TWI727010B - 粉狀1, 4-環己二羧酸 - Google Patents

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Abstract

本發明以提供一種粉體流動性良好之高純度1,4-環己二羧酸之粉體為目的，且提供一種粉體之粒度分布(體積基準)D10 為5~55μm之範圍、D50 為40~200μm、D90 為170~800μm之範圍，且鬆散總體密度為0.4~0.8g/cm3 、緊實總體密度為0.5~1.0g/cm3 、壓縮度為10~23%之高純度1,4-環己二羧酸之粉體。

Description

粉狀1,4-環己二羧酸
發明領域 本發明係有關於一種粉狀1,4-環己二羧酸。
發明背景 1,4-環己二羧酸可利用作為醫藥品、合成樹脂、合成纖維、染料等之原料。特別是最近，因耐熱性、電特性、光學特性而作為光學材料、電子材料用途之聚酯的酸成份使用之高純度1,4-環己二羧酸之需求越來越高。
作為1,4-環己二羧酸之製造方法，一般是將對酞酸之二鈉鹽於水溶液中將其芳香環氫化製成1,4-環己二羧酸之二鈉鹽，再將其以鹽酸、硫酸等進行酸析而獲得1,4-環己二羧酸之方法(專利文獻1)。然而，以此方法製造之1,4-環己二羧酸會有來自於製造方法之鈉等金屬、以及酸析所使用之含氯或硫等之酸成份殘留，故而以該1,4-環己二羧酸作為原料之聚合物會有聚合度不易上升、以及殘留之酸成份造成裝置等之金屬腐蝕或影響電特性之疑慮等問題。
又，其他方法方面，亦已知將對酞酸直接核氫化之方法(專利文獻2~4)。該等方法皆無法避免環己羧酸、4-甲基環己羧酸等單羧酸類不純物的副生成，且該屬於不純物之單羧酸類，使用再結晶等通常方法不容易分離。因此以含有該等不純物之1,4-環己二羧酸作為原料之聚合物會有聚合度不易上升、影響耐熱性、耐候性、物理強度等特性之疑慮等問題。
又，已知將對酞酸二烷基酯核氫化，所獲得之1,4-環己羧酸二烷基酯於水溶液中在酸性觸媒存在下使其進行水解反應而獲得1,4-環己二羧酸之方法中，其水解時將水及水解反應中副產出之醇進行連續地蒸發至反應系外，且將水連續地或間歇地添加至反應系之方法(專利文獻5)。
然而，一般而言如上述，有機化合物中純度之提昇及不純物之降低容易成為欲解決之主題，但有機化合物為粉體型態之情況下，粉體操作性是否良好在工業上是重要的問題。作為粉體操作性，受評價的主要是粉體流動性與噴流性，依據該粉體流動性與噴流性之程度，會有須要機械方面的對應裝置之設置與操作環境之準備等的情況，此時在經濟上是損失利益的。還有，欲解決此問題時，有機化合物即使為相同化學結構，仍會因為其製造履歷、保管履歷、物質固有的性質(黏著性、附著性等)等之影響造成粉體特性相異，常會無法容易地解決問題。亦即，找出影響粉體特性之原因的困難度是使改良粉體操作性之難易度上升的一個要因。 先行技術文獻 專利文獻
[專利文獻1]國際公開93/06076號手冊 [專利文獻2]日本專利特開昭58-198439號公報 [專利文獻3]美國專利第6291706號說明書 [專利文獻4]日本專利特開2003-128622號公報 [專利文獻5]日本專利特開2005-330239號公報
發明概要 發明欲解決之課題 本發明是以提供一種粉體流動性良好的1,4-環己二羧酸之粉體作為目的。 用以解決課題之手段
本發明提供以下述之項作為要旨的粉狀1,4-環己二羧酸及其製造方法。
(項1) 一種粉狀1,4-環己二羧酸，其粉體之粒度分布(體積基準)D10 為5~55μm之範圍、D50 為40~200μm、D90 為170~800μm之範圍，且鬆散總體密度為0.4~0.8g/cm3 ，緊實總體密度為0.5~1.0g/cm3 ，壓縮度為10~23%。
(項2) 如項1記載之粉狀1,4-環己二羧酸，其中1,4-環己二羧酸之順式異構體與反式異構體之比率為50︰50~90︰10。
(項3) 如項1或項2記載之粉狀1,4-環己二羧酸，其中粉狀1,4-環己二羧酸中之對酞酸二烷基(C1~C4)酯、對酞酸單烷基(C1~C4)酯及對酞酸之合計含量為0.2%以下。
(項4) 如項1~3中任一項記載之粉狀1,4-環己二羧酸，其中粉狀1,4-環己二羧酸滿足選自於由下述(a)~(e)所構成群組中之至少1者︰ (a)環己羧酸烷基(C1~C4)酯之含量為0.1%以下； (b)環己羧酸之含量為0.1%以下； (c)4-甲基環己羧酸烷基(C1~C4)酯之含量為0.1%以下； (d)4-甲基環己羧酸之含量為0.3%以下； (e)1,4-環己二羧酸單烷基(C1~C4)酯之含量為0.5%以下； 且，滿足選自於由下述(i)~(iii)所構成群組中之至少1者︰ (i)鹼金屬含量(重量基準)︰20ppm以下； (ii)水分含量︰0.1重量%以下； (iii)色度(Hazen)︰50以下。
(項5) 如項1~4中任一項記載之粉狀1,4-環己二羧酸，其中安息角為46度以下，且分散度為20%以上。
