TWI812697B - 圖像識別裝置、及具有圖像識別裝置的物品製造裝置 - Google Patents

圖像識別裝置、及具有圖像識別裝置的物品製造裝置 Download PDF

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Abstract

[課題]以提供一種能夠將針對多數個攝像圖像的識別處理高速化之圖像識別裝置、及具有該圖像識別裝置的物品製造裝置作為課題。 [解決手段]一種圖像識別裝置、及具有該圖像識別裝置的物品製造裝置，前述圖像識別裝置具備：儲存機構，將拍攝到物品的攝像圖像作為庫存圖像而儲存複數個；識別機構，執行識別處理，前述識別處理是識別前述庫存圖像的種類之處理；及輸入機構，執行輸入處理，前述輸入處理是將儲存於前述儲存機構的複數個前述庫存圖像一次輸入於前述識別機構之處理，又，前述識別機構是構成為：可平行地執行複數個識別處理，前述識別處理是針對藉由前述輸入機構所一次輸入的複數個前述庫存圖像中的各個庫存圖像之處理。

Description

圖像識別裝置、及具有圖像識別裝置的物品製造裝置
發明領域 本發明是有關於一種識別圖像的種類之圖像識別裝置、及具有該圖像識別裝置的物品製造裝置。
發明背景 近年，在進行物品的外觀檢查時，會利用識別圖像的種類之圖像識別裝置。作為如此圖像識別裝置的一種，已知有例如專利文獻1所揭示之檢查作為前述物品的半導體基板(以下僅稱為基板)之外觀的圖像分類裝置。
此圖像分類裝置具備有：攝像裝置，拍攝基板上的檢查對象區域而製作圖像資料；及檢查分類裝置，將該攝像裝置製作出的圖像資料當中有拍到缺陷者，因應於缺陷的種類加以分類。
檢查分類裝置具有：缺陷檢測部，從圖像資料檢測缺陷；及分類控制部，執行分類處理，前述分類處理是將缺陷檢測部檢測到缺陷的圖像資料，因應於缺陷的種類加以分類之處理。並且，分類控制部是構成為：每當缺陷檢測部從圖像資料檢測缺陷時，就會將該圖像資料加以分類(識別)。
因此，前述圖像分類裝置能夠確認基板的缺陷之有無，另外，能夠藉由將有拍到缺陷的圖像資料分成每種缺陷的種類加以彙整，而實現可有效率地進行缺陷的解析之狀態。 先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1：日本專利特開2016-115115號公報
發明概要 發明欲解決之課題 然而，依據成為檢查對象的基板之狀態，有時會生成多數個有拍到缺陷的圖像資料，但在上述以往的圖像分類裝置中，由於分類控制部是構成為：將有拍到缺陷的圖像資料依據被生成的順序(缺陷被檢測到的順序)來逐次分類，因此在執行針對一個圖像資料的分類處理之期間，針對其他圖像資料的分類處理便會成為待機狀態。
因此，在上述以往的圖像分類裝置中，針對圖像資料的分類處理會滯留多數個，到將有拍到缺陷的圖像資料全部分類結束為止會很費時一事已成為問題。又，在上述以往的圖像分類裝置被裝入物品的製造裝置中的情況下，物品的製造步驟之流程產生停滯一事也已成為問題。
再者，這種問題並非只限於用於從圖像資料檢測缺陷的裝置，而是具有識別圖像的功能之裝置整體都會有的問題。
因此，本發明有鑑於如此實際情況，便以提供一種能夠將針對多數個攝像圖像的識別處理高速化之圖像識別裝置、及具有該圖像識別裝置的物品製造裝置作為課題。 用以解決課題之手段
本發明的圖像識別裝置具備：儲存機構，將拍攝到物品的攝像圖像作為庫存圖像(stock image)而儲存複數個；識別機構，執行識別處理，前述識別處理是識別前述庫存圖像的種類之處理；及輸入機構，執行輸入處理，前述輸入處理是將儲存於前述儲存機構的複數個前述庫存圖像一次輸入於前述識別機構之處理，又，前述識別機構是構成為：可平行地執行複數個識別處理，前述識別處理是針對藉由前述輸入機構所一次輸入的複數個前述庫存圖像中的各個庫存圖像之處理。
