TWI729759B - 檢查裝置、包裝機及包裝體的檢查方法 - Google Patents

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Abstract

[課題] 提供一種可謀求檢查精度之提升等的檢查裝置、包裝機及包裝體的檢查方法。 [解決手段] X射線檢查裝置45具備：對所搬送之PTP薄膜25照射X射線之X射線照射裝置51；及拍攝被照射該X射線的PTP薄膜25之X射線感測器相機53。且將藉由X射線感測器相機53所取得之X射線穿透畫像的座標系統，依據X射線照射裝置51、PTP薄膜25及X射線感測器相機53的位置關係，轉換成PTP薄膜25的座標系統，再基於該轉換的X射線穿透畫像，執行有關PTP薄膜25的檢查。

Description

檢查裝置、包裝機及包裝體的檢查方法
本發明係有關一種用以檢查收容有錠劑的包裝體之檢查裝置、包裝機及包裝體的檢查方法。
在習知的醫藥品、食料品等之領域中，作為包裝錠劑的薄片狀包裝體(包裝薄片)，廣泛利用PTP(press through package，泡殼包裝)薄片。
PTP薄片係由形成有收容錠劑的袋部之容器薄膜及以對其容器薄膜密封袋部的開口側之方式安裝的蓋膜所構成，且藉由將袋部從外側按壓，再由其所收容之錠劑扎破成為蓋的蓋膜，可取出該錠劑。
這樣的PTP薄片係經由對帶狀的容器薄膜形成袋部的袋部形成工程、於該袋部充填錠劑的充填工程、對以密封該袋部的開口側之方式形成在容器薄膜的袋部周圍的凸緣部安裝帶狀的蓋膜的安裝工程、及從安裝有該兩薄膜而成之帶狀的PTP薄膜切離最終製品的PTP薄片之切離工程等所製造。
一般而言，於製造這樣的PTP薄片之際，進行和錠劑異常(例如於袋部內的錠劑之有無、裂紋、破損等)有關的檢查、和凸緣部異常(例如在凸緣部有無異物等)有關的檢查、和袋部異常(例如在袋部有無異物等)有關的檢查等。
近年來，從謀求遮光性、防濕性之提升等這類的觀點，容器薄膜及蓋膜兩薄膜是藉由以鋁等為基材的不透明材料所形成者也變多。
這樣的情況，上述各種檢查係使用X射線檢查裝置等來進行。一般而言，X射線檢查裝置係具備對所搬送的包裝體(PTP薄片或PTP薄膜)照射X射線之X射線產生器(X射線源)、及檢測穿透該包裝體的X射線之X射線檢測器，且基於從該X射線檢測器取得之X射線穿透畫像進行各種檢查。
但針對在和包裝體的搬送方向正交的包裝體寬度方向的複數個部位形成袋部之包裝體進行X射線檢查之情況，收容於各袋部的錠劑藉由從X射線產生器往包裝體的寬度方向呈放射狀擴展的X射線被放大成比實際尺寸還大，並投影在X射線檢測器上。
再者，由於依各袋部(錠劑)在包裝體的寬度方向之位置而異，X射線的入射角亦不相同，所以因各袋部(錠劑)的位置不同，在X射線穿透畫像上的錠劑的面積值等亦會產生差異。
對此，為了謀求抑制檢查精度之降低，亦提出一種按袋部的各列(按袋部2在包裝體的寬度方向之各位置)設定不同的良否判定閾值以進行錠劑的良否判定之檢查裝置等(例如，參照專利文獻1)。 [先前技術文獻] [專利文獻]
專利文獻1　日本特開2013-253832號公報
[發明欲解決之課題]
然而，如上述專利文獻1所載之習知技術，在按袋部的各列設定不同的良否判定閾值以進行錠劑的良否判定之構成中，例如有在既定的袋部的列被判定為不良品的錠劑在其他袋部的列被判定為良品等，難以在檢查範圍全區域中保持檢查均一性之虞。
近年來，為了提高生產效率，也看見很多構成為在呈帶狀搬送的PTP薄膜的寬度方向複數處設定薄片衝切範圍，可同時製造複數個PTP薄片的包裝機。例如在圖3所示之本案的PTP薄膜25中，於薄膜寬度方向設定2個薄片衝切範圍Ka，並且袋部2的列在薄膜寬度方向形成10列。如此，袋部2的列數(在薄膜寬度方向中之袋部2的數量)越多，上述不良情況變得越顯著，且亦會增加良否判定閾值之設定所需的勞力。
又，關於在包裝體的寬度方向相連的凸緣部之檢查，如同袋部的列般，要區分成複數範圍並按各該範圍設定良否判定閾值本身是有困難的。例如對於跨2個範圍的異物等，會有因選擇哪個良否判定閾值而導致判定結果改變之虞。
此外，上述課題不僅PTP包裝，在SP(strip package，窄條包裝)包裝等包裝錠劑之其他包裝領域中也可能發生。又，不限於X射線，在使用兆赫電磁波等穿透包裝體的其他電磁波之情況也可能發生。
本發明係有鑒於上述情事等所研創者，其目的在於提供一種可謀求檢查精度之提升等的檢查裝置、包裝機及包裝體的檢查方法。 [解決課題之手段]
以下，針對適合於解決上述課題的各手段，分項作說明。此外，視需要在對應的手段附記特有的作用效果。
手段1.一種檢查裝置，係用以檢查包裝體(例如包裝薄片或包裝薄膜)之檢查裝置，該包裝體係為安裝由不透明材料所構成之第1薄膜(例如容器薄膜)及由不透明材料所構成之第2薄膜(例如蓋膜)，並在該兩薄膜間所形成的收容空間(例如袋部)內收容有錠劑而成之包裝體，其特徵為具備： 電磁波照射手段，可從前述第1薄膜側對沿著既定方向搬送且在和前述既定方向正交的寬度方向之複數個部位形成有前述收容空間的前述包裝體，照射既定的電磁波(X射線等)； 拍攝手段，以隔著前述包裝體和前述電磁波照射手段對向的方式配置在前述第2薄膜側，並且具有沿著前述寬度方向排列有可檢測從前述電磁波照射手段照射並穿透前述包裝體的電磁波之複數個檢測元件的電磁波檢測手段(例如感測器)，且將前述包裝體每被搬送既定量所取得之電磁波穿透畫像依序輸出；及 畫像處理手段，處理從前述拍攝手段輸出的畫像信號， 前述畫像處理手段具備： 座標轉換手段，依據前述電磁波照射手段、前述包裝體及前述拍攝手段的位置關係，將藉由前述拍攝手段所取得之電磁波穿透畫像的座標系統轉換成前述包裝體的座標系統；及 檢查手段，依據藉由前述座標轉換手段轉換成前述包裝體的座標系統之前述電磁波穿透畫像，可執行有關前述包裝體的檢查。
此外，在以下的手段亦相同，上述「包裝體」包含有：成為製品的薄片狀包裝體(例如「PTP薄片」、「SP薄片」等之包裝薄片)；該薄片狀包裝體被切離前之帶狀包裝體(例如「PTP薄膜」、「SP薄膜」等之包裝薄膜)。
上述「和包裝體有關的檢查」，包含有：例如在收容空間內錠劑之有無、裂紋、破損等之「和錠劑有關的檢查」；在形成於收容空間周圍的凸緣部(安裝有第1薄膜與第2薄膜的部分)有無異物等之「和凸緣部有關的檢查」；收容空間內異物之有無等之「和收容空間有關的檢查」等。
依據上述手段1，對所搬送的包裝體照射來自電磁波照射手段的電磁波，基於藉由拍攝手段拍攝已穿透該包裝體的電磁波所獲得之電磁波穿透畫像，進行有關包裝體的檢查。
特別在本手段中，於進行有關包裝體的檢查前，進行將藉由拍攝手段所取得之電磁波穿透畫像的座標系統轉換成包裝體的座標系統之處理。藉此，可修正因在包裝體的寬度方向的位置差異所致之錠劑被放大投影成不同尺寸的電磁波穿透畫像。
進一步，針對各種檢查項目(錠劑異常、凸緣部異常、收容空間異常等)，可基於在包裝體全區域(檢查範圍全區域)共通的判定基準進行良否判定。換言之，可在未將相同檢查項目的判定基準按包裝體的寬度方向的各位置作區分並設定複數個的情況下，於包裝體全區域進行均一的檢查。結果，可謀求抑制檢查精度之降低。
手段2.如手段1之檢查裝置，其中將前述包裝體以往前述拍攝手段側凸出的方式在前述寬度方向彎成圓弧狀的狀態下進行搬送。
如上述，由於電磁波係藉由電磁波照射手段呈放射狀照射，所以例如包袋體是沿著寬度方向被以水平的狀態搬送之情況，成為電磁波對從該包裝體的寬度方向中央部偏離的位置之錠劑斜向照射。又，因錠劑在包裝體的寬度方向之位置差異，電磁波對各錠劑之入射角亦不相同。
此處，即使是假設對各錠劑斜向照射平行光並朝既定的拍攝手段平行投影的情況，例如剖面矩形狀的錠劑般，會有因錠劑的形狀而投影在拍攝手段的錠劑之影像變大的情況(參照圖14)。又，會有因平行光的入射角之差異而在投影畫像的尺寸上產生差異的情況。
