component 34.
  • This is a rigid body correction. This makes it possible to correct the low orders, in particular the so-called overlay and the focus.
  • the correction signal ⁇ is transmitted by the control device 32 to a control device 41 for controlling the displacement of the reticle holder 8, in particular to a controller 42 of the control device 41.
  • the reticle holder 8 preferably has a plurality of degrees of freedom for correcting the positioning with the aid of the correction signal.
  • it can have three translatory degrees of freedom for the correction of the positioning with the aid of the correction signal.
  • it can in particular have three rotational degrees of freedom for correcting the positioning with the aid of the correction signal.
  • a correction signal in the form of a positioning signal is determined.
  • the correction signal ⁇ is used in particular for correcting the positioning of a component which is different from that which is primarily responsible for the generation of the stray magnetic field 25.
  • FIG. 3 essentially corresponds to that shown in FIG. 2, to the description of which reference is hereby made.
  • the correction signal ⁇ is used to correct the positioning of a platform 37, which is different from the reticle holder 8.
  • the platform 37 can in particular be the wafer holder 13. It can also be a holding device for holding a further optical component, in particular a mirror, not shown in the figure.
  • Platform 37 and reticle holder 8 may also just be reversed.
  • the wafer holder 13 may generate the stray magnetic field 25 instead of the reticle holder 8 and to generate a correction signal ⁇ for correcting the positioning of the reticle holder 8.
  • the correction signal is applied to the actuator 30. It serves, in particular, for correcting the positioning of the active optical component 38.
  • the correction signal determined by means of the control device 32 serves, in particular, to correct the control signal, in particular the control signal, for positioning the active optical component 38.
  • the control signal for positioning the active optical component Components 38 are generally generated by a control device, not shown in the figures, for controlling the optical system.
  • an actuator is exemplarily shown, in which the coils 29 are fixedly connected to the platform 35, while the permanent magnets 28 are arranged on the optical component 38 and displaceable together with this.
  • Such an arrangement is also referred to as an actuator with moving magnets (Moving Magnet Actuator).
  • a reverse arrangement in which the permanent magnets 28 are fixedly mounted on the platform 35 and the coils 29 on the optical device 38 is also possible.
  • This is also referred to as an actuator with moving coils (moving coil actuator).
  • Other configurations of the actuators are also possible.
  • the method according to the invention is not limited to a specific type of actuator.
  • position sensors 39 for detecting the position of the optical component 38 are shown schematically.
  • the position of the optical component 38 can in particular be detected relative to a fixed reference point of the projection exposure apparatus 1, for example a boundary wall 40 thereof.
  • the correction signal for the actuator 30 is a force pilot model.
  • the correction signal is present in the form of a force signal AF for the force exerted on the optical component 38 by means of the actuator 30.
  • the alternative shown in FIG. 5 essentially corresponds to that shown in FIG. 4, to the description of which reference is hereby made.
  • the optical component 38 is mounted in the alternative shown in FIG. 5 with a gravitational compensation device 27.
  • Compensation device 27 is not intended to be limiting. An alternative arrangement of the permanent magnets 26 is also possible.
  • FIG. 6 essentially corresponds to the alternative illustrated in FIG. 3, to the description of which reference is hereby made. Instead of a passive one
  • the positioning of the active optical component 38 is corrected in the alternative according to FIG.
  • the control device 41 of the displacement device for positioning the optical component 38 is acted upon by the correction signal ⁇ .
  • the positioning of the platform 35 can also be corrected by means of a correction signal ⁇ in the alternative shown in FIG. It is also possible to generate a plurality of correction signals by means of the control device 32. As indicated by way of example, both the positioning of passive components and the positioning of active components can be influenced by means of correction signals. In this case, positioning correction signals Ar and / or force correction signals AF are possible. A combination of a positioning correction signal Ar and a force correction signal AF is also possible.
  • the pilot control model is in particular a first-order pilot control model.
  • This is understood to mean a model in which not only a pure FE model (finite element model), which is also referred to as a zero-order model, is used to determine the correction signals, but the data measured by the sensor device as input for the Serve model, in particular used to calibrate the model.
  • the effect of the stray magnetic field 25 on a passive optical component 34 is achieved by correcting the positioning of another component of the projection exposure apparatus 1. This is possible in particular if the component whose positioning is corrected by means of the correction signal and the component 34 whose positioning is disturbed by the stray magnetic field 25 have complementary sensitivities. Otherwise, although a correction of the optical effect is not excluded, it is generally not complete.
  • errors of the first order can be corrected with an adjustment of the wafer and / or the reticle.
  • a mispositioning in particular a tilting of an optical component, for example a mirror, leads to to a line offset in the image field, which can be corrected very well by means of a corrective movement of the wafer and / or the reticle.
  • the correction signal When correcting a disturbance of one of the components of the projection exposure apparatus 1 by various other components of the projection exposure apparatus 1, it may be provided to calculate the correction signal in such a way that a possibly remaining residual error is smaller than a predefined limit value, in particular minimized.
  • any measuring device with which the strength and / or direction of the stray magnetic field 25 can be detected directly or indirectly can serve as the sensor element 31.
  • a force pre-control model can be provided, in particular, if at least one of the components to be positioned of the projection exposure apparatus 1 is provided with a displacement device with actuator actuators, by means of which a force can be exerted on the component, which is opposite to the external force effect.
  • a displacement device with actuators for displacing a holding device in particular the reticle holder 8 and / or the wafer holder 13 and / or a platform 35, 37 is provided.
  • the sensor elements 31 should preferably be positioned as close as possible to the component of the projection exposure apparatus 1 influenced by the stray field 25. As a result, the accuracy for the determination of the correction signal can be improved.
  • the distance between the sensor elements 31 and the stray field 25th In particular, components influenced is at most 100 mm, in particular at most 10 mm, in particular at most 1 mm.
  • control device 32 preferably has a high control bandwidth.
  • a high control bandwidth is particularly advantageous for the correction of high-frequency excitations.
  • the control bandwidth is in particular at least 1 Hz, in particular at least 10 Hz, in particular at least 30 Hz, in particular at least 50 Hz, in particular at least 100 Hz, in particular at least 200 Hz, in particular at least 300 Hz, in particular at least 500 Hz.
  • the component of the projection exposure apparatus 1, whose position should be influenced by means of the correction signal should be able to follow the dynamic mispositions. In particular, it should have a high control bandwidth.
  • the required control bandwidth depends on the frequency of the fault.
  • the interference frequency depends on the speed and the spatial magnetic field distribution. We expect interference in the 100 Hz range, which should be corrected with a control bandwidth of 200 Hz better 500-1000 Hz. Disturbances in the 10 Hz range can be corrected with a control bandwidth of 100 Hz, those in the 1 Hz range with 10 Hz bandwidth.
  • FIG. 7 schematically shows the alternative of regulating the positioning of the optical component 34 and the reticle holder 8 without the consideration of magnetic fields 25.
  • a positioning signal 45 for positioning the reticle holder 8 is guided to this.
  • a positioning signal 45 is passed to the controller 42 for controlling the positioning of the optical component 34.
  • a control signal 43 is supplied to the actuators 30 of the optical component 34.
  • the controller 42 is also provided with a sensor signal 44 from the position sensor 39.
  • the positioning signal 45 which is transmitted by the control device 41 and the controller 42, is in particular the desired value for positioning the optical component 34.
  • the influence of the stray magnetic fields 25 is taken into account, but only in a feedforward control without feedback.
  • a model 46 shown schematically in FIG. 8, serves for the magnetic interaction.
  • the correction signals 47 can serve in particular as input for the controller 42. They can in particular be incorporated into the control signal 43, d. H. to influence this.
