TWI627417B

TWI627417B - 向量網路功率計

Info

Publication number: TWI627417B
Application number: TW103116191A
Authority: TW
Inventors: 克里斯托弗丹尼斯刺歐美克; 斯蒂芬賈群姆
Original assignee: 萊特波因特公司
Priority date: 2013-05-06
Filing date: 2014-05-06
Publication date: 2018-06-21
Also published as: WO2014182669A1; TW201518736A; KR20160005727A; CN105190324A; US20140327429A1; US9720023B2

Abstract

用於實施向量網路功率計(VNPM)作為新類別電子測試儀器之系統及方法，其使用以反射計為基礎之新穎拓樸以組合功率計之功能與向量網路分析器(VNA)之功能。該VNPM藉由免除互連纜線校準而克服兩種現有類別測試儀器之應用限制，其包含並行且同時測量能力、電路內操作及經改良準確度與重現性。亦提供用於反射計之相關器之替代實施方案，其減小相關器之大小及複雜度，同時擴展其頻率範圍而無限制。

Description

向量網路功率計

本申請案主張以下專利申請案之優先權及利益：2013年5月6日申請之美國專利申請案第61/820,085號名為「Vector Network Power Meter(向量網路功率計)」，及2013年7月20日申請之美國專利申請案第61/856,659號名為「Frequency Conversion Architecture(頻率轉換架構)」，該等案以引用的方式併入本文中。

本發明係關於電子測試儀器配置，且具體而言，係關於作為新類別電子測試儀器之向量網路功率計(VNPM)，其組合功率計之功能與向量網路分析器(VNA)之功能，並且對射頻(RF)測試應用特別有用。本發明進一步係關於頻率轉換架構，且具體而言，係關於針對寬頻率範圍信號相關網路提供之頻率轉換架構。

功率計運作為信號接收器，並且用附接至受測裝置(DUT)之一或多個輸出埠的功率計儀器來執行功率位準測量。習用功率計由於DUT與功率計間之連接處的不匹配或信號反射而引入測量不準確度。再者，習用功率計作用為測量信號之端點或負載，因而不允許同時或並行測量DUT輸出信號。

VNA運作為信號源及信號接收器以執行傳輸或反射之量值及相位測量，亦稱為散射參數(S參數)。目前用附接至DUT之一或多個輸入或輸出埠的VNA儀器來執行S參數之測量。現有VNA在VNA經校準並且在用外部纜線連接至DUT之受控測試設置中計算S參數。外部纜線的效應必須以分開步驟來校準消除。諸如纜線電長度之溫度相關變化的漂移現象會影響VNA測量準確度。再者，VNA在不允許對DUT信號進行其他同時測量之受控測試設置中執行S參數測量。

另外，在微波信號處理中使用相關器網路測量兩個信號的相對振幅、相對相位或複比(complex ratio)。具體而言，六埠或n埠反射計會併入此類相關器作為其信號處理之部分。常見相關器網路實施利用調諧微波元件(諸如正交耦合器(quadrature coupler))以基本微波測量頻率執行必要信號處理。這些調諧微波元件之頻率範圍固有地受限，並且其大小與待處理微波信號之波長成比例。

根據目前所請發明，提供用於實施向量網路功率計(VNPM)作為新類別電子測試儀器之系統及方法，其使用以反射計為基礎之新穎拓樸以組合功率計之功能與向量網路分析器(VNA)之功能。該VNPM藉由免除互連纜線校準而克服兩種現有類別測試儀器之應用限制，其包含並行且同時測量能力、電路內操作及經改良準確度與重現性。亦提供用於反射計之相關器之替代實施方案，其減小相關器之大小及複雜度，同時擴展其頻率範圍而無限制。

