WO2018023929A1 - 一种天线综合测试*** - Google Patents

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韩栋
陈海波
孙赐恩
陈源
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深圳市新益技术有限公司
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/10—Radiation diagrams of antennas

Definitions

  • a single-probe antenna test system in which the antenna under test must be rotated two-dimensionally before a single probe to ensure that the field surrounding the antenna under test is on a spherical surface.
  • the probe When the probe is moving, it is easy to cause up and down and left and right jitter. It is difficult to judge whether the probe's stroke reaches the set target and influence the consistency of the data acquisition phase.
  • the longer the test time is caused by environmental changes, instrument instability, etc. The higher the probability that a test problem occurs due to external factors.
  • the probe motion control system can drive the dual-polarized probe to move freely in the XYZ direction, and can adapt to the antenna test of different sizes.
  • the mechanized moving position is accurate and repeatable, which ensures the accuracy of the test data obtained;
  • the radio frequency switching system integrates an AISG control module, and the control module forms an interaction between the entire system and the antenna through the AISG communication manner, so that all the electrical tilt angles of the antenna are automatically switched.
  • the radio frequency switching system includes a radiation parameter test mode and a circuit parameter test mode.
  • FIG. 2 is a schematic view showing the movement of the probe motion control system in the XYZ direction according to the present invention
  • Figure 6 is a schematic diagram of the data determination mode of the present invention.
  • Figure 7 is a schematic view of the positioning calibration system of the present invention.
  • the method for collecting the radiation parameters of the far-field direction map is: obtaining the line array antenna pattern, the array factor and the unit by using the unit array lobe multiplication principle through the amplitude phase information of each vibrator coupled to the probe.
  • the far field pattern data of the line array antenna can be obtained by multiplying the lobe.
  • a network analyzer is selected as the signal transmission and reception.
  • the receiving probe is a miniaturized ultra-wideband dual-polarized antenna with a working frequency range of 400 MHz to 6 GHz, including all existing conventional mobile communication frequency bands;
  • the radio frequency switching system switches to the mode of FIG. 5, that is, the conventional antenna circuit parameter detection is started.
  • the antenna downtilt angle is adjusted by the radio frequency switching system, and the test is started again after the adjustment is completed, until all the dip angle tests are completed;

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Abstract

一种天线综合测试***，其特征在于，所述***包括：探头运动控制***、射频切换***、数据采集及运算***、信号传输仪、探头，可对远场和近场辐射参数进行合成，并得出方向图数据并进行数据判定。其中辐射参数测试基于阵列天线幅相合成的算法，包含远场和近场两种测试模式，并可以输出对应模式下的方向图数据，然后通过一套高性能的射频切换***将天线电路参数测试项目集成，可大幅提供基站天线产线品质检验的效率和自动化程度，具有精度高、移动方便、成本低、便于维护的特点。

