TWI793040B

TWI793040B - 可拆式測試裝置及其固持座

Info

Publication number: TWI793040B
Application number: TW111125041A
Authority: TW
Inventors: 蕭博剛; 鄭孟杰; 刁盈銘; 蘇偉誌
Original assignee: 中華精測科技股份有限公司
Priority date: 2022-07-05
Filing date: 2022-07-05
Publication date: 2023-02-11
Also published as: TW202403310A

Abstract

本發明公開一種可拆式測試裝置及其固持座。所述固持座包含一電路板、一外框架、一連接層、及一轉板模組。所述外框架安裝於所述電路板並共同包圍形成一容置空間。所述連接層設置於所述電路板上且包含彼此間隔設置的多個導電膠柱，其各自的一端部抵頂且電性耦接於所述電路板。所述轉板模組位於所述容置空間內且包含一線路扇出結構、及安裝於所述電路板並壓迫於所述線路扇出結構的一殼體。每個所述導電膠柱的另一端部抵頂且電性耦接於所述線路扇出結構的一寬距連接面，並且所述線路扇出結構的一窄距連接面裸露於所述殼體之外。

Description

可拆式測試裝置及其固持座

本發明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種可拆式測試裝置及其固持座。

現有的探針卡測試裝置所包含的多個導電探針是連接於一轉接板，而後再通過所述轉接板焊接於一電路板，進而使多個所述導電探針能夠電性耦接於所述電路板。然而，所述轉接板與所述電路板的製造成本高昂，所以現有探針卡測試裝置所採用的焊接方式並不利於所述轉接板與所述電路板的後續使用（如：維修替換）。

於是，本發明人認為上述缺陷可改善，乃特潛心研究並配合科學原理的運用，終於提出一種設計合理且有效改善上述缺陷的本發明。

本發明實施例在於提供一種可拆式測試裝置及其固持座，能有效地改善現有探針卡測試裝置所可能產生的缺陷。

本發明實施例公開一種可拆式測試裝置，其包括：一固持座，包含有：一電路板；一外框架，安裝於所述電路板並共同包圍形成有一容置空間；一連接層，包含有彼此間隔設置的多個導電膠柱，並且每個所述導電膠柱具有位於相反側的一第一端部與一第二端部；其中，所述連接層設置於所述電路板上且位於所述容置空間內，多個所述導電膠柱的所述第一端部抵頂且電性耦接於所述電路板；及一轉板模組，位於所述容置空間內且包含有：一線路扇出結構，具有位於相反側的一寬距連接面及電性耦接於所述寬距連接面的一窄距連接面；其中，多個所述導電膠柱的所述第二端部抵頂且電性耦接於所述寬距連接面；及一殼體，安裝於所述電路板並壓迫於所述線路扇出結構，並且所述窄距連接面裸露於所述殼體之外；以及一探針頭，包含有一定位板組及安裝於所述定位板組的多個導電探針；其中，所述探針頭的所述定位板組安裝於所述外框架，並且多個所述導電探針抵頂且電性耦接於所述窄距連接面、進而通過所述線路扇出結構與多個所述導電膠柱而電性耦接於所述電路板。

本發明實施例也公開一種可拆式測試裝置的固持座，其包括：一電路板；一外框架，安裝於所述電路板並共同包圍形成有一容置空間；一連接層，包含有彼此間隔設置的多個導電膠柱，並且每個所述導電膠柱具有位於相反側的一第一端部與一第二端部；其中，所述連接層設置於所述電路板上且位於所述容置空間內，多個所述導電膠柱的所述第一端部抵頂且電性耦接於所述電路板；以及一轉板模組，位於所述容置空間內且包含有：一線路扇出結構，具有位於相反側的一寬距連接面及電性耦接於所述寬距連接面的一窄距連接面；其中，多個所述導電膠柱的所述第二端部抵頂且電性耦接於所述寬距連接面；及一殼體，安裝於所述電路板並壓迫於所述線路扇出結構，並且所述窄距連接面裸露於所述殼體之外。

