WO2017105020A2 - 터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법 및 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치 - Google Patents

터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법 및 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치 Download PDF

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Definitions

  • the technique described below relates to a technique for measuring the strength of touch pressure.
  • touch input device generally uses the presence or absence of a touch input and the position of the touch input as an input command.
  • touch input devices have started to use the intensity of touch pressure (touch intensity) as a new input command.
  • the touch input device that senses the strength of the touch pressure may recognize the strength of the pressure differently according to the touch position due to the limitation of the mechanical structure.
  • the technique described below is to provide a technique for uniformly detecting the intensity of the touch pressure regardless of the touch position in the touch input device.
  • a method of measuring the intensity of touch pressure in a touch input device may include: detecting a touch input by a touch input device, determining, by the touch input device, a position of the touch input on the touch panel; Measuring, by the device, a change in capacitance according to the touch input, correcting, by the touch input device, a change in the capacitance according to a position of the touch input, and by the touch input device, the corrected capacitance Measuring the strength of the pressure according to the touch input based on the degree of change of the.
  • the touch input device for sensing the intensity of the touch pressure includes a first electrode layer including a first electrode, a second electrode layer including a second electrode, a spacer layer positioned between the first electrode layer and the second electrode layer, and the first electrode layer. And a controller circuit for measuring an amount of change in capacitance according to a change in distance between an electrode layer and the second electrode layer, and correcting the amount of change in capacitance according to a position of a touch input.
  • a touch input device that senses the strength of touch pressure is a first electrode layer formed on a first insulating film, the first electrode layer including a first electrode extending in a direction parallel to the first insulating film, and a conductive metal material.
  • a metal layer extending in a direction parallel to the first electrode layer, a spacer layer located between the first electrode layer and the metal layer, and an amount of change in capacitance according to a change in distance between the first electrode layer and the metal layer are measured, and the position of the touch input
  • a controller circuit for correcting the amount of change in the capacitance.
  • the technique described below provides a user with a uniform touch interface without variation in touch position when touching with pressure of the same intensity.
  • FIG. 1 is an example of a cross-sectional view of a touch input device.
  • FIG. 2 is an example of a plan view of a first electrode and a second electrode of FIG. 1.
  • FIG 3 is an example of a cross-sectional view of a touch pressure panel.
  • FIG. 4 is an example of a block diagram illustrating a configuration of a touch input device that detects the strength of touch pressure.
  • FIG. 5 is an example of a flowchart of a method of correcting a pressure intensity according to an input position in a touch input device.
  • FIG. 6 is another example of a flowchart of a method of correcting a pressure intensity according to an input position in a touch input device.
  • 9 is another example of a correction value for correcting the pressure intensity in the touch input device.
  • 10 is another example of a correction value for correcting the pressure intensity in the touch input device.
  • 11 is another example of a correction value for correcting the pressure intensity in the touch input device.
  • 12 is an example of a correction value for correcting a pressure intensity in a touch input device having an electrode pattern.
  • 13 is another example of a correction value for correcting the pressure intensity in the touch input device.
  • first, second, A, B, etc. may be used to describe various components, but the components are not limited by the terms, but merely for distinguishing one component from other components. Only used as For example, the first component may be referred to as the second component, and similarly, the second component may be referred to as the first component without departing from the scope of the technology described below.
  • each process constituting the method may occur differently from the stated order unless the context clearly indicates a specific order. That is, each process may occur in the same order as specified, may be performed substantially simultaneously, or may be performed in the reverse order.
  • the touch input device described below is a device capable of recognizing the intensity of the touch input (the intensity of the pressure).
  • the touch input device described below may include a configuration for determining the presence or absence of a touch or the position of the touch, as in the conventional touch input device.
  • the configuration for determining the touch position may include an electrode layer (touch panel) for sensing a touch, a driving circuit for applying a signal to the electrode layer, and a controller for controlling the driving circuit.
  • various methods such as an electrostatic method and a resistive film method (decompression method) may be used.
  • Devices such as smartphones use a lot of power outages.
  • Most of the blackout method uses a projected capacitive (PCAP).
  • the PCAP method is divided into a self-capacitive method and a mutual-capacitive method.
  • the touch panel may use various methods. Detailed description of the conventional touch panel will be omitted.
  • 1 is an example of a cross-sectional view of the touch input device 100. 1 does not show a drive circuit, a control circuit, or the like.
  • the touch input device 100 includes a touch panel 110, a first electrode layer 120, a spacer layer 130, and a second electrode layer 140.
  • the touch panel 110 detects the presence or absence of a user's touch input and the position of the touch input.
  • the first electrode layer 120 is positioned under the touch panel 110.
  • the first electrode layer 120 includes a first insulating layer 121 and a first electrode 125.
  • the first insulating layer 121 is made of an insulating material to which current is not conducted.
  • the first insulating layer 121 may be formed of a thin transparent film made of a plastic material such as polyethylene terephthalate (PET).
  • PET polyethylene terephthalate
  • the first electrode 125 may include one electrode integrally formed.
  • the first electrode 125 may include a plurality of electrodes formed in one direction (first direction).
  • the first electrode 125 is made of a material through which current is conducted.
  • the first electrode 125 is made of tin oxide (SnO 2 ), indium oxide (In 2 O 3 ), etc., and has a uniform thickness of a transparent conductive film (ITO: Indium Tin Oxide), silver ink, copper, and copper. ) Or carbon nanotubes (CNT: Carbon Nanotube).
  • ITO Indium Tin Oxide
  • CNT Carbon Nanotube
  • the second electrode layer 140 is positioned below the first electrode layer 120.
  • the second electrode layer 140 includes a second insulating layer 141 and a second electrode 145.
  • the second insulating layer 141 is made of an insulating material to which current is not conducted.
  • the second insulating layer 141 may be made of a thin transparent film made of plastic such as polyethylene terephthalate (PET).
  • PET polyethylene terephthalate
  • the second electrode 145 may include one electrode integrally formed.
  • the second electrode 145 may include a plurality of electrodes formed in a direction different from the first direction (second direction).
  • the second electrode 145 is made of a material through which current is conducted.
  • the second electrode 145 is made of tin oxide (SnO 2 ), indium oxide (In 2 O 3 ), etc., and has a uniform thickness of a transparent conductive film (ITO: Indium Tin Oxide), silver ink, copper, and copper. ) Or carbon nanotubes (CNT: Carbon Nanotube).
  • ITO Indium Tin Oxide
  • CNT Carbon Nanotube
  • the spacer layer 130 is positioned between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140.
  • the spacer layer 130 is configured to secure a predetermined space between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140.
  • the spacer layer 130 may include an inner partition 131 that supports the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140.
  • the spacer layer 130 may be filled with a dielectric substance. Dielectrics include materials such as open cell foams, gels, lightly linked polymers, and the like. For example, the spacer layer 130 may be filled with air.
  • the main components for measuring the intensity of the touch pressure are the first electrode layer 120, the spacer layer 130, and the second electrode layer 140.
  • the panel including the first electrode layer 120, the spacer layer 130, and the second electrode layer 140 will be referred to as a “touch pressure panel”.
  • the internal configuration of the touch input device may be different from that shown in FIG. 1.
  • the touch panel 110, the first electrode layer 120, and the second electrode layer 140 may be stacked in a different order from the vertical order shown in FIG. 1.
  • the stacking order of each layer constituting the touch pressure panel may vary.
  • the spacer layer 130 should always be located between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140.
  • the first electrode layer 120 or the second electrode layer 140 may use an electrode layer included in the touch panel 110. In this case, the touch panel 110 determining the position of the touch input and the touch pressure panel determining the strength of the touch pressure share some configuration.
  • FIG. 2 is an example of a plan view of a first electrode and a second electrode of FIG. 1.
  • FIG. 2 is a diagram for describing various examples of the first electrode 125 and the second electrode 145 of FIG. 1.
  • 125A to 125F are views showing various plan views of the first electrode 125
  • 145A to 145D, 145E1, 145E2, 145F1, and 145F2 are views showing various plan views of the second electrode 145.
  • the first electrode 125A has one electrode integrally formed
  • the second electrode 145A also has one electrode integrally formed.
  • An input signal is applied to one of the first electrode 125A and the second electrode 145A.
  • the input signal may be, for example, a reference voltage.
  • the reference voltage may be, for example, a ground voltage.
  • the input signal may be a sinusoidal wave, a real wave, a triangular wave, or a step function.
  • the remaining one of the first electrode 125A and the second electrode 145A outputs an output signal, and is used to measure the change in capacitance between the first electrode 125A and the second electrode 145A.
  • the capacitance increases. Since the first electrode 125A and the second electrode 145A are formed integrally, the position of the pressure cannot be measured.
  • FIG. 2B is identical to FIG. 2A except that a hole is formed in the first electrode 125B.
  • the hole formed in the center of the first electrode 125B serves to mitigate the change in the relatively large capacitance of the center.
  • an example in which one hole is formed is illustrated, but a plurality of holes may be formed.
  • a hole may be formed in the second electrode 145B, and formed in both the first electrode 125B and the second electrode 145B. May be
  • FIG. 2C is the same as FIG. 2A except that a plurality of second electrodes 145C are partitioned.
  • An input signal is applied to the first electrode 125C.
  • the second electrode 145C is used to measure the change in capacitance between the first electrode 125C and the second electrode 145C. Since the second electrode 145C is divided into six regions, it has six output signals. Based on the six output signals, the pressure position as well as the pressure position can be measured.
  • the first electrode 125C may be partitioned, and both the first and second electrodes 125C 145C may be partitioned.
  • the figure shows an example divided into six, but may be divided into more than six or less than the figure.
  • both the first electrode 125D and the second electrode 145D are divided into a plurality of regions.
  • the first electrode 125D includes a plurality of electrodes formed in the horizontal direction as an example of the first direction
  • the second electrode 145D includes a plurality of electrodes formed in the vertical direction as an example of the second direction.
  • An input signal is applied to the first electrode 125D, an output signal is output to the second electrode 145D, or an input signal is applied to the second electrode 145D, and an output signal is output to the first electrode 125D.
  • the input signal may be, for example, a sinusoidal wave, a real wave, a triangle wave, or a step function. Since the first electrode 125D and the second electrode 145D are each divided into a plurality of regions, not only the strength of the pressure but also the position of the pressure may be measured.
  • the first electrode 125E has one electrode integrally formed, and the second electrode 145E has two electrodes 145E1 and 145E2 formed adjacent to each other.
  • the first input signal is applied to the first electrode 125E.
  • the first input signal may be a ground voltage as an example of the reference voltage.
  • the second input signal is applied to one of the two electrodes 145E1 and 145E2.
  • the second input signal may be, for example, a sinusoidal wave, a square wave, a triangular wave, or a step function.
  • An output signal is output to the other of the two electrodes 145E1 and 145E2.
  • the first electrode 125E is integrally formed and the second electrode 145E has two electrodes 145E1 and 145E2 is represented.
  • the first electrode 125E is two electrodes.
  • the second electrode 145E may be integrally formed.
  • the first electrode 125E does not have a hole in the drawing, unlike the drawing, the first electrode 125E may have one or more holes.
  • the second electrode 145E has two electrodes 145E1 and 145E2 is illustrated. Unlike the drawing, the second electrode 145E is divided into a plurality of regions, and each region has two electrodes. Can be. In this case, since there are as many output signals as the number of zones, the position of the pressure can also be calculated.
  • the first electrode 125F includes one electrode integrally formed, and the second electrode 145F includes a plurality of electrodes 145F1 and a first electrode formed in a vertical direction as an example of the first direction. In one example of two directions, a plurality of electrodes 145F2 is formed in a horizontal direction.
  • the first input signal is applied to the first electrode 125F.
  • the first input signal may be a ground voltage as an example of the reference voltage.
