TWI776422B - 多名稱空間測試系統及方法 - Google Patents

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Abstract

所呈現實施例促進一測試系統中不同類型之測試程序之高效且有效的靈活實施。在一個實施例中，一種多名稱空間測試系統包含一負載板、測試電子元件及一名稱空間測試追蹤器。該負載板經組配以與多個受測裝置(DUT)耦接。該等測試電子元件經組配以測試該多個DUT，其中該等測試電子元件耦接至該負載板。該控制器經組配以至少部分並行地指導遍及該多個DUT進行多名稱空間之測試。該控制器可耦接至該等測試電子元件。該名稱空間測試追蹤器經組配以追蹤該多個DUT之測試，包括遍及該多個DUT至少部分並行地進行的該等多名稱空間之該測試。在一個實施例中，該等DUT係NVMe SSD裝置。

Description

多名稱空間測試系統及方法
發明領域
此申請案主張於2020年3月31日提申題為多名稱空間測試系統及方法(Multiple-Name-Space Test Systems and Methods) (代理人案號為ATSY-0083)之臨時申請案63/002,998之權益及優先權，該申請案以引用之方式併入本文中。
本發明係關於電子測試之領域。
發明背景
電子系統及裝置已對現代社會之發展作出顯著貢獻且已促進多種商業、科學、教育及娛樂應用中分析及傳送資訊方面的生產力增加及成本減少。習知測試系統及方法通常具有各種限制。
傳統電子裝置(例如，記憶體裝置、資料儲存組件、固態硬碟(SSD)等)之每一驅動器可具有任何數目個名稱空間(例如，與分區相關聯等)。舉例而言，資料儲存驅動器可具有100,000個名稱空間。在傳統測試系統中，通常每一受測裝置每次僅可測試一個名稱空間(例如，電子裝置、SSD、資料儲存驅動器等)。此導致整體測試速度極慢。
發明概要
所呈現實施例促進測試系統中不同類型之測試程序之高效且有效的靈活實施。在一個實施例中，一種多名稱空間測試系統包含負載板、測試電子元件及名稱空間測試追蹤器。該負載板經組配以與多個受測裝置(DUT)耦接。該等測試電子元件經組配以測試多個DUT，其中該等測試電子元件耦接至負載板。該控制器經組配以至少部分並行地指導遍及多個DUT進行多名稱空間之測試。該控制器可耦接至測試電子元件。該名稱空間測試追蹤器經組配以追蹤多個DUT之測試，包括遍及多個DUT進行的多名稱空間之測試。在一個實施例中，DUT係非高速依電性記憶體(NVMe)固態硬碟(SSD)裝置。
在一個實施例中，控制器可處理使用者引入之測試要求。該等要求可包括一名稱空間將藉由加速特徵(例如，全加速、硬體加速、現場可規劃閘陣列(FPGA)加速等)測試之使用者指示及另一名稱空間正常地測試之指示。控制器可並行地指導名稱空間測試之集合。多名稱空間(例如，128、512等)可遍及多個裝置被並行地測試。在一個例示性實現方式中，至多128個裝置至少部分同時進行測試。控制器可經組配以處理進一步使對測試之追蹤及管理複雜化的使用者引入之測試要求。名稱空間測試追蹤器每次可追蹤及管理每一DUT之多名稱空間之測試。
應瞭解，多名稱空間測試系統及方法可包括輔助測試之人工智慧。在一個實施例中，一種多名稱空間測試系統包含負載板、測試電子元件、控制器及包括智慧之名稱空間測試追蹤器。該名稱空間測試追蹤器經組配以追蹤多個DUT之測試，包括遍及多個DUT至少部分並行地進行的多名稱空間之測試。在一個實施例中，名稱空間測試追蹤器包括經組配以基於各種因素選擇名稱空間以用於測試之智慧，該等因素包括名稱空間之特性及測試設備/電子元件之測試特徵的應用。
在一個實施例中，一種多名稱空間測試方法包含：組配測試電子元件以測試多個DUT，其中該等測試電子元件耦接至負載板；至少部分並行地指導遍及多個DUT進行多名稱空間之測試；以及追蹤多個DUT之測試。追蹤測試可包括至少部分並行地追蹤遍及多個DUT進行的多名稱空間之測試。
在一個實施例中，指導包括基於名稱空間特性(例如，扇區大小、保護資訊等)之差異進行測試控制。在一個例示性實現方式中，指導包括將測試設備/電子元件之測試特徵應用於受測裝置(例如，正常測試、全面加速等)。指導可包括至少部分並行或同時指導名稱空間測試集合。可遍及多個裝置並行地測試多名稱空間。
