TWM522700U - 雷射測距斜視斜位角度量測裝置 - Google Patents

Description

雷射測距斜視斜位角度量測裝置

本創作係有關一種雷射測距斜視斜位角度量測裝置，尤指一種兼具多種感測可同步進行提高量測準確度、便於對語言表達不佳之患者進行斜視量測與便於對斜視患者進行術後視力訓練腦波融像量測之雷射測距斜視斜位角度量測裝置。

斜視為眼睛視線異常的其中一種狀況，可以眼球追蹤(Eye Tracking)量測斜視斜位角度變化。目前之裝置包括下列幾種： 　　第一個類型為特殊隱形眼鏡與嵌入的鏡子或電磁感應器，測量其眼球運動的附件。其中與眼球貼合的隱形眼鏡提供了較為敏感的紀錄，是研究者研究學習動機和眼位運動模式的首選方法。鞏膜搜索線圈(Scleral Search Coil)即是一款利用電磁感應原理來測量眼位移動的眼球追蹤裝置。方法的優點是有很好的空間和時間(1毫秒)解析度，缺點是量測方式很容易受到受測者當時眼球狀況的影響，如眼球之分泌物等，且不適合長期配戴(通常不能長於 30分鐘)，又，軟式鏡片具有雙層架構，侵入性的方式可能會影響使用者的視力。 　　第二種類型是使用一些非接觸式光學方法測量眼球運動，反映從眼睛到感應攝影機或其他特別設計的光學感應器，這種方式易受可見光影響，且每人眼球組織的折射率不同，反射出來的影像也會不同，會影響測量結果的準確性。 　　第三種在眼睛周圍設置電磁測量電位，可在完全黑暗的場所中檢測，利用攝影機實際拍攝眼球的位置來測量眼球的運動。首先給受試者帶一個帽子，上面有兩個攝影機分別拍攝兩隻眼睛的位置，帽子上另有一攝影機對應螢幕上四個點來校正頭的位置。偵測眼睛的攝影機係測量瞳孔的移動來計算眼球的移動。缺點是戴久了(超過 1-2 小時)會不舒服。 　　目前並沒有同時以多種感測器、非侵入性設備之雷射測距斜視斜位角度量測裝置。

本創作之目的，在於提供一種雷射測距斜視斜位角度量測裝置，其兼具多種感測可同步進行提高量測準確度、便於對語言表達不佳之患者進行斜視量測與便於對斜視患者進行術後視力訓練腦波融像量測等優點。特別是，本創作所欲解決之問題係在於目前並沒有同時以多種感測器、非侵入性設備之雷射測距斜視斜位角度量測裝置等問題。 解決上述問題之技術手段係提供一種雷射測距斜視斜位角度量測裝置，其包括： 一視線導引部，係設於一虛擬兩眼視線交會點位，用以導引一待測者之視線；該待測者具有一頭部及兩眼，其中之一為正常眼；其中之另一為斜視眼，該斜視眼具有一眼虛擬點位；當該正常眼之視線朝向該虛擬兩眼視線交會點位，則該斜視眼因斜視而使視線偏向一虛擬斜視點位，並當該正常眼之視線被遮覆，則該斜視眼之視線自動轉向該虛擬兩眼視線交會點位； 一斜視線矯正裝置，係可轉動的設於該斜視眼與該虛擬斜視點位之間，並具有一矯正虛擬點位，該斜視線矯正裝置係用以轉動反射而將該斜視眼之視線矯正至該虛擬兩視線交會點位； 一腦波擷取部，係設於該待測者之該頭部，而擷取其腦波訊號，該腦波訊號係對應該待測者之兩眼視力，而具有一放鬆度訊號及一專注度訊號，當該正常眼之視線朝向該虛擬兩眼視線交會點位，且該斜視眼因斜視而使視線偏向該虛擬斜視點位，則該待測者之視力呈模糊，該放鬆度訊號與該專注度訊號不交會；反之，當該正常眼之視線朝向該虛擬兩眼視線交會點位，且該斜視眼之視線被矯正至該虛擬兩眼視線交會點位，則該待測者之視力呈清楚，該放鬆度訊號與該專注度訊號產生一交會點；用以確認該斜視眼位於一矯正後眼位角度； 一雷射測距模組，係可於一第一測距位置、一第二測距位置、一第三測距位置之間變換；當位於該第一測距位置，係可量得該矯正虛擬點位與該眼虛擬點位之間的一第一邊長，當位於該第二測距位置，係可量得該虛擬兩眼視線交會點位與該矯正虛擬點位之間的一第二邊長，當位於該第三測距位置，係可量得該虛擬兩眼視線交會點位與該眼虛擬點位之間的一第三邊長，而可根據餘弦定理運算出一雷射測距角度，其應接近該矯正後眼位角度； 一不可見光檢測模組，係包括一不可見發光裝置、一左側不可見光影像擷取裝置及一右側不可見光影像擷取裝置；該不可見光發光裝置係用以朝該兩眼發出一不可見光，而可於該斜視眼上產生不可見反射光點 ；當該斜視眼之視線從該虛擬斜視點位矯正至該虛擬兩眼視線交會點位時，該左側不可見光影像擷取裝置及該右側不可見光影像擷取裝置同時用以擷取該斜視眼之不可見反射光影像，而可得到一眼位追蹤角度，其係接近該矯正後眼位角度； 一總控制部，係電性連結該視線導引部、該斜視線矯正裝置、該腦波擷取部、該雷射測距模組、該不可見光檢測模組其中至少一者，而用以控制其動作。 本創作之上述目的與優點，不難從下述所選用實施例之詳細說明與附圖中，獲得深入瞭解。 茲以下列實施例並配合圖式詳細說明本創作於後：

