TWM404379U - Test structure for GIP panel - Google Patents

Description

M.404379 五、新型說明： 【新型所屬之技術領域】 本創作係關於一種測試面板的架構，特別是針對具有 雙邊閘極驅動的GIP面板之測試架構，可降低面板的測試 成本。 【先前技術】

為了降低顯示器面板的成本’面板製造商逐漸將面板 上的閘極驅動電路直接作在面板上，因此在組裝面板時不 需要再額外購買閘極驅動1C。此種不需要閘極驅動IC的 面板稱之為GIP (gate in panel)面板，或稱為無閘極 (gateless)面板。一般較大尺寸或解度較高的GIP面板，其 面板上的閘極驅動電路會作在面板基板的左右兩側，分別 可驅動面板上之奇數閘極線與偶數閘極線，或者，此左右 兩側的驅動電路各驅動面板上左右各半邊的閘極線。 傳統上，在測試此種GIp面板丨〇〇時，其測試流程如 第1圖所示，先驅動左側的奇數閘極線，以測試面板中— 半的畫素101，然後再驅動右側的偶數閘極線，以測試面 板中另一半的晝素102，最後再整合這兩半的畫素資料以 得到完整的面板點缺分佈1〇3。 此種傳統的方式若要同時驅動左右兩側的閘極驅動電 0則品要兩套的測試設備，尤其是測試設備中的測試訊 #“產生P在大量生產的情況之下，測試每—面板需要兩 個HfK產生=’使得測試極為不經濟。若是只使用— 個Hil 產生’則必須在測完—半的面板晝素後，拆 3 M404379 卸測試設備，然後再測試另一半的晝素；如此的做法，將 使執行測試的時間變長，故不論以上述的何種方式\均無 法有效降低測試成本。 = 因此本創作揭露一種新的測試架構與方法，針對具有 雙邊閘極驅動的GIP面板，減少測試設備的需求 低測試成本。 【新型内容】 本創作係提出-種測試GIP面板之架構與方法，較於 =統=法’應用本創作可節省執行測試時所需之測試設 備。本創作之GIP面板之測試結構，包含有：一顯 板，在該顯示器面板的第一 #美 ' # Μ基板上有-第-閘極驅動電 線.-㈣驅動電路、複數條間極線、與複數條源極 ，炅數個串接襯墊’被製作於該第 =串接㈣均電性連接至該第1極驅動電路。該第 =反：為顯示器面板之上基板或下基板， : 動電路可被設置為具有移位暫存器功能，而得以分3 啟動（acilvate)基板上之該些閉極線。

