TWI782566B - 電子部件測試用分選系統和電子部件安置用適配器 - Google Patents

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Abstract

本發明涉及一種電子部件測試用分選系統和電子部件安置用適配器。根據本發明的電子部件測試用分選系統配備有能夠安置多樣的規格的電子部件的適配器。根據本發明，可以在無單獨的部件更換的情況下同時處理多樣的規格的電子部件，因此擴展了使用性並提高了運行率。

Description

電子部件測試用分選系統和電子部件安置用適配器
本發明涉及一種支援電子部件的測試的分選系統，尤其，涉及一種用於支援安裝有多種電子元件的大型電子部件（如固態硬碟（SSD）等）的測試的分選系統。
所生產的電子部件（例如，半導體元件、基板、固態硬碟（SSD）等）被測試器測試後劃分為合格品和不良品，且只有合格品出廠。
電子部件需要與測試器電連接才能進行測試，此時，通過使電子部件與測試器電連接來支援電子部件的測試的設備為分選系統。
隨著新的電子部件的開發，分選系統與其一同被提出及製造，並且，為了穩定化，正在進行多樣的後續開發。
近年來，作為搭載有多個電子元件的大型電子部件的固態硬碟（SSD：Solid State Drive）的普及正在擴大。
由於初期對SSD的需求較少而僅生產少量SSD時，通過手工作業將SSD直接電連接於測試器並解除其連接，但是隨著其需求劇增，難以支持通過手工作業的測試。
但是，由於SSD的厚度、結構及重量等與現有的電子部件不同，因而無法直接應用現有的分選系統，因此，開發出適合支援固態硬碟等大型電子部件的測試的分選系統，並已在韓國公開專利10-2019-0050483號及10-2019-0061291號中提出。
另外，對於固態硬碟而言，其可以根據所搭載的電子元件的種類或其專用用途等而具有多樣的規格，因此，要求一種用於支援這些多種規格的電子部件的測試的分選系統。但是，由於分選系統價格昂貴且其規模較大，因此，考慮到生產費用及設置場所等問題，預計要求一種能夠在一個分選系統中完成具有多樣的規格的電子部件的測試的技術。
另外，為了測試規格分別不同的電子部件，需要更換符合對應電子部件的規格的部件，即使不需要更換部件，也要求用於供應新的電子部件的休止時間。據此，由於對分選系統和測試器的運行率有損害，並且會發生繁雜的人力損失，因此，預計還存在對於在分選系統的1週期內的運行或連續的運行時也不需要額外的休止時間的分選系統的要求。
並且，對作為現有的小品種大量生產產品的半導體元件而言，採用如下方式：配備可裝載數百個以上的半導體元件的測試托盤，並利用抓持器直接抓持半導體元件並將其***於測試托盤的***部。在這種系統中，由於在***部中也固定半導體元件的精確位置，並且在與測試器的連接程序中也固定半導體元件的精確位置，因此，即使精確程度較差也沒有問題。但是，與應用裝置的多樣性相對應地，包括半導體元件的電子部件呈現出逐漸多品種少量生產化的趨勢，並且發生需經過多個種類的測試的情況，但是由於並非所有測試器的測試插座都存在於同一位置，因此，需要按電子部件的種類或測試器的種類來製造高價的測試托盤並配備，與此相匹配的分選系統。已經通過先前的研究發現了若不考慮這一問題而在利用抓持器直接抓持電子部件的狀態下將電子部件連接到測試插座，則存在相當大的問題。例如，電子部件具有與多樣的種類一樣的多樣的長度和寬度，並且，在其製造特性上，即使是同一類型的電子部件，由於存在加工誤差等，也難以以100%一致的尺寸製造。但是，若不考慮這種狀況而使用抓持器抓持電子部件，則電子部件可能由於不能被適當地抓持而消失，或者由於過大的壓力而被破損。當然，發現了如下缺點：即使將抓持器調節成很好地抓持電子部件，也會根據抓持電子部件的哪一個部分和抓持電子部件的強度是多少而發生諸如電子部件被抓持的同時被扭曲或旋轉的情況，從而由抓持器抓持的電子部件難以精確地接觸於測試插座。為了改善這一問題，驅動部需要能夠進行精確控制，且需要與所有電子部件相對應，因此，驅動軸也需要非常長。並且，為了防止破損或扭曲、不需要的旋轉，具有使用能夠按情況控制扭矩的高價的馬達的必要性。但是，這一點由於隨著設備的增大化而要求高成本，因此沒有實效性。並且，還需要實現用於設定借由抓持器的針對電子部件的準確的抓持位置等的自動示教，從而實現精確的接觸，但是這實際上是需要巨大的成本和技術力的部分。
本發明的目的在於，提供一種能夠穩定地支援對於諸如固態硬碟（SSD）等的大型且具有多樣的規格的電子部件的測試的通用的分選系統，尤其，提供一種能夠最佳化於可通過使每一個電子部件分別單獨地***於測試插座的狹縫來電連接到測試插座的技術的分選系統。
並且，本發明的目的在於，提供一種分選系統或測試器不需要為了測試彼此不同的規格的電子部件而具有休止時間的分選系統。
更進一步，本發明的目的在於，提供一種即使在電子部件的寬度和長度改變或測試器插座的位置改變的情況下也可以實現電子部件與測試器之間的精確接觸並不損壞電子部件的分選系統。