參閱第1及第2B圖，本創作係為一種雷射測距斜視斜位角度量測裝置，其包括： 一視線導引部10，係設於一虛擬兩眼視線交會點位A，用以導引一待測者90之視線；該待測者90具有一頭部90A及兩眼，其中之一為正常眼91A(本案中係舉例右眼為正常眼)；其中之另一為斜視眼91B(本案中係舉例左眼為斜視眼)，該斜視眼91B具有一眼虛擬點位D；當該正常眼91A之視線朝向該虛擬兩眼視線交會點位A，則該斜視眼91B因斜視而使視線偏向一虛擬斜視點位B，並當該正常眼91A之視線被遮覆(如第2C圖所示)，則該斜視眼91B之視線自動轉向該虛擬兩眼視線交會點位A； 一斜視線矯正裝置20，係可轉動的設於該斜視眼91B與該虛擬斜視點位B之間，並具有一矯正虛擬點位C，該斜視線矯正裝置20係用以轉動反射而將該斜視眼91B之視線矯正(矯正過程如第2C、第2D、第2E及第2F圖所示)至該虛擬兩視線交會點位A； 一腦波(Electronecephalogram，簡稱EEG)擷取部30，係設於該待測者90之該頭部90A，而擷取其腦波訊號91，該腦波訊號91係對應該待測者90之兩眼視力，而具有一放鬆度訊號及一專注度訊號，當該正常眼91A之視線朝向該虛擬兩眼視線交會點位A，且該斜視眼91B因斜視而使視線偏向該虛擬斜視點位B，則該待測者90之視力呈模糊，該放鬆度訊號(如第6圖所示之放鬆曲線L1)與該專注度訊號(如第6圖所示之專注曲線L2)不交會；反之，當該正常眼91A之視線朝向該虛擬兩眼視線交會點位A，且該斜視眼91B之視線被矯正至該虛擬兩眼視線交會點位A，則該待測者90之視力呈清楚，該放鬆度訊號與該專注度訊號產生一交會點X；用以確認該斜視眼91B位於一矯正後眼位角度 (參閱第2C圖)； 一雷射測距模組40，係可於一第一測距位置P1(參閱第4A圖，位於該矯正虛擬點位C)、一第二測距位置P2(參閱第4B圖，位於該虛擬兩眼視線交會點位A)、一第三測距位置P3(參閱第4C圖，鄰近該虛擬兩眼視線交會點位A，但角度與該第二測距位置P2不同)之間變換；當位於該第一測距位置P1，係可量得該矯正虛擬點位C與該眼虛擬點位D之間的一第一邊長 ，當位於該第二測距位置P2，係可量得該虛擬兩眼視線交會點位A與該矯正虛擬點位C之間的一第二邊長 ，當位於該第三測距位置P3，係可量得該虛擬兩眼視線交會點位A與該眼虛擬點位D之間的一第三邊長 ，而可根據餘弦定理運算出一雷射測距角度 ，其應接近該矯正後眼位角度 ； 一不可見光檢測模組50，係包括一不可見發光裝置51、一左側不可見光影像擷取裝置52及一右側不可見光影像擷取裝置53；該不可見光發光裝置51係用以朝該兩眼發出一不可見光511，而可於該斜視眼91B上產生不可見反射光點 (如第3圖所示)；當該斜視眼91B之視線從該虛擬斜視點位B(如第2B圖所示的矯正前位置PA)矯正至該虛擬兩眼視線交會點位A(如第2F圖所示的矯正後位置PB)時，該左側不可見光影像擷取裝置52及該右側不可見光影像擷取裝置53同時用以擷取該斜視眼91A之不可見反射光影像50A，而可得到一眼位追蹤角度 ，其係接近該矯正後眼位角度 ； 一總控制部60，係電性連結該視線導引部10、該斜視線矯正裝置20、該腦波擷取部30、該雷射測距模組40、該不可見光檢測模組50其中至少一者，而用以控制其動作。 實務上，該視線導引部10可為視標、可見光裝置其中至少一者，用以導引該待測者90之視線。 參閱第1圖，該腦波擷取部30又設有： 一微處理器結構30A，係用以擷取特定頻段之該腦波訊號91，並儲存以供擷取，該微處理器結構30A可為型號“TGAMI”之訊號處理晶片； 在此要特別說明的部分是，TGAM1訊號處理晶片之腳位包含了電源3.3V、接地(GND)、串列資料輸出(TX)、串列資料輸入(RX)、腦波訊號輸入(EEG)、腦波訊號接地(GND) 以及腦波訊號參考電位(REF)。 TGAM1訊號處理晶片同時保有腦波的擷取功能，其中包含了八個波段的腦波： [a] delta(0.5-2.75Hz)； [b] theta(3.5-6.75Hz)； [c] low-alpha(7.5-9.25Hz)； [d] high-alpha(10-11.75Hz)； [e] low-beta(13-16.75Hz)； [f] high-beta(18-29.75Hz)； [g] low-gamma(31-39.75Hz)； [h] high-gamma(41-49.75Hz)； 其中，放鬆度訊號係取自low-beta(13-16.75Hz)及low-alpha(7.5-9.25Hz)兩個波段，這兩個值越大放鬆度越高。 至於專注度訊號則取自low-gamma(31-39.75Hz)及high-gamma(41-49.75Hz)兩個波段，這兩個值越大專注度越高。 