又，本發明的圖像識別裝置可以具備：圖像匯入機構，連續地重複執行匯入處理，前述匯入處理是匯入複數個前述攝像圖像之處理；及缺陷候補擷取機構，執行擷取處理，前述擷取處理是擷取缺陷候補圖像，並將該缺陷候補圖像作為前述庫存圖像而儲存於前述儲存機構之處理，前述缺陷候補圖像是該圖像匯入機構所匯入到之複數個前述攝像圖像當中有拍到成為缺陷的候補之缺陷候補點之圖像，又，前述識別機構是構成為：在前述識別處理中，可識別作為前述庫存圖像而儲存於前述儲存機構的前述缺陷候補圖像之前述缺陷候補點的對錯，且，前述圖像識別裝置是構成為：在針對以先前執行的前述匯入處理所匯入到之前述攝像圖像的前述擷取處理、前述輸入處理、前述識別處理完成前，繼該先前執行的前述匯入處理之後所執行的下個前述匯入處理就會執行完成。
在本發明的圖像識別裝置中，用於執行前述識別處理的識別處理檔案可以是與用於執行其他處理的處理檔案不同的處理檔案。
本發明的物品製造裝置具備：物品搬送裝置，搬送物品；攝像裝置，拍攝以該物品搬送裝置搬送中的前述物品而製作複數個攝像圖像；上述任一項的圖像識別裝置；及標記裝置，是在以前述物品搬送裝置所進行的前述物品之搬送路徑上，設置於比前述物品搬送裝置更在搬送方向下游側的標記裝置，且執行標記處理，前述標記處理是因應於以該圖像識別裝置的前述識別機構所得到之前述庫存圖像的識別結果，來對已取得該識別結果的庫存圖像中所拍到之物品附加標記之處理，又，前述圖像識別裝置是構成為：在前述攝像裝置拍攝物品而製作前述攝像圖像後，在前述標記裝置對該物品執行前述標記處理前，就可使針對該攝像圖像的前述識別處理完成。
用以實施發明之形態 以下，針對本發明之一實施形態的圖像識別裝置，一面參照附加圖式一面進行說明。
本實施形態的圖像識別裝置是構成為可識別物品等的攝像圖像的種類等，例如會利用於製造出的物品之檢查。再者，在本實施形態中，是針對裝入有圖像識別裝置的物品製造裝置來進行說明。
本實施形態的物品製造裝置是製造偏光膜等的長條片狀的物品(以下稱為片材)之裝置。
如圖1所示，物品製造裝置1具備有：物品搬送裝置2，搬送前述物品；攝像裝置3，拍攝以該物品搬送裝置2搬送中的物品而製作複數個攝像圖像(在圖2中附加有符號「P1」的圖像)；圖像識別裝置4，識別以攝像裝置3製作出的攝像圖像的種類；及標記裝置5，是在以物品搬送裝置2所進行的物品之搬送路徑上，設置於比物品搬送裝置2更在搬送方向下游側的標記裝置5，且執行標記處理，前述標記處理是因應於以該圖像識別裝置4的識別機構所得到之庫存圖像的識別結果，來對已取得識別結果的庫存圖像中所拍到之物品附加標記之處理。
物品搬送裝置2是構成為：可進行將片材從料捲一邊送出一邊搬送的滾動搬送。
又，物品搬送裝置2是構成為：在進行以攝像裝置3所進行的物品之攝像及攝像圖像之製作、以圖像識別裝置4所進行的攝像圖像之識別、以標記裝置5所進行的標記處理之期間，也可持續搬送片材。
因此，本實施形態的物品製造裝置1是構成為：可將搬送狀態(從搬送方向上游側朝向下游側被運送的狀態)的片材以攝像裝置3拍攝而製作攝像圖像，又，可由標記裝置5對搬送狀態的片材進行標記處理。
另外，關於攝像裝置3製作出的攝像圖像，在該攝像圖像被製作出之後，在對片材當中在攝像圖像中所拍到之位置執行標記處理前，以圖像識別裝置4所進行的識別將會先完成。
如圖2所示，攝像裝置3具有：攝像部30，會連續地進行拍攝物品(片材)而製作攝像圖像的動作(以下稱為攝像動作)。
