TWI621339B - 使用窄頻測試器來測試寬頻資料封包信號收發器之系統及方法 - Google Patents

使用窄頻測試器來測試寬頻資料封包信號收發器之系統及方法 Download PDF

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Abstract

本發明揭示一種用於使用多個具有較窄資料封包信號頻寬之資料封包信號測試器來測試多個具有較寬資料封包信號頻寬之資料封包信號傳輸器的系統及方法。若使用多個具有較窄接收器頻寬之資料封包信號測試器來處理受測裝置(DUT)所產生資料封包信號之較寬頻寬之各自部分，將能使用較低成本且較窄頻寬之測試儀器來測試寬頻寬信號。

Description

使用窄頻測試器來測試寬頻資料封包信號收發器之系統及方法
本發明係關於測試資料封包收發器，特別是有關於使用窄頻測試儀器測試寬頻資料封包信號收發器。
許多現今的電子裝置使用無線技術用於連接及通訊兩種目的。因為無線裝置傳輸以及接收電磁能量，且因為二或多個無線裝置可能因其信號頻率及功率頻譜密度而干擾彼此的運作，這些裝置及其使用的無線技術必須遵循各種無線技術標準規格。
在決定此等無線裝置時，工程師會額外留意以確保此等裝置符合或優於每一項其所納入之無線技術所規定標準之規格。再者，當這些裝置之後進入量產階段，其會經測試以確保製造瑕疵不會導致不適當的運作，包括其是否遵循所納入之無線技術標準之規格。
為了在製造及裝配之後測試這些裝置，目前無線裝置測試系統採用一子系統用於分析接收自各裝置的信號。此等子系統通常至少包括一用於提供待傳輸至受測裝置之來源信號之向量信號產生器(VSG)、以及一用於分析由受測裝置所產生信號之向量信號分析器(VSA)。VSG對於測試信號之產生及VSA所執行之信號分析通常是可程式化的，以便允許將各者都 用於測試各種裝置是否遵循各種具有不同頻率範圍、頻寬、以及信號調變特性之無線技術標準。
在無線通訊裝置之製造過程中，製造測試有關的成本係佔了 所需生產成本中相當高的一部分。通常，測試成本與進行測試所需之測試儀器精密度之間有一直接相關性。因此，可保持測試精確度同時最小化儀器成本(例如，因提高必要測試儀器或測試器之精密度所增加之成本)的創新係重要的，並且可大幅節省成本，尤其是對於製造及測試大量此類裝置而言。
例如，已知為「WiFi」之眾所周知且廣泛使用的無線標準是 一系列標準的成果，且其信號頻寬已成長到包括高達160百萬赫茲(MHz)寬之正交分頻多工(OFDM)信號(例如，IEEE 802.11ac標準)。然而，設計用來測試WiFi標準符合性之測試儀器在大部分情況下，都受限於80MHz或更小的信號頻寬。因此，此類測試器不足以用來測試頻寬超出80MHz之WiFi信號。於是，這會排除對160MHz之IEEE802.11ac標準之信號的測試。若欲升級此測試儀器之能力至支援測量160MHz頻寬信號，將會增加其成本。 且，由於這些160MHz頻寬信號通道內只存在少量測試點，如此大幅增加測試儀器的成本，對於額外增加的測試能力來說效益極低。
再者，針對IEEE 802.11ac標準所設計的無線裝置，也能夠 在信號頻寬為40MHz或更小之IEEE 801.11n標準下運作。因此，應用於測試此類裝置之單一測試器，將能夠測試IEEE 802.11n標準之信號，但無法測試160MHz寬的IEEE 802.11ac標準之信號。反之，所需的測試器必須能夠擷取並且分析160MHz或以上的信號。此類測試系統的成本明顯高於目前 能夠測試80MHz頻寬信號之測試器的成本，且會導致不必要的冗餘，因為許多基頻處理引擎在較窄與較寬射頻(RF)信號路徑之間係可共用的。再者，相較於160MHz頻寬信號通道，20、40及80MHz頻寬信號通道存在更多的測試點。於是，同時能夠測試IEEE 802.11n及802.11ac信號至完全涵蓋160MHz寬頻帶之測試器的購置成本較高，從而影響對此類先進無線裝置的總製造測試成本。