在一個實施例中，處理使用者引入之測試要求，包括一名稱空間將藉由全FPGA硬體加速測試而另一名稱空間將正常地測試之指示。可處理進一步使對測試之追蹤及管理複雜化的使用者引入之測試要求。在一個實施例中，總測試時間被壓縮。
較佳實施例之詳細說明
現將詳細參考本發明之較佳實施例，其實例示出於隨附圖式中。雖然本發明將結合較佳實施例進行描述，但應理解，其並不意欲將本發明限於此等實施例。相反，本發明意欲涵蓋可包括於如由隨附請求項所界定之本發明之精神及範圍內的替代例、修改及等效物。此外，在本發明之以下詳細描述中，闡述眾多特定細節以提供對本發明之透徹理解。然而，一般熟習此項技術者將顯而易見的是，可在無此等特定細節之情況下實踐本發明。在其他情況下，未詳細描述熟知之方法、程序、組件及電路，以免不必要地混淆本發明之態樣。
所呈現實施例使得在多個裝置上進行具有多個名稱空間之受測裝置(DUT)之高效且有效的測試成為現實。在一個實施例中，DUT係儲存裝置。多名稱空間測試系統及方法可至少部分同時或並行地測試DUT。多個名稱空間(例如，4個、8個、24個等)可遍及多個裝置被並行地測試。在一個例示性實現方式中，可存在許多(例如，至多128個、192個等)同時測試之裝置。在一個實施例中，多名稱空間測試系統及方法每次可追蹤及管理每一驅動器之多名稱空間之測試。在一個例示性實現方式中，多名稱空間測試系統及方法可處理進一步使對測試之追蹤及管理複雜化的使用者引入之測試要求。
圖1係根據一個實施例之例示性測試環境或系統100之方塊圖。測試環境或系統100包括受測裝置(DUT) (例如，110、111、112等)、測試或負載板120、測試設備130及使用者測試介面140。DUT (例如，110、111、112等)耦接至測試負載板120，該測試負載板耦接至測試設備130，該測試設備又耦接至CPU 141。在一個實施例中，測試負載板120包括主要或持久性測試介面121及邊帶介面122，負載板120經組配以將DUT以電氣及物理方式耦接至測試設備130。測試設備130指導且控制DUT之測試，且包括經指派至各別DUT之資源。在一個例示性實現方式中，資源作為主要測試資源131及邊帶資源132經指派至DUT 110。測試設備130可包括現場可規劃閘陣列(FPGA)。在一個實施例中，測試各種資訊(例如，測試結果、初步分析結果、重新組配之測試資訊、測試方向等)在測試設備130與使用者測試介面140之間傳送。使用者測試介面140包括處理單元141、記憶體142及顯示器143。記憶體142可儲存測試相關資訊，處理單元141可處理該資訊，且顯示器143可顯示該資訊。
圖2係根據一個實施例之例示性多名稱空間測試系統200之方塊圖。多名稱空間測試系統200包括耦接至多個受測裝置(例如，DUT 230、DUT 240、DUT 290等)之測試設備210。在一個實施例中，測試系統200類似於測試環境系統100。測試設備210包括經組配以控制多個DUT之測試的測試控制器220。測試控制器220包括名稱空間測試追蹤器及控制器221，其經組配以基於名稱空間追蹤名稱空間資訊並控制測試。在一個實施例中，名稱空間測試追蹤器及控制器221經組配以基於名稱空間追蹤名稱空間測試結果。多個受測裝置(例如，DUT 230、DUT 240、DUT 290等)可為固態裝置(SSD)。在一個例示性實現方式中，多個受測裝置(例如，DUT 230、DUT 240、DUT 290等)可包括高速非依電性記憶體相容子系統。DUT 230包括多名稱空間(例如，名稱空間231、232、239等)。DUT 240包括多名稱空間(例如，名稱空間241、242、249等)。DUT 250包括多名稱空間(例如，名稱空間251、252、259等)。
在例示性實現方式中，名稱空間測試追蹤器及控制器221追蹤並控制測試名稱空間之次序。名稱空間可以非連續次序進行測試。可以基於使用者輸入之次序測試名稱空間。在例示性實現方式中，名稱空間測試追蹤器及控制器221追蹤並控制名稱空間之測試並確保DUT中所有名稱空間經測試。