(項6) 一種粉狀1,4-環己二羧酸之製造方法，該製造方法包含︰ (1)將對酞酸二烷基(C1~C4)酯核氫化，獲得1,4-環己二羧酸二烷基(C1~C4)酯之步驟； (2)將前述步驟(1)獲得的1,4-環己二羧酸二烷基(C1~C4)酯在水或含有水之溶媒存在下、酸性觸媒存在下進行水解，獲得1,4-環己二羧酸之步驟； (3)將前述步驟(2)獲得的1,4-環己二羧酸進行晶析之步驟； (4)將前述步驟(3)獲得的1,4-環己二羧酸之結晶進行固液分離之步驟； (5)將前述步驟(4)獲得的1,4-環己二羧酸之濕結晶進行乾燥之步驟、乾燥及造粒之步驟、或乾燥及粉碎之步驟；以及 因應需求，(6)將前述步驟(5)獲得的1,4-環己二羧酸粉體進行分級之步驟。
(項7) 如項6記載之製造方法，其中步驟(5)中將濕結晶乾燥之步驟係將濕結晶一邊攪拌並一邊乾燥之步驟。
(項8) 如項6或項7記載之製造方法，其特徵在於在步驟(2)中，係將水連續地或間歇地添加至反應系並進行水解反應以令反應液用量作為基準之液體空間速度成為0.05~0.5/h之範圍。
(項9) 一種粉狀1,4-環己二羧酸，係以如項6~項8中任一項記載之製造方法所製造者。 (項10) 一種使用如項1~項5及項9中任一項記載之粉狀1,4-環己二羧酸作為聚合物原料之方法。 (項11) 一種使用如項1~項5及項9中任一項記載之粉狀1,4-環己二羧酸製造聚合物之方法。 (項12) 一種使如項1~項5及項9中任一項記載之粉狀1,4-環己二羧酸與醇或胺反應，製造聚酯或聚醯胺之方法。 發明效果
依據本發明，粉狀1,4-環己二羧酸之粉體流動性良好。又，依據上述項3~7之發明，粉狀1,4-環己二羧酸為較高純度。
用以實施發明之形態 本發明之1,4-環己二羧酸為粉體，該粉狀1,4-環己二羧酸之粒度分布(體積基準)是以D10 為5~55μm之範圍、D50 為40~200μm之範圍、且D90 為170~800μm之範圍為佳，較佳為D10 為5~55μm之範圍、D50 為40~200μm之範圍、且D90 為170~600μm之範圍，更佳為D10 為10~50μm之範圍、D50 為45~130μm之範圍、且D90 為175~500μm之範圍。進一步以D10 為13~45μm之範圍、D50 為50~100μm之範圍、且D90 為180~350μm為更佳，特別是以D10 為15~45μm之範圍、D50 為50~100μm之範圍、且D90 為180~300μm。
本發明之粒度分布(D10 、D50 、D90 ，平均粒徑)是使用雷射繞射‧散射法之乾式法的測定值。該測定法之測定裝置，以麥奇克拜爾(Microtrac-Bel)(股)、馬爾文社(Malvern Instruments Ltd.)、美商貝克曼庫爾特有限公司(Beckman Coulter, Inc.)及島津製作所(股)所販售之測定裝置的精度較高，可有效地使用於本發明之分析。
粒度分布(D10 、D50 、D90 ，平均粒徑)之值是分別針對同一粉體進行2以上樣本(n≧2)之取樣，並測定各樣本之粒度分布(D10 、D50 、D90 ，平均粒徑)後，該等之算術平均值所示之數值。
又，關於粉狀1,4-環己二羧酸的總體密度，分為鬆散總體密度與緊實總體密度，鬆散總體密度亦稱為疏鬆充填總體密度，是將粉體在不施加振動之情況下充填至一定量之量筒時的視密度。緊實總體密度亦稱為緊密充填總體密度，是於測定鬆散總體密度後，將已充填之粉體藉由特定次數之敲實量筒而進行再次充填者。此外，可由所獲得之鬆散總體密度與緊實總體密度計算出壓縮度(%)。壓縮度是表示容積減少的程度，為粉體流動性的指標之一。一般來說，壓縮度越大則粉體流動性越差，壓縮度越小則粉體流動性越良好。
關於本發明之粉狀1,4-環己二羧酸，通常來說，鬆散總體密度為0.4~0.8g/cm3 、緊實總體密度為0.5~1.0g/cm3 、以及壓縮度為10~23%，較佳為鬆散總體密度為0.5~0.75g/cm3 、緊實總體密度為0.6~0.95g/cm3 、以及壓縮度為10~22%，更佳為鬆散總體密度為0.6~0.7g/cm3 、緊實總體密度為0.7~0.85g/cm3 、以及壓縮度為10~21%。
藉由設為上述粒度分佈之範圍、總體密度之範圍及壓縮度之範圍，可獲得1,4-環己二羧酸之良好粉體流動性。若在該範圍之外且粉體位於較細範圍之側時，粉體流動性會有變差之傾向。另一方面，若在該範圍之外且粉體位於較大範圍之側時，容易包含不純物，會有純度降低之傾向。
作為較佳態樣之組合，可列舉出下述組合。 D10 為5~55μm之範圍、D50 為40~200μm之範圍、且D90 為170~800μm之範圍時，鬆散總體密度為0.4~0.8g/cm3 、緊實總體密度為0.5~1.0g/cm3 。 D10 為5~55μm之範圍、D50 為40~200μm之範圍、且D90 為170~600μm之範圍時，鬆散總體密度為0.4~0.8g/cm3 、緊實總體密度為0.5~1.0g/cm3 。 D10 為10~50μm之範圍、D50 為45~130μm之範圍、且D90 為175~500μm之範圍時，鬆散總體密度為0.4~0.8g/cm3 、緊實總體密度為0.5~1.0g/cm3 。 