根據目前所請發明之一實施例，一種射頻(RF)向量信號測量系統包含：反射計電路，其具有用以接收一源信號、用以傳遞與該源信號相關之一入射信號至一負載及用以自該負載接收一反射信號之複數個信號埠，並且用以提供與該入射信號、該反射信號及該入射信號與該反射信號之一或多個組合相關之複數個測量信號；以及轉換電路，其耦合至該反射計電路，並且回應於該複數個測量信號之至少一部分而提供複數個轉換信號，該複數個轉換信號指示該複數個測量信號之各自量值。

根據目前所請發明之另一實施例，一種用於執行射頻(RF)向量信號測量之方法包含：經由反射計電路之複數個信號埠之一者接收一源信號；經由該反射計電路之該複數個信號埠之另一者提供與該源信號相關之一入射信號至一負載；經由該複數個信號埠之該另一者自該負載接收一反射信號；經由該反射計電路之該複數個信號埠之再另外者提供與該入射信號、該反射信號及該入射信號與該反射信號之一或多個組合相關之複數個測量信號；以及將該複數個測量信號之至少一部分轉換成複數個轉換信號，該複數個轉換信號指示該複數個測量信號之各自量值。

根據目前所請發明之另一實施例，一種射頻(RF)向量信號測量系統包含：反射計裝置，其用於接收一源信號、提供與該源信號相關之一入射信號至一負載、自該負載接收一反射信號，並且提供與該入射信號、該反射信號及該入射信號與該反射信號之一或多個組合相關之複數個測量信號；以及轉換裝置，其用於回應於該複數個測量信號之至少一部分而提供複數個轉換信號，該複數個轉換信號指示該複數個測量信號之各自量值。

1‧‧‧信號源

2‧‧‧耦合器

3‧‧‧受測裝置(DUT)

4‧‧‧相關器網路(相關器)

5‧‧‧轉換

6‧‧‧本地振盪器

7‧‧‧影像濾波器

8‧‧‧信號組合器

9‧‧‧功率偵測器

10‧‧‧複相移頻器

a、b‧‧‧波樣本

a’、b’、ja’、jb’‧‧‧經取樣波信號

圖1描繪根據目前所請發明之例示性實施例之VNPM之拓樸。

圖2描繪根據目前所請發明之例示性實施例之VNPM之實施。

圖3描繪根據目前所請發明之例示性實施例之用作為功率計之VNPM。

圖4描繪根據目前所請發明之例示性實施例之用作為多埠VNA之VNPM。

圖5描繪根據目前所請發明之例示性實施例之電路內用作為功率計與VNA組合之VNPM。

圖6描繪根據目前所請發明之例示性實施例之使用實數值IF信號之七埠反射計系統之概要圖。

圖7描繪根據目前所請發明之例示性實施例之使用複數值IF信號之七埠反射計系統之概要圖。

下列係本發明之例示性實施例於參照附圖下的詳細說明。此等說明意欲為說明性的而非限制本發明之範疇。該等實施例係以足夠細節予以說明使得本領域具通常知識者得以實施本發明，但應理解，可在不脫離本發明之精神及範疇的情況下，可以某些改變來實施其他實施例。

在本揭示各處，如無相反於本文的明確指示，可理解所描述之各別電路元件在數目上可為單一的或是複數的。舉例而言，「電路」及「電路系統」一詞可包括一單一個元件或複數個元件，其可為主動的及/或被動的，且連接的或耦合的在一起(舉例而言，如同一或複數個積體電路晶片)來提供描述的功能。另外，「信號」可指一或複數個電流、一或複數個電壓或資料信號。在圖式之中，類似的或相關的元件會有類似的或相關的字母、數字或文數字標誌符。再者，雖然已經討論使用離散電子電路系統(較佳地以一或複數個積體電路晶片的形式)的情況下實施本發明，惟取決於欲處理的信號頻率或資料率，可另外地使用一或複數個經適當編程的處理器實施該等電路系統之任一部分的功能。再者，於圖形圖解各種實施例之功能區塊圖的情況，該功能區塊不必然地標示硬體電路系統之間的區塊。

