TWI703337B - 磁場感測裝置 - Google Patents
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Abstract
一種磁場感測裝置,包括磁通集中器以及多個單方向磁阻感測器。磁通集中器具有相對的第一、第二端部。這些單方向磁阻感測器具有相同的釘扎方向且設置於磁通集中器旁。這些單方向磁阻感測器更包括多個第一、第二單方向磁阻感測器。這些第一單方向磁阻感測器設置於第一端部旁,且更包括分別設置於第一端部相對兩側的第一、第三部分。第一、第三部分耦接成第一惠司同全橋。這些第二單方向磁阻感測器設置於第二端部旁,且更包括分別設置於第二端部相對兩側的第二、第四部分。第二、第四部分耦接成第二惠司同全橋。
Description
本發明是有關於一種磁場感測裝置。
隨著科技的發展,具有導航與定位功能的電子產品也越來越多樣化。電子羅盤在車用導航、飛航以及個人手持式裝置的應用領域中提供了相當於傳統羅盤的功能。而為了實現電子羅盤的功能,磁場感測裝置變成了必要的電子元件。
為了達到單軸的感測,一般來說會將巨磁阻(giant magnetoresistance,GMR)多層膜結構或穿隧磁阻(tunneling magnetoresistance,TMR)多層膜結構構成惠斯通全橋,並使這些磁阻多層膜結構的釘扎方向設計有兩個互為反平行的釘扎方向(pinning direction)。舉例來說,為了要達到三軸的感測,則需要六個兩兩互為反平行的釘扎方向。然而,要在晶圓上的反鐵磁層(antiferromagnetic layer)設計出不同的釘扎方向會導致製造困難,而產生額外成本,並使得釘扎層穩定度降低。
本發明提供一種磁場感測裝置,其製造簡單、生產成本低且具有良好的穩定性。
本發明的一實施例中提供一種磁場感測裝置,包括磁通集中器以及多個單方向磁阻感測器。磁通集中器具有相對的第一端部與第二端部。這些單方向磁阻感測器具有相同的釘扎方向。這些單方向磁阻感測器設置於磁通集中器旁。這些單方向磁阻感測器更包括多個第一單方向磁阻感測器與多個第二單方向磁阻感測器。這些第一單方向磁阻感測器設置於第一端部旁,且這些第一單方向磁阻感測器更包括分別設置於第一端部相對兩側的第一部分與第三部分。第一部分與第三部分耦接成第一惠司同全橋。這些第二單方向磁阻感測器設置於第二端部旁。這些第二單方向第二磁阻感測器更包括分別設置於第二端部相對兩側的第二部分與第四部分,且第二部分與第四部分耦接成第二惠司同全橋。
在本發明的一實施例中,上述的磁場感測裝置更包括計算器,耦接於這些磁阻感測器。第一惠司同全橋受一外來磁場影響而輸出一第一電訊號。第二惠司同全橋受此外來磁場影響而輸出第二電訊號。計算器根據第一電訊號與第二電訊號而決定此外來磁場在二不同方向上的磁場分量。
在本發明的一實施例中,上述的這些磁阻感測器更包括多個第三單方向磁阻感測器。這些第三單方向磁阻感測器設置於磁通集中器旁。磁通集中器更包括中間部。中間部位於第一端部
與第二端部之間,且與第一端部與第二端部連接。這些第三單方向磁阻感測器的至少一部分與中間部重疊設置。
在本發明的一實施例中,上述的磁場感測裝置更包括分時切換電路,耦接於這些磁阻感測器。在第一時間區間內,分時切換電路將第一部分與第三部分耦接成第一惠司同全橋,且將第二部分與第四部分耦接成第二惠司同全橋,以使計算器根據第一電訊號與第二電訊號而決定此外來磁場在此二不同方向上的磁場分量。在第二時間區間內,分時切換電路從第一部分、第二部分、第三部分與第四部分中選出至少一部分的單方向磁阻感測器與這些第三單方向磁阻感測器耦接成第三惠司同全橋。第三惠司同全橋受此外來磁場影響而輸出一第三電訊號。計算器根據第三電訊號而決定此外來磁場在另一方向上的磁場分量,其中此另一方向上的磁場分量不同於此二不同方向的磁場分量。
在本發明的一實施例中,上述的這些第三單方向磁阻感測器更包括第五部分與第六部分。第五部分與中間部重疊設置,且第六部分更包括二第六子部分。此二第六子部分分別設置於中間部的相對兩側且不與中間部重疊設置。
在本發明的一實施例中,上述的磁場感測裝置更包括分時切換電路,耦接於這些磁阻感測器。在第一時間區間內,分時切換電路將第一部分與第三部分耦接成第一惠司同全橋,且將第二部分與第四部分耦接成第二惠司同全橋,以使計算器根據第一電訊號與第二電訊號而決定此外來磁場在二不同方向上的磁場分