因此，期望能有一種不需要提高測試器之精密度即可用來測試日益精密之DUT的技術。
根據本發明，提供一種使用多個具有較窄資料封包信號頻寬之資料封包信號測試器來測試多個具有較寬資料封包信號頻寬之資料封包信號傳輸器的系統及方法。若使用多個具有較窄接收器頻寬之資料封包信號測試器來處理受測裝置(DUT)所產生資料封包信號之較寬頻寬之各自部分，將能使用較低成本且較窄頻寬之測試儀器來測試寬頻寬信號。
根據本發明之一實施例，一種使用具有較窄資料封包信號頻寬之多個資料封包信號接收器來測試具有較寬資料封包信號頻寬之多個資料封包信號傳輸器的系統包括：第一及第二信號路徑，其等分別用於從一或多個受測裝置(DUT)傳遞具有複數個資料封包信號傳輸頻寬之第一及第二資料封包信號，該複數個資料封包信號傳輸頻寬包括第一及第二資料封包信號傳輸頻寬，該等第一及第二資料封包信號傳輸頻寬之各者不大於一預定頻寬，且實質上以各自的一DUT資料封包信號載波頻率為中心，該DUT資料封包信號載波頻率介於 第一與第二資料封包信號載波頻率之間；第一及第二測試器，其等分別具有第一及第二資料封包信號測試接收器，且經調適以在包括一第一測試模式之複數個測試模式下分別以第一及第二資料封包信號接收頻寬進行運作，該等第一及第二資料封包信號接收頻寬之各者小於該預定頻寬、不小於該預定頻寬之一半，且分別以該等第一及第二資料封包信號載波頻率為中心，該等第一及第二資料封包信號載波頻率之間係以不大於該等第一及第二資料封包信號接收頻寬之一者予以分離；以及信號路由電路系統，其位於該等第一及第二信號路徑與該等第一及第二測試器之外部並且耦接於其間，並且回應一或多個路由控制信號而將該等第一及第二資料封包信號路由至該等第一及第二測試器，其中在一第一時間間隔期間，該第一資料封包信號之一第一部分係由該等第一及第二測試器之一者所接收，而該第一資料封包信號之一第二部分係由該等第一及第二測試器之另一者所接收，且在一第二時間間隔期間，該第二資料封包信號之一第一部分係由該等第一及第二測試器之一者所接收，而該第二資料封包信號之一第二部分係由該等第一及第二測試器之另一者所接收。
根據本發明之另一實施例，一種使用具有較窄資料封包信號頻寬之多個資料封包信號接收器來測試具有較寬資料封包信號頻寬之多個資料封包信號傳輸器的方法包括：提供第一及第二信號路徑，以分別用於從一或多個受測裝置(DUT)傳遞具有複數個資料封包信號傳輸頻寬之第一及第二資料封包信號，該複 數個資料封包信號傳輸頻寬包括第一及第二資料封包信號傳輸頻寬，該等第一及第二資料封包信號傳輸頻寬之各者不大於一預定頻寬，且實質上以各自的一DUT資料封包信號載波頻率為中心，該DUT資料封包信號載波頻率介於第一與第二資料封包信號載波頻率之間；提供分別具有第一及第二資料封包信號測試接收器的第一及第二測試器，經調適以在包括一第一測試模式之複數個測試模式下分別以第一及第二資料封包信號接收頻寬進行運作，該等第一及第二資料封包信號接收頻寬之各者小於該預定頻寬、不小於該預定頻寬之一半，且分別以該等第一及第二資料封包信號載波頻率為中心，該等第一及第二資料封包信號載波頻率之間係以不大於該等第一及第二資料封包信號接收頻寬之一者予以分離；以及以外部方式將該等第一及第二資料封包信號路由至該等第一及第二測試器，其中在一第一時間間隔期間，該第一資料封包信號之一第一部分係由該等第一及第二測試器之一者所接收，而該第一資料封包信號之一第二部分係由該等第一及第二測試器之另一者所接收，且在一第二時間間隔期間，該第二資料封包信號之一第一部分係由該等第一及第二測試器之一者所接收，而該第二資料封包信號之一第二部分係由該等第一及第二測試器之另一者所接收。
