TWI681845B - 拋磨控制方法及系統 - Google Patents

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Abstract

一種拋磨控制方法，包括：根據一工件之三維輪廓生成一初始拋磨軌跡；根據一第一優化調整值調整該初始拋磨軌跡以生成一優化拋磨軌跡；以及評估該工件之拋磨品質，且將該拋磨品質用於產生一第二優化調整值。

Description

拋磨控制方法及系統
本發明是有關一種拋磨技術，特別是有關於一種以機器人夾持一工件進行拋光或研磨之控制方法及系統。
衛浴、汽車零件、建築五金等產業，常有許多金屬工件需進行表面拋光或研磨(下文將拋光或研磨簡稱為拋磨)以去除毛邊或使工件表面更趨光亮以利電鍍。目前的拋磨方式一般是採取人工作業，然而，以人工進行拋磨存在有生產速度慢、工作環境惡劣以及無法維持產品品質均一性之問題，因此，難以滿足大量生產之需求。
另一方面，由於近年來機器人之技術快速發展，使得目前已有許多工業生產趨向以機器人取代人工，因此，以人工拋磨之傳統製造工藝也逐漸被自動化機器人取代，其中，特別是透過機器人進行工件之拋磨程序時，機器人移動軌跡直接影響到工件與砂帶表面的接觸狀態，進而影響加工精度及工件表面品質。
再者，目前之機器人控制系統往往是針對一種工件就必須因應其形狀、輪廓而撰寫一套具有專屬拋磨軌跡之程式，並且，針對同一種工件之拋磨 軌跡維持固定，當工件種類改變時，就必須依照不同工件之形狀、輪廓而重新撰寫程式，此外，當有人為或環境因素而導致拋磨設備之原有設置發生改變時，例如，因地震等天然災害造成機器人或拋磨設備的相對位置發生改變，考量到設備設置之些許偏移對工件拋磨精度極具影響，因此，為維持工件原本之拋磨品質，就必須透過人工花費大量時間重新調整設備之設置參數或者重新修改程式以修正機器人之拋磨軌跡，對產品生產造成不便。
因此，如何克服現有之拋磨系統無法自動因應工件本身的改變或硬體設備之變動而自動調整拋磨軌跡以維持拋磨品質之最佳化，實已成目前業界亟欲解決之課題。
鑑於上述，本發明提供一種拋磨控制方法，包括：根據一工件之三維輪廓生成一初始拋磨軌跡；根據一第一優化調整值調整該初始拋磨軌跡以生成一優化拋磨軌跡；以及評估該工件之拋磨品質，如該拋磨品質優於前一工件之拋磨品質時，則產生一第二優化調整值取代該第一優化調整值。
本發明復提供一種拋磨控制系統，包括：軌跡生成模組，根據一工件之三維輪廓生成一初始拋磨軌跡；軌跡優化模組，用以根據一第一優化調整值調整該初始拋磨軌跡以生成一優化拋磨軌跡；以及品質評估模組，用以評估該工件之拋磨品質，如該拋磨品質優於前一工件之拋磨品質時，則產生一第二優化調整值取代該第一優化調整值。
由上可知，本發明所揭露之工件拋磨控制方法及系統可藉由人工智慧學習方式自動更新拋磨資料以採用最佳化之拋磨軌跡，並且，本發明亦可將 不同工件之部分輪廓及各該部分輪廓所對應的最佳拋磨軌跡分別儲存於資料庫中，當欲進行拋磨的多個工件形狀不同時，可自動針對不同形狀之工件對應生成拋磨軌跡，藉以解決現有技術中拋磨設備無法自動調整拋磨軌跡以維持最佳品質之問題。
1‧‧‧拋磨控制系統
2‧‧‧機器人驅動器
4‧‧‧電腦
5‧‧‧機器人
6‧‧‧感測裝置
7、7’、7”‧‧‧工件
8‧‧‧拋磨設備
9‧‧‧砂帶
11‧‧‧軌跡生成模組
12‧‧‧軌跡優化模組
13‧‧‧品質評估模組
14‧‧‧資料庫
15‧‧‧機器人拋磨程序
A1、A2、B1、B2、B3‧‧‧輪廓
A1’、A2’、B1’、B2’、B3’‧‧‧軌跡
S41、S42、S43、S44‧‧‧步驟