量。在第二時間區間內,分時切換電路從第一部分、第二部分、第三部分與第四部分中選出至少一部分的單方向磁阻感測器與這些第三單方向磁阻感測器耦接成第三惠司同全橋。第三惠司同全橋受此外來磁場影響而輸出第三電訊號。計算器根據第三電訊號而決定外來磁場在另一方向上的磁場分量,其中此另一方向上的磁場分量不同於此二不同方向的磁場分量。
在本發明的一實施例中,上述的這些磁阻感測器更包括多個第三單方向磁阻感測器。這些第三單方向磁阻感測器設置於磁通集中器旁且包括第五部分與第六部分。磁通集中器具有二短邊與二長邊。二短邊中的任一者與此二長邊連接。第一端部與第二端部分別包括二長邊的一部分與二短邊中的一者。第一部分與第三部分分別設置於屬於第一端部的二長邊旁。第二部分與第四部分分別設置於屬於第二端部的二長邊旁。第五部分設置於屬於第一端部的短邊旁且不與第一端部重疊設置。第六部分設置於屬於第二端部的短邊旁且不與第二端部重疊設置。
在本發明的一實施例中,上述的磁場感測裝置更包括分時切換電路,耦接於這些磁阻感測器。在第一時間區間內,分時切換電路將第一部分與第三部分耦接成第一惠司同全橋,且將第二部分與第四部分耦接成第二惠司同全橋,以使計算器根據第一電訊號與第二電訊號而決定此外來磁場在此二不同方向上的磁場分量。在第二時間區間內,分時切換電路將第五部分與該六部分耦接成一第三惠司同全。第三惠司同全橋依據此外來磁場而輸出
一第三電訊號。計算器根據第三電訊號而決定此外來磁場在另一方向上的磁場分量,其中此另一方向上的磁場分量不同於此二不同方向的磁場分量。
在本發明的一實施例中,上述的磁場感測裝置更包括單方向磁場感測元件,耦接於該計算器。單方向磁場感測元件受此外來磁場影響而輸出一第三電訊號。計算器根據第三電訊號決定外來磁場在另一方向上的磁場分量,其中另一方向上的磁場分量不同於此二不同方向的磁場分量。
在本發明的一實施例中,上述的單方向磁阻感測器的種類包括巨磁阻感測器或穿隧磁阻感測器。
基於上述,在本發明實施例的磁場感測裝置中,藉由這些釘扎方向相同的單方向磁阻感測器的釘扎方向實現多軸感測,因此其製造過程簡單、成本較低且具有良好的穩定性。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。
100、100a~100d:磁場感測裝置
110:磁通集中器
120:單方向磁阻感測器
122:釘扎層
124:受釘扎層
126:間隔層
128:自由層
1201:第一單方向磁阻感測器
1202:第二單方向磁阻感測器
1203:第三單方向磁阻感測器
130:計算器
140:分時切換電路
150:單方向磁場感測元件
C1~C12:接點
D1~D3:方向
E1:釘扎方向
E2:易磁化軸
EP1:第一端部
EP2:第二端部
H、HD1、HD2、HD3:外來磁場
H’:轉變後的外來磁場
LE:長邊
LE1:上長邊
LE2:下長邊
MP:中間部
PX、PY、PZ:位置
P1:第一部分
P2:第二部分
P3:第三部分
P4:第四部分
P5、P5c:第五部分
P6、P6c:第六部分
SP6:第六子部分
R:電阻
FWH1:第一惠司同全橋
FWH2:第二惠司同全橋
FWH3、FWH3b、FWH3c:第三惠司同全橋
S:基板
SD:感測方向
SE:短邊
SE1:左短邊
SE2:右短邊
圖1為本發明之一實施例的磁場感測裝置的上視結構示意圖。
圖2A、圖2B及圖2C分別為沿著不同方向的外來磁場施加於圖1之磁場感測裝置時,外來磁場被磁通集中器轉變的磁力
線模擬圖。
圖3A為圖1中的單方向磁阻感測器的多層膜結構之立體示意圖。
圖3B繪示圖3A之單方向磁阻感測器的釘扎方向與自由層的易磁化軸。
圖3C繪示圖3A中的單方向磁阻感測器於不同方向的外來磁場的作用下及沒有外來磁場的情況下電阻的變化。
圖4A至圖4C為圖1中的磁場感測裝置置於不同方向的外來磁場的示意圖。
圖5A至圖7A是本發明不同實施例的磁場感測裝置的在第一時間區間的上視示意圖。
圖5B至圖7B分別是圖5A與圖7A的磁場感測裝置在第二時間區間的上視示意圖。
圖8是本發明另一實施例的磁場感測裝置的上視示意圖。
為了方便說明本發明實施例的磁場感測裝置的配置方式,磁場感測裝置可被視為處於由方向D1、D2、D3構成的一空間內,且上述方向D1、D2、D3兩兩互為垂直。
圖1為本發明之一實施例的磁場感測裝置的上視結構示意圖。圖2A、圖2B及圖2C分別為沿著不同方向的外來磁場施加於圖1之磁場感測裝置時,外來磁場被磁通集中器轉變的磁力線
