TWI662459B - 觸控面板 - Google Patents

Abstract

一種觸控面板，包括基板、多個電極組、多個第一接墊以及第二接墊。基板具有多個圖標區域和引腳接合區域。多個電極組分別位於多個圖標區域內，其中各電極組包括結構上彼此分離的第一電極及第二電極，多個電極組的第一電極彼此結構上相分離，且多個電極組的第二電極彼此結構上相分離。多個第一接墊位於引腳接合區域內，且分別與多個電極組的第一電極電性連接。第二接墊位於引腳接合區域內，且與多個電極組的第二電極電性連接。

Description

觸控面板

本發明是有關於一種感測面板，且特別是有關於一種觸控面板。

為了有效率地製作觸控面板，在現行陣列製程（array process）中通常會先在同一片大片的基板上進行多個陣列觸控元件的製作，並適時地於陣列製程中直接在大片基板上對每一陣列觸控元件作迴路測試後，才經由切割製程以得到各個觸控面板。目前，為了提供固定的按鍵功能，觸控面板中往往會配置有圖標觸控元件。然而，現有的線路布局卻無法使圖標觸控元件在陣列製程階段即在大片基板上進行迴路測試。

本發明提供一種觸控面板，其可在切割製程之前於大片基板上對圖標區域內的電極進行阻抗電性測試。

本發明的觸控面板包括基板、多個電極組、多個第一接墊及一第二接墊。基板具有多個圖標區域和引腳接合區域。多個電極組分別位於多個圖標區域內，其中各電極組包括結構上彼此分離的第一電極及第二電極，多個電極組的第一電極彼此結構上相分離，且多個電極組的第二電極彼此結構上相分離。多個第一接墊位於引腳接合區域內，且分別與多個電極組的第一電極電性連接。第二接墊位於引腳接合區域內，且與多個電極組的第二電極電性連接。

基於上述，本發明的觸控面板透過分別位於多個圖標區域內的多個電極組各自包括結構上彼此分離的第一電極及第二電極，多個電極組中的第一電極彼此結構上相分離，多個電極組中的第一電極分別與多個第一接墊電性連接，多個電極組中的第二電極彼此結構上相分離，且多個電極組中的第二電極電性連接於第二接墊，使得觸控面板可在切割製程之前於大片基板上經由多個第一接墊及第二接墊對圖標區域內的第一電極及第二電極進行阻抗電性測試。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施方式，並配合所附圖式作詳細說明如下。

在附圖中，為了清楚起見，放大了層、膜、面板、區域等的厚度。在整個說明書中，相同的附圖標記表示相同的元件。應當理解，當諸如層、膜、區域或基板的元件被稱為在另一元件「上」或「連接到」另一元件時，其可以直接在另一元件上或與另一元件連接，或者中間元件可以也存在。相反，當元件被稱為「直接在另一元件上」或「直接連接到」另一元件時，不存在中間元件。如本文所使用的，「連接」可以指物理及/或電性連接。再者，「電性連接」可為二元件間存在其它元件。

圖1是依照本發明的一實施方式的觸控面板的上視示意圖。圖2是圖1中的區域k的放大圖。圖3是圖2中的剖線I-I’及剖線II-II’的剖面示意圖。

請同時參照圖1、圖2及圖3，觸控面板10可包括基板100、多個電極組110、多個第一接墊120及第二接墊122。在本實施方式中，觸控面板10可選擇性地更包括多個第一檢測墊130、多個第二檢測墊132、多條第一訊號線140以及第二訊號線142。另外，在本實施方式中，觸控面板10可與顯示面板搭配使用而應用於觸控顯示裝置，其中顯示面板可為液晶顯示面板、有機發光顯示面板、電子紙顯示面板、電泳顯示面板、電濕潤顯示面板、雙穩態型顯示面板、電漿顯示面板或所屬技術領域中具有通常知識者所周知的任何種類的顯示面板，且觸控顯示裝置可為整合式（on-cell）觸控顯示裝置、外貼式（out-cell）觸控顯示裝置或內嵌式（in-cell）觸控顯示裝置。

