WO2010090188A1 - 輻射センサおよびその製造方法 - Google Patents

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radiation sensor
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temperature sensing
thermocouple
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武 内山
松雄 岸
正隆 新荻
亮平 神谷
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セイコーインスツル株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a radiation sensor equipped with a temperature sensing element for detecting radiation such as infrared rays and a method for manufacturing the same.
  • radiation sensors that detect radiation such as infrared rays are roughly classified into pyroelectric types, bolometer types, thermopile types, and the like. These radiation sensors have almost the same basic sensor structure, and are roughly classified by the difference in detection principle of a thermal sensor that detects infrared radiation.
  • thermopile type radiation sensor has a thermocouple (temperature sensing element) configured by joining two different kinds of conductive materials, converts the radiation received in the light receiving region into heat, This heat is converted into an electrical signal by an electromotive force generated by a thermocouple and taken out to the outside.
  • the first contact for detecting heat in the thermocouple is formed on the surface of a film-like structure made of a material having a small heat capacity and low thermal conductivity, and converts the received radiation into heat. By converting, it is possible to generate a temperature difference as large as possible between the second contact and the second contact at high speed.
  • thermopile type radiation sensor a plurality of the above-described thermocouples are connected in series in order to increase the output voltage.
  • a substrate made of single crystal silicon is used as a basic structure, and a silicon compound thin film such as a silicon nitride film or a silicon oxide film formed on the surface of the silicon substrate is used as an insulating film.
  • a silicon compound thin film such as a silicon nitride film or a silicon oxide film formed on the surface of the silicon substrate.
  • Patent Document 1 When manufacturing such a sensor, first, an insulating layer made of a silicon compound thin film is formed on the surface of the silicon substrate, a thermocouple is formed on the surface of the insulating layer, and insulation of a portion that becomes the first contact point of the thermocouple is formed. The silicon substrate directly under the conductive layer is removed from the back side by etching.
  • a sensor having a membrane structure in which the outer peripheral portion of the silicon compound thin film is supported by the silicon substrate is formed.
  • this membrane structure sensor it is considered that the heat capacity of the portion serving as the first contact point can be reduced and the heat insulation from the portion serving as the second contact point can be achieved.
  • a chemical vapor deposition method called a CVD method is used to form an insulating layer made of a silicon compound thin film on the surface of the silicon substrate.
  • this method uses a special gas with high flammability and toxicity, and at the same time uses a very expensive device.
  • the process of making this silicon compound thin film into a self-supporting film structure uses very complicated and expensive equipment.
  • thermocouple since the thermal conductivity of the silicon compound thin film is larger than that of resin or the like, the first contact point of the thermocouple disposed in the light receiving region of the sensor and the silicon substrate serving as the heat dissipation region There existed a subject that it was difficult to make a big temperature difference between the arrange
  • thermocouple when using a metal thin film as a thermocouple, it is common to form a film on the surface of a silicon compound thin film using a vacuum film formation technique such as sputtering, and then the formed metal thin film is photoetched with a chemical solution. Pattern. Specifically, a resist layer is first formed on a metal thin film, and exposed and developed using a photolithographic technique to form a resist pattern on a portion of the metal thin film that is desired to remain as a thermocouple. Thereafter, etching is performed using the resist pattern as a mask, thereby removing the metal thin film in a region other than the region masked by the resist pattern.
  • Patent Document 1 Furthermore, in the configuration of Patent Document 1 described above, by forming a temperature sensitive element such as a thermocouple on the silicon compound thin film, the sensor substrate surface is uneven and the surface area is increased. As a result, the amount of heat released to the atmosphere increases and the thermal insulation is reduced.
  • a temperature sensitive element such as a thermocouple
  • Patent Document 2 discloses a configuration in which a portion where stress concentration occurs in the membrane portion is set as an avoidance region, and a thermocouple is disposed so as to avoid this avoidance region.
  • Patent Document 2 In the configuration of Patent Document 2 described above, only stress acting on a part of the membrane portion can be avoided, and it is difficult to achieve stress relaxation of the entire membrane portion, and the silicon compound thin film is made thinner. Is still difficult.
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a radiation sensor and a method for manufacturing the same that have low heat conduction, increase the number of thermocouples, and improve detection sensitivity. Objective.
  • a radiation sensor according to the present invention is a radiation sensor comprising: an electrically insulating film; and a temperature sensing element disposed on at least one surface side of the film. A part of the temperature sensing element is embedded in the film.
  • the light receiving portion (the region where the temperature sensing element is formed) of the radiation sensor is composed of the resin film having a low thermal conductivity, the temperature difference between the temperature sensing element and the other region. Can be taken big. Therefore, the sensitivity of the radiation sensor can be further increased.
  • the structure of this invention since the warming element is buried in the film, the surface of the film of this buried part becomes a flat surface. Therefore, it is possible to provide a radiation sensor capable of increasing the temperature uniformity of the light receiving unit and providing a stable output. Furthermore, since heat radiation due to the unevenness of the film can be minimized, the sensitivity can be further improved.
  • a plurality of pairs of film-shaped thermocouples formed by joining two types of film-shaped materials are alternately arranged along the surface direction of the film.
  • a first contact connected to one end side of the film-like material is disposed at the center of the film, while the other end side of the first film-like material in the first film-like thermocouple;
  • a second contact point connected to the other end side of the second film-shaped material in the second film-shaped thermocouple adjacent to the first film-shaped thermocouple is disposed on the outer peripheral portion of the film.
  • a configuration may be employed.
  • thermopile type radiation sensor By applying the radiation sensor of the present invention to a thermopile type radiation sensor, a large temperature difference is taken between the first contact of the film-shaped thermocouple that generates a temperature rise due to light reception and the second contact that forms a pair with the first contact. Therefore, the output voltage can be further increased. Moreover, since the film-like thermocouple is buried in the resin film, a thermopile type radiation sensor can be provided in which the temperature uniformity of the light receiving portion (around the film-like thermocouple) is increased and a stable output can be given.
  • At least one of the film-like dissimilar materials constituting the film-like thermocouple may be a material deposited by a plating method.
  • the additive method can be adopted for a fine photoresist pattern.
  • a thermocouple As a result, a thermopile type radiation sensor having a large logarithm and a large output voltage can be provided.
  • the material deposited by the plating method is mainly selected from nickel, gold, platinum, rhodium, iron, palladium, copper, or a material selected from these materials. It may be a material as a component.
  • a film-shaped thermocouple having a fine pattern can be formed by a plating method by forming the film-shaped thermocouple from the above-described material.
  • the material deposited by the plating method may be a compound containing bismuth or antimony.
  • a thermopile type radiation sensor having a large output voltage is provided because a compound containing bismuth or antimony, which is a material having a large thermoelectromotive force and a small thermal conductivity, is employed as a thin film thermocouple material. it can.
  • the temperature sensing element may be a bolometer element whose resistance value changes with a temperature change.
  • a temperature change in the bolometer element can be detected with high accuracy. Therefore, the change in the resistance value of the bolometer element can be further increased.
  • the bolometer element is buried in the film, the temperature uniformity around the bolometer element is increased, and a bolometer capable of providing a stable output can be provided.
  • a pedestal may be formed on the outer peripheral portion of the other surface of the film. According to this invention, since the radiation sensor is mounted on the wiring board or the like via the pedestal portion, the temperature sensing element is spaced from the wiring board or the like. Therefore, it is possible to ensure the thermal insulation of the temperature sensing element.
  • the pedestal portion may be made of a metal deposited by a plating method.
  • a film-like thermocouple is adopted as the temperature sensing element, heat is easily radiated from the second contact point of the film-like thermocouple that needs to avoid the temperature rise as much as possible through the pedestal portion. Become. Therefore, since the temperature rise of the second contact can be prevented, the temperature difference between the first contact and the second contact is increased, and the electromotive force of the film thermocouple can be increased. As a result, a high output radiation sensor can be provided.
  • connection terminal portion that electrically connects the temperature sensing element to the outside is continuously formed on the film from an end of the temperature sensing element. Also good.
  • the connecting terminal portion for electrical connection to the outside by wire bonding or a conductive substance is continuously formed using the same material as the temperature sensing element, thereby forming the temperature sensing element.
  • a connection terminal portion can be formed. Therefore, it is not necessary to form a connection terminal part separately. As a result, the mounting area can be reduced, and a more compact radiation sensor can be provided.
  • the contact electrode and the pedestal portion may be integrally formed. According to the present invention, since the contact electrode can be enlarged as compared with the case where the contact electrode and the pedestal portion are formed separately, the electrical resistance of the contact electrode can be reduced and the temperature sensing element and the wiring board can be reduced. The electrical loss can be reduced.
  • infrared rays and the like can be received from both sides of the temperature sensing element by forming the through holes in the wiring board.
  • opening a region of the wiring board that overlaps with the temperature sensing element as a through hole it is possible to ensure thermal insulation between the temperature sensing element and the outside.
  • a base part and a contact electrode can be formed as thinly as possible in the range which a film and a wiring board do not contact, the thickness reduction of a radiation sensor can be achieved further. Further, when the pedestal portion is formed by a plating method or the like, the manufacturing time of the pedestal portion can be shortened.
  • the radiation sensor according to the above (12) adopts a configuration in which a condensing lens is provided on the wiring board so as to cover the through-hole and collects infrared rays on the temperature sensing element. May be. According to the present invention, since the infrared light incident on the condenser lens can be condensed toward the temperature sensing element, the infrared light can be received over a wide range, and the sensitivity of the radiation sensor can be improved. .
  • the wiring board is provided with an infrared window disposed so as to cover the through hole and transmitting only infrared rays incident on the temperature sensing element. May be adopted. According to this invention, since only infrared rays can be transmitted, the temperature change caused by the infrared rays can be accurately detected by the temperature sensing element.
  • a case may be provided on the wiring board so as to cover the temperature sensing element so that the temperature sensing element is exposed only from the through hole. According to this invention, since the temperature sensing element is sealed in the case, infrared rays are incident only from the through hole of the wiring board. That is, since the temperature sensing element receives only infrared rays from only one direction, infrared rays incident from a specific direction can be detected with high accuracy.
  • an infrared absorption film may be disposed in a region of the film that overlaps with the thermal element.
  • infrared rays irradiated from the object to be measured are absorbed by the infrared absorption film.
  • the temperature of the warming element can be quickly increased by the infrared rays absorbed by the infrared absorption film.
  • the sensitivity of a warming element can further be improved.
  • a method of manufacturing a radiation sensor according to the present invention includes: a temperature sensing element forming step for forming a temperature sensing element on a substrate; and a resin having an electrically insulating property so as to cover the temperature sensing element.
  • the temperature sensitive element can be embedded in the film layer by forming the film layer mainly composed of the resin on the temperature sensitive element formed on the substrate. Next, by separating these joined bodies from the substrate, it is possible to manufacture a radiation sensor in which the temperature sensing element is buried in the film layer.
  • Another method for manufacturing a radiation sensor according to the present invention includes a release layer forming step of forming a release layer on one surface of a substrate; and a temperature sensitive element forming step of forming a temperature sensitive element on the release layer.
  • the release layer that is easily separated from the substrate is formed, and the film layer is formed on the temperature sensitive element formed on the release layer, so that the temperature sensitive element is embedded in the film layer.
  • the bonded body can be easily separated from the substrate by separating the bonded body from the release layer. Thereafter, by removing the release layer by means such as etching, a radiation sensor in which the temperature sensing element is embedded in a resin film can be manufactured.
  • the method for manufacturing a radiation sensor according to (17) or (18) may further include a pedestal forming step for forming a pedestal on the film layer after the film layer forming step. Good.
  • the radiation sensor since the radiation sensor is mounted on the wiring board or the like via the pedestal portion, the temperature sensing element is spaced from the wiring board or the like. Therefore, it is possible to ensure the thermal insulation of the temperature sensing element.
  • the temperature sensing element step includes a first thin film pattern forming step in which a first thin film pattern made of a first material constituting a film thermocouple is formed. And a first thin film pattern forming step of forming a second thin film pattern made of a second material constituting the film thermocouple.
  • a thermopile type radiation sensor in which a film-like thermocouple is buried in a film layer can be manufactured.
  • thermocouples are used for the temperature sensing element, the number of thermocouples per unit area can be greatly increased, and a very large number of logarithmic thermocouples arranged and wired in series can be obtained. Pairs can be formed. As a result, a small thermopile type radiation sensor having a large output voltage is manufactured.
  • thermopile type radiation sensor whose performance is improved by embedding at least a part of the temperature sensing element in a resin film and a method for manufacturing the same.
  • FIG. 1B is a cross-sectional view taken along AA in FIG. 1A. It is explanatory drawing which shows the process of forming a peeling layer among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming a peeling layer among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of invention.
  • thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 1st material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 1st material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 1st material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention.
  • thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 2nd material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 2nd material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 2nd material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention.
  • thermopile type radiation sensor the step of forming a layer mainly composed of an electrically insulating resin that constitutes the light receiving portion and the like. It is explanatory drawing shown.
  • the step of forming a layer mainly composed of an electrically insulating resin that constitutes the light receiving portion and the like the steps for producing the thermopile type radiation sensor according to the first embodiment of the present invention.
