TWI822117B - 加工圖檢查方法及系統 - Google Patents
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Abstract
本公開提出一種加工圖檢查方法，包括藉由處理裝置執行：取得加工圖及零件清單，依據轉換矩陣將零件清單包括的零件的第一座標組轉換為對應加工圖的第二座標組，依據零件清單取得對應於零件的線條資料，依據第二座標組及線條資料取得零件在加工圖上所對應的零件外框，依據預設值將零件外框調整為放大外框，以及於加工圖上的非開孔區的一部分落於放大外框內時輸出警告通知。本公開亦提出一種加工圖檢查系統。
Description
本發明係關於一種加工圖檢查方法及系統。
載具（carrier）之主要用途在於承載各種印刷電路板及零件，以進行對印刷電路板及零件各項功能性測試或是內電路測試（in-circuit test，ICT）。載具的製作流程大致為：首先，工程師使用電腦輔助設計繪圖軟體（AutoCAD）並依照其資料來製作用於電腦數值控制（computer numerical control，CNC）加工的載具圖面；接著，載具圖面繪製完畢後，列印出一片透明的板件零件分布圖，透過此透明零件分布圖，工程師使用目視檢查的方式一一核對零件的銑孔位置是否正確。然而，此種人工的檢查方法容易造成應銑孔而未被正確銑孔的漏檢問題。
當零件位置沒有被正確地銑孔，一旦印刷電路板被放入加工後的載具，未被正確銑孔的加工的零件位置處就有可能會發生零件被載具壓壞的問題，進而造成測試機台無法開機或測試異常的問題。
鑒於上述，本發明提供一種以解決上述問題的加工圖檢查方法及系統。
依據本發明一實施例的一種加工圖檢查方法，包括藉由處理裝置執行：取得加工圖及零件清單，其中加工圖包括非開孔區及關於零件的開孔區，零件清單包括零件的第一座標組；依據轉換矩陣將第一座標組轉換為對應加工圖的第二座標組；依據零件清單取得對應於零件的線條資料；依據第二座標組及線條資料取得零件在加工圖上所對應的零件外框；依據預設值將零件外框調整為放大外框；以及於非開孔區的一部分落於放大外框內時輸出警告通知。
依據本發明一實施例的一種加工圖檢查系統，包括彼此連接的記憶體以及處理裝置。記憶體儲存加工圖及零件清單，其中加工圖包括非開孔區及關於零件的開孔區，零件清單包括零件的第一座標組。處理裝置用於取得加工圖及零件清單，依據轉換矩陣將第一座標組轉換為對應加工圖的第二座標組，依據零件清單取得對應於零件的線條資料，依據第二座標組及線條資料取得零件在加工圖上所對應的零件外框，依據預設值將零件外框調整為放大外框，以及於非開孔區的一部分落於放大外框內時輸出警告通知。
綜上所述，依據本發明一或多個實施例所示的加工圖檢查系統及方法，能夠提升檢查加工圖上銑孔位置的效率及準確度，避免人工檢查導致漏檢銑孔位置，進而改善零件被載具壓壞的情況。此外，由於加工機具不一定能非常精確地對載具進行加工，而透過形成放大外框的技術手段，可使銑孔的尺寸在容許範圍內被放大，以避免在加工時因零件偏移而造成零件被壓壞的問題。此外，透過依據排序結果判斷放大外框的每條邊界是否落於非開孔區中，能夠以有順序性的方式進行檢查，進而避免漏檢問題。並且，依據本發明一或多個實施例所示的加工圖檢查系統及方法，透過依據處理裝置的最高執行效能設定能夠同時執行檢查的緒的數量，以及在執行判斷程序前先判斷目標零件是否為已檢查過的零件，可以提高檢查效率。
以上之關於本揭露內容之說明及以下之實施方式之說明係用以示範與解釋本發明之精神與原理，並且提供本發明之專利申請範圍更進一步之解釋。
以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點，其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本發明之觀點，但非以任何觀點限制本發明之範疇。
