TWI735775B - 水平度測量系統及水平度測量方法 - Google Patents

水平度測量系統及水平度測量方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI735775B
TWI735775B TW107112010A TW107112010A TWI735775B TW I735775 B TWI735775 B TW I735775B TW 107112010 A TW107112010 A TW 107112010A TW 107112010 A TW107112010 A TW 107112010A TW I735775 B TWI735775 B TW I735775B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
plane
levelness
measured surface
angle
reference plane
Prior art date
Application number
TW107112010A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201930825A (zh
Inventor
楊煒達
呂小明
蔣蜀發
吳國華
Original Assignee
鴻海精密工業股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 鴻海精密工業股份有限公司 filed Critical 鴻海精密工業股份有限公司
Publication of TW201930825A publication Critical patent/TW201930825A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI735775B publication Critical patent/TWI735775B/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/24—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B17/00—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
    • G01B17/08—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/30—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/02—Rotary gyroscopes
    • G01C19/04—Details
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C9/00—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F17/00—Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
    • G06F17/10—Complex mathematical operations
    • G06F17/11—Complex mathematical operations for solving equations, e.g. nonlinear equations, general mathematical optimization problems
    • G06F17/12—Simultaneous equations, e.g. systems of linear equations

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • Computational Mathematics (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Algebra (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Machines For Laying And Maintaining Railways (AREA)

Abstract

本發明提供一種水平度測量系統。所述水平度測量系統運用於水平度測量裝置。所述水平度測量裝置包括輔助軌道、測距單元以及角度測量單元。所述測距單元以及所述角度測量單元均安裝在所述輔助軌道上。所述水平度測量系統包括坐標系建立模塊、測距控制模塊、資料擬合模塊、平面方程計算模塊、第一夾角計算模塊、角度測量控制模塊和第二夾角計算模塊。所述水平度測量系統用於計算得到被測面與絕對水平面之間的夾角，即被測面的水平度。本發明還提供一種測量平面水平度的方法。