D10 為13~45μm之範圍、D50 為50~100μm之範圍、且D90 為180~350μm之範圍時，鬆散總體密度為0.4~0.8g/cm3 、緊實總體密度為0.5~1.0g/cm3 。 D10 為15~45μm之範圍、D50 為50~100μm之範圍、且D90 為180~300μm之範圍時，鬆散總體密度為0.4~0.8g/cm3 、緊實總體密度為0.5~1.0g/cm3 。 D10 為5~55μm之範圍、D50 為40~200μm之範圍、且D90 為170~800μm之範圍時，鬆散總體密度為0.5~0.75g/cm3 、緊實總體密度為0.6~0.95g/cm3 。 D10 為5~55μm之範圍、D50 為40~200μm之範圍、且D90 為170~600μm之範圍時，鬆散總體密度為0.5~0.75g/cm3 、緊實總體密度為0.6~0.95g/cm3 。 D10 為10~50μm之範圍、D50 為45~130μm之範圍、且D90 為175~500μm之範圍時，鬆散總體密度為0.5~0.75g/cm3 、緊實總體密度為0.6~0.95g/cm3 。 D10 為13~45μm之範圍、D50 為50~100μm之範圍、且D90 為180~350μm之範圍時，鬆散總體密度為0.5~0.75g/cm3 、緊實總體密度為0.6~0.95g/cm3 。 D10 為15~45μm之範圍、D50 為50~100μm之範圍、且D90 為180~300μm之範圍時，鬆散總體密度為0.5~0.75g/cm3 、緊實總體密度為0.6~0.95g/cm3 。 D10 為5~55μm之範圍、D50 為40~200μm之範圍、且D90 為170~800μm之範圍時，鬆散總體密度為0.6~0.7g/cm3 、緊實總體密度為0.7~0.85g/cm3 。 D10 為5~55μm之範圍、D50 為40~200μm之範圍、且D90 為170~600μm之範圍時，鬆散總體密度為0.6~0.7g/cm3 、緊實總體密度為0.7~0.85g/cm3 。 D10 為10~50μm之範圍、D50 為45~130μm之範圍、且D90 為175~500μm之範圍時，鬆散總體密度為0.6~0.7g/cm3 、緊實總體密度為0.7~0.85g/cm3 。 D10 為13~45μm之範圍、D50 為50~100μm之範圍、且D90 為180~350μm之範圍時，鬆散總體密度為0.6~0.7g/cm3 、緊實總體密度為0.7~0.85g/cm3 。 D10 為15~45μm之範圍、D50 為50~100μm之範圍、且D90 為180~300μm之範圍時，鬆散總體密度為0.6~0.7g/cm3 、緊實總體密度為0.7~0.85g/cm3 。
特別是，欲使粉狀1,4-環己二羧酸之粉體流動性變好，壓縮度與D50 之粒度分布的關係十分重要。具體而言，以壓縮度為10~23%、且D50 為40~200μm之範圍為佳，較佳為建議壓縮度為10~22%、且D50 為45~130μm之範圍，更佳為建議壓縮度為10~21%、且D50 為50~100μm。
粉狀1,4-環己二羧酸的平均粒徑通常為35~220μm，較佳為40~200μm，更佳為45~130μm。
又，作為粉體流動性指標之一的安息角，以46度以下為佳，較佳為45度以下，特別以40度以下為佳。前述安息角通常是指以漏斗之類令粉體安靜地灑落至水平的面時產生的圓錐體之母線與水平面所構成之角。其取決於粒子之大小與粒子邊角之圓度或形狀。
又，作為噴流性指標之一的分散度，是以20%以上為佳，較佳為25%以上。前述分散度通常是指令一定量粉體從一定高度自然落下時，計算粉體對於放置在落下地點之臺座可不飛散而殘留於該臺座之程度如何而算出。
安息角及分散度可使用周知之測定方法及粉體特性評價裝置來測定。例如，作為該裝置，可使用(股) SEISHIN企業之Multi Tester MT-01、MT-02、與Hosokawa Micron(股)之Powder Tester PT-X等來測定。
本發明之粉狀1,4-環己二羧酸依據製造方法與製造條件，可能含有屬於不純物之對酞酸二烷基(C1~C4)酯、對酞酸單烷基(C1~C4)酯或對酞酸。粉狀1,4-環己二羧酸中該等不純物之合計含量通常為0.2%以下，較佳為0.1%以下，特別是以0.001~0.05%為佳，如此高純度之1,4-環己二羧酸適宜用於要求較高性能之各種用途。
本說明書中所謂「烷基(C1~C4)」是指碳數1~4之烷基(具體而言，甲基、乙基、正丙基、異丙基、正丁基、異丁基、二級丁基或三級丁基)。此外，「二烷基(C1~C4)」是指2個碳數1~4之烷基，該2個碳數1~4之烷基可為相同或相異。
又，本發明之粉狀1,4-環己二羧酸依據製造方法與製造條件，可能含有下述(a)~(e)之不純物。 (a)環己羧酸烷基(C1~C4)酯； (b)環己羧酸； (c)4-甲基環己羧酸烷基(C1~C4)酯； (d)4-甲基環己羧酸； (e)1,4-環己二羧酸單烷基(C1~C4)酯。
