TWI778422B - 積層體製造裝置、及積層體之製造方法 - Google Patents

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德田桂也
應矢量之
渡邊直樹
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日商東洋紡股份有限公司
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Abstract

一種積層體製造裝置，其具備：搬運第1薄片之第1薄片搬運裝置；對於塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面，供給水性介質之水供給裝置；及使供給水性介質之後的第1薄片與第2薄片貼合之層壓裝置。

Description

積層體製造裝置、及積層體之製造方法
本發明係關於積層體製造裝置及積層體之製造方法。
近年來，以半導體元件、MEMS元件、顯示器元件等功能元件之輕量化、小型・薄型化、可撓化為目的，在高分子簿膜上形成此等元件之技術開發正活躍地進行。亦即，作為資訊通信機器(播送機器、行動無線電、可攜式通信機器等)、雷達或高速資訊處理裝置等的電子零件之基材之材料，以往使用具有耐熱性且亦能對應資訊通信機器之信號頻帶之高頻化(達GHz頻帶)的陶瓷，但陶瓷並不可撓，亦難以薄型化，故有能適用的領域受到限定之缺點，因此最近使用高分子薄膜作為基板。
於將半導體元件、MEMS元件、顯示器元件等功能元件形成在高分子薄膜表面時，以利用高分子薄膜的特性之可撓性之所謂捲對捲(roll-to-roll)製程進行加工被認為是理想的。然而，於半導體產業、MEMS產業、顯示器產業等之業界中，至目前為止已構築以晶圓基底或玻璃基板基底等之剛性平面基板作為對象的製程技術。因此，為了利用既有基礎架構將功能元件形成在高分子薄膜上，使用：將高分子薄膜貼合至例如玻璃板、陶瓷板、矽晶圓、金屬板等之由無機物所構成的剛性支撐體(例如無機基板、金屬箔等)，在其上形成所欲的元件後，從支撐體剝離之製程。
可是，於在貼合有高分子薄膜與由無機物所構成的支撐體之積層體上形成所欲的配線或功能元件之製程中，該積層體多暴露於高溫下。例如，於多晶矽或氧化物半導體等功能元件之形成中，需要200℃～600℃左右之溫度範圍下的步驟。又，於氫化非晶矽薄膜之製作中，有將200～300℃左右之溫度施加於薄膜之情況，進一步為了將非晶矽加熱、脫氫化而成為低溫多晶矽，有需要450℃～600℃左右的加熱之情況。因此，對於構成積層體的高分子薄膜要求耐熱性，但就現實問題而言能在實用上耐得住如此的高溫範圍的高分子薄膜有限。又，於高分子薄膜對支撐體之貼合中，一般考慮使用黏著劑或接著劑，但對於此時的高分子薄膜與支撐體之接合面(即貼合用的接著劑或黏著劑)亦要求耐熱性。然而，通常的貼合用接著劑或黏著劑不具有充分的耐熱性，因此於功能元件之形成溫度高時，利用接著劑或黏著劑之貼合無法適用。
由於不存在具有充分的耐熱性之黏著劑或接著劑，以往於上述用途中係採用：將高分子溶液或高分子之前驅物溶液塗布於支撐體上，在支撐體上使其乾燥・硬化而薄膜化，使用於該用途之技術。然而，藉由如此之手段所得之高分子薄膜係脆且易裂，因此在高分子薄膜表面上所形成的功能元件大多在從支撐體剝離時發生破壞。尤其從支撐體剝離大面積的薄膜極度困難，一般得不到工業上能成立的良率。 鑒於如此之情事，為了製造在可撓的基板上形成有功能元件之所謂可撓性電子裝置，作為高分子薄膜與支撐體之積層體，有提案將耐熱性優異、強韌且可薄膜化的聚醯亞胺薄膜，透過矽烷偶合劑貼合至支撐體之積層體(例如，參照專利文獻1～3)。
又，近年來，矽烷偶合劑係廣泛使用在玻璃等之無機材料或高分子樹脂等之界面中，用於改善兩者的潤濕性、接著性等。矽烷偶合劑係對於無機材料的吸附力強，同時容易發生自縮合反應。因此，於處理液、塗液中形成縮合物的粒子，彼等粒子成為塗布面、處理面之異物缺點的情況不少。
為了解決如此的問題，例如專利文獻4中揭示將矽烷偶合劑以氣相狀態塗布於基板上之技術。被認為若藉由如此的手法，則能以低缺點實現極薄的矽烷偶合劑層。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本發明專利第5152104號公報 [專利文獻2]日本發明專利第5304490號公報 [專利文獻3]日本發明專利第5531781號公報 [專利文獻4]日本特開2015-178237號公報
[發明欲解決之課題]
於上述積層體(如專利文獻1～3所例示之積層體)中，藉由使包含矽烷偶合劑的層介於支撐體與耐熱高分子薄膜之間存在，而意圖防止在裝置形成前或形成中支撐體從聚醯亞胺薄膜剝落，同時在裝置形成後，容易地將支撐體從聚醯亞胺薄膜剝離。 然而，於製造大面積的積層體時，極難在積層體整體中控制成均勻的接著強度。
又，以如專利文獻4中記載之手法所得的低缺點之矽烷偶合劑塗布層，由於極薄，當異物被夾入塗布面時，有其即使微小，也會妨礙矽烷偶合劑塗布面之反應的情況。
本發明係鑒於上述課題而完成者。即，本發明之目的在於提供一種積層體製造裝置，其能均勻地控制第1薄片(例如無機基板、金屬箔、第1耐熱高分子薄膜等)與第2薄片(例如第2耐熱高分子薄膜等)之接著強度。又，本發明在於提供一種積層體之製造方法，其能均勻地控制第1薄片與第2薄片之接著強度。 [用以解決課題之手段]
本發明者們鑒於如此的狀況，持續專心致力的研究，結果發現藉由採用下述構成，即使於大面積中，也能均勻地控制接著強度之積層體製造裝置及積層體之製造方法，終至完成本發明。
即，本發明之積層體製造裝置的特徵為具備： 搬運第1薄片之第1薄片搬運裝置； 對於塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面，供給水性介質之水供給裝置；及 使供給水性介質後的第1薄片與第2薄片貼合之層壓裝置。
以往，於第1薄片(例如無機基板、金屬箔、第1耐熱高分子薄膜等)與第2薄片(例如第2耐熱高分子薄膜等)之積層體中，尤其於大面積中，難以均質地塗布矽烷偶合劑，就結果而言難以均勻適當地控制第1薄片與第2薄片之接著強度。 然而，若根據前述構成，則於已將水性介質供給至塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面的狀態下，可貼合第1薄片與第2薄片。 若將水性介質供給至塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面，則成為矽烷偶合劑的至少一部分溶解於水性介質中之狀態。因此，於即將貼合之前，可將矽烷偶合劑層平坦化。更具體而言，於貼合時，由於可將水性介質一邊從接著面朝外擠出，一邊進行層壓，而可去除第1薄片至第2薄片間多餘之矽烷偶合劑，矽烷偶合劑之量被控制在以親和力配位於第1薄片、第2薄片的至少任一表面的必要最低限度之量。其結果，可均勻地控制接著強度。又，由於可在矽烷偶合劑的至少一部分溶解於水性介質中之狀態下進行貼合，而可提升接著強度。
於前述構成中，較佳為具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片之塗布裝置。
若具備前述塗布裝置，則可將矽烷偶合劑塗布至第1薄片。
於前述構成中，較佳為具備將供給水性介質之前的第1薄片予以洗淨之第1基板洗淨裝置。
若具備前述第1洗淨裝置，則可將供給水性介質之前的第1薄片予以洗淨。其結果，可得到異物混入少的積層體。
於前述構成中，較佳為具備將供給水性介質之前的第2薄片予以洗淨之第2洗淨裝置。
若具備前述第2洗淨裝置，則可將供給水性介質之前的第2薄片予以洗淨。其結果，可得到異物混入少的積層體。
又，本發明之積層體之製造方法係具有第1薄片與第2薄片的積層體之製造方法，其特徵為具有： 對於塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面，供給水性介質之步驟A；及 使供給水性介質之後的第1薄片與第2薄片貼合之步驟B。
若根據前述構成，則於已將水性介質供給至塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面的狀態下，貼合第1薄片與第2薄片。 若將水性介質供給至塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面，則成為矽烷偶合劑的至少一部分溶解於水性介質中之狀態。因此，於即將貼合之前，可將矽烷偶合劑層平坦化。更具體而言，於貼合時，由於可將水性介質一邊從接著面朝外擠出，一邊進行層壓，而可去除第1薄片至第2薄片間多餘之矽烷偶合劑，矽烷偶合劑之量被控制在以親和力配位於第1薄片、第2薄片的至少任一表面的必要最低限度之量。其結果，可均勻地控制接著強度。又，由於可在矽烷偶合劑的至少一部分溶解於水性介質中之狀態下進行貼合，而可提升接著強度。
於前述構成中，在前述步驟A之前，較佳為具有將矽烷偶合劑塗布至第1薄片之步驟X-1。
若具有前述步驟X-1，則可將矽烷偶合劑塗布至第1薄片。
於前述構成中，在前述步驟A之前，較佳為具有洗淨第1薄片之步驟X-2。
若具有前述步驟X-2，則可將供給水性介質之前的第1薄片予以洗淨。其結果，可得到異物混入少的積層體。
於前述構成中，在前述步驟A之前，較佳為具有洗淨第2薄片之步驟X-3。
若具有前述步驟X-3，則可將供給水性介質之前的第2薄片予以洗淨。其結果，可得到異物混入少的積層體。
於前述構成中，在前述步驟B之後，較佳為具有檢查經貼合的第1薄片與第2薄片之積層體的外觀之步驟X-4。
若具有前述步驟X-4，則可確認有無異物混入至積層體。 [發明之效果]
若根據本發明，可提供一種積層體製造裝置，其能均勻地控制第1薄片與第2薄片之接著強度。又，若根據本發明，可提供一種積層體之製造方法，其能均勻地控制第1薄片與第2薄片之接著強度。
[用以實施發明的形態]
以下，說明本發明之實施形態。
本實施形態之積層體製造裝置具備： 搬運第1薄片之第1薄片搬運裝置； 對於塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面，供給水性介質之水供給裝置；及 使供給水性介質後的第1薄片與第2薄片貼合之層壓裝置。 又，本實施形態之積層體之製造方法係具有第1薄片與第2薄片的積層體之製造方法，其具有： 對於塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面，供給水性介質之步驟A；及 使供給水性介質之後的第1薄片與第2薄片貼合之步驟B。
本實施形態之積層體製造裝置包含以下說明之第1實施形態～第3實施形態的積層體製造裝置。又，本實施形態之積層體之製造方法包含以下說明之第1實施形態～第3實施形態的積層體之製造方法。
[第1實施形態] 第1實施形態之積層體製造裝置具有以下之構成。 (1)一種積層體製造裝置，其具備： 搬運無機基板之無機基板搬運裝置； 對於塗布有矽烷偶合劑的無機基板之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的耐熱高分子薄膜之表面，供給水性介質之水供給裝置；及 使供給水性介質之後的無機基板與耐熱高分子薄膜貼合之層壓裝置。 (2)如(1)記載之積層體製造裝置，其具備將矽烷偶合劑塗布至無機基板之塗布裝置。 (3)如(1)或(2)記載之積層體製造裝置，其具備將供給水性介質之前的無機基板予以洗淨之無機基板洗淨裝置。 (4)如(1)～(3)中任一項記載之積層體製造裝置，其具備將供給水性介質之前的耐熱高分子薄膜予以洗淨之薄膜洗淨裝置。 (5)如(1)～(4)中任一項記載之積層體製造裝置，其具備檢查藉由前述層壓裝置所貼合的無機基板與耐熱高分子薄膜之積層體的外觀之外觀檢査裝置。 (6)如(5)記載之積層體製造裝置，其具備從藉由前述外觀檢査裝置判定為外觀不良的積層體剝離耐熱性高分子薄膜之剝離裝置。 (7)如(1)～(6)中任一項記載之積層體製造裝置，其中前述無機基板搬運裝置係電驅動式的輥輸送機。 (8)如(1)～(7)中任一項記載之積層體製造裝置，其中前述耐熱高分子薄膜係長方形，面積為0.65m2 以上，單邊為至少700mm以上。 (9)如(1)～(8)中任一項記載之積層體製造裝置，其中前述層壓裝置之推壓力為0.5MPa以下。 第1實施形態之積層體之製造方法具有以下之構成。 (10)一種積層體之製造方法，其係依序具有無機基板及耐熱高分子薄膜的積層體之製造方法，其具有： 對於塗布有矽烷偶合劑的無機基板之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的耐熱高分子薄膜之表面，供給水性介質之步驟A；及 使供給水性介質之後的無機基板與耐熱高分子薄膜貼合之步驟B。 (11)如(10)記載之積層體之製造方法，其中於前述步驟A之前，具有將矽烷偶合劑塗布至無機基板之步驟X-1。 (12)如(11)記載之積層體之製造方法，其中於前述步驟A及前述步驟X-1之前，具有洗淨無機基板之步驟X-2。 (13)如(10)～(12)中任一項記載之積層體之製造方法，其中於前述步驟A之前，具有洗淨耐熱高分子薄膜之步驟X-3。 (14)如(10)～(13)中任一項記載之積層體之製造方法，其中於前述步驟B之後，具有檢查經貼合的無機基板與耐熱高分子薄膜之積層體的外觀之步驟X-4。 (15)如(14)記載之積層體之製造方法，其具有從藉由前述步驟X-4判定為外觀不良的積層體剝離耐熱性高分子薄膜之步驟X-5。 (16)如(10)～(15)中任一項記載之積層體之製造方法，其中前述耐熱高分子薄膜係長方形，面積為0.65m2 以上，單邊為至少700mm以上。 (17)如(10)～(16)中任一項記載之積層體之製造方法，其中步驟B中的推壓力為0.5MPa以下。
此外，於第1實施形態中，「無機基板」相當於本實施形態中的「第1薄片」，「無機基板搬運裝置」相當於本實施形態中的「第1薄片搬運裝置」，「耐熱高分子薄膜」相當於本實施形態中的「第2薄片」，「無機基板洗淨裝置」相當於本實施形態中的「第1洗淨裝置」，「薄膜洗淨裝置」相當於本實施形態中的「第2洗淨裝置」。
以下，具體地說明第1實施形態之積層體製造裝置及積層體之製造方法。
圖1係用於說明第1實施形態之積層體製造裝置之示意圖。
如圖1所示，第1實施形態之積層體製造裝置10具備無機基板搬運裝置20、無機基板洗淨裝置30、塗布裝置40、水供給裝置50、薄膜洗淨裝置60、層壓裝置70與外觀檢査裝置80。惟，本發明中的積層體製造裝置只要至少具備第1薄片搬運裝置(無機基板搬運裝置)、水供給裝置與層壓裝置即可。
無機基板搬運裝置20係搬運無機基板100，使其在積層體製造裝置10所具備的各裝置間移動。無機基板搬運裝置20只要能搬運無機基板100，則沒有特別的限定，但較佳為電驅動式的輥輸送機。若無機基板搬運裝置20為電驅動式的輥輸送機，則可一邊依序移動無機基板，一邊製造積層體，可將積層體之製造自動化。