Description

水平度測量系統及水平度測量方法
本發明涉及一種水平度測量系統，以及採用該水平度測量系統測量平面水平度的方法。
水平度係指待測平面與絕對水平面的傾斜角度。常用的水平度測量儀器包括氣泡水平儀及電子式水平儀等。惟，這些水平度測量儀器測量時都需要跟待測平面直接接觸方能測出被測面的水平度，對於一些不便於直接接觸的待測面，常規的水平度測量儀器需要測出其水平度，存在一定的困難。
鑒於以上內容，有必要提供一種非接觸式的水平度測量系統及藉由該水平度測量系統測量平面水平度的方法。
一種水平度測量方法，應用於一水平度測量裝置中，所述水平度測量裝置包括輔助軌道、測距單元以及角度測量單元，所述測距單元以及所述角度測量單元均安裝在所述輔助軌道上，該水平度測量方法包括：
以被測面為基準面，在空間中建立三維空間坐標系X-Y-Z，使所述被測面落於X軸與Y軸所確定的平面上並以所述輔助軌道所在平面作為參考平面；
控制所述測距單元沿輔助軌道運動，從而控制所述測距單元測量出輔助軌道與所述被測面在X、Y方向的高度變化，得到相應的（X，Z）及（Y，Z）數據；
藉由線性擬合方法處理測得的資料，得到兩個直線函數，所述兩個直線函數的方程如下：
Figure 02_image001
，
其中，a1 、a2 、b1 、b2 、c1 及c2 均為常數；
根據得到的兩個直線方程求取所述參考平面的平面方程，經由所述平面方程求取平面法向量；
計算法向量得到被測面和參考平面的夾角β；
控制所述角度測量單元測得所述參考平面與絕對水平面的之間的夾角γ；以及
利用絕對水平面、被測面以及參考平面之間的關係計算被測面與所述絕對水平面之間夾角α，α=γ-β，從而得到所述被測面的水平度。
一種水平度測量系統，應用於一水平度測量裝置中，所述水平度測量裝置包括輔助軌道、測距單元以及角度測量單元，所述測距單元以及所述角度測量單元均安裝在所述輔助軌道上，該水平度測量系統包括：
坐標系建立模塊，以被測面為基準面，在空間中建立三維空間坐標系X-Y-Z，使所述被測面落於X軸與Y軸所確定的平面上並以所述輔助軌道所在平面作為參考平面；
測距控制模塊，控制所述測距單元沿輔助軌道運動，從而控制所述測距單元測量出輔助軌道與所述被測面在X、Y方向的高度變化，得到相應的（X，Z）及（Y，Z）數據；
資料擬合模塊，藉由線性擬合方法處理測得的資料，得到兩個直線函數，所述兩個直線函數的方程下：
Figure 02_image001
，
其中，a1 、a2 、b1 、b2 、c1 及c2 均為常數；
平面方程計算模塊，根據得到的兩個直線方程求取所述參考平面的平面方程，經由所述平面方程求取平面法向量；
第一夾角計算模塊，計算法向量得到被測面和參考平面的夾角β；
角度測量控制模塊，控制所述角度測量單元測得所述參考平面與絕對水平面的之間的夾角γ; 以及
第二夾角計算模塊，利用絕對水平面、被測面以及參考平面之間的關係計算被測面與所述絕對水平面之間夾角α，α=γ-β，從而得到所述被測面的水平度。
與先前技術相比，本發明使用的水平度測量系統及水平度測量方法中，藉由控制所述測距單元對所述參考平面的高度進行移動式掃描，並對掃描得到的資料進行處理即可實現被測面水平度的測量，由於對所述被測面係非接觸式測量，不會對被測物體表面產生影響，同時能對一些不可接觸物體（如高溫物體）進行測量。
參閱圖1所示，係本發明水平度測量裝置1較佳實施例的結構組成圖。所述水平度測量裝置1包括輔助軌道11、測距單元12、角度測量單元13、記憶體14、處理器15及顯示器16。
在本實施方式中，所述輔助軌道11為一個L型輔助軌道。
所述測距單元12設置於所述輔助軌道11上並可沿所述輔助軌道11移動。在本實施方式中，所述測距單元12可使用鐳射位移感測器、超聲波感測器等測距感測器，對被測表面實現非接觸式的測量。
所述角度測量單元13設置於所述輔助軌道11上，用於測量所述輔助軌道11所在的平面(即，下述的參考平面c)與絕對水平面a的之間的夾角γ。在本實施方式中，所述角度測量單元13為一個三軸陀螺儀。
請一併參閱圖2，所述記憶體14用於存儲有一水平度測量系統10。所述水平度測量系統10用於測量一被測物的被測面b(在圖4中示出)的水平度。
所述水平度測量系統10包括坐標系建立模塊101、測距控制模塊102、資料擬合模塊103、平面方程計算模塊104、第一夾角計算模塊105、角度測量控制模塊106、第二夾角計算模塊107及顯示控制模塊108。本實施方式中，模塊101-108包括電腦程式化指令，這些電腦程式化指令存儲在記憶體14。處理器15執行這些電腦程式化指令，提供水平度測量系統10的上述功能。模塊101-108的具體功能請參閱下文關於圖3的介紹。
參閱圖3所示，係本發明水平度測量方法較佳實施例的流程圖。所述水平度測量方法用於測量一被測物的被測面b的水平度。根據不同需求，該流程圖中步驟的順序可以改變，某些步驟可以省略或合併。
