TWI743547B - 玻璃測試方法 - Google Patents
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Abstract
本發明公開一種玻璃測試方法及玻璃測試設備,所述玻璃測試設備包括玻璃載台、紫外線發射器、及光接收器。玻璃載台包含有用來承載玻璃的檢測區域。所述紫外線發射器能朝向檢測區域發出紫外光線,並且所述紫外光線能於所述玻璃內消散。所述光接收器位於所述玻璃載台的上方,並且所述光接收器用來接收由所述紫外線發射器發出並經附著物所反射的紫外光線。
Description
本發明涉及一種玻璃測試設備,尤其涉及一種玻璃測試方法及玻璃測試設備。
現有的玻璃測試設備皆是以長波長(如:波長介於620奈米~750奈米的紅光)投射於玻璃(如:對於650奈米左右的穿透率僅有50%)的待測面上,而後再以接收器接收經由所述待測面反射的長波長的光線。然而,現有玻璃測試設備能夠被使用是基於玻璃會阻隔長波長的光線的原理,所以接收器不會接收到所述玻璃的非待測面所反射的光線。
據此,現有玻璃測試設備所適用的檢測物件已然受限於其既定的結構設計,因而難以應用在日新月異的檢測需求上。舉例來說,當現有玻璃測試設備用來偵測一高穿透率玻璃(如:對於410奈米~810奈米的穿透率為至少90%)時,所述接收器也會接收到上述玻璃的非待測面所反射的長波長的光線,進而影響偵測結果。
於是,本發明人認為上述缺陷可改善,乃特潛心研究並配合科學原理的運用,終於提出一種設計合理且有效改善上述缺陷的本發明。
本發明實施例在於提供一種玻璃測試方法及玻璃測試設備,其
能有效地改善現有玻璃測試設備所可能產生的缺陷。
本發明實施例公開一種玻璃測試方法,包括:一前置步驟:提供至少一個玻璃及一玻璃測試設備;一置件步驟:將至少一個所述玻璃設置於所述玻璃測試設備的一玻璃載台的一檢測區域上;其中,遠離所述玻璃載台的至少一個所述玻璃的一表面定義為一待偵測面;一照射步驟:以所述玻璃測試設備的一紫外線發射器朝向所述檢測區域發出一紫外光線,以使一部分所述紫外光線照射位於所述待偵測面上的附著物而被反射,並且另一部分所述紫外光線入射於所述玻璃且消散於所述玻璃內;以及一接收步驟:以一光接收器來接收被所述附著物所反射的部分所述紫外光線。
本發明實施例也公開一種玻璃測試設備,用於偵測一玻璃上的附著物,所述玻璃測試設備包括:一玻璃載台,包含有一承載面,並且所述承載面定義有用來承載所述玻璃的一檢測區域;一紫外線發射器,位於所述承載面的上方,並且所述紫外線發射器能朝向所述檢測區域發出一紫外光線;其中,所述紫外線發射器所發出的所述紫外光線能於所述玻璃內消散;以及一光接收器,位於所述承載面的上方,並且所述光接收器用來接收由所述紫外線發射器發出並經所述附著物所反射的紫外光線。
綜上所述,本發明實施例所公開的玻璃測試方法及玻璃測試設備,其能通過經所述紫外線發射器發出且入射於玻璃的紫外光線消散於玻璃內,據以有別於現有玻璃測試設備、並能有效地偵測玻璃上的附著物(也就是說,所述紫外線發射器所發出的紫外光線不會照射至所述玻璃的非待測面)。
為能更進一步瞭解本發明的特徵及技術內容,請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖,但是此等說明與附圖僅用來說明本發明,而非對本發明的保護範圍作任何的限制。
100:玻璃測試設備
1:玻璃載台
11:承載面
12:檢測區域
2:紫外線發射器
3:光接收器
200:玻璃
201:玻璃本體
202:抗反射層
203:抗紅外線層
204:待偵測面
300:附著物
400:承載板
401:藍色黏接膜
UV:紫外光線
C:中心光軸
P:中心軸
α:夾角
L:被附著物所反射的部份紫外光線
S110:前置步驟
S120:置件步驟
S130:照射步驟
S140:接收步驟
圖1為本發明實施例的玻璃測試設備的示意圖。
圖2為圖1的玻璃測試設備用於偵測玻璃的示意圖。
圖3為本發明實施例的玻璃測試方法的流程示意圖。
圖4為本發明實施例的玻璃測試方法的前置步驟示意圖。
圖5為本發明實施例的玻璃測試方法的置件步驟示意圖。
圖6為本發明實施例的玻璃測試方法的照射步驟示意圖。
圖7為本發明實施例的玻璃測試方法的接收步驟示意圖。
請參閱圖1至圖7所示,其為本發明的實施例,需先說明的是,本實施例對應附圖所提及的相關數量與外型,僅用來具體地說明本發明的實施方式,以便於了解本發明的內容,而非用來侷限本發明的保護範圍。
本實施例公開一種玻璃測試方法及玻璃測試設備,並且上述玻璃測試設備100是限定用於偵測一玻璃200上的附著物300,玻璃200的成分包含有二氧化矽(SiO2),而上述附著物300也就是指玻璃200上的髒汙(如:有機物或是無機物),本發明在此不加以限制。換個角度來說,非用來偵測成分包含二氧化矽的玻璃200的任何測試設備並不等同於本實施例所指的玻璃測試設備100。