第1圖是本發明之拋磨控制系統之方塊示意圖；第2圖是應用本發明之拋磨控制系統之拋磨硬體設備之示意圖；第3圖是力感測器之讀取資料曲線圖；以及第4圖是本發明之拋磨控制方法之流程圖。
以下藉由特定的具體實施例說明本發明之實施方式，熟悉此技藝之人士可由本說明書所揭示之內容輕易地瞭解本發明之其他優點及功效。
須知，本說明書所舉例記載之"拋磨"一詞是指"拋光或研磨"之意，故本案之拋磨控制方法及系統是指適用於拋光或研磨之控制方法及系統，此外，本說明書所附圖式所繪示之結構、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示之內容，以供熟悉此技藝之人士之瞭解與閱讀，並非用以限定本發明可實施之限定條件，故不具技術上之實質意義，任何結構之修飾、比例關係之改變或大小之調整，在不影響本發明所能產生之功效及所能達成之目的下，均應仍落在本發明所揭示之技術內容得能涵蓋之範圍內。同時，本說明書中所引用之如「上」、「第一」、「第二」及「一」等之用語，亦僅為便於敘述之明瞭，而非用以限定本發 明可實施之範圍，其相對關係之改變或調整，在無實質變更技術內容下，當亦視為本發明可實施之範疇。
第1圖及第2圖是本發明之拋磨控制系統之方塊示意圖及應用該拋磨控制系統之機器人拋磨硬體設備之示意圖。
見第2圖所示，本發明之拋磨控制系統1舉例是設置在電腦4中，該電腦4連接機器人驅動器2以及感測裝置6，該電腦4對該機器人驅動器2發送控制訊號以進行一機器人拋磨程序15，且該機器人驅動器2對該電腦4發送該機器人5之即時軌跡訊息，連接該機器人5之感測裝置6例如是力感測器(force sensor)、聲射感測器(AE sensor)或慣性感測器(IMU sensor)，其中，力感測器可採集該機器人5運動期間相關於力的訊息，聲射感測器用於偵測材料或結構內部之聲波信號，慣性感測器可用於偵測該機器人5運動期間之速度、方位等資料，上述各種感測裝置6將各自的感測訊號發送至該電腦4以供本發明之拋磨控制系統1進行資料分析，並根據該分析結果調整該機器人5之運動軌跡並為施以最適合的拋磨力，進而最佳化工件7的拋磨品質。
第1圖是本發明之拋磨控制系統之方塊示意圖。本發明之拋磨控制系統1包括：軌跡生成模組11、軌跡優化模組12、品質評估模組13及資料庫14，其中，該資料庫14用於儲存工件之輪廓資料以及拋磨資料，該軌跡生成模組11根據工件7之三維輪廓及該拋磨資料生成一初始拋磨軌跡，該軌跡優化模組12再根據一第一優化調整值調整該初始拋磨軌跡以生成一優化拋磨軌跡，以及品質評估模組13是用以評估該工件之拋磨品質，如該拋磨品質優於前一工件之拋磨品質時，則產生一第二優化調整值取代該第一優化調整值並儲存於該資料庫14中。
該軌跡生成模組11根據一工件7之三維輪廓生成初始拋磨軌跡之具體實施方式如下。
舉例而言，如該工件7為金屬工件且於鑄造時已有對應其外型輪廓之三維設計圖時，當藉由本發明之拋磨控制系統1進行拋磨之前，可直接將該三維設計圖輸入該軌跡生成模組11，據此，該軌跡生成模組11再從資料庫14中找出與該工件7整體形狀相同而且對應於該工件7輪廓的初始拋磨軌跡，另一方面，也可在該工件7進行機器人拋磨程序15前，透過3D雷射掃描以獲取該工件7之立體輪廓並輸入該軌跡生成模組11，在本發明之一實施方式中，該資料庫14可儲存之先前複數工件的部分輪廓拋磨資料，並且，該軌跡生成模組11可自該資料庫14中找出對應於該複數工件其部分輪廓之拋磨資料，並將其組合以生成目前即將進行拋磨之該工件7的初始拋磨軌跡。具體而言，本發明之拋磨控制系統1可在每個工件完成拋磨後將不同部位之輪廓(例如平面與曲面)分拆開來，並將各該部位之輪廓資料連同其對應之拋磨軌跡儲存於該資料庫14中，因此，當有新的工件7將進行拋磨時，該軌跡生成模組11可從該資料庫14中取得對應於該工件7各部位輪廓的拋磨軌跡，並將各該部位之拋磨軌跡加以組合以作為新工件7之初始拋磨軌跡。