又，在攝像裝置3中，複數個攝像部30是在片材的寬度方向(相對於片材的進給方向正交之方向)上排列成一列所設置。並且，複數個攝像部30是構成為：可在相同或大致相同的時間點連續地進行攝像動作。
因此，攝像裝置3是構成為：可將在相同或大致相同的時間點拍攝片材而製作出的複數個攝像圖像連續地輸出。
如圖3所示，圖像識別裝置4具備有：圖像匯入機構40，連續地重覆執行匯入處理，前述匯入處理是匯入攝像圖像之處理；缺陷候補擷取機構41，執行擷取處理，前述擷取處理是擷取缺陷候補圖像(在圖2中附加有符號「P2」的圖像)之處理，前述缺陷候補圖像是圖像匯入機構40所匯入到之複數個攝像圖像當中有拍到缺陷的候補之圖像；儲存機構42，執行儲存處理，前述儲存處理是將以缺陷候補擷取機構41所擷取到之缺陷候補圖像作為庫存圖像而儲存複數個；識別機構43，執行識別處理，前述識別處理是識別庫存圖像的種類之處理；輸入機構44，執行輸入處理，前述輸入處理是將儲存於儲存機構42的複數個庫存圖像一次輸入於識別機構43之處理；及緩衝機構45，執行記憶處理，前述記憶處理是將用於執行前述擷取處理、前述輸入處理、及前述識別處理各自之處理的命令資訊暫時性地記憶之處理。再者，識別裝置只要是具備CPU、記憶體、或硬碟等的裝置即可。
圖像匯入機構40是構成為：可匯入從攝像裝置3所輸出的複數個攝像圖像(攝像部30在相同或大致相同的時間點製作出的複數個攝像圖像)。再者，圖像匯入機構40可以構成為：可從攝像裝置3直接匯入攝像圖像，也可以構成為：可從攝像裝置3間接地匯入攝像圖像(亦即，也可以構成為：可將從攝像裝置3所輸出的攝像圖像透過其他裝置來匯入)。
缺陷候補擷取機構41是構成為：可從圖像匯入機構40所匯入到之攝像圖像之中製作(擷取)有拍到可能是缺陷的缺陷候補點之缺陷候補圖像。
若具體說明的話，缺陷候補擷取機構41是構成為：可執行檢測處理與候補圖像製作處理，並將製作出的缺陷候補圖像作為庫存圖像而儲存於儲存機構42，前述檢測處理是從攝像圖像之中檢測缺陷候補點之處理，前述候補圖像製作處理是擷取包含有拍到以檢測處理所檢測到的缺陷候補點之像素與該像素周圍的規定數量之像素的區域，來製作缺陷候補圖像之處理。
再者，要以檢測處理從攝像圖像之中檢測缺陷候補點時，例如只要進行二值化處理與粒子分析即可。
在儲存機構42中，會將複數個缺陷候補圖像統整為庫存圖像而加以儲存(記憶)，前述缺陷候補圖像是缺陷候補擷取機構41從在相同時間點所拍攝到的攝像圖像所擷取到之圖像。再者，在從缺陷候補擷取機構41只有一個缺陷候補圖像被擷取到的情況下，在儲存機構42中，也可以只記憶這一個缺陷候補圖像。
在輸入機構44的輸入處理中，是構成為：可將作為庫存圖像而儲存於儲存機構42的缺陷候補圖像，更具體而言，可將藉由攝像部30在相同或大致相同的時間點所製作出的複數個缺陷候補圖像一次輸入於識別機構43。
識別機構43具有：接收機構430，接收藉由輸入機構44所一次輸入的複數個缺陷候補圖像；及識別執行機構431，平行地執行識別處理，前述識別處理是針對以該接收機構430接收到的複數個缺陷候補圖像中的各個缺陷候補圖像之處理。
識別執行機構431是構成為：藉由針對缺陷候補圖像的識別處理，而可識別該缺陷候補圖像的種類。本實施形態的識別執行機構431是構成為：可識別缺陷候補圖像中所拍到之缺陷候補點的對錯，亦即，可識別缺陷候補點是缺陷還是正常部分。如此，識別執行機構431是構成為：可針對缺陷候補圖像，識別是有拍到缺陷的圖像，還是無缺陷的正常部分的圖像。