在一個實施例中，並行地測試名稱空間集合。多個名稱空間(例如，4個、8個、24個等)可遍及多個裝置被並行地測試。在一個例示性實現方式中，4個名稱空間在第一組或集合中並行地測試，且隨後另外4個名稱空間在第二組或集合中測試，以此類推。可以循環方式測試該等組。多名稱空間測試系統及方法可應對指示一名稱空間將藉由全FPGA硬體加速測試且同時另一名稱空間正常地測試的使用者。
在一個實施例中，名稱空間經指派至測試設備區段。測試設備可具有多個區段(例如4個區段、8個區段等)。在一個例示性實現方式中，測試設備區段由單個控制組件控制。控制組件可經組配以處理大量DUT (例如，16個、24個等)之測試。在一個實施例中，可同時或實質上並行地測試16個NVMe裝置。DUT可包括大量名稱空間(例如，256個、1,000個等)。在一個例示性實現方式中，DUT所具有之名稱空間可多達256個。該組配可針對各種測試功能/任務。來自DUT之大量中斷(例如，512次、1,024次等)可經平衡。在一個例示性實現方式中，平衡可基於DUT之活動、可用的CPU核心之數目(例如，64個、128個等)等進行。在一個例示性實現方式中，來自16個DUT之多達512個中斷基於16個DUT之活動及至多64個處理核心之可用性而平衡。可在短測試時間內處理大量DUT之通電、列舉及斷電。在一個例示性實現方式中，相較於傳統測試時間，測試時間縮短10倍。控制組件可管理工作佇列且避免死鎖。持久性名稱空間資源可經預先分配以在通電期間快速啟動DUT且在斷電期間去啟動DUT。在一個例示性實現方式中，相較於傳統測試時間，DUT啟動時間縮短100倍。
在一個實施例中，控制組件包括單個軟體個例。軟體個例可為單個LINUX個例。LINUX軟體可經特定組配以執行控制組件功能。在一個例示性實現方式中，持久性名稱空間軟體資源經預先分配。
在一個實施例中，多名稱空間測試系統及方法亦實現針對名稱空間特性(不同扇區大小、不同保護資訊等)之眾多差異進行高效且有效的測試控制。
在一個實施例中，可將額外智慧引入至名稱空間追蹤及測試管理。智慧可涉及在名稱空間追蹤及測試管理期間實施更多自動參與(例如，選擇名稱空間測試次序、選擇測試設備特徵以供利用等)。智慧選擇可包括各種因素之考量，該等因素包括名稱空間之特性(不同扇區大小、不同保護資訊等)及測試設備特徵(例如，正常測試、全面加速等)等。在一個實施例中，智慧選擇可包括在名稱空間之特性與測試設備特徵之間產生相關性，且相應地指導測試之控制。在一個例示性實現方式中，對應於大小或量較大之記憶體的名稱空間之測試經指派以由測試設備之硬體加速測試特徵測試，且對應於大小或量較小之記憶體的另一名稱空間經指派以由測試設備之普通測試特徵測試。
圖3係根據一個實施例之例示性多名稱空間測試方法之方塊圖。
在區塊310中，測試電子元件經組配以測試多個DUT，其中該等測試電子元件耦接至負載板。DUT可為NVMe SSD裝置。
在區塊320中，至少部分並行地指導且控制遍及多個DUT進行的多名稱空間之測試。在一個實施例中，指導包括控制名稱空間特性(例如，扇區大小、保護資訊等)之差異。在一個例示性實現方式中，指導包括將測試特徵(例如正常測試、全面加速等)應用於裝置等。指導可包括並行地指導名稱空間測試之集合。可遍及多個裝置並行地測試多名稱空間。
在一個實施例中，處理使用者引入之測試要求，包括名稱空間將藉由全FPGA硬體加速測試而另一名稱空間將正常地測試之指示。可處理進一步使對測試之追蹤及管理複雜化的使用者引入之測試要求。
在區塊330中，追蹤多個DUT之測試。在一個實施例中，追蹤遍及多個DUT進行的多名稱空間之測試。在一個例示性實現方式中，總測試時間被壓縮。
在一個實施例中，多名稱空間測試系統及方法可實施於類似於圖4、圖5及圖6中所展示之實施例的測試系統中。
圖4係根據一個實施例之例示性測試系統500之方塊圖。測試系統500包括電子元件隔室510及測試器電子元件520、負載板530、DUT 570及具有門591之測試室590。電子元件隔室510包括控制器511及環境隔室512。
