WO2013115208A1 - 伝送光学系、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 - Google Patents

伝送光学系、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 Download PDF

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WO2013115208A1
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optical system
light
illumination
incident
working surface
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PCT/JP2013/051960
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小松田 秀基
範夫 三宅
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株式会社ニコン
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    • GPHYSICS
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    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70075Homogenization of illumination intensity in the mask plane by using an integrator, e.g. fly's eye lens, facet mirror or glass rod, by using a diffusing optical element or by beam deflection
    • GPHYSICS
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    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70283Mask effects on the imaging process
    • G03F7/70291Addressable masks, e.g. spatial light modulators [SLMs], digital micro-mirror devices [DMDs] or liquid crystal display [LCD] patterning devices

Definitions

  • the present invention relates to a transmission optical system, an illumination optical system, an exposure apparatus, and a device manufacturing method.
  • a light source emitted from a light source is a secondary light source (generally a surface light source consisting of a number of light sources via a fly-eye lens as an optical integrator).
  • a secondary light source generally a surface light source consisting of a number of light sources via a fly-eye lens as an optical integrator.
  • Form a predetermined light intensity distribution in the illumination pupil is referred to as “pupil intensity distribution”.
  • the illumination pupil is a position where the illumination surface becomes the Fourier transform plane of the illumination pupil by the action of the optical system between the illumination pupil and the illumination surface (a mask or a wafer in the case of an exposure apparatus). Defined.
  • the mask on which a predetermined pattern is formed is illuminated in a superimposed manner.
  • the light transmitted through the mask forms an image on the wafer via the projection optical system, and the mask pattern is projected and exposed (transferred) onto the wafer.
  • the pattern formed on the mask is miniaturized, and it is indispensable to obtain a uniform illuminance distribution on the wafer in order to accurately transfer the fine pattern onto the wafer.
  • an illumination optical system capable of continuously changing the pupil intensity distribution (and consequently the illumination condition) without using a zoom optical system (see, for example, Patent Document 1).
  • an incident light beam is generated using a movable multi-mirror configured by a large number of minute mirror elements that are arranged in an array and whose tilt angle and tilt direction are individually driven and controlled.
  • the cross section of the light beam is converted into a desired shape or a desired size, and thus a desired pupil intensity distribution is realized.
  • the conventional illumination optical system uses a spatial light modulator that has a plurality of mirror elements whose postures are individually controlled, so changes in pupil intensity distribution (changes in external shape, light intensity distribution, polarization state, etc.) ) Has a high degree of freedom.
  • the profile of a beam supplied from a pulse emission type laser light source changes or changes with time by switching the emission frequency.
  • the intensity distribution of the light beam incident on the spatial light modulator also varies with the variation of the beam profile.
  • the present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a transmission optical system capable of stably guiding a light beam having a uniform intensity distribution to a spatial light modulator, for example.
  • the present invention also provides an illumination optical system capable of stably forming a desired pupil intensity distribution using a transmission optical system that stably guides a light beam having a uniform intensity distribution to a spatial light modulator, for example.
  • the purpose is to do.
  • the present invention also provides an exposure apparatus and a device manufacturing method capable of transferring a fine pattern to a photosensitive substrate under an appropriate illumination condition using an illumination optical system that stably forms a desired pupil intensity distribution. The purpose is to provide.
  • an illumination optical system illuminates a surface to be illuminated with light from a light source, and the incident light is used to form a pupil intensity distribution on the illumination pupil of the illumination optical system.
  • a transmission optical system that is disposed in the optical path of an illumination optical system having a working surface that emits light having an angular distribution by giving an angular distribution, and guides light from the light source to the working surface
  • a wavefront divider comprising a plurality of optical surfaces arranged along a plane that traverses an optical path of light from the light source and dividing the light from the light source to generate a plurality of light beams;
  • the transmission optical system is characterized in that the plurality of light beams from the wavefront splitter are at least partially overlapped on the working surface.
  • an illumination optical system that illuminates the illuminated surface with light from a light source, and has an action surface that imparts an angular distribution to incident light in order to form a pupil intensity distribution on the illumination pupil of the illumination optical system.
  • the transmission optical system that is arranged in the optical path of the illumination optical system and guides the light from the light source to the working surface, Wavefront split type optical integrator, A relay optical system that at least partially superimposes a plurality of light fluxes wave-divided by the optical integrator on the working surface;
  • the optical integrator and the relay optical system are arranged so that a rear focal position of the optical integrator and a front focal position of the relay optical system coincide with each other.
  • the exposure apparatus accommodated in the first housing including an illumination optical system having an operation surface that imparts an angular distribution to incident light in order to form a pupil intensity distribution on the illumination pupil.
  • a wavefront divider comprising a plurality of optical surfaces for dividing the light from the light source to generate a plurality of light fluxes;
  • a transmission optical system comprising an incident angle adjusting member that is disposed on the incident side of the wavefront divider and adjusts an incident angle of a light beam incident on the wavefront divider.
  • An illumination optical system comprising a plurality of optical elements arranged along the working surface and individually controlled, and a spatial light modulator for spatially modulating and emitting incident light I will provide a.
  • a wavefront divider comprising a plurality of optical surfaces for dividing the light from the light source to generate a plurality of light fluxes;
  • a relay optical system that at least partially superimposes a plurality of light beams that have been wavefront-divided by the wavefront divider on a predetermined surface;
  • a plurality of optical elements arranged along the predetermined plane and individually controlled, and a spatial light modulator for spatially modulating and emitting incident light to form a pupil intensity distribution in the illumination pupil;
  • An illumination optical system comprising: a control unit that controls the plurality of optical elements of the spatial light modulator based on information on the collapse of telecentricity of light incident on the predetermined surface.
  • an exposure apparatus comprising the illumination optical system of the fourth or fifth aspect for illuminating a predetermined pattern, and exposing the predetermined pattern onto a photosensitive substrate.
  • the seventh embodiment using the exposure apparatus of the sixth embodiment, exposing the predetermined pattern to the photosensitive substrate; Developing the photosensitive substrate having the predetermined pattern transferred thereon, and forming a mask layer having a shape corresponding to the predetermined pattern on the surface of the photosensitive substrate; And processing the surface of the photosensitive substrate through the mask layer.
  • a device manufacturing method is provided.
  • FIG. 6 is a diagram plotting the relationship between the variable intervals d1 to d4 and the variable optical path length LT described in Table (1).
  • FIG. 1 is a diagram schematically showing a configuration of an exposure apparatus EX according to the embodiment.
  • the Z-axis is along the normal direction of the transfer surface (exposure surface) of the wafer W, which is a photosensitive substrate, and the Y-axis is in the direction parallel to the paper surface of FIG.
  • the X axis is set in a direction perpendicular to the paper surface of FIG.
  • exposure light (illumination light) is supplied from a light source LS.
  • the light source LS for example, an ArF excimer laser light source that supplies pulsed light with a wavelength of 193 nm, a KrF excimer laser light source that supplies pulsed light with a wavelength of 248 nm, or the like can be used.
  • the light source LS is housed in a housing different from the housing in which the exposure apparatus EX is housed.
  • Light emitted from the light source LS in the ⁇ Y direction is incident on the spatial light modulator 2 in the exposure apparatus EX via the transmission optical system 1.
  • the spatial light modulator 2 is based on a plurality of mirror elements arranged in a predetermined plane and individually controlled, and a control signal from a control system CR that comprehensively controls the operation of the exposure apparatus. And a drive unit that individually controls and drives the postures of the plurality of mirror elements.
  • the array surface of the plurality of mirror elements of the spatial light modulator 2 (hereinafter referred to as “spatial light modulator array surface”) has pupil intensity distribution on the illumination pupil of the illumination optical system (1 to 7) including the transmission optical system 1 In order to form an angle distribution to incident light.
  • the transmission optical system 1 includes a parallel plane plate 10 that can be rotated around two axes manually or automatically (for example, electrically).
  • the parallel plane plate 10 is configured to be rotatable around, for example, a first axis extending in the X direction and a second axis perpendicular to the first axis on the surface of the parallel plane plate 10.
  • the plane parallel plate 10 as a herbing member rotates about two axes as necessary, and emits light incident along the optical axis AX from the light source LS in the X direction and / or the Z direction.
  • the light that has passed through the plane-parallel plate 10 is attenuated by an attenuator 11 whose tilt angle with respect to the optical axis AX is variable, and after the light intensity has been reduced to a required level, an adjustment tilt mirror that can be rotated around two axes manually or automatically. 12 is incident.
  • the adjustment tilt mirror 12 is configured to be rotatable around, for example, a first axis extending in the X direction and a second axis perpendicular to the first axis on the reflection surface of the adjustment tilt mirror 12.
  • the adjustment tilt mirror 12 rotates around two axes as necessary to change the direction of reflected light along the XZ plane and / or the direction of reflected light along the YZ plane.
  • the light reflected in the + Z direction by the adjusting tilt mirror 12 is incident on a fly's eye optical system 13 including a pair of lens array members 13a and 13b arranged at an interval in the optical axis AX direction.
  • the lens array members 13a and 13b are configured by a plurality of lens elements (refractive optical elements) arranged in parallel in a dense and vertical manner along a plane perpendicular to the optical axis AX.
  • the lens element 13aa constituting the first lens array member 13a is a positive lens element having a spherical entrance surface and a planar exit surface, and is a spatial light modulator.
  • 2 has a rectangular cross-sectional shape substantially similar to the outer shape of the effective reflection region on the two arrangement surfaces.
  • the lens element 13ba constituting the second lens array member 13b is a positive lens element having a planar entrance surface and a spherical exit surface, and has a rectangular cross-sectional shape corresponding to the lens element 13aa.
  • the rear focal position of the fly-eye optical system 13 is on the rear side (exit side) with respect to the second lens array member 13b. By setting the rear focal position of the fly-eye optical system 13 outside the lens elements 13aa and 13ba, damage to the lens elements 13aa and 13ba due to irradiation energy can be avoided.
  • the rear focal position of the fly-eye optical system 13 may be between the first lens array member 13a and the second lens array member 13b.
  • the light beam incident on the fly-eye optical system 13 as a wavefront division type optical integrator is two-dimensionally divided on the incident surface of the first lens array member 13a and passes through the second lens array member 13b, for example, the fly-eye optical system.
  • a plurality of small light sources arranged two-dimensionally along the rear focal plane of 13 are formed. Light from a plurality of small light sources illuminates the array surface (working surface) of the spatial light modulator 2 in a superimposed manner via the relay optical system 14 including the front lens group 14a and the rear lens group 14b. The distance between the front lens group 14a and the rear lens group 14b is variable. The specific configuration and operation of the relay optical system 14 will be described later.
  • a plurality of incident surfaces of the first lens array member 13a of the fly-eye optical system 13 are arranged along a plane crossing the optical path of the light from the light source, and generate a plurality of light beams by dividing the light from the light source.
  • the fly's eye optical system 13 can be regarded as a wavefront divider having a plurality of these optical surfaces.
  • the numerical aperture of the fly eye optical system 13 is set to a value larger than the sine of the divergence angle of the light beam incident on the fly eye optical system 13.
  • an electric tilt mirror 15a that is rotatable about two axes in accordance with a command from the control system CR is disposed.
  • an electric tilt mirror 15b that can be rotated around two axes in accordance with a command from the control system CR is disposed.
  • the electric tilt mirrors 15a and 15b are configured to be rotatable around, for example, a first axis extending in the X direction and a second axis orthogonal to the first axis on the reflection surface of the electric tilt mirrors 15a and 15b.
  • the electric tilt mirrors 15a and 15b are rotated around two axes according to a command from the control system CR as necessary to change the direction of reflected light along the XZ plane and / or the direction of reflected light along the YZ plane. .
  • the light that has passed through the relay optical system 14 and the electric tilt mirror 15b is incident on the beam splitter 17 via a parallel plane plate 16 that can be rotated around two axes manually or automatically.
  • the parallel plane plate 16 is configured to be rotatable around, for example, a first axis extending in the X direction and a second axis perpendicular to the first axis on the surface of the parallel plane plate 16. Yes.
  • the plane parallel plate 16 serving as a herbing member rotates around two axes as necessary, and emits light incident along the optical axis AX while being translated in the X direction and / or the Y direction.
  • the light transmitted through the beam splitter 17 enters the spatial light modulator 2 as described above.
  • the light reflected by the beam splitter 17, that is, the light extracted from the illumination optical path by the beam splitter 17 enters the beam monitor 18.
  • the beam monitor 18 is based on the light extracted from the illumination optical path, the position of the light incident on the spatial light modulator 2 in the arrangement plane, the angle of the light incident on the spatial light modulator 2 with respect to the arrangement plane, and the spatial light.
  • the light intensity distribution on the arrangement surface of the modulator 2 is monitored.
  • the monitoring result of the beam monitor 18 is supplied to the control system CR.
  • the control system CR controls the transmission optical system 1 and the spatial light modulator 2 based on the output of the beam monitor 18.
  • the beam monitor 18 includes a position monitor 18a, an angle monitor 18b, and an intensity distribution monitor 18c.
  • the position monitor 18a measures the position in the plane crossing the optical path of the light incident on the working surface of the spatial light modulator 2 (and thus the incident position of the light on the array surface of the spatial light modulator 2).
  • the angle monitor 18b measures the angle of the light incident on the working surface of the spatial light modulator 2 with respect to the working surface (that is, the incident angle of light on the arrangement surface of the light incident on the spatial light modulator 2).
  • the intensity distribution monitor 18 c measures the light intensity distribution on the arrangement surface of the spatial light modulator 2.
  • the position monitor 18a and the intensity distribution monitor 18c are optically conjugate with the arrangement surface of the spatial light modulator 2 (the optically Fourier transform relationship with respect to the rear focal position of the fly-eye optical system 13).
  • the angle monitor 18b is a photoelectric sensor disposed at a position (optically conjugate with the rear focal position of the fly-eye optical system 13) that is optically Fourier-transformed with respect to the arrangement surface of the spatial light modulator 2.
  • An imaging unit having a conversion surface is provided.
  • the internal configuration of the beam monitor 18 is disclosed in, for example, US Patent Publication No. 2011/0069305.
  • the fly eye optical system 13 and the relay optical system 14 are arranged so that the rear focal position of the fly eye optical system 13 and the front focal position of the relay optical system 14 coincide.
  • the light from each small light source formed on the rear focal plane of the fly-eye optical system 13 becomes parallel light via the relay optical system 14 and enters the array surface of the spatial light modulator 2.
  • a divergent light group from a small light source on the optical axis AX enters the array surface of the spatial light modulator 2 as a light group parallel to the optical axis AX via the relay optical system 14. .
  • the light from the plurality of small light sources formed by the fly-eye optical system 13 illuminates the array surface (working surface) of the spatial light modulator 2 via the relay optical system 14 in a superimposed manner.
  • the arrangement surface (action surface) of the spatial light modulator 2 may be partially superimposed and illuminated by each of the light from the plurality of small light sources.
  • the light emitted from the spatial light modulator 2 in the + Y direction is incident on the micro fly's eye lens (or fly eye lens) 4 via the relay lens 3.
  • the relay lens 3 has a front focal position located near the arrangement surface of the spatial light modulator 2 and a rear focal position located near the incident surface of the micro fly's eye lens 4. 2 and the incident surface of the micro fly's eye lens 4 are optically set in a Fourier transform relationship. Therefore, the light passing through the spatial light modulator 2 variably distributes the light intensity corresponding to the postures of the plurality of mirror elements on the incident surface of the micro fly's eye lens 4 as will be described later.
  • the position of the incident surface of the micro fly's eye lens 4 is almost optically conjugate with the rear focal position of the fly's eye optical system 13.
  • the micro fly's eye lens 4 is, for example, an optical element made up of a large number of micro lenses having positive refractive power arranged vertically and horizontally and densely.