請參閱圖1，根據例示性實施例，其中一個VNPM之一基本方塊圖拓樸包含：一反射計，其具有用於連接至外部測試信號之輸入埠及輸出埠，以及用於信號處理之一或多個內部信號；一或多個功率偵測器，其用於測量內部反射計信號；一RF源，其用於產生一輸出校準或測試信號；一信號處理區塊，其用於執行運算，諸如測量、誤差校正及按比例調整；及一介面區塊，其用於傳送命令及資料資訊至/自一外部電腦或人機介面裝置。

請參閱圖2，根據例示性實施例，以圖1之基本拓樸為基礎之VNPM之更具體實施方案使用六埠反射計來產生四個輸出信號(a、b、a+b、a+jb)，該四個輸出信號係在對數量值偵測器中處理，並且接著在類比至數位轉換器(ADC)中轉換成數位資料。由六埠反射計網路產生的該四個信號使能夠使用校準、誤差校正及其他已知信號處理技術來運算透過反射計傳播之入射波及反射波之量值及相位。在此實施方案中，由場可程式化閘陣列(FPGA)內的數位信號處理功能來執行這些信號處理功能。使用通用串列匯流排(USB)介面提供控制及資料介面。一合成器區塊提供一RF信號源，其依用於測試或校準之所要頻率及功率位準來產生一本地信號。

為了最佳化效能，該VNPM亦可包含額外功能，諸如用於脈衝信號之波封觸發、溫度監測與補償、頻率相依校準表(例如，在揮發性記憶體或非揮發性記憶體中)、外部觸發器輸入及/或輸出連接，或者用於多VNPMS參數相位測量之相位或時間參考信號連接。

請參閱圖3至圖5，易於從前文論述瞭解，適用於該VNPM之例示性應用包含用作為功率計(圖3)、用作為多埠VNA(圖4)及用作為電路內組合式功率計與VNA(圖5)。

請參閱圖3，在功率計應用中，VNPM監測及測量來自DUT之輸出信號之功率位準。一負載係置於VNPM之次要埠以攝取RF信號。可使用與六埠反射計網路校準相符之誤差校正技術來校正負載處的耦合器方向性及信號反射(例如，由於阻抗不匹配)。

請參閱圖4，在多埠VNA應用中，一或多個VNPM係連接至DUT上之一或多個測試埠(例如，兩個此類埠連接)。在各VNPM上，儀器上之信號源係作為測試信號源而迴返至VNPM之主要埠。該VNPM拓樸實現用於在該次要埠連接器處之VNA S參數測量的校準平面，藉此免除互連纜線並且允許在大多數應用中使用工廠校準。可在各埠處執行全向量反射測量(量值及相位)。可執行自任意埠至任意其他埠之純量傳輸測量(僅量值)。藉由散佈一相位參考信號至各VNPM，可執行自任意埠至任意其他埠之全向量傳輸測量(量值及相位)。

請參閱圖5，在電路內應用中，該VNPM係同時作用為功率計及VNA。在此應用中，該VNPM不使用其儀器上(例如，內部)信號源，而是被動監測由執行其他測量或並行測試之其他測試設備施加之測試信號。可針對任何類型信號進行功率測量，諸如連續波(CW)信號、脈衝信號、單頻率信號、調變信號或多音(multi-tone)信號。可使用前文針對多埠VNA測量描述之相同技術，針對CW單頻率信號進行全向量VNA S參數測量(量值及相位)。在VNPM不產生測試信號之此情況中，可經由命令介面鍵入用於誤差校正之信號頻率。

