TWI679530B - 批次測試系統及其方法 - Google Patents

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Yen Li
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一種批次測試系統,其包括測試裝置、多個待測機器與伺服器,測試裝置將具有RMT測試功能的基本輸出入系統寫入每一待測機器中,並將每一待測機器啟動以進行RMT測試,使每一待測機器將測試結果寫入其具有的基板管理控制器中的特定存儲位置;當每一待測機器進入作業系統後,讀取並解析位於特定存儲位置的測試結果,以輸出解析結果,接著,通過網路傳輸解析結果予伺服器;伺服器接收並統計該些待測機器所傳輸的該些解析結果。因此,批次測試系統可部署RMT測試,全程無需操作人員的干預,適合規模化的生產測試階段。

Description

批次測試系統及其方法
本發明涉及一種測試系統及其方法,特別是批次測試系統及其方法。
RMT(Rank Margining Test)測試是用以對記憶體以及主機板的適配性進行校驗的一項測試,在基本輸入輸出系統(Basic Input/Output System,BIOS)的啟動自我檢測(Power-On Self-Test,POST)階段實現與完成。
目前RMT測試的測試流程僅用在設計驗證階段,其包含以下步驟:於每一待測機器中寫入具有RMT測試功能的基本輸入輸出系統;啟動每一待測機器以進行RMT測試;每一待測機器完成RMT測試後將測試結果經由序列埠(Serial port)輸出至具有解析工具的上位機;操作人員手動開啟上位機的解析工具,以使上位機對每一該測試結果進行分析,進而取得每一待測機器是否通過(pass)或未通過(fail)RMT測試。
然而,將上述方法應用於生產測試階段時會產生以下問題:由於每一待測機器需透過其具有的序列埠輸出測試結果,存在有因每一待測機器都需要有序列埠而造成成本飆升的問題;另外,由於所有待測機器所傳輸的測試結果皆需透過具有解析工具的上位機進行分析處理,存在有測試效率低下的問題;此外,由於所有測試結果需被以串列的方式統一復判,存在有當上位機出現故障時無法進行解析判定,生產線上所有待測機器的RMT測試都將停止,進而對產能帶來巨大影響的問題;再者,過程中需要操作人員進行手動操作,存在有無法實現規模化作業的問題。
綜上所述,可知先前技術中存在RMT測試流程導入生產測試階段會面臨部署困難、難以收集測試結果、測試效率低下以及無法規模化作業的問題,因此實有必要提出改進的技術手段,來解決此一問題。
本發明揭露一種批次測試系統及其方法。
首先,本發明揭露一種批次測試系統,適用於生產測試階段,其包括:測試裝置、多個待測機器與伺服器,測試裝置包括輸入模組以及啟動模組,啟動模組連接輸入模組,每一待測機器包括讀取模組、解析模組以及傳輸模組,解析模組連接讀取模組,傳輸模組連接解析模組。輸入模組用以將具有RMT測試功能的基本輸出入系統寫入每一待測機器中;啟動模組用以將每一待測機器啟動,使每一待測機器進行RMT測試,並將測試結果寫入其具有的基板管理控制器(Baseboard Management Controller,BMC)中的特定存儲位置。在每一待測機器中,讀取模組用以當待測機器進入作業系統後,讀取位於特定存儲位置的測試結果;解析模組用以解析測試結果並輸出解析結果;傳輸模組用以通過網路傳輸解析結果。伺服器用以接收並統計該些待測機器所傳輸的該些解析結果。
此外,本發明揭露一種批次測試方法,適用於生產測試階段,其步驟包括:提供批次測試系統,其包括測試裝置、多個待測機器與伺服器,測試裝置包括輸入模組以及啟動模組,啟動模組連接輸入模組,每一待測機器包括讀取模組、解析模組以及傳輸模組,解析模組連接讀取模組,傳輸模組連接解析模組;輸入模組將具有RMT測試功能的基本輸出入系統寫入每一待測機器中;啟動模組將每一待測機器啟動,使每一待測機器進行RMT測試,並將測試結果寫入其具有的基板管理控制器中的特定存儲位置;當每一待測機器進入作業系統後,讀取模組讀取位於特定存儲位置的測試結果;每一待測機器的解析模組解析測試結果,並輸出解析結果;每一待測機器的傳輸模組通過網路傳輸解析結果;以及伺服器接收並統計該些待測機器所傳輸的該些解析結果。
本發明所揭露之系統與方法如上,與先前技術的差異在於本發明是透過測試裝置將具有RMT測試功能的基本輸出入系統寫入每一待測機器中,並將每一待測機器啟動以進行RMT測試,使每一待測機器將測試結果寫入其具有的基板管理控制器中的特定存儲位置;當每一待測機器進入作業系統後,讀取並解析位於特定存儲位置的測試結果,以輸出解析結果,接著,通過網路傳輸解析結果予伺服器;伺服器接收並統計該些待測機器所傳輸的該些解析結果。
