TWI703320B - 刻印檢查裝置、刻印檢查方法及物品檢查裝置 - Google Patents

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Abstract

為了精度佳地對含有在物品之表面施加了刻印之刻印部的刻印區域進行檢查，本發明為一種刻印檢查裝置，係對物品之表面中含有施加了用於特定物品之刻印之刻印部的刻印區域進行檢查者，其具備：參照影像記憶部，係將不具有刻印及缺陷之物品之影像記憶為參照影像；攝像部，係對物品進行攝像；刻印判定部，係由對成為檢查對象之物品藉由攝像部進行攝像而取得之物品影像，將對應至刻印區域之部分切出而取得刻印區域影像，對刻印區域影像進行刻印部之文字辨識而判定刻印是否被適當地設置；與刻印周邊判定部，係將由刻印區域影像切除了刻印部之影像的刻印周邊影像與參照影像進行比較，判定刻印區域中於刻印部除外之刻印周邊部是否含有缺陷。

Description

刻印檢查裝置、刻印檢查方法及物品檢查裝置
本發明係關於對含有於物品之表面施加了刻印之刻印部的刻印區域進行檢查的刻印檢查裝置及方法，以及裝備該刻印檢查裝置對物品進行檢查之物品檢查裝置。
以下所示之日本申請案之說明書、圖式及申請專利範圍之揭示內容，係作為參照而將其所有內容引用至本說明書。
日本專利特願2018-140938(2018年7月27日申請)
已知有對金屬製零件、樹脂製零件或橡膠製零件等立體性物品由各種角度進行攝像並根據所得之複數影像對物品進行檢查的裝置。例如，日本專利特開2016-57075號公報之檢查裝置，係以藉由鍛造或鑄造所形成之金屬零件(例如汽車零件)作為檢查對象之物品，並設置對臺所保持之物品由複數方向分別照射光之複數光源部。然後，一邊切換光源部之點燈態樣，一邊取得2種之影像，由此等影像判定於物品之表面是否存在凹狀或凸狀之缺陷。
為了對成為檢查對象之物品進行特定或識別，有時對物品施加文字(本說明書中，包括英數字、平假名、片假名、漢字、 記號等)之刻印。於施加了複數種之刻印的刻印部，由於在物品之表面發生各種凹凸，故若直接藉由日本專利特開2016-57075號公報記載之裝置對刻印部進行檢查，則有誤認為缺陷之虞。因此，過去採用對於物品之表面中含有刻印部之一定範圍(以下稱為「刻印區域」)不進行檢查等之對策。
然而，如上述般刻印係具有物品之特定機能或識別機能，重要的是檢查刻印是否被適當地設置。又，由於亦有於刻印區域發生缺陷之可能性，除了提高物品之檢查精度之外，檢查出於刻印區域是否含有缺陷亦屬重要。
本發明係有鑑於上述課題而完成者，其目的在於提供可精度良好地對含有於物品之表面施加了刻印之刻印部的刻印區域進行檢查的刻印檢查裝置及方法，以及可高精度地對包括刻印區域之物品進行檢查的物品檢查裝置。
本發明之第1態樣為一種刻印檢查裝置，係對物品之表面中含有施加了用於特定物品之刻印之刻印部的刻印區域進行檢查者，其特徵為，具備：參照影像記憶部，係將不具有刻印及缺陷之物品之影像記憶為參照影像；攝像部，係對物品進行攝像；刻印判定部，係由對成為檢查對象之物品藉由攝像部進行攝像而取得之物品影像，將對應至刻印區域之部分切出而取得刻印區域影像，對刻印區域影像進行刻印部之文字辨識而判定刻印是否被適當地設置；與刻印周邊判定部，係將由刻印區域影像切除了刻印部之影像的刻印周邊影像與參照影像進行比較，判定刻印區域中於刻印部除外之刻印周邊部是否含有缺陷。
又，本發明之第2態樣為一種刻印檢查方法，係對物 品之表面中含有施加了用於特定物品之刻印之刻印部的刻印區域進行檢查者，其特徵為，具備：將不具有刻印及缺陷之物品之影像作成為參照影像，並記憶於參照影像記憶部的步驟；對成為檢查對象之物品進行攝像而取得物品影像的步驟；由物品影像切出對應至刻印區域之部分而取得刻印區域影像的步驟；對刻印區域影像進行刻印部之文字辨識而判定刻印是否被適當地設置的步驟；與將由刻印區域影像切除了刻印部之影像的刻印周邊影像與參照影像進行比較，判定刻印區域中於刻印部除外之刻印周邊部是否含有缺陷的步驟。