Description

一种天线综合测试*** 技术领域
本发明涉及天线测试***，更具体的说是涉及一种天线综合测试***。
背景技术
移动通信的迅猛发展推动了天线的研发工作，国内出现了一些年产天线达到几百万台、品种达到数百种之多的企业。天线测试已经成为企业研发工作进程的瓶颈。
统的单探头天线测试***，测试中被测天线必须在一个单探头前二维旋转，以确保包围该被测天线在一个球面上的场。当探头在移动的过程中极易发生上下左右的抖动难以判断探头的行程是否达到设定目标以及对数据采集阶段的一致性造成影响；同时，测试时间越长由环境变化，仪器不稳定性等外在因素导致的测试问题发生的概率越高。
传统的天线测试***测试辐射参数和电性能参数需要分别在不同的场地进行，特别是大型企业的板状定向基站天线的辐射参数测试环境造价昂贵，一个大型远场的造价可以达到千万甚至几千万，且整个测试场地占地面积大，不便于搬迁，若采用小型天线测试***，则测量的尺寸又会受到限制。
国内天线产业已经达到规模化量产，然而受天线测试效率和场地建设费用的制约量产阶段天线辐射性能的品质管控基本缺失，只有百分之一甚至千分之一，所以目前所使用的天线测试***亟需改进。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种具有精度高、移动方便、成本低、便于维护特点的天线综合测试***。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种天线综合测试***，所述设备包括：探头运动控制***：耦接于探头并通过在XYZ三个方向上布置运动轨迹，使探头在被测物辐射场区内实现自由移动； 射频切换***：控制射频信号的发射及接收，并对天线电下倾角进行切换，使能实现射频多通道之间的切换；
信号传输仪：用于接收射频切换***所发射的射频信号并对以输出传输信号；
数据采集及运算***：耦接于信号传输仪以接收传输信号并通过探头以实现数据采集，利用微积分运算得到近场及远场方向图数据，并立即进行判定；其中，所述数据判定的方式为根据标准数据将采集后的数据与其进行对比，并对当前被检物进行判断；所述标准数据是***根据预存的产品金机数据或直接根据实际测试的数据。
在上述一种天线综合测试***中，此对比方法效率高误判率低，极大方便产线的现场判定。
在上述一种天线综合测试***中，探头运动控制***可带动双极化探头在XYZ方向自由移动，且可适应不同尺寸的所述天线测试。机械化的移动位置准确，重复性好，可保证获得的测试数据的准确性；
优选的，所述射频切换***集成AISG控制模块，且所述控制模块使整个***和天线通过AISG通信方式形成交互，使所述天线所有电调倾角实现自动化切换。
在上述一种天线综合测试***中，所述射频切换***集成有控制模块，且所述控制模块可作为整个***和天线的一种交互方式，可使所述天线所有电调倾角实现自动化切换，实现一种自动化测试的方式。所述射频切换***将分属于不同的通道的测试进行整合；通过射频切换开关大规模组阵将被测物电路参数及辐射参数两种不同类型测试集成到本综合测试***中，实现了本综合测试***高度集成化的特征可节约使用者在成本和场地方面的投入；
优选的，所述射频切换***包括辐射参数测试模式与电路参数测试模式。
在上述一种天线综合测试***中，所述射频切换***可将分属于不同的通道的测试进行整合，且所述的不同的通道的测试是辐射参数和电路参数的测试。将两种测试岗位进行了整合，可以减小使用者在人力成本方面的投入并提高效率。
优选的，所述远场方向图数辐射参数的采集方法为：通过探头耦合到的每个振子幅度相位信息，利用单元阵波瓣相乘原理得到线阵列天线方向图，阵因子与单元波瓣相乘即可得到线阵列天线的远场方向图数据，如下所示：若在一个天线阵列中共有N个单元，第n个单元在阵中的波瓣为
Figure PCTCN2016112523-appb-000001
它在阵中的位置为(Xn，Yn，Zn)，激励的振幅为In，相位为
Figure PCTCN2016112523-appb-000002
则这个天线的阵列的波瓣可以写成
Figure PCTCN2016112523-appb-000003
实际应用环境中，阵列中各单元振子波瓣基本相同，此时阵列波瓣可写为
Figure PCTCN2016112523-appb-000004
式中，
Figure PCTCN2016112523-appb-000005
是单元阵波瓣，简称单元因子；
Figure PCTCN2016112523-appb-000006
S称为阵列的因子或空间因子，它同单元个数、位置、激励振幅和相位有关。对于阵列中各单元以等间距位于直线上的线阵，其阵因子简化为
Figure PCTCN2016112523-appb-000007
式中，θ为观察方向与直线的夹角，阵因子与单元波瓣相乘即可得到线阵列天线的远场方向图数据。
在上述一种天线综合测试***中，所述远场方向图数辐射参数的采集方法为：通过探头耦合到的每个振子幅度相位信息，利用单元阵波瓣相乘原理得到线阵列天线方向图，阵因子与单元波瓣相乘即可得到线阵列天线的远场方向图数据。该方法效率远远高于目前的暗室方向图测试效率，可将批量化的产品全检变为现实。
优选的，驱动探头在当前线阵直线方向移动，在规定的采集间隔距离上采集该位置的幅度信息，对该数据归一化后加入方位角坐标可得到近场幅度的直角坐标方向图数据。
