WO2008081149A3 - Procede optico-informatique de mesure 3d d'un objet en relief par projection de franges et utilisation d'une methode a decalage de phase, systeme correspondant - Google Patents
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009542152A JP2010513894A (ja) | 2006-12-19 | 2007-12-18 | 縞を投影し、位相シフト法を使用して物体を3次元測定するコンピュータ化された光学的方法及びそれに対応するシステム |
EP07871965A EP2095069A2 (fr) | 2006-12-19 | 2007-12-18 | Procede optico-informatique de mesure 3d d'un objet en relief par projection de franges et utilisation d'une methode a decalage de phase, systeme correspondant |
DE07871965T DE07871965T1 (de) | 2006-12-19 | 2007-12-18 | Elektronisches optisches verfahren zur 3d-messung eines objekts durch randprojektion und verwendung eines phasenverschiebungsverfahrens sowie entsprechendes system |
US12/520,454 US20100092040A1 (en) | 2006-12-19 | 2007-12-18 | Optical computerized method for the 3d measurement of an object by fringe projection and use of a phase-shift method, corresponding system |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0655661A FR2910123B1 (fr) | 2006-12-19 | 2006-12-19 | Procede optico-informatique de mesure 3d de la surface exterieure d'un objet en relief par projection de franges et utilisation d'une methode a decalage de phase, systeme correspondant |
FR0655661 | 2006-12-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2008081149A2 WO2008081149A2 (fr) | 2008-07-10 |
WO2008081149A3 true WO2008081149A3 (fr) | 2008-09-18 |
Family
ID=38222403
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/FR2007/052551 WO2008081149A2 (fr) | 2006-12-19 | 2007-12-18 | Procede optico-informatique de mesure 3d d'un objet en relief par projection de franges et utilisation d'une methode a decalage de phase, systeme correspondant |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100092040A1 (fr) |
EP (1) | EP2095069A2 (fr) |
JP (1) | JP2010513894A (fr) |
DE (1) | DE07871965T1 (fr) |
FR (1) | FR2910123B1 (fr) |
WO (1) | WO2008081149A2 (fr) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5633719B2 (ja) * | 2009-09-18 | 2014-12-03 | 学校法人福岡工業大学 | 三次元情報計測装置および三次元情報計測方法 |
US20110298891A1 (en) * | 2010-06-04 | 2011-12-08 | Iowa State University Research Foundation, Inc. | Composite phase-shifting algorithm for 3-d shape compression |
FR2963093B1 (fr) * | 2010-07-26 | 2012-08-03 | Vit | Installation d'inspection optique 3d de circuits electroniques |
CN102564302A (zh) | 2010-12-10 | 2012-07-11 | 通用电气公司 | 测量***和方法 |
SG11201400794QA (en) * | 2011-10-18 | 2014-06-27 | Univ Nanyang Tech | Apparatus and method for 3d surface measurement |
TWI567383B (zh) * | 2015-02-17 | 2017-01-21 | 國立中山大學 | 利用條紋投影量測光滑物體的方法 |
CN106950687B (zh) * | 2016-01-06 | 2021-01-01 | 松下知识产权经营株式会社 | 图像生成***以及图像生成方法 |
JP6642032B2 (ja) * | 2016-01-21 | 2020-02-05 | セイコーエプソン株式会社 | プロジェクター及びプロジェクターの制御方法 |
WO2017176301A1 (fr) * | 2016-04-06 | 2017-10-12 | Carestream Health, Inc. | Imagerie dentaire de contours de surface et par tomographie en cohérence optique (tco) hybride |
KR20200043374A (ko) * | 2017-06-30 | 2020-04-27 | 케어스트림 덴탈 테크놀로지 톱코 리미티드 | 침투 성능을 가진 구강 내 스캐너를 사용한 표면 매핑 |
CN109489583B (zh) * | 2018-11-19 | 2021-09-17 | 先临三维科技股份有限公司 | 投影装置、采集装置及具有其的三维扫描*** |
JP2022551129A (ja) | 2019-10-06 | 2022-12-07 | オルボテック リミテッド | ハイブリッド3d検査システム |
CN112945140B (zh) * | 2021-01-29 | 2022-09-16 | 四川大学 | 一种基于查找表和区域分割的彩色物体三维测量方法 |
CN113532328B (zh) * | 2021-07-16 | 2023-07-25 | 燕山大学 | 一种中厚板矫直过程的表面轮廓实时测量***及方法 |
CN115187649B (zh) * | 2022-09-15 | 2022-12-30 | 中国科学技术大学 | 抗强环境光干扰的三维测量方法、***、设备及存储介质 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2006
- 2006-12-19 FR FR0655661A patent/FR2910123B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-12-18 EP EP07871965A patent/EP2095069A2/fr not_active Withdrawn
- 2007-12-18 DE DE07871965T patent/DE07871965T1/de active Pending
- 2007-12-18 US US12/520,454 patent/US20100092040A1/en not_active Abandoned
- 2007-12-18 WO PCT/FR2007/052551 patent/WO2008081149A2/fr active Application Filing
- 2007-12-18 JP JP2009542152A patent/JP2010513894A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP0445618A2 (fr) * | 1990-03-09 | 1991-09-11 | Firma Carl Zeiss | Dispositif et procédé pour mesurer sans contact la superficie d'objets |
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Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
SHOICHI NAGANUMA, NORIO TAGAWA, AKIHIRO MINAGAWA, AND TADASHI MORIYA: "Determination of Object Shape and Reflectance Based on Moiré System Using Multiple Light Sources and a Reflection Model", SYSTEMS AND COMPUTERS IN JAPAN, vol. 37, no. 6, 15 June 2006 (2006-06-15), pages 32 - 43, XP002442080 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010513894A (ja) | 2010-04-30 |
FR2910123A1 (fr) | 2008-06-20 |
DE07871965T1 (de) | 2010-01-14 |
EP2095069A2 (fr) | 2009-09-02 |
WO2008081149A2 (fr) | 2008-07-10 |
US20100092040A1 (en) | 2010-04-15 |
FR2910123B1 (fr) | 2009-01-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WWE | Wipo information: entry into national phase |
Ref document number: 2007871965 Country of ref document: EP |
|
ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2009542152 Country of ref document: JP Kind code of ref document: A |
|
WWE | Wipo information: entry into national phase |
Ref document number: 12520454 Country of ref document: US |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 07871965 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A2 |