WO2004085935A1 - パルス管冷凍機 - Google Patents

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WO2004085935A1
WO2004085935A1 PCT/JP2004/004226 JP2004004226W WO2004085935A1 WO 2004085935 A1 WO2004085935 A1 WO 2004085935A1 JP 2004004226 W JP2004004226 W JP 2004004226W WO 2004085935 A1 WO2004085935 A1 WO 2004085935A1
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WO
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pulse tube
tube
temperature end
pressure waveform
pulse
Prior art date
Application number
PCT/JP2004/004226
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English (en)
French (fr)
Inventor
Hideo MITA
Toyohisa YAMADA
Motohiro IGARASI
Takeshi OKUTOMI
Katsuyuki KUWANO
Original Assignee
Aisin Seiki Kabushiki Kaisha
Central Japan Railway Company
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Filing date
Publication date
Application filed by Aisin Seiki Kabushiki Kaisha, Central Japan Railway Company filed Critical Aisin Seiki Kabushiki Kaisha
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    • F25BREFRIGERATION MACHINES, PLANTS OR SYSTEMS; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS
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    • F25B9/145Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point characterised by the cycle used, e.g. Stirling cycle pulse-tube cycle
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    • F25B2309/1423Pulse tubes with basic schematic including an inertance tube
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    • F25B9/10Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point with several cooling stages
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    • F25REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
    • F25DREFRIGERATORS; COLD ROOMS; ICE-BOXES; COOLING OR FREEZING APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F25D19/00Arrangement or mounting of refrigeration units with respect to devices or objects to be refrigerated, e.g. infrared detectors
    • F25D19/006Thermal coupling structure or interface

Definitions

  • the present invention relates to a cryogenic pulse tube refrigerator.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 9-9126963
  • this pulse tube refrigerator has a compressor 121, low-pressure supply valves 122, 124, and 126, and high-pressure supply valves 122, 125, 1 27, a first pulse tube 107, a second pulse tube 117, a first regenerator 103, and a second regenerator 13.
  • the first pulse tube 107 has a high temperature end 107 H and a low temperature end 107 L.
  • the second pulse tube 1 17 on the lower temperature side has a high temperature end 1 17 H and a low temperature end 1 17 L.
  • the high temperature end 117 H of the second pulse tube 117 is provided in the room temperature part and is cooled by the atmosphere. For this reason, since the volume of the second pulse tube 117 becomes large, there is a limit in increasing the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit, and therefore, it is located at one end of the second pulse tube 117. There was a limit in increasing the refrigeration capacity generated at the low temperature end.
  • Non-Patent Document 1 Cryocoolers 11, P189 to 198 Design and Test of the NIST / Iiockheel Martin inituature Pulse Tube Fligt Cryoosooler
  • this pulse tube refrigerator has a compressor 209, a first pulse tube 201, a second pulse tube 203, a first regenerator 200, It has a regenerator 206 and orifices 300, 301, 302.
  • the first pulse tube 201 has a high temperature end 201 H and a low temperature end 201 L.
  • the second pulse tube 203 on the lower temperature side has a high temperature end 203 H and a low temperature end 203 L.
  • the high temperature end 203 H of the second pulse tube 203 is connected to the low temperature end 201 L of the first pulse tube 201. Therefore, the high-temperature end 203H of the second pulse tube 203 is cooled by the refrigeration generated in the first pulse tube 201. It is only provided at the low temperature end 201 L of the first pulse tube 201, and even if the compression ratio of the refrigerant gas is large, the low temperature end 203 L of the second pulse tube 203 Does not provide good refrigerating capacity.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 9-9126963
  • Non-Patent Document 1 Cryocoolers 11, P189 to 198 Design and Test of the NIST / Lockheed Martin Minituature Pulse Tube Fligt Cryoosooler
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a pulse tube refrigerator that is advantageous for increasing the refrigerating capacity.
  • a first aspect of the pulse tube refrigerator of the present invention includes: a pressure waveform generator that generates a pressure waveform of a refrigerant gas;
  • a regenerator provided between the pressure waveform generator and the pulse tube for pre-cooling the refrigerant gas flowing into the pulse tube;
  • a pressure waveform phase control element having a buffer tank communicating with the high-temperature end of the pulse tube and controlling the phase of the refrigerant gas pressure waveform for refrigeration generation at the low-temperature end of the pulse tube;
  • a pulse-tube refrigerator having a vacuum-insulated tank having a vacuum-insulated chamber for accommodating the pulse tube;
  • the buffer tank is characterized in that it is disposed in the vacuum insulation chamber of the vacuum insulation tank.
  • the buffer tank is arranged in the vacuum heat insulating chamber of the vacuum heat insulating tank together with the pulse tube. Therefore, the heat of the atmosphere is prevented from entering the buffer tank. Therefore, the refrigerant gas in the buffer tank can be maintained at a low temperature. For this reason, the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit can be increased, and the amount of refrigeration generated at the low temperature end of the pulse tube increases, which is advantageous in increasing the refrigeration capacity of the pulse tube refrigerator.
  • the second buffer tank on the low temperature side can be arranged in the vacuum insulated tank.
  • the pressure waveform generator generates the pressure waveform of the refrigerant gas, and can be formed using, for example, a compressor.
  • the regenerator is provided between the pressure waveform generator and the pulse tube, and has a function of cooling the refrigerant gas flowing into the pulse tube.
  • the regenerator can be formed using a material having a large heat capacity such as a metal.
  • the vacuum insulation chamber of the vacuum insulation tank is maintained in a high vacuum state, and vacuum insulation can be achieved.
  • the high vacuum can be exemplified a 1 0 _ 3 T orr following (1 3 3 X 1 0 _ 3 P a or less), more preferred properly 1 0- 4 T orr following (1 3 3 X 1 0 _ 4 Pa or less).
  • a pulse tube refrigerator includes: a pressure waveform generator that generates a pressure waveform of a refrigerant gas;
  • a regenerator provided between the pressure waveform generator and the pulse tube for pre-cooling the refrigerant gas flowing into the pulse tube;
  • the refrigerant gas at the high-temperature end of the pulse tube is supplied to the buffer tank via the inertance tube having a flow path having an inside diameter smaller than the inside diameter of the pulse tube. Inflow and outflow. At this time, the phase of the pressure waveform of the refrigerant gas is adjusted, and refrigeration at the low-temperature end of the pulse tube is favorably generated.
  • the inertance tube, together with the buffer tank, functions as a pressure waveform phase control element that adjusts the phase and pressure amplitude of the refrigerant gas.
  • the inertance tube has a function corresponding to the inductance in the electric circuit when considering the correspondence with the electric circuit (phase difference of the refrigerant gas).
  • the function of generating is a function corresponding to the inductance in the electric circuit when considering the correspondence with the electric circuit (phase difference of the refrigerant gas).
  • the inertance tube and the pulse tube are arranged in the vacuum insulation chamber of the vacuum insulation tank. Therefore, the heat of the atmosphere is prevented from entering the inertance tube. Therefore, the refrigerant gas flowing through the inertance tube can be maintained at a low temperature. For this reason, the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit can be increased, and the amount of refrigeration generated at the low-temperature end of the pulse tube increases, which is advantageous in increasing the refrigeration capacity of the pulse tube refrigerator.
  • the flow path resistance of the inertance tube is reduced, and the viscous loss of the gas flowing through the inertance tube can be reduced.
  • the phase and amount of the cooling gas flowing to the high-temperature end of the pulse tube can be improved, so that the refrigeration capacity increases.
  • the pulse tube refrigerator communicates with the first buffer tank.
  • the low-temperature side second inertance tube can be arranged in the vacuum heat insulating tank.
  • the pulse tube refrigerator of the third aspect of the present invention includes a pressure waveform generator for generating a pressure waveform of the refrigerant gas
  • a second pulse tube having a low-temperature end where the refrigerant gas having a pressure waveform flows and one end having a lower temperature than the low-temperature end of the first pulse tube and the other end being a high-temperature end;
  • a regenerator provided between the pressure waveform generator and the first pulse tube and the second pulse tube for pre-cooling the refrigerant gas flowing into the first pulse tube and the Z or the second pulse tube; and a high temperature of the first pulse tube.
  • a first inertance tube communicating with the end of the first pulse tube having an inner diameter smaller than the inner diameter of the first pulse tube; and a first buffer tank communicating with the high-temperature end of the first pulse tube via the first inertance tube.
  • a second inertance tube communicating with the high-temperature end of the second pulse tube and having a flow path having an inner diameter smaller than the inner diameter of the second pulse tube; and a second inertial tube through the second inertance tube.
  • a pressure waveform phase control element having a second buffer tank communicating with the high-temperature end, and controlling a phase of a pressure waveform of the refrigerant gas for cooling / freezing generation;
  • a pulse tube refrigerator having at least a vacuum insulation tank having a vacuum insulation chamber for accommodating the second pulse tube;
  • a cooling element that is in thermal contact with the low-temperature end of the first pulse tube and is cooled by freezing from the low-temperature end of the first pulse tube is provided, and the cooling element is in thermal contact with the second inertance tube It is characterized by the following.
  • the refrigerant gas at the high-temperature end of the pulse tube is transferred to the buffer tank via the inertance tube having a flow path having a diameter smaller than the inside diameter of the pulse tube. Inflow and outflow. At this time, the phase of the pressure waveform of the refrigerant gas is adjusted, and refrigeration at the low-temperature end of the pulse tube is favorably generated.
  • the inertance tube, together with the buffer tank, It functions as a pressure waveform phase control element for adjusting the pressure amplitude.
  • the inertance tube has a function corresponding to the inductance in the electric circuit when considering the correspondence with the electric circuit.
  • a cooling element which is in thermal contact with the low-temperature end of the first pulse tube and is cooled by freezing from the low-temperature end of the first pulse tube. Therefore, the cooling element is cooled by freezing at the low temperature end of the first pulse tube.
  • the second inertance can be achieved by freezing from the low temperature end of the first pulse tube.
  • the tube is cooled.
  • the refrigerant gas flowing through the inertia step can be kept at a low temperature. Therefore, the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit (2) can be increased, and the amount of refrigeration generated at the low temperature end of the pulse tube increases, which is advantageous for increasing the refrigeration capacity of the pulse tube refrigerator.
  • the cooling element is preferably formed of a metal having good heat conductivity.
  • a plate can be exemplified as the cooling element. The shape of the plate is not particularly limited. The thermal contact area between the cooling element and the inertance tube can be increased to increase the cooling performance of the inertance tube.
  • a pulse tube refrigerator includes a pressure waveform generator for generating a pressure waveform of a refrigerant gas
  • a second pulse tube having a low-temperature end where a refrigerant gas having a pressure waveform flows and one end having a lower temperature than the low-temperature end of the first pulse tube and the other end being a high-temperature end;
  • the first pulse tube is provided between the pressure waveform generator and the first pulse tube and the second pulse tube.
  • a regenerator for pre-cooling the refrigerant gas flowing into the pulse tube and Z or the second pulse tube, and a regenerator communicating with the high-temperature end of the first pulse tube and having a flow passage having an inside diameter smaller than the first pulse tube.
  • a pulse tube refrigerator comprising a pressure waveform phase control element for controlling the temperature of the second pulse tube for refrigeration and a vacuum insulation tank having at least a vacuum insulation chamber for accommodating the second pulse tube.