  • the micro fly's eye lens 4 is formed by etching a parallel plane plate to form a micro lens group.
  • a micro fly's eye lens unlike a fly eye lens composed of lens elements isolated from each other, a large number of micro lenses (micro refractive surfaces) are integrally formed without being isolated from each other.
  • the micro fly's eye lens is the same wavefront division type optical integrator as the fly's eye lens in that the lens elements are arranged vertically and horizontally.
  • a rectangular minute refracting surface as a unit wavefront dividing surface in the micro fly's eye lens 4 is a rectangular shape similar to the shape of the illumination field to be formed on the mask M (and thus the shape of the exposure region to be formed on the wafer W). It is.
  • a cylindrical micro fly's eye lens can be used as the micro fly's eye lens 4. The configuration and operation of the cylindrical micro fly's eye lens are disclosed in, for example, US Pat. No. 6,913,373.
  • the light beam incident on the micro fly's eye lens 4 is two-dimensionally divided by a large number of microlenses, and the light intensity distribution that is substantially the same as the light intensity distribution formed on the incident surface is formed on the rear focal plane or in the vicinity of the illumination pupil.
  • a secondary light source substantially surface light source consisting of a large number of small light sources: pupil intensity distribution
  • the light from the secondary light source formed on the illumination pupil immediately after the micro fly's eye lens 4 illuminates the mask blind 6 in a superimposed manner via the condenser optical system 5.
  • a rectangular illumination field corresponding to the shape and focal length of the rectangular micro-refractive surface of the micro fly's eye lens 4 is formed on the mask blind 6 as an illumination field stop.
  • the aperture (light) having a shape corresponding to the secondary light source is located at or near the rear focal plane of the micro fly's eye lens 4, that is, at a position optically conjugate with an entrance pupil plane of the projection optical system PL described later.
  • An illumination aperture stop having a transmission part may be arranged.
  • the light beam that has passed through the rectangular opening (light transmitting portion) of the mask blind 6 is subjected to the condensing action of the imaging optical system 7 and is reflected by the optical path bending mirror disposed in the optical path of the imaging optical system 7. After being reflected in the ⁇ Z direction, the mask M on which a predetermined pattern is formed is illuminated in a superimposed manner. That is, the imaging optical system 7 forms an image of the rectangular opening of the mask blind 6 on the mask M.
  • the light beam transmitted through the mask M held on the mask stage MS forms an image of a mask pattern on the wafer (photosensitive substrate) W held on the wafer stage WS through the projection optical system PL.
  • batch exposure or scan exposure is performed while the wafer stage WS is two-dimensionally driven and controlled in a plane (XY plane) orthogonal to the optical axis AX of the projection optical system PL, and thus the wafer W is two-dimensionally driven and controlled.
  • the pattern of the mask M is sequentially exposed in each exposure region of the wafer W.
  • the exposure apparatus EX of the present embodiment measures the first pupil intensity distribution that measures the pupil intensity distribution on the exit pupil plane of the illumination optical system based on the light via the illumination optical system (1 to 7) including the transmission optical system 1.
  • a second pupil intensity distribution measuring unit DTw that measures the pupil intensity distribution on the pupil plane of the projection optical system PL (the exit pupil plane of the projection optical system PL) based on the light through the projection optical system PL,
  • a control system CR that controls the spatial light modulator 2 based on the measurement result of at least one of the first and second pupil intensity distribution measurement units DTr and DTw, and controls the overall operation of the exposure apparatus. .
  • the first pupil intensity distribution measurement unit DTr includes, for example, an imaging unit having a photoelectric conversion surface disposed at a position optically conjugate with the exit pupil position of the illumination optical system, and each point on the surface to be irradiated by the illumination optical system. Is monitored (pupil intensity distribution formed at the exit pupil position of the illumination optical system by light incident on each point).
  • the second pupil intensity distribution measurement unit DTw includes an imaging unit having a photoelectric conversion surface arranged at a position optically conjugate with the pupil position of the projection optical system PL, for example, and includes each image plane of the projection optical system PL. The pupil intensity distribution related to the points (pupil intensity distribution formed by the light incident on each point at the pupil position of the projection optical system PL) is monitored.
  • the secondary light source formed by the micro fly's eye lens 4 is used as a light source, and the mask M (and thus the wafer W) disposed on the irradiated surface of the illumination optical system is Koehler illuminated.
  • the position where the secondary light source is formed is optically conjugate with the position of the aperture stop AS of the projection optical system PL, and the formation surface of the secondary light source can be called the illumination pupil plane of the illumination optical system.
  • the image of the formation surface of the secondary light source can be called an exit pupil plane of the illumination optical system.
  • the irradiated surface (the surface on which the mask M is disposed or the surface on which the wafer W is disposed when the illumination optical system including the projection optical system PL is considered) is optical with respect to the illumination pupil plane.
  • the pupil intensity distribution is a light intensity distribution (luminance distribution) on the illumination pupil plane of the illumination optical system or a plane optically conjugate with the illumination pupil plane.
  • the relay lens 3 and the micro fly's eye lens 4 include a distribution forming optical system that forms a pupil intensity distribution on the illumination pupil immediately after the micro fly's eye lens 4 based on the light beam that has passed through the spatial light modulator 2. It is composed.
  • the spatial light modulator 2 includes a plurality of mirror elements 2a arranged in a predetermined plane, a base 2b holding the plurality of mirror elements 2a, and a cable (not shown) connected to the base 2b. ) Through which the plurality of mirror elements 2a are individually controlled and driven.
  • FIG. 4 shows an optical path from the spatial light modulator 2 to the incident surface 4 a of the micro fly's eye lens 4.
  • the attitude of the plurality of mirror elements 2a is changed by the action of the drive unit 2c that operates based on a command from the control system CR, and each mirror element 2a is set in a predetermined direction.
  • the spatial light modulator 2 includes a plurality of minute mirror elements 2a arranged two-dimensionally, and the spatial modulation according to the incident position of the incident light can be varied. Is applied and injected.
  • the number of mirror elements 2a is typically large, typically about 4000 to 100,000.
  • the light beam L1 is incident on the mirror element SEa of the plurality of mirror elements 2a, and the light beam L2 is incident on the mirror element SEb different from the mirror element SEa.
  • the light beam L3 is incident on a mirror element SEc different from the mirror elements SEa and SEb, and the light beam L4 is incident on a mirror element SEd different from the mirror elements SEa to SEc.
  • the mirror elements SEa to SEd give spatial modulations set according to their positions to the lights L1 to L4.
  • the spatial light modulator 2 in a reference state in which the reflecting surfaces of all the mirror elements 2a are set along one plane, a light beam incident along a direction parallel to the optical axis AX of the transmission optical system 1 After being reflected by the light modulator 2, the light travels in a direction parallel to the optical axis AX of the relay lens 3. Further, as described above, the array surface of the plurality of mirror elements 2 a of the spatial light modulator 2 and the incident surface 4 a of the micro fly's eye lens 4 are optically positioned in a Fourier transform relationship via the relay lens 3. ing.
  • the relay lens 3 determines the angle that the plurality of mirror elements SEa to SEd of the spatial light modulator 2 gives to the emitted light on the incident surface 4a that is the far field (Fraunhofer diffraction region) of the spatial light modulator 2. Convert to position.
  • the light intensity distribution (pupil intensity distribution) of the secondary light source formed by the micro fly's eye lens 4 is the light intensity distribution formed on the incident surface 4 a of the micro fly's eye lens 4 by the spatial light modulator 2 and the relay lens 3. Corresponding distribution.
  • the spatial light modulator 2 is a large number of minute reflecting elements regularly and two-dimensionally arranged along one plane with a planar reflecting surface as the upper surface.
  • a movable multi-mirror including a mirror element 2a.
  • Each mirror element 2a is movable, and the inclination of the reflection surface, that is, the inclination angle and the inclination direction of the reflection surface are independently controlled by the action of the drive unit 2c that operates based on the control signal from the control system CR.
  • Each mirror element 2a can be rotated continuously or discretely by a desired rotation angle with two directions parallel to the reflecting surface and orthogonal to each other as rotation axes. That is, it is possible to two-dimensionally control the inclination of the reflecting surface of each mirror element 2a.
  • each mirror element 2a When the reflecting surface of each mirror element 2a is discretely rotated, the rotation angle is set in a plurality of states (for example,..., -2.5 degrees, -2.0 degrees, ... 0 degrees, +0.5 degrees). ... +2.5 degrees,.
  • FIG. 5 shows a mirror element 2a having a square outer shape
  • the outer shape of the mirror element 2a is not limited to a square.
  • the shape can be arranged so that the gap between the mirror elements 2a is reduced (a shape that can be packed most closely). Further, from the viewpoint of light utilization efficiency, the interval between two adjacent mirror elements 2a can be minimized.
  • the spatial light modulator 2 for example, a spatial light modulator that continuously changes the directions of a plurality of mirror elements 2a arranged two-dimensionally is used.
  • a spatial light modulator for example, European Patent Publication No. 779530, US Pat. No. 5,867,302, US Pat. No. 6,480,320, US Pat. No. 6,600,591 U.S. Patent No. 6,733,144, U.S. Patent No. 6,900,915, U.S. Patent No. 7,095,546, U.S. Patent No. 7,295,726, U.S. Patent No. 7, No. 424,330, U.S. Patent No. 7,567,375, U.S. Patent Publication No. 2008/0309901, U.S.
  • Patent Publication No. 2011/0181852 U.S. Patent Publication No. 2011/188017, and JP-A-2006.
  • the spatial light modulator disclosed in Japanese Patent Application No. -1143737 can be used. Note that the orientations of the plurality of mirror elements 2a arranged two-dimensionally may be controlled so as to have a plurality of discrete stages.
  • the attitude of the plurality of mirror elements 2a is changed by the action of the drive unit 2c that operates according to the control signal from the control system CR, and each mirror element 2a is set in a predetermined direction.
  • the light reflected at a predetermined angle by each of the plurality of mirror elements 2a of the spatial light modulator 2 is applied to the incident surface 4a of the micro fly's eye lens 4 (to the illumination pupil) by the optical Fourier transform action by the relay lens 3.
  • the relay lens 3 can be regarded as having an action of converting the angle change of the light emitted from the spatial light modulator 2 into the position change on the incident surface 4 a of the micro fly's eye lens 4.
  • the desired pupil intensity distribution is also formed at the (position).
  • the spatial light modulator 2 variably forms a pupil intensity distribution on the illumination pupil immediately after the micro fly's eye lens 4.
  • the relay lens 3 converts the angular distribution of the emitted light beam from the spatial light modulator 2 into a position distribution in the cross section of the emitted light beam from the distribution forming optical system.
  • the main body of the exposure apparatus EX that is, the part from the spatial light modulator 2 to the wafer stage WS is a considerably large apparatus as a whole, and requires a large floor area for installation.
  • An ArF excimer laser light source (or KrF excimer laser light source) used as a light source LS for supplying exposure light (illumination light) to the exposure apparatus EX is also a considerably large apparatus. Therefore, in an exposure apparatus using an excimer laser light source, the light source LS is often arranged at a certain distance from the exposure apparatus main body (2 to WS).
  • an exposure apparatus main body (EX; 2 to WS) is installed on the upper floor where the light source LS is installed, and the light emitted from the light output port of the light source LS is exposed via the transmission optical system 1.
  • the light is guided to the arrangement surface (working surface) of the spatial light modulator 2 arranged at the light inlet of the apparatus main body (EX; 2 to WS).
  • the optical path from the light output port of the light source LS to the arrangement surface of the spatial light modulator 2 is relatively long, and the optical path length may differ for each exposure apparatus.
  • the transmission optical system 1 of the present embodiment includes a first transmission unit 1A extending from the plane parallel plate 10 to the electric tilt mirror 15a, and a second transmission unit 1B extending from the rear lens group 14b of the relay optical system 14 to the beam splitter 17.
  • the connection portion 1C is provided between the housing of the first transmission unit 1A and the housing of the second transmission unit 1B and is formed of, for example, a hollow pipe.
  • the relay optical system 14 the distance along the optical axis AX between the front lens group 14a and the rear lens group 14b (for example, the distance along the Y direction between the first transmission unit 1A and the second transmission unit 1B) is the relay. It changes according to the change in the optical path length of the optical path from the rear focal position of the fly-eye optical system 13 to the arrangement surface of the spatial light modulator 2 while keeping the focal length of the optical system 14 constant.
  • the distance along the Y direction between the first transmission unit 1A and the second transmission unit 1B is changed, and the optical axis AX of the front lens group 14a and the rear lens group 14b of the relay optical system 14 is changed.
  • Changing the interval is nothing but changing the optical path length from the light output port of the light source LS to the array surface of the spatial light modulator 2.
  • Keeping the focal length of the relay optical system 14 constant means that the outer shape of the light beam superimposed on the arrangement surface of the spatial light modulator 2 is constant according to the outer shape of the effective reflection area on the arrangement surface of the spatial light modulator 2. Means to hold on.
  • a specific configuration example and operation of the relay optical system 14 will be described.
  • FIG. 6 is a diagram schematically showing the lens configuration of a relay optical system arranged in the optical path of the transmission optical system.
  • the optical path from the rear focal plane 13c of the fly-eye optical system 13 to the array plane 2d of the spatial light modulator 2 is shown in a straight line, and the electric tilt mirrors 15a and 15b, the parallel plane plate 16, and The illustration of the beam splitter 17 is omitted.
  • the array surface 2 d of the spatial light modulator 2 is represented by a surface orthogonal to the optical axis AX.
  • the front lens group 14a includes a biconvex lens L11, a biconcave lens L12, a biconcave lens L13, and a biconvex lens L14 in order from the light incident side (rear focal plane 13c side). It is composed of
  • the rear lens group 14b includes a biconvex lens L21 and a biconcave lens L22 in order from the light incident side.
  • the biconvex lens L11 of the front lens group 14a and the biconcave lens L22 of the rear lens group 14b are fixed along the optical axis AX. That is, the axial distance between the rear focal plane 13c of the fly-eye optical system 13 and the biconvex lens L11 and the axial distance between the biconcave lens L22 and the array surface 2d of the spatial light modulator 2 are unchanged.
  • the lenses other than the biconvex lens L11 and the biconcave lens L22 that is, the biconcave lens L12, the biconcave lens L13, the biconvex lens L14, and the biconvex lens L21 are movable along the optical axis AX. Accordingly, the axial distance d1 between the biconvex lens L11 and the biconcave lens L12, the axial distance d2 between the biconcave lens L12 and the biconcave lens L13, the axial distance d3 between the biconcave lens L13 and the biconvex lens L14, the biconvex lens L14 and the biconvex lens.
  • the axial distance ds from L21, the axial distance d4 between the biconvex lens L21 and the biconcave lens L22, and the optical path length LT from the rear focal plane 13c of the fly-eye optical system 13 to the array plane 2d of the spatial light modulator 2 are as follows: It is variable. All the lenses L11 to L14, L21 and L22 are made of fluorite.
  • the following table (1) lists the values of the specifications of the relay optical system according to the example of FIG.
  • fr represents the focal length.
  • the surface number is an optical surface along the traveling direction of light from the rear focal plane 13c of the fly-eye optical system 13 to the array surface 2d of the spatial light modulator 2.
  • FIG. 7 is a graph plotting the relationship between the variable intervals d1 to d4 described in Table (1) and the variable optical path length LT.
  • FIG. 8 is a graph plotting the relationship between the variable interval ds and the variable optical path length LT described in Table (1). 7 and 8, the unit of the variable intervals d1 to d4, ds is mm, and the unit of the variable optical path length LT is m.
  • the spatial light modulator is controlled from the rear focal plane 13c of the fly-eye optical system 13 while keeping the focal length fr constant at 5000 mm.