模擬圖。圖3A為圖1中的單方向磁阻感測器的多層膜結構之立體示意圖。圖3B繪示圖3A之單方向磁阻感測器的釘扎方向與自由層的易磁化軸。圖3C繪示圖3A中的單方向磁阻感測器於不同方向的外來磁場的作用下及沒有外來磁場的情況下電阻的變化。
在本實施例中,磁場感測裝置100包括基板S、磁通集中器110、多個單方向磁阻感測器120以及計算器130。於以下的段落中會詳細地說明上述各元件。
在本發明的實施例中,基板S例如是空白的矽基板(blank silicon)、玻璃基板或具有積體電路(integrated-circuit)的矽基板,本發明不以此為限。於本實施例中,方向D1、D2例如是與基板S的表面平行的方向,而方向D3例如是與基板S的表面垂直的方向。
在本發明的實施例中,磁通集中器110係指其能夠將磁場的磁力線集中的元件。磁通集中器110的材料例如是具有高導磁率的鐵磁材料,其例如為鎳鐵合金、鈷鐵或鈷鐵硼合金、鐵氧磁體或其他高導磁率材料,本發明不以此為限。於以下的段落中會簡要地說明不同方向的外來磁場如何被磁通集中器110影響。
請先參照圖2A,當施加一個沿著方向D1的外來磁場HD1時,由於受到磁通集中器110的作用,單方向磁阻感測器120的所在位置PX處的磁場被轉變為具有方向D2(即平行於方向D2)的分量的磁場,因此磁場感測裝置100可藉由單方向磁阻感測器120在方向D2上感測到外來磁場的大小,來判斷在方向D1上的外來磁場的大小。
請再參照圖2B,當施加一個沿著方向D2的外來磁場HD2時,受到磁通集中器110的作用,單方向磁阻感測器120的所在位置PY處的磁場方向仍然維持實質上平行於方向D2(即平行於方向D2)的方向上。
請再參照圖2C,當施加一個沿著方向D3的外來磁場HD3時,由於受到磁通集中器110的作用,單方向磁阻感測器120的所在位置PZ處的外來磁場方向被轉變至具有方向D2分量的磁場,因此磁場感測模組100可藉由單方向磁阻感測器120在方向D2上感測到方向D2磁場分量的大小,來判斷在方向D3上的外來磁場的大小。
在本發明的實施例中,單方向磁阻感測器120指其電阻可經由外來磁場變化而對應改變的感測器,其種類包括巨磁阻感測器或穿隧磁阻感測器。請參照圖3A至圖3C,在本實施例中,單方向磁阻感測器120包括釘扎層(pinning layer)122、受釘扎層(pinned layer)124、間隔層(spacer layer)126及自由層(free layer)128。釘扎層122固定了受釘扎層124的磁化方向(magnetization direction),即為釘扎方向E1,而自由層128的易磁化軸E2的方向則可與釘扎方向E1實質上垂直。當單方向磁阻感測器120為巨磁阻感測器時,間隔層126的材質為非磁性金屬(non-magnetic metal)。此外,當單方向磁阻感測器120為穿隧磁阻感測器時,間隔層126的材質為絕緣材質。應注意的是,於本實施例中,所謂的「單方向」係指這些磁阻感測器的釘扎方向E1
為同一個方向,其例如是方向D2。
圖3C中的曲線圖表現了單方向磁阻感測器120的電阻R相對於外來磁場H的變化。如圖3C的左上圖所示,當單方向磁阻感測器120被施加一與釘扎方向E1同向之外來磁場H時,其電阻R會下降,即曲線圖中黑圓點所對應的電阻R的數值,其中此釘扎方向即為單方向磁阻感測器120的感測方向SD。如圖3C的左下圖所示,當單方向磁阻感測器120被施加一與釘扎方向E1相反方向之外來磁場H時,其電阻R會上升,即曲線圖中黑圓點所對應的電阻R的數值。如圖3C的右上圖所示,當單方向磁阻感測器120被施加一與釘扎方向E1垂直之外來磁場H時,其電阻R維持不變,即曲線圖中黑圓點所對應的電阻R的數值。另外,如圖3C的右下圖所示,當單方向磁阻感測器120沒有被施加磁場時,其電阻R維持不變,即曲線圖中黑圓點所對應的電阻R的數值。
在本發明的實施例中,計算器130係泛指會接收電訊號而對電訊號做出不同數學運算的元件,其例如是可進行加法、減法、乘法、除法或其組合,或者是進行其他不同種類的數學運算,本發明並不以此為限。
在簡要地說明完上述各元件的功能之後,於以下的段落中會詳細的說明各元件之間的配置關係。
請參照圖1,於本實施例中,磁通集中器110具有第一、第二端部EP1、EP2以及中間部MP。第一端部EP1相對於第二端部EP2,其中第一端部EP1例如是左端部,第二端部EP2例如是
