WO2014084308A1 - 有機el素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置 - Google Patents

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WO2014084308A1
WO2014084308A1 PCT/JP2013/082046 JP2013082046W WO2014084308A1 WO 2014084308 A1 WO2014084308 A1 WO 2014084308A1 JP 2013082046 W JP2013082046 W JP 2013082046W WO 2014084308 A1 WO2014084308 A1 WO 2014084308A1
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organic
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light
electrode
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祐介 山▲崎▼
伸浩 名取
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昭和電工株式会社
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    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/351Thickness

Definitions

  • the present invention relates to an organic EL element, and an image display device and an illumination device including the organic EL element.
  • An organic EL (electroluminescence) element has features such as a wide viewing angle, high-speed response, and clear self-luminous display. In addition, it is expected as a pillar of next-generation lighting devices, image display devices, and the like because of its thin and light weight and low power consumption.
  • Organic EL elements are classified into a bottom emission type in which light is extracted from the support substrate side and a top emission type in which light is extracted from the opposite side of the support substrate, depending on the direction in which the light generated in the organic light emitting layer is extracted. .
  • a bottom emission type organic EL element In a bottom emission type organic EL element, light incident on the transparent substrate out of the light emitted from the light emitting layer passes through the transparent substrate and is extracted outside the element. Of the light emitted from the light emitting layer, the light incident on the interface between the transparent substrate (for example, glass (refractive index: 1.52)) and air (refractive index: 1.0) at a small incident angle below the critical angle is Then, the light is refracted at the interface and taken out of the element. In this specification, these lights are called external mode lights.
  • the light incident on the interface between the transparent substrate and air at an incident angle larger than the critical angle is totally reflected at the interface and is not taken out of the device, and finally Can be absorbed by the material.
  • this light is referred to as substrate mode light, and the loss due to this is referred to as substrate loss.
  • an anode made of a transparent conductive oxide (for example, indium tin oxide (ITO (refractive index: 1.82)) and a transparent substrate (for example, glass (refractive index: 1.52))
  • ITO indium tin oxide
  • a transparent substrate for example, glass (refractive index: 1.52)
  • the light incident on the metal cathode and coupled with the free electron vibration of the metal cathode, and the light captured on the surface of the metal cathode as surface plasmon polariton (SPP) is also outside the device. It is not removed and can eventually be absorbed by the material. In this specification, this light is referred to as SPP mode light, and the loss due to this is referred to as plasmon loss.
  • the light extraction efficiency of the organic EL element is generally limited to about 20% (for example, Patent Document 1). That is, about 80% of the light emitted from the light emitting layer is lost, and it is a big problem to reduce these losses and improve the light extraction efficiency.
  • the extraction of the substrate mode light can be dealt with by providing a light diffusion sheet or the like on the transparent substrate (for example, Patent Document 2). Research on the reduction and extraction of guided mode light and SPP mode light, particularly the reduction and extraction of SPP mode light, has just started.
  • Patent Document 3 discloses a configuration in which a high refractive index layer having a higher refractive index than that of an organic light emitting layer or a transparent electrode is inserted in the vicinity of the organic light emitting layer.
  • Patent Document 2 discloses a configuration in which the refractive index of the organic light emitting layer and the transparent electrode is equivalently lowered by dispersing fine particles having a refractive index lower than that of the organic light emitting layer and the transparent electrode in the organic light emitting layer and the transparent electrode. ing.
  • Patent Documents 4 and 5 disclose a configuration in which cavities (holes) are formed in an anode layer and a dielectric layer sequentially formed on a substrate. Light incident on the side surface of the cavity (interface extending perpendicular to the substrate) is refracted toward the substrate at this interface. With this effect, the ratio of light that causes total reflection can be reduced by changing the incident angle of the guided mode light to a small angle.
  • Patent Documents 6 to 9 As a method for extracting the SPP mode light trapped on the surface of the metal cathode, a configuration in which a periodic uneven structure is formed on the surface of the metal cathode is known (Patent Documents 6 to 9).
  • An organic EL element is usually configured by sandwiching a light emitting layer between an anode and a cathode, and an electron transport layer, an electron injection layer, and the like are laminated between the light emitting layer and the cathode. Therefore, as a method to suppress the influence of SPP trapped by the cathode and increase the light extraction efficiency, it is proposed to increase the film thickness of the electron transport layer, electron injection layer, etc., and physically move the light emitting layer away from the cathode. (For example, Non-Patent Document 1 and Non-Patent Document 2).
  • the conventional method has a problem that the driving voltage of the organic EL element increases because the organic layer between the light emitting layer and the cathode is thickened. Therefore, from the viewpoint of improving power efficiency, it has been difficult to make the organic layer thick enough to suppress the influence of SPP.
  • the organic layer is made thicker, the proportion of guided mode light increases, the light emitted from the light emitting layer is confined in the organic layer, the proportion of light extracted outside the organic EL element decreases, and the luminous efficiency is increased. There was a problem of being lowered. Furthermore, even if the SPP mode light is suppressed and light is extracted into the organic layer, the light extraction efficiency cannot be improved unless the propagating light in the organic layer can be extracted outside the device.
  • An object of the present invention is to provide an organic EL element with improved light extraction efficiency, and an image display device and an illumination device including the organic EL element.
  • the inventors first increase the distance between the light emitting position and the cathode by increasing the thickness of a layer that is disposed in an organic layer such as an electron transport layer or an electron injection layer and has at least a property of transporting electrons. Thus, the energy transfer is suppressed and the SPP generation itself is reduced. Next, it is assumed that the SPP mode light generated is not suppressed even by the thickening, and the generated SPP mode light is taken out into the organic layer. Furthermore, an effective structure that improves the light extraction efficiency out of a number of structures, assuming a light extraction mechanism that extracts the light in the extracted organic layer to the outside of the device without using it as waveguide mode light. We have studied earnestly.
  • the light extraction mechanism for the generated SPP mode light consists of the following two steps.
  • the second electrode side structure of the Otto type arrangement Non-Patent Document 1 that extracts the generated SPP mode light into the organic layer
  • the first electrode side structure that extracts the light in the organic layer to the outside.
  • one of the first electrode and the second electrode is an anode and the other is a cathode.
  • a configuration in which the first electrode is an anode and the second electrode is a cathode will be described as an example.
  • > ⁇ 2 are always satisfied in the light emission frequency region of the element. Therefore, the wave number k sp of SPP is larger than the wave number k of propagating light, and the dispersion curve of SPP does not intersect with the normal dispersion light dispersion line. That is, normal propagating light cannot excite SPP on a flat metal surface. Also, it is not possible to directly extract propagating light from SPP existing on a flat metal surface.
  • an organic EL element for example, when an Otto type arrangement structure in which an organic layer is a high refractive index dielectric is provided, a predetermined incident angle (SPP dispersion curve and evanescent wave dispersion) of light emitted from the organic layer is provided.
  • SPP dispersion curve and evanescent wave dispersion Light incident on the low refractive index dielectric layer from the organic layer at an angle that intersects the straight line) becomes an evanescent wave and excites SPP mode light on the metal surface.
  • the SPP mode light excited on the metal surface can be extracted as propagating light into the organic layer via the evanescent wave generated in the Otto type arrangement structure.
  • the light extracted from the SPP is radiated at a predetermined angle corresponding to the intersection of the SPP dispersion curve and the evanescent wave dispersion line.
  • the SPP mode light extracted up to the organic layer by the above Otto type arrangement may be totally reflected on the surface of the cathode opposite to the organic layer and confined in the organic layer to become a waveguide mode. Therefore, even if the SPP mode light can be extracted, the effect of improving the light extraction efficiency is insufficient. Therefore, an organic layer such as an electron transport layer, an electron injection layer, or a hole blocking layer is further disposed between the light emitting layer and the metal layer in the organic layer. With these layers constituting the organic layer, the distance between the metal layer and the light emitting layer can be increased, and SPP mode light can be further suppressed.
  • the anode side structure has a refractive index that is perpendicular or nearly perpendicular to the substrate surface (a plane parallel to the light emitting surface) so that the light propagating in the organic layer is refracted and the propagation angle after refraction is reduced.
  • the interface of was introduced.
  • An organic EL element comprising a first electrode, an organic layer including a light emitting layer made of an organic EL material, and a second electrode in this order, on the opposite side of the second electrode from the organic layer, A low refractive index layer and a metal layer are provided in order, the refractive index of the low refractive index layer is lower than the refractive index of the organic layer, the organic layer is between the light emitting layer and the second electrode, An organic EL element comprising an organic thick film layer having a thickness of 10 nm to 300 nm, wherein a distance between the light emitting layer and the metal layer is 100 nm to 400 nm.
  • the organic thick film layer is composed of n layers (n is an integer of 1 or more), and the film thickness and mobility of the i-th (i is an integer from 1 to n) sub-layer are set to di and ⁇
  • indicates that the sum for all the sublayers is taken.
  • the unit of the above formula is SI unit system.
  • (3) The organic EL element according to (1) or (2), wherein the refractive index of the low refractive index layer is further lower than the refractive index of the second electrode.
  • the organic EL element according to (3) wherein a refractive index of the second electrode is lower than a refractive index of the organic layer.
  • the low refractive index layer is made of a material having a refractive index smaller by 0.2 or more than at least one of the second electrode and the organic layer.
  • a dielectric layer having a refractive index lower than the refractive index of the organic layer and having a plurality of holes is provided between the first electrode and the second electrode.
  • the organic EL device according to (6) wherein the organic layer further includes a layered portion disposed between the dielectric layer and the hole side surface covering portion and the second electrode. .
  • the first electrode includes a first electrode hole portion that communicates with the hole portion, and the organic layer further includes a first electrode hole inner surface covering portion that covers an inner surface of the first electrode hole portion.
  • the organic EL device according to (6) which has (9) The organic EL device according to (8), wherein the organic layer further includes a layered portion disposed between the dielectric layer and the hole side surface covering portion and the second electrode. .
  • a substrate is provided on a side opposite to the organic layer of the first electrode, the substrate includes a recess communicating with the first electrode hole, and the organic layer further includes a recess covering the inner surface of the recess.
  • the organic EL device according to any one of (8) and (9), which has an inner surface covering portion.
  • An organic EL element comprising a first electrode, an organic layer including a light emitting layer made of an organic EL material, and a second electrode in this order, on the opposite side of the second electrode from the organic layer, A low refractive index layer and a metal layer are provided in order, the refractive index of the low refractive index layer is lower than the refractive index of the organic layer, and the first electrode has a refractive index lower than the refractive index of the first electrode.
  • a plurality of first electrode hole portions whose inner side surfaces are covered with a dielectric layer having the organic layer, and the organic layer has an organic thickness of 10 nm or more and 300 nm or less between the light emitting layer and the second electrode.
  • An organic EL element comprising a film layer, wherein a distance between the light emitting layer and the metal layer is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • An organic EL element comprising a first electrode, an organic layer including a light emitting layer made of an organic EL material, and a second electrode in this order, on the side opposite to the organic layer of the second electrode, A low refractive index layer and a metal layer are provided in order, the refractive index of the low refractive index layer is lower than the refractive index of the organic layer, the first electrode includes a plurality of first electrode holes, and the organic layer The layer includes an organic thick film layer having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer and the second electrode, and a distance between the light emitting layer and the metal layer is 100 nm to 400 nm.
  • the organic layer has a first electrode hole inner surface covering portion that covers an inner surface of the first electrode hole portion.
  • An organic EL element comprising a dielectric layer, a first electrode, an organic layer including a light emitting layer made of an organic EL material, and a second electrode in order, wherein the organic layer of the second electrode Comprises a low refractive index layer and a metal layer in this order on the opposite side, the refractive index of the low refractive index layer being lower than the refractive index of the organic layer, the organic layer comprising the light emitting layer and the second electrode Between the light emitting layer and the metal layer is 100 nm or more and 400 nm or less, and the dielectric layer is formed of the first electrode.
  • the first electrode, the organic layer, the second electrode, the low-refractive-index layer, and the metal layer are formed of a pattern having a refractive index lower than the refractive index and having an opening. It is formed so as to follow the pattern of the layer, The organic EL element that.
  • An organic EL element comprising a first electrode, an organic layer including a light emitting layer made of an organic EL material, and a second electrode in this order, on the side opposite to the organic layer of the second electrode, A low refractive index layer and a metal layer are provided in order, the refractive index of the low refractive index layer is lower than the refractive index of the organic layer, the organic layer is between the light emitting layer and the second electrode, An organic thick film layer having a thickness of 10 nm or more and 300 nm or less, a distance between the light emitting layer and the metal layer being 100 nm or more and 400 nm or less, and a diffraction grating on a side opposite to the organic layer of the first electrode, An organic EL device having any one of a lens structure, a sawtooth structure, and a scattering layer.
  • the organic thick film layer is composed of n layers (n is an integer of 1 or more), and the film thickness and mobility of the i-th (i is an integer from 1 to n) sub-layer are set to di and ⁇ i, respectively.
  • the organic EL element according to any one of (11) to (14), wherein the relationship of the following formula is satisfied; 10 ⁇ 15 [s ⁇ V] ⁇ ⁇ (d i 2 / ⁇ i ) ⁇ 10 ⁇ 4 [s ⁇ V] (I 1, 2, 3,...)
  • indicates that the sum for all the sublayers is taken.
  • the unit of the above formula is SI unit system.
  • An image display device comprising the organic EL element according to any one of (1) to (15).
  • An illumination device comprising the organic EL element according to any one of (1) to (15).
  • an organic EL device having improved light extraction efficiency by suppressing the generation of SPP mode light itself and effectively extracting the generated SPP mode light and waveguide mode light, and the same are provided.
  • An image display device and a lighting device can be provided.
  • the first electrode is described as an anode and the second electrode as a cathode.
  • the first electrode may be a cathode and the second electrode may be an anode.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the first embodiment of the present invention.
  • An organic EL device 10 according to the first embodiment of the present invention includes an anode (first electrode) 2, an organic layer 103 including a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and a cathode (second electrode) on a substrate 1. Electrode) 4 in this order, and a low refractive index layer 5 and a metal layer 6 in this order on the opposite side of the cathode 4 from the organic layer 3.
  • the refractive index of the low refractive index layer 15 is lower than the refractive index of the organic layer.
  • the organic layer 103 includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 4.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 6 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • the film thickness of the organic thick film layer means an average distance between the light emitting layer 3 and the cathode 4 on the metal layer 6 side.
  • the refractive index of the low refractive index layer 5 is preferably lower than the refractive index of the cathode 4.
  • the refractive index of the cathode 4 is preferably lower than the refractive index of the organic layer 3.
  • the refractive index of the organic layer refers to the average refractive index of all layers (including a light emitting layer made of an organic EL material) constituting the organic layer.
  • the organic layer 3 shown in FIG. 1 further includes a layer 19 having a function of transporting at least holes, such as a hole transport layer and a hole injection layer.
  • the refractive index of the low refractive index layer is lower than the refractive index of the organic layer.
  • n L , n C , and n O refractive indexes of the low refractive index layer, the cathode, and the organic layer
  • B pattern n L ⁇ n O ⁇ n C
  • n L ⁇ There are three cases: n C ⁇ n O (hereinafter referred to as “C pattern”) and n C ⁇ n L ⁇ n O (hereinafter referred to as “D pattern”).
  • C pattern n C ⁇ n O
  • D pattern n C ⁇ n L ⁇ n O
  • the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode is an Otto type arrangement.
  • the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode is an Otto type arrangement
  • the configuration of metal layer / low refractive index layer + cathode / organic layer is also an Otto type arrangement.
  • the configuration of the metal layer / low refractive index layer + cathode / organic layer is an Otto type arrangement.
  • the thickness of the cathode and the low refractive index layer is preferably 30 nm to 1 ⁇ m, the light extraction efficiency is improved regardless of the cathode thickness in the B pattern and the C pattern, and the cathode thickness is increased in the D pattern. It was confirmed by the simulation detailed later that the effect of the Otto type arrangement decreases with increasing thickness.
  • the most preferable B to D pattern is the C pattern.
  • the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode is an Otto type arrangement
  • the configuration of metal layer / low refractive index layer + cathode / organic layer is also an Otto type arrangement. Therefore, re-radiation of SPP mode light is most likely to occur from the metal layer. Furthermore, since the refractive index increases in the order of the low refractive index layer, the cathode, and the organic layer, total reflection does not occur at each interface, and the re-radiated SPP mode light is extracted as it is to the substrate side.
  • the low refractive index layer may be air or SOG (spin on glass), and the cathode may be a transparent conductive material layer such as ITO.
  • the B pattern In this case, the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode is an Otto type arrangement. Therefore, re-radiation of SPP mode light occurs from the metal layer.
  • the refractive index of the organic layer is an intermediate value between the low refractive index layer and the cathode, some of the re-radiated SPP mode light is totally reflected at the cathode / organic layer interface, and the remaining light is reflected. Permeates the organic layer.
  • the D pattern is preferred.
  • the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode is not an Otto type arrangement.
  • the structure of the metal layer / low refractive index layer + cathode / organic layer is an Otto type arrangement, re-radiation of SPP mode light occurs from the metal layer.
  • the re-radiation of the SPP mode light is further reduced than in the case of the B pattern.
  • a cathode for example, ITO
  • an organic layer are selected so as to satisfy n C ⁇ n O depending on the magnitude of the refractive index, and the refractive index n L is n C and n O as a low refractive index layer.
  • SOG may be employed.
  • n O ⁇ n C ⁇ n L (hereinafter referred to as “E pattern”) and in the case of n C ⁇ n O ⁇ n L (hereinafter also referred to as “F pattern”), the Otto type arrangement is not achieved.
  • n O ⁇ n L ⁇ n C (hereinafter referred to as “A pattern”), the metal layer / low refractive index layer / cathode is in an Otto type arrangement, and re-emission of SPP mode light occurs from the metal layer.
  • the substrate 1 is a translucent substrate in the case of a bottom emission type organic EL element, and usually needs to be transparent to visible light.
  • transparent to visible light means that it is only necessary to transmit visible light having a wavelength emitted from the light emitting layer, and does not need to be transparent over the entire visible light region.
  • a smooth substrate having a transmittance in visible light of 400 to 700 nm of 50% or more is preferable.
  • glass plates and polymer plates examples include soda lime glass, barium / strontium-containing glass, lead glass, aluminosilicate glass, borosilicate glass, barium borosilicate glass, and quartz.
  • the polymer plate examples include polycarbonate, acrylic, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyether sulfide, and polysulfone.
  • the transmittance is preferably 50% or more and more preferably 70% or more with respect to the wavelength at which light emission has the maximum intensity.
  • a bottom emission type element that extracts light from the substrate side
  • light is emitted from the side opposite to the substrate (second electrode side).
  • an opaque material can be used in addition to the same as described above.
  • a metal material such as stainless steel, Si, SiC, AlN, GaN, Nonmetallic materials such as GaAs and sapphire, and other substrate materials usually used in top emission type organic EL elements can be used.
  • a material having high thermal conductivity is preferably used for the substrate.
  • the thickness of the substrate 1 is not limited because it depends on the required mechanical strength, but is preferably 0.01 mm to 10 mm, more preferably 0.05 mm to 2 mm.
  • the anode 2 is an electrode for applying a voltage to the organic layer 3 between the anode 4 and injecting holes into the organic layer 3 including the light-emitting layer from the anode 2. It is preferable to use a material comprising a compound or a mixture thereof. It is preferable to use one having a work function of 4 eV or more and 6 eV or less so that the difference from the HOMO (Highest Occupied Molecular Orbital) level of the organic layer in contact with the anode does not become excessive.
  • the material of the anode 2 is not particularly limited as long as it is a translucent and conductive material.
  • transparent inorganic oxides such as indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), tin oxide, zinc oxide, PEDOT: PSS (poly (3,4-ethylenedioxythiophene) -poly (styrenesulfonic acid) ), Conductive polymers such as polyaniline, and conductive polymers doped with any acceptor, and transparent carbon materials such as carbon nanotubes and graphene.
  • the anode 2 can be formed on the substrate 1 by, for example, a sputtering method, a vacuum deposition method, a coating method, or the like.
  • the thickness of the anode 2 is not particularly limited, but is, for example, 10 to 2000 nm, preferably 50 to 1000 nm. When the thickness of the anode 2 is less than 10 nm, the waveguide mode light is hardly scattered. If the thickness of the anode 2 is larger than 2000 nm, the flatness of the organic layer 103 cannot be maintained and the transmittance of the anode is lowered.
  • the cathode 4 is an electrode for injecting electrons into the light emitting layer, and it is preferable to use a material made of a metal, an alloy, a conductive compound, or a mixture thereof having a small work function. It is preferable to use a material having a work function of 1.9 eV or more and 5 eV or less so that the difference from the LUMO (Lowest Unoccupied Molecular Orbital) level of the organic layer 3 in contact with the cathode 4 does not become excessive.
  • LUMO Local Unoccupied Molecular Orbital
  • the refractive index of the cathode 4 is preferably lower than the refractive index of the organic layer 3.
  • the thickness of the cathode 4 is not particularly limited, but is, for example, 30 nm to 1 ⁇ m, preferably 50 to 500 nm, and more preferably 30 to 350 nm. If the thickness of the cathode 4 is less than 30 nm, the sheet resistance increases and the driving voltage rises. When the thickness of the cathode 4 is greater than 1 ⁇ m, damage due to heat and radiation during film formation and mechanical damage due to film stress accumulate in the electrode and the organic layer.
  • the organic layer 103 includes a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 2.
  • the thickness of the organic thick film layer 18 is preferably 20 to 300 nm, more preferably 50 to 200 nm, and still more preferably 100 to 150 nm.
  • the thickness of the organic thick film layer 18 is less than 10 nm, the carrier balance between holes and electrons is lost, the internal quantum efficiency is lowered, and even when the Otto type arrangement is combined, the suppression of the SPP mode is insufficient.
  • the thickness of the organic thick film layer 18 exceeds 300 nm, the driving voltage increases.
  • the organic thick film layer 18 is a layer thickened to effectively suppress energy transfer between the light emitting position and the cathode, and there is no particular limitation on the material as long as it has a property of transporting at least electrons. .
  • the organic thick film layer 18 may be an electron injection layer or an electron transport layer, or may be composed of a plurality of layers including them.
  • the electron injection layer generally has a function of improving the efficiency of electron injection from the cathode 4 and is a layer having an effect of lowering the driving voltage of the element.
  • the electron transport layer is a layer having a function of efficiently transporting electrons. Further, it may have a function of suppressing the movement of holes.
  • the layer 19 shown in FIG. 1 may be a hole injection layer or a hole transport layer, or may be composed of a plurality of layers including them.
  • the first electrode is an anode and the second electrode is a cathode.
  • the organic EL element according to the present invention may have a configuration in which the first electrode is a cathode and the second electrode is an anode as described above.
  • the organic thick film layer 18 may include a hole injection layer or a hole transport layer
  • the layer 19 shown in FIG. 1 may include an electron injection layer or an electron transport layer.
  • the organic layer 3 may include a layer made of another organic material.
  • the organic thick film layer is not so conductive, there is a problem that the drive voltage increases when the organic thick film layer is thick. Therefore, it is preferable to use a material with high mobility in order to suppress an increase in driving voltage even when the organic thick film layer is thickened.
  • the relationship between the film thickness and mobility of the organic thick film layer can be expressed by d 2 / ⁇ (d is the film thickness, and ⁇ is the mobility). This corresponds to the resistance of the layer.
  • the organic thick film layer is composed of n layers (n is an integer of 1 or more), and the film thickness and mobility of the i-th (i is an integer from 1 to n) sub-layer are d i and ⁇ i , respectively.
  • n is an integer of 1 or more
  • the film thickness and mobility of the i-th (i is an integer from 1 to n) sub-layer are d i and ⁇ i , respectively.
  • indicates that the sum for all the sublayers is taken.
  • the organic thick film layer is a single layer, the value of ⁇ is d 2 / ⁇ .
  • the unit of the above formula is the SI unit system.
  • the organic thick film layer is preferably within the range of the above formula.
  • the above formula is 10 ⁇ 15 [s ⁇ V] or more, the number of carriers is reduced, and light absorption can be suppressed by the organic layer.
  • the above formula is 10 ⁇ 4 [s ⁇ V] or less, the organic layer has a low resistance and an increase in driving voltage can be suppressed.
  • the above formula is preferably 10 ⁇ 11 [s ⁇ V] or more, more preferably 10 ⁇ 7 [s ⁇ V] or more, and further preferably 10 ⁇ 5 [s ⁇ V]. ] The following should be used.
  • the voltage value of the formula (5) is preferably 1.0 V or less, more preferably 0.5 V or less, and 0.3 V More preferably, it is as follows.
  • the value of the current density j 0.1 mA / cm 2 can be used as a typical value usually used in driving the organic EL element.
  • the organic layer 103 may be formed by a dry process such as an evaporation method or a transfer method. Alternatively, the film may be formed by a wet process such as a spin coating method, a spray coating method, a die coating method, or a gravure printing method.
  • the thickness of the organic layer 103 is not limited, but is, for example, 50 to 2000 nm, and preferably 100 to 1000 nm. When the layer thickness of the organic layer 103 is less than 50 nm, quenching other than SPP coupling by metal, such as reduction of internal QE due to punch-through current and lossy surface wave mode coupling, occurs. When the organic layer 103 is thicker than 1000 nm, the driving voltage increases.
  • the low refractive index layer 5 is provided on the opposite side of the cathode 4 from the organic layer 103 and is made of a material having a refractive index lower than that of the organic layer 103. Further, it is preferable to be made of a material having a lower refractive index than the translucent conductive material constituting the cathode 4.
  • the low refractive index layer 5 is more preferably made of a material having a refractive index smaller by 0.2 or more than at least one of the cathode 4 and the organic layer 103.
  • the material for the low refractive index layer 5 is not particularly limited as long as it is a material having a lower refractive index than the material constituting the organic layer 103.
  • halides such as spin-on-glass (SOG (typical refractive index 1.25)), magnesium fluoride (MgF 2 (refractive index 1.38)), polytetrafluoroethylene (PTFE (refractive index 1.35)) ), Etc., silicon dioxide (SiO 2 (refractive index 1.45)), various low-melting glasses, and porous materials.
  • the low refractive index layer 5 is a layer including an air layer, and may have a lower refractive index than the translucent conductive material constituting the cathode 4. The same applies to later-described embodiments.
  • the thickness of the low refractive index layer 5 is not particularly limited, but is, for example, 20 nm to 1 ⁇ m, preferably 20 to 350 nm, more preferably 50 to 200 nm. If the thickness of the low refractive index layer 5 is less than 20 nm, the SPP is affected by the cathode 4 and the wave number becomes larger than the formula (1), and the SPP is not extracted into the organic layer 3 (propagation light of the organic layer 3 And disperse.) If the thickness of the low refractive index layer 5 is greater than 1 ⁇ m, the evanescent wave of the propagating light in the organic layer 3 will not reach the cathode 4 and SPP will not be extracted.
  • the metal layer 6 is provided on the opposite side of the cathode 4 from the organic layer 103 via a low refractive index layer 5. Since the metal layer 6 is used as a reflective layer for emitted light, a layer with good reflectivity is preferable.
  • the metal layer 6 may have a laminated structure of two or more layers.