本創作根據腦波國際定義及視力生理現象，將視力放鬆方程式定義如公式(1) ∙∙∙∙(1) 　　並將視力專注方程定義如公式(2) ∙(2) 　　該腦波訊號91係為該使用者90之大腦運轉所產生之電位差。 一感測電極30B，係連結該微處理器結構30A，並用以貼設於該待測者90之頭部90A的一感測電極貼片位置Fp1上； 一參考電極30C，係連結該微處理器結構30A，並用以貼設於該待測者90之頭部90A的一參考電極貼片位置A1上，而與該感測電極10B共同擷取該腦波訊號91，並傳送至該微處理器結構30A。 參閱第5圖，該微處理器結構30A係包括：一放大器31、一類比/數位(A/D)轉換器32、一運算單元33、一帶通濾通器34及一快速傅立葉轉換單元(FFT)35；其中： 該放大器31係用以接收該腦波訊號91，並進行訊號放大處理； 該類比/數位(A/D)轉換器32，係用以讀取該放大器31進行訊號放大後之該腦波訊號91，並轉換出原始腦波資料(RAW EEG)，其概呈封包形式； 該運算單元33，係用以讀取並分析該類比/數位(A/D)轉換器32處理後之該腦波訊號91之雜訊程度； 該帶通濾波器34，係用以讀取該運算單元33分析後之該腦波訊號91，並進行濾波處理； 該快速傅立葉轉換單元(FFT)35，係用以讀取濾波處理後之該腦波訊號91，並將腦波訊號91從時域訊號轉換為頻域訊號(公知技術，恕不贅述)，且區分出各頻段，例如：delta(0.5-2.75Hz)、theta(3.5-6.75Hz)、low-alpha (7.5-9.25Hz)、high-alpha(10-11.75Hz)、low-beta (13-16.75Hz)、high-beta(18-29.75Hz)、low-gamma (31-39.75Hz)，與high-gamma(41- 49.75Hz)； 再將前述資料透過各頻段腦波數位資料(LONG EEG)封包處理，以供擷取。 　　當將該腦波擷取部30 配戴於該待測者90之頭部90A，且該斜視眼91B從視線朝向該虛擬斜視點位B時，該待測者90之視力應呈現模糊，該放鬆度訊號(如第6圖所示之放鬆曲線L1)與該專注度訊號(如第6圖所示之專注曲線L2)不交會；反之，當該斜視眼91B之視線被矯正而朝向該虛擬兩眼視線交會點位A，則該待測者90之視力呈清楚，該放鬆度訊號與該專注度訊號產生一交會點X；此時可確認該斜視眼91B位於矯正後眼位角度 (參閱第2C圖)。 該雷射測距模組40係將該第一邊長 、該第二邊長 及該第三邊長 傳送至該總控制部60，供該總控制部60根據餘弦定理： 進行運算； 其中： ； ； ； 則可得到雷射測距角度 ，其應接近(最好狀態是等於)該矯正後眼位角度 ，而可輔助確認量測結果。 在此要特別說明的部分是，參閱第2A圖，一般人之兩眼均為正常眼91A，兩眼之視線均朝向虛擬兩眼視線交會點位A。而如第2B圖所示，有的人其中一眼為斜視眼91B，其視線朝向一虛擬斜視點位B(具有一斜視眼位角度 )。 斜視為一種潛在性眼位偏斜，但能在融合反射控制下保持雙眼單視，以強制兩眼球保持在正位而不顯出偏斜，一旦大腦融合作用遭到阻斷(如一眼被遮蓋時)或失去控制(如在過度使用目力或精神疲勞時)，眼位偏斜就會表現出來。 本創作之斜視斜位角度矯正過程係如下所述： 首先，先讓該待測者90之兩眼凝視遠方放鬆，待腦波呈現放鬆時，開始檢測，實驗測試時間共30秒鍾。 1.打開雙眼(如第2B圖所示)，右眼(即該正常眼91A)凝視該視線導引部10(位於該虛擬兩眼視線交會點位A上之遠方視標)，左眼(即該斜視眼91B)斜視另一視標(位於該虛擬斜視點位B上)，計時10秒。 2.遮蓋雙眼，計時10秒。 3.遮蓋右眼(如第2C圖所示)，則左眼(該斜視眼91B)之視線自動轉向該虛擬兩眼視線交會點位A(即該視線導引部10)； 4.移除右眼前方遮蓋板，旋轉平面鏡(即該斜視線矯正裝置20)，係可反射而將左眼(該斜視眼91B)之視線矯正(矯正過程如第2C、第2D、第2E及第2F圖所示)至該虛擬兩視線交會點A，使左、右眼同時正視該視線導引部10而產生融像(參閱第2F圖)。 於前述斜視斜位角度矯正過程中，可進行下列三種量測模式： [a] 雷射測距量測模式：當該斜視眼91B位於該矯正後位置PB，將該雷射測距模組40分別移動至該第一測距位置P1(參閱第4A圖，位於該矯正虛擬點位C)、該第二測距位置P2(參閱第4B圖，該虛擬兩眼視線交會點位A)與該第三測距位置P3(參閱第4C圖，鄰近該虛擬兩眼視線交會點位A，但角度與該第三測距位置P3不同)；而分別量得該第一邊長 、該第二邊長 及該第三邊長 ，供該總控制部60根據餘弦定理運算而得到雷射測距角度 ，其應接近或是等於該矯正後眼位角度 。 [b] 眼位追蹤量測模式：以該不可見光發光裝置51朝該兩眼發出不可見光511，而可於該斜視眼91B上產生不可見反射光點 (如第3圖所示)；當該斜視眼91B之視線從該虛擬斜視點位B(參閱第2B及第3圖，從矯正前位置PA及不可見反射光點 ，可測得一斜視眼位角度 )依序移動至一第一虛擬矯正點B1(如第2D及第3圖所示，此時從不可見反射光點 測得一第一矯正眼位角度 )、一第二虛擬矯正點B2(如第2E及第3圖所示，從不可見反射光點 可測得一第二矯正眼位角度 )移動到該虛擬兩眼視線交會點位A(參閱第2F及第3圖，從矯正後位置PB及不可見反射光點 ，可測得一眼位追蹤角度 ，其應等該矯正後眼位角度 )時，該左側不可見光影像擷取裝置52及該右側不可見光影像擷取裝置53同時用以擷取該斜視眼91A之不可見反射光影像50A，而可得到該眼位追蹤角度 ，可用以輔助確認該矯正後眼位角度 。 [c] 腦波量測模式：當該斜視眼91B因斜視而使視線偏向該虛擬斜視點位B，則該待測者90之視力呈模糊，該放鬆度訊號(如第6圖所示之放鬆曲線L1)與該專注度訊號(如第6圖所示之專注曲線L2)不交會；反之，當該斜視眼91B之視線被矯正而朝向該虛擬兩眼視線交會點位A，則該待測者90之視力呈清楚，該放鬆度訊號與該專注度訊號產生一交會點X；用以確認該斜視眼91B位於矯正後眼位角度 (參閱第2C圖)。 本創作進一步可再包括一斜視先行檢測裝置(設於該虛擬兩眼視線交會點位A上)，其具有一紅燈70A及一綠燈70B，正常而無斜視時，兩眼視線應朝向該斜視先行檢測裝置(如第2G圖所示)。 而當其中之一眼為斜視時(假設右眼正常，左眼為斜視)，係先行檢測如下： 1.開啟該紅燈70A，其係發出一紅光701。此時該待測者90之右眼(即該正常眼91A)之視線會朝向該紅燈70A之光點，如第2H圖所示。同時，該待測者90之左眼(即斜視眼91B)應會偏斜，朝向該虛擬斜視點位B。 2.檢測人員詢問：請問看到什麼？該待測者90會回答：右眼看見紅光701。 3.遮蓋右眼(如第2I圖所示)，關閉紅燈70A並啟動綠燈70B，其係發出一綠光702。此時該待測者90之右眼(即該正常眼91A)被遮住，只能用左眼看。該待測者90之左眼(即斜視眼91B)則會偏斜回而注視此綠燈70B，即離開該虛擬斜視點位B之方向而回到正常之方向(該虛擬兩眼視線交會點位A)。 4.檢測人員詢問：請問看到什麼？由於此時之左眼(該斜視眼91B)之視線已轉向回該虛擬兩眼視線交會點位A處，該待測者90應是回答：看到綠光702。 經上述過程即此可確認，該待測者90應適用本創作之測量。 在此要額外說明的部分是，雙眼視覺(binocular vision)是指環境中物體的影像被聚焦且分別落在兩眼視網膜對應點上(主要指黃斑部)，因為落在視網膜上的光線會使視桿、視錐細胞產生動作電位，將所引起的電資訊沿視覺知覺系統傳入大腦，在大腦高級中樞把來自兩眼的視覺信號進行分析，綜合成一個完整的、具有立體感知的視覺印像過程。     在雙眼視覺的產生過程中，感覺系統和運動系統是同時作用的。感覺系統是一個「看」的過程，眼睛將光線屈折聚集在視網膜上，視網膜將光的衝動傳遞到神經中樞，最後產生對物體形狀、顏色、運動和空間相對位置的認識，也就是將一眼的感覺資訊與另一眼的感覺資訊重合起來形成一單個像的能力，稱為「感覺融像」(sensory fusion)，為了使感覺融像出現，必須通過「運動融像」(moter fusion)使雙眼匹配一致，運動融像就是眼外肌為保持雙眼匹配而作出的反應。運動融像只有在感覺融像發生時才發生，運動融像是對感覺融像的反應；感覺融像只有當運動融像出現時才發生。 而當雙眼產生融像(腦波融像)時，即為視力清晰的時候，此時該放鬆度訊號與該專注度訊號產生該交會點X。 本創作之優點及功效係如下所述： [1] 多種感測可同步進行提高量測準確度。本創作同時設置雷射測距量測模式、眼位追蹤量測模式及腦波量測模式，可同時或分別進行量測斜視斜位角度，可將量得之角度重覆比對，提高量測準確度。故，多種感測可同步進行提高量測準確度。 [2] 便於對語言表達不佳之患者進行斜視量測。本創作係客觀量測斜視眼之角度變化，並不需要患者主觀表達視力之清晰度，對於語言障礙或語言表達能力比較差的斜視病患，完全不用考量其表達能力是否準確。故，便於對語言表達不佳之患者進行斜視量測。 [3] 便於對斜視患者進行術後視力訓練腦波融像量測。本創作不需要患者主觀表達視力之清晰度，對於術後患者，可直接進行術後視力訓練腦波融像量測。故，便於對斜視患者進行術後視力訓練腦波融像量測。 以上僅是藉由較佳實施例詳細說明本創作，對於該實施例所做的任何簡單修改與變化，皆不脫離本創作之精神與範圍。