右端部,但不以此為限。又,每一個端部EP1、EP2皆具有相對的上、下兩側。中間部MP與第一、第二端部EP1、EP2連接。更具體來說,磁通集中器110例如是矩形,其具有相對的二短邊SE與二長邊LE,二短邊SE中的任一者與二長邊LE連接。第一端部EP1包括左短邊SE1以及上長邊LE1與下長邊LE2兩邊的左部分。第二端部EP2包括右短邊SE2以及上長邊LE1與下長邊LE2兩邊的右部分。
請再參照圖1,大體上來說,這些單方向磁阻感測器120設置於磁通集中器110旁。依據設置位置的不同,這些單方向磁阻感測器120可被分為多個第一、第二單方向磁阻感測器1201、1202。詳細來說,這些第一單方向磁阻感測器1201設置於第一端部EP1旁,且再更依據設置位置的不同,這些第一單方向磁阻感測器1201又被分為第一、第三部分P1、P3,其中第一、第三部分P1、P3分設於第一端部EP1的相對兩側(上、下兩側),且分設於屬於第一端部EP1的上長邊LE1、下長邊LE2旁。類似地,這些第二單方向磁阻感測器1202則設置於第二端部EP2旁,且再更依據設置位置的不同,這些第二單方向磁阻感測器1202又被分為第二、第四部分P2、P4,其中第二、第四部分P2、P4分設於第二端部EP2的相對兩側(上、下兩側),且分設於屬於第二端部EP2的上長邊LE1、下長邊LE2旁。
請再參照圖1,於本實施例中,第一、第三部分P1、P3耦接成第一惠司同全橋FWH1,而第二、第四部分P2、P4部分則
耦接成第二惠司同全橋FWH2。也就是說,位於不同端部EP1、EP2旁的多個第一、多個第二單方向磁阻感測器1201、1202分別耦接成兩個惠司同全橋FWH1、FWH2。計算器130與第一、第二惠司同全橋FWH1、FWH2耦接,並用以接收來自第一、第二惠司同全橋FWH1、FWH2的電訊號。
在說明完上述各元件的配置之後,於以下的段落中會詳細的說明磁場感測裝置100如何測量不同方向上的磁場分量。
圖4A至圖4C為圖1中的磁場感測裝置置於不同方向的外來磁場的示意圖。
請同時參照圖2A與圖4A,當磁場感測裝置100置於磁場方向為方向D1的外來磁場HD1中時,外來磁場HD1會因為磁通集中器110的影響而改變其方向。也就是說,外來磁場HD1的磁場方向會由原先的方向D1轉變成在方向D2上或在方向D2的反方向上的磁場(轉變後的磁場標示為H’),而位於不同位置的單方向磁阻感測器120則會因為不同的磁場方向會有不同的電阻變化。
詳細來說,第一、第四部分P1、P4(左上、右下部分)會因為磁通集中器110的關係而感測到磁場方向為方向D2的反方向的磁場分量,又,單方向磁阻感測器120的釘扎方向E1都是方向D2,因此第一、第四部分P1、P4中的第一、第二單方向磁阻感測器1201、1202因為「被轉變的外來磁場HD1的磁場方向」與「釘扎方向E1」兩方向互為反平行而導致其電阻值產生正△R的變化,其中△R大於0。
反之,第二、第三部分P2、P3(右上、左下部分)會因為磁通集中器110的關係感測到磁場方向為方向D2的磁場分量,又,單方向磁阻感測器120的釘扎方向E1都是方向D2,因此第二、第三部分P2、P3中的第一、第二單方向磁阻感測器1201、1202會因為「被轉變的外來磁場HD1的磁場方向」與「釘扎方向E1」兩方向互為平行而導致其電阻值產生負△R的變化,其中△R大於0。
因此,由於第一惠司同全橋FWH1中的第一、第三部分P1、P3的電阻變化(第一部分P1的電阻值變化為正、第三部分P3的電阻值變化為負)與第二惠司同全橋FWH2中的第二、第四部分P2、P4的電阻變化(第二部分P2的電阻值變化為負、第三部分P3的電阻值變化為正)彼此互為相反,因此第一、第二惠司同全橋FWH1、FWH2兩者所分別輸出的第一、第二電訊號的訊號方向互為反向。計算器130根據第一、第二電訊號進行減法運算,並根據減法運算結果來判斷外來磁場HD1在方向D1上的大小與正負值。
請同時參照圖2B與圖4B,當磁場感測裝置100置於磁場方向為方向D2的外來磁場HD2中時,大體來說,外來磁場HD2並不太會被磁通集中器110影響而改變其方向。因此,第一至第四部分P1~P4中的第一、第二單方向磁阻感測器1201、1202的釘扎方向E1與外來磁場HD2的方向兩方向互為平行,而導致每一個單方向磁阻感測器120的電阻值皆產生負△R的變化,其中△R大
於0。
因此,由於用來構成兩個惠司同全橋FWH1、FWH2的磁阻感測器120的電阻變化都一樣,也就是說,在每一個惠司同全橋FWH1、FWH2中的兩電壓輸出端之間所量測到的電壓差訊號為0,外來磁場HD2的大小不會被第一、第二惠司同全橋FWH1、FWH2的架構感測到。