步驟S01，所述坐標系建立模塊101以被測面b為基準面，在空間中建立三維空間坐標系X-Y-Z，使所述被測面b落於X軸與Y軸所確定的平面上並以所述輔助軌道11所在平面作為參考平面c。
步驟S02，所述測距控制模塊102控制測距單元12沿所述輔助軌道11運動，從而控制所述測距單元12測量出所述輔助軌道11與被測面b在X、Y方向上的高度變化，分別得到一組（X，Z）和一組（Y，Z）資料，並將所述資料存儲於所述記憶體14。
步驟S03，請參考圖5，所述資料擬合模塊103將所述（X，Z）以及（Y，Z）資料登錄平面直角坐標系，並將所述資料擬合成兩個直線函數：
Figure 02_image001
。
其中，a1 、a2 、b1 、b2 、c1 及c2 均為常數。
在本實施例中，所述資料擬合模塊103藉由線性擬合法得到上述兩個直線函數方程。採用線性擬合方法處理資料，具有一定的容錯性，對於不平整的平面（粗糙，凹凸，少量髒物等），可以避免一些偏差資料，保證資料統計的準確性，從而得到更理想的結果。
步驟S04，所述平面方程計算模塊104對上述兩個方程進行處理得到所述參考平面c的空間平面方程：
AX + BY + CZ + D = 0。
具體地，從兩條直線方程中各取兩個點，代入平面方程中，求得常數A、B、C、D，得到平面方程。
步驟S05，所述平面方程計算模塊104對所述平面方程求取平面法向量得到：
Figure 02_image003
。
具體地，在所得平面內任意取兩點，分別為P(x1,y1,z1)，Q(x2,y2,z2)，則有平面內任意直線PQ的方向向量：
Figure 02_image005
，令
Figure 02_image007
Figure 02_image008
Figure 02_image010
Figure 02_image012
Figure 02_image014
。
由
Figure 02_image008
0，可知
Figure 02_image016
可知
Figure 02_image018
垂直於平面b，即
Figure 02_image018
為參考平面c的法向量。所述參考平面c的法向量為
Figure 02_image003
。
步驟S06，所述第一夾角計算模塊105計算法向量得到被測面b和參考平面c的夾角β。分析可知被測面b的法向量為：
Figure 02_image020
。
Figure 02_image022
。
步驟S07，請參考圖6，所述角度測量控制模塊106控制所述角度測量單元13測得所述參考平面c與絕對水平面a的之間的夾角γ。
步驟S08，請參考圖6，所述第二夾角計算模塊107藉由絕對水平面a、被測面b、參考平面c之間的關係，計算得到被測面b與絕對水平面a的夾角α，α即為所述被測面b的水平度。所述被測面b與絕對水平面a的夾角α藉由下列公式計算得到：α=γ-β。
步驟S09，所述顯示控制模塊108控制所述顯示器16顯示所述被測面b的水平度α。
與先前技術相比，本發明使用的水平度測量系統10及水平度測量方法中，藉由控制所述測距單元12對所述參考平面c的高度進行移動式掃描，並對掃描得到的資料進行處理即可實現被測面b水平度的測量，不需要佈置複數感測器，有利於控制所述水平度測量裝置1的成本，由於對所述被測面b係非接觸式測量，不會對被測物體表面產生影響，同時能對一些不可接觸物體（如高溫物體）進行測量；在水平度測量的過程中，資料處理的過程採用線性擬合的方法，對於一些不平整的平面（粗糙，凹凸，少量髒物等）的測量，能夠避免偏差資料，保證資料統計的準確性，從而得到更理想的資料結果。
可以理解的係，對於本領域具有通常知識者來說，可以根據本發明的技術構思做出其他各種相應的改變與變形，而所有這些改變與變形都應屬於本發明的保護範圍。
1‧‧‧水平度測量裝置 11‧‧‧輔助軌道 12‧‧‧測距單元 13‧‧‧角度測量單元 14‧‧‧記憶體 15‧‧‧處理器 16‧‧‧顯示器 10‧‧‧水平度測量系統 101‧‧‧坐標系建立模塊 102‧‧‧測距控制模塊 103‧‧‧資料擬合模塊 104‧‧‧平面方程計算模塊 105‧‧‧第一夾角計算模塊 106‧‧‧角度測量控制模塊 107‧‧‧第二夾角計算模塊 108‧‧‧顯示控制模塊 a‧‧‧絕對水平面 b‧‧‧被測面 c‧‧‧參考平面
圖1係本發明水平度測量裝置較佳實施例的結構組成圖。
圖2係圖1所示的水平度測量裝置中的水平度測量系統較佳實施例中的程式模塊圖。
圖3係本發明水平度測量方法較佳實施例的流程圖。
圖4係被測面上建立空間坐標系後的示意圖。
圖5係測距單元所測資料在空間直角坐標系上擬合後的示意圖。
圖6係被測面、參考面及絕對水平面之間角度關係的示意圖。
1‧‧‧水平度測量裝置
11‧‧‧輔助軌道
12‧‧‧測距單元
13‧‧‧角度測量單元
14‧‧‧記憶體
15‧‧‧處理器
16‧‧‧顯示器