在上述一种天线综合测试***中，所述近场方向图数辐射参数的采集方法为：通过天线的近远场辐射，将探头和振子的距离控制在当前频点的3倍波长以内，通过扫描架带动探头在线阵直线方向移动，以直线移动距离为X轴，以探头采集到的幅值为Y轴，绘制出该天线的近场方向图数据。近场方向图作为远场方向图在产品性能判定方面的有益补充，在一致性检验方面都为使用者提供更多参考依据。
经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本发明中辐射参数测试基于阵列天线幅相合成的算法，包含远场和近场两种测试模式，并可以输出对应模式下的方向图数据，然后通过一套高性能的射频切换***将天线电路参数测试项目集成，可大幅提供基站天线产线品质检验的效率和自动化程度。先比传统天线品质检测瓶颈有以下优势：
1、设备成本低、体积小利于大规模部署。常规的天线企业一般只具有1至2套辐射性能检测设备，设备资金投入以千万计，而且需要修建巨大土建建筑进行容纳，对于每年几万面天线出货的厂家来说是远远不够的。
2、设备效率高，可适用于品质全检工作开展。从被测物安装到得到测试结果，该***只需要天线普通测试方法1/5的时间，并且将电路参数测试功能作以集成，作为品质全检岗位部署完全可以实现自动化的产品全检工作。将极大有利于天线品质保证和天线行业的健康发展。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1附图为本发明的原理结构示意图；
图2附图为本发明探头运动控制***在XYZ方向运动示意图；
图3附图为本发明射频切换***连接示意图；
图4附图为本发明辐射参数测试射频切换***连接示意图；
图5附图为本发明电路参数测试射频切换***连接示意图；
图6附图为本发明数据判定方式示意图；
图7附图为本发明定位校准***示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例公开了一种具有精度高、移动方便、成本低、便于维护特点的天线综合测试***。
请参阅附图1、附图2、附图3、附图4、附图5、附图6、附图7，为本发明公开的一种天线综合测试***，具体包括：
探头运动控制***、射频切换***、数据采集及运算***、定位校准***、信号传输仪、探头、天线，可对远场和近场辐射参数进行合成，并得出方向图数据并进行数据判定；其中，数据判定的方式为根据标准数据将采集后的数据与其进行对比，并对当前被检物进行判断；标准数据是***根据预存的产品金机数据或直接根据实际测试的数据。
本发明中辐射参数测试基于阵列天线幅相合成的算法，包含远场和近场两种测试模式，并可以输出对应模式下的方向图数据，然后通过一套高性能的射频切换***将天线电路参数测试项目集成，可大幅提供基站天线产线品质检验的效率和自动化程度，具有精度高、移动方便、成本低、便于维护的特点。
为了进一步优化上述技术方案，探头运动控制***可带动双极化探头在XYZ方向自由移动如附图2所示，且可适应不同尺寸的天线测试。
为了进一步优化上述技术方案，射频切换***集成有控制模块，且控制模块可作为整个***和天线的一种交互方式，可使天线所有电调倾角实现自动化切换，实现一种自动化测试的方式。
为了进一步优化上述技术方案，射频切换***可将分属于不同的通道的测试进行整合，且的不同的通道的测试是辐射参数和电路参数的测试。
为了进一步优化上述技术方案，定位校准***可检测探头与某一固定位置的相对位置，并判定探头的行程。
为了进一步优化上述技术方案，远场方向图数辐射参数的采集方法为：通过探头耦合到的每个振子幅度相位信息，利用单元阵波瓣相乘原理得到线阵列天线方向图，阵因子与单元波瓣相乘即可得到线阵列天线的远场方向图数据。
为了进一步优化上述技术方案，近场方向图数辐射参数的采集方法为：通过天线的近远场辐射，将探头和振子的距离控制在当前频点的3倍波长，通过扫描架带动探头在线阵直线方向移动，密集采样生成近场方向图数据。
为了进一步优化上述技术方案，定位校准***通过在移动式探头任意位置安装激光校准发射点，在离开发射点一段距离上安装接收装置，当探头在移动的过程中，可以检测到探头是否在上下左右发生了抖动以及探头的行程是否达到设定目标，检测回馈精度可以达到20μm以内，如附图7所示，因探头为扫描终端，在运动的过程中如果发生抖动或者形成精度不够均会对测试一致性造成影响，本发明中测试***旨在保证整个***的运行精度，形成闭环。
为了进一步优化上述技术方案，本发明是基于以下技术方法实现：
第一步，选择一台网络分析仪作为信号的发射和接收，接收探头为小型化超宽带双极化天线，工作频段为400MHz～6GHz，包含现有所有常规移动通信频段；
第二步，将网络分析仪的Tx和Rx端口和射频切换***对应端口相连接，将天线所有待测端口与射频切换***对应端口连接，将双极化探头两端口与射频切换***对应端口相连接；
第三步，射频切换***切换至附图4的模式，探头运动控制***开始工作，驱动探头在天线正上方位置进行直线扫描，数据采集及运算***实时采集当前位置及射频信号信息，通过处理运算得到远场及近场方向图数据；
第四步，若天线为电调产品，则射频切换***即可通过AISG控制端对天线下倾角进行调整，调整完成后重复第三步；
第五步，射频切换***切换至附图5的模式，即开始常规天线电路参数检测，测试完毕后通过射频切换***对天线下倾角进行调整，调整完成后再次开始测试，直至所有倾角测试完成；
第六步，***整合所有测试数据，与该产品金机数据进行对比，生成测试报告得到判定结果。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (5)