本發明一或多個實施例所示的加工圖檢查系統及方法可用於檢查乘載印刷電路板的載具（carrier）的加工圖面的銑孔位置是否有正確，以於加工載具時能在正確的位置銑孔。
為詳細說明本發明一或多個實施例所示的加工圖檢查系統及方法，請一併參考圖1及圖2，其中圖1為依據本發明一實施例所繪示的加工圖檢查系統的方塊圖，圖2為依據本發明一實施例所繪示的加工圖檢查方法的流程圖。本發明一實施例之加工圖檢查系統1可包含記憶體11及處理裝置12，記憶體11可電性連接於處理裝置12或通訊連接處理裝置12。
記憶體11可為非揮發性記憶體（Non-Volatile Memory，NVM），例如為唯讀記憶體（Read-only Memory，ROM）、電子抹除式可複寫唯讀記憶體（Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory， EEPROM）或快閃記憶體等，本發明不予以限制。處理裝置12可以處理器、可程式化邏輯裝置（Programmable Logic Device，PLD）或特殊應用積體電路（Application Specific Integrated Circuit，ASIC）等實現，但本發明不予以限制。
本發明一實施例之加工圖檢查方法可由加工圖檢查系統1執行，尤其是由加工圖檢查系統1的處理裝置12執行。如圖2所示，加工圖檢查方法可包含以處理裝置12執行以下步驟：步驟S11：取得加工圖及零件清單，其中加工圖包含非開孔區及關於零件的開孔區，零件清單包含零件的第一座標組；步驟S13：依據轉換矩陣將第一座標組轉換為對應加工圖的第二座標組；步驟S15：依據零件清單取得對應零件的線條資料；步驟S17：依據第二座標組及線條資料取得零件在加工圖上所對應的零件外框；步驟S19：依據預設值將零件外框調整為放大外框；步驟S21:判斷非開孔區的一部分是否落於放大外框內；若步驟S21的判斷結果為「是」，執行步驟S23：輸出警告通知；以及若步驟S21的判斷結果為「否」，執行步驟S25：輸出完成通知。
所述的加工圖及零件清單預存於記憶體11中，而於步驟S11，處理裝置12從記憶體11取得加工圖及零件清單。加工圖的檔案格式可為聯合圖像群（joint photographic group，JPG），加工圖為加工載具時所使用的工程圖檔，包含了在載具上應被銑孔以裝設零件的開孔區以及不應被銑孔的非開孔區，其中所述零件可為欲裝設於印刷電路板上的各類電子零件。零件清單可對應於電腦輔助設計繪圖軟體（AutoCAD）的輔助設計圖檔，例如為電腦輔助設計繪圖軟體的加工（fabrication，FAB）檔案，零件清單可記錄輔助設計圖檔中的多種零件的零件名稱、對應各該些零件名稱的零件封裝（packaging）資料以及各該些零件在輔助設計圖檔中的第一座標組等。
於步驟S13，處理裝置12利用轉換矩陣，將目標零件在輔助設計圖檔中的第一座標組轉換為在加工圖中的第二座標組。加工圖上可具有四個或更多個的定位孔，處理裝置12可透過該些定位孔取得轉換矩陣。轉換矩陣可為H矩陣（H-Matrix），用於將目標零件在輔助設計圖檔中的第一座標組投影到加工圖中以取得對應的第二座標組，其中第二座標組可為對應於Gerber檔案的座標。
於步驟S15，處理裝置12可根據零件（下稱目標零件）的零件名稱於零件清單進行搜尋，以從零件清單取得目標零件的線條資料。具體地，每個零件的外型（或外框）是由線條組合的方式形成，而線條資料可指示線條的形狀，例如為直線或曲線及其曲率等。
於步驟S17，處理裝置12可依據線條資料連接加工圖上的第二座標組的多個第二座標中的多者以取得對應於目標零件在加工圖上的零件外框。換言之，處理裝置12可先判得兩個相鄰的第二座標，並根據線條資料的指示判斷以直線或曲線的線條連接該二第二座標。