綜上所述，本發明實施例所公開的可拆式測試裝置及其固持座，通過所述連接層的多個所述導電膠柱來電性耦接所述轉板模組與所述電路板，據以使所述轉板模組與所述電路板之間通過可被拆卸的所述連接層來取代既有的焊接方式，進而實現彼此可拆卸、以利於後續使用（如：維修替換或轉用至其他構件）。

為能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容，請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖，但是此等說明與附圖僅用來說明本發明，而非對本發明的保護範圍作任何的限制。

以下是通過特定的具體實施例來說明本發明所公開有關“可拆式測試裝置及其固持座”的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所公開的內容瞭解本發明的優點與效果。本發明可通過其他不同的具體實施例加以施行或應用，本說明書中的各項細節也可基於不同觀點與應用，在不悖離本發明的構思下進行各種修改與變更。另外，本發明的附圖僅為簡單示意說明，並非依實際尺寸的描繪，事先聲明。以下的實施方式將進一步詳細說明本發明的相關技術內容，但所公開的內容並非用以限制本發明的保護範圍。

應當可以理解的是，雖然本文中可能會使用到“第一”、“第二”、“第三”等術語來描述各種元件或者信號，但這些元件或者信號不應受這些術語的限制。這些術語主要是用以區分一元件與另一元件，或者一信號與另一信號。另外，本文中所使用的術語“或”，應視實際情況可能包括相關聯的列出項目中的任一個或者多個的組合。

[實施例一]

請參閱圖1至圖6所示，其為本發明的實施例一。如圖1至圖3所示，本實施例公開一種可拆式測試裝置，其包含有一固持座100及安裝於所述固持座100的一探針頭200。需先說明的是，所述固持座100於本實施例中雖是以搭配於所述探針頭200來說明，但本發明不受限於此。舉例來說，在本發明未繪示的其他實施例中，所述固持座100可以依據設計需求而被單獨地應用（如：販賣）或是搭配其他構件使用。以下將先介紹所述固持座100和所述探針頭200的構造，而後再適時說明其彼此的連接關係。

如圖2至圖5所示，所述固持座100包含有一電路板1、安裝於所述電路板1的一外框架2、設置於所述電路板1上的一連接層3、及設置於所述連接層3且位於所述外框架2之內的一轉板模組4。其中，所述電路板1電性耦接於一測試儀器（圖未示），並且所述電路板1與所述外框架2共同包圍形成有一容置空間S，其連通於所述外框架2的一框口21。

所述連接層3位於所述容置空間S內，並且所述連接層3於本實施例中包含有設置於所述電路板1上的一底墊圈31、設置於所述底墊圈31上的一承載片32、設置於所述承載片32內的多個導電膠柱33、及位於所述承載片32上的一填充體34，但本發明不受限於此。舉例來說，在本發明未繪示的其他實施例中，所述底墊圈31、所述承載片32、及所述填充體34的至少其中之一可以依據設計需求而被省略或是以其他構件取代。

更詳細地說，所述底墊圈31呈環形且具有彈性，而所述承載片32的外側部位設置於所述底墊圈31上；也就是說，所述底墊圈31夾持於所述承載片32與所述電路板1之間，以使所述承載片32、所述電路板1、及所述底墊圈31共同包圍有一密封空間。

再者，多個所述導電膠柱33具有彈性且彼此間隔地設置，並且每個所述導電膠柱33具有位於相反側的一第一端部331與一第二端部332。其中，每個所述導電膠柱33的所述第一端部331與所述第二端部332分別突伸出所述承載片32的相反兩側（如：圖2中的所述承載片32底側與頂側）；也就是說，位於每個所述導電膠柱33的所述第一端部331與所述第二端部332之間的中央部位是被埋置於所述承載片32內。