10‧‧‧測試環境
12‧‧‧測試環境
14‧‧‧信號路由電路系統
23‧‧‧最大信號頻寬
20‧‧‧測試器
20a‧‧‧測試器
20b‧‧‧測試器
21‧‧‧信號
22‧‧‧接收器
22a‧‧‧接收器
22b‧‧‧接收器
23‧‧‧測試器頻寬
23a‧‧‧頻寬
23b‧‧‧頻寬
24a‧‧‧同步化電路
24b‧‧‧同步化電路
25‧‧‧共用同步化信號
26a‧‧‧鎖定電路
26b‧‧‧鎖定電路
27‧‧‧頻率參考信號
30‧‧‧受測裝置(DUT)
30a‧‧‧受測裝置
30b‧‧‧受測裝置
31‧‧‧信號
31a‧‧‧信號
31b‧‧‧信號
32‧‧‧傳輸器
32a‧‧‧傳輸器
32b‧‧‧傳輸器
33‧‧‧信號頻寬
33a‧‧‧傳輸信號頻寬
33b‧‧‧傳輸信號頻寬
33ba‧‧‧第一受測裝置信號頻寬
33bb‧‧‧第二受測裝置信號頻寬
35a‧‧‧第一部分
35ab‧‧‧組合
35b‧‧‧第二部分
35c‧‧‧擷取之信號部分
35cd‧‧‧組合
35d‧‧‧擷取之信號部分
40‧‧‧射頻信號路徑
42a‧‧‧信號分離器
42b‧‧‧信號分離器
43aa‧‧‧複製之傳輸信號
43ab‧‧‧複製之傳輸信號
43ba‧‧‧複製之傳輸信號
43bb‧‧‧複製之傳輸信號
44a‧‧‧交換器
44b‧‧‧交換器
45a‧‧‧受測裝置信號
45b‧‧‧受測裝置信號
50‧‧‧控制電路系統
51aa‧‧‧控制信號
51ab‧‧‧控制信號
51ba‧‧‧控制信號
51bb‧‧‧控制信號
51ca‧‧‧控制信號
51cb‧‧‧控制信號
131a‧‧‧資料封包信號
131aa‧‧‧第一受測裝置信號
131ab‧‧‧第一受測裝置信號
131ac‧‧‧第一受測裝置信號
131aca‧‧‧一部分
131acb‧‧‧另一部分
131ad‧‧‧第一受測裝置信號
131aea‧‧‧部分
131aeb‧‧‧部分
131af‧‧‧第一受測裝置信號
131ag‧‧‧受測裝置信號
131b‧‧‧資料封包信號
131ba‧‧‧第二受測裝置信號
131bb‧‧‧第二受測裝置信號
131bc‧‧‧第二受測裝置信號
131bd‧‧‧第二受測裝置信號
131bda‧‧‧部分
131bdb‧‧‧部分
131be‧‧‧第二受測裝置信號
131bf‧‧‧第二受測裝置信號
131bfa‧‧‧部分
131bfb‧‧‧部分
131bg‧‧‧受測裝置信號
圖1描繪一用於測試資料封包收發器之習知測試環境。
圖2描繪一根據本發明的例示性實施例之用於測試資料封包收發器之 測試環境。
圖3描繪使用圖2之測試環境並行測試多個DUT時之一例示性資料封包流。
圖4描繪根據本發明的例示性實施例之用於測試寬頻DUT之測試器頻寬組合。
圖5描繪根據本發明之進一步例示性實施例之用於測試寬頻DUT之測試器頻寬組合。
圖6描繪使用圖2之測試環境並行測試多個DUT時之進一步例示性資料封包流。
下列係本發明之例示性實施例於參照附圖下的詳細說明。此等說明意欲為說明性的而非限制本發明之範疇。該等實施例係以足夠細節予以說明使得本領域具通常知識者得以實施本發明，且應理解，在不脫離本發明之精神或範疇的情況下，可以某些改變來實施其他實施例。
在本揭示內容各處，如無與本文相反的明確指示，可理解所描述之各別電路元件在數目上可為單一的或是複數的。例如，「電路」及「電路系統」一詞可包括單一個或複數個組件，可為主動及/或被動，且經連接或以其他方式耦接在一起(例如，作為一或多個積體電路晶片)以提供所述的功能。另外，「信號」一詞可指一或多個電流、一或多個電壓或資料信號。在圖式中，相似或相關的元件會有相似或相關的字母、數字或文數字指示符號。再者，雖然已經討論使用離散電子電路系統(較佳的是以一或複數個積體電路晶片的實施方式)的情況下實施本發明，惟取決於欲處理的信號頻率或資料速率，可另外地使用一或複數個經適當編程的處理器實 施該等電路系統之任一部分的功能。此外，就圖示描述不同實施例之功能區塊圖的方面而言，該等功能區塊不一定表示硬體電路系統之間的分割。