  • the heat from the second contact point of the film thermocouple is dissipated and the temperature of the second contact point is kept constant. It is explanatory drawing which shows the process of forming a metal part.
  • thermopile type radiation sensor of the steps for producing the thermopile type radiation sensor according to the first embodiment of the present invention, the heat from the second contact point of the film thermocouple is dissipated and the temperature of the second contact point is kept constant. It is explanatory drawing which shows the process of forming a metal part.
  • the heat from the second contact point of the film thermocouple is dissipated and the temperature of the second contact point is kept constant. It is explanatory drawing which shows the process of forming a metal part.
  • thermopile type radiation sensor of the steps for producing the thermopile type radiation sensor according to the first embodiment of the present invention, the heat from the second contact point of the film thermocouple is dissipated and the temperature of the second contact point is kept constant. It is explanatory drawing which shows the process of forming a metal part.
  • the heat from the second contact point of the film thermocouple is dissipated and the temperature of the second contact point is kept constant. It is explanatory drawing which shows the process of forming a metal part.
  • thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of peeling a board
  • thermopile type radiation sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is a top view which shows the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment from a thermopile formation surface direction. It is sectional drawing which follows BB in FIG. 8A. It is explanatory drawing which shows the process of forming a peeling layer among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention.
  • thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming an output electrode and a connection layer among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming an output electrode and a connection layer among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming an output electrode and a connection layer among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention.
  • thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 1st material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 1st material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 1st material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention.
  • thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 2nd material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 2nd material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention. It is explanatory drawing which shows the process of forming the thin film pattern which consists of the 2nd material which comprises a film-like thermocouple among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention.
  • the process of forming an insulating film is shown among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 5th Embodiment of this invention.
  • the process of forming a base part and a contact electrode is shown among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 5th Embodiment of this invention.
  • the process of forming a base part and a contact electrode is shown among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 5th Embodiment of this invention.
  • the process of forming a base part and a contact electrode is shown among the processes for producing the thermopile type radiation sensor which concerns on 5th Embodiment of this invention.
  • FIG. 19B is a cross-sectional view taken along line EE in FIG. 19A. It is a top view which shows the formation surface direction of the radiation sensor of 6th Embodiment.
  • FIG. 20B is a sectional view taken along line FF in FIG. 20A. It is a top view which shows the formation surface direction of the radiation sensor of 7th Embodiment.
  • FIG. 21A It is sectional drawing which shows the other structure of the radiation sensor in 7th Embodiment of this invention. It is sectional drawing which shows the radiation sensor of 8th Embodiment of this invention.
  • FIG. 1A shows a thermopile type radiation sensor according to a first embodiment of the present invention from the direction of the thermopile forming surface
  • FIG. 1B is a drawing showing a cross section along AA in FIG. 1A.
  • the thermopile type radiation sensor 1 includes an insulating film (film) 2, a first thin film thermocouple material 3, and a second thin film thermocouple material 4.
  • the plurality of film-shaped thermocouples 20 and the pedestal portion 5 are configured, and the film-shaped thermocouple 20 is buried in the insulating film 2.
  • the pedestal portion 5 has a rectangular frame shape having a through hole 5a in the center, and the insulating film 2 is formed so as to cover the opening edge on one side thereof.
  • the pedestal portion 5 is formed by forming a nickel plating layer 27 on the conductive layer 25.
  • the insulating film 2 has a rectangular shape in plan view (viewed from the thickness direction) made of a material whose main component is an electrically insulating resin (for example, an ultraviolet curable epoxy photoresist). It is.
  • the insulating film 2 constitutes a heat radiating portion 8 supported by the pedestal portion 5 on the outer peripheral side thereof, and a light receiving portion 6 that spans the pedestal portion 5 in the central portion and receives infrared radiation. That is, the thermopile type radiation sensor 1 of the present embodiment has a membrane structure in which the outer peripheral portion of the insulating film 2 is supported by the pedestal portion 5.
  • each film thermocouple 20 includes one end side of the first thin film thermocouple material 3 in one film thermocouple 20 and the second thin film thermocouple material in one film thermocouple 20.
  • the first contact 7 connected to one end side of 4 is disposed on the light receiving portion 6 of the insulating film 2, while the other end of the first thin film thermocouple material 3 in one film thermocouple 20.
  • the second contact 9 is connected to the other end side of the second thin film thermocouple material 4 in the film thermocouple 20 adjacent to the one film thermocouple 20 is the heat radiating portion of the insulating film 2 8 is arranged. That is, in the present embodiment, a plurality of pairs of the first thin film thermocouple material 3 and the second thin film thermocouple material 4 are formed between the light receiving unit 6 and the heat radiating unit 8 along the circumferential direction of the insulating film 2. They are arranged alternately so as to meander between them. Thereby, the several film-like thermocouple 20 is buried in the insulating film 2 in the state connected in series.
  • the first thin film thermocouple material in the film thermocouple 20 on one side of the film thermocouples 20 disposed on both sides in the circumferential direction of the insulating film 2 is the final end of the plurality of film thermocouples 20. 3 and the other thin film thermocouple material 4 in the other film thermocouple 20 on the other side are connected to the output electrode (connecting terminal portion) 10, respectively. Is generated at the output electrode 10 which is the final end.
  • the output electrode 10 is made of the same material as the first thin film thermocouple material 3 described above, and is the same as the second thin film thermocouple material 4 directly below the output electrode 10 (on the pedestal portion 5 side). A reinforcing layer 21 made of a material is formed.
  • Each output electrode 10 is also buried in the insulating film 2 described above. In this case, the surface of the insulating film 2 and the surfaces of the film-like thermocouples 20 and the output electrodes 10 are formed flush with each other.
  • thermopile type radiation sensor 1 (Method for manufacturing thermopile type radiation sensor) Next, a manufacturing method of the thermopile type radiation sensor 1 having such a configuration will be described.
  • 2 to 7 are process diagrams showing a method for manufacturing a thermopile type radiation sensor.
  • 2A and 2B show a step of forming the release layer 13 (release layer forming step).
  • a substrate 12 made of a silicon wafer shown in FIG. 2A is prepared. Note that the material of the substrate 12 is not limited to silicon, and metal, glass, ceramics, or the like can be used.
  • a 2 ⁇ m thick copper thin film or the like is formed on the substrate 12 as a release layer 13 that can be easily peeled off from the substrate 12 by a vacuum deposition method.
  • 3A to 3C show a step of forming a first thin film pattern made of the first material constituting the first thin film thermocouple material 3 and the output electrode 10 (first thin film pattern forming step).
  • a resist layer 14 having openings 14a having the same pattern as that of the first thin film thermocouple material 3 and the output electrode 10 is formed by using a positive photoresist or the like.
  • a gold plating layer 15 having a thickness of 0.05 ⁇ m is formed in the opening 14a by electroplating.
  • the resist layer 14 is peeled to form the first thin film thermocouple material 3 and the output electrode 10 (surface layer) made of gold or the like.
  • FIG. 4A to 4C show a process of forming a thin film pattern made of the second material constituting the second thin film thermocouple material 4 and the reinforcing layer 21 of the output electrode 10 (second thin film pattern forming process). ).
  • a resist layer 18 having openings 18a having the same pattern as that of the second thin film thermocouple material 4 and the output electrode 10 is formed using a positive photoresist or the like.
  • a nickel plating layer 19 having a thickness of 0.05 ⁇ m is formed in the opening 18a by electroplating. Thereafter, as shown in FIG.
  • the resist layer 18 is peeled off, whereby the second thin film thermocouple material 4 made of nickel, the reinforcing layer 21 of the output electrode 10, and the first thin film thermocouple material 3. And the 1st contact 7 (refer FIG. 1A) and the 2nd contact 9 which are the thermocouple contacts of the 2nd thin film thermocouple material 4 are formed.
  • the film-like thermocouple 20 is formed by electroplating, the material is not limited to nickel plating, but is selected from gold, platinum, rhodium, iron, palladium, copper, or a material mainly composed of a material selected from these materials. Etc. can be used.
  • thermocouple 20 by depositing the film-like thermocouple 20 by electroplating, unlike the case of film formation using a vacuum film formation technique such as sputtering, it is not necessary to perform etching after film formation. In addition, there is no possibility that the film-shaped thermocouple 20 after film formation is side-etched. That is, the additive method can be adopted for the resist layers 14 and 18 in which the fine photoresist pattern (openings 14a and 18a) is formed, and the fine film-like thermocouple 20 can be obtained.
  • the thermopile type radiation sensor 1 with a large output voltage can be provided. Furthermore, by forming the output electrode 10 using the same material as the film thermocouple 20, the output electrode 10 can be formed simultaneously with the process of forming the film thermocouple 20.
  • thermopile type radiation sensor 1 when the thermopile type radiation sensor 1 is mounted on a wiring board to be described later, an output electrode is separately formed in order to electrically connect the output electrode 10 and the electrode pad of the wiring board by wire bonding or a conductive material. There is no need. Therefore, the mounting area can be reduced, and a small thermopile type radiation sensor 1 can be provided.
  • FIG. 5A and 5B show a process of forming the insulating film 2 that constitutes the light receiving section 6 and the heat radiating section 8 (film layer forming process).
  • an ultraviolet curable epoxy photoresist layer (film layer) 23 is applied by spin coating so as to have a thickness of 3 ⁇ m.
  • the photoresist layer 23 is exposed and developed to be patterned so as to have a planar view of the sensor, thereby forming the insulating film 2.
  • the thin film thermocouple materials 3 and 4 made of gold and the output electrode 10 are buried in the insulating film 2.
  • the insulating film 2 may use polyimide or the like.
  • FIG. 6A to 6E show a process of forming the pedestal 5 for radiating the heat from the second contact 9 of the film thermocouple 20 and keeping the temperature of the second contact 9 constant ( Pedestal forming step).
  • a conductive layer 25 is formed on the insulating film 2 by sequentially forming a chromium and copper thin film by sputtering or the like.
  • a resist layer 26 having an opening 26 a is formed on the conductive layer 25 by a dry film photoresist at a portion that becomes the pedestal 5. Then, as shown in FIG.
  • the resist layer 26 is peeled off as shown in FIG. 6D.
  • the pedestal portion 5 is formed by removing unnecessary portions of the conductive layer 25 by etching using the nickel plating layer 27 as a masking layer.
  • a sensor body having a plurality of film-like thermocouples 20, output electrodes 10, and pedestal portions 5 is formed on the release layer 13 in the insulating film 2.
  • FIGS. 7A to 7D show a process of peeling the sensor body from the interface between the substrate 12 and the release layer 13, and a process of removing the release layer 13 by etching (peeling process).
  • a part of the release layer 13 is removed by etching from the open portion (outer portion) of the insulating film 2.
  • FIG. 7C the substrate 12 is peeled off at the interface with the release layer 13, and further, as shown in FIG. 7D, the release layer 13 is removed by etching, whereby the film thermocouple 20 and the output electrode are removed.
  • the thermopile type radiation sensor 1 in which 10 is buried in the insulating film 2 is produced.
  • thermopile type radiation sensor 1 manufactured as described above includes an epoxy resin having a low thermal conductivity between the light receiving portion 6 in which the first contact 7 is disposed and the heat radiating portion 8 in which the second contact 9 is disposed. Therefore, a large temperature difference can be created between the first contact 7 and the second contact 9. Thereby, an output voltage can be made higher.
  • the film-like thermocouple 20 and the output electrode 10 are buried in the insulating film 2, the surface of the insulating film 2 becomes a flat surface. Therefore, it is possible to provide the thermopile type radiation sensor 1 that can increase the temperature uniformity of the light receiving unit 6 and can provide a stable output. Furthermore, since heat radiation due to the unevenness of the insulating film 2 can be minimized, the sensitivity can be further improved.
  • the heat radiating portion 8 of the insulating film 2 is supported by the pedestal portion 5 having sufficiently good thermal conductivity with respect to the insulating film 2.
  • heat is easily radiated from the second contact 9 of the film-shaped thermocouple 20 that needs to avoid the temperature rise as much as possible through the pedestal portion 5, so that the heat dissipation effect of the second contact 9 is enhanced.
  • the temperature rise of the 2nd contact 9 can be prevented, the temperature difference of the 1st contact 7 and the 2nd contact 9 can be enlarged, and the electromotive force of the film-like thermocouple 20 can be enlarged. can do.
  • the thermopile type radiation sensor 1 having a large output can be provided.
  • thermopile type radiation sensor 1 of this embodiment since the membrane structure is formed by the insulating film 2 mainly composed of resin, the ductility is higher than that of the conventional silicon compound thin film. Thereby, the stress by the heat
  • an insulating layer made of a thin film is formed by a CVD method or the like, it can be easily formed. Moreover, since expensive equipment, special gas, or the like is not used to form the insulating film 2, the equipment cost can be reduced.
  • FIG. 8A shows the thermopile type radiation sensor in the second embodiment from the direction of the thermopile forming surface
  • FIG. 8B is a drawing showing a cross section taken along line BB in FIG. 8A. As shown in FIGS.
