TWI603060B - 物件自動校正方法及其自動校正檢測裝置 - Google Patents

Description

物件自動校正方法及其自動校正檢測裝置

本發明是有關於一種物件自動校正的技術領域，特別是關於一種應用自動光學檢測的物件自動校正方法及其自動校正檢測裝置。

在習知的顯示面板的光學檢測中，大多須先進行一校正動作，以使顯示面板正對於光學檢測的攝像單元，藉此以排除顯示面板未正對於攝像單元時所可能產生的摩爾紋（Moiré pattern），其原因在於若攝像單元時所擷取的影像產生摩爾紋時可能造成顯示面板的誤判定。

在習知的上述校正動作，大多使用人為方式進行。舉例來說，先將顯示面板固定於工作台上，並透過顯示單元觀看攝像單元時所擷取的影像，再依據人為判斷方式手動的調整攝像單元的位置。此種人為校正的方式往往須花費許多的時間來進行。另外，由於為人為進行判斷校正，因此不同的校正人員，其所校正出的結果亦不相同，從而產生了校正標準的再現性問題。此外，對於培養出一個可適當進行校正的校正人員亦須花費許多的時間及人力。

綜觀前所述，本發明之發明人經多年潛心研究，設計了一種物件自動校正方法及其自動校正檢測裝置，以針對現有技術之缺失加以改善，進而增進產業上之實施利用。

有鑑於上述習知技藝之問題，本發明之目的就是在於提供一種物件自動校正方法及其自動校正檢測裝置，以改善上述習知技術所產生的問題。

根據本發明之目的，提供一種物件自動校正方法，以應用於攝像單元對準於待測物件，其包含下列步驟：利用攝像單元擷取固定於工作台的待測物件以獲得複數個影像；使攝像單元對焦於待測物件，並依據影像中整體之對焦值與局部的對焦值使攝像單元於X軸向及Y軸向位移，使攝像單元的感光元件與待測物件之間呈平行對位關係；根據物件沿Y軸向排列的複數個特徵以形成假想線，並依據假想線偏離Y軸的傾斜度轉動攝像單元的Z軸向的角度，以使傾斜度趨近於0；根據物件沿Y軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的第一尺寸差異趨勢，並依據第一尺寸差異趨勢轉動攝像單元的X軸向的角度，以使第一尺寸差異趨勢趨近於0；根據物件沿X軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的第二尺寸差異趨勢，並依據第二尺寸差異趨勢轉動攝像單元的Y軸向的角度，以使第二尺寸差異趨勢趨近於0；以及調整攝像單元之焦距，使待測物件沿X軸及Y軸向排列的複數個特徵的數量與該攝像單元之感光元件符合一映射（Mapping）值。

較佳地，依據影像中整體之對焦值與局部的對焦值使攝像單元於X軸向及Y軸向位移，更包含下列步驟：以使影像中整體之對焦值與局部的對焦值的差異趨近於0，進而影像中待測物件皆於攝像單元之合焦範圍內。

較佳地，所述使攝像單元對焦於待測物件的步驟之後更可包含下列步驟：調整攝像單元之焦距並使攝像單元於Z軸位移，以局部取樣待測物件，而使沿X軸及Y軸向排列的複數個特徵的數量與攝像單元之感光元件符合映射（Mapping）值範圍，進而使攝像單元的感光元件與待測物件在XY象限上對準。

根據本發明之目的，另提供一種物件自動校正方法，以應用於攝像單元對準於待測物件，其包含下列步驟：利用攝像單元擷取固定於工作台的待測物件以獲得複數個影像；根據待測物件沿Y軸向排列的複數個特徵以形成假想線，並依據假想線偏離Y軸的傾斜度轉動攝像單元的Z軸向的角度，以使傾斜度趨近於0；根據待測物件沿Y軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的第一尺寸差異趨勢，並依據第一尺寸差異趨勢轉動攝像單元的X軸的角度，以使第一尺寸差異趨勢趨近於0；以及根據待測物件沿X軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的第二尺寸差異趨勢，並依據第二尺寸差異趨勢轉動攝像單元的Y軸的角度，以使第二尺寸差異趨勢趨近於0。