  • FIG. 9 shows an alternative according to FIG. 8, in which, however, a sensor element 31 is additionally provided for detecting the stray magnetic field 25 in the region of the optical component 34.
  • the sensor element 31 provides input signals 48 to the model 46 for the magnetic interaction. Using the input signals 48, the model 46 can be calibrated in particular.
  • FIG. 9 shows schematically the alternative of a first order model 46.
  • FIG. 10 essentially corresponds to that illustrated in FIG. 9, wherein the input signal 48 determined by the sensor element 31 serves to determine a correction signal for the correction of a control signal 43 for an optical component 34 ', which extends from the component 34, in the region of the sensor element 31 is arranged, is different.
  • the component 34 in the region of which the sensor element 31 is arranged, may be a passive optical component, ie an optical component with a passive mounting 49, for example in the form of passive retaining struts 36.

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Abstract

Bei einem optischen System ist vorgesehen, zur Regelung der Positionierung einer Bauelements (34) ein magnetisches Streufeld (25) mittels einer Sensoreinrichtung zu erfassen und ein Korrektursignal zur Kompensation der Wirkung des magnetischen Streufeldes auf die Positionierung des Bauelements (34) zu ermitteln.

Description

Verfahren zur Positionierung eines Bauelements eines optischen Systems
Die vorliegende Patentanmeldung nimmt die Priorität der deutschen Patentanmeldung DE 10 2016 226 079.0 in Anspruch, deren Inhalt durch Bezugnahme hierin aufgenommen wird.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Positionierung eines Bauelements eines optischen Systems. Die Erfindung betrifft außerdem ein optisches System.
Für viele Anwendungen müssen optische Bauelemente präzise positioniert werden. Vorrichtun- gen zur Positionierung eines optischen Bauelements, insbesondere eines Spiegels einer Projekti- onsbelichtungsanlage, sind beispielsweise aus der DE 10 2012 202 169 AI und der DE 10 2012 202 170 AI bekannt.
Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur Positionierung eines Bauele- ments eines optischen Systems zu verbessern.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 gelöst.
Der Kern der Erfindung besteht darin, die Wirkung eines magnetischen Streufeldes auf die Posi- tionierung eines oder mehrerer der Bauelemente eines optischen Systems zu kompensieren.
Hierbei ist insbesondere vorgesehen, das magnetische Streufeld mittels einer Sensoreinrichtung zu erfassen. Aus den mittels der Sensoreinrichtung erfassten Informationen über das magnetische Streufeld im Bereich eines oder mehrerer der Bauelemente des optischen Systems wird ein Korrektursignal für ein Stellglied einer Verlagerungseinrichtung eines der Bauelemente des opti- sehen Systems bestimmt. Mithilfe des Korrektursignals kann ein durch die Wirkung des magnetischen Streufelds auf Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente verursachter optischer Fehler zumindest teilweise, insbesondere vollständig, kompensiert werden. Durch die Erfassung des tatsächlichen magnetischen Streufeldes wird eine wesentlich präzisere Kompensation der Wirkungen des magnetischen Streufelds auf die Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente des optischen Systems möglich. Der Einsatz einer Sensoreinrichtung zur Ermittlung des magnetischen Streufeldes ermöglicht insbesondere, ein tatsächlich vorhandenes magne- tisches Streufeld, insbesondere dessen Stärke und/oder dessen Richtung, zu ermitteln, ohne dass hierbei Modellannahmen gemacht werden müssten.
Das magnetische Streufeld kann insbesondere von einer elektromagnetischen Einrichtung, insbe- sondere einer steuerbaren elektromagnetischen Einrichtung zur Verlagerung eines der Bauelemente des optischen Systems erzeugt werden.
Gemäß einem Aspekt der Erfindung dient zur Bestimmung des Korrektursignals ein Kraft- Vorsteuerungs-(Kraft-Feed-Forward)Modell oder ein Positions-Vorsteuerungs-(Positions-Feed- Forward)Modell. Hierbei wird das magnetische Streufeld, wie bereits erwähnt, mittels der Sensoreinrichtung ermittelt. Die Übersetzung vom Streufeld zur Kraft beziehungsweise zur Position wird über Messungen oder mit Hilfe einer Simulation generiert.
Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung sind die Sensoreinrichtung und die Verlagerungs- einrichtung im Bereich unterschiedlicher Bauelemente des optischen Systems angeordnet. Es ist insbesondere möglich, die Sensoreinrichtung an einem ersten optischen Bauelement anzuordnen, während die zu beeinflussende Verlagerungseinrichtung an ein anderes Bauelement gekoppelt ist. Die Verlagerungseinrichtung kann insbesondere zur Verlagerung eines weiteren optischen Bauelements und/oder zur Verlagerung einer Plattform (einer sogenannten Stage) dienen. Es ist insbesondere möglich, das magnetische Streufeld mittels der Sensoreinrichtung im Bereich eines ersten Bauelements zu erfassen, das Korrektursignal jedoch an ein Stellglied eines anderen Bauelements anzulegen. Zwar ist eine vollständige Kompensation eines durch die Wirkung des magnetischen Streufeldes auf die Positionierung des ersten Bauelements verursachten optischen Fehlers im Allgemeinen nur teilweise, insbesondere nicht vollständig, möglich, jedoch kann hier- durch ermöglicht werden, optische Fehler, welche durch die Wirkung des magnetischen Streufeldes auf nicht gesteuert verlagerbare Komponenten des optischen Systems verursacht werden, zumindest teilweise zu kompensieren.
Die Verlagerungseinrichtung kann insbesondere zur Verlagerung eines aktiven optischen Bau- elements, insbesondere eines positionsgeregelten aktuierten optischen Bauelements, insbesondere eines positionsgeregelten aktuierten Spiegels, dienen. Die Verlagerungseinrichtung kann alternativ oder zusätzlich hierzu zur Verlagerung eines passiven optischen Bauelements, insbesondere eines nichtpositionsgeregelten aktuierten Bauelements, dienen. Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung sind die Sensoreinrichtung und die Verlagerungseinrichtung im Bereich desselben Bauelements des optischen Systems angeordnet. Dies ermöglicht eine besonders einfache Kompensation der Wirkungen des magnetischen Streufeldes. Außerdem ist in diesem Fall eine vollständige Kompensation der Wirkungen des magnetischen Streufeldes prinzipiell möglich. Es kann insbesondere vorgesehen sein, die Wirkungen des mag- netischen Streufeldes auf das entsprechende Bauelement zu mindestens 50 %, insbesondere mindestens 70 %, insbesondere mindestens 90 %, zu kompensieren.
Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung wird das magnetische Streufeld mittels der Sensoreinrichtung in einer Mehrzahl von Richtungen und/oder an einer Mehrzahl von Positionen erfasst. Die Sensoreinrichtung kann hierfür insbesondere eine Mehrzahl von Sensorelementen umfassen.
Unter der Erfassung des Magnetfeldes wird hierbei und im Folgenden die tatsächliche Messung desselben mittels der Sensoreinrichtung, insbesondere mittels mindestens eines der Sensorele- mente derselben, verstanden. Die Ermittlung des magnetischen Streufeldes kann hingegen auch zusätzlich zur Messung desselben weitere Verarbeitungsschritte der Messergebnisse umfassen.
Eine größere Anzahl der Sensorelemente führt zu einer Verbesserung der Messinformation, insbesondere der räumlichen Verteilung des Streufeldes. Es ist insbesondere möglich, die Stärke des Streufeldes in unterschiedlichen Raumrichtungen zu erfassen oder zu ermitteln. Hierzu können die Sensorelemente unterschiedlich ausgerichtet sein.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein optisches System zu verbessern. Diese Aufgabe wird durch ein optisches System mit einer Mehrzahl von Bauelementen und mindestens einer Sensoreinrichtung zur Erfassung eines magnetischen Streufeldes gelöst, wobei die Sensoreinrichtung ein Bestandteil einer Vorwärts-Steuerungseinrichtung zur Steuerung der Positionierung mindestens eines der Bauelemente des optischen Systems ist.