  • the above-described material with good reflectivity is likely to cause plasmon resonance due to light emitted from the light emitting layer, but can suppress plasmon resonance by the above-described cathode-side structure of the Ototo type arrangement and the organic thick film layer.
  • the thickness of the metal layer 6 is not particularly limited, but is, for example, 20 to 2000 nm, preferably 50 to 500 nm. When the thickness of the metal layer 6 is less than 20 nm, the reflectance is lowered and the front luminance is lowered. When the thickness of the metal layer 6 is greater than 500 nm, damage due to heat and radiation during film formation and mechanical damage due to film stress accumulate in the electrode and the organic layer.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the second embodiment of the present invention.
  • An organic EL device 20 according to the second embodiment of the present invention includes, on a substrate 11, an anode 12, an organic layer 13 including a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and a cathode 14 in this order. 14 is provided with a low refractive index layer 15 and a metal layer 16 in this order on the side opposite to the organic layer 13.
  • the organic layer 13 includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 14.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 16 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • the refractive index of the low refractive index layer 15 is lower than the refractive index of the organic layer.
  • a dielectric layer 17 having a refractive index lower than that of the organic layer 13 and having a plurality of hole portions 17A is provided between the anode 12 and the cathode 14.
  • the organic layer 13 has a hole inner side surface covering portion 13a that covers the inner surface 17a of the hole portion 17A.
  • the anode 12 includes an anode hole portion 12 ⁇ / b> A (see FIG. 10G) that communicates with the hole portion 17.
  • the substrate 11 includes a recess 11A (see FIG.
  • the organic layer 13 further includes an anode (first electrode) hole inner side surface covering portion 13b covering the inner side surface 12a of the anode (first electrode) hole portion 12A, and a concave portion covering the inner side surface 11a of the concave portion 11A. And a side surface covering portion 13c.
  • the hole inner surface covering portion, the anode hole inner surface covering portion, and the concave inner surface covering portion may be constituted by a part of the layers constituting the organic layer.
  • the organic layer 13 further includes a layered portion 13 d disposed between the dielectric layer 17 and the hole inner surface covering portion 13 a and the cathode 14.
  • the layered portion 13 d includes the light emitting layer 3 and the organic thick film layer 18.
  • the organic layer 13 shown in FIG. 2 further includes a layer 19 having a function of transporting at least holes, such as a hole transport layer and a hole injection layer, on the anode side from the light emitting layer 3.
  • the hole inner surface covering portion, the anode hole inner surface covering portion, and the concave inner surface covering portion may be constituted by a part of the layers constituting the organic layer.
  • the shape of the hole, the anode hole, and the recess is not particularly limited as long as it has an effect of refracting light toward the substrate on the inner surface thereof.
  • a shape in which the area on the hole on the cathode 14 side is smaller than the area on the bottom of the hole on the substrate 11 side is preferable.
  • a shape in which the hole bottom area on the substrate 11 side is smaller than the hole upper area on the cathode 14 side is preferable.
  • the area of the bottom surface of the hole is preferably as small as possible. Therefore, it is desirable that these shapes themselves are small.
  • those inner side surfaces are arranged to be perpendicular to the substrate surface, but such a configuration is not necessary.
  • the angle of the inner side surface of the anode hole portion with respect to the substrate surface is preferably 30 ° or more, more preferably 45 ° or more, and still more preferably 60 ° or more. Further, it may be reverse tapered (the bottom surface of the hole on the substrate 11 side is larger than the top surface of the hole on the light emitting layer 3 side).
  • the substrate 11 since the substrate 11 includes a plurality of recesses 11A, it is preferable that the substrate 11 be a material that can be processed more accurately. Although it does not limit as a preferable material, For example, quartz is mentioned.
  • the anode 12 includes a plurality of anode hole portions 12A (see FIG. 10H), and the inner side surface 12a of the anode hole portion 12A is covered with an organic layer 13 (anode hole inner side surface covering portion 13b). ). Further, the upper surface of the anode 12 is characterized by being covered with a dielectric layer 17. As long as the anode hole inner side surface covering portion 13b covers the inner side surface 12a, the anode hole inner surface covering portion 13a may be filled or may be partially filled.
  • the dielectric layer 17 has a refractive index lower than that of the organic layer 13 and includes a plurality of holes 17A.
  • the inner side surface 17a of the hole 17A is covered with the organic layer 13 (hole inner side surface covering portion 13a).
  • the hole inner surface covering portion 13a may be filled with the hole portion 17A or may be partially filled.
  • the refractive index of the organic layer refers to all the layers constituting the organic layer (including a light emitting layer made of an organic EL material). The average refractive index. The same applies to dielectric layers in the embodiments described later.
  • the material of the dielectric layer 17 is not particularly limited as long as the material has a refractive index lower than that of the organic layer 13.
  • the refractive index of the organic layer 13 is 1.72, for example, a metal fluoride such as SOG (refractive index 1.25) or MgF 2 (1.38), an organic fluorine compound such as PTFE, SiO 2 (1 .45), various low-melting-point glasses, and porous materials.
  • the thickness of the dielectric layer 17 is not particularly limited. For example, it is 10 to 2000 nm, preferably 50 to 1000 nm. If the thickness of the dielectric layer 17 is less than 10 nm, the volume of the dielectric layer 17 with respect to the organic layer becomes small, and the light enters the side surface of the hole 17A from the organic layer 13 but is hardly refracted. When the thickness of the dielectric layer 17 is greater than 2000 nm, it becomes difficult to maintain the flatness of the organic layer 13.
  • the organic layer 13 includes a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 14. The distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 16 is not less than 100 nm and not more than 400 nm.
  • the organic layer 13 includes a layer 19 having a function of transporting at least holes, such as a hole transport layer and a hole injection layer.
  • the organic layer 13 includes a hole inner surface covering portion 13a that covers the inner surface 17a of the hole portion 17A, an anode hole inner surface covering portion 13b that covers the inner surface 12a of the anode hole portion 12A, and the recess 11A.
  • the organic layer 13 further has a layered portion 13 d disposed between the dielectric layer 17 and the hole inner side surface covering portion 13 a and the cathode 14.
  • the effect of the organic EL element of this embodiment is typically demonstrated using FIG.
  • the organic thick film layer 18 has a thickness of 10 nm or more, and the distance between the light emitting layer 3 and the cathode 14 is large, so that energy transfer is difficult and SPP mode light is generated. Itself is suppressed.
  • the propagation method of the light indicated by the arrows in FIG. 2 is used in order to easily explain how the generated SPP mode light is extracted by the characteristic configuration of this embodiment and the principle of its effect. It is shown schematically.
  • a light emission point (or light emission location) APi indicates a light emission point at a position overlapping the anode hole 12A in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in light emission”).
  • the light emission point APo indicates a light emission point at a position overlapping the dielectric layer 17 in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “out light emission”).
  • the light emission point APe indicates light emission at a boundary position between “in light emission” and “out light emission” (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in-out edge light emission”).
  • the arrow AP1 merely schematically shows the propagation of a part of the light in order to explain the function and effect of the present invention.
  • the light indicated by the arrow AP2 and the arrows BP1 to BP4 and the light indicated by the arrows CP1 to CP4 to be described later are merely shown schematically for the propagation of part of the light. The same applies to the light emitted at the APo point and the APe point.
  • refraction occurs at the interface of materials having different refractive indexes, the refraction action is not shown at the interface in the figure which is not particularly necessary for explaining the effects of the present invention.
  • the light extracted from the cathode side structure (cathode 14, low refractive index layer 15, metal layer 16) to the BP point of the organic layer 13 propagates like BP1 and is extracted to the substrate 11. That is, the light BP1 (waveguide mode light) traveling through the organic layer 13 from the BP point is refracted at the interface between the organic layer 13 and the dielectric layer 17 (the inner side surface 17a of the hole 17A). The refracted light passes through the dielectric layer 17, refracts at the interface between the dielectric layer 17 and the anode 12, travels through the anode 12, refracts at the interface between the anode 12 and the substrate 11, and then passes through the substrate 11. It can be taken out through.
  • the light BP1 travels from the organic layer 13 to the dielectric layer 17, the light BP1 enters the substrate 11 due to refraction at the interface between the organic layer 13 and the dielectric layer 17 (the inner surface 17a of the hole 17A).
  • the angle changes to a small angle (an angle closer to the direction perpendicular to the substrate 11).
  • the substrate for example, glass
  • the light is refracted by the refraction at the inner surface 17a of the hole 17A and enters the substrate 11.
  • the angle changes to a smaller angle. Therefore, the light that can avoid total reflection at the interface between the substrate and air is increased, and the light extraction efficiency is improved.
  • the light extraction efficiency is improved by having the configuration including the inner surface 17a of the hole 17A.
  • the refraction causes the incident angle to the substrate 11 to change to a small angle. The light that can avoid total reflection at the interface between the substrate and air is increased, and the light extraction efficiency is improved.
  • the vicinity of the shortest distance between the cathode 14 and the anode 12 has the highest current density and the amount of light emission increases.
  • the light emission at the CPl and CPr points of the light emitting layer included in the organic layer 13 schematically shows the light emission at the point where the light emission amount is large.
  • the light CP1 is light that travels to the substrate side in a direction perpendicular to the substrate, and is not refracted at the interface between the organic layer 13 and the substrate 11. It proceeds through the substrate 11 and is taken out to the outside.
  • the light CP2 is refracted at the interface between the organic layer 13a and the dielectric layer 17 (the inner surface 17a of the hole 17A).
  • the refracted light passes through the dielectric layer 17, refracts at the interface between the dielectric layer 17 and the anode 12, travels through the anode 12, refracts at the interface between the anode 12 and the substrate 11, and then passes through the substrate 11. It can be taken out through.
  • the incident angle to the substrate 11 is small due to refraction at the interface between the organic layer 13a and the dielectric layer 17 (the inner surface 17a of the hole 17A). Change to angle.
  • the light CP4 traveling through the organic layer 13 from the CP1 point is an interface between the organic layer 13c and the convex portion 11B of the substrate 11 (inner side surface 11a of the concave portion 11A (the convex portion 11B of the substrate 11 extending perpendicularly to the substrate 11).
  • the refraction causes the incident angle to the substrate 11 to be changed to a small angle.
  • the effect of improving the light extraction efficiency is obtained.
  • the same effect as the light emitted at the CPl point can be obtained.
  • FIG. 3 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the third embodiment of the present invention.
  • An organic EL element 30 according to the third embodiment of the present invention includes, on a substrate 21, an anode 22, an organic layer 23 including a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and a cathode 24 in this order.
  • the low refractive index layer 25 and the metal layer 26 are sequentially provided on the side opposite to the organic layer 23 of 24.
  • the organic layer 23 includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 24.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 26 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • the refractive index of the low refractive index layer 25 is lower than the refractive index of the organic layer.
  • a dielectric layer 27 having a refractive index lower than that of the organic layer 23 and having a plurality of hole portions 27A is provided between the anode 22 and the cathode 24.
  • the organic layer 23 has at least a hole inner surface covering portion 23a that covers the inner surface 27a of the hole 27A.
  • the organic layer 23 further has a layered portion 23 b disposed between the dielectric layer 27 and the hole inner surface covering portion 23 a and the cathode 24.
  • the layered portion 23 b includes the light emitting layer 3 and the organic thick film layer 18.
  • the organic layer 23 shown in FIG. 3 further includes a layer 19 having a function of transporting at least holes, such as a hole transport layer and a hole injection layer, closer to the anode side than the light emitting layer 3.
  • the hole inner surface covering portion 23 a may be constituted by a part of the layers constituting the organic layer 23.
  • the shape of the hole is not particularly limited as long as it has an effect of refracting light toward the substrate on its inner surface. From the viewpoint of refracting the light in the organic layer 23 more vertically, a shape in which the bottom area on the cathode 24 side is smaller than the bottom area on the anode 22 side is preferable. From the viewpoint of extracting light rays such as BQ1 straight up to the substrate without being refracted, a shape in which the area on the anode 22 side is smaller than the bottom area on the cathode 24 side is preferable. From the viewpoint of strongly diffracting the light in the organic layer 23 and taking it out with a smaller propagation distance, a shape having a bottom area as small as possible is preferable. In the example shown in FIG. 3, the inner side surface is configured to be arranged perpendicular to the substrate surface, but such a configuration is not necessary.
  • the angle of the inner side surface 27a of the hole 27A with respect to the substrate surface is preferably 30 ° or more, more preferably 45 ° or more, and still more preferably 60 ° or more. Further, a reverse taper may be used (the bottom surface of the hole on the substrate 21 side is larger than the top surface of the hole on the light emitting layer 3 side).
  • the dielectric layer 27 has a refractive index lower than that of the organic layer and includes a plurality of holes 27A.
  • the inner surface 27a of the hole 27A is covered with the organic layer 23 (hole inner surface covering portion 23a). As long as the inner surface 27a of the hole covers the inner surface 27a, the hole inner surface 27a may be filled with the hole 27A or may be partially filled.
  • the material and thickness of the dielectric layer 27 the same material and thickness as those of the first embodiment can be used.
  • the organic layer 23 includes a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 24.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 26 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • the organic layer 23 includes a hole inner surface covering portion 23a that covers the inner surface 27a of the hole 27A, and a layered portion disposed between the dielectric layer 27 and the hole inner surface covering portion 23a and the cathode 24. 23b.
  • the effect of the organic EL element of this embodiment is typically demonstrated using FIG.
  • the light propagation method indicated by the arrows in FIG. 3 is schematically shown in order to easily understand the principle of the effect.
  • the organic thick film layer 18 has a thickness of 10 nm or more, and the distance between the light emitting layer 3 and the cathode 14 is large. The occurrence itself is suppressed.
  • the propagation method of the light indicated by the arrows in FIG. 3 is used in order to easily understand how the generated SPP mode light is extracted by the characteristic configuration of this embodiment and the principle of its effect. It is shown schematically.
  • the light traveling toward the cathode 24 is incident at the interface between the cathode 24 and the low refractive index layer 25 at an incident angle greater than the critical angle ( Arrow AQ1)
  • an evanescent wave (arrow AQ2) is generated in the low refractive index layer 25.
  • the generated evanescent wave squeezes out to the interface between the metal layer 26 and the low refractive index layer 25, and the SPP (arrow AQ3) is excited.
  • the excited SPP mode light is radiated to the cathode 24 at a predetermined angle (arrow AQ5) via resonance with the evanescent wave (arrow AQ4), and can be extracted to the organic layer 23 as guided mode light.
  • a light emission point (or light emission location) AQi indicates a light emission point at a position overlapping the hole 27A (position facing the anode 22 through the organic layer 23) in plan view (hereinafter this point).
  • the light emission at is sometimes referred to as “in light emission”).
  • the light emission point AQo indicates a light emission point at a position overlapping the dielectric layer 27 in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “out light emission”).
  • the light emission point AQe indicates light emission at the boundary between “in light emission” and “out light emission” (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in-out edge light emission”).
  • the light extracted from the cathode side structure (cathode 24, low refractive index layer 25, metal layer 26) to the BQ point of the low refractive index layer 25 propagates like BQ1 and is extracted to the substrate 21 depending on the angle at which it is extracted. . That is, the light BQ1 traveling through the organic layer 23 from the point BQ is refracted at the interface between the organic layer 23 and the dielectric layer 27 (the inner side surface 27a of the hole 27A). The refracted light passes through the dielectric layer 27, refracts at the interface between the dielectric layer 27 and the anode 22, travels through the anode 22, refracts at the interface between the anode 22 and the substrate 21, and then passes through the substrate 21. It can be taken out through.
  • the incident angle to the substrate 21 is small due to refraction at the interface between the organic layer 23a and the dielectric layer 27 (inner side surface 27a of the hole 27A). Change to angle. Light incident at an angle greater than the critical angle is totally reflected at the interface between the substrate (for example, glass) and air, but the incident angle on the substrate 21 is changed to a small angle by refraction at the inner surface 27a of the hole 27A. . Therefore, light that can avoid total reflection at the interface between the substrate 21 and the anode 22 and the interface between the substrate 21 and the air is increased, and the light extraction efficiency is improved. That is, the light extraction efficiency is improved by having the configuration including the inner side surface 27a of the hole 27A.
  • the light CQ1 is light traveling toward the substrate side in a direction perpendicular to the substrate.
  • the light passes through the anode 22 and the substrate 21 without being refracted at the interface between the organic layer 23 and the anode 22 and the interface between the anode 22 and the substrate 21 and is taken out to the outside.
  • the light CQ2 is refracted toward the substrate 21 at the inner surface 27a of the hole 27A, refracted at the interface between the organic layer 23 and the anode 22, and can be extracted outside through the anode 22 and the substrate 21.
  • the light CQ3 is refracted at the inner surface 27a of the hole 27A toward the substrate 21 and the incident angle of the waveguide mode light on the substrate 21 is changed to a small angle, and is refracted at the interface between the organic layer 23 and the anode 22. Then, it can be taken out through the anode 22 and the substrate 21.
  • FIG. 4 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the fourth embodiment of the present invention.
  • An organic EL device 40 according to the fourth embodiment of the present invention includes, on a substrate 31, an anode 32, an organic layer 33 including a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and a cathode 34 in this order. 34 is provided with a low refractive index layer 35 and a metal layer 36 on the opposite side of the organic layer 33.
  • the organic layer 33 includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 34.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 36 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • the refractive index of the low refractive index layer 35 is lower than the refractive index of the organic layer 33.
  • a dielectric layer 37 having a refractive index lower than that of the organic layer 33 and having a plurality of holes 37A is provided.
  • the organic layer 33 has at least a hole inner surface covering portion 33a that covers the inner surface 37a of the hole 37A.
  • the anode 32 includes an anode hole portion 32A that communicates with the hole portion 37A, and the organic layer further includes an anode hole inner surface covering portion 33b that covers the inner surface 32a of the anode hole portion 32A.
  • the organic layer 33 further has a layered portion 33 c disposed between the dielectric layer 37 and the hole inner surface covering portion 33 a and the cathode 34.
  • the layered portion 33 c includes the light emitting layer 3 and the organic thick film layer 18.
  • the organic layer 33 shown in FIG. 4 further includes a layer 19 having a function of transporting at least holes, such as a hole transport layer and a hole injection layer, closer to the anode side than the light emitting layer 3.
  • the hole inner surface covering portion and the anode hole inner surface covering portion may be constituted by a part of the layers constituting the organic layer.
  • the shape of the hole and the anode hole is not particularly limited as long as it has an effect of refracting light toward the substrate on the inner surface thereof. From the viewpoint of refracting light in the organic layer 33 more vertically, a shape in which the hole top area on the cathode 34 side is smaller than the hole bottom area on the substrate 31 side is preferable. From the viewpoint of extracting light rays such as BR1 straight up to the substrate without being refracted, a shape in which the hole bottom area on the substrate 31 side is smaller than the hole upper area on the cathode 34 side is preferable.
  • the area of the bottom surface of the hole is as small as possible.
  • those inner side surfaces are arranged perpendicular to the substrate surface, but such a configuration is not necessary.
  • the angle between the inner surface of the anode hole and the inner surface of the hole with respect to the substrate surface is preferably 30 ° or more, more preferably 45 ° or more, and even more preferably 60 ° or more. Further, a reverse taper may be used (the bottom surface of the hole on the substrate 31 side is larger than the top surface of the hole on the light emitting layer 3 side).
  • the anode 32 has a plurality of anode hole portions 32A.
  • the inner side surface 32a of the anode hole portion 32A is covered with an organic layer 33 (anode hole inner side surface covering portion 33b).
  • the upper surface of the anode 32 is covered with a dielectric layer 37.
  • the anode hole inner side surface covering portion 33b covers the inner side surface 32a, the anode hole portion 32A may be filled or partially filled.
  • the dielectric layer 37 has a refractive index lower than that of the organic layer and includes a plurality of holes 37A.
  • the inner side surface 37a of the hole 37A is covered with an organic layer 33 (inner hole side surface covering portion 33a). As long as the hole inner surface covering portion 33a covers the inner surface 37a, the hole inner surface covering portion 33a may be filled with the hole portion 37A or may be partially filled.
  • the organic layer 33 includes a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 32, and the light emitting layer 3 and the metal
  • the distance between the layers 36 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • the organic layer 33 includes a hole inner surface covering portion 33a that covers the inner surface 37a of the hole portion 37A, an anode hole inner surface covering portion 33b that covers the inner surface of the anode hole portion 32A, the dielectric layer 37, and the It has a layered portion 33 c disposed between the hole inner surface covering portion 33 a and the cathode 34.
  • the effect of the organic EL element of this embodiment is typically demonstrated using FIG.
  • the light propagation method indicated by the arrows in FIG. 4 is schematically shown in order to easily understand the principle of the effect.
  • the organic thick film layer 18 has a thickness of 10 nm or more, and the distance between the light emitting layer 3 and the cathode 34 is large, so that the energy transfer is difficult, and the SPP mode light The occurrence itself is suppressed.
  • the propagation method of the light indicated by the arrows in FIG. 4 is used in order to easily understand how the generated SPP mode light is extracted by the characteristic configuration of this embodiment and the principle of its effect. It is shown schematically.
  • the light traveling toward the cathode 34 is incident at the interface between the cathode 34 and the low refractive index layer 35 at an incident angle greater than the critical angle ( (Arrow AR1) When totally reflected (Arrow AR1r), an evanescent wave (Arrow AR2) is generated in the low refractive index layer 35.
  • the generated evanescent wave swells to the interface between the metal layer 36 and the low refractive index layer 35, and the SPP (arrow AR3) is excited.
  • the excited SPP is radiated to the cathode 34 at a predetermined angle (arrow AR5) via resonance with the evanescent wave (arrow AR4), and can be extracted to the organic layer 33 as guided mode light.
  • a light emission point (or light emission point) ARi indicates a light emission point at a position overlapping with the hole 37A in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in light emission”).
  • the light emission point ARo indicates a light emission point at a position overlapping the dielectric layer 37 in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “out light emission”).
  • the light emission point Ae indicates light emission at a boundary position between “in light emission” and “out light emission” (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in-out edge light emission”).
  • the refracted light passes through the dielectric layer 37, further refracts at the interface between the dielectric layer 37 and the anode 32, travels through the anode 32, refracts at the interface between the anode 32 and the substrate 31, and then enters the substrate 31. Can be taken out through.
  • the incident angle to the substrate 31 is small due to refraction at the interface between the organic layer 33a and the dielectric layer 37 (inner side surface 37a of the hole 37A). Change to angle. In a configuration without this interface (inner surface 37a), total reflection may occur at the interface between the substrate 31 and the anode 32 and the interface between the substrate 31 and the air.
  • the incident angle of the propagating light in the organic layer to the substrate 31 changes to a small angle due to refraction at the inner side surface 37a of the hole 37A. Therefore, the light that can avoid total reflection increases and the light extraction efficiency is improved. That is, the light extraction efficiency is improved by having the configuration including the inner side surface 37a of the hole portion 37A.
  • the current density is highest near the shortest distance between the cathode 34 and the anode 32, and the amount of light emission is increased.
  • the light emission at the CRl and CRr points of the light emitting layer included in the organic layer 33 schematically shows the light emission at the point where the light emission amount is large.
  • the light CR1 is light traveling toward the substrate side in a direction perpendicular to the substrate. Therefore, the light advances through the substrate 31 without being refracted at the interface between the organic layer 33 and the substrate 31 and is taken out to the outside.
  • the light CR2 is refracted toward the substrate 31 at the inner surface 37a of the hole 37A.
  • the refracted light passes through the dielectric layer 37, refracts at the interface between the dielectric layer 37 and the anode 32, travels through the anode 32, refracts at the interface between the anode 32 and the substrate 31, and then passes through the substrate 31. It can be taken out through.
  • the incident angle to the substrate 31 is small due to refraction at the interface between the organic layer 33 and the dielectric layer 37 (the inner surface 37a of the hole 37A). Change to angle.
  • FIG. 5 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the fifth embodiment of the present invention.
  • An organic EL device 50 according to the fifth embodiment of the present invention includes, on a substrate 41, an anode 42, an organic layer 43 including a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and a cathode 44 in this order. 44, a low refractive index layer 45 and a metal layer 46 are provided in this order on the side opposite to the organic layer 43.
  • the organic layer 43 includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 44.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 46 is not less than 100 nm and not more than 400 nm.
  • the refractive index of the low refractive index layer 45 is lower than the refractive index of the organic layer.
  • the anode 42 includes a plurality of anode hole portions 42A (see FIG. 13E) whose inner side surface 42a is covered with a dielectric layer 47 having a refractive index lower than that of the anode 42. 5 further includes a layer 19 having a function of transporting at least holes, such as a hole transport layer and a hole injection layer, closer to the anode side than the light emitting layer 3.
  • the shape of the anode hole is not particularly limited as long as it has an effect of refracting light toward the substrate on the inner surface. From the viewpoint of refracting the light in the organic layer 43 more vertically, a shape in which the bottom area on the cathode 44 side is larger than the bottom area on the substrate 41 side is preferable. From the viewpoint of extracting light rays such as B2 straight up to the substrate without being refracted, a shape having a larger area on the substrate 41 side than a bottom area on the cathode 44 side is preferable. From the viewpoint of strongly diffracting the light in the organic layer 43 and taking it out with a smaller propagation distance, a shape having as large a bottom surface area as possible is preferable. In order not to increase the sheet resistance of the anode, the bottom areas of the holes on the substrate 41 side and the cathode 44 side should be as small as possible.
  • the inner side surface 42 a of the anode hole is configured to be arranged perpendicular to the substrate surface, but is not limited to this configuration.
  • the angle of the inner surface of the anode hole with respect to the substrate surface is preferably 30 ° or more, more preferably 45 ° or more, and still more preferably 60 ° or more. Further, it may be reverse tapered (the bottom surface of the hole on the substrate 41 side is larger than the top surface of the hole on the light emitting layer 3 side).
  • the inner side surface 42a of the anode hole By setting the inner side surface 42a of the anode hole to such an angle, the light traveling from the light emitting position toward the anode side and the light re-radiated from the SPP mode light to the organic layer 43 are incident on the inner side surface 42a of the anode hole from the outside. Incident light is refracted to the substrate side, and is taken out from the outer surface of the substrate.
  • the anode 42 includes a plurality of anode holes 42A (see FIG. 13 (e)).
  • the inner side surface 42a of the anode hole portion 42A is covered with a dielectric layer 47 having a refractive index lower than that of the anode 42.
  • the dielectric layer 47 covers the inner side surface 42a, the anode layer 42A may be filled or may be partially filled.
  • the dielectric layer 47 covers the inner side surface 42a of the anode hole 42A of the anode 42 and is made of a material having a refractive index lower than that of the anode 42.
  • the reason why the dielectric layer 47 has such a configuration and material is that light incident on the inner surface 42a of the anode hole portion 42A is refracted toward the substrate 41 at this interface.
  • the organic layer 43 includes the light emitting layer 3 made of an organic EL material, and includes the organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 42, and the light emitting layer 3 and the metal
  • the distance between the layers 46 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • the effect of the organic EL element of this embodiment is typically demonstrated using FIG.
  • the light propagation method indicated by the arrows in FIG. 5 is schematically shown in order to easily understand the principle of the effect.
  • the organic thick film layer 18 has a thickness of 10 nm or more, and the distance between the light emitting layer 3 and the cathode 44 is large. The occurrence itself is suppressed.