  • the thermopile type radiation sensor 30 of the second embodiment includes an insulating film 31, a first thin film thermocouple material 32, a second thin film thermocouple material 33, The first connection layer 34 and the second connection layer 35 for joining the first thin film thermocouple material 32 and the second thin film thermocouple material 33, the first connection layer 34 and the second connection layer 34 It has an output electrode 36 made of the same material as the connection layer 35 and a pedestal portion 37, and includes a first thin film thermocouple material 32, a second thin film thermocouple material 33, a first connection layer 34, a second The connection layer 35 and the output electrode 36 are buried in the insulating film 31.
  • the insulating film 31 has the same configuration as that of the first embodiment described above.
  • the insulating film 31 has a heat radiating portion 39 supported by the pedestal portion 37 on the outer peripheral side thereof, and spans the pedestal portion 37 at the central portion.
  • a light receiving unit 38 for receiving light is not shown, the pedestal portion 37 is formed by laminating a nickel plating layer on the conductive layer by a plating method, as in the first embodiment described above.
  • first thin film thermocouple material 32 and the second thin film thermocouple material 33 include a first connection layer 34 disposed on the light receiving portion 38 and a second connection layer disposed on the heat radiating portion 39.
  • the film-shaped thermocouple 61 is configured by being connected to the connection layer 35.
  • the first thin film thermocouple material 32 and the second thin film thermocouple material 33 are connected so as to bridge between the first connection layer 34 and the second connection layer 35 alternately.
  • a plurality of pairs of film-like thermocouples 61 are connected in series to form a thermopile. Further, the voltage generated in the film-like thermocouple 61 is taken out by the output electrode 36 connected from the final end.
  • the output electrode 36 is made of a material different from the first thin film thermocouple material 32 and the second thin film thermocouple material 33, and the first thin film thermocouple material is directly below the output electrode 36.
  • a reinforcing layer 65 made of the same material as 32 is formed.
  • thermopile type radiation sensor 30 (Method for manufacturing thermopile type radiation sensor) Next, a manufacturing method of the thermopile type radiation sensor 30 having such a configuration will be described.
  • 9 to 12 are process diagrams showing a method for manufacturing a thermopile type radiation sensor.
  • 9A and 9B show a step of forming the release layer 41.
  • FIG. First, a substrate 40 having electrical conductivity such as stainless steel shown in FIG. 9A is prepared.
  • a copper plating film having a thickness of 5 ⁇ m is formed as a release layer 41 on the substrate 40 by electroplating. Since a very thin passive film is formed on the surface of the stainless steel (substrate 40), the copper plating film can be easily peeled mechanically.
  • connection layers 34 and 35 for joining the output electrode 36, the first thin film thermocouple material 32, and the second thin film thermocouple material 33 as the film thermocouple 61. Is shown.
  • a resist layer 42 is formed on the surface of the release layer 41 with a positive photoresist or the like so that the portions to be the output electrode 36 and the connection layers 34 and 35 become the openings 42a.
  • a gold plating layer 43 to be a surface portion of the output electrode 36 and the connection layers 34 and 35 is formed by electroplating.
  • the resist layer 42 is peeled off, and the output electrode 36 (surface layer) and the connection layers 34 and 35 are formed.
  • FIGS. 11A to 11C show a process of forming a first thin film pattern constituting the first thin film thermocouple material 32.
  • a resist layer 45 having openings 45a having the same pattern as that of the first thin-film thermocouple material 32 is formed using a positive photoresist or the like.
  • FIG. 11B after a nickel plating layer 46 having a thickness of 0.05 ⁇ m is formed in the opening 45a by electroplating, the resist layer 45 is peeled off as shown in FIG.
  • the nickel plating layer 46 is also formed on the connection layers 34 and 35 and the one output electrode 36, thereby forming the reinforcing layer 65 of the output electrode 36.
  • the first thin film thermocouple material 32 is formed so as to span between the connection layers 34 and 35.
  • FIG. 12A to 12C show a process of forming the second thin film thermocouple material 33.
  • FIG. 12A a resist layer 50 having openings 50a having the same pattern as that of the second thin film thermocouple material 33 is formed using a positive photoresist or the like.
  • a plating layer 51 made of a compound of bismuth and tellurium having a thickness of 0.5 ⁇ m is formed in the opening 50a from an aqueous nitric acid solution in which bismuth and tellurium are dissolved by electroplating.
  • the layer 50 is peeled off.
  • FIG. 12C a second thin film thermocouple material 33 made of bismuth and tellurium is formed.
  • thermopile type radiation sensor 30 shown in FIGS. 8A and 8B can be manufactured by passing through the same steps as those in the first embodiment.
  • nickel by electroplating is used as the first thin film thermocouple material 32
  • a compound of bismuth and tellurium, which is a typical thermocouple material is used as the second thin film thermocouple material 33.
  • antimony and tellurium compounds are deposited using an aqueous nitric acid solution by electroplating. If it is used as a thin film thermocouple material, a thermocouple with excellent performance can be formed.
  • thermopile type radiation sensor 30 having a large output voltage can be provided by adopting a compound containing bismuth or antimony which is a material having a large thermoelectromotive force and a small thermal conductivity as the thin film thermocouple material.
  • FIG. 13 is a plan view showing the radiation sensor of the third embodiment.
  • the bolometer 100 of the present embodiment includes a rectangular frame-type pedestal portion 105, an insulating film 102 disposed so as to cover one opening edge of the pedestal portion 105, and the insulating film 102. And a bolometer element (temperature sensing element) 103 embedded therein.
  • the insulating film 102 includes a heat radiating portion 108 supported by the pedestal portion 105 on the outer peripheral side, and a light receiving portion 106 that bridges the heat radiating portion 108 and has the bolometer element 103 embedded therein.
  • the bolometer element 103 is an infrared detection element that utilizes the property that the resistance value of a substance changes with temperature, and is made of a bolometer material such as vanadium oxide, for example.
  • the bolometer element 103 is formed to meander on the light receiving unit 106. Further, both end portions of the bolometer element 103 are drawn out to the heat radiating portion 108 and connected to the pair of output electrodes 110, respectively.
  • the bolometer element 103 and the output electrode 110 are buried in the insulating film 102, and the surface of the insulating film 102 and the surface of the bolometer element 103 and the output electrode 110 are formed flush with each other.
  • the same effects as those of the above-described embodiments can be obtained. That is, by applying the radiation sensor of the present invention to the bolometer 100, a temperature change in the bolometer element 103 can be detected with high accuracy. Therefore, the change in resistance value of the bolometer element 103 can be further increased, and the sensitivity can be improved. Further, since the bolometer element 103 is buried in the insulating film 102, the bolometer 100 capable of increasing the temperature uniformity around the bolometer element 103 and providing a stable output can be provided. In addition, the bolometer 100 of this embodiment can be manufactured through the process similar to 1st Embodiment mentioned above.
  • FIG. 14A is a plan view of a radiation sensor according to the fourth embodiment
  • FIG. 14B is a cross-sectional view taken along the line CC of FIG. 14A.
  • the radiation sensor of the present invention is the infrared sensor of each of the above-described embodiments.
  • it can be employed in general radiation sensors for detecting light as thermal radiation.
  • the sensor main body 200 includes a rectangular frame-type pedestal portion 205 and an insulating film disposed so as to cover one opening edge of the pedestal portion 205. 202 and a temperature sensing element 203 embedded in the insulating film 202.
  • the insulating film 202 includes a heat radiating portion 208 supported by the pedestal portion 205 on the outer peripheral side thereof, and a light receiving portion 206 that bridges the heat radiating portion 208 and in which the temperature sensing element 203 and the output electrode 210 are embedded.
  • the pedestal portion 205 is obtained by forming a nickel plating layer 227 on a conductive material 225 by a plating method (see FIG. 18D).
  • the infrared absorption film 220 is disposed on the surface (back surface 202b) opposite to the surface (front surface 202a) on which the temperature sensing element 203 is formed in the light receiving unit 206.
  • the infrared absorption film 220 is made of black fine particles such as gold, or a black metal oxide film such as carbon or chromium oxide, and is formed so as to cover the temperature sensing element 203 in a plan view. That is, the infrared absorption film 220 is formed on the opposite side of the temperature sensing element 203 with the light receiving portion 206 of the insulating film 202 interposed therebetween.
  • the sensor main body 200 of this embodiment can be manufactured through the manufacturing process similar to the thermopile type radiation sensor 1 in 1st Embodiment mentioned above.
  • the infrared absorption film 220 may be formed by vapor deposition or the like after the formation of the insulating film 2 or the pedestal portion 5 of the thermopile type radiation sensor 1 in the first embodiment described above (see FIGS. 5 and 6). it can.
  • the infrared absorption film 220 is formed on the light receiving unit 206, so that the infrared light irradiated from the measurement object is transmitted by the infrared absorption film 220. Will be absorbed. Therefore, the temperature of the temperature sensing element 203 can be quickly raised by the infrared rays absorbed by the infrared absorption film 220. Thereby, the sensitivity of the sensor main body 200 can be further improved.
  • the infrared absorption film 220 is formed on the opposite side of the temperature sensing element 203 with the light receiving portion 206 of the insulating film 202 having low thermal conductivity in between.
  • the thickness is sufficiently thin compared to the length in the surface direction of the insulating film 202, the heat absorbed by the infrared absorption film 220 is positively transmitted to the temperature sensing element 203, and the temperature sensing element 203. Can be heated.
  • the infrared absorption film 220 of this embodiment can also be formed on the surface 202a side of the light receiving unit 206.
  • an insulating film 221 is formed on the light receiving unit 206 so as to cover the temperature sensing element 203, and an infrared absorption film 220 is formed through the insulating film 221.
  • the infrared absorption film 220 and the insulating film 221 can be formed after the insulating film 2 is peeled from the peeling layer 13 in the manufacturing process described in the first embodiment.
  • the infrared absorption film 220 is directly formed on the temperature sensing element 203 without forming the insulating film 221. It doesn't matter.
  • FIG. 16A is a plan view of the radiation sensor of the fifth embodiment
  • FIG. 16B is a cross-sectional view taken along the line DD of FIG. 16A.
  • the same components as those in the above-described fourth embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • the radiation sensor 300 of this embodiment has a sensor body 200 mounted on a wiring board 301.
  • the wiring substrate 301 is made of glass epoxy or the like, and has a wiring pattern (not shown), a plurality of electrode pads 302 for electrically connecting the wiring pattern and the sensor body 200, and a ground film 303 formed on the surface.
  • the sensor body 200 has substantially the same configuration as that of the above-described fourth embodiment, and a through hole 230 penetrating in the thickness direction is formed in a region where the output electrode 210 is formed in the insulating film 202.
  • the through hole 230 is formed so as to reach the back side of the output electrode 210 from the back surface 202 b side of the insulating film 202.
  • a contact electrode 231 that electrically connects the output electrode 210 and the electrode pad 302 of the wiring substrate 301 is formed in the through hole 230.
  • One end side of the contact electrode 231 is connected to the back surface side of the output electrode 210, the other end side is drawn out from the back surface 202 b side of the insulating film 202 through the through hole 230, and the end surface on the other end side is a pedestal. It is formed so as to be flush with the end face of the portion 205.
  • the contact electrode 231 of the sensor main body 200 and the end surface of the base part 205 are connected to the electrode pad 302 and the ground film 303 of the wiring board 301, respectively.
  • the contact electrode 231 electrically connects the output electrode 210 of the sensor main body 200 and the electrode pad 302 of the wiring substrate 301, while the pedestal portion 205 is connected to the ground film 303, thereby It functions as a ground.
  • FIG. 17A and 17B show a process of forming an insulating film.
  • a photoresist layer 223 is formed so as to cover the temperature sensing element 203 and the output electrode 210 on the release layer 13.
  • the photoresist layer 223 is exposed and developed to be patterned so as to have a planar view of the sensor body 200, thereby forming an insulating film 202.
  • the through hole 230 is formed so as to expose the back surface side of the output electrode 210 from the back surface 202b side of the insulating film 202.
  • FIG. 18A to 18D show a process of forming the pedestal and the contact electrode.
  • a conductive layer 225 is formed on the insulating film 202 by sequentially forming a chromium and copper thin film by sputtering or the like.
  • a resist layer 226 having an opening 226 a is formed on the conductive layer 225 by dry film photoresist at portions that become the pedestal 205 and the contact electrode 231.
  • FIG. 18C after forming a nickel plating layer 227 by electroplating using the conductive layer 225, the resist layer 226 is peeled off as shown in FIG. 18D.
  • unnecessary portions of the conductive layer 225 are removed by etching, whereby the pedestal portion 205 and the contact electrode 231 are formed.
  • the sensor body 200 can be manufactured by removing the release layer 13 on the sensor body 200. Thereafter, the sensor body 200 manufactured in this way is mounted on the wiring board 301 using a conductive material such as solder. Specifically, the contact electrode 231 of the sensor body 200 and the electrode pad 302 of the wiring board 301 are connected, while the pedestal 205 and each ground film 303 of the wiring board 301 are connected. As described above, the radiation sensor 300 of this embodiment can be manufactured.
  • the pedestal portion of the sensor main body is fixed on the wiring board. Thereafter, it is necessary to connect the output electrode and the electrode pad of the wiring board by wire bonding or the like. Furthermore, since the sensor main body may be molded after wire bonding, this leads to an increase in the number of manufacturing steps and an increase in size of the radiation sensor itself in the thickness direction.