Ein derartiges optisches System ermöglicht eine verbesserte, insbesondere eine präzisere Positi- onierung der Bauelemente. Zur Positionierung der Bauelemente des optischen Systems kann insbesondere das vorhergehend beschriebene Verfahren verwendet werden.
Gemäß einem Aspekt der Erfindung umfasst die Sensoreinrichtung zur Erfassung der räumlichen Verteilung des Streufeldes eine Mehrzahl von Sensorelementen. Sie kann insbesondere zwei, drei oder mehr Sensorelemente umfassen.
Als Sensorelemente können insbesondere Hallsensoren dienen. Andere Sensorelemente, beispielsweise MDR (magnetic dependent resistor), SQUID (superconducting quantum device) und andere, sind ebenso möglich.
Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung ist die Sensoreinrichtung derart angeordnet, dass sie einen Abstand zu einem vom Streufeld beeinflussbaren Bauelement aufweist, welcher höchstens 100 mm, insbesondere höchstens 10 mm, insbesondere höchstens 1 mm beträgt. Je kleiner der Abstand zwischen der Sensoreinrichtung und dem von Streufeld beeinflussten Bauelement ist, desto genauer kann der Einfluss des Streufeldes auf die Positionierung dieses Bauelements kompensiert werden.
Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung weist ein Stellglied einer Verlagerungseinrichtung zur Kompensation der Wirkung des magnetischen Streufeldes auf die Positionierung mindestens eines der Bauelemente des optischen Systems eine Regelbandbreite von mindestens 1 Hz, insbesondere mindestens 10 Hz, insbesondere mindestens 30 Hz, insbesondere mindestens 50 Hz, insbesondere mindestens 100 Hz, insbesondere mindestens 200 Hz, insbesondere mindestens 300 Hz, insbesondere mindestens 500 Hz, auf. Die gewünschte Regelbandbreite kann in Abhängigkeit von der zu erwartenden Störfrequenz gewählt werden.
Eine hohe Regelbandbreite ermöglicht es, Störungen besser korrigieren zu können. Insbesondere bei hochfrequenten Anregungen ist eine hohe Regelbandbreite vorteilhaft, um optische Restfeh- ler zu minimieren. Unter einem optischen Restfehler sei hierbei die durch eine Störung der Positionierung eines oder mehrerer der optischen Bauelemente verursachte Abweichung von einem idealen Bild verstanden. Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung umfasst das optische System mindestens eine Regler-Einrichtung, welche in signalübertragender Weise mit der Sensoreinrichtung zur Erfassung des magnetischen Streufeldes und zusätzlich hierzu mit einer Sensoreinrichtung zur Erfassung der Positionierung eines der Bauelemente verbunden ist. Mithilfe der Sensoreinrichtung zur Erfassung des magnetischen Streufeldes ist insbesondere eine Regelung einer Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente des optischen Systems möglich, bei welcher nicht nur sensorisch erfasste Positionsdaten, insbesondere in einer Rückkopplungsschleife (Feed Back), sondern auch zusätzlich hierzu ermittelte Informationen über das magnetische Streufeld zur Regelung der Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente des optischen Systems verwendet werden. Bei den Bauelementen handelt es sich insbesondere um optische Bauelemente. Die von der Sensoreinrichtung ermittelten Informationen über das magnetische Streufeld können als Korrektursignale an einen Regler zur Regelung der Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente des optischen Systems übertragen werden. Die von der Sensoreinrichtung zur Erfassung des magnetischen Streufeldes erfassten Daten können hierfür zunächst noch mittels einer Steuereinrichtung, insbesondere mit einer Recheneinheit weiterverarbeitet werden.
Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung umfasst das optische System eine Beleuchtungsop- tik einer Projektionsbelichtungsanlage und/oder eine Projektionsoptik einer Projektionsbelich- tungsanlage. Es kann insbesondere durch eine Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage, eine Projektionsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage oder eine Projektionsbelichtungsanlage gebildet sein.
Bei derartigen optischen Systemen kommen die Vorteile der Erfindung besonders gut zum Tragen. Insbesondere bei EUV-Projektionsbelichtungsanlagen und deren Bestandteilen ist eine hochpräzise Positionierung der Bauelemente wesentlich, um die optische Qualität, insbesondere die Präzision dieser Anlagen, sicherzustellen.
Weitere Details und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung von Ausfuh- rungsbeispielen anhand der Figuren. Es zeigen: schematisch einen Meridionalschnitt durch eine Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Projektionslithographie, schematisch ein optisches System mit einer Vorsteuerung für eine Positionierung eines Bauelements, wobei ein Sensorelement an einem passiven optischen Bauelement angeordnet ist und ein Korrektursignal zur Korrektur der Positionierung einer Halteeinrichtung, beispielsweise eines Retikelhalters oder eines Waferhal- ters erzeugt wird, eine Alternative zur Ausführung gemäß Fig. 2, eine weitere Alternative zur Ausführung gemäß Fig. 2, wobei das Korrektursignal an einem Aktuator eines aktiven optischen Bauelements angelegt wird, eine Alternative zur Ausführung gemäß Fig. 4, wobei das Korrektursignal an einem alternativen/parallelen Manipulator zum Spiegelpositionsmanipulator angelegt wird, eine Alternative zur Ausführung nach Fig. 3, wobei das Kompensationssignal an einen Aktuator eines aktiven optischen Bauelements angelegt wird, um die Störung durch ein anderes optisches Element zu korrigieren,
Fig. 7 eine schematische Darstellung eines optischen Systems mit einer geregelten Positionierung eines optischen Bauelements ohne Berücksichtigung von Magnetfeldern, Fig. 8 eine schematische Darstellung entsprechend der Fig. 7 mit einer Vorwärtssteuerung zur Berücksichtigung von Magnetfeldern,
Fig. 9 eine Darstellung gemäß Fig. 8, wobei zusätzlich ein Sensor zur Kalibrierung
Modells für die magnetische Wechselwirkung vorgesehen ist, und
Fig. 10 eine alternative Darstellung des Systems gemäß Fig. 6.
Im Folgenden werden zunächst unter Bezugnahme auf die Figur 1 der allgemeine Aufbau und die Bestandteile einer Projektionsbehchtungsanlage 1 beschrieben.
Fig. 1 zeigt schematisch in einem Meridionalschnitt eine Projektionsbelichtungsanlage 1 für die Mikrolithografie. Ein Beleuchtungssystem 2 der Projektionsbelichtungsanlage 1 hat neben einer Strahlungsquelle 3 eine Beleuchtungsoptik 4 zur Belichtung eines Objektfeldes 5 in einer Ob- jektebene 6. Belichtet wird hierbei ein im Objektfeld 5 angeordnetes Retikel 7, das von einem lediglich ausschnittsweise dargestellten Retikelhalter 8 gehalten ist. Eine Projektionsoptik 9 dient zur Abbildung des Objektfeldes 5 in ein Bildfeld 10 in eine Bildebene 11. Abgebildet wird eine Struktur auf dem Retikel 7 auf eine lichtempfindliche Schicht eines im Bereich des Bildfeldes 10 in der Bildebene 11 angeordneten Wafers 12, der von einem ebenfalls schematisch dargestellten Waferhalter 13 gehalten ist.