  • the optical path length LT to the second arrangement surface 2d can be changed between 6 m and 15 m.
  • the front lens group 14a in order from the light incident side, the front lens group 14a has a positive / negative / negative / positive refractive power arrangement, and the rear lens group 14b has a positive / negative refraction.
  • the refractive power arrangement of the front lens group 14a and the rear lens group 14b is not limited to this.
  • the two negative groups (biconcave lens L12 and biconcave lens L13) and the most positive side positive group (biconvex lens L14) in the front lens group 14a are movable groups.
  • the positive group (biconvex lens L21) in the side lens group 14b is a movable group
  • the movable group when the optical path length is changed is not limited to this example.
  • the length of the connection unit 1C that connects the first and second transmission units 1A and 1B is changed. Needless to say.
  • the plurality of partial light beams that have been wavefront-divided by the fly-eye optical system 13 are arranged on the array surface (working surface) of the spatial light modulator 2 via the relay optical system 14. ). Accordingly, light having a non-uniform beam profile emitted from the light source LS becomes light with improved intensity distribution due to the action of the fly-eye optical system 13 and is incident on the working surface of the spatial light modulator 2. . That is, by the action of the fly-eye optical system 13, the light intensity distribution of the light beam incident on each mirror element 2a of the spatial light modulator 2 is made uniform, and as a result, the light intensity distribution of the light beam emitted from each mirror element 2a is also uniform. It becomes. As a result, the controllability of the spatial light modulator 2 to drive a large number of mirror elements 2a when forming the pupil intensity distribution is improved.
  • the rear focal position of the fly-eye optical system 13 and the front focal position of the relay optical system 14 are the same.
  • the controllability of the spatial light modulator 2 is improved.
  • a light beam having a substantially uniform intensity distribution can be stably guided to the working surface of the spatial light modulator 2, and the controllability of the spatial light modulator 2 is improved. Can do.
  • the transmission optical system 1 that stably guides a light beam having a substantially uniform intensity distribution to the working surface of the spatial light modulator 2 is used.
  • a desired pupil intensity distribution can be stably formed in the illumination pupil immediately after.
  • the illumination optical system (2 to 7) that stably forms a desired pupil intensity distribution is used according to the pattern characteristics of the mask M to be transferred. The fine pattern can be accurately transferred onto the wafer W under the appropriate illumination conditions realized.
  • the control result of the light intensity distribution on the arrangement surface of the spatial light modulator 2 is supplied to the controller CR from the intensity distribution monitor 18c of the beam monitor 18 as necessary.
  • the controller CR refers to the monitor result regarding the light intensity distribution of the intensity distribution monitor 18c as needed, and appropriately controls the spatial light modulator 2 according to the temporal variation of the beam profile of the light supplied from the light source LS. By doing so, a desired pupil intensity distribution can be stably formed.
  • an attenuator that is disposed closer to the light source than the fly-eye optical system 13 and has a variable inclination angle with respect to the optical axis AX as a light amount adjusting member that adjusts the amount of light reaching the working surface of the spatial light modulator 2. 11 is provided. Therefore, the durability of the optical member constituting the fly-eye optical system 13 and the film provided on the optical surface thereof can be improved by the dimming action of the attenuator 11. Further, the amount of exposure can be adjusted and stabilized by the dimming action of the attenuator 11. The exposure amount can be adjusted and stabilized by using a neutral density filter provided at an arbitrary position in the optical path of the transmission optical system 1 instead of or in addition to the attenuator.
  • the plane-parallel plate 10 that is disposed on the light source side relative to the fly-eye optical system 13 and that can rotate about two axes, and that is disposed on the light source side relative to the fly-eye optical system 13 and rotates about two axes.
  • An adjustable tilt mirror 12 is provided. Therefore, due to the action of the plane parallel plate 10 as the herbing member and the adjustment tilt mirror 12, the fly-eye optical system 13 is connected so that the center line of the light beam incident on the fly-eye optical system 13 substantially coincides with the optical axis AX. The position and angle of the incident light beam can be adjusted.
  • the transmission optical system 1 includes a parallel flat plate 16 that is disposed closer to the irradiated surface (mask side) than the fly-eye optical system 13 and can rotate about two axes. The position of the incident light beam on the working surface of the spatial light modulator 2 can be adjusted by the action of the parallel flat plate 16 as a herving member.
  • the transmission optical system 1 includes a pair of electric tilt mirrors 15a and 15b that are disposed on the irradiated surface side of the fly-eye optical system 13 and can rotate about two axes. Therefore, referring to the output of the position monitor 18a and the output of the angle monitor 18b, the position variation and angle variation of the light beam incident on the working surface of the spatial light modulator 2 (for example, in the transmission optical system 1 due to minute vibrations or component installation errors). Position fluctuation and angle fluctuation of the luminous flux generated in (1) can be finely adjusted by the cooperative action of the pair of electric tilt mirrors 15a and 15b.
  • the pair of electric tilt mirrors 15a and 15b includes a position adjusting member that adjusts a position in a plane crossing the optical path of light incident on the working surface of the spatial light modulator 2 based on the output of the position monitor 18a, and an angle monitor.
  • An angle adjusting member that adjusts the angle of the light incident on the working surface of the spatial light modulator 2 with respect to the working surface based on the output of 18b is configured. Even if the fly-eye optical system 13 is tilted with respect to the optical axis AX, the function of one electric tilt mirror can be substituted.
  • the rear focal position of the fly-eye optical system 13 and the front focal position of the relay optical system 14 coincide with each other.
  • the formed light from each small light source becomes parallel light and enters the array surface of the spatial light modulator 2.
  • the present invention is not limited to this.
  • FIG. 9 a modified example in which the rear focal position 13c of the fly-eye optical system 13 and the front focal position 14c of the relay optical system 14 do not coincide is possible.
  • the relay optical system 14 is represented by one optical member.
  • the divergent light beam from the small light source on the optical axis AX reaches the array surface of the spatial light modulator 2 through the relay optical system 14 as a light beam having a relatively small divergence angle (or convergence angle). . That is, in the modified example in which the rear focal position of the fly-eye optical system 13 and the front focal position of the relay optical system 14 do not coincide with each other, the telecentricity of the light incident on the arrangement surface of the spatial light modulator 2 is lost. In a reference state in which the light reflected by the light modulator 2 travels in a direction parallel to the optical axis AX of the relay lens 3, the reflecting surfaces of the plurality of mirror elements 2a are concave (or convex) as a whole.
  • the control system CR is incident on the arrangement surface of the spatial light modulator 2 with the state where the reflecting surfaces of the plurality of mirror elements 2 a are generally concave (or convex) as a reference state.
  • the attitudes of the plurality of mirror elements 2a may be controlled based on information on the collapse of the telecentricity of the light to be transmitted.
  • the rear focal position of the fly-eye optical system 13 and the incident surface of the micro fly-eye lens 4 are optically substantially conjugate with each other as in the above-described embodiment. .
  • a sufficiently small conjugate image of each small light source formed on the rear focal plane of the fly-eye optical system 13 is formed on the inside of the unit wavefront dividing surface on the incident surface of the micro fly's eye lens 4.
  • the maximum value of light energy per unit area irradiated on the lens elements 13aa and 13ba constituting the fly-eye optical system 13 is determined per pulse.
  • a pulse-emitting laser light source for example, an excimer laser light source
  • the maximum value of light energy per unit area irradiated on the lens elements 13aa and 13ba constituting the fly-eye optical system 13 is determined per pulse.
  • the focal length of the relay optical system 14 can be set to 2000 mm to 10000 mm, for example. Further, the pitch of the two-dimensional arrangement of the lens elements 13aa and 13ba constituting the fly eye optical system 13 is set to 0.5 mm to 3 mm, for example, and the focal length of the fly eye optical system 13 is set to 80 mm to 400 m, for example. be able to.
  • the fly-eye optical system 13 including the pair of lens array members 13a and 13b is used as the wavefront division type optical integrator.
  • the present invention is not limited to this, and various modifications can be made to the specific configuration of the fly-eye optical system.
  • a fly-eye optical system composed of a single lens array member, a cylindrical micro fly-eye lens, or the like can be used instead of the fly-eye optical system 13.
  • the refractive power of the lens elements 13aa and 13ba of the pair of lens array members 13a and 13b of the fly-eye optical system 13 may be negative refractive power, and their refractive surfaces (lens surfaces) are aspherical. Also good.
  • the fly-eye optical system 13 is not limited to a refractive optical system.
  • a diffractive optical element array in which diffractive optical elements are arranged in an array or a mirror array in which a plurality of mirrors are arranged in an array are used. Can do.
  • the configuration and operation of the cylindrical micro fly's eye lens are disclosed in, for example, US Pat. No. 6,913,373.
  • the spatial light modulator having a plurality of mirror elements that are two-dimensionally arranged and individually controlled the directions (angle: inclination) of the plurality of two-dimensionally arranged reflecting surfaces are individually set.
  • the controllable spatial light modulator 2 is used.
  • a spatial light modulator that can individually control the height (position) of a plurality of two-dimensionally arranged reflecting surfaces can be used.
  • the spatial light modulator disclosed in FIG. 1d of US Pat. No. 5,312,513 and US Pat. No. 6,885,493 can be used.
  • spatial light modulators by forming a two-dimensional height distribution, an action similar to that of the diffractive surface can be given to incident light.
  • the spatial light modulator having a plurality of reflection surfaces arranged two-dimensionally as described above is modified in accordance with the disclosure of, for example, US Pat. No. 6,891,655 and US Patent Publication No. 2005/0095749. May be.
  • a reflective spatial light modulator 2 having a plurality of mirror elements 2a arranged is used.
  • the present invention is not limited to this, and a transmission-type spatial light modulator having a plurality of transmission optical elements arranged in a predetermined plane and individually controlled, and a diffractive optical element having a diffractive optical surface (working surface) Etc. can also be used.
  • variable pattern forming apparatus that forms a predetermined pattern based on predetermined electronic data can be used instead of a mask.
  • a spatial light modulation element including a plurality of reflection elements driven based on predetermined electronic data can be used.
  • An exposure apparatus using a spatial light modulator is disclosed, for example, in US Patent Publication No. 2007/0296936.
  • a transmissive spatial light modulator may be used, or a self-luminous image display element may be used.
  • the exposure apparatus of the above-described embodiment is manufactured by assembling various subsystems including the respective constituent elements recited in the claims of the present application so as to maintain predetermined mechanical accuracy, electrical accuracy, and optical accuracy. Is done.
  • various optical systems are adjusted to achieve optical accuracy
  • various mechanical systems are adjusted to achieve mechanical accuracy
  • various electrical systems are Adjustments are made to achieve electrical accuracy.
  • the assembly process from the various subsystems to the exposure apparatus includes mechanical connection, electrical circuit wiring connection, pneumatic circuit piping connection and the like between the various subsystems. Needless to say, there is an assembly process for each subsystem before the assembly process from the various subsystems to the exposure apparatus. When the assembly process of the various subsystems to the exposure apparatus is completed, comprehensive adjustment is performed to ensure various accuracies as the entire exposure apparatus.
  • the exposure apparatus may be manufactured in a clean room where the temperature, cleanliness, etc. are controlled.
  • FIG. 10 is a flowchart showing a manufacturing process of a semiconductor device.
  • a metal film is vapor-deposited on a wafer W to be a substrate of the semiconductor device (step S40), and a photoresist, which is a photosensitive material, is applied on the vapor-deposited metal film.
  • Step S42 the pattern formed on the mask (reticle) M is transferred to each shot area on the wafer W (step S44: exposure process), and the wafer W after the transfer is completed.
  • Development that is, development of the photoresist to which the pattern has been transferred (step S46: development process).
  • step S48 processing step.
  • the resist pattern is a photoresist layer in which unevenness having a shape corresponding to the pattern transferred by the projection exposure apparatus of the above-described embodiment is generated, and the recess penetrates the photoresist layer. It is.
  • the surface of the wafer W is processed through this resist pattern.
  • the processing performed in step S48 includes, for example, at least one of etching of the surface of the wafer W or film formation of a metal film or the like.
  • the projection exposure apparatus of the above-described embodiment performs pattern transfer using the wafer W coated with the photoresist as the photosensitive substrate, that is, the plate P.
  • FIG. 11 is a flowchart showing a manufacturing process of a liquid crystal device such as a liquid crystal display element.
  • a pattern formation process step S50
  • a color filter formation process step S52
  • a cell assembly process step S54
  • a module assembly process step S56
  • step S50 a predetermined pattern such as a circuit pattern and an electrode pattern is formed on the glass substrate coated with a photoresist as the plate P using the projection exposure apparatus of the above-described embodiment.
  • the pattern forming step includes an exposure step of transferring the pattern to the photoresist layer using the projection exposure apparatus of the above-described embodiment, and development of the plate P on which the pattern is transferred, that is, development of the photoresist layer on the glass substrate. And a developing step for generating a photoresist layer having a shape corresponding to the pattern, and a processing step for processing the surface of the glass substrate through the developed photoresist layer.
  • a large number of sets of three dots corresponding to R (Red), G (Green), and B (Blue) are arranged in a matrix or three R, G, and B
  • a color filter is formed by arranging a plurality of stripe filter sets in the horizontal scanning direction.
  • a liquid crystal panel liquid crystal cell
  • a liquid crystal panel is assembled using the glass substrate on which the predetermined pattern is formed in step S50 and the color filter formed in step S52.
  • a liquid crystal panel is formed by injecting liquid crystal between a glass substrate and a color filter.
  • various components such as an electric circuit and a backlight for performing the display operation of the liquid crystal panel are attached to the liquid crystal panel assembled in step S54.
  • the present invention is not limited to application to an exposure apparatus for manufacturing a semiconductor device, for example, an exposure apparatus for a display device such as a liquid crystal display element formed on a square glass plate or a plasma display, It can also be widely applied to an exposure apparatus for manufacturing various devices such as an image sensor (CCD or the like), a micromachine, a thin film magnetic head, and a DNA chip. Furthermore, the present invention can also be applied to an exposure process (exposure apparatus) when manufacturing a mask (photomask, reticle, etc.) on which mask patterns of various devices are formed using a photolithography process.
  • an exposure apparatus for manufacturing a semiconductor device for example, an exposure apparatus for a display device such as a liquid crystal display element formed on a square glass plate or a plasma display
  • various devices such as an image sensor (CCD or the like), a micromachine, a thin film magnetic head, and a DNA chip.
  • the present invention can also be applied to an exposure process (exposure apparatus) when manufacturing a mask (photomask,
  • ArF excimer laser light (wavelength: 193 nm) or KrF excimer laser light (wavelength: 248 nm) is used as the exposure light.
  • the present invention is not limited to this, and other suitable pulse lasers are used.
  • a light source for example, an F 2 laser light source that supplies laser light with a wavelength of 157 nm, a Kr 2 laser light source that supplies laser light with a wavelength of 146 nm, an Ar 2 laser light source that supplies laser light with a wavelength of 126 nm, or the like can be used.
  • a CW (Continuous Wave) light source such as an ultrahigh pressure mercury lamp that emits bright lines such as g-line (wavelength 436 nm) and i-line (wavelength 365 nm).
  • a harmonic generator of a YAG laser or the like can also be used.
  • a single wavelength laser beam in an infrared region or a visible region oscillated from a DFB semiconductor laser or a fiber laser is used as vacuum ultraviolet light.
  • a harmonic that is amplified by a fiber amplifier doped with erbium (or both erbium and ytterbium) and wavelength-converted into ultraviolet light using a nonlinear optical crystal may be used.
  • a so-called immersion method is applied in which the optical path between the projection optical system and the photosensitive substrate is filled with a medium (typically liquid) having a refractive index larger than 1.1. You may do it.
