TWM506281U - 測量裝置 - Google Patents
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Description
本創作是與測量裝置有關,更詳而言之,是一種結合雷射測距以及水平旋轉角度感測之技術以量測一待測面之二基準點之水平直線距離的裝置。
已知利用雷射測距儀可量測從測站(雷射測距儀的設立位置)至一被測物表面之一基準點的直線相對距離。通過這個原理,雷射測距儀可以應用在各種量測領域。為了便於攜帶和機動型測站之設置,雷射測距儀已發展到一種可手持的裝置。使用者可直接手持該儀器進行量測,或者是透過三腳架將儀器定位在一測站點。
本創作之目的是在提供一種測量裝置,該測量裝置結合雷射測距以及水平旋轉角度感測之技術而可量測一待測面之二基準點之水平直線距離。
本創作達成上述目的之測量裝置,主要包括:一雷射測距儀,該雷射測距儀的內部設一水平旋轉角度感測器;一上雲台,其上具有一用以收納及定位該雷射測距儀之容置部;該上雲台對應該水平旋轉角度感測器之位置具有一磁性體容納部;
一下雲台,具有一凸出於該下雲台之上表面之磁性體,該磁性體位於該磁性體容納部中,且該磁性體和該磁性體容納部保持可相對自由旋轉;據此使該上雲台可於該下雲台上自由旋轉,且該上雲台之旋轉方位與角度透過該水平旋轉角度感測器與磁性體感應,並轉換為可供程式運用之角度參數。
更進一步的,該雷射測距儀為一手持式雷射測距儀。
更進一步的,該磁性體容納部為貫穿該上雲台之上下表面之圓形貫孔;該磁性體為圓塊形。
更進一步的,本創作測量裝置之測量方法,包括:該雷射測距儀在一待測表面之第一基準點發射一雷射光束,並進行該第一基準點至該雷射測距儀之間的直線距離量測,從而獲得第一直線距離值,並轉換為第一運算參數;旋轉該上雲台,將該雷射測距儀的雷射光束從該第一基準點水平移至一第二基準點,並進行第二基準點至該雷射測距儀之間的直線距離量測,從而獲得第二直線距離值,並轉換為第二運算參數;旋轉該上雲台的同時,上雲台之旋轉方位與角度透過該水平旋轉角度感測器與磁性體感應,並轉換為可供程式運用之角度參數;一軟體模組接收上述第一運算參數、第二運算參數、和角度參數,並透過函式運算獲得該待測表面之第一基準點至第二基準點的水平直線距離。
本創作之測量裝置之具體功效在於:結合雷射測距以及水平旋轉角度感測之技術而可量測一待測面
之二基準點之水平直線距離;可利用此原理具體的量測一待測面的水平寬度。
本創作之測量裝置提供角度、方向和水平旋轉位移測量之功能。
基於圓塊形磁鐵與圓孔形之磁性體容納部之配合,使兩者保持可相對旋轉之自由性,因此該上雲台得以自由無段的旋轉各種角度,可擴大量測範圍。
第一基準點和第二基準點可不在同一待測面上,利用本創作仍可進行兩個基準點的相對距離量測。
10‧‧‧雷射測距儀
11‧‧‧水平旋轉角度感測器
20‧‧‧上雲台
21‧‧‧容置部
22‧‧‧磁性體容納部
23‧‧‧定位塊
24‧‧‧定位塊
25‧‧‧定位塊
30‧‧‧下雲台
31‧‧‧磁性體
50‧‧‧待測表面
53‧‧‧雷射光束
56‧‧‧待測表面
57‧‧‧待測表面
P1‧‧‧第一基準點
P2‧‧‧第二基準點
L1‧‧‧第一直線距離值
L2‧‧‧第二直線距離值
L3‧‧‧水平直線距離
第一圖為本創作測量裝置之立體分解圖。
第二圖為本創作測量裝置之組合外觀圖。
第三圖為本創作水平旋轉角度感測器與磁性體感應之示意圖。
第四圖為本創作測量裝置之測量動作示意圖之一。
第五圖為本創作測量裝置之測量動作示意圖之二。
第六圖為本創作測量裝置之測量動作示意圖之三。
第七圖為本創作測量裝置之另一測量示意圖。
為便於說明本發明於上述新型內容一欄中所表示的中心思想,茲以具體實施例表達。實施例中各種不同物件係按適於說明之比例、尺寸、變形量或位移量而描繪,而非按實際元件的比例予以繪製,合先敘明。