Claims (10)

  1. 一種水平度測量方法，應用於一水平度測量裝置中，所述水平度測量裝置包括輔助軌道、測距單元以及角度測量單元，所述測距單元以及所述角度測量單元均安裝在所述輔助軌道上，其中，該水平度測量方法包括： 以被測面為基準面，在空間中建立三維空間坐標系X-Y-Z，使所述被測面落於X軸與Y軸所確定的平面上並以所述輔助軌道所在平面作為參考平面； 控制所述測距單元沿輔助軌道運動，從而控制所述測距單元測量出輔助軌道與所述被測面在X、Y方向的高度變化，得到相應的（X，Z）及（Y，Z）數據； 藉由線性擬合方法處理測得的資料，得到兩個直線函數，所述兩個直線函數的方程如下：
    Figure 03_image001
    ， 其中，a1 、a2 、b1 、b2 、c1 及c2 均為常數； 根據得到的兩個直線方程求取所述參考平面的平面方程，經由所述平面方程求取平面法向量； 計算法向量得到被測面和參考平面的夾角β； 控制所述角度測量單元測得所述參考平面與絕對水平面的之間的夾角γ；以及 利用絕對水平面、被測面以及參考平面之間的關係計算被測面與所述絕對水平面之間夾角α，α=γ-β，從而得到所述被測面的水平度。
  2. 如請求項1所述的水平度測量方法，其中，還包括： 控制一顯示器顯示所述被測面的水平度。
  3. 如請求項1所述的水平度測量方法，其中，所述角度測量單元為個三軸陀螺儀。
  4. 如請求項1所述的水平度測量方法，其中，所述輔助軌道為L型輔助軌道，所述參考平面的空間平面方程為： AX + BY + CZ + D = 0，其中，A、B、C、D為常數。
  5. 如請求項4所述的水平度測量方法，其中，所述輔助軌道所在所述參考平面的平面法向量為：
    Figure 03_image003
    。
  6. 一種水平度測量系統，應用於一水平度測量裝置中，所述水平度測量裝置包括輔助軌道、測距單元以及角度測量單元，所述測距單元以及所述角度測量單元均安裝在所述輔助軌道上，該水平度測量系統包括： 坐標系建立模塊，以被測面為基準面，在空間中建立三維空間坐標系X-Y-Z，使所述被測面落於X軸與Y軸所確定的平面上並以所述輔助軌道所在平面作為參考平面； 測距控制模塊，控制所述測距單元沿輔助軌道運動，從而控制所述測距單元測量出輔助軌道與所述被測面在X、Y方向的高度變化，得到相應的（X，Z）及（Y，Z）數據； 資料擬合模塊，藉由線性擬合方法處理測得的資料，得到兩個直線函數，所述兩個直線函數的方程如下：
    Figure 03_image001
    ， 其中，a1、a2、b1、b2、c1及c2均為常數； 平面方程計算模塊，根據得到的兩個直線方程求取所述參考平面的平面方程，經由所述平面方程求取平面法向量； 第一夾角計算模塊，計算法向量得到被測面和參考平面的夾角β； 角度測量控制模塊，控制所述角度測量單元測得所述參考平面與絕對水平面的之間的夾角γ;以及 第二夾角計算模塊，利用絕對水平面、被測面以及參考平面之間的關係計算被測面與所述絕對水平面之間夾角α，α=γ-β，從而得到所述被測面的水平度。
  7. 如請求項6所述的水平度測量系統，其中，所述水平度測量系統還包括一顯示控制模塊，用於控制一顯示器顯示測得的被測面的水平度。
  8. 如請求項6所述的水平度測量系統，其中，所述參考平面的空間平面方程為： AX + BY + CZ + D = 0，其中，A、B、C、D為常數。
  9. 如請求項8所述的水平度測量系統，其中，所述輔助軌道所在所述參考平面的平面法向量為：
    Figure 03_image003
    。
  10. 如請求項9所述的水平度測量系統，其中，被測面的法向量為：
    Figure 03_image020
    ，夾角β根據下列算式計算得出:
    Figure 03_image022
    。
TW107112010A 2017-12-29 2018-04-08 水平度測量系統及水平度測量方法 TWI735775B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
??201711484685.1 2017-12-29
CN201711484685.1A CN109990761B (zh) 2017-12-29 2017-12-29 水平度测量***及水平度测量方法
CN201711484685.1 2017-12-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201930825A TW201930825A (zh) 2019-08-01
TWI735775B true TWI735775B (zh) 2021-08-11