  • the through hole 230 is formed in the insulating film 202 and the contact electrode 231 that connects the output electrode 210 and the electrode pad 302 is formed in the through hole 230.
  • the sensor body 200 and the wiring board 301 can be mounted face-down, and the degree of freedom in mounting can be improved.
  • a gap is formed between the base portion 205 and the wiring substrate 301 by connecting the contact electrode 231 to the electrode pad 302.
  • the pedestal part 205 functions as a ground, and the heat transferred from the heat radiation part 208 of the insulating film 202 to the pedestal part 205. Can be effectively dissipated through the ground film 303.
  • FIGS. 19A and 19B You may form integrally with the part 205.
  • FIG. In this case, a pair of contact electrodes 250 are provided so as to surround the temperature sensing element 203 from both sides in plan view.
  • the contact electrode 250 can be enlarged as compared with the case where the contact electrode 231 and the pedestal portion 205 are formed separately, so that the electrical resistance of the contact electrode 250 is reduced and the sensor body 200 and the wiring board 301 ( It is possible to reduce electrical loss between the electrode pads 302).
  • 19A is a plan view showing another configuration of the radiation sensor
  • FIG. 19B is a cross-sectional view taken along the line EE of FIG. 19A.
  • FIG. 20A is a plan view of the radiation sensor according to the sixth embodiment
  • FIG. 20B is a cross-sectional view taken along the line FF of FIG. 20A.
  • the same components as those in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • a cavity (through hole) 310 penetrating in the thickness direction is formed in a region overlapping the temperature sensing element 203 in the wiring board 301.
  • the outer shape of the cavity 310 is formed larger than the outer shape of the temperature sensing element 203 in plan view. As a result, infrared rays incident on the cavity 310 from the back surface 301 a side of the wiring substrate 301 can be received by the temperature sensing element 203 of the sensor body 200.
  • the same effects as those of the above-described embodiment can be obtained, and infrared rays can be received from both sides of the sensor main body 200 by forming the cavity 310 in the wiring board 301.
  • the cavity 310 by opening a region that overlaps the sensor body 200 in the wiring substrate 301 as the cavity 310, it is possible to ensure thermal insulation between the temperature sensing element 203 and the outside.
  • the base part 205 and the contact electrode 231 can be formed as thin as possible within a range where the insulating film 202 and the wiring substrate 301 do not contact with each other, the radiation sensor 300 can be further thinned.
  • the pedestal portion 205 is formed by a plating method or the like, the manufacturing time of the pedestal portion 205 can be shortened.
  • FIG. 21A is a plan view of the radiation sensor of the seventh embodiment
  • FIG. 21B is a cross-sectional view of FIG. 21A.
  • the same components as those in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • a lens member (condensing lens) 311 is disposed on the back surface 301 a side of the wiring board 301 so as to cover the cavity 310.
  • the lens member 311 includes a frame body 312 disposed so as to surround the opening edge of the cavity 310 on the back surface 301 a of the wiring substrate 301, and a lens body 313 formed so as to cover the frame body 312. .
  • the lens body 313 is formed in the shape of a convex lens or a Fresnel lens, and is set so that the focal point is disposed on the temperature sensing element 203.
  • the focal length of the lens body 313 can be adjusted by appropriately changing the thicknesses of the wiring board 301, the frame body 312 and the like.
  • an infrared window 320 may be provided so as to cover the cavity 310.
  • the infrared window 320 has a filter function that transmits only infrared rays of the incident light from the outside and a condensing function that collects infrared rays. Thereby, the temperature change resulting from infrared rays can be accurately detected by the temperature sensing element 203.
  • FIG. 23 is a cross-sectional view showing the radiation sensor of the eighth embodiment.
  • the radiation sensor of this embodiment is different from the above-described embodiment in that the sensor main body is sealed in the package.
  • the radiation sensor 600 of this embodiment includes a wiring board 602 having a recess 601 and a lid member (case) 610 arranged to close the recess 601 of the wiring board 602. 611 and the sensor main body 200 is accommodated in the package 611.
  • the recess 601 is formed along the thickness direction of the wiring substrate 602, and the sensor body 200 is mounted on the bottom surface of the recess 601.
  • a cavity 612 that penetrates the wiring board 602 in the thickness direction is formed in the bottom surface of the recess 601 in a region that overlaps the temperature sensing element 203 of the sensor body 200, and the sensor body 200 has the bottom surface interposed therebetween.
  • a lens member 311 is disposed on the opposite side so as to cover the cavity 612.
  • the wiring board 602 is provided with a lid member 610 so as to close the recess 601.
  • the lid member 610 is a plate-like member formed of a light-shielding material (metal, resin material, or the like), and is formed to be equivalent to the outline of the wiring board 602 in plan view. It is glued. Thereby, the sensor main body 200 is sealed in the recess 601.
  • the design of the package 611 can be changed as appropriate, such as air sealing, nitrogen sealing, and vacuum sealing.
  • the same effects as those of the above-described embodiment are obtained, and since the concave portion 601 is sealed by the light-shielding lid member 610, infrared rays are incident only from the cavity 612 of the wiring board 602. become. That is, since the sensor body 200 receives only infrared rays from only one direction, infrared rays incident from a specific direction can be detected with high accuracy.
  • the recess 601 is formed in the wiring board 602.
  • the present invention is not limited to this, and the recess may be formed in the lid member 610.
  • the concrete structure is not restricted to this embodiment, The design change etc. of the range which does not deviate from the summary of this invention are included.
  • the above-described fourth to eighth embodiments and the first to third embodiments can be appropriately combined.
  • embodiment mentioned above demonstrated the case where the radiation sensor of this invention was employ
  • the heat radiating portion and the light receiving portion are configured by a continuous rectangular film.
  • the present invention is not limited thereto, and the heat radiating portion and the light receiving portion are separated and connected between each other by a beam portion. You may make it a structure.
  • the above-described warming element or the like can be formed not only by the electroplating method but also by using an electroless plating method.
  • the cavity 612 is formed in the wiring substrate 602 of the package 611 and the lens member 311 is disposed in the cavity 612.
  • the cavity is formed in the lid member 610. It doesn't matter.