  • a second input signal is applied to the plurality of electrodes 145F1 formed in the first direction and output signals are output from the plurality of electrodes 145F2 formed in the second direction, or the plurality of electrodes 145F2 formed in the second direction ) And a second input signal is outputted from the plurality of electrodes 145F1 formed in the first direction.
  • the second input signal may be, for example, a sinusoidal wave, a square wave, a triangular wave, or a step function.
  • the output signal is used to measure the change in mutual capacitance.
  • the first electrode 125F is integrally formed and the second electrode 145F has the electrodes 145F1 and 145F2 is illustrated.
  • the first electrode 125F has the electrodes, and The two electrodes 145F may be integrally formed.
  • the first electrode 125F does not have a hole in the drawing, unlike the drawing, the first electrode 125F may have one or more holes.
  • FIG. 3 is an example of a cross-sectional view of a touch pressure panel.
  • FIG. 3A illustrates only the configuration of the touch pressure panel in FIG. 1. The basic principle of measuring the intensity of the touch pressure will be described with reference to FIG. 3A illustrates an example in which a touch input of intensity P1 is applied to the center region of the touch pressure panel.
  • the first electrode layer 120 When the user presses the touch panel 110, the first electrode layer 120 is physically bent by the pressure of the touch. Since the spacer layer 130 is positioned between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140, the first electrode layer 120 may be bent further. When the first electrode layer 120 is bent, the distance between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140 is closer. Referring to FIG. 1, the distance between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140 is 'L0' in the absence of a touch input. Referring to FIG. 3A, the distance between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140 is close by the touch input. In FIG. 3A, the distance between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140 is 'L1' smaller than 'L0'.
  • the capacitance between the first electrode layer and the second electrode layer increases as the distance between the first electrode layer and the second electrode layer increases.
  • the capacitance between the partitioned electrodes of the second electrode layer decreases as the distance between the first electrode layer and the second electrode layer becomes closer.
  • the amount of change in capacitance between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140 increases.
  • the amount of change in capacitance decreases.
  • the strength of the touch pressure is determined to the extent that the capacitance changes from the moment the touch is initiated.
  • FIG. 3B is an example showing only the configuration of the touch pressure panel in FIG. 1.
  • 3 (b) is a case where a touch input of intensity P1 is applied to an edge of the touch pressure panel unlike FIG. 3 (a).
  • FIG. 3B illustrates a case in which a touch pressure of the same intensity P1 as in FIG. 3A is applied.
  • the partition wall 131 exists at the edge of the spacer layer 130.
  • the partition 131 may have various mechanical configurations. When a touch input occurs around the partition 131, a constant repulsive force occurs in a direction opposite to the direction of the touch pressure due to the physical structure of the partition 131. Therefore, even when a touch pressure of P1 is applied to the edge of the touch pressure panel, the distance between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140 may be different from that of FIG. 3A. Referring to FIG. 3B, the distance between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140 is 'L2' longer than 'L1'. L1 ⁇ L2 ⁇ L0.
  • the touch input device may recognize the same intensity as the position of the touch input.
  • the technique described below is to solve such a problem. That is, the technique described below is to constantly correct the intensity of the touch pressure measured according to the position of the touch input. In the following description, if the touch input has the same intensity, the same technique may be corrected regardless of the position of the touch.
  • first electrode layer 120 and the second electrode layer 140 there may be another configuration supporting the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140 in addition to the partition wall 131 according to the physical configuration of the touch pressure panel.
  • the partition wall 131 there may be a pillar-like structure in the center of the touch pressure panel.
  • a configuration such as the partition wall 131 illustrated in FIG. 1 is between the first electrode layer 120 and the second electrode layer 140.
  • 4 is an example of a block diagram illustrating a configuration of the touch input device 200 that detects the strength of touch pressure. 4 is an example of the touch input device 200 that measures the intensity of the touch pressure by the amount of change in capacitance.
  • the touch input device 200 may include a touch panel 210, a first electrode 125, a first electrode circuit 225, a second electrode 145, a second electrode circuit 245, a controller circuit 250, and a memory. 260.
  • the touch panel 210 detects the position of the touch input by using the plurality of driving electrodes and the plurality of receiving electrodes. In the drawing, a detailed configuration of the touch panel 210 is not shown.
  • the first electrode 125 is formed on the first insulating layer 121, and the second electrode 145 is formed on the second insulating layer 141. Furthermore, the first electrode 125 or the second electrode 145 may not be formed on a predetermined insulating layer, but may be formed of one metal layer.
  • the first electrode circuit 225 applies the input signal T 1 to the first electrode 125.
  • the first electrode 125 has a shape as shown in (a) to (c), (e) and (f) of FIG. 2, the first electrode 125 is one electrode integrally formed.
  • the first electrode circuit 225 transmits one signal T 1 to the first electrode 125.
  • the input signal T 1 may be, for example, a reference voltage.
  • the reference voltage may be, for example, a ground voltage.
  • the input signal T 1 may be a sine wave, a square wave, a triangle wave, or a step function.
  • the first electrode 125 has a plurality of electrodes formed in the first direction.
  • the first electrode circuit 225 transmits a signal T 1 sequentially provided to the plurality of electrodes to the first electrode 125.
  • the input signal T 1 may be, for example, a sinusoidal wave, a square wave, a triangular wave, or a step function.
  • the second electrode circuit 245 receives the output signal R 1 from the second electrode 145.
  • the second electrode 145 When the second electrode 145 has a shape as shown in FIGS. 2A and 2B, the second electrode 145 outputs one signal R 1 .
  • the second electrode 145 When the second electrode 145 has a shape as shown in FIGS. 2C and 2D, the second electrode 145 outputs a plurality of signals R 1 .
  • the second electrode 145 has a shape as shown in FIG. 2E, the second electrode 145 is divided into two electrodes 145E1 and 145E2, and one of them has an additional input signal. Is applied, and the output signal R 1 is output from the other electrode.
  • the additional input signal may be, for example, a sinusoidal wave, a square wave, a triangular wave, or a step function.
  • the second electrode 145 has a shape as shown in FIG. 2F, the second electrode includes a plurality of electrodes 145F1 formed in the first direction and a plurality of electrodes 145F2 formed in the second direction.
  • An additional input signal is applied to the plurality of electrodes 145F1 formed in the first direction, and the output signal R 1 is output from the plurality of electrodes 145F2 formed in the second direction, or the plurality of electrodes formed in the second direction
  • An additional input signal is applied to the electrodes 145F2, and an output signal R 1 is output from the plurality of electrodes 145F1 formed in the first direction.
  • the additional input signal may be, for example, a sinusoidal wave, a square wave, a triangular wave, or a step function.
  • the second electrode circuit 245 receives the output signal R 1 .
  • the second electrode circuit 245 may calculate the capacitance between the first electrode 125 and the second electrode 145 or the capacitance between the divided electrodes of the second electrode 145.
  • the second electrode circuit 245 transmits the measured capacitance or the change amount of the capacitance to the controller circuit 250.
  • the controller circuit 250 may receive a signal from the second electrode circuit 245 to calculate an amount of change in capacitance.
  • the amount of change in capacitance refers to the degree to which the capacitance changes from the time when there is no touch.
  • the second electrode circuit 245 or the controller circuit 250 may measure the amount of change in capacitance based on the capacitance at the time when the touch is started.
  • the controller circuit 250 may control the first electrode circuit 225 and the second electrode circuit 245. Furthermore, the controller circuit 250 may receive a position of a touch input from the touch panel 210 and receive a constant reception signal or capacitance (a change in capacitance) from the second electrode circuit 245. The controller circuit 250 corrects the amount of change of the capacitance (the intensity of the touch pressure) by referring to a correction table in which data for correcting the intensity of the touch pressure is mapped according to the position of the touch.
  • the memory 260 stores the correction table in advance.
  • the numerical values here are arbitrary natural numbers for convenience of explanation.
  • the controller circuit 250 may correct the change in capacitance by using a constant correction function.
  • the correction function may be a function of calculating a constant correction value by using the position of the touch input as a variable.
  • the correction function may be a function for calculating a change value of the corrected capacitance by using the position of the touch input and the measured change value of the capacitance as variables.
  • the memory 260 may store data about a correction function.
  • the touch input device 200 corrects the strength of the touch pressure according to the position of the touch input. Therefore, the touch input device 200 must acquire the position of the touch input.
  • the touch input device 200 acquires the position of the touch input using the touch panel 210.
  • the touch input device 200 may not necessarily acquire the location of the touch input using the touch panel 210.
  • the touch input device 200 may obtain a touch position using a plurality of pressure sensors. For example, when the first electrode 125 and the second electrode 145 have a structure as shown in FIGS. 2C, 2D, and f, the touch input device 200 may input an input signal. The position of the pressure as well as the strength of the pressure may be detected using the T 1 and the reception signal R 1 .
  • the touch input device 200 may acquire the position of the touch input by using an optical sensor such as an infrared sensor.
  • the touch input device 200 may acquire the location of the touch input by analyzing the image collected by the camera.
  • the touch pressure panel has a method of measuring the amount of change in mutual capacitance and a method of measuring the amount of change in self capacitance.
  • the touch input device 200 may correct the strength of the pressure according to the input position. For convenience of explanation, the following description will be made based on a method of measuring a change amount of self capacitance.
  • FIG. 5 is an example of a flowchart for a method 300 of correcting a pressure intensity according to an input position in a touch input device.
  • the user touches the touch panel of the touch input device 200.
  • the touch input device 200 detects a touch input (310).
  • the distance between the first electrode 125 and the second electrode 145 is changed by the touch input.
  • the touch input device 200 measures a change in capacitance according to a change in distance between the first electrode 125 and the second electrode 145 at the position of the touch input (330).
  • the touch input device 200 calculates a change amount of the capacitance by comparing the capacitance after the touch input occurs as a reference without the touch.
  • the touch input device 200 receives a location of the touch input 340.
  • the touch input device 200 may receive a location of the touch input from the touch panel.
  • the touch input device 200 corrects the capacitance (or the amount of change in capacitance) at the position where the touch input is generated according to the position of the touch input (350).
  • the touch input device 200 to the controller circuit 250 may correct the amount of change in capacitance by using a correction table.
  • the degree of change in capacitance may be corrected by adding the correction data according to the position of the touch input to the degree of change in capacitance measured by the touch input device 200.
  • the touch input device 200 may correct the degree of change in capacitance by multiplying the degree of change in capacitance by the correction data according to the position of the touch input.
  • the touch input device 200 to the controller circuit 250 may correct the change in capacitance by using a constant correction function.
  • the correction function may be a function of calculating a constant correction value by using the position of the touch input as a variable.
  • the correction function may be a function for calculating a change value of the corrected capacitance by using the position of the touch input and the measured change value of the capacitance as variables.
  • the memory 260 may store data for the correction function.
  • the controller circuit 250 may include a correction function in an embedded form.
  • the material constituting the touch input device 200 may have a degree of warpage or a warpage characteristic due to a change in environment (temperature or humidity), aging of the device, or the like.
  • the touch input device 200 needs to monitor a criterion for determining the amount of change in capacitance.
  • the touch input device 200 determines the strength of the touch pressure by measuring the capacitance generated after the touch input on the basis of the absence of the touch. Therefore, the criterion for determining the amount of change in capacitance can be referred to as the value of capacitance in the absence of a touch input.
  • the capacitance measured from the output signal in the absence of the touch input is referred to as the reference capacitance Cm.
  • the strength of the touch pressure can be determined by measuring how large the change in capacitance ( ⁇ Cm) is compared to the reference capacitance.
  • FIG. 6 is another example of a flowchart of a method 400 of correcting a pressure intensity according to an input position in a touch input device.