  • the cooling element that is in thermal contact with the low temperature end of the first pulse tube and is cooled by freezing from the low temperature end of the first pulse tube is provided. . Therefore, the cooling element is cooled by freezing at the low-temperature end of the first pulse tube.
  • the pulse tube refrigerator of the fourth aspect of the present invention since the cooling element is in thermal contact with the second buffer tank, the second buffer tank is cooled by freezing from the low temperature end of the first pulse tube. Is done. For this reason, the refrigerant gas in the second buffer tank can be maintained at a low temperature. Therefore, the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit can be increased, and the amount of refrigeration generated at the low-temperature end of the pulse tube increases, which is advantageous for increasing the refrigeration capacity of the pulse tube refrigerator.
  • the cooling element is in thermal contact with the cold end of the first pulse tube and is cooled by freezing from the cold end of the first pulse tube.
  • the cooling element is preferably formed using a metal having good heat conductivity (generally, an aluminum alloy, a copper alloy, an iron alloy, or the like).
  • a metal having good heat conductivity generally, an aluminum alloy, a copper alloy, an iron alloy, or the like.
  • the shape of the cooling element is not particularly limited, a plate shape can be exemplified.
  • the plate shape is not particularly limited.
  • the thermal contact area between the cooling element and the second buffer tank can be increased.
  • a pulse tube refrigerator includes a pressure waveform generator that generates a pressure waveform of a refrigerant gas
  • a second pulse tube having a low-temperature end where a refrigerant gas having a pressure waveform flows and one end having a lower temperature than the low-temperature end of the first pulse tube and the other end being a high-temperature end;
  • a regenerator provided between the pressure waveform generator and the first pulse tube and the second pulse tube for pre-cooling the refrigerant gas flowing into the first pulse tube and Z or the second pulse tube ';
  • a first inertance tube that communicates with the high-temperature end of the first pulse tube and has a flow path with an inner diameter smaller than the inner diameter of the first pulse tube, and is connected to the high-temperature end of the first pulse tube via the first inertance tube.
  • a first buffer tank communicating with the second pulse tube, a second inertance tube communicating with a high-temperature end of the second pulse tube and having a flow path having an inner diameter smaller than the inner diameter of the second pulse tube, and a second inertance tube.
  • a pressure buffer phase control element having a second buffer tank communicating with the high-temperature end of the second pulse tube through the second pulse tube, and controlling the phase of the pressure waveform of the refrigerant gas for refrigeration generation;
  • a pulse tube refrigerator having at least a vacuum insulation tank having a vacuum insulation chamber for accommodating the second pulse tube;
  • At least a part of the second inertance tube is in thermal contact with the low-temperature end of the first pulse tube.
  • the second inertance tube is in thermal contact with the low-temperature end of the first pulse tube.
  • at least a part of the second inertance tube is cooled by freezing from the low temperature end of the first pulse tube. Therefore, the temperature of the refrigerant gas flowing through the second inertance tube can be maintained at a low temperature.
  • the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit can be increased, and the amount of refrigeration generated at the low-temperature end of the second pulse tube increases. This is advantageous for increasing the refrigerating capacity of the machine.
  • the refrigerant gas flowing on the outer wall side of the second inertance tube is larger than when the inner diameter of the flow path of the second inertance tube is large.
  • the refrigerant gas flowing through the center of the second inert tube can be efficiently cooled, the entire refrigerant gas flowing through the second inert tube can be efficiently cooled.
  • the pulse tube refrigerator of the fifth aspect of the present invention an example is shown in which the second inertance tube is spirally wound around the low-temperature end of the first pulse tube and is brought into thermal contact with the low-temperature end of the first pulse tube. it can.
  • FIG. 1 is a configuration diagram showing a concept of a pulse tube refrigerator according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a configuration diagram showing a contact portion between a second inner lance tube and a shield plate according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a configuration diagram showing a concept of a pulse tube refrigerator according to the second embodiment.
  • FIG. 4 is a configuration diagram showing a contact state between a second buffer tank and a shield plate according to the third embodiment.
  • FIG. 5 is a configuration diagram showing the vicinity of a second buffer tank according to the fourth embodiment.
  • FIG. 6 is a configuration diagram showing the vicinity of a second buffer tank according to the fifth embodiment.
  • FIG. 7 is a configuration diagram showing a state in which a second inner tube is wound around the low-temperature end of the first buffer tank according to the sixth embodiment.
  • FIG. 8 is a configuration diagram showing the concept of a pulse tube refrigerator according to the related art.
  • FIG. 9 is a configuration diagram showing the concept of a pulse tube refrigerator according to the related art. (Best mode for carrying out the invention)
  • FIG. 1 shows a first embodiment.
  • reference numeral 1 denotes a linear drive type compressor, which can function as a pressure waveform generator for generating a pressure waveform of a gaseous refrigerant gas.
  • the compression section 4 communicates with one end 6a of a radiator 6 via a pipe 5, and the other end 6b of the radiator 6 is connected to a first regenerator 8 filled with a regenerator material 7 such as a wire mesh. It is connected.
  • a cylindrical connecting member 9 for connecting the second regenerator 10 is provided at a low temperature end 8 b of the first regenerator 8.
  • the inside of the second regenerator 10 is filled with a regenerator material 12 having a spherical regenerative function, such as lead or rare earth.
  • the second regenerator 10 is maintained at a lower temperature than the first regenerator 8.
  • a flow path member 11 is provided inside the connection member 9, .
  • the flow path member 11 communicates with the first pulse tube 14 and the second pulse tube 20, and the refrigerant gas flowing to the first pulse tube 14 and the refrigerant gas flowing to the second pulse tube 20 flow. .
  • one end 13 a of a refrigerant passage pipe 13 is provided on an outer wall surface which is a circumferential surface of the connection member 9.
  • the other end 13 b of the pipe 13 communicates with the first heat exchanger 15.
  • the first heat exchanger 15 is provided at a low temperature end 14 L of the first pulse tube 14.
  • the first pulse tube 14 is a vertically long metal tubular member having a hollow chamber into which the refrigerant gas can flow, and the refrigerant gas having the pressure waveform generated by the compression unit 4 flows into the first pulse tube 14.
  • the upper end (the other end) of the first pulse tube 14 is a high-temperature end 14 H
  • the lower end (one end) of the first pulse tube 14 is a low-temperature end 14 L.
  • the reason why the low-temperature end 14 L is arranged on the lower side is to suppress the thermal convection of the refrigerant gas.
  • one end of a first radiator 16 is connected to the high-temperature end 14 H of the first pulse tube 14, and the first radiator 16 is located outside the vacuum insulation tank 24. Are located.
  • the other end of the first radiator 16 is an elongated pipe that functions as the first communication pipe. It is connected to one end 17a of a first inertance tube 17 made of metal formed by the above.
  • the first inertance tube 17 has a function corresponding to the reactance of the electric circuit.
  • the inner diameter of the first inertance tube 17 is smaller than the inner diameter of the first pulse tube 14 and the inner diameter of the first buffer tank 18.
  • the other end 17 b of the first inertance tube 17 is connected to the first buffer tank 18.
  • the first buffer tank 18 has a large tank chamber 18 w.
  • the refrigerant gas in the first pulse tube 14 flows back and forth inside the first buffer tank 18 via the first inertance tube 17 , and thereby the phase and pressure amplitude of the pressure waveform of the refrigerant gas Is adjusted. Therefore, the first inertance tube 17 and the first buffer tank 18 control the phase and pressure amplitude of the refrigerant gas pressure waveform for refrigeration at the low-temperature end 14 L of the first pulse tube 14. It can function as a pressure waveform phase control element to be controlled.
  • the first inertance tube 17 and the first buffer tank 18 are arranged outside the vacuum insulation tank 1 as shown in FIG.
  • the low-temperature end 10 L of the second regenerator 10 communicates with the second heat exchanger 30 having a function of cooling the refrigerant gas by heat exchange via a pipe 19. .
  • the second heat exchanger 30 is disposed at the low-temperature end 20 L of the second pulse tube 20 (lower than the low-temperature end 14 L of the first pulse tube 14).
  • the second pulse tube 20 is a long metal tubular member having a vertically long hollow chamber into which the refrigerant gas can flow.
  • the length of the second pulse tube 20 is set shorter than the length of the first pulse tube 14.
  • the diameter of the second pulse tube 20 is set smaller than the inner diameter of the first pulse tube 14. Therefore, the volume of the second pulse tube 20 is set smaller than the volume of the first pulse tube 14.
  • the upper end of the second pulse tube 20 is a high temperature end 20 H, and the lower end of the second pulse tube 20 is a low temperature end 20 L.
  • the low temperature end 20 L is set to the lower side to suppress thermal convection.
  • a second radiator 21 having a cooling function is provided at the high temperature end 20 H of the second pulse tube 20.
  • the second radiator 21 is in thermal contact with the outer surface of the cylindrical portion 9a of the contact member 9 via a heat-conductive flange portion 9b.
  • the high-temperature end 20H of the second pulse tube 20 is in thermal contact with the second radiator 21 and is cooled by the second radiator 21.
  • the second pulse The hot end 20 H of the loose tube 20 is cooled by the freezing generated at the low end 14 L of the first pulse tube 14.
  • the volume of the refrigerant gas in the second pulse tube 20 can be reduced even at the same flow rate.
  • the length of the second pulse tube 20 can be shortened. Therefore, it is advantageous to increase the compression ratio of the refrigeration circuit, and the amount of refrigeration generated at the low-temperature end 20 L of the second pulse tube 20 can be made larger than in the related art.
  • a shield plate 25 that can function as a cooling element is provided.
  • the shield plate 25 is made of a metal having good heat conductivity, and as shown in FIG. 1, a portion 25 m of the shield plate 25 is heated to the low-temperature end 14 L of the first pulse tube 14. The shield plate 25 is cooled to a low temperature because of the intimate contact.
  • a box-shaped shield case 26 is in thermal contact with the shield plate 25 as a cooling element.
  • the shield case 26 is disposed below the shield plate 25 to form a shield chamber 26w.
  • the shield chamber 26 w communicates with the vacuum insulation chamber 24 w and is maintained in a high vacuum state like the vacuum insulation chamber 24 w.
  • a metal second inertance tube 22 formed of an elongated pipe is held in thermal contact with the shield plate 25.
  • the second inertance tube 22 functions as a second communication tube for communicating the second buffer tank 23 with the second pulse tube 20 and has a function of restricting a gas flow rate.
  • the inner diameter of the second pulse tube 20 and the second buffer 04 004226 Smaller than the inside diameter of tank 23.
  • the upper part 23 u of the second buffer tank 23 is held in thermal contact with the shield plate 25.
  • the second buffer tank 23 is arranged on the lower surface side of the shield plate 25.
  • the second buffer tank 23 has a large tank chamber 23 w.
  • the capacity of the tank chamber 23 w is smaller than the capacity of the tank chamber 18 w of the first buffer tank 18.
  • the second buffer tank 23 is also in thermal contact with the shield plate 25 as a cooling element. Thereby, the second buffer tank 23 is cooled by the shield plate 25, and the refrigerant gas in the second buffer tank 23 is maintained at a low temperature.
  • the refrigerant gas in the second pulse tube 20 is supplied to the second pulse tube 20 by flowing back and forth inside the second buffer tank 23 through the second inertance tube 22.