對此，依據上述手段2，藉由使用既定的導引手段等，使包裝體以往拍攝手段側凸之方式彎成圓弧狀，可極力縮小或消除電磁波相對於位在包裝體的寬度方向複數個部位的錠劑之入射角的差。結果，可抑制上述不良情況之發生。
手段3.如手段1之檢查裝置，其中前述包裝體，係為於位在前述拍攝手段側的前述第2薄膜中，形成前述收容空間的袋部被形成為往前述拍攝手段側突出的泡殼包裝(PTP)， 將前述包裝體以往前述電磁波照射手段側凸出的方式在前述寬度方向彎成圓弧狀的狀態下進行搬送。
從電磁波照射手段呈放射狀照射的X射線等的電磁波之強度係與距離的平方成反比地衰減。又，因電磁波的入射角之差異，在檢查能力上也會產生差異。因此，電磁波的照射角係無法無約束地擴展，被限制成可對既定的檢查範圍大致均一地照射的角度。結果，以往難以縮短從包裝體迄至電磁波照射手段為止的距離，難以將檢查裝置小型化。
對此，依據上述手段3，袋部的突出側成為位在彎成圓弧狀的包裝體的內側(凹側)之狀態，成為包裝體全體收在更狹窄的寬度範圍內之狀態。
藉此，與以往相比，可在不用加大從電磁波照射手段照射之電磁波的照射角(朝寬度方向擴展)之下，在電磁波的照射範圍內一邊維持包裝體全體一邊縮短電磁波照射手段與拍攝手段之距離。結果，可謀求檢查裝置之小型化。
同時，藉由電磁波照射手段與拍攝手段之距離接近，變得易於充分確保檢查所需的電磁波穿透量，可謀求檢查精度之提升。而且，作為電磁波照射手段，可採用輸出更小的小型設備，可謀求檢查裝置進一步小型化。
手段4.如手段1至3中任一手段之檢查裝置，其中前述包裝體，係為安裝有帶狀的前述第1薄膜和帶狀的前述第2薄膜而成，且從設定在其寬度方向2個部位的薄片切離範圍將薄片狀包裝體(例如PTP薄片)分別切離前之帶狀包裝體(例如PTP薄膜)， 前述帶狀包裝體中並排在前述寬度方向的2個薄片狀包裝體，係以和前述電磁波照射手段的中心軸(照射角的二等分線)交叉的前述帶狀包裝體的寬度方向中央部為中心在前述寬度方向對稱地配置，且各個標籤部配置成朝向前述帶狀包裝體的寬度方向中央部側或寬度方向外側。
此處，「標籤部」意指設置於薄片狀包裝體(包裝薄片)的既定方向一端部，且藉由刻印或印刷等而被賦予錠劑名稱、批號等之各種資訊的部位。不同於形成有收容錠劑的收容空間之薄片本體部，在「標籤部」未形成有收容空間。
如上述，由於錠劑在帶狀包裝體的寬度方向之位置差異，穿透各錠劑的電磁波之穿透量係不同。因此，在收容空間(錠劑)相對於帶狀包裝體的寬度方向以寬度方向中央部為中心呈非對稱配置之情況，有無法針對在帶狀包裝體的寬度方向並排的2個薄片狀包裝體進行均一的檢查之虞。
對此，依據上述手段4，2個薄片狀包裝體的薄片切離範圍以帶狀包裝體的寬度方向中央部為中心呈對稱配置。也就是，該薄片狀包裝體所含有的收容空間之配置佈置亦在帶狀包裝體的寬度方向成為對稱。
結果，關於在帶狀包裝體的寬度方向並排的2個薄片狀包裝體，可進行更均一的檢查，可謀求抑制檢查精度之降低。
手段5.如手段1至4中任一手段之檢查裝置，其中具備將前述電磁波穿透畫像的各畫素之值(電磁波強度)，基於前述電磁波照射手段及前述拍攝手段的位置關係作修正之強度修正手段。
如上述，越是穿透包裝體的比寬度方向中央部還靠寬度方向外側的電磁波，藉由電磁波檢測手段所檢測的穿透量越少。因此，電磁波穿透畫像為，位在和靠寬度方向外側對應處的畫像之電磁波強度比位在和包裝體的寬度方向中央部對應處的畫像之電磁波強度小(較暗)。結果，有變得難以在檢查範圍全區域進行均一檢查之虞。
對此，依據上述手段5，可在檢查範圍全區域修正成具有更均一的電磁波強度之電磁波穿透畫像，可基於此進行檢查。結果，可謀求檢查精度之提升。
手段6.如手段1至5中任一手段之檢查裝置，其中前述座標轉換手段，係將藉由前述拍攝手段所取得之電磁波穿透畫像的座標系統，轉換成至少以前述錠劑為基準的座標系統及以形成於前述收容空間周圍的凸緣部為基準的座標系統， 前述檢查手段為，在有關前述包裝體的檢查方面，係基於已轉換成至少以前述錠劑為基準的座標系統之前述電磁波穿透畫像執行有關前述錠劑之檢查，且基於已轉換成以前述凸緣部為基準的座標系統之前述電磁波穿透畫像執行有關前述凸緣部之檢查。
此處「以錠劑為基準的座標系統」，例如包含「以錠劑的厚度方向中央部的位置為基準的座標系統」等。又，「以凸緣部為基準的座標系統」，例如包含「以第1薄膜或第2薄膜的露出面的位置為基準的座標系統」、「以第1薄膜和第2薄膜的安裝面的位置為基準的座標系統」等。
依據上述手段6，關於錠劑及凸緣部，可分別基於已轉換成適當的座標系統之電磁波穿透畫像進行檢查。結果，可謀求進一步提升檢查精度。
手段7.如手段1至6中任一手段之檢查裝置，其中前述電磁波為X射線或兆赫電磁波。
手段8.如手段1至7中任一手段之檢查裝置，其中前述第1薄膜及前述第2薄膜是以鋁為基材(主材料)所形成者。
此處，「以鋁為基材(主材料)所形成」係指以鋁單體所形成的情況乃理所當然，亦包含介設有樹脂薄膜層的鋁積層薄膜等之意旨。
手段9.一種包裝機，其特徴為具備如手段1至8中任一手段之檢查裝置。
如上述手段9，藉由在包裝機具備手段1等所載之檢查裝置，具有可於包裝薄片(薄片狀包裝體)的製造過程中有效率地排除不良品等之優點。此處，亦可構成為：包裝機具備排出藉上述檢查裝置判定為不良的薄片狀包裝體之排出手段。
更具體的包裝機的構成方面，可舉出像以下的構成。
「一種包裝機，係安裝由不透明材料所構成的帶狀的第1薄膜及由不透明材料所構成的帶狀的第2薄膜，並製造在形成於該兩薄膜間的收容空間內收容有錠劑的帶狀包裝體，且將該帶狀包裝體的寬度方向複數個部位切離成薄片狀以製造薄片狀包裝體，其特徵為具備： 安裝手段，安裝呈帶狀搬送的前述第1薄膜及呈帶狀搬送的前述第2薄膜； 充填手段，在前述第1薄膜與前述第2薄膜之間所形成之前述收容空間內充填前述錠劑； 切離手段(包含衝切成薄片單位的衝切手段)，安裝前述第1薄膜及前述第2薄膜且從前述錠劑已收容於前述收容空間內的前述帶狀包裝體切離前述薄片狀包裝體；及 如手段1至8中任一手段之檢查裝置」。
此處，亦可構成為將上述檢查裝置(檢查工程)配置在「比切離手段(切離工程)靠近上游側(前工程)」。
關於從帶狀的包裝體(例如PTP薄膜)切離薄片狀包裝體(例如PTP薄片)之前工程，於檢查時，和作為檢查對象的薄片狀包裝體對應的檢查範圍的位置、朝向相對於電磁波照射手段及拍攝手段被維持一定。因此，在進行檢查時，沒必要事前調整薄片狀包裝體的位置、朝向，可更容易且更高速地進行檢查。進而可謀求進一步提升檢查精度。
又，亦可構成為將上述檢查裝置(檢查工程)配置在「比切離手段(切離工程)靠近下游側(後工程)」。此時，可在最終段階確認是否混入不良品。
此外，在包裝機，除了上述檢查裝置以外還被裝入不少用以進行在各式各樣工程中的處理或檢查之裝置，而當空的空間少小且上述檢查裝置被大型化時，會有設置變困難之虞。反之，為了設置被大型化的上述檢查裝置，亦有發生需將包裝機本身大型化之虞。
對此，藉由具備上述手段3等所載之檢查裝置，可抑制發生此種不良情況。
手段10.一種檢查方法，係用以檢查包裝體之檢查方法，該包裝體係為安裝由不透明材料所構成之第1薄膜及(例如容器薄膜)由不透明材料所構成之第2薄膜(例如蓋膜)，並在該兩薄膜間所形成的收容空間(例如袋部)內收容有錠劑而成之包裝體(例如包裝薄片或包裝薄膜)，其特徵為具備： 照射工程，可從配置在前述第1薄膜側的既定的電磁波照射手段，對沿著既定方向搬送且在和前述既定方向正交的寬度方向之複數個部位形成有前述收容空間的前述包裝體，照射既定的電磁波(X射線等)； 拍攝工程，將藉由以隔著前述包裝體和前述電磁波照射手段對向的方式配置在前述第2薄膜側之既定的拍攝手段，檢測並取得穿透前述包裝體的電磁波之電磁波穿透畫像，按前述包裝體每搬送既定量依序輸出； 座標轉換工程，依據前述電磁波照射手段、前述包裝體及前述拍攝手段的位置關係，將在前述拍攝工程所取得之電磁波穿透畫像的座標系統，轉換成前述包裝體的座標系統；及 檢查工程，依據在前述座標轉換工程中轉換成前述包裝體的座標系統之前述電磁波穿透畫像，執行有關前述包裝體的檢查。