如第一圖及第二圖,本創作測量裝置,主要包括:
一雷射測距儀10,該雷射測距儀10的內部設一水平旋轉角度感測器11;一上雲台20,其上具有一用以收納及定位該雷射測距儀10之容置部21;該上雲台20對應該水平旋轉角度感測器11之位置具有一磁性體容納部22;所述之容置部21是由數個設於該上雲台20左邊、右邊及後邊的定位塊23,24,25所界定,雷射測距儀10置於該容置部21中,其左邊、右邊及後邊分別被該定位塊23、24、25所限定。該上雲台20的前邊並沒有設置定位塊,主要原因是不阻擋雷射測距儀10之雷射光從儀器的前端出射。該上雲台20左邊的數個定位塊23彼此之間有一距離,右邊的定位塊24亦同。所述的距離供使用者便於取放雷射測距儀10。該上雲台20後邊的定位塊25的寬度與該上雲台20的寬度相同,提供該雷射測距儀10後邊的全面支托。
一下雲台30,具有一凸出於該下雲台30之上表面之磁性體31,該上雲台20放置於該下雲台30的上表面,該磁性體31位於該磁性體容納部22中,使上雲台20定位在下雲台30上;該磁性體容納部22為貫穿該上雲台20之上下表面之圓形貫孔;該磁性體31為圓塊形,因此該磁性體31和該磁性體容納部22保持可相對旋轉之自由性,該上雲台20可於該下雲台30上自由旋轉,且該上雲台20之旋轉方位與角度透過該水平旋轉角度感測器11與磁性體31感應並轉換為可供程式運用之角度參數。
較佳的,該雷射測距儀10為一手持式雷射測距儀,該手持式雷射測距儀具有長矩形立方形狀,較容易與該上雲台20的容置部21匹配,且上雲台20不會阻擋雷射光束之出射及反射接收。
如第三圖,描述本創作利用水平旋轉角度感測器11與磁性體31
感應之示意圖,水平旋轉角度感測器11設定了二維垂直相交的X軸和Y軸座標系統,磁性體31則具備了S極和N極,水平旋轉角度感測器11與磁性體31產生了相對旋轉關係時,水平旋轉角度感測器11可以感測磁力大小的變化,同時通過X軸和Y軸座標感測旋轉的方向,從而獲得旋轉角度、旋轉方向等資訊。
較佳使用本創作的方式是將該下雲台30定位在一三角架基座上,從而保持雷射測距儀的基準位置,使量測得以更準確。
以下描述使用本創作對一待測表面量測水平的兩個基準點之間水平距離的操作方式;如第四圖,該雷射測距儀10、上雲台20、下雲台30之組合體透過一三角架定位於一測站,該雷射測距儀10對一待測表面50發射一雷射光束53,該雷射光束53於該待測表面50形成第一基準點P1,該雷射測距儀10並進行該第一基準點P1至該雷射測距儀之間的直線距離量測,從而獲得第一直線距離值L1,並轉換為第一運算參數;如第五圖,旋轉該上雲台20,將該雷射測距儀10的雷射光束53從該第一基準點P1水平位移後定位,於該待測表面50形成一第二基準點P2,並進行第二基準點P2至該雷射測距儀之間的直線距離量測,從而獲得第二直線距離值L2,並轉換為第二運算參數;旋轉該上雲台20的同時,上雲台20之旋轉方位(如箭頭所示)與角度θ透過該水平旋轉角度感測器11與磁性體31感應,並轉換為可供程式運用之角度參數。
如第六圖,一軟體模組接收上述第一運算參數、第二運算參數、和角度參數,並透過函式運算獲得該待測表面50之第一基準點P1至第二基
準點P2的水平直線距離L3。
綜上所述本創作之測量裝置實現了角度和旋轉位移測量之功能,可量測一待測面之二基準點之水平直線距離,利用此原理具體的量測一待測面的水平寬度。此外,本創作之雷射測距儀10可透過上雲台20在下雲台30上自由的旋轉,大幅降低量測之限制範圍,甚至,如第七圖,當第一基準點P1和第二基準點P2分別位於兩個待測表面56,57時,利用本創作仍可進行兩個基準點之相對距離量測。