如以下更詳細論述者，根據本發明，可使用具有有限接收信 號頻寬的現有無線系統測試儀器來測試產生較大頻寬信號之無線裝置信號。例如，在測試根據IEEE802.11n及802.11ac(160MHz)標準之信號的情況中，可使用一對具有80MHz頻寬之測試器來測量所有適用信號(例如，20、40、80及160MHz頻寬信號)，藉以變得能夠測試兩種信號標準。
根據本發明，使得對於採用先進160MHz頻寬信號之兩個 受測裝置(DUT)的循序測試得以進行。亦可利用相同的兩個測試器來對DUT進行20、40及80MHz頻寬信號之並行(例如，平行)測試，並且能進一步進行160MHz頻寬信號之交錯測試。即使此類測試僅需少數額外的測試點(例如，三個或四個)，但與現使用兩個具有較窄80MHz頻寬信號能力之系統相關聯的間接費用成本仍算小。因此，根據本發明，在涉及測試20、40、80及160MHz頻寬信號的測試流程中，不需要顯著較昂貴之高頻寬測試器或將測試流程之不同部分分配於不同測試系統之間，即可同時獲得速度及成本之優勢。再者，除測試多個DUT之傳輸器之外，還可測試單一多輸入多輸出(MIMO)DUT之傳輸器。
參照圖1，典型的測試環境10包括測試器20及DUT 30，其 等係藉由RF信號路徑40耦接，其形式通常為傳導信號路徑，如同軸電纜及連接器。此信號路徑40傳遞由測試器所傳輸的信號21(例如，由VSG所提供)以供DUT 30所接收、以及由DUT 30內之一傳輸器32傳輸之信號31以供測試器20內之一接收器22(例如，VSA之一部分)所接收。如上 述，測試器接收器22將具有一最大信號頻寬23以用於擷取及處理來自DUT 30之信號31，且DUT傳輸器32將傳輸具有一信號頻寬33之信號31。在一些情況下(例如，根據上述之一些IEEE信號標準)，傳輸信號頻寬33a將小於測試器頻寬23，而在其他情況下，傳輸信號頻寬33b將大於測試器頻寬23。在前者情況中，測試器20係足以測試DUT信號31，但在後者情況中，測試器20不足以測試DUT信號31。
參照圖2，根據本發明，可將測試環境12擴充成包括兩個測試器20a、20b、以及提供用於將信號31a、31b從多個DUT 30a、30b傳遞至測試器20a、20b所必需之信號路徑之信號路由電路系統14。(為了本例示性實施例之目的，假設DUT 30a、30b為具有各自傳輸器32a、32b之單獨DUT，其形式例如為單輸入單輸出(SISO)DUT。然而，根據其他例示性實施例，如圖示的兩個傳輸器32a、32b可為形式呈MIMO DUT之單一DUT 30中的兩個傳輸器。)
根據一例示性實施例，信號路由電路系統14包括信號分離器42a、42b(亦稱為信號劃分器)以及交換電路系統44a、44b。傳輸信號31a、31b係由信號分離器42a、42b所分割(例如，劃分或複製)，以將複製之傳輸信號43aa、43ab、43ba、43bb提供至交換器44a、44b。根據來自控制電路系統50(其可為與信號路由電路系統14分離或為其一部分之電腦或其他控制電路系統)之控制信號51aa、51ba，交換器44a、44b將其等各自DUT信號43aa、43ba、43ab、43bb交換成各自DUT信號45a、45b以提供予測試器接收器22a、22b。(也可提供控制信號51ab、51bb以用於控制信號分離器42a、42b之動作。)這使得DUT信號31a、31b之各自部分35a、35b、35c、 35d能夠被路由至測試器20a、20b之接收器22a、22b(以下有更詳細的說明)。或者，替代地，交換器44a、44b可為各自測試器20a、20b之一部分(例如，位於其內部)。