  • thermopile type radiation sensor whose performance is improved by embedding at least a part of the temperature sensing element in a resin film and a method for manufacturing the same.

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Abstract

 この輻射センサは、電気的に絶縁性を有するフィルムと、前記フィルムの少なくとも一方の面側に配置された温感素子とを備える。前記フィルムは、樹脂を主成分とする材料で構成され、前記温感素子の一部または全体が前記フィルムに埋没している。

Description

輻射センサおよびその製造方法
 本発明は、赤外線等の輻射を検出するための温感素子を搭載した輻射センサとその製造方法とに関する。
 本願は2009年2月4日に日本に出願された特願2009-24041に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
 従来より、赤外線等の輻射を検出する輻射センサは、焦電型や、ボロメータ型、サーモパイル型等に大別される。これら輻射センサは、基本的なセンサ構造はほぼ同一であり、赤外線の輻射を検出する温感素子での検出原理の違いによって大別されている。
 これら輻射センサのうち、サーモパイル型輻射センサは、異なる2種類の導電性材料を接合することにより構成された熱電対(温感素子)を有し、受光領域で受光した輻射を熱に変換し、この熱を熱電対により発生する起電力により電気信号に変換して外部に取り出すようになっている。また、熱電対のうち、熱を検出する第1の接点は、熱容量が小さく、且つ、熱伝導性が低い材料からなるフィルム状の構造体の表面に形成されており、受光した輻射を熱に変換し、第2の接点との間にできるだけ大きな温度差を高速で発生させうるようになっている。一方、第2の接点は、第1の接点で得た熱を効率よく放熱するためにバルク材の表面に形成されている。なお、サーモパイル型輻射センサでは、出力電圧を上げるために上述した熱電対が複数直列に接続されている。
 このような構造を有するセンサの例として、単結晶シリコンからなる基板を基本構造体とし、このシリコン基板表面に形成されたシリコン窒化膜やシリコン酸化膜等のシリコン化合物薄膜を絶縁性フィルムとするセンサが知られている(例えば、特許文献1参照)。このようなセンサを製造する場合、まずシリコン基板表面にシリコン化合物薄膜からなる絶縁性層を形成するとともに、絶縁性層表面に熱電対を形成し、熱電対の第1の接点となる部分の絶縁性層直下のシリコン基板を裏面側からエッチングにより除去する。これにより、シリコン化合物薄膜の外周部分がシリコン基板で支持されたメンブレン構造のセンサが形成される。このメンブレン構造のセンサでは、第1の接点となる部分の熱容量を小さくし、且つ、第2の接点となる部分との熱絶縁を図ることができると考えられる。
日本国特許第3594923号公報 日本国特開2004-163407号公報
 上述したシリコン基板を基本構造体とするセンサでは、シリコン化合物薄膜からなる絶縁性層をシリコン基板表面に形成するために、CVD法とよばれる化学気相成長法を用いる。しかしながら、この方法では引火性や毒性が高い特殊なガスを使用すると同時に、非常に高価な装置を使用する。さらに、このシリコン化合物薄膜を自立したフィルム構造とする工程は非常に複雑、且つ、高価な設備を使用する。
 また、シリコン化合物薄膜の熱伝導率は、樹脂等の熱伝導率に比べ大きな値であるため、センサの受光領域に配置された熱電対の第1の接点と、放熱領域となるシリコン基板上に配置された第2の接点との間に大きな温度差を作りにくいという課題があった。
 また、熱電対として金属薄膜を用いる場合、シリコン化合物薄膜表面にスパッタリング等の真空成膜技術を使用して成膜するのが一般的であり、その後、成膜した金属薄膜を薬液によりフォトエッチングしてパターン化する。具体的には、まず金属薄膜上にレジスト層を形成し、フォトリソグラフィ技術を用いて露光・現像することで、金属薄膜における熱電対として残したい部分にレジストパターンを形成する。その後、レジストパターンをマスクとしてエッチングを行うことで、レジストパターンでマスクされた領域以外の領域の金属薄膜を除去する。この場合、エッチングの薬液がレジストパターンでマスクされた金属薄膜の側面から入り込んでサイドエッチング等が起こる虞がある。そのため、配線の幅や微細化の度合には限界があった。その結果、熱電対の対数を多くすることができず、温度差による起電力を大きくすることができなくなり、結果として検出感度を高くすることができなかった。
 さらに、上述した特許文献1の構成では、シリコン化合物薄膜上に熱電対等の温感素子を形成することで、センサ基板表面には凹凸ができ、表面積が増加する。そのため、大気への放熱量が多くなり、熱絶縁性が低下する。
 また、シリコン化合物薄膜が外周部分においてシリコンに支持されたメンブレン部分を有するメンブレン構造を採用しているため、メンブレン部分には、熱や歪みによって応力が集中する。そのため、シリコン化合物薄膜の強度を確保するためには、薄型化に限界がある。
 そこで、例えば特許文献2には、メンブレン部分における応力集中が発生する部位を回避領域として設定し、この回避領域を避けるように熱電対を配置する構成が開示されている。
 しかしながら、上述した特許文献2の構成では、メンブレン部分における一部の領域に作用する応力のみしか回避することができず、メンブレン部分全体の応力緩和を実現することは難しく、シリコン化合物薄膜の薄型化は相変わらず難しいのが現状である。
 本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、熱伝導が小さく、且つ、熱電対の対数を多くし、検出感度の向上を図ることができる輻射センサとその製造方法を提供することを目的とする。
 本発明は、上記課題を解決するため、以下の手段を採用する。
(1)本発明に係る輻射センサは、電気的に絶縁性を有するフィルムと;前記フィルムの少なくとも一方の面側に配置された温感素子と;を備えた輻射センサであって、前記フィルムが、樹脂を主成分とする材料で構成され;前記温感素子の一部または全体が、前記フィルムに埋没している。
 この発明によれば、輻射センサのうち受光部(温感素子の形成領域)が、熱伝導率の低い樹脂のフィルムで構成されているので、温感素子とそれ以外の領域とでの温度差を大きく取ることができる。そのため、輻射センサの感度をより大きくすることができる。
 しかも、この発明の構成によれば、温感素子がフィルムに埋没されているため、この埋没部分のフィルムの表面は平坦面となる。そのため、受光部の温度均一性が高まり、安定的な出力を与えることができる輻射センサを提供できる。さらに、フィルムの凹凸による放熱が最小化できるため、さらに感度を向上させることができる。
(2)上記(1)に記載の輻射センサでは、前記温感素子が、2種類の膜状材料が接合されてなる複数対の膜状熱電対が、前記フィルムの面方向に沿って交互に直列に接合されてなり;前記複数対の膜状熱電対のうち、第1の膜状熱電対における第1の膜状材料の一端側と、前記第1の膜状熱電対における第2の膜状材料の一端側とが接続された第1の接点が、前記フィルムの中央部に配置される一方、前記第1の膜状熱電対における前記第1の膜状材料の他端側と、前記第1の膜状熱電対に隣接する第2の膜状熱電対における前記第2の膜状材料の他端側とが接続された第2の接点が、前記フィルムの外周部分に配置されている;構成を採用してもよい。
 この発明の輻射センサをサーモパイル型輻射センサに適用することで、受光により温度上昇が生ずる膜状熱電対の第1の接点とこれと対をなす第2の接点との間の温度差を大きく取ることができるため、出力電圧をより大きくすることができる。また膜状熱電対が樹脂フィルムに埋没しているので、受光部(膜状熱電対の周辺)の温度均一性が高まり、安定的な出力を与えることができるサーモパイル型輻射センサを提供できる。
(3)上記(2)に記載の輻射センサでは、前記膜状熱電対を構成する前記膜状異種材料のうち、少なくとも一方がめっき法により析出される材料であってもよい。
 この発明によれば、サーモパイル型の輻射センサを構成する膜状熱電対のうち少なくとも一方がめっき法により析出される材料であることから、微細なフォトレジストパターンに対してアディティブ法を採用でき、微細な熱電対とすることができる。その結果、対数が多く、出力電圧が大きいサーモパイル型輻射センサを提供できる。
(4)上記(3)に記載の輻射センサでは、前記めっき法により析出される材料が、ニッケル、金、白金、ロジウム、鉄、パラジウム、銅から選ばれる材料、またはこれらから選ばれる材料を主成分とする材料であってもよい。
 この発明によれば、上述した材料により膜状熱電対を形成することで、めっき法により微細なパターンの膜状熱電対を形成することができる。
(5)上記(3)に記載の輻射センサでは、前記めっき法により析出される材料が、ビスマスまたはアンチモンを含む化合物であってもよい。
 この発明によれば、薄膜状熱電対材料として熱起電力が大きく、熱伝導率が小さな材料であるビスマスまたはアンチモンを含む化合物を採用しているので、大きな出力電圧を有するサーモパイル型輻射センサを提供できる。
(6)上記(1)に記載の輻射センサでは、前記温感素子が、温度変化によって抵抗値が変化するボロメータ素子からなるものとしてもよい。
 この発明の輻射センサをボロメータに適用することで、ボロメータ素子での温度変化を高精度に検出することができる。そのため、ボロメータ素子の抵抗値の変化をより大きくすることができる。またボロメータ素子がフィルムに埋没しているので、ボロメータ素子周辺の温度均一性が高まり、安定的な出力を与えることが可能なボロメータを提供できる。
(7)上記(1)~(6)の何れか1項に記載の輻射センサでは、前記フィルムの他方の面における外周部分に、台座部が形成されていてもよい。
 この発明によれば、輻射センサが台座部を介して配線基板等に実装されることになるので、温感素子が配線基板等に対して離間配置されることになる。そのため、温感素子の熱絶縁性を確保することができる。
(8)上記(7)に記載の輻射センサでは、前記台座部が、めっき法により析出される金属からなるものとしてもよい。
 この発明によれば、例えば温感素子に膜状熱電対を採用した場合には、温度上昇を極力避ける必要がある膜状熱電対の第2の接点から台座部を伝って熱が放熱され易くなる。そのため、第2の接点の温度上昇を防ぐことができるので、第1の接点と第2の接点との温度差が大きくなり、膜状熱電対の起電力を大きくすることができる。その結果、高出力の輻射センサを提供できる。
(9)上記(7)に記載の輻射センサでは、前記フィルムに、前記温感素子を外部に電気的接続する接続用端子部が、前記温感素子の端部から連続的に形成されていてもよい。
 この発明によれば、ワイヤボンディングや導電性物質で外部に電気的接続するための接続用端子部を、温感素子と同じ材料を用いて連続的に構成することで、温感素子の形成工程と同時に接続用端子部を形成することができる。そのため、別途、接続用端子部を形成する必要が無い。その結果、実装面積を小さくすることができ、より小型の輻射センサを提供できる。
(10)上記(9)に記載の輻射センサでは、前記接続用端子部を外部に電気的接続するコンタクト電極が、前記接続用端子部から前記フィルムの前記他方の面側に引き出されていてもよい。
 この発明によれば、接続用端子部を外部に接続するコンタクト電極を形成することで、フェースダウン実装が容易になり、実装自由度の向上を図ることができる。
(11)上記(9)に記載の輻射センサでは、前記コンタクト電極と前記台座部とが一体的に形成されていてもよい。
 この発明によれば、コンタクト電極と台座部とを別体で形成する場合に比べてコンタクト電極を拡大することができるので、コンタクト電極の電気抵抗を低減させて温感素子と配線基板との間の電気的ロスを低減することができる。
(12)上記(9)に記載の輻射センサでは、前記台座部が実装されるとともに、前記温感素子に電気的接続される配線パターンが形成された配線基板をさらに備え;前記配線基板における前記温感素子と重なる領域に、前記配線基板を貫通する貫通孔が形成されている;構成を採用してもよい。
 この発明によれば、配線基板に貫通孔を形成することで、温感素子の両面側から赤外線等を受光することができる。しかも、配線基板における温感素子と重なる領域を貫通孔として開放することで、温感素子と外部との熱絶縁性を確保することができる。これにより、台座部やコンタクト電極を、フィルムと配線基板とが接触しない範囲で可能な限り薄く形成することができるため、輻射センサの更なる薄型化を図ることができる。また、台座部をめっき法等で形成する場合に、台座部の製造時間を短縮することができる。
(13)上記(12)に記載の輻射センサは、前記配線基板に、前記貫通孔を覆うように配置され、前記温感素子に赤外線を集光させる集光レンズが設けられている構成を採用してもよい。
 この発明によれば、集光レンズに入射した赤外線を温感素子に向けて集光することができるため、赤外線を広範囲に亘って受光することができ、輻射センサの感度を向上させることができる。
(14)上記(12)に記載の輻射センサでは、前記配線基板に、前記貫通孔を覆うように配置され、前記温感素子に入射する赤外線のみを透過させる赤外窓が設けられている構成を採用してもよい。
 この発明によれば、赤外線のみを透過させることができるので、温感素子によって赤外線に起因する温度変化を正確に検出することができる。
(15)上記(12)に記載の輻射センサでは、前記配線基板に、前記貫通孔のみから前記温感素子が露出するように前記温感素子を覆うケースが設けられていてもよい。
 この発明によれば、温感素子がケースに封止されているため、配線基板の貫通孔からのみ赤外線が入射することになる。すなわち、温感素子では、一方向のみからの赤外線しか受光しないため、特定方向から入射する赤外線を高精度に検出することができる。
(16)上記(1)に記載の輻射センサでは、前記フィルムにおける前記温感素子と重なる領域に赤外吸収膜が配置されていてもよい。
 この発明によれば、被測定物から照射される赤外線が赤外吸収膜によって吸収されることになる。そのため、赤外吸収膜で吸収した赤外線によって、温感素子を速やかに温度上昇させることができる。これにより、温感素子の感度をさらに向上させることができる。
(17)本発明に係る輻射センサの製造方法は、基板上に、温感素子を形成する温感素子形成工程と;前記温感素子を覆うように、電気的に絶縁性を有する樹脂を主成分とするフィルム層を形成するフィルム層形成工程と;前記基板から前記温感素子及び前記フィルム層からなる接合体を剥離する剥離工程と;を有する。
 この発明によれば、基板上に形成された温感素子上に樹脂を主成分とするフィルム層を形成することにより、温感素子をフィルム層内に埋没させることができる。次いで、基板からこれらの接合体を分離することにより、温感素子がフィルム層に埋没された輻射センサを製造することができる。
(18)本発明に係る他の輻射センサの製造方法は、基板の一方の面に、剥離層を形成する剥離層形成工程と;前記剥離層上に温感素子を形成する温感素子形成工程と;前記温感素子を覆うように、電気的に絶縁性を有する樹脂を主成分とするフィルム層を形成するフィルム層形成工程と;前記温感素子及び前記フィルム層からなる接合体及び前記剥離層を、前記基板と前記剥離層との界面から分離する工程と;前記接合体から前記剥離層を除去する工程と;有する。
 この発明によれば、基板との分離が容易である剥離層を形成し、この剥離層上に形成された温感素子上にフィルム層を形成することにより、温感素子をフィルム層に埋没させることができる。次いで、接合体を剥離層と一体分離することで、基板から接合体を容易に分離することができる。その後、剥離層をエッチング等の手段により除去することにより、温感素子が樹脂製フィルムに埋没された輻射センサを製造することができる。
(19)上記(17)または(18)に記載の輻射センサの製造方法は、前記フィルム層形成工程の後段に、前記フィルム層上に台座部を形成する台座部形成工程をさらに有してもよい。
 この発明によれば、輻射センサが台座部を介して配線基板等に実装されることになるので、温感素子が配線基板等に対して離間配置されることになる。そのため、温感素子の熱絶縁性を確保することができる。
(20)上記(17)に記載の輻射センサの製造方法では、前記温感素子工程が、膜状熱電対を構成する第1の材料からなる第1薄膜パターンを形成する第1薄膜パターン形成工程と;前記膜状熱電対を構成する第2の材料からなる第2薄膜パターンを形成する第1薄膜パターン形成工程と;を有してもよい。