識別執行機構431是所謂相當於識別器的構成。又，本實施形態的識別執行機構431是以識別處理檔案所構成，前述識別處理檔案是將與圖像識別裝置4不同的裝置所製作(學習)出的識別器轉換成處理檔案(在本實施形態中，為動態鏈接程式庫)後所得到的檔案。又，用於執行識別執行機構431的識別處理檔案較理想的是與用於執行其他處理(例如以圖像匯入機構40、缺陷候補擷取機構41、儲存機構42、或輸入機構44等所進行的處理)的處理檔案不同的資料。如此進行的話，識別處理檔案便從用於執行其他處理的處理檔案獨立出來，因此只要將既存的識別處理檔案改寫成新的識別處理檔案，就能夠在識別機構43的處理內容中加入變更。
再者，識別機構43可以構成為：可將所有以接收機構430接收到的複數個缺陷候補圖像中的各個缺陷候補圖像之識別處理都平行地執行，也可以構成為：可將複數個缺陷候補圖像中的各個缺陷候補圖像之識別處理每次都平行地執行規定數量。
又，識別機構43可以構成為：可在識別執行機構431內將複數個缺陷候補圖像中的各個缺陷候補圖像之識別處理平行地執行複數個，也可以構成為：可在識別執行機構431將進行一個缺陷候補圖像之識別處理的任務(task)平行地執行複數個。
如此，識別機構43是構成為：可平行地進行複數個(2個以上)缺陷候補圖像的識別。
在被寫入緩衝機構45的命令資訊中，包含有：以攝像裝置3在相同或大致相同的時間點所製作出的複數個攝像圖像、或用於執行有關於該複數個攝像圖像的擷取處理、輸入處理、識別處理之命令。
本實施形態的圖像識別裝置4具備有2個緩衝機構45，在依據已被寫入一個緩衝機構45之命令資訊來執行擷取處理、輸入處理、識別處理之期間，另一個緩衝機構45會被寫入與已被寫入一個緩衝機構45之命令資訊不同的命令資訊。
並且，在依據已被寫入一個緩衝機構45之命令資訊的擷取處理、輸入處理、識別處理完成的時間點，會依據已被寫入另一個緩衝機構45之命令資訊來依序執行擷取處理、輸入處理、識別處理。
並且，當依據已被寫入另一個緩衝機構45之命令資訊的擷取處理、輸入處理、識別處理完成後，一個緩衝機構45就會再被重新寫入其他命令資訊。
如此，在各緩衝機構45中，已被寫入的命令資訊之讀取(亦即，依據命令資訊的各處理之執行)與命令資訊之寫入便會在不同的時間點被交互地執行。
又，在一個緩衝機構45與另一個緩衝機構45中，每當以攝像裝置3所進行的攝像動作被進行時，包含以該攝像動作製作出的攝像圖像與有關於該攝像圖像的處理之命令的命令資訊便會被交互地寫入。
在缺陷候補圖像的識別結果方面，顯示該缺陷候補圖像是否為有拍到缺陷的圖像(缺陷的圖像)之資訊會從圖像識別裝置4的識別機構43作為識別結果被輸出，因此標記裝置5是構成為：在標記處理中，可對藉由物品搬送裝置2所搬送的物品當中有缺陷的物品附加顯示缺陷存在的標記。
本實施形態的物品雖然是長條片材，但標記裝置5只要構成為如下即可：例如，在顯示缺陷候補圖像為缺陷的圖像之資訊已從識別機構43作為識別結果被輸出的情況下，可對拍攝到成為了缺陷候補圖像擷取來源之攝像圖像的位置附加標記。又，在顯示缺陷候補圖像為正常的圖像之資訊已從識別機構43作為識別結果被輸出的情況下，只要作成不附加標記來使物品通過即可。
再者，在以標記裝置5對物品附加的標記方面，例如只要採用貼紙、印刷、或刻印等即可。
本實施形態的物品製造裝置1之構成如以上所述。接著，說明本實施形態的物品製造裝置1之動作。
如圖4所示，在物品製造裝置1中，片狀的物品是藉由物品搬送裝置2不斷地被搬送(S1)，且攝像裝置3對搬送狀態的物品連續地執行攝像動作(S3、S8，S12)。
在本實施形態的物品製造裝置1中，如上所述，在執行依據已被寫入前述一個緩衝機構45之命令資訊的處理之期間(S2、S10)，前述另一個緩衝機構45會被寫入命令資訊(S5、S13)，且在執行依據已被寫入前述另一個緩衝機構45之命令資訊的處理之期間(S6)，前述一個緩衝機構45會被寫入命令資訊(S9)。