控制電路系統50也可將控制信號51ca、51cb提供予測試器 20a、20b，例如，用於控制接收器22a、22b之標稱中心頻率或頻寬。或者，可透過源自其他地方(例如，來自遠端控制器(圖中未示)、或用於處理及/或顯示來自測試器20a、20b之測試結果之一本機或遠端電腦(圖中未示))之控制信號來控制接收器22a、22b。
根據例示性實施例，第一DUT信號31a之第一部分35a及 第二部分35b分別為佔用第一DUT信號頻寬33ba之較低半部及其較高半部的信號成分。同樣地，第二DUT信號31b之第一35c及第二部分35d分別為佔用第二DUT信號頻寬33bb下半部及其上半部的信號成分。
根據其他例示性實施例，可使用額外的交換器(例如，單刀 雙投交換器)而非信號分離器42a、42b，利用來自控制電路系統50之額外的適當控制信號51ab、51bb將DUT信號31a、31b交換、或路由至適當的交換器44a、44b。
根據例示性實施例之此測試環境12之運作將根據如圖所示 的時序圖進行。在時間間隔T1期間，第一DUT信號31a將傳遞至測試器20a、20b兩者，其中第一部分35a由第一接收器22a以其頻寬23a進行處理，且第二部分35b由第二接收器22b以其頻寬23b進行處理。同樣地，在後續時間間隔T2期間，第二DUT信號31b被傳遞至第一接收器22a及第二接收器22b，以用於以該等接收器之各自頻寬23a、23b處理第二DUT信號31b 之部分35c、35d。
在接收第一DUT信號31a後，其所擷取之信號部分35a、35b 係在例如時間間隔T2期間予以組合35ab並且處理。同樣地，在接收第二DUT信號31b後，其所擷取之信號部分35c、35d係在例如時間間隔T3期間予以組合35cd並且處理。根據例示性實施例，所擷取之信號部分35a、35b、35c、35d在測試器20a、20b之任一者中進行組合35ab、35cd以供同一測試器處理，用於轉送至其他測試器以供處理、或轉送至別處(圖中未示)以供處理。或者，所擷取之信號部分35a、35b、35c、35d也可轉送別處(圖中未示)以供組合35ab、35cd及處理。根據進一步例示性實施例，所擷取之信號部分35a、35b、35c、35d不一定需要組合，而是可例如藉由在時間間隔T2期間處理信號部分35a、在時間間隔T3期間處理信號部分35b、在時間間隔T4期間處理信號部分35c、以及在時間間隔T5期間處理信號部分35d而予以分別處理。
為了建立並且保持各自測試器接收器22a、22b之資料封包 信號接收頻寬之適當同步化及頻率分離，測試器20a、20b在各自同步化電路24a、24b與頻率合成或鎖定電路26a、26b之間共用共同的同步化信號25及頻率參考信號27。這些信號25、27可由外部來源(圖中未示)所提供、或在一個測試器內產生並且與另一個測試器共用。
參照圖3，可更加理解接收器22a、22b之資料封包信號接收 頻寬23a、23b之協調方式。例如，在上述DUT信號接收期間，可將測試器配置成令具有頻寬B1之第一接收器頻寬23a以第一標稱載波頻率C1為中心，而令第二資料封包信號接收頻寬23b以另一(例如，較高)標稱載波 頻率C2為中心。這些載波頻率C1、C2較佳是以頻帶B予以分離，而頻帶B則較佳是等於(或略小於)各自接收器頻寬23a/B1、23b/B2之每一者。因此，經組合之接收器頻寬B1+B2等於或大於用於測試一以標稱寬頻信號載波頻率C為中心之寬頻資料封包信號所需的頻寬，如上所述。同樣地，為了補償電路中的預期變異及效能特性，接收器頻寬23a/B1、23b/B2將充分大於頻帶B之一半，以便令其等各自頻寬23a/B1、23b/B2具有一些重疊，從而確保接收所有必要信號成分以可靠地擷取資料封包信號。