  • the touch input device 200 measures a self capacitance (reference capacitance) between the first electrode and the second electrode in a state in which no touch input occurs (410).
  • the touch input device 200 measures the reference capacitance and stores the reference capacitance.
  • the touch input device 200 measures the reference capacitance (410), and determines whether there is a change in the reference capacitance compared to the previously measured reference capacitance (420). When the reference capacitance is changed, the touch input device 200 should reflect a value corresponding to the changed reference capacitance in the process of measuring the strength of the touch pressure.
  • the touch input device 200 may update the correction table according to the degree of change in the reference capacitance (430). For example, the touch input device 200 may add or subtract data of the entire calibration table by a predetermined value. In addition, the touch input device 200 may add or subtract data of the correction table according to a position by different values.
  • the touch input device 200 may periodically measure a change in the reference capacitance. In addition, the touch input device 200 may measure a change in the reference capacitance when a power is applied to the touch input device 200.
  • the touch input device 200 detects a touch input (440). The distance between the first electrode and the second electrode is changed by the touch input (450). The touch input device 200 measures a change in capacitance according to a change in distance between the first electrode and the second electrode at the position of the touch input (460). When a touch input occurs (440), the touch input device 200 receives a location of the touch input (470). For example, the touch input device 200 may receive a location of the touch input from the touch panel. Thereafter, the touch input device 200 corrects the capacitance (or the amount of change in capacitance) at the position where the touch input is generated according to the position of the touch input based on the correction table (480).
  • the touch input device 200 may correct an amount of change in capacitance by using a correction table. Unlike FIG. 6, the touch input device 200 may correct the amount of change in capacitance by using the above-described correction function. In this case, the touch input device 200 may modify the correction function to correspond to the change of the reference capacitance in step 430. For example, the touch input device 200 may correct a constant used in the correction function or add a variable or a constant value to the correction function.
  • the touch input device 200 using the touch pressure panel may measure reference capacitances for a plurality of points.
  • the touch input device 200 may update the correction table when the reference capacitances for the plurality of points are not equal to each other.
  • the touch input device 200 may update the correction table by measuring the reference capacitance at a plurality of points, determining whether the reference capacitances are not equal to each other for the plurality of points.
  • the touch input device 200 may update only correction data for a specific point different from the point where the reference capacitance is different.
  • the touch input device 200 may use a plurality of correction tables.
  • the plurality of correction tables is a table predetermined according to the reference capacitance value.
  • the touch input device 200 may measure the reference capacitance and correct the degree of change in the capacitance by using a correction table corresponding to the value of the reference capacitance.
  • the controller circuit 250 manages the correction table and stores the correction table in the memory 260.
  • the calibration table will map a constant calibration value for each point (location) measuring the capacitance.
  • the touch input device 200 searches for a point corresponding to (or close to) the position of the touch input in the correction table, extracts a corresponding correction value, and corrects the measured capacitance.
  • the correction table may be in various forms. (1) The producer of the touch input device may generate the correction table in advance in consideration of the bending property or the structural property of the edge portion of the physical configuration of the touch input device.
  • the producer may measure the degree of warp for a plurality of positions in the manufacturing process of the touch input device and generate a correction table reflecting the measured results.
  • the correction value is determined in advance for a certain area by reflecting the physical specific and structural characteristics of the touch input device, the bending degree is measured in the manufacturing process only for the remaining areas, and a correction table is generated that reflects the measured result.
  • You may.
  • the center area of the touch panel generally has a constant degree of warpage. Therefore, a predetermined correction value may be set in advance with respect to the center area of the touch panel, and a correction table may be generated by measuring the degree of warpage for each actual device only for the edge portion of the touch panel.
  • the calibration table will generally store data for calibrating to a small value or not calibrating the center area of the touch panel.
  • the calibration table will also typically store data for calibrating the edge region of the touch panel to a value greater than the measured capacitance.
  • FIG. 7 is an example of a correction value for correcting the pressure intensity in the touch input device.
  • an area A1 indicated by a dotted circle indicates a center area of the touch panel (or touch pressure panel).
  • the central area may be an area in which no separate correction is required for the measured capacitance.
  • the size or shape of the central region may be different from that of FIG. 7.
  • FIG. 7A illustrates an example in which a direction from the center position C and the center position C of the touch panel to the edge region of the touch panel is indicated by an arrow.
  • 7 (b) shows an example of some values of the correction table.
  • FIG. 7B illustrates a correction value based on the position of the touch panel for convenience of description.
  • FIG. 7B is an example of using the central region as a reference and correcting the intensity of pressure in the remaining reverse region.
  • FIG. 7B illustrates an example in which the measured capacitance is not corrected in the center region, and a larger correction value is used toward the edge in the center position C of the touch panel.
  • the correction value is '0' in the center region. If the correction value is '0', it means that the measured capacitance is not corrected. Referring to FIG. 7B, the correction value increases as the edge reaches the edge of the touch panel while passing through the center area. That is, the closer to the edge of the touch panel, the larger the correction value is reflected, and the actual measured capacitance is corrected. If the correction value is 1 or more, the touch input device corrects the distance between the driving electrode and the receiving electrode closer to the correction value. In FIG. 7B, only a few directions are shown as an example.
  • FIG. 8 is another example of a correction value for correcting the pressure intensity according to the touch input device.
  • an area A1 indicated by a dotted circle indicates a center area of the touch panel.
  • 8A illustrates an example in which a direction from the center position C and the center position C of the touch panel to the edge region of the touch panel is indicated by an arrow.
  • Fig. 8 (b) actually corresponds to a correction table having the same effect as Fig. 7 (b).
  • a correction value that is positively larger toward the edge in the center position C of the touch panel is used.
  • FIG. Large correction values were used.
  • the touch input device does not correct the capacitance measured at the edge of the touch panel, but instead corrects the capacitance measured at the remaining area other than the edge.
  • FIG. 8 (b) shows an example of correcting the intensity of pressure for the remaining area with reference to the point at the edge.
  • one of the reference points is indicated by a solid circle.
  • FIG. 9 is another example of a correction value for correcting the pressure intensity in the touch input device.
  • 9A illustrates an example of dividing an area of a touch panel.
  • A2 means a center region and A3 means an edge region.
  • FIG. 9B illustrates an example of correction values for the areas divided in FIG. 9A.
  • A2 has a correction value of '0' and A3 has a correction value of '1' in a batch. That is, an example of using a predetermined correction value in advance in consideration of the structural characteristics of the touch input device.
  • 10 is another example of a correction value for correcting the pressure intensity in the touch input device.
  • 10A illustrates an example of dividing an area of a touch panel. Referring to FIG. 10A, A4 represents a center region of the touch panel, and A5 and A6 represent edge regions. The touch input device does not correct the measured capacitance for the center region, but corrects the measured capacitance for the edge region. A5 and A6 correspond to subregions which further divided the edge region. The touch input device may correct the measured capacitance by applying a correction value larger than the A5 region to the A6 region.
  • the correction value of each area has a relationship of A4> A5> A6.
  • FIG. 10B illustrates another example of dividing areas of the touch panel.
  • FIG. 10B illustrates an example of further dividing the A6 subregion from FIG. 10A.
  • the touch input device may correct the measured capacitance by applying a correction value larger than the A6a area to the A6b area.
  • the correction value of each region has a relationship of A4> A5> A6a> A6b.
  • the touch pressure panel may have a structure supporting the first electrode layer and the second electrode layer at the edge.
  • the edges are less curved than the central region.
  • the edges of the edges are more likely to bend less than the other edges. This is because the structure supporting the first electrode layer and the second electrode layer (such as a partition wall) meets each other.
  • A7 represents a center area of the touch panel.
  • A8, A9, and A10 represent edge regions of the touch panel.
  • A9 has a correction value larger than A8. It may be desirable for the corner area A10 to have a larger correction value than A9.
  • the correction value of each region has a relationship of A7> A8> A9> A10.
  • the correction table is for correcting the degree to which the touch pressure panel is less curved according to the touch position. After all, it is preferable that the correction table consider both the physical properties of the materials constituting the touch input device and the structure of the touch input device. Among the structures of the touch input device, the structure supporting the first electrode layer and the second electrode layer has the greatest influence. Furthermore, the pattern formed on the first electrode layer or the second electrode layer may affect the degree of warpage of the first electrode layer or the second electrode layer.
  • 12 is an example of a correction value for correcting a pressure intensity in a touch input device having an electrode pattern.
  • 12A illustrates an example of a pattern formed on a first electrode layer or a second electrode layer that is bent according to a touch input in a touch pressure panel.
  • 12B is an example of a correction table considering the structure of a pattern formed on the first electrode layer or the second electrode layer. In FIG. 12B, the dotted line shows the position of the pattern.
  • a correction value of '1' is set in an area where the pattern is located under the assumption that the area where the pattern is located is less curved than other areas.
  • a correction value of '1' is also set in a region corresponding to an edge region of the touch panel.
  • a correction value of '0' was set in the remaining area of the touch panel.
  • Influence of the pattern formed on the first electrode layer or the second electrode layer on the degree of bending may be insignificant. 12 is an example of a correction table in consideration of a structure of a touch input device. For example, if a structure supporting the first electrode layer and the second electrode layer exists in another area besides the edge of the partition wall, a correction table should be generated in consideration of the structure.
  • FIG. 13 is another example of a correction value for correcting the pressure intensity in the touch input device.
  • FIG. 13 corresponds to an example in which a manufacturer does not set a correction value for a certain center region in a manufacturing process of a touch input device, and prepares a correction table by measuring a bending degree of the touch pressure panel in a manufacturing process only for the remaining regions.
  • FIG. 13A illustrates an example in which the center area A11 and the remaining area of the touch panel are divided.
  • FIG. 13B is an example of a correction table for the areas divided in FIG. 13A. Referring to FIG. 13B, a correction value of '0' is set to mean that the correction is not performed for A11 which is the center area. Referring to FIG. 13B, the remaining areas except the center area are examples of measuring a degree of actual bending and providing correction values. Looking at Figure 13 (b) it can be seen that the edge is basically a larger correction value than the rest of the position.
  • 14 is another example of a correction value for correcting the pressure intensity in the touch input device.
  • 14 illustrates an example in which a correction table is prepared by measuring a degree of warpage at all positions where capacitance can be measured during a manufacturing process of a touch input device. 14, some correction values are set in the region corresponding to the center region of FIG. 13. In FIG. 14, the coordinates of the horizontal axis (x) and the vertical axis (y) for the position where the capacitance can be measured are further illustrated.
  • the touch input device stores and manages a calibration table that maps a position where the capacitance can be measured and a correction value for the position.
  • FIGS. 7 to 14 illustrate the correction table.
  • a correction function may be prepared in consideration of the position of the touch input as shown in FIGS. 7 to 14.
  • the touch input device when the touch input device monitors the reference capacitance as shown in FIG. 6, the touch input device must modify the correction function if the reference capacitance is changed at a specific position on the touch panel.
  • the correction function has the position of the touch input as a variable. If the reference capacitance is changed at a specific position on the touch panel, the touch input device may assign a weight to the specific position or modify the weight to reflect the weight in the correction function.
  • the touch input device may store weights according to positions on the touch panel as a separate table.
  • the touch input device may modify the correction function when the reference capacitance previously measured at the specific position on the touch panel is different from the currently measured reference capacitance. Furthermore, the touch input device may measure reference capacitances at a plurality of positions on the touch panel, and may correct the correction function such that all positions have the same reference capacitance for positions having different reference capacitances among the plurality of positions.