 この発明によれば、膜状熱電対がフィルム層に埋没されたサーモパイル型輻射センサを製造することができる。
(21)上記(20)に記載の輻射センサの製造方法では、前記温感素子形成工程が、前記第1薄膜パターン及び前記第2薄膜パターンのうち、少なくとも一方がフォトレジスト膜によりパターンが形成された開口部にめっき法により形成されるめっき工程を含んでもよい。
 この発明によれば、温感素子をフォトレジスト等によりパターニングされた開口部にめっき法、すなわち、アディティブ法と呼ばれる手法により形成することで、非常に微細かつ高密度な温感素子を形成することができる。これにより、例えば温感素子に膜状熱電対を採用した場合には、単位面積当たりの熱電対数を非常に多くすることができ、非常に多くの対数を直列に配置・配線された膜状熱電対を形成できる。その結果、出力電圧が大きく小型のサーモパイル型輻射センサが製造される。
 本発明によれば、温感素子の少なくとも一部が樹脂フィルムに埋没されることにより性能が向上されたサーモパイル型輻射センサとその製造方法を提供することができる。
本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサをサーモパイル形成面方向から示す平面図である。 図1AにおけるA-Aに沿う断面図である。 発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、剥離層を形成する工程を示す説明図である。 発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、剥離層を形成する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第1の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第1の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第1の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第2の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第2の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第2の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、受光部等を構成することとなる電気的に絶縁性を有する樹脂を主成分とする層を形成する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、受光部等を構成することとなる電気的に絶縁性を有する樹脂を主成分とする層を形成する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対の第2の接点からの熱を放熱し、第2の接点の温度を一定に保つための金属部を形成する工程示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対の第2の接点からの熱を放熱し、第2の接点の温度を一定に保つための金属部を形成する工程示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対の第2の接点からの熱を放熱し、第2の接点の温度を一定に保つための金属部を形成する工程示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対の第2の接点からの熱を放熱し、第2の接点の温度を一定に保つための金属部を形成する工程示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対の第2の接点からの熱を放熱し、第2の接点の温度を一定に保つための金属部を形成する工程示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、基板と剥離層を引き剥がす工程と剥離層を除去する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、基板と剥離層を引き剥がす工程と剥離層を除去する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、基板と剥離層を引き剥がす工程と剥離層を除去する工程を示す説明図である。 本発明の第1実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、基板と剥離層を引き剥がす工程と剥離層を除去する工程を示す説明図である。 第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサをサーモパイル形成面方向から示す平面図である。 図8AにおけるB-Bに沿う断面図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、剥離層を形成する工程を示す説明図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、剥離層を形成する工程を示す説明図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、出力電極と接続層を形成する工程を示す説明図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、出力電極と接続層を形成する工程を示す説明図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、出力電極と接続層を形成する工程を示す説明図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第1の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第1の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第1の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第2の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第2の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第2実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、膜状熱電対を構成する第2の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示す説明図である。 本発明の第3実施形態の輻射センサを示す平面図である。 本発明の第4実施形態における輻射センサの形成面方向を示す平面図である。 図14AのC-C線に沿う断面図である。 本発明の第4実施形態における他の構成を示す断面図である。 本発明の第5実施形態における輻射センサの形成面方向を示す平面図である。 図16AのD-D線に沿う断面図である。 本発明の第5実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、絶縁性フィルムを形成する工程を示している。 本発明の第5実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、絶縁性フィルムを形成する工程を示している。 本発明の第5実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、台座部及びコンタクト電極を形成する工程を示している。 本発明の第5実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、台座部及びコンタクト電極を形成する工程を示している。 本発明の第5実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、台座部及びコンタクト電極を形成する工程を示している。 本発明の第5実施形態に係るサーモパイル型輻射センサを作製するための工程のうち、台座部及びコンタクト電極を形成する工程を示している。 輻射センサの他の構成を示す平面図である。 図19AのE-E線に沿う断面図である。 第6実施形態の輻射センサの形成面方向を示す平面図である。 図20AのF-F線に沿う断面図である。 第7実施形態の輻射センサの形成面方向を示す平面図である。 図21Aの断面図である。 本発明の第7実施形態における輻射センサの他の構成を示す断面図である。 本発明の第8実施形態の輻射センサを示す断面図である。
(第1実施形態)
 本発明に係る第1実施形態について、図面に基づいて説明する。
 (サーモパイル型輻射センサ)
 図1Aは、本発明の第1実施形態であるサーモパイル型輻射センサをサーモパイル形成面方向から示したものであり、図1Bは、図1AにおけるA-Aに沿う断面を表す図面である。
 図1A,図1Bに示すように、サーモパイル型輻射センサ1は、絶縁性フィルム(フィルム)2と、第1の薄膜状熱電対材料3及び第2の薄膜状熱電対材料4が対となって構成された複数の膜状熱電対20と、台座部5とを有し、膜状熱電対20は絶縁性フィルム2の中に埋没している。
 台座部5は、中央に貫通孔5aを有する矩形枠型形状のものであり、その一方側の開口縁を覆うように絶縁性フィルム2が形成されている。なお、台座部5は、導電層25上にニッケルめっき層27が形成されたものである。
 絶縁性フィルム2は、電気的に絶縁性を有する樹脂を主成分とする材料(例えば、紫外線硬化型のエポキシ系フォトレジスト)で構成された平面視(厚さ方向から見て)矩形状のものである。絶縁性フィルム2は、その外周側において台座部5に支持された放熱部8と、中央部において台座部5に架け渡されるとともに、赤外線の輻射を受光する受光部6とを構成している。すなわち、本実施形態のサーモパイル型輻射センサ1は、絶縁性フィルム2の外周部分が台座部5に支持されたメンブレン構造をとっている。
 また、複数対の膜状熱電対20は、第1の薄膜状熱電対材料3及び第2の薄膜状熱電対材料4が交互に直列接続されることでサーモパイルを構成している。具体的に、各膜状熱電対20は、一の膜状熱電対20における第1の薄膜状熱電対材料3の一端側と、一の膜状熱電対20における第2の薄膜状熱電対材料4の一端側とが接続された第1の接点7が絶縁性フィルム2の受光部6上に配置される一方、一の膜状熱電対20における第1の薄膜状熱電対材料3の他端側と、一の膜状熱電対20に隣接する膜状熱電対20における第2の薄膜状熱電対材料4の他端側とが接続された第2の接点9が絶縁性フィルム2の放熱部8上に配置されている。すなわち、本実施形態では、複数対の第1の薄膜状熱電対材料3及び第2の薄膜状熱電対材料4が、絶縁性フィルム2の周方向に沿って受光部6と放熱部8との間を蛇行するように交互に配列されている。これにより、複数の膜状熱電対20が直列接続された状態で絶縁性フィルム2内に埋没されている。
 そして、複数の膜状熱電対20の最終端(絶縁性フィルム2の周方向両側に配置された膜状熱電対20のうち、一方側の膜状熱電対20における第1の薄膜状熱電対材料3、及び他方側の膜状熱電対20における第2の薄膜状熱電対材料4の他端側)には、それぞれ出力電極(接続用端子部)10に接続されており、膜状熱電対20に発生する電圧は、最終端である出力電極10にて取り出されるようになっている。なお、出力電極10は、上述した第1の薄膜状熱電対材料3と同じ材料により構成され、出力電極10の直下(台座部5側)には、第2の薄膜状熱電対材料4と同じ材料からなる補強層21が形成されている。そして、各出力電極10も、上述した絶縁性フィルム2内に埋没されている。この場合、絶縁性フィルム2の表面と各膜状熱電対20及び出力電極10の表面とは面一に形成されている。
 (サーモパイル型輻射センサの製造方法)
 次に、このような構成からなるサーモパイル型輻射センサ1の製造方法について説明する。図2から図7は、サーモパイル型輻射センサの製造方法を示す工程図である。
 図2A,図2Bは剥離層13を形成する工程を示めしている(剥離層形成工程)。
 まず図2Aに示すシリコンウエハからなる基板12を用意する。なお、基板12の材料は、シリコンに限らず、金属、ガラス、セラミックス等を用いることが可能である。図2Bに示すように、基板12上に基板12から容易に引き剥がすことができる剥離層13として、銅薄膜等を真空蒸着法により2μm形成する。
 図3A~図3Cは、第1の薄膜状熱電対材料3及び出力電極10を構成する第1の材料からなる第1薄膜パターンを形成する工程を示している(第1薄膜パターン形成工程)。
 図3Aに示すように、ポジ型フォトレジスト等により、第1の薄膜状熱電対材料3及び出力電極10と同じパターンの開口部14aを有するレジスト層14を形成する。次いで、図3Bに示すように、電気めっき法により開口部14aに0.05μmの厚みを有する金めっき層15を形成する。その後、図3Cに示すように、レジスト層14を剥離することにより、金等からなる第1の薄膜状熱電対材料3及び出力電極10(表面層)を形成する。
 図4A~図4Cは、第2の薄膜状熱電対材料4及び出力電極10の補強層21を構成する第2の材料からなる薄膜パターンを形成する工程を示している(第2薄膜パターン形成工程)。
 図4Aに示すように、ポジ型フォトレジスト等により、第2の薄膜状熱電対材料4及び出力電極10と同じパターンの開口部18aを有するレジスト層18を形成する。次いで、図4Bに示すように、電気めっき法により開口部18aに0.05μmの厚みを有するニッケルめっき層19を形成する。その後、図4Cに示すように、レジスト層18を剥離することにより、ニッケルからなる第2の薄膜状熱電対材料4と出力電極10の補強層21、さらに、第1の薄膜状熱電対材料3及び第2の薄膜状熱電対材料4の熱電対接点である第1の接点7(図1A参照)及び第2の接点9を形成する。なお、膜状熱電対20を電気めっき法により形成する場合、ニッケルめっきに限らず、金、白金、ロジウム、鉄、パラジウム、銅から選ばれる材料または、これらから選ばれる材料を主成分とする材料等を用いることが可能である。
 このように、膜状熱電対20を電気めっき法により析出することで、スパッタリング等の真空成膜技術を用いて成膜する場合と異なり、成膜後にエッチングを施す必要がないので、上述したように成膜後の膜状熱電対20がサイドエッチングされる虞がない。すなわち、微細なフォトレジストパターン(開口部14a,18a)が形成されたレジスト層14,18に対してアディティブ法を採用でき、微細な膜状熱電対20とすることができるので、対数が多く、出力電圧が大きいサーモパイル型輻射センサ1を提供できる。
 さらに、膜状熱電対20と同じ材料を用いて出力電極10を構成することで、膜状熱電対20の形成工程と同時に出力電極10を形成することができる。よって、サーモパイル型輻射センサ1を後述する配線基板に実装する際、出力電極10と配線基板の電極パッドとをワイヤボンディングや導電性物質で電気的に接続するために、別途、出力電極を形成する必要が無い。そのため、実装面積を小さくすることができ、小型のサーモパイル型輻射センサ1を提供できる。
 図5A,図5Bは、受光部6及び放熱部8等を構成することとなる絶縁性フィルム2を形成する工程を示している(フィルム層形成工程)。
 図5Aに示すように、紫外線硬化型のエポキシ系フォトレジスト層(フィルム層)23をスピンコート法により厚みが3μmとなるように塗布する。その後、図5Bに示すように、フォトレジスト層23に対して露光・現像を行うことによりセンサの平面視外形となるようにパターニングし、絶縁性フィルム2を形成する。このとき、金からなる薄膜状熱電対材料3,4及び出力電極10は、絶縁性フィルム2内に埋没することとなる。なお、絶縁性フィルム2はポリイミド等を用いても構わない。
 図6A~図6Eは、膜状熱電対20の第2の接点9からの熱を放熱し、第2の接点9の温度を一定に保つための台座部5を形成する工程を示している(台座部形成工程)。
 図6Aに示すように、スパッタリング等によりクロム、銅薄膜を順次形成することにより絶縁性フィルム2上に導電層25を形成する。次に、図6Bに示すように、導電層25上にドライフィルムフォトレジストにより台座部5となる部分に開口部26aを有するレジスト層26を形成する。そして、図6Cに示すように、導電層25を利用して、電気めっき法により30μmの厚みを有するニッケルめっき層27を形成した後、図6Dに示すように、レジスト層26を剥離する。次いで、図6Eに示すように、ニッケルめっき層27をマスキング層として、導電層25のうち不要な部分をエッチングにより除去することにより、台座部5を形成する。これにより、絶縁性フィルム2内に複数の膜状熱電対20及び出力電極10と台座部5とを有するセンサ本体部が剥離層13上に形成される。