以前文論述為基礎，應瞭解，根據目前所請發明之例示性實施例之VNPM會有利地實現許多特徵及能力。例如，提供一種電子測試儀器，其將功率計及向量網路分析器測量功能組合成以反射計為基礎之單一儀器。如此組合之儀器功能藉由並行進行兩種不同類別測量而縮短測試時間，並且藉由將兩種類別儀器組合成單一儀器而縮減測試設備成本。新穎反射計拓樸實現在實際電路、系統或裝置中的電路內向量網路測量，無須使用需要校準且會引入測量不確定度之測試點或外部纜線。此類電路內測量能力使得儀器可設置DUT處，藉此簡化測試設置及校準需求，並且提供更準確測量。此類電路內測量能力進一步使得儀器可設置在DUT處，用於藉由將儀器置放在一測試固定裝置(諸如一負載板或探針卡)上，而於自動化測試應用期間進行功率計及VNA測量，並且藉由使電路中傳播的入射信號與反射信號分開且進行入射信號與反射信號之比對校正，而提供更準確功率測量。

進一步，應用不匹配誤差校正至此類儀器實現更高準確度的功率測量，消除由來自負載之信號反射而引起之誤差，正如習用功率計所會經歷者。再者，遠端VNA測量能力使得儀器可設置在DUT，以在儀器連接處提供用於S參數測量的校準平面，而非在如習用VNA所要求者設置在校準纜線之末端處。遠端VNA測量能力進一步使儀器之校準過程能夠免除或大幅簡化，因為可在大多數應用中使用工廠校準(由於免除互連纜線)，並且也能夠消除互連纜線引入之不確定度，諸如纜線電長度中之溫度變化。

進一步使儀器能夠在CW模式及脈衝信號模式兩者中運作以用於VNA S參數測量。對於可具有與脈衝操作模式相關之效能變化的DUT，此在實際脈衝使用案例中進行VNA S參數測量的能力可提供DUT S參數之更真實且準確測量。藉由使用分開之外部測試信號源，亦使儀器能夠作為被動監測儀器來進行S參數測量。

請參閱圖6，根據例示性實施例，一個七埠反射計系統係經由一耦合器(2)連接至一信號源(1)及一DUT(3)，該耦合器會取樣在信號源與DUT之間流動的正向與反向行波。波樣本(a、b)係施加至一相關器網路(4)，以進行信號處理。(如同所將輕易瞭解者，此論述非限定於七埠反射計，而是適用於任意微波相關器功能)。

此例示性實施之標的相關器(4)使用一本地振盪器(6)依一合宜中間頻率(IF)將(5)基本波樣本(a、b)一致地轉換成實數值信號。同時用該本地振盪器(6)的同相位(I)型式及正交相位(Q)版本來執行該一致轉換，藉此依該信號源(1)頻率與本地振盪器(6)頻率的總和與差值來產生該等經取樣波之同相位版本及正交相位版本。影像濾波器(7)會抑制該IF信號之非所要的差值頻率分量或總和頻率分量，從而依所要IF產生該等經取樣波信號的頻移複本及相移複本(a’、b’、ja’、jb’)。

信號組合器(8)會執行該相關器程序所需的該等經取樣波複本之向量加法。相關器輸出信號之振幅係藉由功率偵測器(9)測量，並且可用於運算波樣本(a、b)之所要函數。

請參閱圖7，根據例示性實施例，一個七埠反射計系統係經由一耦合器(2)連接至一信號源(1)及一DUT(3)，該耦合器會取樣在信號源與DUT之間流動的正向與反向行波。波樣本(a、b)係施加至一相關器網路(4)，以進行信號處理。(如同所將輕易瞭解者，此論述非限定於七埠反射計，而是適用於任意微波相關器功能)。

此例示性實施之標的相關器(4)使用一本地振盪器(6)依一合宜中間頻率(IF)將(5)基本波樣本(a、b)一致地轉換成複數值信號。用由本地振盪器(6)所驅動的影像抑制混頻器(image-rejecting mixer)來執行該一致轉換，藉此依信號源(1)頻率與本地振盪器(6)頻率的總和與差值之任一者來產生該等經取樣波(a’、b’)之複數值版本。