進一步地說，多個所述導電膠柱33的所述第一端部331是位於所述密封空間內（也就是，所述底墊圈31圍繞在多個所述導電膠柱33的所述第一端部331的外側），並且多個所述導電膠柱33的所述第一端部331抵頂且電性耦接於所述電路板1。再者，所述填充體34具有彈性且位於所述承載片32的所述頂側並圍繞於多個所述第二端部332之中的至少部分，所述填充體34的高度較佳是不大於其所圍繞的任一個所述第二端部332的高度。

所述轉板模組4位於所述容置空間S內、且包含有一殼體41及位於所述殼體41內的一線路扇出結構42。其中，所述殼體41安裝於所述電路板1並壓迫於所述線路扇出結構42，並且所述殼體41於本實施例中是通過螺鎖方式安裝於所述電路板1，以使所述承載片32（與所述底墊圈31）夾持在所述殼體41與所述電路板1之間，但本發明不以此為限。

所述線路扇出結構42於本實施例中具有一中介板421、設置於所述中介板421上的一扇出轉接板422、及設置於所述扇出轉接板422上的一頂墊圈423，但本發明不以此為限。舉例來說，在本發明未繪示的其他實施例中，所述中介板421與所述頂墊圈423的至少其中之一可以依據設計需求而被省略或是以其他構件取代。

所述中介板421具有位於相反側（如：圖2中的所述中介板421底側與頂側）且彼此電性耦接的一寬距連接面4211與一寬距內接面4212；其中，所述寬距內接面4212的多個第一內接點4213之間的間隔與排佈大致等同於所述寬距連接面4211的多個接點（未標示）之間的間隔與排佈。再者，多個所述導電膠柱33的所述第二端部332抵頂且電性耦接於所述寬距連接面4211，並且所述填充體34位於所述承載片32與所述寬距連接面4211之間。

所述扇出轉接板422具有位於相反側（如：圖2中的所述扇出轉接板422頂側與底側）且彼此電性耦接的一窄距連接面4221與一扇出內接面4222；其中，所述扇出內接面4222的多個第二內接點4223之間的間隔與排佈相較於所述窄距連接面4221的多個接點（未標示）更為寬廣且分散、且其大致等同於所述寬距內接面4212的多個所述第一內接點4213之間的間隔與排佈。

進一步地說，所述中介板421與所述扇出轉接板422於本實施例中通過所述寬距內接面4212的多個所述第一內接點4213分別連接（如：焊接）於所述扇出內接面4222的多個第二內接點4223，以使所述寬距連接面4211與所述窄距連接面4221彼此電性耦接。

再者，所述寬距連接面4211與所述窄距連接面4221分別位於所述線路扇出結構42的相反兩側（如：圖2中的所述線路扇出結構42底側與頂側），並且所述窄距連接面4221裸露於所述殼體41之外。其中，所述頂墊圈423呈環形且具有彈性、並設置於所述窄距連接面4221的外側部位（如：所述窄距連接面4221的多個所述接點被所述頂墊圈423所圍繞且裸露於所述殼體41之外）；也就是說，所述頂墊圈423夾持於所述殼體41與所述扇出轉接板422（如：所述窄距連接面4221）之間。

據此，所述固持座100於本實施例中是通過所述連接層3的多個所述導電膠柱33來電性耦接所述轉板模組4與所述電路板1，據以使所述轉板模組4與所述電路板1之間通過可被拆卸的所述連接層3來取代既有的焊接方式，進而實現彼此可拆卸、以利於後續使用（如：維修替換或轉用至其他構件）。

進一步地說，所述轉板模組4於本實施例中通過採用所述中介板421與所述殼體41來夾持所述扇出轉接板422，以使所述可拆式測試裝置在組裝完成後，所述扇出轉接板422能夠降低其水平變形程度（也就是，維持有較佳的水平度）。

再者，所述固持座100於本實施例中還可以通過在多個構件之間的適當位置處設置有彈性構件（如：所述底墊圈31、所述填充體34、所述頂墊圈423），以使相對應構件能夠因為力平衡而產生預期形變，進而令所述可拆式測試裝置在組裝完成後，所述扇出轉接板422的水平變形程度可以有效地降低（也就是，維持有較佳的水平度）、並使所述連接層3的多個所述導電膠柱33能夠穩定地連接於所述轉板模組4。