再者，本發明之第3態樣為一種物品檢查裝置，係對於表面之一部分施加了刻印之物品進行檢查者，其特徵為，具備：參照影像記憶部，係將不具有刻印及缺陷之物品之影像記憶為參照影像；攝像部，係對物品進行攝像；刻印判定部，係由對成為檢查對象之物品藉由攝像部進行攝像而取得之物品影像，將對應至包含施加了刻印之刻印部之刻印區域之部分切出而取得刻印區域影像，對刻印區域影像進行刻印部之文字辨識而判定刻印是否被適當地設置；刻印周邊判定部，係將由刻印區域影像切除了刻印部之影像的刻印周邊影像與參照影像進行比較，判定刻印區域中於刻印部除外之刻印周邊部是否含有缺陷；與非刻印區域判定部，係由物品影像取得物品之中對應至刻印區域除外之非刻印區域的非刻印區域影像，將非刻印區域影像與參照影像進行比較而判定於非刻印區域是否含有缺陷。
如此構成之發明，係由對成為檢查對象之物品進行攝像而取得的物品影像，切出對應至刻印區域之部分而取得刻印區域 影像。然後，對刻印區域影像進行刻印部之文字辨識而判定刻印是否被適當地設置。又，將不具有刻印及缺陷之物品之影像事先記憶於參照影像記憶部作為參照影像，另一方面，將由刻印區域影像去除了刻印部之影像的刻印周邊影像與參照影像進行比較。藉由此比較，判定刻印區域中刻印部除外之刻印周邊部是否含有缺陷。
如以上所述，根據本發明，取得對應至包含施加了刻印之刻印部之刻印區域的刻印區域影像，根據該刻印區域影像分別實行刻印及刻印周邊部的檢查。因此，可精度良好地對包含於物品之表面施加了刻印之刻印部的刻印區域進行檢查。
上述本發明之各態樣所具有之複數之構成要素，並不需要全部具有，可為了解決上述課題之一部分或全部，或者為了達成本說明書記載之效果之一部分或全部，而針對上述複數之構成要素之一部分構成要素適當地進行變更、刪除、替換新穎之其他構成要素、刪除限定內容之一部分。又，亦可為了解決上述課題之一部分或全部，或者為了達成本說明書記載之效果之一部分或全部，將上述本發明之一態樣所含之技術特徵之一部分或全部、與上述本發明之其他態樣所含之技術特徵之一部分或全部組合，而作成本發明之獨立之一形態。
1‧‧‧物品檢查裝置
2‧‧‧臺
3‧‧‧攝像單元
4‧‧‧光源單元
5‧‧‧演算處理部
6‧‧‧記憶部
11‧‧‧本體
12‧‧‧控制單元
13‧‧‧輸入部
14‧‧‧顯示部
31‧‧‧上方攝像部
32‧‧‧斜方攝像部
33‧‧‧側方攝像部
41‧‧‧上方光源部
42‧‧‧斜方光源部
43‧‧‧側方光源部
51‧‧‧參照影像作成部
52‧‧‧刻印判定部
53‧‧‧刻印周邊判定部
54‧‧‧非刻印區域判定部
61‧‧‧參照影像數據
62‧‧‧物品影像數據
63‧‧‧刻印區域影像數據
64‧‧‧刻印周邊影像數據
65‧‧‧指定範圍數據
B‧‧‧點線框
G0‧‧‧物品影像
G1‧‧‧刻印區域影像
G2‧‧‧非刻印區域影像
G11‧‧‧(刻印部之)影像
G12‧‧‧刻印周邊影像
GR‧‧‧參照影像
J1‧‧‧中心軸
K2‧‧‧攝像光軸
K3‧‧‧攝像光軸
R1‧‧‧刻印區域
R2‧‧‧非刻印區域
R11‧‧‧刻印部
R12‧‧‧刻印周邊部
W‧‧‧(成為檢查對象之)物品
W0‧‧‧良品物品
圖1為表示裝備本發明之刻印檢查裝置之第1實施形態的物品檢查裝置之構成的圖。
圖2為表示圖1所示物品檢查裝置之本體的平面圖。
圖3為表示物品檢查裝置中檢查處理之流程的流程圖。
圖4為表示參照影像之作成處理的流程圖。
圖5為表示參照影像之作成處理中於顯示部之顯示內容之一例的圖。
圖6為表示刻印區域之檢查感度之設定中於顯示部之顯示內容之一例的圖。
圖7為表示參照影像之作成處理之概要的概略圖。
圖8為表示刻印區域之檢查手續的流程圖。
圖9為概略表示刻印區域之檢查內容的圖。
圖1為表示裝備本發明之刻印檢查裝置之第1實施形態的物品檢查裝置之構成的圖。圖2為表示圖1所示物品檢查裝置之本體的平面圖。物品檢查裝置1係例如由對藉鍛造或鑄造所製造之金屬製之物品W進行攝像所得之物品影像，進行3種之檢查(刻印檢查、刻印周邊檢查、非刻印區域檢查)的裝置。