在本實施方式中，基板100可具有主動區域A、多個圖標區域B和引腳接合區域C。在本實施方式中，多個圖標區域B配置為鄰近主動區域A的側邊A1，而引腳接合區域C配置為鄰近主動區域A的側邊A2，但本發明並不限於此。在另一實施方式中，多個圖標區域B也可以配置為鄰近於主動區域A的側邊A3及側邊A4。在又一實施方式中，多個圖標區域B與引腳接合區域C可配置為鄰近於主動區域A的同一側邊。值得一提的是，當觸控面板10應用於觸控顯示裝置時，基板100的主動區域A會與顯示面板的顯示區域相重疊，而基板100的多個圖標區域B和引腳接合區域C會與顯示面板之位於顯示區域周圍的周邊區域相重疊。

在本實施方式中，基板100的材質例如是玻璃、石英、有機聚合物、金屬或其它合適的材料。另外，在本實施方式中，圖標區域B的數量為兩個，但本發明並不限制圖標區域B的數量，其可視需求調整與變化。

在本實施方式中，多個電極組110分別位於多個圖標區域B內。也就是說，在本實施方式中，多個電極組110中的任一者是以一對一的關係配置於多個圖標區域B中的一者內。在本實施方式中，每一電極組110包括結構上彼此分離的第一電極112及第二電極114。如圖1及圖2所示，在每一電極組110中，第一電極112圍繞第二電極114，且於本實施方式中，第一電極112的面積大於第二電極114的面積。然而，本發明並不限制第一電極112與第二電極114的外型輪廓及配置方式，只要每一電極組110中的第一電極112與第二電極114結構上彼此分離即可。另外，如圖1及圖2所示，多個電極組110中的多個第一電極112彼此之間結構上相分離，且多個第二電極114彼此之間結構上相分離。也就是說，在本實施方式中，多個圖標區域B彼此之間不相重疊。

另外，在本實施方式中，每一電極組110中的第一電極112以及第二電極114屬於同一膜層，如圖2及圖3所示。也就是說，在本實施方式中，第一電極112與第二電極114可具有實質上相同的材質，以及第一電極112與第二電極114可在同一道光罩製程（photolithography and etching process，PEP）中形成。在本實施方式中，第一電極112以及第二電極114的材質可包括金屬氧化物導電材料，例如銦錫氧化物、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、銦鎵鋅氧化物、其它合適的氧化物、或者是上述至少二者之堆疊層。

在本實施方式中，多個第一接墊120與第二接墊122位於引腳接合區域C內。在本實施方式中，多個第一接墊120與第二接墊122可用於使觸控面板10電性連接至外部電路。所述外部電路例如是驅動晶片、控制電路、軟性印刷電路（flexible printed circuit，FPC）或配置有驅動晶片的印刷電路板（printed circuit board，PCB）等。在本實施方式中，多個第一接墊120以及第二接墊122的材質可包括金屬或其他導電材料的組合，所述金屬例如是金、銀、銅或其它合適的導電金屬，所述其他導電材料例如是氧化銦錫、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、銦鎵鋅氧化物、或其它合適的導電材料。

在本實施方式中，多個第一檢測墊130分別與多個電極組110的第一電極112電性連接。詳細而言，在本實施方式中，多個第一檢測墊130中的任一者是以一對一的關係於結構上直接連接於多個第一電極112中的一者，如圖1及圖2所示。然而，本發明並不限於此。在其他實施方式中，多個第一檢測墊130中的任一者也可以透過連接線以一對一的關係電性連接於多個第一電極112中的一者，亦即多個第一檢測墊130於結構上不直接連接於多個第一電極112。另一方面，在本實施方式中，電極組110中的第一電極112、電極組110中的第二電極114及第一檢測墊130屬於同一膜層，如圖2及圖3所示。也就是說，在本實施方式中，第一電極112、第二電極114與第一檢測墊130可具有實質上相同的材質，以及第一電極112、第二電極114與第一檢測墊130可在同一道光罩製程中形成。在本實施方式中，第一檢測墊130的材質可包括金屬氧化物導電材料，例如銦錫氧化物、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、銦鎵鋅氧化物、其它合適的氧化物、或者是上述至少二者之堆疊層。