  • the propagation method of the light indicated by the arrows in FIG. 5 is used in order to easily understand how the generated SPP mode light is extracted by the characteristic configuration of this embodiment and the principle of its effect. It is shown schematically.
  • the light traveling toward the cathode 44 is incident at the interface between the cathode 44 and the low refractive index layer 45 at a large incident angle greater than the critical angle ( Arrow AS1)
  • an evanescent wave (arrow AS2) is generated in the low refractive index layer 45.
  • the generated evanescent wave squeezes out to the interface between the metal layer 46 and the low refractive index layer 45, and the SPP (arrow AS3) is excited.
  • the excited SPP is radiated to the cathode 44 at a predetermined angle (arrow AS5) through resonance with the evanescent wave (arrow AS4), and can be extracted to the organic layer 43 as guided mode light.
  • a light emission point (or light emission location) ASi indicates a light emission point at a position overlapping the electrode in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in light emission”).
  • the light emission point ASo indicates a light emission point at a position overlapping the electrode in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “out light emission”).
  • the light emission point ASe indicates light emission at the boundary position between “in light emission” and “out light emission” (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in-out edge light emission”).
  • the light extracted from the cathode side structure (cathode 44, low refractive index layer 45, metal layer 46) to the BS point of the low refractive index layer 45 propagates like BS1 and is extracted to the substrate 41 depending on the extraction angle. . That is, the light BS1 (guided mode light) traveling through the organic layer 43 from the BS point is refracted at the interface between the organic layer 43 and the anode 42, passes through the anode 42, and passes between the anode 42 and the dielectric layer 47. The light is refracted at the interface (the inner side surface 42a of the anode hole portion 42A). The refracted light can be further refracted at the interface between the dielectric layer 47 and the substrate 41 and then taken out through the substrate 41.
  • the angle of incidence on the substrate 41 is small due to refraction at the interface between the dielectric layer 47 and the anode 42 (the inner side surface 42a of the anode hole portion 42A). Changes to. Light incident at an angle greater than the critical angle is totally reflected at the interface between the substrate (for example, glass) and air, but the incident angle on the substrate 41 is changed to a small angle by refraction at the inner surface 42a. Therefore, the light that can avoid total reflection at the interface between the substrate and air is increased, and the light extraction efficiency is improved. That is, the light extraction efficiency is improved by having the configuration including the inner side surface 42a of the anode hole portion 42A.
  • the light CS1 is light traveling toward the substrate side perpendicular to the substrate. Therefore, the light passes through the anode 42 and the substrate 41 without being refracted at the interface between the organic layer 43 and the anode 42 and the interface between the anode 42 and the substrate 41 and is taken out to the outside.
  • the light CS2 is refracted at the interface between the organic layer 43 and the anode 42, enters the anode 42, passes through the anode 42, and is transmitted at the interface between the anode 42 and the dielectric layer 47 (the inner side surface 42a of the anode hole portion 42A). Refract.
  • the refracted light can be further refracted at the interface between the anode 42 and the substrate 41 and then taken out through the substrate 41.
  • the angle of incidence on the substrate 41 is small due to refraction at the interface between the dielectric layer 47 and the anode 42 (the inner side surface 42a of the anode hole portion 42A). Changes to. Light incident at an angle greater than the critical angle is totally reflected at the interface between the substrate (for example, glass) and air, but the incident angle on the substrate 41 is changed to a small angle by refraction at the inner side surface 42a. Therefore, the light that can avoid total reflection at the interface between the substrate and air is increased, and the light extraction efficiency is improved. That is, the light extraction efficiency is improved by having the configuration including the inner side surface 42a of the anode hole portion 42A.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the sixth embodiment of the present invention.
  • An organic EL device 60 according to the sixth embodiment of the present invention includes, on a substrate 51, an anode 52, an organic layer 53 including a light emitting layer made of an organic EL material, and a cathode 54 in this order.
  • the low refractive index layer 55 and the metal layer 56 are sequentially provided on the side opposite to the organic layer 53.
  • the organic layer 53 includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 54.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 56 is not less than 100 nm and not more than 400 nm.
  • the refractive index of the low refractive index layer 55 is lower than the refractive index of the organic layer 53.
  • the anode 52 includes a plurality of anode hole portions 52A (see FIG. 14E).
  • the organic layer 53 is disposed between an anode hole inner surface covering portion 53a that covers the inner surface 52a of the anode hole 52A, and between the anode 52 and the anode hole inner surface covering portion 53a and the cathode 54. And a layered portion 53b.
  • the 6 includes a layer 19 having a function of transporting at least holes, such as a hole transport layer and a hole injection layer, on the anode side from the light emitting layer 3.
  • the anode hole inner side surface covering portion 53 a is composed of the layer 19, the anode hole inner side surface covering portion 53 a may be constituted by a part of the layers constituting the organic layer 53.
  • the shape of the anode hole 52A is not particularly limited as long as it has an effect of refracting light toward the substrate on the inner surface thereof. From the viewpoint of refracting light in the organic layer 53 more vertically, a shape in which the bottom area on the cathode 54 side is smaller than the bottom area on the substrate 51 side is preferable. From the viewpoint of extracting light emitted obliquely from the SPP to the organic layer 53 to the substrate straight without refraction, a shape having a smaller area on the substrate 51 side than a bottom area on the cathode 54 side is preferable. From the viewpoint of strongly diffracting the light in the organic layer 53 and extracting it with a smaller propagation distance, a shape having the smallest possible bottom area is preferable.
  • the inner side surface is configured to be arranged perpendicular to the substrate surface, but such a configuration is not necessary.
  • FIG. 6 shows an example in which the refractive index of the organic layer 53 is lower than the refractive index of the anode 52, the present invention is not limited to this. Even in the reverse case, the direction of the light beam can be changed to a direction where the incident angle to the substrate is small, so that the light extraction efficiency can be improved. For example, when light travels from the organic layer 53 into the anode 52 through the anode hole 52A, the incident angle on the substrate 51 is changed to a small angle due to refraction, so that the light extraction efficiency is improved.
  • the angle of the inner surface 52a of the anode hole 52A with respect to the substrate surface is preferably 30 ° or more, more preferably 45 ° or more, and still more preferably 60 ° or more. Further, it may be reverse tapered (the bottom surface of the hole on the substrate 51 side is larger than the top surface of the hole on the light emitting layer 3 side).
  • the inner side surface 52a of the anode hole 52A By setting the inner side surface 52a of the anode hole 52A to such an angle, the light directed from the light emitting position toward the anode side and the light re-radiated from the SPP mode light into the organic layer 53 are disposed on the inner side surface 52a of the anode hole 52A. Is incident from the outside and refracted toward the substrate side, and is taken out from the outer surface of the substrate.
  • the effect of the organic EL element of this embodiment is typically demonstrated using FIG.
  • the light propagation method indicated by the arrows in FIG. 6 is schematically shown in order to easily understand the principle of the effect.
  • the organic thick film layer 18 has a thickness of 10 nm or more, and the distance between the light emitting layer 3 and the cathode 54 is large. The occurrence itself is suppressed.
  • the propagation method of the light indicated by the arrows in FIG. 5 is used in order to easily understand how the generated SPP mode light is extracted by the characteristic configuration of this embodiment and the principle of its effect. It is shown schematically.
  • the light traveling toward the cathode 54 is incident at the interface between the cathode 54 and the low refractive index layer 55 at an incident angle greater than the critical angle.
  • Arrow AT1r When totally reflected (Arrow AT1r), an evanescent wave (Arrow AT2) is generated in the low refractive index layer 55. The generated evanescent wave swells to the interface between the metal layer 56 and the low refractive index layer 55, and the SPP (arrow AT3) is excited.
  • a light emission point (or light emission location) ATi indicates a light emission point at a position overlapping the anode 52 in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in light emission”).
  • the light emission point Ao indicates a light emission point at a position between the adjacent anodes 52 in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “out light emission”).
  • the light emission point Ae indicates light emission at a boundary position between “in light emission” and “out light emission” (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in-out edge light emission”).
  • in-out edge light emission For “out emission” and “in-out edge emission”, the arrow indicating total reflection at the interface between the cathode 54 and the low refractive index layer 55 is omitted.
  • the propagation of light after SPP (arrow AT3) excitation is “ This is similar to the case of “in light emission”. Since the current flows between the cathode and the anode, the light emission point ATi is located in a route having a higher current density than the light emission point ATo, so that “in light emission” has a larger light emission amount than “out light emission”.
  • the light extracted from the cathode side structure (cathode 55, low refractive index layer 55, metal layer 56) to the BT point of the organic layer 53 propagates like BT1 and is extracted to the substrate 51. That is, the light BT1 traveling through the organic layer 53 from the BT point is refracted toward the substrate 51 at the interface between the organic layer 53a and the anode 52 (the inner surface 52a of the anode hole portion 52A). The refracted light passes through the anode 52 and is refracted at the interface between the anode 52 and the substrate 51, and then can be extracted outside through the substrate 51.
  • the angle of incidence on the substrate 51 is small (substrate) due to refraction at the interface between the organic layer 53a and the anode 52 (inner side surface 52a of the anode hole 52A). 51) (an angle closer to the vertical direction).
  • Light incident at an angle greater than the critical angle at the interface between the anode 52 and the substrate (for example, glass) 51 and at the interface between the substrate 51 and air is totally reflected, but at the inner surface 52a of the anode hole 52A.
  • the incident angle to the substrate 1 is changed to a small angle by refraction. Therefore, the light that can avoid the total reflection increases and the light extraction efficiency is improved. That is, the light extraction efficiency is improved by having the configuration including the inner side surface 52a of the anode hole 52A.
  • the light CT1 is light that travels to the substrate side perpendicular to the substrate, and the interface between the organic layer 53 and the anode 52 and the anode 52 and substrate 51 Without being refracted even at the interface, the anode 52 and the substrate 51 are taken out and taken out to the outside.
  • the light CT2 is refracted at the interface between the organic layer 53 and the anode 52, enters the anode 52, passes through the anode 52, and is refracted at the interface between the anode 52 and the organic layer 53a (the inner surface 52a of the anode hole 52A). To do.
  • the refracted light can be refracted at the interface between the anode 52 and the substrate 51 and then extracted outside through the substrate 51.
  • the incident angle on the substrate 51 changes to a small angle due to refraction at the interface between the organic layer 53a and the anode 52 (the inner side surface 52a of the anode hole 52A).
  • Light incident at an angle greater than the critical angle is totally reflected at the interface between the substrate (for example, glass) and air, but the incident angle on the substrate 51 is changed to a small angle by refraction at the inner surface 52a. Therefore, the light that can avoid total reflection at the interface between the substrate and air is increased, and the light extraction efficiency is improved.
  • the light extraction efficiency is improved by having the configuration including the inner side surface 52a of the anode hole 52A. Similar effects can be obtained with the light CT3. As described above, since the light emitted from the organic layer 53 travels in all directions, there is naturally light traveling to the cathode side structure, etc. Only some of them are shown schematically.
  • FIG. 7 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the seventh embodiment of the present invention.
  • An organic EL element 70 according to the seventh embodiment of the present invention includes a dielectric layer 67, an anode 62, an organic layer 63 including a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and a cathode 64 on a substrate 61.
  • a low refractive index layer 65 and a metal layer 66 are sequentially provided on the opposite side of the cathode 64 from the organic layer 63.
  • the organic layer 63 includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 64.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 66 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • the refractive index of the low refractive index layer 65 is lower than the refractive index of the organic layer 63.
  • the dielectric layer 67 has a refractive index lower than that of the anode 62 and is formed in a pattern having an opening 67A so that the substrate 61 is exposed.
  • the anode 62 and the organic layer 63 are formed so as to follow the pattern of the dielectric layer 67.
  • the organic layer 63 shown in FIG. 7 further includes a layer 19 having a function of transporting at least holes, such as a hole transport layer and a hole injection layer, closer to the anode side than the light emitting layer 3.
  • the inner surface 67a of the opening 67A is arranged perpendicular to the substrate surface, but it is not necessary to have such a configuration.
  • the angle of the inner surface 67a of the opening 67A with respect to the substrate surface is preferably 30 ° or more, more preferably 45 ° or more, and even more preferably 60 ° or more. Further, it may be reverse tapered (the bottom surface of the hole on the substrate 61 side is larger than the top surface of the hole on the light emitting layer 3 side).
  • the inner side surface 67a of the opening 67A By setting the inner side surface 67a of the opening 67A to such an angle, the light traveling from the light emitting position toward the anode side and the light re-radiated from the SPP mode light into the organic layer 63 are incident on the inner side surface 67a of the opening from the outside. Incident light is refracted to the substrate side, and is taken out from the outer surface of the substrate.
  • the light traveling toward the cathode 64 is incident at an angle greater than the critical angle at the interface between the cathode 64 and the low refractive index layer 65 ( Arrow AU1)
  • an evanescent wave (arrow AU2) is generated in the low refractive index layer 65.
  • the generated evanescent wave squeezes out to the interface between the metal layer 66 and the low refractive index layer 65, and the SPP (arrow AU3) is excited.
  • the excited SPP mode light is radiated to the cathode 64 (arrow AU5) at a predetermined angle via resonance with the evanescent wave (arrow AU4), and can be extracted to the organic layer 63.
  • a light emission point (or light emission location) AUi indicates a light emission point at a position overlapping the convex portion 62A of the anode 62 in plan view (hereinafter, light emission at this point is referred to as “in light emission”). is there.).
  • the light emitting point AUo indicates a light emitting point between adjacent convex portions 62A (recessed portion 62B) in plan view (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “out light emission”).
  • the light emission point AUe indicates light emission at the boundary between “in light emission” and “out light emission” (hereinafter, light emission at this point may be referred to as “in-out edge light emission”).
  • the light extracted from the cathode side structure (cathode 64, low refractive index layer 65, metal layer 66) to the BU point of the low refractive index layer 65 propagates like BU1 and is extracted to the substrate 61 depending on the angle at which it is extracted. . That is, the light BU1 (waveguide mode light) traveling through the organic layer 3 from the BU point is refracted at the interface between the organic layer 63 and the anode 62, is transmitted through the anode 62, and is formed between the recess 62B and the dielectric layer 67. The light is refracted toward the substrate 61 at the interface (the inner surface 67a of the opening 67A of the dielectric layer 67).
  • the refracted light passes through the dielectric layer 67, is refracted at the interface between the dielectric layer 67 and the substrate 61, and then can be extracted outside through the substrate 61.
  • the light BU1 travels from the recess 62B to the dielectric layer 67, it is incident on the substrate 61 due to refraction at the interface between the recess 62B and the dielectric layer 67 (the inner surface 67a of the opening 67A of the dielectric layer 67).
  • the corner changes to a smaller angle.
  • the light extraction efficiency is improved by having a configuration including the interface between the recess 62B and the dielectric layer 67 (the inner surface 67a of the opening 67A of the dielectric layer 67).
  • the light CU1 is light traveling toward the substrate in a direction perpendicular to the substrate. It proceeds through the substrate 61 without being refracted at the interface with the substrate 61 and is taken out to the outside.
  • the light CU2 is refracted at the interface between the recess 62B and the dielectric layer 67 (the inner surface 67a of the opening 67A of the dielectric layer 67).
  • the refracted light passes through the dielectric layer 67, is refracted at the interface between the dielectric layer 67 and the substrate 61, and can be taken out through the substrate 61.
  • the light CU2 travels from the anode 62 to the dielectric layer 67, it is incident on the substrate 61 due to refraction at the interface between the recess 62B and the dielectric layer 67 (the inner surface 67a of the opening 67A of the dielectric layer 67).
  • the angle changes to a smaller angle.
  • Light incident at an angle greater than the critical angle is totally reflected at the interface between the anode 2 and the substrate (for example, glass) 61 and the interface between the substrate 61 and air. Due to refraction at the inner surface 67a) of the opening 67A of the dielectric layer 67, the angle of incidence on the substrate 61 changes to a small angle. Therefore, the light that can avoid the total reflection increases and the light extraction efficiency is improved. Similar effects can be obtained for the light CU3.
  • FIG. 15 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the eighth embodiment of the present invention.
  • An organic EL element 80 according to an eighth embodiment of the present invention includes, on a substrate 81, an anode 82, an organic layer 83 including a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and a cathode 84 in this order.
  • 84 is provided with a low refractive index layer 85 and a metal layer 86 in this order on the side opposite to the organic layer 83.
  • the organic layer 83 includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm or more and 300 nm or less between the light emitting layer 3 and the cathode 84.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 86 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • a high refractive index layer 87 provided with a plurality of convex portions 87a having a triangular shape whose apex is directed to the substrate 81 side in a sectional view.
  • the structure including a plurality of convex portions 87a having a triangular shape is an example of a sawtooth-shaped structure.
  • the cross-sectional shape in a plane perpendicular to the element surface has a triangular shape.
  • the plurality of convex portions constituting the sawtooth structure is not limited to a triangular convex portion, and for example, the cross section of the convex portion may be a trapezoidal shape, a multistage shape, or the like.
  • the high refractive index layer 87 may be in contact with the anode 82 or may be configured such that another layer is interposed between the high refractive index layer 87 and the anode 82.
  • the 15 includes a layered portion 87b on the anode side, and a plurality of convex portions 87a having a triangular shape with the apex facing the substrate side in a cross-sectional view on the layered portion 87b. is there.
  • the high refractive index layer 87 which is an example of the anode side structure is made of a material having a higher refractive index than the material of the layer adjacent to the substrate 81 side.
  • the layer adjacent to the substrate 81 side is the substrate 81.
  • ⁇ h is the dielectric constant of the high refractive index layer 87. Therefore, the propagation angle ⁇ h in the high refractive index layer 87 of the SPP taken out to the high refractive index layer 87 after being re-radiated into the organic layer 83 by the Otto type arrangement can be expressed by the following equation. . That propagation angle theta h, the dielectric constant of the high-refractive index layer 87 epsilon h, the real part epsilon 1 of the dielectric constant of the metal layer 86 is a value determined from the dielectric constant epsilon 2 of the low refractive index layer 85.
  • FIG. 16 is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating an example of the organic EL element which concerns on the 9th Embodiment of this invention.
  • An organic EL device 90 according to a ninth embodiment of the present invention includes, on a substrate 91, an anode 92, an organic layer 93 including a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and a cathode 94 in this order.
  • a low refractive index layer 95 and a metal layer 96 are sequentially provided on the side opposite to the organic layer 93.
  • the organic layer 93 includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm to 300 nm between the light emitting layer 3 and the cathode 94.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 96 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • a transmission type diffraction grating 98 is provided between the anode 92 and the substrate 91.
  • the diffraction grating 98 may be arranged at any position between the outer surface 91 ⁇ / b> A of the substrate 91 and the organic layer 93. In this embodiment, a structure is formed between the substrate 91 and the anode 92.
  • Each of the grating part 98a and the grating part 98b constituting the diffraction grating 98 is made of a dielectric material having a different refractive index.
  • the diffraction grating 98 diffracts toward the normal to the surface of the substrate 91 (changes the incident angle of the waveguide mode light to a small angle), thereby reducing the proportion of light that causes total reflection and improving light extraction efficiency.
  • FIG. 17 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the tenth embodiment of the present invention.
  • An organic EL device 300 according to a tenth embodiment of the present invention includes, on a substrate 301, an anode 302, an organic layer 303 including a light emitting layer 3 made of an organic EL material, and a cathode 304 in this order.
  • a low refractive index layer 305 and a metal layer 306 are sequentially provided on the side of 304 opposite to the organic layer 303.
  • the organic layer 303 includes an organic thick film layer 18 having a thickness of 10 nm or more and 300 nm or less between the light emitting layer 3 and the cathode 304.
  • the distance between the light emitting layer 3 and the metal layer 306 is 100 nm or more and 400 nm or less.
  • a lens structure 308 protruding toward the substrate is provided between the substrate 301 and the anode 302.
  • the lens structure 308 may be arranged at any position between the outer surface 301 ⁇ / b> A of the substrate 301 and the organic layer 303. This embodiment is configured to be provided between the substrate 301 and the anode 302.
  • the lens structure 308 can refract light incident on the lens structure 308 from the cathode 304 side so as to be incident from a direction nearer perpendicular to the substrate, and any one between the lens structure 308 and the outer surface 301A.
  • the ratio of light that causes total reflection at the interface is reduced, and the light extraction efficiency is improved.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating an example of an image display device including the organic EL element.
  • the image display device 100 shown in FIG. 8 is a so-called passive matrix image display device.
  • an anode wiring 104, an anode auxiliary wiring 106, a cathode wiring 108, an insulating film 110, a cathode partition 112, a sealing plate 116, and a sealing material 118 are provided.
  • a plurality of anode wirings 104 are formed on the substrate 1 of the organic EL element 10.
  • the anode wirings 104 are arranged in parallel at a constant interval.
  • the anode wiring 104 is made of a transparent conductive film, and for example, ITO (Indium Tin Oxide) can be used.
  • the thickness of the anode wiring 104 can be set to 100 nm to 150 nm, for example.
  • An anode auxiliary wiring 106 is formed on the end of each anode wiring 104.
  • the anode auxiliary wiring 106 is electrically connected to the anode wiring 104.
  • the anode auxiliary wiring 106 functions as a terminal for connecting to the external wiring on the end portion side of the substrate 1, and the drive circuit (not shown) provided outside via the anode auxiliary wiring 106.
  • a current can be supplied to the anode wiring 104.
  • the anode auxiliary wiring 106 is made of a metal film having a thickness of 500 nm to 600 nm, for example.
  • a plurality of cathode wirings 108 are provided on the organic EL element 10.
  • the plurality of cathode wirings 108 are arranged so as to be parallel to each other and orthogonal to the anode wiring 104.
  • Al or an Al alloy can be used for the cathode wiring 108.
  • the thickness of the cathode wiring 108 is, for example, 100 nm to 150 nm.
  • a cathode auxiliary wiring (not shown) is provided at the end of the cathode wiring 108, similarly to the anode auxiliary wiring 106 for the anode wiring 104, and is electrically connected to the cathode wiring 108. Therefore, a current can flow between the cathode wiring 108 and the cathode auxiliary wiring.
  • an insulating film 110 is formed on the substrate 1 so as to cover the anode wiring 104.
  • a rectangular opening 120 is provided in the insulating film 110 so as to expose a part of the anode wiring 104.
  • the plurality of openings 120 are arranged in a matrix on the anode wiring 104.
  • the organic EL element 10 is provided between the anode wiring 104 and the cathode wiring 108. That is, each opening 120 becomes a pixel. Accordingly, a display area is formed corresponding to the opening 120.
  • the film thickness of the insulating film 110 can be, for example, 200 nm to 100 nm, and the size of the opening 120 can be, for example, 100 ⁇ m ⁇ 100 ⁇ m.
  • the organic EL element 10 is located between the anode wiring 104 and the cathode wiring 108 in the opening 120. In this case, the anode 2 of the organic EL element 10 is in contact with the anode wiring 104 and the cathode 4 is in contact with the cathode wiring 108.
  • the thickness of the organic EL element 10 can be set to, for example, 150 nm to 200 nm.
  • a plurality of cathode partition walls 112 are formed on the insulating film 110 along a direction perpendicular to the anode wiring 104.
  • the cathode partition 112 plays a role for spatially separating the plurality of cathode wirings 108 so that the wirings of the cathode wirings 108 do not conduct with each other. Accordingly, the cathode wiring 108 is disposed between the adjacent cathode partition walls 112.
  • the size of the cathode partition 112 for example, the one having a height of 2 ⁇ m to 3 ⁇ m and a width of 10 ⁇ m can be used.
  • the substrate 1 is bonded through a sealing plate 116 and a sealing material 118. Thereby, the space in which the organic EL element 10 was provided can be sealed. It is possible to prevent the organic EL element 10 from being deteriorated by moisture in the air.
  • a sealing plate 116 for example, a glass substrate having a thickness of 0.7 mm to 1.1 mm can be used.
  • a current can be supplied to the organic EL element 10 via the anode auxiliary wiring 106 and the cathode auxiliary wiring (not shown) by a driving device (not shown) to cause the light emitting layer to emit light. Then, light can be emitted from the substrate 1 through the substrate 1.
  • An image can be displayed on the image display device 100 by controlling the light emission and non-light emission of the organic EL element 10 corresponding to the above-described pixel by the control device.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating an example of an illumination device including the organic EL element 10 described above.
  • the lighting device 200 shown in FIG. 9 includes the organic EL element 10 described above, and a terminal 202 that is installed adjacent to the substrate 1 (see FIG. 1) of the organic EL element 10 and connected to the anode 2 (see FIG. 1).
  • the terminal 203 is connected to the cathode 4 (see FIG. 1), and the lighting circuit 201 is connected to the terminal 202 and the terminal 203 to drive the organic EL element 10.
  • the lighting circuit 201 has a DC power supply (not shown) and a control circuit (not shown) inside, and supplies a current between the anode layer 2 and the cathode 4 of the organic EL element 10 through the terminal 202 and the terminal 203. Then, the organic EL element 10 is driven, the light emitting layer is caused to emit light, light is emitted from the substrate 1, and used as illumination light.
  • the light emitting layer may be made of a light emitting material that emits white light, and each of the organic EL elements 10 using light emitting materials that emit green light (G), blue light (B), and red light (R). A plurality of them may be provided so that the combined light is white.
  • the organic EL device includes an anode 2, an organic layer 103 including a light emitting layer 3 and an organic thick film layer 18 made of an organic EL material, a cathode 4, a low
  • the refractive index layer 5 and the metal layer 6 can be formed in this order.
  • the same method as the formation of the anode 12 to the metal layer 16 in the manufacturing method of the second embodiment described later can be used.
  • the method of manufacturing from the anode side has been described, it may be manufactured from the cathode side.
  • the manufacturing method of the organic EL element of the 2nd Embodiment of this invention is demonstrated with reference to FIG.
  • the formation method of the anode 12 and the dielectric layer 17 is not particularly limited.
  • a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • the surface treatment of the anode 12 after forming the anode 12 the performance of the overcoated layer (adhesion with the anode 12, surface smoothness, reduction of the hole injection barrier, etc.) can be improved.
  • the surface treatment includes high-frequency plasma treatment, sputtering treatment, corona treatment, UV ozone irradiation treatment, ultraviolet irradiation treatment, oxygen plasma treatment, and the like.
  • an effect similar to the surface treatment can be expected by forming an anode buffer layer (not shown).
  • anode buffer layer is applied by a wet process, spin coating, casting, micro gravure coating, gravure coating, bar coating, roll coating, wire bar coating, dip coating
  • the film can be formed using a coating method such as a spray method, a spray coating method, a screen printing method, a flexographic printing method, an offset printing method, or an inkjet printing method.
  • the anode hole portion 12A and the hole portion 17A communicating with each other are formed so as to penetrate the anode 12 and the dielectric layer 17 formed in the step of FIG.
  • a method using photolithography can be used.
  • a positive resist solution is applied onto the dielectric layer 17, and the excess resist solution is removed by spin coating or the like to form a resist layer 29. To do.
  • a mask (not shown) on which a predetermined pattern for forming the anode hole portion 12A and the hole portion 17A is drawn is applied, and exposure is performed with ultraviolet rays (UV), electron beams (EB), and the like.
  • UV ultraviolet rays
  • EB electron beams
  • FIG. 10C the resist layer 29 is exposed with a predetermined pattern corresponding to the hole 17A (see FIG. 10F) (exposed portion 29a).