 図7A~図7Dは、基板12と剥離層13の界面からセンサ本体部を引き剥がす工程と、剥離層13をエッチングにより除去する工程を示している(剥離工程)。
 図7A,図7Bに示すように、絶縁性フィルム2の開口している部分(外側部分)から剥離層13の一部をエッチングにより除去する。次いで、図7Cに示すように、基板12を剥離層13との界面で引き剥がし、さらに、図7Dに示すように、エッチングにより剥離層13を除去することにより、膜状熱電対20及び出力電極10が絶縁性フィルム2に埋没したサーモパイル型輻射センサ1が作製される。
 以上のように作製されたサーモパイル型輻射センサ1は、第1の接点7が配置された受光部6と、第2の接点9が配置された放熱部8とが熱伝導率の低いエポキシ樹脂等からなる絶縁性フィルム2であることから、第1の接点7と第2の接点9との間に大きな温度差を作ることができる。これにより、出力電圧をより高くすることができる。同時に、膜状熱電対20や出力電極10が絶縁性フィルム2に埋没されているため、絶縁性フィルム2の表面は平坦面となる。そのため、受光部6の温度均一性が高まり、安定的な出力を与えることができるサーモパイル型輻射センサ1を提供できる。さらに、絶縁性フィルム2の凹凸による放熱が最小化できるため、さらに感度を向上させることができる。
 また、台座部5を金属材料で形成することで、絶縁性フィルム2の放熱部8が絶縁性フィルム2に対して十分熱伝導性が良い台座部5に支持されることになる。その結果、温度上昇を極力避ける必要がある膜状熱電対20の第2の接点9から台座部5を伝って熱が放熱され易くなるため、第2の接点9の放熱効果が高まる。これにより、第2の接点9の温度上昇を防ぐことができるので、第1の接点7と第2の接点9との温度差を大きくすることができ、膜状熱電対20の起電力を大きくすることができる。その結果、大きな出力を有するサーモパイル型輻射センサ1を提供できる。
 さらに、本実施形態のサーモパイル型輻射センサ1では、樹脂を主成分とする絶縁性フィルム2によってメンブレン構造を形成しているため、従来のシリコン化合物薄膜に比べて延性が高い。これにより、絶縁性フィルム2に作用する熱や歪みによる応力を緩和することができる。その結果、絶縁性フィルム2を従来よりも薄く形成することができ、サーモパイル型輻射センサ1の小型化を図ることができる。
 しかも、本実施形態の絶縁性フィルム2は、フォトレジスト層23をスピンコート法により塗布した後、フォトリソグラフィ技術を用いて露光・現像行なうことで形成することができるので、従来のようにシリコン化合物薄膜からなる絶縁性層をCVD法等により形成する場合に比べて、簡単に形成することができる。また、絶縁性フィルム2を形成するために、高価な設備や特殊なガス等を用いることもないので、設備コストの低減も図ることができる。
(第2実施形態)
 本発明に係る第2実施形態について、図面に基づいて説明する。
 (サーモパイル型輻射センサ)
 図8Aは、第2実施形態におけるサーモパイル型輻射センサをサーモパイル形成面方向から示したものであり、図8Bは、図8AにおけるB-Bに沿う断面を表す図面である。
 図8A,図8Bに示すように、第2実施形態のサーモパイル型輻射センサ30は、絶縁性フィルム31と、第1の薄膜状熱電対材料32と、第2の薄膜状熱電対材料33と、第1の薄膜状熱電対材料32と第2の薄膜状熱電対材料33とを接合するための第1の接続層34及び第2の接続層35と、第1の接続層34及び第2の接続層35と同じ材料からなる出力電極36と、台座部37とを有し、第1の薄膜状熱電対材料32、第2の薄膜状熱電対材料33、第1の接続層34、第2の接続層35及び出力電極36は、絶縁性フィルム31の中に埋没している。
 絶縁性フィルム31は、上述した第1実施形態と同様の構成からなり、その外周側において台座部37に支持された放熱部39と、中央部において台座部37に架け渡されるとともに、赤外線の輻射を受光する受光部38とを構成している。なお、図示しないが台座部37は、上述した第1実施形態と同様に、導電層上にめっき法によりニッケルめっき層が積層されてなる。
 また、第1の薄膜状熱電対材料32及び第2の薄膜状熱電対材料33は、受光部38上に配置された第1の接続層34と、放熱部39上に配置された第2の接続層35とによって接続されて膜状熱電対61を構成している。具体的に、第1の薄膜状熱電対材料32と第2の薄膜状熱電対材料33が、第1の接続層34及び第2の接続層35間を交互に架け渡すように接続されることで、複数対の膜状熱電対61が直列接続されサーモパイルを形成している。
 さらに、膜状熱電対61に発生する電圧は、最終端から接続されている出力電極36にて取り出されるようになっている。なお、出力電極36は、第1の薄膜状熱電対材料32と第2の薄膜状熱電対材料33とは異なった材料から構成され、出力電極36の直下には第1の薄膜状熱電対材料32と同じ材料からなる補強層65が形成されている。
 (サーモパイル型輻射センサの製造方法)
 次に、このような構成からなるサーモパイル型輻射センサ30の製造方法について説明する。図9から図12は、サーモパイル型輻射センサの製造方法を示す工程図である。
 図9A,図9Bは、剥離層41を形成する工程を示している。
 まず、図9Aに示すステンレス等、電気伝導性を有する基板40を用意し、図9Bに示すように、基板40上に、剥離層41として電気めっき法により厚み5μmの銅めっき膜を形成する。なお、ステンレス(基板40)表面には、非常に薄い不動態膜が形成されているため、この銅めっき膜は機械的に容易に剥離できる。
 図10A~図10Cは、出力電極36と第1の薄膜状熱電対材料32と第2の薄膜状熱電対材料33を膜状熱電対61として接合するための接続層34,35を形成する工程を示している。
 まず、図10Aに示すように、剥離層41の表面に出力電極36と接続層34,35となるべき部分が開口部42aとなるように、ポジ型フォトレジスト等によりレジスト層42を形成する。次いで、図10Bに示すように、電気めっき法により出力電極36及び接続層34,35の表面部分となるべき金めっき層43を形成する。その後、図10Cに示すように、レジスト層42を剥離し、出力電極36(表面層)及び接続層34,35を形成する。
 図11A~図11Cは、第1の薄膜状熱電対材料32を構成する第1薄膜パターンを形成する工程を示している。
 図11Aに示すように、ポジ型フォトレジスト等により第1の薄膜状熱電対材料32と同じパターンの開口部45aを有するレジスト層45を形成する。次いで、図11Bに示すように、電気めっき法により開口部45aに0.05μmの厚みを有するニッケルめっき層46を形成した後、図11Cに示すように、レジスト層45を剥離することにより、ニッケルからなる第1の薄膜状熱電対材料32を形成すると同時に、接続層34,35及び一方の出力電極36上にもニッケルめっき層46を形成することにより、出力電極36の補強層65が形成されるとともに、接続層34,35間を掛け渡すように第1の薄膜状熱電対材料32が形成される。
 図12A~図12Cは、第2の薄膜状熱電対材料33を形成する工程を示している。
 図12Aに示すように、ポジ型フォトレジスト等により第2の薄膜状熱電対材料33と同じパターンの開口部50aを有するレジスト層50を形成する。次いで、図12Bに示すように、ビスマスとテルルを溶解した硝酸水溶液から、電気めっき法により開口部50aに0.5μmの厚みを有するビスマスとテルルの化合物からなるめっき層51を形成した後、レジスト層50を剥離する。これにより、図12Cに示すように、ビスマスとテルルからなる第2の薄膜状熱電対材料33を形成する。
 この工程以降は、第1の実施の形態と同様の工程を通すことにより、図8A,図8Bに示したサーモパイル型輻射センサ30を製造することができる。
 この実施の形態では、第1の薄膜状熱電対材料32として、電気めっきによるニッケルを用い、第2の薄膜状熱電対材料33として、熱電対材料として代表的な材料であるビスマスとテルルの化合物を電気めっき法により形成したが、薄膜状の熱電対材料として、その他の材料も使用することも可能であり、特に電気めっき法によりアンチモンとテルルの化合物を、硝酸水溶液等を利用して析出し、薄膜状熱電対材料として用いれば、さらに、優れた性能の熱電対を形成することができる。このように、薄膜状熱電対材料として熱起電力が大きく、熱伝導率が小さな材料であるビスマスまたはアンチモンを含む化合物を採用することで、大きな出力電圧を有するサーモパイル型輻射センサ30を提供できる。
(第3実施形態)
 次に、本発明の第3実施形態について説明する。図13は、第3実施形態の輻射センサを示す平面図である。なお、本実施形態では、本発明の輻射センサをボロメータに採用する点で、上述した各実施形態と相違している。
 図13に示すように、本実施形態のボロメータ100は、矩形枠型の台座部105と、台座部105の一方の開口縁を覆うように配置された絶縁性フィルム102と、この絶縁性フィルム102内に埋設されたボロメータ素子(温感素子)103とを備えている。絶縁性フィルム102は、その外周側で台座部105に支持された放熱部108と、放熱部108を架け渡すとともに、ボロメータ素子103が埋設された受光部106とを備えている。
 ボロメータ素子103は、物質の抵抗値が温度によって変化する性質を利用した赤外線検出素子であり、例えば酸化バナジウム等のボロメータ材料により構成されている。そして、ボロメータ素子103は、受光部106上を蛇行するように形成されている。また、ボロメータ素子103の両端部は、放熱部108まで引き出されて一対の出力電極110にそれぞれ接続されている。そして、これらボロメータ素子103及び出力電極110は、絶縁性フィルム102の埋没されており、絶縁性フィルム102の表面とボロメータ素子103及び出力電極110の表面は面一に形成されている。
 本実施形態によれば、本発明の輻射センサをボロメータ100に適用した場合であっても、上述した各実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、本発明の輻射センサをボロメータ100に適用することで、ボロメータ素子103での温度変化を高精度に検出することができる。そのため、ボロメータ素子103の抵抗値の変化をより大きくすることができ、感度を向上させることができる。またボロメータ素子103が絶縁性フィルム102に埋没しているので、ボロメータ素子103周辺の温度均一性が高まり、安定的な出力を与えることが可能なボロメータ100を提供できる。なお、本実施形態のボロメータ100は、上述した第1実施形態と同様の工程を経て製造することができる。
(第4実施形態)
 次に、本発明の第4実施形態について説明する。図14Aは、第4実施形態における輻射センサの平面図、図14Bは図14AのC-C線に沿う断面図である。なお、上述した各実施形態では、本発明の輻射センサをサーモパイル型輻射センサ1,30や、ボロメータ100に採用した場合について説明したが、本発明の輻射センサは、上述した各実施形態の赤外線センサを始め、光を熱輻射として検出するための輻射センサ全般に採用することができる。そのため、以下の説明では、膜状熱伝対やボロメータ素子等を含め、絶縁性フィルムに温感素子が埋設されたセンサ本体として説明する。
 具体的に、本実施形態のセンサ本体200は、図14A,図14Bに示すように、矩形枠型の台座部205と、台座部205の一方の開口縁を覆うように配置された絶縁性フィルム202と、この絶縁性フィルム202内に埋設された温感素子203とを備えている。絶縁性フィルム202は、その外周側で台座部205に支持された放熱部208と、放熱部208を架け渡すとともに、温感素子203及び出力電極210が埋設された受光部206とを備えている。なお、後に詳述するが、台座部205は、導電性225上にニッケルめっき層227がめっき法により形成されたものである(図18D参照)。
 ここで、本実施形態のセンサ本体200は、受光部206における温感素子203の形成面(表面202a)とは反対側の面(裏面202b)上に、赤外吸収膜220が配置されている。この赤外吸収膜220は、黒色した金等の微粒子や、カーボン、酸化クロム等の黒色の金属酸化膜からなり、平面視で温感素子203を覆うように形成されている。すなわち、赤外吸収膜220は、絶縁性フィルム202の受光部206を間に挟んで温感素子203の反対側に形成されている。なお、本実施形態のセンサ本体200は、上述した第1実施形態におけるサーモパイル型輻射センサ1と同様の製造工程を経て製造することができる。この場合、赤外吸収膜220は、上述した第1実施形態におけるサーモパイル型輻射センサ1の絶縁性フィルム2、または台座部5の形成後(図5,6参照)に蒸着等により形成することができる。
 本実施形態によれば、上述した実施形態と同様の効果を奏するとともに、受光部206に赤外吸収膜220が形成されているため、被測定物から照射される赤外線が赤外吸収膜220によって吸収されることになる。そのため、赤外吸収膜220で吸収した赤外線によって、温感素子203を速やかに温度上昇させることができる。これにより、センサ本体200の感度をさらに向上させることができる。なお、上述した実施形態では、赤外吸収膜220が熱伝導率の低い絶縁性フィルム202の受光部206を間に挟んで温感素子203の反対側に形成されているが、受光部206の厚さは絶縁性フィルム202の面方向の長さに比べて十分に薄く形成されているため、赤外吸収膜220で吸収した熱は積極的に温感素子203まで伝達され、温感素子203を加熱することができる。
 なお、本実施形態の赤外吸収膜220は、受光部206の表面202a側に形成することも可能である。具体的に、図15に示すセンサ本体200は、受光部206上において温感素子203を覆うように絶縁膜221が形成され、この絶縁膜221を介して赤外吸収膜220が形成されている。この場合、赤外吸収膜220及び絶縁膜221は、上述した第1実施形態で説明した製造工程において、絶縁性フィルム2を剥離層13から剥離した後に形成することができる。なお、赤外吸収膜220の材料に酸化クロム等の絶縁性を有する材料を用いる場合には、絶縁膜221を形成せずに、温感素子203上に赤外吸収膜220を直接形成する構成にしても構わない。
(第5実施形態)
 次に、本発明の第5実施形態について説明する。
 (輻射センサ)
 図16Aは第5実施形態の輻射センサの平面図、図16Bは図16AのD-D線に沿う断面図である。なお、以下の説明では上述した第4実施形態と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
 図16A,図16Bに示すように、本実施形態の輻射センサ300は、配線基板301にセンサ本体200が実装されている。配線基板301は、ガラスエポキシ等からなり、表面には図示しない配線パターンと、配線パターンとセンサ本体200とを電気的に接続する複数の電極パッド302と、グランド膜303とが形成されている。
 一方、センサ本体200は、上述した第4実施形態とほぼ同一の構成からなり、絶縁性フィルム202における出力電極210の形成領域には、厚さ方向に貫通するスルーホール230が形成されている。このスルーホール230は、絶縁性フィルム202の裏面202b側から出力電極210の裏側に到達するように形成されている。そして、スルーホール230内には、出力電極210と配線基板301の電極パッド302とを電気的に接続するコンタクト電極231が形成されている。このコンタクト電極231は、一端側が出力電極210の裏面側に接続される一方、他端側がスルーホール230を通って絶縁性フィルム202の裏面202b側から引き出されており、その他端側の端面が台座部205の端面と面一になるように形成されている。
 そして、本実施形態の輻射センサ300では、センサ本体200のコンタクト電極231及び台座部205の端面が、配線基板301の電極パッド302及びグランド膜303にそれぞれ接続されている。この場合、コンタクト電極231がセンサ本体200の出力電極210と、配線基板301の電極パッド302とを電気的に接続する一方、台座部205がグランド膜303に接続されることで、センサ本体200のグランドとして機能している。
 (輻射センサの製造方法)
 次に、上述した輻射センサの製造方法について説明する。なお、本実施形態の輻射センサの製造方法では、剥離層13上に温感素子203を形成する工程までは、上述した第1実施形態と同様の方法で形成することができる。
 図17A,図17Bは、絶縁性フィルムを形成する工程を示している。