無機基板洗淨裝置30具備洗淨液噴射噴嘴32或未圖示的氣刀等。無機基板洗淨裝置30可在將洗淨液34噴射至無機基板100上後，藉由以前述氣刀噴吹空氣，而將無機基板100之表面乾燥。此外，本發明之第1洗淨裝置(無機基板洗淨裝置)只要是能將供給水性介質之前的第1薄片(無機基板)予以洗淨之裝置，則不限定於上述無機基板洗淨裝置30，可採用習知者。
塗布裝置40具備設有複數的小孔之矽烷偶合劑供給管42等。塗布裝置40可從前述矽烷偶合劑供給管42將矽烷偶合劑44塗布至無機基板100上。此外，本發明之塗布裝置只要是能將矽烷偶合劑塗布至無機基板之裝置，則不限定於上述塗布裝置40，可採用習知者。
水供給裝置50係將水性介質52供給至塗布有矽烷偶合劑的無機基板100之表面。水供給裝置50只要能將水性介質52供給至塗布有矽烷偶合劑的無機基板100之表面，則其構成沒有特別的限定，可採用習知者。作為水性介質52之供給量，沒有特別的限定，但從氣泡及異物減少之觀點來看，較佳為0.1～50g/100cm2 左右。
薄膜洗淨裝置60係將洗淨液64噴射至從捲101所供給的耐熱高分子薄膜102上後，可藉由以未圖示的氣刀來噴吹空氣，洗淨耐熱高分子薄膜102之表面。此外，本發明之第2洗淨裝置(薄膜洗淨裝置)只要是能將供給水性介質之前的第2薄片(耐熱高分子薄膜)予以洗淨之裝置，則不限定於上述薄膜洗淨裝置60，可採用習知者。
層壓裝置70具備層壓輥72等。層壓裝置70係藉由層壓輥72進行推壓，藉此使供給水性介質52後的無機基板100與耐熱高分子薄膜102貼合。貼合時的推壓力較佳為0.5MPa以下。若藉由積層體製造裝置10，則由於可在矽烷偶合劑44的至少一部分溶解於水性介質52中之狀態下進行貼合，而可減小層壓時的推壓力。此外，本發明之層壓裝置只要是能使供給水性介質之後的無機基板與耐熱高分子薄膜貼合之裝置，則不限定於上述層壓裝置70，可採用習知者。
層壓裝置70之推壓力較佳為0.5MPa以下。由於可在矽烷偶合劑的至少一部分溶解於水性介質中之狀態下進行貼合，可減小層壓時的推壓力。若前述推壓力為0.5MPa以下，則可抑制無機基板破損。 前述推壓力之下限沒有特別的限定，但較佳為0.1MPa以上。若為0.1MPa以上，則可防止產生未密著的部分或接著變得不充分。作為加壓時的溫度，較佳為10℃～60℃，更佳為20℃～40℃。若溫度過高，則有水性溶液氣化而產生氣泡之虞，有對於高分子薄膜造成損傷之虞；若溫度過低，則有密著力變弱之傾向。即使於未特別進行溫度控制的室溫(室溫附近)下實施也無問題。 然後，進行高溫處理(無加壓下的高溫處理)或高溫加壓。前述高溫加壓時之推壓力較佳為0.5MPa以下。作為前述高溫處理時及高溫加壓時的溫度，例如為80℃以上，更佳為100～250℃，進一步較佳為120～220℃，特佳為90℃～140℃。藉由進行高溫加壓，可促進密著界面的化學反應而積層高分子薄膜與無機基板。
又，加壓處理亦可在大氣壓氣體環境中進行，但在真空下進行有更能得到接著力的均勻性之情況。作為真空度，由通常的油旋轉泵所造成的真空度為充分，只要10托(Torr)以下左右則為充分。 作為加壓加熱處理中可使用的裝置，為了進行真空中的加壓，例如可使用井元製作所製之「11FD」等，可使用真空中的輥式薄膜層壓機，或者為了進行在成為真空後藉由薄的橡膠膜一次將壓力施加至玻璃整面之薄膜層壓機等的真空層壓，例如可使用名機製作所製的「MVLP」等。
外觀檢査裝置80係檢查藉由層壓裝置70所貼合的無機基板100與耐熱高分子薄膜102之積層體104的外觀。作為外觀檢査裝置80，例如可採用自動光學檢査裝置(AOI：Automated Optical Inspection)。外觀檢査裝置80係以CCD相機所得的影像(積層體104的耐熱高分子薄膜102面側之影像)與經預先設定(定量化)的數據為基礎，判定在積層體104中有無混入異物或有無貼附不均勻等。此外，本發明之外觀檢査裝置只要是能檢查無機基板與耐熱高分子薄膜之積層體的外觀之裝置，則不限定於上述外觀檢査裝置80，可採用習知者。
又，積層體製造裝置10具備未圖示的剝離裝置。前述剝離裝置係從藉由外觀檢査裝置80判定為外觀不良的積層體104剝離耐熱性高分子薄膜102。作為前述剝離裝置，可採用習知者。由於具備前述剝離裝置，可從被判定為外觀不良的積層體104剝離耐熱性高分子薄膜102。其結果，可立即將無機基板100再利用。
於上述實施形態中，說明具備將矽烷偶合劑塗布至無機基板之塗布裝置40的情況，但於本發明中不受此例所限定，亦可具備將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(耐熱高分子薄膜)之裝置來代替將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(無機基板)之塗布裝置40。又，亦可具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(無機基板)之塗布裝置40，同時具備將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(耐熱高分子薄膜)之裝置。 又，於上述實施形態中，說明具備將矽烷偶合劑塗布至無機基板之塗布裝置40的情況，但於本發明中亦可不具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(無機基板)之塗布裝置。此時，例如只要使用預先塗布有矽烷偶合劑的第1薄片(無機基板)即可。
以上，說明第1實施形態之積層體製造裝置10。
接著，說明第1實施形態的積層體之製造方法。以下，說明使用積層體製造裝置10時的積層體之製造方法，但本發明中不受此例所限定。例如，作業者等亦可實施在各裝置所實施的步驟。
第1實施形態之積層體之製造方法係依序具有無機基板及耐熱高分子薄膜的積層體之製造方法，其至少具有： 對於塗布有矽烷偶合劑的無機基板之表面，供給水性介質之步驟A；及 使供給水性介質之後的無機基板與耐熱高分子薄膜貼合之步驟B。
前述積層體之製造方法較佳為進一步具有： 洗淨無機基板之步驟X-2； 於步驟X-2之後將矽烷偶合劑塗布至無機基板之步驟X-1； 洗淨耐熱高分子薄膜之步驟X-3； 於前述步驟B之後，檢查經貼合的無機基板與耐熱高分子薄膜之積層體的外觀之步驟X-4；及 從藉由前述步驟X-4判定為外觀不良的積層體剝離耐熱性高分子薄膜之步驟X-5。
於前述積層體之製造方法中，首先藉由無機基板搬運裝置20而使無機基板100往無機基板洗淨裝置30之方向移動，藉由基板洗淨裝置30來洗淨無機基板(步驟X-2)。
接著，藉由無機基板搬運裝置20而使無機基板100往塗布裝置40之方向移動，藉由塗布裝置40將矽烷偶合劑塗布至無機基板(步驟X-1)。
另一方面，藉由薄膜洗淨裝置60，於由捲101所供給的耐熱高分子薄膜102上噴射洗淨液64後，利用以未圖示的氣刀噴吹空氣，而洗淨耐熱高分子薄膜102之表面(步驟X-3)。
接著，藉由水供給裝置50，對於塗布有矽烷偶合劑的無機基板100之表面，供給水性介質52(步驟A)。
接著，藉由層壓裝置70，使供給水性介質52之後的無機基板100與耐熱高分子薄膜102貼合(步驟B)。
接著，藉由外觀檢査裝置80來檢査經貼合的無機基板100與耐熱高分子薄膜102之積層體104的外觀(步驟X-4)。
接著，藉由剝離裝置，從經前述步驟X-4判定為外觀不良的積層體104剝離耐熱性高分子薄膜102(步驟X-5)。
於上述實施形態中，說明將矽烷偶合劑塗布至無機基板之情況，但本發明中不受此例所限定，可將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(耐熱高分子薄膜)來代替將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(無機基板)。又，亦可將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(無機基板)，同時將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(耐熱高分子薄膜)。 又，於上述實施形態中，說明將矽烷偶合劑塗布至無機基板之情況，但於本發明中亦可不具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(無機基板)之步驟。此時，例如只要使用預先塗布有矽烷偶合劑的第1薄片(無機基板)即可。
以上，說明第1實施形態的積層體之製造方法。
接著，說明前述耐熱高分子薄膜、前述無機基板、前述矽烷偶合劑、前述水性介質。
本說明書中所謂耐熱高分子，熔點較佳為250℃以上，更佳為300℃以上，熔點之上限沒有特別的限定，即使與耐熱性高分子的分解溫度相同也無妨。又，係玻璃轉移溫度較佳為250℃以上，更佳為320℃以上，進一步較佳為380℃以上，且較佳為500℃以下，更佳為450℃以下之高分子。以下，為了避免繁雜，亦僅稱為高分子。本說明書中，熔點及玻璃轉移溫度係藉由示差熱分析(DSC)求出。此外，熔點超過500℃時，可藉由目視觀察在該溫度下加熱時的熱變形行為，而判斷是否到達熔點。
作為前述耐熱高分子薄膜(以下亦僅稱為高分子薄膜，或亦僅稱為薄膜)，可例示聚醯亞胺、聚醯胺醯亞胺、聚醚醯亞胺、氟化聚醯亞胺等之聚醯亞胺系樹脂(例如芳香族聚醯亞胺樹脂、脂環族聚醯亞胺樹脂)；聚乙烯、聚丙烯、聚對苯二甲酸乙二酯、聚對苯二甲酸丁二酯、聚2,6-萘二甲酸乙二酯等之共聚合聚酯(例如全芳香族聚酯、半芳香族聚酯)；以聚甲基丙烯酸甲酯為代表的共聚合(甲基)丙烯酸酯；聚碳酸酯；聚醯胺；聚碸；聚醚碸；聚醚酮；乙酸纖維素；硝酸纖維素；芳香族聚醯胺；聚氯乙烯；多酚；聚芳酯(polyarylate)；聚苯硫；聚苯醚；聚苯乙烯；聚苯并
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唑(芳香族聚苯并
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唑)；聚苯并噻唑(芳香族聚苯并噻唑)：聚苯并咪唑(芳香族聚苯并咪唑)等之薄膜。 於前述高分子薄膜之中，較佳為使用所謂超級工程塑膠之薄膜，更具體而言，可舉出芳香族聚醯亞胺薄膜、芳香族聚醯胺薄膜、芳香族聚醯胺醯亞胺薄膜、芳香族聚苯并
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唑薄膜、芳香族聚苯并噻唑薄膜、芳香族聚苯并咪唑薄膜等。
以下說明前述高分子薄膜之一例的聚醯亞胺系樹脂薄膜(有時亦稱為聚醯亞胺薄膜)之詳細。一般而言，聚醯亞胺系樹脂薄膜係藉由下述而得：將在溶媒中使二胺類與四羧酸類反應而得之聚醯胺酸(聚醯亞胺前驅物)溶液，塗布於聚醯亞胺薄膜製作用支撐體上，乾燥而成為生坯(green)薄膜(以下亦稱為「聚醯胺酸薄膜」)，進一步將生坯薄膜在聚醯亞胺薄膜製作用支撐體上或者於從該支撐體剝離之狀態下予以高溫熱處理，進行脫水閉環反應。
聚醯胺酸(聚醯亞胺前驅物)溶液之塗布，例如可適宜使用旋轉塗布、刮刀、施用機(applicator)、缺角輪塗布機(comma coater)、網版印刷法、狹縫塗布、逆塗、浸塗、簾塗布、縫模塗布等習知的溶液之塗布手段。
作為構成聚醯胺酸的二胺類，並沒有特別的限制，可使用聚醯亞胺合成中通常採用的芳香族二胺類、脂肪族二胺類、脂環式二胺類等。從耐熱性之觀點來看，較佳為芳香族二胺類，於芳香族二胺類之中，更佳為具有苯并
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唑結構的芳香族二胺類。若使用具有苯并
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唑結構的芳香族二胺類，則變得可展現高的耐熱性，同時可展現高彈性模數、低熱收縮性、低線膨脹係數。二胺類可單獨使用，也可併用二種以上。
作為具有苯并
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唑結構之芳香族二胺類，並沒有特別的限定，例如可舉出5-胺基-2-(對胺基苯基)苯并
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唑、6-胺基-2-(對胺基苯基)苯并
Figure 109134047-A0101-12-01
唑、5-胺基-2-(間胺基苯基)苯并
Figure 109134047-A0101-12-01
唑、6-胺基-2-(間胺基苯基)苯并
Figure 109134047-A0101-12-01
唑、2,2’-對伸苯基雙(5-胺基苯并
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唑)、2,2’-對伸苯基雙(6-胺基苯并
Figure 109134047-A0101-12-01
唑)、1-(5-胺基苯并
Figure 109134047-A0101-12-01
唑)-4-(6-胺基苯并
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唑)苯、2,6-(4,4’-二胺基二苯基)苯并[1,2-d:5,4-d’]雙
Figure 109134047-A0101-12-01
唑、2,6-(4,4’-二胺基二苯基)苯并[1,2-d:4,5-d’]雙
Figure 109134047-A0101-12-01
唑、2,6-(3,4’-二胺基二苯基)苯并[1,2-d:5,4-d’]雙
Figure 109134047-A0101-12-01
唑、2,6-(3,4’-二胺基二苯基)苯并[1,2-d:4,5-d’]雙
Figure 109134047-A0101-12-01
唑、2,6-(3,3’-二胺基二苯基)苯并[1,2-d:5,4-d’]雙
Figure 109134047-A0101-12-01
唑、2,6-(3,3’-二胺基二苯基)苯并[1,2-d:4,5-d’]雙
Figure 109134047-A0101-12-01
唑等。前述具有苯并
Figure 109134047-A0101-12-01
唑結構的芳香族二胺類可單獨使用，也可組合2種以上。
作為上述具有苯并
Figure 109134047-A0101-12-01