Bei der Strahlungsquelle 3 handelt es sich um eine EUV- Strahlungsquelle mit einer emittierten Nutzstrahlung im Bereich zwischen 5 nm und 30 nm. Bei der Strahlungsquelle 3 kann es sich auch um eine Strahlungsquelle mit einer emittierten Nutzstrahlung in einem anderen Wellenlän- genbereich handeln. Jedoch ist die erfindungsgemäße, hochpräzise Positionierung eines optischen Bauelements insbesondere für den Einsatz in einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage vorteilhaft. Es kann sich dabei um eine Plasmaquelle, beispielsweise um eine GDPP-Quelle (Plasmaerzeugung durch Gasentladung, Gas Discharge-Produced Plasma) oder um eine LPP- Quelle (Plasmaerzeugung durch Laser, Laser-Produced Plasma) handeln. Auch eine Strahlungs- quelle, die auf einem Synchrotron basiert, ist für die Strahlungsquelle 3 einsetzbar. Informationen zu einer derartigen Strahlungsquelle findet der Fachmann beispielsweise aus der US
6,859,515 B2. EUV-Strahlung 14, die von der Strahlungsquelle 3 ausgeht, wird von einem Kol- lektor 15 gebündelt. Nach dem Kollektor 15 propagiert die EUV-Strahlung 14 durch eine Zwi- schenfokusebene 16 bevor sie auf einen Feldfacettenspiegel 17 mit einer Vielzahl von Feldfacetten 23 trifft. Der Feldfacettenspiegel 17 ist in einer Ebene der Beleuchtungsoptik 4 angeordnet, die zur Objektebene 6 optisch konjugiert ist.
Die EUV-Strahlung 14 wird nachfolgend auch als Beleuchtungslicht oder als Abbildungslicht bezeichnet.
Nach dem Feldfacettenspiegel 17 wird die EUV-Strahlung 14 von einem PupiUenfacettenspiegel 18 mit einer Vielzahl von Pupillenfacetten 24 reflektiert. Der PupiUenfacettenspiegel 18 ist in einer Pupillenebene der Beleuchtungsoptik 4 angeordnet, die zu einer Pupillenebene der Projek- tionsoptik 9 optisch konjugiert ist. Mit Hilfe des Pupillenfacettenspiegels 18 und einer abbildenden optischen Baugruppe in Form einer Übertragungsoptik 19 mit in der Reihenfolge des Strahlengangs bezeichneten Spiegeln 20, 21 und 22 werden Feldfacetten des Feldfacettenspiegels 17 in das Objektfeld 5 abgebildet. Der letzte Spiegel 22 der Übertragungsoptik 19 ist ein Spiegel für streifenden Einfall („Grazing Incidence-Spiegel"). Der PupiUenfacettenspiegel 18 und die Übertragungsoptik 19 bilden eine Folgeoptik zur Überführung des Beleuchtungslichts 14 in das Objektfeld 5. Auf die Übertragungsoptik 19 kann insbesondere dann verzichtet werden, wenn der PupiUenfacettenspiegel 18 in einer Eintrittspupille der Projektionsoptik 9 angeordnet ist.
Zur einfacheren Beschreibung von Lagebeziehungen ist in der Fig. 1 ein kartesisches xyz- Koordinatensystem eingezeichnet. Die x- Achse verläuft in der Fig. 1 senkrecht zur Zeichenebene in diese hinein. Die y- Achse verläuft nach rechts. Die z- Achse verläuft nach unten. Die Objektebene 6 und die Bildebene 11 verlaufen beide parallel zur xy-Ebene.
Der Retikelhalter 8 ist gesteuert so verlagerbar, dass bei der Projektionsbelichtung das Retikel 7 in einer Verlagerungsrichtung in der Objektebene 6 parallel zur y-Richtung verlagert werden kann. Entsprechend ist der Waferhalter 13 gesteuert so verlagerbar, dass der Wafer 12 in einer Verlagerungsrichtung in der Bildebene 11 parallel zur y-Richtung verlagerbar ist. Hierdurch können das Retikel 7 und der Wafer 12 einerseits durch das Objektfeld 5 und andererseits durch das Bildfeld 10 gescannt werden. Die Verlagerungsrichtung wird nachfolgend auch als Scan- Richtung bezeichnet. Die Verschiebung des Retikels 7 und des Wafers 12 in Scan-Richtung kann vorzugsweise synchron zueinander erfolgen.
Die Projektionsoptik 9 umfasst mindestens ein optisches Bauelement zur Abbildung des Objekt- feldes 5 in das Bildfeld 10. Beim optischen
Bauelement handelt es sich insbesondere um einen Spiegel. Dieser trägt vorzugsweise eine Mul- tilayer-Beschichtung zur Optimierung der Reflektivität der Wellenlänge der Nutzstrahlung 14.
Die Projektionsoptik 9 umfasst insbesondere mindestens vier Spiegel. Sie kann fünf, sechs, sie- ben, acht oder mehr Spiegel aufweisen. Hierbei kann einer oder mehrere der Spiegel eine Durch- trittsöffnung für die Nutzstrahlung 14 aufweisen. Insbesondere der Spiegel, welcher am nächsten am Bildfeld 10 angeordnet ist, und welcher den vorletzten Spiegel im Strahlengang der Projektionsoptik 9 bildet, kann eine Durchtrittsöffnung für die Nutzstrahlung 14 aufweisen. Beim Einsatz der Projektionsbelichtungsanlage 1 werden das Retikel 7 und der Wafer 12, der eine für das Beleuchtungslicht 14 lichtempfindliche Beschichtung trägt, bereitgestellt. Anschließend wird zumindest ein Abschnitt des Retikels 7 mit Hilfe der Projektionsbelichtungsanlage 1 auf den Wafer 12 projiziert. Bei der Projektion des Retikels 7 auf den Wafer 12 kann der Retikelhalter 8 und/oder der Waferhalter 13 in Richtung parallel zur Objektebene 6 bzw. parallel zur Bildebene 11 verlagert werden. Die Verlagerung des Retikels 7 und des Wafers 12 kann vorzugsweise synchron zueinander erfolgen. Schließlich wird die mit dem Beleuchtungslicht 14 belichtete lichtempfindliche Schicht auf dem Wafer 12 entwickelt. Auf diese Weise wird ein mikro- bzw. nanostrukturiertes Bauelement, insbesondere ein Halbleiterchip, hergestellt. Im Folgenden wird ein Verfahren zur Positionierung eines Bauelements der Projektionsbelichtungsanlage 1, insbesondere der Beleuchtungsoptik 4, des Beleuchtungssystems 2 oder der Projektionsoptik 9 beschrieben.
Es wurde festgestellt, dass es beim Einsatz von elektromagnetischen Komponenten, insbesonde- re im Bereich des Retikelhalters 8 und/oder des Waferhalters 13 und/oder im Bereich der optischen Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 zu magnetischen Streufeldern 25 kommt. Die magnetischen Streufelder 25 sind in den Figuren 2 bis 6 schematisch dargestellt. Die magne- tischen Streufelder 25 können mit den Bauelementen der Projektionsbelichtungsanlage 1, insbesondere mit den optischen Bauelementen der Beleuchtungsoptik 4 und/oder der Projektionsoptik 9, wechselwirken. Es kann insbesondere zu einer Kraft- Wechselwirkung mit Bauelementen des optischen Systems und/oder zu einer Längenänderung von Haltestrukturen, insbesondere auch aufgrund von magnetostriktiven Effekten, kommen. Insbesondere an Komponenten mit ferro- magnetischen Bestandteilen treten generell beide Effekte auf.