  • the phase and pressure amplitude of the refrigerant gas pressure waveform are adjusted. Therefore, second Ina one chest tube 2 2 and the second buffer tank 2 3, for the frozen product in the cold end 2 0 L of the second pulse tube 2 0 pressure to control the phase of the pressure waveform of the refrigerant gas It can function as a waveform phase control element.
  • the second buffer tank 23 is not disposed in the atmosphere, but is disposed in the vacuum insulation chamber 24 w of the vacuum insulation tank 24. .
  • the second buffer tank 23 is provided in the shield chamber 26 w of the shield case 26 in the vacuum insulation tank 24.
  • the shield case 26 functions as a radiant heat transfer prevention element that suppresses transfer of heat radiation from the outside. Therefore, the refrigerant gas in the second buffer tank 23 can be kept at a lower temperature.
  • the inside of the vacuum insulation chamber 24 w of the vacuum insulation tank 24 is connected to a vacuum pump 24 X and maintained in a high vacuum state (10 to 4 Torr or less, 13 3 X 10 to 4 Pa or less). I have.
  • the vacuum insulation tank 24 has excellent heat insulation properties.
  • the wall of the vacuum heat insulating tank 24 is made of a material having high heat insulating property for suppressing heat transfer.
  • the shield case 26 is provided in the vacuum insulation tank 24 and is for suppressing heat radiation from the outside. It is formed.
  • the second regenerator 10 and the second pulse are provided in the shield chamber 26 w of the shield case 26.
  • the tube 20 and the second radiator 21 are accommodated, and thermal contact between them and the atmosphere is prevented.
  • the first pulse tube 14 is housed outside the shield case 26 and in the vacuum heat insulating tank 24.
  • the pistons 4 and 5 of the compressor 1 make a reciprocating motion at a certain frequency while facing each other.
  • the refrigerant gas in the compression section 4 of the compressor 1 is compressed at the same frequency as the pistons 4, 5, and a pressure waveform of the refrigerant gas (generally helium) is generated.
  • the resonance frequency of the gas pressure in the first buffer tank 18 and the first inertance tube 17 and the resonance frequency of the gas pressure in the second buffer tank 23 and the second inertance tube 25 are The dimensions are set so that the frequencies are almost the same as the movements of the pistons 5 and 6.
  • the vacuum insulation tank 24 and the shield case 26 have a function of preventing heat conduction from the vacuum insulation tank 24, and the temperature of the shield chamber 26 w of the shield case 26 is Generally, it is about 40 to 100K.
  • the shield case 26 has a function of preventing radiant heat from the vacuum insulation tank 24.
  • the refrigerant gas which has been cooled to a low temperature by the refrigeration generated at the low temperature end 14 L of the first pulse tube 14 flows through the inner surface of the cylindrical portion 9 a of the contact member 9.
  • the contact member 9 is cooled, so that the second radiator 21 that is in thermal contact with the contact member 9 has a low temperature.
  • the high-temperature end 20 H of the second pulse tube 20 that is in thermal contact with the second radiator 21 is also maintained at a low temperature, and almost the first pulse The low temperature end of the pipe 14 is maintained at a temperature close to the temperature of 14 L.
  • the gas of the refrigerant gas in the second pulse tube 20 can be maintained. This is advantageous for reducing the volume, and the length of the second pulse tube 20 can be made shorter than the length of the second pulse tube according to the related art, so that the size of the second pulse tube 20 can be reduced.
  • the second buffer tank 23 is disposed in the vacuum insulation chamber 24 w of the vacuum insulation tank 24, the second buffer tank 23 and the air
  • the second buffer tank 23 can always be kept at a low temperature, which is advantageous for increasing the refrigerating capacity of the pulse tube refrigerator.
  • the second buffer tank 23 is provided in a shield chamber 26 w of a shield case 26 having high thermal insulation arranged in a vacuum heat insulating tank 24. Therefore, the second buffer tank 23 can be kept at a lower temperature, and the refrigerant gas in the second buffer tank 23 can be kept at a lower temperature.
  • the present embodiment it is advantageous to further increase the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit, and the amount of refrigeration generated at the low temperature end 20 L of the second pulse tube 20 increases, and the pulse tube This is advantageous for increasing the refrigerating capacity of the refrigerator.
  • the second inertance tube 22 for flowing the refrigerant gas into and out of the second buffer tank 23 is provided in the vacuum heat insulating chamber 24 w of the vacuum heat insulating tank 24. And the second buffer tank 23. For this reason, not only the thermal contact between the second buffer tank 23 and the atmosphere can be suppressed, but also the thermal contact between the second inertance tube 22 and the atmosphere can be suppressed, and the second inertance tube 22 is always low. Temperature can be kept. Therefore, according to the present embodiment, it is advantageous to further increase the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit, and the amount of refrigeration generated at the low-temperature end 20 L of the second pulse tube 20 increases.
  • the second inertance tube 22 is Because it is provided in the shield chamber 26 w of the sinored case 26 in 4, the second inertance tube 22 can be kept at a lower temperature, and the refrigerant in the second inertance tube 22 The gas can be kept at a low temperature. Therefore, according to the present embodiment, it is advantageous to further increase the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit, and the amount of refrigeration generated at the low-temperature end 20 L of the second pulse tube 20 increases. Furthermore, according to the present embodiment, the shield plate 25 as a cooling element is cooled at the low temperature end 14 L of the first pulse tube 14, and the second inertia step 22 is a shield plate. Thermal contact with 25.
  • the second inertance tube 22 is cooled via the shield plate 25 by the freezing generated at the low temperature end 14 L of the first pulse tube 14.
  • the inner diameter of the flow passage of the second inertance tube 22 is small, only the force of the refrigerant gas flowing on the outer peripheral side of the second inertance tube 22 increases the center axis of the second inertance tube 22.
  • the refrigerant gas flowing through the shield plate 25 can also be cooled. Therefore, the entire refrigerant gas flowing through the second inertance tube 22 can be efficiently cooled.
  • the refrigerant gas in the second inertance tube 22 can be efficiently cooled by the shield plate 25 serving as a cooling element, the refrigerant gas flows through the second inertance tube 22.
  • Refrigerant gas can be kept at a lower temperature. Therefore, it is advantageous to further increase the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit, and the high-temperature end 20 H of the second pulse tube 20 has a lower temperature and the low-temperature end of the second pulse tube 20.
  • the amount of refrigeration generated at 20 L is further improved.
  • the temperature of the refrigerant gas flowing through the second inertance tube 22 can be further reduced, the flow path resistance of the second inertance tube 22 decreases, and the refrigerant gas flows through the second inertance tube 22. Viscous loss of gas can be reduced. As a result, the phase and amount of the refrigerant gas flowing to the high-temperature end 20H of the second pulse tube 20 can be improved, so that the refrigeration capacity increases.
  • the second buffer tank 23 and the second inertance tube 25 can be cooled.
  • the peak of the resonance frequency of the gas pressure can be clarified, which is advantageous for further improving the amount of refrigeration generated at the low temperature end 20 L of the second pulse tube 20.
  • the second buffer tank 23 thermally contacts the shield plate 25 as a cooling element thermally connected to the low-temperature end 14 L of the first pulse tube 14. I have. Therefore, the second buffer tank 23 is cooled by the freezing generated at the low temperature end 14 L of the first pulse tube 14 via the shield plate 25. For this reason, the refrigerant gas in the second buffer tank 23 can be kept at a lower temperature. Therefore, it is advantageous to further increase the compression ratio of the refrigerant gas in the refrigeration circuit, and the high-temperature end 2 ⁇ H of the second pulse tube 20 has a lower temperature, and thus the low-temperature end of the second pulse tube 20. The amount of refrigeration generated at 20 L is further improved.
  • the volume of the second pulse tube 20 is reduced by the volume of the second pulse tube according to the related art. Can be smaller than Thus, the length of the second pulse tube 20 can be reduced. This is advantageous in suppressing vibration of the second pulse tube 20 and is suitable for using the pulse tube refrigerator in a vibration environment.
  • the force that makes the second radiator 21 provided at the high-temperature end 20 H of the second pulse tube 20 thermally contact the contact member 9.
  • the second radiator 21 may be directly in thermal contact with the low-temperature end 14 L of the first pulse tube 14.
  • FIG. 3 shows a second embodiment.
  • the second embodiment is a modification of the first embodiment.
  • the second embodiment has basically the same configuration as the first embodiment, and basically has the same operation and effect. Common parts are denoted by common reference numerals.
  • a description will be given focusing on portions different from the first embodiment. That is, the sub regenerator 40 is provided between the first heat exchanger 15 and the pipe 13 of the first embodiment. Then, a shield plate 25 as a cooling element is brought into contact with the high-temperature end of the sub regenerator 40. It is provided.
  • the temperature of refrigeration generated at the low-temperature end 14 L of the first pulse tube 14 is sufficiently low, and the temperature of the high-temperature end 20 H of the second pulse tube 20 is low. This is an example of a mode in which the temperature may be higher than the temperature of 14 L of the low-temperature end of one pulse tube 14.
  • FIG. 4 shows a third embodiment.
  • the third embodiment is a modification of the first embodiment.
  • the third embodiment has basically the same configuration as the first embodiment, and basically has the same operation and effect. Common parts are denoted by common reference numerals.
  • the second buffer tank 23 is in thermal contact with the shield plate 25 as a cooling element, and the first pulse tube 23 is connected via the shield plate 25. 1 4. Cooled by freezing generated at the low temperature end 14 L. For this reason, the refrigerant gas in the second buffer tank 23 can be kept at a lower temperature. As shown in FIG.
  • the shield plate 25 is bent toward the second buffer tank 23 and is a flange portion 25 for promoting heat transfer, which is in thermal contact with the outer wall surface of the second buffer tank 23.
  • the flange portion 25r for promoting heat transfer increases the contact area (heat transfer area) with the second buffer tank 23 and improves the cooling performance of the refrigerant in the second buffer tank 23. Things.
  • FIG. 5 shows a fourth embodiment.
  • the fourth embodiment is a modification of the first embodiment.
  • the fourth embodiment has basically the same configuration as the first embodiment, and basically has the same operation and effect. Common parts are denoted by common reference numerals.
  • a description will be given focusing on portions different from the first embodiment. That is, most of the second buffer tank 23 is disposed in the vacuum insulation chamber 24 w of the vacuum insulation tank 24, but as shown in FIG. Part) is exposed from the vacuum insulation tank 24. However, a portion of the second buffer tank 23 that is exposed from the vacuum heat insulating tank 24 is provided with a heat insulating material 23 m having excellent heat insulating properties. The insulating material 23 m is used for the refrigerant gas in the second buffer tank 23. Temperature rise can be suppressed.
  • FIG. 6 shows a fifth embodiment.
  • the fifth embodiment is a modification of the first embodiment.
  • the fifth embodiment has basically the same configuration as the first embodiment, and basically has the same operation and effect.
  • the following description focuses on the differences from the first embodiment. Common parts are denoted by common reference numerals. That is, the second puffer tank 23 is disposed in the vacuum insulation chamber 24 w of the vacuum insulation tank 24, but only the tubular portion 23 X protruding from the second buffer tank 23 is formed in the vacuum insulation tank 24. Is exposed.