  1. 一种天线综合测试***，其特征在于，所述设备包括：
    探头运动控制***：耦接于探头并通过在XYZ三个方向上布置运动轨迹，使探头在被测物辐射场区内实现自由移动；
    射频切换***：控制射频信号的发射及接收，并对天线电下倾角进行切换，使能实现射频多通道之间的切换；
    信号传输仪：用于接收射频切换***所发射的射频信号并对以输出传输信号；数据采集及运算***：耦接于信号传输仪以接收传输信号并通过探头以实现数据采集，利用微积分运算得到近场及远场方向图数据，并立即进行判定；
    其中，所述数据判定的方式为根据标准数据将采集后的数据与其进行对比，并对当前被检物进行判断；所述标准数据是***根据预存的产品金机数据或直接根据实际测试的数据。
  2. 根据权利要求1所述的一种天线综合测试***，其特征在于，所述射频切换***集成AISG控制模块，且所述控制模块使整个***和天线通过AISG通信方式形成交互，使所述天线所有电调倾角实现自动化切换。
  3. 根据权利要求1所述的一种天线综合测试***，其特征在于，所述射频切换***包括辐射参数测试模式与电路参数测试模式。
  4. 根据权利要求1所述的一种天线综合测试***，其特征在于，所述远场方向图数辐射参数的采集方法为：通过探头耦合到的每个振子幅度相位信息，利用单元阵波瓣相乘原理得到线阵列天线方向图，阵因子与单元波瓣相乘即可得到线阵列天线的远场方向图数据，如下所示：
    若在一个天线阵列中共有N个单元，第n个单元在阵中的波瓣为
    Figure PCTCN2016112523-appb-100001
    它在阵中的位置为(Xn，Yn，Xn)，激励的振幅为In，相位为
    Figure PCTCN2016112523-appb-100002
    则这个天线的阵列的波瓣可以写成
    Figure PCTCN2016112523-appb-100003
    实际应用环境中，阵列中各单元振子波瓣基本相同，此时阵列波瓣可写为
    Figure PCTCN2016112523-appb-100004
    式中，
    Figure PCTCN2016112523-appb-100005
    是单元阵波瓣，简称单元因子；
    Figure PCTCN2016112523-appb-100006
    S称为阵列的因子或空间因子，它同单元个数、位置、激励振幅和相位有关。对于阵列中各单元以等间距位于直线上的线阵，其阵因子简化为
    Figure PCTCN2016112523-appb-100007
    式中，θ为观察方向与直线的夹角，
    阵因子与单元波瓣相乘即可得到线阵列天线的远场方向图数据。
  5. 根据权利要求1所述的一种天线综合测试***，其特征在于，所述近场方向图数辐射参数的采集方法为：驱动探头在当前线阵直线方向移动，在规定的采集间隔距离上采集该位置的幅度信息，对该数据归一化后加入方位角坐标可得到近场幅度的直角坐标方向图数据。
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108562801A (zh) * 2018-05-07 2018-09-21 北京中微普业科技有限公司 一种阵列天线测试***及其测试方法
CN110312204A (zh) * 2019-04-17 2019-10-08 上海肯汀通讯科技有限公司 一种基于用户定位数据分析的基站工程参数核查方法
CN110929689A (zh) * 2019-12-10 2020-03-27 苏州大学 一种基于电磁信号分析的核辐射损伤分级***、方法
CN111413553A (zh) * 2020-04-02 2020-07-14 南京捷希科技有限公司 一种天线测试***及测试方法
CN111707876A (zh) * 2020-06-29 2020-09-25 中国电子科技集团公司第十四研究所 一种用于大型天线近场测试仪的两轴垂直度快速调整机构
CN111856160A (zh) * 2020-07-30 2020-10-30 苏州韦博通信技术有限公司 电调天线设备的测试***
CN112067905A (zh) * 2020-09-17 2020-12-11 成都天锐星通科技有限公司 一种相控阵天线自动化压力测试***
CN113032973A (zh) * 2021-03-05 2021-06-25 之江实验室 一种微带稀疏天线阵列增益快速计算方法
CN113242098A (zh) * 2020-01-22 2021-08-10 南京捷希科技有限公司 一种射频性能测试***及方法
CN113533867A (zh) * 2021-07-14 2021-10-22 西安电子科技大学 基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法
CN114006662A (zh) * 2021-09-24 2022-02-01 荣耀终端有限公司 一种天线检测装置、***及天线检测方法
CN114966239A (zh) * 2022-07-29 2022-08-30 陕西拾贝通讯技术有限公司 基于激励系数变量可分离的准远场测量方法
CN115189782A (zh) * 2021-06-10 2022-10-14 成都华芯天微科技有限公司 一种平面近场测试设备