如此，圖像識別裝置4在執行針對攝像裝置3以攝像動作製作出的攝像圖像的處理之期間，便會使執行針對攝像裝置3以下一個攝像動作製作出的攝像圖像的處理之準備完成。因此，圖像識別裝置4能夠在執行中的處理完成後立即開始下一個新的處理，藉此，也變得能夠在識別處理之後的步驟(在本實施形態中是以標記裝置5所進行的標記處理(S3、S7))之執行中開始下一個識別處理(S6、S10)。
若針對圖像識別裝置4的處理更具體說明的話，如圖5所示，攝像裝置3會將以攝像動作(S14)製作出的複數個攝像圖像朝向圖像識別裝置4輸出(S15)。
被輸出至圖像識別裝置4的複數個攝像圖像會藉由圖像匯入機構40被匯入(S16)，並包含於命令資訊中而被寫入前述一個緩衝機構45(S17)。
然後，依據被寫入前述一個緩衝機構45之命令資訊，便會開始有關於攝像圖像的各種處理。若具體說明的話，首先，缺陷候補擷取機構41從複數個攝像圖像之中擷取有拍到缺陷的候補之缺陷候補圖像(S18)，並將該缺陷候補圖像作為庫存圖像而儲存於儲存機構42(S19)。
作為庫存圖像被儲存於儲存機構42的複數個缺陷候補圖像會藉由輸入處理而被一次輸入於識別機構43(S20)。接著，針對該複數個缺陷候補圖像中的各個缺陷候補圖像之識別處理會藉由識別機構43而被平行地執行(S21)。
然後，當識別結果從識別機構43被輸出後，標記裝置5便會因應於該識別結果來執行標記處理(參照圖4)。藉此，針對物品製造裝置1中的物品之一系列的處理便完成。
在執行依據被寫入前述一個緩衝機構45之命令資訊的處理之期間，攝像裝置3會執行下一個攝像動作(S22)，且以該下一個攝像動作所製作出的複數個攝像圖像會在針對以前一個攝像動作(S14)所製作出的攝像圖像之識別處理(S21)完成前被輸出至圖像識別裝置4(S23)，並且藉由圖像匯入機構40而被匯入(S24)，接著，在包含於命令資訊中的狀態下被寫入前述另一個緩衝機構45(S25)。
因此，在針對以前一個攝像動作製作出的攝像圖像中所拍到之物品之標記處理完成前，便會依序執行有關於以下一個(後續)攝像動作製作出的攝像圖像之各種處理，具體而言：以缺陷候補擷取機構41所進行的缺陷候補圖像之擷取(S26)、該缺陷候補圖像對儲存機構42之儲存(S27)、以輸入處理所進行的複數個缺陷候補圖像對識別機構43之一次輸入(S28)、及以識別機構43所進行的針對複數個缺陷候補圖像中的各個缺陷候補圖像之識別處理之平行執行(S29)。
另外，在依據已被寫入前述另一個緩衝機構45之命令資訊的處理之執行中，會對前述一個緩衝機構45寫入新的命令資訊(S30)，因此在依據已被寫入前述另一個緩衝機構45之命令資訊的處理完成後，便會立即開始依據該新的命令資訊之處理。
如以上所述，依據本實施形態的圖像識別裝置4，在識別機構43中，由於會平行地進行複數個針對藉由輸入機構44所一次輸入的複數個庫存圖像中的各個庫存圖像之識別處理，因此能夠抑制針對各庫存圖像的識別處理變成在等待執行(亦即，等待針對其他庫存圖像的識別處理結束的狀態)的情況。
因此，在前述圖像識別裝置4中，能夠消除針對各庫存圖像的識別處理之等待執行的時間，藉此，便能夠將針對多數個攝像圖像的識別處理高速化，又，在具有該圖像識別裝置4的物品製造裝置1中也能夠得到同樣的效果。
又，在圖像識別裝置4中，由於是構成為：在針對以先前執行的匯入處理所匯入到之複數個攝像圖像之前述擷取處理、前述輸入處理、前述識別處理完成前，先前執行的匯入處理之下一個(後續)匯入處理及記憶處理便會執行完成，因此能夠使從針對以先前執行的匯入處理所匯入到之複數個攝像圖像之擷取處理、儲存處理、識別處理、輸入處理的各處理完成的時間點起，到依序開始執行針對以後續執行的匯入處理所匯入到之複數個攝像圖像之擷取處理、儲存處理、識別處理、輸入處理的各處理為止的時間上留有餘裕。