此做法不需要影像濾波器來抑制IF信號之非所要的差值頻率分量或總和頻率分量，並且會依所要IF產生該等波樣本之單一旁頻帶複本。

複相移頻器(10)及信號組合器(8)會執行該相關器程序所需的該等經取樣波複本之向量加法。相關器輸出信號之振幅係藉由功率偵測器(9)測量，並且可用於運算波樣本(a、b)之所要函數。

本發明結構與操作方法的各種其他修改或變更，在不脫離本發明之精神及範疇的情況下，對本領域具通常知識者而言係顯而易見的。儘管已藉由特定較佳實施例說明本發明，應理解本發明如所申請的不應不當地受限於該較佳實施例。吾人意欲以下列的申請專利範圍界定本發明的範疇以及該申請專利範圍內之結構與方法從而涵蓋該等結構與方法之等效者。

Claims

一種包含一射頻(RF)向量信號測量系統之設備，其包括：反射計電路，其具有用以接收一源信號、用以傳遞與該源信號相關之一入射信號至一負載及用以自該負載接收一反射信號之複數個信號埠，並且用以提供與該入射信號、該反射信號及該入射信號與該反射信號之一或多個組合相關之複數個測量信號；以及轉換電路，其耦合至該反射計電路，並且回應於該複數個測量信號之至少一部分而提供複數個轉換信號，該複數個轉換信號指示該複數個測量信號之各自量值；其中，該反射計電路將功率計及向量網路分析器測量功能組合成單一儀器。
如請求項1之設備，其中：該複數個信號埠包括一源信號埠，其用以接收該源信號，一負載信號埠，其用以傳遞該入射信號至該負載且用以自該負載接收該反射信號，一第一信號埠，其用以提供與該入射信號相關之一第一測量信號，一第二信號埠，其用以提供與該反射信號相關之一第二測量信號，一第三信號埠，其用以提供與該入射信號及該反射信號之一總和相關之一第三測量信號，以及一第四信號埠，其用以提供與該入射信號及該反射信號之另一總和相關之一第四測量信號；並且該轉換電路回應於至少該等第一、第二、第三及第四測量信號而提供至少第一、第二、第三及第四轉換信號，該等第一、第二、第三及第四轉換信號分別指示該等第一、第二、第三及第四測量信號之第一、第二、第三及第四量值。
如請求項2之設備，其中：該第三測量信號包括該入射信號及該反射信號之一總和；並且該第四測量信號包括該入射信號及一對應於且正交於該反射信號之信號之一總和。
如請求項2之設備，其中：該第三測量信號包括該入射信號及該反射信號之一總和；並且該第四測量信號包括該反射信號及一對應於且正交於該入射信號之信號之一總和。
如請求項2之設備，其中：該第三測量信號包括該第一測量信號及該第二測量信號之一總和；並且該第四測量信號包括該第一測量信號及一對應於且正交於該第二測量信號之信號之一總和。
如請求項2之設備，其中：該第三測量信號包括該第一測量信號及該第二測量信號之一總和；並且該第四測量信號包括該第二測量信號及一對應於且正交於該第一測量信號之信號之一總和。
如請求項2之設備，其中該反射計電路進一步包含：第一頻率轉換電路，其回應於一本地RF信號及該入射信號而提供至少該第一測量信號，該第一測量信號具有一低於且對應於該入射信號之頻率；以及第二頻率轉換電路，其回應於該本地RF信號及該反射信號而提供至少該第二測量信號，該第二測量信號具有一低於且對應於該反射信號之頻率。
如請求項7之設備，其中該反射計電路進一步包含：第一信號組合電路，其耦合至該等第一及第二頻率轉換電路，並且回應於該等第一及第二測量信號而提供該第三測量信號；以及第二信號組合電路，其耦合至該等第一及第二頻率轉換電路，並且回應於該至少該第一測量信號之一部分及該至少該第二測量信號之一部分而提供該第四測量信號。