  • a technique for filling the liquid in the optical path between the projection optical system and the photosensitive substrate a technique for locally filling the liquid as disclosed in International Publication No. WO99 / 49504, a special technique, A method of moving a stage holding a substrate to be exposed as disclosed in Kaihei 6-124873 in a liquid tank, or a predetermined stage on a stage as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 10-303114. A method of forming a liquid tank having a depth and holding the substrate therein can be employed.
  • the teachings of WO99 / 49504, JP-A-6-124873 and JP-A-10-303114 are incorporated by reference.
  • the present invention is applied to the illumination optical system that illuminates the mask (or wafer) in the exposure apparatus.
  • the present invention is not limited to this, and an object other than the mask (or wafer) is used.
  • the present invention can also be applied to a general illumination optical system that illuminates the irradiation surface.
  • an illumination optical device that illuminates the illuminated surface with light from a light source, An illumination pupil, and a working surface that emits light having an angular distribution by adding an angular distribution to incident light in order to form a pupil intensity distribution on the illumination pupil with the light from the light source, and the light from the light source
  • a wavefront divider comprising a plurality of optical surfaces arranged along a plane that traverses an optical path of light from the light source and dividing the light from the light source to generate a plurality of light beams;
  • the illumination optical device according to claim 1, wherein the plurality of light beams from the wavefront splitter are at least partially superimposed on the working surface.
  • a relay optical system that at least partially superimposes the plurality of light beams on the working surface;
  • Optical device. 3 The illumination optical system according to clause 2, wherein the relay optical system includes a front lens group and a rear lens group, and an interval between the front lens group and the rear lens group is variable. apparatus. 4).
  • the distance between the front lens group and the rear lens group is an optical path from the rear focal position of the wavefront divider to the working surface while keeping the focal length of the relay optical system constant. 4.
  • the illumination optical apparatus according to clause 3, wherein the illumination optical apparatus is configured to change in accordance with a change in the optical path length of the optical path. 5). 5. The illumination optical apparatus according to clause 3 or 4, wherein the front lens group includes at least one lens configured to be movable in an optical axis direction. 6). 6. The illumination optical apparatus according to any one of clauses 3 to 5, wherein the rear lens group includes at least one lens configured to be movable in the optical axis direction. 7). A position measuring device for measuring a position in a plane crossing the optical path of light incident on the working surface based on light extracted from an optical path between the relay optical system and the working surface; 7. The illumination optical apparatus according to any one of clauses 1 to 6. 8).
  • a provision comprising an angle measuring device for measuring an angle of light incident on the working surface with respect to the working surface based on light extracted from an optical path between the relay optical system and the working surface.
  • the illumination optical apparatus according to any one of 1 to 7. 9.
  • 10. 10 The illumination optical apparatus according to clause 8 or 9, further comprising an angle adjusting member that adjusts an angle of light incident on the working surface with respect to the working surface based on an output of the angle measuring device. 11.
  • the wavefront divider has a fly-eye optical system composed of a plurality of refractive optical elements arranged in parallel, and a rear focal position of the fly-eye optical system is outside the plurality of refractive optical elements.
  • the illumination optical device according to any one of clauses 1 to 10, which is characterized. 12 12.
  • the fly's eye optical system is made of fluorite.
  • 14 14.
  • the incident angle adjusting member that is arranged on the incident side of the wavefront divider and adjusts an incident angle of a light beam incident on the wavefront divider, according to any one of clauses 1 to 14, Illumination optical device. 16.
  • an illumination optical device that illuminates the illuminated surface with light from a light source, An illumination pupil, and a working surface that emits light having an angular distribution by adding an angular distribution to incident light in order to form a pupil intensity distribution on the illumination pupil with the light from the light source, and the light from the light source
  • the transmission optical system is Wavefront split type optical integrator, A relay optical system that at least partially superimposes a plurality of light fluxes wave-divided by the optical integrator on the working surface;
  • the illumination optical apparatus wherein the optical integrator and the relay optical system are arranged so that a rear focal position of the optical integrator and a front focal
  • the illumination optical system includes a plurality of optical elements that are arranged along the working surface and are individually controlled, and includes a spatial light modulator that spatially modulates and emits incident light. 17.
  • the illumination optical apparatus according to any one of clauses 1 to 16, which is characterized. 18.
  • Clause 17 characterized in that the spatial light modulator has a plurality of mirror elements arranged two-dimensionally within the working surface, and a drive unit that individually controls and drives the postures of the plurality of mirror elements.
  • the illumination optical device according to 1. 19.
  • Optical device 20.
  • the distribution forming optical system includes a wavefront division type second optical integrator in which an incident surface is arranged at a position optically conjugate with a rear focal position of the wavefront divider or the optical integrator.
  • 20. The illumination optical device according to clause 19. 21.
  • 21. The illumination optical apparatus according to clause 19 or 20, wherein the distribution forming optical system converts a change in angle of light from the spatial light modulator into a change in position on the plane of the illumination pupil.
  • Clause 1 is used in combination with a projection optical system that forms a surface optically conjugate with the irradiated surface, and the illumination pupil is at a position optically conjugate with the aperture stop of the projection optical system.
  • the illumination optical apparatus according to any one of Items 1 to 21. 23. 23.
  • An exposure apparatus comprising the illumination optical apparatus according to any one of clauses 1 to 22 for illuminating a predetermined pattern, and exposing the predetermined pattern onto a photosensitive substrate.
  • An illumination optical system for illuminating the predetermined pattern;
  • a transmission optical system for guiding light from a light source accommodated in the second housing to the illumination optical system;
  • the illumination optical system includes: An illumination pupil, and a working surface that emits light having an angular distribution by adding an angular distribution to incident light in order to form a pupil intensity distribution on the illumination pupil with the light from the light source, and the light from the light source Illuminate the irradiated surface with
  • the transmission optical system is A wavefront divider comprising a plurality of optical surfaces for dividing the light from the light source to generate a plurality of light fluxes;
  • An exposure apparatus comprising: an incident angle adjusting member that is disposed on an incident side of the wavefront divider and adjusts an incident angle of a light beam incident on the wavefront divider.
  • Article 25 characterized by comprising a plurality of optical elements arranged along the working surface and individually controlled, and comprising a spatial light modulator that spatially modulates and emits incident light.
  • the spatial light modulator includes a plurality of mirror elements two-dimensionally arranged in the working surface, and a drive unit that individually controls and drives the postures of the plurality of mirror elements.