應瞭解，可選測試系統及方法可實施於各種測試系統組配或方法中。圖5係根據一個實施例之例示性測試系統之方塊圖。其由含有烘箱托架10以及加熱及冷卻元件11之大型受控環境室或烘箱71組成。烘箱托架10含有在多個負載板托盤31、32、33、34、41、42、43及44中之受測裝置(DUT)。環境測試室71具有圍封測試托架10之實心壁及實心門72。加熱及冷卻元件11可具有寬溫度範圍(例如，-10至120攝氏度)。測試器或測試頭81含有各種架裝式組件，包括系統控制器網路交換器52、系統電源組件53及測試器片層50 (該測試器片層含有測試器電子元件)。負載板托盤(例如，30、31等)連接至測試器片層50 (多個負載板托盤可耦接至單個測試器片層)。亦存在測試器托盤30及受測裝置(例如，91、92等)之方塊圖。手動地用受測裝置填充負載板托盤。將完整測試器托盤(例如，30、31等)經手動地***至環境室71中且手動地連接至測試器電子元件(例如，50、52、53等)。此製程可為勞動密集且繁瑣的(例如，該製程需要打開環境室71之門72及人工地嘗試使托盤通過門72***至適當位置中)。
在一個實施例中，一種測試系統包括控制測試操作之裝置介面板及測試器電子元件。測試器電子元件可位於殼體中，其一起被稱作基元。裝置介面板具有允許實體操縱受測裝置(例如，手動操縱、機器操縱等)的受測裝置存取介面。受測裝置可在對另一受測裝置之測試操作產生極少或無干擾或影響的情況下獨立地實體操控。裝置介面板及其負載板可方便地設置以適應不同裝置外觀尺寸。在一個實施例中，負載板組配有受測裝置介面及普遍基元介面。在一個例示性實現方式中，裝置介面板可控制受測裝置之周圍環境。
圖6係根據一個實施例之例示性測試系統800之方塊圖。測試系統800包括測試基元890 (例如，含有用於受測裝置之測試控制硬體及電源組件等)及安置於基元890前且耦接至該基元之裝置介面板810。在一個實施例中，裝置介面板810係部分殼體。負載板亦耦接至基元890且與該基元電連接以獲得電力及高速電信號從而用於測試受測裝置820。裝置介面板可包括允許氣流流向及流出受測裝置環境之氣流通道844。氣流通道844可包括擋板。裝置介面板810之部分殼體包括實現對受測裝置之容易實體存取(例如，不受阻、無障礙等)的受測裝置存取介面870。環境控制組件811及814控制及維持受測裝置周圍環境條件(例如，溫度、氣流速率等)。環境控制組件可建立防止或減輕外部環境條件對受測裝置之操作的干擾的環境包絡。雖然對測試系統800之存取可比測試系統700更容易，但測試系統組配適配器實現補充操作及功能測試二者，該等補充操作及功能測試仍提供與無需昂貴且耗時之單獨測試系統之間的DUT的多次移動相關聯之益處(不同於習知測試方法)。
雖然本發明已結合較佳實施例進行描述，但應理解，其並不意欲將本發明限於此等實施例。相反，本發明意欲涵蓋替代例、修改及等效物。本說明書並不意欲為窮盡性的或將本發明限於所揭示之精確形式，且顯然，許多修改及變化係可能的。
因此，多名稱空間測試系統及方法可允許更多裝置並行地測試。多名稱空間測試系統及方法允許在多個裝置中實質上並行地測試許多名稱空間。在一個實施例中，與習知方法相比，可至少部分同時或並行地測試裝置(例如，儲存裝置、記憶體裝置、NVMe SSD等)中之較大數目個名稱空間，藉此增加通量。多名稱空間測試系統及方法可壓縮總測試時間，其促進成本降低。其亦可允許測試條件更加接近於實際條件(例如，大資料中心條件等)。
已根據對計算機記憶體內之資料位元進行之操作的程序、邏輯塊、處理及其他符號表示來呈現詳細描述之一些部分。此等描述及表示為熟習資料處理技術者通常用以將其工作實質有效地傳達給其他熟習此項技術者之方法。程序、邏輯塊或過程在此處且通常構想為產生所要結果的步驟或指令之自相容序列。步驟包括實體量之實體操控。通常(但未必)，此等實體量呈能夠儲存、傳送、組合、比較及以其他方式操縱於電腦系統中的電、磁性、光學或量子信號的形式。主要出於常用之原因，已證實有時將此等信號稱作位元、值、元素、符號、字元、項、數字或其類似者係便利的。