較佳地，更可包含下列步驟：判斷傾斜度大於0時，控制攝像單元沿Z軸向往逆時針方向轉動；或，判斷傾斜度小於0時，控制攝像單元沿Z軸向往順時針方向轉動。

較佳地，更可包含下列步驟：判斷第一尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中下至上逐漸變大時，控制攝像單元沿X軸往順時針方向轉動；或，判斷第一尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中下至上逐漸變小時，控制攝像單元沿X軸向往逆時針方向轉動。

較佳地，更可包含下列步驟：判斷第二尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中左至右逐漸變大時，控制攝像單元沿Y軸往順時針方向轉動；或，判斷第二尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中左至右逐漸變小時，控制攝像單元沿Y軸向往逆時針方向轉動。

根據本發明之目的，再提供一種自動校正檢測裝置，以應用於檢測一顯示面板。自動校正檢測裝置包含工作台、攝像單元、位移模組以及處理模組。其中，工作台配置以固定顯示面板。攝像單元相對於顯示面板設置，以擷取顯示面板而獲得複數個影像。位移模組連接攝像單元，以帶動攝像單元分別沿X、Y、Z軸向進行移動或轉動。處理模組連接攝像單元及位移模組；處理模組由複數個影像中辨識出顯示面板沿Y軸向排列的複數個特徵以形成假想線，並依據假想線偏離Y軸的傾斜度轉動攝像單元的Z軸向的角度，以使傾斜度趨近於0；處理模組辨識出顯示面板沿Y軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的一第一尺寸差異趨勢，並依據第一尺寸差異趨勢轉動攝像單元的X軸的角度，以使第一尺寸差異趨勢趨近於0；處理模組辨識出顯示面板沿X軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的第二尺寸差異趨勢，並依據第二尺寸差異趨勢轉動攝像單元的Y軸的角度，以使第二尺寸差異趨勢趨近於0。

較佳地，處理模組判斷傾斜度大於0時控制位移模組使攝像單元沿Z軸向往逆時針方向轉動，而判斷該傾斜度小於0時控制位移模組使攝像單元沿Z軸向往順時針方向轉動。

較佳地，處理模組判斷第一尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中下至上逐漸變大時控制位移模組使攝像單元沿X軸往順時針方向轉動，而判斷第一尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中下至上逐漸變小時控制位移模組使攝像單元沿X軸向往逆時針方向轉動。

較佳地，處理模組判斷第二尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中左至右逐漸變大時控制位移模組使攝像單元沿Y軸往順時針方向轉動，而判斷第二尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中左至右逐漸變小時控制位移模組使攝像單元沿Y軸向往逆時針方向轉動。

較佳地，處理模組控制該攝像單元分別擷取顯示面板的複數個區域，以獲得複數個區域影像，且處理模組將複數個區域影像拼接為拼接影像。

較佳地，處理模組對拼接影像進行一亮度均勻化，以使拼接影像亮度一致。

較佳地，處理模組對拼接影像進行一灰度融合，以消除複數個區域影像拼接時產生於拼接影像中的一拼接線。

較佳地，自動校正檢測裝置更可包含除塵模組，其設置於工作台以清除顯示面板上的異物。

較佳地，除塵模組包含一吹氣單元，其對顯示面板吹氣以清除顯示面板上的異物。

較佳地，除塵模組包含一滾刷單元，其配置以往復地於顯示面板上移動以刷除或黏除顯示面板上的異物。

以下將以具體之實施例配合所附的圖式詳加說明本發明之技術特徵，以使所屬技術領域具有通常知識者可易於瞭解本發明之目的、技術特徵、及其優點。

為利貴審查員瞭解本創作之技術特徵、內容與優點及其所能達成之功效，茲將本發明配合附圖，並以實施例之表達形式詳細說明如下，而其中所使用之圖式，其主旨僅為示意及輔助說明書之用，未必為本發明實施後之真實比例與精準配置，故不應就所附之圖式的比例與配置關係解讀、侷限本發明於實際實施上的權利範圍，合先敘明。