在測試該顯示器面板時，該複數個串接襯墊會經由一 測η式系統電性連接至琴笛_卩肖H 可依序由第—一閘極驅動電路，使一測試訊號 測試李統^電路，經過該複數個串接觀塾與該 個串接襯勢亦可被…：動電路。相反地’該複數 然後於測試顯示=;與;：開極驅動電路電性連接， 一閘極,_f路。T #由_試系統電性連接至第 4 該測試系統包含有：— 控制線路與複數個探針，於執二二:該=治具上有-基板上該複數個串接襯塾電，讀制線路可將 該測試系統上之複數個探 接到第二閘極驅動電路； 第二閘極驅動電路盥㈣第-閘極驅動電路、 機二，Μ 亥複數個串接襯塾電性連接；-針測 機口，该針測機台裝載著魅料、“ 伐 針測 與第—閘極驅動雷跋货 •十Ί、，並控制該探針治具 襯墊的電性連接開極驅動電路及該複數個串接 訊號、二生器，用以產生包含有-時脈 盥複數個雷二 5虎、—啟動訊號、-參考電壓訊號 數個電壓脈衝訊號等測試訊號。 =_之训面板測試方法，包含有:使 统板之該第一片基板，及使用上述之該測試李 使”:=時’該針測機台控制其所裝置之探針治具： :广具上的複數個探針各別與第一閘極驅動電路、 弟一開極驅動電路、該複數個串接概塾電性連接；其中談 複丈個串接襯塾會經由該探針治具上的控制線路電性連接 開極驅動電路；故當測試系統中的訊號產生器送一 測試訊號到第-開極驅動電路後’該電路會分時依序逐條 啟動閘極線，直到該電路所控制的最後一條閘極線時，該 Hfl 5虎會被傳送到第一片基板上的複數個串接概塾、然 後由彳木針治具上的複數個探針與控制線路傳送到第二閘極 驅動電路’該驅動電路也同樣分時依序逐條啟動其所控制 的閘極線，直到測試完成。 閘 在執行測試顯示器面板時，其第一片基板上的第一 M404379 極驅動電路與第二閘極驅動電路會先被設置為具有移位暫 存器功能；為避免模糊本創作之焦點，不在此贅敎 器之原理與詳細功能：其結果是該測試訊號可經 極驅動電路與第二閘極驅動電路分時依序啟動顯示器面板 上的複數條閘極線。所謂分時依序啟動是指閘極驅動電路 了以如移位暫存器之功能，以一時脈⑷啟動某一條閘 '·極線，逐條啟動，直到掃過所有的閘極線。 正田„亥第基板上的某一條閘極線被啟動的期間内， 戒號產生β可以對該基板上的複數條源極線送出電壓脈衝 訊號（pulse)，以對該條閘極線上的每一畫素輸入一電壓； 由於閘極驅動電路分時依序逐條啟動該些閘極線直到掃過 所有的閘極線，故面板上的每一個晝素均可經由該些源極 線被輸入電！。於完成對每一畫素輸入電壓之&，如同上 述之方式再由閘極驅動電路分時依序啟動該基板上的複數 條閘極、線w $ 一條閘極線被啟動的期Μ 0，可讀取該複 春數條源極線的電壓；卩此方式讀取所有畫素的電壓值，而 '得用以分析該顯示器面板的缺陷分佈。 【實施方式】 本創作將以較佳之實施例及觀點加以詳細敘述，而此 類敘述係解釋本創作之結構，只用以說明而非用以限制本 創作之申叫專利範圍。因此，除說明書中之較佳實施例之 外，本創作亦可廣泛實行於其他實施例。 a本創作係揭露一種GIP面板之測試結構與方法，尤其 是應用在種具有兩側閘極驅動的GIP面板’應用本創作 6 M404379 之測試架構與方法可節省測試設備。 準備—顯示器面板，一般面板包含有上下兩片基板， 基板之材質為可透光材料，如玻璃。如第2圖所示，在此 面板的其中—片基板200之兩側具有閘極驅動電路，以下 將左右兩側的閘極驅動電路分別稱為第一閘極驅動電路 2〇1與第二閘極驅動電路203。此外，在基板2〇〇上更具有 數條橫向可導電的驅動線，在此稱為閘極線210，以^具 有數條縱向可導電的驅動線，在此稱為源極線220。在閘 極線210與源極線22〇相交的地方為顯示器面板的一個^ 素，經由控制閘極線與源極線的電壓即可控制該晝素。閘 極驅動電路201 203可啟動㈣瞻)基板2〇〇上的閘極: 210」當某—條閘極線21〇被啟動的期間，若與該條閘極線 相父的縱向源極線220輸入電壓訊號’則可以控制該苎素 的電壓值；以上述的閘極線控制方式，亦可由源極線^ 该畫素的電壓值。 在本實施例t，第一閘極驅動電路2〇1可啟動奇數的 ，線，而第二閘極驅動轉2〇3料啟動偶數的閘極 線’故第一閘極驅動電路2〇1與第二開極驅動電路2〇3的 總和可以驅動基板上全數的閘極線2〗〇。 在另-實例中亦可由第一閘極驅動電路2〇1控制偶數 的開極線’由第二閘極驅動電路2()3㈣奇數的閘極線。 在另-實施例中，基板2〇〇中的閉極線在該基板的中 、”部位被分為左右兩半，以第一開極驅動電路控制並 中—半_極_例為左半部），由第二間極驅動電路加 7 M404379 控制另一半的閘極線（舉例為右半部）。