  • a gauge 23 k such as a sensor for detecting a physical quantity such as pressure and temperature of the refrigerant gas in the second buffer tank 23 is attached to the tubular part 23 X as necessary. Since the instrument 23k is exposed from the vacuum insulation tank 24, it is advantageous for maintenance and inspection of the instrument 23k.
  • FIG. 7 shows a sixth embodiment.
  • the sixth embodiment is a modification of the first embodiment.
  • the sixth embodiment has basically the same configuration as the first embodiment, and basically has the same operation and effect.
  • the following description focuses on the differences from the first embodiment. That is, since the length of the second inertance tube 22 is long, the second inertance tube 22 should be used effectively, and all or a part of the second inertance tube 22 is the first pulse.
  • the tube 14 is wound around the low-temperature end 14 L in the circumferential direction.
  • the second inertance tube 22 is effectively cooled by refrigeration generated at the low temperature end 14 L (cooling element) of the first pulse tube 14.
  • the second inertance tube 22 is disposed in the vacuum insulation chamber 24 w.
  • Supplementary note 1 The pulse tube according to claim 1, wherein the buffer tank communicates with a high-temperature end of the pulse tube via an inertance tube having a flow path having an inside diameter smaller than the inside diameter of the pulse tube. refrigerator.
  • the pulse tube refrigerator according to supplementary note 1, wherein the inertance tube is disposed in the vacuum insulation chamber of the vacuum insulation tank.
  • the pulse tube is configured such that a refrigerant gas having a pressure waveform flows thereinto, a first pulse tube having one end having a low-temperature end and the other end having a high-temperature end, and a refrigerant gas having a pressure waveform.
  • a pulse tube refrigerator characterized by comprising a second pulse tube having an inflow and one end serving as a low-temperature end having a lower temperature than the low-temperature end of the first pulse tube and the other end serving as a high-temperature end.
  • the regenerator is provided between the pressure waveform generator and the first pulse tube and the second pulse tube, and the first pulse tube and / or the second pulse tube are provided.
  • a pulse tube refrigerator characterized by pre-cooling the refrigerant gas flowing into the pulse tube.
  • the pressure waveform phase control element communicates with a high-temperature end of the first pulse tube and has a first inertance tube having a flow path having an inside diameter smaller than the inside diameter of the first pulse tube;
  • a first buffer tank communicating with the high-temperature end of the first pulse tube via the first inertance tube, and a small inner diameter communicating with the high-temperature end of the second pulse tube and a small diameter of the second pulse tube;
  • a pulse comprising: a second inertance tube having the following flow path; and a low-temperature-side second buffer tank that communicates with the high-temperature end of the second pulse tube via the second inertance tube.
  • Tube refrigerator
  • Supplementary Note 6 a cooling element that is in thermal contact with the low-temperature end of the first pulse tube and that is cooled by freezing from the low-temperature end of the first pulse tube is provided;
  • a pulse tube refrigerator which is in thermal contact with the second inertance tube.
  • a cooling element is provided, which is in thermal contact with the low-temperature end of the first pulse tube and is cooled by freezing from the low-temperature end of the first pulse tube.
  • a pulse tube refrigerator wherein a cooling element is in thermal contact with the second buffer tank.
  • Supplementary Note 8 The pulse tube refrigerator according to supplementary notes 5 to 7, wherein at least a part of the second inertance tube is in thermal contact with a low-temperature end of the first pulse tube. 4004226

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Abstract

冷凍能力を高めるのに有利なパルス管冷凍機を提供する。パルス管冷凍機は、冷媒ガスの圧力波形を生成する圧力波形発生装置1と、圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が低温端で他端が高温端とされたパルス管14,20と、パルス管14,20に流入させる冷媒ガスを予冷する蓄冷器8,10と、パルス管20の高温端に連通するバッファタンク23をもち冷媒ガスの圧力波形の位相をパルス管20の低温端における冷凍生成のために制御する圧力波形位相制御要素と、パルス管20を収容する真空断熱室24wをもつ真空断面槽24とを具備する。バッファタンク23は真空断熱槽24の真空断熱室24w内に配置されている。

Description

明細書
パルス管冷凍機 技術分野
本発明は極低温を生成するパルス管冷凍機に関する。 背景技術
従来技術と して、 図 8 (特許文献 1 : 特開平 9一 2 9 6 9 6 3号公報) に 示されるパルス管冷凍機が知られている。 このパルス管冷凍機は、 図 8に示 すように、 圧縮機 1 2 1 と, 低圧供給弁 1 2 2 , 1 2 4 , 1 2 6 と、 高圧供 給弁 1 2 3, 1 2 5 , 1 2 7 と、 第 1パルス管 1 0 7 と、 第 2パルス管 1 1 7と、 第 1蓄冷器 1 0 3 と、 第 2蓄冷器 1 3 とをもつ。 第 1パルス管 1 0 7 は高温端 1 0 7 H,低温端 1 0 7 Lをもつ。 より低温側の第 2パルス管 1 1 7は高温端 1 1 7 H,低温端 1 1 7 Lをもつ。
このパルス管冷凍機によれば、 第 2パルス管 1 1 7の高温端 1 1 7 Hは室 温部に設けられており、 大気によって冷却されている。 このため、 第 2パル ス管 1 1 7の容積が大きくなるため、 冷凍回路内の冷媒ガスの圧縮比を高め るには限界があり、 このため第 2パルス管 1 1 7の一端側である低温端で発 生する冷凍能力を高めるには限界があった。
またこのパルス管冷凍機によれば、 第 2パルス管 1 1 7の高温端 1 1 7 H から室温以上の暖かいガスが第 2パルス管 1 1 7の低温端に流入するため、 この意味においても、 第 2パルス管 1 1 7の低温端 1 1 7 Lで発生する冷凍 能力を高めるには限界があった。
また、 従来の技術と して、 図 9 に示される文献 (非特許文献 1 : Cryocoolers 11, P189 〜 198 Design and Test of the NIST/Iiockheel Martin inituature Pulse Tube Fligt Cryoosooler) {こ開示されて ヽるノ ノレス管冷 凍機がある。 このパルス管冷凍機は、 図 9に示すように、 圧縮機 2 0 9と, 第 1パルス管 2 0 1 と、 第 2パルス管 2 0 3 と、 第 1蓄冷器 2 0 7と、 第 2 蓄冷器 2 0 6 と、 オリ フィス 3 0 0, 3 0 1 , 3 0 2 とをもつ。 第 1パルス 管 2 0 1は高温端 2 0 1 H,低温端 2 0 1 Lをもつ。 より低温側の第 2パル ス管 2 0 3は高温端 2 0 3 H ,低温端 2 0 3 Lをもつ。