如圖1所示，物品檢查裝置1係具備：本體11；由電腦所構成之控制單元12；具有用於對控制單元12賦予各種數據或指令等的鍵盤或滑鼠等的輸入部13；與顯示用於如後述般指示物品影像或刻印區域之框線等的顯示部14。此物品檢查裝置1中，本體11係具備臺2、攝像單元3、與光源單元4。然後，物品W係載置於臺2上。又，於本體11係設置防止外部光到達臺2上的省略圖示之遮光罩，並於遮光罩內設置臺2、攝像單元3及光源單元4。
如圖1及圖2所示，攝像單元3係具備1個上方攝像部31、8個斜方攝像部32、與8個側方攝像部33。圖2中，省略了上方攝像部31之圖示(關於後述之上方光源部41亦相同)。上方 攝像部31係如圖1所示般配置於臺2之上方且由臺2之中心朝鉛直上方延伸的中心軸J1上，將藉由上方攝像部31對臺2上之物品W之上面由正上方進行攝像的原影像輸出至控制單元12。
如圖2所示，在由上側朝下方觀看本體11時(亦即，俯視本體11之情況)，8個斜方攝像部32係配置於臺2周圍。8個斜方攝像部32，係於以中心軸J1為中心之周方向上依45°之角度間隔(間距)配置。在包含各斜方攝像部32之攝像光軸K2與中心軸J1的面(參照圖1)，攝像光軸K2與中心軸J1所成角度θ2為約45°。藉由各斜方攝像部32可取得對臺2上之物品W由斜上方進行攝像的原影像。
在俯視本體11的情況，8個側方攝像部33亦與8個斜方攝像部32同樣地配置於臺2周圍。8個側方攝像部33係於以中心軸J1為中心的周方向上依45°之角度間隔配置。在包含各側方攝像部33之攝像光軸K3與中心軸J1的面，攝像光軸K3與中心軸J1所成角度θ3為約90°。藉由各側方攝像部33可取得對臺2上之物品W由橫向進行攝像的原影像。上方攝像部31、斜方攝像部32及側方攝像部33例如具有CCD(Charge Coupled Device，電荷耦合裝置)或CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，互補式金屬氧化半導體)等，取得多色階之影像。上方攝像部31、斜方攝像部32及側方攝像部33係由省略圖示之支撐部所支撐。
光源單元4係具備1個上方光源部41、8個斜方光源部42、與8個側方光源部43。上方光源部41係於以中心軸J1為中心的環狀上配列了複數之LED(發光二極體)的光源部。環狀之上方光源部41係依包圍上方攝像部31周圍的方式，固定於上方攝像 部31。藉由上方光源部41，可對臺2上之物品W由正上方沿著平行於中心軸J1之方向照射照明光。
於俯視本體11的情況，8個斜方光源部42係配置於臺2周圍。8個斜方光源部42係於以中心軸J1為中心之周方向上依45°之角度間隔配置。各斜方光源部42係於以中心軸J1為中心之圓周之朝切線方向延伸的棒狀配置了複數之LED的光源部。若將連接各斜方光源部42之射出面之中央與物品W(之中心)的線稱為「斜方照明軸」，則在包含該斜方光源部42之斜方照明軸與中心軸J1的面中，該斜方照明軸與中心軸J1所成角度為約45°。於各斜方光源部42，可對臺2上之物品W由斜上方沿著該斜方照明軸照射照明光。物品檢查裝置1中，斜方光源部42係分別固定於斜方攝像部32。
於俯視本體11的情況，8個側方光源部43係配置於臺2周圍。8個側方光源部43係於以中心軸J1為中心之周方向上依45°之角度間隔配置。各側方光源部43係於以中心軸J1為中心之圓周之朝切線方向延伸的棒狀配置了複數之LED的光源部。與斜方光源部42同樣地，若將連接各側方光源部43之射出面之中央與物品W的線稱為「側方照明軸」，則在包含該側方光源部43之側方照明軸與中心軸J1的面中，該側方照明軸與中心軸J1所成角度為約90°。於各側方光源部43，可對臺2上之物品W由橫向方沿著該側方照明軸照射照明光。物品檢查裝置1中，側方光源部43係分別固定於側方攝像部33。
如此，本實施形態中，係將17個光源部(=1個上方光源部41+8個斜方光源部42+8個側方光源部43)配置成依圓頂狀包 圍臺2周圍，可由彼此相異之17個照明方向之全部或一部分對物品W照射照明光。例如，上方攝像部31及上方光源部41與物品W之間的距離為約55cm(公分)。又，斜方攝像部32及斜方光源部42與物品W間之距離為約50cm，側方攝像部33及側方光源部43與物品W間之距離為約40cm。上方光源部41、斜方光源部42及側方光源部43亦可使用LED以外之種類的光源。