依據上述手段10，可獲得和上述手段1同樣的作用效果。
以下，針對一實施形態，一邊參照圖面一邊作說明。首先針對作為包裝薄片(薄片狀包裝體)的PTP薄片1作說明。
如圖1、2所示，PTP薄片1係具有具備複數個袋部2的容器薄膜3及以塞住袋部2的方式安裝於容器薄膜3的蓋膜4。本實施形態中「容器薄膜3」構成「第1薄膜」，「蓋膜4」構成「第2薄膜」。
本實施形態中之容器薄膜3及蓋膜4係藉由以鋁為基材(主材料)的不透明材料所構成。例如容器薄膜3係藉由鋁積層薄膜(對鋁薄膜積層合成樹脂薄膜者)所形成。另一方面，蓋膜4係藉由鋁薄膜所形成。
PTP薄片1係形成俯視呈大致矩形，其四個角隅為圓弧狀帶有圓角的形狀。在PTP薄片1，在薄片長邊方向形成有5列由沿薄片短邊方向並排的2個袋部2所成的袋部列。亦即，形成有共10個袋部2。
在各袋部2內的收容空間2a收容有一個一個錠劑5。本實施形態的錠劑5係為表面從中心部到周緣部彎曲且在中心部與周緣部厚度不同之俯視呈圓形狀的裸錠[所謂晶體狀(lens)錠]。當然，錠劑5的種類為受限於晶體狀錠。例如亦可為圓盤形狀的平錠(tablet錠)、俯視呈非圓形的三角錠或四角錠等。
又，在PTP薄片1沿著薄片短邊方向形成複數個作為切離線的騎縫線7，其能以含有既定數(本實施形態中為2個)的袋部2的薄小片6為單位作切離。
再者，於PTP薄片1的周緣部，對應騎縫線7的形成位置形成縮頸部8。因此，在將PTP薄片1以薄小片6為單位切離時，該薄小片6的四個角隅成為帶有圓角的圓弧形狀。
再加上，於PTP薄片1，在薄片長邊方向一端部，附設刻設有錠劑名稱、批號等之各種資訊(本實施形態中為「ABC」的文字)的標籤部9。標籤部9係未被設置袋部2且在與由5個薄小片6所成的薄片本體部1a之間藉由1條騎縫線7隔開。
本實施形態的PTP薄片1(參照圖1)係經過從安裝有帶狀的容器薄膜3與帶狀的蓋膜4所成之帶狀的PTP薄膜25(參照圖3)將最終製品的PTP薄片1衝切成矩形薄片狀的工程等所製造。以下，將「PTP薄膜25的寬度方向(圖3上下方向)」稱為「薄膜寬度方向」。又，將「PTP薄膜25的搬送方向(圖3左右方向)」稱為「薄膜搬送方向」。
如圖3所示，本實施形態的PTP薄膜25為，在薄膜寬度方向並排2個PTP薄片1的衝切範圍Ka(以下，僅稱為「薄片衝切範圍Ka」。)，同時此等相鄰並排的2個薄片衝切範圍Ka間由沿薄膜搬送方向呈帶狀延伸的中央廢料25a所繫接，薄膜寬度方向兩端由沿薄膜搬送方向呈帶狀延伸的側部廢料25b所繫接，成為在薄膜搬送方向鄰接的2個薄片衝切範圍Ka的交界線上排列有複數個用以形成上述縮頸部8的星芒形廢料25c之佈置。此外，圖3中，為使圖面簡化，以及易於理解星芒形廢料25c，對衝切星芒形廢料25c的孔部附加引出線，圖示成星芒形廢料25c。
此處，PTP薄膜25中，從並排於薄膜寬度方向的2個薄片衝切範圍Ka衝切的PTP薄片1係分別成為標籤部9面向薄膜寬度方向中央部，和中央廢料25a鄰接的狀態。「薄片衝切範圍Ka」相當於本實施形態中的「薄片切離範圍」。
其次，針對作為製造上述PTP薄片1的PTP包裝機10的概略構成，參照圖4作說明。
如圖4所示，在PTP包裝機10的最上游側，帶狀的容器薄膜3的料捲被捲成輥狀。捲成輥狀的容器薄膜3之引出端側係被導輥13導引。容器薄膜3係於導輥13的下游側被掛裝於間歇進給輥14。間歇進給輥14係連結於間歇地旋轉的馬達，將容器薄膜3間歇地搬送。
在導輥13與間歇進給輥14之間，沿著容器薄膜3的搬送路徑，配設作為袋部形成手段的袋部形成裝置16。藉此袋部形成裝置16，利用冷作加工在容器薄膜3的既定的位置一次形成複數個袋部2(袋部形成工程)。袋部2之成形係在藉間歇進給輥14進行搬送容器薄膜3之動作期間的區間(interval)中進行。
但是，本實施形態的PTP包裝機10係構成為容器薄膜3不僅為利用鋁製來製造，亦可利用例如PP(聚丙烯)、PVC(聚氯乙烯)等之較硬質且具既定剛性的熱塑性樹脂材料來製造之包裝機(兼用機)。因此，於袋部形成裝置16的上游側，具備用以加熱容器薄膜3使之成為柔軟狀態的加熱裝置15。當然，在形成鋁製的容器薄膜3之情況不使用加熱裝置15。
從間歇進給輥14送出之容器薄膜3係按張緊輥18、導輥19及薄膜承接輥20的順序掛裝。由於薄膜承接輥20係連結於固定旋轉的馬達，故將容器薄膜3連續且以固定速度搬送。張緊輥18係設成藉由彈力將容器薄膜3拉往張緊之側的狀態，防止因前述間歇進給輥14與薄膜承接輥20之搬送動作的差異所致之容器薄膜3彎曲，並將容器薄膜3保持成常時張緊狀態。
在導輥19與薄膜承接輥20之間，沿著容器薄膜3的搬送路徑，配設有作為充填手段的錠劑充填裝置21。
錠劑充填裝置21係具有將錠劑5自動充填於袋部2之機能。錠劑充填裝置21係與利用薄膜承接輥20搬送容器薄膜3之動作同步地按每既定間隔開啓擋板使錠劑5落下者，伴隨此擋板開放動作而將錠劑5充填於各袋部2(充填工程)。
另一方面，形成帶狀的蓋膜4的料捲係於最上游側被捲成輥狀。捲成輥狀的蓋膜4之引出端係藉由導輥22朝加熱輥23引導。加熱輥23係成為可和前述薄膜承接輥20壓接，形成容器薄膜3及蓋膜4被送入兩輥20、23間。
然後，藉由容器薄膜3及蓋膜4以加熱壓接狀態通過兩輥20、23間，而對容器薄膜3的袋部2周圍的凸緣部3a(參照圖1、2)黏貼蓋膜4，使袋部2被蓋膜4塞住(安裝工程)。
藉此，製造作為在各袋部2充填有錠劑5的帶狀包裝體之PTP薄膜25。在加熱輥23的表面形成有密封用的網目狀的微細凸條，藉由微細凸條強力地壓接而實現強固的密封。藉由薄膜承接輥20及加熱輥23構成本實施形態中之安裝手段。
又，構成為：在薄膜承接輥20設有未圖示的編碼器，該薄膜承接輥20每旋轉既定量，亦即PTP薄膜25每被搬送既定量，對後述之X射線檢查裝置45輸出既定的時序信號。
從薄膜承接輥20送出的PTP薄膜25係按張緊輥27及間歇進給輥28之順序掛裝。
由於間歇進給輥28係連結於間歇地旋轉的馬達，故將PTP薄膜25間歇地搬送。張緊輥27係被設成藉由彈力將PTP薄膜25拉往張緊之側的狀態，防止因前述薄膜承接輥20與間歇進給輥28之搬送動作的差異所致之PTP薄膜25之彎曲，並將PTP薄膜25保持成常時張緊狀態。
在薄膜承接輥20與張緊輥27之間，沿著PTP薄膜25的搬送路徑配設有X射線檢查裝置45。X射線檢查裝置45係用以進行以袋部2所收容的錠劑5之異常(例如錠劑5之有無、裂紋、破損等)的檢測、袋部2以外的凸緣部3a的異常(例如存在於凸緣部3a上的異物等)的檢測為主要目的之X射線檢查。當然，檢查項目未受此等所限，亦可實施其他檢查項目。亦可構成為：例如進行與袋部2之異常(例如袋部2中有無異物等)有關之檢查。
從間歇進給輥28送出之PTP薄膜25係按張緊輥29及間歇進給輥30之順序掛裝。由於間歇進給輥30係連結於間歇地旋轉的馬達，故將PTP薄膜25間歇地搬送。張緊輥29被設成藉由彈力將PTP薄膜25拉往張緊之側的狀態，防止在前述間歇進給輥28、30間的PTP薄膜25彎曲。
在間歇進給輥28與張緊輥29之間，沿著PTP薄膜25的搬送路徑，依序配設有廢料衝切裝置32、騎縫線形成裝置33及刻印裝置34。
廢料衝切裝置32係具有從PTP薄膜25的既定位置衝切上述星芒形廢料25c之機能。騎縫線形成裝置33係具有在PTP薄膜25的既定位置形成上述騎縫線7之機能。刻印裝置34係具有在PTP薄膜25的既定位置(和上述標籤部9對應的位置)附加上述刻印「ABC」之機能。
從間歇進給輥30送出之PTP薄膜25係於其下游側按張緊輥35及連續進給輥36之順序掛裝。在間歇進給輥30與張緊輥35之間，沿著PTP薄膜25的搬送路徑，配設薄片衝切裝置37。薄片衝切裝置37係具有作為將PTP薄膜25以PTP薄片1為單位衝切其外緣的薄片衝切手段(切離手段)之機能。
藉由薄片衝切裝置37衝切的PTP薄片1，係藉由輸送機39搬送，被暫時儲存於完成品用漏斗40(切離工程)。但在藉上述X射線檢查裝置45判定為不良品的情況，其被判定為不良品的PTP薄片1係在未朝完成品用漏斗40搬送下，藉由作為未圖示的排出手段之不良薄片排出機構而被另外排出，移往未圖示的不良品漏斗。