於步驟S19，處理裝置12可將零件外框的每條線條的長度乘上預設值以取得放大外框，或是將零件外框的每條線條的長度加上預設值以取得放大外框。換言之，放大外框可與零件外框具有相同或相似的外型。在放大外框是透過乘上預設值取得的實施態樣中，預設值可為2；在放大外框是透過加上預設值取得的實施態樣中，預設值可為1 mm，但本發明不對預設值的具體數值予以限制。
於步驟S21，處理裝置12可判斷加工圖上的非開孔區的一部份是否與由放大外框圈圍的區域重疊，以判斷非開孔區的一部份是否落於放大外框內。若處理裝置12判斷非開孔區的一部份落於放大外框內，於步驟S23，處理裝置12輸出警告通知，其中處理裝置12可輸出警告通知至電性或通訊連接於處理裝置12的顯示器，或輸出警告通知至相關工程人員的電子信箱等，本發明不予以限制。此外，在警告通知是輸出至顯示器的實施態樣中，處理裝置12可控制顯示器顯示包含放大外框的加工圖，警告通知可為警告標記（例如，以紅色的點作為標記），呈現在落於放大外框內的非開孔區處。若處理裝置12判斷非開孔區的一部份非落於放大外框內，於步驟S25，處理裝置12可輸出完成通知至電性或通訊連接於處理裝置12的顯示器，或輸出完成通知至相關工程人員的電子信箱等，其中完成通知指示加工圖的檢查已完成。
另需於此說明的是，步驟S25為選擇性執行的步驟，若步驟S21的判斷結果為「否」，處理裝置12亦可不輸出完成通知並結束此流程。此外，目標零件的數量可為一個或多個，本發明不予以為限。
透過上述之加工圖檢查系統及方法，能夠提升檢查加工圖上銑孔位置的效率及準確度，避免人工檢查導致漏檢銑孔位置，進而改善零件被載具壓壞的情況。此外，由於加工機具不一定能非常精確地對載具進行加工，而透過形成放大外框的技術手段，可使銑孔的尺寸在容許範圍內被放大，以避免在加工時因零件偏移而造成零件被壓壞的問題。
請接著一併參考圖1及圖3，其中圖3繪示圖2的步驟S15的細部流程圖。如圖3所示，圖2的步驟S15可包括：步驟S151：依據零件名稱從零件清單取得零件的零件封裝；以及步驟S153：使用語言整合查詢根據零件封裝取得線條資料。
如前所述，零件清單可記錄多種零件的零件名稱及對應各該些零件名稱的零件封裝。因此，於步驟S151，處理裝置12可判斷目標零件在零件清單中的零件名稱後接著零件封裝的文字，以於下述的步驟S153查找記錄於零件封裝後的資料。
於步驟S153，處理裝置12可使用語言整合查詢（language integrated query，LINQ）取得零件封裝的線條資料，其中線條資料可指示零件封裝的外型，例如為直線或曲線。換言之，前述圖2的步驟S15所述的線條資料可為零件封裝的線條資料。
請接著一併參考圖1、圖4及圖5，其中圖4繪示圖2的步驟S21的一種實施方式的流程圖，圖5係繪示零件外框及放大外框的示意圖。需先於此說明的是，處理裝置12於圖2的步驟S13取得的第二座標組可包括多個第二座標。如圖4所示，圖2的步驟S21可包括：步驟S211：依據第二座標組的各多個第二座標的縱軸座標及橫軸座標排序該些第二座標；以及步驟S213：依據排序結果依序地判斷放大外框的多個邊界的每一者是否位於非開孔區中。
圖5同時示出了零件外框BDY1以及放大外框BDY2，而第一座標組的多個第一座標可為在零件外框BDY1上的多個點的座標以及在零件外框BDY1的中心點的座標。第一座標組在透過轉換矩陣轉換後可為在放大外框BDY2上的多個點P0～P8的第二座標，其中點P0對應於零件外框BDY1的中心點，點P1～P8對應於在零件外框BDY1上的該些點。
於步驟S211，處理裝置12可依據該些點P1～P8的第二座標的橫軸（例如，X軸）座標及縱軸（例如，Y軸）座標排序該些點P1～P8的第二座標，例如是升序的排序。舉例而言，處理裝置12可依據從加工圖的左側到右側以及從加工圖的上側到下側的排序規則，將該些點P1～P8的第二座標排序為：P1的第二座標、P2的第二座標、P3的第二座標、P4的第二座標、P5的第二座標、P6的第二座標、P7的第二座標及P8的第二座標。另需說明的是，上述的排序規則僅為示例，本發明不對排序規則予以限制。