  • the exposure apparatus described in 1. 28. 28. The exposure according to any one of clauses 25 to 27, further comprising a distribution forming optical system that forms the pupil intensity distribution in the illumination pupil based on light that has passed through the spatial light modulator. apparatus. 29.
  • the distribution forming optical system includes a wavefront division type second optical integrator in which an incident surface is arranged at a position optically conjugate with a rear focal position of the wavefront divider or the optical integrator.
  • the exposure apparatus according to clause 28. 30. 30. The exposure apparatus according to clause 29, wherein the distribution forming optical system converts a change in angle of light from the spatial light modulator into a change in position on the plane of the illumination pupil.
  • 31. A projection optical system that forms a surface optically conjugate with the irradiated surface; 31.
  • a device manufacturing method comprising: 33.
  • a wavefront divider comprising a plurality of optical surfaces arranged along a plane that traverses an optical path of light from the light source and dividing the light from the light source to generate a plurality of light beams;
  • the plurality of light beams from the wavefront splitter at least partially overlap on the working surface;
  • the transmission optical system wherein the working surface emits light having an angular distribution by giving an angular distribution to incident light in order to form a pupil intensity distribution on an illumination pupil of the illumination optical system.

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Abstract

 例えば均一な強度分布を有する光束を空間光変調器へ安定的に導くことのできる伝送光学系。光源からの光で被照射面を照明する照明光学系であって該照明光学系の照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与する作用面を持つ照明光学系の光路中に配置されて、光源からの光を作用面まで導く伝送光学系は、波面分割型のオプティカルインテグレータと、オプティカルインテグレータにより波面分割された複数の光束を作用面上で少なくとも部分的に重畳させるリレー光学系とを備えている。

Description

伝送光学系、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
 本発明は、伝送光学系、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法に関する。
 半導体素子等のデバイスの製造に用いられる露光装置では、光源から射出された光が、オプティカルインテグレータとしてのフライアイレンズを介して、多数の光源からなる実質的な面光源としての二次光源(一般には照明瞳における所定の光強度分布)を形成する。以下、照明瞳での光強度分布を、「瞳強度分布」という。また、照明瞳とは、照明瞳と被照射面(露光装置の場合にはマスクまたはウェハ)との間の光学系の作用によって、被照射面が照明瞳のフーリエ変換面となるような位置として定義される。
 二次光源からの光は、コンデンサー光学系により集光された後、所定のパターンが形成されたマスクを重畳的に照明する。マスクを透過した光は投影光学系を介してウェハ上に結像し、ウェハ上にはマスクパターンが投影露光(転写)される。マスクに形成されたパターンは微細化されており、この微細パターンをウェハ上に正確に転写するにはウェハ上において均一な照度分布を得ることが不可欠である。
 従来、ズーム光学系を用いることなく瞳強度分布(ひいては照明条件)を連続的に変更することのできる照明光学系が提案されている(例えば特許文献1を参照)。特許文献1に開示された照明光学系では、アレイ状に配列され且つ傾斜角および傾斜方向が個別に駆動制御される多数の微小なミラー要素により構成された可動マルチミラーを用いて、入射光束を反射面毎の微小単位に分割して偏向させることにより、光束の断面を所望の形状または所望の大きさに変換し、ひいては所望の瞳強度分布を実現している。
米国特許出願公開第2009/0116093号明細書
 従来の照明光学系では、姿勢が個別に制御される複数のミラー要素を有する空間光変調器を用いているので、瞳強度分布の変更(外形形状、光強度の分布、偏光の状態などの変更)に関する自由度は高い。しかしながら、例えばパルス発光型のレーザ光源から供給されるビームのプロファイルは、発光周波数の切換えによって変化したり、経時的に変動したりする。その結果、ビームプロファイルの変動に伴って、空間光変調器へ入射する光束の強度分布も変動する。所望の瞳強度分布を安定的に形成するには、例えば均一な強度分布を有する光束を空間光変調器へ安定的に導くことが望まれる。
 本発明は、前述の課題に鑑みてなされたものであり、例えば均一な強度分布を有する光束を空間光変調器へ安定的に導くことのできる伝送光学系を提供することを目的とする。また、本発明は、例えば均一な強度分布を有する光束を空間光変調器へ安定的に導く伝送光学系を用いて、所望の瞳強度分布を安定的に形成することのできる照明光学系を提供することを目的とする。また、本発明は、所望の瞳強度分布を安定的に形成する照明光学系を用いて、適切な照明条件のもとで微細パターンを感光性基板に転写することのできる露光装置およびデバイス製造方法を提供することを目的とする。
 前記課題を解決するために、第1形態では、光源からの光で被照射面を照明する照明光学系であって、該照明光学系の照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与して角度分布を有する光を射出する作用面を持つ照明光学系の光路中に配置されて、前記光源からの光を前記作用面まで導く伝送光学系において、
 前記光源からの光の光路を横切る面に沿って配置されて、前記光源からの光を分割して複数の光束を生成する複数の光学面を備える波面分割器を備え、
 該波面分割器からの前記複数の光束は、前記作用面上において少なくとも部分的に重畳することを特徴とする伝送光学系を提供する。
 第2形態では、光源からの光で被照射面を照明する照明光学系であって該照明光学系の照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与する作用面を持つ照明光学系の光路中に配置されて、前記光源からの光を前記作用面まで導く伝送光学系において、
 波面分割型のオプティカルインテグレータと、
 前記オプティカルインテグレータにより波面分割された複数の光束を前記作用面上で少なくとも部分的に重畳させるリレー光学系とを備え、
 前記オプティカルインテグレータおよび前記リレー光学系は、前記オプティカルインテグレータの後側焦点位置と前記リレー光学系の前側焦点位置とが一致するように配置されていることを特徴とする伝送光学系を提供する。
 第3形態では、第1筐体に収容された露光装置であって照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与する作用面を持つ照明光学系を備える露光装置の前記作用面に、第2筐体に収容された光源からの光を導く伝送光学系において、
 前記光源からの光を分割して複数の光束を生成する複数の光学面を備える波面分割器と、
 該波面分割器の入射側に配置されて、該波面分割器に入射する光束の入射角度を調整する入射角度調整部材とを備えることを特徴とする伝送光学系を堤供する。
 第4形態では、光源からの光により被照射面を照明する照明光学系において、
 第1形態、第2形態または第3形態の伝送光学系と、
 前記作用面に沿って配列されて個別に制御される複数の光学要素を有し、入射光を空間的に変調して射出する空間光変調器とを備えていることを特徴とする照明光学系を提供する。
 第5形態では、光源からの光により被照射面を照明する照明光学系において、
 前記光源からの光を分割して複数の光束を生成する複数の光学面を備える波面分割器と、
 前記波面分割器により波面分割された複数の光束を所定面上で少なくとも部分的に重畳させるリレー光学系と、
 前記所定面に沿って配列されて個別に制御される複数の光学要素を有し、照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光を空間的に変調して射出する空間光変調器と、
 前記所定面へ入射する光のテレセントリシティの崩れに関する情報に基づいて前記空間光変調器の前記複数の光学要素を制御する制御部とを備えていることを特徴とする照明光学系を提供する。
 第6形態では、所定のパターンを照明するための第4形態または第5形態の照明光学系を備え、前記所定のパターンを感光性基板に露光することを特徴とする露光装置を提供する。
 第7形態では、第6形態の露光装置を用いて、前記所定のパターンを前記感光性基板に露光することと、
 前記所定のパターンが転写された前記感光性基板を現像し、前記所定のパターンに対応する形状のマスク層を前記感光性基板の表面に形成することと、
 前記マスク層を介して前記感光性基板の表面を加工することと、を含むことを特徴とするデバイス製造方法を提供する。
実施形態にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。 伝送光学系の内部構成を概略的に示す図である。 伝送光学系の光路中に配置されたフライアイレンズの構成を概略的に示す図である。 空間光変調器の構成および作用を説明する図である。 空間光変調器の要部の部分斜視図である。 伝送光学系の光路中に配置されたリレー光学系のレンズ構成を概略的に示す図である。 表(1)に記載された可変間隔d1~d4と可変光路長LTとの関係をプロットした図である。 表(1)に記載された可変間隔dsと可変光路長LTとの関係をプロットした図である。 フライアイ光学系の後側焦点位置とリレー光学系の前側焦点位置とが一致しない変形例の要部構成を概略的に示す図である。 半導体デバイスの製造工程を示すフローチャートである。 液晶表示素子等の液晶デバイスの製造工程を示すフローチャートである。
 以下、実施形態を添付図面に基づいて説明する。図1は、実施形態にかかる露光装置EXの構成を概略的に示す図である。図1において、感光性基板であるウェハWの転写面(露光面)の法線方向に沿ってZ軸を、ウェハWの転写面内において図1の紙面に平行な方向にY軸を、ウェハWの転写面内において図1の紙面に垂直な方向にX軸をそれぞれ設定している。
 図1を参照すると、本実施形態の露光装置EXでは、光源LSから露光光(照明光)が供給される。光源LSとして、たとえば193nmの波長のパルス光を供給するArFエキシマレーザ光源や、248nmの波長のパルス光を供給するKrFエキシマレーザ光源などを用いることができる。この光源LSは、露光装置EXが収容されている筐体とは異なる筐体内に収容されている。光源LSから-Y方向に射出された光は、伝送光学系1を介して、露光装置EX内の空間光変調器2に入射する。
 空間光変調器2は、後述するように、所定面内に配列されて個別に制御される複数のミラー要素と、露光装置の動作を統括的に制御する制御系CRからの制御信号に基づいて複数のミラー要素の姿勢を個別に制御駆動する駆動部とを有する。空間光変調器2の複数のミラー要素の配列面(以下、「空間光変調器の配列面」という)は、伝送光学系1を含む照明光学系(1~7)の照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与する作用面として機能する。
 伝送光学系1は、図2に示すように、手動あるいは自動(例えば電動)により二軸廻りに回転可能な平行平面板10を備えている。具体的に、平行平面板10は、例えばX方向に延びる第1の軸線および平行平面板10の表面において第1の軸線と直交する第2の軸線廻りに回転可能に構成されている。ハービング部材としての平行平面板10は、必要に応じて二軸廻りに回転し、光源LSから光軸AXに沿って入射する光をX方向および/またはZ方向へ平行移動させて射出する。
 平行平面板10を経た光は、光軸AXに対する傾斜角が可変のアッテネータ11により減衰され、その光強度が所要程度だけ低減された後に、手動あるいは自動により二軸廻りに回転可能な調整チルトミラー12に入射する。具体的に、調整チルトミラー12は、例えばX方向に延びる第1の軸線および調整チルトミラー12の反射面において第1の軸線と直交する第2の軸線廻りに回転可能に構成されている。調整チルトミラー12は、必要に応じて二軸廻りに回転し、XZ平面に沿った反射光の向きおよび/またはYZ平面に沿った反射光の向きを変化させる。
 調整チルトミラー12で+Z方向へ反射された光は、光軸AX方向に間隔を隔てて配置された一対のレンズアレイ部材13aおよび13bからなるフライアイ光学系13に入射する。レンズアレイ部材13a,13bは、光軸AXと直交する面に沿って縦横に且つ稠密に並列配置された複数のレンズ要素(屈折光学素子)により構成されている。具体的には、図3に示すように、第1レンズアレイ部材13aを構成するレンズ要素13aaは、球面状の入射面および平面状の射出面を有する正レンズ要素であって、空間光変調器2の配列面における有効反射領域の外形とほぼ相似な矩形状の断面形状を有する。
 第2レンズアレイ部材13bを構成するレンズ要素13baは、平面状の入射面および球面状の射出面を有する正レンズ要素であって、レンズ要素13aaに対応する矩形状の断面形状を有する。フライアイ光学系13の後側焦点位置は、第2レンズアレイ部材13bよりも後側(射出側)にある。フライアイ光学系13の後側焦点位置をレンズ要素13aa,13baの外側に設定することにより、レンズ要素13aa,13baの照射エネルギによる損傷を回避することができる。フライアイ光学系13の後側焦点位置は、第1レンズアレイ部材13aと第2レンズアレイ部材13bとの間にあっても良い。
 波面分割型のオプティカルインテグレータとしてのフライアイ光学系13に入射した光束は、第1レンズアレイ部材13aの入射面において二次元的に分割され、第2レンズアレイ部材13bを経て、例えばフライアイ光学系13の後側焦点面に沿って二次元的に配列された複数の小光源を形成する。複数の小光源からの光は、前側レンズ群14aと後側レンズ群14bとからなるリレー光学系14を介して、空間光変調器2の配列面(作用面)を重畳的に照明する。前側レンズ群14aと後側レンズ群14bとの間隔は可変に構成されている。リレー光学系14の具体的な構成および作用については後述する。ここで、フライアイ光学系13の第1レンズアレイ部材13aの入射面は、光源からの光の光路を横切る面に沿って配置されて光源からの光を分割して複数の光束を生成する複数の光学面と見なすことができ、フライアイ光学系13はこれら複数の光学面を備える波面分割器と見なすことができる。
 フライアイ光学系13の開口数は、フライアイ光学系13に入射する光束の発散角の正弦よりも大きい値に設定されている。この構成により、第1レンズアレイ部材13aの入射面で波面分割された各部分光束のレンズ要素13aa,13baにおける光量損失、すなわちレンズ要素13aa,13baの内側面(入射面および射出面以外の面)への光の入射に起因する光量損失を小さく抑えることができる。光源LSとして、193nmの波長の光を供給するArFエキシマレーザ光源を用いる場合、フライアイ光学系13は例えば蛍石により形成される。
 リレー光学系14の前側レンズ群14aと後側レンズ群14bとの間には、制御系CRからの指令にしたがって二軸廻りに回転可能な電動チルトミラー15aが配置されている。また、後側レンズ群14bの射出側には、電動チルトミラー15aと同様に制御系CRからの指令にしたがって二軸廻りに回転可能な電動チルトミラー15bが配置されている。電動チルトミラー15a,15bは、例えばX方向に延びる第1の軸線および電動チルトミラー15a,15bの反射面において第1の軸線と直交する第2の軸線廻りに回転可能に構成されている。電動チルトミラー15a,15bは、必要に応じて制御系CRからの指令により二軸廻りに回転し、XZ平面に沿った反射光の向きおよび/またはYZ平面に沿った反射光の向きを変動させる。
 リレー光学系14および電動チルトミラー15bを経た光は、手動あるいは自動により二軸廻りに回転可能な平行平面板16を介して、ビームスプリッター17に入射する。平行平面板16は、平行平面板10と同様に、例えばX方向に延びる第1の軸線および平行平面板16の表面において第1の軸線と直交する第2の軸線廻りに回転可能に構成されている。ハービング部材としての平行平面板16は、必要に応じて二軸廻りに回転し、光軸AXに沿って入射する光をX方向および/またはY方向へ平行移動させて射出する。
 ビームスプリッター17を透過した光は、上述したように、空間光変調器2に入射する。ビームスプリッター17で反射された光、すなわちビームスプリッター17により照明光路から取り出された光は、ビームモニター18に入射する。ビームモニター18は、照明光路から取り出された光に基づいて、空間光変調器2へ入射する光の配列面内の位置、空間光変調器2へ入射する光の配列面に対する角度、および空間光変調器2の配列面における光強度分布をモニターする。ビームモニター18のモニター結果は、制御系CRへ供給される。制御系CRは、ビームモニター18の出力に基づいて、伝送光学系1および空間光変調器2を制御する。
 ビームモニター18は、位置モニター18aと、角度モニター18bと、強度分布モニター18cとを備えている。位置モニター18aは、空間光変調器2の作用面へ入射する光の光路を横切る面内の位置(ひいては空間光変調器2の配列面における光の入射位置)を計測する。角度モニター18bは、空間光変調器2の作用面へ入射する光の作用面に対する角度(すなわち空間光変調器2へ入射する光の配列面における光の入射角度)を計測する。強度分布モニター18cは、空間光変調器2の配列面における光強度分布を計測する。