唑結構的芳香族二胺類以外之芳香族二胺類，例如可舉出2,2’-二甲基-4,4’-二胺基聯苯、1,4-雙[2-(4-胺基苯基)-2-丙基]苯(雙苯胺)、1,4-雙(4-胺基-2-三氟甲基苯氧基)苯、2,2’-雙三氟甲基-4,4’-二胺基聯苯、4,4’-雙(4-胺基苯氧基)聯苯、4,4’-雙(3-胺基苯氧基)聯苯、雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]酮、雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]硫醚、雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]碸、2,2-雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]丙烷、2,2-雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]-1,1,1,3,3,3-六氟丙烷、間苯二胺、鄰苯二胺、對苯二胺、間胺基苄基胺、對胺基苄基胺、3,3’-二胺基二苯基醚、3,4’-二胺基二苯基醚、4,4’-二胺基二苯基醚、3,3’-二胺基二苯基硫醚、3,3’-二胺基二苯基亞碸、3,4’-二胺基二苯基亞碸、4,4’-二胺基二苯基亞碸、3,3’-二胺基二苯基碸、3,4’-二胺基二苯基碸、4,4’-二胺基二苯基碸、3,3’-二胺基二苯基酮、3,4’-二胺基二苯基酮、4,4’-二胺基二苯基酮、3,3’-二胺基二苯基甲烷、3,4’-二胺基二苯基甲烷、4,4’-二胺基二苯基甲烷、雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]甲烷、1,1-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]乙烷、1,2-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]乙烷、1,1-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]丙烷、1,2-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]丙烷、1,3-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]丙烷、2,2-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]丙烷、1,1-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]丁烷、1,3-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]丁烷、1,4-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]丁烷、2,2-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]丁烷、2,3-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]丁烷、2-[4-(4-胺基苯氧基)苯基]-2-[4-(4-胺基苯氧基)-3-甲基苯基]丙烷、2,2-雙[4-(4-胺基苯氧基)-3-甲基苯基]丙烷、2-[4-(4-胺基苯氧基)苯基]-2-[4-(4-胺基苯氧基)-3,5-二甲基苯基]丙烷、2,2-雙[4-(4-胺基苯氧基)-3,5-二甲基苯基]丙烷、2,2-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]-1,1,1,3,3,3-六氟丙烷、1,4-雙(3-胺基苯氧基)苯、1,3-雙(3-胺基苯氧基)苯、1,4-雙(4-胺基苯氧基)苯、4,4’-雙(4-胺基苯氧基)聯苯、雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]酮、雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]硫醚、雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]亞碸、雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]碸、雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]醚、雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]醚、1,3-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯甲醯基]苯、1,3-雙[4-(3-胺基苯氧基)苯甲醯基]苯、1,4-雙[4-(3-胺基苯氧基)苯甲醯基]苯、4,4’-雙[(3-胺基苯氧基)苯甲醯基]苯、1,1-雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]丙烷、1,3-雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]丙烷、3,4’-二胺基二苯基硫醚、2,2-雙[3-(3-胺基苯氧基)苯基]-1,1,1,3,3,3-六氟丙烷、雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]甲烷、1,1-雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]乙烷、1,2-雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]乙烷、雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]亞碸、4,4’-雙[3-(4-胺基苯氧基)苯甲醯基]二苯基醚、4,4’-雙[3-(3-胺基苯氧基)苯甲醯基]二苯基醚、4,4’-雙[4-(4-胺基-α,α-二甲基苄基)苯氧基]二苯基酮、4,4’-雙[4-(4-胺基-α,α-二甲基苄基)苯氧基]二苯基碸、雙[4-{4-(4-胺基苯氧基)苯氧基}苯基]碸、1,4-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯氧基-α,α-二甲基苄基]苯、1,3-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯氧基-α,α-二甲基苄基]苯、1,3-雙[4-(4-胺基-6-三氟甲基苯氧基)-α,α-二甲基苄基]苯、1,3-雙[4-(4-胺基-6-氟苯氧基)-α,α-二甲基苄基]苯、1,3-雙[4-(4-胺基-6-甲基苯氧基)-α,α-二甲基苄基]苯、1,3-雙[4-(4-胺基-6-氰基苯氧基)-α,α-二甲基苄基]苯、3,3’-二胺基-4,4’-二苯氧基二苯基酮、4,4’-二胺基-5,5’-二苯氧基二苯基酮、3,4’-二胺基-4,5’-二苯氧基二苯基酮、3,3’-二胺基-4-苯氧基二苯基酮、4,4’-二胺基-5-苯氧基二苯基酮、3,4’-二胺基-4-苯氧基二苯基酮、3,4’-二胺基-5’-苯氧基二苯基酮、3,3’-二胺基-4,4’-二聯苯氧基二苯基酮、4,4’-二胺基-5,5’-二聯苯氧基二苯基酮、3,4’-二胺基-4,5’-二聯苯氧基二苯基酮、3,3’-二胺基-4-聯苯氧基二苯基酮、4,4’-二胺基-5-聯苯氧基二苯基酮、3,4’-二胺基-4-聯苯氧基二苯基酮、3,4’-二胺基-5’-聯苯氧基二苯基酮、1,3-雙(3-胺基-4-苯氧基苯甲醯基)苯、1,4-雙(3-胺基-4-苯氧基苯甲醯基)苯、1,3-雙(4-胺基-5-苯氧基苯甲醯基)苯、1,4-雙(4-胺基-5-苯氧基苯甲醯基)苯、1,3-雙(3-胺基-4-聯苯氧基苯甲醯基)苯、1,4-雙(3-胺基-4-聯苯氧基苯甲醯基)苯、1,3-雙(4-胺基-5-聯苯氧基苯甲醯基)苯、1,4-雙(4-胺基-5-聯苯氧基苯甲醯基)苯、2,6-雙[4-(4-胺基-α,α-二甲基苄基)苯氧基]苯甲腈等。又，前述芳香族二胺之芳香環上的氫原子之一部分或全部可被鹵素原子、碳數1～3的烷基或烷氧基、或者氰基所取代，再者前述碳數1～3的烷基或烷氧基之氫原子的一部分或全部可被鹵素原子所取代。此外，前述芳香族二胺類可單獨使用，也可組合2種以上。
作為前述脂肪族二胺類，例如可舉出1,2-二胺基乙烷、1,4-二胺基丁烷、1,5-二胺基戊烷、1,6-二胺基己烷、1,8-二胺基辛烷等。 作為前述脂環式二胺類，例如可舉出1,4-二胺基環己烷、4,4’-亞甲基雙(2,6-二甲基環己基胺)等。 芳香族二胺類以外的二胺(脂肪族二胺類及脂環式二胺類)之合計量較佳為全部二胺類的20質量%以下，更佳為10質量%以下，進一步較佳為5質量%以下。換言之，芳香族二胺類較佳為全部二胺類的80質量%以上，更佳為90質量%以上，進一步較佳為95質量%以上。
作為構成聚醯胺酸的四羧酸類，可使用聚醯亞胺合成中通常使用的芳香族四羧酸類(包含其酸酐)、脂肪族四羧酸類(包含其酸酐)、脂環族四羧酸類(包含其酸酐)。其中，較佳為芳香族四羧酸酐類、脂環族四羧酸酐類，從耐熱性之觀點來看，更佳為芳香族四羧酸酐類，從透光性之觀點來看，更佳為脂環族四羧酸類。此等為酸酐時，分子內酐結構可為1個，也可為2個，但較佳為具有2個酐結構者(二酐)。四羧酸類可單獨使用，也可併用二種以上。
作為脂環族四羧酸類，例如可舉出環丁烷四甲酸、1,2,4,5-環己烷四甲酸、3,3’,4,4’-雙環己基四甲酸等之脂環族四甲酸及此等之酸酐。於此等之中，適合為具有2個酐結構的二酐(例如環丁烷四甲酸二酐、1,2,4,5-環己烷四甲酸二酐、3,3’,4,4’-雙環己基四甲酸二酐等)。此外，脂環族四羧酸類可單獨使用，也可併用二種以上。 重視透明性時，脂環式四羧酸類例如較佳為全部四羧酸類之80質量%以上，更佳為90質量%以上，進一步較佳為95質量%以上。
作為芳香族四羧酸類，並沒有特別的限定，但較佳為苯均四酸殘基(即具有源自苯均四酸的結構者)，更佳為其酸酐。作為如此的芳香族四羧酸類，例如可舉出苯均四酸二酐、3,3’,4,4’-聯苯四甲酸二酐、4,4’-氧基二鄰苯二甲酸二酐、3,3’,4,4’-二苯基酮四甲酸二酐、3,3’,4,4’-二苯基碸四甲酸二酐、2,2-雙[4-(3,4-二羧基苯氧基)苯基]丙烷酸酐、4,4’-(2,2-六氟亞異丙基)二鄰苯二甲酸二酐等。 重視耐熱性時，芳香族四羧酸類例如較佳為全部四羧酸類的80質量%以上，更佳為90質量%以上，進一步較佳為95質量%以上。
前述聚醯亞胺系樹脂係根據用途而有較佳為透明之情況。作為其前驅物之合成中所用的酸成分，可例示1,2,3,4-環丁烷四甲酸二酐、1,2,4,5-環戊烷四甲酸二酐、1,2,4,5-環己烷四甲酸二酐、雙環[2,2,1]庚烷-2,3,5,6-四甲酸二酐、雙環[2,2,2]辛烷-2,3,5,6-四甲酸二酐、3,3’,4,4’-雙環己基四甲酸二酐、1,2,4-環己烷三甲酸酐等，特佳為1,2,3,4-環丁烷四甲酸二酐、1,2,4,5-環己烷四甲酸二酐、3,3’,4,4’-雙環己基四甲酸二酐。此等之脂環族羧酸類可單獨使用，也可併用二種以上。另一方面，雙環[2,2,2]辛-7-烯-2,3,5,6-四甲酸二酐等之包含不飽和鍵者係在加熱處理時著色，有使薄膜的光學特性降低之傾向，因此從透明性之觀點來看不佳。
若例示前述透明聚醯亞胺系樹脂或其前驅物之合成中所用的二胺成分作為二胺化合物，則可舉出1,3-苯二胺、1,4-苯二胺、2,4-二胺基甲苯、2,6-二胺基甲苯、3,4-二胺基甲苯、4,5-二甲基-1,2-苯二胺、2,5-二甲基-1,4-苯二胺、2,6-二甲基-1,4-苯二胺、2,3,5,6-四甲基-1,4-苯二胺、3-胺基苄基胺、間苯二甲胺、對苯二甲胺、1,5-二胺基萘、2,2’-二甲基聯苯-4,4’-二胺、2,2’-雙(三氟甲基)聯苯胺、3,3’-二甲氧基聯苯胺、4,4’-二胺基八氟聯苯、3,3’-二胺基二苯基甲烷、3,4’-二胺基二苯基甲烷、4,4’-二胺基二苯基甲烷、4,4’-亞甲基雙(2,6-二乙基苯胺)、4,4’-亞甲基雙(2-乙基-6-甲基苯胺)、4,4’-伸乙基二苯胺、4,4’-二胺基二苯基醚、3,4’-二胺基二苯基醚、3,3’-二胺基二苯基醚、2,2’-雙(三氟甲基)-4,4’-二胺基二苯基醚、1,3-雙(4-胺基苯氧基)苯、1,3-雙(3-胺基苯氧基)苯、1,4-雙(4-胺基苯氧基)苯、1,4-雙(4-胺基-2-三氟甲基苯氧基)苯、4,4’-雙(4-胺基苯氧基)聯苯、4,4’-二胺基-3,3’-二甲基二苯基甲烷、雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]碸、雙[4-(3-胺基苯氧基)苯基]碸、2,2-雙(4-胺基苯基)六氟丙烷、2,2-雙(3-胺基苯基)六氟丙烷、2,2’-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]丙烷、2,2’-雙[4-(4-胺基苯氧基)苯基]六氟丙烷、2,2-雙(3-胺基-4-甲基苯基)六氟丙烷、α,α’-雙(4-胺基苯基)-1,4-二異丙基苯、雙(2-胺基苯基)硫醚、雙(4-胺基苯基)硫醚、3,3’-二胺基二苯基碸、4,4’-二胺基二苯基碸、4,4’-二胺基二苯基硫醚、4,4’-二胺基二苯基酮、3,3’-二胺基二苯基酮、4,4’-二胺基苯甲醯苯胺、1,4-雙(4-胺基苯氧基)苯、對苯二甲酸雙(4-胺基苯基)酯、2,7-二胺基茀、9,9-雙(4-胺基苯基)茀等之芳香族二胺。又，作為脂環族二胺，可例示1,3-二胺基環己烷、1,4-二胺基環己烷、1,3-雙(胺基甲基)環己烷、1,1-雙(4-胺基苯基)環己烷、4,4’-二胺基二環己基甲烷、4,4’-亞甲基雙(2-甲基環己基胺)、4,4’-亞甲基雙(2,6-二甲基環己基胺)、4,4’-二胺基二環己基丙烷、雙環[2.2.1]庚烷-2,3-二胺、雙環[2.2.1]庚烷-2,5-二胺、雙環[2.2.1]庚烷-2,6-二胺、雙環[2.2.1]庚烷-2,7-二胺、2,3-雙(胺基甲基)-雙環[2.2.1]庚烷、2,5-雙(胺基甲基)-雙環[2.2.1]庚烷、2,6-雙(胺基甲基)-雙環[2.2.1]庚烷、3(4),8(9)-雙(胺基甲基)三環[5.2.1.0(2,6)]癸烷等。於此等之中，特佳為對苯二胺、2,2’-二甲基聯苯-4,4’-二胺、2,2’-雙(三氟甲基)聯苯胺、2,2’-雙(三氟甲基)-4,4’-二胺基二苯基醚、1,4-雙(4-胺基-2-三氟甲基苯氧基)苯、1,4-二胺基環己烷、4,4’-二胺基二環己基甲烷、4,4’-亞甲基雙(2-甲基環己基胺)、4,4’-亞甲基雙(2,6-二甲基環己基胺)。上述胺成分可單獨使用，也可併用二種以上。
前述高分子薄膜之厚度較佳為3μm以上，更佳為11μm以上，進一步較佳為24μm以上，進一步更佳為45μm以上。前述高分子薄膜之厚度的上限沒有特別的限制，但為了作為可撓性電子裝置使用，較佳為250μm以下，更佳為150μm以下，進一步較佳為90μm以下。
前述高分子薄膜之30℃至300℃之間的平均CTE較佳為-5ppm/℃～+20ppm/℃，更佳為-3ppm/℃～+15ppm/℃，進一步較佳為-1ppm/℃～+10ppm/℃。若CTE為前述範圍，則可將與一般的支撐體(無機基板)之線膨脹係數之差保持在小，即使供於施加熱的製程，也可避免高分子薄膜與無機基板剝離。此處所謂CTE，係表示對於溫度可逆的伸縮之因數。此外，前述高分子薄膜之CTE係指高分子薄膜的流動方向(MD方向)之CTE及寬度方向(TD方向)之CTE的平均值。