其中,所述玻璃200於本實施例中是指對應波長介於410奈米~810奈米的光線具有至少90%穿透率的高穿透率玻璃。其中,所述玻璃200於本實施例中包含有一玻璃本體201、及分別形成(或鍍設)於所述玻璃本體201相反兩個表面的一抗紅外線層203與一抗反射層202,但於本發明未繪示的其
他實施例中,所述玻璃200也可以是僅在所述玻璃本體201的其中一個表面上形成有所述抗紅外線層203與抗反射層202的其中之一。
然而,本發明的玻璃200並不受限於本實施例所載的高穿透率玻璃。舉例來說,在本發明未繪示的其他實施例中,所述玻璃200也可以非為高穿透率玻璃;也就是說,所述玻璃200可以僅包含有玻璃本體201、但未在玻璃本體201鍍設有上述抗紅外線層203與抗反射層202。
需先說明的是,為便於理解本實施例的玻璃測試方法,以下先介紹所述玻璃測試設備100,而後再接著說明使用上述玻璃測試設備100的玻璃測試方法,但本發明不受限於此。舉例來說,在本發明未繪示的其他實施例中,所述玻璃測試方法也可以是使用其他玻璃測試設備。
[玻璃測試設備]
如圖1和圖2所示,所述玻璃測試設備100包含有一玻璃載台1、位於所述玻璃載台1上方的一紫外線發射器2、位於所述玻璃載台1上方的一光接收器3。需說明的是,所述紫外線發射器2與光接收器3可以是通過支架(圖未示)而設置在玻璃載台1上方,但本發明不以此為限。
所述玻璃載台1包含有一承載面11,並且所述承載面11較佳是呈不透光狀並平行於水平面,但本發明不受限於此。其中,所述承載面11定義有用來承載上述玻璃200的一檢測區域12;也就是說,所述承載面11的檢測區域12位置將會相關於上述紫外線發射器2與光接收器3的設置位置。
所述光接收器3位於所述承載面11的上方,並且所述光接收器3能用來接收由所述紫外線發射器2發出並經所述附著物300所反射的紫外光線L。再者,所述紫外線發射器2與光接收器3之間的相對位置關係,其可以依據下述條件進行設置:所述紫外線發射器2定義有一中心光軸C(相當於,所述紫外光線UV的中心線),所述光接收器3定義有垂直於所述檢測區域12的一
中心軸P,並且所述中心光軸C與所述中心軸P相夾形成有小於90度的一夾角α。
其中,所述夾角α於本實施例中是以大致30度為例,據以利於縮小化所述玻璃測試設備100,但本發明不以此為限。換個角度來看,所述光接收器3於本實施例中是位於所述承載面11的正上方,並且所述光接收器是設置在上述檢測區域12的正上方。此外,在本發明未繪示的其他實施例中,所述光接收器3也可以是設置於所述紫外光線UV相對於所述檢測區域的一光反射區域之內。
此外,所述夾角α也可以依據設計需求而加以變化,例如:在本發明未繪示的其他實施例中,所述α可以大於30度但小於90度,據以延長紫外光線UV於玻璃200內的路徑長度,進而更為有效地使所述紫外光線UV消散於玻璃200內。
需額外說明的是,有關於「紫外光線UV入射於所述玻璃200且消散於內」於本實施例中是指:紫外光線UV入射於所述玻璃200之後,就不會影響所述光接收器3的偵測結果。舉例來說:(1)紫外光線UV可能是入射於玻璃200,但在抵達玻璃200的底面(也就是,非偵測面)之前,已然消散於玻璃200內;(2)紫外光線UV可能是入射於玻璃200,並抵達玻璃200的底面(也就是,非偵測面)之後,被玻璃200的底面反射而消散於玻璃200內;或(3)紫外光線UV可能是入射於玻璃200,且被玻璃200的底面反射之後,殘餘且未消散的紫外光線UV又僅以其部分穿出玻璃200(因為有部分會產生全反射),所以上述穿出玻璃200的紫外光線UV已然極其微弱,難以影響所述光接收器3的偵測結果。
[玻璃測試方法]
如圖3至圖7所示,所述玻璃測試方法於本實施例中包含有一前
置步驟S110、一置件步驟S120、一照射步驟S130、及一接收步驟S140。其中,上述各個步驟的排序及其細部實施方式可以依據設計需求而加以調整變化,本發明不以此為限。需先說明的是,先前以說明的相關內容(如:玻璃200、附著物300、及玻璃測試設備100),不再於以下說明中複述。
所述前置步驟S110:如圖4所示,提供至少一個所述玻璃200及所述玻璃測試設備100(如:圖1)。其中,至少一個所述玻璃200的數量於本實施例中為多個,並且多個所述玻璃200黏貼於一承載板400上。進一步地說,所述承載板400包含有一藍色黏接膜401,並且多個所述玻璃200是黏貼於所述藍色黏接膜401上。
再者,所述承載板400能在所述玻璃載台1上移動,以使多個所述玻璃200逐一地經過所述置件步驟S120、所述照射步驟S130、及所述接收步驟S140。需說明的是,基於每個所述玻璃200歷經所述置件步驟S120、所述照射步驟S130、及所述接收步驟S140的過程皆相同,所以為便於理解本實施例,下述僅以單個所述玻璃200為例來說明。
所述置件步驟S120:如圖5所示,將所述玻璃200設置於所述玻璃測試設備100的玻璃載台1的檢測區域12上。其中,遠離所述玻璃載台1的所述玻璃200的一表面(如:圖5中的頂面)定義為一待偵測面204。