又，在藉由攝像裝置3的攝像動作而製作出攝像圖像後，在對以攝像裝置3拍攝到的物品(片材當中在攝像圖像中所拍到之部分)執行以標記裝置5所進行的標記處理前，針對該攝像圖像的圖像識別裝置4之各處理(擷取處理、儲存處理、識別處理、輸入處理)就會完成，因此將能夠即時，亦即，在物品的製造步驟之流程中進行以圖像識別裝置4所進行的攝像圖像之識別(在本實施形態中是缺陷之有無的確認)。
又，在本實施形態的物品製造裝置1中，關於以攝像裝置3拍攝到的攝像圖像，由於以攝像裝置3所拍攝到的物品會在後續步驟即標記處理被執行前就完成識別處理，因此能夠不使物品的製造步驟停滯而完成攝像圖像(物品)的識別，而且也能夠在線上(在物品的製造步驟之流程中)執行攝像圖像的識別並使其完成。
再者，本發明的圖像識別裝置及物品製造裝置並非限定於上述實施形態，在不脫離本發明的宗旨之範圍內可加入各種的變更是不用多說的。
上述實施形態的物品製造裝置1雖然是製造片材的裝置，但並非限定於此構成。例如，物品製造裝置1也可以是製造切片狀的物品等的裝置。
在上述實施形態的物品製造裝置1中，雖然複數個攝像部30是配置成在片材的寬度方向上排列成一列，但攝像部30的數量或配置方式也可以因應於製造的物品(作為檢查對象的物品)來適當地變更。
在上述實施形態中，雖然並未特別提到，但圖像匯入機構40可以將從攝像裝置3所輸出的複數個攝像圖像(在相同時間點所製作出的複數個攝像圖像)中的各個攝像圖像作為不同的圖像來匯入，也可以作成可匯入將該複數個攝像圖像合成後的一個圖像。
在上述實施形態中，雖然缺陷候補擷取機構41是構成為將包含有拍到以檢測處理所檢測到的缺陷候補點之像素與該像素周圍的規定數量之像素的區域作為缺陷候補圖像，但並非限定於此構成。例如，缺陷候補擷取機構41也可以將有拍到缺陷候補點的圖像本身作為缺陷候補圖像。
在上述實施形態中，雖然圖像識別裝置4具備有2個緩衝機構45，但並非限定於此構成。例如，圖像識別裝置4可以具備1個緩衝機構45，也可以具備3個以上的緩衝機構45。
1‧‧‧物品製造裝置 2‧‧‧物品搬送裝置 3‧‧‧攝像裝置 4‧‧‧圖像識別裝置 5‧‧‧標記裝置 30‧‧‧攝像部 40‧‧‧圖像匯入機構 41‧‧‧缺陷候補擷取機構 42‧‧‧儲存機構 43‧‧‧識別機構 44‧‧‧輸入機構 45‧‧‧緩衝機構 430‧‧‧接收機構 431‧‧‧識別執行機構 P1‧‧‧攝像圖像 P2‧‧‧缺陷候補圖像
圖1是本發明之一實施形態的物品製造裝置的概要圖。 圖2是同實施形態的攝像裝置的說明圖。 圖3是同實施形態的圖像識別裝置的方塊圖。 圖4是同實施形態的物品製造裝置的動作說明圖。 圖5是同實施形態的圖像識別裝置的動作說明圖。
3‧‧‧攝像裝置
4‧‧‧圖像識別裝置
5‧‧‧標記裝置
40‧‧‧圖像匯入機構
41‧‧‧缺陷候補擷取機構
42‧‧‧儲存機構
43‧‧‧識別機構
44‧‧‧輸入機構
45‧‧‧緩衝機構
430‧‧‧接收機構
431‧‧‧識別執行機構

Claims (4)