10‧‧‧視線導引部
20‧‧‧斜視線矯正裝置
30‧‧‧腦波擷取部
30A‧‧‧微處理器結構
30B‧‧‧感測電極
30C‧‧‧參考電極
31‧‧‧放大器
32‧‧‧類比/數位轉換器
33‧‧‧運算單元
34‧‧‧帶通濾通器
35‧‧‧快速傅立葉轉換單元
40‧‧‧雷射測距模組
50‧‧‧不可見光檢測模組
50A‧‧‧不可見反射光影像
51‧‧‧不可見發光裝置
511‧‧‧不可見光
52‧‧‧左側不可見光影像擷取裝置
53‧‧‧右側不可見光影像擷取裝置
60‧‧‧總控制部
70A‧‧‧紅燈
70B‧‧‧綠燈
701‧‧‧紅光
702‧‧‧綠光
90‧‧‧待測者
90A‧‧‧頭部
91‧‧‧腦波訊號
91A‧‧‧正常眼
91B‧‧‧斜視眼
A‧‧‧虛擬兩眼視線交會點位
B‧‧‧虛擬斜視點位
B1‧‧‧第一虛擬矯正點
B2‧‧‧第二虛擬矯正點
C‧‧‧矯正虛擬點位
D‧‧‧眼虛擬點位
L1‧‧‧放鬆曲線
L2‧‧‧專注曲線
X‧‧‧交會點
‧‧‧斜視眼位角度
‧‧‧第一矯正眼位角度
‧‧‧第二矯正眼位角度
‧‧‧矯正後眼位角度
‧‧‧雷射測距角度
‧‧‧眼位追蹤角度
‧‧‧不可見反射光點
P1‧‧‧第一測距位置
P2‧‧‧第二測距位置
P3‧‧‧第三測距位置
‧‧‧第一邊長
‧‧‧第二邊長
‧‧‧第三邊長
Fp1‧‧‧感測電極貼片位置
A1‧‧‧參考電極貼片位置