Außerdem kann es zu einer Kraftwechselwirkung zwischen den magnetischen Streufeldern 25 und Permanentmagneten 26 einer Gravitations-Kompensationseinrichtung 27 (siehe Figur 5) und/oder Permanentmagneten 28 und/oder Spulen 29 von Aktuatoren 30 (siehe Figur 4) kommen. Die Aktuatoren 30 bilden Stellglieder einer Verlagerungseinrichtung zur Verlagerung des optischen Bauelements 38. Die Wechselwirkung zwischen den magnetischen Streufeldern 25 und den Bauelementen der Projektionsbelichtungsanlage 1 kann zu unerwünschten Störungen der Positionierung dieser Bauelemente führen. Hierfür spielt es grundsätzlich keine Rolle, wodurch die magnetischen Streufelder 25 erzeugt werden. Ist die Ursache der Streufelder 25 jedoch bekannt, kann diese in den nachfolgend noch näher beschriebenen Modellen jedoch berücksichtigt werden.
Erfindungsgemäß ist vorgesehen, die durch die Wechselwirkung bewirkte, unerwünschte Stö- rung der Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 mittels Korrektursignalen zu kompensieren. Es ist insbesondere möglich, eine unerwünschte Störung der Positionierung eines passiven Bauelements mittels Korrektursignalen zu kompensieren. Es ist auch möglich, eine unerwünschte Störung der Positionierung eines aktiven Bauelements mittels Korrektursignalen zu kompensieren.
Unter einem passiven Bauelement sei hierbei ein fix, d. h. nicht verlagerbar gelagertes Bauelement verstanden. Unter einem aktiven Bauelement sei hierbei ein verlagerbares, insbesondere ein mittels einer Aktuator-Einrichtung steuerbar verlagerbares Bauelement verstanden. Zur Bestimmung der Korrektursignale ist ein Vorsteuerungsmodell (Feed Forward Modell) vorgesehen. Es kann sich hierbei insbesondere um ein Kraft- Vorsteuerungs-Modell oder ein Positi- ons-Vorsteuerungs-Modell oder eine Kombination derartiger Modelle handeln. Bei passiven Bauelementen, welche nicht mittels einer Aktuator-Einrichtung steuerbar verlagerbar sind, kann ein Korrektursignal zur Verlagerung des gesamten Bauelements an eine Halteeinrichtung desselben angelegt werden, sofern die Halteeinrichtung hierfür geeignete Mittel auf- weist. Alternativ hierzu kann eine unerwünschte Störung der Positionierung eines passiven Bauelements gegebenenfalls an einer anderen Stelle im System zumindest teilweise kompensiert werden.
Bei aktiven Bauelementen, welche steuerbar aktuierbar verlagerbar sind, können beide Vorsteue- rungs-Modelle umgesetzt werden.
Zusätzlich zu der nachfolgend näher beschriebenen Vorsteuerung können die aktuierbar verlagerbaren Bauelemente zu ihrer Positionierung auch Steuerungen mit Rückkopplung, das heißt Regelungsschleifen aufweisen. Hierbei dienen als Sensoren insbesondere Positionssensoren 39. Die entsprechenden Details sind in den Figuren aus Übersichtlichkeitsgründen nur schematisch dargestellt.
Mit Hilfe des nachfolgend näher beschriebenen Verfahrens lässt sich die Wirkung des magnetischen Streufeldes 25 auf die Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente der Projekti- onsbelichtungsanlage 1 , insbesondere die Wirkung auf aktive Bauelemente, insbesondere deren Aktuatoren, und/oder die Wirkung auf passive Bauelemente, insbesondere aufgrund von magne- tostriktiven Effekten oder aufgrund einer auf sie wirkenden Reluktanzkraft, reduzieren, insbesondere minimieren. Hierfür ist vorgesehen, ein Korrektursignal für ein Stellglied einer Verlagerungseinrichtung eines oder mehrerer der Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 zu bestimmen. Zur Bestimmung des Korrektursignals wird das magnetische Streufeld 25 mittels eines oder mehrerer Sensor-Elemente 31 erfasst. Die Sensorelemente 31 bilden Bestandteile einer Sensoreinrichtung. Aus den mittels der Sensorelemente 31 erfassten Daten wird das magnetische Streufeld, insbesondere dessen Stärke und Richtung, ermittelt. Mit Hilfe eines Vorsteue- rungs-Modells wird die Wirkung des magnetischen Streufeldes 25 auf die Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 ermittelt. Hierfür ist in den Figuren schematisch eine Steuereinrichtung 32 dargestellt. Die Steuereinrichtung 32 kann insbesondere eine Recheneinheit und/oder einen Speicher umfassen. Mittels der Steuereinrichtung 32 wird das Messsignal der Sensoreinrichtung zur Auffassung des magnetischen Streufelds 25 ausgewertet. Mittels hinterlegter optischer Sensit ivitäten wird eine Vorhersage der Störung der Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente der Projekti- onsbelichtungsanlage 1 gemacht. Es wird insbesondere eine Vorhersage auf die damit verbundene Störung der optischen Eigenschaften der Projektionsbelichtungsanlage 1 gemacht. Aus dieser Vorhersage wird ein Korrektursignal zur Korrektur der Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 ermittelt. Hierbei ist es möglich, die Korrektur an den vom magnetischen Streufeld 25 beeinflussten optischen Bauelementen selbst durchzufüh- ren. In diesem Fall ist eine vollständige Korrektur der Störung möglich. Es kann auch vorgesehen sein, die Störung eines bestimmten optischen Bauelements durch ein Korrektursignal zur Beeinflussung eines anderen optischen Bauelements zu reduzieren, insbesondere zu kompensieren. Eine vollständige Korrektur ist hierbei nicht immer möglich. Sofern die Störung eines der optischen Bauelemente durch ein Korrektursignal zur Verlagerung eines anderen optischen Bauelements korrigiert wird, ist vorgesehen, zunächst ein Korrekturrezept zu berechnen und hieraus ein Stellsignal zu bestimmen.
Gemäß den in den Figuren dargestellten Alternativen ist die Steuereinrichtung 32 zur Korrektur der Wirkung des magnetischen Streufelds 25 auf die Positionierung eines oder mehrerer der
Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 mithilfe des Vorsteuerungs-Modells als separates, von der gegebenenfalls vorhandenen Steuereinrichtung 41 getrenntes Bauelement dargestellt. Dies dient primär zur Erläuterung des Korrekturverfahrens. Die Steuereinrichtung 32 und die Steuereinrichtung 41 können auch als gemeinsames Bauelement ausgebildet sein. Sie können insbesondere mit einem gemeinsamen Regler 42 zur Erzeugung eines Regelsignals in signalübertragender Weise verbunden sein. Dies ist insbesondere vorteilhaft, wenn die Korrektur der Störung am betroffenen optischen Bauelement selbst durchgeführt wird.
Gemäß einer vorteilhaften Alternative ist die Steuereinrichtung 32 mit dem Regler 42 der Steu- ereinrichtung 41 zur Steuerung der Aktuatoren 30 eines der verlagerbaren optischen Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 in signalübertragender Weise verbunden. Die Steuerein- richtung 32 dient insbesondere zur Übermittlung eines Korrektursignals an einen Regler 42 der Steuereinrichtung 41.
Da das tatsächlich vorhandene magnetische Streufeld 25, insbesondere dessen Stärke und Rich- tung, mit Hilfe der Sensoreinrichtung ermittelt wird, kann auf eine Modellierung desselben verzichtet werden. Es hat sich herausgestellt, dass die Verwendung der Sensoreinrichtung zu einer wesentlich verbesserten, insbesondere einer wesentlich präziseren Ermittlung des tatsächlichen magnetischen Streufelds 25 führt. Mit Hilfe der Sensoreinrichtung können insbesondere auch Änderungen des magnetischen Streufeldes 25, welche beispielsweise aufgrund von Alterungsef- fekten der Komponenten des Streufelderzeugers auftreten können, ermittelt werden. Außerdem ist die Ermittlung des tatsächlichen magnetischen Streufelds 25 mit Hilfe der Sensoreinrichtung unabhängig von a priori Annahmen eines Modells zur Modellierung eines entsprechenden Streufeldes. Sie ist außerdem unabhängig von Modellfehlern aufgrund von Fertigungs- und/oder Mon- tageungenauigkeiten des Streufelderzeugers und/oder Simulationsungenauigkeiten eines entspre- chenden Modells.