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Abstract

터치 입력 장치에서 입력 위치에 따라 압력의 세기를 보정하는 방법은 터치 입력 장치가 터치 패널을 통해 터치 입력을 감지하는 단계, 상기 터치 입력 장치가 상기 터치 패널 상에서 상기 터치 입력의 위치를 결정하는 단계, 상기 터치 입력 장치가 상기 터치 입력에 따른 압력의 세기에 대응하는 정전 용량의 변화 정도를 측정하는 단계 및 상기 터치 입력 장치가 상기 터치 입력의 위치에 따라 상기 압력의 세기를 보정하는 단계를 포함한다.

Description

터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법 및 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치
이하 설명하는 기술은 터치 압력의 세기를 측정하는 기법에 관한 것이다.
스마트폰 등의 시장확대와 함께 다양한 터치 입력 장치가 등장하고 있다. 터치 입력 장치는 일반적으로 터치 입력의 유무 및 터치 입력의 위치를 입력 명령으로 사용한다. 나아가 최근 터치 입력 장치는 터치 압력의 세기(터치의 강도)를 새로운 입력 명령으로 사용하기 시작했다.
터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치는 기구적 구조의 한계로 터치 위치에 따라 압력의 세기를 다르게 인식할 수 있다. 이하 설명하는 기술은 터치 입력 장치에서 터치 위치에 관계없이 균일하게 터치 압력의 세기를 감지하는 기법을 제공하고자 한다.
터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법은 터치 입력 장치가 터치 패널을 통해 터치 입력을 감지하는 단계, 상기 터치 입력 장치가 상기 터치 패널 상에서 상기 터치 입력의 위치를 결정하는 단계, 상기 터치 입력 장치가 상기 터치 입력에 따른 정전 용량의 변화 정도를 측정하는 단계, 상기 터치 입력 장치가 상기 터치 입력의 위치에 따라 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는 단계 및 상기 터치 입력 장치가 상기 보정된 정전 용량의 변화 정도를 기준으로 상기 터치 입력에 따른 압력의 세기를 측정하는 단계를 포함한다.
터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치는 제1 전극을 포함하는 제1 전극층, 제2 전극을 포함하는 제2 전극층, 상기 제1 전극층과 상기 제2 전극층 사이에 위치하는 스페이서층 및 상기 제1 전극층과 상기 제2 전극층 사이의 거리 변화에 따른 정전 용량의 변화량을 측정하고, 터치 입력의 위치에 따라 상기 정전 용량의 변화량을 보정하는 컨트롤러 회로를 포함한다.
다른 측면에서 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치는 제1 절연막 상에 형성되고, 상기 제1 절연막에 평행한 방향으로 연장되는 제1 전극을 포함하는 제1 전극층, 전도성 금속 재질이고, 상기 제1 전극층에 평행한 방향으로 연장되는 금속층, 상기 제1 전극층과 상기 금속층 사이에 위치하는 스페이서층 및 상기 제1 전극층과 상기 금속층 사이의 거리 변화에 따른 정전 용량의 변화량을 측정하고, 터치 입력의 위치에 따라 상기 정전 용량의 변화량을 보정하는 컨트롤러 회로를 포함한다.
이하 설명하는 기술은 동일한 세기의 압력으로 터치하는 경우 터치 위치에 따른 편차 없이 균일한 터치 인터페이스를 사용자에게 제공한다.
도 1은 터치 입력 장치의 단면도에 대한 예이다.
도 2는 도 1의 제1 전극 및 제2 전극에 대한 평면도의 예이다.
도 3은 터치 압력 패널의 단면도에 대한 예이다.
도 4는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치의 구성을 도시한 블록도의 예이다.
도 5는 터치 입력 장치에서 입력 위치에 따라 압력의 세기를 보정하는 방법에 대한 순서도의 예이다.
도 6은 터치 입력 장치에서 입력 위치에 따라 압력의 세기를 보정하는 방법에 대한 순서도의 다른 예이다.
도 7은 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 예이다.
도 8은 터치 입력 장치에서 따라 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 다른 예이다.
도 9는 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 또 다른 예이다.
도 10은 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 또 다른 예이다.
도 11은 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 또 다른 예이다.
도 12는 전극 패턴을 갖는 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 예이다.
도 13은 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 또 다른 예이다.
도 14는 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 또 다른 예이다.
이하 설명하는 기술은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 이하 설명하는 기술을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 이하 설명하는 기술의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
제1, 제2, A, B 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 해당 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않으며, 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 이하 설명하는 기술의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.
본 명세서에서 사용되는 용어에서 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 해석되지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "포함한다" 등의 용어는 설시된 특징, 개수, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 의미하는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 개수, 단계 동작 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
도면에 대한 상세한 설명을 하기에 앞서, 본 명세서에서의 구성부들에 대한 구분은 각 구성부가 담당하는 주기능 별로 구분한 것에 불과함을 명확히 하고자 한다. 즉, 이하에서 설명할 2개 이상의 구성부가 하나의 구성부로 합쳐지거나 또는 하나의 구성부가 보다 세분화된 기능별로 2개 이상으로 분화되어 구비될 수도 있다. 그리고 이하에서 설명할 구성부 각각은 자신이 담당하는 주기능 이외에도 다른 구성부가 담당하는 기능 중 일부 또는 전부의 기능을 추가적으로 수행할 수도 있으며, 구성부 각각이 담당하는 주기능 중 일부 기능이 다른 구성부에 의해 전담되어 수행될 수도 있음은 물론이다.
또, 방법 또는 동작 방법을 수행함에 있어서, 상기 방법을 이루는 각 과정들은 문맥상 명백하게 특정 순서를 기재하지 않은 이상 명기된 순서와 다르게 일어날 수 있다. 즉, 각 과정들은 명기된 순서와 동일하게 일어날 수도 있고 실질적으로 동시에 수행될 수도 있으며 반대의 순서대로 수행될 수도 있다.
이하 설명하는 터치 입력 장치는 터치 입력의 세기(압력의 세기)까지 인식할 수 있는 장치이다. 이하 설명하는 터치 입력 장치는 종전 터치 입력 장치와 같이 터치의 유무 내지 터치의 위치를 결정하는 구성을 포함할 수 있다. 터치 위치를 결정하는 구성은 터치를 감지하기 위한 전극층(터치 패널), 전극층에 신호를 인가하는 구동 회로 및 구동 회로를 제어하는 컨트롤러를 포함할 수 있다. 터치 패널은 정전방식, 저항막 방식(감압 방식) 등 다양한 방식이 사용될 수 있다. 스마트폰과 같은 장치에서는 주로 정전 방식을 많이 사용한다. 정전 방식은 대부분 투영형(PCAP, Projected Capacitive)을 사용한다. PCAP 방식은 자체 정전 용량을 이용하는 방식(Self-Capacitive)과 상호 정전 용량을 이용하는 방식(Mutual-Capacitive)으로 구분된다. 이하 설명하는 기술에서 터치 패널은 다양한 방식을 사용할 수 있다. 종래의 터치 패널에 대한 자세한 설명은 생략한다.
이하에서는 도면을 참조하면서 터치 입력 장치에서 입력 위치에 따라 압력의 세기를 보정하는 방법에 관하여 구체적으로 설명하겠다. 도 1은 터치 입력 장치(100)의 단면도에 대한 예이다. 도 1에서는 구동 회로, 제어회로 등을 도시하지 않았다.
도 1은 터치 입력 장치(100)에서 터치 압력의 세기를 측정하기 위한 기본적인 구성을 도시한 예이다. 도 1에서는 터치 입력 장치(100)에 주요 구성만을 도시한 것으로 디스플레이 패널은 도시하지 않았다. 도 1을 살펴보면 터치 입력 장치(100)는 터치 패널(110), 제1 전극층(120), 스페이서층(130) 및 제2 전극층(140)을 구비한다.
터치 패널(110)은 사용자의 터치 입력의 유무 및 터치 입력의 위치를 감지한다.
제1 전극층(120)은 터치 패널(110)의 아래에 위치한다. 제1 전극층(120)은 제1 절연막(121) 및 제1 전극(125)을 구비한다. 제1 절연막(121)은 전류가 전도되지 않는 절연 물질로 구성된다. 제1 절연막(121)은 PET(Polyethylene terephthalate)과 같은 플라스틱 재질의 얇은 투명 필름(film)으로 이루어 질 수 있다. 제1 전극(125)는 일례로 일체로 형성된 1개의 전극을 포함할 수 있다. 제1 전극(125)은 다른 예로 일 방향(제1 방향)으로 형성된 복수의 전극을 포함할 수 있다. 제1 전극(125)는 전류가 전도되는 물질로 구성된다. 제1 전극(125)는 산화주석(SnO2) 및 산화인듐(In2O3) 등으로 이루어지는 균일한 두께의 투명 전도막(ITO: Indium Tin Oxide), 은잉크(silver ink), 구리(copper) 또는 탄소 나노튜브(CNT: Carbon Nanotube) 중 적어도 어느 하나를 포함하여 구성될 수 있다.
제2 전극층(140)은 제1 전극층(120)의 아래에 위치한다. 제2 전극층(140)은 제2 절연막(141) 및 제2 전극(145)을 구비한다. 제2 절연막(141)은 전류가 전도되지 않는 절연 물질로 구성된다. 제2 절연막(141)은 PET(Polyethylene terephthalate)과 같은 플라스틱 재질의 얇은 투명 필름(film)으로 이루어 질 수 있다. 제2 전극(145)는 일례로 일체로 형성된 1개의 전극을 포함할 수 있다. 제2 전극(145)은 다른 예로 제1 방향과 다른 방향(제2 방향)으로 형성된 복수의 전극을 포함할 수 있다. 제2 전극(145)는 전류가 전도되는 물질로 구성된다. 제2 전극(145)는 산화주석(SnO2) 및 산화인듐(In2O3) 등으로 이루어지는 균일한 두께의 투명 전도막(ITO: Indium Tin Oxide), 은잉크(silver ink), 구리(copper) 또는 탄소 나노튜브(CNT: Carbon Nanotube) 중 적어도 어느 하나를 포함하여 구성될 수 있다.
스페이서층(130)은 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이에 위치한다. 스페이서층(130)는 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이에 일정한 공간을 확보하기 위한 구성이다. 스페이서층(130)은 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140)을 지지하는 내부 격벽(131)을 포함할 수 있다. 스페이서층(130)은 유전체(dielectric substance)로 채워질 수 있다. 유전체는 오픈 셀 발포제(open cell foam), 젤(gel), 경결합 중합체(lightly linked polymer) 등과 같은 물질을 포함한다. 예컨대, 스페이서층(130)은 공기(air)로 채워질 수도 있다.
터치 압력의 세기를 측정하기 위한 주요 구성은 제1 전극층(120), 스페이서층(130) 및 제2 전극층(140)이다. 설명의 편의를 위해 이하 제1 전극층(120), 스페이서층(130) 및 제2 전극층(140)을 포함하는 패널을 "터치 압력 패널"이라고 명명한다.
터치 입력 장치의 내부 구성은 도 1에 도시한 바와 다를 수도 있다. 예컨대, 터치 패널(110), 제1 전극층(120), 제2 전극층(140)은 도 1에 도시한 상하 순서와 다른 순서로 적층될 수도 있다. 또한 터치 압력 패널을 구성하는 각 층의 적층 순서도 달라질 수 있다. 다만 스페이서층(130)은 항상 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이에 위치해야 한다. 나아가 제1 전극층(120) 또는 제2 전극층(140)은 터치 패널(110)에 포함된 전극층을 사용할 수도 있다. 이 경우 터치 입력의 위치를 결정하는 터치 패널(110)과 터치 압력의 세기를 결정하는 터치 압력 패널이 일부 구성을 공유하게 된다.
도 2는 도 1의 제1 전극 및 제2 전극에 대한 평면도의 예이다. 도 2는 도 1의 제1 전극(125) 및 제2 전극(145)의 다양한 예들을 설명하기 위한 도면이다. 도 2에서 125A ~ 125F는 제1 전극(125)의 다양한 평면도들을 나타내는 도면이고, 145A~145D, 145E1, 145E2, 145F1 및 145F2는 제2 전극(145)의 다양한 평면도들을 나타내는 도면이다.