透過上述的技術手段,本發明可以於生產測試階段部署RMT測試,實現自動化測試處理,全程無需操作人員的干預,適合導入規模化的生產過程中。
以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明之實施方式,藉此對本發明如何應用技術手段來解決技術問題並達成技術功效的實現過程能充分理解並據以實施。
請先參閱「第1圖」,「第1圖」為本發明批次測試系統之一實施例系統方塊圖。在本實施例中,批次測試系統100適用於生產測試階段,其可包括:測試裝置110、多個待測機器120與伺服器130,其中,測試裝置110可包括輸入模組50以及啟動模組60,啟動模組60連接輸入模組50,每一待測機器120可包括讀取模組70、解析模組80以及傳輸模組90,解析模組80連接讀取模組70,傳輸模組90連接解析模組80。在本實施例中,待測機器120的數量可為但不限於五十個,但本實施例並非用以限定本發明,可依據實際需求進行調整。需注意的是,為避免圖式過於複雜,僅繪製三個待測機器120。
批次測試系統100所包含的測試裝置110、待測機器120與伺服器130可以利用各種方式來實現,包括軟體、硬體、韌體或其任意組合。在實施中提出的技術使用軟體或韌體可以被儲存在機器可讀儲存媒體上,例如:唯讀記憶體(ROM)、隨機存取記憶體(RAM)、磁盤儲存媒體、光儲存媒體、快閃記憶體裝置等等,並且可以由一個或多個通用或專用的可程式化微處理器執行。批次測試系統100所包含的待測機器120與伺服器130可通過網路,例如:網際網路、局域網路、廣域網路和/或無線網路相互連通。待測機器120與伺服器130之間可利用銅傳輸電纜、光纖傳輸、無線傳輸、路由器、防火牆、交換機、閘道電腦和/或邊緣伺服器進行信號與資料的傳遞。
輸入模組50可用以將具有RMT測試功能的基本輸出入系統寫入每一待測機器120中;啟動模組60可用以將每一待測機器120啟動,使每一待測機器120進行RMT測試,並將測試結果寫入其具有的基板管理控制器(BMC)中的特定存儲位置。換句話說,當輸入模組50將具有RMT測試功能的基本輸出入系統寫入每一待測機器120後,啟動模組60可啟動每一待測機器120,使每一待測機器120執行BIOS程序中的RMT測試,並將測試結果儲存於BMC的特定存儲位置。在本實施例中,由於每一待測機器120進行RMT測試後所產生的測試結果不再通過其具有的序列埠向外進行傳輸,而是將測試結果寫入自己本機的BMC中,因此,可以避免因需要具有序列埠而造成成本的浪費,也可避免傳輸過程中可能出現資料失效而對測試結果帶來影響。
在每一待測機器120中,讀取模組70可用以當待測機器120進入作業系統(operating system,OS)後,讀取位於特定存儲位置的測試結果;解析模組80可用以解析測試結果並輸出解析結果;傳輸模組90可用以通過網路30傳輸解析結果。換句話說,當每一待測機器120執行完BIOS程序而進入作業系統後,可透過讀取模組70讀取位於BMC的特定存儲位置的測試結果,接著,可透過解析模組80對測試結果進行解析而獲得解析結果,最後透過傳輸模組90將解析結果經由網路30傳輸至伺服器130。由於每一待測機器120將其測試結果寫入自己本機的BMC中,可以將解析模組80部署在每一個待測機器120中,以使每一待測機器120可以自行解析自己的測試結果。其中,解析結果可僅為通過(pass)或未通過(fail)RMT測試,換句話說,解析模組80實際上實現了對測試結果進行解析及並行處理,最終僅輸出通過(pass)或未通過(fail)RMT測試之解析結果。
在本實施例中,伺服器130可用以接收並統計該些待測機器120所傳輸的該些解析結果。由於每一待測機器120所傳輸的解析結果可為通過或未通過RMT測試,因此伺服器130可統計該些待測機器120中有多少待測機器120通過RMT測試,有多少待測機器120未通過RMT測試。
此外,在本實施例中,當伺服器130接收到的該些解析結果數量達到預定值時,可顯示通過率。其中,預定值可為但不限於某一訂單的待測機器120的數量或者使用者預定的數量。舉例而言,當伺服器130接收到該訂單的所有待測機器120的解析結果後,即可計算出該訂單的所有待測機器120的RMT測試的通過率,並以顯示的方式將該通過率提供生產製造商參考。