本發明可建立一拋磨資料集於資料庫14中以用於後續之拋磨作業，例如，該拋磨控制系統1可在先前多個工件7之拋磨過程中建立對應於拋磨軌跡的力感測資料，請參閱第3圖，其是在工件7之拋磨過程中由力感測器所讀取之資料曲線圖，其中，輪廓A1、輪廓A2組成工件7之表面，並且，該力感測器是以0.1秒之間距讀取力感測資料點，如第3圖之資料曲線之a、b、c及d點是分別對應於工件7之輪廓A1之表面接觸砂帶9以開始進行拋磨、輪廓A1之表面離開砂帶9以結束拋磨、輪廓A2之表面接觸砂帶9以開始進行拋磨、輪廓A2之表面離開砂帶9以結束拋磨時之力感測值，而機器人驅動器2於拋磨程序進行期間所發送之運動軌跡資料、力感測器所發送之感測資料可同時儲存在對應於輪廓A1、輪廓A2的拋磨資料中，例如，若本發明之拋磨控制系統1已完成工件7(例如包括輪廓A1、 輪廓A2)、工件7’(例如包括輪廓B1、輪廓B2、輪廓B3)之拋磨作業，則會分別將輪廓A1、輪廓A2、輪廓B1、輪廓B2、輪廓B3及用於各該輪廓拋磨之軌跡A1’、軌跡A2’、軌跡B1’、軌跡B2’、軌跡B3’分別儲存於該資料庫14中，當有新的工件7”將進行拋磨時，該軌跡生成模組11先判斷工件7”之輪廓組成，例如，工件7”是由輪廓A1、輪廓B3所組成，據此，該軌跡生成模組11進一步從該資料庫14中取得分別對應於工件7之輪廓A1、工件7’之輪廓B3以及分別對應輪廓A1、輪廓B3之軌跡A1’、軌跡B3’，並將該軌跡A1’、軌跡B3’加以組合以作為工件7”之初始拋磨軌跡。
本發明中，品質評估模組13是用以評估該工件之拋磨品質，該拋磨品質是用於產生一優化調整值以取代前一優化調整值，具體實施方式如下。
本發明之拋磨控制系統1可在完成各工件7之拋磨作業後進行拋磨品質標記，具體而言，可藉由常見之表面特性量測裝置，如：接觸式粗糙度量測儀、原子力顯微鏡、白光干涉儀或雷射顯微鏡等儀器量測工件之表面粗度或反光率以作為品質評估之判斷依據，或者，在拋磨過程中亦可透過音頻感測器所測得之音頻頻率值作為品質評估之依據，例如：在工件7接觸砂帶9表面期間，如音頻頻率在一預設的區間內即可預測有較佳的拋磨品質，再者，本發明亦可透過人工方式判斷拋磨後之工件7的表面粗度、反光性以作出品質標記，例如可用Q1代表"優"、Q2代表"中"、Q3代表"劣"，接著，再將各工件之品質標記Q1、Q2或Q3連同拋磨過程中來自力感測器之力讀取值(與設定之拋磨力相關)、慣性感測器所讀取之位置、方向等感測資料連同該工件之輪廓、拋磨軌跡一起輸入該資料庫14中以形成一訓練資料集，進一步地，可將工件7在拋磨過程中各時間點的資料，包括：輪廓、拋磨力、軌跡、方向及位置共同形成一狀態資料S，舉例而言，可將多數工件個別之狀態資料S1、S2、S3、S4...與品質標記Q1、Q2或Q3形成個別 的資料點(S1,Q1)、(S2,Q3)、(S3,Q2)、(S4,Q2)...，所有資料點共同構成該訓練資料集並儲存於該資料庫14中。
本發明中，軌跡優化模組12用以根據一優化調整值調整該初始拋磨軌跡以生成一優化拋磨軌跡之具體實施方式如下。