Das Vorsteuerungs-Modell zur Ermittlung des Zusammenhangs zwischen dem magnetischen Streufeld 25 und seiner Auswirkung auf die Positionierung eines oder mehrerer der Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 kann über Messungen, insbesondere Kalibrierungsmessun- gen, oder mit Hilfe einer Simulation erzeugt werden. Die Ergebnisse der Kalibrierungsmessungen können insbesondere in dem vorhergehend erwähnten Speicher der Steuereinrichtung 32 abgelegt werden.
Im Folgenden werden unterschiedliche Alternativen der konstruktiven Umsetzung des erfin- dungsgemäßen Verfahrens beschrieben.
Bei sämtlichen der nachfolgend exemplarisch beschriebenen Alternativen wird das magnetische Streufeld 25 durch Komponenten des Retikelhalters 8 hervorgerufen. Dies ist nicht einschränkend zu verstehen. Das magnetische Streufeld 25 kann auch durch Komponenten des Waferhal- ters 13 und/oder weitere Komponenten der Projektionsbelichtungsanlage 1 mit permanentmagnetischen oder elektromagnetischen Elementen verursacht werden. Für das erfindungsgemäße Verfahren spielt es grundsätzlich keine Rolle, wodurch das magnetische Streufeld 25 erzeugt wird. Ist die Quelle des Streufelds 25 jedoch bekannt, kann dies im Vorsteuerungs-Modell berücksichtigt werden.
Bei der in der Figur 2 dargestellten Alternative ist das Sensorelement 31 im Bereich einer Hal- teeinrichtung 33 eines optischen Bauelements 34 der Projektionsbelichtungsanlage 1 angeordnet. Die Halteeinrichtung 33 umfasst insbesondere eine starre Plattform 35, welche auch als„Frame" (Rahmen) bezeichnet wird. Außerdem umfasst die Halteeinrichtung 33 auf der Plattform angeordnete Haltestreben 36. Für Details sei exemplarisch auf die Beschreibung der DE 10 2012 202 169 AI und die Beschreibung der DE 10 2012 202 170 AI verwiesen, die hiermit vollständig in die vorliegende Anmeldung integriert sind.
Exemplarisch und stark übertrieben ist in der Figur 2 die Wirkung des magnetischen Streufelds 25 auf die Positionierung des optischen Bauelements 34 dargestellt. Bei optischen Bauelement 34 kann es sich insbesondere um einen Spiegel, insbesondere einen Spiegel der Beleuchtungsoptik 4 oder der Projektionsoptik 9, handeln.
Bei der in der Figur 2 dargestellten Variante wird aus der mittels der Steuereinrichtung 32 ermittelten Wirkung des magnetischen Streufeldes 25 auf die Positionierung des optischen Bauele- ments 34 ein Korrektursignal Δ zur Verlagerung des Retikelhalters 8 bestimmt. Hierbei handelt es sich um eine Starrkörperkorrektur. Damit lassen sich die niedrigen Ordnungen, insbesondere das sogenannte Overlay und der Fokus korrigieren. Das Korrektursignal Δ wird von der Steuereinrichtung 32 an eine Steuereinrichtung 41 zur Steuerung der Verlagerung des Retikelhalters 8, insbesondere an einen Regler 42 der Steuereinrichtung 41, übertragen.
Vorzugsweise weist der Retikelhalter 8 mehrere Freiheitsgrade zur Korrektur der Positionierung mit Hilfe des Korrektursignals auf. Er kann insbesondere drei translatorische Freiheitsgrade für die Korrektur der Positionierung mit Hilfe des Korrektursignals aufweisen. Er kann außerdem insbesondere drei rotatorische Freiheitsgrade zur Korrektur der Positionierung mit Hilfe des Kor- rektursignals aufweisen. Bei der in der Figur 2 dargestellten Alternative wird insbesondere ein Korrektursignal in Form eines Positionierungssignals bestimmt.
Das Korrektursignal Δ wird insbesondere zur Korrektur der Positionierung eines Bauelements verwendet, welches von dem, welches primär für die Erzeugung des magnetischen Streufeldes 25 verantwortlich ist, verschieden ist.
Die in der Figur 3 dargestellte Alternative entspricht im Wesentlichen der in Figur 2 dargestellten, auf deren Beschreibung hiermit verwiesen wird. Bei der in Figur 3 dargestellten Alternative wird das Korrektursignal Δ jedoch zur Korrektur der Positionierung einer Plattform 37 verwendet, welche vom Retikelhalter 8 verschieden ist. Bei der Plattform 37 kann es sich insbesondere um den Waferhalter 13 handeln. Es kann sich auch um eine Halteeinrichtung zur Halterung eines in der Figur nicht dargestellten weiteren optischen Bauelements, insbesondere eines Spiegels, handeln.
Plattform 37 und Retikelhalter 8 können auch gerade vertauscht sein. Es ist insbesondere möglich, dass anstelle des Retikelhalters 8 der Waferhalter 13 das magnetische Streufeld 25 erzeugt und ein Korrektursignal Δ zur Korrektur der Positionierung des Retikelhalters 8 erzeugt wird. Bei der in Figur 4 dargestellten Alternative wird das Korrektursignal an den Aktuator 30 angelegt. Es dient insbesondere zur Korrektur der Positionierung des aktiven optischen Bauelements 38. Das mittels der Steuereinrichtung 32 ermittelte Korrektursignal dient insbesondere zur Korrektur des Steuersignals, insbesondere des Regelsignals, zur Positionierung des aktiven optischen Bauelements 38. Das Steuer- bzw. Regelsignal zur Positionierung des aktiven optischen Bau- elements 38 wird im Allgemeinen von einer in den Figuren nicht dargestellten Steuereinrichtung zur Steuerung des optischen Systems erzeugt.
In der Figur 4 ist exemplarisch ein Aktuator dargestellt, bei welchem die Spulen 29 fest mit der Plattform 35 verbunden sind, während die Permanentmagnete 28 am optischen Bauelement 38 angeordnet und zusammen mit diesem verlagerbar sind. Eine derartige Anordnung wird auch als Aktuator mit beweglichen Magneten (Moving Magnet Actuator) bezeichnet. Eine umgekehrte Anordnung, bei welcher die Permanentmagneten 28 fest auf der Plattform 35 angeordnet sind und die Spulen 29 am optischen Bauelement 38 ist ebenso möglich. Dies wird auch als Aktuator mit beweglichen Spulen (Moving Coil Actuator) bezeichnet. Andere Ausbildungen der Aktua- toren sind ebenso möglich. Das erfindungsgemäße Verfahren ist insbesondere nicht auf einen bestimmten Typ von Aktuatoren beschränkt.
Bei der in der Figur 4 dargestellten Alternative sind schematisch Positionssensoren 39 zur Erfassung der Position des optischen Bauelements 38 eingezeichnet. Die Position des optischen Bauelements 38 kann insbesondere relativ zu einem fixen Bezugspunkt der Projektionsbelichtungs- anlage 1, beispielsweise einer Begrenzungswand 40 derselben erfasst werden.