如請求項8之設備，其中該反射計電路進一步包含：一第五信號埠，其用以提供與該入射信號及該反射信號之再另一總和相關之一第五測量信號；以及第三信號組合電路，其耦合至該等第一及第二頻率轉換電路，並且回應於該至少該第一測量信號之該部分及該至少該第二測量信號之另一部分，或該至少該第一測量信號之另一部分及該至少該第二測量信號之該部分，而提供該第五測量信號。
如請求項2之設備，其中該反射計電路進一步包含：第一頻率轉換電路，其回應於一本地RF信號及該入射信號而提供該第一測量信號及一對應第一正交信號，該第一測量信號及該對應第一正交信號具有低於且對應於該入射信號之相互共同頻率；以及第二頻率轉換電路，其回應於該本地RF信號及該反射信號而提供該第二測量信號及一對應第二正交信號，該第二測量信號及該對應第二正交信號具有低於且對應於該反射信號之相互共同頻率。
如請求項10之設備，其中該反射計電路進一步包含：第一信號組合電路，其耦合至該等第一及第二頻率轉換電路，並且回應於該等第一及第二測量信號而提供該第三測量信號；以及第二信號組合電路，其耦合至該等第一及第二頻率轉換電路，並且回應於該第一測量信號及該第二測量信號而提供該第四測量信號。
如請求項11之設備，其中該反射計電路進一步包含：一第五信號埠，其用以提供與該入射信號及該反射信號之再另一總和相關之一第五測量信號；以及第三信號組合電路，其耦合至該等第一及第二頻率轉換電路，並且回應於該第一測量信號及該第二正交信號，或該第一正交信號及該第二測量信號，而提供該第五測量信號。
如請求項2之設備，其中該轉換電路包括RF信號功率偵測電路。
如請求項2之設備，其進一步包括處理電路，該處理電路耦合至該轉換電路，並且回應於該等第一、第二、第三及第四轉換信號而提供一或多個資料信號，該一或多個資料信號指示下列一或多者：該入射信號之一量值；該入射信號之一相位；該反射信號之一量值；或該反射信號之一相位。
如請求項14之設備，其中該處理電路包括一場可程式化閘陣列。
如請求項2之設備，其進一步包括：一RF信號源，其用以提供一本地RF信號；以及處理電路，其耦合至該轉換電路及該RF信號源，並且回應於該等第一、第二、第三及第四轉換信號及該本地RF信號而提供一或多個資料信號，該一或多個資料信號指示下列一或多者：該入射信號之一量值，該入射信號之一相位，該反射信號之一量值，或該反射信號之一相位。
如請求項2之設備，其中該反射計電路進一步包含一第五信號埠，以提供與該入射信號及該反射信號之再另一總和相關之一第五測量信號。
如請求項17之設備，其中：該第三測量信號包括該入射信號及該反射信號之一總和；該第四測量信號包括該入射信號及一對應於且正交於該反射信號之信號之一總和；並且該第五測量信號包括該反射信號及一對應於且正交於該入射信號之信號之一總和。
如請求項17之設備，其中：該第三測量信號包括該第一測量信號及該第二測量信號之一總和；該第四測量信號包括該第一測量信號及一對應於且正交於該第二測量信號之信號之一總和；並且該第五測量信號包括該第二測量信號及一對應於且正交於該第一測量信號之信號之一總和。
一種用於執行射頻(RF)向量信號測量之方法，其包括：經由反射計電路之複數個信號埠之一者接收一源信號；經由該反射計電路之該複數個信號埠之另一者提供與該源信號相關之一入射信號至一負載；經由該複數個信號埠之該另一者自該負載接收一反射信號；經由該反射計電路之該複數個信號埠之再另外者提供與該入射信號、該反射信號及該入射信號與該反射信號之一或多個組合相關之複數個測量信號；以及將該複數個測量信號之至少一部分轉換成複數個轉換信號，該複數個轉換信號指示該複數個測量信號之各自量值；其中，該反射計電路將功率計及向量網路分析器測量功能組合成單一儀器。