請同時參照圖2C與圖4C,當磁場感測裝置100置於磁場方向為方向D3的外來磁場HD3中時,外來磁場HD3會因為磁通集中器110的影響而其方向。也就是說,外來磁場HD3的磁場方向會由原先的方向D2轉變成在方向D2上或在方向D2的反方向上的磁場,而位於不同位置的單方向磁阻感測器120則會因為不同的磁場方向會有不同的電阻變化。
詳細來說,第一、第二部分P1、P2(左上、右上部分)會因為磁通集中器110的關係而感測到磁場方向為方向D2的反方向的磁場分量,又,單方向磁阻感測器120的釘扎方向E1都是方向D2,因此第一、第二部分P1、P2中的第一、第二單方向磁阻感測器1201、1202因為「被轉變的外來磁場HD3的磁場方向」與「釘扎方向E1」兩方向互為反平行而導致其電阻值產生正△R的變化,其中△R大於0。
請參照圖4C,並對照圖2C,反之,第三、第四部分P3、P4(左下、右下部分)會因為磁通集中器110的關係感測到磁場方向為方向D2的磁場分量,又,單方向磁阻感測器120的釘扎方
向E1都是方向D2,因此第三、第四部分P3、P4中的第一、第二單方向磁阻感測器1201、1202會因為「被轉變的外來磁場HD3的磁場方向」與「釘扎方向E1」兩方向互為平行而導致其電阻值產生負△R的變化,其中△R大於0。
因此,由於第一惠司同全橋FWH1中的第一、第三部分P1、P3的電阻變化(第一部分P1的電阻值變化為正、第三部分P3的電阻值變化為負)與第二惠司同全橋FWH2中的第二、第四部分P2、P4的電阻變化(第二部分P2的電阻值變化為正、第四部分P4的電阻值變化為負)彼此相同,因此第一、第二惠司同全橋FWH1、FWH2兩者所分別輸出的第一、第二電訊號的訊號方向互為同向。計算器130根據第一、第二電訊號進行加法運算,並根據加法運算結果來判斷外來磁場HD3在方向D3上的大小與正負值。
承上述,在本實施例的磁場感測裝置100中,由於這些單方向磁阻感測器120的釘扎方向E1皆設計為同一方向,因此其製造過程簡單,成本較低且具有良好的穩定性。並且,磁場感測裝置100將這些單方向磁阻感測器120分別設置於磁通集中器110相對兩端部旁EP1、EP2而分別形成兩個惠司同全橋FWH1、FWH2,並藉由兩個惠司同全橋FWH1、FWH2因外在磁場影響而輸出的電訊號以實現多軸感測(例如是兩軸感測,即可決定外來磁場在二不同方向D1、D3上的磁場分量)。由於第一、第二惠司同全橋FWH1、FWH2的電路架構分布於對應的端部EP1、EP2區
域,因此其電路架構較為簡單而不複雜,可有效地降低製造成本。
在此必須說明的是,下述實施例沿用前述實施例的部分內容,省略了相同技術內容的說明,關於相同的元件名稱可以參考前述實施例的部分內容,下述實施例不再重複贅述。此外,為了清楚地顯示圖面,下方段落所述及的圖中省略部分與先前實施例相同的元件的標號。
圖5A至圖7A是本發明不同實施例的磁場感測裝置的在第一時間區間的上視示意圖。圖5B至圖7B分別是圖5A與圖7A的磁場感測裝置在第二時間區間的上視示意圖。圖8是本發明另一實施例的磁場感測裝置的上視示意圖。
請參照圖5A,圖5A的磁場感測裝置100a大致上類似於圖1的磁場感測裝置100,其主要差異在於:磁場感測裝置100a更包括分時切換電路140,其中分時切換電路140耦接於這些單方向磁阻感測器120,且用以切換這些單方向磁阻感測器120的之間的接點的至少一部分而改變這些磁阻感測器120之間的電路接法,以形成與第一、第二惠司同全橋FWH1、FWH2不同的架構的另一惠司同全橋。在本實施例中,這些磁阻感測器120更包括多個第三單方向磁阻感測器1203。於本實施例中,這些第三單方向磁阻感測器1203與中間部MP重疊設置。
於本實施例中,磁場感測裝置100a可藉由分時切換電路140而在不同的時間區間內切換這些單方向磁阻感測器120之間的電路接法,而可量測到方向D1~D3的磁場分量。換言之,本實
施例的磁場感測裝置100a可實現三軸感測。可於以下的段落中會分段說明磁場感測裝置100a如何量測方向D1~D3的磁場分量。
請參照圖5A,在第一時間區間內,分時切換電路140將這些第一、第二單方向磁阻感測器1201、1202分別形成兩個惠司同全橋FWH1、FWH2,而量測方向D1、D3的磁場分量。磁場感測裝置100a量測方向D1、D3上的磁場分量的原理大致上類似於圖1的磁場感測裝置100,於此不在贅述。