需額外說明的是，每個所述導電膠柱33於本實施例中可以進一步限定為一異方性導電膠柱，其能通過所述線路扇出結構42而間接地被所述殼體41所壓迫，進而於所述電路板1與所述寬距連接面4211之間形成一信號傳輸路徑，但本發明不受限於此。

所述探針頭200包含有一定位板組201及安裝於所述定位板組201的多個導電探針202，並且多個所述導電探針202於本實施例中是採用垂直式探針（vertical probe），但不以此為限。其中，所述探針頭200的所述定位板組201安裝於所述外框架2（如：所述定位板組201安裝於所述外框架2的所述框口21，進而大致封閉所述容置空間S），多個所述導電探針202抵頂且電性耦接於所述轉板模組4的所述窄距連接面4221（的多個所述接點）、進而通過所述線路扇出結構42與多個所述導電膠柱33而電性耦接於所述電路板1。需說明的是，所述扇出轉接板422的任兩個所述第二內接點4223之間的一距離大於其（通過所述窄距連接面4221）所電性耦接的兩個所述導電探針202之間的距離。

更詳細地說，所述定位板組201包含有安裝於所述外框架2的一間隔板2011、設置於所述間隔板2011外側的一上導板2012、及設置於所述間隔板2011內側的一下導板2013。其中，所述下導板2013搭配於所述上導板2012、且其位置分別對應於所述轉板模組4。

再者，相互搭配的所述上導板2012與所述下導板2013，其固定有多個所述導電探針202，用以抵頂且電性耦接於所述轉板模組4的所述窄距連接面4221，但本發明不以此為限。舉例來說，如圖6所示，所述轉板模組4可以擴增為多個，並且多個所述轉板模組4同樣設置於所述電路板1與所述外框架2所共同包圍的所述容置空間S內，而所述探針頭200與所述連接層3則為相對應的調整。

[實施例二]

請參閱圖7所示，其為本發明的實施例二。由於本實施例類似於上述實施例一，所以兩個實施例的相同處不再加以贅述，而本實施例相較於上述實施例一的差異大致說明如下：

於本實施例中，所述殼體41的內緣具有一第一環形階面411及位於所述第一環形階面411內側的一第二環形階面412，並且所述第一環形階面411壓迫於所述中介板421的所述寬距內接面4212（的外側部位），而所述第二環形階面412則是壓迫於所述頂墊圈423。此外，在本發明未繪示的其他實施例中，如所述線路扇出結構42未採用所述頂墊圈423時，則所述殼體41的所述第二環形階面412壓迫於所述扇出轉接板422（的外側部位）。

據此，所述轉板模組4於本實施例中可以通過所述殼體41所形成的所述第一環形階面411與所述第二環形階面412，以使所述線路扇出結構42內的構件（如：所述中介板421、所述扇出轉接板422、及所述頂墊圈423）能夠被精準地定位於所述連接層3，進而確保彼此的電性連接。

[實施例三]

請參閱圖8所示，其為本發明的實施例三。由於本實施例類似於上述實施例一，所以兩個實施例的相同處不再加以贅述，而本實施例相較於上述實施例一的差異大致說明如下：

於本實施例中，所述線路扇出結構42未包含有實施例一所載的所述中介板421；也就是說，所述線路扇出結構42可以是僅為單個板體（如：所述扇出轉接板422）或者是僅包含有所述扇出轉接板422與所述頂墊圈423，但不以此為限。

具體來說，所述線路扇出結構42具有位於相反側的所述寬距連接面4211及電性耦接於所述寬距連接面4211的所述窄距連接面4221。也就是說，實施例一所載的所述扇出轉接板422的所述扇出內接面4222在此被作為所述線路扇出結構42的所述寬距連接面4211使用。其中，多個所述導電膠柱33的所述第二端部332抵頂且電性耦接於所述寬距連接面4211，多個所述導電探針202抵頂且電性耦接於所述窄距連接面4221、進而通過所述線路扇出結構42與多個所述導電膠柱33而電性耦接於所述電路板1。