粉狀1,4-環己二羧酸之中，前述(a)~(e)之不純物的含量可舉例如下。 (a)環己羧酸烷基(C1~C4)酯之含量通常為0.1%以下(較佳為0.05%以下，特佳為0.001~0.05%)； (b)環己羧酸之含量通常為0.3%以下(較佳為0.1%以下，特佳為0.001~0.1%)； (c)4-甲基環己羧酸烷基(C1~C4)酯之含量通常為0.1%以下(較佳為0.05%以下，特佳為0.001~0.05%)； (d)4-甲基環己羧酸之含量通常為0.3%以下(較佳為0.2%以下，特佳為0.001~0.2%)； (e)1,4-環己二羧酸單烷基(C1~C4)酯之含量通常為0.5%以下(較佳為0.2%以下，特佳為0.001~0.2%)。
粉狀1,4-環己二羧酸是以滿足選自於由上述(a)~(e)所構成群組中之至少1者(以2者為佳，較佳為3者，更佳為4者，以全部為特佳)為理想。
本發明之粉狀1,4-環己二羧酸是以高純度含有1,4-環己二羧酸為佳。粉體中之1,4-環己二羧酸含量(純度)通常為98%以上，較佳為98.5%以上，更佳為99%以上。
本說明書中，1,4-環己二羧酸之純度及不純物含量之「%」意指根據氣相層析法分析而得到之「單純面積百分率」。
此外，上述不純物之含量僅規定上限值時，是代表下限值為0%，此意為後述之氣相層析法分析中呈現檢出界限以下(以下亦會稱為「痕跡程度」)。不純物之含量依據用途而有可容許的範圍，或者在工業水準之製造中的品質管理上有可容許的範圍。可考慮兩者的觀點，並設定更加理想的範圍。
前述不純物是源自於將對酞酸二烷基酯核氫化後並進行水解，獲得1,4-環己二羧酸此製造方法的不純物，若使用含有大量該等不純物之1,4-環己二羧酸，會有聚合物之聚合度難以提昇，且對耐熱性、耐候性、物理強度等特性產生不良影響之情況。本發明中，藉由採用例如上述(項5)~(項7)等記載之製造方法，能使上述不純物極力減少。
此外，粉狀1,4-環己二羧酸是以具有下述(i)~(iii)之物性為佳。 (i)鹼金屬含量(重量基準)通常為20ppm以下(較佳為10ppm以下)； (ii)水分含量通常為0.1重量%以下(較佳為0.06重量%以下，更佳為0.04重量%以下)； (iii)色度(Hazen)通常為50以下(較佳為30以下，特別以20以下為佳)。
粉狀1,4-環己二羧酸是以滿足選自於由上述(i)~(iii)所構成群組中之至少1者(以2者為佳，較佳為3者)而成為高純度且減少著色為理想。
上述不純物之物性值(i)及(ii)中僅規定上限值，各自的下限值為0ppm及0重量%。此意為後述之金屬分析與水分含量測定(卡爾費雪滴定)中呈現檢出界限以下(以下亦會稱為「痕跡程度」)。物性值(i)(鹼金屬含量)通常意指鈉與鉀之總量，然而實質上是指鈉之含量。物性值iii)之色度(Hazen)亦僅規定上限值，下限值為0。
前述(i)~(iii)之物性值屬於依據用途會造成與前述不純物同樣影響之物性值。此外(ii)之水分含量理所當然對於純度會有影響，還屬於亦會影響上述粉體流動性之物性。前述物性值(i)及(ii)之含量皆為重量基準。
1,4-環己二羧酸存在有順式異構體(cis體)與反式異構體(trans體)之幾何異構體。本發明中，1,4-環己二羧酸之順式異構體與反式異構體的比例是以順式異構體︰反式異構體=50︰50~90︰10之範圍為佳，更佳為順式異構體︰反式異構體=65︰35~85︰15之範圍。
本說明書中，1,4-環己二羧酸之順式異構體與反式異構體的比率是以根據氣相層析法分析而得到之「單純面積百分率」之比來表示。
本發明之粉狀1,4-環己二羧酸的「粉體」，在本說明書及申請專利範圍中，是作為粉末、顆粒、粒狀、細粒等之總稱來使用。又，通常該粉體是形成為針狀、板狀、柱狀等結晶或不定形之結晶等的集合體。
作為本發明之粉狀1,4-環己二羧酸之製造方法，可舉例如下述方法。
具體而言，建議包含有下述步驟之製造方法︰(1)將對酞酸二烷基(C1~C4)酯核氫化，獲得1,4-環己二羧酸二烷基(C1~C4)酯之步驟；(2)在水或含有水之溶媒存在下，將1,4-環己二羧酸二烷基(C1~C4)酯在酸性觸媒存在下進行水解，獲得1,4-環己二羧酸之步驟；(3)將1,4-環己二羧酸進行晶析之步驟；(4)將1,4-環己二羧酸之結晶進行固液分離之步驟；及(5)將前述步驟(4)獲得的1,4-環己二羧酸之濕結晶進行乾燥之步驟、將前述步驟(4)獲得的1,4-環己二羧酸之濕結晶進行乾燥及造粒之步驟、或將前述步驟(4)獲得的1,4-環己二羧酸之濕結晶進行乾燥及粉碎之步驟。此外可依據需求，因應使用目的而包含有(6)將前述步驟(5)獲得的1,4-環己二羧酸之粉體進行分級之步驟。
順著前述步驟進行更具體的說明如下。 步驟(1)︰ 在通常為鎳觸媒、釕觸媒、鈀觸媒、鉑觸媒或銠觸媒(特別以釕觸媒為佳)存在下，將對酞酸二烷基酯進行芳香環核氫化，藉此便可製造出1,4-環己二羧酸二烷基(C1~C4)酯。如此製造方法可舉出例如日本特開昭54-163554號、日本特開平6-192146號、日本特開平7-149694號、國際公開第98/00383號手冊、日本特開2000-1447號等記載之方法。 該等之中，日本特開2000-1447號公報記載之1,4-環己二羧酸二烷基酯之製造方法，因為能獲得純度98%以上之目標物、又環己羧酸烷基酯與4-甲基環己羧酸烷基酯等不純物之副產出較少量，係屬較佳。 作為本發明中對酞酸二烷基(C1~C4)酯之具體例，可舉出對酞酸二甲基酯、對酞酸二乙基酯、對酞酸二正丙基酯、對酞酸二異丙基酯、對酞酸二正丁基酯等，其中是以對酞酸二甲基酯為佳。