根據本發明的一種電子部件測試用分選系統包括：分選機，向測試器供應待測試的電子部件或者從測試器回收測試結束的電子部件；堆疊器，為了向所述分選機供應裝載有待測試的電子部件的客戶托盤或者從所述分選機回收裝載有測試結束的電子部件的客戶托盤而配備；及移送裝置，在所述分選機與所述堆疊器之間移送客戶托盤，其中所述分選機包括：適配器，能夠裝載一個電子部件，並且能夠調節電子部件安置寬度，以能夠安置多樣的規格的電子部件；至少一個移動手，使待測試的電子部件由從所述堆疊器來到供應位置的客戶托盤移動到位於設定位置的所述適配器，或者將測試結束的電子部件由位於所述設定位置的所述適配器移動到位於回收位置的客戶托盤；開放器，開放所述適配器，使得所述移動手能夠將電子部件裝載到所述適配器或者從所述適配器卸載電子部件；及測試手，在抓持所述適配器而移動之後，在抓持所述適配器的狀態下將裝載於所述適配器的電子部件電連接於測試器，以使電子部件能夠被測試。
根據本發明的電子部件測試用分選系統還可以包括：能夠使所述適配器旋轉，以使裝載於所述適配器的電子部件從水平狀態豎立為垂直狀態，或者從垂直狀態平放為水平狀態。
根據本發明的電子部件測試用分選系統還可以包括：移動器，將所述適配器從所述設定位置移動到所述測試手能夠抓持的抓持位置，其中優選地，所述測試手在所述抓持位置抓持所述適配器，所述抓持位置比所述設定位置更靠近測試器。
所述適配器包括：一對抓持部件，為了抓持電子部件的兩端而能夠向相互之間靠近或遠離的方向進行直線移動；及彈性部件，在所述一對抓持部件之間的間隔通過借由所述開放器施加的外力而變寬之後，當借由所述開放器的外力被去除時，施加彈性力，使得所述一對抓持部件之間的間隔變窄。
在所述抓持部件形成有：引導槽，在電子部件借由所述測試手而移動的同時與測試器電連接的程序中引導電子部件的移動。
所述測試手包括：抓持要素，抓持所述適配器或解除抓持；水平移動要素，使所述抓持要素沿水平方向移動；垂直移動要素，使所述抓持要素沿垂直方向移動；開放要素，開放所述適配器，使得電子部件能夠被所述適配器支撐而移動；及連接要素，將借由所述開放要素的操作而能夠移動的電子部件推向測試器側，以使電子部件電連接於測試器。
根據本發明的一種電子部件安置用適配器包括：一對抓持部件，為了抓持電子部件的兩端而能夠向相互之間靠近或遠離的方向進行直線移動；及彈性部件，在所述一對抓持部件之間的間隔借由外力而變寬之後，當外力被去除時施加彈性力，使得所述一對抓持部件之間的間隔變窄。
在所述抓持部件形成有：引導槽，在電子部件移動的同時與測試器電連接的程序中引導電子部件的移動。
根據本發明，具有如下效果。
第一、即使不伴隨部件更換等作業，分選系統自身也可以針對多樣的規格（寬度、長度、種類）的電子部件進行包括加工誤差在內的測試。尤其，適配器的安置部位是在前後方向上開放的形態，並且即使移動手抓持適配器的任意部位或解除抓持，也能夠在測試手改變位置，因而不成問題，因此，在長度方面，容納的幅度尤其寬泛。
第二、由於不同規格的電子部件也可以連續地被測試，因此擴展了可用性並提高了運行率。
第三、在需要經過測試插座（狹縫）的位置或排列不同的所有測試器的情況下也可進行所有相應的應對。
第四、薄膜的強度較弱的電子部件也可以無破損地與測試器精密地連接。
第五、能夠應對通過控制扭矩也無法消除扭曲的電子部件。
第六、由於是測試手抓持安置有電子部件的適配器，在適配器中設置有校準孔，並且在測試器側設置有校準銷，從而校準適配器與測試器之間的相互位置的結構，因此，由於通過與校準銷的匹配而移動適配器而不是移動電子部件，因此可以在無電子部件的破損或扭曲的情況下實現電子部件與測試器之間的精確的連接。
第七、由於測試手沒有用於旋轉電子部件的旋轉器或長度較長的馬達軸，因此測試手非常輕，可穩定運行，且體積也小，還可防止設備的增大化。
參照附圖對根據本發明的優選實施例進行說明，為了簡潔的說明，盡可能省略或壓縮對重複或實質上相同的構成的說明。 ＜關於電子部件與測試器的電連接的說明＞
根據本發明的電子部件測試用分選系統（以下簡稱為「分選系統」）更適合應用於諸如固態硬碟（SSD）之類的採用電子部件的接觸端子側部位***於測試器的測試狹縫的方式的情況。
例如，如圖1所示，測試器TESTER配備有測試狹縫S，電子部件ED的端子T側部位***於該測試狹縫S，從而電子部件ED與測試器TESTER電連接。 ＜關於分選系統的構成的示意性的說明＞
圖2是關於根據本發明的一實施例的電子部件測試用分選系統HS（以下簡稱為「分選系統」）的示意性的平面圖，圖3是關於圖2的分選系統HS的示意性的立體圖。
根據本實施例的分選系統HS包括分選機100、堆疊器200以及移送裝置300。
分選機100向測試器TESTER供應需要測試的電子部件ED，或者從測試器TESTER回收測試結束的電子部件ED。
堆疊器200為了向分選機100供應裝載有待測試的電子部件ED的客戶托盤CT，或者從分選機100回收裝載有測試結束的電子部件ED的客戶托盤CT而配備。
移送裝置300在分選機100與堆疊器200之間移送客戶托盤CT。即，裝載有待測試的電子部件ED的客戶托盤CT可以借由移送裝置300而從堆疊器200被移送到分選機100，並且裝載有測試結束的電子部件ED的客戶托盤CT可以借由移送裝置300而從分選機100移送到堆疊器200。
以下，劃分目錄對各個構成進行說明。 ＜關於分選機的說明＞
本發明的主要特徵在於分選系統HS中的分選機100。圖4是關於應用於圖2的分選系統HS的分選機100的示意性的平面圖，圖5是從圖4的分選機100中單獨摘取主要構成部位I的摘取圖。