參照圖4，如上述，相較於其頻寬大於測試器20a、20b之頻 寬23a、23b的資料封包信號，具有X或更小頻寬之資料封包信號更頻繁地被測試。於是，可配置路由電路系統14以使測試器20a、20b並行測試DUT 30a、30b。例如，控制器50控制測試器交換器44a、44b(以及DUT交換器，若有用於取代分離器42a、42b)，使得將第一DUT信號31a提供予第一測試器接收器22a，並將第二DUT信號31b提供予第二測試器接收器22b，以在相繼時間間隔T1、T2等等期間並行測試此等信號31a、31b。
參照圖5，在具有不同信號頻寬之一資料封包信號序列的情 境中，或許能夠更加領會根據本發明之例示性實施例之測試環境及方法之彈性本質。為達本實例之目的，如所示，第一DUT 30a傳輸具有信號頻寬為80MHz(BW80)、160MHz(BW160)以及40MHz(BW40)之一資料封包信號序列131a。同樣地，如所示，第二DUT 30b傳輸亦具有頻寬為80、160以及40MHz之一資料封包信號序列131b。如所示，在前兩個信號子序列S1及S2期間，第一DUT信號131aa、131ab及第二DUT信號131ba、131bb係分別由第一測試器20a及第二測試器20b所接收。在第三子序列S3期間， 第一DUT信號131ac及第二DUT信號131bc為寬頻信號，亦即其信號頻寬超過測試器接收器22a、22b的信號頻寬。因此，第一DUT信號131ac係傳遞(例如，經由路由電路系統14)至兩個測試器20a、20b並由其等所接收，其中一部分131aca(例如，信號頻寬的較高半部)係由第一測試器20a所接收，而另一部分131acb(例如，信號頻寬的較低半部)係由第二測試器20b所接收，如所示。同時，第二DUT信號131bc未由測試器20a、20b之任一者所接收(例如，且就在路由電路系統14內終止)。
同樣地，在子序列S4、S5及S6期間，DUT信號為寬頻信 號。因此，在子序列S4期間，第二DUT信號131bd之各自部分131bda、131bdb係由第一測試器20a及第二測試器20b所接收，而第一DUT信號131ad則未予以使用。在子序列S5期間，各自部分131aea、131aeb係由第一測試器20a及第二測試器20b所接收，而第二DUT信號131be則未予以使用。同樣地，在子序列S6期間，第二DUT信號131bf之各自部分131bfa、131bfb係由第一測試器20a及第二測試器20b所接收，而第一DUT信號131af則未予以使用。隨後，在子序列S7期間，DUT信號131ag、131bg為窄頻信號，亦即其信號頻寬不大於測試器接收器22a、22b之信號頻寬。因此，第一DUT信號131ag及第二DUT信號131bg係分別傳遞至第一測試器20a及第二測試器20b且由其等所接收。
參照圖6，根據進一步例示性實施例，可在上述DUT信號 接收期間，將測試器配置成令具有頻寬B1之第一接收器頻寬23a以第一標稱載波頻率C1為中心，而令第二資料封包信號接收頻寬23b以另一(例如，較高)標稱載波頻率C2為中心。這些載波頻率C1、C2較佳是以頻帶D予 以分離，而頻帶D則大於各自接收器頻寬23a/B1、23b/B2(亦即D>B且D>B2)之任一者。所以，分離之接收器頻寬B1、B2允許測試一具有以頻率C為中心之兩個非連續信號帶之資料封包信號。
對熟悉此項技術者而言，在不背離本發明的精神及範圍下，可輕易構思出本發明的結構和操作方法之各種其他修改及替代例。儘管已藉由特定較佳實施例說明本發明，應理解本發明如所請求不應過度地受限於此等特定實施例。吾人意欲以下列的申請專利範圍界定本發明的範疇且意欲藉以涵蓋該申請專利範圍之範疇內之結構與方法以及其均等者。

Claims (20)