本實施形態中，設置有控制單元12，係用於在控制本體11各部的同時，如後述所說明般對物品W之物品影像與參照影像進行比較而進行物品W之檢查。控制單元12係具備：由CPU(Central Processing Unit，中央處理單元)所構成之演算處理部5；與記憶參照影像數據61、物品影像數據62、刻印區域影像數據63、刻印周邊影像數據64及指令範圍數據65等之各種數據或程式等的記憶部6。演算處理部5係依照上述程式控制裝置各部，一邊多階段地切換對物品W之照明光、一邊取得複數之物品影像。又，演算處理部5係實行：對物品影像施行各種影像處理，判定刻印是否被適當地設置的刻印判定處理；判定於刻印周邊部是否含有缺陷的刻印周邊判定處理；以及判定於刻印區域除外之非刻印區域是否含有缺陷的非刻印區域判定處理。進行此等3種判定處理而對物品W總合性地進行檢查。又，由演算處理部5作成進行上述判定時所使用的參照影像。如此，演算處理部5係具有作為參照影像作成部51、刻印判定部52、刻印周邊判定部53及非刻印區域判定部54的機能。
非刻印區域判定部54係與日本專利特開2016-57075號公報記載之裝置同樣地，進行非刻印區域(刻印區域以外之區域) 的檢查。其檢查概要如以下。藉由從複數之光源部中之一光源部的光照射以攝像部取得第1物品影像，藉由從複數之光源部的光照射以攝像部取得第2物品影像。又，藉由比較第1物品影像及對應至該第1物品影像之第1參照影像，檢測出第1缺陷候補區域，並藉由比較第2物品影像及對應至該第2物品影像之第2參照影像，檢測出第2缺陷候補區域。然後，將第1缺陷候補區域及第2缺陷候補區域中重複之區域特定為對象區域中之缺陷區域。藉此，將以物品W表面之微小凹凸為起因之第1及第2缺陷候補區域中的偽缺陷區域適當去除，精度佳地檢測出物品W表面之缺陷(真缺陷)。
於此，必須事先作成第1參照影像及第2參照影像並記憶於記憶部6。又，如之後詳述般，於刻印周邊判定處理中係使用第1參照影像及第2參照影像。於此，本實施形態中，如圖3所示，演算處理部5係在進行物品W之檢查前，使用不含缺陷之具刻印之物品、即良品物品，作成第1參照影像及第2參照影像後，再進行成為檢查對象之物品W的檢查。
圖3為表示物品檢查裝置之檢查處理之流程的流程圖。又，圖4為表示參照影像之作成處理的流程圖。演算處理部5係依照程式實行以下處理。首先，在將成為檢查對象之物品W裝載至物品檢查裝置1並進行檢查之前，作成參照影像(步驟S1)。亦即，如圖4所示，作成使用了複數之良品物品(本實施形態中為i個良品物品)的參照影像(步驟S1)。又，於此，由於第1參照影像及第2參照影像係分別依與第1物品影像及第2物品影像相同之攝像條件所取得，故以下針對對應至第1物品影像之第1參照影像的作成進行說明，並省略對應至第2物品影像之第2參照影像的作成 的說明。又，在未區分第1參照影像及第2參照影像進行說明時，係簡稱為「參照影像」。又，參照影像亦可在檢查處理之外事先作成。
於第1參照影像之作成時，對彼此相異之i個良品物品W0(參照圖1)之各個實行一連串步驟(步驟S11~15)。亦即，將良品物品W0裝載至臺2上(步驟S11)。於臺2上，設置有適合於良品物品W0或成為檢查對象之物品W之形狀或大小等的保持部(省略圖示)，依物品W0之主面朝向鉛直上方的狀態將物品W0保持於臺2上之既定位置。接著，根據由操作者經由輸入部13所進行的輸入等，對臺2上之良品物品W0依與第1物品影像相同之攝像條件進行攝像。藉此，依既定之攝像條件取得良品物品W0之影像、即良品物品影像G0(步驟S12)。