所述照射步驟S130:如圖6所示,以所述玻璃測試設備100的紫外線發射器2朝向所述檢測區域12發出紫外光線UV,以使一部分所述紫外光線UV照射位於待偵測面204上的附著物300而被反射,並且另一部分所述紫外光線UV入射於所述玻璃200且消散於所述玻璃200(的玻璃本體201)內。
所述接收步驟S140:如圖7所示,以光接收器3來接收被所述附著物300所反射的部分所述紫外光線L,據以偵測出所述待偵測面204上的
附著物300數量與位置。
[本發明實施例的技術效果]
綜上所述,本發明實施例所公開的玻璃測試方法及玻璃測試設備,其能通過經所述紫外線發射器發出且入射於玻璃的紫外光線消散於玻璃內,據以有別於現有玻璃測試設備、並能有效地偵測玻璃上的附著物(也就是說,所述紫外線發射器所發出的紫外光線不會照射至所述玻璃的非待測面)。
以上所公開的內容僅為本發明的優選可行實施例,並非因此侷限本發明的專利範圍,所以凡是運用本發明說明書及圖式內容所做的等效技術變化,均包含於本發明的專利範圍內。
100:玻璃測試設備
1:玻璃載台
11:承載面
12:檢測區域
2:紫外線發射器
3:光接收器
200:玻璃
201:玻璃本體
202:抗反射層
203:抗紅外線層
204:待偵測面
300:附著物
UV:紫外光線
C:中心光軸
P:中心軸
α:夾角
L:被附著物所反射的部份紫外光線
Claims (4)
- 一種玻璃測試方法,包括:一前置步驟:提供至少一個玻璃及一玻璃測試設備;其中,至少一個所述玻璃的成分包含有二氧化矽;一置件步驟:將至少一個所述玻璃設置於所述玻璃測試設備的一玻璃載台的一檢測區域上;其中,遠離所述玻璃載台的至少一個所述玻璃的一表面定義為一待偵測面;一照射步驟:以所述玻璃測試設備的一紫外線發射器朝向所述檢測區域發出一紫外光線,以使一部分所述紫外光線照射位於所述待偵測面上的附著物而被反射,並且另一部分所述紫外光線入射於所述玻璃且消散於所述玻璃內;以及一接收步驟:以一光接收器來接收被所述附著物所反射的部分所述紫外光線。
- 如請求項1所述的玻璃測試方法,其中,於所述前置步驟中,至少一個所述玻璃的數量為多個,並且多個所述玻璃黏貼於一承載板上;其中,所述承載板能在所述玻璃載台上移動,以使多個所述玻璃逐一地經過所述置件步驟、所述照射步驟、及所述接收步驟。
- 如請求項2所述的玻璃測試方法,其中,於所述前置步驟中,所述承載板包含有一藍色黏接膜,並且多個所述玻璃是黏貼於所述藍色黏接膜上。
- 如請求項1所述的玻璃測試方法,其中,至少一個所述玻璃進一步包含有一玻璃本體、及分別鍍設於所述玻璃本體相反兩個表面的一抗反射層與一抗紅外線層;所述玻璃對應波長介於410奈米~810奈米的光線具有至少90%的穿透率。
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TW202109019A TW202109019A (zh) | 2021-03-01 |
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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TW201741690A (zh) * | 2016-05-16 | 2017-12-01 | 旭硝子股份有限公司 | 玻璃物品 |
CN109297991A (zh) * | 2018-11-26 | 2019-02-01 | 深圳市麓邦技术有限公司 | 一种玻璃表面缺陷检测***及方法 |
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2019
- 2019-08-30 TW TW108131178A patent/TWI743547B/zh active
Patent Citations (2)
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TW201741690A (zh) * | 2016-05-16 | 2017-12-01 | 旭硝子股份有限公司 | 玻璃物品 |
CN109297991A (zh) * | 2018-11-26 | 2019-02-01 | 深圳市麓邦技术有限公司 | 一种玻璃表面缺陷检测***及方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
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陳銘福、周志忠、陳志文、翁睿謙、黃鴻基,"LED晶粒瑕疵自動光學檢測系統研發",科儀新知 202期,2015/03。 |
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TW202109019A (zh) | 2021-03-01 |
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