於連續進給輥36的下游側配設有裁斷裝置41。然後，藉由薄片衝切裝置37衝切後呈帶狀殘留的端材(廢料25a、25b)係在被前述張緊輥35及連續進給輥36導引後，引導至裁斷裝置41。此處，連續進給輥36係被從動輥壓接而一邊挾持前述廢料25a、25b一邊進行搬送動作。
裁斷裝置41係具有將廢料25a、25b裁斷成既定尺寸之機能。被裁斷的廢料25a、25b係在被儲存於廢料用漏斗43之後，另外被廢棄處理。
此外，上述各輥14、19、20、28、29、30等係其等輥表面與袋部2為對向的位置關係，但因為在間歇進給輥14等之各輥的表面形成有供收容袋部2之凹部，所以沒有袋部2崩塌的情況。又，藉由袋部2一邊收容於間歇進給輥14等之各輥的各凹部一邊進行進給動作，而確實地進行間歇進給動作或連續進給動作。
PTP包裝機10之概略係如以上所述，以下就上述X射線檢查裝置45的構成，參照圖面作詳細說明。圖5係顯示X射線檢查裝置45的電氣構成之方塊圖。圖6係示意顯示X射線檢查裝置45的概略構成之立體圖。其中，圖6的圖示中，為了簡化而省略了PTP薄膜25的袋部2等一部份的構成。
如圖5、6所示，X射線檢查裝置45具備：對PTP薄膜25照射X射線之X射線照射裝置51；拍攝被照射該X射線的PTP薄膜25的X射線穿透畫像之X射線感測器相機53；及控制處理裝置54，用以實施在X射線照射裝置51、X射線感測器相機53之驅動控制等X射線檢查裝置45內的各種控制、畫像處理、運算處理等。
本實施形態中的「X射線」是相當於「電磁波」。因此，「X射線穿透畫像(資料)」是構成「電磁波穿透畫像(資料)」，「控制處理裝置54」是構成「畫像處理手段」，「X射線照射裝置51」是構成「電磁波照射手段」，「X射線感測器相機53」是構成「拍攝手段」。
X射線照射裝置51及X射線感測器相機53，係收容在以可遮蔽X射線的材質所構成的遮蔽盒45a內(參照圖4)。遮蔽盒45a除設有為使PTP薄膜25通過之狹縫狀的入口部45b及出口部45c等以外，還成為極力抑制X射線朝外部漏洩之構造。
X射線照射裝置51係配置在往垂直方向下方搬送之PTP薄膜25的法線方向的一側(本實施形態中為容器薄膜3側)。以下，將「PTP薄膜25的法線方向」稱為「薄膜法線方向」。
X射線照射裝置51係具備：產生X射線之X射線源51a；及集中從該X射線源51a所產生的X射線之准直器51b，且成為此等被收容於由可遮蔽X射線的材質所構成的遮蔽容器51c內之構成。然後，從X射線源51a發出的X射線係經由遮蔽容器51c的開口部(圖示省略)朝外部照射。
此外，X射線照射裝置51因為是公知者，故省略X射線源51a等各種構成部之詳細說明，但例如X射線源51a係構成為使藉高電壓加速的電子衝撞陽極的靶材而可放射以該靶材為頂點的圓錐狀X射線。當然，亦可採用以不同於此的的方法產生X射線的構成。
於這樣的構成之下，X射線照射裝置51係構成為藉由准直器51b極力抑制從X射線源51a呈圓錐狀放射之X射線朝薄膜搬送方向擴展(圓錐角)，藉此可對PTP薄膜25照射朝薄膜寬度方向具有既定的擴展(扇角)之扇束狀的X射線。當然，此處亦可構成為照射對薄膜搬送方向亦具有既定的擴展之圓錐束狀的X射線。
X射線照射裝置51係配置成本身的中心軸D1(扇角的二等分線)與PTP薄膜25的薄膜法線方向平行。
X射線感測器相機53係以與X射線照射裝置51在薄膜法線方向對向之方式包夾PTP薄膜25配置在X射線照射裝置51的相反側(本實施形態中為蓋膜4側)。
X射線感測器相機53係具有沿著薄膜寬度方向並排1列可檢測穿透PTP薄膜25的X射線之複數個X射線檢測元件的作為電磁波檢測手段之X射線感測器53a，且構成為可拍攝(曝光)穿透PTP薄膜25的X射線。作為X射線檢測元件，可舉出例如具有採用閃爍體的光轉換層之CCD(Charge Coupled Device、電荷耦合元件)等。
然後，作為藉X射線感測器相機53所取得之X射線穿透畫像資料，係在PTP薄膜25每被搬送既定量，於該相機53內部轉換成數位信號(畫像信號)後，以數位信號的形式對控制處理裝置54(畫像資料記憶裝置74)輸出。然後，控制處理裝置54係將該X射線穿透畫像資料進行畫像處理等並實施後述的各種檢查。
此處，針對X射線照射裝置51、X射線感測器相機53及PTP薄膜25的位置關係，參照圖3、7作詳細說明。首先針對藉X射線檢查裝置45進行檢查的PTP薄膜25上的「檢查區域」及不進行檢查的「非檢查區域(無需檢查區域)」作說明。
本實施形態中，和PTP薄片1(薄片衝切範圍Ka)對應的區域中之除了和標籤部9對應的區域外，和由5個薄小片6所成的薄片本體部1a對應之區域被設定為1片PTP薄片1的檢查區域Kb。
因此，PTP薄膜25中和前述檢查區域Kb(PTP薄片1的薄片本體部1a)對應的薄膜寬度方向既定範圍WA，亦即從屬於側部廢料25b與和其鄰接的PTP薄片1對應的區域之交界部的外側交界部PA，到屬於和標籤部9對應的區域與和其鄰接的薄小片6對應的區域之交界部的中央側交界部PB為止的薄膜寬度方向既定範圍WA，係成為薄膜寬度方向檢查範圍(以下，僅稱為「檢查範圍」。)。
換言之，PTP薄膜25中，中央廢料25a及和其鄰接的2個標籤部9對應的區域，及和側部廢料25b對應的區域成為「非檢查區域(無需檢查區域)」。
亦即，PTP薄膜25中，包含中央廢料25a及和其鄰接的2個標籤部9對應的區域之薄膜寬度方向的中央部既定範圍WB、及和側部廢料25b對應的薄膜寬度方向的側部既定範圍WC成為「非檢查範圍(無需檢查範圍)」。
而且，本實施形態中，PTP薄膜25的薄膜寬度方向中從含有中央部既定範圍WB及與此鄰接的2個檢查區域Kb之範圍，亦即薄膜寬度方向一側的外側境界部PA到另一側的外側境界部PA為止的薄膜寬度方向既定範圍W0，被設定為薄膜寬度方向X射線照射範圍(以下，僅成為「X射線照射範圍」。)。
於這樣的構成之下，相對於薄膜法線方向，X射線感測器相機53和PTP薄膜25空出既定距離H1作配置，X射線照射裝置51(X射線源51a)和PTP薄膜25空出既定距離H2作配置。再者，從X射線照射裝置51(X射線源51a)照射的X射線的照射角(扇角)係被設定成既定角度θ。
又，本實施形態中，薄膜寬度方向上之X射線照射裝置51的中心軸D1的位置被設定在PTP薄膜25的薄膜寬度方向的中心位置。
其次，針對控制處理裝置54，參照圖5作說明。控制處理裝置54係具備：掌管X射線檢查裝置45整體之控制的微電腦71；作為由鍵盤或滑鼠、觸控板等所構成的「輸入手段」之輸入裝置72；作為具有CRT或液晶等之顯示畫面的「顯示手段」之顯示裝置73；用以記憶各種畫像資料等之畫像資料記憶裝置74；用以記憶各種運算結果等之運算結果記憶裝置75；以及用以預先記憶各種資訊的設定資料記憶裝置76等。此外，此等各裝置72~76係和微電腦71電連接。
微電腦71係具備作為運算手段的CPU71a、記憶各種程式的ROM71b、及暫時記憶運算資料或輸入/輸出資料等的各種資料之RAM71c等，且掌管控制處理裝置54中的各種控制，並以可和PTP包裝機10進行收發各種信號地連接。微電腦71係構成本實施形態中的畫像處理手段。
於這樣的構成之下，微電腦71係驅動控制例如X射線照射裝置51、X射線感測器相機53，執行取得PTP薄膜25的X射線穿透畫像資料之拍攝處理、依據該X射線穿透畫像資料檢查PTP薄片1之檢查處理、將該檢查處理的檢查結果朝PTP包裝機10的不良薄片排出機構等輸出之輸出處理等。
畫像資料記憶裝置74係記憶有以藉由X射線感測器相機53所取得之X射線穿透畫像資料為首之於檢查時被修正處理後的修正畫像資料、被二值化處理的二值化畫像資料、被遮蔽處理的遮蔽畫像資料等之各種畫像資料。
運算結果記憶裝置75，係記憶檢查結果資料或將該檢查結果資料經機率統計處理後的統計資料等。可令此等檢查結果資料、統計資料適宜地顯示於顯示裝置73。