如此取得之良品物品影像G0係例如如圖5所示般顯示於顯示部14之中央部，由同圖可知於良品物品W0之中央上部刻印有「1」。又，於顯示部14之左上部，顯示有用於對良品物品影像G0施行範圍指定或加工等的圖像。例如若操作者點選顯示了矩形框之圖像(施加有圓點之圖像)，則如同圖所示，於良品物品影像G0追加顯示用於指定刻印區域的點線框B。又，藉由操作者之操作變更點線框B的位置或尺寸則可任意調整刻印區域R1(圖2)。此刻印區域R1係設定為包含施加了刻印之刻印部R11(圖2)的影像G11。因此，刻印區域R1係如圖2所示般，具有刻印部R11與包圍刻印部R11之刻印周邊部R12，並如圖5所示般，在對應至刻印區域R1之影像(以下稱為「刻印區域影像G1」)中，包含刻印部R11之影像G11、與刻印周邊部R12之影像(以下稱為「刻印周邊影像 G12」)。
當完成刻印區域R1之調整指定，並由操作者點選決定按鈕時，則切換至圖6所示畫面。亦即，保留著顯示良品物品影像G0與刻印區域R1之點線框B，消除圖像並於顯示部14顯示用於指定區域之屬性等的方框。於該方框，可將指定為點線框B之區域選擇為禁止檢查之禁止區域、或進行缺陷檢查之檢查區域、或包含施加了刻印之刻印部R11的刻印區域R1，於指定刻印區域R1時只要如同圖所示般對作為領域屬性之「刻印」之核取方框點選核取即可。又，可選擇藉由檢查所檢測出之缺陷的形式。進而，由於缺陷中廣泛存在表現為較暗者或表現為較亮者，故為了有效地探測出成為檢測對象之缺陷而可設定檢查感度。
然後，如圖6所示般若在指定刻印區域R1之範圍、並依選擇了「刻印」作為區域屬性的狀態下由操作者點選決定按鈕，則演算處理部5將此時點之點線框B接收作為刻印區域R1之指定範圍(步驟S13)。然後，將顯示該範圍之指定範圍數據記憶於記憶部6。
接著，將構成對應至刻印區域R1之刻印區域影像G1的畫素之畫素值平均化，作成參照候補影像。又，將該參照候補影像之數據、即參照候補影像數據，記憶於記憶部6(步驟S14)。藉由上述平均化處理，根據對應至刻印周邊部R12之刻印周邊影像G12將刻印部R11之影像抹除，成為與不具有刻印及缺陷之物品之影像實質上相同者。又，本實施形態中，係藉由平均化處理作成參照候補影像，但亦可藉由其他過濾處理等作成參照候補影像。又，若如此取得參照候補影像，則將臺上之良品物品W0卸載(步驟S15)。
依良品物品W0之數量重複此種一連串處理。藉此，例如如圖7所示般針對3個良品物品W0(分別刻印有「1」、「10」、「6」，但均不含缺陷)，對於用於取得第1物品影像之攝像條件獲得3個參照候補影像GR(1)、GR(10)、GR(6)。本實施形態中，將此等進行平均化而作成參照影像GR，將該參照影像GR之數據、即對應至第1物品影像之參照影像數據，記憶於記憶部6(步驟S16)。進而，將表示刻印區域R1之指定範圍的數據、即指定範圍數據，記憶於記憶部6(步驟S17)。尚且，此等處理係如上述般用於作成第2參照影像而實行。
接著，當完成參照影像之作成時，演算處理部5係對每個欲檢查之物品W實行以下處理(步驟S2~S8)。首先，將成為檢查對象之物品W裝載於臺2上(步驟S2)。接著，對臺2上之良品物品W0依適合取得第1物品影像的攝像條件進行攝像，並依適合取得第2物品影像之攝像條件進行攝像。藉此，依每種攝像條件取得物品影像，將其影像數據、即物品影像數據，記憶於記憶部6(步驟S3)。
於其次之步驟S4，由記憶部6讀取刻印區域R1之指定範圍數據(步驟S4)，依照該指定範圍數據由物品影像抽出刻印區域R1之刻印區域影像G1與非刻印區域R2之非刻印區域影像G2，將刻印區域影像G1之影像數據(刻印區域影像數據)及非刻印區域影像G2之影像數據(非刻印區域影像數據)記憶於記憶部6(步驟S5)。又，刻印區域影像G1係由物品影像G0僅抽除了由操作者所指定之指定範圍(圖5、6中之點線框B之部分)者，非刻印區域影像G2係如圖5或圖6所示般，為由物品影像G0抽除了刻印區域 R1後所剩餘者。
然後，並行實行根據刻印區域影像G1的刻印區域R1之檢查(步驟S6)、與根據非刻印區域影像G2的非刻印區域R2之檢查(步驟S7)。此等檢查均完成時，將臺2上之檢查對象之物品W卸載(步驟S8)。此種一連串之處理(步驟S2~S8)係在存在成為檢查對象之物品W(於步驟S9為「YES」)的期間重複進行。