第1圖係本創作之示意圖 第2A圖係正常視線之示意圖 第2B圖係兩眼其中之一為斜視之示意圖 第2C圖係正常眼遮住則斜視眼自動轉回正常視線之示意圖 第2D圖係斜視眼矯正至第一矯正眼位角度之示意圖 第2E圖係斜視眼矯正至第二矯正眼位角度之示意圖 第2F圖係斜視眼矯正至矯正後眼位角度之示意圖 第2G圖係本創作之眼球斜視反應裝置之示意圖 第2H圖係第2G圖之使用過程之一之示意圖 第2I圖係第2G圖之使用過程之二之示意圖 第3圖係本創作之斜視眼之矯正眼位追縱之示意圖 第4A、第4B及第4C圖係分別為本創作之雷射測距模組分別位於第一測距位置、第二測距位置與第三測距位置之示意圖 第5圖係本創作之腦波擷取部之系統方塊圖 第6圖係本創作之腦波訊號之曲線圖

10‧‧‧視線導引部

20‧‧‧斜視線矯正裝置

30‧‧‧腦波擷取部

30A‧‧‧微處理器結構

30B‧‧‧感測電極

30C‧‧‧參考電極

40‧‧‧雷射測距模組

50‧‧‧不可見光檢測模組

51‧‧‧不可見發光裝置

52‧‧‧左側不可見光影像擷取裝置

53‧‧‧右側不可見光影像擷取裝置

60‧‧‧總控制部

90‧‧‧待測者

90A‧‧‧頭部

91‧‧‧腦波訊號

91A‧‧‧正常眼

91B‧‧‧斜視眼

P2‧‧‧第二測距位置

Fp1‧‧‧感測電極貼片位置

A1‧‧‧參考電極貼片位置

Claims (4)