以下將參照相關圖式，說明依本發明的物件自動校正方法及其自動校正檢測裝置的實施例，為使便於理解，下述實施例中之相同元件係以相同之符號標示來說明。

請參閱第1圖，其為本發明的物件自動校正方法的第一實施例的步驟圖。本發明的物件自動校正方法用於使攝像單元對準於待測物件，特別是使攝像單元的感光元件的感光面平行並正對與待測物件的預定表面，以供進行相關的光學檢測之用。物件自動校正方法包含下列步驟：（S11）利用攝像單元擷取固定於工作台的待測物件以獲得複數個影像；（S12）使攝像單元對焦於待測物件，並依據影像中整體之對焦值與局部的對焦值使攝像單元於X軸向及Y軸向位移，使攝像單元的感光元件與待測物件之間的呈平行對位關係；（S13）調整攝像單元之焦距並使攝像單元於Z軸向位移，以局部取樣待測物件，而使沿X軸向及Y軸向排列的複數個特徵的數量與攝像單元之感光元件符合一映射（Mapping）值範圍，進而使攝像單元的感光元件與待測物件之間在XY象限上對準；（S14）根據待測物件沿Y軸向排列的複數個特徵以形成假想線，並依據假想線偏離Y軸的傾斜度轉動攝像單元的Z軸向的角度，以使傾斜度趨近於0；（S15）根據物件沿Y軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的一第一尺寸差異趨勢，並依據第一尺寸差異趨勢轉動攝像單元的X軸向的角度，以使第一尺寸差異趨勢趨近於0；（S16）根據物件沿X軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的一第二尺寸差異趨勢，並依據第二尺寸差異趨勢轉動攝像單元的Y軸向的角度，以使第二尺寸差異趨勢趨近於0；以及（S17）調整攝像單元之焦距，使待測物件沿X軸及Y軸向排列的複數個特徵的數量與攝像單元之感光元件符合映射（Mapping）值。

本發明的物件自動校正方法藉由上述的步驟可快速的使攝像單元對準於物件，且檢測標準的再現性高而可避免人為校正時標準不一所產生的種種問題。

請配合參閱第2圖。值得特別說明的是，上述中步驟（S12）所述的依據影像中整體之對焦值與局部的對焦值使攝像單元於X軸向及Y軸向位移的粗調整，其係指依據影像中整體之對焦值與局部的對焦值，使攝像單元於X軸向及Y軸向進行順時針或逆時針的旋轉位移，從而讓影像中整體之對焦值與局部的對焦值盡量的接近。也就是說，在進行X軸向及Y軸向的粗調整後，攝像單元所擷取的影像中的待測物件皆位於攝像單元的合焦範圍（或稱對焦範圍）內，從而達到呈平行對位關係。

此外，上述中步驟（S13）所述的調整攝像單元之焦距並使攝像單元於Z軸向位移，其中若攝像單元為具有定焦鏡頭時，Z軸向位移可包含攝像單元與待測物件之間的距離的縮短或變長的位移及攝像單元自身沿著Z軸向旋轉的位移，而若攝像單元為具有變焦鏡頭時，Z軸向位移則包含攝像單元自身沿著Z軸向旋轉的位移。值得一提的是，上述中步驟（13）在實際運用中可予以省略，故應不何僅以上述作為侷限。

上述中，映射（Mapping）值是指影像中顯示的待測物件所具有的複數個特徵，其數量與攝像單元的感光元件（例如影像擷取範圍或像素）呈比例配置，例如呈一預定比例配置。其中，若攝像單元與待測物之間的Z軸向關係差異過大時，可能使得影像中具有無法完整顯示出某一個特徵，此時即無法完整的算出區塊的映射值，因此藉由Z軸向旋轉的位移，而使影像中沒有無法完整顯示出的特徵，以完整算出區塊之映射值，而藉此亦可對於攝像單元與待測物之間的Z軸向關係進行粗調整。

上述中仍未進行說明的部分，將結合下一個實施例一併進行說明。

請參閱第3圖，其為本發明的物件自動校正方法的第二實施例的步驟圖。於本實施例中僅揭示前一實施例中的步驟（S14）、（S15）及（S16）。也就是說，本發明的物件自動校正方法，即便在沒有前一實施例的步驟（S12）及（S13）的條件下，亦能進行實施例。