在本實施方式中，每一第一檢測墊130具有位於第一檢測墊130之輪廓範圍內的第一檢測區域130R。在本實施方式中，第一檢測區域130R為具有邊長a1及邊長b1的矩形，其中邊長a1與邊長b1皆大於或等於50微米。透過邊長a1與邊長b1皆大於或等於50微米，使得第一檢測墊130可用以與探針（probe）直接接觸，以利阻抗電性測試進行。另外，如圖2所示，在本實施方式中，第一檢測區域130R的輪廓範圍與第一檢測墊130的輪廓範圍相同，但本發明並不限於此，只要第一檢測區域130R位於第一檢測墊130的輪廓範圍內即可。也就是說，本發明並不限制第一檢測墊130的外型輪廓為矩形，在其他實施方式中，第一檢測墊130的外型輪廓也可以是圓形或不規則（或稱為異形）形狀。

在本實施方式中，多個第二檢測墊132分別與多個電極組110的第二電極114電性連接。詳細而言，在本實施方式中，多個第二檢測墊132中的任一者是以一對一的關係透過連接線L電性連接於多個第二電極114中的一者，如圖1及圖2所示。然而，本發明並不限於此。在其他實施方式中，多個第二檢測墊132中的任一者也可以以一對一的關係於結構上直接連接於多個第一電極112中的一者。在本實施方式中，電極組110中的第一電極112、電極組110中的第二電極114及第二檢測墊132屬於同一膜層，如圖2及圖3所示。也就是說，在本實施方式中，第一電極112、第二電極114與第二檢測墊132可具有實質上相同的材質，以及第一電極112、第二電極114與第二檢測墊132可在同一道光罩製程中形成。另外，在本實施方式中，電極組110中的第一電極112、電極組110中的第二電極114、第二檢測墊132及連接線L屬於同一膜層，如圖2及圖3所示。也就是說，在本實施方式中，第一電極112、第二電極114、第二檢測墊132及連接線L可具有實質上相同的材質，以及第一電極112、第二電極114與第二檢測墊132可在同一道光罩製程中形成。

在本實施方式中，第二檢測墊132的材質可包括金屬氧化物導電材料，例如銦錫氧化物、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、銦鎵鋅氧化物、其它合適的氧化物、或者是上述至少二者之堆疊層。

在本實施方式中，至少一個第二檢測墊132具有位於第二檢測墊132之輪廓範圍內的第二檢測區域132R。在本實施方式中，第二檢測區域132R為具有邊長a2及邊長b2的矩形，其中邊長a2與邊長b2皆大於或等於50微米。透過邊長a2與邊長b2皆大於或等於50微米，使得第二檢測墊132可用以與探針直接接觸，以利阻抗電性測試進行。另外，如圖2所示，在本實施方式中，第二檢測區域132R的輪廓範圍與第二檢測墊132的輪廓範圍相同，但本發明並不限於此，只要第二檢測區域132R位於第二檢測墊132的輪廓範圍內即可。也就是說，本發明並不限制第二檢測墊132的外型輪廓為矩形，在其他實施方式中，第二檢測墊132的外型輪廓也可以是圓形或不規則（或稱為異形）形狀。

在本實施方式中，多條第一訊號線140分別電性連接多個電極組110的多個第一電極112與多個第一接墊120。也就是說，在本實施方式中，多個第一接墊120分別透過多條第一訊號線140與多個電極組110的多個第一電極112電性連接，但本發明並不限於此，只要多個第一接墊120分別與多個電極組110的多個第一電極112電性連接即可。從另一觀點而言，在本實施方式中，多個第一接墊120中的任一者是以一對一的關係電性連接於多個第一電極112中的一者。

在本實施方式中，多條第一訊號線140的材質可包括金屬或其他導電材料的組合，所述金屬例如是金、銀、銅或其它合適的導電金屬，其他導電材料例如是氧化銦錫、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、銦鍺鋅氧化物、或其它合適的導電材料。

在本實施方式中，第二訊號線142電性連接多個電極組110的多個第二電極114與第二接墊122。也就是說，在本實施方式中，第二接墊122透過一條第二訊號線142而與多個第二電極114電性連接。詳細而言，在本實施方式中，第二訊號線142包括多個分支線段142A以及一個連接線段142B，其中多個分支線段142A分別連接於多個電極組110的多個第二電極114，而連接線段142B連接多個分支線段142A與第二接墊122。雖然圖1中繪示第二接墊122透過包括多個分支線段142A以及一個連接線段142B的第二訊號線142而與多個第二電極114電性連接，但本發明並不限於此，只要第二接墊122能與多個電極組110的多個第二電極114電性連接即可。