如圖4及圖5所示，分選機100包括適配器110、擱置器120、移動手130、開放器140、旋轉器150、移動器160及測試手170。
適配器110可以安置並固定有一個電子部件ED，並具有可調節安置寬度的結構，以能夠在無需額外的構成的變更的情況下安置多樣的規格的電子部件ED。為此，如圖6的摘取立體圖及圖7的分解圖所示，適配器110包括一對抓持部件111a、111b、調節部件112、第一彈性彈簧113、第二彈性彈簧114及框架115。
一對抓持部安置多樣的規格的電子部件ED件111a、111b為了抓持電子部件ED的左右兩端而配備，並且配備為沿相互之間靠近或遠離的方向被框架115中的引導桿GB引導而進行左右直線移動。在這種一對抓持部件111a、111b，分別在彼此面對的面形成有兩個調節槽CG，並且在調節槽CG的上側部位沿前後方向較長地形成有引導槽GG。在此，調節槽CG為了調節形成於兩個抓持部件111a、111b之間的電子部件ED的安置寬度W而形成，形成為其深度從前方到後方逐漸變淺。並且，引導槽GG兼具引導電子部件ED的前進後退移動的功能和電子部件ED的左右兩端被***而使電子部件ED穩定地被適配器110抓持的作為抓持槽的功能。
調節部件112可以沿前後方向進退，在向後方移動時，起到加寬一對抓持部件111a、111b之間的間隔的作用。為了執行其作用，調節部件112包括四個輥R、設置結構物112a、推板112b及傳遞桿112c。
輥R在左右兩側分別配備有兩個，並與形成調節槽CG的面相接觸。
設置結構物112a為了設置四個輥R而配備。即，4個輥R以能夠以Z軸（垂直軸）為旋轉軸進行旋轉的方式設置於設置結構物112a。
推板112b受到由開放器140施加的向後方推動的力。
傳遞桿112c的前端固定結合於推板112b且後端固定結合於設置結構物112a，從而將輸入到推板112b的開放器140的推力傳遞到設置結構物112a。
第一彈性彈簧113的一側與框架115相接觸、另一側與抓持部件111a、111b相接觸，並且作為施加使一對抓持部件111a、111b向彼此靠近的方向移動的彈性力的彈性部件而配備。即，安裝有輥R的調節部件112執行擴大兩個抓持部件111a、111b之間的間隔的功能，第一彈性彈簧113執行縮小兩個抓持部件111a、111b之間的間隔的功能。
第二彈性彈簧114作為用於施加向前方推動調節部件112的彈性力的彈性部件而配備。即，若去除後述的開放器140向後方推動調節部件112的力，則第二彈性彈簧114借助彈性力向前方推動調節部件112，從而使調節部件112前進。
框架115為了設置並支撐抓持部件111a、111b、調節部件112、第一彈性彈簧113、第二彈性彈簧114等而配備。這種框架115中可以形成有用於電子部件ED與測試器TESTER之間的匹配的校準孔（將後述）。
繼而，對適配器110的操作進行說明。
當開放器140對推板112b施加向後方推動的力時，調節部件112向後方移動。此時，由於輥R與形成越朝向後方深度越淺的調節槽CG的面相接觸，因此輥R的後退力轉換為向左右方向推動兩個抓持部件111a、111b的力，從而兩個抓持部件111a、111b之間的間隔變寬。通過這種方式，在兩個抓持部件111a、111b之間的間隔最大程度變寬的狀態下，可以借由移動手130而安置電子部件ED或引出已被安置的電子部件ED。並且，若去除由開放器140而施加的力，則調節部件112借由第二彈性彈簧114的彈性力而前進，並且兩個抓持部件111a、111b之間的間隔借由第一彈性彈簧113的彈性力而變窄。這樣，由於可安置電子部件ED的安置寬度W可以在兩個抓持部件111a、111b之間的最大間隔與最小間隔之間的預定範圍內調節，因此，具有在該範圍內的左右寬度的多樣的規格的電子部件ED都可以穩定地裝載於適配器110。作為參考，誇大並概念性地示出的圖8的（a）、（b）、（c）圖示具有多樣的安置寬度W1、W2、W3的規格的電子部件ED裝載並固定於適配器110的狀態。在此，安置寬度W在第一彈性彈簧113可對應於電子部件ED的大小的範圍內對應，因此，電子部件ED穩定地被適配器110抓持，後述的測試手170只要以使適配器110不會消失的方式強力地抓持相同的高度即可，從而測試手170的抓持及運行範圍的問題或負荷將減小。
擱置器120為了固定並擱置適配器110而配備，如參照圖9的（a）及（b）的摘取圖所示，包括一對固定部件121a、121b、驅動源122及一對傳遞要素123。
一對固定部件121a、121b的間隔沿左右方向變寬或變窄，從而可以固定適配器110或解除固定。即，當固定部件121a、121b在受到導軌GR的引導的同時沿左右方向進行直線移動，從而固定部件121a、121b之間的間隔變寬時，適配器110處於擱置於擱置器120或可從擱置器120脫離的狀態，當固定部件121a、121b之間的間隔變窄時，適配器110處於被擱置器120約束的狀態。
驅動源122供應用於調節一對固定部件121a、121b之間的間隔的驅動力，在本實施例中，驅動源122配備為氣缸。
傳遞要素123a、123b將由驅動源122施加的驅動力傳遞到一對固定部件121a、121b。在本實施例中，採取了在傳遞要素123a、123b旋轉的同時將驅動源122（即，氣缸）的前進力和後退力轉換為固定部件121a、121b的左右移動力來傳遞的結構，但是根據實施方式，可以進行多樣的變形。