本實施例的物件自動校正方法包含下列步驟：（S31）利用攝像單元擷取固定於工作台的待測物件以獲得複數個影像；（S32）根據待測物件沿Y軸向排列的複數個特徵以形成假想線，並依據假想線偏離Y軸的傾斜度轉動攝像單元的Z軸向的角度，以使傾斜度趨近於0；（S33）根據待測物件沿Y軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的第一尺寸差異趨勢，並依據第一尺寸差異趨勢轉動攝像單元的X軸的角度，以使第一尺寸差異趨勢趨近於0；以及（S34）根據待測物件沿X軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的第二尺寸差異趨勢，並依據第二尺寸差異趨勢轉動攝像單元的Y軸的角度，以使第二尺寸差異趨勢趨近於0。

本發明的物件自動校正方法藉由上述的步驟可快速的使攝像單元對準於待測物件，且檢測標準的再現性高而可避免人為校正時標準不一所產生的種種問題。

請參閱第4圖，其為本發明的物件自動校正方法的Z軸向校正示意圖。如圖所示，就上述步驟（S14）及（S32）更進一步來說，由於攝像單元擷取固定於工作台的待測物件而獲得複數個影像，因此可利用適當元件，例如處理模組，由複數個影像中的一個影像或複數個影像辨識出沿Y軸向排列的複數個特徵，接著再利用辨識出的複數個特徵形成一假想線並作進一步的判斷假想線相對於Y軸的傾斜度。其中，當判斷傾斜度大於0時，控制攝像單元沿Z軸向往逆時針方向轉動以使傾斜度趨近於0，而當判斷傾斜度小於0時，控制攝像單元沿Z軸向往順時針方向轉動以使傾斜度趨近於0。

上述中傾斜度大於0，其例如為假想線為由右上往左下傾斜，而上述中傾斜度小於0，其例如為假想線為由左上往右下傾斜。藉由控制攝像單元沿Z軸向往預定方向轉動，從而可使待測物件的預定表面正對於攝像單元的感光元件。也就是說，假設待測物件的預定表面為四邊形，藉此可使四邊形的四邊平行於感光元件的四邊。上述中雖指為平行，然而在實際運用中，亦可設置允許範圍，例如待測物件的預定表面與攝像單元的感光元件在Z軸向上的偏移量為±10度的允許範圍。

請參閱第5圖，其為本發明的物件自動校正方法的X軸向校正示意圖。如圖所示，就上述步驟（S15）及（S33）更進一步來說，可利用如處理模組等的適當元件由複數個影像中的一個影像或複數個影像辨識出沿Y軸向排列的複數個特徵，並利用獲得的複數個特徵決定出各特徵的第一尺寸差異趨勢以作進一步的判斷。其中，當判斷第一尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中下至上逐漸變大（如第5圖的（a）所示）時，控制攝像單元沿X軸往順時針方向轉動以使第一尺寸差異趨勢趨近於0，而當判斷第一尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中下至上逐漸變小（如第5圖的（b）所示）時，控制攝像單元沿X軸向往逆時針方向轉動使第一尺寸差異趨勢趨近於0。

請參閱第6圖，其為本發明的物件自動校正方法的Y軸向校正示意圖。如圖所示，就上述步驟（S16）及（S34）更進一步來說，可利用如處理模組等的適當元件由複數個影像中的一個影像或複數個影像辨識出沿X軸向排列的複數個特徵，並利用獲得的複數個特徵決定出各特徵的第二尺寸差異趨勢以作進一步的判斷。其中，當判斷第二尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中左至右逐漸變大（如第6圖的（a）所示）時，控制攝像單元沿Y軸往順時針方向轉動，以使第二尺寸差異趨勢趨近於0；或，判斷第二尺寸差異趨勢為複數個特徵由畫面中左至右逐漸變小（如第6圖的（b）所示）時，控制攝像單元沿Y軸向往逆時針方向轉動，以使第二尺寸差異趨勢趨近於0。

就上述步驟（S15）及（S33）與步驟（S16）及（S34）來說，其同樣地可設置允許範圍，例如待測物件的預定表面與攝像單元的感光元件在X軸向及Y軸向上的偏移量為±6度的允許範圍。