このパルス管冷凍機によれば、 第 2のパルス管 2 0 3の高温端 2 0 3 H力 、 第 1パルス管 2 0 1の低温端 2 0 1 Lに接続して設けられている。 このため、 第 2のパルス管 2 0 3の高温端 2 0 3 Hが、 第 1パルス管 2 0 1で発生する 冷凍で冷却されるが、 第 2パルス管の高温端 2 ◦ 3 Hは、 第 1パルス管 2 0 1の低温端 2 0 1 Lに設けられているだけであり、 冷媒ガスのガスの圧縮比 が大きぐても、 第 2パルス管 2 0 3の低温端 2 0 3 Lでは良好な冷凍能力が 得られない。
(特許文献 1 : 特開平 9一 2 9 6 9 6 3号公報)
(非特許文献 1 : Cryocoolers 11,P189 〜 198 Design and Test of the NIST/Lockheed Martin Minituature Pulse Tube Fligt Cryoosooler) 発明の開示
本発明は上記した実情に鑑みてなされたものであり、 冷凍能力を高めるの に有利なパルス管冷凍機を提供することにある。
( 1 ) 第 1様相の本発明のパルス管冷凍機は、 冷媒ガスの圧力波形を生成 する圧力波形発生装置と、
圧力波形発生装置で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が低 温端で他端が高温端とされたパルス管と、
圧力波形発生装置とパルス管との間に設けられパルス管に流入させる冷媒 ガスを予冷する蓄冷器と、
パルス管の高温端に連通するバッファタンクをもち冷媒ガスの圧力波形の 位相をパルス管の低温端における冷凍生成のために制御する圧力波形位相制 御要素と、
パルス管を収容する真空断熱室をもつ真空断熱槽とを具備するパルス管冷 凍機において、 バッファタンクは、 真空断熱槽の真空断熱室内に配置されていることを特 徴とするものである。
第 1様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 バッファタンクはパルス管 と共に真空断熱槽の真空断熱室内に配置されている。 このためバッファタン クに大気の熱が進入することが抑制される。 よってバッファタンク内の冷媒 ガスを低温に維持することができる。 このため冷凍回路内の冷媒ガスの圧縮 比を高くすることができ、 パルス管の低温端で発生する冷凍量は大きくなり、 パルス管冷凍機の冷凍能力を高めるのに有利となる。
第 1様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 第 1バッファタンク及ぴ第 2バッファタンクが設けられているときには、 低温側の第 2バッファタンク を真空断熱槽内に配置することができる。
なお、 各様相の本発明によれば、 圧力波形発生装置は、 冷媒ガスの圧力波 形を生成するものであり、 例えば、 圧縮機を用いて形成できる。 蓄冷器は、 圧力波形発生装置とパルス管との間に設けられており、 パルス管に流入させ る冷媒ガスを冷却する機能を有するものである。 蓄冷器は、 金属等の熱容量 の大きな材料を用いて形成できる。
本明細書の各様相の本発明によれば、 真空断熱槽の真空断熱室内は高真空 状態に維持されており、 真空断熱を図り得る。 この場合、 高真空状態として は 1 0 _3T o r r以下 ( 1 3 3 X 1 0 _3P a以下) を例示でき、 より好ま しくは 1 0— 4 T o r r以下 ( 1 3 3 X 1 0 _4P a以下) を例示できる。
( 2 ) 第 2様相の本発明のパルス管冷凍機は、 冷媒ガスの圧力波形を生成 する圧力波形発生装置と、
圧力波形発生装置で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が低 温端で他端が高温端とされたパルス管と、
圧力波形発生装置とパルス管との間に設けられパルス管に流入させる冷媒 ガスを予冷する蓄冷器と、
パルス管の高温端に連通しパルス管の内径より も小さい内径の流路をもつ イナ^"タンスチューブと、 イナ タンスチューブを介してパルス管の高温端 に連通するバッファタンクとをもち、 冷媒ガスの圧力波形の位相をパルス管 の低温端における冷凍生成のために制御する圧力波形位相制御要素と、 パルス管を収容する真空断熱室をもつ真空断熱槽とを具備するパルス管冷 凍機において、 イナ一タンスチューブは、 真空断熱槽の真空断熱室内に配置 されていることを特徴とするものである。
第 2様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 パルス管の高温端の冷媒ガ スは、 パルス管の内径よりも小さい内径の流路をもつイナ一タンスチューブ を介してバッファタンクに対して流入及び流出する。 このとき冷媒ガスの圧 力波形の位相は調整され、 パルス管の低温端における冷凍を良好に生成され る。 イナ一タンスチューブは、 バッファタンクとともに、 冷媒ガスの位相と 圧力振幅とを調整する圧力波形位相制御要素と して機能するものである。 冷 媒ガスの圧力波形の位相を調整する機能を有する観点において、 イナ一タン スチューブは、 電気回路との対応を考えた場合に、 電気回路におけるインダ クタンスに相当する機能 (冷媒ガスの位相差を生成する機能) を奏するもの である。
第 2様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 イナ一タンスチューブはパ ルス管と共に真空断熱槽の真空断熱室内に配置されている。 このためイナ一 タンスチューブに大気の熱が進入することが抑制される。 よってイナ一タン スチューブを流れる冷媒ガスを低温に維持することができる。 このため冷凍 回路内の冷媒ガスの圧縮比を高くすることができ、 パルス管の低温端で癸生 する冷凍量は大きくなり、 パルス管冷凍機の冷凍能力を高めるのに有利とな る。
殊に、 イナ一タンスチューブを流れる冷媒ガスが低温であると、 イナータ ンスチューブの流路抵抗が小さくなり、 イナ一タンスチューブ内を流動する ガスの粘性損失を小さくできる。 その結果、 パルス管の高温端に流動する冷 媒ガスの位相とガス量とを良好にすることができるので、 冷凍能力が増大す る。
第 2様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 第 1バッファタンクに連通 する第 1イナ一タンスチューブ、 第 2バッファタンクに連通する第 1イナ一 タンスチューブが設けられているときには、 低温側の第 2イナータンスチュ ーブを真空断熱槽内に配置することができる。
( 3 ) 第 3様相の本発明のパルス管冷凍機は、 冷媒ガスの圧力波形を生成 する圧力波形発生装置と、
圧力波形発生装置で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が低 温端で他端が高温端とされた第 1パルス管と、
圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が第 1 パルス管の低温端よりも低温 となる低温端で他端が高温端とされた第 2パルス管と、
圧力波形発生装置と第 1 パルス管及び第 2パルス管との間に設けられ第 1 パルス管及ぴ Z又は第 2パルス管に流入させる冷媒ガスを予冷する蓄冷器と、 第 1 パルス管の高温端に連通し第 1 パルス管の内径より も小さい内径の流 路をもつ第 1イナ一タンスチューブと、 第 1イナ一タンスチューブを介して 第 1パルス管の高温端に連通する第 1バッファタンクと、 第 2パルス管の高 温端に連通し第 2パルス管の内径より も小さい内径の流路をもつ第 2イナ一 タンスチューブと、 第 2イナ一タンスチューブを介して第 2パルス管の高温 端に連通する第 2バッファタンクとをもち、 冷媒ガスの圧力波形の位相を冷 凍生成のために制御する圧力波形位相制御要素と、
少なく とも第 2パルス管を収容する真空断熱室をもつ真空断熱槽とを具備 するパルス管冷凍機において、
第 1 パルス管の低温端に熱的に接触して第 1パルス管の低温端からの冷凍 で冷却される冷却要素を設け、 冷却要素を第 2イナ一タンスチューブに熱的 に接触させていることを特徴とするものである。
第 3様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 パルス管の高温端の冷媒ガ スは、 パルス管の内径よりも小さい內径の流路をもつイナ一タンスチューブ を介してバッファタンクに対して流入及ぴ流出する。 このとき冷媒ガスの圧 力波形の位相は調整され、 パルス管の低温端における冷凍を良好に生成され る。 イナ一タンスチューブは、 バッファタンクとともに、 冷媒ガスの位相と 圧力振幅とを調整する圧力波形位相制御要素として機能するものである。 冷 媒ガスの圧力波形の位相を調整する機能を有する観点において、 イナ一タン スチューブは、 電気回路との対応を考えた場合に、 電気回路におけるインダ クタンスに相当する機能を奏するものである。
更に、 第 1パルス管の低温端に熱的に接触して第 1パルス管の低温端から の冷凍で冷却される冷却要素が設けられている。 このため冷却要素は、 第 1 パルス管の低温端の冷凍で冷却される。
更に第 3様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 冷却要素を第 2イナ一 タンスチューブに熱的に接触させているため、 第 1パルス管の低温端からの 冷凍で第 2イナータンスチューブは冷却される。 このためイナ一タンスチュ ープを流れる冷媒ガスを低温に維持することができる。 故に冷凍回路內の冷 媒ガスの圧縮比を高くすることができ、 パルス管の低温端で発生する冷凍量 は大きくなり、 パルス管冷凍機の冷凍能力を高めるのに有利となる。
殊に、 イナ一タンスチューブを流れる冷媒ガスが低温であると、 イナータ ンスチューブの流路抵抗が小さくなり、 イナータンスチューブ內を流動する ガスの粘性損失を小さくでき、 その結果、 パルス管の高温端に流動する冷媒 ガスの位相とガス量とを良好にすることができるので、 冷凍能力が増大する。 冷却要素と しては伝熱性が良好な金属で形成することが好ましい。 冷却要 素としてはプレートを例示できる。 プレートの形状は特に限定されない。 ィ ナータンスチューブに対する冷却性を高めるべく、 冷却要素とイナ一タンス チューブとの熱的接触面積を大きくすることができる。
( 4 ) 第 4様相の本発明のパルス管冷凍機は、 冷媒ガスの圧力波形を生成 する圧力波形発生装置と、
圧力波形発生装置で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が低 温端で他端が高温端とされた第 1パルス管と、
圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が第 1パルス管の低温端よりも低温 となる低温端で他端が高温端とされた第 2パルス管と、
圧力波形発生装置と第 1パルス管及び第 2パルス管との間に設けられ第 1 パルス管及ぴ Z又は第 2パルス管に流入させる冷媒ガスを予冷する蓄冷器と、 第 1パルス管の高温端に連通し第 1パルス管の內径ょりも小さい内径の流 路をもつ第 1イナ一タンスチューブと、 第 1イナ一タンスチューブを介して 第 1パルス管の高温端に連通する第 1バッファタンク と、 第 2パルス管の高 温端に連通し第 2パルス管の内径よりも小さい内径の流路をもつ第 2イナ一 タンスチューブと、 第 2イナ一タンスチューブを介して第 2パルス管の高温 端に連通する第 2バッファタンクとをもち、 冷媒ガスの圧力波形の位相を冷 凍生成のために制御する圧力波形位相制御要素と、 少なく とも第 2パルス管 を収容する真空断熱室をもつ真空断熱槽とを具備するパルス管冷凍機におい て、
第 1パルス管の低温端に熱的に接触して第 1 パルス管の低温端からの冷凍 で冷却される冷却要素を設け、 冷却要素を第 2バッファタンクに熱的に接触 させていることを特徴とするものである。
第 4様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 第 1パルス管の低温端に熱 的に接触して第 1パルス管の低温端からの冷凍で冷却される冷却要素が設け られている。 このため冷却要素は、 第 1パルス管の低温端の冷凍で冷却され る。