前述高分子薄膜之CTE的測定方法係根據實施例中記載之方法。
對於前述耐熱高分子薄膜，較佳為進行表面活化處理。藉由該表面活化處理，耐熱高分子薄膜表面係被改質成為官能基存在的狀態(所謂活化的狀態)，與接著劑的親和性提升。 於本說明書中，表面活化處理係乾式或濕式之表面處理。作為乾式處理，可使用將紫外線、電子射線、X射線等之活性能量線對表面照射之處理、電暈處理、真空電漿處理、常壓電漿處理、火焰處理、ITRO處理等。作為濕式處理，可例示使薄膜表面接觸酸或鹼溶液之處理。較佳使用的表面活化處理係電漿處理、電漿處理與濕式的酸處理之組合。
電漿處理沒有特別的限定，有在真空中的RF電漿處理、微波電漿處理、微波ECR電漿處理、大氣壓電漿處理、電暈處理等，亦包含含氟氣體處理、使用離子源的離子植入處理、使用PBII法的處理、暴露於熱電漿中的火焰處理、ITRO處理等。於此等之中，較佳為在真空中的RF電漿處理、微波電漿處理、大氣壓電漿處理。
作為電漿處理之適當條件，期望為利用氧電漿、CF4 、C2 F6 等之含有氟的電漿等之已知化學性蝕刻效果高的電漿、或者如Ne、Ar、Kr、Xe電漿之將物理的能量給予高分子表面而物理性蝕刻效果高的電漿的處理。又，亦較佳為附加CO2 、CO、H2 、N2 、NH4 、CH4 等電漿及此等之混合氣體，或進一步附加水蒸氣。除了此等之外，亦較佳為製作含有選自包含OH、N2 、N、CO、CO2 、H、H2 、O2 、NH、NH2 、NH3 、COOH、NO、NO2 、He、Ne、Ar、Kr、Xe、CH2 O、Si(OCH3 )4 、Si(OC2 H5 )4 、C3 H7 Si(OCH3 )3 及C3 H7 Si(OC2 H5 )3 之群組的至少1種以上成分作為氣體或作為電漿中的分解物之電漿。以短時間的處理為目標時，期望為電漿的能量密度高、電漿中之離子所具有的動量高、活性物種的數量密度高之電漿，但由於需要表面平滑性，而提高能量密度有其極限。使用氧電漿時，表面氧化係進行，於OH基的生成之點上為佳，但容易形成與薄膜本身的密著力不足之表面，且表面的凹凸不平(粗糙度)變大，因此密著性亦變差。 又，使用Ar氣體的電漿時，在表面上發生純粹物理性碰撞之影響，此時表面的凹凸不平亦變大。若綜合地考慮此等，則期望為微波電漿處理、微波ECR電漿處理、利用容易植入高能量的離子之離子源的電漿照射、PBII法等。
如此的表面活化處理係將高分子表面潔淨化，進一步生成活性的官能基。所生成的官能基係藉由與偶合劑層的氫鍵或化學反應而連接，可強固地接著耐熱高分子薄膜層與偶合劑層。 於電漿處理中亦可得到蝕刻耐熱高分子薄膜表面之效果。尤其於含有較多滑劑粒子之耐熱高分子薄膜中，有因滑劑所造成的突起阻礙薄膜彼此的接著之情況。此時，藉由電漿處理而薄地蝕刻耐熱高分子薄膜表面，使滑劑粒子之一部分露出後，若以氫氟酸進行處理，則可去除薄膜表面附近的滑劑粒子。
前述高分子薄膜之30至500℃之間的熱收縮率較佳為±0.9%，進一步較佳為±0.6%。熱收縮率係表示對於溫度非可逆的伸縮之因數。
前述高分子薄膜之拉伸斷裂強度較佳為60MPa以上，更佳為120MPa以上，進一步較佳為240MPa以上。拉伸斷裂強度之上限沒有特別的限制，但實際上小於1000MPa左右。若前述拉伸斷裂強度為60MPa以上，則在從無機基板剝離時，可防止前述高分子薄膜斷裂。此外，前述高分子薄膜之拉伸斷裂強度係指高分子薄膜的流動方向(MD方向)之拉伸斷裂強度及寬度方向(TD方向)之拉伸斷裂強度的平均值。前述高分子薄膜之拉伸斷裂強度之測定方法係根據實施例中記載之方法。
前述高分子薄膜之拉伸斷裂伸度較佳為1%以上，更佳為5%以上，進一步較佳為20%以上。若前述拉伸斷裂伸度為1%以上，則操作性優異。此外，前述高分子薄膜之拉伸斷裂伸度係指高分子薄膜的流動方向(MD方向)之拉伸斷裂伸度及寬度方向(TD方向)之拉伸斷裂伸度的平均值。前述高分子薄膜之拉伸斷裂伸度之測定方法係根據實施例中記載之方法。
前述高分子薄膜之拉伸彈性模數較佳為3GPa以上，更佳為6GPa以上，進一步較佳為8GPa以上。若前述拉伸彈性模數為3GPa以上，則從無機基板剝離時的前述高分子薄膜之伸長變形少，操作性優異。前述拉伸彈性模數較佳為20GPa以下，更佳為12GPa以下，進一步較佳為10GPa以下。若前述拉伸彈性模數為20GPa以下，則可將前述高分子薄膜當作可撓性薄膜使用。此外，前述高分子薄膜之拉伸彈性模數係指高分子薄膜的流動方向(MD方向)之拉伸彈性模數及寬度方向(TD方向)之拉伸彈性模數的平均值。前述高分子薄膜之拉伸彈性模數之測定方法係根據實施例中記載之方法。
前述高分子薄膜之厚度不均較佳為20%以下，更佳為12%以下，進一步較佳為7%以下，特佳為4%以下。若厚度不均超過20%，則對於窄小部的適用有變困難之傾向。此外，薄膜之厚度不均例如能以接觸式的膜厚計，從被測定薄膜中隨機地抽出10點左右之位置，測定薄膜厚，基於下述式而求出。 薄膜之厚度不均(%) =100×(最大薄膜厚−最小薄膜厚)÷平均薄膜厚
前述高分子薄膜較佳係在其製造時以捲取成寬度為300mm以上、長度為10m以上的長條高分子薄膜之形態而得者，更佳係捲取在捲取芯上的捲狀高分子薄膜之形態者。若將前述高分子薄膜捲繞成捲狀，則以被捲繞成捲狀的耐熱高分子薄膜之形態的輸送變得容易。此外，前述高分子薄膜在成為捲狀之際，可切割高分子薄膜之兩端，也可不切割。較佳為切割，切割時的高分子薄膜之寬度較佳為90mm以上。
於前述高分子薄膜，為了確保處理性及生產性，較佳係在高分子薄膜中添加・含有0.03～3質量%左右的粒徑為10～1000nm左右的滑材(粒子)，而將微細的凹凸賦予至高分子薄膜表面，確保滑動性。
前述高分子薄膜係長方形，可製作面積為0.65m2 以上，單邊為至少700mm以上者。單邊的長度之上限沒有特別的限定，但例如可舉出3000mm以下、2000mm以下等。 若藉由積層體製造裝置10，則由於可在矽烷偶合劑的至少一部分溶解於水性介質中之狀態下進行貼合，而即使耐熱高分子薄膜為大型(為長方形，面積為0.65m2 以上，且單邊為至少700mm以上)，也能使接著強度成為均勻。
第1實施形態所說明的表面活化處理可施予第1耐熱高分子薄膜，也可施予第2耐熱高分子薄膜。又，可僅施予各耐熱高分子薄膜之單面，也可施予兩面。在單面進行電漿處理時，藉由在利用平行平板型電極之電漿處理中，將耐熱高分子薄膜接於單側的電極上而放置，可僅將電漿處理施予耐熱高分子薄膜之未與電極相接之側的面。又，若於2片的電極間之空間以電力漂浮之狀態放置耐熱高分子薄膜，則可對於兩面進行電漿處理。又，藉由於在耐熱高分子薄膜之單面上黏貼有保護膜之狀態下進行電漿處理，而單面處理成為可能。此外，作為保護膜，可使用附有黏著劑的PET薄膜或烯烴薄膜等。
作為前述無機基板，只要是能作為由無機物所構成的基板使用之板狀者即可，例如可舉出以玻璃板、陶瓷板、半導體晶圓、金屬等為主體者，及作為此等玻璃板、陶瓷板、半導體晶圓、金屬之複合體而積層有此等者、分散有此等者、含有此等的纖維者等。 本實施形態中較佳使用就構成元素而言不含氮之無機基板。
作為前述玻璃板，包含石英玻璃、高矽酸玻璃(96%二氧化矽)、鹼石灰玻璃、鉛玻璃、鋁硼矽酸玻璃、硼矽酸玻璃(Pyrex(註冊商標))、硼矽酸玻璃(無鹼)、硼矽酸玻璃(微薄片)、鋁矽酸鹽玻璃等。於此等之中，期望係線膨脹係數為5ppm/K以下者，若為市售品，則期望係液晶用玻璃之CORNING公司製之「Corning(註冊商標)7059」或「Corning(註冊商標)1737」、「EAGLE」、Asahi Glass公司製之「AN100」、Nippon Electric Glass公司製之「OA10」、「OA11」、SCHOTT公司製之「AF32」等。
作為前述半導體晶圓，並沒有特別的限定，可舉出矽晶圓、鍺、矽-鍺、鎵-砷、鋁-鎵-銦、氮-磷-砷-銻、SiC、InP(磷化銦)、InGaAs、GaInNAs、LT、LN、ZnO(氧化鋅)或CdTe(碲化鎘)、ZnSe(硒化鋅)等之晶圓。其中，較佳使用的晶圓為矽晶圓，特佳為8吋以上之尺寸的鏡面研磨矽晶圓。
作為前述金屬，包含W、Mo、Pt、Fe、Ni、Au等的單一元素金屬；或英高鎳(Inconel)、莫涅爾合金(monel)、鎳蒙合金(nimonic)、碳銅、Fe-Ni系因鋼(invar)合金、超因鋼合金等的合金等。又，於此等金屬中，亦包含附加其它金屬層、陶瓷層而成之多層金屬板。此時，若與附加層的整體之線膨脹係數(CTE)低，則在主金屬層中亦可使用Cu、Al等。就作為附加金屬層使用的金屬而言，只要是使與高分子薄膜的密著性強固者、具有不擴散、耐化學性或耐熱性良好等特性者，則沒有限定，但可舉出Cr、Ni、TiN、含Mo的Cu等作為合適例。
前述無機基板之平面部分期望為充分平坦。具體而言，表面粗糙度的P-V值為50nm以下，更佳為20nm以下，進一步較佳為5nm以下。若比其更粗，則有高分子薄膜層與無機基板的接著強度變得不充分之情況。
前述無機基板之厚度沒有特別的限制，但從操作性之觀點來看，較佳為10mm以下之厚度，更佳為3mm以下，進一步較佳為1.3mm以下。關於厚度之下限沒有特別的限制，但較佳為0.05mm以上，更佳為0.3mm以上，進一步較佳為0.5mm以上。
前述矽烷偶合劑係介於無機基板與高分子薄膜之間物理地或化學地存在，具有將無機基板與高分子薄膜接著之作用。 本實施形態所用的矽烷偶合劑沒有特別的限定，但較佳為包含具有胺基的偶合劑。 作為前述矽烷偶合劑之較佳具體例，可舉出N-2-(胺基乙基)-3-胺基丙基甲基二甲氧基矽烷、N-2-(胺基乙基)-3-胺基丙基三甲氧基矽烷、N-2-(胺基乙基)-3-胺基丙基三乙氧基矽烷、3-胺基丙基三甲氧基矽烷、3-胺基丙基三乙氧基矽烷、3-三乙氧基矽基-N-(1,3-二甲基-亞丁基)丙基胺、N-苯基-3-胺基丙基三甲氧基矽烷、N-(乙烯基苄基)-2-胺基乙基-3-胺基丙基三甲氧基矽烷鹽酸鹽、胺基苯基三甲氧基矽烷、胺基苯乙基三甲氧基矽烷、胺基苯基胺基甲基苯乙基三甲氧基矽烷等。
於前述矽烷偶合劑之中，特佳為在1個分子中具有1個矽原子的矽烷偶合劑，例如可舉出N-2-(胺基乙基)-3-胺基丙基甲基二甲氧基矽烷、N-2-(胺基乙基)-3-胺基丙基三甲氧基矽烷、N-2-(胺基乙基)-3-胺基丙基三乙氧基矽烷、3-胺基丙基三甲氧基矽烷、3-胺基丙基三乙氧基矽烷、3-三乙氧基矽基-N-(1,3-二甲基-亞丁基)丙基胺、胺基苯基三甲氧基矽烷、胺基苯乙基三甲氧基矽烷、胺基苯基胺基甲基苯乙基三甲氧基矽烷等。於製程上特別要求高的耐熱性時，期望為以芳香族基連接Si與胺基之間者。
再者，與前述矽烷偶合劑一起，可使用其它的偶合劑。作為前述偶合劑，可舉出11-胺基-1-十一烯硫醇等。
於本實施形態中，可使用二胺與矽烷偶合劑一起作為反應性液體。二胺化合物能以單獨或複數種的組合而使用。又，可作為醇、水、各種溶劑的溶液使用。又，成為溶液的二胺亦可與二胺以外的反應性液體混合。
作為本實施形態中可用的二胺，可舉出1,4-丁二胺、1,5-戊二胺、1,6-己二胺、1,7-庚二胺、1,8-辛二胺、1,9-壬二胺、1,10-癸二胺、1,2-己二胺、1,3-己二胺、1,4-己二胺、1,5-己二胺、1,2-戊二胺、1,3-戊二胺、1,4-戊二胺等。
作為矽烷偶合劑之塗布方法(矽烷偶合劑層之形成方法)，可使用將矽烷偶合劑溶液塗布於前述無機基板之方法或蒸鍍法等。此外，矽烷偶合劑層之形成可在前述耐熱高分子薄膜之表面上進行。矽烷偶合劑之塗布可使用塗布裝置40進行。
作為塗布矽烷偶合劑溶液之方法，可使用矽烷偶合劑經醇等的溶媒所稀釋之溶液，適宜使用旋轉塗布法、簾塗布法、浸塗法、縫模塗布法、凹版塗布法、棒塗法、缺角輪塗布法、施用機法、網版印刷法、噴塗法等之習知溶液的塗布手段(習知的塗布裝置)。
又，亦可藉由蒸鍍法形成矽烷偶合劑層，具體而言，將前述無機基板暴露於矽烷偶合劑之蒸氣，亦即實質上氣體狀態的矽烷偶合劑中而形成。矽烷偶合劑之蒸氣可藉由將液體狀態的矽烷偶合劑加溫至40℃～矽烷偶合劑的沸點左右之溫度而獲得。矽烷偶合劑之沸點係根據化學結構而不同，但大約為100～250℃之範圍。惟，200℃以上之加熱有招致矽烷偶合劑的有機基側之副反應之虞而不佳。 將矽烷偶合劑加溫之環境，可為加壓下、常壓下、減壓下之任一者，但於促進矽烷偶合劑之氣化的情況中，較佳為常壓下或減壓下。由於多數的矽烷偶合劑為可燃性液體，較佳為在密閉容器內，且較佳為以惰性氣體置換容器內後，進行氣化作業。 將前述無機基板暴露在矽烷偶合劑中的時間沒有特別的限制，但較佳為20小時以內，更佳為60分鐘以內，進一步較佳為15分鐘以內，最佳為1分鐘以內。 將前述無機基板暴露於矽烷偶合劑中之期間的前述無機基板之溫度，較佳為根據矽烷偶合劑之種類與所要求的矽烷偶合劑層之厚度而控制在-50℃至200℃之間的適當溫度。
矽烷偶合劑層之膜厚即使與無機基板、高分子薄膜等比較亦為極薄，從機械設計的觀點來看為可忽視之程度的厚度，原理上只要是最低限度、單分子層等級之厚度即充分。一般而言小於20nm，較佳為15nm以下，再者實用上較佳為10nm以下，更佳為7nm以下，進一步較佳為5nm以下。惟，若成為計算上5nm以下之區域，則有矽烷偶合劑層並非成為均勻的塗膜，而團簇狀地存在之虞。此外，矽烷偶合劑層之膜厚可由橢圓偏振儀法或塗布時的矽烷偶合劑溶液之濃度與塗布量來計算而求出。
作為前述水性介質，可使用水、水與水溶性溶劑的混合介質。作為水溶性溶劑，可使用低級醇、低分子的酮或四氫呋喃等，較佳使用的水性介質係純水、水與甲醇的混合溶媒、水與乙醇的混合溶媒、水與異丙醇與甲基乙基酮的混合溶媒、水與四氫呋喃的混合溶媒等。本發明所特佳使用的水性介質係水、室溫下為液體的一元醇、二元醇、三元醇、或具有此等之中2個以上的成分之混合物。又，為了改善水性介質與無機基板或高分子薄膜之潤濕性，可在水性介質中添加微量的界面活性劑。
前述水性介質係用於在貼合時潤濕對向面，亦即接著面。作為以水性介質潤濕基板或薄膜的接著面之方法，可應用利用滴管或分配器的滴下、從閥的吐出、從噴霧噴嘴等成為霧狀而噴射等既有之方法。又，將基板或薄膜浸漬於水性介質中亦為用以潤濕的有效手段。作為以水性介質潤濕基板或薄膜的接著面之方法，可舉出使用水供給裝置50進行之方法。 此外，使用水或包含醇的液體作為水性介質時，亦有助於矽烷偶合劑之反應促進。
作為基板與薄膜之貼合方法，可應用加壓法、輥層壓機法等。例如，可在大氣壓氣體環境下或真空中，以加壓、層壓、輥層壓而在面狀或線上進行加壓。又，於加壓時亦可藉由加熱而促進製程。於本發明中，較佳為大氣氣體環境下的加壓或輥層壓，尤其使用輥進行之方法(輥層壓等)，由於可將接著界面的水性介質一邊依序從接著面擠出一邊貼合而較佳。 於供給水性介質之後的無機基板與耐熱高分子薄膜之貼合中，可舉出使用層壓裝置70進行之方法。
前述積層體可藉由在與耐熱高分子薄膜的接著面相反側之面上形成功能元件，於形成後連同功能元件一起將高分子薄膜從基板剝離，而作成可撓性電子裝置。