從另一觀點而言，在本實施方式中，一個第二接墊122電性連接於多個第二電極114，因此如前文所述，在多個第二電極114彼此之間結構上相分離的情況下，多個第二電極114係彼此電性連接。

在本實施方式中，第二訊號線142的材質可包括金屬、或其他導電材料的組合，所述金屬例如是金、銀、銅或其它合適的導電金屬，其他導電材料例如是氧化銦錫、銦鋅氧化物、鋁錫氧化物、鋁鋅氧化物、銦鎵鋅氧化物、或其它合適的導電材料。如前文所述，多個第一接墊120分別與多個第一電極112電性連接，第二接墊122與多個第二電極114電性連接，且多個第一接墊120與第二接墊122可用於使觸控面板10電性連接至外部電路，因此當使用者碰觸感測圖標區域B時，對應的第一電極112及第二電極114會產生觸控訊號，以執行所欲執行的觸控功能。

值得說明的是，在本實施方式中，透過分別位於多個圖標區域B內的多個電極組110各自包括結構上彼此分離的第一電極112及第二電極114，多個電極組110中的多個第一電極112彼此結構上相分離，多個電極組110中的多個第一電極112分別與多個第一接墊120電性連接，多個電極組110中的多個第二電極114彼此電性連接，且多個電極組110中的多個第二電極114電性連接於第二接墊122，使得觸控面板10可在切割製程之前於大片基板上經由多個第一接墊120及第二接墊122對圖標區域B內的第一電極112及第二電極114進行阻抗電性測試。所述阻抗電性測試例如是開路測試或短路測試。

另外，在本實施方式中，觸控面板10可選擇性地更包括分別與多個第一電極112電性連接的多個第一檢測墊130，及分別與多個第二電極114電性連接的多個第二檢測墊132，因此於大片基板上進行阻抗電性測試時，探針可接觸於多個第一檢測墊130中的一者與對應的第一接墊120，以對對應的第一電極112進行檢測，或者探針可接觸於多個第二檢測墊132中的一者與第二接墊122，以對彼此電性連接的第二電極114進行檢測，藉此可避免探針對第一電極112及第二電極114造成破壞。

再者，在本實施方式中，觸控面板10可更包括分別與多個第二電極114電性連接的多個第二檢測墊132，但本發明並不限於此。由於第二電極114係彼此電性連接，因此觸控面板10可選擇性地僅包括一個第二檢測墊132。此時，於大片基板上進行阻抗電性測試時，探針可接觸於所述一個第二檢測墊132與第二接墊122，以對彼此電性連接的第二電極114進行檢測。值得一提的是，雖然第二電極114彼此是電性連接的關係，但透過設置有與圖標區域B相應數量的第二檢測墊132，可使得觸控面板10達成較準確的電性測試。

檢測完成之後，可選擇性地進一步於第一檢測墊130與第二檢測墊132表面進行絕緣處理，例如塗佈絕緣油墨。

另外，本發明的觸控面板10可選擇性地更包括設置在基板100的主動區域A內的觸控電極層TP。在一實施方式中，如圖4A所示，觸控電極層TP包括多個第一觸控串列X以及多個第二觸控串列Y，其中每個第一觸控串列X中的觸控電極圖案與每個第二觸控串列Y中的觸控電極圖案的形狀為菱形，但本發明並不限於此。在另一實施方式中，如圖4B所示，觸控電極層TP包括多個第一觸控串列X以及多個第二觸控串列Y，其中每個第一觸控串列X中的觸控電極圖案與每個第二觸控串列Y中的觸控電極圖案的形狀為長條狀，但本發明並不限於此。也就是說，觸控電極層TP可以是任何所屬技術領域中具有通常知識者所周知的任一種電容式觸控電極層。另外，雖然圖4A及圖4B揭示的觸控電極層TP是以電容式觸控電極層為例，但本發明並不限於此。在其他實施方式中，觸控電極層TP也可以是任何所屬技術領域中具有通常知識者所周知的任一種觸控結構，例如電阻式、光學式、聲波式、電磁式、或其它合適的觸控結構、或上述已提出的任二種觸控結構的組合。