通過本實施例的批次測試系統100的設計,可對所有待測機器120進行RMT測試後的測試結果進行連續處理,克服了先前技術必須由一個統一的上位機進行結果解析從而造成測試效率低下的問題。此外,由於所有測試結果都存在每一測試機器的本機內,且所有測試結果的解析動作都是由每一測試機器各自分別處理,一旦某一待器機器的測試結果於解析過程中出現異常時,僅僅影響自身的RMT測試的測試結果,不會產生先前技術因以串列方式統一復判所有測試結果而存在整個生產線上所有待測機器的RMT測試都無法進行下去的問題。
在本實施例中,每一待測機器120還可包括指示模組40,連接傳輸模組90,可用以在傳輸模組90將解析結果傳輸予伺服器130後,觸發一指示操作,以指示測試完成,讓生產測試階段的管控人員知道該待測機器120是否已完成RMT測試。其中,指示模組40可為但不限於發光二極體模組,當發光二極體模組顯示為綠色時,代表解析結果為通過RMT測試;當發光二極體模組顯示為紅色時,代表解析結果為未通過RMT測試,但本實施例並非用以限定本發明,可依據實際需求進行調整。
接著,請參閱「第2圖」,「第2圖」為「第1圖」的批次測試系統執行批次測試方法之一實施例方法流程圖。在本實施例中,批次測試方法包括以下步驟:提供批次測試系統,其包括測試裝置、多個待測機器與伺服器,測試裝置包括輸入模組以及啟動模組,啟動模組連接輸入模組,每一待測機器包括讀取模組、解析模組以及傳輸模組,解析模組連接讀取模組,傳輸模組連接解析模組(步驟210);輸入模組將具有RMT測試功能的基本輸出入系統寫入每一待測機器中(步驟220);啟動模組將每一待測機器啟動,使每一待測機器進行RMT測試,並將測試結果寫入其具有的基板管理控制器中的特定存儲位置(步驟230);當每一待測機器進入作業系統後,讀取模組讀取位於特定存儲位置的測試結果(步驟240);每一待測機器的解析模組解析測試結果,並輸出解析結果(步驟250);每一待測機器的傳輸模組通過網路傳輸解析結果(步驟260);以及伺服器接收並統計該些待測機器所傳輸的該些解析結果(步驟270)。
透過上述步驟,即可於生產測試階段部署RMT測試,實現自動化測試處理,適合導入規模化的生產過程中。
在本實施例中,每一待測機器還可包括指示模組,連接傳輸模組與解析模組,在每一待測機器的傳輸模組通過網路傳輸解析結果的步驟之後,批次測試方法還可包括:每一待測機器的指示模組觸發一指示操作,以指示測試完成。其中,指示模組可為但不限於發光二極體模組,因此,在觸發指示操作的步驟中還可包括:當發光二極體模組顯示為綠色時,解析結果為通過RMT測試;以及當發光二極體模組顯示為紅色時,解析結果為未通過RMT測試。
此外,為了提供生產製造商了解其製造生產的機器於RMT測試中的通過率,在本實施例中,批次測試方法還可包括:當伺服器接收到的該些解析結果數量達到預定值時,顯示通過率。
需要特別注意的是,除了有說明其因果關係之外,本實施例的批次測試方法可以依照任何順序執行上述步驟。
綜上所述,可知本發明與先前技術之間的差異在於透過測試裝置將具有RMT測試功能的基本輸出入系統寫入每一待測機器中,並將每一待測機器啟動以進行RMT測試,使每一待測機器將測試結果寫入其具有的基板管理控制器中的特定存儲位置;當每一待測機器進入作業系統後,讀取並解析位於特定存儲位置的測試結果,以輸出解析結果,接著,通過網路傳輸解析結果予伺服器;伺服器接收並統計該些待測機器所傳輸的該些解析結果,藉由此一技術手段可以解決先前技術所存在的問題,進而可以於生產測試階段部署RMT測試,實現自動化測試處理,全程無需操作人員的干預,適合導入規模化的生產過程中。
雖然本發明以前述之實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟習相像技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。
30‧‧‧網路
40‧‧‧指示模組
50‧‧‧輸入模組
60‧‧‧啟動模組
70‧‧‧讀取模組
80‧‧‧解析模組
90‧‧‧傳輸模組
100‧‧‧批次測試系統
110‧‧‧測試裝置
120‧‧‧待測機器
130‧‧‧伺服器
步驟210‧‧‧提供批次測試系統,其包括測試裝置、多個待測機器與伺服器,測試裝置包括輸入模組以及啟動模組,啟動模組連接輸入模組,每一待測機器包括讀取模組、解析模組以及傳輸模組,解析模組連接讀取模組,傳輸模組連接解析模組
步驟220‧‧‧輸入模組將具有RMT測試功能的基本輸出入系統寫入每一待測機器中
步驟230‧‧‧啟動模組將每一待測機器啟動,使每一待測機器進行RMT測試,並將測試結果寫入其具有的基板管理控制器中的特定存儲位置
步驟240‧‧‧當每一待測機器進入作業系統後,讀取模組讀取位於特定存儲位置的測試結果