設定資料記憶裝置76係用以記憶用於檢查之各種資訊。被設定記憶有作為此等各種資訊之、例如PTP薄片1、袋部2及錠劑5之形狀及尺寸或用以區劃上述檢查區域Kb的薄片框之形狀及尺寸、用以區劃袋部2的區域的袋框之形狀及尺寸、在二值化處理中之輝度閾值、用以進行各種良否判定之判定基準值等。
其次，針對藉X射線檢查裝置45進行的X射線檢查(檢查方法)作說明。首先針對取得X射線穿透畫像資料的處理之流程作詳細說明。
關於X射線檢查裝置45，如上述般，連續搬送的PTP薄膜25從遮蔽盒45a的入口部45b朝內部搬入，再從出口部45c朝外部被搬出。
在這期間，微電腦71係驅動控制X射線照射裝置51及X射線感測器相機53，對連續搬送的PTP薄膜25一邊照射X射線(照射工程)，一邊在PTP薄膜25每搬送既定量即取得拍攝穿透PTP薄膜25的X射線之一維的X射線穿透畫像資料(拍攝工程)。
如此藉X射線感測器相機53所取得之X射線穿透畫像資料，係在該相機53內部轉換成數位信號後，以數位信號的形式對控制處理裝置54(畫像資料記憶裝置74)輸出。
更詳言之，微電腦71為，在由X射線照射裝置51對PTP薄膜25常時照射X射線的狀態下，一被輸入來自上述編碼器的時序信號時即開始進行利用X射線感測器相機53之曝光處理。
然後，當輸入下一個時序信號時，將在那之前蓄積於光電二極體等之受光部的電荷統合並朝移位暫存器轉送。接著，被轉送於移位暫存器的電荷在迄至下一個時序信號被輸入為止的期間，依據轉送時鐘信號，依序作為畫像信號(X射線穿透畫像資料)輸出。
亦即，從上述編碼器輸入既定的時序信號之時點迄至下個輸入時序信號為止的時間成為在X射線感測器相機53的曝光時間。
此外，本實施形態中，構成為每次搬送PTP薄膜25，藉由X射線感測器相機53取得在薄膜搬送方向的X射線感測器53a的寬度、亦即相當於一份CCD寬度的長度份量之X射線穿透畫像資料。當然，亦可採用與此相異的構成。
畫像資料記憶裝置74係將從X射線感測器相機53輸入的X射線穿透畫像資料按時間系列依序記憶。
然後，藉由PTP薄膜25每被搬送既定量即反覆進行上述一連串處理，且被照射X射線的位置逐漸相對移動，使得PTP薄膜25中之2個檢查範圍WA的X射線穿透畫像資料連同薄膜搬送方向及薄膜寬度方向的位置資訊一起按時間系列依序記憶在畫像資料記憶裝置74。藉此，依序生成PTP薄片1的薄片本體部1a(檢查區域Kb)的二維X射線穿透畫像資料。
如此，當取得成為製品的1片PTP薄片1的薄片本體部1a(檢查區域Kb)的X射線穿透畫像資料時，微電腦71即執行檢查處理(檢查程序)。
以下，針對藉微電腦71所執行之檢查程序，參照圖8的流程圖作詳細說明。
此外，圖8所示的檢查程序係針對成為製品的1片PTP薄片1的薄片本體部1a(檢查區域Kb)分別進行的處理。亦即，PTP薄膜25往薄膜搬送方向每搬送相當於1片PTP薄片1份量的程度，對從並排於薄膜寬度方向的2個檢查範圍WA可獲得之2片PTP薄片1(薄片本體部1a)的X射線穿透畫像資料分別進行圖8所示的檢查程序。
如上述，當取得2片PTP薄片1(薄片本體部1a)的X射線穿透畫像資料時，微電腦71首先在步驟S10中執行檢查畫像取得處理。
詳言之，將從並排於PTP薄膜25的薄膜寬度方向的2個檢查範圍WA獲得之2片PTP薄片1的薄片本體部1a(檢查區域Kb)的X射線穿透畫像資料中之、在本程序作檢查的一X射線穿透畫像資料，從畫像資料記憶裝置74以檢查畫像的形式讀出。
其次，微電腦71係於步驟S11執行修正處理。詳言之，分別生成將在上述步驟S10取得作為檢查畫像之X射線穿透畫像資料修正成錠劑檢查用的修正畫像資料及修正成凸緣部檢查用的修正畫像資料，將此等記憶在畫像資料記憶裝置74。
具體言之，本實施形態中，執行將已取得作為檢查畫像的X射線穿透畫像資料的座標系統，轉換成PTP薄膜25上的座標系統之座標轉換處理(座標轉換工程)，並執行修正X射線穿透畫像資料的各畫素的輝度值(X射線強度)之強度修正處理。此處，藉由執行「座標轉換處理」的微電腦71之機能來構成本實施形態中的「座標轉換手段」。又，藉由執行「強度修正處理」的微電腦71之機能來構成本實施形態中的「強度修正手段」。
此外，本實施形態中，構成為：個別地進行生成錠劑檢查用的修正畫像資料時的座標轉換處理及強度修正處理、及生成凸緣部檢查用的修正畫像資料時的座標轉換處理及強度修正處理。
首先，就座標轉換處理，參照圖9作詳細說明。圖9係用以說明座標轉換處理的原理之示意圖。圖9中，薄膜寬度方向(圖9左右方向)中之X射線照射裝置51(X射線源51a)的中心軸D1的位置、及PTP薄膜25的薄膜寬度方向中央部被設定在X射線感測器相機53(X射線感測器53a的受光面)的薄膜寬度方向中央部。又，圖9中，將X射線感測器相機53的薄膜寬度方向中央部設為薄膜寬度方向中之座標系統的原點O。
如圖9所示，關於X射線檢查裝置45，由於從X射線照射裝置51將X射線朝X射線感測器相機53呈放射狀(扇束狀)照射，故以不同角度穿透PTP薄膜25的X射線入射於X射線感測器53a的各X射線檢測元件，因在PTP薄膜25上的薄膜寬度方向中之錠劑5的位置的差異，使得在X射線穿透畫像資料中之錠劑5的面積值等不同。
例如關於位在圖9左側的錠劑5，PTP薄膜25上為直徑[y2-y1]者在X射線感測器53a上被以直徑[Y2-Y1]放大投影，與位在圖9中央的錠劑5相較下，其放大率變大。
於是，在本實施形態中，將X射線穿透畫像資料的座標系統(X射線感測器53a上的座標系統)，針對錠劑5係依據下式(α)且針對凸緣部3a係依據下式(β)而分別轉換成PTP薄膜25上的座標系統。
Yn/L0=yn/L1 yn={Yn×L1}/L0・・・(α) Yn/L0=yn/L2 yn={Yn×L2}/L0・・・(β) 其中，L0：X射線源51a與X射線感測器53a之距離， L1：X射線源51a與錠劑5(錠劑5的中心部)之距離， L2：X射線源51a與凸緣部3a之距離， Yn：X射線感測器53a上的座標系統之座標位置， yn：PTP薄膜25(錠劑5或凸緣部3a)上的座標系統之座標位置， n：1以上的自然數。
此外，上述距離L0、距離L1、距離L2係在X射線檢查裝置45設計上已知的值，預先記憶在設定資料記憶裝置76。又，Yn係可從由X射線感測器53a取得之X射線穿透畫像資料讀取的座標值。
其次，就強度修正處理作詳細說明。從X射線照射裝置51朝X射線感測器相機53呈放射狀(扇束狀)照射之X射線的強度係與距離的平方成反比地衰減。因此，越是穿透PTP薄膜25的比薄膜寬度方向中央部還靠薄膜寬度方向外側的X射線，藉由X射線感測器相機53檢測的X射線之穿透量會減少。因此，X射線穿透畫像資料為，位在和PTP薄膜25的靠薄膜寬度方向外側對應處的畫像資料之輝度值，比位在和PTP薄膜25的薄膜寬度方向中央部對應處的畫像資料之輝度值低。
對此，本實施形態中，係依據X射線照射裝置51及X射線感測器相機53的位置關係(距離)修正X射線穿透畫像資料的各畫素之輝度值，俾在PTP薄膜25的薄膜寬度方向全區域成為更均一的輝度。
其次，微電腦71係於步驟S12執行二值化處理。詳言之，對在上述步驟S11取得之各種修正畫像資料分別執行二值化處理。
具體言之，生成將錠劑檢查用的修正畫像資料以錠劑異常檢測級別予以二值化的二值化畫像資料，將此作為錠劑檢查用的二值化畫像資料記憶在畫像資料記憶裝置74。此處，例如將第1閾值δ1以上以「1(明部)」的形式，將小於第1閾值δ1以「0(暗部)」的形式，使錠劑檢查用的修正畫像資料轉換成二值化畫像資料。
同時，生成將凸緣部檢查用的修正畫像資料以凸緣異常檢測級別予以二值化的二值化畫像資料，將此以凸緣部檢查用的二值化畫像資料的形式記憶於畫像資料記憶裝置74。此處，例如將第2閾值δ2以上以「1(明部)」的形式，將小於第2閾值δ2以「0(暗部)」的形式，使凸緣部檢查用的修正畫像資料轉換成二值化畫像資料。