如前文所述，觸控面板10可在切割製程之前於大片基板上對圖標區域B內的第一電極112及第二電極114進行阻抗電性測試，因此在觸控面板10更包括觸控電極層TP的實施方式中，主動區域A內的觸控電極層TP與圖標區域B內的第一電極112及第二電極114可在切割製程之前於大片基板上同步進行檢測。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧觸控面板

100‧‧‧基板

110‧‧‧電極組

112‧‧‧第一電極

114‧‧‧第二電極

120‧‧‧第一接墊

122‧‧‧第二接墊

130‧‧‧第一檢測墊

130R‧‧‧第一檢測區域

132‧‧‧第二檢測墊

132R‧‧‧第二檢測區域

140‧‧‧第一訊號線

142‧‧‧第二訊號線

142A‧‧‧分支線段

142B‧‧‧連接線段

a1、b1、a2、b2‧‧‧邊長

A‧‧‧主動區域

A1、A2、A3、A4‧‧‧側邊

B‧‧‧圖標區域

C‧‧‧引腳接合區域

k‧‧‧區域

L‧‧‧連接線

TP‧‧‧觸控電極層

X‧‧‧第一觸控串列

Y‧‧‧第二觸控串列

圖1是依照本發明的一實施方式的觸控面板的上視示意圖。 圖2是圖1中的區域k的放大圖。 圖3是圖2中的剖線I-I’及剖線II-II’的剖面示意圖。 圖4A和圖4B分別是可配置於主動區域中的觸控電極的上視示意圖。

Claims (10)

1. 一種觸控面板，包括：一基板，具有多個圖標區域和一引腳接合區域；多個電極組，分別位於該些圖標區域內，其中各該電極組包括結構上彼此分離的一第一電極及一第二電極，該些電極組的該些第一電極彼此結構上相分離，且該些電極組的該些第二電極彼此結構上相分離；多個第一接墊，位於該引腳接合區域內，且分別與該些電極組的該些第一電極電性連接；一第二接墊，位於該引腳接合區域內，且與該些電極組的該些第二電極電性連接；多條第一訊號線，分別電性連接該些電極組的該些第一電極與該些第一接墊；以及一第二訊號線，電性連接該些電極組的該些第二電極與該第二接墊，該第二訊號線包括：多個分支線段，分別連接於該些電極組的該些第二電極；以及一連接線段，連接該些分支線段與該第二接墊。
2. 如申請專利範圍第1項所述的觸控面板，更包括：多個第一檢測墊，分別與該些電極組的該些第一電極電性連接。
3. 如申請專利範圍第1項所述的觸控面板，更包括：至少一第二檢測墊，與該些電極組的該些第二電極中的至少一者電性連接。
4. 如申請專利範圍第3項所述的觸控面板，其中該至少一第二檢測墊的數量係為多個，該些第二檢測墊分別與該些電極組的該些第二電極電性連接。
5. 如申請專利範圍第2項所述的觸控面板，其中各該第一檢測墊具有一第一檢測區域位於該第一檢測墊之輪廓範圍內，該第一檢測區域為具有邊長a1及邊長b1的矩形，且邊長a1與邊長b1皆大於或等於50微米。
6. 如申請專利範圍第3項所述的觸控面板，其中該至少一第二檢測墊具有一第二檢測區域位於該第二檢測墊之輪廓範圍內，該第二檢測區域為具有邊長a2及邊長b2的矩形，且邊長a2與邊長b2皆大於或等於50微米。
7. 如申請專利範圍第1項所述的觸控面板，其中該些電極組的該些第一電極以及該些電極組的該些第二電極屬於同一膜層。
8. 如申請專利範圍第2項所述的觸控面板，其中該些電極組的該些第一電極、該些電極組的該些第二電極及該些第一檢測墊屬於同一膜層。
9. 如申請專利範圍第3項所述的觸控面板，其中該些電極組的該些第一電極、該些電極組的該些第二電極及該些第二檢測墊屬於同一膜層。
10. 如申請專利範圍第1項所述的觸控面板，其中在各該電極組中，該第一電極圍繞該第二電極，且該第一電極的面積大於該第二電極的面積。