更に第 4様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 冷却要素を第 2バッフ ァタンクに熱的に接触しているため、 第 1 パルス管の低温端からの冷凍で第 2バッファタンクは冷却される。 このため第 2バッファタンク内の冷媒ガス を低温に維持することができる。 このため冷凍回路內の冷媒ガスの圧縮比を 高くすることができ、 パルス管の低温端で発生する冷凍量は大きくなり、 パ ルス管冷凍機の冷凍能力を高めるのに有利となる。
冷却要素は、 第 1パルス管の低温端に熱的に接触し、 第 1パルス管の低温 端からの冷凍で冷却されるものである。 冷却要素としては伝熱性が良好な金 属 (一般的にはアルミニウム合金、 銅合金、 鉄合金等) を用いて形成するこ とが好ましい。 冷却要素の形状としては特に限定されないが.、 プレート形状 を例示できる。 プレー ト形状は特に限定されない。 第 2バッファタンクに対 する冷却性を高めるべく、 冷却要素と第 2バッファタンク との熱的接触面積 としては、 大きくすることができる。
( 5 ) 第 5様相の本発明のパルス管冷凍機は、 冷媒ガスの圧力波形を生成 する圧力波形発生装置と、
圧力波形発生装置で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が低 温端で他端が高温端とされた第 1パルス管と、
圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が第 1 パルス管の低温端より も低温 となる低温端で他端が高温端とされた第 2パルス管と、
圧力波形発生装置と第 1パルス管及び第 2パルス管との間に設けられ第 1 パルス管及び Z又は前記第 2パルス管'に流入させる冷媒ガスを予冷する蓄冷 器と、
第 1 パルス管の高温端に連通し第 1パルス管の内径より も小さい内径の流 路をもつ第 1イナ一タンスチューブと、 第 1イナ一タンスチューブを介して 第 1 パルス管の高温端に連通する第 1バッファタンクと、 第 2パルス管の高 温端に連通し前記第 2パルス管の内径より も小さい内径の流路をもつ第 2ィ ナータンスチューブと、 第 2イナ一タンスチューブを介して第 2パルス管の 高温端に連通する第 2バッファタンクとをもち、 冷媒ガスの圧力波形の位相 を冷凍生成のために制御する圧力波形位相制御要素と、
少なく とも第 2パルス管を収容する真空断熱室をもつ真空断熱槽とを具備 するパルス管冷凍機において、
第 2イナータンスチューブの少なく とも一部を第 1パルス管の低温端に熱 的に接触させていることを特徴とするものである。
第 5様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 第 2ィナータンスチューブ を第 1パルス管の低温端に熱的に接触させている。 この場合、 第 1パルス管 の低温端からの冷凍で第 2ィナータンスチューブの少なく とも一部は冷却さ れる。 このため第 2イナータンスチューブを流れる冷媒ガスを低温に維持す ることができる。 このため冷凍回路内の冷媒ガスの圧縮比を高くすることが でき、 第 2パルス管の低温端で発生する冷凍量は大きくなり、 パルス管冷凍 機の冷凍能力を高めるのに有利となる。
殊に、 第 2イナ一タンスチューブの流路の内径は小さいため、 第 2イナ一 タンスチューブの流路の内径が大きい場合に比較して、 第 2イナ一タンスチ ユープの外壁側を流れる冷媒ガスの他に、 第 2イナ一タ ンスチューブの中心 側を流れる冷媒ガスをも効率よく冷却できるので、 第 2イナ一タンスチュー プ内を流れる冷媒ガスの全体を効率よく冷却することができる。
第 5様相の本発明のパルス管冷凍機によれば、 第 2イナータンスチューブ を第 1パルス管の低温端にスパイラル形状に卷いて第 1 パルス管の低温端に 熱的に接触させる形態を例示できる。
(発明の効果)
本発明によれば、 パルス管の低温端で発生する冷凍能力を高めるのに有利 なパルス管冷凍機を提供することができる。 図面の簡単な説明
図 1は、 第 1実施形態に係り、 パルス管冷凍機の概念を示す構成図である。 図 2は、 第 1実施形態に係り、 第 2インナータンスチューブとシール ドプ レートとの接触部分を示す構成図である。
図 3は、 第 2実施形態に係り、 パルス管冷凍機の概念を示す構成図である。 図 4は、 第 3実施形態に係り、 第 2バッファタンク と シール ドプレートと の接触状態を示す構成図である。
図 5は、 第 4実施形態に係り、 第 2バッファタンク付近を示す構成図であ る。
図 6は、 第 5実施形態に係り、 第 2バッファ タンク付近を示す構成図であ る。
図 7は、 第 6実施形態に係り、 '第 1バッファタンクの低温端に第 2イ ンナ 一タンスチューブを卷いている状態を示す構成図である。
図 8は、 従来技術に係り、 パルス管冷凍機の概念を示す構成図である。 図 9は、 従来技術に係り、 パルス管冷凍機の概念を示す構成図である。 (発明を実施するための最良の形態)
以下、 本発明の実施形態について、 図面を用いて説明する。
(第 1実施形態)
第 1実施形態を図 1に示す。 図 1において、 1はリニア駆動型の圧縮機で、 ガス状の冷媒ガスの圧力波形を生成する圧力波形発生装置として機能するこ とができる。 圧縮機 1によれば、 往復移動可能なピス トン 2 とピス トン 3の 間の空間が圧縮部 4 とされている。 圧縮部 4は配管 5を介して放熱器 6の一 端 6 aに連通しており、 放熱器 6の他端 6 bは、 金網等の蓄冷材 7が充填し てある第 1蓄冷器 8に接続されている。 第 1蓄冷器 8の低温端 8 bには、 第 2蓄冷器 1 0を接続する筒形状の接続部材 9が設けられている。 第 2蓄冷器 1 0の内部には、 鉛や希土類等の球状の蓄冷機能を有する蓄冷材 1 2が充填 されている。 第 2蓄冷器 1 0は第 1蓄冷器 8よりも低温に維持される。 接続 部材 9の内部には流路部材 1 1が配設している。 流路部材 1 1は第 1パルス 管 1 4及ぴ第 2パルス管 2 0に連通しており、 第 1パルス管 1 4に向かう冷 媒ガス、 第 2パルス管 2 0に向かう冷媒ガスが流れる。
図 1に示すように、 前記した接続部材 9の円周面である外壁面に、 冷媒通 過用の配管 1 3の一端 1 3 aが配設されている。 配管 1 3の他端 1 3 bは第 1熱交換器 1 5に連通している。 第 1熱交換器 1 5は第 1パルス管 1 4の低 温端 1 4 Lに設けられている。
第 1パルス管 1 4は、 冷媒ガスが流入できる中空室をもつ縦長の金属製の 管状部材であり、 圧縮部 4で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入する。 ここで、 第 1パルス管 1 4の上端側 (他端) が高温端 1 4 Hとされ、 第 1パ ルス管 1 4の下端側 (一端) が低温端 1 4 Lとされている。 低温端 1 4 Lを 下側に配置したのは、 冷媒ガスの熱的対流を抑制するためである。
図 1に示すように、 第 1パルス管 1 4の高温端 1 4 Hには、 第 1放熱器 1 6の一端が接続され、 第 1放熱器 1 6は真空断熱槽 2 4より も外側に配置さ れている。 第 1放熱器 1 6の他端は、 第 1連通管と して機能する細長い配管 で形成された金属製の第 1イナ一タンスチューブ 1 7 の一端 1 7 aに接続さ れている。 第 1ィナータンスチューブ 1 7は電気回路のリアクタンスに相当 する機能を有する。 第 1イナ一タンスチューブ 1 7 の内径は第 1パルス管 1 4 の内径、 第 1 ノ ッファタンク 1 8 の内径より も小さい。 第 1イナ一タンス チューブ 1 7 の他端 1 7 bは第 1バッファタンク 1 8に接続されている。 第 1バッファタンク 1 8は容積が大きいタンク室 1 8 wをもつ。
ここで、 第 1 パルス管 1 4の冷媒ガスが第 1イナ一タンスチューブ 1 7を 介して第 1バッファタンク 1 8の内部に対して行き来することにより、 冷媒 ガスの圧力波形の位相と圧力振幅が調整される。 従って、 第 1イナ一タンス チューブ 1 7及び第 1バッファタンク 1 8は、 第 1パルス管 1 4の低温端 1 4 Lにおける冷凍生成のために、 冷媒ガスの圧力波形の位相と圧力振幅を制 御する圧力波形位相制御要素と して機能することができる。 第 1イナ一タン スチューブ 1 7及ぴ第 1バッファタンク 1 8は、 図 1に示すように、 真空断 熱槽 1 の外に配置されている。
図 1に示すように、 第 2蓄冷器 1 0 の低温端 1 0 Lは、 熱交換により冷媒 ガスを冷却できる機能を有する第 2熱交換器 3 0に配管 1 9を介して連通し ている。 第 2熱交換器 3 0 は第 2パルス管 2 0の低温端 2 0 L (第 1 パルス 管 1 4の低温端 1 4 Lよりも低温) に配設されている。 第 2パルス管 2 0は、 冷媒ガスが流入できる縦長の中空室をもつ長い金属製の管状部材である。 こ こで、 第 2パルス管 2 0 の長さは第 1 パルス管 1 4 の長さより も短く設定さ れている。 また第 2パルス管 2 0の內径は第 1パルス管 1 4の内径よりも小 さく設定されている。 従って、 第 2パルス管 2 0の容積は第 1パルス管 1 4 の容積より も小さく設定されている。 第 2パルス管 2 0 の上端側が高温端 2 0 Hとされ、 第 2パルス管 2 0 の下端側が低温端 2 0 Lとされている。 低温 端 2 0 Lを下側にしたのは熱的対流を抑制するためである。
第 2パルス管 2 0の高温端 2 0 Hには、 冷却機能を有する第 2放熱器 2 1 が設けられている。 第 2放熱器 2 1は、 接触部材 9の円筒部 9 a の外面に、 伝熱性をもつフランジ部 9 bを介して熱的に接触している。 前述したよ うに 接触部材 9 の円筒部 9 a の内面には、 第 1 パルス管 1 4 の低温端 1 4 Lで発 生した冷凍で冷却された冷媒ガスが流れる流路が設けられている。 従って、 第 2放熱器 2 1は、 接触部材 9 の円筒部 9 aを流れる冷媒ガスによつて冷却 される。
換言すれば、 第 2パルス管 2 0の高温端 2 0 Hは第 2放熱器 2 1に熱的に 接触しており、 第 2放熱器 2 1により冷却されるため、 結果として、 第 2パ ルス管 2 0 の高温端 2 0 Hは、 第 1 パルス管 1 4の低温端 1 4 Lで発生した 冷凍で冷却されることになる。 このように第 2放熱器 2 1により第 2パルス 管 2 0の高温端 2 0 Hは低い温度に維持されるため、 同一流量でも第 2パル ス管 2 0の冷媒ガスの体積を小さくするのに有利となり、 第 2パルス管 2 0 の長さを短くすることができる。 従って冷凍回路の圧縮比を高めるのに有利 となり、 第 2パルス管 2 0 の低温端 2 0 Lで発生する冷凍量を従来技術より も大きくすることができる。
本実施形態によれば、 図 1に示すように、 冷却要素と して機能できるシー ルドプレー ト 2 5が設けられている。 シールドプレー ト 2 5は、 伝熱性が良 好な金属製であり、 図 1に示すように、 シールドプレー ト 2 5の部位 2 5 m が第 1パルス管 1 4の低温端 1 4 Lに熱的に接触しているため、 シールドプ レー ト 2 5は低温に冷却される。
冷却要素と してのシール ドブレ一 ト 2 5には、 箱状のシールドケース 2 6 が熱的に接触している。 シールドケース 2 6は、 シールドプレー ト 2 5の下 側に配置されており、 シールド室 2 6 wを形成している。 シールド室 2 6 w は真空断熱室 2 4 wに連通しており、 真空断熱室 2 4 wと同様に高真空状態 に維持される。
図 2に示すように、 シールドプレート 2 5には、 細長い配管で形成された 金属製の第 2イナ一タンスチューブ 2 2が熱的に接触して保持されている。 第 2イナータンスチューブ 2 2は、 第 2バッファタンク 2 3 と第 2パルス管 2 0 とを連通させる第 2連通管として機能し、 且つ、 ガス流量の絞り機能を 有するものであり、 その内径は、 第 2パルス管 2 0 の内径及ぴ第 2バッファ 04 004226 タンク 2 3の内径よりも小さい。