上述檢查中，由於非刻印區域R2之檢查(步驟S7)係與日本專利特開2016-57075號公報記載的裝置同樣地實行，故於此省略該檢查細節。另一方面，刻印區域R1之檢查(步驟S6)係習知未有之獨有者，故參照圖8及圖9進行詳述。
圖8為表示刻印區域之檢查手續的流程圖。又，圖9為概略表示刻印區域之檢查內容的圖。本實施形態中，成為檢查對象之物品W係藉由省略圖示之機器人載置於臺2上。因此，有視機器人拾取物品W時之臂姿勢或物品W之方向而施加於物品W之刻印不同於標準方向(本實施形態中，以如圖5或圖6所示般在物品影像G0中刻印呈正對之方向作為標準)的情形。因此，為了良好地進行之後說明之光學式文字辨識(Optical Character Recognition)，而於步驟S601判定刻印之方向是否為標準、即刻印是否呈正對。然後，在判定為未正對(於步驟S601為「NO」)時，使於步驟S5所抽出之刻印區域影像G1旋轉，例如如圖9所示般將刻印區域影像G1修正為刻印呈正對之方向(步驟S602)後，進入至下一步驟S603。另一方面，在刻印呈正對(於步驟S601為「YES」)時，則直接進入至步驟S603。
於此步驟S603，對刻印成為正對方向之刻印區域影 像G1施行了邊緣強調處理後，藉既定之閾值進行二值化。於如此接受了影像處理之刻印區域影像G1中，刻印部R11與刻印周邊部R12間之境界變得更明確，清楚顯現刻印。然後，對如此經二值化處理之刻印區域影像G1實行光學式文字辨識並進行刻印判定(步驟S604)。更具體而言，在滿足於藉由光學式文字辨識判定為刻印部R11之部位中所含畫素之總數為一定值(例如200畫素)以上，且相當於線份之部位之寬為一定寬(例如45畫素)以下的判定條件時，判定為刻印被適當地設置。另一方面，在未滿足上述判定條件時則判定為刻印未被適當地設置。
如上述般在對物品W判定為適當刻印時(步驟S605中為「YES」)，演算處理部5係如以下般進行刻印周邊部R12的檢查(步驟S606~S610)。亦即，如圖9中之「刻印周邊部之檢查」之行所示般，由刻印區域影像G1去除刻印部R11之影像G11而特定刻印周邊部R12之刻印周邊影像G12(步驟S606)。然後，去除相當於刻印部R11之處，比較刻印周邊影像G12與參照影像GR而檢查影像之同一性(步驟S607)。之所以如此，係由於在檢查對象之物品W之刻印周邊部R12中不含缺陷的情況，於對應至刻印區域R1之範圍，參照影像GR中去除了相當於刻印部R11之影像GR1(點線部分)的影像GR2與刻印周邊影像G12為一致或幾乎一致所致。相反地，在檢查對象之物品W之刻印周邊部R12中包含缺陷的情況，在相當於缺陷處將大幅相異。因此，本實施形態中，係對構成各影像之每個畫素求得畫素值之差分，在此等之差分之累積值成為既定閾值以下時係兩影像呈一致，例如如圖9之「良品之一例」之列所示般，可下結論為於刻印周邊部R12中不含缺陷。相反地，在 超過閾值時，例如如圖9之「不良品之一例」之列所示般，可下結論為於刻印周邊部R12含有缺陷。從而，本實施形態中，係於步驟S608判定刻印周邊影像G12是否與參照影像GR中對應至刻印周邊影像G12之影像(由參照影像GR去除了點線部分之影像GR2的影像)實質上相同。然後，在相同的情況係判定臺2上之物品W為良品(步驟S609)，在不同的情況係判定上述物品W為不良品(步驟S610)。
另一方面，在步驟S605中判定為對物品W未適當地刻印的情況，則演算處理部5不進行刻印周邊部R12之檢查，立即將臺2上之物品W判定為不良品(步驟S610)。
如以上所述，本實施形態中，係由對成為檢查對象之物品W進行攝像而獲得之物品影像G0取得對應至刻印區域R1之刻印區域影像G1。然後，藉由對刻印區域影像G1進行刻印部R11之文字辨識而判定刻印是否被適當地設置。又，不僅止於此種刻印檢查，對由刻印區域影像G1去除了刻印部R11之影像G11的刻印周邊影像G12與參照影像GR中之影像GR2進行比較，藉由其比較結果而判定於刻印周邊部R12是否包含缺陷。從而，可精度佳地對包含於物品W表面施加了刻印之刻印部R11的刻印區域R1進行檢查。
又，上述實施形態中，在判定為刻印未適當地進行時，則省略刻印周邊部R12之檢查，立即將成為檢查對象之物品W認定為不良品。因此，可省略無謂的檢查處理(步驟S606~S609)。