該軌跡優化模組12可具有包含類神經網路之機器學習功能，該類神經網路可依據一優化程式，演算並學習該訓練資料集之各資料點(S1,Q1)、(S2,Q3)、(S3,Q2)、(S4,Q2)...之間的關係，藉由對大量資料點之機器學習而更新可對應於最佳拋磨品質的狀態資料，且將對應於最佳品質的狀態資料(如：對應於品質標記Q1之狀態資料S1)儲存於該資料庫14中以用於下一個工件的拋磨作業。具體而言，當該軌跡優化模組12透過演算學習以從資料中反推出最佳品質Q1所對應之狀態資料S1後，即可從該狀態資料S1的組成中進一步取得當時設定之拋磨力、軌跡並計算出該拋磨軌跡相較於前一筆最佳品質之拋磨軌跡之差值，以作為用於下一個工件7拋磨之軌跡的優化調整值，並且，因工件7抵靠砂帶9期間之接觸力大小和機器人5沿砂帶9表面法線方向之移動進給量有關，並且，該接觸力之大小及方向之控制直接影響工件7表面的拋磨品質，因此，如第3圖所示，可特別針對a至b點、c至d點期間控制機器人5夾持工件7之移動進給量以接觸砂帶9之角度，以精確控制工件7的拋磨條件。
此外，本發明亦可藉由該優化調整值之變化進一步判斷用於拋磨之砂帶9的表面品質。詳言之，本發明可透過該軌跡優化模組12之學習功能逐步更新拋磨資料並計算出維持最佳品質之軌跡優化調整值，以作為下一工件7之拋磨軌跡調整，然而，砂帶9之表面粗度會隨使用次數增加而逐漸劣化，因此，當用於調整工件7之初始拋磨軌跡的優化調整值(如第一優化調整值)逐漸增加而致大於一上限值時，亦即，為維持最佳的拋磨品質，具有同一輪廓之不同工件所需之拋磨軌跡差異過大時，則表示拋磨軌跡之調整對品質的最佳化影響變小，相對 地，可推測砂帶9之品質已低於一預設之表面粗度，因此，在此情況下應更換新的砂帶9而非調整工件之拋磨軌跡。
另請參閱第4圖，本發明透過前述之拋磨控制系統1進一步揭露一種拋磨控制方法，包括：透過軌跡生成模組11根據一資料庫14所儲存之工件7之三維輪廓以生成初始拋磨軌跡(步驟S41)；接著，透過軌跡優化模組12根據第一優化調整值調整該初始拋磨軌跡以生成優化拋磨軌跡(步驟S42)；然後，以品質評估模組13評估判斷該工件之拋磨品質是否優於前一工作(步驟S43)；若該拋磨品質優於前一工件之拋磨品質，則產生第二優化調整值取代該第一優化調整值(步驟S44)，若該拋磨品質並未優於前一工件之拋磨品質，則回到步驟42，根據第一優化調整值調整該初始拋磨軌跡以生成優化拋磨軌跡，上述之工件7的三維輪廓資料、該第一優化調整值、該第二優化調整值以及該拋磨品質等拋磨資料可進一步儲存於該資料庫14中以用於下一個機器人拋磨程序15。
綜合上述，本發明所揭露之工件拋磨控制方法及系統可藉由機器學習而自動更新為最佳的拋磨軌跡，並且，本發明亦可將不同工件之部分輪廓及各該部分輪廓所對應的最佳拋磨軌跡分別儲存於資料庫中，當欲進行拋磨的多個工件具有不同形狀時，本發明可自動針對不同形狀之工件對應生成最佳化的拋磨軌跡，藉以解決在現有技術中拋磨設備無法自動調整拋磨軌跡以維持最佳品質之問題。
上述實施例是用以例示性說明本發明之原理及其功效，而非用於限制本發明。任何熟習此項技藝之人士均可在不違背本發明之精神及範疇下，對上述實施例進行修改。因此本發明之權利保護範圍，應如後述之申請專利範圍所列。
1‧‧‧拋磨控制系統
7‧‧‧工件
11‧‧‧軌跡生成模組
12‧‧‧軌跡優化模組
13‧‧‧品質評估模組
14‧‧‧資料庫
15‧‧‧機器人拋磨程序
A1、A2‧‧‧輪廓

Claims (15)

  1. 一種拋磨控制方法，適用於以一機器人夾持一工件進行拋磨，包括以下步驟：根據一資料庫所儲存之該工件之三維輪廓生成一初始拋磨軌跡；根據該資料庫所儲存之一第一優化調整值調整該初始拋磨軌跡以對該工件進行拋磨，且根據該第一優化調整值判斷用以拋磨該工件之拋磨設備之砂帶的品質，以於該第一優化調整值大於一上限值時，表示該砂帶之表面粗度低於一預設值；以及評估該工件之拋磨品質是否優於前一工件之拋磨品質，若是，則產生一第二優化調整值取代該第一優化調整值，若否，則返回到前一步驟。