  1. 一種圖像識別裝置，具備：儲存機構，將拍攝到物品的攝像圖像作為庫存圖像而儲存複數個；識別機構，執行識別處理，前述識別處理是識別前述庫存圖像的種類之處理；輸入機構，執行輸入處理，前述輸入處理是將儲存於前述儲存機構的複數個前述庫存圖像一次輸入於前述識別機構之處理；及複數個緩衝機構，執行記憶處理，前述記憶處理是記憶前述庫存圖像、及用於執行前述輸入處理與前述識別處理的命令資訊，又，前述識別機構是構成為：可平行地執行複數個識別處理，前述識別處理是針對藉由前述輸入機構所一次輸入的複數個前述庫存圖像中的各個庫存圖像之處理，前述圖像識別裝置是構成為：在基於記憶於前述複數個緩衝機構的任一個緩衝機構的前述庫存圖像及前述命令資訊來執行前述輸入處理與前述識別處理時，在該識別處理完成之前，前述複數個緩衝機構當中的其他的緩衝機構執行並完成前述記憶處理。
  2. 如請求項1之圖像識別裝置，其具備：圖像匯入機構，連續地重複執行匯入處理，前述匯入處理是匯入複數個前述攝像圖像之處理；及缺陷候補擷取機構，執行擷取處理，前述擷取處理是 擷取缺陷候補圖像，並將該缺陷候補圖像作為前述庫存圖像而儲存於前述儲存機構之處理，前述缺陷候補圖像是該圖像匯入機構所匯入到之複數個前述攝像圖像當中有拍到成為缺陷的候補之缺陷候補點之圖像，又，前述識別機構是構成為：在前述識別處理中，可識別作為前述庫存圖像而儲存於前述儲存機構的前述缺陷候補圖像之前述缺陷候補點的對錯，且，前述圖像識別裝置是構成為：在基於記憶於前述複數個緩衝機構的任一個緩衝機構的前述庫存圖像及前述命令資訊之前述輸入處理、前述識別處理完成前，前述圖像匯入機構會執行並完成用於匯入新的複數個前述攝像圖像之前述匯入處理，前述新的複數個前述攝像圖像是寫入前述複數個緩衝機構當中的其他的緩衝機構的前述攝像圖像。
  3. 如請求項1或2之圖像識別裝置，其中用於執行前述識別處理的識別處理檔案是與用於執行其他處理的處理檔案不同的處理檔案。
  4. 一種物品製造裝置，具備：物品搬送裝置，搬送物品；攝像裝置，拍攝以該物品搬送裝置搬送中的前述物品而製作複數個攝像圖像；如請求項1或2之圖像識別裝置；及標記裝置，是在以前述物品搬送裝置所進行的前述物品之搬送路徑上，設置於比前述物品搬送裝置更在搬送方 向下游側的標記裝置，且執行標記處理，前述標記處理是因應於以該圖像識別裝置的前述識別機構所得到之前述庫存圖像的識別結果，來對已取得該識別結果的庫存圖像中所拍到之物品附加標記之處理，又，前述圖像識別裝置是構成為：在前述攝像裝置拍攝物品而製作前述攝像圖像後，在前述標記裝置對該物品執行前述標記處理前，就可使針對該攝像圖像的前述識別處理完成。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021166058A1 (ja) * 2020-02-18 2021-08-26 日本電気株式会社 画像認識装置、画像認識方法、及び、記録媒体
JP7510975B2 (ja) 2022-07-22 2024-07-04 プライムアースＥｖエナジー株式会社 検査装置及び検査装置のキャリブレーション方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005158780A (ja) * 2003-11-20 2005-06-16 Hitachi Ltd パターン欠陥検査方法及びその装置
TWI256372B (en) * 2001-12-27 2006-06-11 Tokyo Electron Ltd Carrier system of polishing processing body and conveying method of polishing processing body
TWI465711B (zh) * 2006-12-14 2014-12-21 Nippon Electric Glass Co 板玻璃缺陷檢測裝置、板玻璃製造方法、板玻璃物品、板玻璃良否判斷裝置以及板玻璃檢查方法