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5365241A (en) * 1992-06-24 1994-11-15 Williams Lawrence I S Method and apparatus for performing planar near-field antenna measurement using bi-polar geometry
CN2379924Y (zh) * 1999-02-12 2000-05-24 中国科学院紫金山天文台 四自由度天线测试转台
CN102333332A (zh) * 2011-05-27 2012-01-25 中兴通讯股份有限公司 Aisg设备控制方法、***及aisg设备控制器
US8421673B2 (en) * 2008-05-15 2013-04-16 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Method and software for spatial pattern analysis
CN103323685A (zh) * 2013-07-16 2013-09-25 南京顺仕祥电子有限公司 天线平面近场测试扫描仪
CN203337742U (zh) * 2013-07-25 2013-12-11 成都雷电微力科技有限公司 一种用于天线近场测试的扫描装置
CN204832360U (zh) * 2015-08-13 2015-12-02 广东通宇通讯股份有限公司 一种阵列天线幅相探测***
CN205404688U (zh) * 2016-02-22 2016-07-27 石家庄世联达科技有限公司 用于快速测量阵列天线辐射特性的装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5365241A (en) * 1992-06-24 1994-11-15 Williams Lawrence I S Method and apparatus for performing planar near-field antenna measurement using bi-polar geometry
CN2379924Y (zh) * 1999-02-12 2000-05-24 中国科学院紫金山天文台 四自由度天线测试转台
US8421673B2 (en) * 2008-05-15 2013-04-16 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Method and software for spatial pattern analysis
CN102333332A (zh) * 2011-05-27 2012-01-25 中兴通讯股份有限公司 Aisg设备控制方法、***及aisg设备控制器
CN103323685A (zh) * 2013-07-16 2013-09-25 南京顺仕祥电子有限公司 天线平面近场测试扫描仪
CN203337742U (zh) * 2013-07-25 2013-12-11 成都雷电微力科技有限公司 一种用于天线近场测试的扫描装置
CN204832360U (zh) * 2015-08-13 2015-12-02 广东通宇通讯股份有限公司 一种阵列天线幅相探测***
CN205404688U (zh) * 2016-02-22 2016-07-27 石家庄世联达科技有限公司 用于快速测量阵列天线辐射特性的装置