接著，於步驟S213，處理裝置12即可依據排序結果，依序地判斷由該些點P1～P8中的多者連接的多個邊界的每一者是否位於非開孔區中。舉例而言，依據上述的排序結果，處理裝置12可先判斷由點P1與P2連接形成的邊界是否位於非開孔區中；接著判斷由點P2與P3連接形成的邊界是否位於非開孔區中；再判斷由點P1與P4連接形成的邊界是否位於非開孔區中，以此類推。若判斷該些邊界中的一者落於非開孔區中，處理裝置12可執行圖2的步驟S23；若判斷該些邊界皆未落於非開孔區中，處理裝置12可執行圖2的步驟S25。
透過依據排序結果判斷放大外框的每條邊界是否落於非開孔區中，能夠以有順序性的方式進行檢查，進而避免漏檢問題。
請接著參考圖6，其中圖6繪示檢查加工圖上的非開孔區的一部分是否落於放大外框內的示意圖。加工圖上的開孔區及非開孔區可具有不同顏色，如圖所示，加工圖IMG1的開孔區可以白色呈現，非開孔區可以灰色呈現，其中加工圖IMG1中位於四個角落的白色圓形區塊即可作為前述的定位點。於透過圖4的步驟S211取得排序結果後，處理裝置執行判斷非開孔區的一部分是否落於放大外框內的實現方式亦可透過加工圖IMG1上呈現的顏色判斷。
具體而言，處理裝置可依據排序結果依序地判斷放大外框BDY2’的該些邊界的每一者的兩側是否皆呈現對應於非開孔區的顏色，並於判斷有其中一邊界的兩側皆呈現對應於非開孔區的顏色時輸出警告通知。以圖6為例，從擷取自加工圖IMG1的部分放大圖IMG2中可以看到，在放大外框BDY2’的一部分邊界的兩側皆呈現對應於非開孔區的灰色，故處理裝置可輸出警告通知。
另外，如前所述，目標零件的數量可為多個，故除了上述的內容，於另一實施例中，處理裝置可透過多執行緒（multithreading）程序同時對多個目標零件執行以下的判斷程序：判斷非開孔區的一部分是否落於放大外框內、依據排序結果依序地判斷放大外框的多個邊界的每一者是否位於非開孔區中，或依據排序結果依序地判斷放大外框的該些邊界的每一者的兩側是否皆呈現對應於非開孔區的顏色的其中一者。舉例而言，處理裝置可先判得其自身的最高執行效能（例如，最高執行效能可關聯於處理裝置的核心數量），並依據最高執行效能設定能夠同時執行檢查的緒（thread）的數量，再根據緒的數量對多個目標零件同時執行上述判斷程序中的一者，且處理裝置在執行判斷程序前，可先判斷目標零件是否為已檢查過的零件，以提高檢查效率。
綜上所述，依據本發明一或多個實施例所示的加工圖檢查系統及方法，能夠提升檢查加工圖上銑孔位置的效率及準確度，避免人工檢查導致漏檢銑孔位置，進而改善零件被載具壓壞的情況。此外，由於加工機具不一定能非常精確地對載具進行加工，而透過形成放大外框的技術手段，可使銑孔的尺寸在容許範圍內被放大，以避免在加工時因零件偏移而造成零件被壓壞的問題。此外，透過依據排序結果判斷放大外框的每條邊界是否落於非開孔區中，能夠以有順序性的方式進行檢查，進而避免漏檢問題。並且，依據本發明一或多個實施例所示的加工圖檢查系統及方法，透過依據處理裝置的最高執行效能設定能夠同時執行檢查的緒的數量，以及在執行判斷程序前先判斷目標零件是否為已檢查過的零件，可以提高檢查效率。
雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內，所為之更動與潤飾，均屬本發明之專利保護範圍。關於本發明所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。
1:加工圖檢查系統
11:記憶體
12:處理裝置
P0~P8:點
BDY1:零件外框
BDY2,BDY2’:放大外框
IMG1:加工圖
IMG2:部分放大圖
S11,S13,S15,S17,S19,S21,S23,S25,S151,S153,S211,S213:步驟
圖1為依據本發明一實施例所繪示的加工圖檢查系統的方塊圖。
圖2為依據本發明一實施例所繪示的加工圖檢查方法的流程圖。