本說明書中，電子裝置係指具有負載電氣配線的單面、兩面或多層結構之配線基板、電晶體、二極體等之主動元件、或包含電阻、電容器、電感器等被動裝置之電子電路、以及感測壓力、溫度、光、濕度等之感測器元件、生物感測器元件、發光元件、液晶顯示、電泳顯示、自發光顯示等之影像顯示元件、利用無線、有線的通信元件、運算元件、記憶元件、MEMS元件、太陽能電池、薄膜電晶體等。
於本說明書的可撓性電子裝置之製造方法中，於藉由上述方法所製作的積層體之高分子薄膜面上形成電子裝置後，將該高分子薄膜從前述無機基板剝離。
作為將形成有電子裝置的高分子薄膜從無機基板剝離之方法，並沒有特別的限制，可採用：以鑷子等從端部捲起之方法；在高分子薄膜中導入切口，在切口部分之1邊黏貼黏著膠帶後，從該膠帶部分捲起之方法；真空吸附高分子薄膜的切口部分之1邊後，從該部分捲起之方法等。此外，於剝離時，若在高分子薄膜之切口部分發生曲率小的彎曲，則變得對於該部分的裝置施加應力，有破壞裝置之虞，因此期望於曲率盡量大的狀態下剝離。例如，期望為一邊捲取在曲率大的輥上一邊捲起，或者使用如曲率大的輥位於剝離部分之構成的機械來捲起。 作為在前述高分子薄膜中導入切口之方法，有下述等，但方法沒有特別的限定：藉由刀具等之切削工具來切斷高分子薄膜之方法；或藉由使雷射對積層體相對地掃描而切斷高分子薄膜之方法；藉由使水刀對積層體相對地掃描而切斷高分子薄膜之方法；藉由半導體晶片之切割裝置，而切割至若干玻璃層為止，同時切斷高分子薄膜之方法等。例如，採用上述方法時，亦可適宜採用使超音波重疊於切削工具、或者附加往復動作或上下動作等而提升切削性能等之手法。 又，於進行剝離的部分預先貼附其它的補強基材而連同補強基材一起剝離之方法亦為有用。當進行剝離的可撓性電子裝置為顯示裝置的背板(back plane)時，預先貼附顯示裝置的前板(front plane)而在無機基板上一體化後同時剝離兩者，亦可得到可撓性顯示裝置。
以上，說明第1實施形態之積層體製造裝置及積層體之製造方法。
接著，說明第2實施形態之積層體捲製造裝置及積層體捲之製造方法。
[第2實施形態] 第2實施形態之積層體捲製造裝置具有以下之構成。 (1)一種積層體捲製造裝置，其具備： 搬運金屬箔之金屬箔搬運裝置； 對於塗布有矽烷偶合劑的金屬箔之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的耐熱高分子薄膜之表面，供給水性介質之水供給裝置；及 使一方或雙方被供給水性介質後的金屬箔與耐熱高分子薄膜貼合之輥層壓裝置。 (2)如(1)記載之積層體捲製造裝置，其具備將矽烷偶合劑塗布至金屬箔之塗布裝置。 (3)如(1)或(2)記載之積層體捲製造裝置，其具備將供給水性介質之前的金屬箔予以洗淨之金屬箔洗淨裝置。 (4)如(1)～(3)記載之積層體捲製造裝置，其具備將供給水性介質之前的耐熱高分子薄膜予以洗淨之薄膜洗淨裝置。 (5)如(1)～(4)中任一項記載之積層體捲製造裝置，其中前述耐熱高分子薄膜係寬度為700mm以上。 (6)如(1)～(5)中任一項記載之積層體捲製造裝置，其中前述輥層壓裝置之推壓力為0.5MPa以下。 第2實施形態之積層體的捲之製造方法具有以下之構成。 (7)一種積層體捲之製造方法，其係金屬箔與耐熱高分子薄膜的積層體的捲之製造方法，其具有： 對於塗布有矽烷偶合劑的金屬箔之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的耐熱高分子薄膜之表面，供給水性介質之步驟A；及 使一方或雙方被供給水性介質後的金屬箔與耐熱高分子薄膜貼合之步驟B。 (8)如(7)記載之積層體捲之製造方法，其中於前述步驟A之前，具有將矽烷偶合劑塗布至金屬箔之步驟X-1。 (9)如(7)或(8)記載之積層體捲之製造方法，其中於前述步驟A之前，具有洗淨金屬箔之步驟X-2。 (10)如(7)～(9)中任一項記載之積層體捲之製造方法，其中於前述步驟A之前，具有洗淨耐熱高分子薄膜之步驟X-3。 (11)如(7)～(10)中任一項記載之積層體捲之製造方法，其中於前述步驟B之後，具有檢查經貼合的金屬箔與耐熱高分子薄膜之積層體捲的外觀之步驟X-4。 (12)如(11)記載之積層體捲之製造方法，其具有從藉由前述步驟X-4判定為外觀不良的積層體捲剝離耐熱性高分子薄膜之步驟X-5。 (13)如(7)～(12)中任一項記載之積層體捲之製造方法，其中步驟B中的推壓力為0.5MPa以下。
此外，於第2實施形態中，「金屬箔」相當於本實施形態中的「第1薄片」，「金屬箔搬運裝置」相當於本實施形態中的「第1薄片搬運裝置」，「耐熱高分子薄膜」相當於本實施形態中的「第2薄片」，「輥層壓裝置」相當於本實施形態中的「層壓裝置」，「積層體捲製造裝置」相當於本實施形態中的「積層體製造裝置」，「金屬箔洗淨裝置」相當於本實施形態中的「第1洗淨裝置」，「薄膜洗淨裝置」相當於本實施形態中的「第2洗淨裝置」。
以下，具體地說明第2實施形態之積層體捲製造裝置及積層體捲之製造方法。
圖2係用於說明第2實施形態之積層體捲製造裝置之示意圖。此外，關於與第1實施形態之積層體製造裝置10共通的構成，附上相同的符號。
如圖2所示，第2實施形態之積層體捲製造裝置1000具備：具有將金屬箔從金屬箔捲200捲出並搬運的功能之裝置、金屬箔洗淨裝置30、塗布裝置40、水供給裝置50、具有將薄膜從薄膜捲300捲出而搬運的功能之裝置、薄膜洗淨裝置60、輥層壓裝置70、外觀檢査裝置80、與最後捲取積層體而成為積層體捲400之捲取裝置。惟，本發明中的積層體製造裝置只要至少具備搬運第1薄片(金屬箔)的裝置、水供給裝置與輥層壓裝置即可。
金屬箔100係從金屬箔捲200捲出且被搬運，在積層體捲製造裝置1000所具備的各裝置間移動。金屬箔搬運只要能搬運金屬箔100，則沒有特別的限定，但期望為能將積層體之製造自動化者。
金屬箔洗淨裝置30具備洗淨液噴射噴嘴32或未圖示的氣刀等。金屬箔洗淨裝置30可在將洗淨液34噴射至金屬箔100上後，藉由以前述氣刀噴吹空氣，而將金屬箔100之表面乾燥。此外，本發明之第1洗淨裝置(金屬箔洗淨裝置)只要是能將供給水性介質之前的第1薄片(金屬箔)予以較佳地連續洗淨之裝置，則不限定於上述金屬箔洗淨裝置30，可採用習知者。
塗布裝置40具備設有複數的小孔之矽烷偶合劑供給管42等。塗布裝置40可從前述矽烷偶合劑供給管42將矽烷偶合劑44塗布至金屬箔100上。此外，本發明之塗布裝置只要是能將矽烷偶合劑塗布至金屬箔之裝置，則不限定於上述塗布裝置40，可採用習知者。
水供給裝置50係將水性介質52供給至塗布有矽烷偶合劑的金屬箔100之表面。水供給裝置50只要能將水性介質52供給至塗布有矽烷偶合劑的金屬箔100之表面，則其構成沒有特別的限定，可採用習知者。作為水性介質52之供給量，沒有特別的限定，但從氣泡、異物減少之觀點來看，較佳為0.1～50g/100cm2 左右。
高分子薄膜係從薄膜捲300捲出，且被導引至薄膜洗淨裝置60。薄膜洗淨裝置係將洗淨液64噴射至從薄膜捲300所供給的耐熱高分子薄膜102上後，可藉由以未圖示的氣刀來噴吹空氣，洗淨耐熱高分子薄膜102之表面。此外，本發明之第2洗淨裝置(薄膜洗淨裝置)只要是能將供給水性介質之前的第2薄片(耐熱高分子薄膜)予以較佳地連續洗淨之裝置，則不限定於上述薄膜洗淨裝置60，可採用習知者。
輥層壓裝置70具備層壓輥72等。輥層壓裝置70係藉由層壓輥72進行推壓，藉此使供給水性介質52後的金屬箔100與耐熱高分子薄膜102貼合。貼合時的推壓力較佳為0.5MPa以下。若藉由積層體製造裝置1000，則由於可在矽烷偶合劑44的至少一部分溶解於水性介質52中之狀態下進行貼合，而可減小層壓時的推壓力。此外，本發明之層壓裝置(輥層壓裝置)只要是能將供給水性介質之後的金屬箔與耐熱高分子薄膜貼合之裝置，則不限定於上述輥層壓裝置70，可採用習知者。
輥層壓裝置70之推壓力較佳為0.5MPa以下。由於可在矽烷偶合劑的至少一部分溶解於水性介質中之狀態下進行貼合，可減小層壓時的推壓力。若前述推壓力為0.5MPa以下，則可抑制金屬箔破損。 前述推壓力之下限沒有特別的限定，但較佳為0.1MPa以上。若為0.1MPa以上，則可防止產生未密著的部分或接著變得不充分。作為加壓時的溫度，較佳為10℃～60℃，更佳為20℃～40℃。若溫度過高，則有水性溶液氣化而產生氣泡之虞，有對於高分子薄膜造成損傷之虞；若溫度過低，則有密著力變弱之傾向。特別地，即使於未控制的室溫附近下實施也無問題。其後，作為高溫之層壓加壓時的溫度，較佳為80℃～250℃，更佳為90℃～140℃。
又，加壓處理亦可在大氣壓氣體環境中進行，但在真空下進行有更能得到接著力的均勻性之情況。作為真空度，由通常的油旋轉泵所造成的真空度為充分，只要10托以下左右則為充分。 作為加壓加熱處理中可使用的裝置，為了進行真空中的加壓，可使用真空中的輥式薄膜層壓機，或者為了進行在成為真空後藉由薄的橡膠膜一次將壓力施加於玻璃整面之薄膜層壓機等的真空層壓，例如可使用名機製作所製的「MVLP」等。
前述加壓處理可分離成加壓程序與加熱程序而進行。此時，首先在比較低溫(例如低於80℃，更佳為10℃以上60℃以下之溫度)下將高分子薄膜與金屬箔予以加壓(較佳為0.05～50MPa左右)而確保兩者之密著，然後於壓力下(較佳為20MPa以下0.05MPa以上)或常壓下，在比較高溫(例如80℃以上，更佳為100～250℃，進一步較佳為120～220℃)下加熱，藉此可促進密著界面之化學反應而積層高分子薄膜與金屬箔。
外觀檢査裝置80係檢查藉由輥層壓裝置70所貼合的金屬箔100與耐熱高分子薄膜102之積層體104的外觀。作為外觀檢査裝置80，例如可採用自動光學檢査裝置(AOI：Automated Optical Inspection)之光學系統。外觀檢査裝置80係以CCD相機所得的影像(積層體104的耐熱高分子薄膜102面側之影像)與經預先設定(定量化)的數據為基礎，判定在積層體104中有無混入異物或有無貼附不均勻等。此外，本發明之外觀檢査裝置只要是能檢查金屬箔與耐熱高分子薄膜之積層體的外觀之裝置，則不限定於上述外觀檢査裝置80，可採用習知者。
又，積層體製造裝置1000具備未圖示的剝離裝置。前述剝離裝置係從藉由外觀檢査裝置80判定為外觀不良的積層體104剝離耐熱性高分子薄膜102。作為前述剝離裝置，可採用習知者。由於具備前述剝離裝置，可從被判定為外觀不良的積層體104剝離耐熱性高分子薄膜102。其結果，可立即將金屬箔100再利用。
於上述實施形態中，說明具備將矽烷偶合劑塗布至金屬箔之塗布裝置40的情況，但於本發明中不受此例所限定，亦可具備將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(耐熱高分子薄膜)之裝置來代替將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(金屬箔)之塗布裝置40。又，亦可具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(金屬箔)之塗布裝置40，同時具備將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(耐熱高分子薄膜)之裝置。 又，於上述實施形態中，說明具備將矽烷偶合劑塗布至金屬箔之塗布裝置40的情況，但於本發明中亦可不具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(金屬箔)之塗布裝置。此時，例如只要使用預先塗布有矽烷偶合劑的第1薄片(金屬箔)即可。 如此所得之金屬箔與耐熱高分子薄膜之積層體係藉由捲取而成為積層體捲400。
以上，說明本實施形態之積層體捲製造裝置1000。
接著，說明第2實施形態之積層體捲之製造方法。以下，說明使用積層體捲製造裝置1000時的積層體之製造方法，但本發明中不受此例所限定。例如，作業者等亦可實施在各裝置所實施的步驟。
第1實施形態之積層體之製造方法係依序具有金屬箔及耐熱高分子薄膜的積層體捲之製造方法，其至少具有： 對於塗布有矽烷偶合劑的無機基板之表面，供給水性介質之步驟A；及 使供給水性介質之後的金屬箔與耐熱高分子薄膜貼合之步驟B。
前述積層體捲之製造方法較佳為進一步具有： 洗淨金屬箔之步驟X-2； 於步驟X-2之後將矽烷偶合劑塗布至金屬箔之步驟X-1； 洗淨耐熱高分子薄膜之步驟X-3； 於前述步驟B之後，檢查經貼合的金屬箔與耐熱高分子薄膜之積層體的外觀之步驟X-4；及 從藉由前述步驟X-4判定為外觀不良的積層體剝離耐熱性高分子薄膜之步驟X-5。
於前述積層體捲之製造方法中，首先使金屬箔100往金屬箔洗淨裝置30之方向移動，藉由金屬箔洗淨裝置30洗淨金屬箔(步驟X-2)。
接著，使金屬箔100往塗布裝置40之方向移動，藉由塗布裝置40將矽烷偶合劑塗布至金屬箔(步驟X-1)。
另一方面，藉由薄膜洗淨裝置60，於由薄膜捲300所供給的耐熱高分子薄膜102上噴射洗淨液64後，利用以未圖示的氣刀噴吹空氣，而洗淨耐熱高分子薄膜102之表面(步驟X-3)。
接著，藉由水供給裝置50，對於塗布有矽烷偶合劑的金屬箔100之表面，供給水性介質52(步驟A)。
接著，藉由輥層壓裝置70，使供給水性介質52之後的金屬箔100與耐熱高分子薄膜102貼合(步驟B)。
接著，藉由外觀檢査裝置80來檢査經貼合的金屬箔100與耐熱高分子薄膜102之積層體104的外觀(步驟X-4)。
接著，藉由剝離裝置，從經前述步驟X-4判定為外觀不良的積層體104剝離耐熱性高分子薄膜102(步驟X-5)。
於上述實施形態中，說明將矽烷偶合劑塗布至金屬箔之情況，但本發明中不受此例所限定，可將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(耐熱高分子薄膜)來代替將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(金屬箔)。又，亦可將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(金屬箔)，同時將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(耐熱高分子薄膜)。 又，於上述實施形態中，說明將矽烷偶合劑塗布至金屬箔之情況，但於本發明中亦可不具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(金屬箔)之步驟。此時，例如只要使用預先塗布有矽烷偶合劑的第1薄片(金屬箔)即可。
以上，說明第2實施形態之積層體之製造方法。
接著，說明前述耐熱高分子薄膜、前述金屬箔、前述矽烷偶合劑、前述水性介質。
第2實施形態之耐熱高分子薄膜可設為與第1實施形態中說明的高分子薄膜同樣之構成。
前述高分子薄膜之30℃至300℃之間的平均CTE較佳為-5ppm/℃～+20ppm/℃，更佳為-3ppm/℃～+15ppm/℃，進一步較佳為-1ppm/℃～+10ppm/℃。若CTE為前述範圍，則可將與一般的支撐體(金屬箔)之線膨脹係數之差保持在小，即使供於施加熱的製程，也可避免高分子薄膜與金屬箔剝離。