Family

ID=67058102

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107112010A TWI735775B (zh) 2017-12-29 2018-04-08 水平度測量系統及水平度測量方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10677578B2 (zh)
CN (1) CN109990761B (zh)
TW (1) TWI735775B (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109990761B (zh) * 2017-12-29 2022-04-01 富泰华工业（深圳）有限公司 水平度测量***及水平度测量方法
CN113124827A (zh) * 2019-12-31 2021-07-16 西安航天华迅科技有限公司 一种产品姿态测量***
CN112129269A (zh) * 2020-09-22 2020-12-25 孙永 一种交通轨道水平度检测装置
CN112857320B (zh) * 2021-02-02 2022-05-10 中科(湖南)先进轨道交通研究院有限公司 一种轨枕水平度检验***及其工作方法
CN113091707A (zh) * 2021-03-24 2021-07-09 北京北方华创微电子装备有限公司 水平度测量装置和水平度调节方法
CN116290768B (zh) * 2023-03-13 2024-07-12 深圳中广核工程设计有限公司 一种核厂房埋件的调平安装方法及测量装置
CN116222505B (zh) * 2023-03-22 2024-03-19 杭州塔桅检测技术有限公司 一种带有报警功能的数显水平度检测仪及其使用方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080244920A1 (en) * 2004-12-28 2008-10-09 Leica Geosystems Ag Method and Rotating Laser for Determining an Item of Attitude Information of at Least One Object
CN101957195A (zh) * 2005-09-12 2011-01-26 特里伯耶拿有限公司 测量仪器和使用测量仪器提供测量数据的方法
US8136259B2 (en) * 2006-12-13 2012-03-20 Cemb S.P.A. Wheel alignment device adapted to compensate for runout error
CN205691106U (zh) * 2016-05-27 2016-11-16 厦门精图信息技术有限公司 一种智能的建筑物倾斜检测预警装置
CN106556377A (zh) * 2016-10-17 2017-04-05 歌尔股份有限公司 水平度测试装置和方法
CN206235317U (zh) * 2016-12-14 2017-06-09 朱志亨 一种军事地形学野外综合测绘装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5100229A (en) * 1990-08-17 1992-03-31 Spatial Positioning Systems, Inc. Spatial positioning system
JP4241012B2 (ja) * 2002-11-25 2009-03-18 パナソニック株式会社 回転角度検出装置
JP2004177385A (ja) * 2002-11-29 2004-06-24 Seiko Precision Inc 角度検出装置及びそれを備えたプロジェクタ
US7127821B1 (en) * 2005-05-20 2006-10-31 Dan Tyroler Automated method and apparatus for distance measurement
CN102798359B (zh) * 2012-08-30 2016-01-20 首钢京唐钢铁联合有限责任公司 非接触式倾角测量装置及方法
JP2014163892A (ja) * 2013-02-27 2014-09-08 Umemura Gakuen レーザ計測システム
CN103234485B (zh) * 2013-04-19 2015-06-24 中科中涵激光设备（福建）股份有限公司 一种检测平行度的方法
CN105091858A (zh) * 2015-08-02 2015-11-25 上海砺晟光电技术有限公司 基于绝对测距的二维倾角非接触测量方法与***
CN105241395B (zh) * 2015-08-07 2017-08-29 上海卫星工程研究所 用于空间超大尺寸结构的面形与距离高精度测量方法
WO2017149526A2 (en) * 2016-03-04 2017-09-08 May Patents Ltd. A method and apparatus for cooperative usage of multiple distance meters
CN105652343B (zh) * 2016-03-09 2018-04-13 青岛大学 一种水准式水下探测定位方法
CN105823427B (zh) * 2016-05-24 2018-09-28 湖北航天长征装备有限公司 一种平面定位装置及其测量方法
CN106643643A (zh) * 2016-12-15 2017-05-10 贵州振华天通设备有限公司 一种非接触式目标坐标的测量方法
CN109990761B (zh) * 2017-12-29 2022-04-01 富泰华工业（深圳）有限公司 水平度测量***及水平度测量方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080244920A1 (en) * 2004-12-28 2008-10-09 Leica Geosystems Ag Method and Rotating Laser for Determining an Item of Attitude Information of at Least One Object
CN101957195A (zh) * 2005-09-12 2011-01-26 特里伯耶拿有限公司 测量仪器和使用测量仪器提供测量数据的方法
US8136259B2 (en) * 2006-12-13 2012-03-20 Cemb S.P.A. Wheel alignment device adapted to compensate for runout error
CN205691106U (zh) * 2016-05-27 2016-11-16 厦门精图信息技术有限公司 一种智能的建筑物倾斜检测预警装置
CN106556377A (zh) * 2016-10-17 2017-04-05 歌尔股份有限公司 水平度测试装置和方法
CN206235317U (zh) * 2016-12-14 2017-06-09 朱志亨 一种军事地形学野外综合测绘装置