步驟(2)︰ 在將已利用對酞酸二烷基酯之核氫化反應製造出之1,4-環己二羧酸二烷基(C1~C4)酯進行水解反應時所使用的酸觸媒，具體而言可例示如鹽酸、硫酸、硝酸等礦酸；甲磺酸、對甲苯磺酸等有機酸；磷鎢酸等異種多重酸；磺酸型陽離子交換樹脂等固體酸等，其中是以鹽酸、硫酸、甲磺酸、對甲苯磺酸為佳。
前述酸觸媒之使用量，通常相對於原料1,4-環己二羧酸二烷基(C1~C4)酯，建議0.5~10重量%左右為佳，較佳為1~7重量%。通常作為水解反應之反應溶媒，是使用水或含有水之溶媒(較佳為水)。作為前述水之具體例，可舉出自來水、離子交換水、逆滲透膜處理水、超濾膜處理水、蒸餾水等，其中是以離子交換水、蒸餾水等淨化水在防止金屬混入之觀點上較佳。
水解反應中水的使用量，建議是作為基質之1,4-環己二羧酸二烷基(C1~C4)酯濃度為2~50重量%，較佳為10~40重量%之範圍。水解反應之反應溫度，在常壓(大氣壓)下，通常建議90~100℃，較佳為98~100℃之範圍。又，反應時間通常為1~15小時之範圍。因為水解反應屬於平衡反應，將平衡倒向生成1,4-環己二羧酸之側(水解之側)是關鍵。作為其方法之一，可例示將水及水解反應中副產出之醇連續地蒸發至反應系外並除去之方法。使用前述之方法時，在該除去操作的同時，是以進行將餾出的水或與水及水解反應中副產出之醇的餾出物同重量的水連續地或間歇地添加至反應系的操作為佳。在此除去操作中，作為餾出物之水或水與醇之混合物，會伴隨前述核氫化反應副產出的環己羧酸烷基酯或4-甲基環己羧酸烷基酯等不純物一起除去至反應系外，從高純度化之觀點來看，該除去操作可說是較佳態樣。
此外，水之添加方法並無特別限定。為了預防反應溫度低下，以加熱至預定溫度再添加為宜。連續地或間歇地添加至反應系的水之使用量，以反應液用量作為基準之液體空間速度計，通常建議0.05~0.5/h之範圍，以0.05~0.4/h之範圍為佳，較佳為0.05~0.3/h之範圍，更以0.1~0.25之範圍為佳。又，因應反應條件，亦可選擇0.05~0.2/h之範圍，甚至0.1~0.15/h之範圍。
此外，步驟(1)及步驟(2)可參照例如專利文獻5(日本特開2005-330239號公報)而順利實施。
步驟(3)︰ 在水解步驟後的晶析步驟中，將該水解反應液冷卻至通常40℃以下，以20℃以下為佳，更佳為0~15℃，使1,4-環己二羧酸晶析。此時，關於冷卻速度、漿體濃度、攪拌操作(攪拌速度、雷諾數、攪拌翼之形狀等)等步驟條件，考慮到對結晶或結晶化之影響(亦包含對於例如粒度分布、結晶結構、內含不純物等之影響)，因應所欲之目的作適宜研討來決定是關鍵所在。例如，關於冷卻速度，緩慢冷卻則結晶會有變大之傾向，冷卻速度會對本發明之粉體的特性及生產效率造成影響，因此步驟條件須作適宜研討來決定。
步驟(4)︰ 固液分離步驟中，只要能進行固液分離操作則無特別限定，使晶析步驟所獲得之漿體分離成1,4-環己二羧酸之濕結晶與晶析母液。 固液分離裝置只要是具有通常的分離機能之設備即可使用。例如分批式有減壓過濾機、加壓過濾機、離心過濾機等可使用。該等固液分離裝置中，是以設置有可供給淋洗水以洗淨附著於濕結晶表面的不純物或酸觸媒的裝置為佳。 相對於1,4-環己二羧酸之濕結晶，淋洗水的使用量以30~200重量%為佳，若少於此則不純物與酸觸媒容易殘留，若多於此則廢水增加而使生產效率變低。 又，晶析母液是以固液分離裝置之濾液的形式獲得。該晶析母液含有酸觸媒及晶析步驟中未結晶化之1,4-環己二羧酸，從經濟面的觀點來看是以再利用於水解反應為理想。再利用之情況下，源自於反應原料1,4-環己二羧酸烷基酯之不純物會累積，會有使作為最終製品之1,4-環己二羧酸的純度降低之情況，只要該純度之降低還在容許範圍內，能夠無數次再利用。
步驟(5)︰ 已分離之1,4-環己二羧酸之濕結晶經過乾燥、或乾燥及造粒、又或粉碎(或碎裂)，成為乾燥固體(粉體)。亦即，將該濕結晶乾燥後，因應需要進行造粒及/或粉碎(或碎裂)而獲得粉體。
乾燥條件通常可考量到使用目的及處理效率等，來適宜地選擇其手法與裝置。作為適宜的乾燥方法，可舉出將1,4-環己二羧酸之濕結晶攪拌並乾燥。乾燥可使用攪拌型乾燥機。若將濕結晶靜置並乾燥的情況下，會因為濕結晶彼此所具有的水分而使結晶互相溶解，導致結晶彼此會凝集或結塊，為了避免此狀況，建議是將濕結晶一邊攪拌並一邊進行乾燥。藉此，能調製出粉體流動性優異之1,4-環己二羧酸之粉體。
作為乾燥固體(粉體)之乾燥終點，水分含量以乾燥固體(粉體)之重量基準計，是以0.1重量%以下為佳，較佳為0.06重量%以下，特別是以0.04重量%以下當作目標來進行為佳。
又，在乾燥操作之同時或乾燥操作之後，可進行造粒操作。造粒操作可因應使用目的而選擇並使用適宜的造粒裝置或造粒條件。例如，可舉出攪拌混合造粒當中，將該濕結晶藉由攪拌翼之旋轉來剪切、轉動、壓密等作用而使粒子成長之方法或在流動層中轉動造粒之方法、將乾燥固體(粉體)以壓縮成型機等造粒成為顆粒或細等之方法等。