 位置モニター18aおよび強度分布モニター18cは、空間光変調器2の配列面と光学的にほぼ共役な位置(フライアイ光学系13の後側焦点位置に対してほぼ光学的にフーリエ変換の関係にある位置)に配置された光電変換面を有する撮像部を備えている。角度モニター18bは、空間光変調器2の配列面に対してほぼ光学的にフーリエ変換となる位置(フライアイ光学系13の後側焦点位置と光学的にほぼ共役な位置)に配置された光電変換面を有する撮像部を備えている。ビームモニター18の内部構成は、例えば米国特許公開第2011/0069305号公報に開示されている。
 フライアイ光学系13およびリレー光学系14は、フライアイ光学系13の後側焦点位置とリレー光学系14の前側焦点位置とが一致するように配置されている。その結果、フライアイ光学系13の後側焦点面に形成された各小光源からの光は、リレー光学系14を介して平行光となり、空間光変調器2の配列面に入射する。別の表現をすれば、光軸AX上の小光源からの発散光線群は、リレー光学系14を介して光軸AXと平行な光線群となって空間光変調器2の配列面に入射する。
 また、上述の構成では、フライアイ光学系13によって形成される複数の小光源からの光がリレー光学系14を介して空間光変調器2の配列面(作用面)を重畳的に照明していたが、空間光変調器2の配列面(作用面)は、複数の小光源からの光のそれぞれによって部分的に重畳照明されていれば良い。
 再び図1を参照すると、空間光変調器2から+Y方向へ射出された光は、リレーレンズ3を介して、マイクロフライアイレンズ(またはフライアイレンズ)4に入射する。リレーレンズ3は、その前側焦点位置が空間光変調器2の配列面の近傍に位置し、且つその後側焦点位置がマイクロフライアイレンズ4の入射面の近傍に位置しており、空間光変調器2の配列面とマイクロフライアイレンズ4の入射面とを光学的にフーリエ変換の関係に設定している。したがって、空間光変調器2を経た光は、後述するように、複数のミラー要素の姿勢に応じた光強度をマイクロフライアイレンズ4の入射面に可変的に分布させる。マイクロフライアイレンズ4の入射面の位置は、フライアイ光学系13の後側焦点位置と光学的にほぼ共役である。
 マイクロフライアイレンズ4は、たとえば縦横に且つ稠密に配列された多数の正屈折力を有する微小レンズからなる光学素子であり、平行平面板にエッチング処理を施して微小レンズ群を形成することによって構成されている。マイクロフライアイレンズでは、互いに隔絶されたレンズエレメントからなるフライアイレンズとは異なり、多数の微小レンズ(微小屈折面)が互いに隔絶されることなく一体的に形成されている。しかしながら、レンズ要素が縦横に配置されている点でマイクロフライアイレンズはフライアイレンズと同じ波面分割型のオプティカルインテグレータである。
 マイクロフライアイレンズ4における単位波面分割面としての矩形状の微小屈折面は、マスクM上において形成すべき照野の形状(ひいてはウェハW上において形成すべき露光領域の形状)と相似な矩形状である。なお、マイクロフライアイレンズ4として、例えばシリンドリカルマイクロフライアイレンズを用いることもできる。シリンドリカルマイクロフライアイレンズの構成および作用は、例えば米国特許第6913373号明細書に開示されている。
 マイクロフライアイレンズ4に入射した光束は多数の微小レンズにより二次元的に分割され、その後側焦点面またはその近傍の照明瞳には、入射面に形成される光強度分布とほぼ同じ光強度分布を有する二次光源(多数の小光源からなる実質的な面光源:瞳強度分布)が形成される。マイクロフライアイレンズ4の直後の照明瞳に形成された二次光源からの光は、コンデンサー光学系5を介して、マスクブラインド6を重畳的に照明する。
 こうして、照明視野絞りとしてのマスクブラインド6には、マイクロフライアイレンズ4の矩形状の微小屈折面の形状と焦点距離とに応じた矩形状の照野が形成される。なお、マイクロフライアイレンズ4の後側焦点面またはその近傍に、すなわち後述する投影光学系PLの入射瞳面と光学的にほぼ共役な位置に、二次光源に対応した形状の開口部(光透過部)を有する照明開口絞りを配置してもよい。
 マスクブラインド6の矩形状の開口部(光透過部)を介した光束は、結像光学系7の集光作用を受け、且つ結像光学系7の光路中に配置された光路折曲げミラーにより-Z方向へ反射された後、所定のパターンが形成されたマスクMを重畳的に照明する。すなわち、結像光学系7は、マスクブラインド6の矩形状開口部の像をマスクM上に形成することになる。
 マスクステージMS上に保持されたマスクMを透過した光束は、投影光学系PLを介して、ウェハステージWS上に保持されたウェハ(感光性基板)W上にマスクパターンの像を形成する。こうして、投影光学系PLの光軸AXと直交する平面(XY平面)内においてウェハステージWSを二次元的に駆動制御しながら、ひいてはウェハWを二次元的に駆動制御しながら一括露光またはスキャン露光を行うことにより、ウェハWの各露光領域にはマスクMのパターンが順次露光される。
 本実施形態の露光装置EXは、伝送光学系1を含む照明光学系(1~7)を介した光に基づいて照明光学系の射出瞳面における瞳強度分布を計測する第1瞳強度分布計測部DTrと、投影光学系PLを介した光に基づいて投影光学系PLの瞳面(投影光学系PLの射出瞳面)における瞳強度分布を計測する第2瞳強度分布計測部DTwと、第1および第2瞳強度分布計測部DTr,DTwのうちの少なくとも一方の計測結果に基づいて空間光変調器2を制御し且つ露光装置の動作を統括的に制御する制御系CRとを備えている。
 第1瞳強度分布計測部DTrは、例えば照明光学系の射出瞳位置と光学的に共役な位置に配置された光電変換面を有する撮像部を備え、照明光学系による被照射面上の各点に関する瞳強度分布(各点に入射する光が照明光学系の射出瞳位置に形成する瞳強度分布)をモニターする。また、第2瞳強度分布計測部DTwは、例えば投影光学系PLの瞳位置と光学的に共役な位置に配置された光電変換面を有する撮像部を備え、投影光学系PLの像面の各点に関する瞳強度分布(各点に入射する光が投影光学系PLの瞳位置に形成する瞳強度分布)をモニターする。
 第1および第2瞳強度分布計測部DTr,DTwの詳細な構成および作用については、例えば米国特許公開第2008/0030707号明細書を参照することができる。また、瞳強度分布計測部として、米国特許公開第2010/0020302号公報の開示を参照することもできる。
 本実施形態では、マイクロフライアイレンズ4により形成される二次光源を光源として、照明光学系の被照射面に配置されるマスクM(ひいてはウェハW)をケーラー照明する。このため、二次光源が形成される位置は投影光学系PLの開口絞りASの位置と光学的に共役であり、二次光源の形成面を照明光学系の照明瞳面と呼ぶことができる。また、この二次光源の形成面の像を照明光学系の射出瞳面と呼ぶことができる。典型的には、照明瞳面に対して被照射面(マスクMが配置される面、または投影光学系PLを含めて照明光学系と考える場合にはウェハWが配置される面)が光学的なフーリエ変換面となる。瞳強度分布とは、照明光学系の照明瞳面または当該照明瞳面と光学的に共役な面における光強度分布(輝度分布)である。
 マイクロフライアイレンズ4による波面分割数が比較的大きい場合、マイクロフライアイレンズ4の入射面に形成される大局的な光強度分布と、二次光源全体の大局的な光強度分布(瞳強度分布)とが高い相関を示す。このため、マイクロフライアイレンズ4の入射面および当該入射面と光学的に共役な面も照明瞳面と呼ぶことができ、これらの面における光強度分布についても瞳強度分布と称することができる。図1の構成において、リレーレンズ3およびマイクロフライアイレンズ4は、空間光変調器2を経た光束に基づいてマイクロフライアイレンズ4の直後の照明瞳に瞳強度分布を形成する分布形成光学系を構成している。
 次に、空間光変調器2の構成および作用を具体的に説明する。空間光変調器2は、図4に示すように、所定面内に配列された複数のミラー要素2aと、複数のミラー要素2aを保持する基盤2bと、基盤2bに接続されたケーブル(不図示)を介して複数のミラー要素2aの姿勢を個別に制御駆動する駆動部2cとを備えている。図4では、空間光変調器2からマイクロフライアイレンズ4の入射面4aまでの光路を示している。
 空間光変調器2では、制御系CRからの指令に基づいて作動する駆動部2cの作用により、複数のミラー要素2aの姿勢がそれぞれ変化し、各ミラー要素2aがそれぞれ所定の向きに設定される。空間光変調器2は、図5に示すように、二次元的に配列された複数の微小なミラー要素2aを備え、入射した光に対して、その入射位置に応じた空間的な変調を可変的に付与して射出する。説明および図示を簡単にするために、図4および図5では空間光変調器2が4×4=16個のミラー要素2aを備える構成例を示しているが、実際には16個よりもはるかに多数、典型的には4000個~100,000個程度のミラー要素2aを備えている。
 図4を参照すると、空間光変調器2に入射する光線群のうち、光線L1は複数のミラー要素2aのうちのミラー要素SEaに、光線L2はミラー要素SEaとは異なるミラー要素SEbにそれぞれ入射する。同様に、光線L3はミラー要素SEa,SEbとは異なるミラー要素SEcに、光線L4はミラー要素SEa~SEcとは異なるミラー要素SEdにそれぞれ入射する。ミラー要素SEa~SEdは、その位置に応じて設定された空間的な変調を光L1~L4に与える。
 空間光変調器2では、すべてのミラー要素2aの反射面が1つの平面に沿って設定された基準状態において、伝送光学系1の光軸AXと平行な方向に沿って入射した光線が、空間光変調器2で反射された後に、リレーレンズ3の光軸AXと平行な方向に進むように構成されている。また、上述したように、空間光変調器2の複数のミラー要素2aの配列面とマイクロフライアイレンズ4の入射面4aとは、リレーレンズ3を介して光学的にフーリエ変換の関係に位置決めされている。
 したがって、空間光変調器2の複数のミラー要素SEa~SEdによって反射されて所定の角度分布が与えられた光は、マイクロフライアイレンズ4の入射面4aに所定の光強度分布SP1~SP4を形成する。すなわち、リレーレンズ3は、空間光変調器2の複数のミラー要素SEa~SEdが射出光に与える角度を、空間光変調器2のファーフィールド(フラウンホーファー回折領域)である入射面4a上での位置に変換する。こうして、マイクロフライアイレンズ4が形成する二次光源の光強度分布(瞳強度分布)は、空間光変調器2およびリレーレンズ3がマイクロフライアイレンズ4の入射面4aに形成する光強度分布に対応した分布となる。
 空間光変調器2は、図5に示すように、平面状の反射面を上面にした状態で1つの平面に沿って規則的に且つ二次元的に配列された多数の微小な反射素子であるミラー要素2aを含む可動マルチミラーである。各ミラー要素2aは可動であり、その反射面の傾き、すなわち反射面の傾斜角および傾斜方向は、制御系CRからの制御信号に基づいて作動する駆動部2cの作用により独立に制御される。各ミラー要素2aは、その反射面に平行な二方向であって互いに直交する二方向を回転軸として、所望の回転角度だけ連続的或いは離散的に回転することができる。すなわち、各ミラー要素2aの反射面の傾斜を二次元的に制御することが可能である。
 各ミラー要素2aの反射面を離散的に回転させる場合、回転角を複数の状態(例えば、・・・、-2.5度、-2.0度、・・・0度、+0.5度・・・+2.5度、・・・)で切り換え制御するのが良い。図5には外形が正方形状のミラー要素2aを示しているが、ミラー要素2aの外形形状は正方形に限定されない。ただし、光利用効率の観点から、ミラー要素2aの隙間が少なくなるように配列可能な形状(最密充填可能な形状)とすることができる。また、光利用効率の観点から、隣り合う2つのミラー要素2aの間隔を必要最小限に抑えることができる。
 本実施形態では、空間光変調器2として、たとえば二次元的に配列された複数のミラー要素2aの向きを連続的にそれぞれ変化させる空間光変調器を用いている。このような空間光変調器として、たとえば欧州特許公開第779530号公報、米国特許第5,867,302号公報、米国特許第6,480,320号公報、米国特許第6,600,591号公報、米国特許第6,733,144号公報、米国特許第6,900,915号公報、米国特許第7,095,546号公報、米国特許第7,295,726号公報、米国特許第7,424,330号公報、米国特許第7,567,375号公報、米国特許公開第2008/0309901号公報、米国特許公開第2011/0181852号公報、米国特許公開第2011/188017号公報並びに特開2006-113437号公報に開示される空間光変調器を用いることができる。なお、二次元的に配列された複数のミラー要素2aの向きを離散的に複数の段階を持つように制御してもよい。
 空間光変調器2では、制御系CRからの制御信号に応じて作動する駆動部2cの作用により、複数のミラー要素2aの姿勢がそれぞれ変化し、各ミラー要素2aがそれぞれ所定の向きに設定される。空間光変調器2の複数のミラー要素2aによりそれぞれ所定の角度で反射された光は、リレーレンズ3による光学的なフーリエ変換作用により、マイクロフライアイレンズ4の入射面4aに(照明瞳に)、ひいてはマイクロフライアイレンズ4の直後の照明瞳に、所望の瞳強度分布を形成する。ここで、リレーレンズ3は、空間光変調器2から射出される光の角度変化をマイクロフライアイレンズ4の入射面4aでの位置変化に変換する作用を持つと見なせる。
 さらに、マイクロフライアイレンズ4の直後の照明瞳と光学的に共役な別の照明瞳の位置、すなわち結像光学系7の瞳位置および投影光学系PLの瞳位置(開口絞りASが配置されている位置)にも、所望の瞳強度分布が形成される。このように、空間光変調器2は、マイクロフライアイレンズ4の直後の照明瞳に瞳強度分布を可変的に形成する。リレーレンズ3は、空間光変調器2からの射出光束の角度方向の分布を、分布形成光学系からの射出光束の断面における位置分布に変換する。
 露光装置EXの本体、すなわち空間光変調器2からウェハステージWSへ至る部分は、全体的にかなり大きな装置であり、設置のための所要床面積は大きい。また、露光装置EXに露光光(照明光)を供給する光源LSとして用いられるArFエキシマレーザ光源(またはKrFエキシマレーザ光源)もかなり大きな装置である。したがって、エキシマレーザ光源を用いる露光装置では、光源LSを露光装置本体(2~WS)からある程度離間させて配置することが多い。
 一例として、光源LSが設置される階の上階に露光装置本体(EX;2~WS)を設置し、光源LSの光出力口から射出された光を、伝送光学系1を介して、露光装置本体(EX;2~WS)の光取入口に配置された空間光変調器2の配列面(作用面)まで導く場合もある。すなわち、光源LSの光出力口から空間光変調器2の配列面までの光路は比較的長く、その光路長は露光装置毎に異なる場合がある。
 本実施形態の伝送光学系1は、平行平面板10から電動チルトミラー15aへ至る第1伝送部1Aと、リレー光学系14の後側レンズ群14bからビームスプリッター17へ至る第2伝送部1Bと、これら第1伝送部1Aの筐体と第2伝送部1Bの筐体との間に設けられて例えば中空パイプからなる接続部1Cとにより構成されている。リレー光学系14では、前側レンズ群14aと後側レンズ群14bとの光軸AXに沿った間隔(例えば第1伝送部1Aと第2伝送部1BとのY方向に沿った間隔)が、リレー光学系14の焦点距離を一定に保持しつつフライアイ光学系13の後側焦点位置から空間光変調器2の配列面に至る光路の光路長の変更に応じて変化する。
 ここで、例えば第1伝送部1Aと第2伝送部1BとのY方向に沿った間隔を変化させて、リレー光学系14の前側レンズ群14aと後側レンズ群14bとの光軸AXに沿った間隔を変化させることは、光源LSの光出力口から空間光変調器2の配列面までの光路長を変更することに他ならない。リレー光学系14の焦点距離を一定に保持することは、空間光変調器2の配列面で重畳される光束の外形を、空間光変調器2の配列面における有効反射領域の外形に合わせて一定に保持することを意味している。以下、リレー光学系14の具体的な構成例およびその作用について説明する。
 図6は、伝送光学系の光路中に配置されたリレー光学系のレンズ構成を概略的に示す図である。図6では、フライアイ光学系13の後側焦点面13cから空間光変調器2の配列面2dまでの光路を直線状に展開して示し、電動チルトミラー15a,15b、平行平面板16、およびビームスプリッター17の図示を省略している。また、図6では、説明の理解を容易にするために、空間光変調器2の配列面2dを光軸AXと直交する面で表している。
 図6の実施例にかかるリレー光学系14において、前側レンズ群14aは、光の入射側(後側焦点面13c側)から順に、両凸レンズL11、両凹レンズL12、両凹レンズL13、および両凸レンズL14から構成されている。後側レンズ群14bは、光の入射側から順に、両凸レンズL21、および両凹レンズL22から構成されている。前側レンズ群14aの両凸レンズL11および後側レンズ群14bの両凹レンズL22は、光軸AXに沿って固定されている。すなわち、フライアイ光学系13の後側焦点面13cと両凸レンズL11との軸上間隔、および両凹レンズL22と空間光変調器2の配列面2dとの軸上間隔は不変である。
 両凸レンズL11および両凹レンズL22以外のレンズ、すなわち両凹レンズL12、両凹レンズL13、両凸レンズL14、および両凸レンズL21は、光軸AXに沿って移動可能である。したがって、両凸レンズL11と両凹レンズL12との軸上間隔d1、両凹レンズL12と両凹レンズL13との軸上間隔d2、両凹レンズL13と両凸レンズL14との軸上間隔d3、両凸レンズL14と両凸レンズL21との軸上間隔ds、両凸レンズL21と両凹レンズL22との軸上間隔d4、およびフライアイ光学系13の後側焦点面13cから空間光変調器2の配列面2dまでの光路長LTは可変である。すべてのレンズL11~L14、L21およびL22は、蛍石により形成されている。
 次の表(1)に、図6の実施例にかかるリレー光学系の諸元の値を掲げる。表(1)の主要諸元の欄において、frは焦点距離を表している。表(1)の光学部材諸元の欄において、面番号はフライアイ光学系13の後側焦点面13cから空間光変調器2の配列面2dへの光線の進行する方向に沿った光学面(レンズ面)の順序を、rは光学面の曲率半径(mm)を、dは各光学面の軸上間隔すなわち面間隔(mm)を、nはArFエキシマレーザ光(中心波長λ=193nm)に対する屈折率を示している。
                  表(1)
(主要諸元)
fr=5000mm

(光学部材諸元)
面番号   r       d       n     光学部材
(後側焦点面14c)  300.00
1    149.784     9.00      1.50    (L11)
2   -474.545   (d1=可変)
3   -186.921     5.00      1.50    (L12)
4    135.762   (d2=可変)
5   -306.884     5.00      1.50    (L13)
6    330.662   (d3=可変)
7   3859.762     9.00      1.50    (L14)
8   -216.556   (ds=可変)
9    91.550     9.00      1.50    (L21)
10   -377.757   (d4=可変)
11   -125.717     5.00      1.50    (L22)
12    98.384    900.00
(配列面2d)

(可変光路長および可変間隔:単位mm)
LT    d1     d2      d3      d4     ds
6000  77.075  100.816    44.109    36.298   4499.692
7000  70.792   68.410    82.798    35.562   5500.428
