WO2011099822A3 - 테스트 소켓 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 테스트 소켓에 대한 것으로서 더욱 상세하게는 반도체 디바이스의 단자와 테스트 장치의 패드를 전기적으로 연결시키기 위하여 그 반도체 디바이스와 테스트 장치의 사이에 배치되는 테스트 소켓으로서, 상기 반도체 디바이스의 단자와 대응되는 위치에 배치된 제1접속전극을 지지하는 제1시트부재; 상기 제1시트부재의 하측에 배치되되 상기 제1접속전극과 대응되는 위치에 상하방향으로 연장된 관통공이 형성되는 하우징; 상기 하우징의 관통공에 삽입되되 상기 제1접속전극의 하면과 접촉되며 중앙에 상하방향으로 연장되는 삽입구멍이 형성되는 도전부재; 상기 하우징의 관통공에 삽입되되 상기 도전부재의 하측에 위치하며 그 하단이 상기 관통공으로부터 돌출되어 있으며 그 상단이 상기 도전부재의 삽입구멍 내에 삽입되어 그 삽입구멍 내벽과 접촉될 수 있는 도전핀; 및 상기 도전부재와 도전핀의 사이에 배치되되 상기 도전부재와 상기 도전핀을 서로 멀어지는 방향으로 탄성바이어스시키는 스프링부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓에 대한 것이다.
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