又，乾燥操作後可進行粉碎操作。粉碎可為例如微粉碎(約10~150μm左右)、中粉碎(約300~500μm左右)、粗粉碎或碎裂(約1~10mm左右)。作為粉碎操作，可選擇適宜的粉碎裝置或粉碎條件亦或加以組合實施，以符合本發明之目的。例如，可例示如主要是利用壓縮‧衝擊力進行粗粉碎或中粉碎之方法、與主要是利用壓縮‧衝擊力還加上剪切力‧摩擦力之微粉碎之方法。
該步驟(5)是會影響粉體流動性之步驟，該步驟中，調整步驟條件以令成為本發明粒度分布、總體密度及壓縮度之範圍內是關鍵所在。步驟條件可依據上述操作順序來調整適宜條件。此外，後述之步驟(6)的分級步驟中亦能調整成該範圍內，然而製造步驟數較少者在經濟上較有利。
步驟(6)︰ 還可因應需要再將乾燥固體(粉體)進行分級。分級步驟可因應使用目的，選擇使用適宜分級裝置與分級條件。例如可舉出使用網篩之方法(篩選‧網篩分級)或利用比重差以風力進行分級之方法(風力分級)。
如此，本發明之粉狀1,4-環己二羧酸是粉體流動性良好的1,4-環己二羧酸，而且是不純物之含量少且具有良好物性之高純度1,4-環己二羧酸。
本發明之粉狀1,4-環己二羧酸是粉體流動性良好、不純物之含量少且高純度的1,4-環己二羧酸。此粉狀1,4-環己二羧酸可使用作為例如用來製造聚酯、聚醯胺等聚合物之原料。具體而言，此粉狀1,4-環己二羧酸可與醇(二元醇、多元醇等)或胺(二胺、多胺等)反應而製造出酯(聚酯等)或醯胺(聚醯胺等)。該等反應步驟中，操作性能飛躍性地提昇，且獲得之酯或醯胺有極高的純度。因此，本發明之粉狀1,4-環己二羧酸可使用作為醫藥品、合成樹脂、合成纖維、染料等各種有價值的聚合物之原料。 實施例
以下將舉出實施例以詳細說明本發明，然而本發明並不受該等實施例所限制。實施例之評價方法如下述。 1)粒度分布 使用雷射繞射‧散射法(裝置；「MASTER SIZER 3000」，馬爾文社製)，以乾式法測定粒度分布(體積基準)，求出D10 、D50 、D90 及平均粒徑。此外，D10 是體積累積10%之粒徑，D50 是體積累積50%之粒徑(中值徑)，D90 是體積累積90%之粒徑。
2)安息角及分散度 安息角及分散度是使用粉體特性評價裝置(Hosokawa Micron(股)之Powder Tester(PT-X))來測定。
3)總體密度及壓縮度 [總體密度] 測定試料在每單位總體下的重量來作為視密度。將量筒置於電子天秤，進行零點校正。將試料放入直到量筒之100ml刻度並精秤(Ag)至0.1g。以此時的視密度作為鬆散總體密度(g/cm3 )。 其後，將放有試料之量筒從5cm高度落下50次至橡膠薄片(衝擊台；約3mm厚度)上之後，讀取量筒之刻度(B cm3 )。以此時之視密度作為緊實總體密度(g/cm3 )。 鬆散總體密度(g/cm3 )=A/100   (1) 緊實總體密度(g/cm3 )=A/B      (2) 從粉體之流動性的觀點來看，鬆散總體密度以0.4~0.8g/cm3 為佳；緊實總體密度以0.5~1.0g/cm3 為佳。
[壓縮度] 依照下述式(3)，由前述鬆散總體密度與緊實總體密度之測定值求出壓縮度(%)。 壓縮度(%)={(緊實總體密度-鬆散總體密度)/緊實總體密度}×100   (3) 從粉體之流動性的觀點來看，壓縮度建議是23%以下。
4)氣相層析法分析 裝置、GC-2010(島津製作所(股)製) 檢測器︰FID325℃ 管柱︰TC-5(30m×0.25mmφ) 注入溫度︰300℃ 管柱溫度︰100℃(維持2min)至320℃ 10℃/min 此外，實施例中1,4-環己二羧酸的純度及不純物之含量之「%」意指根據氣相層析法分析而得到之「單純面積百分率」。此「單純面積百分率」是相對於氣相層析法中被檢出的峰值的總面積，不進行校正而單純將各峰值的面積以百分率表示者。又，測定試料使用了矽化劑N,O-雙(三甲基矽)三氟乙醯胺(BSTFA)進行預處理。 1,4-環己二羧酸之順式異構體與反式異構體的比率是以氣相層析法分析而得到之「單純面積百分率」之比來表示。
5)熔點測定(示差掃描熱析儀) 裝置︰DSC6220(Seiko Instruments股份有限公司製) 機器名︰電動Sample Sealer(Epolead Service社製) 昇溫速度︰50℃至200℃ 10℃/min 此外，實施例中記載吸熱峰頂之溫度。
6)金屬分析(ICP發射光譜化學分析法) 裝置︰iCAP6500Duo(Thermo Fisher SCIENTIFIC社製) 以微波分解法進行預處理，再進行金屬分析。預處理是使用裝置︰Multiwave PRO(Anton Paar社製)，放入試料0.3g及特級硝酸6ml，以微波分解裝置進行分解後，以蒸餾水調成約15g。其後，以ICP發射光譜化學分析裝置進行金屬分析。 金屬之含量(重量基準)以鈉來說是10ppm以下較佳，以鐵來說是0.3ppm以下較佳。