8000  63.414   44.970   113.616    34.994   6500.996
9000  55.456   28.806   137.737    34.585   7501.405
10000  47.137   17.891   156.972    34.274   8501.716
11000  38.619   10.913   172.468    34.028   9501.962
12000  30.025   6.966   185.009    33.826  10502.164
13000  21.487   5.400   195.113    33.660  11502.330
14000  13.106   5.406   203.240    33.529  12502.710
15000  5.400   7.317   209.283    33.463  13502.527
 図7は、表(1)に記載された可変間隔d1~d4と可変光路長LTとの関係をプロットした図である。図8は、表(1)に記載された可変間隔dsと可変光路長LTとの関係をプロットした図である。図7および図8において、可変間隔d1~d4,dsの単位はmmであり、可変光路長LTの単位はmである。図7および図8を参照すると、図6の実施例にかかるリレー光学系14では、焦点距離frを5000mmで一定に保持しつつ、フライアイ光学系13の後側焦点面13cから空間光変調器2の配列面2dまでの光路長LTを6m~15mの間で変化させることができる。
 また、上述の実施例にかかるリレー光学系14では、光の入射側から順に、前側レンズ群14aを正・負・負・正の屈折力配置とし、後側レンズ群14bを正・負の屈折力配置としたが、前側レンズ群14aおよび後側レンズ群14bの屈折力配置はこれに限定されるものではない。また、上述の実施例にかかるリレー光学系14では、前側レンズ群14aにおける2つの負群(両凹レンズL12、両凹レンズL13)および最も射出側の正群(両凸レンズL14)を可動群とし、後側レンズ群14bにおける正群(両凸レンズL21)を可動群としたが、光路長変更時に可動な群はこの例には限定されるものではない。なお、上述の第1伝送部1Aと第2伝送部1BとのY方向に沿った間隔変化に際しては、これら第1および第2伝送部1A,1Bを接続する接続部1Cの長さを変更することはいうまでもない。
 以上のように、本実施形態の伝送光学系1では、フライアイ光学系13により波面分割された複数の部分光束が、リレー光学系14を介して、空間光変調器2の配列面(作用面)で重畳される。したがって、光源LSから射出された不均一なビームプロファイルを有する光が、フライアイ光学系13の作用により強度分布の均一性が向上した光となって、空間光変調器2の作用面へ入射する。すなわち、フライアイ光学系13の作用により、空間光変調器2の各ミラー要素2aへ入射する光束の光強度分布が均一化され、ひいては各ミラー要素2aから射出される光束の光強度分布も均一化される。その結果、瞳強度分布の形成に際して多数のミラー要素2aを駆動すべき空間光変調器2の制御性が向上する。
 また、伝送光学系1では、フライアイ光学系13の後側焦点位置とリレー光学系14の前側焦点位置とが一致している。その結果、空間光変調器2の作用面にはテレセントリックな光束が入射するので、空間光変調器2の制御性が向上する。こうして、本実施形態の伝送光学系1では、ほぼ均一な強度分布を有する光束を空間光変調器2の作用面へ安定的に導くことができ、空間光変調器2の制御性を向上させることができる。
 本実施形態の照明光学系(2~7)では、ほぼ均一な強度分布を有する光束を空間光変調器2の作用面へ安定的に導く伝送光学系1を用いて、マイクロフライアイレンズ4の直後の照明瞳に、所望の瞳強度分布を安定的に形成することができる。本実施形態の露光装置(EX;2~WS)では、所望の瞳強度分布を安定的に形成する照明光学系(2~7)を用いて、転写すべきマスクMのパターンの特性に応じて実現された適切な照明条件のもとで、微細パターンをウェハWに正確に転写することができる。
 本実施形態において、制御部CRには、必要に応じて、ビームモニター18の強度分布モニター18cから、空間光変調器2の配列面における光強度分布のモニター結果が供給される。この場合、制御部CRは、強度分布モニター18cの光強度分布に関するモニター結果を随時参照し、光源LSから供給される光のビームプロファイルの経時的な変動に応じて空間光変調器2を適宜制御することにより、所望の瞳強度分布を安定的に形成することができる。
 本実施形態の伝送光学系1では、リレー光学系14の前側レンズ群14aと後側レンズ群14bとの間隔dsが、リレー光学系14の焦点距離fr(=5000mm)を一定に保持しつつ、フライアイ光学系13の後側焦点位置13cから空間光変調器2の作用面2dに至る光路の光路長LTの変更に応じて変化する。したがって、例えば光源の光出力口から露光装置本体の光取入口までの光路長の異なる様々な装置に対して、本実施形態の伝送光学系1を適用することができる。
 伝送光学系1では、空間光変調器2の作用面に達する光の光量を調整する光量調整部材として、フライアイ光学系13よりも光源側に配置されて光軸AXに対する傾斜角が可変のアッテネータ11を備えている。したがって、アッテネータ11の減光作用により、フライアイ光学系13を構成する光学部材やその光学面に設けられる膜の耐久性を向上させることができる。また、アッテネータ11の減光作用により、露光量の調整および安定を図ることができる。なお、アッテネータに代えて、あるいはアッテネータに加えて、伝送光学系1の光路中の任意位置に設けられた減光フィルタを用いることにより、露光量の調整および安定を図ることができる。
 伝送光学系1では、フライアイ光学系13よりも光源側に配置されて二軸廻りに回転可能な平行平面板10と、フライアイ光学系13よりも光源側に配置されて二軸廻りに回転可能な調整チルトミラー12とを備えている。したがって、ハービング部材としての平行平面板10と調整チルトミラー12との作用により、フライアイ光学系13に入射する光束の中心線が光軸AXとほぼ一致するように、フライアイ光学系13への入射光束の位置および角度を調整することができる。
 入射角度調整部材と見なすことができる調整チルトミラー12によってフライアイ光学系13への入射光束の入射角度を調整している結果、フライアイ光学系13への光束の斜入射による光量損失、すなわちレンズ要素13aa,13baの内側面への光の入射に起因する光量損失を小さく抑えることができる。また、伝送光学系1では、フライアイ光学系13よりも被照射面側(マスク側)に配置されて二軸廻りに回転可能な平行平面板16を備えている。ハービング部材としての平行平面板16の作用により、空間光変調器2の作用面への入射光束の位置を調整することができる。
 伝送光学系1では、フライアイ光学系13よりも被照射面側に配置されて二軸廻りに回転可能な一対の電動チルトミラー15a,15bを備えている。したがって、位置モニター18aの出力および角度モニター18bの出力を参照し、空間光変調器2の作用面へ入射する光束の位置変動および角度変動(例えば微小振動や部品の設置誤差により伝送光学系1内で発生する光束の位置変動および角度変動)を、一対の電動チルトミラー15a,15bの協働作用により微調整することができる。
 すなわち、一対の電動チルトミラー15a,15bは、位置モニター18aの出力に基づいて空間光変調器2の作用面へ入射する光の光路を横切る面内の位置を調整する位置調整部材、および角度モニター18bの出力に基づいて空間光変調器2の作用面へ入射する光の作用面に対する角度を調整する角度調整部材を構成している。なお、フライアイ光学系13を光軸AXに対して傾けても、一方の電動チルトミラーの機能を代替することができる。
 なお、フライアイ光学系13への光束の斜入射によりレンズ要素13aa,13baの内側面へ光が入射して光量損失する現象は、強度分布モニター18cで検出されるビームプロファイルの崩れにより確認可能である。したがって、調整チルトミラー12に代えて、制御系CRからの指令にしたがって二軸廻りに回転可能な電動チルトミラーを用いることにより、強度分布モニター18cの出力に基づいてフライアイ光学系13への入射光束の角度変動を微調整しても良い。
 上述の実施形態にかかる伝送光学系1では、フライアイ光学系13の後側焦点位置とリレー光学系14の前側焦点位置とが一致しているので、フライアイ光学系13の後側焦点面に形成された各小光源からの光は平行光となって空間光変調器2の配列面に入射する。しかしながら、これに限定されることなく、例えば図9に示すように、フライアイ光学系13の後側焦点位置13cとリレー光学系14の前側焦点位置14cとが一致しない変形例も可能である。図9では、説明の理解を容易にするために、リレー光学系14を1つの光学部材で表している。
 この場合、光軸AX上の小光源からの発散光線は、リレー光学系14を介して、比較的小さい発散角(または収束角)を有する光線となって空間光変調器2の配列面に達する。すなわち、フライアイ光学系13の後側焦点位置とリレー光学系14の前側焦点位置とが一致しない変形例では、空間光変調器2の配列面へ入射する光のテレセントリシティが崩れるため、空間光変調器2で反射された光がリレーレンズ3の光軸AXと平行な方向に進むような基準状態において複数のミラー要素2aの反射面が全体として凹面状(または凸面状)になる。
 したがって、図9の変形例では、複数のミラー要素2aの反射面が全体として凹面状(または凸面状)になった状態を基準状態として、制御系CRが空間光変調器2の配列面へ入射する光のテレセントリシティの崩れに関する情報に基づいて複数のミラー要素2aの姿勢を制御すれば良い。なお、図9の変形例においても上述の実施形態の場合と同様に、フライアイ光学系13の後側焦点位置とマイクロフライアイレンズ4の入射面とは、光学的にほぼ共役に配置される。この配置により、フライアイ光学系13の後側焦点面に形成される各小光源の十分に小さい共役像が、マイクロフライアイレンズ4の入射面における単位波面分割面の内側に形成される。
 光源LSとして、パルス発光型のレーザ光源(例えばエキシマレーザ光源)を用いる場合、フライアイ光学系13を構成するレンズ要素13aa,13baに照射される単位面積当たりの光エネルギーの最大値を1パルス当たり100mJ/cm2以下に抑えることにより、光照射によるフライアイ光学系13の損傷を小さく抑えることができる。
 フライアイ光学系13の典型的な設計パラメータを考慮すると、リレー光学系14の焦点距離を例えば2000mm~10000mmに設定することができる。また、フライアイ光学系13を構成するレンズ要素13aa,13baの二次元的な配列のピッチを例えば0.5mm~3mmに設定し、フライアイ光学系13の焦点距離を例えば80mm~400mに設定することができる。
 上述の実施形態では、波面分割型のオプティカルインテグレータとして、一対のレンズアレイ部材13aおよび13bからなるフライアイ光学系13を用いている。しかしながら、これに限定されることなく、フライアイ光学系の具体的な構成については様々な変形例が可能である。一例として、フライアイ光学系13に代えて、単一のレンズアレイ部材からなるフライアイ光学系、シリンドリカルマイクロフライアイレンズなどを用いることもできる。
 また、フライアイ光学系13の一対のレンズアレイ部材13aおよび13bのレンズ要素13aa,13baの屈折力は負屈折力であっても良く、それらの屈折面(レンズ面)は非球面形状であっても良い。また、フライアイ光学系13は、屈折型の光学系には限定されず、たとえば回折光学素子をアレイ状に配列した回折光学素子アレイや、複数のミラーをアレイ状に配列したミラーアレイも用いることができる。シリンドリカルマイクロフライアイレンズの構成および作用は、例えば米国特許第6913373号明細書に開示されている。
 上述の実施形態では、二次元的に配列されて個別に制御される複数のミラー要素を有する空間光変調器として、二次元的に配列された複数の反射面の向き(角度:傾き)を個別に制御可能な空間光変調器2を用いている。しかしながら、これに限定されることなく、たとえば二次元的に配列された複数の反射面の高さ(位置)を個別に制御可能な空間光変調器を用いることもできる。このような空間光変調器としては、たとえば米国特許第5,312,513号公報、並びに米国特許第6,885,493号公報の図1dに開示される空間光変調器を用いることができる。これらの空間光変調器では、二次元的な高さ分布を形成することで回折面と同様の作用を入射光に与えることができる。なお、上述した二次元的に配列された複数の反射面を持つ空間光変調器を、たとえば米国特許第6,891,655号公報や、米国特許公開第2005/0095749号公報の開示に従って変形しても良い。
 上述の実施形態では、照明光学系(1~7)の照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与する作用面を持つ光学部材として、作用面内で二次元的に配列された複数のミラー要素2aを有する反射型の空間光変調器2を用いている。しかしながら、これに限定されることなく、所定面内に配列されて個別に制御される複数の透過光学要素を備えた透過型の空間光変調器、回折光学面(作用面)を有する回折光学素子などを用いることもできる。
 上述の実施形態では、マスクの代わりに、所定の電子データに基づいて所定パターンを形成する可変パターン形成装置を用いることができる。なお、可変パターン形成装置としては、たとえば所定の電子データに基づいて駆動される複数の反射素子を含む空間光変調素子を用いることができる。空間光変調素子を用いた露光装置は、たとえば米国特許公開第2007/0296936号公報に開示されている。また、上述のような非発光型の反射型空間光変調器以外に、透過型空間光変調器を用いても良く、自発光型の画像表示素子を用いても良い。
 上述の実施形態の露光装置は、本願特許請求の範囲に挙げられた各構成要素を含む各種サブシステムを、所定の機械的精度、電気的精度、光学的精度を保つように、組み立てることで製造される。これら各種精度を確保するために、この組み立ての前後には、各種光学系については光学的精度を達成するための調整、各種機械系については機械的精度を達成するための調整、各種電気系については電気的精度を達成するための調整が行われる。各種サブシステムから露光装置への組み立て工程は、各種サブシステム相互の、機械的接続、電気回路の配線接続、気圧回路の配管接続等が含まれる。この各種サブシステムから露光装置への組み立て工程の前に、各サブシステム個々の組み立て工程があることはいうまでもない。各種サブシステムの露光装置への組み立て工程が終了したら、総合調整が行われ、露光装置全体としての各種精度が確保される。なお、露光装置の製造は温度およびクリーン度等が管理されたクリーンルームで行っても良い。
 次に、上述の実施形態にかかる露光装置を用いたデバイス製造方法について説明する。図10は、半導体デバイスの製造工程を示すフローチャートである。図10に示すように、半導体デバイスの製造工程では、半導体デバイスの基板となるウェハWに金属膜を蒸着し(ステップS40)、この蒸着した金属膜上に感光性材料であるフォトレジストを塗布する(ステップS42)。つづいて、上述の実施形態の投影露光装置を用い、マスク(レチクル)Mに形成されたパターンをウェハW上の各ショット領域に転写し(ステップS44:露光工程)、この転写が終了したウェハWの現像、つまりパターンが転写されたフォトレジストの現像を行う(ステップS46:現像工程)。
 その後、ステップS46によってウェハWの表面に生成されたレジストパターンをマスクとし、ウェハWの表面に対してエッチング等の加工を行う(ステップS48:加工工程)。ここで、レジストパターンとは、上述の実施形態の投影露光装置によって転写されたパターンに対応する形状の凹凸が生成されたフォトレジスト層であって、その凹部がフォトレジスト層を貫通しているものである。ステップS48では、このレジストパターンを介してウェハWの表面の加工を行う。ステップS48で行われる加工には、例えばウェハWの表面のエッチングまたは金属膜等の成膜の少なくとも一方が含まれる。なお、ステップS44では、上述の実施形態の投影露光装置は、フォトレジストが塗布されたウェハWを、感光性基板つまりプレートPとしてパターンの転写を行う。
 図11は、液晶表示素子等の液晶デバイスの製造工程を示すフローチャートである。図11に示すように、液晶デバイスの製造工程では、パターン形成工程(ステップS50)、カラーフィルタ形成工程(ステップS52)、セル組立工程(ステップS54)およびモジュール組立工程(ステップS56)を順次行う。ステップS50のパターン形成工程では、プレートPとしてフォトレジストが塗布されたガラス基板上に、上述の実施形態の投影露光装置を用いて回路パターンおよび電極パターン等の所定のパターンを形成する。このパターン形成工程には、上述の実施形態の投影露光装置を用いてフォトレジスト層にパターンを転写する露光工程と、パターンが転写されたプレートPの現像、つまりガラス基板上のフォトレジスト層の現像を行い、パターンに対応する形状のフォトレジスト層を生成する現像工程と、この現像されたフォトレジスト層を介してガラス基板の表面を加工する加工工程とが含まれている。
 ステップS52のカラーフィルタ形成工程では、R(Red)、G(Green)、B(Blue)に対応する3つのドットの組をマトリックス状に多数配列するか、またはR、G、Bの3本のストライプのフィルタの組を水平走査方向に複数配列したカラーフィルタを形成する。ステップS54のセル組立工程では、ステップS50によって所定パターンが形成されたガラス基板と、ステップS52によって形成されたカラーフィルタとを用いて液晶パネル(液晶セル)を組み立てる。具体的には、例えばガラス基板とカラーフィルタとの間に液晶を注入することで液晶パネルを形成する。ステップS56のモジュール組立工程では、ステップS54によって組み立てられた液晶パネルに対し、この液晶パネルの表示動作を行わせる電気回路およびバックライト等の各種部品を取り付ける。
 また、本発明は、半導体デバイス製造用の露光装置への適用に限定されることなく、例えば、角型のガラスプレートに形成される液晶表示素子、若しくはプラズマディスプレイ等のディスプレイ装置用の露光装置や、撮像素子(CCD等)、マイクロマシーン、薄膜磁気ヘッド、及びDNAチップ等の各種デバイスを製造するための露光装置にも広く適用できる。更に、本発明は、各種デバイスのマスクパターンが形成されたマスク(フォトマスク、レチクル等)をフォトリソグラフィ工程を用いて製造する際の、露光工程(露光装置)にも適用することができる。
 なお、上述の実施形態では、露光光としてArFエキシマレーザ光(波長:193nm)やKrFエキシマレーザ光(波長:248nm)を用いているが、これに限定されることなく、他の適当なパルスレーザ光源、たとえば波長157nmのレーザ光を供給するF2レーザ光源、波長146nmのレーザ光を供給するKr2レーザ光源、波長126nmのレーザ光を供給するAr2レーザ光源などを用いることができる。また、g線(波長436nm)、i線(波長365nm)などの輝線を発する超高圧水銀ランプなどのCW(Continuous Wave)光源を用いることも可能である。また、YAGレーザの高調波発生装置などを用いることもできる。この他、例えば米国特許第7,023,610号明細書に開示されているように、真空紫外光としてDFB半導体レーザ又はファイバーレーザから発振される赤外域、又は可視域の単一波長レーザ光を、例えばエルビウム(又はエルビウムとイッテルビウムの両方)がドープされたファイバーアンプで増幅し、非線形光学結晶を用いて紫外光に波長変換した高調波を用いても良い。