請參照圖5B,在第二時間區間內,分時切換電路140可從第一至第四部分P1~P4中選出至少一部分的單方向磁阻感測器120而與這些第三單方向磁阻感測器1203耦接成第三惠司同全橋FWH3。舉例而言,分時切換電路140例如是選擇第一、第三部分P1、P3中最靠近第三單方向磁阻感測器1203的兩個第一單方向磁阻感測器1201進行耦接全橋的動作。
請參照圖5B,並對照圖2B,當磁場感測裝置100a置於磁場方向為方向D2的外來磁場HD2中時,由於第三單方向磁阻感測器1203被磁通集中器110屏蔽,而不會感測到外來磁場HD2,而兩個第一單方向磁阻感測器1201則因外來磁場HD2影響而導致其電阻值產生負△R的變化。因此,當第三惠司同全橋FWH3受外來磁場HD2影響時,這些第三單方向磁阻感測器1203的電阻值是沒有變化的,而此兩個第一單方向磁阻感測器1201a電阻值產生負△R的變化,因此在第三惠司同全橋FWH3中的兩電壓輸出端之間所量測到的電壓差訊號(即第三電訊號)係為一非零的電
訊號,也就是說,外來磁場HD2的大小可被第三惠司同全橋FWH3的架構感測到。計算器130再根據此第三電訊號來判斷外來磁場HD2在方向D2上的大小與正負值。
承上述,於其他的實施例中,分時切換電路140也可以選擇其他的第一、第二單方向磁阻感測器1201、1202並與這些第三單方向磁阻感測器1203以耦接成第三惠司同全橋FWH3,本發明並不以此為限。
請參照圖6A,圖6A的磁場感測裝置100b大致上類似於圖5A的磁場感測裝置100a,其主要差異在於:在磁場感測裝置100b中,依據設置位置的不同,這些第三單方向磁阻感測器1203可被分為第五、第六部分P5、P6。第六部分P6又包括二個第六子部分SP6。第五部分P5與中間部MP重疊設置,而二第六子部分SP6分別設置於中間部MP的相對兩側(上、下兩側)旁且不與中間部MP重疊設置。
請參照圖6A,在第一時間區間內,分時切換電路140將這些第一、第二單方向磁阻感測器1201、1202分別形成兩個惠司同全橋FWH1、FWH2,而量測方向D1、D3的磁場分量。磁場感測裝置100a量測方向D1、D3上的磁場分量的原理大致上類似於圖1的磁場感測裝置100,於此不在贅述。
請參照圖6B,在第二時間區間內,分時切換電路140將第五、第六部分P5、P6耦接成第三惠司同全橋FWH3b。基於類似於圖5B的磁場感測裝置100a的原理,當第三惠司同全橋
FWH3b受外來磁場HD2影響時,第三惠司同全橋FWH3b中的屬於第六部分P6的第三單方向磁阻感測器1203會因為外來磁場HD2而改變電阻值,而屬於第五部分P5的則否,因此第三惠司同全橋FWH3b可輸出一非零的第三電訊號。計算器130再根據此第三電訊號來判斷外來磁場HD2在方向D2上的大小與正負值。
請參照圖7A,圖7A的磁場感測裝置100c大致上類似於圖6A的磁場感測裝置100b,其主要差異在於:這些第三單方向磁阻感測器1203的設置位置不同。詳細來說,這些第三單方向磁阻感測器1203包括第五、第六部分P5c、P6c。第五部分P5c設置於屬於第一端部EP1的短邊(即左短邊SE1)旁且不與第一端部EP1重疊設置,而第六部分P6c設置於屬於第二端部EP2的短邊(即右短邊SE2)旁且不與第二端部EP2重疊設置。
請參照圖7A,在第一時間區間內,分時切換電路140將這些第一、第二單方向磁阻感測器1201、1202分別形成兩個惠司同全橋FWH1、FWH2,而量測方向D1、D3的磁場分量。磁場感測裝置100c量測方向D1、D3上的磁場分量的原理大致上類似於圖1的磁場感測裝置100,於此不在贅述。
請參照圖7B,在第二時間區間內,分時切換電路140將第五、第六部分P5c、P6c耦接成第三惠司同全橋FWH3c。請對照圖2B,當第三惠司同全橋FWH3c受外來磁場HD2影響時,於第五、第六部分P5c、P6c的所在處的外來磁場HD2會被磁通集中器110所影響而使其磁場方向改變為方向D1,因此這些單方向第三
磁阻感測器1203會因為磁通集中器110的關係而感測到在方向D1的磁場,而可使其電阻改變。因此第三惠司同全橋FWH3c可輸出一非零的第三電訊號。計算器130再根據此第三電訊號來判斷外來磁場HD2在方向D2上的大小與正負值。