此外，所述殼體41於本實施例中形成有穿設於所述連接層3與所述電路板1的多個第一定位柱413、及穿設於所述轉板模組4的多個第二定位柱414，據以使所述連接層3與所述轉板模組4能通過所述殼體41而準確地設置在所述電路板1上。

[本發明實施例的技術效果]

進一步地說，所述轉板模組通過採用所述中介板與所述殼體來夾持所述扇出轉接板，以使所述可拆式測試裝置在組裝完成後，所述扇出轉接板能夠降低其水平變形程度（也就是，維持有較佳的水平度）。

再者，所述固持座還可以通過在多個構件之間的適當位置處設置有彈性構件（如：所述底墊圈、所述填充體、所述頂墊圈），以使相對應構件能夠因為力平衡而產生預期形變，進而令所述可拆式測試裝置在組裝完成後，所述扇出轉接板的水平變形程度可以有效地降低（也就是，維持有較佳的水平度）、並使所述連接層的多個所述導電膠柱能夠穩定地連接於所述轉板模組。

以上所公開的內容僅為本發明的優選可行實施例，並非因此侷限本發明的專利範圍，所以凡是運用本發明說明書及圖式內容所做的等效技術變化，均包含於本發明的專利範圍內。

100:固持座 1:電路板 2:外框架 21:框口 3:連接層 31:底墊圈 32:承載片 33:導電膠柱 331:第一端部 332:第二端部 34:填充體 4:轉板模組 41:殼體 411:第一環形階面 412:第二環形階面 413:第一定位柱 414:第二定位柱 42:線路扇出結構 421:中介板 4211:寬距連接面 4212:寬距內接面 4213:第一內接點 422:扇出轉接板 4221:窄距連接面 4222:扇出內接面 4223:第二內接點 423:頂墊圈 S:容置空間 200:探針頭 201:定位板組 2011:間隔板 2012:上導板 2013:下導板 202:導電探針