 また、上述の実施形態において、投影光学系と感光性基板との間の光路中を1.1よりも大きな屈折率を有する媒体(典型的には液体)で満たす手法、所謂液浸法を適用しても良い。この場合、投影光学系と感光性基板との間の光路中に液体を満たす手法としては、国際公開第WO99/49504号パンプレットに開示されているような局所的に液体を満たす手法や、特開平6-124873号公報に開示されているような露光対象の基板を保持したステージを液槽の中で移動させる手法や、特開平10-303114号公報に開示されているようなステージ上に所定深さの液体槽を形成し、その中に基板を保持する手法などを採用することができる。ここでは、国際公開第WO99/49504号パンフレット、特開平6-124873号公報および特開平10-303114号公報の教示を参照として援用する。
 また、上述の実施形態において、米国公開公報第2006/0170901号及び第2007/0146676号に開示されるいわゆる偏光照明方法を適用することも可能である。ここでは、米国特許公開第2006/0170901号公報及び米国特許公開第2007/0146676号公報の教示を参照として援用する。
 また、上述の実施形態では、露光装置においてマスク(またはウェハ)を照明する照明光学系に対して本発明を適用しているが、これに限定されることなく、マスク(またはウェハ)以外の被照射面を照明する一般的な照明光学系に対して本発明を適用することもできる。
 また、本発明は、以下の条項に従って記述することもできる。
1.光源からの光で被照射面を照明する照明光学装置において、
 照明瞳と、前記光源からの光で該照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与して角度分布を有する光を射出する作用面とを備え、前記光源からの光で被照射面を照明する照明光学系と;
 前記光源からの光を照明光学系に導く伝送光学系と;を備え、
 前記光源からの光の光路を横切る面に沿って配置されて、前記光源からの光を分割して複数の光束を生成する複数の光学面を備える波面分割器を備え、
 該波面分割器からの前記複数の光束は、前記作用面上において少なくとも部分的に重畳することを特徴とする照明光学装置。
2. 前記複数の光束を前記作用面上で少なくとも部分的に重畳させるリレー光学系を備え、
 前記波面分割器および前記リレー光学系は、前記波面分割器の後側焦点位置と前記リレー光学系の前側焦点位置とが一致するように配置されていることを特徴とする条項1に記載の照明光学装置。
3. 前記リレー光学系は前側レンズ群と後側レンズ群とを有し、前記前側レンズ群と前記後側レンズ群との間隔は可変に構成されていることを特徴とする条項2に記載の照明光学装置。
4. 前記リレー光学系は、前記前側レンズ群と前記後側レンズ群との間隔が、前記リレー光学系の焦点距離を一定に保持しつつ前記波面分割器の後側焦点位置から前記作用面に至る光路の光路長の変更に応じて変化するように構成されていることを特徴とする条項3に記載の照明光学装置。
5. 前記前側レンズ群は、光軸方向に移動可能に構成された少なくとも1つのレンズを含むことを特徴とする条項3または4に記載の照明光学装置。
6. 前記後側レンズ群は、光軸方向に移動可能に構成された少なくとも1つのレンズを含むことを特徴とする条項3乃至5のいずれか1項に記載の照明光学装置。
7. 前記リレー光学系と前記作用面との間の光路から取り出した光に基づいて、前記作用面へ入射する光の前記光路を横切る面内の位置を計測する位置計測器を備えていることを特徴とする条項1乃至6のいずれか1項に記載の照明光学装置。
8. 前記リレー光学系と前記作用面との間の光路から取り出した光に基づいて、前記作用面へ入射する光の前記作用面に対する角度を計測する角度計測器を備えていることを特徴とする条項1乃至7のいずれか1項に記載の照明光学装置。
9. 前記位置計測器の出力に基づいて前記作用面へ入射する光の前記光路を横切る面内の位置を調整する位置調整部材を備えていることを特徴とする条項7または8に記載の照明光学装置。
10. 前記角度計測器の出力に基づいて前記作用面へ入射する光の前記作用面に対する角度を調整する角度調整部材を備えていることを特徴とする条項8または9に記載の照明光学装置。
11. 前記波面分割器は、並列的に配置された複数の屈折光学要素からなるフライアイ光学系を有し、前記フライアイ光学系の後側焦点位置は前記複数の屈折光学要素の外側にあることを特徴とする条項1乃至10のいずれか1項に記載の照明光学装置。
12. 前記フライアイ光学系の開口数は、該フライアイ光学系に入射する光束の発散角の正弦よりも大きい値に設定されていることを特徴とする条項11に記載の照明光学装置。
13. 前記フライアイ光学系は蛍石により形成されていることを特徴とする条項11または12に記載の照明光学装置。
14. 前記作用面に達する光の光量を調整する光量調整部材を備えていることを特徴とする条項1乃至13のいずれか1項に記載の照明光学装置。
15. 前記波面分割器の入射側に配置されて、該波面分割器に入射する光束の入射角度を調整する入射角度調整部材とを備えることを特徴とする条項1乃至14のいずれか1項に記載の照明光学装置。
16.光源からの光で被照射面を照明する照明光学装置において、
 照明瞳と、前記光源からの光で該照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与して角度分布を有する光を射出する作用面とを備え、前記光源からの光で被照射面を照明する照明光学系と;
 前記光源からの光を照明光学系に導く伝送光学系と;を備え、
 前記伝送光学系は、
 波面分割型のオプティカルインテグレータと、
 前記オプティカルインテグレータにより波面分割された複数の光束を前記作用面上で少なくとも部分的に重畳させるリレー光学系とを備え、
 前記オプティカルインテグレータおよび前記リレー光学系は、前記オプティカルインテグレータの後側焦点位置と前記リレー光学系の前側焦点位置とが一致するように配置されていることを特徴とする照明光学装置。
17. 前記照明光学系は、前記作用面に沿って配列されて個別に制御される複数の光学要素を有し、入射光を空間的に変調して射出する空間光変調器とを備えていることを特徴とする条項1乃至16のいずれか1項に記載の照明光学装置。
18. 前記空間光変調器は、前記作用面内で二次元的に配列された複数のミラー要素と、該複数のミラー要素の姿勢を個別に制御駆動する駆動部とを有することを特徴とする条項17に記載の照明光学装置。
19. 前記空間光変調器を介した光に基づいて、前記照明瞳に前記瞳強度分布を形成する分布形成光学系を備えていることを特徴とする条項16乃至18のいずれか1項に記載の照明光学装置。
20. 前記分布形成光学系は、前記波面分割器または前記オプティカルインテグレータの後側焦点位置と光学的に共役な位置に入射面が配置された波面分割型の第2のオプティカルインテグレータを有することを特徴とする条項19に記載の照明光学装置。
21. 前記分布形成光学系は、前記空間光変調器からの光の角度の変化を前記照明瞳の面での位置の変化に変換することを特徴とする条項19または20に記載の照明光学装置。
22. 前記被照射面と光学的に共役な面を形成する投影光学系と組み合わせて用いられ、前記照明瞳は前記投影光学系の開口絞りと光学的に共役な位置であることを特徴とする条項1乃至21のいずれか1項に記載の照明光学装置。
23. 所定のパターンを照明するための条項1乃至22のいずれか1項に記載の照明光学装置を備え、前記所定のパターンを感光性基板に露光することを特徴とする露光装置。
24. 前記所定のパターンの像を前記感光性基板上に形成する投影光学系を備え、前記照明瞳は前記投影光学系の開口絞りと光学的に共役な位置であることを特徴とする条項23に記載の露光装置。
25. 第1筐体に収容されて、所定のパターンを感光性基板に露光する露光装置において、
 前記所定のパターンを照明する照明光学系と;
 第2筐体に収容された光源からの光を前記照明光学系に導く伝送光学系と;を備え、
 前記照明光学系は、
 照明瞳と、前記光源からの光で該照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与して角度分布を有する光を射出する作用面とを備え、前記光源からの光で被照射面を照明し、
 前記伝送光学系は、
 前記光源からの光を分割して複数の光束を生成する複数の光学面を備える波面分割器と、
 該波面分割器の入射側に配置されて、該波面分割器に入射する光束の入射角度を調整する入射角度調整部材とを備えることを特徴とする露光装置。
26. 前記作用面に沿って配列されて個別に制御される複数の光学要素を有し、入射光を空間的に変調して射出する空間光変調器とを備えていることを特徴とする条項25に記載の露光装置。
27. 前記空間光変調器は、前記作用面内で二次元的に配列された複数のミラー要素と、該複数のミラー要素の姿勢を個別に制御駆動する駆動部とを有することを特徴とする条項26に記載の露光装置。
28. 前記空間光変調器を介した光に基づいて、前記照明瞳に前記瞳強度分布を形成する分布形成光学系を備えていることを特徴とする条項25乃至27のいずれか1項に記載の露光装置。
29. 前記分布形成光学系は、前記波面分割器または前記オプティカルインテグレータの後側焦点位置と光学的に共役な位置に入射面が配置された波面分割型の第2のオプティカルインテグレータを有することを特徴とする条項28に記載の露光装置。
30. 前記分布形成光学系は、前記空間光変調器からの光の角度の変化を前記照明瞳の面での位置の変化に変換することを特徴とする条項29に記載の露光装置。
31. 前記被照射面と光学的に共役な面を形成する投影光学系をさらに備え、
 前記照明瞳は前記投影光学系の開口絞りと光学的に共役な位置であることを特徴とする条項25乃至30のいずれか1項に記載の露光装置。
32. 条項23乃至31のいずれか1項に記載の露光装置を用いて、前記所定のパターンを前記感光性基板に露光することと、
 前記所定のパターンが転写された前記感光性基板を現像し、前記所定のパターンに対応する形状のマスク層を前記感光性基板の表面に形成することと、
 前記マスク層を介して前記感光性基板の表面を加工することと、を含むことを特徴とするデバイス製造方法。
33. 光源からの光で被照射面を照明する照明光学系と共に用いられ、前記光源からの光を前記照明光学系に導く伝送光学系において、
 前記光源からの光の光路を横切る面に沿って配置されて、前記光源からの光を分割して複数の光束を生成する複数の光学面を備える波面分割器を備え、
 該波面分割器からの前記複数の光束は、作用面上において少なくとも部分的に重畳し、
 該作用面は、前記照明光学系の照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与して角度分布を有する光を射出することを特徴とする伝送光学系。
1 伝送光学系
10,16 平行平面板(ハービング部材)
11 アッテネータ
13 フライアイ光学系
14 リレー光学系
15a,15b 電動チルトミラー
18 ビームモニター
2 空間光変調器
3 リレーレンズ
4 マイクロフライアイレンズ
5 コンデンサー光学系
6 マスクブラインド
7 結像光学系
LS 光源
DTr,DTw 瞳強度分布計測部
CR 制御系
M マスク
MS マスクステージ
PL 投影光学系
W ウェハ
WS ウェハステージ

Claims (28)

  1. 光源からの光で被照射面を照明する照明光学系であって、該照明光学系の照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与して角度分布を有する光を射出する作用面を持つ照明光学系の光路中に配置されて、前記光源からの光を前記作用面まで導く伝送光学系において、
     前記光源からの光の光路を横切る面に沿って配置されて、前記光源からの光を分割して複数の光束を生成する複数の光学面を備える波面分割器を備え、
     該波面分割器からの前記複数の光束は、前記作用面上において少なくとも部分的に重畳することを特徴とする伝送光学系。
  2. 前記複数の光束を前記作用面上で少なくとも部分的に重畳させるリレー光学系を備え、
     前記波面分割器および前記リレー光学系は、前記波面分割器の後側焦点位置と前記リレー光学系の前側焦点位置とが一致するように配置されていることを特徴とする請求項1に記載の伝送光学系。
  3. 前記リレー光学系は前側レンズ群と後側レンズ群とを有し、前記前側レンズ群と前記後側レンズ群との間隔は可変に構成されていることを特徴とする請求項2に記載の伝送光学系。
  4. 前記リレー光学系は、前記前側レンズ群と前記後側レンズ群との間隔が、前記リレー光学系の焦点距離を一定に保持しつつ前記波面分割器の後側焦点位置から前記作用面に至る光路の光路長の変更に応じて変化するように構成されていることを特徴とする請求項3に記載の伝送光学系。
  5. 前記前側レンズ群は、光軸方向に移動可能に構成された少なくとも1つのレンズを含むことを特徴とする請求項3または4に記載の伝送光学系。
  6. 前記後側レンズ群は、光軸方向に移動可能に構成された少なくとも1つのレンズを含むことを特徴とする請求項3乃至5のいずれか1項に記載の伝送光学系。
  7. 前記リレー光学系と前記作用面との間の光路から取り出した光に基づいて、前記作用面へ入射する光の前記光路を横切る面内の位置を計測する位置計測器を備えていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の伝送光学系。
  8. 前記リレー光学系と前記作用面との間の光路から取り出した光に基づいて、前記作用面へ入射する光の前記作用面に対する角度を計測する角度計測器を備えていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の伝送光学系。
  9. 前記位置計測器の出力に基づいて前記作用面へ入射する光の前記光路を横切る面内の位置を調整する位置調整部材を備えていることを特徴とする請求項7または8に記載の伝送光学系。
  10. 前記角度計測器の出力に基づいて前記作用面へ入射する光の前記作用面に対する角度を調整する角度調整部材を備えていることを特徴とする請求項8または9に記載の伝送光学系。
  11. 前記波面分割器は、並列的に配置された複数の屈折光学要素からなるフライアイ光学系を有し、前記フライアイ光学系の後側焦点位置は前記複数の屈折光学要素の外側にあることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の伝送光学系。
  12. 前記フライアイ光学系の開口数は、該フライアイ光学系に入射する光束の発散角の正弦よりも大きい値に設定されていることを特徴とする請求項11に記載の伝送光学系。
  13. 前記フライアイ光学系は蛍石により形成されていることを特徴とする請求項11または12に記載の伝送光学系。
  14. 前記作用面に達する光の光量を調整する光量調整部材を備えていることを特徴とする請求項1乃至13のいずれか1項に記載の伝送光学系。
  15. 前記波面分割器の入射側に配置されて、該波面分割器に入射する光束の入射角度を調整する入射角度調整部材とを備えることを特徴とする請求項1乃至14のいずれか1項に記載の伝送光学系。
  16. 光源からの光で被照射面を照明する照明光学系であって該照明光学系の照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与する作用面を持つ照明光学系の光路中に配置されて、前記光源からの光を前記作用面まで導く伝送光学系において、
     波面分割型のオプティカルインテグレータと、
     前記オプティカルインテグレータにより波面分割された複数の光束を前記作用面上で少なくとも部分的に重畳させるリレー光学系とを備え、
     前記オプティカルインテグレータおよび前記リレー光学系は、前記オプティカルインテグレータの後側焦点位置と前記リレー光学系の前側焦点位置とが一致するように配置されていることを特徴とする伝送光学系。
  17. 第1筐体に収容された露光装置であって照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光に角度分布を付与する作用面を持つ照明光学系を備える露光装置の前記作用面に、第2筐体に収容された光源からの光を導く伝送光学系において、
     前記光源からの光を分割して複数の光束を生成する複数の光学面を備える波面分割器と、
     該波面分割器の入射側に配置されて、該波面分割器に入射する光束の入射角度を調整する入射角度調整部材とを備えることを特徴とする伝送光学系。
  18. 光源からの光により被照射面を照明する照明光学系において、
     請求項1乃至17のいずれか1項に記載の伝送光学系と、
     前記作用面に沿って配列されて個別に制御される複数の光学要素を有し、入射光を空間的に変調して射出する空間光変調器とを備えていることを特徴とする照明光学系。
  19. 前記空間光変調器は、前記作用面内で二次元的に配列された複数のミラー要素と、該複数のミラー要素の姿勢を個別に制御駆動する駆動部とを有することを特徴とする請求項18に記載の照明光学系。
  20. 光源からの光により被照射面を照明する照明光学系において、
     前記光源からの光を分割して複数の光束を生成する複数の光学面を備える波面分割器と、
     前記波面分割器により波面分割された複数の光束を所定面上で少なくとも部分的に重畳させるリレー光学系と、
     前記所定面に沿って配列されて個別に制御される複数の光学要素を有し、照明瞳に瞳強度分布を形成するために入射光を空間的に変調して射出する空間光変調器と、
     前記所定面へ入射する光のテレセントリシティの崩れに関する情報に基づいて前記空間光変調器の前記複数の光学要素を制御する制御部とを備えていることを特徴とする照明光学系。
  21. 前記空間光変調器は、前記所定面内で二次元的に配列された複数のミラー要素と、該複数のミラー要素の姿勢を個別に制御駆動する駆動部とを有し、
     前記制御部は、前記テレセントリシティの崩れに関する情報に基づいて前記複数のミラー要素の姿勢を制御することを特徴とする請求項20に記載の照明光学系。
  22. 前記空間光変調器を介した光に基づいて、前記照明瞳に前記瞳強度分布を形成する分布形成光学系を備えていることを特徴とする請求項18乃至21のいずれか1項に記載の照明光学系。
  23. 前記分布形成光学系は、前記波面分割器または前記オプティカルインテグレータの後側焦点位置と光学的に共役な位置に入射面が配置された波面分割型の第2のオプティカルインテグレータを有することを特徴とする請求項22に記載の照明光学系。
  24. 前記分布形成光学系は、前記空間光変調器からの光の角度の変化を前記照明瞳の面での位置の変化に変換することを特徴とする請求項22または23に記載の照明光学系。
  25. 前記被照射面と光学的に共役な面を形成する投影光学系と組み合わせて用いられ、前記照明瞳は前記投影光学系の開口絞りと光学的に共役な位置であることを特徴とする請求項18乃至24のいずれか1項に記載の照明光学系。
  26. 所定のパターンを照明するための請求項1乃至25のいずれか1項に記載の照明光学系を備え、前記所定のパターンを感光性基板に露光することを特徴とする露光装置。
  27. 前記所定のパターンの像を前記感光性基板上に形成する投影光学系を備え、前記照明瞳は前記投影光学系の開口絞りと光学的に共役な位置であることを特徴とする請求項26に記載の露光装置。
  28. 請求項26または27に記載の露光装置を用いて、前記所定のパターンを前記感光性基板に露光することと、
     前記所定のパターンが転写された前記感光性基板を現像し、前記所定のパターンに対応する形状のマスク層を前記感光性基板の表面に形成することと、
     前記マスク層を介して前記感光性基板の表面を加工することと、を含むことを特徴とするデバイス製造方法。
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