  • the resist layer 29a in the exposed pattern portion of the resist layer 29 is removed using a developer.
  • the surface of the dielectric layer 17 is exposed corresponding to the exposed pattern portion (FIG. 10D).
  • the portion of the dielectric layer 17 at the position of the hole 17A is etched away as shown in FIG.
  • the etching either dry etching or wet etching can be used.
  • the shape of the hole 17A can be controlled by combining isotropic etching and anisotropic etching.
  • RIE reactive ion etching
  • wet etching a method of immersing in dilute hydrochloric acid or dilute sulfuric acid can be used. By this etching, the surface of the anode 12 is exposed corresponding to the pattern.
  • FIG. 10F a resist removing solution or the like
  • FIG. 10G. 10G a resist removing solution or the like
  • the exposed portion of the anode 12 is removed using the dielectric layer 17 as a mask as shown in FIG. 10G. Etch away.
  • the etching a method similar to the method described with reference to FIG. By changing the etching conditions, the anode 12 can be selectively etched without significantly affecting the dielectric layer 17. Thereby, the surface of the substrate 11 is exposed corresponding to the pattern, and the anode hole portion 12A is formed.
  • FIG. 10F and FIG. 10G can be regarded as a process of penetrating the anode 12 and the dielectric layer 17 and forming the communicating hole 17A and anode hole 12A.
  • the exposed portion of the substrate 11 is removed by etching using a portion other than the portion where the communicating hole portion 17A and anode hole portion 12A are formed as a mask.
  • etching a method similar to the method described in FIGS. 10F and 10G can be used.
  • the substrate 11 can be selectively etched without significantly affecting the dielectric layer 17 and the anode 12.
  • the concave portion 11A communicating with the hole portion 17A and the anode hole portion 12A can be formed corresponding to the pattern.
  • the portion other than the concave portion 11A becomes the convex portion 11B. According to this method, since it is not necessary to prepare a mask separately and perform photolithography, the concave portion 11A can be formed more easily.
  • the organic layer 13 includes a hole inner surface covering portion 13a, an anode hole inner surface covering portion 13b, a concave inner surface covering portion 13c, and a layered portion 13d.
  • the organic layer 13 includes the light emitting layer 3 (see FIG. 2), an organic thick film layer 18 (see FIG. 2) of 10 nm to 300 nm and a layer 19 (see FIG.
  • a conventionally known method can be used for forming the organic layer 13 and is not particularly limited.
  • a method such as a vacuum deposition method, a spin coating method, a casting method, or an LB method can be used.
  • a cathode 14 is formed on the organic layer 13.
  • the cathode 13 can be formed by the same method as the anode 12 and is not limited.
  • a resistance heating vapor deposition method an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • a low refractive index layer 15 is formed on the cathode 14.
  • the low refractive index layer 15 can be formed by the same method as the formation of the dielectric layer 17 and is not limited. For example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • a metal layer 16 is formed on the low refractive index layer 15.
  • the formation of the metal layer 16 is not particularly limited.
  • an electron beam evaporation method, a sputtering method, an ion plating method, or a CVD method can be used.
  • the organic EL element 20 can be manufactured by the above process. After these series of steps, it is preferable to use the organic EL element 20 stably for a long period of time and to attach a protective layer and a protective cover (not shown) for protecting the organic EL element 20 from the outside.
  • a protective layer polymer compounds, metal oxides, metal fluorides, metal borides, silicon compounds such as silicon nitride and silicon oxide, and the like can be used. And these laminated bodies can also be used.
  • a glass plate, a plastic plate whose surface has been subjected to low water permeability treatment, a metal, or the like can be used.
  • the protective cover is preferably bonded to the substrate 11 with a thermosetting resin or a photocurable resin and sealed. At this time, it is preferable to use a spacer between the substrate 11 and the protective cover because a predetermined space can be maintained and the organic EL element 20 can be prevented from being damaged. If an inert gas such as nitrogen, argon, or helium is sealed in this space, it becomes easy to prevent oxidation of the upper metal layer 16. In particular, when helium is used, heat conduction is high, and thus heat generated from the organic EL element 20 when voltage is applied can be effectively transmitted to the protective cover, which is preferable. Furthermore, it becomes easy to suppress that the water
  • desiccants such as barium oxide
  • FIG. 10 (a) to 10 (e) are the same as the method for manufacturing the organic EL element of the second embodiment.
  • FIG. 11A corresponds to FIG.
  • the dielectric layer 27 is removed by etching using the remaining resist layer as a mask to form a hole 27A (FIG. 11A).
  • a hole inner surface covering portion 23a that covers the inner surface 27a of the hole 27A is formed, and the dielectric layer 27, the hole inner surface covering portion 23a, and the cathode 24 are formed.
  • the layered portion 23b disposed therebetween is formed, and the organic layer 23 including the light emitting layer made of the organic EL material is formed.
  • a method similar to the method of manufacturing the organic EL element of the second embodiment can be used.
  • a cathode 24, a low refractive index layer 25, and a metal layer 26 are sequentially formed on the organic layer 23.
  • a method similar to the method of manufacturing the organic EL element of the second embodiment can be used.
  • the method of manufacturing from the anode side has been described, but it may be manufactured from the cathode side.
  • FIG. 12A corresponds to FIG.
  • the dielectric layer 37 is removed by etching to form a hole 37A.
  • the anode hole 32A is formed using the formed dielectric layer 37 as a mask.
  • a hole inner surface covering portion 33a covering the inner surface 37a of the hole 37A and an anode hole inner surface covering portion 33b covering the inner surface of the anode hole 32A are provided.
  • a dielectric layer 37 and a layered portion 33c disposed between the hole inner side surface covering portion 33a and the cathode 34 are formed to form an organic layer 33 including a light emitting layer made of an organic EL material.
  • a method similar to the method of manufacturing the organic EL element of the second embodiment can be used.
  • a cathode 34, a low refraction layer 35, and a metal layer 36 are formed in order on the organic layer 33.
  • a method similar to the manufacturing method of the second embodiment can be used for forming these layers.
  • the method of manufacturing from the anode side has been described, but it may be manufactured from the cathode side.
  • an anode 42 is formed on a substrate 41.
  • the method for forming the anode 42 is not particularly limited, and for example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • a method using photolithography can be used to form the anode hole portion 42A.
  • a positive resist solution is applied onto the anode 42, and the excess resist solution is removed by spin coating or the like to form a resist layer 49.
  • a mask (not shown) on which a predetermined pattern for forming the anode hole 42A is drawn is placed, and exposure is performed with ultraviolet rays (UV), electron beams (EB), or the like.
  • UV ultraviolet rays
  • EB electron beams
  • FIG. 13C the resist layer 49 is exposed to a predetermined pattern corresponding to the anode hole portion 42A (exposed portion 49a).
  • the resist layer 49 in the exposed pattern portion is removed using a developer.
  • the surface of the anode 42 is exposed corresponding to the exposed pattern portion (FIG. 13D).
  • the exposed portion of the anode 42 is removed by etching to form an anode hole portion 42A.
  • a dielectric layer 47 is formed as shown in FIG. In FIG. 13F, the dielectric layer 47 is configured to fill the anode hole portion 42A and cover the inner side surface 42a of the anode hole portion 42A. However, the dielectric layer 47 is partially filled to cover the inner side surface 42a of the anode hole portion 42A. The structure to do may be sufficient. If the dielectric layer 47 covers the inner surface 42a of the anode hole 42A, the formation conditions are adjusted depending on whether the anode hole 42A is completely filled or partially filled.
  • an organic layer 43 including a light emitting layer made of an organic EL material is formed on the anode 42 and the dielectric layer 47.
  • a cathode 44 is formed on the organic layer 43.
  • the formation of the cathode 43 can be performed using the same method as the formation of the anode 42 and is not limited.
  • a resistance heating vapor deposition method an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • a low refractive index layer 45 is formed on the cathode 44.
  • the low refractive index layer 45 can be formed by the same method as the formation of the dielectric layer 47, and is not limited.
  • a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • a metal layer 46 is formed on the low refractive index layer 45.
  • a method similar to the manufacturing method of the second embodiment can be used.
  • the organic EL element 50 can be manufactured by the above process. In the above manufacturing method of the organic EL element, the method of manufacturing from the anode side has been described, but it may be manufactured from the cathode side.
  • the anode 52 is formed on the substrate 51.
  • a method using photolithography can be used to form the anode hole 52A.
  • FIG. 14B first, a positive resist solution is applied onto the anode 52, and the excess resist solution is removed by spin coating or the like to form a resist layer 59.
  • a mask (not shown) on which a predetermined pattern for forming the anode hole portion 52A is drawn is placed, and exposure is performed with ultraviolet rays (UV), electron beams (EB), or the like.
  • UV ultraviolet rays
  • EB electron beams
  • FIG. 14C the resist layer 59 is exposed to a predetermined pattern corresponding to the anode hole 52A.
  • the resist layer 59 in the exposed pattern portion is removed using a developer.
  • the surface of the anode 52 is exposed corresponding to the exposed pattern portion (FIG. 14D).
  • the exposed portion of the anode 52 is removed by etching using the remaining resist layer 59 as a mask to form an anode hole 52A.
  • the anode hole inner side surface covering portion 53a of the organic layer 53 fills the anode hole portion 52A and covers the inner side surface 52a of the anode hole portion 52A.
  • a configuration in which only a part is filled and the inner side surface 52a of the anode hole 52A is covered may be employed. If the anode hole inner side surface covering portion 53a covers the inner surface 52a of the anode hole portion 52A, the formation conditions are adjusted depending on whether the anode hole portion 52A is completely filled or partially filled.
  • the organic layer 53 is also formed by forming the layered portion 53b of the organic layer 53, corresponding to FIG. 14 (g). Create the structure.
  • a cathode 54 is formed on the organic layer 53.
  • a low refractive index layer 55 is formed on the cathode 54.
  • a method for forming the low refractive index layer 55 is not particularly limited. For example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • a resistance heating vapor deposition method an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
  • a metal layer 56 is formed on the low refractive index layer 55.
  • a method similar to the manufacturing method of the second embodiment can be used to form the organic layer 53 to the metal layer 56.
  • the organic EL element 60 can be manufactured by the above process. In the above manufacturing method of the organic EL element, the method of manufacturing from the anode side has been described, but it may be manufactured from the cathode side.
  • the manufacturing method of the organic EL element which is the 7th Embodiment of this invention is demonstrated.
  • a dielectric layer 67 having a refractive index lower than that of the anode 62 is formed on the substrate 61.
  • a pattern having openings 67A is formed in the dielectric layer 67 so that the substrate 61 is exposed.
  • the photolithography method of the second embodiment can be used.
  • the anode 62, the organic layer 63, the cathode 64, the low refractive index layer 65, and the metal layer 66 are formed so as to follow the pattern of the opening 67A.
  • the same method as in the second embodiment can be used.
  • the organic EL element 70 can be manufactured.
  • the method of manufacturing from the anode side has been described, but it may be manufactured from the cathode side.
  • a concave portion corresponding to the convex portion 87 a having a triangular cross section is formed on the substrate 81.
  • the forming method is not particularly limited, and machining such as cutting and polishing, laser processing, and the like can be used.
  • the high refractive index layer 87 is formed so as to fill the formed recess.
  • Forming methods include a method of applying and converting a spin-on dielectric, a method of applying and curing a curable resin, and the like.
  • As a coating method various processes such as spin coating, bar coating, slit coating, die coating, and spray coating can be used.
  • the anode 82, the organic layer 83, the cathode 84, the low refractive index layer 85, and the metal layer 86 are formed on the high refractive index layer 87.
  • the same method as in the second embodiment can be used.
  • the organic EL element 80 can be manufactured by the above process. In the above manufacturing method of the organic EL element, the method of manufacturing from the anode side has been described, but it may be manufactured from the cathode side.
  • the manufacturing method of the organic EL element which is the 9th Embodiment of this invention is demonstrated.
  • the diffraction grating 98 is formed on the substrate 91.
  • a method for forming the diffraction grating 98 a method in which the hole forming method by a layer forming method, a photolithography method, or the like, similar to the anode and the dielectric layer in the method for manufacturing the organic EL element of the fifth embodiment, is combined. Can be used.
  • an anode 92, an organic layer 93, a cathode 94, a low refractive index layer 95, and a metal layer 96 are formed on the formed diffraction grating 98.
  • the same method as in the second embodiment can be used.
  • the organic EL element 90 can be manufactured.
  • the method of manufacturing from the anode side has been described, but it may be manufactured from the cathode side.
  • a method for manufacturing an organic EL element according to the tenth embodiment of the present invention will be described.
  • a recess corresponding to the lens structure 308 is formed in the substrate 301.
  • the forming method is not particularly limited, and machining such as cutting and polishing, laser processing, and the like can be used.
  • the lens structure 308 is formed so as to fill the formed concave portion.
  • Forming methods include a method of applying and converting a spin-on dielectric, a method of applying and curing a curable resin, and the like.
  • As a coating method various processes such as spin coating, bar coating, slit coating, die coating, and spray coating can be used.
  • the anode 302, the organic layer 303, the cathode 304, the low refractive index layer 305, and the metal layer 306 are formed on the formed lens structure 308.
  • the same method as in the second embodiment can be used.
  • the organic EL element 300 can be manufactured through the above steps. In the above manufacturing method of the organic EL element, the method of manufacturing from the anode side has been described, but it may be manufactured from the cathode side.
  • Example 1 is an example of the first embodiment of the present invention.