圖1為本發明實施例一的可拆式測試裝置的立體示意圖。

圖2為圖1沿剖線II-II的剖視示意圖。

圖3為圖1的分解示意圖。

圖4為圖3的連接層與轉板模組的分解示意圖。

圖5為圖3的連接層與轉板模組的另一視角分解示意圖。

圖6為本發明實施例一的可拆式測試裝置另一態樣的剖視示意圖。

圖7為本發明實施例二的可拆式測試裝置的剖視示意圖。

圖8為本發明實施例三的可拆式測試裝置的剖視示意圖。

100:固持座

1:電路板

2:外框架

21:框口

3:連接層

31:底墊圈

32:承載片

33:導電膠柱

331:第一端部

332:第二端部

34:填充體

4:轉板模組

41:殼體

42:線路扇出結構

421:中介板

4211:寬距連接面

4212:寬距內接面

4213:第一內接點

422:扇出轉接板

4221:窄距連接面

4222:扇出內接面

4223:第二內接點

423:頂墊圈

S:容置空間

200:探針頭

201:定位板組

2011:間隔板

2012:上導板

2013:下導板

202:導電探針

Claims

一種可拆式測試裝置，其包括：一固持座，包含有：一電路板；一外框架，安裝於所述電路板並共同包圍形成有一容置空間；一連接層，包含有：多個導電膠柱，彼此間隔設置，並且每個所述導電膠柱具有位於相反側的一第一端部與一第二端部；及一承載片，設置有多個所述導電膠柱於其中，並且每個所述導電膠柱的所述第一端部與所述第二端部分別突伸出所述承載片的相反兩側；其中，所述連接層設置於所述電路板上且位於所述容置空間內，多個所述導電膠柱的所述第一端部抵頂且電性耦接於所述電路板；及一轉板模組，位於所述容置空間內且包含有：一線路扇出結構，具有位於相反側的一寬距連接面及一窄距連接面，並且所述窄距連接面電性耦接於所述寬距連接面；其中，多個所述導電膠柱的所述第二端部抵頂且電性耦接於所述寬距連接面；及一殼體，安裝於所述電路板並壓迫於所述線路扇出結構，並且所述窄距連接面裸露於所述殼體之外；以及一探針頭，包含有一定位板組及安裝於所述定位板組的多個導電探針；其中，所述探針頭的所述定位板組安裝於所述外框架，並且多個所述導電探針抵頂且電性耦接於所述窄距連接面、進而通過所述線路扇出結構與多個所述導電膠柱而電性耦接於所述電路板。
如請求項1所述的可拆式測試裝置，其中，所述連接層包含有：一底墊圈，夾持於所述承載片與所述電路板之間，並且所述底墊圈圍繞在多個所述導電膠柱的所述第一端部的外側；其中，所述承載片與所述底墊圈夾持在所述殼體與所述電路板之間。
如請求項1所述的可拆式測試裝置，其中，所述承載片夾持在所述殼體與所述電路板之間，所述連接層包含有：一填充體，位於所述承載片與所述寬距連接面之間；其中，所述填充體圍繞於多個所述第二端部之中的至少部分。
如請求項3所述的可拆式測試裝置，其中，所述填充體的高度不大於其所圍繞的任一個所述第二端部的高度。
如請求項1所述的可拆式測試裝置，其中，所述線路扇出結構包含有：一中介板，具有位於相反側且彼此電性耦接的所述寬距連接面與一寬距內接面；及一扇出轉接板，具有位於相反側且彼此電性耦接的所述窄距連接面與一扇出內接面，並且所述寬距內接面的多個第一內接點分別連接於所述扇出內接面的多個第二內接點。
如請求項5所述的可拆式測試裝置，其中，所述線路扇出結構包含有夾持於所述殼體與所述扇出轉接板之間的一頂墊圈。
如請求項6所述的可拆式測試裝置，其中，所述殼體的內緣具有一第一環形階面及一第二環形階面，並且所述第一環形階面壓迫於所述中介板的所述寬距內接面，而所述第二環形階面則是壓迫於所述頂墊圈。
如請求項1所述的可拆式測試裝置，其中，每個所述導電膠柱進一步限定為一異方性導電膠柱，其通過所述線路扇出結構被所述殼體壓迫而於所述電路板與所述寬距連接面之間形成一信號傳輸路徑。
一種可拆式測試裝置的固持座，其包括：一電路板；一外框架，安裝於所述電路板並共同包圍形成有一容置空間；一連接層，包含有：多個導電膠柱，彼此間隔設置，並且每個所述導電膠柱具有位於相反側的一第一端部與一第二端部；及一承載片，設置有多個所述導電膠柱於其中，並且每個所述導電膠柱的所述第一端部與所述第二端部分別突伸出所述承載片的相反兩側；其中，所述連接層設置於所述電路板上且位於所述容置空間內，多個所述導電膠柱的所述第一端部抵頂且電性耦接於所述電路板；以及一轉板模組，位於所述容置空間內且包含有：一線路扇出結構，具有位於相反側的一寬距連接面及一窄距連接面，並且所述窄距連接面電性耦接於所述寬距連接面；其中，多個所述導電膠柱的所述第二端部抵頂且電性耦接於所述寬距連接面；及一殼體，安裝於所述電路板並壓迫於所述線路扇出結構，並且所述窄距連接面裸露於所述殼體之外。
如請求項9所述的可拆式測試裝置的固持座，其中，所述連接層包含有：一底墊圈，夾持於所述承載片與所述電路板之間，並且所述底墊圈圍繞在多個所述導電膠柱的所述第一端部的外側；其中，所述承載片與所述底墊圈夾持在所述殼體與所述電路板之間；以及一填充體，位於所述承載片與所述寬距連接面之間；其中，所述填充體圍繞於多個所述第二端部中的至少部分，並且所述填充體的高度不大於其所圍繞的任一個所述第二端部的高度。