在測4顯7F A面板時’閉極驅動電路加加可 置^多位暫存器遍，如第3圖所示。為避免㈣本創作 之…、點，在此不贅敘移位暫存器之動作原理。當問極驅動 電路201 203被設置成移位暫存器鳩時，只要對此㈣ 驅動電路20! 2〇3輸入—時脈訊號CK 3ιι與一啟動訊號 V s⑶2，則閘極驅動電路2 〇丨2 Q 3則可分時依序產生如第 3圖所示之謝1313、〇UT2314與〇υτ33ΐ5等脈衝訊 號’用以分時依序啟動開極、線210。然由於第一問極驅動 電路201與第二閘極驅動電路2〇3未電性連接，故測試此 基板200日寺，必須分別輸入啟動訊號Vst 312給第一問極 驅動電路201與第二閘極驅動電路2〇3，才能夠啟動基板 200上全數的閘極線21 〇。 在一實施例中，如第4圖所示，準備一上述之基板 200，在此基板上製作複數個串接襯墊25〇，該些串接襯墊 籲250與第一閘極驅動電路2〇 1電性連接，用以準備傳送由 -該驅動電路201過來的訊號。準備一測試系統，該系統包 含有一訊號產生器40，一針測機台（Pr〇be Stati〇n)(未繪示 於圖中），一探針治具50。 訊號產生器40可產生包含有時脈訊號（CK)，時脈之 反相訊號（/CK)，啟動訊號（Vst)，參考電壓訊號（vg)，及複 數個電壓脈衝訊號（Pulse)(未繪示於圖中）。該針測機台可 控制探針治具的行動，而探針治具5 0上有複數個探針，用 以跟閘極驅動電路201 203、串接襯墊250，及執行測試所 8 M404379 必要的接觸點電性連接。探針治具上另有一控制線路，可 在執行測試時，將串接襯势25〇電性連接到第二閉極驅動 電路203(原本串接襯墊25G與第二閘極驅動電路2〇3呈斷 路狀態）。 執行顯示器面板測試時，基板200上的閘極驅動電路 2〇1 203已被設置為具有移位暫存器功能。訊號產生器糾 透過針測機台、探針治具將測試訊號傳送到第—問極㈣ _電路20!，該驅動電路2〇1 序以一個時脈（⑽)啟動 一條奇數的閘極線。當第一閉極驅動電路加啟動基板上 最後一條奇數的問極線時，該測試訊號會傳送到串接襯藝 250’並經由探針治具上的控制線路傳送到第二閘極驅動電 路203，開始依序啟動偶數的問極線， 偶數的閘極線為止。 取设條 動電二她顯示器面板，對於有左右兩側間極驅 測試顯示器面板測試。 仏敗 以下補充說明本實施例更詳細的測試細節 2驅動電路加加啟動某H線训 偷…式設備分別輸入-電廢脈衝 -個畫素輸入—電壓；由物間極線上的每 動，故顯示器面板上的每 ;二時依序逐條啟 所謂分時依序逐條啟動的方式: = = ; =暫 存器300之動作方法 门幻圖所不之移位暫 也就疋U—個時脈，輸入一電壓脈 9 M404-379 衝況遗至某一條閘極線，直到掃完所 行完畢之後，再以上述相同的 W極線。測試執 21〇’然後依序讀取每—條源 ^時依序啟動閉極線 整片顯示器板上的畫素缺陷分佈。0的電麼值，即可知道 上述敛述係為本創作之較佳 應得以領會其係用以說明本創作而=°此領域之技藝者 :之專利權利範圍。其專利保護範圍當本創::所主 :圍及其等同領域而定。凡熟悉此領：申：專利 作所揭矛槽袖 更動或潤飾’均屬於本創 、/揭4神下所完成之等效改變或設計，且^八Γ 述之申請專利範圍内。 …I 3在下 【圖式簡單說明】 第：圖係說明一 GIp顯示器面板之傳統測試 第一圖係說明一基板具有左右兩側之閘極驅動電路， 娘數條閘極線與複數條源極線。 第三圖係說明移位暫存器之電路架構與功能。 第四圖係說明本創作之測試架構。 【主要元件符號說明】 100具兩側閘極驅動電路之基板 101基板之奇數閘極線 102基板之偶數閘極線 103基板之全數閘極線 200其驅動電路與複數串接襯墊之基板 2 01第一閘極驅動電路 M404379 203第二閘極驅動電路 210閘極線 220源極線 250複數個串接襯墊 300移位暫存器 3 1 0移位暫存器之訊號 311時脈訊號 312啟動訊號 313移位暫存器第一位元之輸出 3 14移位暫存器第二位元之輸出 3 15移位暫存器第三位元之輸出 40訊號產生器 50探針治具

Claims (1)

1. /Λ 申凊專利範圍·· L -種GIP面板之測試結構，包含有： 一顯示器面板，在兮骷-。„ -間極驅動電路、：第二面板的第-片基板上有-第 與複數條源極線； 驅動電路、複數條間極線、 一複數個串接觀塾’被製作於該 =㈣電性連接至該第一隊二，複數 統電性時’該些串接襯塾會經由-測試系 序由該驅動電路，使-測試訊號可依 孚統而值ψ 動電路，經過該些串接襯墊與該測試 糸統，而傳送到該第二閘極驅動電路。 ^ 2.如申請專利範圍第i 構，-GIP面板之測試結 /、令違顯不益面板包含有一上基板與一下 板。 片基板可為該上基板或為該下基 I 利範圍第1項所述之GIP面板之測試結 % 、其中"亥第一閘極驅動電路與該第二閘極驅動電 可被叹置為具有移位暫存器功能，使之可以分時依 啟動該些閘極線。 :冓申：專利範圍第1項所述之GiP面板之測試結 ，其中該些串接襯墊可被設計為與該第二閘極驅動 12