  • an ITO layer having a thickness of 150 nm as the anode 2 a hole injection layer (part of the layer 19) composed of 40 nm pTmTDMPD: F4TCNQ (100: 5) as the organic layer 103, and a 20 nm m-TTA Hole transport layer (part of layer 19), light-emitting layer A (part of light-emitting layer 3) consisting of 20 nm PH-2: BFA-1T (10:90), 10 nm PH-1: PyTMB ( 10:90) light-emitting layer B (part of light-emitting layer 3), 20 nm of Alq 3 electron transport layer (part of organic thick film layer 18), 100 nm of BCP: Cs (20: 1) A sample in which an electron injection layer (a part of the organic thick film layer 18), a 50 nm ITO layer as the cathode 4, a layer made of 150 n
  • Example 2 is an example of the fifth embodiment of the present invention.
  • the cathode side structure, the organic thick film layer and the light emitting layer, and the hole transport layer are the same as in Example 1, but a part of the anode side structure is different. That is, on the glass substrate 41, an ITO layer having a thickness of 150 nm as the anode 42, a 150 nm SiO 2 film as the dielectric layer 47, and a hole injection layer made of 20 nm pTmTDMPD: F4TCNQ (100: 5) as the organic layer 43.
  • Part of layer 19 hole transport layer (part of layer 19) made of 20 nm m-TTA, light emitting layer A (light emitting layer 3) made of 20 nm PH-2: BFA-1T (10:90)
  • a light emitting layer B made of 10 nm PH-1: PyTMB (10:90) (a part of the light emitting layer 3), an electron transport layer made of 20 nm of Alq3 (a part of the organic thick film layer 18), 100 nm BCP: Cs (50:50) electron injection layer (part of organic thick film layer 18), cathode 44 as 50 nm ITO layer, low refractive index layer 45 as 150 nm MgF 2 layer, metal layer A sample was prepared by sequentially laminating a 100 nm Ag layer as 46.
  • the total thickness of the organic thick film layer 18 was 120 nm.
  • the driving voltage required to obtain a luminance of 100 cd / m 2 for the obtained sample was 4.4V.
  • the external quantum efficiency was 1.8 when Comparative Example 3 described later is 1.
  • Comparative Example 1 Compared with Example 1, there is no ITO layer as a cathode and a layer made of MgF 2 as a low refractive index layer, and a difference is that a 100 nm Ag layer is provided as a cathode. Comparative Example 1 is provided with a layer corresponding to the organic thick film layer of Examples 1 and 2, except that it does not have an Otto type cathode side structure. That is, an ITO film having a thickness of 150 nm as an anode on a glass substrate, a hole injection layer made of 40 nm pTmTDMPD: F4TCNQ (100: 5), a hole transport layer made of 20 nm m-TTA, and 20 nm as an organic layer.
  • PH-2 Emission layer A made of BFA-1T (10:90), 10 nm emission layer B made of PH-1: PyTMB (10:90), 20 nm electron transport layer made of Alq 3 , 100 nm BCP
  • a sample was prepared by laminating an electron injection layer made of: Cs (50:50) and a 100 nm Ag layer as a cathode.
  • the driving voltage required to obtain a luminance of 100 cd / m 2 for the obtained sample was 4.9V.
  • the external quantum efficiency was 1.1 when Comparative Example 3 described later is 1.
  • Comparative Example 2 Compared with Example 2, there is no ITO layer as a cathode and a layer made of MgF 2 as a low refractive index layer, and a difference is that a 100 nm Ag layer is provided as a cathode.
  • the driving voltage required to obtain a luminance of 100 cd / m 2 for the obtained sample was 5.0V.
  • the external quantum efficiency was 1.3 when Comparative Example 3 described later is 1.
  • Comparative Example 3 Compared to Comparative Example 1, the difference is that the thickness of the electron injection layer is 20 nm. That is, an ITO film having a thickness of 150 nm as an anode on a glass substrate, a hole injection layer made of 40 nm pTmTDMPD: F4TCNQ (100: 5), a hole transport layer made of 20 nm m-TTA, and 20 nm as an organic layer.
  • a sample was prepared by laminating an electron injection layer made of: Cs (50:50) and a 100 nm Ag layer as a cathode.
  • the driving voltage required to obtain a luminance of 100 cd / m 2 for the obtained sample was 4.6V.
  • the external quantum efficiency was set to 1 in Comparative Example 3.
  • Example 4 Compared to Example 1, the difference is that the thickness of the BCP: Cs (50:50) layer as the electron injection layer is 350 nm. That is, an ITO film having a thickness of 150 nm as an anode on a glass substrate, a hole injection layer made of 40 nm pTmTDMPD: F4TCNQ (100: 5), a hole transport layer made of 20 nm m-TTA, and 20 nm as an organic layer.
  • the thickness of the BCP: Cs (50:50) layer as the electron injection layer is 350 nm. That is, an ITO film having a thickness of 150 nm as an anode on a glass substrate, a hole injection layer made of 40 nm pTmTDMPD: F4TCNQ (100: 5), a hole transport layer made of 20 nm m-TTA, and 20 nm as an organic layer.
  • PH-2 a light emitting layer A composed of BFA-1T (10:90), a light emitting layer B composed of 10 nm PH-1: PyTMB (10:90), an electron transport layer composed of 20 nm Alq 3 , a BCP of 350 nm
  • a sample was prepared by sequentially laminating an electron injection layer composed of Cs (50:50), a 50 nm ITO layer as a cathode, a 150 nm MgF 2 layer as a low refractive index layer, and a 100 nm Ag layer as a metal layer.
  • the total thickness of the organic thick film layer was 370 nm.
  • the driving voltage required to obtain a luminance of 100 cd / m 2 for the obtained sample was 5.2V.
  • the external quantum efficiency was 0.8 when the above-described Comparative Example 3 was 1.
  • Substrate 11A Recess 11a Recessed inner surface 2, 12, 22, 32, 42, 52, 62, 82, 92, 302
  • Anode 12A, 32A , 42A, 52A Anode hole portion 12a, 22a, 32a, 42a, 52a Inner side surface of anode hole portion 3, 13, 23, 33, 43, 53, 63, 83, 93, 303 Organic layer 4, 14, 24, 34 44, 54, 64, 84, 94, 304
  • Cathode 5 15, 25, 35, 45, 55, 65, 85, 95, 305

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

この有機EL素子(10)は、基板(1)上に、陽極(2)と、有機EL材料からなる発光層(3)を含む有機層(103)と、陰極(4)とを順に具備し、さらに、前記陰極(4)の前記有機層(3)とは反対側に、低屈折率層(5)と金属層(6)とを順に具備し、前記低屈折率層(5)の屈折率は前記有機層(103)の屈折率よりも低く、前記有機層(103)は、前記発光層(3)と前記陰極(4)との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層(18)を含み、前記発光層(3)と前記金属層(6)の間の距離が100nm以上400nm以下であることを特徴とする。

Description

有機EL素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置
 本発明は、有機EL素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置に関するものである。本願は、2012年11月30日に、日本に出願された特願2012-263845に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
 有機EL(エレクトロルミネッセンス)素子は、広視野角、高速応答、鮮明な自発光表示等の特徴を有する。また、薄型軽量で低消費電力であること等の理由から、次世代の照明装置や画像表示装置等の柱として期待されている。
 有機EL素子は、有機発光層で発生した光が取り出される向きに応じて、支持基板側から光が取り出されるボトムエミッション型と、支持基板の反対側から光が取り出されるトップエミッション型とに分けられる。
 ボトムエミッション型の有機EL素子において、発光層で発光した光のうち、透明基板に垂直に入射した光は透明基板を透過して素子の外部に取り出される。発光層で発光した光のうち、透明基板(例えば、ガラス(屈折率:1.52))と空気(屈折率:1.0)との界面に臨界角以下の小さい入射角で入射した光は、その界面で屈折して素子の外部に取り出される。本明細書では、これらの光を外部モード(External Mode)光という。
 これに対して、発光層で発光した光のうち、透明基板と空気との界面に臨界角より大きい入射角で入射した光はその界面で全反射されて素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収されうる。本明細書では、この光を基板モード(Substrate Mode)光といい、これによる損失を基板損失という。
 発光層で発光した光のうち、透明導電性酸化物からなる陽極(例えば、酸化インジウム錫(ITO(屈折率:1.82))と透明基板(例えば、ガラス(屈折率:1.52))との界面や陽極と陰極間に配置する高屈折率層と低屈折率層との界面等の基板と陰極との間の界面に臨界角より大きい入射角で入射した光もその界面で全反射されて素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収されうる。本明細書では、この光を導波モード(Waveguide Mode)光といい、これによる損失を導波損失という。
 発光層で発光した光のうち、金属陰極に入射して金属陰極の自由電子振動と結合し、表面プラズモンポラリトン(SPP;Surface Plasmon Polariton)として金属陰極の表面に捕捉された光も素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収されうる。本明細書では、この光をSPPモード(SPP Mode)光といい、これによる損失をプラズモン損失という。
 有機EL素子の光取り出し効率(発光層で発光した光に対して素子の外部に取り出される光の割合)は一般に20%程度に留まっている(例えば、特許文献1)。すなわち、発光層で発光した光のうち、約80%が損失となっており、これらの損失を低減して光の取り出し効率を向上させることが大きな課題となっている。
 ここで、基板モード光の取り出しについては透明基板上に光拡散シートなどを設けることで対処できる(例えば、特許文献2)。導波モード光及びSPPモード光の低減や取り出し、特にSPPモード光の低減や取り出しについては研究が緒に就いたばかりといえる。
 導波モード光は、光が高屈折率材料から低屈折率材料に入射する際に全反射が起きることにより生じるので、導波モード光を低減するには全反射を起きにくくする、あるいは、全反射を生じる光の割合を低減することによって導波モード光を低減する方策が知られている。
 特許文献3には、有機発光層の近傍に有機発光層や透明電極よりも屈折率の高い高屈折率層を挿入する構成が開示されている。特許文献2には、有機発光層及び透明電極に有機発光層及び透明電極よりも低屈折率の微粒子を分散させることで、等価的に有機発光層及び透明電極の屈折率を下げる構成が開示されている。
特許文献4及び特許文献5には、基板上に順に形成された陽極層及び誘電体層にキャビティ(孔部)を有する構成が開示されている。
このキャビティの側面(基板に対して垂直に延びる界面)に入射する光は、この界面において基板側に屈折する。この効果により、導波モード光の入射角を小さい角度に変えることで全反射を生じる光の割合を低減することができる。
 一方、金属陰極の表面に捕捉されたSPPモード光を取り出す方法として、金属陰極の表面に周期的な凹凸構造を形成する構成が知られている(特許文献6~9)。
 有機EL素子は通常、陽極と陰極の間に発光層が挟まれて構成され、発光層と陰極の間に電子輸送層や電子注入層などが積層されている。そのため陰極に捕捉されるSPPの影響を抑制し、光取り出し効率を上げる方法として、電子輸送層や電子注入層などの膜厚を厚くして、発光層を陰極から物理的に遠ざけることが提案されている(例えば、非特許文献1及び非特許文献2)。
特開2008-210717号公報 特開2011-243625号公報 特開2011-233288号公報 特表2003-522371号公報 特開2011-82192号公報 特開2006-313667号公報 特開2009-158478号公報 特表2005-535121号公報 特開2004-31350号公報
A. Otto, Z. Physik 216, 398 (1968) Meerheim et al, Appl. Phys. Lett. 97, 253305(2010)
 しかしながら、従来技術の方法では発光層と陰極の間の有機層を厚膜化するため有機EL素子の駆動電圧が上昇する問題がある。そのため、電力効率を向上させる観点からは、有機層をSPPの影響を抑制するのに十分な膜厚にすることは困難であった。また有機層を厚膜化すると導波モード光の割合が増加し、発光層で発光した光が有機層内に閉じ込められ、有機EL素子の外部まで取り出される光の割合が減少し、発光効率が低下してしまうという問題があった。
 さらに、SPPモード光を抑制して、有機層中に光を取り出しても、その有機層中の伝播光を素子の外部に取り出すことができなければ、光取り出し効率を向上させることができない。
 本発明は、上記事情に鑑みなされたものであり、SPPモード光の発生自体を抑制し、かつ、SPPモード光及び導波モード光が生じた場合にも、これらを効果的に取り出すことにより、光取り出し効率が向上した有機EL素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置を提供することを目的とする。
 本発明者らは、まず、電子輸送層や電子注入層などの有機層内に配置されて少なくとも電子を輸送する性質を有する層を厚膜化することにより、発光位置と陰極との距離を大きくしてエネルギー移動を抑制し、SPPの発生自体を低減する構成とした。次に、その厚膜化によっても抑制されず、発生したSPPモード光も有機層中まで取り出す構成を備えるものとした。さらに、そうして取り出した有機層中の光を導波モード光とせずに素子の外部に取り出すという光取り出し機構を想定して、多数の構造の中から、光取り出し効率を向上させる有効な構造を鋭意検討した。
 発生したSPPモード光の光取り出し機構は、次の2ステップからなる。生成されたSPPモード光を有機層中に取り出すOtto型配置(非特許文献1)の第2電極側構造と、その有機層中の光を外部に取り出す第1電極側構造とである。
 本発明において、第1電極及び第2電極は一方が陽極で他方が陰極であるが、以下では、第1電極を陽極、第2電極を陰極とする構成を例に挙げて説明する。
 本発明の構成の概要を説明する。
 まず、陰極側構造(第2電極側構造)について以下に説明する。
 平坦な金属表面に生成されるSPPの角振動数をω、波数ベクトルをkspとすると、この分散関係は、金属の誘電率の実部εと、金属表面に接触する誘電体の誘電率εによって決まり、近似的に次式(1)によって与えられる(cは入射光の速さ)。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 これに対して、誘電率εの誘電体中を伝播する通常の伝播光の分散関係(角振動数ω、波数の大きさk)は、次式(2)によって与えられる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 有機EL素子の電極や反射層として用いられる金属材料においては、素子の発光周波数域ではε<0かつ|ε|>εを常に満たす。そのため、SPPの波数kspは伝播光の波数kより大きく、SPPの分散曲線は通常の伝播光の分散直線と交差しない。つまり、通常の伝播光では平坦な金属表面にSPPを励起することはできない。また、平坦な金属表面に存在するSPPから直接伝播光を取り出すこともできない。
 これに対して、Otto型配置(高屈折率誘電体層(誘電率ε)/低屈折率誘電体層(誘電率ε)/金属(誘電率ε)の積層構造)において、全反射減衰法により発生させたエバネッセント波の分散直線(波数の界面に平行な成分)は、次式(3)によって与えられる。ここで、θは高屈折率誘電体層から低屈折率誘電体層への入射光の入射角、である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 従って、入射角θを変えることにより、任意の角周波数ωの位置に、SPPの分散曲線とエバネッセント波の分散直線の交点(k=ksp)を持たせることが可能となる。つまり、高屈折率誘電体層中の伝播光とSPPとがエネルギーをやりとりできるようになる。言い換えると、エバネッセント波を用いれば、高屈折率誘電体層中の伝播光を用いて平坦な金属表面にSPPを励起することができる。また、平坦な金属表面に存在するSPPからエバネッセント波を介して高屈折率誘電体層中に取り出す(再放射させる)ことが可能となる。 
従って、有機EL素子において、例えば、有機層を高屈折率誘電体としたOtto型配置構造を設けると、有機層で発光した光のうち、所定の入射角(SPPの分散曲線とエバネッセント波の分散直線とが交点を有する角度)で有機層から低屈折率誘電体層へ入射した光はエバネッセント波となって金属表面にSPPモード光を励起する。逆の仮定として、金属表面に励起されたSPPモード光はOtto型配置構造において生成されるエバネッセント波を介して有機層中に伝播光として取り出すことが可能となる。こうしてSPPから取り出される光は上記の通り、SPPの分散曲線とエバネッセント波の分散直線との交点に対応する所定の角度を有して放射されるものである。
 ただし、上記のOtto型配置により有機層まで取り出されたSPPモード光は、陰極の有機層とは反対側の表面で全反射して有機層中に閉じ込められて導波モードとなることがある。そのため、SPPモード光を取出すことができても、光取り出し効率を向上させる効果は不十分であった。そこでさらに有機層中の発光層と金属層の間に電子輸送層や電子注入層や正孔ブロック層などの有機層を配置する。
有機層を構成するこれらの層により、金属層と発光層との距離を離すことが可能になり、よりSPPモード光を抑制することが可能になる。
 電子輸送層や電子注入層などの有機層内に配置されて少なくとも電子を輸送する性質を有する層を厚膜化することで、発光位置と陰極との間のエネルギー移動を有効に抑制するために、これらの層の総厚を、100nm以上とした。
 次に、陽極側構造(第1電極側構造)について以下に説明する。
 陽極側構造としては、有機層中を伝播する光が屈折して屈折後の伝播角が小さくなるように、基板面(発光面に対して平行な平面)に対して垂直または垂直に近い屈折率の界面を導入した。
 上記課題を解決するため、概要を説明した本発明は以下の構成を採用する。
(1)第1電極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層とは反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低く、前記有機層は、前記発光層と前記第2電極との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層を含み、前記発光層と前記金属層の間の距離が100nm以上400nm以下であることを特徴とする有機EL素子。
(2)前記有機厚膜層がn層(nは1以上の整数)のサブレーヤーからなり、i番目(iは1からnまでの整数)のサブレーヤーの膜厚と移動度をそれぞれdi及びμiとするとき、以下の式の関係を満たすことを特徴とする(1)に記載の有機EL素子;
  10-15[s・V]≦ Σ(di /μi) ≦10-4[s・V]  (i=1,2,3、・・・・)
 ここで、Σは、すべての前記サブレーヤーについての和をとることを示す。前記式の単位はSI単位系である。
(3)前記低屈折率層の屈折率はさらに、前記第2電極の屈折率よりも低いことを特徴とする(1)又は(2)のいずれかに記載の有機EL素子。
(4)前記第2電極の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする(3)に記載の有機EL素子。
(5)前記低屈折率層は、前記第2電極及び前記有機層のうちの少なくとも一方よりも屈折率が0.2以上小さい材料からなることを特徴とする(1)~(4)のいずれか一項に記載の有機EL素子。
(6)前記第1電極と前記第2電極との間に、前記有機層の屈折率より低い屈折率を有すると共に複数の孔部を備えた誘電体層を具備し、前記有機層は、前記孔部の内側面を被覆する孔内側面被覆部を有するものである、ことを特徴とする(1)~(5)のいずれか一項に記載の有機EL素子。
(7)前記有機層はさらに、前記誘電体層及び前記孔内側面被覆部と前記第2電極との間に配置される層状部を有することを特徴とする(6)に記載の有機EL素子。
(8)前記第1電極は、前記孔部に連通する第1電極孔部を備え、前記有機層はさらに、前記第1電極孔部の内側面を被覆する第1電極孔内側面被覆部を有することを特徴とする(6)に記載の有機EL素子。
(9)前記有機層はさらに、前記誘電体層及び前記孔内側面被覆部と前記第2電極との間に配置される層状部を有することを特徴とする(8)に記載の有機EL素子。
(10)前記第1電極の有機層と反対側に基板を備え、前記基板は、前記第1電極孔部に連通する凹部を備え、前記有機層はさらに、前記凹部の内側面を被覆する凹内側面被覆部を有することを特徴とする(8)又は(9)のいずれかに記載の有機EL素子。
(11)第1電極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層とは反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低く、前記第1電極は、前記第1電極の屈折率より低い屈折率を有する誘電体層によってその内側面を被覆された複数の第1電極孔部を備え、前記有機層は、前記発光層と前記第2電極との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層を含み、前記発光層と前記金属層の間の距離が100nm以上400nm以下である、ことを特徴とする有機EL素子。
(12)第1電極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層とは反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低く、前記第1電極は、複数の第1電極孔部を備え、前記有機層は、前記発光層と前記第2電極との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層を含み、前記発光層と前記金属層の間の距離が100nm以上400nm以下であって、前記有機層は、前記第1電極孔部の内側面を被覆する第1電極孔内側面被覆部を有するものである、ことを特徴とする有機EL素子。
(13)誘電体層と、第1電極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層とは反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低く、前記有機層は、前記発光層と前記第2電極との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層を含み、前記発光層と前記金属層の間の距離が100nm以上400nm以下であって、前記誘電体層は、前記第1電極の屈折率より低い屈折率を有すると共に開口部を有するパターンで形成されており、前記第1電極と、前記有機層、前記第2電極、前記低屈折率層及び前記金属層は、前記誘電体層の前記パターンを追従するように形成されている、ことを特徴とする有機EL素子。
(14)第1電極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層とは反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低く、前記有機層は、前記発光層と前記第2電極との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層を含み、前記発光層と前記金属層の間の距離が100nm以上400nm以下であって、前記第1電極の前記有機層と反対側に回折格子、レンズ構造、鋸歯状構造、散乱層のいずれかの構造を有する、ことを特徴とする有機EL素子。
(15)前記有機厚膜層がn層(nは1以上の整数)のサブレーヤーからなり、i番目(iは1からnまでの整数)のサブレーヤーの膜厚と移動度をそれぞれdi及びμiとするとき、以下の式の関係を満たすことを特徴とする(11)~(14)のいずれか一項に記載の有機EL素子;
   10-15[s・V]≦ Σ(di /μi) ≦10-4[s・V]  (i=1,2,3、・・・・)
 ここで、Σは、すべての前記サブレーヤーについての和をとることを示す。前記式の単位はSI単位系である。
(16)(1)~(15)のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えたことを特徴とする画像表示装置。
(17)(1)~(15)のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えたことを特徴とする照明装置。
 本発明によれば、SPPモード光の発生自体を抑制し、かつ、それでも発生したSPPモード光及び導波モード光を効果的に取り出すことにより、光取り出し効率が向上した有機EL素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置を提供できる。
本発明の第1の実施形態に係る有機EL素子を説明するための断面模式図である。 本発明の第2の実施形態に係る有機EL素子を説明するための断面模式図である。 本発明の第3の実施形態に係る有機EL素子を説明するための断面模式図である。 本発明の第4の実施形態に係る有機EL素子を説明するための断面模式図である。 本発明の第5の実施形態に係る有機EL素子を説明するための断面模式図である。 本発明の第6の実施形態に係る有機EL素子を説明するための断面模式図である。 本発明の第7の実施形態に係る有機EL素子を説明するための断面模式図である。 本発明の有機EL素子を備えた画像表示装置の一例を説明するための断面模式図である。 本発明の有機EL素子を備えた照明装置の一例を説明するための断面模式図である。 本発明の第2の実施形態に係る有機EL素子の製造方法を説明するための断面模式図である。 本発明の第3の実施形態に係る有機EL素子の製造方法を説明するための断面模式図である。 本発明の第4の実施形態に係る有機EL素子の製造方法を説明するための断面模式図である。 本発明の第5の実施形態に係る有機EL素子の製造方法を説明するための断面模式図である。 本発明の第6の実施形態に係る有機EL素子の製造方法を説明するための断面模式図である。 本発明の第8の実施形態に係る有機EL素子を説明するための断面模式図である。 本発明の第9の実施形態に係る有機EL素子を説明するための断面模式図である。 本発明の第10の実施形態に係る有機EL素子を説明するための断面模式図である。
 以下、本発明を適用した有機EL素子並びにそれを備えた画像表示装置及び照明装置について、図面を用いてその構成を説明する。以下の説明で用いる図面は、特徴をわかりやすくするために便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などは実際と同じであるとは限らない。以下の説明において例示される材料、寸法等は一例であって、本発明はそれらに限定されるものではない。その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することが可能である。同じ構成要素については説明を省略する場合がある。以下の実施形態では全て、ボトムエミッション型の場合の構成について説明するが、本発明に係る有機EL素子はトップエミッション型でも構わない。
 以下の実施形態では、第1電極を陽極、第2電極を陰極として説明しているが、第1電極を陰極、第2電極を陽極とした構成でも構わない。
(有機EL素子(第1の実施形態))
 図1は、本発明の第1の実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
  本発明の第1の一実施形態に係る有機EL素子10は、基板1上に、陽極(第1電極)2と、有機EL材料からなる発光層3を含む有機層103と、陰極(第2電極)4とを順に具備し、前記陰極4の前記有機層3とは反対側に、低屈折率層5と金属層6とを順に具備する。前記低屈折率層15の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低い。前記有機層103は、前記発光層3と前記陰極4との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。前記発光層3と前記金属層6の間の距離は、100nm以上400nm以下である。ここで有機厚膜層の膜厚とは発光層3と金属層6側の陰極4の平均距離をいう。
 低屈折率層5の屈折率はさらに、陰極4の屈折率よりも低いことが好ましい。
 陰極4の屈折率は、有機層3の屈折率よりも低いことが好ましい。
 陰極側構造について屈折率の比較を行う場合に、有機層の屈折率とは、有機層を構成する全ての層(有機EL材料からなる発光層を含む)の平均の屈折率をいう。後述の実施形態でも同様である。
 図1に示す有機層3はさらに、正孔輸送層や正孔注入層等の少なくとも正孔を輸送する機能を有する層19を備える。
 本発明の有機EL素子に共通する陰極側の構成である、金属層/低屈折率層/陰極/有機層の積層構造において、低屈折率層の屈折率が有機層の屈折率よりも低い構成としては、低屈折率層、陰極、有機層の屈折率をそれぞれn、n、nとすると、n<n<nの場合(以下「Bパターン」という)、n<n<nの場合(以下「Cパターン」という)と、n<n<nの場合(以下「Dパターン」という)の3通りがある。ところで、Otto型配置では、金属層/低屈折率層/高屈折率層の順で層を配置する必要がある。Bパターンの場合は、金属層/低屈折率層/陰極の構成がOtto型配置になっている。Cパターンの場合は、金属層/低屈折率層/陰極の構成がOtto型配置である他、金属層/低屈折率層+陰極/有機層の構成もOtto型配置になっている。Dパターンの場合は、金属層/低屈折率層+陰極/有機層の構成がOtto型配置になっている。
 陰極及び低屈折率層の厚さは30nm~1μmが好ましいこと、Bパターン及びCパターンでは、陰極の厚さによらず、光取り出し効率が向上すること、また、Dパターンでは陰極の厚さが厚くなるほどOtto型配置の効果が低下することが後で詳述するシミュレーションで確認された。
 B~Dパターンで最も好ましいのは、Cパターンである。この場合は、金属層/低屈折率層/陰極の構成がOtto型配置になっていると共に、金属層/低屈折率層+陰極/有機層の構成でもOtto型配置になっている。そのため、金属層からSPPモード光の再放射が最も生じやすい。さらに、低屈折率層、陰極、有機層の順に屈折率が高くなるため各界面で全反射が生じず、再放射されたSPPモード光がそのまま基板側へ取り出される。この具体的な構成としては、低屈折率層が空気やSOG(スピンオングラス)で、陰極がITOなどの透明導電材料層である場合が挙げられる。