Also Published As

Publication number Publication date
US10677578B2 (en) 2020-06-09
CN109990761A (zh) 2019-07-09
TW201930825A (zh) 2019-08-01
CN109990761B (zh) 2022-04-01
US20190204061A1 (en) 2019-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI735775B (zh) 水平度測量系統及水平度測量方法
JP5670214B2 (ja) センサベースのオリエンテーションシステム
US20110178707A1 (en) Apparatus and methodology for calibration of a gyroscope and a compass included in a handheld device
EP2499616B1 (en) Three-dimensional measurement method
CN111220130B (zh) 可对空间任意位置的物体测量的聚焦测量方法及终端
KR100898169B1 (ko) 관성항법시스템의 초기정렬 방법
WO2019075942A1 (zh) 深度相机温度误差校正方法及***
CN107402022B (zh) 一种稳定云台的加速度计校准方法及装置
Lv et al. A method of low-cost IMU calibration and alignment
WO2023201578A1 (zh) 单目激光散斑投影***的外参数标定方法和装置
CN108458710B (zh) 位姿测量方法
CN111025330B (zh) 一种基于深度图的目标倾斜角检测方法及设备
JP6453645B2 (ja) ステレオカメラ装置、移動体、ステレオカメラシステム、サーバ装置及び制御方法
CN105444722A (zh) 检测平台姿态变化的方法
CN109990801B (zh) 基于铅垂线的水平仪装配误差标定方法
CN112729109B (zh) 一种点云数据的校正方法及装置
JP7093618B2 (ja) 測量装置
CN111220118B (zh) 基于视觉惯性导航***的激光测距仪及测距方法
TW201024684A (en) System and method for measuring tilt using lowest degrees of freedom of accelerometer
WO2018137465A1 (zh) 天线姿态数据获取装置、获取方法及天线装置
CN105953820B (zh) 一种惯性测量组合动态导航性能的光学标定装置
JP5848563B2 (ja) 車載用カメラ
JP6014711B2 (ja) 携帯機器と自律航法演算法
Balcaen et al. Stereo-DIC uncertainty estimation using the epipolar constraint and optimized three camera triangulation
CN108036777B (zh) 卫星上相位中心间接测量方法