도 2(a)를 참조하면, 제1 전극(125A)는 일체로 형성된 1개의 전극을 가지며, 제2 전극(145A)도 일체로 형성된 1개의 전극을 가진다. 제1 전극(125A) 및 제2 전극(145A) 중 하나의 전극에는 입력 신호가 인가된다. 입력신호는 일례로 기준 전압일 수 있다. 기준 전압은 일례로 접지 전압일 수 있다. 입력신호는 다른 예로 정현파, 구현파, 삼각파 또는 계단 함수일 수 있다. 제1 전극(125A) 및 제2 전극(145A) 중 나머지 전극은 출력 신호를 출력하며, 제1 전극(125A)과 제2 전극(145A) 사이의 정전 용량의 변화의 측정에 사용된다. 압력에 의하여 제1 전극(125A) 및 제2 전극(145A)이 서로 가까워지면 정전 용량이 증가한다. 제1 전극(125A) 및 제2 전극(145A)이 각각 일체로 형성되었으므로, 압력의 위치가 측정될 수 없다.
도 2(b)는 제1 전극(125B)에 구멍이 형성된 점을 제외하고는 도 2(a)와 동일하다. 동일한 압력이 중심부에 가해졌을 때에 동일한 압력이 주변부에 가해졌을 때보다 정전 용량의 변화가 훨씬 클 수 있다. 제1 전극(125B)의 중심부에 형성된 구멍은 중심부의 상대적으로 큰 정전 용량의 변화를 완화시키는 기능을 수행한다. 도면에서는 1개의 구멍이 형성된 예가 도시되어 있으나, 구멍은 여러 개 형성될 수도 있다. 도면에는 제1 전극(125B)에 구멍이 형성된 예가 도시되어 있으나, 도면과 달리 구멍은 제2 전극(145B)에 형성될 수도 있으며, 제1 전극(125B) 및 제2 전극(145B) 모두에 형성될 수도 있다.
도 2(c)는 제2 전극(145C)이 복수로 구획된 점을 제외하고는 도 2(a)와 동일하다. 제1 전극(125C)에는 입력 신호가 인가된다. 제2 전극(145C)은 제1 전극(125C)과 제2 전극(145C) 사이의 정전 용량의 변화의 측정에 사용된다. 제2 전극(145C)은 6개의 영역으로 구획되어 있으므로, 6개의 출력 신호를 가진다. 6개의 출력 신호에 기반하여 압력의 세기뿐만 아니라 압력의 위치도 측정될 수 있다. 도면에는 제2 전극(145C)이 구획된 예가 표현되어 있으나, 도면과 달리 제1 전극(125C)이 구획될 수도 있으며, 제1 및 제2 전극들(125C 145C) 모두가 구획될 수도 있다. 도면에는 6개로 구획된 예가 표현되어 있으나, 도면과 달리 6개 초과 또는 미만으로 구획될 수도 있다.
도 2(d)를 참조하면, 제1 전극(125D) 및 제2 전극(145D) 모두가 복수의 영역으로 구획되어 있다. 제1 전극(125D)는 제1 방향 일례로 가로 방향으로 형성된 복수의 전극을 제2 전극(145D)는 제2 방향 일례로 세로 방향으로 형성된 복수의 전극을 구비한다. 제1 전극(125D)에 입력 신호가 인가되고, 제2 전극(145D)으로 출력 신호를 출력되거나, 제2 전극 (145D)에 입력 신호가 인가되고, 제1 전극(125D)으로 출력 신호가 출력될 수 있다. 입력 신호는 일례로 정현파, 구현파, 삼각파 또는 계단 함수일 수 있다. 제1 전극(125D) 및 제2 전극(145D)이 각각 복수의 영역으로 구획되어 있으므로, 압력의 세기뿐만 아니라 압력의 위치도 측정될 수 있다.
도 2(e)를 참조하면, 제1 전극(125E)는 일체로 형성된 1개의 전극을 가지며, 제2 전극(145E)는 서로 인접하게 형성된 2개의 전극들(145E1, 145E2)을 가진다. 제1 전극(125E)로는 제1 입력신호가 인가된다. 제1 입력신호는 기준전압 일례로 접지전압일 수 있다. 2개의 전극들(145E1, 145E2) 중 하나에는 제2 입력신호가 인가된다. 제2 입력신호는 일례로 정현파, 구형파, 삼각파 또는 계단 함수일 수 있다. 2개의 전극들(145E1, 145E2) 중 나머지에는 출력신호를 출력한다. 압력에 의하여 제1 전극(124E)과 제2 전극(145E) 사이의 거리가 감소하면, 2개의 전극들(145E1, 145E2) 사이의 상호 정전용량(mutual capacitance)이 감소한다. 출력신호는 상호 정전용량의 변화의 측정에 사용된다. 도면에는 제1 전극(125E)가 일체로 형성되고, 제2 전극(145E)가 2개의 전극들(145E1, 145E2)를 가지는 예가 표현되어 있으나, 도면과 달리 제1 전극(125E)가 2개의 전극들을 가지고, 제2 전극(145E)가 일체로 형성될 수 있다. 도면에는 제1 전극(125E)이 구멍을 가지고 있지 아니하나, 도면과 달리 제1 전극(125E)가 하나 또는 그 이상의 구멍들을 가질 수 있다. 도면에는 제2 전극(145E)가 2개의 전극들(145E1, 145E2)을 가지는 예가 표현되어 있으나, 도면과 달리 제2 전극(145E)가 복수의 영역으로 구획되고, 각 영역이 2개의 전극들을 가질 수 있다. 이 경우, 영역의 개수만큼의 출력신호들이 있으므로, 압력의 위치도 계산될 수 있다.
도 2(f)를 참조하면, 제1 전극(125F)은 일체로 형성된 1개의 전극을 가지며, 제2 전극(145F)은 제1 방향 일례로 세로 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F1)과 제2 방향 일례로 가로 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F2)을 구비한다. 제1 전극(125F)으로는 제1 입력신호가 인가된다. 제1 입력신호는 기준전압 일례로 접지전압일 수 있다. 제1 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F1)에 제2 입력신호가 인가되고 제2 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F2)로부터 출력신호가 출력되거나, 제2 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F2)에 제2 입력신호가 인가되고 제1 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F1)로부터 출력신호가 출력된다. 제2 입력신호는 일례로 정현파, 구형파, 삼각파 또는 계단 함수일 수 있다. 압력에 의하여 제1 전극(125F)과 제2 전극(145F) 사이의 거리가 감소하면, 제1 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F1)과 제2 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F2) 사이의 상호 정전용량(mutual capacitance)이 감소한다. 출력신호는 상호 정전용량의 변화의 측정에 사용된다. 도면에는 제1 전극(125F)가 일체로 형성되고, 제2 전극(145F)가 전극들(145F1, 145F2)를 가지는 예가 표현되어 있으나, 도면과 달리 제1 전극(125F)가 전극들을 가지고, 제2 전극(145F)가 일체로 형성될 수 있다. 도면에는 제1 전극(125F)이 구멍을 가지고 있지 아니하나, 도면과 달리 제1 전극(125F)가 하나 또는 그 이상의 구멍들을 가질 수 있다.
도 3은 터치 압력 패널의 단면도에 대한 예이다. 도 3(a)는 도 1에서 터치 압력 패널의 구성만을 도시한 예이다. 도 3(a)를 기준으로 터치 압력의 세기를 측정하는 기본적인 원리를 설명한다. 도 3(a)는 터치 압력 패널의 중심 영역에 P1이라는 세기의 터치 입력이 가해지는 예이다.
사용자가 터치 패널(110)을 누르면, 터치의 압력에 의해 제1 전극층(120)이 물리적으로 일정하게 휘어지게 된다. 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이에 스페이서층(130)이 위치하기 때문에 더욱 제1 전극층(120)은 잘 휘어질 수 있다. 제1 전극층(120)이 휘어지면 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 거리가 가까워진다. 도 1을 살펴보면 터치 입력이 없는 상태에서 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 거리는 'L0'이다. 도 3(a)를 살펴보면 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 거리가 터치 입력에 의해 가까워졌다. 도 3(a)에서 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 거리는 'L0'보다 작은 'L1'이다.
제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 거리가 가까워지면 출력신호로부터 측정되는 정전용량에 변화가 생긴다. 도 2의 (a) 내지 (d)에 해당하는 예의 경우, 제1 전극층과 제2 전극층 사이의 거리가 가까워질수록 제1 전극층과 제2 전극층 사이의 정전용량이 증가한다. 도 2의 (e) 내지 (f)에 해당하는 예의 경우, 제1 전극층과 제2 전극층 사이의 거리가 가까워질수록 제2 전극층의 구획된 전극들 사이의 정전용량이 감소한다. 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 거리가 가까워질수록 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 정전 용량의 변화량이 커진다. 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 거리가 멀어질수록 정전 용량의 변화량이 작아진다. 터치 압력의 세기는 터치가 시작된 순간부터 정전 용량이 변화하는 정도로 결정된다.
제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 거리는 동일한 압력이 가해진 경우에도 터치 입력이 발생한 위치에 따라 달라질 수 있다. 도 3(b)는 도 1에서 터치 압력 패널의 구성만을 도시한 예이다. 도 3(b)는 도 3(a)와는 달리 터치 압력 패널의 가장자리(edge)에 P1이라는 세기의 터치 입력이 가해지는 경우이다. 도 3(b)는 도 3(a)와 같은 세기(P1)의 터치 압력이 가해지는 경우이다.
스페이서층(130)의 가장 자리에는 격벽(131)이 존재한다. 격벽(131)은 다양한 기구적 구성을 가질 수 있다. 격벽(131) 주변에서 터치 입력이 발생하면 격벽(131)이라는 물리적은 구조로 인하여 터치 압력의 방향과 반대 방향으로 일정한 반발력이 발생한다. 따라서 터치 압력 패널의 가장 자리에 P1이라는 세기의 터치 압력이 가해져도, 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 거리는 도 3(a)와는 다를 수 있다. 도 3(b)를 살펴보면 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이의 거리는 'L1'보다 긴 'L2'이다. L1 < L2 < L0의 관계를 갖는다.
사용자가 동일한 세기의 터치 입력을 가해도 터치 입력의 위치에 따라 터치 입력 장치는 동일하지 않은 세기로 인식할 수 있다. 이하 설명하는 기술은 이와 같은 문제를 해결하기 위한 것이다. 즉, 이하 설명하는 기술은 터치 입력의 위치에 따라 측정된 터치 압력의 세기를 일정하게 보정하기 위한 것이다. 이하 설명하는 기술은 동일한 세기의 터치 입력이라면, 터치의 위치에 관계없이 동일한 크기로 보정할 수 있다.
나아가 터치 압력 패널의 물리적인 구성에 따라 격벽(131) 외에 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140)을 지지하는 다른 구성이 있을 수도 있다. 예컨대, 터치 압력 패널의 중심부에 기둥과 같은 구조가 있을 수도 있다. 이하 설명의 편의를 위해 도 1에서 도시한 격벽(131)과 같은 구성이 제1 전극층(120)과 제2 전극층(140) 사이에 있다고 가정한다.
이하 설명하는 압력의 세기를 보정하는 기법은 전술한 정전 용량을 측정하기 위한 터치 압력 패널에 적용할 수 있다.
도 4는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치(200)의 구성을 도시한 블록도의 예이다. 도 4는 정전 용량의 변화량으로 터치 압력의 세기를 측정하는 터치 입력 장치(200)에 대한 예이다.