 次に好ましいのは、Bパターンである。この場合は、金属層/低屈折率層/陰極の構成がOtto型配置になっている。そのため、金属層からSPPモード光の再放射が生じる。但し、有機層の屈折率が低屈折率層と陰極の中間の値なので再放射されたSPPモード光のうちの一部の光は陰極/有機層の界面で全反射して、残りの光が有機層に透過する。
 次に好ましいのは、Dパターンである。この場合は、金属層/低屈折率層/陰極の構成はOtto型配置になっていない。しかし、金属層/低屈折率層+陰極/有機層の構成はOtto型配置になっているため、金属層からSPPモード光の再放射が生じる。しかし、Bパターンの場合よりもさらにSPPモード光の再放射が少なくなる。この具体的な構成としては、屈折率の大小関係でn<nを満たすように陰極(例えばITO)と有機層を選び、低屈折率層としてその屈折率nがnとnの中間となるような材料、例えば、SOGを採用すればよい。
 n<n<nの場合(以下「Eパターン」という)、n<n<nの場合(以下「Fパターン」ということがある)ではOtto型配置にはならない。n<n<nの場合(以下「Aパターン」という)では、金属層/低屈折率層/陰極がOtto型配置になっており、金属層からSPPモード光の再放射は生じる。しかし、有機層の屈折率が低屈折率層よりも低いため、陰極/有機層の界面で再放射されたSPPモード光のほとんどが全反射してしまい、陽極側の導波モードに取り出すことが困難である。
 基板1は、ボトムエミッション型の有機EL素子の場合は透光性の基板であり、通常、可視光に対して透明であることが必要である。ここで、「可視光に対し透明である」とは、発光層から発する波長の可視光を透過することができればよいという意味であり、可視光領域全域にわたり透明である必要はない。400~700nmの可視光における透過率が50%以上で、平滑な基板が好ましい。
 具体的には、ガラス板、ポリマー板等が挙げられる。ガラス板としては、特にソーダ石灰ガラス、バリウム・ストロンチウム含有ガラス、鉛ガラス、アルミノケイ酸ガラス、ホウケイ酸ガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、石英等が挙げられる。ポリマー板としては、ポリカーボネート、アクリル、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリエーテルサルファイド、ポリサルフォン等を挙げることができる。
 発光光が可視光でない場合は、少なくとも発光波長領域に対して、可視光の場合と同様に透明であることが必要である。透過率としては、発光が最大強度となる波長に対し、50%以上であることが好ましく、70%以上であることが更に好ましい。
本実施形態および後述の実施形態においては、基板側から光を取り出すボトムエミッション型の素子としているが、本発明に係る有機EL素子においては、基板とは反対側(第2電極側)から光を取り出すトップエミッション型としてもよい。トップエミッション型の場合には、上記記載と同様なものの他に、不透明な材料も使用できる。具体的には、例えばCu、Ag、Au、Pt、W,Ti、Ta、Nb、Alの単体、またはこれらの元素を含んだ合金、あるいはステンレスなどの金属材料、Si、SiC、AlN、GaN、GaAs、サファイアなどの非金属材料、その他のトップエミッション型の有機EL素子で通常用いられる基板材料を用いることができる。素子の発光に伴い生じる熱を逃がすため、熱伝導率の高い材料を基板に用いることが好ましい。
 基板1の厚さは、要求される機械的強度にもよるため、限定するものではないが、好ましくは、0.01mm~10mm、より好ましくは0.05mm~2mmである。
 陽極2は陰極4との間で有機層3に電圧を印加し、陽極2より発光層を含む有機層3に正孔を注入するための電極であり、仕事関数の大きい金属、合金、導電性化合物、あるいはこれらの混合物からなる材料を用いることが好ましい。陽極に接する有機層のHOMO(Highest Occupied Molecular Orbital)準位との差が過大にならないように仕事関数が4eV以上6eV以下のものを用いるのが好ましい。陽極2の材料としては透光性でかつ導電性の材料であれば特に制限はない。例えば、酸化インジウム錫(ITO)、酸化インジウム亜鉛(IZO)、酸化錫、酸化亜鉛などの透明無機酸化物、PEDOT:PSS(ポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン)-ポリ(スチレンスルホン酸))、ポリアニリンなどの導電性高分子および任意のアクセプタなどでドープした導電性高分子、カーボンナノチューブ、グラフェンなどの透明カーボン材料を挙げることができる。ここにおいて、陽極2は、基板1上に例えば、スパッタ法、真空蒸着法、塗布法などによって形成することができる。
 陽極2の厚さは特に限定するものではないが、例えば10~2000nmであり、好ましくは50~1000nmである。陽極2の厚さが10nmより薄いと導波モード光の散乱がされにくくなる。陽極2の厚さが2000nmより厚いと有機層103の平坦度を保てなくなると共に、陽極の透過率が低下する。
 陰極4は、発光層に電子を注入するための電極であり、仕事関数の小さい金属、合金、導電性化合物、あるいはこれらの混合物からなる材料を用いることが好ましい。陰極4に接する有機層3のLUMO(Lowest Unoccupied Molecular Orbital)準位との差が過大にならないように仕事関数が1.9eV以上5eV以下のものを用いるのが好ましい。
 陰極4の材料としては、Otto型配置の陰極側構造を形成するために、透光性の導電材料とする必要がある。そのため、上記の陽極材料と同じものを用いることができる。
 陰極4の屈折率は、有機層3の屈折率よりも低いことが好ましい。
 陰極4の厚さは特に限定されないが、例えば30nm~1μmであり、好ましくは50~500nmであり、さらに好ましくは30~350nmである。陰極4の厚さが30nmより薄いとシート抵抗が増加して、駆動電圧が上昇する。陰極4の厚さが1μmより厚いと成膜時の熱や放射線によるダメージ、膜応力による機械的ダメージが電極や有機層に蓄積する。
 有機層103は、有機EL材料からなる発光層3を含み、発光層3と陰極2との間に、厚さが10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。有機厚膜層18の厚さは、好ましくは20~300nm、より好ましくは50~200nm、さらに好ましくは100~150nmである。
 有機厚膜層18の厚さが10nm未満の場合には、ホールと電子のキャリアバランスが崩れ、内部量子効率が低下するし、Otto型配置を組み合わせても、SPPモードの抑制が不十分である。有機厚膜層18の厚さ300nmを超えると駆動電圧が上昇する。
 有機厚膜層18は発光位置と陰極との間のエネルギー移動を有効に抑制するために厚くしてなる層であり、少なくとも電子を輸送する性質を有する層であれば、材料について特に制限はない。
 有機厚膜層18は電子注入層や電子輸送層であってもよいし、それらを含む複数層の層からなってもよい。電子注入層は一般には、陰極4からの電子注入効率を改善する機能を有し、素子の駆動電圧を下げる効果を有する層である。電子輸送層は電子を能率的に輸送する機能を有する層である。さらに正孔の移動を抑制する機能を有する場合もある。
 図1に示す層19は正孔注入層や正孔輸送層であってもよいし、それらを含む複数層の層からなってもよい。
 本実施形態および後述の実施形態においては、第1電極を陽極、第2電極を陰極としている。しかし、本発明に係る有機EL素子においては、前述のように第1電極を陰極、第2電極を陽極とする構成でもよい。このような構成の場合、有機厚膜層18は正孔注入層または正孔輸送層を含んでもよいし、図1に示す層19には電子注入層または電子輸送層を含んでいてもよい。
 有機層3は他の有機材料からなる層を備えてもよい。
有機厚膜層は導電性がそれほど高くないため、厚くすると駆動電圧が上昇するという問題があった。そこで、有機厚膜層を厚膜化する場合でも駆動電圧の向上を抑制するには、移動度の高い材料を用いることが好ましい。駆動電圧を考える指標として、有機厚膜層の膜厚と移動度の関係 d/μ(dは膜厚、μは移動度)で示すことができる。これは層の抵抗に相当するものである。
有機厚膜層がn層(nは1以上の整数)のサブレーヤーからなり、i番目(iは1からnまでの整数)のサブレーヤーの膜厚と移動度をそれぞれd及びμとするときは、以下の式の関係を満たすのが好ましい;
 10-15[s・V]≦ Σ(d /μ) ≦10-4[s・V]  (i=1,2,3、・・・・)
 ここで、Σは、すべての前記サブレーヤーについての和をとることを示す。有機厚膜層が単層の場合は、Σの値はd/μとなる。上記の式の単位はSI単位系である。
 有機厚膜層は上記式の範囲が好ましい。上記式が10-15[s・V]以上であれば、キャリアが少なくなり有機層による光吸収抑制が可能である。上記式が10-4[s・V]以下であれば、有機層が低抵抗となり駆動電圧が高くなるのを抑制できるという効果を奏する。
 光吸収抑制効果をさらに向上させるためには、上記式が好ましくは10-11[s・V]以上、より好ましくは10-7[s・V]以上、さらに好ましくは10-5[s・V]以下とするとよい。
一方、上記層iにおける電圧降下量をV、直流の比誘電率をε、真空の誘電率をεとすると、空間電荷制限電流領域における層i中の電流密度jは次のように表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
ただし、上式の単位はSI単位系とする。式(4)を用いると、有機厚膜層を構成する層の電圧降下量の総和は
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
となる。駆動電圧の上昇を抑えるための膜厚、移動度の条件としては、式(5)の電圧値が1.0V以下であることが好ましく、0.5V以下であることがより好ましく、0.3V以下であることが更に好ましい。ここで、電流密度jの値としては、有機EL素子の駆動で通常用いられる典型的な値として、0.1mA/cmを用いることができる。
 有機層103は、蒸着法、転写法などの乾式プロセスによって成膜してもよい。またスピンコート法、スプレーコート法、ダイコート法、グラビア印刷法など、湿式プロセスによって成膜してもよい。
 有機層103の層厚は限定するものではないが、例えば50~2000nmであり、好ましくは100~1000nmである。有機層103の層厚が50nmより薄いと突き抜け電流による内部QEの低下や損失性表面波モードカップリング(lossy surface wave mode coupling)など、金属によるSPPカップリング以外の消光が起こる。有機層103の層厚が1000nmより厚いと駆動電圧が上昇する。
 低屈折率層5は、陰極4の有機層103とは反対側に備えられており、有機層103より低い屈折率を有する材料からなる。さらに、陰極4を構成する透光性導電材料より低い屈折率を有する材料からなることが好ましい。低屈折率層5は、陰極4及び有機層103のうちの少なくとも一方よりも屈折率が0.2以上小さい材料からなることがより好ましい。
 発光層で発光した光が陰極側に伝播し、陰極4と低屈折率層5との界面に達したとき、臨界角以上の角度で入射したときに全反射が起きる。
 このような低屈折率層5の材料としては、有機層103を構成する材料より低い屈折率を有する材料であれば特に制限はない。例えば、スピンオングラス(SOG(代表的な屈折率1.25))、フッ化マグネシウム(MgF(屈折率1.38))等のハロゲン化物、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE(屈折率1.35))等の有機フッ素化合物、二酸化ケイ素(SiO(屈折率1.45))、各種の低融点ガラス、多孔性物質が挙げられる。
低屈折率層5は空気層を含む層からなり、陰極4を構成する透光性導電材料より低い屈折率を有するものでもよい。後述の実施形態においても同様である。
 低屈折率層5の厚さは特に限定されないが、例えば20nm~1μmであり、好ましくは、20~350nmさらに好ましくは50~200nmである。低屈折率層5の厚さが20nmより薄いとSPPが陰極4の影響を受けて波数が(1)式よりも大きくなり、SPPが有機層3中に取り出されなくなる(有機層3の伝播光と分散が交わらなくなる)。低屈折率層5の厚さが1μmより厚いと有機層3中の伝播光のエバネッセント波が陰極4に届かなくなりSPPが取り出されなくなる。
 金属層6は、陰極4の有機層103とは反対側に低屈折率層5を介して備えられている。
 金属層6は発光光の反射層として用いられるため、反射率の良いものが好ましい。そのような金属層6の材料としてはほとんどの金属の単体または合金を用いることができるが、複素誘電率の実部が負で、実部の絶対値が大きな値を持つような材料が好ましい。かかる材料としては例えば、金、銀、銅、亜鉛、アルミニウム、マグネシウム等の単体や、金と銀との合金、銀と銅との合金、真鍮等の合金が挙げられる。金属層6は、2層以上の積層構造であってもよい。上記の反射率の良い材料は、発光層における発光光によるプラズモン共鳴が生じやすいが、前述したOtto型配置の陰極側構造、有機厚膜層でプラズモン共鳴を抑制することができる。
 金属層6の厚さは特に限定されないが、例えば20~2000nmであり、好ましくは50~500nmである。金属層6の厚さが20nmより薄いと反射率が低くなり正面輝度が低下する。金属層6の厚さが500nmより厚いと成膜時の熱や放射線によるダメージや、膜応力による機械的ダメージが電極や有機層に蓄積する。
(有機EL素子(第2の実施形態))
 図2は、本発明の第2の実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 本発明の第2の実施形態に係る有機EL素子20は、基板11上に、陽極12と、有機EL材料からなる発光層3を含む有機層13と、陰極14とを順に具備し、前記陰極14の前記有機層13とは反対側に、低屈折率層15と金属層16とを順に具備する。前記有機層13は、前記発光層3と前記陰極14との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。前記発光層3と前記金属層16の間の距離は100nm以上400nm以下である。前記低屈折率層15の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低い。陽極12と陰極14との間に、有機層13の屈折率より低い屈折率を有すると共に複数の孔部17A(図10(f)参照)を備えた誘電体層17を具備する。有機層13は、孔部17Aの内側面17aを被覆する孔内側面被覆部13aを有する。前記陽極12は、前記孔部17に連通する陽極孔部12A(図10(g)参照)を備える。前記基板11は、前記陽極孔部12aに連通する凹部11A(図10(h)参照)を備える。前記有機層13はさらに、前記陽極(第1電極)孔部12Aの内側面12aを被覆する陽極(第1電極)孔内側面被覆部13bと、前記凹部11Aの内側面11aを被覆する凹内側面被覆部13cとを有する。
 孔内側面被覆部、陽極孔内側面被覆部及び凹内側面被覆部は、有機層を構成する層のうちの一部によって構成されていてもよい。
 図2に示す例では、有機層13はさらに、前記誘電体層17及び前記孔内側面被覆部13aと前記陰極14との間に配置される層状部13dを有する。層状部13dは、発光層3及び有機厚膜層18を含む。
 図2に示す有機層13はさらに、発光層3より陽極側に正孔輸送層や正孔注入層等の少なくとも正孔を輸送する機能を有する層19を備える。
 孔内側面被覆部、陽極孔内側面被覆部及び凹内側面被覆部は、有機層を構成する層のうちの一部によって構成されていてもよい。
 孔部、陽極孔部及び凹部の形状はそれらの内側面で光を基板側へ屈折させる効果を奏するものであれば特に限定はされない。ただし、有機層13中の光をより垂直に屈折させる観点からは基板11側の孔部底面積より陰極14側の孔部上面積が小さい形状が好ましい。BP1のような光線を、屈折させることなくまっすぐ基板まで取り出す観点からは陰極14側の孔部上面積より基板11側の孔部底面積が小さい形状が好ましい。さらに、有機層13中の光を強く回折させ、より少ない伝播距離で取り出す観点からは孔部底面の面積ができるだけ小さいほど好ましいので、これら形状自体が小さいことが望ましい。図2で示した例では、それらの内側面は基板面に対して垂直に配置する構成であるが、かかる構成である必要はない。
 陽極孔部の内側面が基板面に対する角度は30°以上が好ましく、45°以上がより好ましく、60°以上がより一層好ましい。また逆テーパー(基板11側の孔部底面が発光層3側の孔部上面より大きい)でも構わない。陽極孔部の内側面12aをこのような角度とすることにより、発光位置から陽極側へ向かう光とSPPモード光から有機層13中へ再放射された光が陽極孔部の内側面12aに外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ取り出される。
 本実施形態では、基板11は複数の凹部11Aを備えるので、より精確に加工しやすい材料であるのが好ましい。好ましい材料としては限定するものではないが、例えば、石英が挙げられる。
 陽極12は、複数の陽極孔部12A(図10(h)参照)を備えているが、その陽極孔部12Aの内側面12aが有機層13によって被覆されている(陽極孔内側面被覆部13b)。また、陽極12の上面が誘電体層17によって被覆されているという特徴がある。
陽極孔内側面被覆部13bは内側面12aを被覆していれば、陽極孔部12Aを充填する構成でも、一部を埋める構成でもよい。
 誘電体層17は、有機層13の屈折率より低い屈折率を有すると共に複数の孔部17Aを備えている。この孔部17Aの内側面17aは有機層13によって被覆されている(孔内側面被覆部13a)。孔内側面被覆部13aは内側面17aを被覆していれば、孔部17Aを充填する構成でも、一部を埋める構成でもよい。
 上記のように誘電体層17の周辺の構造について屈折率の比較を行う場合には、有機層の屈折率とは、有機層を構成する全ての層(有機EL材料からなる発光層を含む)の平均の屈折率をいう。後述の実施形態における誘電体層も同様である。
 誘電体層17の材料としては、有機層13の屈折率より低い屈折率を有する材料であれば特に制限はされない。有機層13の屈折率が1.72である場合は、例えば、SOG(屈折率1.25)、MgF(1.38)等の金属フッ化物、PTFE等の有機フッ素化合物、SiO(1.45)、各種の低融点ガラス、多孔性物質が挙げられる。
 誘電体層17の厚さは特に限定されない。例えば10~2000nmであり、好ましくは50~1000nmである。誘電体層17の厚さが10nmより薄いと有機層に対する誘電体層17の体積が小さくなり、有機層13中から孔部17Aの側面に入射したが屈折されにくくなる。誘電体層17の厚さが2000nmより厚いと有機層13の平坦度を保ちにくくなる。
 有機層13は、有機EL材料からなる発光層3を含み、発光層3と陰極14との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。その前記発光層3と前記金属層16の間の距離が100nm以上400nm以下である。有機層13は、正孔輸送層や正孔注入層等の少なくとも正孔を輸送する機能を有する層19を備える。また、有機層13は、孔部17Aの内側面17aを被覆する孔内側面被覆部13aと、前記陽極孔部12Aの内側面12aを被覆する陽極孔内側面被覆部13bと、前記凹部11Aの内側面11aを被覆する凹内側面被覆部13cとを有する。図2に示す例ではさらに、有機層13は前記誘電体層17及び前記孔内側面被覆部13aと前記陰極14との間に配置される層状部13dを有している。
 次に、本実施形態の有機EL素子の作用効果を、図2を用いて模式的に説明する。
 本実施形態の有機EL素子は、有機厚膜層18が10nm以上の厚さを有し、発光層3と陰極14との間の距離が大きいので、エネルギー移動がしにくく、SPPモード光の発生自体が抑制されている。
 図2に矢印で示した光の伝播の仕方は、それでも発生したSPPモード光が本実施形態に特徴的な構成によってどのように取り出されるか、その作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
 本発明の作用効果を説明するために、内側面における屈折を特に誇張して図示しているが、他の界面においても屈折の法則に従って屈折が生じていることは言うまでもない。以下の他の図における矢印についても同様である。
 有機層13に含まれる発光層3のAPi点で発光した光のうち、一部が有機層18中のエバネッセント波(AP1)を介してSPP(矢印AP3)を励起する。
 励起されたSPPモード光は、低屈折率層15中のエバネッセント波(矢印AP4)との共鳴を介して、所定の角度で陰極14に放射され(矢印AP5)、伝播光として有機層13に取り出されうる。
 図2において、発光点(あるいは発光箇所)APiは平面視して陽極孔部12Aと重なる位置の発光点を示すものであ(以下、この点での発光を「in発光」ということがある。)る。発光点APoは平面視して誘電体層17と重なる位置の発光点を示すものであ(以下、この点での発光を「out発光」ということがある。)る。発光点APeは「in発光」と「out発光」との境界位置での発光を示すもの(以下、この点での発光を「in-out端発光」ということがある。)である。「out発光」及び「in-out端発光」については、陰極14と低屈折率層15との界面での全反射を示す矢印は省略している。
 この作用効果の説明では「in発光」の場合についてのみ詳細に説明しているが、「out発光」及び「in-out端発光」についても、SPP(矢印AP3)励起後の光の伝播は「in発光」の場合と同様である。
 電流は陰極と陽極との間に流れる。この構成では、誘電体層17が陰極12と陽極14との間に備えられるため、発光点APoでの発光である「out発光」は電流が流れにくいルートにおける発光となる。これに対して、「in発光」は、陰極12と陽極14との間の電流の流れを誘電体層17が直接妨げる位置にないルートにおける発光となる。このため、「in発光」の方が「out発光」より発光量が多い。
 ここで、有機層13のAPi点で発光した光は全方位に進むので矢印AP1以外の方向に進む光も当然存在する。矢印AP1は本発明の作用効果を説明するために、そのうちの一部の光の伝播を摸式的に示しているに過ぎない。矢印AP2及び矢印BP1~BP4で示した光、並びに後述する矢印CP1~CP4で示した光についても一部の光の伝播を摸式的に示しているに過ぎない。APo点及びAPe点で発光した光についても同様である。
 屈折は屈折率が異なる材料の界面で生じるが、本発明の効果を説明するために特に必要ではない図中の界面では、屈折作用の図示を省略している。
 陰極側構造(陰極14、低屈折率層15、金属層16)から有機層13のBP点にまで取り出された光は、BP1のように伝播して基板11まで取り出される。
 すなわち、BP点から有機層13を通って進む光BP1(導波モード光)は、有機層13と誘電体層17との界面(孔部17Aの内側面17a)で屈折する。屈折した光は、誘電体層17を透過し、誘電体層17と陽極12との界面で屈折して陽極12内を進み、陽極12と基板11との界面で屈折した後、基板11内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光BP1が有機層13から誘電体層17へ進む際、光BP1は有機層13と誘電体層17との界面(孔部17Aの内側面17a)における屈折により、基板11への入射角が小さい角度(基板11に対して垂直方向により近い角度)に変わる。基板(例えば、ガラス)と空気との界面では臨界角以上の角度で入射した光は全反射するが、この孔部17Aの内側面17aでの屈折により、光が屈折して基板11への入射角が小さい角度に変わる。そのため、基板と空気との界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、孔部17Aの内側面17aを備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
 図示しないが、BP点から有機層13を通って進む光BP1が有機層13cと基板11との界面で屈折する場合にも、この屈折により基板11への入射角が小さい角度に変わるので同様に、基板と空気との界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する効果が得られる。
 この構成においては、陰極14と陽極12との間の最短距離近傍が最も電流密度が高く、発光量が多くなる。有機層13に含まれる発光層のCPl及びCPr点での発光はこの発光量が多い点での発光を摸式的に示すものである。
 有機層13に含まれる発光層のCPl点で発光した光のうち、光CP1は基板に対して垂直方向に基板側に進む光であり、有機層13と基板11との界面で屈折することなく基板11内を進み、外部に取り出される。
 光CP2は、有機層13aと誘電体層17との界面(孔部17Aの内側面17a)で屈折する。屈折した光は、誘電体層17を透過し、誘電体層17と陽極12との界面で屈折して陽極12内を進み、陽極12と基板11との界面で屈折した後、基板11内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光CP2が有機層13から誘電体層17へ進む際、有機層13aと誘電体層17との界面(孔部17Aの内側面17a)における屈折により、基板11への入射角が小さい角度に変わる。基板(例えば、ガラス)と空気との界面では臨界角以上の角度で入射した光は全反射するが、この孔部17Aの内側面17aでの屈折により基板11への入射角が小さい角度に変わる。そのため、基板11と空気との界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。光CP3についても同様の効果が得られる。
 CPl点から有機層13を通って進む光CP4は、有機層13cと基板11の凸部11Bとの界面(凹部11Aの内側面11a(基板11に対して垂直に延びる、基板11の凸部11Bと有機層13との界面)で屈折する場合にも、この屈折により基板11への入射角が小さい角度に変わる。そのため同様に、基板と空気との界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する効果が得られる。
 有機層13に含まれる発光層のCPr点で発光した光についても、CPl点で発光した光と同様な効果が得られる。
(有機EL素子(第3の実施形態))
 図3は、本発明の第3の実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 本発明の第3の実施形態に係る有機EL素子30は、基板21上に、陽極22と、有機EL材料からなる発光層3を含む有機層23と、陰極24とを順に具備し、前記陰極24の前記有機層23とは反対側に、低屈折率層25と金属層26とを順に具備する。前記有機層23は、前記発光層3と前記陰極24との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。前記発光層3と前記金属層26の間の距離は100nm以上400nm以下である。前記低屈折率層25の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低い。さらに前記陽極22と前記陰極24との間に、前記有機層23の屈折率より低い屈折率を有すると共に複数の孔部27A(図11(a)参照)を備えた誘電体層27を具備する。前記有機層23は少なくとも、前記孔部27Aの内側面27aを被覆する孔内側面被覆部23aを有するものである。
 図3に示す例では、前記有機層23はさらに、前記誘電体層27及び前記孔内側面被覆部23aと前記陰極24との間に配置される層状部23bを有するものである。層状部23bは、発光層3及び有機厚膜層18を含む。
 図3に示す有機層23はさらに、発光層3より陽極側に正孔輸送層や正孔注入層等の少なくとも正孔を輸送する機能を有する層19を備える。
 孔内側面被覆部23aは、有機層23を構成する層のうちの一部によって構成されていてもよい。
 孔部の形状はその内側面で光を基板側へ屈折させる効果を奏するものであれば特に限定はされない。有機層23中の光をより垂直に屈折させる観点からは陽極22側の底面積より陰極24側の底面積が小さい形状が好ましい。BQ1のような光線を、屈折させることなくまっすぐ基板まで取り出す観点からは陰極24側の底面積より陽極22側の面積が小さい形状が好ましい。有機層23中の光を強く回折させ、より少ない伝播距離で取り出す観点からは底面の面積ができるだけ小さい形状が好ましい。図3で示した例では、内側面は基板面に対して垂直に配置する構成であるが、かかる構成である必要はない。
 孔部27Aの内側面27aが基板面に対する角度は30°以上が好ましく、45°以上がより好ましく、60°以上がより一層好ましい。また逆テーパーでも構わない(基板21側の孔部底面が発光層3側の孔部上面より大きい)。孔部27Aの内側面27aをこのような角度とすることにより、発光位置から陽極側へ向かう光とSPPモード光から有機層23中へ再放射された光が孔部27Aの内側面27aに外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ取り出される。
 誘電体層27は、有機層の屈折率より低い屈折率を有すると共に複数の孔部27Aを備えている。この孔部27Aの内側面27aは有機層23(孔内側面被覆部23a)によって被覆されている。孔内側面被覆部23aは内側面27aを被覆していれば、孔部27Aを充填する構成でも、一部を埋める構成でもよい。
  誘電体層27の材料及び厚さとしては、第1の実施形態の誘電材料及び厚さと同様なものを用いることができる。
 有機層23は、有機EL材料からなる発光層3を含み、発光層3と陰極24との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。また前記発光層3と前記金属層26の間の距離が100nm以上400nm以下である。さらに正孔輸送層や正孔注入層等の少なくとも正孔を輸送する機能を有する層19を備える。有機層23は、前記孔部27Aの内側面27aを被覆する孔内側面被覆部23aと、前記誘電体層27及び前記孔内側面被覆部23aと前記陰極24との間に配置される層状部23bを有している。
 次に、本実施形態の有機EL素子の作用効果を、図3を用いて模式的に説明する。図3に矢印で示した光の伝播の仕方は、作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
 まず、本実施形態の有機EL素子は、有機厚膜層18が10nm以上の厚さを有し、発光層3と陰極14との間の距離が大きいので、エネルギー移動がしにくく、SPPモード光の発生自体が抑制されている。
 図3に矢印で示した光の伝播の仕方は、それでも発生したSPPモード光が本実施形態に特徴的な構成によってどのように取り出されるか、その作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
 有機層23に含まれる発光層のAQi点で発光した光のうち、陰極24側に進んだ光が陰極24と低屈折率層25との界面で臨界角以上の大きい入射角で入射して(矢印AQ1)全反射した場合(矢印AQ1r)、低屈折率層25中にエバネッセント波(矢印AQ2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層26と低屈折率層25との界面まで沁み出し、SPP(矢印AQ3)が励起される。
 励起されたSPPモード光は、エバネッセント波(矢印AQ4)との共鳴を介して、所定の角度で陰極24に放射され(矢印AQ5)、導波モード光として有機層23に取り出されうる。
 図3において、発光点(あるいは発光箇所)AQiは平面視して孔部27Aと重なる位置(有機層23を介して陽極22と対面する位置)の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「in発光」ということがある。)。発光点AQoは平面視して誘電体層27と重なる位置の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「out発光」ということがある。)。発光点AQeは「in発光」と「out発光」との境界位置での発光を示すもの(以下、この点での発光を「in-out端発光」ということがある。)である。「out発光」及び「in-out端発光」については、陰極24と低屈折率層25との界面での全反射を示す矢印は省略している。
 この作用効果の説明では「in発光」の場合についてのみ詳細に説明しているが、「out発光」及び「in-out端発光」についても、SPP(矢印AQ3)励起後の光の伝播は「in発光」の場合と同様である。
 電流は陰極と陽極との間に流れるので、「in発光」の方が「out発光」より発光量が多い。
 陰極側構造(陰極24、低屈折率層25、金属層26)から低屈折率層25のBQ点にまで取り出された光は取り出される角度により、BQ1のように伝播して基板21まで取り出される。
 すなわち、BQ点から有機層23を通って進む光BQ1は、有機層23と誘電体層27との界面(孔部27Aの内側面27a)で屈折する。屈折した光は、誘電体層27を透過し、誘電体層27と陽極22との界面で屈折して陽極22内を進み、陽極22と基板21との界面で屈折した後、基板21内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光BQ1が有機層23から誘電体層27へ進む際、有機層23aと誘電体層27との界面(孔部27Aの内側面27a)における屈折により、基板21への入射角が小さい角度に変わる。基板(例えば、ガラス)と空気との界面では臨界角以上の角度で入射した光は全反射するが、この孔部27Aの内側面27aでの屈折により基板21への入射角が小さい角度に変わる。そのため、基板21と陽極22の界面及び基板21と空気の界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、孔部27Aの内側面27aを備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
 有機層23に含まれる発光層のCQ点で発光した光のうち、光CQ1は基板に対して垂直方向に基板側に進む光である。有機層23と陽極22との界面及び陽極22と基板21との界面でも屈折することなく、陽極22内、基板21内を進み、外部に取り出される。
 光CQ2は孔部27Aの内側面27aにおいて基板21側に屈折し、有機層23と陽極22との界面で屈折し、陽極22内、基板21内を通って外部に取り出されうる。
この界面(内側面27a)がない構成では基板21と陽極22の界面及び基板21と空気の界面で全反射を生じる。しかし、この界面(内側面27a)を有することにより、孔部27Aの内側面27aでの屈折により導波モード光の基板21への入射角が小さい角度に変わるため、全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、孔部27Aの内側面27a(基板21に対して垂直に延びる、誘電体層27と有機層23aとの界面)を備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
 光CQ3も同様に、孔部27Aの内側面27aにおいて、基板21側に屈折して導波モード光の基板21への入射角が小さい角度に変わり、有機層23と陽極22との界面で屈折し、陽極22内、基板21内を通って外部に取り出されうる。
(有機EL素子(第4の実施形態))
 図4は、本発明の第4の実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 本発明の第4の実施形態に係る有機EL素子40は、基板31上に、陽極32と、有機EL材料からなる発光層3を含む有機層33と、陰極34とを順に具備し、前記陰極34の前記有機層33とは反対側に、低屈折率層35と金属層36とを順に具備する。前記有機層33は、前記発光層3と前記陰極34との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。前記発光層3と前記金属層36の間の距離が100nm以上400nm以下である。前記低屈折率層35の屈折率は前記有機層33の屈折率よりも低い。前記陽極32と前記陰極34との間には、前記有機層33の屈折率より低い屈折率を有すると共に複数の孔部37A(図12(a)参照)を備えた誘電体層37を具備する。前記有機層33は少なくとも、前記孔部37Aの内側面37aを被覆する孔内側面被覆部33aを有するものである。前記陽極32は、前記孔部37Aに連通する陽極孔部32Aを備え、前記有機層はさらに、前記陽極孔部32Aの内側面32aを被覆する陽極孔内側面被覆部33bを備える。
 図4に示す例では、前記有機層33はさらに、前記誘電体層37及び前記孔内側面被覆部33aと前記陰極34との間に配置される層状部33cを有するものである。層状部33cは、発光層3及び有機厚膜層18を含む。
 図4に示す有機層33はさらに、発光層3より陽極側に正孔輸送層や正孔注入層等の少なくとも正孔を輸送する機能を有する層19を備える。
 孔内側面被覆部及び陽極孔内側面被覆部は、有機層を構成する層のうちの一部によって構成されていてもよい。
 孔部及び陽極孔部の形状はそれらの内側面で光を基板側へ屈折させる効果を奏するものであれば特に限定はない。有機層33中の光をより垂直に屈折させる観点からは基板31側の孔部底面積より陰極34側の孔部上面積が小さい形状が好ましい。BR1のような光線を、屈折させることなくまっすぐ基板まで取り出す観点からは陰極34側の孔部上面積より基板31側の孔部底面積が小さい形状が好ましい。有機層33中の光を強く回折させ、より少ない伝播距離で取り出す観点からは孔部底面の面積ができるだけ小さいほど好ましいので、これら形状自体が小さいことが望ましい。図4で示した例では、それらの内側面は基板面に対して垂直に配置する構成であるが、かかる構成である必要はない。