本發明的物件自動校正方法藉上影像擷取與辨識，從而控制攝像單元分別對X、Y、Z軸向作預定方向的旋轉，其可使攝像單元快速且確實地對準於待測物件。

值得特別一提的是，上述對X、Y、Z軸向的偏移判斷，可利用標準差法（standard deviation）結合線性廻歸（linear regression）加以實施。

以下將本發明的物件自動校正方法應用於一自動校正檢測裝置作進一步說明。

請參閱第7、8圖，其為本發明的自動校正檢測裝置的方塊示意圖及結構示意圖。如圖所示，自動校正檢測裝置100應用於檢測待測物件，即顯示面板9，以使顯示面板9的顯示面正對於光學檢測單元，如攝像單元20，或使光學檢測單元，如攝像單元20的感光元件的感光面，正對於顯示面板9的顯示面。也就是說，本發明的物件自動校正方法中的物件，其在不同的運用情況之下，可指待測物件（如顯示面板9），或光學檢測單元（如攝像單元20），故不可僅以本實施例中的應用作為侷限。

自動校正檢測裝置100包含了工作台10、攝像單元20、位移模組30以及處理模組40。其中，工作台10配置以固定顯示面板9，其中工作台10可利用複數個壓制塊，並以顯示面板9的其中相鄰兩邊作為基準邊，而穩定地壓制固定顯示面板9於工作台10上。攝像單元20可為線性（line-scan）攝影機或陣列（array）攝影機，其配置於工作台10的上方，以相對於顯示面板9，從而可對著顯示面板9的顯示面擷取出複數個影像。位移模組30可包含複數個如馬達的驅動單元及複數個如螺桿的驅動桿，並使攝像單元20固定於其上，從而帶動攝像單元20分別沿X、Y、Z軸向進行移動或轉動。其中，攝像單元20設置於位移模組30，且藉由位移模組30使攝像單元20沿X、Y、Z軸向進行移動或轉動的進一步實施方式為所屬技術領域的通常知識者所熟知，於此便不再加以贅述。

處理模組40可為中央處理器、微處理器等元件，亦可為一台完整電腦中的處理器，或可為中央處理器、微處理器等元件整合軟體、韌體而加以實施。處理模組40電性連接攝像單元20以獲得其所擷取的複數個影像，且電性連接位移模組30以控制其運作。其中，處理模組40可分別不限定順序地對X、Y、Z軸向進行校正，較佳地可以Z軸向校正作為優先，而不限定順序地對X、Y軸向進行校正。

在實際運用中，先點亮顯示面板9以使其運作，較佳地可使顯示面板9僅顯示單色畫面。接著，再利用攝像單元20連續地對著顯示面板9擷取影像，從而處理模組40可經由攝像單元20獲得複數個影像，其中此影像，例如可為實際拍攝的影像，或供即時觀看的暫時影像。接著再依據獲得的複數個影像進行物件對準的粗調整及細調整，粗調整如上述步驟（S12）、（S13），而細調整如上述步驟（S14）～（S16）。

就粗調整方面而言，處理模組40可控制攝像單元20對顯示面板9進行對焦，而由影像中獲得顯示面板9的顯示面的整體之對焦值與局部的對焦值，據以使攝像單元20沿著X軸向、Y軸向進行位移，從而使顯示面板9的整個顯示面均落於合焦範圍之內，即可完成X軸向及Y軸向的粗調整。接著，處理模組40可控制位移模組30及攝像單元20，以調整攝像單元20與顯示面板9之間的焦距距離，且可同時或分段進行地，使攝像單元20於Z軸向位移，以使影像中的顯示面板9的顯示面上沿著X軸向及Y軸向排列複數個特徵的數量，與攝像單元20的影像擷取範圍或像素等呈比例範圍配置，同時地，為了使影像中可完整顯示出各特徵，處理模組40可控制使沿著Z軸向旋轉的位移。因此，亦可對於攝像單元20與顯示面板9之間的Z軸向關係進行粗調整。