請參照圖8,圖8的磁場感測裝置100d大致上類似於圖1的磁場感測裝置100,其主要差異在於:磁場感測裝置100d更包括單方向磁場感測元件150,其與計算器130耦接。於上述的說明中,這些單方向磁阻感測器120所構成的第一、第二惠司同全橋FWH1、FWH2用以量測在方向D1、D3上的磁場分量,而單方向磁場感測元件150則用以量測在方向D2上的磁場分量,以使本實施例的磁場感測裝置100d實現三軸感測。也就是說,單方向磁場感測元件150可受外來磁場影響而輸出電訊號(即第三電訊號),而計算器130可依據單方向磁場感測元件150所輸出的電訊號決定在方向D2上的磁場分量。熟習本領域技術的通常知識者可以藉由各種不同的磁阻感測器以構成功能上能夠量測在方向D2上的磁場分量的單方向磁場感測元件150,本發明並不以此為限。
綜上所述,在本發明實施例的磁場感測裝置中,由於這些單方向磁阻感測器的釘扎方向皆為同一方向,因此其製造過程簡單,成本較低且具有良好的穩定性。並且,磁場感測裝置將這些單方向磁阻感測器分別設置於磁通集中器相對兩端部旁而分別形成兩個惠司同全橋,並藉由兩個惠司同全橋因外在磁場影響而輸出的電訊號以實現多軸感測,其電路架構較為簡單而不複雜,
可有效地降低製造成本。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作些許的更動與潤飾,故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧磁場感測裝置
110‧‧‧磁通集中器
120‧‧‧單方向磁阻感測器
1201~1202‧‧‧第一、第二單方向磁阻感測器
130‧‧‧計算器
C1~C8‧‧‧接點
D1~D3‧‧‧方向
E1‧‧‧釘扎方向
E2‧‧‧易磁化軸
EP1‧‧‧第一端部
EP2‧‧‧第二端部
LE‧‧‧長邊
LE1‧‧‧上長邊
LE2‧‧‧下長邊
MP‧‧‧中間部
P1‧‧‧第一部分
P2‧‧‧第二部分
P3‧‧‧第三部分
P4‧‧‧第四部分
FWH1‧‧‧第一惠司同全橋
FWH2‧‧‧第二惠司同全橋
S‧‧‧基板
SE‧‧‧短邊
SE1‧‧‧左短邊
SE2‧‧‧右短邊
Claims (8)
- 一種磁場感測裝置,包括:磁通集中器,具有相對的第一端部與第二端部;多個單方向磁阻感測器,具有相同的釘扎方向,該些單方向磁阻感測器設置於該磁通集中器旁,且該些單方向磁阻感測器更包括多個第一單方向磁阻感測器與多個第二單方向磁阻感測器,其中,該些第一單方向磁阻感測器設置於該第一端部旁,且該些第一單方向磁阻感測器更包括分別設置於該第一端部相對兩側的第一部分與第三部分,且該第一部分與該第三部分耦接成一第一惠司同全橋,該些第二單方向磁阻感測器設置於該第二端部旁,且該些第二單方向磁阻感測器更包括分別設置於該第二端部相對兩側的第二部分與第四部分,且該第二部分與該第四部分耦接成一第二惠司同全橋;計算器,耦接於該些磁阻感測器,其中,該第一惠司同全橋受一外來磁場影響而輸出一第一電訊號,該第二惠司同全橋受該外來磁場影響而輸出一第二電訊號,該計算器根據該第一電訊號與該第二電訊號而決定該外來磁場在二不同方向上的磁場分量,其中該些磁阻感測器更包括多個第三單方向磁阻感測器,該些第三單方向磁阻感測器設置於該磁通集中器旁, 該磁通集中器更包括中間部,該中間部位於該第一端部與該第二端部之間,且與該第一端部與該第二端部連接,其中該些第三單方向磁阻感測器的至少一部分與該中間部重疊設置,分時切換電路,耦接於該些磁阻感測器,其中,在第一時間區間內,該分時切換電路將該第一部分與該第三部分耦接成該第一惠司同全橋,且將該第二部分與該第四部分耦接成該第二惠司同全橋,以使該計算器根據該第一電訊號與該第二電訊號而決定該外來磁場在該二不同方向上的磁場分量。
- 如申請專利範圍第1項所述的磁場感測裝置,其中,在第二時間區間內,該分時切換電路從該第一部分、該第二部分、該第三部分與該第四部分中選出至少一部分的單方向磁阻感測器與該些第三單方向磁阻感測器耦接成一第三惠司同全橋,該第三惠司同全橋受該外來磁場影響而輸出一第三電訊號,該計算器根據該第三電訊號而決定該外來磁場在另一方向上的磁場分量,其中該另一方向上的磁場分量不同於該二不同方向的磁場分量。
- 如申請專利範圍第1項所述的磁場感測裝置,其中,該些第三單方向磁阻感測器更包括第五部分與第六部分,該第五部分與該中間部重疊設置,且該第六部分更包括二第六子部分,該二第六子部分分別設置於該中間部的相對兩側且不與該中間部重疊設置。
- 如申請專利範圍第1項所述的磁場感測裝置,其中,在第二時間區間內,該分時切換電路將該第五部分與該第六部分耦接成一第三惠司同全橋,該第三惠司同全橋依據該外來磁場而輸出一第三電訊號,該計算器根據該第三電訊號而決定該外來磁場在另一方向上的磁場分量,其中該另一方向上的磁場分量不同於該二不同方向的磁場分量。