 陽極孔部の内側面及び孔部の内側面が基板面に対する角度は30°以上が好ましく、45°以上がより好ましく、60°以上がより一層好ましい。また逆テーパーでも構わない(基板31側の孔部底面が発光層3側の孔部上面より大きい)。陽極孔部の内側面及び孔部の内側面をこのような角度とすることにより、発光位置から陽極側へ向かう光とSPPモード光から有機層33中へ再放射された光が陽極孔部の内側面及び孔部の内側面に外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ取り出される。
 陽極32は複数の陽極孔部32Aを備えている。その陽極孔部32Aの内側面32aは有機層33によって被覆されている(陽極孔内側面被覆部33b)。陽極32の上面は誘電体層37によって被覆されている。陽極孔内側面被覆部33bは内側面32aを被覆していれば、陽極孔部32Aを充填する構成でも、一部を埋める構成でもよい。
 誘電体層37は、有機層の屈折率より低い屈折率を有すると共に複数の孔部37Aを備えている。この孔部37Aの内側面37aは有機層33(孔内側面被覆部33a)によって被覆されている。孔内側面被覆部33aは内側面37aを被覆していれば、孔部37Aを充填する構成でも、一部を埋める構成でもよい。
 有機層33は、有機EL材料からなる発光層3を含み、発光層3と陰極32との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含み、前記発光層3と前記金属層36の間の距離が100nm以上400nm以下である。正孔輸送層や正孔注入層等の少なくとも正孔を輸送する機能を有する層19を備える。有機層33は、前記孔部37Aの内側面37aを被覆する孔内側面被覆部33aと、陽極孔部32Aの内側面を被覆する陽極孔内側面被覆部33bと、前記誘電体層37及び前記孔内側面被覆部33aと前記陰極34との間に配置される層状部33cを有している。
 次に、本実施形態の有機EL素子の作用効果を、図4を用いて模式的に説明する。図4に矢印で示した光の伝播の仕方は、作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
 まず、本実施形態の有機EL素子は、有機厚膜層18が10nm以上の厚さを有し、発光層3と陰極34との間の距離が大きいので、エネルギー移動がしにくく、SPPモード光の発生自体が抑制されている。
 図4に矢印で示した光の伝播の仕方は、それでも発生したSPPモード光が本実施形態に特徴的な構成によってどのように取り出されるか、その作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
 有機層33に含まれる発光層のARi点で発光した光のうち、陰極34側に進んだ光が陰極34と低屈折率層35との界面で臨界角以上の大きい入射角で入射して(矢印AR1)全反射した場合(矢印AR1r)、低屈折率層35中にエバネッセント波(矢印AR2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層36と低屈折率層35との界面まで沁み出し、SPP(矢印AR3)が励起される。
 励起されたSPPは、エバネッセント波(矢印AR4)との共鳴を介して、所定の角度で陰極34に放射され(矢印AR5)、導波モード光として有機層33に取り出されうる。
 図4において、発光点(あるいは発光箇所)ARiは平面視して孔部37Aと重なる位置の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「in発光」ということがある。)。発光点ARoは平面視して誘電体層37と重なる位置の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「out発光」ということがある。)。発光点Aeは「in発光」と「out発光」との境界位置での発光を示すものである(以下、この点での発光を「in-out端発光」ということがある。)。「out発光」及び「in-out端発光」については、陰極34と低屈折率層35との界面での全反射を示す矢印は省略している。
 この作用効果の説明では「in発光」の場合についてのみ詳細に説明しているが、「out発光」及び「in-out端発光」についても、SPP(矢印AP3)励起後の光の伝播は「in発光」の場合と同様である。
 電流は陰極34と陽極32との間に流れる。この構成では、誘電体層37が陰極34と陽極32との間に有するため、発光点ARoでの発光である「out発光」は電流が流れにくいルートにおける発光となる。これに対して、「in発光」は、陰極34と陽極32との間の電流の流れを誘電体層37が直接妨げる位置にないルートにおける発光となる。このため、「in発光」の方が「out発光」より発光量が多い。
 陰極側構造(陰極34、低屈折率層35、金属層36)から低屈折率層35のBR点にまで取り出された光は所定の角度でBR1のように伝播して基板31まで取り出される。
 すなわち、BR点から有機層33を通って進む光BR1は、孔部37Aの内側面37a(基板31に対して垂直に延びる、誘電体層37と有機層33aとの界面)において基板31側に屈折する。屈折した光は、誘電体層37を透過し、誘電体層37と陽極32との界面でさらに屈折して陽極32内を進み、陽極32と基板31との界面で屈折した後、基板31内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光BR1が有機層33から誘電体層37へ進む際、有機層33aと誘電体層37との界面(孔部37Aの内側面37a)における屈折により、基板31への入射角が小さい角度に変わる。この界面(内側面37a)がない構成では、基板31と陽極32の界面及び基板31と空気の界面で全反射を生じ得る。しかし、この界面(内側面37a)を有することにより、孔部37Aの内側面37aでの屈折により有機層内の伝播光の基板31への入射角が小さい角度に変わる。そのため、全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、孔部37Aの内側面37aを備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
 この構成においては、陰極34と陽極32との間の最短距離近傍が最も電流密度が高く、発光量が多くなる。有機層33に含まれる発光層のCRl及びCRr点での発光はこの発光量が多い点での発光を摸式的に示すものである。
 有機層33に含まれる発光層のCRl点で発光した光のうち、光CR1は基板に対して垂直方向に基板側に進む光である。そのため、有機層33と基板31との界面で屈折することなく、基板31内を進み、外部に取り出される。
 光CR2は、孔部37Aの内側面37aで基板31側に屈折する。屈折した光は、誘電体層37を透過し、誘電体層37と陽極32との界面で屈折して陽極32内を進み、陽極32と基板31との界面で屈折した後、基板31内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光CR2が有機層33から誘電体層37へ進む際、有機層33と誘電体層37との界面(孔部37Aの内側面37a)における屈折により、基板31への入射角が小さい角度に変わる。陽極32と基板31との界面及び基板(例えば、ガラス)と空気との界面では臨界角以上の角度で入射する光は全反射するが、この孔部37Aの内側面37aでの屈折により基板31への入射角が浅い角度に変わる。そのため、その全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。光CR3についても同様の効果が得られる。
 有機層33に含まれる発光層のCRr点で発光した光についても、CRl点で発光した光と同様な効果が得られる。
(有機EL素子(第5の実施形態))
 図5は、本発明の第5の実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 本発明の第5の実施形態に係る有機EL素子50は、基板41上に、陽極42と、有機EL材料からなる発光層3を含む有機層43と、陰極44とを順に具備し、前記陰極44の前記有機層43とは反対側に、低屈折率層45と金属層46とを順に具備する。前記有機層43は、前記発光層3と前記陰極44との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。前記発光層3と前記金属層46の間の距離は100nm以上400nm以下である。前記低屈折率層45の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低い。前記陽極42は、その陽極42の屈折率より低い屈折率を有する誘電体層47によってその内側面42aを被覆された複数の陽極孔部42A(図13(e)参照)を備える。
 図5に示す有機層43はさらに、発光層3より陽極側に正孔輸送層や正孔注入層等の少なくとも正孔を輸送する機能を有する層19を備える。
 陽極孔部の形状はその内側面で光を基板側へ屈折させる効果を奏するものであれば特に限定はされない。有機層43中の光をより垂直に屈折させる観点からは基板41側の底面積より陰極44側の底面積が大きい形状が好ましい。B2のような光線を、屈折させることなくまっすぐ基板まで取り出す観点からは陰極44側の底面積より基板41側の面積が大きい形状が好ましい。有機層43中の光を強く回折させ、より少ない伝播距離で取り出す観点からは底面の面積ができるだけ大きい形状が好ましい。
 陽極のシート抵抗が高くならないためには、基板41側及び陰極44側の孔部の底面積はできるだけ小さい方が良い。
 図5で示した例では、陽極孔部の内側面42aは基板面に対して垂直に配置する構成であるが、かかる構成に限定されない。陽極孔部の内側面が基板面に対する角度は30°以上が好ましく、45°以上がより好ましく、60°以上がより一層好ましい。また逆テーパー(基板41側の孔部底面が発光層3側の孔部上面より大きい)でも構わない。陽極孔部の内側面42aをこのような角度とすることにより、発光位置から陽極側へ向かう光とSPPモード光から有機層43へ再放射された光が陽極孔部の内側面42aに外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ取り出される。
 陽極42は、複数の陽極孔部42A(図13(e)参照)を備えている。この陽極孔部42Aの内側面42aは陽極42の屈折率より低い屈折率を有する誘電体層47によって被覆されている。誘電体層47は内側面42aを被覆していれば、陽極孔部42Aを充填する構成でも、一部を埋める構成でもよい。
 誘電体層47は、陽極42の陽極孔部42Aの内側面42aを被覆しており、陽極42の屈折率より低い屈折率を有する材料からなる。
 誘電体層47をかかる構成及び材料としたのは、陽極孔部42Aの内側面42aに入射する光を、この界面において基板41側に屈折させるためである。屈折により、有機層内を伝播する光の入射角を小さい角度に変えることで全反射を生じる光の割合を低減させ、光取り出し効率を向上させる。
 有機層43は、有機EL材料からなる発光層3を含み、発光層3と陰極42との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含み、前記発光層3と前記金属層46の間の距離が100nm以上400nm以下である。
 次に、本実施形態の有機EL素子の作用効果を、図5を用いて模式的に説明する。図5に矢印で示した光の伝播の仕方は、作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
 まず、本実施形態の有機EL素子は、有機厚膜層18が10nm以上の厚さを有し、発光層3と陰極44との間の距離が大きいので、エネルギー移動がしにくく、SPPモード光の発生自体が抑制されている。
 図5に矢印で示した光の伝播の仕方は、それでも発生したSPPモード光が本実施形態に特徴的な構成によってどのように取り出されるか、その作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
 有機層43に含まれる発光層のASi点で発光した光のうち、陰極44側に進んだ光が陰極44と低屈折率層45との界面で臨界角以上の大きな入射角で入射して(矢印AS1)全反射した場合(矢印AS1r)、低屈折率層45中にエバネッセント波(矢印AS2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層46と低屈折率層45との界面まで沁み出し、SPP(矢印AS3)が励起される。
 励起されたSPPは、エバネッセント波(矢印AS4)との共鳴を介して、所定の角度で陰極44に放射され(矢印AS5)、導波モード光として有機層43に取り出されうる。
 図5において、発光点(あるいは発光箇所)ASiは平面視して電極と重なる位置の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「in発光」ということがある。)。発光点ASoは平面視して電極と重なる位置の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「out発光」ということがある。)。発光点ASeは「in発光」と「out発光」との境界位置での発光を示すもの(以下、この点での発光を「in-out端発光」ということがある。)である。「out発光」及び「in-out端発光」については、陰極44と低屈折率層45との界面での全反射を示す矢印は省略している。
 この作用効果の説明では「in発光」の場合についてのみ詳細に説明しているが、「out発光」及び「in-out端発光」についても、SPP(矢印A3)励起後の光の伝播は「in発光」の場合と同様である。
 電流は陰極と陽極との間に流れるので、発光点ASiは発光点ASoよりも電流密度が高いルートに位置するため、「in発光」の方が「out発光」より発光量が多い。
 陰極側構造(陰極44、低屈折率層45、金属層46)から低屈折率層45のBS点にまで取り出された光は取り出される角度により、BS1のように伝播して基板41まで取り出される。
 すなわち、BS点から有機層43を通って進む光BS1(導波モード光)は、有機層43と陽極42との界面で屈折し、陽極42を透過し、陽極42と誘電体層47との界面(陽極孔部42Aの内側面42a)で屈折する。屈折した光は、誘電体層47と基板41との界面でさらに屈折した後、基板41内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光BS1が陽極42から誘電体層47へ進む際、誘電体層47と陽極42との界面(陽極孔部42Aの内側面42a)における屈折により、基板41への入射角が小さい角度に変わる。基板(例えば、ガラス)と空気との界面では臨界角以上の角度で入射する光は全反射するが、この内側面42aでの屈折により基板41への入射角が小さい角度に変わる。そのため、基板と空気との界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、陽極孔部42Aの内側面42aを備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
 有機層43に含まれる発光層のCS点で発光した光のうち、光CS1は基板に対して垂直に基板側に進む光である。そのため有機層43と陽極42との界面及び陽極42と基板41との界面でも屈折することなく、陽極42内、基板41内を進み、外部に取り出される。
 光CS2は、有機層43と陽極42との界面で屈折して陽極42に入り、陽極42を透過して、陽極42と誘電体層47との界面(陽極孔部42Aの内側面42a)で屈折する。この屈折した光は、陽極42と基板41との界面でさらに屈折した後、基板41内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光CS2が陽極42から誘電体層47へ進む際、誘電体層47と陽極42との界面(陽極孔部42Aの内側面42a)における屈折により、基板41への入射角が小さい角度に変わる。基板(例えば、ガラス)と空気との界面では臨界角以上の角度で入射した光は全反射するが、この内側面42aでの屈折により基板41への入射角が小さい角度に変わる。そのため、基板と空気との界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、陽極孔部42Aの内側面42aを備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。光CS3についても同様の効果が得られる。
 上述の通り、有機層43で発光した光は全方位に進むので当然、陰極側構造に進む光等もあるが、CS1~CS3は図5における矢印は本発明の作用効果を説明するために、そのうちの一部の光の伝播を摸式的に示しているに過ぎない。
(有機EL素子(第6の実施形態))
 図6は、本発明の第6の実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 本発明の第6の実施形態に係る有機EL素子60は、基板51上に、陽極52と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層53と、陰極54とを順に具備し、前記陰極54の前記有機層53とは反対側に、低屈折率層55と金属層56とを順に具備する。前記有機層53は、前記発光層3と前記陰極54との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。前記発光層3と前記金属層56の間の距離は100nm以上400nm以下である。前記低屈折率層55の屈折率は、前記有機層53の屈折率よりも低い。前記陽極52は、複数の陽極孔部52A(図14(e)参照)を備える。前記有機層53は、前記陽極孔部52Aの内側面52aを被覆する陽極孔内側面被覆部53aと、前記陽極52及び前記陽極孔内側面被覆部53aと前記陰極54との間に配置される層状部53bとを有するものである。
 図6に示す有機層53では、発光層3より陽極側に正孔輸送層や正孔注入層等の少なくとも正孔を輸送する機能を有する層19を備える。陽極孔内側面被覆部53aは層19からなるが、陽極孔内側面被覆部53aは、有機層53を構成する層のうちの一部によって構成されていてもよい。
 陽極孔部52Aの形状はその内側面で光を基板側へ屈折させる効果を奏するものであれば特に限定はされない。有機層53中の光をより垂直に屈折させる観点からは基板51側の底面積より陰極54側の底面積が小さい形状が好ましい。SPPから有機層53に斜めに放射された光を、屈折させることなくまっすぐ基板まで取り出す観点からは陰極54側の底面積より基板51側の面積が小さい形状が好ましい。有機層53中の光を強く回折させ、より少ない伝播距離で取り出す観点からは底面の面積ができるだけ小さい形状が好ましい。図6で示した例では、その内側面は基板面に対して垂直に配置する構成であるが、かかる構成である必要はない。図6では有機層53の屈折率が陽極52の屈折率より低い場合の例を示しているが、これに限定されない。逆の場合でも光線の方向を基板への入射角が小さい方向へ変えることができるため、光取出し効率を向上させることができる。例えば、陽極孔部52Aで有機層53から陽極52内へ光が進む場合、屈折により基板51への入射角が小さい角度に変わるため、光取出し効率が向上する。
 陽極孔部52Aの内側面52aが基板面に対する角度は30°以上が好ましく、45°以上がより好ましく、60°以上がより一層好ましい。また逆テーパー(基板51側の孔部底面が発光層3側の孔部上面より大きい)でも構わない。陽極孔部52Aの内側面52aをこのような角度とすることにより、発光位置から陽極側へ向かう光とSPPモード光から有機層53中へ再放射された光が陽極孔部52Aの内側面52aに外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ取り出される。
 次に、本実施形態の有機EL素子の作用効果を、図6を用いて模式的に説明する。図6に矢印で示した光の伝播の仕方は、作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
 まず、本実施形態の有機EL素子は、有機厚膜層18が10nm以上の厚さを有し、発光層3と陰極54との間の距離が大きいので、エネルギー移動がしにくく、SPPモード光の発生自体が抑制されている。
 図5に矢印で示した光の伝播の仕方は、それでも発生したSPPモード光が本実施形態に特徴的な構成によってどのように取り出されるか、その作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
 有機層53に含まれる発光層3のATi点で発光した光のうち、陰極54側に進んだ光が陰極54と低屈折率層55との界面で臨界角以上の大きい入射角で入射して(矢印AT1)全反射した場合(矢印AT1r)、低屈折率層55中にエバネッセント波(矢印AT2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層56と低屈折率層55との界面まで沁み出し、SPP(矢印AT3)が励起される。
 励起されたSPPモード光は、エバネッセント波(矢印AT4)との共鳴を介して、所定の角度で陰極54に放射され(矢印AT5)、有機層53に取り出されうる。
 図6において、発光点(あるいは発光箇所)ATiは平面視して陽極52と重なる位置の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「in発光」ということがある。)。発光点Aoは平面視して隣接する陽極52の間の位置の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「out発光」ということがある。)。発光点Aeは「in発光」と「out発光」との境界位置での発光を示すもの(以下、この点での発光を「in-out端発光」ということがある。)である。「out発光」及び「in-out端発光」については、陰極54と低屈折率層55との界面での全反射を示す矢印は省略している。
 この作用効果の説明では「in発光」の場合についてのみ詳細に説明しているが、「out発光」及び「in-out端発光」についても、SPP(矢印AT3)励起後の光の伝播は「in発光」の場合と同様である。
 電流は陰極と陽極との間に流れるので、発光点ATiは発光点AToよりも電流密度が高いルートに位置するため、「in発光」の方が「out発光」より発光量が多い。
 陰極側構造(陰極55、低屈折率層55、金属層56)から有機層53のBT点にまで取り出された光は、BT1のように伝播して基板51まで取り出される。
 すなわち、BT点から有機層53を通って進む光BT1は、有機層53aと陽極52との界面(陽極孔部52Aの内側面52a)で基板51側へ屈折する。屈折した光は、陽極52を透過し、陽極52と基板51との界面で屈折した後、基板51内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光B1が有機層53から陽極52へ進む際、有機層53aと陽極52との界面(陽極孔部52Aの内側面52a)における屈折により、基板51への入射角が小さい角度(基板51に対して垂直方向により近い角度)に変わる。陽極52と基板(例えば、ガラス)51の界面、及び、基板51と空気との界面では臨界角以上の角度で入射した光は全反射とするが、この陽極孔部52Aの内側面52aでの屈折により基板1への入射角が小さい角度に変わる。そのため、その全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、陽極孔部52Aの内側面52aを備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
 有機層53に含まれる発光層のCT点で発光した光のうち、光CT1は基板に対して垂直に基板側に進む光であり、有機層53と陽極52との界面及び陽極52と基板51との界面でも屈折することなく、陽極52内、基板51内を進み、外部に取り出される。
 光CT2は、有機層53と陽極52との界面で屈折して陽極52に入り、陽極52を透過して、陽極52と有機層53aとの界面(陽極孔部52Aの内側面52a)で屈折する。屈折した光は、陽極52と基板51との界面で屈折した後、基板51内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光CT2が陽極52から有機層53aへ進む際、有機層53aと陽極52との界面(陽極孔部52Aの内側面52a)における屈折により、基板51への入射角が小さい角度に変わる。基板(例えば、ガラス)と空気との界面では臨界角以上の角度で入射した光は全反射するが、この内側面52aでの屈折により基板51への入射角が小さい角度に変わる。そのため、基板と空気との界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、陽極孔部52Aの内側面52aを備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。光CT3についても同様の効果が得られる。
 上述の通り、有機層53で発光した光は全方位に進むので当然、陰極側構造に進む光等もあるが、CT1~CT3は図6における矢印は本発明の作用効果を説明するために、そのうちの一部の光の伝播を摸式的に示しているに過ぎない。
(有機EL素子(第7の実施形態))
 図7は、本発明の第7の実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 本発明の第7の実施形態に係る有機EL素子70は、基板61上に、誘電体層67と、陽極62と、有機EL材料からなる発光層3を含む有機層63と、陰極64とが順に形成されてなり、前記陰極64の前記有機層63とは反対側に、低屈折率層65と金属層66とを順に具備する。前記有機層63は、前記発光層3と前記陰極64との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。前記発光層3と前記金属層66の間の距離は100nm以上400nm以下である。前記低屈折率層65の屈折率は、前記有機層63の屈折率よりも低い。前記誘電体層67は、前記陽極62の屈折率より低い屈折率を有すると共に前記基板61が露出するように開口部67Aを有するパターンで形成されている。前記陽極62と、前記有機層63は、前記誘電体層67のパターンを追従するように形成されている。
 図7に示す有機層63はさらに、発光層3より陽極側に正孔輸送層や正孔注入層等の少なくとも正孔を輸送する機能を有する層19を備える。
 図7で示した例では、開口部67Aの内側面67aは基板面に対して垂直に配置する構成であるが、かかる構成である必要はない。開口部67Aの内側面67aが基板面に対する角度は30°以上が好ましく、45°以上がより好ましく、60°以上がより一層好ましい。また逆テーパー(基板61側の孔部底面が発光層3側の孔部上面より大きい)でも構わない。開口部67Aの内側面67aをこのような角度とすることにより、発光位置から陽極側へ向かう光とSPPモード光から有機層63中へ再放射された光が開口部の内側面67aに外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ取り出される。
 次に、本実施形態の有機EL素子の作用効果を、図7を用いて模式的に説明する。図7に矢印で示した光の伝播の仕方は、作用効果の原理をわかりやすく説明するために摸式的に示したものである。
 有機層63に含まれる発光層3のAUi点で発光した光のうち、陰極64側に進んだ光が陰極64と低屈折率層65との界面で臨界角以上の大きい角度で入射して(矢印AU1)全反射した場合(矢印AU1r)、低屈折率層65中にエバネッセント波(矢印AU2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層66と低屈折率層65との界面まで沁み出し、SPP(矢印AU3)が励起される。
 励起されたSPPモード光は、エバネッセント波(矢印AU4)との共鳴を介して、所定の角度で陰極64に放射され(矢印AU5)、有機層63に取り出されうる。
 図7において、発光点(あるいは発光箇所)AUiは平面視して陽極62の凸部62Aと重なる位置の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「in発光」ということがある。)。発光点AUoは平面視して隣接する凸部62Aの間(凹部62B)の発光点を示すものである(以下、この点での発光を「out発光」ということがある。)。発光点AUeは「in発光」と「out発光」との境界位置での発光を示すもの(以下、この点での発光を「in-out端発光」ということがある。)である。「out発光」及び「in-out端発光」については、陰極64と低屈折率層65との界面での全反射を示す矢印は省略している。
 この作用効果の説明では「in発光」の場合についてのみ詳細に説明しているが、「out発光」及び「in-out端発光」についても、SPP(矢印AU3)励起後の光の伝播は「in発光」の場合と同様である。
 陰極64と凸部62Aとの間の電流密度の方が陰極64と凹部62Bの間の電流密度よりも高いため、「out発光」の方が「in発光」より発光量が多い。
 陰極側構造(陰極64、低屈折率層65、金属層66)から低屈折率層65のBU点にまで取り出された光は取り出される角度により、BU1のように伝播して基板61まで取り出される。
 すなわち、BU点から有機層3を通って進む光BU1(導波モード光)は、有機層63と陽極62との界面で屈折し、陽極62を透過し、凹部62Bと誘電体層67との界面(誘電体層67の開口部67Aの内側面67a)で基板61側へ屈折する。屈折した光は、誘電体層67を透過し、誘電体層67と基板61との界面で屈折した後、基板61内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光BU1が凹部62Bから誘電体層67へ進む際、凹部62Bと誘電体層67との界面(誘電体層67の開口部67Aの内側面67a)における屈折により、基板61への入射角が小さい角度に変わる。陽極62と基板(例えば、ガラス)61の界面、及び、基板61と空気との界面では臨界角以上の角度で入射する光は全反射するが、この凹部62Bと誘電体層67との界面(誘電体層67の開口部67Aの内側面67a)での屈折により基板61への入射角が小さい角度に変わる。そのため、その全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、凹部62Bと誘電体層67との界面(誘電体層67の開口部67Aの内側面67a)を備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
 有機層63に含まれる発光層のCU点で発光した光のうち、光CU1は基板に対して垂直方向に基板側に進む光である。基板61との界面で屈折することなく基板61内を進み、外部に取り出される。
 光CU2は、凹部62Bと誘電体層67との界面(誘電体層67の開口部67Aの内側面67a)で屈折する。屈折した光は誘電体層67を透過し、誘電体層67と基板61との界面で屈折した後、基板61内を通って外部に取り出されうる。
 ここで、光CU2が陽極62から誘電体層67へ進む際、凹部62Bと誘電体層67との界面(誘電体層67の開口部67Aの内側面67a)における屈折により、基板61への入射角が小さい角度に変わる。陽極2と基板(例えば、ガラス)61の界面、及び、基板61と空気との界面では臨界角以上の角度で入射した光は全反射するが、この凹部62Bと誘電体層67との界面(誘電体層67の開口部67Aの内側面67a)での屈折により基板61への入射角が小さい角度に変わる。そのため、その全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。光CU3についても同様の効果が得られる。
(有機EL素子(第8の実施形態))
 図15は、本発明の第8の実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 本発明の第8の実施形態に係る有機EL素子80は、基板81上に、陽極82と、有機EL材料からなる発光層3を含む有機層83と、陰極84とを順に具備し、前記陰極84の前記有機層83とは反対側に、低屈折率層85と金属層86とを順に具備する。前記有機層83は、前記発光層3と前記陰極84との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。前記発光層3と前記金属層86の間の距離は100nm以上400nm以下である。前記基板81と前記陽極82の間に、断面視して基板81側に頂点が向いた三角形形状を有する凸部87aを複数備えた高屈折率層87を具備する。三角形形状を有する凸部87aを複数備えた構造は、鋸歯形状構造の一例である。
 ここで、「断面視して基板側に頂点が向いた三角形形状を有する」とは、素子面に対して垂直な面における断面形状が三角形形状を有するという意味である。鋸歯形状構造を構成する複数の凸部としては、断面形状が三角形形状の凸部に限定されるものではなく、例えば凸部の断面が、台形形状、多段形状などであってもよい。
 高屈折率層87は陽極82に接しているか、陽極82との間に他の層を挟んで配置する構成等でもよい。
 図15に示す高屈折率層87は陽極側に有する層状部87bと、その層状部87b上に、断面視して基板側に頂点が向いた三角形形状を有する複数の凸部87aを備える構成である。
 陽極側構造の一例である高屈折率層87は、基板81側に隣接する層の材料よりも高い屈折率を有する材料からなるものである。本実施形態では、基板81側に隣接する層は基板81である。
 この高屈折率層87と陽極82の界面が平坦である場合、金属層86表面から有機層83中に再放射され、有機層83側からこの界面へ入射した光の、高屈折率層87中への出射角θhは、SPPの真空中での波数k=ω/cと波数kspを用いて、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
の関係を満たす。但し、εは高屈折率層87の誘電率とする。従って、Otto型配置により有機層83中に再放射された後、高屈折率層87まで取り出されたSPPの、高屈折率層87中での伝播角θは次の式で表すことができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
 すなわち伝播角θhは、高屈折率層87の誘電率ε、金属層86の誘電率の実部ε1、低屈折率層85の誘電率ε2から決まる値である。したがって、この角度で高屈折率層87中を伝播する光が、高屈折率層87/基板81の界面で全反射を抑えるように、基板側の凸部87aの頂角を調整することで、SPPモード光の基板への取り出し効率を飛躍的に向上させることができる。
(有機EL素子(第9の実施形態))
 図16は、本発明の第9の実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 本発明の第9の実施形態に係る有機EL素子90は、基板91上に、陽極92と、有機EL材料からなる発光層3を含む有機層93と、陰極94とを順に具備し、前記陰極94の前記有機層93とは反対側に、低屈折率層95と金属層96とを順に具備する。前記有機層93は、前記発光層3と前記陰極94との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。前記発光層3と前記金属層96の間の距離は100nm以上400nm以下である。前記陽極92と基板91の間には、透過型の回折格子98を備えている。
 回折格子98は基板91の外表面91Aから有機層93との間のいずれかの位置に配置される構成でもよい。本実施形態は基板91と陽極92の間に形成されてなる構成である。
 回折格子98を構成する格子部98aと格子部98bのそれぞれは、互いに異なる屈折率を有する誘電材料からなる。
 回折格子98は基板91の表面に対する法線寄りに回折させる(導波モード光の入射角を小さい角度に変える)ことで全反射を生じる光の割合を低減させ、光取り出し効率を向上させる。
(有機EL素子(第10の実施形態))
 図17は、本発明の第10の実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。
 本発明の第10の実施形態に係る有機EL素子300は、基板301上に、陽極302と、有機EL材料からなる発光層3を含む有機層303と、陰極304とを順に具備し、前記陰極304の前記有機層303とは反対側に、低屈折率層305と金属層306とを順に具備する。前記有機層303は、前記発光層3と前記陰極304との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層18を含む。前記発光層3と前記金属層306の間の距離は、100nm以上400nm以下である。前記基板301と陽極302との間に基板側に突出するレンズ構造308を備える。
 レンズ構造308は基板301の外表面301Aから有機層303との間のいずれの位置に配置される構成でもよい。本実施形態は基板301と陽極302との間に備える構成である。
 レンズ構造308は、陰極304側からレンズ構造308に入射した光を、基板に対してより垂直に近い方向から入射するように屈折させることができ、レンズ構造308~外表面301Aの間のいずれかの界面において全反射を生じる光の割合を低減させ、光取り出し効率を向上させる。
(画像表示装置)
 次に、上記の有機EL素子10を備えた画像表示装置について説明を行う。上記の有機EL素子20~90および300を備えた画像表示装置についても同様である。
 図8は、上記の有機EL素子を備えた画像表示装置の一例を説明した図である。