就細調整方而言，處理模組40可由複數個影像中辨識出顯示面板9沿Y軸向排列的複數個特徵，例如像素，以形成假想線，並依據假想線偏離Y軸的傾斜度轉動攝像單元的Z軸向的角度，以使傾斜度趨近於0。在Z軸向校正後，處理模組40可再由複數個影像中辨識出顯示面板9沿Y軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的一第一尺寸差異趨勢，並依據第一尺寸差異趨勢控制位移模組30轉動攝像單元的X軸的角度，以使第一尺寸差異趨勢趨近於0，以進行X軸向的校正。最後，處理模組40再由複數個影像中辨識出顯示面板9沿X軸向排列的複數個特徵以獲得的複數個特徵的第二尺寸差異趨勢，並依據第二尺寸差異趨勢控制位移模組30轉動攝像單元的Y軸的角度，以使第二尺寸差異趨勢趨近於0，以進行Y軸向的校正。

上述中對X、Y、Z軸向進行校正已於本發明的物件自動校正方法中進行說明，於此便不再加以贅述。

值得特別說明的是，自動校正檢測裝置100可包含一顯示單元50，以顯示攝像單元20所擷取的影像，且其可以LCD影像或CCD影像的方式進行顯示。另外，在進行X、Y、Z軸向校正之前，處理模組40可控制攝像單元20獨自地進行對焦，或搭配位移模組30進行對焦，以使欲合焦區域具有較高的對焦值，從而進行預定Mapping值的局部取樣，以進行X、Y、Z軸向校正。

此外，在進行X、Y、Z軸向校正之前，可先進行顯示面板9的顯示面上異物清除的程序。進一步來說，自動校正檢測裝置100可包含一除塵模組60，其可為如噴嘴等吹氣單元，或為刷子或具黏性的滾刷單元。其中，當除塵模組60為吹氣單元時，其可設置於工作台10上且位於顯示面板9的周圍，以對顯示面板9吹氣，從而清除顯示面板9上的異物。而當除塵模組60為滾刷單元時，其可搭配齒條或螺桿及馬達等元件，以往復地於顯示面板9上移動以刷除或黏除顯示面板9上的異物。藉由顯示面板9的異物清除，其可利於後續的X、Y、Z軸向的校正作業及更後續的顯示面板9的檢測作業。

在X、Y、Z軸向校正完成後，自動校正檢測裝置100可進一步的進行影像拼接等程序，以利於後續的顯示面板9的檢測作業。

進一步來說，處理模組40可控制位移模組30使攝像單元20移動，以控制攝像單元20分別擷取顯示面板9的複數個區域，以獲得複數個區域影像。舉例來說，可將顯示面板9區分為左半邊與右半邊，以分別擷取左半邊的區域影像及右半邊的區域影像；或者是，在尺寸較大的顯示面板9時將顯示面板9區分為2x2的區域，以分別擷取各區域的區域影像。接著，處理模組40將所獲得的複數個區域影像拼接為一拼接影像，以作為後續顯示面板9的檢測作業之用。

在上述中，處理模組40可進一步地利用影像灰度校正演算法以進行亮度均勻化，以使拼接影像亮度一致；另外，利用影像拼接演算法以進行一灰度融合，消除複數個區域影像拼接時產生於拼接影像中的一拼接線。

以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。

100：自動校正檢測裝置 10：工作台 20：攝像單元 30：位移模組 40：處理模組 50：顯示單元 60：除塵模組 9：顯示面板 S11～S17：步驟 S31～S34：步驟

第1圖　係為本發明的物件自動校正方法的第一實施例的步驟圖。 第2圖　係為本發明的物件自動校正方法的X軸向及Y軸向粗調整的校正示意圖。 第3圖　係為本發明的物件自動校正方法的第二實施例的步驟圖。 第4圖　係為本發明的物件自動校正方法的Z軸向校正示意圖。 第5圖　係為本發明的物件自動校正方法的X軸向校正示意圖。 第6圖　係為本發明的物件自動校正方法的Y軸向校正示意圖。 第7圖　係為本發明的自動校正檢測裝置的方塊示意圖。 第8圖　係為本發明的自動校正檢測裝置的結構示意圖。

S11～S17：步驟

Claims (20)