步驟250‧‧‧每一待測機器的解析模組解析測試結果,並輸出解析結果
步驟260‧‧‧每一待測機器的傳輸模組通過網路傳輸解析結果
步驟270‧‧‧伺服器接收並統計該些待測機器所傳輸的該些解析結果
第1圖為本發明批次測試系統之一實施例系統方塊圖。 第2圖為第1圖的批次測試系統執行批次測試方法之一實施例方法流程圖。

Claims (6)

  1. 一種批次測試系統,適用於生產測試階段,其包括:一測試裝置,其包括:一輸入模組,用以將具有RMT測試(Rank Margining Test)功能的基本輸出入系統(Basic Input/Output System,BIOS)寫入每一待測機器中;以及一啟動模組,連接該輸入模組,用以將每一該待測機器啟動,使每一該待測機器進行RMT測試,並將測試結果寫入其具有的一基板管理控制器(Baseboard Management Controller,BMC)中的一特定存儲位置;該些待測機器,每一該待測機器包括:一讀取模組,用以當該待測機器進入作業系統後,讀取位於該特定存儲位置的該測試結果;一解析模組,連接該讀取模組,用以解析該測試結果並輸出一解析結果;以及一傳輸模組,連接該解析模組,用以通過一網路傳輸該解析結果;以及一伺服器,用以接收並統計該些待測機器所傳輸的該些解析結果;其中,每一該待測機器還包括一指示模組,連接該傳輸模組與該解析模組,用以在該傳輸模組將該解析結果傳輸予該伺服器後,觸發一指示操作,以指示測試完成。
  2. 根據申請專利範圍第1項之批次測試系統,其中,該指示模組為一發光二極體模組,當該發光二極體模組顯示為綠色時,該解析結果為通過RMT測試;當該發光二極體模組顯示為紅色時,該解析結果為未通過RMT測試。
  3. 根據申請專利範圍第1項之批次測試系統,其中,當該伺服器接收到的該些解析結果數量達到一預定值時,顯示一通過率。
  4. 一種批次測試方法,適用於生產測試階段,其步驟包括:提供一批次測試系統,其包括一測試裝置、多個待測機器與一伺服器,該測試裝置包括一輸入模組以及一啟動模組,該啟動模組連接該輸入模組,每一該待測機器包括一讀取模組、一解析模組、一指示模組以及一傳輸模組,該解析模組連接該讀取模組,該傳輸模組連接該解析模組,該指示模組連接該傳輸模組與該解析模組;該輸入模組將具有RMT測試功能的基本輸出入系統寫入每一該待測機器中;該啟動模組將每一該待測機器啟動,使每一該待測機器進行RMT測試,並將測試結果寫入其具有的一基板管理控制器中的一特定存儲位置;當每一該待測機器進入作業系統後,該讀取模組讀取位於該特定存儲位置的該測試結果;每一該待測機器的該解析模組解析該測試結果,並輸出一解析結果;每一該待測機器的該傳輸模組通過一網路傳輸該解析結果;該伺服器接收並統計該些待測機器所傳輸的該些解析結果;以及每一該待測機器的該指示模組觸發一指示操作,以指示測試完成。
  5. 根據申請專利範圍第4項之批次測試方法,其中,該指示模組為一發光二極體模組,在觸發該指示操作的步驟中還包括:當該發光二極體模組顯示為綠色時,該解析結果為通過RMT測試;以及當該發光二極體模組顯示為紅色時,該解析結果為未通過RMT測試。
  6. 根據申請專利範圍第4項之批次測試方法,其中,該批次測試方法還包括:當該伺服器接收到的該些解析結果數量達到一預定值時,顯示一通過率。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN106227616A (zh) * 2016-08-10 2016-12-14 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种批量实现rmt自动测试的方法
CN106991026A (zh) * 2017-04-28 2017-07-28 郑州云海信息技术有限公司 一种可批量通过网络进行服务器内存Rank margin test的方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106227616A (zh) * 2016-08-10 2016-12-14 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种批量实现rmt自动测试的方法
CN106991026A (zh) * 2017-04-28 2017-07-28 郑州云海信息技术有限公司 一种可批量通过网络进行服务器内存Rank margin test的方法

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