圖3繪示圖2的步驟S15的細部流程圖。
圖4繪示圖2的步驟S21的細部流程圖。
圖5係繪示零件外框及放大外框的示意圖。
圖6繪示檢查加工圖上的非開孔區的一部分是否落於放大外框內的示意圖。
S11,S13,S15,S17,S19,S21,S23,S25:步驟
Claims (10)
- 一種加工圖檢查方法，包含藉由一處理裝置執行： 取得一加工圖及一零件清單，其中該加工圖包含一非開孔區及關於一零件的一開孔區，該零件清單包含該零件的一第一座標組；依據一轉換矩陣將該第一座標組轉換為對應該加工圖的一第二座標組；依據該零件清單取得對應於該零件的一線條資料；依據該第二座標組及該線條資料取得該零件在該加工圖上所對應的一零件外框；依據一預設值將該零件外框調整為一放大外框；以及於該非開孔區的一部分落於該放大外框內時輸出一警告通知。
- 如請求項1所述的加工圖檢查方法，其中依據該零件清單取得該零件的該線條資料包含： 依據該零件的一零件名稱從該零件清單取得該零件的一零件封裝；以及使用一語言整合查詢根據該零件封裝取得該線條資料。
- 如請求項1所述的加工圖檢查方法，其中該第二座標組包含多個第二座標，依據該第二座標組及該線條資料取得該零件在該加工圖上所對應的該零件外框包含： 依據該線條資料連接該些第二座標中的多者以圈圍出該零件外框。
- 如請求項1所述的加工圖檢查方法，其中該第二座標組包含多個第二座標，於該非開孔區的一部分落於該放大外框內時輸出該警告通知包含： 依據各該些第二座標的橫軸座標及縱軸座標排序該些第二座標；依據該排序結果依序地判斷該放大外框的多個邊界的每一者是否位於該非開孔區中；以及於該放大外框的該些邊界的至少一者位於該非開孔區中時輸出該警告通知。
- 如請求項4所述的加工圖檢查方法，其中該開孔區及該非開孔區具有不同顏色，依據該排序結果依序地判斷該放大外框的至該些邊界的每一者是否位於該非開孔區中包含： 依據該排序結果依序地判斷該放大外框的該些邊界的每一者的兩側是否皆呈現對應於該非開孔區的顏色。
- 一種加工圖檢查系統，包含： 一記憶體，儲存一加工圖及一零件清單，其中該加工圖包含一非開孔區及關於一零件的一開孔區，該零件清單包含該零件的一第一座標組；以及一處理裝置，連接於該記憶體，該處理裝置用於取得該加工圖及該零件清單，依據一轉換矩陣將該第一座標組轉換為對應該加工圖的一第二座標組，依據該零件清單取得對應於該零件的一線條資料，依據該第二座標組及該線條資料取得該零件在該加工圖上所對應的一零件外框，依據一預設值將該零件外框調整為一放大外框，以及於該非開孔區的一部分落於該放大外框內時輸出一警告通知。
- 如請求項6所述的加工圖檢查系統，其中該處理裝置執行依據該零件清單取得該零件的該線條資料包含： 依據該零件的一零件名稱從該零件清單取得該零件的一零件封裝；以及使用一語言整合查詢根據該零件封裝取得該線條資料。
- 如請求項6所述的加工圖檢查系統，其中該第二座標組包含多個第二座標，該處理裝置執行依據該第二座標組及該線條資料取得該零件在該加工圖上所對應的該零件外框包含： 依據該線條資料連接該些第二座標中的多者以圈圍出該零件外框。
- 如請求項6所述的加工圖檢查系統，其中該第二座標組包含多個第二座標，該處理裝置執行於該非開孔區的一部分落於該放大外框內時輸出該警告通知包含： 依據各該些第二座標的橫軸座標及縱軸座標排序該些第二座標；依據該排序結果依序地判斷該放大外框的多個邊界的每一者是否位於該非開孔區中；以及於該放大外框的該些邊界的至少一者位於該非開孔區中時輸出該警告通知。
- 如請求項9所述的加工圖檢查系統，其中該開孔區及該非開孔區具有不同顏色，該處理裝置執行依據該排序結果依序地判斷該放大外框的至該些邊界的每一者是否位於該非開孔區中包含： 依據該排序結果依序地判斷該放大外框的該些邊界的每一者的兩側是否皆呈現對應於該非開孔區的顏色。
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