Bei der in der Figur 4 dargestellten Alternative wird das Korrektursignal für den Aktuator 30 ein Kraft- Vorsteuerungs-Modell verwendet. Das Korrektursignal liegt hierbei in Form eines Kraftsignals AF für die mittels des Aktuators 30 auf das optische Bauelement 38 ausgeübte Kraft vor. Die in der Figur 5 dargestellte Alternative entspricht im Wesentlichen der in der Figur 4 dargestellten, auf deren Beschreibung hiermit verwiesen wird. Anstelle der Aktuatoren 30 ist das optische Bauelement 38 bei der in der Figur 5 dargestellten Alternative mit einer Gravitations- Kompensationseinrichtung 27 gelagert. Die in der Figur 5 dargestellte Anordnung der Permanentmagnete 26 der Gravitations-
Kompensationseinrichtung 27 ist nicht einschränkend zu verstehen. Eine alternative Anordnung der Permanentmagnete 26 ist ebenso möglich.
Die in der Figur 6 dargestellte Alternative entspricht im Wesentlichen der in der Figur 3 darge- stellten Alternative, auf deren Beschreibung hiermit verwiesen wird. Anstelle eines passiven
Bauelements in Form der Plattform 37 wird bei der Alternative gemäß Figur 6 die Positionierung des aktiven optischen Bauelements 38 korrigiert. Hierzu wird die Steuereinrichtung 41 der Verlagerungseinrichtung zur Positionierung des optischen Bauelements 38 mit dem Korrektursignal Δ beaufschlagt.
Grundsätzlich kann auch bei der in Figur 6 dargestellten Alternative die Positionierung der Plattform 35 mittels eines Korrektursignals Δ korrigiert werden. Auch eine Erzeugung mehrerer Korrektursignale mittels der Steuereinrichtung 32 ist möglich. Wie exemplarisch angedeutet ist, kann sowohl die Positionierung passiver Bauelemente als auch die Positionierung aktiver Bauelemente mittels Korrektursignalen beeinflusst werden. Hierbei sind Positionierungs-Korrektursignale Ar und/oder Kraft-Korrektursignale AF möglich. Auch eine Kombination eines Positionierungs-Korrektursignals Ar und eines Kraft-Korrektursignals AF ist möglich.
Die unterschiedlichen Alternativen sind auch miteinander kombinierbar.
Es ist auch möglich, mehrere der unterschiedlichen, in den Figuren dargestellten Alternativen, in einer einzigen Projektionsbelichtungsanlage 1 miteinander zu kombinieren.
Im Folgenden werden weitere Details der Erfindung beschrieben. Beim Vorsteuerungs-Modell handelt es sich insbesondere um ein Vorsteuerungs-Modell erster Ordnung. Hierunter sei ein Modell verstanden, bei welchem nicht nur ein reines FE-Modell (Finite-Elemente-Modell), welches auch als Modell nullter Ordnung bezeichnet wird, zur Bestimmung der Korrektursignale verwendet wird, sondern die mittels der Sensoreinrichtung gemessenen Daten als Input für das Modell dienen, insbesondere zur Kalibrierung des Modells verwendet werden.
Bei den in den Figuren 2 und 3 dargestellten Alternativen wird die Wirkung des magnetischen Streufeldes 25 auf ein passives optisches Bauelement 34 durch Korrektur der Positionierung eines anderen Bauelements der Projektionsbelichtungsanlage 1 erreicht. Dies ist insbesondere dann möglich, wenn das Bauelement, dessen Positionierung mit Hilfe des Korrektursignals korrigiert wird und das Bauelement 34, dessen Positionierung durch das magnetische Streufeld 25 gestört wird, komplementäre Sensitivitäten aufweisen. Anderenfalls ist eine Korrektur der optischen Wirkung zwar nicht ausgeschlossen, aber im Allgemeinen nicht vollständig.
Insbesondere Fehler erster Ordnung (Linienversatz od. Overlay) lassen sich mit einer Verstel- lung des Wafers und/oder des Retikels korrigieren. Insbesondere eine Fehlpositionierung, insbesondere eine Verkippung eines optischen Bauelements, beispielsweise eines Spiegels, führt unter anderem zu einem Linienversatz im Bildfeld, der mittels einer korrigierenden Bewegung des Wafers und/oder des Retikels sehr gut korrigiert werden kann.
Bei Korrektur einer Störung eines der Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 durch hiervon verschiedene andere Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 kann vorgesehen sein, das Korrektursignal derart zu berechnen, dass ein möglicherweise verbleibender Restfehler kleiner als ein vorgegebener Grenzwert ist, insbesondere minimiert wird.
Als Sensorelement 31 kann grundsätzlich jedes beliebige Messmittel, mit welchem die Stärke und/oder Richtung des magnetischen Streufeldes 25 direkt oder indirekt erfassbar ist, dienen.
Ein Kraft- Vorsteuerungs-Modell kann insbesondere vorgesehen sein, sofern mindestens eines der zu positionierenden Bauelemente der Projektionsbelichtungsanlage 1 mit einer Verlagerungseinrichtung mit aktuatorischen Stellgliedern versehen ist, mittels welcher eine Kraft auf das Bauelement ausübbar ist, welche der externen Kraftwirkung entgegengesetzt ist.
Bei Anwendung eines Positions-Vorsteuerungs-Modells zur Positionierung eines passiven oder aktiven Bauelements ist eine Verlagerungseinrichtung mit Stellgliedern zur Verlagerung einer Halteeinrichtung, insbesondere des Retikelhalters 8 und/oder des Waferhalters 13 und/oder einer Plattform 35, 37 vorgesehen.
Grundsätzlich ist es möglich, auch ein Positions- Vorsteuerungs-Modell zur Korrektur der Positionierung aktiver optischer Bauelemente 38 zu verwenden. Die Verwendung eines Kraft- Vorsteuerungs-Modells hat in diesem Fall jedoch den Vorteil, dass Fehler des Korrektursignals mit Hilfe einer Regelschleife zur Regelung der Positionierung des aktiven optischen Bauelements 38 herausgeregelt werden können.
Für sämtliche Alternativen gilt, dass die Sensorelemente 31 vorzugsweise so dicht wie möglich an der vom Streufeld 25 beeinflussten Komponente der Projektionsbelichtungsanlage 1 positioniert werden sollen. Hierdurch kann die Genauigkeit für die Bestimmung des Korrektursignals verbessert werden. Der Abstand zwischen den Sensorelementen 31 und der vom Streufeld 25 beeinflussten Komponenten beträgt insbesondere höchstens 100 mm, insbesondere höchstens 10 mm, insbesondere höchstens 1 mm.
Ebenfalls für sämtliche Alternativen gilt, dass die Steuereinrichtung 32 vorzugsweise eine hohe Regelbandbreite aufweist. Hierdurch wird die Korrektur von Störungen der Positionierung des Bauelements verbessert. Eine hohe Regelbandbreite ist insbesondere zur Korrektur hochfrequenter Anregungen vorteilhaft. Die Regelbandbreite beträgt insbesondere mindestens 1 Hz, insbesondere mindestens 10 Hz, insbesondere mindestens 30 Hz, insbesondere mindestens 50 Hz, insbesondere mindestens 100 Hz, insbesondere mindestens 200 Hz, insbesondere mindestens 300 Hz, insbesondere mindestens 500 Hz.
Insbesondere bei Verwendung eines Positions-Vorsteuerungs-Modells sollte die Komponente der Projektionsbelichtungsanlage 1 , deren Position mit Hilfe des Korrektursignals beeinflusst werden soll, in der Lage sein, den dynamischen Fehlpositionen zu folgen. Sie sollte insbesondere eine hohe Regelbandbreite aufweisen.