上述實施例中,水平旋轉角度感測器11是設於雷射測距儀10中,然而並不僅限於此,該水平旋轉角度感測器11和磁性體51可分別設於該上雲台20及該下雲台30之相對預定位置,當上雲台20旋轉時,該水平旋轉角度感測器11同樣可與磁性體51產生感應,從而產生旋轉方位和角度之參數,該軟體模組透過函式運算獲得該第一基準點P1至第二基準點P2的水平直線距離L3。
該軟體模組可內建於該雷射測距儀10中,或者內建於智慧行動裝置中,該智慧行動裝置透過有線或無線傳輸與該雷射測距儀和該水平旋轉角度感測器耦合。
10‧‧‧雷射測距儀
11‧‧‧水平旋轉角度感測器
20‧‧‧上雲台
21‧‧‧容置部
22‧‧‧磁性體容納部
23‧‧‧定位塊
24‧‧‧定位塊
25‧‧‧定位塊
30‧‧‧下雲台
31‧‧‧磁性體
Claims (10)
- 一種測量裝置,包括:一內建有水平旋轉角度感測器之雷射測距儀;一上雲台,其上具有一用以收納及定位該雷射測距儀之容置部;該上雲台對應該水平旋轉角度感測器之位置具有一磁性體容納部;一下雲台,具有一凸出於該下雲台之上表面之磁性體,該磁性體位於該磁性體容納部中,且該磁性體和該磁性體容納部保持可相對旋轉自由性,該上雲台可於該下雲台上自由旋轉;該上雲台之旋轉方位與角度透過該水平旋轉角度感測器與磁性體感應。
- 如申請專利範圍第1項所述測量裝置,其中,該雷射測距儀為一手持式雷射測距儀。
- 如申請專利範圍第1項所述測量裝置,其中,該磁性體容納部為貫穿該上雲台之上下表面之圓形貫孔;該磁性體為圓塊形。
- 如申請專利範圍第1項所述測量裝置,其中,所述之容置部是由數個設於該上雲台左邊、右邊及後邊的定位塊所界定而成,該雷射測距儀置於該容置部中,該雷射測距儀的左邊、右邊及後邊分別被該定位塊所限位。
- 如申請專利範圍第4項所述測量裝置,其中,該上雲台同一邊的數個定位塊彼此之間具有一供使用者便於取放該雷射測距儀之距離。
- 如申請專利範圍第4項所述測量裝置,其中,該上雲台後邊的定位塊的寬度與該上雲台的寬度相同,提供該雷射測距儀後邊的全面支托。
- 如申請專利範圍第1項所述測量裝置,其中,該雷射測距儀量測一待測表面之第一基準點至該雷射測距儀之第一直線距離,轉換為可供一軟體模組運算之第一運算參數,該雷射測距儀量測該待測表面之第二基準點 至該雷射測距儀之第二直線距離,轉換為可供該軟體模組運算之第二運算參數,該水平旋轉角度感測器與磁性體感應量測該雷射測距儀從第一基準點平移至第二基準點的旋轉方位和角度,並轉換為可供該軟體模組運用之角度參數;該軟體模組接收上述第一運算參數、第二運算參數、和角度參數,並透過函式運算獲得該第一基準點至第二基準點的水平直線距離。
- 一種測量裝置,主要包括:一雷射測距儀;一供該雷射測距儀設置其上之上雲台;一供該上雲台結合並可供該上雲台自由水平旋轉的下雲台;一水平旋轉角度感測器以及一磁性體,分別設於該上雲台及該下雲台之相對預定位置;一軟體模組與該雷射測距儀和該水平旋轉角度感測器耦合,用以接收該雷射測距儀所取得之一待測表面之第一基準點至該雷射測距儀之第一直線距離、該待測表面之第二基準點至該雷射測距儀之第二直線距離、以及該水平旋轉角度感測器與磁性體量測該雷射測距儀從第一基準點平移至第二基準點的旋轉方位和角度,該軟體模組透過函式運算獲得該第一基準點至第二基準點的水平直線距離。
- 如申請專利範圍第8項所述之測量裝置,其中,該軟體模組內建於該雷射測距儀中。
- 如申請專利範圍第8項所述之測量裝置,其中,該軟體模組內建於智慧行動裝置中,該智慧行動裝置透過有線或無線傳輸與該雷射測距儀和該水平旋轉角度感測器耦合。
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TW104203216U TWM506281U (zh) | 2015-03-04 | 2015-03-04 | 測量裝置 |
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