- 如申請專利範圍第1項所述的磁場感測裝置,其中,該些磁阻感測器更包括多個第三單方向磁阻感測器,該些第三單方向磁阻感測器設置於該磁通集中器旁且包括第五部分與第六部分,該磁通集中器具有二短邊與二長邊,該二短邊中的任一者與該二長邊連接,該第一端部與該第二端部分別包括該二長邊的一部分與該二短邊中的一者,其中,該第一部分與該第三部分分別設置於屬於該第一端部的該二長邊旁,該第二部分與該第四部分分別設置於屬於該第二端部的該二長邊旁,該第五部分設置於屬於該第一端部的該短邊旁且不與該第一端部重疊設置,該第六部分設置於屬於該第二端部的該短邊旁且不與該第二端部重疊設置。
- 如申請專利範圍第5項所述的磁場感測裝置,其中,在第二時間區間內,該分時切換電路將該第五部分與該第六部分耦接成一第三惠司同全橋,該第三惠司同全橋依據該外來磁場而輸出一第三電訊號,該計算器根據該第三電訊號而決定該外來磁場在另一方向上的磁場分量,其中該另一方向上的磁場分量不同於該二不同方向的磁場分量。
- 如申請專利範圍第1項所述的磁場感測裝置,更包括單方向磁場感測元件,耦接於該計算器,其中該單方向磁場感測元件受該外來磁場影響而輸出一第三電訊號,該計算器根據該第三電訊號決定該外來磁場在另一方向上的磁場分量,其中該另一方向上的磁場分量不同於該二不同方向的磁場分量。
- 如申請專利範圍第1項所述的磁場感測裝置,其中該單方向磁阻感測器的種類包括巨磁阻感測器或穿隧磁阻感測器。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN202216701U (zh) * | 2011-07-11 | 2012-05-09 | 联创汽车电子有限公司 | 巨磁阻效应节气门角度位置传感器 |
US20130265039A1 (en) * | 2012-02-10 | 2013-10-10 | Memsic, Inc. | Planar three-axis magnetometer |
US20140015525A1 (en) * | 2012-07-11 | 2014-01-16 | Stmicroelectronics S.R.L. | Integrated multilayer magnetoresistive sensor and manufacturing method thereof |
TW201520574A (zh) * | 2013-11-17 | 2015-06-01 | Isentek Inc | 磁場感測模組、量測方法及磁場感測模組的製作方法 |
TW201520575A (zh) * | 2013-11-28 | 2015-06-01 | Univ Nat Taiwan | 磁場感測裝置 |
-
2019
- 2019-06-24 TW TW108121871A patent/TWI703337B/zh active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN202216701U (zh) * | 2011-07-11 | 2012-05-09 | 联创汽车电子有限公司 | 巨磁阻效应节气门角度位置传感器 |
US20130265039A1 (en) * | 2012-02-10 | 2013-10-10 | Memsic, Inc. | Planar three-axis magnetometer |
US20140015525A1 (en) * | 2012-07-11 | 2014-01-16 | Stmicroelectronics S.R.L. | Integrated multilayer magnetoresistive sensor and manufacturing method thereof |
CN103543417A (zh) * | 2012-07-11 | 2014-01-29 | 意法半导体股份有限公司 | 集成多层磁阻传感器及其制造方法 |
TW201520574A (zh) * | 2013-11-17 | 2015-06-01 | Isentek Inc | 磁場感測模組、量測方法及磁場感測模組的製作方法 |
TW201520575A (zh) * | 2013-11-28 | 2015-06-01 | Univ Nat Taiwan | 磁場感測裝置 |
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