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之拋磨控制方法，更包括當該工件之拋磨品質優於該前一工件之拋磨品質時，以該工件之拋磨力取代前一工件之拋磨力。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之拋磨控制方法，其中，該工件之該初始拋磨軌跡是先前已拋磨之複數工件部分輪廓之拋磨軌跡的組合。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之拋磨控制方法，其中，調整該初始拋磨軌跡的步驟包括根據該前一工件之最終拋磨品質判斷結果，調整該工件之該初始拋磨軌跡。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之拋磨控制方法，其中，調整該初始拋磨軌跡的步驟包括根據該工件在拋磨過程之拋磨品質，調整該工件之該初始拋磨軌跡。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之拋磨控制方法，其中，該第一優化調整值及第二優化調整值是包括該工件接觸該砂帶之表面時，沿該砂帶表面之法線方向移動之進給量。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之拋磨控制方法，其中，評估該工件之拋磨品質係根據拋磨後之該工件之表面粗度來判斷該工件之拋磨品質。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之拋磨控制方法，其中，評估該工件之拋磨品質係根據拋磨過程之音頻頻率來判斷該工件之拋磨品質。
  9. 一種拋磨控制系統，適用於以一機器人夾持一工件進行拋磨，包括：軌跡生成模組，用以根據一工件之三維輪廓生成一初始拋磨軌跡；軌跡優化模組，用以根據一第一優化調整值調整該初始拋磨軌跡以對該工件進行拋磨；以及品質評估模組，用以評估該工件之拋磨品質是否優於前一工件之拋磨品質，若是，則產生一第二優化調整值取代該第一優化調整值；其中，該品質評估模組根據該第一優化調整值之變化判斷用以拋磨該工件之拋磨設備之砂帶的品質，以於該第一優化調整值大於一上限值時，表示該砂帶之表面粗度低於一預設值。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之拋磨控制系統，其中，該軌跡生成模組根據一資料庫儲存之複數已拋磨工件之部分輪廓所對應的拋磨軌跡，組合出該工件之該初始拋磨軌跡。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之拋磨控制系統，其中，該軌跡優化模組是根據一資料庫所儲存之前一工件的最終拋磨品質而調整該工件之該初始拋磨軌跡。
  12. 如申請專利範圍第9項所述之拋磨控制系統，其中，該軌跡優化模組是根據該工件在拋磨過程的拋磨品質，調整該工件之該初始拋磨軌跡。
  13. 如申請專利範圍第9項所述之拋磨控制系統，其中，該軌跡優化模組更進一步藉由調整該工件接觸該砂帶之表面時，沿該砂帶表面之法線方向移動的進給量調整該初始拋磨軌跡。
  14. 如申請專利範圍第9項所述之拋磨控制系統，其中，該品質評估模組根據一表面粗度量測裝置，量測經拋磨後之該工件之表面粗度的量測結果，判斷該工件之拋磨品質。
  15. 如申請專利範圍第9項所述之拋磨控制系統，其中，該品質評估模組根據一聲射感測器，偵測該工件於拋磨過程的音頻頻率偵測結果，以判斷該工件之拋磨品質。
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