  1. 一種設備，其包括一用於使用具有較窄資料封包信號頻寬之多個資料封包信號接收器來測試具有較寬資料封包信號頻寬之多個資料封包信號傳輸器之系統，該設備包含：第一及第二信號路徑，其等分別用於從一或多個受測裝置(DUT)傳遞具有複數個資料封包信號傳輸頻寬之第一及第二資料封包信號，該複數個資料封包信號傳輸頻寬包括第一及第二資料封包信號傳輸頻寬，該等第一及第二資料封包信號傳輸頻寬之各者不大於一預定頻寬，且實質上以各自的一DUT資料封包信號載波頻率為中心，該DUT資料封包信號載波頻率介於第一與第二資料封包信號載波頻率之間；第一及第二測試器，其等分別具有第一及第二資料封包信號測試接收器，且經調適以在包括一第一測試模式之複數個測試模式下分別以第一及第二資料封包信號接收頻寬進行運作，該等第一及第二資料封包信號接收頻寬之各者小於該預定頻寬、不小於該預定頻寬之一半，且分別以該等第一及第二資料封包信號載波頻率為中心，該等第一及第二資料封包信號載波頻率之間係以不大於該等第一及第二資料封包信號接收頻寬之一者予以分離；以及信號路由電路系統，其位於該等第一及第二信號路徑與該等第一及第二測試器之外部並且耦接於其間，並且回應一或多個路由控制信號而將該等第一及第二資料封包信號路由至該等第一及第二測試器，其中在一第一時間間隔期間，該第一資料封包信號之一第一部分 係由該等第一及第二測試器之一者所接收，而該第一資料封包信號之一第二部分係由該等第一及第二測試器之另一者所接收，且在一第二時間間隔期間，該第二資料封包信號之一第一部分係由該等第一及第二測試器之一者所接收，而該第二資料封包信號之一第二部分係由該等第一及第二測試器之另一者所接收。
  2. 如請求項1所述之設備，其中該第二時間間隔係繼該第一時間間隔之後。
  3. 如請求項1所述之設備，其中：該第一資料封包信號之該第一部分係在該第一時間間隔之一第一部分期間，由該等第一及第二測試器之該一者所接收；該第一資料封包信號之該第二部分係在該第一時間間隔之一第二部分期間，由該等第一及第二測試器之該另一者所接收；該第二資料封包信號之該第一部分係在該第二時間間隔之一第一部分期間，由該等第一及第二測試器之該一者所接收；及該第二資料封包信號之該第二部分係在該第二時間間隔之一第二部分期間，由該等第一及第二測試器之該另一者所接收。
  4. 如請求項3所述之設備，其中：該第一時間間隔之該第二部分係繼該第一時間間隔之該第一部分之後；以及該第二時間間隔之該第二部分係繼該第二時間間隔之該第一部分之後。
  5. 如請求項1所述之設備，其中該等第一及第二測試器係互相耦接以共 用一測試器同步化信號及一測試器頻率參考信號中至少一者。
  6. 如請求項5所述之設備，其更包含耦接至該等第一及第二測試器之一或多個信號源，用以提供該測試器同步化信號及該測試器頻率參考信號中至少一者。
  7. 如請求項1所述之設備，其中該等第一及第二信號路徑包含第一及第二傳導射頻(RF)信號路徑。
  8. 如請求項1所述之設備，其中該信號路由電路系統包含：耦接至該等第一及第二信號路徑之信號劃分電路系統；及耦接於該信號劃分電路系統與該等第一及第二測試器之間之信號交換電路系統。
  9. 如請求項1所述之設備，其中：該等第一及第二測試器係更經調適以在一第二測試模式下分別以第三及第四資料封包信號接收頻寬進行運作；以及在至少一第三時間間隔期間，該第一資料封包信號係由該等第一及第二測試器之一者所接收，而該第二資料封包信號係由該等第一及第二測試器之另一者所接收。
  10. 如請求項1所述之設備，其中該等第一及第二測試器係更經調適以在一第二測試模式下分別以第三及第四資料封包信號接收頻寬進行運作，該等第三及第四資料封包信號接收頻寬之各者小於該預定頻寬，且分別以該等第一及第二資料封包信號載波頻率為中心，該等第一及第二資料封包信號載波頻率之間係以大於該等第一及第二資料封包信號接收頻寬之一者予以分離。