 図17Aに示すように、剥離層13上の温感素子203及び出力電極210を覆うようにフォトレジスト層223を形成する。その後、図17Bに示すように、フォトレジスト層223に対して露光・現像を行なうことにより、センサ本体200の平面視外形となるようにパターニングし、絶縁性フィルム202を形成する。この絶縁性フィルム202のパターニングと同時に、絶縁性フィルム202の裏面202b側から出力電極210の裏面側を露出させるようにスルーホール230を形成する。
 図18A~図18Dは、台座部及びコンタクト電極を形成する工程を示している。
 図18Aに示すように、スパッタリング等によりクロム、銅薄膜を順次形成することで、絶縁性フィルム202上に導電層225を形成する。次に、図18Bに示すように、導電層225上にドライフィルムフォトレジストにより、台座部205及びコンタクト電極231となる部分に開口部226aを有するレジスト層226を形成する。そして、図18Cに示すように、導電層225を利用して、電気めっき法によりニッケルめっき層227を形成した後、図18Dに示すように、レジスト層226を剥離する。次いで、ニッケルめっき層227をマスキング層として、導電層225のうち不要な部分をエッチングにより除去することにより、台座部205及びコンタクト電極231を形成する。
 次いで、第1実施形態と同様に、剥離層13を基板12から引き剥がした後、センサ本体200上の剥離層13を除去することで、センサ本体200を製造することができる。その後、このように製造されたセンサ本体200を半田等の導電性物質を用いて配線基板301に実装する。具体的には、センサ本体200のコンタクト電極231と配線基板301の電極パッド302とを接続する一方、台座部205と配線基板301の各グランド膜303とを接続する。
 以上により、本実施形態の輻射センサ300を製造することができる。
 ところで、上述した第1~第4実施形態のようなセンサ本体(サーモパイル型輻射センサ1,30やボロメータ100)を配線基板に実装するためには、配線基板上にセンサ本体の台座部を固定した後、出力電極と配線基板の電極パッドとをワイヤボンディング等により接続する必要がある。さらに、ワイヤボンディングの後にセンサ本体をモールドする場合もあり得るため、製造工数の増加及び輻射センサ自体の厚さ方向への大型化に繋がる。
 これに対して、本実施形態によれば、絶縁性フィルム202にスルーホール230を形成するとともに、このスルーホール230内に出力電極210と電極パッド302とを接続するコンタクト電極231を形成することで、センサ本体200と配線基板301とをフェースダウン実装することが可能となり、実装自由度の向上を図ることができる。なお、コンタクト電極231を電極パッド302に接続することで、台座部205と配線基板301との間には間隙が形成される。しかしながら、本実施形態では台座部205を配線基板301のグランド膜303に接続することで、台座部205をグランドとして機能させるとともに、絶縁性フィルム202の放熱部208から台座部205に伝達された熱を、グランド膜303を介して効果的に放熱させることができる。
 なお、上述した第5実施形態では、台座部205とコンタクト電極231とを別体で形成した場合について説明したが、これに限らず、図19A,図19Bに示すように、コンタクト電極250を台座部205と一体的に形成しても構わない。この場合、コンタクト電極250は、平面視において温感素子203を両側から囲むように一対設けられている。これにより、コンタクト電極231と台座部205とを別体で形成する場合に比べてコンタクト電極250を拡大することができるので、コンタクト電極250の電気抵抗を低減させてセンサ本体200と配線基板301(電極パッド302)との間の電気的ロスを低減することができる。なお、図19Aは輻射センサの他の構成を示す平面図、図19Bは図19AのE-E線に沿う断面図である。
(第6実施形態)
 次に、本発明の第6実施形態について説明する。本実施形態では、センサ本体の裏面側から赤外線を取り入れる場合について説明する。図20Aは第6実施形態の輻射センサの平面図、図20Bは図20AのF-F線に沿う断面図である。なお、以下の説明では上述した実施形態と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
 図20A,図20Bに示すように、本実施形態の輻射センサ400は、配線基板301における温感素子203と重なる領域に、厚さ方向に貫通するキャビティ(貫通孔)310が形成されている。このキャビティ310の外形は、温感素子203の平面視の外形よりも大きく形成されている。これにより、配線基板301の裏面301a側からキャビティ310内に入射する赤外線をセンサ本体200の温感素子203により受光できるようになっている。
 本実施形態によれば、上述した実施形態と同様の効果を奏するとともに、配線基板301にキャビティ310を形成することで、センサ本体200の両面側から赤外線を受光することができる。しかも、配線基板301におけるセンサ本体200と重なる領域をキャビティ310として開放することで、温感素子203と外部との熱絶縁性を確保することができる。これにより、台座部205及びコンタクト電極231を、絶縁性フィルム202と配線基板301とが接触しない範囲で可能な限り薄く形成することができるため、輻射センサ300の更なる薄型化を図ることができる。また、台座部205をめっき法等で形成する場合に、台座部205の製造時間を短縮することができる。
 (第7実施形態)
 次に、本発明の第7実施形態について説明する。図21Aは第7実施形態の輻射センサの平面図、図21Bは図21Aの断面図である。なお、以下の説明では上述した実施形態と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
 図21A,図21Bに示すように、本実施形態の輻射センサ500は、配線基板301の裏面301a側において、キャビティ310を覆うようにレンズ部材(集光レンズ)311が配置されている。このレンズ部材311は、配線基板301の裏面301a上において、キャビティ310の開口縁を取り囲むように配置された枠体312と、枠体312を覆うように形成されたレンズ本体313とを備えている。レンズ本体313は凸レンズやフレネルレンズ状に形成され、温感素子203上に焦点が配置されるように設定されている。なお、レンズ本体313の焦点距離の調整は、配線基板301や枠体312等の厚さを適宜変更することで調整することができる。
 本実施形態によれば、上述した実施形態と同様の効果を奏するとともに、レンズ本体313に入射した赤外線を温感素子203に向けて集光することができるため、赤外線を広範囲に亘って受光することができ、輻射センサ500の感度を向上させることができる。なお、本実施形態では、図22に示すように、キャビティ310を覆うように赤外窓320を設ける構成でも構わない。赤外窓320は外部からの入射光のうち、赤外線のみを透過するフィルタ機能と、赤外線を集光する集光機能とを有するものである。これにより、温感素子203によって赤外線に起因する温度変化を正確に検出することができる。
 (第8実施形態)
 次に、本発明の第8実施形態について説明する。図23は、第8実施形態の輻射センサを示す断面図である。本実施形態の輻射センサは、センサ本体がパッケージ内に封止されている点で上述した実施形態と相違している。
 図23に示すように、本実施形態の輻射センサ600は、凹部601を有する配線基板602と、配線基板602の凹部601を閉塞するように配置された蓋部材(ケース)610とを備えたパッケージ611を備え、このパッケージ611内にセンサ本体200が収容されている。凹部601は配線基板602の厚さ方向に沿って形成されており、この凹部601の底面にセンサ本体200が実装されている。また、凹部601の底面には、センサ本体200の温感素子203と重なる領域に配線基板602を厚さ方向に貫通するキャビティ612が形成され、凹部601の底面を間に挟んでセンサ本体200の反対側にはキャビティ612を覆うようにレンズ部材311が配置されている。
 ここで、配線基板602には、凹部601を閉塞するように蓋部材610が設けられている。この蓋部材610は、遮光性を有する材料(金属や樹脂材料等)により形成された板状の部材であり、配線基板602の平面視の外形と同等に形成され、凹部601の側壁の端面に接着されている。これにより、凹部601内にセンサ本体200が封止される。なお、パッケージ611は、大気封止や、窒素封止、真空封止等、適宜設計変更が可能である。
 本実施形態によれば、上述した実施形態と同様の効果を奏するとともに、凹部601が遮光性を有する蓋部材610により封止されているため、配線基板602のキャビティ612からのみ赤外線が入射することになる。すなわち、センサ本体200では、一方向のみからの赤外線しか受光しないため、特定方向から入射する赤外線を高精度に検出することができる。なお、上述した実施形態では、配線基板602に凹部601を形成したが、これに限らず蓋部材610に凹部を形成しても構わない。
 以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
 例えば、上述した第4~第8実施形態と第1~第3実施形態とを適宜組み合わせることも可能である。
 また、上述した実施形態では、本発明の輻射センサを赤外線センサに採用する場合について説明したが、これに限らず、熱輻射を検出するための輻射センサ全般に採用することができる。
 また、上述した実施形態では、放熱部と受光部とを連続した矩形状のフィルムで構成したが、これに限らず、放熱部と受光部とを分離して、両者間を梁部により接続する構成にしても構わない。
 さらに、上述した温感素子等は、電気めっき法に限らず、無電解めっき法を用いて形成することもできる。
 また、上述した第8実施形態では、パッケージ611の配線基板602にキャビティ612を形成し、このキャビティ612にレンズ部材311を配置するような構成としたが、蓋部材610にキャビティを形成する構成にしても構わない。
 温感素子の少なくとも一部が樹脂フィルムに埋没されることにより性能が向上されたサーモパイル型輻射センサとその製造方法を提供することができる。
 1,30 サーモパイル型輻射センサ(輻射センサ)
 2,31 絶縁性フィルム
 3,32 第1の薄膜状熱電対材料
 4,33 第2の薄膜状熱電対材料
 5,37,105,205 台座部(金属部)
 6,38,106,206 受光部
 7 第1の接点
 8,39,108,208 放熱部
 9 第2の接点
 10,36,110,210 出力電極
 12,40 基板
 13,41 剥離層
 14,18,26,42,50,226 レジスト層
 15,43 金めっき層
 17,45 表面層
 19,27,46,227 ニッケルめっき層
 21 補強層
 23,223 エポキシ系フォトレジスト層
 25,225 導電層
 34 第1の接続層
 35 第2の接続層
 51 めっき層
 100 ボロメータ(輻射センサ)
 200 センサ本体
 220 赤外吸収膜
 231,250 コンタクト電極
 310,612 キャビティ
 320 赤外窓
 300,400,500,600 輻射センサ
 301,602 配線基板
 601 凹部
 610 蓋部材(ケース)

Claims (21)

  1.  電気的に絶縁性を有するフィルムと;
     前記フィルムの少なくとも一方の面側に配置された温感素子と;
    を備えた輻射センサであって、
     前記フィルムが、樹脂を主成分とする材料で構成され;
     前記温感素子の一部または全体が、前記フィルムに埋没していることを特徴とする輻射センサ。
  2.  前記温感素子は、2種類の膜状材料が接合されてなる複数対の膜状熱電対が、前記フィルムの面方向に沿って交互に直列に接合されてなり;
     前記複数対の膜状熱電対のうち、第1の膜状熱電対における第1の膜状材料の一端側と、前記第1の膜状熱電対における第2の膜状材料の一端側とが接続された第1の接点が、前記フィルムの中央部に配置される一方、
     前記第1の膜状熱電対における前記第1の膜状材料の他端側と、前記第1の膜状熱電対に隣接する第2の膜状熱電対における前記第2の膜状材料の他端側とが接続された第2の接点が、前記フィルムの外周部分に配置されている;
    ことを特徴とする請求項1に記載の輻射センサ。
  3.  前記膜状熱電対を構成する前記膜状異種材料のうち、少なくとも一方がめっき法により析出される材料であることを特徴とする請求項2に記載の輻射センサ。
  4.  前記めっき法により析出される材料が、ニッケル、金、白金、ロジウム、鉄、パラジウム、銅から選ばれる材料、またはこれらから選ばれる材料を主成分とする材料であることを特徴とする請求項3に記載の輻射センサ。
  5.  前記めっき法により析出される材料が、ビスマスまたはアンチモンを含む化合物であることを特徴とする請求項3に記載の輻射センサ。
  6.  前記温感素子が、温度変化によって抵抗値が変化するボロメータ素子からなることを特徴とする請求項1に記載の輻射センサ。
  7.  前記フィルムの他方の面における外周部分に、台座部が形成されていることを特徴とする請求項1ないし請求項6の何れか1項に記載の輻射センサ。
  8.  前記台座部が、めっき法により析出される金属からなることを特徴とする請求項7に記載の輻射センサ。
  9.  前記フィルムに、前記温感素子を外部に電気的接続する接続用端子部が、前記温感素子の端部から連続的に形成されていることを特徴とする請求項7に記載の輻射センサ。
  10.  前記接続用端子部を外部に電気的接続するコンタクト電極が、前記接続用端子部から前記フィルムの前記他方の面側に引き出されていることを特徴とする請求項9記載の輻射センサ。
  11.  前記コンタクト電極と前記台座部とが一体的に形成されていることを特徴とする請求項9に記載の輻射センサ。
  12.  前記台座部が実装されるとともに、前記温感素子に電気的接続される配線パターンが形成された配線基板をさらに備え;
     前記配線基板における前記温感素子と重なる領域に、前記配線基板を貫通する貫通孔が形成されている;
    ことを特徴とする請求項9に記載の輻射センサ。
  13.  前記配線基板に、前記貫通孔を覆うように配置され、前記温感素子に赤外線を集光させる集光レンズが設けられていることを特徴とする請求項12に記載の輻射センサ。
  14.  前記配線基板に、前記貫通孔を覆うように配置され、前記温感素子に入射する赤外線のみを透過させる赤外窓が設けられていることを特徴とする請求項12に記載の輻射センサ。
  15.  前記配線基板に、前記貫通孔のみから前記温感素子が露出するように前記温感素子を覆うケースが設けられていることを特徴とする請求項12に記載の輻射センサ。
  16.  前記フィルムにおける前記温感素子と重なる領域に赤外吸収膜が配置されていることを特徴とする請求項1に記載の輻射センサ。
  17.  基板上に、温感素子を形成する温感素子形成工程と;
     前記温感素子を覆うように、電気的に絶縁性を有する樹脂を主成分とするフィルム層を形成するフィルム層形成工程と;
     前記基板から前記温感素子及び前記フィルム層からなる接合体を剥離する剥離工程と;
    を有することを特徴とする輻射センサの製造方法。
  18.  基板の一方の面に、剥離層を形成する剥離層形成工程と;
     前記剥離層上に温感素子を形成する温感素子形成工程と;
     前記温感素子を覆うように、電気的に絶縁性を有する樹脂を主成分とするフィルム層を形成するフィルム層形成工程と;
     前記温感素子及び前記フィルム層からなる接合体及び前記剥離層を、前記基板と前記剥離層との界面から分離する工程と;
     前記接合体から前記剥離層を除去する工程と;
    有することを特徴とする輻射センサの製造方法。
  19.  前記フィルム層形成工程の後段に、前記フィルム層上に台座部を形成する台座部形成工程をさらに有することを特徴とする請求項17または請求項18に記載の輻射センサの製造方法。
  20.  前記温感素子工程が、
     膜状熱電対を構成する第1の材料からなる第1薄膜パターンを形成する第1薄膜パターン形成工程と;
     前記膜状熱電対を構成する第2の材料からなる第2薄膜パターンを形成する第1薄膜パターン形成工程と;
    を有することを特徴とする請求項17に記載の輻射センサの製造方法。
  21.  前記温感素子形成工程が、前記第1薄膜パターン及び前記第2薄膜パターンのうち、少なくとも一方がフォトレジスト膜によりパターンが形成された開口部にめっき法により形成されるめっき工程を含むことを特徴とする請求項20に記載の輻射センサの製造方法。
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