7)水分含量 以卡爾費雪滴定測定水分含量(重量%)。 水分測定裝置︰AQV-2100(平沼產業社製) 滴定試藥︰HYDRANAL-composite 5K (SIGMA-ALDRICH社製) 溶媒︰甲醇(超脫水)150ml、乙二醇50ml及氯仿300ml 將樣本秤量1克於藥包紙，投入至溶媒，一分鐘攪拌溶解後，測定水分含量。
8)色度(Hazen) 裝置︰透過色度測定器(石油製品測定裝置 OME-2000 日本電色工業股份有限公司) 將試料30wt%N-甲基-2-吡咯酮溶液與空白組的N-甲基-2-吡咯酮(溶劑)以透過色度測定器分別進行測定，將該試料溶液之色度減掉溶劑之色度的值作為試料之色度。
[實施例1] 於具備有電動磁力攪拌裝置之500ml高壓釜加入對酞酸二甲基酯200g、作為觸媒之5%釕/氧化鋁觸媒3g，將系統內進行氫取代後，於反應溫度150℃、氫壓力3MPa下反應5小時。冷卻後，將觸媒濾出，獲得1,4-環己二羧酸二甲基酯201g。將獲得之1,4-環己二羧酸二甲基酯以氣相層析法分析，純度為98.5%，含有作為不純物之環己羧酸甲基酯0.4%、4-甲基環己羧酸甲基酯0.7%。
接著，於具備有攪拌裝置、溫度計、傾析器及冷卻管的1L玻璃製四口燒瓶放入前述獲得之1,4-環己二羧酸二甲基酯200g、離子交換水336g、作為觸媒之鹽酸4g，在反應溫度100℃下，以添加至反應系之離子交換水的液體空間速度成為0.5/h之方式調整餾出量並進行反應11小時。將該反應液以氣相層析法分析之結果，1,4-環己二羧酸二甲基酯為痕跡程度、1,4-環己二羧酸單甲基酯含有0.25%。將獲得之反應液花費18小時緩慢冷卻至10℃，其後將析出的結晶濾出，將該結晶以10℃之離子交換水洗淨。
接著，將濕結晶以能緩慢攪拌並乾燥的乾燥機，在0.65kPa、100℃下乾燥5小時，該乾燥後使用簡易小型粉碎機進行粉碎(中粉碎~粗粉碎)。其後，獲得作為目的之粉狀1,4-環己二羧酸160g(收穫率93%)。
對獲得之粉狀1,4-環己二羧酸進行預處理並以氣相層析法分析，純度為99.5%。
作為不純物之對酞酸二甲基酯、對酞酸單甲基酯及對酞酸之合計含量為0.03%。又，環己羧酸之含量為0.02%，環己羧酸甲基酯之含量為檢出界限以下，4-甲基環己羧酸之含量為0.05%，4-甲基環己羧酸甲基酯之含量為檢出界限以下，而1,4-環己二羧酸單甲基酯之含量為0.04%。
金屬分析之結果，鈉含量為8ppm，鐵含量為0.03ppm。水分含量為0.03重量%。
對粉體特性進行評價，鬆散總體密度為0.57g/cm3 ，緊實總體密度為0.69g/cm3 ，壓縮度為17.4%。又，粒度分布(體積基準)是D10 為35μm，D50 為89μm，D90 為274μm。平均粒徑為100μm。安息角為40度，分散度為25%。
獲得之粉狀1,4-環己二羧酸60g放入225mL美乃滋瓶，將該瓶傾斜並以目視觀察粉體之流動狀態，發現是以整體皆流動之方式流動，粉體流動性為良好。
又，1,4-環己二羧酸之順式異構體與反式異構體的比率是81︰19。色度為4，熔點為168.8℃，呈單一峰值。
[實施例2] 將液體空間速度設為0.1/h、反應時間設為18小時以外，其他皆與實施例1同樣地實施，獲得1,4-環己二羧酸156g(收穫率91%)。
金屬分析之結果，鈉含量為8ppm，鐵含量為0.03ppm。水含量為0.03重量%。
作為不純物之對酞酸二甲基酯、對酞酸單甲基酯及對酞酸之合計含量為0.03%。又，環己羧酸之含量為0.03%，環己羧酸甲基酯之含量為檢出界限以下，4-甲基環己羧酸之含量為0.05%，4-甲基環己羧酸甲基酯之含量為檢出界限以下，而1,4-環己二羧酸單甲基酯之含量為0.04%。
對粉體特性進行評價，鬆散總體密度為0.63g/cm3 ，緊實總體密度為0.77g/cm3 ，壓縮度為18.2%。又，粒度分布(體積基準)是D10 為15μm，D50 為72μm，D90 為313μm。平均粒徑為75μm。安息角為40度，分散度為20%。
又，1,4-環己二羧酸之順式異構體與反式異構體的比率是77︰23。色度為4，熔點為168.3℃，呈單一峰值。
與實施例1同樣地將獲得之粉狀1,4-環己二羧酸60g放入225mL美乃滋瓶，將該瓶傾斜並以目視觀察粉體之流動狀態，發現是以整體皆流動之方式流動，粉體流動性為良好。
[實施例3] 將液體空間速度設為0.2/h、反應時間設為18小時以外，其他皆與實施例1同樣地實施，獲得1,4-環己二羧酸159g(收穫率92%)。獲得之粉體的測定結果顯示於表1。
[比較例1] 於具備有攪拌裝置、溫度計、冷卻管的1L玻璃製四口燒瓶放入純度98.5%之1,4-環己二羧酸二甲基酯140g(4-甲基環己羧酸之含量；0.8重量%)、離子交換水360g、氫氧化鈉30g，在反應溫度100℃下回流並反應2小時，獲得1,4-環己二羧酸二鈉鹽之反應液。
於獲得之反應液在10℃下將濃鹽酸滴下約67mL並回復酸性，析出1,4-環己二羧酸。將析出之結晶濾出，將該結晶以10℃之離子交換水充分洗淨，接著在0.65kPa、100℃下乾燥3小時，獲得1,4-環己二羧酸81g(收穫率68%)。