また図 1に示すように、 シ一ルドプレー ト 2 5に、 第 2バッファタンク 2 3の上部 2 3 uが熱的に接触して保持されている。 第 2バッファタンク 2 3 はシールドプレー ト 2 5の下面側に配置されている。 第 2 ノ ッファタンク 2 3は容積が大きいタンク室 2 3 wをもつ。 タンク室 2 3 wの容積は、 第 1 ノ ッファタンク 1 8のタンク室 1 8 wの容積より も小さく されている。 上記し たように第 2 ノ ッファタンク 2 3も、 冷却要素としてのシールドプレー ト 2 5に熱的に接触している。 これにより第 2バッファタンク 2 3はシ一ルドプ レート 2 5により冷却され、 第 2バッファタンク 2 3内の冷媒ガスは低温に 維持される。
ここで、 第 2パルス管 2 0の冷媒ガスが第 2ィナータンスチューブ 2 2を 介して第 2バッファタンク 2 3の内部に対して行き来することによ り、 第 2 パルス管 2 0 に供給される冷媒ガスの圧力波形の位相と圧力振幅が調整され る。 従って、 第 2イナ一タンスチューブ 2 2及び第 2バッファタンク 2 3は、 第 2パルス管 2 0の低温端 2 0 Lにおける冷凍生成のために、 冷媒ガスの圧 力波形の位相を制御する圧力波形位相制御要素として機能することができる。 本実施形態によれば、 図 1に示すように、 第 2バッファタンク 2 3は大気 に配置されているのではなく、 真空断熱槽 2 4の真空断熱室 2 4 w内に配設 されている。 殊に、 第 2バッファタンク 2 3は真空断熱槽 2 4内のシールド ケース 2 6のシールド室 2 6 w内に設けられている。 シール ドケース 2 6は、 外部からの熱輻射の伝達を抑制する輻射熱伝達防止要素として機能する。 このため第 2バッファタンク 2 3内の冷媒ガスを一層低い温度に保つこと ができる。 真空断熱槽 2 4の真空断熱室 2 4 w内は真空ポンプ 2 4 Xに接続 され、 高真空状態 ( 1 0— 4 T o r r以下 1 3 3 X 1 0— 4 P a以下) に維持 されている。 真空断熱槽 2 4は断熱性に優れている。
なお、 真空断熱槽 2 4 の壁体は、 熱伝達を抑制する断熱性が高い材料で形 成されている。 シール ドケース 2 6は真空断熱槽 2 4内に設けられており、 外部からの熱輻射を抑えるためのものであり、 熱伝導の良い金属を基材とし て形成されている。
本実施形態によれば、 図 1に示すように、 シール ドケース 2 6 のシール ド 室 2 6 w内には、 第 2バッファタンク 2 3 の他に、 第 2蓄冷器 1 0 , 第 2パ ルス管 2 0、 第 2放熱器 2 1が収容されており、 これらと大気との熱的接触 が防止されている。 図 1に示すように第 1パルス管 1 4はシール ドケース 2 6 の外方で且つ真空断熱槽 2 4内に収容されている。
使用の際には、 圧縮機 1 のピス トン 4、 5が対向しつつ、 ある周波数で往 復運動する。 これにより圧縮機 1の圧縮部 4内の冷媒ガスは、 ピス トン 4、 5 と同一の周波数で圧縮され、 冷媒ガス (一般的にはヘリ ウム) の圧力波形 が生成される。 そして、 第 1バッファタンク 1 8 と第 1イナ一タンスチュー プ 1 7内のガス圧の共振周波数、 第 2バッファタンク 2 3 と第 2イナ一タン スチューブ 2 5内のガス圧の共振周波数は、 ピス トン 5、 6の動きとほぼ同 一の周波数となるように寸法諸元が設定されている。 これにより第 1パルス 管 1 4の低温端 1 4 Lと第 2パルス管 2 0 の低温端 2 0 Lとでは、 ほぼスタ 一リングサイクルに近い圧力波形が得られ、 第 2パルス管 2 0の低温端 2 0 Lにおいて理想 近い冷凍量を得ることが出来るように設定されている。 ちなみに、 運転状況にもよるが、 第 1 パルス管 1 4の低温端 1 4 Lでは 4 0〜 1 0 0 Kの冷凍が得られ、 第 2パルス管 2 0 の低温端 2 0 Lでは 1 0〜 3 0 Kの冷凍が得られる。 運転状況にもよるが、 真空断熱槽 2 4とシール ド ケース 2 6 とは、 真空断熱槽 2 4からの伝導熱を妨げる機能を有し、 シール ドケース 2 6 のシールド室 2 6 wの温度は一般的には 4 0〜 1 0 0 K程度で ある。 シールドケース 2 6は真空断熱槽 2 4からの輻射熱を防ぐ機能を有す る。
本実施形態によれば、 第 1パルス管 1 4 の低温端 1 4 Lで発生した冷凍に よって低い温度になった冷媒ガスは、 接触部材 9 の円筒部 9 a の内面を流れ る。 この結果、 接触部材 9は冷却されるので、 接触部材 9に熱的に接触する 第 2放熱器 2 1が低い温度となる。 ひいては第 2放熱器 2 1に熱的に接触す る第 2パルス管 2 0 の高温端 2 0 Hも、 低い温度に維持され、 ほぼ第 1 パル ス管 1 4の低温端 1 4 Lの温度に近い温度に維持される。
このよ うに本実施形態によれば、 第 2放熱器 2 1により第 2パルス管 2 0 の高温端 2 0 Hを低い温度に維持できるため、 第 2パルス管 2 0内の冷媒ガ スのガス体積を小さくするのに有利となり、 第 2パルス管 2 0の長さは、 従 来技術に係る第 2パルス管の長さよりも短くでき、 第2パルス管 2 0の小型 化を図り得る。
以上説明したように本実施形態によれば、 第 2バッファタンク 2 3は、 真 空断熱槽 2 4の真空断熱室 2 4 w内に配設されているので、 第 2バッファタ ンク 2 3と大気との熱的接触を抑えることができ、 第 2バッファタンク 2 3 を常時低い温度に保つことができ、 パルス管冷凍機における冷凍能力を高め るのに有利となる。
殊に、 図 1に示すように、 第 2バッファタンク 2 3は、 真空断熱槽 2 4内 に配置されている熱絶縁性が高いシールドケース 2 6のシールド室 2 6 w内 に設けられているため、 第 2バッファタンク 2 3を一層低い温度に保つこと ができ、 ひいては第 2バッファタンク 2 3内の冷媒ガスも低い温度に保つこ とができる。
このため本実施形態によれば、 冷凍回路内の冷媒ガスの圧縮比を一層高く するのに有利となり、 第 2パルス管 2 0の低温端 2 0 Lで発生する冷凍量は 大きくなり 、 パルス管冷凍機の冷凍能力を高めるのに有利となる。
更に本実施形態によれば、 第 2バッファタンク 2 3に対して冷媒ガスの流 入及ぴ流出を行う第 2イナ一タンスチューブ 2 2は、 真空断熱槽 2 4の真空 断熱室 2 4 w内に第 2バッファタンク 2 3 と共に配設されている。 このため 第 2バッファタンク 2 3 と大気との熱的接触も抑えるばかりカ 第 2イナ一 タンスチューブ 2 2 と大気との熱的接触も抑えることができ、 第 2イナータ ンスチューブ 2 2を常時低い温度に保つことができる。 このため本実施形態 によれば、 冷凍回路内の冷媒ガスの圧縮比を一層高くするのに有利となり、 第 2パルス管 2 0の低温端 2 0 Lで発生する冷凍量は大きくなる。
殊に、 図 1に示すように、 第 2イナ一タンスチューブ 2 2は真空断熱槽 2 4内のシーノレドケース 2 6のシールド室 2 6 w内に設けられているため、 第 2イナ一タンスチューブ 2 2を一層低い温度に保つことができ、 第 2イナ一 タンスチューブ 2 2の冷媒ガスを低い温度に保つことができる。 このため本 実施形態によれば、 冷凍回路内の冷媒ガスの圧縮比を一層高くするのに有利 となり、 第 2パルス管 2 0 の低温端 2 0 Lで発生する冷凍量は大きくなる。 更にまた本実施形態 よれば、 冷却要素としてのシール ドブレ一 ト 2 5は 第 1パルス管 1 4の低温端 1 4 Lで冷却され、 且つ、 第 2イナ一タンスチュ ープ 2 2はシールドプレー ト 2 5に熱的に接触している。 このため第 2イナ ータンスチューブ 2 2は、 第 1パルス管 1 4の低温端 1 4 Lで発生した冷凍 によりシールドプレー ト 2 5を介して冷却される。 殊に、 第 2イナ一タンス チューブ 2 2の流路の内径は小さいため、 第 2イナ一タンスチューブ 2 2の 外周側を流れる冷媒ガスばかり力 、 第 2ィナータンスチューブ 2 2 の中心軸 芯側を流れる冷媒ガスもシールドプレー ト 2 5で冷却できる。 従って、 第 2 イナ一タンスチューブ 2 2を流れる冷媒ガスの全体を効率よく冷却すること ができる。
即ち本実施形態によれば、 第 2イナ一タンスチューブ 2 2の冷媒ガスを冷 却要素としてのシール ドプレート 2 5で効率よく冷却することができるため、 第 2イナ一タンスチューブ 2 2を流れる冷媒ガスを一層低い温度に保つこと ができる。 故に、 冷凍回路内の冷媒ガスの圧縮比を一層高くするのに有利と なり、 第 2パルス管 2 0の高温端 2 0 Hはさらに低い温度になり、 第 2パル ス管 2 0の低温端 2 0 Lで発生する冷凍量はさらに向上する。
更に、 第 2イナ一タンスチューブ 2 2を流れる冷媒ガスを一層低温にでき るため、 第 2イナ一タンスチューブ 2 2の流路抵抗が小さくなり、 第 2イナ 一タンスチューブ 2 2内を流動するガスの粘性損失を小さくできる。 その結 果、 第 2パルス管 2 0の高温端 2 0 Hに流動する冷媒ガスの位相とガス量と を良好にすることができるので、 冷凍能力が増大する。
上記したように第 2イナ一タンスチューブ 2 2内の冷媒ガスを低温側に冷 却できれば、 第 2バッファタンク 2 3 と第 2イナ一タンスチューブ 2 5内の ガス圧の共振周波数のピークを明瞭化でき、 第 2パルス管 2 0の低温端 2 0 Lで発生する冷凍量を一層向上させるのに有利となる。
加えて本実施形態によれば、 第 2バッファタンク 2 3は、 第 1パルス管 1 4の低温端 1 4 Lに熱的に繋がる冷却要素としてのシールドプレー ト 2 5に 熱的に接触している。 従って、 第 2バッファタンク 2 3はシールドプレー ト 2 5を介して、 第 1パルス管 1 4の低温端 1 4 Lで発生した冷凍で冷却され る。 このため第 2バッファタンク 2 3の冷媒ガスを一層低い温度に保つこと ができる。 故に、 冷凍回路内の冷媒ガスの圧縮比を一層高くするのに有利と なり、 第 2パルス管 2 0の高温端 2 ◦ Hはさらに低い温度になり、 ひいては 第 2パルス管 2 0 の低温端 2 0 Lで発生する冷凍量はさらに向上する。
以上説明したように本実施形態によれば、 冷凍回路内の冷媒ガスの圧縮比 を高くするのに有利であるため、 第 2パルス管 2 0 の容積を従来技術に係る 第 2パルス管の容積よりも小さくできる。 これにより第 2パルス管 2 0の長 さを短縮することができる。 このため第 2パルス管 2 0の振動を抑制する面 で有利であり、 パルス管冷凍機を振動環境において使用するのに適する。 ' なお、 上記した実施形態によれば、 図 1に示すように、 第 2パルス管 2 0 の高温端 2 0 Hに設けた第 2放熱器 2 1を接触部材 9に熱接触させている力 これに限らず、 第 2放熱器 2 1を第 1パルス管 1 4 の低温端 1 4 Lに直接的 に熱接触させても良い。
また、 上記した実施形態は、 2段パルス管冷凍機に適用した例であるが、 これに限らず、 3段以上のパルス管冷凍機に適用しても良いものである。 (第 2実施形態)
図 3は第 2実施形態を示す。 第 2実施形態は第 1実施形態の変形形態であ る。 第 2実施形態は第 1実施形態と基本的には同様の構成であり、 基本的に は同様の作用効果を奏する。 共通する部位には共通の符号を付する。 以下、 第 1実施形態と相違する部分を中心として説明する。 即ち、 第 1実施形態の 第 1熱交換器 1 5 と配管 1 3 との間にサブ蓄冷器 4 0を設けている。 そして サブ蓄冷器 4 0の高温端に、 冷却要素としてのシールドブレ— ト 2 5を接触 して設けている。 このような第 2実施形態によれば、 第 1 パルス管 1 4の低 温端 1 4 Lで発生する冷凍の温度が充分低く、 第 2パルス管 2 0の高温端 2 0 Hの温度が第 1パルス管 1 4の低温端 1 4 Lの温度より も高くて良い場合 の形態例である。
(第 3実施形態)