前述高分子薄膜較佳可製作寬度為至少700mm以上者。又，薄膜之長度較佳為至少10m，長度之上限沒有特別的限定。高分子薄膜較佳為以捲繞成捲狀之狀態供給。 若藉由積層體製造裝置1000，則由於可於矽烷偶合劑的至少一部分溶解於水性介質中之狀態下進行貼合，而即使耐熱高分子薄膜為大型(寬度為至少700mm以上，且長度為10m以上)，也能使接著強度成為均勻。
作為前述金屬箔，包含W、Mo、Pt、Fe、Ni、Au、Cu等的單一元素金屬；或英高鎳、莫涅爾合金、鎳蒙合金、碳銅、Fe-Ni系因鋼合金、超因鋼合金、各種不銹鋼等的合金等。又，於此等金屬中，亦包含附加其它金屬層、陶瓷層而成之多層金屬板。此時，若與附加層的整體之線膨脹係數(CTE)低，則在主金屬層中亦可使用Cu、Al等。就作為附加金屬層使用的金屬而言，只要是使與高分子薄膜的密著性強固者、具有不擴散、耐化學性或耐熱性良好等特性者，則沒有限定，但可舉出Cr、Ni、TiN、含Mo的Cu等作為合適例。
前述金屬箔之平面部分期望為充分平坦。具體而言，表面粗糙度的P-V值為5μm以下，更佳為1μm以下，進一步較佳為0.3μm以下。若比其更粗，則有高分子薄膜層與金屬箔的接著強度變得不充分之情況。
前述金屬箔之厚度沒有特別的限制，但從操作性之觀點來看，較佳為1mm以下之厚度，更佳為0.3mm以下，進一步較佳為0.08mm以下。關於厚度之下限沒有特別的限制，但較佳為0.001mm以上，更佳為0.05mm以上，進一步較佳為0.02mm以上。
前述矽烷偶合劑係介於金屬箔與高分子薄膜之間物理地或化學地存在，具有將金屬箔與高分子薄膜接著之作用。前述矽烷偶合劑可設為與第1實施形態中說明的矽烷偶合劑同樣之構成。
作為矽烷偶合劑之塗布方法(矽烷偶合劑層之形成方法)，可使用將矽烷偶合劑溶液塗布於前述金屬箔之方法或蒸鍍法等。此外，矽烷偶合劑層之形成可在前述耐熱高分子薄膜之表面上進行。矽烷偶合劑之塗布可使用塗布裝置40進行。
作為前述水性介質，可設為與第1實施形態中說明的水性介質同樣之構成。
如此的水性介質係用於潤濕高分子薄膜與金屬箔之貼合時的對向面，亦即接著面。
以上，說明第2實施形態之積層體捲製造裝置及積層體捲之製造方法。
接著，說明第3實施形態之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置及耐熱高分子薄膜積層體之製造方法。
[第3實施形態] 第3實施形態之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置具有以下之構成。 (1)一種耐熱高分子薄膜積層體製造裝置，其具備： 搬運第1耐熱高分子薄膜之薄膜搬運裝置； 對於塗布有矽烷偶合劑的第1耐熱高分子薄膜之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2耐熱高分子薄膜之表面，供給水性介質之水供給裝置；及 將水性介質供給至前述第1耐熱高分子薄膜及前述第2耐熱高分子薄膜之一方或雙方後，使前述第1耐熱高分子薄膜與前述第2耐熱高分子薄膜貼合之層壓裝置。 (2)如(1)記載之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置，其具備將矽烷偶合劑塗布至第1耐熱高分子薄膜之塗布裝置。 (3)如(1)或(2)記載之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置，其具備將供給水性介質之前的第1耐熱高分子薄膜予以洗淨之第1耐熱高分子薄膜洗淨裝置。 (4)如(1)～(3)中任一項記載之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置，其具備將供給水性介質之前的第2耐熱高分子薄膜予以洗淨之第2耐熱高分子薄膜洗淨裝置。 (5)如(1)～(4)中任一項記載之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置，其中前述第2耐熱高分子薄膜係寬度為90mm以上。 (6)如(1)～(5)中任一項記載之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置，其中前述層壓裝置之推壓力為0.2MPa以上。 第3實施形態之耐熱高分子薄膜積層體之製造方法具有以下之構成。 (7)一種耐熱高分子薄膜積層體之製造方法，其係第1耐熱高分子薄膜與第2耐熱高分子薄膜的耐熱高分子薄膜積層體之製造方法，其具有： 對於塗布有矽烷偶合劑的第1耐熱高分子薄膜之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2耐熱高分子薄膜之表面，供給水性介質之步驟A；及 將水性介質供給至前述第1耐熱高分子薄膜及前述第2耐熱高分子薄膜之一方或雙方後，使前述第1耐熱高分子薄膜與前述第2耐熱高分子薄膜貼合之步驟B。 (8)如(7)記載之耐熱高分子薄膜積層體之製造方法，其中於前述步驟A之前，具有將矽烷偶合劑塗布至第1耐熱高分子薄膜之步驟X-1。 (9)如(7)或(8)記載之耐熱高分子薄膜積層體之製造方法，其中於前述步驟A之前，具有洗淨第1耐熱高分子薄膜之步驟X-2。 (10)如(7)～(9)中任一項記載之耐熱高分子薄膜積層體之製造方法，其中於前述步驟A之前，具有洗淨第2耐熱高分子薄膜之步驟X-3。 (11)如(7)～(10)中任一項記載之耐熱高分子薄膜積層體之製造方法，其中於前述步驟B之後，具有檢查經貼合的第1耐熱高分子薄膜與第2耐熱高分子薄膜之耐熱高分子薄膜積層體的外觀之步驟X-4。 (11)如(7)～(11)中任一項記載之耐熱高分子薄膜積層體之製造方法，其中步驟B中的推壓力為0.2MPa以上。
此外，於第3實施形態中，「第1耐熱高分子薄膜」相當於本實施形態中的「第1薄片」，「薄膜搬運裝置」相當於本實施形態中的「第1薄片搬運裝置」，「第2耐熱高分子薄膜」相當於本實施形態中的「第2薄片」，「耐熱高分子薄膜積層體製造裝置」相當於本實施形態中的「積層體製造裝置」，「第1耐熱高分子薄膜洗淨裝置」相當於本實施形態中的「第1洗淨裝置」，「第2耐熱高分子薄膜洗淨裝置」相當於本實施形態中的「第2洗淨裝置」。
以下，具體地說明第3實施形態之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置及耐熱高分子薄膜積層體之製造方法。
圖3係用於說明第3本實施形態之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置之示意圖。於第3實施形態中，說明耐熱高分子薄膜積層體製造裝置為積層體捲製造裝置之情況，但第3實施形態之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置所製造的積層體不限定於積層體捲，亦可為以單片所得之積層體。此外，關於與第1實施形態之積層體製造裝置10共通的構成，附上相同的符號。
如圖3所示，第3實施形態之積層體捲製造裝置2000較佳為具備：具有將第1耐熱高分子薄膜從第1耐熱高分子薄膜捲200捲出並搬運的功能之裝置、第1耐熱高分子薄膜洗淨裝置30、塗布裝置40、水供給裝置50、具有將第2耐熱高分子薄膜從第2耐熱高分子薄膜捲300捲出而搬運的功能之裝置、第2耐熱高分子薄膜洗淨裝置60、輥層壓裝置70、外觀檢査裝置80、與最後捲取積層體而成為積層體捲400之捲取裝置。惟，本發明中的積層體製造裝置只要至少具備第1薄片搬運裝置(搬運第1耐熱高分子薄膜捲的裝置)、水供給裝置與輥層壓裝置即可。
第1耐熱高分子薄膜100係從第1耐熱高分子薄膜捲200捲出且被搬運，在積層體捲製造裝置2000所具備的各裝置間移動。第1耐熱高分子薄膜之搬運只要能搬運第1耐熱高分子薄膜100，則沒有特別的限定，但期望為能將積層體之製造自動化者。
第1耐熱高分子薄膜洗淨裝置30具備洗淨液噴射噴嘴32或未圖示的氣刀等。第1耐熱高分子薄膜洗淨裝置30可在將洗淨液34噴射至第1耐熱高分子薄膜100上後，藉由以前述氣刀噴吹空氣，而將第1耐熱高分子薄膜100之表面乾燥。此外，本發明之第1洗淨裝置(第1耐熱高分子薄膜洗淨裝置)只要是能將供給水性介質之前的第1薄片(第1耐熱高分子薄膜)予以較佳地連續洗淨之裝置，則不限定於上述第1耐熱高分子薄膜洗淨裝置30，可採用習知者。
塗布裝置40較佳為具備設有複數的小孔之矽烷偶合劑供給管42等。塗布裝置40可從前述矽烷偶合劑供給管42將矽烷偶合劑44塗布至第1耐熱高分子薄膜100上。此外，本發明之塗布裝置40只要是能將矽烷偶合劑44塗布至第1耐熱高分子薄膜100之裝置，則不限定於上述塗布裝置40，可採用習知者。矽烷偶合劑44可為液體狀，也可為氣體狀。從可均勻地塗布於第1耐熱高分子薄膜100來看，較佳為氣體狀的矽烷偶合劑。
水供給裝置50係將水性介質52供給至塗布有矽烷偶合劑的第1耐熱高分子薄膜100之表面。水供給裝置50只要能將水性介質52供給至塗布有矽烷偶合劑的第1耐熱高分子薄膜100之表面，則其構成沒有特別的限定，可採用習知者。作為水性介質52之供給量，沒有特別的限定，但從氣泡、異物減少之觀點來看，第1耐熱高分子薄膜之每單位面積(100cm2 )較佳為0.1～50g(0.1～50g/100cm2 )左右，更佳為1～30g/100cm2 。
第2耐熱高分子薄膜102係從第2耐熱高分子薄膜捲300捲出，且被導引至第2耐熱高分子薄膜洗淨裝置60。第2耐熱高分子薄膜洗淨裝置60係將洗淨液64噴射至第2耐熱高分子薄膜102上後，可藉由以未圖示的氣刀來噴吹空氣，洗淨第2耐熱高分子薄膜102之表面。此外，本發明之第2洗淨裝置(第2薄膜洗淨裝置)只要是能將供給水性介質之前的第2薄片(第2耐熱高分子薄膜)予以較佳地連續洗淨之裝置，則不限定於上述第2耐熱高分子薄膜洗淨裝置60，可採用習知者。
輥層壓裝置70具備層壓輥72等。輥層壓裝置70係藉由層壓輥72進行推壓(加壓處理)，藉此使供給水性介質52後的第1耐熱高分子薄膜100與第2耐熱高分子薄膜102貼合。貼合時的推壓力較佳為0.2MPa以上。若藉由積層體製造裝置2000，則由於可在矽烷偶合劑44的至少一部分溶解於水性介質52中之狀態下進行貼合，而可抑制層壓時的不均。此外，本發明之層壓裝置(輥層壓裝置)只要是能將供給水性介質之後的第1耐熱高分子薄膜與第2耐熱高分子薄膜貼合之裝置，則不限定於上述輥層壓裝置70，可採用習知者。
輥層壓裝置70之推壓力較佳為0.2MPa以上。由於可在矽烷偶合劑的至少一部分溶解於水性介質中之狀態下進行貼合，而可抑制層壓時的不均。若前述推壓力為0.2MPa以上，可抑制空氣被咬入所貼合的耐熱高分子薄膜之間。 前述推壓力之下限沒有特別的限定，但較佳為0.5MPa以上。若為0.5MPa以上，則可防止產生未密著的部分或接著變得不充分。作為加壓時的溫度，較佳為10℃～60℃，更佳為20℃～40℃。若溫度過高，則有水性溶液氣化而產生氣泡之虞，有對於高分子薄膜造成損傷之虞；若溫度過低，則有密著力變弱之傾向。特別地，即使於未控制的室溫附近下實施也無問題。其後，作為高溫之層壓加壓時的溫度，較佳為80℃～250℃，更佳為90℃～200℃。
於輥層壓裝置70中，在使用於層壓的上下之輥72中，期望為至少單側係由柔軟的材料所構成之輥。此處所謂之由柔軟的材料所構成的輥，係指彈性模數為300MPa以下的矽橡膠輥等。若使用於層壓的輥之至少一方為柔軟的材料，則可製作氣泡的咬入更少的高品質薄膜積層體。
又，加壓處理亦可在大氣壓氣體環境中進行，但在真空下進行有更能得到接著力的均勻性之情況。作為真空度，由通常的油旋轉泵所造成真空度為充分，只要10托以下左右則為充分。 作為加壓加熱處理中可使用的裝置，為了進行真空中的加壓，可使用真空中的輥式薄膜層壓機。或者，為了進行在成為真空後藉由薄的橡膠膜一次將壓力施加於玻璃整面之薄膜層壓機等的真空層壓，例如可使用名機製作所製的「MVLP」等。
前述加壓加熱處理可分離成加壓程序與加熱程序而進行。此時，首先在比較低溫(例如低於80℃，更佳為10℃以上60℃以下之溫度)下將第1耐熱高分子薄膜與第2耐熱高分子薄膜予以加壓(較佳為0.05～50MPa左右)而確保兩者之密著，然後於壓力下(較佳為0.2MPa以上20MPa以下)或常壓下，在比較高溫(例如80℃以上，更佳為100～250℃，進一步較佳為120～220℃)下加熱，藉此可促進密著界面之化學反應而積層第1與第2耐熱高分子薄膜。
外觀檢査裝置80係檢查藉由輥層壓裝置70所貼合的第1耐熱高分子薄膜100與第2耐熱高分子薄膜102之積層體104的外觀。作為外觀檢査裝置80，例如可採用自動光學檢査裝置(AOI：Automated Optical Inspection)之光學系統。外觀檢査裝置80係以CCD相機所得的影像(積層體104的第2耐熱高分子薄膜102面側之影像)與經預先設定(定量化)的數據為基礎，判定在積層體104中有無混入異物或有無貼附不均勻等。此外，本發明之外觀檢査裝置只要是能檢查第1與第2耐熱高分子薄膜之積層體的外觀之裝置，則不限定於上述外觀檢査裝置80，可採用習知者。
於上述實施形態中，說明具備將矽烷偶合劑塗布至第1耐熱高分子薄膜之塗布裝置40的情況，但於本發明中不受此例所限定，亦可具備將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(第2耐熱高分子薄膜)之裝置來代替將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(第1耐熱高分子薄膜)之塗布裝置40。又，亦可具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(第1耐熱高分子薄膜)之塗布裝置40，同時具備將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(第2耐熱高分子薄膜)之裝置。 又，於上述實施形態中，說明具備將矽烷偶合劑塗布至第1耐熱高分子薄膜之塗布裝置40的情況，但於本發明中亦可不具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(第1耐熱高分子薄膜)之塗布裝置。此時，例如只要使用預先塗布有矽烷偶合劑的第1薄片(第1耐熱高分子薄膜)即可。 如此所得之第1耐熱高分子薄膜與第2耐熱高分子薄膜之積層體係藉由捲取而成為積層體捲400。
以上，說明本實施形態之積層體捲製造裝置2000。
接著，說明第3實施形態之積層體之製造方法。以下，說明使用積層體捲製造裝置2000時的積層體之製造方法，但本發明中不受此例所限定。例如，作業者等亦可實施在各裝置所實施的步驟。
第3實施形態之積層體之製造方法係依序具有第1耐熱高分子薄膜及第2耐熱高分子薄膜的積層體之製造方法，其至少具有： 對於塗布有矽烷偶合劑的第1耐熱高分子薄膜之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2耐熱高分子薄膜之表面，供給水性介質之步驟A；及 使供給水性介質之後的第1耐熱高分子薄膜與第2耐熱高分子薄膜貼合之步驟B。