對該獲得之1,4-環己二羧酸進行預處理並以氣相層析法分析，純度為99.3%，對酞酸二甲基酯、對酞酸單甲基酯及對酞酸之合計含量為0.2%，以及4-甲基環己羧酸之含量為0.4%。
金屬分析之結果，鈉含量為60ppm，鐵含量為0.03ppm。水分含量為0.04重量%。
對粉體特性進行評價，鬆散總體密度為0.49g/cm3 ，緊實總體密度為0.71g/cm3 ，壓縮度為31.7%。又，粒度分布(體積基準)是D10 為12μm，D50 為36μm，D90 為83μm。平均粒徑為32μm。安息角為47度，分散度為11%。
又，1,4-環己二羧酸之順式異構體與反式異構體的比率是80︰20。色度為4。熔點為169.4℃，觀測到其吸熱峰值以及另2個位於低溫側之較小吸熱峰值。
與實施例1同樣地，將獲得之粉狀1,4-環己二羧酸60g放入225mL美乃滋瓶，將該瓶傾斜並以目視觀察粉體之流動狀態，發現粉體附著於美乃滋瓶，粉體流動性差。
[比較例2] 於具備有攪拌裝置、溫度計、傾析器及冷卻管的1L玻璃製四口燒瓶放入純度98.5%之1,4-環己二羧酸二甲基酯140g、離子交換水360g、硫酸4.2g，在反應溫度100℃下，以液體空間速度成為0.13/h之方式調整餾出量並進行反應10小時。
將獲得之反應液花費4小時緩慢冷卻至10℃後，將析出的結晶濾出，將該結晶以10℃之離子交換水洗淨，接著在0.65kPa、100℃下靜置乾燥3小時而獲得1,4-環己二羧酸。純度為99.8%。獲得的結晶產生結塊，無法測定各種粉體特性。因此，表1中記載為無法測定。 [表1]
Figure 106107542-A0304-0001
 產業上之可利用性
本發明之粉狀1,4-環己二羧酸，係粉體流動性良好，而且是不純物之含量較少且具有良好物性之高純度1,4-環己二羧酸，因此在操作時之進料容易度與操作容易度等所帶來之操作性提昇有所助益，可使用作為醫藥品、合成樹脂、合成纖維、染料等物品的有價值之原料。
(無)

Claims (8)

  1. 一種粉狀1,4-環己二羧酸，其粉體之粒度分布(體積基準)D10為5~55μm之範圍、D50為40~200μm、D90為170~800μm之範圍，且鬆散總體密度為0.4~0.8g/cm3，緊實總體密度為0.5~1.0g/cm3，壓縮度為10~23%。
  2. 如請求項1之粉狀1,4-環己二羧酸，其中1,4-環己二羧酸之順式異構體與反式異構體之比率為50：50~90：10。
  3. 如請求項1或2之粉狀1,4-環己二羧酸，其中粉狀1,4-環己二羧酸中之對酞酸二烷基(C1~C4)酯、對酞酸單烷基(C1~C4)酯及對酞酸之合計含量為0.2%以下。
  4. 如請求項1或2之粉狀1,4-環己二羧酸，其中粉狀1,4-環己二羧酸滿足選自於由下述(a)~(e)所構成群組中之至少1者：(a)環己羧酸烷基(C1~C4)酯之含量為0.1%以下；(b)環己羧酸之含量為0.1%以下；(c)4-甲基環己羧酸烷基(C1~C4)酯之含量為0.1%以下；(d)4-甲基環己羧酸之含量為0.3%以下；(e)1,4-環己二羧酸單烷基(C1~C4)酯之含量為0.5%以下；且，滿足選自於由下述(i)~(iii)所構成群組中之至少 1者：(i)鹼金屬含量(重量基準)：20ppm以下；(ii)水分含量：0.1重量%以下；(iii)色度(Hazen)：50以下。
  5. 如請求項3之粉狀1,4-環己二羧酸，其中粉狀1,4-環己二羧酸滿足選自於由下述(a)~(e)所構成群組中之至少1者：(a)環己羧酸烷基(C1~C4)酯之含量為0.1%以下；(b)環己羧酸之含量為0.1%以下；(c)4-甲基環己羧酸烷基(C1~C4)酯之含量為0.1%以下；(d)4-甲基環己羧酸之含量為0.3%以下；(e)1,4-環己二羧酸單烷基(C1~C4)酯之含量為0.5%以下；且，滿足選自於由下述(i)~(iii)所構成群組中之至少1者：(i)鹼金屬含量(重量基準)：20ppm以下；(ii)水分含量：0.1重量%以下；(iii)色度(Hazen)：50以下。
  6. 一種製造粉狀1,4-環己二羧酸的方法，該製造方法包含：(1)將對酞酸二烷基(C1~C4)酯核氫化，獲得1,4-環己二羧酸二烷基(C1~C4)酯之步驟；(2)將前述步驟(1)獲得的1,4-環己二羧酸二烷基 (C1~C4)酯在水或含有水之溶媒存在下、酸性觸媒存在下進行水解，獲得1,4-環己二羧酸之步驟；(3)將前述步驟(2)獲得的1,4-環己二羧酸進行晶析之步驟；(4)將前述步驟(3)獲得的1,4-環己二羧酸之結晶進行固液分離之步驟；(5)將前述步驟(4)獲得的1,4-環己二羧酸之濕結晶進行乾燥之步驟、乾燥及造粒之步驟、或乾燥及粉碎之步驟(在此，將該濕結晶乾燥之步驟係將濕結晶一邊攪拌並一邊乾燥之步驟)；以及因應需求，(6)將前述步驟(5)獲得的1,4-環己二羧酸粉體進行分級之步驟。
  7. 一種粉狀1,4-環己二羧酸，係以如請求項6之製造方法所製造者。
  8. 一種使用如請求項1至5及請求項7中任一項之粉狀1,4-環己二羧酸作為聚合物原料之方法。
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