터치 입력 장치(200)는 터치 패널(210), 제1 전극(125), 제1 전극 회로(225), 제2 전극(145), 제2 전극 회로(245), 컨트롤러 회로(250) 및 메모리(260)를 포함한다.
터치 패널(210)은 복수의 구동 전극과 복수의 수신 전극을 이용하여 터치 입력의 위치를 감지한다. 도면에서 터치 패널(210)에 대한 자세한 구성은 도시하지 않았다.
도 1에서 도시한 바와 같이, 제1 전극(125)은 제1 절연막(121) 상에 형성되고, 제2 전극(145)은 제2 절연막(141) 상에 형성된다. 나아가 제1 전극(125) 또는 제2 전극(145)는 일정한 절연막 상에 형성되지 않고, 하나의 금속층으로 형성될 수도 있다.
제1 전극 회로(225)가 입력신호(T1)를 제1 전극(125)에 인가한다. 제1 전극(125)이 도 2의 (a)~(c), (e), (f)에 표현된 바와 같은 모양을 가지는 경우, 제1 전극(125)은 일체로 형성된 하나의 전극이다. 이 경우 제1 전극 회로(225)는 하나의 신호 (T1)를 제1 전극(125)에 전달한다. 입력신호(T1)는 일례로 기준 전압일 수 있다. 기준 전압은 일례로 접지전압일 수 있다. 입력신호(T1)는 다른 예로 정현파, 구형파, 삼각파 또는 계단 함수일 수 있다. 도 2의 (d)의 경우, 제1 전극(125)은 제1 방향으로 형성된 복수의 전극들을 가진다. 이 경우 제1 전극 회로(225)는 복수의 전극들에게 순차적으로 제공되는 신호(T1)를 제1 전극(125)에 전달한다. 입력신호(T1)는 일례로 정현파, 구형파, 삼각파 또는 계단 함수일 수 있다.
제2 전극 회로(245)는 출력신호(R1)를 제2 전극(145)으로부터 수신한다. 제2 전극(145)이 도 2의 (a) 및 (b)와 같은 모양을 가지는 경우, 제2 전극(145)은 하나의 신호(R1)를 출력한다. 제2 전극(145)이 도 2의 (c) 및 (d)와 같은 모양을 가지는 경우, 제2 전극(145)은 복수의 신호들(R1)을 출력한다. 제2 전극(145)이 도 2의 (e)와 같은 모양을 가지는 경우, 제2 전극(145)은 2개로 전극들(145E1, 145E2)로 구획되며, 그들 중 하나의 전극에는 추가적인 입력신호가 인가되며, 나머지 하나의 전극으로부터 출력신호(R1)가 출력된다. 추가적인 입력신호는 일례로 정현파, 구형파, 삼각파 또는 계단 함수일 수 있다. 제2 전극(145)이 도 2의 (f)와 같은 모양을 가지는 경우, 제2 전극은 제1 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F1) 및 제2 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F2)을 가진다. 제1 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F1)에 추가적인 입력신호가 인가되고, 제2 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F2)으로부터 출력신호(R1)가 출력되거나, 제2 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F2)에 추가적인 입력신호가 인가되고, 제1 방향으로 형성된 복수의 전극들(145F1)으로부터 출력신호(R1)가 출력된다. 추가적인 입력신호는 일례로 정현파, 구형파, 삼각파 또는 계단 함수일 수 있다.
제1 전극 회로(225)가 입력신호(T1)를 제1 전극(125)에 인가하면, 제2 전극 회로(245)가 출력신호(R1)를 수신한다. 제2 전극 회로(245)는 제1 전극(125)과 제2 전극(145) 사이의 정전 용량 또는 제2 전극(145)의 구획된 전극들 간의 정전 용량을 연산할 수 있다. 제2 전극 회로(245)가 정전 용량을 연산한 경우 컨트롤러 회로(250)에 측정한 정전 용량 또는 정전 용량의 변화량을 전달한다. 나아가 컨트롤러 회로(250)가 제2 전극 회로(245)로부터 신호를 받아 정전 용량의 변화량을 연산할 수도 있다.
정전 용량의 변화량은 터치가 없는 시점에서부터 정전 용량이 변화하는 정도를 의미한다. 제2 전극 회로(245) 또는 컨트롤러 회로(250)는 터치가 입력 시작되는 시점의 정전 용량을 기준으로 정전 용량의 변화량을 측정할 수 있다.
컨트롤러 회로(250)는 제1 전극 회로(225) 및 제2 전극 회로(245)를 제어할 수 있다. 나아가 컨트롤러 회로(250)는 터치 패널(210)로부터 터치 입력의 위치를 수신하고, 제2 전극 회로(245)로부터 일정한 수신 신호 또는 정전 용량(정전 용량의 변화량)을 수신할 수 있다. 컨트롤러 회로(250)는 터치의 위치에 따라 터치 압력의 세기를 보정하는 데이터를 맵핑한 보정 테이블을 참조하여, 정전 용량의 변화량(터치 압력의 세기)을 보정한다. 메모리(260)는 보정 테이블을 사전에 저장한다.
예컨대, 컨트롤러 회로(250)는 터치의 위치(x1, y5)에 해당하는 보정값 '5'를 측정한 정전 용량 '10'에 합산하여 정전 용량을 보정(5+10=15)할 수 있다. 여기서 수치는 설명의 편의를 위하여 임의의 자연수를 사용한 것이다.
나아가 컨트롤러 회로(250)는 일정한 보정 함수를 사용하여 정전 용량의 변화를 보정할 수 있다. 보정 함수는 터치 입력의 위치를 변수로 일정한 보정값을 연산하는 함수일 수 있다. 또한 보정 함수는 터치 입력의 위치와 측정된 정전 용량의 변화값을 변수로 이용하여 보정된 정전 용량의 변화값을 연산하는 함수일 수도 있다. 메모리(260)는 보정 함수에 대한 데이터를 저장할 수 있다.
전술한 바와 같이 터치 입력 장치(200)는 터치 입력의 위치에 따라 터치 압력의 세기를 보정한다. 따라서 터치 입력 장치(200)는 터치 입력의 위치를 획득해야 한다. 터치 입력 장치(200)는 터치 패널(210)을 이용하여 터치 입력의 위치를 획득하였다. 그러나 반드시 터치 입력 장치(200)가 터치 패널(210)을 이용하여 터치 입력의 위치를 획득해야 하는 것은 아니다. 예컨대, (1) 터치 입력 장치(200)는 복수의 압력 센서를 이용하여 터치 위치를 획득할 수 있다. 예로서, 제1 전극(125) 및 제2 전극(145)이 도 2의 (c), (d) 및 (f)에 표현된 바와 같은 구조를 가지는 경우에 터치 입력 장치(200)는 입력신호(T1)과 수신신호(R1)을 이용하여 압력의 세기뿐만 아니라 압력의 위치도 검출할 수 있다. (2) 터치 입력 장치(200)는 적외선 센서와 같은 광학 센서를 이용하여 터치 입력의 위치를 획득할 수도 있다. (3) 터치 입력 장치(200)는 카메라로 수집한 영상을 분석하여 터치 입력의 위치를 획득할 수도 있다.
전술한 바와 같이 터치 압력 패널은 상호 정전 용량의 변화량을 측정하는 방식과 자체 정전 용량의 변화량을 측정하는 방식이 있다. 또한 각각의 방식에 대해 터치 입력 장치(200)는 입력 위치에 따라 압력의 세기를 보정할 수 있다. 이하 설명의 편의를 위해 자체 정전 용량의 변화량을 측정하는 방식을 기준으로 설명한다.
도 5은 터치 입력 장치에서 입력 위치에 따라 압력의 세기를 보정하는 방법(300)에 대한 순서도의 예이다.
사용자는 터치 입력 장치(200)의 터치 패널을 터치한다. 다른 말로 하면 터치 입력 장치(200)는 터치 입력을 감지한다(310). 터치 입력에 의해 제1 전극(125)과 제2 전극(145) 사이의 거리가 변화한다.
터치 입력 장치(200)는 터치 입력의 위치에서 제1 전극(125)과 제2 전극(145) 사이의 거리 변화에 따른 정전 용량의 변화를 측정한다(330). 터치 입력 장치(200)는 터치 없는 상태는 기준으로 터치 입력이 발생한 후의 정전 용량을 비교하여 정전 용량의 변화량을 연산한다.
터치 입력 장치(200)는 터치 입력이 발생하면(310) 터치 입력의 위치를 수신한다(340). 다양한 방식을 이용할 수 있지만, 예컨대, 터치 입력 장치(200)는 터치 패널로부터 터치 입력의 위치를 수신할 수 있다.
이후 터치 입력 장치(200)는 터치 입력의 위치에 따라 터치 입력이 발생한 위치의 정전 용량(또는 정전 용량의 변화량)을 보정한다(350).
터치 입력 장치(200) 내지 컨트롤러 회로(250)는 보정 테이블을 사용하여 정전 용량의 변화량을 보정할 수 있다. 전술한 바와 같이 터치 입력 장치(200)가 측정한 정전 용량의 변화 정도에 터치 입력의 위치에 따른 보정 데이터를 합산하여 정전 용량의 변화 정도를 보정할 수 있다. 나아가 터치 입력 장치(200)는 정전 용량의 변화 정도에 터치 입력의 위치에 따른 보정 데이터를 곱하여 정전 용량의 변화 정도를 보정할 수도 있다.
나아가 터치 입력 장치(200) 내지 컨트롤러 회로(250)는 일정한 보정 함수를 사용하여 정전 용량의 변화를 보정할 수 있다. 보정 함수는 터치 입력의 위치를 변수로 일정한 보정값을 연산하는 함수일 수 있다. 또한 보정 함수는 터치 입력의 위치와 측정된 정전 용량의 변화값을 변수로 이용하여 보정된 정전 용량의 변화값을 연산하는 함수일 수도 있다. 메모리(260)가 보정 함수에 대한 데이터를 저장할 수 있다. 또는 컨트롤러 회로(250)가 보정 함수를 임베디드된 형태로 포함할 수 있다.
터치 입력 장치(200)를 구성하는 물질은 환경(온도 내지 습도 등)의 변화, 장치의 노후화 등에 따라 휨 정도가 달라지거나, 휨 특성이 변경될 수 있다. 이 경우 터치 입력 장치(200)는 정전 용량의 변화량을 결정하는 기준을 모니터링할 필요가 있다. 전술한 바와 같이 터치 입력 장치(200)는 터치가 없는 상태를 기준으로 터치 입력 후에 발생하는 정전 용량을 측정하여 터치 압력의 세기를 결정한다. 따라서 정전 용량의 변화량을 결정하는 기준은 터치 입력이 없는 상태에서의 정전 용량 값이라고 할 수 있다. 터치 입력이 없는 상태에서 출력신호로부터 측정되는 정전 용량을 기준 정전 용량(Cm)이라고 명명한다. 터치 압력의 세기는 기준 정전 용량에 비해 정전 용량의 변화(ΔCm)가 얼마나 큰지를 측정하면 알 수 있다.
도 6는 터치 입력 장치에서 입력 위치에 따라 압력의 세기를 보정하는 방법(400)에 대한 순서도의 다른 예이다. 터치 입력 장치(200)는 터치 입력이 발생하지 않은 상태에서 제1 전극과 제2 전극 사이의 자체 정전 용량(기준 정전 용량)을 측정한다(410). 터치 입력 장치(200)는 기준 정전 용량을 측정하고, 기준 정전 용량을 저장한다.