其次，微電腦71係於步驟S13執行塊處理。詳言之，對在上述步驟S12取得之各種二值化畫像資料執行塊處理。
就塊處理而言，係進行針對二值化畫像資料的「0(暗部)」及「1(明部)」分別特定連結成分的處理，及針對各個的連結成分進行賦予標記之標記賦予處理。此處，分別特定的各連結成分之占有面積係以與X射線感測器相機53的畫素對應的點數表示。
其次，微電腦71係於步驟S14執行檢查對象特定處理。
詳言之，從依據錠劑檢查用的二值化畫像資料藉上述步驟S13的塊處理所特定之「0(暗部)」的連結成分之中，特定和錠劑5相當的連結成分、亦即錠劑區域。和錠劑5相當的連結成分，係可藉由判斷含有既定的座標之連結成分、屬於既定的形狀的連結成分、或屬於既定的面積處的連結成分等而特定。
同時，將依據凸緣部檢查用的二值化畫像資料藉上述步驟S13的塊處理所特定之「0(暗部)」的連結成分，特定為和異物相當的連結成分、亦即異物區域。
其次，微電腦71係於步驟S15執行遮蔽處理。
詳言之，對錠劑檢查用的二值化畫像資料，設定上述薄片框並區劃上述檢查區域Kb，並且配合該二值化畫像資料上的10個袋部2之位置分別設定上述袋框，對藉此所特定的袋區域以外的區域、亦即和凸緣部3a對應的區域進行遮蔽處理。已進行這樣的遮蔽處理之畫像資料係以錠劑檢查用的遮蔽畫像資料的形式記憶在畫像資料記憶裝置74。
同時，對凸緣部檢查用的二值化畫像資料，設定上述薄片框並區劃上述檢查區域Kb，並且配合該二值化畫像資料上的10個袋部2之位置分別設定上述袋框，對藉此所特定的袋區域內進行遮蔽處理。已進行這樣的遮蔽處理之畫像資料係以凸緣部檢查用的遮蔽畫像資料的形式記憶在畫像資料記憶裝置74。
此外，本實施形態中，上述薄片框及上述袋框的設定位置係藉由與PTP薄膜25之相對位置關係而預先決定。因此，本實施形態中，薄片框及袋框的設定位置沒有每次因應檢查畫像作位置調整，但不受此所限，亦可構成為考量發生偏位等，依據從檢查畫像獲得之資訊適宜調整薄片框及袋框的設定位置。
其次，微電腦71係於步驟S16中，將所有袋部2的錠劑良品旗標的值設定為「0」。
此外，「錠劑良品旗標」係表示對應的袋部2所收容的錠劑5之良否判定結果者，且設定於運算結果記憶裝置75。然後，於既定的袋部2所收容的錠劑5被判定為良品之情況，與此對應的錠劑良品旗標的值被設定成「1」。
於接著的步驟S17，微電腦71係在設定於運算結果記憶裝置75之袋編號計數的值C設定為初期值的「1」。
此外，「袋編號」，係指和1片PTP薄片1的檢查區域Kb內之10個袋部2分別對應設定的序列編號，藉由袋編號計數的值C(以下，僅稱為「袋編號C」)可特定袋部2之位置。
然後，微電腦71係於步驟S18，判定袋編號C是否為每一檢查區域Kb(每1片PTP薄片1)的袋數N(本實施形態中為「10」)以下。
在此處判定為是之情況，轉移到步驟S19，微電腦71係依據上述錠劑檢查用的遮蔽畫像資料，抽出在和現在的袋編號C(例如C=1)對應的袋部2中之上述錠劑區域(連結成分)的面積值為基準錠劑面積值Lo以上的塊(除去小於Lo的塊)。
接著，微電腦71係於步驟S20，判定在前述袋部2中的塊個數是否為「1」。在此處判定為是之情況，亦即在塊個數為「1」的情況，轉移到步驟S21。一方面，在判定為否之情況，將收容於和現在的袋編號C對應的袋部2之錠劑5視為不良品，照原樣轉移到步驟S23。
於步驟S21，微電腦71判定錠劑5的形狀、長度、面積等是否適當。此處在判定為是之情況轉移到步驟S22。另一方面，在判定為否之情況，將與現在的袋編號C對應的袋部2所收容之錠劑5視為不良品，照原樣轉移到步驟S23。
於步驟S22，微電腦71將與現在的袋編號C對應的袋部2所收容之錠劑5視為良品，在與該袋編號C對應的錠劑良品旗標的值設定「1」，再轉移到步驟S23。
之後，微電腦71係在步驟S23於現在的袋編號C加「1」後，返回步驟S18。
此處，在新設定的袋編號C還是袋數N(本實施形態中為「10」)以下的情況，再度轉移到步驟S19，反覆執行上述一連串錠劑檢查處理。
另一方面，在判定新設定的袋編號C為超過袋數N的情況，將和所有的袋部2所收容之錠劑5有關的良否判定處理視為結束，轉移到步驟S24。
於步驟S24，微電腦71係判定凸緣部3a是否為良品。詳言之，依據凸緣部檢查用的遮蔽畫像資料，例如判定在凸緣部3a的區域內是否存在既定的尺寸以上的異物等。
在此處判定為是之情況，轉移到步驟S25。另一方面，在判定為否之情況，亦即在被判定於凸緣部3a有異常的情況，照原樣轉移到步驟S27。
於步驟S25，微電腦71係判定檢查區域Kb內之所有袋部2的錠劑良品旗標的值是否為「1」。藉此，判定和該檢查區域Kb對應的PTP薄片1是良品或不良品。
在此處判定為是之情況，亦即在被收容在檢查區域Kb內所有的袋部2的錠劑5為「良品」，被判定為「不良品」的錠劑5(袋部2)1個也不存在的情況，於步驟S26，將和該檢查區域Kb對應的PTP薄片1判定為「良品」，結束本檢查程序。
一方面，在步驟S25中判定為否之情況，亦即就算判定在檢查區域Kb內有一個「不良品」的錠劑5(袋部2)之情況，轉移到步驟S27。
於步驟S27中，微電腦71將和該檢查區域Kb對應的PTP薄片1判定為「不良品」，結束本檢查程序。
此外，於步驟S26的良品判定處理及步驟S27的不良品判定處理中，微電腦71係將和該檢查區域Kb對應的PTP薄片1有關的檢查結果記憶在運算結果記憶裝置54，並對PTP包裝機10(包含不良薄片排出機構)輸出。因此，藉由上述步驟S12~步驟S27一連串的處理構成本實施形態中的「檢查工程」，藉由執行此種處理的微電腦71之機能來構成「檢查手段」。
如以上所詳述，依據本實施形態，對連續搬送的PTP薄膜25從X射線照射裝置51一邊照射X射線，一邊在PTP薄膜25每搬送既定量即利用X射線感測器相機53拍攝穿透PTP薄膜25的X射線，再依據所取得之X射線穿透畫像資料，進行和PTP薄片1有關之檢查。
特別是依據本實施形態， 在進行有關PTP薄片1的檢查前，進行將藉由X射線感測器相機53所取得之X射線穿透畫像資料的座標系統轉換成PTP薄膜25的座標系統之處理。藉此，可修正因在PTP薄膜25的薄膜寬度方向中之位置差異所致之錠劑5被放大投影成不同尺寸的X射線穿透畫像資料。
進而，關於各種檢查項目(錠劑檢查及凸緣部檢查)，可分別基於在PTP薄片1全區域(檢查範圍WA全區域)共通的判定基準進行良否判定。換言之，可在未將關於相同檢查項目的判定基準按PTP薄膜25的薄膜寬度方向之各位置區分並設定複數個的情況下，於PTP薄片1全區域(檢查範圍WA全區域)進行均一的檢查。結果，可謀求抑制檢查精度之降低。
此外，未受限於上述實施形態的記載內容，例如亦可按以下方式實施。不用說，當然亦可為以下未例示的其他應用例、變更例。
(a)薄片狀包裝體(包裝薄片)的構成係未受限於上述實施形態的PTP薄片1。例如亦可將SP薄片作為檢查對象。
如圖10所示，一般的SP薄片90，係藉由使由以鋁為基材的不透明材料所構成之帶狀的2片薄膜91、92重疊，並在兩薄膜91、92間一邊充填錠劑5一邊在該錠劑5的周圍留下袋狀的收容空間93之方式接合該收容空間93的周圍(圖10中的底紋花紋部分)的兩薄膜91、92，作成帶狀的包裝體後，再藉由將該包裝體切離成矩形薄片狀所形成。
在SP薄片90，在用以能以含有1個收容空間93的薄小片94為單位進行切離的切離線方面，形成有沿著薄片長邊方向形成之縱騎縫線95及沿著薄片短邊方向形成之橫騎縫線96。再加上，在SP薄片90，於薄片長邊方向一端部，附設印刷有各種資訊(本實施形態中為「ABC」的文字)的標籤部97。
(b)PTP薄片1單位的袋部2的排列或個數亦未受上述實施形態的態樣(2列、10個)任何限定，例如可採用以具有3列12個袋部2(收容空間2a)的類型為首之由各式各樣的排列、件數所成的PTP薄片(關於上述SP薄片亦相同)。當然，1個薄小片所包含的袋部(收容空間)數量亦未受上述實施形態任何限定。