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
CHEN QISHUI ET AL.: "Design of Infield Antenna's Planar Near-field Testing Syetem of Fire Control Radar", SHIP ELECTRONIC ENGINEERING, vol. 34, no. 7, 20 July 2014 (2014-07-20), pages 161 - 164, ISSN: 1672-9730 *
DENG: "Theoretical Analysis and Numerical Simulation of High- Power Radial Line Array Antenna", CHINA MASTER'S THESES FULL-TEXT DATABASE, 1 May 2009 (2009-05-01), pages 8, ISSN: 1674-0246 *
DONG, GUOHUA: "Weilbol an4shi4 tianlxian4 zi4dong4hua4 ce4shi4xi4tong3 ji2 wu4chal fenlxil", CHINA MASTER'S THESES FULL-TEXT DATABASE, 1 June 2005 (2005-06-01), pages 1 - 45, ISSN: 1674-0246 *
JIANG, SIJIE: "Design and Study of Automatic Test System of Antenna", CHINA MASTER'S THESES FULL-TEXT DATABASE, 1 May 2013 (2013-05-01), pages 1 - 59, ISSN: 1674-0246 *

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108562801A (zh) * 2018-05-07 2018-09-21 北京中微普业科技有限公司 一种阵列天线测试***及其测试方法
CN110312204A (zh) * 2019-04-17 2019-10-08 上海肯汀通讯科技有限公司 一种基于用户定位数据分析的基站工程参数核查方法
CN110929689A (zh) * 2019-12-10 2020-03-27 苏州大学 一种基于电磁信号分析的核辐射损伤分级***、方法
CN113242098A (zh) * 2020-01-22 2021-08-10 南京捷希科技有限公司 一种射频性能测试***及方法
CN113242098B (zh) * 2020-01-22 2024-03-15 南京捷希科技股份有限公司 一种射频性能测试***及方法
CN111413553A (zh) * 2020-04-02 2020-07-14 南京捷希科技有限公司 一种天线测试***及测试方法
CN111707876A (zh) * 2020-06-29 2020-09-25 中国电子科技集团公司第十四研究所 一种用于大型天线近场测试仪的两轴垂直度快速调整机构
CN111707876B (zh) * 2020-06-29 2023-03-28 中国电子科技集团公司第十四研究所 一种用于大型天线近场测试仪的两轴垂直度快速调整机构
CN111856160B (zh) * 2020-07-30 2022-11-22 苏州韦博通信技术有限公司 电调天线设备的测试***
CN111856160A (zh) * 2020-07-30 2020-10-30 苏州韦博通信技术有限公司 电调天线设备的测试***
CN112067905A (zh) * 2020-09-17 2020-12-11 成都天锐星通科技有限公司 一种相控阵天线自动化压力测试***
CN113032973A (zh) * 2021-03-05 2021-06-25 之江实验室 一种微带稀疏天线阵列增益快速计算方法
CN113032973B (zh) * 2021-03-05 2024-02-06 之江实验室 一种微带稀疏天线阵列增益快速计算方法
CN115189782A (zh) * 2021-06-10 2022-10-14 成都华芯天微科技有限公司 一种平面近场测试设备
CN113533867A (zh) * 2021-07-14 2021-10-22 西安电子科技大学 基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法
CN113533867B (zh) * 2021-07-14 2022-09-06 西安电子科技大学 基于Fourier插值的远场方向图快速测量方法
CN114006662A (zh) * 2021-09-24 2022-02-01 荣耀终端有限公司 一种天线检测装置、***及天线检测方法
CN114966239A (zh) * 2022-07-29 2022-08-30 陕西拾贝通讯技术有限公司 基于激励系数变量可分离的准远场测量方法

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