作為參考，如下所述，擱置器120被採用為採取使適配器110從設定位置SP到抓持位置GP之間移動並旋轉的結構的構成。但是，根據實施方式，在不需要適配器110的旋轉等的情況下，也可以省略。
移動手130將待測試的電子部件ED從由堆疊器200來到供應位置FP的客戶托盤CT移動到位於設定位置SP的適配器110，或者將測試結束的電子部件ED從位於設定位置SP的適配器110移動到位於回收位置RP的客戶托盤CT。這種移動手130借由真空吸附來抓持電子部件ED，由於具有多個拾取器，因此實現為在多個位置選擇性地吸附並抓持電子部件ED。與這種移動手130相關的技術詳細記載於作為本案申請人的在先申請的韓國申請號10-2020-0019380中，因此在本說明書中省略其詳細說明。
開放器140開放位於設定位置SP的適配器110，使得移動手130可以將電子部件ED裝載到適配器110或從適配器卸載電子部件ED。即，在不受外力的狀態下，適配器110的兩個抓持部件111a、111b借由第一彈性彈簧113的彈性力而以彼此間的間隔最小化的狀態關閉，而開放器140通過調節部件112施加使兩個抓持部件111a、111b之間的間隔變寬的外力。這種開放器140可以實現為多樣的形態，在本實施例中利用作為操作源的氣缸141和推動器142構成。
氣缸141使推動器142沿前後方向進退，推動器142在後退時與推板112b相接觸並向後方推動調節部件112。據此，如前述，在調節部件112被推向後方的同時兩個抓持部件111a、111b之間的間隔變寬。當然，若推動器142前進，則外力從推板112b去除，因此，調節部件112借由第二彈性彈簧114的彈性力而向前方前進。
旋轉器150使擱置器120旋轉並最終使適配器110旋轉，從而使裝載於適配器110的電子部件ED從水平狀態豎立到垂直狀態。借由這種旋轉器150，電子部件ED垂直豎立，從而電子部件ED的接觸端子T側部位處於可以適當地***到測試狹縫S的狀態。當然，旋轉器150後續還會起到通過使裝載有測試結束的電子部件ED的適配器110逆向旋轉來使垂直狀態的電子部件ED轉換為水平狀態的作用。作為參考，在電子部件ED在水平狀態下電連接於測試器TESTER的情況（例如，測試狹縫沿水平方向較長地形成的情況）下，旋轉器150可以不執行其功能，或者可以省略旋轉器150的構成。
移動器160將擱置器120從設定位置SP移動到測試手170可抓持的抓持位置GP，最終將適配器110從設定位置SP移動到測試手170可抓持的抓持位置GP。如此，通過移動器160將適配器110從設定位置SP移動到抓持位置GP的原因是為了使移動手130和測試手170的操作區間彼此不重疊，從而實現平穩和快速的作業，更進一步，是為了使測試手170可以快速移動適配器110。因此，優選地，抓持位置GP比設定位置SP更靠近測試器TESTER。
測試手170在抓持位置GP處抓持適配器110之後使適配器110移動，從而將電子部件ED的接觸端子T側部位***到測試狹縫S，當針對電子部件ED的測試結束時，從測試狹縫S引出電子部件ED，之後將裝載有測試結束的電子部件ED的適配器110再次移動到抓持位置GP。為此，如圖10的摘取圖所示，測試手170包括抓持要素171、水平移動要素172a、172b、垂直移動要素173、開放要素174及連接要素175。
抓持要素171為了抓持適配器110或解除抓持而配備，為此，如參照圖11的摘取圖所示，具有借由驅動源171b的驅動力而使彼此間的間隔變寬或變窄，從而能夠抓持適配器110或解除抓持的一對抓持部件171a-1、171a-2。
水平移動要素172a、172b使抓持要素171沿水平方向（即，左右方向及前後方向）移動，從而使適配器110能夠移動到多個測試狹縫S中當前空置的測試狹縫S側。
垂直移動要素173使抓持要素171沿垂直方向移動，從而使抓持要素171能夠抓持位於抓持位置GP的適配器110，或者使被抓持的適配器110能夠上升至測試所需的高度，且也能夠進行與其相反的操作。
開放要素174在電子部件ED能夠維持在適配器110的程度的限度內稍微開放適配器110。為此，如圖12的摘取圖所示，開放要素174具有可借由驅動源174b而進行前進、後退的推動器174a。在此，推動器174a在抓持要素171抓持適配器110的狀態下稍微推動推板112b來開放適配器110，從而使電子部件ED處於在維持在適配器110的狀態下可向前方或後方移動的狀態。即，配備於測試手170的開放要素174僅以電子部件ED不脫離適配器110的狀態下能夠向前後方向移動的程度開放適配器110。因此，電子部件ED可以在仍然裝載於適配器110的狀態下通過引導槽GG的引導而向前後方向移動。
在連接要素175中，借由操作源175b而進退的推動器175a向後方推動電子部件ED，使得電子部件ED的接觸端子T側部位可以***到測試狹縫S。在此，由於電子部件ED借由連接要素175而***到測試狹縫S，因此，即使移動手130在前後方向上的安置精確程度稍微降低，只要電子部件ED在一定範圍內安置於適配器110即可。並且，若調節連接要素175的前進、後退距離，則前後長度較短的電子部件ED或前後長度相對長的電子部件ED都可以向適配器110的外部暴露電子部件ED的端子部位。這種連接要素175的構成及操作也可以通過圖13的摘取圖來充分被理解。