(c)在上述實施形態的PTP薄片1，作為切離線，形成有將貫通於PTP薄片1的厚度方向之切口間歇排列而成的騎縫線7，但切離線未受此所限，亦可因應於容器薄膜3及蓋膜4的材質等而採用不同的構成。例如，亦可構成為形成有如剖面大致V字狀的狹縫(半切線)之非貫通的切離線。又，亦可為未形成騎縫線7等的切離線之構成。
又，上述實施形態中，雖構成為在PTP薄片1的周緣部之對應騎縫線7的形成位置，形成有縮頸部8，但亦可為省略縮頸部8的構成。
(d)第1薄膜及第2薄膜的材質、層構造等，係未受限於上述實施形態的容器薄膜3、蓋膜4的構成。例如上述實施形態中，容器薄膜3及蓋膜4雖是以鋁等之金屬材料為基材所形成，但不受此所限，亦可採用其他材質者。亦可採用例如可見光等不會穿透的合成樹脂材料等。
(e)帶狀包裝體的構成未受限於上述實施形態，亦可採用其他的構成。
例如上述實施形態中，雖為在PTP薄膜25的寬度方向同時製造2片PTP薄片1的構成，但亦可置換為在PTP薄膜25的寬度方向製造1片或3片以上的構成。
但是，較佳為袋部2的配置佈置是以PTP薄膜25的薄膜寬度方向中央部為中心在薄膜寬度方向呈對稱。
例如，上述實施形態的PTP薄膜25，係成為在排列於薄膜寬度方向的2個薄片衝切範圍Ka間介設有中央廢料25a的佈置。但不受此所限，如圖11所示，亦可作成省略中央廢料25a，且和排列於薄膜寬度方向的2個PTP薄片1的標籤部9對應的區域彼此直接繫接的佈置。
又，上述實施形態中，PTP薄膜25中排列於薄膜寬度方向的2個PTP薄片1係分別為標籤部9面向薄膜寬度方向中央部且和中央廢料25a鄰接的狀態。但不受此所限，如圖12所示，亦可作成排列於薄膜寬度方向的2個PTP薄片1的標籤部9分別面向薄膜寬度方向外側且和側部廢料25b鄰接的佈置。
(f)電磁波照射手段的構成未受限於上述實施形態。上述實施形態中，成為照射作為電磁波的X射線之構成，但不受此所限，也可作成使用兆赫電磁波等之穿透PTP薄膜25的其他電磁波之構成。
(g)拍攝手段之構成未受限於上述實施形態。例如上述實施形態中，作為拍攝手段雖採用了使用閃爍體的CCD相機(X射線感測器相機53)，但不受此所限，亦可採用將X射線直接入射並予以拍攝的相機。
上述實施形態中，作為拍攝手段雖採用並排有1列CCD的X射線感測器相機53，但不受此所限，亦可採用例如在PTP薄膜25的薄膜搬送方向具備複數列CCD列(檢測元件列)的X射線區域感測器相機，例如X射線TDI(Time Delay Integration、時延積分)相機。藉此，可謀求更提升檢查精度及檢查效率。
(h)X射線檢查裝置45的配置位置未受限於上述實施形態。例如上述實施形態中，雖為在PTP薄膜25被往上下方向搬送的位置配置X射線檢查裝置45之構成，但不受此所限，亦可作成例如在PTP薄膜25被往水平方向搬送的位置或斜向搬送的位置配置X射線檢查裝置45之構成。
又，上述實施形態中，雖構成為在比從PTP薄膜25衝切PTP薄片1還先的前工程中利用X射線檢查裝置45進行X射線檢查，但不受此所限，亦可構成為在從PTP薄膜25衝切PTP薄片1之後的後工程中，對藉由輸送機39所搬送之PTP薄片1進行檢查。
此時，亦可取代檢查裝置45是被設置於PTP包裝機10內的構成(線上)，改為具備與PTP包裝機10分開且作為離線進行檢查PTP薄片1的裝置之檢查裝置45的構成。又，此時，亦可構成為將可搬送PTP薄片1的搬送手段配備在檢查裝置45。
但是，在離線進行檢查的情況，由於作為檢查對象的PTP薄片1之位置、朝向相對於檢查裝置45未成為一定，故在進行檢查時，必須事先調整PTP薄片1的位置、朝向。其結果，有檢查速度及檢查精度降低之虞。
近年，於PTP薄片1的製造領域等中，伴隨著生產速度之高速化而被要求各種檢查之高速化。例如在PTP包裝機10上進行檢查的情況，亦有被要求每1秒處理100個以上的錠劑5的情況。因此，線上執行檢查的方式在謀求生產性之提升上較佳。
(i)電磁波照射手段及拍攝手段的配置構成未受限於上述實施形態。
例如上述實施形態中，雖為X射線照射裝置51配置在PTP薄膜25的容器薄膜3側，X射線感測器相機53配置在PTP薄膜25的蓋膜4側之構成，但亦可作成兩者的位置關係相反，將X射線照射裝置51配置在蓋膜4側，X射線感測器相機53配置在容器薄膜3側之構成。此時，「容器薄膜3」是構成「第2薄膜」，「蓋膜4」是構成「第1薄膜」。
(j)X射線檢查裝置45的構成，係未受限於上述實施形態。例如，亦可構成為配合PTP薄膜25的尺寸或佈置等而具備可將X射線照射裝置51及X射線感測器相機53中至少1者在薄膜寬度方向、薄膜搬送方向及薄膜法線方向中至少1方向上作位置調整之位置調整機構(位置調整手段)。藉此，提高X射線檢查裝置45之泛用性並可謀求提升檢查精度。
(k)又，關於X射線檢查裝置45，亦可構成為：具備未圖示的既定的導引手段等，使PTP薄膜25以往X射線感測器相機53側凸出的方式彎成圓弧狀，且在PTP薄膜25(錠劑5或凸緣部3a)的薄膜寬度方向的各位置和X射線照射裝置51之距離相等的狀態進行搬送(參照圖13)。
藉此，可極力縮小或消除X射線相對於PTP薄膜25(錠劑5或凸緣部3a)的薄膜寬度方向的各位置之入射角的差。
此處，於上述構成之下，針對將X射線穿透畫像資料的座標系統(X射線感測器53a上的座標系統)轉換成PTP薄膜25上的座標系統之座標轉換處理，參照圖13詳細說明。
此處，PTP薄膜25(錠劑5或凸緣部3a)的座標系統，係為沿著彎曲的PTP薄膜25的圓弧狀的座標系統，當將此圓弧上的座標系統之座標位置設為「En」時，針對錠劑5係依據下式(α’)，而針對凸緣部3a係依據下式(β’)，可分別求得。
Yn/L0=tanφ(Yn) φ(Yn)=arctan(Yn/L0) En=2π×Ra×φ(Yn)/2π・・・(α’) En=2π×Rb×φ(Yn)/2π・・・(β’) 其中，L0：X射線源51a與X射線感測器53a之距離， Ra：X射線源51a與錠劑5(錠劑5的中心部)之距離， Rb：X射線源51a與凸緣部3a之距離， Yn：X射線感測器53a上的座標系統之座標位置， φ(Yn)：X射線往座標位置Yn入射的入射角， n：1以上的自然數。
此外，上述距離L0、距離Ra、距離Rb係在X射線檢查裝置45設計上已知的值，預先記憶在設定資料記憶裝置76。又，Yn係可從由X射線感測器53a取得之X射線穿透畫像資料讀取的座標值。
其次，針對使PTP薄膜25以往X射線感測器相機53側凸出之方式彎成圓弧狀的效果作詳細說明。
如上述，由於X射線係藉由X射線照射裝置51呈放射狀照射，故如上述實施形態所示，在PTP薄膜25是被沿著薄膜寬度方向以水平的狀態搬送之情況，成為X射線對從該PTP薄膜25的寬度方向中央部偏離的位置之錠劑5斜向照射。又，由於錠劑5在PTP薄膜25的薄膜寬度方向的位置差異，X射線對各錠劑5之入射角亦會不同。
此處，即便是將平行光對各錠劑5斜向照射且朝既定的拍攝手段平行投影的情況，有時依錠劑5的形狀會有投影於拍攝手段的錠劑5的影像變大的情況。又，依平行光的入射角差異，亦有在投影畫像的尺寸上產生差異的情況。
例如，如圖14(a)所示，在錠劑5是如上述實施形態的晶體狀錠之情況，因平行光的入射角所致之對投影畫像的尺寸之影響係等同大致沒有([錠劑5實際的尺寸R1]≒[投影畫像的尺寸R2])。
另一方面，如圖14(b)所示，在錠劑5是成為剖面矩形狀之圓筒形的平錠之情況，因平行光的入射角所致之對錠劑5的投影畫像之影響變較大([錠劑5實際的尺寸R1]＜[投影畫像的尺寸R3])。特別是錠劑(平錠)5的厚度越厚，其影響越顯著地呈現(R1＜＜R3)。
對此，除了上述步驟S11的座標轉換處理以外，再考量因上述的平行光的入射角所致之對錠劑5的投影畫像之影響，亦可考慮將X射線穿透畫像資料按位在薄膜寬度方向複數個部位的各錠劑5作修正(R3→R1)。
但是，在進行此種修正的構成下，如圖15所示，在假設袋部2內的錠劑(平錠)5之姿勢為傾斜的情況，修正後的錠劑5的尺寸(參照圖15的二點鏈線)在外觀上變小，有變得無法適當地進行檢查之虞。