再者，上述實施形態中，由於並行進行刻印區域R1之檢查(步驟S6)與非刻印區域R2之檢查(步驟S7)，故可依短時間 進行包含刻印區域R1之物品W的檢查。又，上述檢查可為完全地並行進行，亦可部分地並行實行。亦即，非刻印區域R2之檢查亦可與由刻印部R11之文字辨識進行之刻印判定及根據刻印周邊影像G12之刻印周邊部R12的缺陷有無判定的至少一者並行實行。
又，上述實施形態中，可一邊觀察於顯示部14所反映出之物品影像G0、一邊由操作者指摘刻印區域R1。從而，可配合刻印之種類或尺寸等設定刻印區域R1，可精度佳地進行物品W之檢查。
如此於上述實施形態中，良品物品W0相當於本發明之「不具有缺陷之物品」之一例，物品W相當於本發明之「成為檢查對象之物品」之一例。又，上方攝像部31、斜方攝像部32及側方攝像部33相當於本發明之「攝像部」之一例，記憶部6相當於本發明之「參照影像記憶部」之一例。又，此等構成、與作為刻印判定部52及刻印周邊判定部53發揮機能的演算處理部5係合作而發揮作為本發明之「刻印檢查裝置」的機能。
尚且，本發明並不限定於上述實施形態，在不脫離其旨趣之前提下，可進行上述以外之各種變更。例如本實施形態中，係藉由光學式文字辨識根據判定為刻印部R11之部位之畫素資訊而判定刻印是否被適當地設置，但亦可根據其以外之判定條件判定刻印是否被適當地設置。例如習知常用之光學式文字辨識方法係依分數顯示文字辨識結果者，亦可在該分數成為一定以上時判定為刻印被適當地設置；另一方面，在未滿一定時判定為刻印未適當地進行。又，亦可組合上述畫素資訊與分數而判定刻印之適當度。
又，光學式文字辨識時，有與分數一起顯示複數之文 字候補作為辨識結果的情形。在採用此種文字辨識的情況，亦可將分數最高之文字候補(亦即最近似之文字候補)認定刻印於物品W。然後，如圖9中中空箭頭所示般，即使是在根據畫素資訊之判定中判定為刻印未被適當地設置的情況，仍可判定刻印了最近似之文字候補，進而進行刻印周邊部R12之檢查(步驟S606~S610)(第2實施形態)。根據此第2實施形態，可得到下述作用效果。即使是於刻印部R11中鄰接存在較小、實際使用上不造成問題之程度的微小缺陷的情況，仍有於根據畫素資訊之判定中判定為刻印未適當地進行。相對於此，根據第2實施形態，即使存在微小缺陷仍可進行文字辨識，可進行適合於實際使用的檢查。
再者，上述實施形態中，係使用複數之良品物品W0作成不具有刻印及缺陷之物品的影像、即參照影像GR，但亦可僅藉由1個良品物品W0作成參照影像GR。又，亦可取代良品物品W0而使用不具有刻印及缺陷之物品作成參照影像GR，此時，藉由對該物品進行攝像可立即取得參照影像GR。
尚且，本發明之應用對象並不限定於日本專利特開2016-57075號公報記載之裝置，而可全面地應用至對表面之一部分施加了刻印之物品進行檢查的物品檢查裝置。
以上根據特定之實施例說明了本發明，但此說明並不依限定性意義進行解釋。若參照發明之說明，本技術領域中具通常知識者當明瞭與本發明之其他實施形態同樣地，存在所揭示之實施形態的各種變形例。因此，隨附之申請專利範圍係在不脫離發明之真正範圍的範圍內，亦包括該變形例或實施形態。
本發明可全面地應用至對包含於物品表面施加了刻 印之刻印部的刻印區域進行檢查的刻印檢查技術及對物品進行檢查的物品檢查裝置。

Claims (8)

  1. 一種刻印檢查裝置，係對物品之表面中含有施加了用於特定上述物品之刻印之刻印部的刻印區域進行檢查者，其特徵為，具備：參照影像記憶部，係將不具有上述刻印及缺陷之物品之影像記憶為參照影像；攝像部，係對上述物品進行攝像；刻印判定部，係由對成為檢查對象之上述物品藉由上述攝像部進行攝像而取得之物品影像，將對應至上述刻印區域之部分切出而取得刻印區域影像，對上述刻印區域影像進行上述刻印部之文字辨識而判定上述刻印是否被適當地設置；刻印周邊判定部，係將由上述刻印區域影像切除了上述刻印部之影像的刻印周邊影像與上述參照影像進行比較，判定上述刻印區域中於上述刻印部除外之刻印周邊部是否含有缺陷；與參照影像作成部，係於對不具有缺陷之物品藉上述攝像部進行攝像所得的良品物品影像中，根據上述刻印周邊影像將上述刻印部之影像抹除而作成上述參照影像。