另外，本發明的一大優點在於，在連接電子部件ED和測試器TESTER的程序中稍微開放適配器110，並在適配器110的引導槽GG中使電子部件ED滑動移動來使電子部件ED暴露於適配器110的外部，從而能夠使電子部件ED處於可***到測試狹縫S的狀態。即，在本發明中，適配器110的引導槽GG執行兩種功能，對此將進行附加說明。
第一種是抓持功能。在安置於適配器的電子部件ED為薄板的情況下，可能存在彎曲或扭曲等的問題。因此，施加用於抓持電子部件ED的抓持力的第一彈性彈簧113應具有能夠以盡可能較弱的程度對電子部件加壓的彈性係數。因此，關於電子部件ED的抓持的穩定性可能會成為問題，因此由引導槽GG來加強這一點。
第二種是引導功能。為了將電子部件ED***到測試狹縫S，需將電子部件ED引出至適配器110的外部，此時，引導槽GG引導電子部件ED的移動。
作為參考，當測試結束時，適配器110處於固定電子部件ED的狀態，並且抓持適配器110的抓持要素171向前方前進，從而電子部件ED可以從測試狹縫S移除。此時，可優選地考慮配備單獨的固定的***架（未示出），以使電子部件ED能夠準確地***到適配器110。若是配備有***架的情況，則在引出電子部件ED之後，將電子部件ED的後端抵接於***架，並在適配器110稍微開放的狀態下，抓持要素171後退，從而使電子部件ED能夠正確地***並安置於適配器110。如此，電子部件ED再次進入適配器110並安置，從而可以保護電子部件ED及其端子。
或者，也可以考慮在測試手170上額外配備具有動力的單獨的***器具，從而實現為將從測試狹縫S引出的電子部件ED適當地安置於適配器110。 ＜關於堆疊器的說明＞
圖14是關於堆疊器200的示意性的立體圖。
堆疊器200為了將客戶托盤CT供應到分選機100或從分選機100回收客戶托盤CT而配備。為此，堆疊器200具有三層高度的容納空間RS。
二層的容納空間RS2可以用於通過自動化物流裝置或作業者而供應或回收每一捆B的客戶托盤CT。此時，一捆B的客戶托盤CT上端被蓋托盤覆蓋。
三層的容納空間RS為了確保容量而配備，並收容來自二層的容納空間RS的待測試的電子部件ED所在的一捆B的客戶托盤CT。然而，三層的容納空間RS中的一個容納空間RS可以用於收容蓋托盤。
一層的容納空間RS容納裝載有測試結束的電子部件ED的客戶托盤CT。
當然，對於上述容納空間RS的作用可以相互改變，也可以根據測試室（測試工廠）的情況或其系統或需求者的要求而改變為用作客戶托盤CT待機的空間或其他所需的多樣的空間等。
為了堆疊器200內的客戶托盤CT的物流，在左側的容納空間RS和右側的分選機100之間確保了用於客戶托盤CT的物流的移動空間MS。並且，在各個容納空間RS配備有能夠使客戶托盤CT（或著一捆客戶托盤）沿左右方向移動的移動要素210，從而能夠使位於容納空間RS的客戶托盤CT向移動空間MS移動，或者使位於移動空間MS的客戶托盤CT向容納空間RS移動。
並且，堆疊器200配備有用於使客戶托盤CT在移動空間MS上移動（或者一捆客戶托盤）的托盤移動器220。
在托盤移動器220的上側可以放置有一捆B客戶托盤CT，在托盤移動器220的下側配備有抓持蓋托盤或一個客戶托盤CT的抓持器221。並且，抓持器221可以沿上下方向及前後方向移動。因此，托盤移動器220可以在移動空間MS上使一捆客戶托盤CT或單個客戶托盤CT或者蓋托盤進行升降移動或水平移動，也可以將單個客戶托盤CT供應到移送裝置300。當然，托盤移動器220也可以配備成分為用於移動一捆B客戶托盤CT的第一移動器和用於移動每一個客戶托盤CT或蓋托盤的第二移動器。
對如前述的堆疊器200的操作進行簡要說明。
當每一捆客戶托盤CT借由自動化設備或其他手動操作而裝載到二層的容納空間RS時，托盤移動器220一次性將每一捆B的客戶托盤CT移動到三層的容納空間RS。據此，自動化設備或作業者可以將每一捆B的客戶托盤CT再次移動到二層的容納空間RS。此時，通過二層的容納空間RS而由自動化設備或作業者供應的客戶托盤CT的捆B可以按各個捆B而裝載有彼此不同的規格的電子部件ED。即，根據本發明，由於可以以彼此不同的規格的電子部件ED也能夠連續地進行測試作業的方式進行支援，因此，對二層或三層的容納空間RS而言，在每個容納空間RS中可以裝載有被彼此不同的規格的電子部件ED填充的客戶托盤CT。 ＜關於移送裝置的說明＞
圖15是關於移送裝置300的示意性的立體圖。
移送裝置300位於分選機100的前方，從堆疊器200的托盤移動器220接收裝載有待測試的電子部件ED的客戶托盤CT並將客戶托盤CT移動到移動手130可以抓持電子部件ED的供應位置FP，並且將裝載有測試結束的電子部件ED的客戶托盤CT從回收位置RP返送到堆疊器200。為此，移送裝置300配備供310、回收器320、5個供應用升降器331、3個回收用升降器332及傳送器340。在這些構成中，供應器310和回收器320位於堆疊器200側，升降器331、332和傳送器340位於分選機100側。
供應器310為了向傳送器340供應從托盤移動器220接收的裝載有待測試的電子部件ED的客戶托盤CT而配備。如參照圖16的摘取圖所示，這種供應器配備有可裝載客戶托盤CT的移動板311，移動板311可以在托盤移動器220操作的區域（堆疊器側）和傳送器340操作的區域（分選機側）之間往返，因此，可以將從托盤移動器220接收的客戶托盤CT供應到傳送器340。