 図8に示した画像表示装置100は、いわゆるパッシブマトリクス型の画像表示装置である。有機EL素子10の他に、陽極配線104、陽極補助配線106、陰極配線108、絶縁膜110、陰極隔壁112、封止プレート116およびシール材118を備えている。
 本実施の形態において、有機EL素子10の基板1上には、複数の陽極配線104が形成されている。陽極配線104は、一定の間隔を隔てて平行に配置される。陽極配線104は、透明導電膜により構成され、例えばITO(Indium Tin Oxide)を用いることができる。陽極配線104の厚さは例えば、100nm~150nmとすることができる。そして、それぞれの陽極配線104の端部の上には、陽極補助配線106が形成される。陽極補助配線106は陽極配線104と電気的に接続されている。このように構成することにより、陽極補助配線106は、基板1の端部側において外部配線と接続するための端子として機能し、外部に設けられた図示しない駆動回路から陽極補助配線106を介して陽極配線104に電流を供給することができる。陽極補助配線106は、例えば、厚さ500nm~600nmの金属膜によって構成される。
 有機EL素子10上には、複数の陰極配線108が設けられている。複数の陰極配線108は、それぞれが平行となるよう、かつ、陽極配線104と直交するように配設されている。陰極配線108には、Al又はAl合金を使用することができる。陰極配線108の厚さは、例えば、100nm~150nmである。陰極配線108の端部には、陽極配線104に対する陽極補助配線106と同様に、図示しない陰極補助配線が設けられ、陰極配線108と電気的に接続されている。よって、陰極配線108と陰極補助配線との間に電流を流すことができる。
 更に基板1上には、陽極配線104を覆うように絶縁膜110が形成される。絶縁膜110には、陽極配線104の一部を露出するように矩形状の開口部120が設けられている。複数の開口部120は、陽極配線104の上にマトリクス状に配置されている。この開口部120において、陽極配線104と陰極配線108の間に有機EL素子10が設けられる。すなわち、それぞれの開口部120が画素となる。従って、開口部120に対応して表示領域が形成される。ここで、絶縁膜110の膜厚は、例えば、200nm~100nmとすることができ、開口部120の大きさは、例えば、100μm×100μmとすることができる。
 有機EL素子10は、開口部120において陽極配線104と陰極配線108の間に位置している。そしてこの場合、有機EL素子10の陽極2が陽極配線104と接触し、陰極4が陰極配線108と接触する。有機EL素子10の厚さは、例えば、150nm~200nmとすることができる。
 絶縁膜110の上には、複数の陰極隔壁112が陽極配線104と垂直な方向に沿って形成されている。陰極隔壁112は、陰極配線108の配線同士が導通しないように、複数の陰極配線108を空間的に分離するための役割を担っている。従って、隣接する陰極隔壁112の間にそれぞれ陰極配線108が配置される。陰極隔壁112の大きさとしては、例えば、高さが2μm~3μm、幅が10μmのものを用いることができる。
 基板1は、封止プレート116とシール材118を介して貼り合わせられている。これにより、有機EL素子10が設けられた空間を封止することができる。有機EL素子10が空気中の水分により劣化するのを防ぐことができる。封止プレート116としては、例えば、厚さが0.7mm~1.1mmのガラス基板を使用することができる。
 このような構造の画像表示装置100において、図示しない駆動装置により、陽極補助配線106、図示しない陰極補助配線を介して、有機EL素子10に電流を供給し、発光層を発光させることができる。そして基板1から基板1を通し、光を出射させることができる。そして、上述の画素に対応した有機EL素子10の発光、非発光を制御装置により制御することにより、画像表示装置100に画像を表示させることができる。
(照明装置)
 次に、上記の有機EL素子10を用いた照明装置について説明を行う。上記の有機EL素子20~90および300を備えた照明装置についても同様である。
  図9は、上記の有機EL素子10を備える照明装置の一例を説明した図である。
  図9に示した照明装置200は、上述した有機EL素子10と、有機EL素子10の基板1(図1参照)に隣接して設置され陽極2(図1参照)に接続される端子202と、陰極4(図1参照)に接続される端子203と、端子202と端子203とに接続し有機EL素子10を駆動するための点灯回路201とから構成される。
 点灯回路201は、図示しない直流電源と図示しない制御回路を内部に有し、端子202と端子203を通して、有機EL素子10の陽極層2と陰極4との間に電流を供給する。そして、有機EL素子10を駆動し、発光層を発光させて、基板1から光を出射させ、照明光として利用する。発光層は白色光を出射する発光材料より構成されていてもよく、また緑色光(G)、青色光(B)、赤色光(R)を出射する発光材料を使用した有機EL素子10をそれぞれ複数個設け、その合成光が白色となるようにしてもよい。
(有機EL素子の製造方法)
 以下では、本発明の各実施形態の有機EL素子の製造方法についてそれぞれ一例に挙げて説明する。特に言及しなくても、一実施形態の有機EL素子の製造方法の工程や手法を他の実施形態の有機EL素子の製造方法に適用することもできるは言うまでもない。
 まず、本発明の第1の実施形態の有機EL素子は、基板1上に、陽極2と、有機EL材料からなる発光層3及び有機厚膜層18を含む有機層103と、陰極4、低屈折率層5、金属層6を順に形成することにより作製することができる。
陽極2~金属層6の形成には、それぞれ後述する第2の実施形態の製造方法における陽極12~金属層16の形成と同様の方法を用いることができる。
 陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
 次に、本発明の第2の実施形態の有機EL素子の製造方法について図10を参照して説明する。
 まず、図10(a)に示すように、基板11上に、陽極12、誘電体層17を順に形成する。この陽極12、誘電体層17の形成方法は特に限定するものではないが、例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 陽極12を形成した後に、陽極12の表面処理を行うことで、オーバーコートされる層の性能(陽極12との密着性、表面平滑性、ホール注入障壁の低減化など)を改善することができる。表面処理を行うには高周波プラズマ処理を始めとしてスパッタリング処理、コロナ処理、UVオゾン照射処理、紫外線照射処理、または酸素プラズマ処理などがある。
 更に、陽極12の表面の表面処理を行う代わりに、もしくは表面処理に追加して、図示しない陽極バッファ層を形成することで表面処理と同様の効果が期待できる。そして、陽極バッファ層をウェットプロセスにて塗布して作製する場合には、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、インクジェットプリント法等の塗布法などを用いて成膜することができる。
 次に、図10(a)の工程で形成した陽極12及び誘電体層17を貫通するように、互いに連通する陽極孔部12A及び孔部17Aの形成を行う。陽極孔部2A及び孔部17Aを形成するには、例えば、フォトリソグラフィを用いた方法が使用できる。これを行うには、図10(b)に示すように、まず誘電体層17の上にポジ型レジスト液を塗布し、スピンコート等により余分なレジスト液を除去して、レジスト層29を形成する。
 そして、陽極孔部12A及び孔部17Aを形成するための所定のパターンが描画されたマスク(図示せず)をかぶせ、紫外線(UV)、電子線(EB)等により露光を行う。すると図10(c)に示すように、レジスト層29に孔部17A(図10(f)参照)に対応した所定のパターンが露光される(露光された部分29a)。そして現像液を用いてレジスト層29の露光されたパターンの部分のレジスト層29aを除去する。これにより露光されたパターンの部分に対応して、誘電体層17の表面が露出する(図10(d))。
 残存したレジスト層29をマスクとして、図10(f)に示すように、誘電体層17の孔部17Aの位置の部分をエッチング除去する。エッチングとしては、ドライエッチングとウェットエッチングの何れをも使用することができる。この際に等方性エッチングと異方性エッチングを組合せることで、孔部17Aの形状の制御を行うことができる。ドライエッチングとしては、誘導結合プラズマや容量結合プラズマを用いた反応性イオンエッチング(RIE:Reactive Ion Etching)等が利用できる。ウェットエッチングとしては、希塩酸や希硫酸への浸漬を行う方法などが利用できる。このエッチングにより上記パターンに対応して、陽極12の表面が露出する。
 次に残ったレジスト層を、レジスト除去液等を用いて除去し(図10(f))、図10(g)に示すように、誘電体層17をマスクとして、露出した陽極12の部分をエッチング除去する。エッチングとしては、図10(f)で説明した方法と同様の方法を用いることができる。エッチング条件の変更により、誘電体層17にあまり影響を及ぼさずに、陽極12を選択的にエッチングすることができる。これにより、上記パターンに対応して、基板11の表面が露出し、陽極孔部12Aが形成される。図10(f)および図10(g)で説明した各工程は、陽極12および誘電体層17を貫通し、連通する孔部17A及び陽極孔部12Aを形成する工程として捉えることができる。
 次に、図10(h)に示すように、連通する孔部17A及び陽極孔部12Aを形成した部分以外の部分をマスクとして、露出した基板11の部分をエッチング除去する。エッチングとしては、図10(f)および図10(g)で説明した方法と同様の方法を用いることができる。エッチング条件の変更により、誘電体層17及び陽極12にあまり影響を及ぼさずに、基板11を選択的にエッチングすることができる。これにより、上記パターンに対応して、孔部17A及び陽極孔部12Aに連通する凹部11Aを形成することができる。逆に、凹部11A以外の部分は凸部11Bとなる。この方法によれば、別途マスクを用意してフォトリソグラフィを行なう必要がないため、より容易に凹部11Aを形成することが可能となる。
 次に、図10(i)に示すように、孔部17Aの内側面17a、陽極孔部12Aの内側面12a、凹部11Aの内側面11aを被覆すると共に、誘電体層17及び孔内側面被覆部13a上を覆う、有機EL材料からなる発光層を含む有機層13を形成する。有機層13は、孔内側面被覆部13aと、陽極孔内側面被覆部13bと、凹内側面被覆部13cと、層状部13dとを有する。有機層13は発光層3(図2参照)、10nm以上300nm以下の有機厚膜層18(図2参照)と、正孔輸送層等の層19(図2参照)とを有する。
 有機層13の形成には従来公知の方法を用いることができ特に限定されないが、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、LB法等の方法を用いることができる。
 次に、図10(j)に示すように、有機層13上に陰極14を形成する。陰極13の形成も陽極12の形成と同様の方法を用いることができ、限定はされない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 次に、図10(k)に示すように、陰極14上に低屈折率層15を形成する。低屈折率層15の形成も誘電体層17の形成と同様の方法を用いることができ、限定はされない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 次に、図10(l)に示すように、低屈折率層15上に金属層16を形成する。金属層16の形成には特に限定はされない。例えば、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法を用いることができる。
 以上の工程により、有機EL素子20を製造することができる。これら一連の工程後、有機EL素子20を長期安定的に用い、有機EL素子20を外部から保護するための保護層や保護カバー(図示せず)を装着することが好ましい。保護層としては、高分子化合物、金属酸化物、金属フッ化物、金属ホウ化物、窒化ケイ素、酸化ケイ素等のシリコン化合物などを用いることができる。そして、これらの積層体も用いることができる。また、保護カバーとしては、ガラス板、表面に低透水率処理を施したプラスチック板、金属などを用いることができる。この保護カバーは、熱硬化性樹脂や光硬化性樹脂で基板11と貼り合わせて密閉する方法を採ることが好ましい。この際に、基板11と保護カバーの間にスペーサを用いることで所定の空間を維持することができ、有機EL素子20が傷つくのを防止できるため好ましい。
そして、この空間に窒素、アルゴン、ヘリウムのような不活性なガスを封入すれば、上側の金属層16の酸化を防止しやすくなる。特にヘリウムを用いた場合、熱伝導が高いため、電圧印加時に有機EL素子20より発生する熱を効果的に保護カバーに伝えることができるため、好ましい。更に酸化バリウム等の乾燥剤をこの空間内に設置することにより上記一連の製造工程で吸着した水分が有機EL素子20にダメージを与えるのを抑制しやすくなる。
 以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
 次に、本発明の第3の実施形態の有機EL素子の製造方法は、図11を参照して説明する。
 図10(a)~図10(e)までは、第2の実施形態の有機EL素子の製造方法と同様である。図11(a)は図10(f)に相当する。
 図10(e)に示すように、残存したレジスト層をマスクとして、誘電体層27をエッチング除去して孔部27Aを形成する(図11(a))。
 次に、図11(b)に示すように、孔部27Aの内側面27aを被覆する孔内側面被覆部23aを形成すると共に、誘電体層27及び孔内側面被覆部23aと陰極24との間に配置される層状部23bを形成して、有機EL材料からなる発光層を含む有機層23を形成する。有機層23の形成には第2の実施形態の有機EL素子の製造方法と同様な方法を用いることができる。
 次に、図11(c)に示すように、有機層23の上に、陰極24、低屈折率層25、金属層26を順に形成する。これらの層の形成には第2の実施形態の有機EL素子の製造方法と同様な方法を用いることができる。
 以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
 次に、本発明の第4の実施形態の有機EL素子の製造方法は、図12を参照して説明する。
 図10(a)~図10(f)までは、第2の実施形態の有機EL素子の製造方法と同様である。図12(a)は図10(g)に相当する。
 図10(e)に示すように、残存したレジスト層をマスクとして、誘電体層37をエッチング除去して孔部37Aを形成し、次いで、図12(a)に示すように、孔部37Aを形成した誘電体層37をマスクとして陽極孔部32Aを形成する。
 次に、図12(b)に示すように、孔部37Aの内側面37aを被覆する孔内側面被覆部33a、及び、陽極孔部32Aの内側面を被覆する陽極孔内側面被覆部33bを形成すると共に、誘電体層37及び前記孔内側面被覆部33aと前記陰極34との間に配置される層状部33cとを形成して、有機EL材料からなる発光層を含む有機層33を形成する。
有機層33の形成には第2の実施形態の有機EL素子の製造方法と同様な方法を用いることができる。
 次に、図12(c)に示すように、有機層33の上に、陰極34、低屈折層35、金属層36を順に形成する。これらの層の形成には第2の実施形態の製造方法と同様な方法を用いることができる。
 以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
 次に、本発明の第5の実施形態である有機EL素子の製造方法について図13を参照して説明する。
 まず、図13(a)に示すように、基板41上に、陽極42を形成する。この陽極42の形成方法は特に限定的されないが、例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 次に、陽極孔部42Aを形成するには例えば、フォトリソグラフィを用いた方法が使用できる。これを行うには、図13(b)に示すように、まず陽極42の上にポジ型レジスト液を塗布し、スピンコート等により余分なレジスト液を除去して、レジスト層49を形成する。
 そして、陽極孔部42Aを形成するための所定のパターンが描画されたマスク(図示せず)をかぶせ、紫外線(UV)、電子線(EB)等により露光を行う。すると、図13(c)に示すように、レジスト層49に陽極孔部42Aに対応した所定のパターンが露光される(露光された部分49a)。そして現像液を用いて露光されたパターンの部分のレジスト層49を除去する。これにより露光されたパターンの部分に対応して、陽極42の表面が露出する(図13(d))。
 図13(e)に示すように、残存したレジスト層49をマスクとして、露出した陽極42の部分をエッチング除去して陽極孔部42Aを形成する。
 次に、レジスト層49を除去した後、図13(f)に示すように、誘電体層47を形成する。図13(f)において誘電体層47は陽極孔部42Aを充填して陽極孔部42Aの内側面42aを被覆する構成であるが、一部だけ埋めて陽極孔部42Aの内側面42aを被覆する構成でもよい。
 誘電体層47は陽極孔部42Aの内側面42aを被覆していれば、陽極孔部42Aを完全に埋めるか、一部を埋めるかによって形成条件を調整する。
 次に、図13(g)に示すように、陽極42及び誘電体層47上に、有機EL材料からなる発光層を含む有機層43を形成する。
 次に、図13(h)に示すように、有機層43上に陰極44を形成する。陰極43の形成も陽極42の形成と同様の方法を用いることができ、限定はされない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 次に、 図13(i)に示すように、陰極44上に低屈折率層45を形成する。低屈折率層45の形成も誘電体層47の形成と同様の方法を用いることができ、限定はされない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 次に、図13(j)に示すように、低屈折率層45上に金属層46を形成する。金属層46の形成には第2の実施形態の製造方法と同様な方法を用いることができる。
 以上の工程により、有機EL素子50を製造することができる。
 以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
 次に、本発明の第6の実施形態である有機EL素子の製造方法について図14を参照して説明する。
 まず、図14(a)に示すように、基板51上に、陽極52を形成する。
 次に、陽極孔部52Aを形成するには例えば、フォトリソグラフィを用いた方法が使用できる。これを行うには、図14(b)に示すように、まず陽極52の上にポジ型レジスト液を塗布し、スピンコート等により余分なレジスト液を除去して、レジスト層59を形成する。
 そして、陽極孔部52Aを形成するための所定のパターンが描画されたマスク(図示せず)をかぶせ、紫外線(UV)、電子線(EB)等により露光を行う。すると、図14(c)に示すように、レジスト層59に陽極孔部52Aに対応した所定のパターンが露光される。そして現像液を用いて露光されたパターンの部分のレジスト層59を除去する。これにより露光されたパターンの部分に対応して、陽極52の表面が露出する(図14(d))。
 図14(e)に示すように、残存したレジスト層59をマスクとして、露出した陽極52の部分をエッチング除去して陽極孔部52Aを形成する。
 次に、レジスト層59を除去した後、図14(f)において、有機層53の陽極孔内側面被覆部53aは陽極孔部52Aを充填して陽極孔部52Aの内側面52aを被覆する構成であるが、一部だけ埋めて陽極孔部52Aの内側面52aを被覆する構成でもよい。
 陽極孔内側面被覆部53aは陽極孔部52Aの内側面52aを被覆していれば、陽極孔部52Aを完全に埋めるか、一部を埋めるかによって形成条件を調整する。
 上記のように有機層53の陽極孔内側面被覆部53aを形成すると共に、さらに、有機層53の層状部53bも形成して、有機層53の形成を行い、図14(g)に対応する構造を作製する。     
 次に、図14(h)に示すように、有機層53上に陰極54を形成する。
 次に、図14(i)に示すように、陰極54上に低屈折率層55を形成する。低屈折率層55の形成方法は特に限定されないが、例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
 次に、図14(j)に示すように、低屈折率層55上に金属層56を形成する。
 有機層53~金属層56の形成には第2の実施形態の製造方法と同様な方法を用いることができる。
 以上の工程により、有機EL素子60を製造することができる。
 以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
 次に、本発明の第7の実施形態である有機EL素子の製造方法について説明する。まず、基板61上に、陽極62の屈折率より低い屈折率を有する誘電体層67を形成する。次に、基板61が露出するように誘電体層67に開口部67Aを有するパターンを形成する。開口部67Aの形成方法は、第2の実施形態のフォトリソグラフィ法等を用いることができる。さらにその開口部67Aのパターンに追従するように、陽極62、有機層63、陰極64、低屈折率層65及び金属層66を形成する。これらの層の形成方法は、第2の実施形態と同様の方法を用いることができる。
 以上の工程により、有機EL素子70を製造することができる。
 以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
 次に、本発明の第8の実施形態である有機EL素子の製造方法について説明する。まず、基板81に断面が三角形形状を有する凸部87aに対応する凹部を形成する。形成方法としては、特に限定されるものではないが、切削や研磨等の機械加工、レーザー加工等を用いることができる。
 次に、形成した凹部を埋めるように、高屈折率層87を形成する。形成方法としては、スピンオン誘電体を塗布し転化させる方法や硬化性樹脂を塗布し硬化させる方法等がある。塗布方法としては、スピンコート、バーコート、スリットコート、ダイコート、スプレーコート等の各種プロセスを用いることができる。
 そして、高屈折率層87上に、陽極82、有機層83、陰極84、低屈折率層85及び金属層86を形成する。これらの層の形成方法は、第2の実施形態と同様の方法を用いることができる。
 以上の工程により、有機EL素子80を製造することができる。
 以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
 次に、本発明の第9の実施形態である有機EL素子の製造方法について説明する。まず、基板91に回折格子98を形成する。回折格子98の形成方法としては、第5の実施形態の有機EL素子の製造方法における陽極並びに誘電体層と同様の、層の形成方法及びフォトリソグラフィ法等による孔部の形成方法を組み合わせた方法を用いることができる。
形成された回折格子98上に、陽極92、有機層93、陰極94、低屈折率層95及び金属層96を形成する。これらの層の形成方法は、第2の実施形態と同様の方法を用いることができる。
 以上の工程により、有機EL素子90を製造することができる。
 以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
 最後に、本発明の第10の実施形態である有機EL素子の製造方法について説明する。まず、基板301にレンズ構造308に対応する凹部を形成する。形成方法としては、特に限定されるものではないが、切削や研磨等の機械加工、レーザー加工等を用いることができる。
 次に、形成した凹部を埋めるように、レンズ構造308を形成する。形成方法としては、スピンオン誘電体を塗布し転化させる方法や硬化性樹脂を塗布し硬化させる方法等がある。塗布方法としては、スピンコート、バーコート、スリットコート、ダイコート、スプレーコート等の各種プロセスを用いることができる。
 そして、形成されたレンズ構造308上に、陽極302、有機層303、陰極304、低屈折率層305及び金属層306を形成する。これらの層の形成方法は、第2の実施形態と同様の方法を用いることができる。
 以上の工程により、有機EL素子300を製造することができる。
 以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
 以下、本発明を実施例に基づいて具体的に説明する。しかし、本発明はこれらの実施例のみに限定されるものではない。
(実施例1)
 実施例1は本発明の第1の実施形態の一例である。
 ガラス基板1上に、陽極2として膜厚150nmのITO層、有機層103として、40nmのpTmTDMPD:F4TCNQ(100:5)からなる正孔注入層(層19の一部)、20nmのm-TTAからなる正孔輸送層(層19の一部)、20nmのPH-2:BFA-1T(10:90) からなる発光層A(発光層3の一部)、10nmのPH-1:PyTMB(10:90) からなる発光層B(発光層3の一部)、20nmのAlq3からなる電子輸送層(有機厚膜層18の一部)、100nmのBCP:Cs(20:1) からなる電子注入層(有機厚膜層18の一部)、陰極4として50nmのITO層、低屈折率層5として150nmのMgF2 からなる層、金属層6として100nmのAg層を順に積層してサンプルを作製した。このサンプルでは、有機厚膜層18の総厚は120nmであった。
 得られたサンプルについて輝度100cd/mを得るのに要する駆動電圧は4.3Vであった。
 外部量子効率は後述する比較例3を1とすると、1.5であった。
(実施例2)
 実施例2は本発明の第5の実施形態の一例である。陰極側構造、有機厚膜層及び発光層、並びに正孔輸送層については実施例1と同じであるが、陽極側構造の一部が異なる。
 すなわち、ガラス基板41上に、陽極42として膜厚150nmのITO層、誘電体層47として150nmのSiO膜、有機層43として、20nmのpTmTDMPD:F4TCNQ(100:5)からなる正孔注入層(層19の一部)、20nmのm-TTAからなる正孔輸送層(層19の一部)、20nmのPH-2:BFA-1T(10:90) からなる発光層A(発光層3の一部)、10nmのPH-1:PyTMB(10:90) からなる発光層B(発光層3の一部)、20nmのAlq3からなる電子輸送層(有機厚膜層18の一部)、100nmのBCP:Cs(50:50) からなる電子注入層(有機厚膜層18の一部)、陰極44として50nmのITO層、低屈折率層45として150nmのMgF2 からなる層、金属層46として100nmのAg層を順に積層してサンプルを作製した。このサンプルも有機厚膜層18の総厚は120nmであった。
 得られたサンプルについて輝度100cd/mを得るのに要する駆動電圧は4.4Vであった。
 外部量子効率は後述する比較例3を1とすると、1.8であった。
(比較例1)
 実施例1と比較すると、陰極としてのITO層及び低屈折率層としてのMgF2 からなる層がなく、陰極として100nmのAg層を備える点が異なる。比較例1は実施例1及び2の有機厚膜層に相当する層を備えるが、Otto型配置の陰極側構造を備えていない点が異なる。
 すなわち、ガラス基板上に、陽極として膜厚150nmのITO膜、有機層として、40nmのpTmTDMPD:F4TCNQ(100:5)からなる正孔注入層、20nmのm-TTAからなる正孔輸送層、20nmのPH-2:BFA-1T(10:90) からなる発光層A、10nmのPH-1:PyTMB(10:90) からなる発光層B、20nmのAlq3からなる電子輸送層、100nmのBCP:Cs(50:50) からなる電子注入層、陰極として100nmのAg層を積層してサンプルを作製した。
 得られたサンプルについて輝度100cd/mを得るのに要する駆動電圧は4.9Vであった。
 外部量子効率は後述する比較例3を1とすると、1.1であった。
(比較例2)
 実施例2と比較すると、陰極としてのITO層及び低屈折率層としてのMgF2 からなる層がなく、陰極として100nmのAg層を備える点が異なる。
 得られたサンプルについて輝度100cd/mを得るのに要する駆動電圧は5.0Vであった。
 外部量子効率は後述する比較例3を1とすると、1.3であった。
(比較例3)
 比較例1と比較すると、電子注入層の厚さが20nmである点が異なる。
 すなわち、ガラス基板上に、陽極として膜厚150nmのITO膜、有機層として、40nmのpTmTDMPD:F4TCNQ(100:5)からなる正孔注入層、20nmのm-TTAからなる正孔輸送層、20nmのPH-2:BFA-1T(10:90) からなる発光層A、10nmのPH-1:PyTMB(10:90) からなる発光層B、20nmのAlq3からなる電子輸送層、20nmのBCP:Cs(50:50) からなる電子注入層、陰極として100nmのAg層を積層してサンプルを作製した。
 得られたサンプルについて輝度100cd/mを得るのに要する駆動電圧は4.6Vであった。
 外部量子効率は上述の通り、比較例3を1とした。
(比較例4)
 実施例1と比較すると、電子注入層としてのBCP:Cs(50:50)層の厚さが350nmである点が異なる。
 すなわち、ガラス基板上に、陽極として膜厚150nmのITO膜、有機層として、40nmのpTmTDMPD:F4TCNQ(100:5)からなる正孔注入層、20nmのm-TTAからなる正孔輸送層、20nmのPH-2:BFA-1T(10:90) からなる発光層A、10nmのPH-1:PyTMB(10:90) からなる発光層B、20nmのAlq3からなる電子輸送層、350nmのBCP:Cs(50:50) からなる電子注入層、陰極として50nmのITO層、低屈折率層として150nmのMgF2 からなる層、金属層として100nmのAg層を順に積層してサンプルを作製した。このサンプルでは、有機厚膜層の総厚は370nmであった。
 得られたサンプルについて輝度100cd/mを得るのに要する駆動電圧は5.2Vであった。
 外部量子効率は上述した比較例3を1とすると、0.8であった。
 1、11、21、31、41、51、61、81、91、301 基板 11A 凹部 11a 凹部の内側面 2、12、22、32、42、52、62、82、92、302 陽極 12A、32A、42A、52A 陽極孔部 12a、22a、32a、42a、52a 陽極孔部の内側面 3、13、23、33、43、53、63、83、93、303 有機層 4、14、24、34、44、54、64、84、94、304 陰極 5、15、25、35、45、55、65、85、95、305 低屈折率層 6、16、26、36、46、56、66、86、96、306 金属層 17、27、37、47、67、87 誘電体層 17A、27A、37A 孔部 17a、27a、37a 孔部の内側面 67A 開口部 67a 開口部の内側面 10、20、30、40、50、60、70、80、90、300 有機EL素子 100 画像表示装置 200 照明装置

Claims (17)

  1.  第1電極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層とは反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低く、前記有機層は、前記発光層と前記第2電極との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層を含み、前記発光層と前記金属層の間の距離が100nm以上400nm以下であることを特徴とする有機EL素子。
  2.  前記有機厚膜層がn層(nは1以上の整数)のサブレーヤーからなり、i番目(iは1からnまでの整数)のサブレーヤーの膜厚と移動度をそれぞれdi及びμiとするとき、以下の式の関係を満たすことを特徴とする請求項1に記載の有機EL素子;
       10-15[s・V]≦ Σ(di /μi) ≦10-4[s・V]  (i=1,2,3、・・・・)
     ここで、Σは、すべての前記サブレーヤーについての和をとることを示す。前記式の単位はSI単位系である。
  3.  前記低屈折率層の屈折率はさらに、前記第2電極の屈折率よりも低いことを特徴とする請求項1又は2のいずれかに記載の有機EL素子。
  4.  前記第2電極の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする請求項3に記載の有機EL素子。
  5.  前記低屈折率層は、前記第2電極及び前記有機層のうちの少なくとも一方よりも屈折率が0.2以上小さい材料からなることを特徴とする請求項1~4のいずれか一項に記載の有機EL素子。
  6.  前記第1電極と前記第2電極との間に、前記有機層の屈折率より低い屈折率を有すると共に複数の孔部を備えた誘電体層を具備し、前記有機層は、前記孔部の内側面を被覆する孔内側面被覆部を有するものである、ことを特徴とする請求項1~5のいずれか一項に記載の有機EL素子。
  7.  前記有機層はさらに、前記誘電体層及び前記孔内側面被覆部と前記第2電極との間に配置される層状部を有することを特徴とする請求項6に記載の有機EL素子。
  8.  前記第1電極は、前記孔部に連通する第1電極孔部を備え、
     前記有機層はさらに、前記第1電極孔部の内側面を被覆する第1電極孔内側面被覆部を有することを特徴とする請求項1に記載の有機EL素子。
  9.  前記有機層はさらに、前記誘電体層及び前記孔内側面被覆部と前記第2電極との間に配置される層状部を有することを特徴とする請求項8に記載の有機EL素子。
  10.  前記第1電極の有機層とは反対側に基板を備え、前記基板は、前記第1電極孔部に連通する凹部を備え、前記有機層はさらに、前記凹部の内側面を被覆する凹内側面被覆部を有することを特徴とする請求項8又は9のいずれかに記載の有機EL素子。
  11.  第1電極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層とは反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低く、前記第1電極は、該第1電極の屈折率より低い屈折率を有する誘電体層によってその内側面を被覆された複数の第1電極孔部を備え、前記有機層は、前記発光層と前記第2透明電極との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層を含み、前記発光層と前記金属層の間の距離が100nm以上400nm以下である、ことを特徴とする有機EL素子。
  12.  第1電極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層とは反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低く、前記第1電極は、複数の第1電極孔部を備え、前記有機層は、前記発光層と前記第2透明電極との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層を含み、前記発光層と前記金属層の間の距離が100nm以上400nm以下であって、前記有機層は、前記第1電極孔部の内側面を被覆する第1電極孔内側面被覆部を有するものである、ことを特徴とする有機EL素子。
  13.  誘電体層と、第1電極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層とは反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低く、前記有機層は、前記発光層と前記第2電極との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層を含み、前記発光層と前記金属層の間の距離が100nm以上400nm以下であって、前記誘電体層は、前記第1電極の屈折率より低い屈折率を有すると共に開口部を有するパターンで形成されており、前記第1電極と、前記有機層、前記第2電極、前記低屈折率層及び前記金属層は、前記誘電体層の前記パターンを追従するように形成されている、ことを特徴とする有機EL素子。
  14.  第1電極と、有機EL材料からなる発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層とは反対側に、低屈折率層と金属層とを順に具備し、前記低屈折率層の屈折率は前記有機層の屈折率よりも低く、前記有機層は、前記発光層と前記第2電極との間に、膜厚が10nm以上300nm以下の有機厚膜層を含み、前記発光層と前記金属層の間の距離が100nm以上400nm以下であって、前記第1電極の前記有機層と反対側に回折格子、レンズ構造、鋸歯状構造、散乱層のいずれかの構造を有する、ことを特徴とする有機EL素子。
  15.  前記有機厚膜層がn層(nは1以上の整数)のサブレーヤーからなり、i番目(iは1からnまでの整数)のサブレーヤーの膜厚と移動度をそれぞれdi及びμiとするとき、以下の式の関係を満たすことを特徴とする請求項11~14のいずれか一項に記載の有機EL素子;
       10-15[s・V]≦ Σ(di /μi) ≦10-4[s・V]  (i=1,2,3、・・・・)
     ここで、Σは、すべての前記サブレーヤーについての和をとることを示す。前記式の単位はSI単位系である。
  16.  請求項1~15のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えたことを特徴とする画像表示装置。
  17. 請求項1~15のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えたことを特徴とする照明装置。
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