前述積層體之製造方法較佳為進一步具有： 洗淨第1耐熱高分子薄膜之步驟X-2； 於步驟X-2之後將矽烷偶合劑塗布至第1耐熱高分子薄膜之步驟X-1； 洗淨第2耐熱高分子薄膜之步驟X-3； 於前述步驟B之後，檢查經貼合的第1耐熱高分子薄膜與第2耐熱高分子薄膜之積層體的外觀之步驟X-4。
於前述積層體之製造方法中，首先使第1耐熱高分子薄膜100往第1耐熱高分子薄膜洗淨裝置30之方向移動，藉由第1耐熱高分子薄膜洗淨裝置30洗淨第1耐熱高分子薄膜(步驟X-2)。
接著，使第1耐熱高分子薄膜100往塗布裝置40之方向移動，藉由塗布裝置40將矽烷偶合劑塗布至第1耐熱高分子薄膜(步驟X-1)。
另一方面，藉由第2耐熱高分子薄膜洗淨裝置60，於由第2耐熱高分子薄膜捲300所供給的第2耐熱高分子薄膜102上噴射洗淨液64後，藉由以未圖示的氣刀噴吹空氣，而洗淨第2耐熱高分子薄膜102之表面(步驟X-3)。
接著，藉由水供給裝置50，對於塗布有矽烷偶合劑的第1耐熱高分子薄膜100之表面，供給水性介質52(步驟A)。
接著，藉由輥層壓裝置70，使供給水性介質52之後的第1耐熱高分子薄膜100與第2耐熱高分子薄膜102貼合(步驟B)。
前述貼合(步驟B)較佳為在水性介質52之供給(步驟A)後迅速地實施。更佳為至少於水性介質52乾燥(蒸發)之前完成貼合。
接著，藉由外觀檢査裝置80來檢査經貼合的第1耐熱高分子薄膜100與第2耐熱高分子薄膜102之積層體104的外觀(步驟X-4)。
此外，前述製造方法較佳為積層體捲之製造方法。
於上述實施形態中，說明將矽烷偶合劑塗布至第1耐熱高分子薄膜之情況，但本發明中不受此例所限定，可將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(第2耐熱高分子薄膜)來代替將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(第1耐熱高分子薄膜)。又，亦可將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(第1耐熱高分子薄膜)，同時將矽烷偶合劑塗布至第2薄片(第2耐熱高分子薄膜)。 又，於上述實施形態中，說明將矽烷偶合劑塗布至第1耐熱高分子薄膜之情況，但於本發明中亦可不具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片(第1耐熱高分子薄膜)之步驟。此時，例如只要使用預先塗布有矽烷偶合劑的第1薄片(第1耐熱高分子薄膜)即可。
以上，說明第3實施形態之積層體之製造方法。
接著，說明前述第1耐熱高分子薄膜、前述第2耐熱高分子薄膜、前述矽烷偶合劑、前述水性介質。
第3實施形態之第1耐熱高分子薄膜及第2耐熱高分子薄膜可設為與第1實施形態中說明的耐熱高分子薄膜同樣之構成。
第1耐熱高分子薄膜與第2耐熱高分子薄膜可為互相相同種類的樹脂，也可為不同種類的樹脂。又，於相同種類的樹脂之情況，可為相同組成，也可為不同組成。再者，熔點及玻璃轉移溫度可相同，也可不同。較佳係互相為相同種類及相同組成的樹脂。其中，較佳係第1耐熱高分子薄膜及第2耐熱高分子薄膜一起為具有相同的苯并
Figure 109134047-A0101-12-01
唑結構之芳香族聚醯亞胺薄膜。
前述高分子薄膜之30℃至300℃之間的平均CTE係如第1實施形態中所說明，較佳為-5ppm/℃～+20ppm/℃，更佳為-3ppm/℃～+15ppm/℃，進一步較佳為-1ppm/℃～+10ppm/℃。若CTE為前述範圍，則即使供於施加熱的製程，也可將積層體與金屬零件等一起使用。
前述高分子薄膜較佳可製作寬度為至少90mm以上者。又，薄膜之長度較佳為至少10m，長度之上限沒有特別的限定。高分子薄膜較佳為以捲繞成捲狀之狀態供給。 若藉由積層體製造裝置10，則由於可於矽烷偶合劑的至少一部分溶解於水性介質中之狀態下進行貼合，而即使耐熱高分子薄膜為大型(寬度為至少90mm以上，且長度為10m以上)，也能使接著強度成為均勻。
前述矽烷偶合劑係介於第1耐熱高分子薄膜與第2耐熱高分子薄膜之間物理地或化學地存在，具有將耐熱高分子薄膜彼此接著之作用。前述矽烷偶合劑可設為與第1實施形態中說明的矽烷偶合劑同樣之構成。
作為矽烷偶合劑之塗布方法(矽烷偶合劑層之形成方法)，可使用將矽烷偶合劑溶液塗布於第1耐熱高分子薄膜或第2耐熱高分子薄膜之方法或蒸鍍法等。矽烷偶合劑之塗布可使用塗布裝置40進行。
作為前述水性介質，可設為與第1實施形態中說明的水性介質同樣之構成。
如此的水性介質係用於潤濕第1耐熱高分子薄膜與第2耐熱高分子薄膜之貼合時的對向面，亦即接著面。
以上，說明第3實施形態之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置及耐熱高分子薄膜積層體之製造方法。
接著，說明本實施形態之積層體。
本實施形態之積層體具有以下之構成。 (1)一種積層體，其係依序具有無機基板、含胺基的矽烷偶合劑層、耐熱高分子薄膜之積層體，其中 從前述無機基板將前述耐熱高分子薄膜90°剝離後，無機基板側的剝離面之氮元素成分比為2.5原子%以上3.5原子%以下。 (2)如(1)記載之積層體，其中從前述積層體剝離前述耐熱高分子薄膜時之利用90度剝離法的接著強度為0.05N/cm以上0.25N/cm以下。 (3)如(1)或(2)記載之積層體，其中前述耐熱高分子薄膜係聚醯亞胺薄膜。 (4)如(1)～(3)中任一項記載之積層體，其起泡缺點密度係每1平方公尺為5處以下。 (5)如(1)～(4)中任一項記載之積層體，其中前述耐熱高分子薄膜係長方形，面積為0.65平方公尺以上，長方形的單邊為至少700mm以上。
本實施形態之積層體可使用本實施形態之積層體製造裝置(例如第1實施形態之積層體製造裝置、第2實施形態之積層體捲製造裝置、第3實施形態之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置等)來製造。又，本實施形態之積層體可使用本實施形態之積層體之製造方法(例如第1實施形態之積層體之製造方法、第2實施形態之積層體捲之製造方法、第3實施形態之耐熱高分子薄膜積層體之製造方法等)來製造。 惟，本實施形態之積層體只要是具有前述(1)之構成，則不需要以前述積層體製造裝置來製造。
本實施形態之耐熱高分子薄膜可設為與第1實施形態中說明的高分子薄膜同樣之構成。
本實施形態之無機基板可設為與第1實施形態中說明的無機基板同樣之構成。
本實施形態之矽烷偶合劑係介於無機基板與高分子薄膜之間物理地或化學地存在，具有將無機基板與高分子薄膜接著之作用。前述矽烷偶合劑至少包含具有胺基的偶合劑。胺基一般而言係反應性高，且於薄膜中具有醯亞胺鍵或醯胺鍵時，與此等之反應性變高。於本實施形態中，由於前述矽烷偶合劑至少包含具有胺基的偶合劑，而容易增強無機基板與高分子薄膜之結合強度。 本實施形態之矽烷偶合劑可設為與第1實施形態中說明的矽烷偶合劑之中具有胺基的偶合劑同樣之構成。
從前述無機基板將前述耐熱高分子薄膜90°剝離後，無機基板側的剝離面之氮元素成分比為2.5原子%以上3.5原子%以下。
如以往技術中所說明，於用於製造可撓性電子裝置的耐熱高分子薄膜與主要為玻璃板等的無機基板之積層體中，尤其於大面積中，難以均質塗布地矽烷偶合劑，就結果而言難以均勻適當地控制耐熱高分子薄膜與無機基板之接著強度。 然而，若根據本實施形態，可將此接著強度控制在0.05N/cm以上0.25N/cm以下之範圍，再者不易產生在前述耐熱高分子薄膜與前述無機基板之間的起泡缺點，可實現面積0.8平方公尺的長方形且至少單邊為1公尺上之大面積的積層體，進一步藉由使用此積層體，可提供大面積的可撓性電子裝置之製造方法。
本實施形態之積層體藉由採用本實施形態之積層體製造裝置及/或積層體之製造方法，而可去除無機基板至高分子薄膜間多餘的矽烷偶合劑，矽烷偶合劑之量被控制在以親和力配位於基板、薄膜的至少任一表面上的必要最低限度之量。 基板與高分子薄膜之接著力係隨著時間經過或是經過高溫程序後等而變化，推測是因為過剩地存在且未反應的矽烷偶合劑之反應係進行，但藉由採用本實施形態之積層體製造裝置及/或積層體之製造方法，可將如此的多餘的未反應物從基板與薄膜之接著界面予以排除。
藉由採用本實施形態之積層體製造裝置及/或積層體之製造方法，可得到將薄膜剝離後的無機基板表面之以ESCA所觀察的N元素為2.5原子%以上3.5原子%以下之積層體。此N元素係反映含胺基的矽烷偶合劑之存在。
再者，於此貼合方法中，由於排除過剩的矽烷偶合劑，而變得不易產生因矽烷偶合劑之縮合所造成的異物，同時由於亦將混合存在於接著面的灰塵等予以擠出，而接著界面的粒子形的異物銳減，就結果而言減少彼等異物成為核的起泡缺點(亦稱為氣泡、浮起等)數。
若藉由前述構成，亦即從前述無機基板將前述耐熱高分子薄膜90°剝離後之無機基板側的剝離面之氮元素成分比為2.5原子%以上3.5原子%以下之構成，則由於矽烷偶合劑層為具有充分的接著強度之厚度，且無多餘的矽烷偶合劑，而接著強度不變得過強，接著強度可成為0.05N/cm以上0.25N/cm以下之範圍。此由實施例亦可明知。此點，本發明者們推測：於在無機基板上堆積矽烷偶合劑之初期，由於在無機基板之表面上存在許多的OH基，而此OH基與矽烷偶合劑層係藉由氫鍵或化學反應等而連接，結果得到強固的矽烷偶合劑層，但若增長矽烷偶合劑堆積時間，則鍵結未必強固的矽烷偶合劑層係容易進入耐熱高分子薄膜中，根據此進入的方式或進入時的鍵結方式，而接著強度變化。
於前述構成中，前述耐熱高分子薄膜與前述無機基板之利用90度剝離法的接著強度較佳為0.05N/cm以上0.25N/cm以下。
若前述90度接著強度為0.05N/cm以上，則在裝置形成前或形成中可適當地防止耐熱高分子薄膜從無機基板剝落。 若前述90度接著強度為0.25N/cm以下，則在機械剝離時可不破壞裝置而剝離。
於前述構成中，前述耐熱高分子薄膜與前述無機基板之間的氣泡較佳係每500mm×500mm為1處以下。
前述氣泡若每500mm×500mm為1處以下，則在耐熱高分子薄膜上製作裝置時，可顯著減少因氣泡的成長而破壞裝置的可能性。
使用本實施形態之積層體製造裝置所得之積層體及/或藉由本實施形態之積層體之製造方法所得之積層體，較佳為具有以下之特性。
前述積層體其耐熱高分子薄膜與無機基板之利用90度剝離法的初期接著強度較佳為0.05N/cm以上0.25N/cm以下。又，起泡缺點密度較佳係每1平方公尺為5處以下。
前述積層體其前述耐熱高分子薄膜與前述無機基板之利用90度剝離法的初期接著強度較佳為0.05N/cm以上，更佳為0.09N/cm以上，進一步較佳為0.1N/cm以上。又，前述90度初期接著強度較佳為0.25N/cm以下，更佳為0.2N/cm以下。若前述90度初期接著強度為0.05N/cm以上，則在裝置形成前或形成中可防止耐熱高分子薄膜從無機基板剝落。又，若前述90度初期接著強度為0.25N/cm以下，則在裝置形成後容易剝離無機基板與耐熱高分子薄膜。即，若前述90度初期接著強度為0.25N/cm以下，則即使在裝置形成中無機基板與耐熱高分子薄膜之間的接著強度多少有上升，也容易剝離兩者。 於本說明書中，前述90度初期接著強度係指將前述積層體在大氣氣體環境下、200℃熱處理1小時後的無機基板與耐熱高分子薄膜之間的90度接著強度。
又，前述積層體其前述耐熱高分子薄膜與前述無機基板之利用90度剝離法的熱處理後接著強度較佳為0.05N/cm以上，更佳為0.09N/cm以上，進一步較佳為0.1N/cm以上。又，前述熱處理後接著強度較佳為0.25N/cm以下，更佳為0.2N/cm以下。 於本說明書中，前述熱處理後接著強度係指將前述積層體在大氣氣體環境下、200℃熱處理1小時後，進一步450℃熱處理1小時後的無機基板與耐熱高分子薄膜之間的90度接著強度。
於本說明書中，「接著強度」意指「初期接著強度」與「熱處理後接著強度」之兩者。即，「接著強度為0.05N/cm以上0.25N/cm以下」意指「初期接著強度為0.05N/cm以上0.25N/cm以下」且「熱處理後接著強度為0.05N/cm以上0.25N/cm以下」。
前述初期接著強度及前述熱處理後接著強度之測定條件係如下述。 對於無機基板，以90度之角度剝除耐熱高分子薄膜。 進行5次測定，將平均值當作測定值。 測定溫度           ：室溫(25℃) 剝離速度           ：100mm/min 氣體環境           ：大氣 測定樣品寬度     ：2.5cm 更詳細而言，係根據實施例中記載之方法。 [實施例]
以下，關於本發明，使用實施例來詳細地說明，但本發明只要不超出其宗旨，則不受以下之實施例所限定。
此外，實施例、比較例中之各測定值只要沒有特別預先指明，則藉由以下之方法測定。
＜高分子薄膜之厚度＞ 使用測微計(Feinpruef公司製，Millitron 1245D)進行測定。
＜高分子薄膜之拉伸彈性模數、拉伸斷裂強度及拉伸斷裂伸度＞ 將於高分子薄膜的流動方向(MD方向)及寬度方向(TD方向)上各切出100mm×10mm的長條狀者當作試驗片。試驗片係從寬度方向中央部分切出。使用拉伸試驗機(島津製作所製，Autograph(R)，機種名稱AG-5000A)，於溫度25℃、拉伸速度50mm/分鐘、夾頭間距離40mm之條件下，對於MD方向、TD方向各自測定拉伸彈性模數、拉伸斷裂強度及拉伸斷裂伸度。
＜線膨脹係數(CTE)＞ 於高分子薄膜的流動方向(MD方向)及寬度方向(TD方向)上，在下述條件下測定伸縮率，如30℃～45℃、45℃～60℃而測定15℃的間隔之伸縮率/溫度，將此測定進行到300℃為止，算出全部測定值之平均值當作CTE。 機器名稱           ：MAC Science公司製TMA4000S 試料長度           ：20mm 試料寬度           ：2mm 升溫開始溫度     ：25℃ 升溫結束溫度     ：400℃ 升溫速度           ：5℃/min 氣體環境           ：氬
＜接著強度之測定＞ 藉由以下之方法，求出從積層體之製作所得的積層體將高分子薄膜以90度剝離法測定的接著強度。 對於無機基板，以90度之角度剝除薄膜。 測定裝置           ：島津製作所公司製 Autograph AG-IS 測定溫度           ：室溫(25℃) 剝離速度           ：100mm/min 氣體環境           ：大氣 測定樣品寬度     ：2.5cm 此外，測定係對於由積層體的中央部分與四角的合計5點進行測定，求其平均值。
此外，測定係於得到積層體後立即(200℃熱處理1小時後)與將積層體進行450℃ 1小時的熱處理後(於200℃熱處理1小時後進一步進行450℃熱處理1小時後)進行，將前者當作初期接著強度，將後者當作熱處理後接著強度。