回收器320為了回收裝載有從傳送器340接收的測試結束的電子部件ED的客戶托盤CT並將其傳送到托盤移動器220而配備。回收器320同樣具有與供應器310相同的結構，從而能夠將從傳送器340接收的客戶托盤CT送到托盤移動器220。
如參照圖17的摘取圖所示，供應線側的5個供應用升降器331分別具有可放置客戶托盤CT的供應用升降板331a。因此，借由傳送器340而放置於供應用升降板331a的客戶托盤CT可以上升到移動手130能夠抓持位於客戶托盤CT的電子部件ED的高度。並且，當上升的客戶托盤CT被設置於作業板WP的固定器（未圖示）而被固定時，供應用升降板331a將會再次下降，因此，供應用升降板331a可以處於不妨礙在作業板WP的下方工作的傳送器340的作業的狀態。
當結束測試的電子部件ED通過移動手130的作業而全部裝載於客戶托盤CT時，回收用升降器332使客戶托盤CT下降，使得傳送器340可以將客戶托盤CT移動到回收器320。這種回收用升降器332也具有回收用升降板332a，其結構與供應用升降器331相同。
傳送器340將裝載有待測試的電子部件ED的客戶托盤CT從供應器310移動到供應用升降器331，並將裝載有測試結束的電子部件ED的客戶托盤CT從回收用升降器332移動到回收器320。並且，當放置於供應用升降板331a的客戶托盤CT被清空時，傳送器340執行將該被清空的客戶托盤CT移動到回收用升降板332a，從而能夠將測試結束的電子部件ED裝載到客戶托盤CT的作用。如圖18的摘取圖所示，如前述的傳送器340具有用於抓持客戶托盤CT或解除抓持的一對抓持桿341a、341b。當然，抓持桿341a、341b可以配備為沿左右方向、前後方向和豎直方向移動。
作為參考，在本實施例中，為了客戶托盤CT的平穩的物流，分別設置有將裝載有待測試的電子部件ED的客戶托盤CT從堆疊器200供應到分選機100的供應線和將裝載有測試結束的電子部件ED的客戶托盤CT從分選機100回收到堆疊器200的回收線，但是根據實施方式，可以考慮將供應線和回收線整合為一條線。在這種情況下，供應器310和回收器320整合為一個，供應用升降器331和回收用升降器332也將在左右方向上位於同一條線上並整合而運用。
並且，由於存在傳送器340，因此圖4的供應位置FP和回收位置RP是任意標記的，根據使用情況，供應位置FP和回收位置RP可以有多樣的位置變化。 ＜關於整體物流的說明＞ 1.客戶托盤隨附的物流
當位於容納空間RS的裝載有待測試的電子部件ED的客戶托盤CT借由托盤移動器220、供應器310及傳送器340而放置於供應用升降板331a時，供應用升降器331使客戶托盤CT上升至作業板WP，並且客戶托盤CT固定到作業板WP。在這種狀態下，當待測試的電子部件ED借由移動手130全部從客戶托盤CT被清空時，供應用升降器331使被清空的客戶托盤CT下降。
另外，當下降的被清空的客戶托盤CT借由傳送器340而放置於回收用升降板332a時，回收用升降器332使客戶托盤CT上升至作業板WP，並且客戶托盤CT固定到作業板WP。並且，當測試完成的電子部件ED借由移動手130而裝載到該客戶托盤CT時，回收用升降器332使客戶托盤CT下降。此後，裝載有測試完成的電子部件ED的客戶托盤CT借由傳送器340、回收器320及托盤移動器220而裝載到一層的容納空間RS。
作為參考，優選地，裝載於一層的容納空間RS的客戶托盤CT按測試等級被區分並裝載於彼此獨立的容納空間RS。 2.電子部件的獨立物流
移動手130從位於供應位置FP的客戶托盤CT逐個引出電子部件ED，並將電子部件ED移動到位於設定位置SP的適配器110。此時，適配器110處於開放狀態。當客戶托盤CT安置於適配器110時，適配器110的開放被解除，從而電子部件ED固定到適配器110。繼而，抓持適配器110的擱置器120借由移動器160而從設定位置SP移動到抓持位置GP，並且旋轉器150旋轉擱置器120，從而最終使電子部件ED豎立。在此，擱置器120的旋轉既可以在擱置器120移動前在設定位置SP處進行，也可以在擱置器120移動後在抓持位置GP處進行。此後，測試手170抓持位於抓持位置GP的適配器110並移動後，將電子部件ED的接觸端子T側部位***到測試狹縫S。並且，當針對電子部件ED的測試結束時，測試手170從測試狹縫S引出電子部件ED，之後將適配器110移動到位於抓持位置GP的擱置器120，當適配器110與擱置器120一起移動到設定位置SP時，測試手170將測試結束的電子部件ED搬到位於回收位置RP的客戶托盤CT。此時，各個回收用升降板332a所在的位置為回收位置RP，並且，可以優選地考慮在位於各個回收位置RP的客戶托盤CT上按測試等級而分類裝載彼此不同的電子部件ED。 ＜參考事項＞ 1.按捆辨識
根據本發明，客戶托盤CT以被蓋托盤覆蓋的狀態以捆（例如，每一捆30張）為單位被供應到容納空間RS。通常考慮的是，在堆疊於相同捆內而供應的客戶托盤CT中可以是相同批次（lot）的電子部件ED或相同規格的電子部件ED，但是堆疊於與該捆不同的捆中的客戶托盤CT中可以是不同種類（批次或規格不同）的電子部件ED。即，根據本發明的分選系統HS可以將不同規格的電子部件ED以捆為單位進行區分並裝入。