1. 一種物件自動校正方法，係應用於使一攝像單元對準於一待測物件，其包含下列步驟： 利用該攝像單元擷取固定於一工作台的該待測物件以獲得複數個影像； 使該攝像單元對焦於該待測物件，並依據該影像中整體之對焦值與局部的對焦值使該攝像單元於X軸及Y軸位移，使該攝像單元的感光元件與該待測物件之間呈平行對位關係； 根據該待測物件沿Y軸向排列的該複數個特徵以形成一假想線，並依據該假想線偏離Y軸的傾斜度轉動該攝像單元的Z軸向的角度，以使該傾斜度趨近於0； 根據該物件沿Y軸向排列的該複數個特徵以獲得的該複數個特徵的一第一尺寸差異趨勢，並依據該第一尺寸差異趨勢轉動該攝像單元的X軸的角度，以使該第一尺寸差異趨勢趨近於0； 根據該物件沿X軸向排列的該複數個特徵以獲得的該複數個特徵的一第二尺寸差異趨勢，並依據該第二尺寸差異趨勢轉動該攝像單元的Y軸的角度，以使該第二尺寸差異趨勢趨近於0；以及 調整該攝像單元之焦距，使該待測物件沿X軸及Y軸向排列的複數個特徵的數量與該攝像單元之感光元件符合一映射（Mapping）值。
2. 如申請專利範圍第1項所述的物件自動校正方法，其中依據該影像中整體之對焦值與局部的對焦值使該攝像單元於X軸及Y軸位移，更包含下列步驟： 以使該影像中整體之對焦值與局部的對焦值的差異趨近於0，進而該影像中該待測物件皆於該攝像單元之合焦範圍內。
3. 如申請專利範圍第1項所述的物件自動校正方法，其更包含下列步驟： 判斷該傾斜度大於0時，控制該攝像單元沿Z軸向往逆時針方向轉動； 或，判斷該傾斜度小於0時，控制該攝像單元沿Z軸向往順時針方向轉動。
4. 如申請專利範圍第1項所述的物件自動校正方法，其更包含下列步驟： 判斷該第一尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中下至上逐漸變大時，控制該攝像單元沿X軸往順時針方向轉動； 或，判斷該第一尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中下至上逐漸變小時，控制該攝像單元沿X軸向往逆時針方向轉動。
5. 如申請專利範圍第1項所述的物件自動校正方法，其更包含下列步驟： 判斷該第二尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中左至右逐漸變大時，控制該攝像單元沿Y軸往順時針方向轉動； 或，判斷該第二尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中左至右逐漸變小時，控制該攝像單元沿Y軸向往逆時針方向轉動。
6. 如申請專利範圍第1項所述的物件自動校正方法，其中所述使該攝像單元對焦於該待測物件的步驟之後更包含下列步驟： 調整該攝像單元之焦距並使該攝像單元於Z軸位移，以局部取樣該待測物件，而使沿X軸及Y軸向排列的複數個特徵的數量與該攝像單元之感光元件符合一映射（Mapping）值範圍，進而使該攝像單元與該待測物件在XY象限上對準。
7. 一種物件自動校正方法，係應用於使一攝像單元對準於一待測物件，其包含下列步驟： 利用該攝像單元擷取固定於一工作台的該待測物件以獲得複數個影像； 根據該待測物件沿Y軸向排列的複數個特徵以形成一假想線，並依據該假想線偏離Y軸的傾斜度轉動該攝像單元的Z軸向的角度，以使該傾斜度趨近於0； 根據該待測物件沿Y軸向排列的該複數個特徵以獲得的該複數個特徵的一第一尺寸差異趨勢，並依據該第一尺寸差異趨勢轉動該攝像單元的X軸的角度，以使該第一尺寸差異趨勢趨近於0；以及 根據該待測物件沿X軸向排列的該複數個特徵以獲得的該複數個特徵的一第二尺寸差異趨勢，並依據該第二尺寸差異趨勢轉動該攝像單元的Y軸的角度，以使該第二尺寸差異趨勢趨近於0。
8. 如申請專利範圍第7項所述的物件自動校正方法，其更包含下列步驟： 判斷該傾斜度大於0時，控制該攝像單元沿Z軸向往逆時針方向轉動； 或，判斷該傾斜度小於0時，控制該攝像單元沿Z軸向往順時針方向轉動。