図 4は第 3実施形態を示す。 第 3実施形態は第 1実施形態の変形形態であ る。 第 3実施形態は第 1実施形態と基本的には同様の構成であり、 基本的に は同様の作用効果を奏する。 共通する部位には共通の符号を付する。 以下、 第 1実施形態と相違する部分を中心として説明する。 即ち、 図 4に示すよう に、 第 2バッファタンク 2 3 は、 冷却要素と してのシールドプレー ト 2 5に 熱的に接触しており、 シールドプレー ト 2 5を介して、 第 1パルス管 1 4の. 低温端 1 4 Lで発生した冷凍で冷却される。 このため第 2バッファタンク 2 3の冷媒ガスを一層低い温度に保つことができる。 図 4に示すように、 シー ルドプレー ト 2 5は、 第 2ノ ッファタンク 2 3に向けて曲成され第 2バッフ ァタンク 2 3の外壁面に熱的に接触する伝熱促進用のフランジ部 2 5 rをも つ。 伝熱促進用のフランジ部 2 5 rは、 第 2バッファタンク 2 3 との接触部 分 (伝熱面積) を増加させ、 第 2バッファタンク 2 3内の冷媒の冷却性を高 めるためのものである。
(第 4実施形態)
図 5は第 4実施形態を示す。 第 4実施形態は第 1実施形態の変形形態であ る。 第 4実施形態は第 1実施形態と基本的には同様の構成であり、 基本的に は同様の作用効果を奏する。 共通する部位には共通の符号を付する。 以下、 第 1実施形態と相違する部分を中心として説明する。 即ち、 第 2バッファタ ンク 2 3 の大部分は真空断熱槽 2 4 の真空断熱室 2 4 w内に配置されている が、 図 5に示すように、 第 2バッファタンク 2 3の一部 (上端部) のみが真 空断熱槽 2 4から露出している。 ただし、 第 2バッファタンク 2 3のうち、 真空断熱槽 2 4から露出している部分には、 断熱性に優れた断熱材 2 3 mが 配置されている。 断熱材 2 3 mは、 第 2バッファタンク 2 3内の冷媒ガスの 昇温を抑えることができる。
(第 5実施形態)
図 6は第 5実施形態を示す。 第 5実施形態は第 1実施形態の変形形態であ る。 第 5実施形態は第 1実施形態と基本的には同様の構成であり、 基本的に は同様の作用効果を奏する。 以下、 第 1実施形態と相違する部分を中心とし て説明する。 共通する部位には共通の符号を付する。 即ち、 第 2パッファタ ンク 2 3は真空断熱槽 2 4の真空断熱室 2 4 w内に配置されているが、 第 2 バッファタンク 2 3から突出した管状部 2 3 Xのみが真空断熱槽 2 4から露 出している。 管状部 2 3 Xには、 第 2バッファタンク 2 3内の冷媒ガスの圧 力や温度等の物理量を検出するためのセンサ等の計器 2 3 kが必要に応じて 取り付けられる。 計器 2 3 kが真空断熱槽 2 4から露出しているため、 計器 2 3 kの保守点検に有利である。
(第 6実施形態)
図 7は第 6実施形態を示す。 第 6実施形態は第 1実施形態の変形形態であ る。 第 6実施形態は第 1実施形態と基本的には同様の構成であり、 基本的に' は同様の作用効果を奏する。 以下、 第 1実施形態と相違する部分を中心と し て説明する。 即ち、 第 2イナ一タンスチューブ 2 2の長さは長いため、 第 2 イナ一タンスチューブ 2 2を有効利用すベく、 第 2イナ一タンスチューブ 2 2の全部または一部は、 第 1パルス管 1 4の低温端 1 4 Lにこれの周方向に 巻回されている。 第 2イナ一タンスチューブ 2 2は、 第 1パルス管 1 4の低 温端 1 4 L (冷却要素) で発生した冷凍で効果的に冷却される。 第 2イナ一 タンスチューブ 2 2は真空断熱室 2 4 w内に配置されている。
(その他) 上記した記載から次の技術的思想も把握される。
付記 1 . 請求項 1において、 前記バッファタンクは、 前記パルス管の内径 よりも小さい内径の流路をもつイナ一タンスチューブを介して前記パルス管 の高温端に連通することを特徴とするパルス管冷凍機。
付記 2 . 付記 1において、 前記イナ一タンスチューブは、 前記真空断熱槽 の前記真空断熱室内に配置されていることを特徴とするパルス管冷凍機。 付記 3 . 付記 1または 2において、 前記パルス管は、 圧力波形をもつ冷媒 ガスが流入し一端が低温端で他端が高温端とされた第 1 パルス管と、 圧力波 形をもつ冷媒ガスが流入し一端が前記第 1 パルス管の低温端より も低温とな る低温端とされ他端が高温端とされた第 2パルス管とで構成されていること を特徵とするパルス管冷凍機。
付記 4 . 付記 3において、 前記蓄冷器は、 前記圧力波形発生装置と前記第 1パルス管及ぴ前記第 2パルス管との間に設けられており、 前記第 1パルス 管及び/又は前記第 2パルス管に流入させる冷媒ガスを予冷することを特徴 とするパルス管冷凍機。
付記 5 . 付記 3において、 前記圧力波形位相制御要素は、 前記第 1 パルス 管の高温端に連通し前記第 1 パルス管の内径よりも小さい内径の流路をもつ 第 1イナ一タンスチューブと、 前記第 1イナータンスチューブを介して前記 第 1パルス管の高温端に連通する第 1バッファタンク と、 前記第 2パルス管 の高温端に連通し前記第 2パルス管の內径ょり も小さい内径の流路をもつ第 2イナ一タンスチューブと、 前記第 2イナ一タンスチューブを介して前記第 2パルス管の高温端に連通する低温側の第 2バッファタンクとをもつことを 特徴とするパルス管冷凍機。
付記 6 . 付記 5において、 前記第 1パルス管の低温端に熱的に接触して前 記第 1 パルス管の低温端からの冷凍で冷却される冷却要素が設けられており、 前記冷却要素は前記第 2イナ一タンスチューブに熱的に接触されていること を特徴とするパルス管冷凍機。
付記 7 . 付記 5または 6において、 前記第 1パルス管の低温端に熱的に接 触して前記第 1パルス管の低温端からの冷凍で冷却される冷却要素が設けら れており、 前記冷却要素は前記第 2バッファタンクに熱的に接触されている ことを特徴とするパルス管冷凍機。
付記 8 . 付記 5〜 7において、 前記第 2イナ一タンスチューブの少なく と も一部は前記第 1パルス管の低温端に熱的に接触されていることを特徴とす るパルス管冷凍機。 4004226
産業上の利用可能性
本発明はパルス管冷凍機に利用することができる。

Claims

請求の範囲
1 . 冷媒ガスの圧力波形を生成する圧力波形発生装置と、
前記圧力波形発生装置で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端 が低温端で他端が高温端とされたパルス管と、
前記圧力波形発生装置と前記パルス管との間に設けられ前記パルス管に流 入させる冷媒ガスを予冷する蓄冷器と、
前記パルス管の高温端に連通するバッファタンクをもち冷媒ガスの圧力波 形の位相を前記パルス管の低温端における冷凍生成のために制御する圧力波 形位相制御要素と、
前記パルス管を収容する真空断熱室をもつ真空断熱槽とを具備するパルス 管冷凍機において、
前記バッファタンクは、 前記真空断熱槽の前記真空断熱室内に配置されて いることを特徴とするパルス管冷凍機。
2 . 冷媒ガスの圧力波形を生成する圧力波形発生装置と、
前記圧力波形発生装置で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端 が低温端で他端が高温端とされたパルス管と、
前記圧力波形発生装置と前記パルス管との間に設けられ前記パルス管に流 入させる冷媒ガスを予冷する蓄冷器と、
前記パルス管の高温端に連通し前記パルス管の内径よりも小さい内径の流 路をもつイナ一タ ンスチューブと、 前記ィナータンスチューブを介して前記 パルス管の高温端に連通するバッファタンクとをもち、 冷媒ガスの圧力波形 の位相を前記パルス管の低温端における冷凍生成のために制御する圧力波形 位相制御要素と、
前記パルス管を収容する真空断熱室をもつ真空断熱槽とを具備するパルス 管冷凍機において、
前記ィナータンスチューブは、 前記真空断熱槽の前記真空断熱室内に配置 されていることを特徴とするパルス管冷凍機。
3 . 冷媒ガスの圧力波形を生成する圧力波形発生装置と、
前記圧力波形発生装置で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端 が低温端で他端が高温端とされた第 1パルス管と、
圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が前記第 1 パルス管の低温端より も 低温となる低温端で他端が高温端とされた第 2パルス管と、
前記圧力波形発生装置と前記第 1パルス管及び前記第 2パルス管との間に 設けられ前記第 1 パルス管及び/又は前記第 2パルス管に流入させる冷媒ガ スを予冷する蓄冷器と、
前記第 1パルス管の高温端に連通し前記第 1 パルス管の内径よりも小さい 内径の流路をもつ第 1イナ一タンスチューブと、 前記第 1イナ一タンスチュ ーブを介して前記第 1パルス管の高温端に連通する第 1バッファタンクと、 前記第 2パルス管の高温端に連通し前記第 2パルス管の内径より も小さい内 径の流路をもつ第 2イナ一タンスチューブと、 前記第 2イナ一タンスチュー プを介して前記第 2パルス管の高温端に連通する第 2バッファタンクとをも ち、 冷媒ガスの圧力波形の位相を冷凍生成のために制御する圧力波形位相制 御要素と、
少なく とも前記第 2パルス管を収容する真空断熱室をもつ真空断熱槽とを 具備するパルス管冷凍機において、
前記第 1パルス管の低温端に熱的に接触して前記第 1 パルス管の低温端か らの冷凍で冷却される冷却要素を設け、 前記冷却要素を前記第 2イナ一タン スチューブに熱的に接触させていることを特徴とするパルス管冷凍機。
4 . 冷媒ガスの圧力波形を生成する圧力波形発生装置と、
前記圧力波形発生装置で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端 が低温端で他端が高温端とされた第 1パルス管と、
圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が前記第 1 パルス管の低温端よりも 低温となる低温端で他端が高温端とされた第 2パルス管と、 前記圧力波形発生装置と前記第 1パルス管及び前記第 2パルス管との間に 設けられ前記第 1パルス管及び/又は前記第 2パルス管に流入させる冷媒ガ スを予冷する蓄冷器と、
前記第 1 パルス管の高温端に連通し前記第 1パルス管の内径より も小さい 内径の流路をもつ第 1イナ一タンスチューブと、 前記第 1イナ一タンスチュ ープを介して前記第 1 パルス管の高温端に連通する第 1 バッファタンクと、 前記第 2パルス管の高温端に連通し前記第 2パルス管の内径より も小さい内 径の流路をもつ第 2イナ一タンスチューブと、 前記第 2イナ一タンスチュー ブを介して前記第 2パルス管の高温端に連通する第 2バッファタンクとをも ち、 冷媒ガスの圧力波形の位相を冷凍生成のために制御する圧力波形位相制 御要素と、
少なく とも前記第 2パルス管を収容する真空断熱室をもつ真空断熱槽とを 具備するパルス管冷凍機において、
前記第 1 パルス管の低温端に熱的に接触して前記第 1 パルス管の低温端か らの冷凍で冷却さ,れる冷却要素を設け、 前記冷却要素を前記第 2バッファタ ンクに熱的に接触させていることを特徴とするパルス管冷凍機。
5 . 冷媒ガスの圧力波形を生成する圧力波形発生装置と、
前記圧力波形発生装置で生成された圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端 が低温端で他端が高温端とされた第 1パルス管と、
圧力波形をもつ冷媒ガスが流入し一端が第 1パルス管の低温端より も低温 となる低温端で他端が高温端とされた第 2パルス管と、
前記圧力波形発生装置と前記第 1 パルス管及び前記第 2パルス管との間に 設けられ前記第 1パルス管及び前記第 2パルス管に流入させる冷媒ガスを予 冷する蓄冷器と、
前記第 1パルス管の高温端に連通し前記第 1パルス管'の内径より も小さい 内径の流路をもつ第 1イナ一タンスチューブと、 前記第 1イナ一タンスチュ ーブを介して前記第 1 パルス管の高温端に連通する第 1バッファタンクと、 前記第 2パルス管の高温端に連通し前記第 2パルス管の内径より も小さい内 径の流路をもつ第 2イナ一タ ンスチューブと、 前記第 2イナータンスチュー ブを介して前記第 2パルス管の高温端に連通する第 2バッファタンクとをも ち、 冷媒ガスの圧力波形の位相を冷凍生成のために制御する圧力波形位相制 御要素と、
少なく とも前記第 2パルス管を収容する真空断熱室をもつ真空断熱槽とを 具備するパルス管冷凍機において、
前記第 2イナ一タンスチューブの少なく とも一部を前記第 1パルス管の低 温端に熱的に接触させていることを特徴とするパルス管冷凍機。
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