터치 입력 장치(200)는 기준 정전 용량을 측정하고(410), 이전에 측정한 기준 정전 용량과 비교하여 기준 정전 용량에 변화가 생겼는지 판단한다(420). 터치 입력 장치(200)는 기준 정전 용량이 변경된 경우, 터치 압력의 세기를 측정하는 과정에 변경된 기준 정전 용량에 해당하는 값을 반영해야 한다. 터치 입력 장치(200)는 기준 정전 용량의 변화 정도에 따라 보정 테이블을 업데이트할 수 있다(430). 예컨대, 터치 입력 장치(200)는 보정 테이블 전체의 데이터를 일정한 값만큼 더하거나 뺄 수 있다. 또한 터치 입력 장치(200)는 위치에 따른 보정 테이블의 데이터를 서로 다른 값만큼 더하거나 뺄 수도 있다.
터치 입력 장치(200)는 주기적으로 기준 정전 용량의 변화를 측정할 수 있다. 또한 터치 입력 장치(200)는 터치 입력 장치(200)에 전원이 인가되는 시점에 기준 정전 용량의 변화를 측정할 수도 있다.
터치 입력 장치(200)는 터치 입력을 감지한다(440). 터치 입력에 의해 제1 전극과 제2 전극 사이의 거리가 변화한다(450). 터치 입력 장치(200)는 터치 입력의 위치에서 제1 전극과 제2 전극 사이의 거리 변화에 따른 정전 용량의 변화를 측정한다(460). 터치 입력 장치(200)는 터치 입력이 발생하면(440) 터치 입력의 위치를 수신한다(470). 예컨대, 터치 입력 장치(200)는 터치 입력의 위치를 터치 패널로부터 수신할 수 있다. 이후 터치 입력 장치(200)는 보정 테이블을 기준으로 터치 입력의 위치에 따라 터치 입력이 발생한 위치의 정전 용량(또는 정전 용량의 변화량)을 보정한다(480).
도 6은 터치 입력 장치(200)가 보정 테이블을 이용하여 정전 용량의 변화량을 보정하는 예에 관한 것이다. 도 6에 도시한 바와 달리 터치 입력 장치(200)는 전술한 보정 함수를 사용하여 정전 용량의 변화량을 보정할 수도 있다. 이 경우 터치 입력 장치(200)는 430 단계에서 보정 함수를 기준 정전 용량의 변화에 대응하게 수정할 수 있다. 예컨대, 터치 입력 장치(200)는 보정 함수에 사용되는 상수를 정정하거나, 보정 함수에 변수 또는 상수값을 추가할 수 있다.
한편 터치 압력 패널을 사용하는 터치 입력 장치(200)는 복수의 지점에 대한 기준 정전 용량을 측정할 수 있다. 이 경우 터치 입력 장치(200)는 복수의 지점에 대한 기준 정전 용량이 서로 같지 않은 경우 보정 테이블을 업데이트할 수 있다. 터치 입력 장치(200)는 복수의 지점에서 기준 정전 용량을 측정하고, 복수의 지점에 대하여 기준 정전 용량이 서로 동일하지 않은지 판단하여, 보정 테이블을 업데이트할 수도 있다. 이 경우 터치 입력 장치(200)는 기준 정전 용량이 다른 지점과 다른 특정 지점에 대한 보정 데이터만을 업데이트 할 수 있다.
도 6은 터치 입력 장치(200)가 하나의 보정 테이블을 관리하는 예이다. 나아가 터치 입력 장치(200)는 복수의 보정 테이블을 사용할 수 있다. 복수의 보정 테이블은 기준 정전 용량 값에 따라 사전에 결정된 테이블이다. 이 경우 터치 입력 장치(200)는 기준 정전 용량을 측정하고, 해당 기준 정전 용량의 값에 대응하는 보정 테이블을 사용하여 정전 용량의 변화 정도를 보정할 수 있다.
이하 터치 입력 장치(200)가 터치 압력의 세기(정전 용량의 변화량)의 보정하는데 사용하는 보정 테이블에 대한 예를 설명한다. 전술한 바와 같이 콘트롤러 회로(250)가 보정 테이블을 관리하고, 메모리(260)에 보정 테이블을 저장한다. 보정 테이블은 정전 용량을 측정하는 지점(위치)별로 일정한 보정값을 맵핑할 것이다. 터치 입력이 발생하면 터치 입력 장치(200)는 보정 테이블에서 터치 입력의 위치에 대응하는(또는 근접한) 지점을 검색하고, 해당 보정값을 추출하여 측정된 정전 용량을 보정한다. 보정 테이블은 다양한 형태가 이용될 수 있다. (1) 터치 입력 장치의 생산자는 터치 입력 장치의 물리적 구성에 대한 휘어짐 특성 내지 에지 부위의 구조적 특성을 고려하여 사전에 보정 테이블을 생성할 수 있다. (2) 또는 생산자가 터치 입력 장치의 제조 과정에서 복수의 위치에 대한 휘어짐 정도를 측정하고, 측정된 결과를 반영한 보정 테이블을 생성할 수도 있다. (3) 나아가 터치 입력 장치의 물리적 특정 및 구조적 특성을 반영하여 일정한 영역에 대해서는 사전에 보정값을 결정하고, 나머지 영역에 대해서만 제조 과정에서 휘어짐 정도를 측정하고, 측정된 결과를 반영한 보정 테이블을 생성할 수도 있다. 예컨대, 터치 패널의 중심 영역은 일반적으로 휨 정도가 일정하다. 따라서 터치 패널의 중심 영역에 대해서는 일정한 보정값을 사전에 설정하고, 터치 패널의 에지 부분에 대해서만 실제 장치마다 휘어짐 정도를 측정하여 보정 테이블을 생성할 수 있다.
보정 테이블은 일반적으로 터치 패널의 중심 영역에 대해서는 보정을 하지 않거나, 작은 값으로 보정하기 위한 데이터를 저장할 것이다. 또한 보정 테이블은 일반적으로 터치 패널의 에지 영역에 대해서는 측정된 정전 용량보다 더 큰 값으로 보정하기 위한 데이터를 저장할 것이다.
설명의 편의를 위해 스마트폰과 같은 터치 입력 장치에서 특정 영역 내지 위치에 따라 어떤 보정값이 사용되는지 설명한다. 도 7는 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 예이다. 도 7에서 점선 원으로 도시한 영역(A1)은 터치 패널(또는 터치 압력 패널)의 중심 영역을 의미한다. 중심 영역은 측정한 정전 용량에 대해 별도의 보정이 필요하지 않은 영역일 수 있다. 물론 중심 영역의 크기나 모양은 도 7와 다를 수 있다. 터치의 위치는 터치 압력 패널을 기준으로 설명할 수도 있지만, 설명의 편의를 위해 이하 터치 패널을 기준으로 터치의 위치를 설명한다.
도 7(a)는 터치 패널의 중심 위치(C) 및 중심 위치(C)으로부터 터치 패널의 가장 자리 영역에 이른 방향을 화살표로 표시한 예이다. 도 7(b)는 보정 테이블의 값을 일부 도시한 예이다. 터치 입력 장치는 실제 테이블 형태로 보정 테이블을 관리하지만, 도 7(b)는 설명의 편의를 위해 터치 패널의 위치를 기준으로 보정값을 도시한 것이다. 도 7(b)는 중심 영역을 기준(referece)로 삼고, 나머지 역역에 대한 압력의 세기를 보정하는 예이다. 도 7(b)는 중심 영역에서는 측정한 정전 용량을 보정하지 않고, 터치 패널의 중심 위치(C)에서 가장 자리 방향으로 갈수록 큰 보정값을 사용한 예이다. 도 7(b)를 살펴보면 중심 영역에서는 보정값이 '0'이다. 보정값이 '0'인 경우 측정한 정전 용량을 보정하지 않는다는 의미이다. 도 7(b)를 살펴보면 중심 영역을 지나면서 터치 패널의 가장 자리 방향에 이를 수록 보정값이 커진다. 즉 터치 패널의 가장 자리에 가까울 수록 보다 큰 보정값을 반영하여, 실제 측정된 정전 용량의 크기를 보정한다. 보정값이 1 이상인 경우 터치 입력 장치는 보정값에 비례하여 구동 전극과 수신 전극의 거리가 보다 가까운 것으로 보정하는 것이다. 도 7(b)에서는 몇 개의 방향만을 예로 도시한 것이다.
도 8은 터치 입력 장치에서 따라 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 다른 예이다. 도 8에서 점선 원으로 도시한 영역(A1)은 터치 패널의 중심 영역을 의미한다. 도 8(a)는 터치 패널의 중심 위치(C) 및 중심 위치(C)으로부터 터치 패널의 가장 자리 영역에 이른 방향을 화살표로 표시한 예이다. 도 8(b)은 사실 도 7(b)와 동일한 효과를 갖는 보정 테이블에 해당한다. 도 7(b)에서는 터치 패널의 중심 위치(C)에서 가장 자리 방향으로 갈 수록 양으로 큰 보정값을 사용했고, 도 8(b)에서는 터치 패널의 가장 자리에서 중심 위치 방향으로 갈 수록 음으로 큰 보정값을 사용하였다. 도 8(b)에서 도신 보정 테이블을 사용하면, 터치 입력 장치는 터치 패널의 가장 자리에서 측정된 정전 용량을 보정하지 않고, 반대로 가장 자리가 아닌 나머지 영역에서 측정한 정전 용량을 보정한다. 예컨대, 도 8(b)는 가장 가장자리에 있는 지점을 기준(reference)로 나머지 영역에 대한 압력의 세기를 보정한 예이다. 도 8에서 기준 지점 중 하나를 실선 원으로 표시하였다. 이하 설명의 편의를 위해 도 7(b)와 같이 양의 보정값을 사용하는 것을 전제로 설명한다.
도 9은 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 또 다른 예이다. 도 9(a)는 터치 패널의 영역을 구분한 예이다. 도 9(a)에서 A2는 중심 영역을 의미하고, A3는 가장 자리 영역을 의미한다. 도 9(b)는 도 9(a)에서 구분한 영역에 대한 보정값을 도시한 예이다. 도 9(b)를 살펴보면 A2는 '0'이라는 보정값을 갖고, A3는 일괄적으로 '1'이라는 보정값을 갖는다. 즉 터치 입력 장치의 구조적 특성을 고려하여 사전에 일정한 보정값을 사용하는 예이다.
도 10은 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 또 다른 예이다. 도 10(a)는 터치 패널의 영역을 구분한 예이다. 도 10(a)를 살펴보면, A4는 터치 패널의 중심 영역을 나타내고, A5 및 A6는 가장 자리 영역을 나타낸다. 터치 입력 장치는 중심 영역에 대해서는 측정한 정전 용량을 보정하지 않고, 가장 자리 영역에 대해서는 측정한 정전 용량을 보정한다. A5 및 A6는 가장 자리 영역을 추가로 구분한 서브 영역에 해당한다. 터치 입력 장치는 A6 영역에 대해 A5 영역보다 큰 보정값을 적용하여 측정한 정전 용량을 보정할 수 있다. 각 영역의 보정값은 A4 > A5 > A6 관계를 갖는다.
도 10(b)는 터치 패널의 영역을 구분한 다른 예이다. 도 10(b)는 도 10(a)에서 A6 서브 영역을 추가로 구분한 예이다. 터치 입력 장치는 A6b 영역에 대해 A6a 영역보다 큰 보정값을 적용하여 측정한 정전 용량을 보정할 수 있다. 각 영역의 보정값은 A4 > A5 > A6a > A6b의 관계를 갖는다.
도 11는 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 또 다른 예이다. 전술한 바와 같이 터치 압력 패널은 가장 자리에 제1 전극층과 제2 전극층을 지지하는 구조가 존재할 수 있다. 이 경우 가장 자리 부분이 중심 영역보다 덜 휘어진다. 나아가 가장 자리 부분 중에서도 모서리 부분은 다른 가장 자리 부분보다 더 덜 휘어질 가능성이 높다. 제1 전극층과 제2 전극층을 지지하는 구조(격벽 등)가 서로 만나는 지점이기 때문이다.