1. 一種雷射測距斜視斜位角度量測裝置，係包括： 　一視線導引部，係設於一虛擬兩眼視線交會點位，用以導引一待測者之視線；該待測者具有一頭部及兩眼，其中之一為正常眼；其中之另一為斜視眼，該斜視眼具有一眼虛擬點位；當該正常眼之視線朝向該虛擬兩眼視線交會點位，則該斜視眼因斜視而使視線偏向一虛擬斜視點位，並當該正常眼之視線被遮覆，則該斜視眼之視線自動轉向該虛擬兩眼視線交會點位； 　一斜視線矯正裝置，係可轉動的設於該斜視眼與該虛擬斜視點位之間，並具有一矯正虛擬點位，該斜視線矯正裝置係用以轉動反射而將該斜視眼之視線矯正至該虛擬兩視線交會點位； 　一腦波擷取部，係設於該待測者之該頭部，而擷取其腦波訊號，該腦波訊號係對應該待測者之兩眼視力，而具有一放鬆度訊號及一專注度訊號，當該正常眼之視線朝向該虛擬兩眼視線交會點位，且該斜視眼因斜視而使視線偏向該虛擬斜視點位，則該待測者之視力呈模糊，該放鬆度訊號與該專注度訊號不交會；反之，當該正常眼之視線朝向該虛擬兩眼視線交會點位，且該斜視眼之視線被矯正至該虛擬兩眼視線交會點位，則該待測者之視力呈清楚，該放鬆度訊號與該專注度訊號產生一交會點；用以確認該斜視眼位於一矯正後眼位角度； 　一雷射測距模組，係可於一第一測距位置、一第二測距位置、一第三測距位置之間變換；當位於該第一測距位置，係可量得該矯正虛擬點位與該眼虛擬點位之間的一第一邊長，當位於該第二測距位置，係可量得該虛擬兩眼視線交會點位與該矯正虛擬點位之間的一第二邊長，當位於該第三測距位置，係可量得該虛擬兩眼視線交會點位與該眼虛擬點位之間的一第三邊長，而可根據餘弦定理運算出一雷射測距角度，其應接近該矯正後眼位角度； 　一不可見光檢測模組，係包括一不可見發光裝置、一左側不可見光影像擷取裝置及一右側不可見光影像擷取裝置；該不可見光發光裝置係用以朝該兩眼發出一不可見光，而可於該斜視眼上產生不可見反射光點 ；當該斜視眼之視線從該虛擬斜視點位矯正至該虛擬兩眼視線交會點位時，該左側不可見光影像擷取裝置及該右側不可見光影像擷取裝置同時用以擷取該斜視眼之不可見反射光影像，而可得到一眼位追蹤角度，其係接近該矯正後眼位角度； 　一總控制部，係電性連結該視線導引部、該斜視線矯正裝置、該腦波擷取部、該雷射測距模組、該不可見光檢測模組其中至少一者，而用以控制其動作。
2. 如申請專利範圍第１項所述之雷射測距斜視斜位角度量測裝置，其中，該視線導引部係為視標、可見光裝置其中至少一者，用以導引該待測者之視線。
3. 如申請專利範圍第１項所述之雷射測距斜視斜位角度量測裝置，其中： 　該頭部係具有一感測電極貼片位置及一參考電極貼片位置； 　該腦波擷取部又包括： 　　一微處理器結構，係用以擷取特定頻段之該腦波訊號，並儲存以供擷取； 　　一感測電極，係連結該微處理器結構，並用以貼設於該感測電極貼片位置上； 　　一參考電極，係連結該微處理器結構，並用以貼設於該參考電極貼片位置上，而與該感測電極共同擷取該腦波訊號，並傳送至該微處理器結構。
4. 如申請專利範圍第３項所述之雷射測距斜視斜位角度量測裝置，其中，該微處理器結構係包括一放大器、一類比/數位轉換器、一運算單元、一帶通濾通器及一快速傅立葉轉換單元；其中： 　該放大器係用以接收該腦波訊號，並進行訊號放大處理； 　該類比/數位轉換器係用以讀取該放大器進行訊號放大後之該腦波訊號，並轉換出原始腦波資料； 　該運算單元係用以讀取並分析該類比/數位轉換器處理後之該腦波訊號之雜訊程度； 　該帶通濾波器係用以讀取該運算單元分析後之該腦波訊號，並進行濾波處理； 　該快速傅立葉轉換單元，係用以讀取濾波處理後之該腦波訊號，並將腦波訊號從時域訊號轉換為頻域訊號；再將前述資料透過各頻段腦波數位資料封包處理，以供擷取。