9. 如申請專利範圍第7項所述的物件自動校正方法，其更包含下列步驟： 判斷該第一尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中下至上逐漸變大時，控制該攝像單元沿X軸往順時針方向轉動； 或，判斷該第一尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中下至上逐漸變小時，控制該攝像單元沿X軸向往逆時針方向轉動。
10. 如申請專利範圍第7項所述的物件自動校正方法，其更包含下列步驟： 判斷該第二尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中左至右逐漸變大時，控制該攝像單元沿Y軸往順時針方向轉動； 或，判斷該第二尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中左至右逐漸變小時，控制該攝像單元沿Y軸向往逆時針方向轉動。
11. 一種自動校正檢測裝置，係應用於檢測一顯示面板，其包含： 一工作台，係配置以固定該顯示面板； 一攝像單元，係相對於該顯示面板設置，以擷取該顯示面板以獲得複數個影像； 一位移模組，係連接該攝像單元，以帶動該攝像單元分別沿X、Y、Z軸向進行移動或轉動；以及 一處理模組，係連接該攝像單元及該位移模組，該處理模組由該複數個影像中辨識出該顯示面板沿Y軸向排列的複數個特徵以形成一假想線，並依據該假想線偏離Y軸的傾斜度轉動該攝像單元的Z軸向的角度，以使該傾斜度趨近於0，並辨識出該顯示面板沿Y軸向排列的該複數個特徵以獲得的該複數個特徵的一第一尺寸差異趨勢，並依據該第一尺寸差異趨勢轉動該攝像單元的X軸的角度，以使該第一尺寸差異趨勢趨近於0，且辨識出該顯示面板沿X軸向排列的該複數個特徵以獲得的該複數個特徵的一第二尺寸差異趨勢，並依據該第二尺寸差異趨勢轉動該攝像單元的Y軸的角度，以使該第二尺寸差異趨勢趨近於0。
12. 如申請專利範圍第11項所述的自動校正檢測裝置，其中該處理模組判斷該傾斜度大於0時控制該位移模組使該攝像單元沿Z軸向往逆時針方向轉動，而判斷該傾斜度小於0時控制該位移模組使該攝像單元沿Z軸向往順時針方向轉動。
13. 如申請專利範圍第11項所述的自動校正檢測裝置，其中該處理模組判斷該第一尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中下至上逐漸變大時控制該位移模組使該攝像單元沿X軸往順時針方向轉動，而判斷該第一尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中下至上逐漸變小時控制該位移模組使該攝像單元沿X軸向往逆時針方向轉動。
14. 如申請專利範圍第11項所述的自動校正檢測裝置，其中該處理模組判斷該第二尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中左至右逐漸變大時控制該位移模組使該攝像單元沿Y軸往順時針方向轉動，而判斷該第二尺寸差異趨勢為該複數個特徵由畫面中左至右逐漸變小時控制該位移模組使該攝像單元沿Y軸向往逆時針方向轉動。
15. 如申請專利範圍第11項所述的自動校正檢測裝置，其中該處理模組控制該攝像單元分別擷取該顯示面板的複數個區域，以獲得複數個區域影像，且該處理模組將該複數個區域影像拼接為一拼接影像。
16. 如申請專利範圍第15項所述的自動校正檢測裝置，其中該處理模組對該拼接影像進行一亮度均勻化，以使該拼接影像亮度一致。
17. 如申請專利範圍第15項所述的自動校正檢測裝置，其中該處理模組對該拼接影像進行一灰度融合，以消除該複數個區域影像拼接時產生於該拼接影像中的一拼接線。
18. 如申請專利範圍第11項所述的自動校正檢測裝置，其中更包含一除塵模組，其設置於該工作台以清除該顯示面板上的異物。
19. 如申請專利範圍第18項所述的自動校正檢測裝置，其中該除塵模組包含一吹氣單元，其對該顯示面板吹氣以清除該顯示面板上的異物。
20. 如申請專利範圍第18項所述的自動校正檢測裝置，其中該除塵模組包含一滾刷單元，其配置以往復地於該顯示面板上移動以刷除或黏除該顯示面板上的異物。