對此，如上述，藉由使PTP薄膜25以往X射線感測器相機53側凸出之方式彎成圓弧狀，可極力縮小或消除X射線相對於位在PTP薄膜25的薄膜寬度方向複數個部位的錠劑5之入射角的差。結果，可抑制上述不良情況之發生。
(l)又，如圖16所示，亦可構成為：在X射線檢查裝置45中，X射線照射裝置51配置在PTP薄膜25的蓋膜4側，X射線感測器相機53配置在PTP薄膜25的容器薄膜3側，並且使用未圖示的既定的導引手段等，將PTP薄膜25以往X射線照射裝置51側凸出的方式彎成圓弧狀的狀態下搬送。
藉由此種構成，袋部2的突出側成為位在彎成圓弧狀的PTP薄膜25之內側(凹側)的狀態，成為PTP薄膜25整體收納於更窄的寬度範圍內的狀態。
藉此，與以往相比，可在不用加大從電磁波照射手段51照射之X射線的照射角(朝寬度方向擴展)之下，在X射線的照射範圍內一邊維持PTP薄膜25全體一邊將X射線照射裝置51與X射線感測器相機53之距離L4縮成比上述實施形態的距離L0還短。結果，可謀求X射線檢查裝置45之小型化。
同時，藉由X射線照射裝置51與X射線感測器相機53之距離接近，變得更容易充分確保檢查所需的X射線穿透量，可謀求提升檢查精度。進而，作為X射線照射裝置51，可採用輸出更小的小型設備，可謀求檢查裝置進一步小型化。
(m)又，關於X射線檢查裝置45，若作成以袋部2的突出側朝向下方之方式搬送PTP薄膜25，並且袋部2的突出側端面(頂部)是朝外側彎成圓弧狀的構成，則在錠劑5的表面彎曲成上述實施形態的晶體狀錠之情況，能使該錠劑5的姿勢更穩定，可謀求進一步提升檢查精度。
1:PTP薄片 1a:薄片本體部 2:袋部 2a:收容空間 3:容器薄膜 4:蓋膜 5:錠劑 6:薄小片 7:騎縫線 8:縮頸部 9:標籤部 10:PTP包裝機 25:PTP薄膜 25a:中央廢料 25b:側部廢料 45:X射線檢查裝置 51:X射線照射裝置 51a:X射線源 53:X射線感測器相機 54:控制處理裝置 71:微電腦 74:畫像資料記憶裝置 L0:X射線源與X射線感測器之距離 L1:X射線源與錠劑之距離 L2:X射線源與凸緣部之距離 Yn:X射線感測器上的座標系統之座標位置 yn:PTP薄膜上的座標系統之座標位置
圖1係PTP薄片的立體圖。 圖2係PTP薄片的部分放大剖面圖。 圖3係顯示PTP薄膜的佈置之概略構成圖。 圖4係PTP包裝機的概略構成圖。 圖5係顯示X射線檢查裝置的電氣構成之方塊圖。 圖6係示意顯示X射線檢查裝置的概略構成之立體圖。 圖7係顯示X射線照射裝置、X射線感測器相機及PTP薄膜的位置關係之示意圖。 圖8係顯示檢查程序之流程圖。 圖9係用以說明座標轉換處理的原理之示意圖。 圖10係顯示SP薄片之平面圖。 圖11係顯示別的實施形態的PTP薄膜之佈置的概略構成圖。 圖12係顯示別的實施形態的PTP薄膜之佈置的概略構成圖。 圖13係用以說明別的實施形態的X射線照射裝置、X射線感測器相機及PTP薄膜的位置關係、以及其座標轉換處理的原理之示意圖。 圖14(a)係用以比較晶體狀錠的實際的尺寸與投影畫像的尺寸之示意圖，圖14(b)係用以比較平錠的實際的尺寸與投影畫像的尺寸之示意圖。 圖15係用以比較姿勢傾斜的平錠之實際的尺寸、投影畫像的尺寸及修正後的尺寸之示意圖。 圖16係顯示別的實施形態的X射線照射裝置、X射線感測器相機及PTP薄膜的位置關係之示意圖。
2:袋部
3a:凸緣部
5:錠劑
25:PTP薄膜
45:X射線檢查裝置
51:X射線照射裝置
51a:X射線源
53:X射線感測器相機
53a:X射線感測器
D1:中心軸
L0:X射線源與X射線感測器之距離
L1:X射線源與錠劑之距離
L2:X射線源與凸緣部之距離
Y1~Y6:X射線感測器上的座標系統之座標位置
y1~y6:PTP薄膜上的座標系統之座標位置

Claims (10)

  1. 一種檢查裝置，係用以檢查包裝體之檢查裝置，該包裝體係安裝由不透明材料所構成之第1薄膜及由不透明材料所構成之第2薄膜，並在該兩薄膜間所形成的收容空間內收容有錠劑而成，其特徵為具備： 電磁波照射手段，可從前述第1薄膜側對沿著既定方向搬送且在和前述既定方向正交的寬度方向之複數個部位形成有前述收容空間的前述包裝體，照射既定的電磁波； 拍攝手段，以隔著前述包裝體和前述電磁波照射手段對向的方式配置在前述第2薄膜側，並且具有電磁波檢測手段，且將前述包裝體每被搬送既定量所取得之電磁波穿透畫像依序輸出，該電磁波檢測手段係沿著前述寬度方向排列有可檢測從前述電磁波照射手段照射並穿透前述包裝體的電磁波之複數個檢測元件；及 畫像處理手段，處理從前述拍攝手段輸出的畫像信號， 前述畫像處理手段具備： 座標轉換手段，依據前述電磁波照射手段、前述包裝體及前述拍攝手段的位置關係，將藉由前述拍攝手段所取得之電磁波穿透畫像的座標系統轉換成前述包裝體的座標系統；及 檢查手段，依據藉由前述座標轉換手段轉換成前述包裝體的座標系統之前述電磁波穿透畫像，可執行有關前述包裝體的檢查。
  2. 如請求項1之檢查裝置，其中 將前述包裝體以往前述拍攝手段側凸出的方式在前述寬度方向彎成圓弧狀的狀態下進行搬送。
  3. 如請求項1之檢查裝置，其中 前述包裝體，係為於位在前述拍攝手段側的前述第2薄膜中，形成前述收容空間的袋部被形成為往前述拍攝手段側突出的泡殼包裝， 將前述包裝體以往前述電磁波照射手段側凸出的方式在前述寬度方向彎成圓弧狀的狀態下進行搬送。
  4. 如請求項1之檢查裝置，其中 前述包裝體，係為安裝有帶狀的前述第1薄膜和帶狀的前述第2薄膜而成，且從設定在其寬度方向2個部位的薄片切離範圍將薄片狀包裝體分別切離前之帶狀包裝體， 前述帶狀包裝體中並排在前述寬度方向的2個薄片狀包裝體，係以和前述電磁波照射手段的中心軸交叉的前述帶狀包裝體的寬度方向中央部為中心在前述寬度方向對稱地配置，且各個標籤部配置成朝向前述帶狀包裝體的寬度方向中央部側或寬度方向外側。
  5. 如請求項1之檢查裝置，其中 具備強度修正手段，該強度修正手段依據前述電磁波照射手段及前述拍攝手段的位置關係，修正前述電磁波穿透畫像的各畫素之值。
  6. 如請求項1之檢查裝置，其中 前述座標轉換手段，係將藉由前述拍攝手段所取得之電磁波穿透畫像的座標系統，轉換成至少以前述錠劑為基準的座標系統及以形成於前述收容空間周圍的凸緣部為基準的座標系統， 前述檢查手段為，在有關前述包裝體的檢查方面，係基於已轉換成至少以前述錠劑為基準的座標系統之前述電磁波穿透畫像執行有關前述錠劑之檢查，且基於已轉換成以前述凸緣部為基準的座標系統之前述電磁波穿透畫像執行有關前述凸緣部之檢查。
  7. 如請求項1之檢查裝置，其中 前述電磁波為X射線或兆赫電磁波。
  8. 如請求項1之檢查裝置，其中 前述第1薄膜及前述第2薄膜是以鋁為基材所形成者。
  9. 一種包裝機，具備如請求項1至8中任一項之檢查裝置。
  10. 一種檢查方法，係用以檢查包裝體之檢查方法，該包裝體，係為安裝由不透明材料所構成之第1薄膜及由不透明材料所構成之第2薄膜，並在該兩薄膜間所形成的收容空間內收容有錠劑而成之包裝體， 其特徵為具備： 照射工程，可從配置在前述第1薄膜側的既定的電磁波照射手段，對沿著既定方向搬送且在和前述既定方向正交的寬度方向之複數個部位形成有前述收容空間的前述包裝體，照射既定的電磁波； 拍攝工程，將藉由以隔著前述包裝體和前述電磁波照射手段對向的方式配置在前述第2薄膜側之既定的拍攝手段，檢測並取得穿透前述包裝體的電磁波之電磁波穿透畫像，按前述包裝體每搬送既定量依序輸出； 座標轉換工程，依據前述電磁波照射手段、前述包裝體及前述拍攝手段的位置關係，將在前述拍攝工程所取得之電磁波穿透畫像的座標系統，轉換成前述包裝體的座標系統；及 檢查工程，依據在前述座標轉換工程中轉換成前述包裝體的座標系統之前述電磁波穿透畫像，執行有關前述包裝體的檢查。
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