Die benötigte Regelbandbreite ist von der Frequenz der Störung abhängig. Die Störfrequenz ist von der Geschwindigkeit und der räumlichen Magnetfeldverteilung abhängig. Zu erwarten sind Störungen im 100 Hz Bereich, die mit einer Regelbandbreite von 200 Hz besser 500-1000 Hz korrigiert werden sollten. Störungen im 10 Hz Bereich können mit einer Regelbandbreite von 100 Hz, die im 1 Hz Bereich mit 10 Hz Bandbreite korrigiert werden.
Im Folgenden werden unterschiedliche Alternativen der Erfindung noch einmal anhand der Figuren 7 bis 10 beschrieben. Die unterschiedlichen Alternativen entsprechen im Wesentlichen den vorhergehend bereits beschriebenen, auf die hiermit verwiesen wird. Zur Verdeutlichung unterschiedlicher Aspekte der Erfindung sind Bauelemente zum Teil unterschiedlich dargestellt.
In Figur 7 ist schematisch die Alternative einer Regelung der Positionierung des optischen Bauelements 34 und des Retikelhalters 8 ohne die Berücksichtigung von Magnetfeldern 25 dargestellt. Mittels der Steuereinrichtung 41 wird ein Positionierungssignal 45 zur Positionierung des Retikelhalters 8 an diesen geleitet. Außerdem wird ein Positionierungssignal 45 an den Regler 42 zur Regelung der Positionierung des optischen Bauelements 34 geleitet. Mittels des Reglers 42 wird ein Regelsignal 43 an die Aktuatoren 30 des optischen Bauelements 34 geleitet. Der Regler 42 wird außerdem mit einem Sensorsignal 44 vom Positionssensor 39 versehen. Beim Positionierungssignal 45, über welches von der Steuereinrichtung 41 und den Regler 42 übermittelt wird, handelt es sich insbesondere um den Sollwert zur Positionierung des optischen Bauelements 34.
Bei der in Figur 8 dargestellten Alternative wird der Einfluss der magnetischen Streufelder 25 berücksichtigt, allerdings lediglich in einer Vorwärtssteuerung ohne Rückkopplung. Zur Berück- sichtigung der Wirkung der magnetischen Streufelder 25 dient insbesondere ein in der Figur 8 schematisch dargestelltes Modell 46 für die magnetische Wechselwirkung. Mithilfe dieses Modells 46 werden ein oder mehrere Korrektursignale 47 ermittelt. Die Korrektursignale 47 können insbesondere als Input für den Regler 42 dienen. Sie können insbesondere in das Regelsignal 43 einfließen, d. h. dieses beeinflussen.
In der Figur 9 ist eine Alternative gemäß Figur 8, bei welcher jedoch zusätzlich ein Sensorelement 31 zur Erfassung des magnetischen Streufeldes 25 im Bereich des optischen Bauelements 34 vorgesehen ist, dargestellt. Das Sensorelement 31 liefert Inputsignale 48 für das Modell 46 für die magnetische Wechselwirkung. Mithilfe der Inputsignale 48 kann das Modell 46 insbe- sondere kalibriert werden.
Während in der Figur 8 die Alternative eines Modells 46 nullter Ordnung schematisch dargestellt ist, zeigt Figur 9 schematisch die Alternative eines Modells 46 erster Ordnung. Für weitere Details sei auf die vorhergehende Beschreibung verwiesen.
Die in der Figur 10 dargestellte Alternative entspricht im Wesentlichen der in Figur 9 dargestellten, wobei das mittels des Sensorelements 31 ermittelte Inputsignal 48 zur Ermittlung eines Korrektursignals zur Korrektur eines Regelsignals 43 für ein optisches Bauelement 34' dient, welches vom Bauelement 34, im Bereich dessen das Sensorelement 31 angeordnet ist, verschieden ist. Beim Bauelement 34, im Bereich dessen das Sensorelement 31 angeordnet ist, kann es sich um ein passives optisches Bauelement, d. h. ein optisches Bauelement mit einer passiven Lagerung 49, beispielsweise in Form von passiven Haltestreben 36, handeln.

Claims

Patentansprüche:
1. Verfahren zur Positionierung eines Bauelements (34, 38) eines optischen Systems umfassend die folgenden Schritte:
1.1. Bereitstellen eines optischen Systems mit
1.1.1. einer Mehrzahl von Bauelementen (34, 38), von welchen mindestens ein Bauelement (34, 38) mittels einer Verlagerungseinrichtung verlagerbar ist, und
1.1.2. einer Sensoreinrichtung zur Erfassung eines magnetischen Streufeldes (25),
1.2. Erfassen eines magnetischen Streufeldes (25) mittels der Sensoreinrichtung,
1.3. Bestimmen mindestens eines Korrektursignals für ein Stellglied (30) der Verlagerungseinrichtung des Bauelements (34, 38) zur Kompensation eines durch die Wirkung des magnetischen Streufeldes (25) auf die Positionierung mindestens eines der Bauelemente (34, 38) verursachten optischen Fehlers in Abhängigkeit des mittels der Sensoreinrichtung erfassten magnetischen Streufeldes (25),
1.3.1. wobei zum Bestimmen des Korrektursignals für das Stellglied (30) ein Kraft- Vorsteuerungs-Modell oder ein Positions-Vorsteuerungs-Modell dient.
1.4. Beaufschlagen des Stellglieds (30) mit dem Korrektursignal.
2. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensoreinrichtung und die Verlagerungseinrichtung im Bereich unterschiedlicher Bauelemente (34, 38) des optischen Systems angeordnet sind.
3. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensoreinrichtung und die Verlagerungseinrichtung im Bereich desselben Bauelements (34, 38) des optischen Systems angeordnet sind.
4. Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das magnetische Streufeld (25) mittels der Sensoreinrichtung in einer Mehrzahl von Richtungen und/oder an einer Mehrzahl von Positionen erfasst wird.
5. Optisches System mit
5.1. einer Mehrzahl von Bauelementen (34, 38), von welchen mindestens ein Bauelement (34, 38) gesteuert verlagerbar ist, und
5.2. einer Sensoreinrichtung zur Erfassung eines magnetischen Streufeldes (25),
5.3. wobei die Sensoreinrichtung ein Bestandteil einer Vorwärts-Steuerungseinrichtung zur Steuerung der Positionierung mindestens eines der Bauelemente (34, 38) des optischen Systems ist.
6. Optisches System gemäß Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensoreinrichtung zur Erfassung der räumlichen Verteilung des Streufeldes (25) eine Mehrzahl von Sensorelementen (31) umfasst.
7. Optisches System gemäß einem der Ansprüche 5 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die
Sensoreinrichtung einen Abstand zu einem vom Streufeld (25) beeinflussbaren Bauelement (34, 38) aufweist, welcher höchstens 100 mm beträgt.
8. Optisches System gemäß einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass ein Stellglied (30) einer Verlagerungseinrichtung zur Kompensation der Wirkung des magnetischen Streufeldes (25) auf die Positionierung mindestens eines der Bauelemente (34, 38) des optischen Systems eine Regelbandbreite von mindestens 10 Hz aufweist.
9. Optisches System gemäß einem der Ansprüche 5 bis 8, gekennzeichnet durch mindestens eine Regler-Einrichtung, welche in signalübertragender Weise mit der Sensoreinrichtung zur Erfassung des magnetischen Streufeldes (25) und zusätzlich hierzu mit einer Sensoreinrichtung zur Erfassung der Positionierung eines der Bauelemente (34, 38) verbunden ist.
10. Optisches System gemäß einem der Ansprüche 5 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass es eine Beleuchtungsoptik (4) einer Projektionsbelichtungsanlage (1) und/oder eine Projektionsoptik (9) einer Projektionsbelichtungsanlage (1) umfasst.
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