TW201721567A (zh) * 2015-12-11 2017-06-16 澧達科技股份有限公司 儲藏物的位置追蹤方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5696591A (en) * 1996-01-05 1997-12-09 Eastman Kodak Company Apparatus and method for detecting longitudinally oriented flaws in a moving web
JP2001084364A (ja) * 1999-09-13 2001-03-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像撮像検査装置及びこれを用いた実装基板検査装置
JP2005010036A (ja) * 2003-06-19 2005-01-13 Koyo Seiko Co Ltd 外観検査装置
JP2007178144A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Advanced Mask Inspection Technology Kk パターン検査装置、パターン検査方法、検査対象試料、及び検査対象試料の管理方法
JP5006551B2 (ja) * 2006-02-14 2012-08-22 住友化学株式会社 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2010127809A (ja) * 2008-11-28 2010-06-10 Nippon Paper Industries Co Ltd 外観検査装置及び外観検査システム並びにプログラム
JP5353566B2 (ja) * 2009-08-31 2013-11-27 オムロン株式会社 画像処理装置および画像処理プログラム
JP6075912B2 (ja) * 2013-03-14 2017-02-08 Juki株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
JP6430228B2 (ja) 2014-12-15 2018-11-28 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 画像分類装置および画像分類方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI256372B (en) * 2001-12-27 2006-06-11 Tokyo Electron Ltd Carrier system of polishing processing body and conveying method of polishing processing body
JP2005158780A (ja) * 2003-11-20 2005-06-16 Hitachi Ltd パターン欠陥検査方法及びその装置
TWI465711B (zh) * 2006-12-14 2014-12-21 Nippon Electric Glass Co 板玻璃缺陷檢測裝置、板玻璃製造方法、板玻璃物品、板玻璃良否判斷裝置以及板玻璃檢查方法
TW201721567A (zh) * 2015-12-11 2017-06-16 澧達科技股份有限公司 儲藏物的位置追蹤方法

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