然而，應牢記，所有此等術語及類似術語與適當實體量相關聯，且僅為應用於此等量之便利標記。除非明確地陳述，否則如自論述顯而易見，應瞭解，在本申請案中，利用諸如「處理」、「運算」、「計算」、「確定」、「顯示」或其類似者之術語的論述指操縱及變換表示為實體(例如，電子)量之資料的計算機系統或類似處理裝置(例如電、光學或量子計算裝置)的動作以及處理程序。術語指操縱或將計算機系統之組件(例如，暫存器、記憶體、其他此等資訊儲存、傳輸或顯示裝置等)內的實體量變換成類似地表示為其他組件內的實體量的其他資料之處理裝置的動作及處理。
應瞭解，本發明之實施例可與多種不同類型的有形記憶體或儲存器(例如，RAM、DRAM、快閃記憶體、硬驅動器、CD、DVD等)相容且藉由其實施。雖然能夠被改變或重寫，但記憶體或儲存器可被視為非暫時性儲存媒體。藉由指示非暫時性儲存媒體，但其並不意欲限制媒體之特性且可包括多種儲存媒體(例如，可程式化、可抹除、不可程式化、讀取/寫入、唯讀等)，且「非暫時性」計算機可讀媒體包含所有計算機可讀媒體，其中唯一例外狀況係暫時性傳播信號。
應瞭解，本說明書包括與新穎方法相關聯之例示性概念或實施例。亦應瞭解，列舉並非窮盡性的且未必包括所有可能實現方式。概念及實施例可實施於硬體、韌體、軟體等中。在一個實施例中，方法或處理描述由各種處理組件或單元執行之操作。在一個例示性實現方式中，與方法、處理、操作等相關聯之指令或指導可儲存於記憶體中且使處理器實施操作、功能、動作等。
已出於說明及描述之目的呈現本發明之特定實施例的前述描述。其並不意欲為窮盡性的或將本發明限於所揭示之精確形式，且顯然鑒於以上教示，許多修改及變化係可能的。選擇及描述實施例以最佳地解釋本發明之原理及其實際應用，藉此使得熟習此項技術者能夠在具有適合於所涵蓋之特定用途的各種修改的情況下最佳地利用本發明及各種實施例。本發明之範圍意欲由隨附在此之請求項及其等效物界定。除非在申請專利範圍中明確地陳述，否則方法請求項內之步驟的列舉並不暗示執行步驟之任何特定次序。
10:烘箱托架/測試托架 11:加熱及冷卻元件 30,31:負載板托盤/測試器托盤 32,33,34,41,42,43,44:負載板托盤 50:測試器電子元件/測試器片層 52:系統控制器網路交換器/測試器電子元件 53:系統電源組件/測試器電子元件 71:大型受控環境室或烘箱/環境測試室/環境室 72:實心壁及實心門/門 81:測試器或測試頭 91,92,110,111,112,820:受測裝置 100:測試環境或系統/測試環境系統 120:測試或負載板/測試負載板 121:主要或持久性測試介面 122:邊帶介面 130,210:測試設備 131:主要測試資源 132:邊帶資源 140:使用者測試介面 141:CPU/處理單元 142:記憶體 143:顯示器 200:多名稱空間測試系統/測試系統 220:測試控制器 221:名稱空間測試追蹤器及控制器 230,240,250,290,570,770:DUT 231,232,233,239,241,242,243,249,251,252,253,259:名稱空間 310,320,330:區塊 500,700,800:測試系統 510,710:電子元件隔室 511,711:控制器 512:環境隔室 520,720:測試器電子元件 530,730:負載板 590:測試室 591,791:門 712:環境組件 790:室腔 810:裝置介面板 811,814:環境控制組件 844:氣流通道 870:受測裝置存取介面 890:基元/測試基元
併入於本說明書中且形成其一部分之隨附圖式經包括以用於對本發明之原理的例示性說明，且並不意欲將本發明限於其中所說明之特定實現方式。除非另外明確地指示，否則圖式並不按比例繪製。
圖1係根據一個實施例之例示性測試環境或系統之方塊圖。
圖2係根據一個實施例之例示性多名稱空間測試系統之方塊圖。
圖3係根據一個實施例之例示性多名稱空間測試方法之流程圖。
圖4係根據一個實施例之例示性測試系統之方塊圖。
圖5係根據一個實施例之例示性測試系統之方塊圖。
圖6係根據一個實施例之例示性測試系統之方塊圖。
700:測試系統
710:電子元件隔室
711:控制器
712:環境組件
720:測試器電子元件