＜起泡缺點之計數＞ 於本實施例中將長徑為300μm以上者當作起泡而計數。起泡亦被稱為浮起缺點或氣泡缺點，為薄膜未接著於基板而氣泡狀地浮起處，大多因夾雜比較硬的異物而薄膜被撐起為帳篷狀所產生。 於本實施例中，將焦點對準於無機基板與高分子薄膜之接著面，將積層體放大觀察，至少對於： G2(370mm×470mm)尺寸積層體以4片 G4.5(730mm×920mm)尺寸積層體以2片 G5(1100mm×1250mm)尺寸積層體以1片 計數長徑300μm以上的起泡之個數，換算成每1平方公尺的個數。
＜氮元素成分比＞ 以ESCA分析從積層體將高分子薄膜90°剝離後的剝離面50mm×50mm之範圍，評價無機基板之剝離面上存在的氮元素之比例。於裝置使用K-Alpha+ (Thermo Fisher Scientific公司製)。測定條件係如以下。此外，於解析時，背景之去除係以雪萊(shirley)法進行。又，表面組成比係設為3處以上的測定結果之平均值。 ・測定條件 激發X射線：單色化Al Kα線 X射線輸出：12kV、6mA 光電子逃逸角度：90° 焦點尺寸(spot size)：400μmϕ 路徑能量(path energy)：50eV 階差(step)：0.1eV
[聚醯胺酸溶液A之調製] 將具備氮氣導入管、溫度計、攪拌棒之反應容器內予以氮氣置換後，於前述反應容器內添加223質量份的5-胺基-2-(對胺基苯基)苯并
Figure 109134047-A0101-12-01
唑(DAMBO)與4416質量份的N,N-二甲基乙醯胺，使其完全溶解。接著，與217質量份的苯均四酸二酐(PMDA)一起，將在二甲基乙醯胺中分散有膠態二氧化矽(平均粒徑：0.08μm)之Snowtex(DMAC-ST30，日產化學工業製)，以膠態二氧化矽相對於聚醯胺酸溶液A中的聚合物固體成分總量成為0.7質量%之方式添加，在25℃之反應溫度下攪拌24小時，得到褐色且黏稠的聚醯胺酸溶液A。
[聚醯亞胺薄膜之製作例1] 使用模塗機，將聚醯胺酸溶液A塗布於經鏡面加工不銹鋼製的循環連續帶上(塗布寬度1240mm)，在90～115℃下乾燥10分鐘。乾燥後將成為自撐性的聚醯胺酸薄膜從支撐體剝離，切割兩端，得到生坯薄膜。 藉由針梳拉幅機，以最終針板間隔成為1140mm之方式搬運所得之生坯薄膜，在第1段以170℃ 2分鐘，在第2段以230℃ 2分鐘，在第3段以465℃ 6分鐘，施予熱處理，使醯亞胺化反應進行。然後，以2分鐘冷卻到室溫為止，以切割機切掉薄膜的兩端部之平面性差的部分，捲繞成捲狀，得到表1中所示的聚醯亞胺薄膜1。
[聚醯亞胺薄膜之製作例2] 除了以完成的聚醯亞胺膜厚成為38μm之方式，改變模塗機之間隙以外，同樣地操作，得到表1中所示的聚醯亞胺薄膜2。
[聚醯亞胺薄膜3] 使用宇部興產製之厚度25μm之聚醯亞胺薄膜Upilex 25S(註冊商標)作為聚醯亞胺薄膜3。
＜積層體之製作＞ (實施例1) 首先，從製造例2所得之聚醯亞胺薄膜1切出370mm×500mm寬。其次，作為薄膜表面處理，使用UV/O3 照射器(LAN TECHNICAL製SKR1102N-03)進行3分鐘UV/O3 的照射。此時UV/O3 燈與薄膜之距離係設為30mm。
使用將示意圖顯示於圖4中之裝置，將含胺基的有矽烷偶合劑透過氣相而塗布於G2尺寸(370mm×470mm、厚度0.7mm的玻璃基板：Nippon Electric Glass公司製OA10G)。 玻璃基板係使用：於純水洗淨、乾燥後，以UV/O3 照射器(LAN TECHNICAL製SKR1102N-03)照射1分鐘照射而乾洗淨者。 將玻璃基板靜置於裝置之腔室內，於容量1L的藥液槽之中，置入130g的3-胺基丙基三甲氧基矽烷(信越化學工業公司製，KBM-903)，將其外側之水浴予以溫熱到42℃，將所產生的矽烷偶合劑蒸氣與潔淨乾空氣一起，以氣體流量22L/min送到腔室，而使玻璃基板暴露於矽烷偶合劑蒸氣中。此時，基板溫度為21℃，潔淨乾空氣之溫度為23℃，濕度為1.2% RH。排氣由於連接至負壓的排氣口，藉由差壓計而確認腔室成為10Pa左右的負壓。
將如此地塗布有含胺基的矽烷偶合劑之玻璃基板，設置於裝有矽橡膠輥的輥層壓機，首先以滴管將100ml的純水當作水性介質並以擴展於基板整體的方式滴下至矽烷偶合劑塗布面，潤濕基板。
其次，將聚醯亞胺薄膜之表面處理面以與玻璃基板的矽烷偶合劑塗布面、即經純水潤濕之面呈對向之方式重疊，從玻璃基板之一側的邊起，一邊依序以旋轉輥擠出聚醯亞胺薄膜與玻璃基板間的純水，一邊進行加壓，而將玻璃基板與聚醯亞胺薄膜層壓，得到暫時的積層體。所使用的層壓機(laminator)係MCK公司製的有效輥寬度1350mm之層壓機，貼合條件係空氣源壓力：0.5MPa、層壓速度：50mm/秒鐘、輥溫度：22℃、環境溫度22度、濕度55% RH。 將所得之暫時的積層體以潔淨烘箱在200℃加熱處理10分鐘，得到本發明中之積層體。對於4片的玻璃基板，實施同樣之操作。 表2中顯示所得之積層體的評價結果。
(實施例2～20、比較例1～4) 以下同樣地以表2～表5中所示的條件製作積層體，評價積層體之特性。表2～表5中顯示結果。此外，表中的簡稱意指以下。 薄膜1：聚醯亞胺薄膜之製作例1所得之聚醯亞胺薄膜 薄膜2：聚醯亞胺薄膜之製作例2所得之聚醯亞胺薄膜 薄膜3：宇部興產公司製聚醯亞胺薄膜Upilex 25S(註冊商標) 玻璃：Nippon Electric Glass公司製OA10G 無機基板尺寸(玻璃尺寸) G2尺寸(370mm×470mm) G4.5尺寸(730mm×920mm) G5尺寸(1100mm×1250mm) SCA塗布：矽烷偶合劑的塗布 SCA塗布時間：矽烷偶合劑的塗布時間 水性介質 純水：超純水 純水+MeOH：純水99/甲醇1(質量比) 純水+EtOH：純水99/乙醇1(質量比)
[表1]
薄膜No. 1 2 3
製作例1 製作例2 宇部興產 Upilex 25S
厚度 μm 12.5 38.0 25.0
薄膜寬度 mm 1160 1160 500
拉伸斷裂強度 MD MPa 446.0 428.0 515.0
TD 438.0 435.0 520.0
拉伸彈性模數 MD GPa 7.3 7.7 9.0
TD 7.2 7.2 9.1
伸度 MD % 32.9 32.8 38.5
TD 35.3 34.7 41.0
線膨脹係數 (CTE) MD ppm/℃ 2.3 2.1 15.4
TD 2.7 2.6 16.8
[表2]
實施例1 實施例2 實施例3 實施例4 實施例5 實施例6
薄膜 薄膜1 薄膜1 薄膜1 薄膜2 薄膜2 薄膜2
無機基板 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃
無機基板尺寸 G2 G2 G2 G2 G2 G2
薄膜表面處理 UV/O3 UV/O3 大氣壓 電漿 UV/O3 大氣壓 電漿 UV/O3
SCA塗布 玻璃側 玻璃側 玻璃側 玻璃側 玻璃側 玻璃側
SCA塗布時間 (min) 3.0 7.0 2.0 2.0 3.0 3.0
惰性液體 純水 純水 純水 純水 純水 純水
初期接著強度 (N/cm) 0.09 0.10 0.11 0.11 0.10 0.11
熱處理後接著強度 (N/cm) 0.10 0.10 0.12 0.12 0.12 0.12
起泡密度 (處/平方公尺) 2.88 4.32 1.44 2.88 2.88 2.88
無機基板剝離面 之氮元素比率 (元素%) 3.3 3.3 2.8 2.7 3.2 3.1
[表3]
實施例7 實施例8 實施例9 實施例10 實施例11 實施例12
薄膜 薄膜1 薄膜1 薄膜1 薄膜2 薄膜2 薄膜3
無機基板 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃
無機基板尺寸 G2 G2 G2 G2 G2 G2
薄膜表面處理 UV/O3 UV/O3 大氣壓 電漿 UV/O3 大氣壓 電漿 UV/O3
SCA塗布 玻璃側 玻璃側 玻璃側 玻璃側 玻璃側 玻璃側
SCA塗布時間 (min) 5.0 10.0 5.0 5.0 5.0 10.0
惰性液體 純水 純水 純水 純水 純水 純水
初期接著強度 (N/cm) 0.15 0.08 0.11 0.09 0.14 0.10
熱處理後 接著強度 (N/cm) 0.17 0.11 0.18 0.14 0.16 0.12
起泡密度 (處/平方公尺) 2.88 4.32 1.44 2.88 2.88 2.88
無機基板剝離面 之氮元素比率 (元素%) 3.48 3.10 3.17 2.93 2.92 3.14
[表4]
實施例13 實施例14 比較例1 比較例2 比較例3 比較例4
薄膜 薄膜1 薄膜1 薄膜1 薄膜1 薄膜2 薄膜3
無機基板 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃
無機基板尺寸 G2 G2 G2 G2 G2 G2
薄膜表面處理 UV/O3 UV/O3 大氣壓 電漿 UV/O3 大氣壓 電漿 UV/O3
SCA塗布 薄膜側 薄膜側 玻璃側 玻璃側 玻璃側 玻璃側
SCA塗布時間 (min) 3.0 7.0 3.0 0.5 3.0 30.0
惰性液體 純水 純水 無 無 無 無
初期接著強度 (N/cm) 0.15 0.13 0.28 0.02 0.38 0.33
熱處理後接著強度(N/cm) 0.17 0.13 0.52 0.03 0.62 0.68
起泡密度 (處/平方公尺) 2.88 4.32 21.6 30.24 18.72 41.76
無機基板剝離面 之氮元素比率 (元素%) 3.33 2.98 3.80 0.04 13.78 24.70
[表5]
實施例15 實施例16 實施例17 實施例18 實施例19 實施例20
薄膜 薄膜2 薄膜2 薄膜1 薄膜2 薄膜1 薄膜2
無機基板 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃 玻璃
無機基板尺寸 G4.5 G4.5 G5 G5 G5 G5
薄膜表面處理 UV/O3 UV/O3 UV/O3 UV/O3 UV/O3 UV/O3
SCA塗布 玻璃側 薄膜 玻璃側 玻璃側 薄膜 薄膜
SCA塗布時間 (min) 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0 5.0
惰性液體 純水 純水+EtOH 純水 純水 純水+MeOH 純水+EtOH
初期接著強度 (N/cm) 0.09 0.11 0.08 0.13 0.16 0.13
熱處理後接著強度(N/cm) 0.11 0.15 0.12 0.14 0.13 0.10
起泡密度 (處/平方公尺) 3.73 2.99 3.64 1.45 2.91 2.18
無機基板剝離面 之氮元素比率 (元素%) 3.38 3.00 3.04 3.31 3.22 3.06
＜應用實施例＞ 使用實施例15所得之積層體，藉由以下之步驟，於聚醯亞胺薄膜上，使用真空蒸鍍法形成鎢膜(膜厚75nm)，進一步在不接觸大氣下，積層形成氧化矽膜(膜厚150nm)作為絕緣膜。接著，以電漿CVD法形成作為基底絕緣膜的氮氧化矽膜(膜厚100nm)，進一步在不接觸大氣下，積層形成非晶矽膜(膜厚54nm)。
接著，去除非晶矽膜的氫元素而促進結晶化，為了形成多晶矽膜，進行40分鐘的500℃之熱處理。 使用所得之多晶矽膜，製作TFT元件。首先，將多晶矽薄膜進行圖案化，形成指定形狀的矽區域，適宜地進行閘極絕緣膜之形成、閘極電極之形成、利用向活性區域的摻雜之源極區域或汲極區域之形成、層間絕緣膜之形成、源極電極及汲極電極之形成、活化處理，製作使用多晶矽的P通道TFT之陣列。 沿著TFT陣列外周之0.5mm左右內側，以UV-YAG雷射燒斷高分子薄膜部，從切縫的端部起，使用薄的剃刀狀之刀刃以挑起的方式進行剝離，得到可撓性A3尺寸的TFT陣列。此時的剝離角度為3度。剝離可以極微力，可不對TFT造成損傷而剝離。所得之可撓性TFT陣列即使捲繞於3mmϕ的圓棒上，也未看到性能劣化，而維持良好的特性。
1:流量計 2:氣體導入口 3:藥液槽(矽烷偶合劑槽) 4:溫水槽(水浴) 5:加熱器 6:處理室(腔室) 7:基材 8:排氣口 10:積層體製造裝置 20:無機基板搬運裝置(輥輸送機) 30:第1洗淨裝置(無機基板洗淨裝置、金屬箔洗淨裝置、第1耐熱高分子薄膜洗淨裝置) 40:塗布裝置 50:水供給裝置 60:第2洗淨裝置(薄膜洗淨裝置、第2耐熱高分子薄膜洗淨裝置) 70:層壓裝置(輥層壓裝置) 80:外觀檢査裝置 100:第1薄片(無機基板、金屬箔、第1耐熱高分子薄膜) 102:第2薄片(耐熱高分子薄膜、第2耐熱高分子薄膜) 104:積層體 400:積層體捲 1000,2000:積層體捲製造裝置
圖1係用於說明第1實施形態之積層體製造裝置之示意圖。 圖2係用於說明第2實施形態之捲積層體製造裝置之示意圖。 圖3係用於說明第3實施形態之耐熱高分子薄膜積層體製造裝置之示意圖。 圖4係在玻璃基板上塗布矽烷偶合劑之裝置之示意圖。
10:積層體製造裝置
20:無機基板搬運裝置
30:第1洗淨裝置
40:塗布裝置
50:水供給裝置
60:第2洗淨裝置
70:層壓裝置
80:外觀檢査裝置
100:第1薄片
102:第2薄片
104:積層體

Claims (9)

  1. 一種積層體製造裝置，其特徵為具備：搬運第1薄片之第1薄片搬運裝置；對於塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面，供給水性介質之水供給裝置；及使供給水性介質後的第1薄片與第2薄片貼合之層壓裝置，該層壓裝置係於已將水性介質供給至塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面的狀態下，貼合第1薄片與第2薄片。
  2. 如請求項1之積層體製造裝置，其具備將矽烷偶合劑塗布至第1薄片之塗布裝置。
  3. 如請求項1之積層體製造裝置，其具備將供給水性介質之前的第1薄片予以洗淨之第1洗淨裝置。
  4. 如請求項1至3中任一項之積層體製造裝置，其具備將供給水性介質之前的第2薄片予以洗淨之第2洗淨裝置。
  5. 一種積層體之製造方法，其係具有第1薄片與第2薄片的積層體之製造方法，其特徵為具有：對於塗布有矽烷偶合劑的第1薄片之表面及/或塗布有矽烷偶合劑的第2薄片之表面，供給水性介質之步驟A；及使供給水性介質之後的第1薄片與第2薄片貼合之步驟B，該步驟B乃係將水性介質一邊從接著面朝外擠出，一邊進行層壓之步驟。
  6. 如請求項5之積層體之製造方法，其中於該步驟A之前，具有將矽烷偶合劑塗布至第1薄片之步驟X-1。
  7. 如請求項6之積層體之製造方法，其中於該步驟A之前，具有洗淨第1薄片之步驟X-2。
  8. 如請求項5之積層體之製造方法，其中於該步驟A之前，具有洗淨第2薄片之步驟X-3。
  9. 如請求項5至8中任一項之積層體之製造方法，其中於該步驟B之後，具有檢查經貼合的第1薄片與第2薄片之積層體的外觀之步驟X-4。
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