如請求項20之方法，其中：該經由該反射計電路之該複數個信號埠之再另外者提供與該入射信號、該反射信號及該入射信號與該反射信號之一或多個組合相關之複數個測量信號包括：經由該反射計電路之一第一信號埠提供與該入射信號相關之一第一測量信號，經由該反射計電路之一第二信號埠提供與該反射信號相關之一第二測量信號，經由該反射計電路之一第三信號埠提供與該入射信號和該反射信號之一總和相關之一第三測量信號，及經由該反射計電路之一第四信號埠提供與該入射信號和該反射信號之另一總和相關之一第四測量信號；並且該將該複數個測量信號之至少一部分轉換成指示該複數個測量信號之各自量值的複數個轉換信號包括：將至少該等第一、第二、第三及第四測量信號轉換成至少第一、第二、第三及第四轉換信號，該等第一、第二、第三及第四轉換信號分別指示該等第一、第二、第三及第四測量信號之第一、第二、第三及第四量值。
如請求項21之方法，其中：該提供一第三測量信號包括：組合該入射信號及該反射信號；並且該提供一第四測量信號包括：組合該入射信號及一對應於且正交於該反射信號之信號。
如請求項21之方法，其中：該提供一第三測量信號包括：組合該入射信號及該反射信號；並且該提供一第四測量信號包括：組合該反射信號及一對應於且正交於該入射信號之信號。
如請求項21之方法，其中：該提供一第三測量信號包括：組合該第一測量信號及該第二測量信號；並且該提供一第四測量信號包括：組合該第一測量信號及一對應於且正交於該第二測量信號之信號。
如請求項21之方法，其中：該提供一第三測量信號包括：組合該第一測量信號及該第二測量信號；並且該提供一第四測量信號包括：組合該第二測量信號及一對應於且正交於該第一測量信號之信號。
一種包含一射頻(RF)向量信號測量系統之設備，其包括：反射計裝置，其用於接收一源信號，提供一與該源信號相關之入射信號至一負載，自該負載接收一反射信號，及提供與該入射信號、該反射信號及該入射信號與該反射信號之一或多個組合相關之複數個測量信號；以及轉換裝置，其用於回應於該複數個測量信號之至少一部分而提供複數個轉換信號，該複數個轉換信號指示該複數個測量信號之各自量值；其中，該反射計裝置將功率計及向量網路分析器測量功能組合成單一儀器。
如請求項26之設備，其中：該反射計裝置係用於藉由下列而提供該複數個測量信號提供與該入射信號相關之一第一測量信號，提供與該反射信號相關之一第二測量信號，提供與該入射信號及該反射信號之一總和相關之一第三測量信號，及提供與該入射信號及該反射信號之另一總和相關之一第四測量信號；以及該轉換裝置係用於回應於至少該等第一、第二、第三及第四測量信號而提供至少第一、第二、第三及第四轉換信號，該等第一、第二、第三及第四轉換信號分別指示該等第一、第二、第三及第四測量信號之第一、第二、第三及第四量值。
如請求項27之設備，其中：該提供一第三測量信號包括：組合該入射信號及該反射信號；並且該提供一第四測量信號包括：組合該入射信號及一對應於且正交於該反射信號之信號。
如請求項27之設備，其中：該提供一第三測量信號包括：組合該入射信號及該反射信號；並且該提供一第四測量信號包括：組合該反射信號及一對應於且正交於該入射信號之信號。
如請求項27之設備，其中：該提供一第三測量信號包括：組合該第一測量信號及該第二測量信號；並且該提供一第四測量信號包括：組合該第一測量信號及一對應於且正交於該第二測量信號之信號。
如請求項27之設備，其中：該提供一第三測量信號包括：組合該第一測量信號及該第二測量信號；並且該提供一第四測量信號包括：組合該第二測量信號及一對應於且正交於該第一測量信號之信號。