730:負載板
770:DUT
790:室腔
791:門

Claims (20)

  1. 一種多名稱空間測試系統，其包含：一負載板，其經組配以與多個受測裝置(DUT)耦接；測試電子元件，其經組配以測試該等多個DUT，其中該等測試電子元件耦接至該負載板；一控制器，其經組配以至少部分並行地指導遍及該等多個DUT的多名稱空間之測試，其中該等多名稱空間係位於該等多個DUT中，並且其中，該控制器耦接至該等測試電子元件；以及一名稱空間測試追蹤器，其經組配以追蹤該等多個DUT之測試，包括至少部分並行地追蹤遍及該等多個DUT的該等多名稱空間之該測試。
  2. 如請求項1之多名稱空間測試系統，其中該等DUT係高速非依電性記憶體(NVMe)固態硬碟(SSD)裝置。
  3. 如請求項1之多名稱空間測試系統，其中該控制器處理使用者引入之測試要求，包括指示將以全現場可規劃閘陣列(FPGA)硬體加速來測試一名稱空間且指示將正常地測試另一名稱空間。
  4. 如請求項1之多名稱空間測試系統，其中該控制器指導並行測試的名稱空間之集合。
  5. 如請求項1之多名稱空間測試系統，其中多名稱空間係遍及多個裝置被並行地測試。
  6. 如請求項1之多名稱空間測試系統，其中至多128個裝置至少部分同時地被測試。
  7. 如請求項1之多名稱空間測試系統，其中該名稱空間測試追蹤器可每次對每DUT追蹤及管理多名稱空間之測試。
  8. 如請求項1之多名稱空間測試系統，其中該控制器經組配以 處理使對該測試之追蹤及管理進一步複雜化的使用者引入之測試要求。
  9. 一種多名稱空間測試系統，其包含：一負載板，其經組配以與多個受測裝置(DUT)耦接；測試電子元件，其經組配以測試該等多個DUT，其中該等測試電子元件耦接至該負載板；一控制器，其經組配以至少部分並行地指導遍及該等多個DUT的多名稱空間之測試，其中指導該測試包括基於該等DUT之活動及可用於測試操作的處理核心之數目而平衡來自該等DUT之中斷，其中該等多名稱空間係位於該等多個DUT中，並且其中針對該等多個DUT，預先分配持久性名稱空間資源分別地用於作為開機之部分的啟動以及作為關機之部分的停用；以及一名稱空間測試追蹤器，其經組配以追蹤該等多個DUT之測試，包括至少部分並行地追蹤遍及該等多個DUT的該等多名稱空間之該測試，其中該名稱空間測試追蹤器包括經組配以基於各種因素選擇用於測試的名稱空間之智能，該等因素包括該等名稱空間之特性及測試電子元件之測試特徵的應用。
  10. 一種多名稱空間測試方法，其包含：組配測試電子元件以測試多個受測裝置(DUT)，其中該等測試電子元件耦接至負載板；至少部分並行地指導遍及該多個DUT的多名稱空間之測試，其中該等多名稱空間係位於該等多個DUT中；以及追蹤該等多個DUT之測試，包括至少部分並行地追蹤遍及該等多個DUT的該等多名稱空間之該測試。
  11. 如請求項10之多名稱空間測試方法，其中該等DUT係NVMeSSD裝置。
  12. 如請求項10之多名稱空間測試方法，其進一步包含處理使用 者引入之測試要求，包括指示將以全FPGA硬體加速來測試一名稱空間，而正常地測試另一名稱空間。
  13. 如請求項10之多名稱空間測試方法，其中該指導包括基於名稱空間特性之差異進行測試控制。
  14. 如請求項10之多名稱空間測試方法，其中該指導包括對扇區大小之差異的控制。
  15. 如請求項10之多名稱空間測試方法，其中該指導包括對保護資訊之差異的控制。
  16. 如請求項10之多名稱空間測試系統，其中該指導包括指導並行測試的名稱空間之集合。
  17. 如請求項10之多名稱空間測試系統，其中多名稱空間係遍及多個裝置被並行地測試。
  18. 如請求項10之多名稱空間測試系統，其中總測試時間被壓縮。
  19. 如請求項10之多名稱空間測試系統，其中指導包括將該等測試電子元件之測試特徵應用於該等DUT。
  20. 如請求項10之多名稱空間測試系統，其進一步包含處理使對該測試之追蹤及管理進一步複雜化的使用者引入之測試要求。
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