  11. 一種用於使用具有較窄資料封包信號頻寬之多個資料封包信號接收器來測試具有較寬資料封包信號頻寬之多個資料封包信號傳輸器之方法，該方法包含：提供第一及第二信號路徑，以分別用於從一或多個受測裝置(DUT)傳遞具有複數個資料封包信號傳輸頻寬之第一及第二資料封包信號，該複數個資料封包信號傳輸頻寬包括第一及第二資料封包信號傳輸頻寬，該等第一及第二資料封包信號傳輸頻寬之各者不大於一預定頻寬，且實質上以各自的一DUT資料封包信號載波頻率為中心，該DUT資料封包信號載波頻率介於第一及第二資料封包信號載波頻率之間；提供分別具有第一及第二資料封包信號測試接收器的第一及第二測試器，且經調適以在包括一第一測試模式之複數個測試模式下分別以第一及第二資料封包信號接收頻寬進行運作，該等第一及第二資料封包信號接收頻寬之各者小於該預定頻寬、不小於該預定頻寬之一半，且分別以該等第一及第二資料封包信號載波頻率為中心，該等第一及第二資料封包信號載波頻率之間係以不大於該等第一及第二資料封包信號接收頻寬之一者予以分離；以及以外部方式將該等第一及第二資料封包信號路由至該等第一及第二測試器，其中在一第一時間間隔期間，該第一資料封包信號之一第一部分係由該等第一及第二測試器之一者所接收，而該第一資料封包信號之一第二部分係由該等第一及第二測試器之另一者所接收，且在一第二時間間隔期間，該第二資料封包信號之一第一部分 係由該等第一及第二測試器之一者所接收，而該第二資料封包信號之一第二部分係由該等第一及第二測試器之另一者所接收。
  12. 如請求項11所述之方法，其中該第二時間間隔係繼該第一時間間隔之後。
  13. 如請求項11所述之方法，其中：該第一資料封包信號之該第一部分係在該第一時間間隔之一第一部分期間，由該等第一及第二測試器之該一者所接收；該第一資料封包信號之該第二部分係在該第一時間間隔之一第二部分期間，由該等第一及第二測試器之該另一者所接收；該第二資料封包信號之該第一部分係在該第二時間間隔之一第一部分期間，由該等第一及第二測試器之該一者所接收；及該第二資料封包信號之該第二部分係在該第二時間間隔之一第二部分期間，由該等第一及第二測試器之該另一者所接收。
  14. 如請求項13所述之方法，其中：該第一時間間隔之該第二部分係繼該第一時間間隔之該第一部分之後；以及該第二時間間隔之該第二部分係繼該第二時間間隔之該第一部分之後。
  15. 如請求項11所述之方法，其進一步包含在該等第一與第二測試器之間，共用一測試器同步化信號及一測試器頻率參考信號中至少一者。
  16. 如請求項11所述之方法，其更包含對該等第一與第二測試器提供一測試器同步化信號及一測試器頻率參考信號中至少一者。
  17. 如請求項11所述之方法，其中該提供第一及第二信號路徑包含提供第一及第二傳導射頻(RF)信號路徑。
  18. 如請求項11所述之方法，其中該將該等第一及第二資料封包信號路由至該等第一及第二測試器包含：複製該等第一及第二資料封包信號；以及交換該等複製之第一及第二資料封包信號。
  19. 如請求項11所述之方法，其中：該等第一及第二測試器係更經調適以在一第二測試模式下分別以第三及第四資料封包信號接收頻寬進行運作；以及在至少一第三時間間隔期間，該第一資料封包信號係由該等第一及第二測試器之一者所接收，而該第二資料封包信號係由該等第一及第二測試器之另一者所接收。
  20. 如請求項11所述之方法，其中該等第一及第二測試器係更經調適以在一第二測試模式下分別以第三及第四資料封包信號接收頻寬進行運作，該等第三及第四資料封包信號接收頻寬之各者小於該預定頻寬，且係分別以該等第一及第二資料封包信號載波頻率為中心，該等第一及第二資料封包信號載波頻率之間係以大於該等第一及第二資料封包信號接收頻寬之一者予以分離。
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