因此，蓋托盤上印有能夠確認在構成該捆的客戶托盤CT中裝載的電子部件ED的規格或更進一步確認測試種類等的條碼。並且，與此相對應地，托盤移動器220可以配備有可辨識蓋托盤的條碼的條碼閱讀器。因此，當托盤移動器220移動一捆客戶托盤CT時，條碼閱讀器可以辨識蓋托盤的條碼來確認電子部件ED的規格或測試種類，這可以借由控制裝置（未示出）而被用作後續的適配器110的開放程度或測試等的控制資訊。 2.單獨的辨識
在放置於供應器310的移動板311上的客戶托盤CT從堆疊器200側移動到分選機100側的程序中，在堆疊器200與分選機100的邊界處可以配備有條碼閱讀器。
該條碼讀取器可以通過讀取在各個電子部件ED上印有的條碼來辨識每個電子部件ED，從而可以實現各個電子部件ED的單獨履歷管理。 3.調整電子部件的位置
在測試手170將電子部件ED***測試狹縫S的程序中，需要精確地調整電子部件ED與測試狹縫S之間的位置。為此，如圖10所示，可以優選地考慮在適配器110中形成匹配孔AH，並且在測試器TESTER中配備***到匹配孔AH的匹配銷AP。在這種情況下，通過將匹配銷AP***到匹配孔AH，可以精確地調整電子部件ED與測試狹縫S的位置。在配備匹配孔AH和匹配銷AP的情況下，適配器110需要移動預定程度，因此，在匹配程序中，測試手170需要以弱抓持力抓持適配器110，使得適配器110能夠移動，在匹配程序結束之後電子部件ED***到測試狹縫S的程序中，測試手170需要以強抓持力抓持適配器110，使得適配器110即使在測試器側的摩擦阻力下也不會移動。 4.關於適配器的補充說明
雖然可以考慮測試手170直接抓持電子部件ED而與測試器TESTER電連接的結構，但由於電子部件ED較薄而可能無法承受測試手170的抓持力。因此，適配器110作為媒介，可以防止測試手170對電子部件ED的損壞，並且可以穩定地支援測試。
另外，可能存在具有超過現有適配器110的最大安置寬度或比最小安置寬度小的寬度的電子部件ED。在這種情況下，以能夠僅通過更換適配器110而將針對該電子部件ED的測試也一同支援的方式簡單地實現互換。 5.擴大容量
參照圖19可知，兩台分選機100A、100B並排配備。並且，在第一分選機100A與第二分選機100B之間具有轉接器400，從而可以使從堆疊器200經第一分選機100A而來的客戶托盤CT移動到第二分選機100B，並使來自第二分選機100B的客戶托盤CT移動到第一分選機100A。在此，轉接器400可以配備為與供應器310及回收器320相似的結構。
如前述，根據圖19的例，由於利用一個堆疊器200可以負責多台分選機100，因此，尤其在對電子部件ED的測試時間較長的情況下，具有通過增加最少的構成來擴大容量的效果。當然，也可以考慮將來自堆疊器200的裝載有彼此不同的種類的電子部件ED的客戶托盤CT區分為第一分選機100A和第二分選機100B來進行測試的實用性。
或者，也可以充分考慮如下的情形：在圖19的擴展例中，由第一分選機110A支持第一測試，將在第一測試結束的電子部件ED中被決定為良好的電子部件ED發送到第二分選機100B而支持第二測試的形態。 6.變形例
在上述的實施例中，適配器110可以通過移動器160移動至回收位置RP的側方位置，但是根據圖20的變形例，適配器110可以僅移動到回收位置RP的後方。取而代之地，可以增加移動手130的操作區域。相反，可以減小電子部件分選系統HS的整體左右寬度。並且，在供應位置FP與回收位置RP之間存在緩衝區域BS，在緩衝區域BS中配備有可以安置多樣的規格的電子部件的安置槽，從而可以實現為使測試失敗或需要重新測試的電子部件ED安置於安置槽。
如前述，通過參照附圖的實施例對本發明進行了具體說明，但上述實施例僅對本發明的優選實施例進行了說明，因此不應理解為本發明僅局限於上述實施例，本發明的權利範圍應理解為申請專利範圍及其等同範圍。
100:分選機 100A:第一分選機 100B:第二分選機 110:適配器 111a,111b:抓持部件 112:調節部件 112a:設置結構物 112b:推板 112c:傳遞桿 113:第一彈性部件 114:第二彈性彈簧 115:框架 120:擱置器 121a:固定部件 121b:固定部件 122:驅動源 123a:傳遞要素 123b:傳遞要素 130:移動手 140:開放器 141:氣缸 142:推動器 150:旋轉器 160:移動器 170:測試手 171:抓持要素 171a-1:抓持部件 171a-2:抓持部件 171b:驅動源 172a,172b:水平移動要素 173:垂直移動要素 174:開放要素 174a:推動器 174b:驅動源 175:連接要素 175a:推動器 175b:操作源 200:堆疊器 210:移動要素 220:托盤移動器 221:抓持器 300:移送裝置 310:供應器 320:回收器 331:供應用升降器 331a:供應用升降板 332:回收用升降器 332a:回收用升降板 340:傳送器 341a:抓持桿 341b:抓持桿 400:轉接器 AH:匹配孔 AP:匹配銷 B:一捆 BS:緩衝區域 CG:調節槽 CT:客戶托盤 ED:電子部件 FP:供應位置 HS:電子部件測試用分選系統 I:主要構成部位 GB:引導桿 GG:引導槽 GP:抓持位置 GR:導軌 MS:移動空間 S:測試狹縫 SP:設定位置 R:輥 RP:回收位置 T:端子 W:安置寬度 W1 :安置寬度 W2 :安置寬度 W3 :安置寬度