  2. 如請求項1之刻印檢查裝置，其中，上述刻印周邊判定部係在藉由上述刻印判定部判定為上述刻印來適當地進行時，不進行是否包含上述缺陷的判定。
  3. 如請求項1之刻印檢查裝置，其中，上述刻印判定部係藉由上述文字辨識取得最近似於上述刻印部的文字候補；上述刻印周邊判定部係將藉由上述刻印判定部所取得之文字候補之影像使用作為上述刻印部之影像，而進行是否包含上述缺陷的 判定。
  4. 如請求項1之刻印檢查裝置，其中，上述刻印判定部係對上述刻印區域影像施行強調上述刻印部之強調處理，進而在施行二值化處理後進行上述文字辨識。
  5. 一種刻印檢查方法，係對物品之表面中含有施加了用於特定上述物品之刻印之刻印部的刻印區域進行檢查者，其特徵為，具備：將不具有上述刻印及缺陷之物品之影像作成為參照影像，並記憶於參照影像記憶部的步驟；對成為檢查對象之上述物品進行攝像而取得物品影像的步驟；由上述物品影像切出對應至上述刻印區域之部分而取得刻印區域影像的步驟；對上述刻印區域影像進行上述刻印部之文字辨識而判定上述刻印是否被適當地設置的步驟；將由上述刻印區域影像切除了上述刻印部之影像的刻印周邊影像與上述參照影像進行比較，判定上述刻印區域中於上述刻印部除外之刻印周邊部是否含有缺陷的步驟；與於對不具有缺陷之物品進行攝像所得的良品物品影像中，根據上述刻印周邊影像將上述刻印部之影像抹除而作成上述參照影像的參照影像作成步驟。
  6. 一種物品檢查裝置，係對於表面之一部分施加了刻印之物品進行檢查者，其特徵為，具備：參照影像記憶部，係將不具有上述刻印及缺陷之物品之影像記憶為參照影像；攝像部，係對上述物品進行攝像； 刻印判定部，係由對成為檢查對象之上述物品藉由上述攝像部進行攝像而取得之物品影像，將對應至包含施加了上述刻印之刻印部之刻印區域之部分切出而取得刻印區域影像，對上述刻印區域影像進行上述刻印部之文字辨識而判定上述刻印是否被適當地設置；刻印周邊判定部，係將由上述刻印區域影像切除了上述刻印部之影像的刻印周邊影像與上述參照影像進行比較，判定上述刻印區域中於上述刻印部除外之刻印周邊部是否含有缺陷；非刻印區域判定部，係由上述物品影像取得上述物品之中對應至上述刻印區域除外之非刻印區域的非刻印區域影像，將上述非刻印區域影像與上述參照影像進行比較而判定於上述非刻印區域是否含有缺陷；與參照影像作成部，係於對不具有缺陷之物品藉上述攝像部進行攝像所得的良品物品影像中，根據上述刻印周邊影像將上述刻印部之影像抹除而作成上述參照影像。
  7. 如請求項6之物品檢查裝置，其中，上述非刻印區域判定部係與由上述刻印判定部進行之判定及由上述刻印周邊判定部進行之判定的至少一者並行，而判定於上述非刻印區域是否含有缺陷。
  8. 一種物品檢查裝置，係對於表面之一部分施加了刻印之物品進行檢查者，其特徵為，具備：參照影像記憶部，係將不具有上述刻印及缺陷之物品之影像記憶為參照影像；攝像部，係對上述物品進行攝像；刻印判定部，係由對成為檢查對象之上述物品藉由上述攝像部進行攝像而取得之物品影像，將對應至包含施加了上述刻印之刻印部 之刻印區域之部分切出而取得刻印區域影像，對上述刻印區域影像進行上述刻印部之文字辨識而判定上述刻印是否被適當地設置；刻印周邊判定部，係將由上述刻印區域影像切除了上述刻印部之影像的刻印周邊影像與上述參照影像進行比較，判定上述刻印區域中於上述刻印部除外之刻印周邊部是否含有缺陷；與非刻印區域判定部，係由上述物品影像取得上述物品之中對應至上述刻印區域除外之非刻印區域的非刻印區域影像，將上述非刻印區域影像與上述參照影像進行比較而判定於上述非刻印區域是否含有缺陷；且上述非刻印區域判定部係與由上述刻印判定部進行之判定及由上述刻印周邊判定部進行之判定的至少一者並行，而判定於上述非刻印區域是否含有缺陷。
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