도 11에서 A7은 터치 패널의 중심 영역을 나타내다. 도 11에서 A8, A9 및 A10은 터치 패널의 가장 자리 영역을 나타낸다. A9은 A8보다 큰 보정값을 갖는다. 모서리 영역인 A10은 A9보다 더 큰 보정값을 갖는 것이 바람직할 수 있다. 각 영역의 보정값은 A7 > A8 > A9 > A10의 관계를 갖는다.
정리하면 보정 테이블은 터치 압력 패널이 터치 위치에 따라 덜 휘어지는 정도를 보정하기 위한 것이다. 결국 보정 테이블은 터치 입력 장치를 구성하는 재료의 물성 및 터치 입력 장치의 구조를 모두 고려하는 것이 바람직하다. 터치 입력 장치의 구조 중에서는 기본적으로 제1 전극층과 제2 전극층을 지지하는 구조가 가장 큰 영향을 미친다고 볼 수 있다. 나아가 제1 전극층 또는 제2 전극층에 형성된 패턴이 제1 전극층 또는 제2 전극층의 휘어짐 정도에 영향을 줄 수도 있을 것이다.
도 12은 전극 패턴을 갖는 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 예이다. 도 12(a)는 터치 압력 패널에서 터치 입력에 따라 휘어지는 제1 전극층 또는 제2 전극층에 형성된 패턴이 예를 도시한 것이다. 도 12(b)는 제1 전극층 또는 제2 전극층에 형성된 패턴의 구조를 고려한 보정 테이블에 대한 예이다. 도 12(b)에서 점선이 패턴의 위치를 도시한다. 도 12(b)를 살펴보면 패턴이 위치하는 영역이 다른 영역보다 덜 휠것이라는 가정하에 패턴이 위치하는 영역에 '1'이라는 보정값을 설정하였다. 터치 패널의 가장 자리 영역에 해당하는 영역에도 '1'이라는 보정값을 설정하였다. 터치 패널의 나머지 영역에는 '0'이라는 보정값을 설정하였다.
제1 전극층 또는 제2 전극층에 형성된 패턴이 휘어짐 정도에 주는 영향은 미미할 수 있다. 도 12은 터치 입력 장치를 구성하는 구조를 고려한 보정 테이블에 대한 하나의 예이다. 예컨대, 가장 자리의 격벽외에 제1 전극층 및 제2 전극층을 지지하는 구조가 다른 영역에 존재한다면, 해당 구조를 고려하여 보정 테이블을 생성해야 할 것이다.
도 13은 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 또 다른 예이다. 도 13은 터치 입력 장치의 제조 과정에서 제작자가 일정한 중심 영역에 대해서는 보정값을 설정하지 않고, 나머지 영역에 대해서만 제조 과정에서 터치 압력 패널의 휘어짐 정도를 측정하여 보정 테이블을 마련하는 예에 해당한다. 도 13(a)는 터치 패널의 중심 영역(A11)과 나머지 영역을 구분한 예이다. 도 13(b)는 도 13(a)에서 구분한 영역에 대한 보정 테이블의 예이다. 도 13(b)를 살펴보면, 중심 영역인 A11에 대해서는 보정을 수행하지 않는다는 의미로 '0'이라는 보정값을 설정하였다. 도 13(b)를 살펴보면, 중심 영역을 제외한 나머지 영역은 실제 휘어짐 정도를 측정하며 보정값을 마련한 예이다. 도 13(b)를 살펴보면 기본적으로 가장 자리 부분이 나머지 위치에 비해 보정값이 큰 것을 알 수 있다.
도 14는 터치 입력 장치에서 압력 세기를 보정하기 위한 보정값의 또 다른 예이다. 도 14는 터치 입력 장치의 제조 과정에서 정전 용량의 측정이 가능한 모든 위치에서 휘어짐 정도를 측정하여 보정 테이블을 마련한 예이다. 도 14를 살펴보면, 도 13과는 도 13의 중심 영역에 해당하는 영역에서도 일부 보정값이 설정되었다. 도 14에서는 정전 용량을 측정할 수 있는 위치에 대한 가로축(x)와 세로축(y)에 대한 좌표를 추가로 도시하였다. 터치 입력 장치는 정전 용량을 측정할 수 있는 위치와 해당 위치에 대한 보정값을 맵핑한 보정 테이블을 저장하고 관리한다.
도 7 내지 도 14는 보정 테이블에 대한 설명이다. 터치 입력 장치가 보정 함수를 사용하는 경우에는 도 7 내지 도 14와 같이 터치 입력의 위치를 고려하여 보정 함수를 마련할 수 있다.
나아가 터치 입력 장치가 도 6과 같이 기준 정전 용량을 모니터링하는 경우 터치 입력 장치는 터치 패널 상의 특정 위치에서 기준 정전 용량이 변경된다면 보정 함수를 수정해야 한다. 전술한 바와 같이 보정 함수는 터치 입력의 위치를 변수로 갖는다. 터치 패널 상의 특정 위치에서 기준 정전 용량이 변경된다면 터치 입력 장치는 해당 특정 위치에 대한 가중치를 부여하거나, 가중치를 수정하여 보정 함수에 반영할 수 있다. 보정 함수를 사용하는 경우 터치 입력 장치는 터치 패널 상의 위치에 따른 가중치를 별도의 테이블로 저장할 수도 있다.
터치 입력 장치는 터치 패널 상의 특정 위치에서 이전에 측정한 기준 정전 용량과 현재 측정한 기준 정전 용량이 상이한 경우 보정 함수를 수정할 수 있다. 나아가 터치 입력 장치가 터치 패널 상의 복수의 위치에서 대한 기준 정전 용량을 측정하고, 복수의 위치 중 서로 다른 기준 정전 용량을 갖는 위치에 대해서는 모든 위치가 동일한 기준 정전 용량을 갖도록 보정 함수를 수정할 수 있다.
본 실시예 및 본 명세서에 첨부된 도면은 전술한 기술에 포함되는 기술적 사상의 일부를 명확하게 나타내고 있는 것에 불과하며, 전술한 기술의 명세서 및 도면에 포함된 기술적 사상의 범위 내에서 당업자가 용이하게 유추할 수 있는 변형 예와 구체적인 실시예는 모두 전술한 기술의 권리범위에 포함되는 것이 자명하다고 할 것이다.

Claims (19)

  1. 터치 입력 장치가 터치 패널을 통해 터치 입력을 감지하는 단계;
    상기 터치 입력 장치가 상기 터치 패널 상에서 상기 터치 입력의 위치를 결정하는 단계;
    상기 터치 입력 장치가 상기 터치 입력에 따른 정전 용량의 변화 정도를 측정하는 단계;
    상기 터치 입력 장치가 상기 터치 입력의 위치에 따라 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는 단계; 및
    상기 터치 입력 장치가 상기 보정된 정전 용량의 변화 정도를 기준으로 상기 터치 입력에 따른 압력의 세기를 측정하는 단계를 포함하는 터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 터치 입력 장치가 상기 터치 입력의 위치에 따라 보정할 데이터를 저장하는 테이블을 사용하여 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는 터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 터치 입력 장치가 상기 터치 입력의 위치를 변수로 갖는 함수를 사용하여 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는 터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 터치 입력 장치는 동일한 정전 용량에 대해 상기 터치 패널의 가장 자리 영역 상의 터치 입력이 상기 터치 패널의 중심 영역 상의 터치 입력보다 정전 용량의 변화 정도가 크도록 보정하는 터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 터치 입력 장치는 상기 터치 패널 상의 영역을 복수의 영역으로 구분하고, 동일한 정전 용량에 대해 상기 복수의 영역 상의 터치 입력에 대해 정전 용량의 변화 정도가 서로 다르도록 보정하는 터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법
  6. 제1항에 있어서,
    상기 터치 입력 장치는 터치 입력이 없는 상태에서의 정전 용량인 기준 정전 용량을 측정하는 단계를 더 포함하는 터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 터치 입력 장치는 상기 터치 패널 상의 특정 위치에서 상기 측정한 기준 정전 용량이 이전에 측정한 기준 정전 용량과 동일하지 않은 경우 기준 정전 용량의 차이값에 따라 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는데 사용되는 함수 또는 보정 테이블을 정정하는 터치 입력 장치에서 터치 압력의 세기를 측정하는 방법.
  8. 제1 전극을 포함하는 제1 전극층;
    제2 전극을 포함하는 제2 전극층;
    상기 제1 전극층과 상기 제2 전극층 사이에 위치하는 스페이서층; 및
    상기 제1 전극층과 상기 제2 전극층 사이의 거리 변화에 따른 정전 용량의 변화량을 측정하고, 터치 입력의 위치에 따라 상기 정전 용량의 변화량을 보정하는 컨트롤러 회로를 포함하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    터치 입력의 위치에 따라 보정할 데이터를 저장하는 테이블을 저장하는 메모리를 더 포함하고, 상기 컨트롤러 회로는 상기 테이블을 사용하여 상기 터치 입력의 위치에 따라 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 컨트롤러 회로는 상기 터치 입력의 위치를 변수로 갖는 함수를 사용하여 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 컨트롤러 회로는 상기 터치 패널 상의 영역을 복수의 영역으로 구분하고, 동일한 정전 용량에 대해 상기 복수의 영역 상의 터치 입력에 대해 정전 용량의 변화 정도가 서로 다르도록 보정하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 컨트롤러 회로는 터치 입력이 없는 상태에서의 정전 용량인 기준 정전 용량을 측정하고, 측정한 기준 정전 용량을 메모리에 저장하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 컨트롤러 회로는 상기 터치 패널 상의 특정 위치에서 상기 측정한 기준 정전 용량이 이전에 측정한 기준 정전 용량과 동일하지 않은 경우 기준 정전 용량의 차이값에 따라 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는데 사용되는 함수 또는 보정 테이블을 정정하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  14. 제1 절연막 상에 형성되고, 상기 제1 절연막에 평행한 방향으로 연장되는 제1 전극을 포함하는 제1 전극층;
    전도성 금속 재질이고, 상기 제1 전극층에 평행한 방향으로 연장되는 금속층;
    상기 제1 전극층과 상기 금속층 사이에 위치하는 스페이서층; 및
    상기 제1 전극층과 상기 금속층 사이의 거리 변화에 따른 정전 용량의 변화량을 측정하고, 터치 입력의 위치에 따라 상기 정전 용량의 변화량을 보정하는 컨트롤러 회로를 포함하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    터치 입력의 위치에 따라 보정할 데이터를 저장하는 테이블을 저장하는 메모리를 더 포함하고, 상기 컨트롤러 회로는 상기 테이블을 사용하여 상기 터치 입력의 위치에 따라 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  16. 제14항에 있어서,
    상기 컨트롤러 회로는 상기 터치 입력의 위치를 변수로 갖는 함수를 사용하여 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 컨트롤러 회로는 상기 터치 패널 상의 영역을 복수의 영역으로 구분하고, 동일한 정전 용량에 대해 상기 복수의 영역 상의 터치 입력에 대해 정전 용량의 변화 정도가 서로 다르도록 보정하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  18. 제14항에 있어서,
    상기 컨트롤러 회로는 터치 입력이 없는 상태에서의 정전 용량인 기준 정전 용량을 측정하고, 측정한 기준 정전 용량을 메모리에 저장하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 컨트롤러 회로는 상기 터치 패널 상의 특정 위치에서 상기 측정한 기준 정전 용량이 이전에 측정한 기준 정전 용량과 동일하지 않은 경우 기준 정전 용량의 차이값에 따라 상기 정전 용량의 변화 정도를 보정하는데 사용되는 함수 또는 보정 테이블을 정정하는 터치 압력의 세기를 감지하는 터치 입력 장치.
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