圖1是用於說明電子部件與測試器之間的電連接結構的參照圖。
圖2是根據本發明的一實施例的電子部件測試用分選系統的概念性的結構圖。
圖3是關於圖2的分選系統的示意性的立體圖。
圖4是關於應用於圖2的分選系統的分選機的示意性的平面圖。
圖5是關於圖4的分選機的主要部位的摘取立體圖。
圖6是關於應用於圖4的分選機的適配器的示意性的立體圖。
圖7是關於圖6的適配器的分解立體圖。
圖8是用於說明圖6的適配器的操作狀態的參照圖。
圖9是關於應用於圖4的分選機的擱置器的示意性的立體圖。
圖10是關於應用於圖4的分選機的測試手的示意性的立體圖。
圖11是關於在圖10的測試手中構成的抓持要素的摘取圖。
圖12是關於在圖10的測試手中構成的開放要素的摘取圖。
圖13是關於在圖10的測試手中構成的連接要素的摘取圖。
圖14是關於應用於圖2的分選系統的堆疊器的概念性的立體圖。
圖15是關於應用於圖2的分選系統的移送裝置的示意性的立體圖。
圖16是關於應用於圖15的移送裝置的供應器的示意性的立體圖。
圖17是關於應用於圖15的移送裝置的供應用升降器的示意性的立體圖。
圖18是關於應用於圖15的移送裝置的傳送器的示意性的立體圖。
圖19是用於說明圖2的分選系統的擴展例的參照圖。
圖20是用於說明圖2的分選系統的變形例的參照圖。
國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
100:分選機
200:堆疊器
300:移送裝置
CT:客戶托盤
HS:電子部件測試用分選系統
TESTER:測試器

Claims (10)

  1. 一種電子部件測試用分選系統，包括：分選機，向測試器供應待測試的電子部件或者從測試器回收測試結束的電子部件；堆疊器，為了向所述分選機供應裝載有待測試的電子部件的客戶托盤或者從所述分選機回收裝載有測試結束的電子部件的客戶托盤而配備；及移送裝置，在所述分選機與所述堆疊器之間移送客戶托盤，其中所述分選機包括：適配器，能夠裝載一個電子部件，並且能夠調節電子部件安置寬度，以能夠安置多樣的規格的電子部件；至少一個移動手，使待測試的電子部件由從所述堆疊器來到供應位置的客戶托盤移動到位於設定位置的所述適配器，或者將測試結束的電子部件由位於所述設定位置的所述適配器移動到位於回收位置的客戶托盤；開放器，開放所述適配器，使得所述移動手能夠將電子部件裝載到所述適配器或者從所述適配器卸載電子部件；及測試手，在抓持所述適配器而移動之後，在抓持所述適配器的狀態下將裝載於所述適配器的電子部件電連接於測試器，以使電子部件能夠被測試。
  2. 根據請求項1之電子部件測試用分選系統，還包括： 旋轉器，能夠使所述適配器旋轉，以使裝載於所述適配器的電子部件從水平狀態豎立為垂直狀態，或者從垂直狀態平放為水平狀態。
  3. 根據請求項1之電子部件測試用分選系統，還包括：移動器，將所述適配器從所述設定位置移動到所述測試手能夠抓持的抓持位置，其中所述測試手在所述抓持位置抓持所述適配器，所述抓持位置比所述設定位置更靠近測試器。
  4. 根據請求項1之電子部件測試用分選系統，其中所述適配器包括：一對抓持部件，為了抓持電子部件的兩端而能夠向相互之間靠近或遠離的方向進行直線移動；及彈性部件，在所述一對抓持部件之間的間隔通過借由所述開放器施加的外力而變寬之後，當借由所述開放器的外力被去除時，施加彈性力，使得所述一對抓持部件之間的間隔變窄。
  5. 根據請求項4之電子部件測試用分選系統，其中在所述抓持部件形成有：引導槽，在電子部件借由所述測試手而移動的同時與測試器電連接的程序中引導電子部件的移動。
  6. 根據請求項1之電子部件測試用分選系統， 其中所述測試手包括：抓持要素，抓持所述適配器或解除抓持；水平移動要素，使所述抓持要素沿水平方向移動；垂直移動要素，使所述抓持要素沿垂直方向移動；開放要素，開放所述適配器，使得電子部件能夠被所述適配器支撐而移動；及連接要素，將借由所述開放要素的操作而能夠移動的電子部件推向測試器側，以使電子部件電連接於測試器。
  7. 一種電子部件安置用適配器，包括：一對抓持部件，為了抓持電子部件的兩端而能夠向相互之間靠近或遠離的方向進行直線移動；調節部件，所述調節部件在朝向所述一對抓持部件的方向上前後移動，其中當所述調節部件朝向所述一對抓持部件移動時，所述調節部件加寬所述一對抓持部件之間的間隔；及彈性部件，在所述一對抓持部件之間的間隔借由外力而變寬之後，當外力被去除時施加彈性力，使得所述一對抓持部件之間的間隔變窄。
  8. 根據請求項7之電子部件安置用適配器，其中在所述抓持部件形成有：引導槽，在電子部件在移動的同時與測試器電連接的程序中，引導電子部件的移 動。
  9. 根據請求項7之電子部件安置用適配器，其中所述一對抓持部件中的每一者在彼此面對的面具有二個調節槽，所述調節槽形成為其深度朝向後方逐漸變淺，以便於將所述調節部件的一後退力轉換為向左右推動所述兩個抓持部件的一力。
  10. 根據請求項9之電子部件安置用適配器，其中所述調節部件包括二個輥，所述二個輥配備在左右兩側，並且所述輥與形成所述調節槽的一面相接觸。
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