TWI589846B - 用於量化光源之色彩及強度之系統及方法 - Google Patents

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Description

用於量化光源之色彩及強度之系統及方法
本專利申請案要請求2010年8月10日申請之No.61/372,247，名稱為“用於量化光源之色彩及強度之系統及方法”之美國臨時專利申請案的優先權，其內容併此附送。
本發明概有關於一種量化光源之色彩和強度的系統及方法，且尤係有關種量化包括LEDs(發光二極體)、HBLEDs(高度LEDs)，及其它SSL(固態光)源等光源的色彩和強度，以在製造一物體，設計使用該物體之產品和製程，及描述/界定該物體時，使用C參數來定型一光譜功率分佈(SPD)以改良波長和輻射通量之光學性質測量值的精確性、準確度、可重複性和可用性的系統及方法。
用來量化一物體之屬性或性能的系統與方法會在製造該物體，設計使用該物體之產品和製程，及對消者描述該物體時扮演一極重要的角色。
多年來，各種製光工業曾發展出許多用以量化一光源之色彩和強度的系統或方法。該等系統和方法有賴於測量法(依據一特定標準的測量系統)及測量值(代表一以測量所決定的量、範圍或大小之數值)，它們係由規劃制訂機 構，標準製作團體，產業資助者和個別的組織等所建立。例如，1860年的大都會氣體法案將一燃燒的蠟燭之強度量化成一已知的標準，而引介出測量法之“燭光”的標準定義。在1931年，國際照明委員會引入CIE 1931 XYZ色彩空間和XYZ色彩座標。該CIE 1931色彩空間創造一種測量法可依據一組數學座標來描述一物體的精確顏色。該CIE 1931色彩測量法係依據三個視覺反應函數(一函數係為兩組之間的關係，其中第二組之一元素係被指配於第一組的每一元素，例如在公式y=2x中者)，它們會描述人類眼中之三種圓錐胞元的色彩和強度之間的關係。它們係被稱為色彩匹配函數，並會造成一色彩的呈示係三個值(一值係為一特定的大小、數目或量)所組成，稱為三刺激值。由該CIE三刺激值測量法則如色彩相關溫度(CCT)，色彩表現指數(CRI)，CIE(x，y)，流明，主要波長和MacAdam橢圓將可被測出或得到。此等測量法會對在特定條件下的人類觀察者量化發光系統的呈現，乃曾被製造者、設計者和顧客用來分級產品，計算在新用途中的產品之性能，及比較產品與競爭貨源，而使製造者、設計者和顧客能分級產品，計算新用途中的產品之性能，及比較產品與競爭貨源。
上述提到且被廣泛使用的亮光測量法甚適合用於量化在特定照明和觀察條件下被一人類觀察者所看到之一物體的色彩和強度。使用此等用以製造SSLs之測量法及依據SSLs來設計發光系統時會產生一問題，因為在許多的用途和製程中該SSL並非被該人類眼睛直接觀看到。本發明 會克服此測量法之不當應用的問題。
又，在該等測量法中有關該發光物、視場、環境光、瞳孔擴大的隱含假設，及該色彩匹配函數(CMF)的適切性和精確度，當在該等測量法被用於許多光源，特別是LEDs、HBLEDs和其它的SSL光源時會造成誤差。該主波長和光強度測量法係假設一人類觀察者在日光下是經由一受限的2或10度視場來觀看一光源。此等條件在測試時通常未被精確地複製，且甚少適合於當組合成一最終產品時光源實際上被看到的方式。該等測量法會受困於一種稱為位變異構的現象，其係為一人類觀察者不能夠將不同顏色的光源之一特定混合彼此辨別區分的無能。所有的這些問題皆會對SSLs之光譜性質的測量造成不確定性，而負面地影響測量的準確度和可重複性。本發明會克服此等限制。
這些問題對會造成一連續光譜的燈(一典型的黑體發射物)具有較少的衝擊，譬如可見於一傳統燈泡中的鎢絲。但是，傳統的光色彩和強度測量法已被證明不適合用來量化SSL光源的色彩和強度以供設計、製造及組合製程。例如，SSL光源如HBLEDs係被用作主要的發光源。不像鎢絲，HBLEDs並非黑體輻射的發射物。一LED會以一複合半導體中的電子和電洞之帶隙輻射重組來放射光。由一SSL所發射之光的光譜特性係顯著不同於一黑體輻射源。用傳統的測量法來特徵化一SSL光源的色彩和強度基本上是不正確的，因為所根據的物理學基本上是不同的。本發明會克服該問題。
一SSL(以下用LED作為一例)之一典型製法係以在一晶圓基材上製造一LED開始。該等基材會被檢查物理和光學上的瑕疵，且該等LED發射光的SPD會在該晶圓上的不同點處被記錄，並轉換成測量值其會被用來決定該晶圓或晶粒的一致性和光學特性。於此評估時所收集的數據通常係被以兩種方式使用。第一，為控制產品品質，該數據會相較於品質標準來決定該晶圓有多良好，及其晶粒有否符合品質標準。該晶圓的品質(由該等瑕疵的數目和本質及光的輸出來決定)會決定該晶圓是否被容許繼續留在該製程中，並會決定該晶圓的最終可用性，該數據的第二用途係可供製程的改良。於此評估時所收集的數據係相關於特定的製程輸入。當此關聯被決定後，該等製程輸入能被控制及操縱來改良製程良率並減少不一致性。使用於SSLs之傳統光測量法的不確定性，及在連續製程步驟中使用傳統光測量法的不適切性，會增加製程中的變異範圍。本發明會減少此變異範圍，而在SSLs的製程及相關的發光系統設計和製造中導致改良。
本發明概有關於一種量化光源之色彩和強度的系統及方法，尤係有關一種在製造一物體，設計使用該物體的產品和製程，及描述/界定該物體時，使用C參數來定型一光譜功率分佈(SPD)俾改良波長和輻射通量之光學性質測量值的精確性、準確度、可重複性和可用性，以量化包括LEDs、HBLEDs和其它SSL光源等之光源的色彩和強度 之系統及方法。
本發明提供一種C參數系統及方法，其包含一系統及方法可用以描述一光源，譬如一LED，HBLED或其它SSL光源之色彩含量和強度，而相較於任一精習於該技術者所泛知之通常使用的光測量法會有改良的精確性和效率。該C參數系統和方法係為一種量化、界定、傳達、評估、比較及分級一光源之色彩和強度，光源之間的差異或總和，及被反射或折射表面和材料造成之光的反射和吸收等之改良的系統與方法。該C參數系統和方法是一種控制例如LEDs、HBLEDs或其它SSL光源等光源的製造之改良的系統和方法。
該光學SPD的呈現係如一系列(一群依次序排列的類似物)的函數，其一例為一高斯(Gaussian)函數，會顯著地改良量化及特徵化光源，包括SSL光源，之光學輸出功率的能力。所需的SPD可被簡明地表示為一組C參數，且一受測試的SSL之品質嗣可被以個別或次組的C參數之一組偏差或相關性的方式來描述，或描述成與一所需的SPD之偏差或相關性。一C參數係為一實數，其是一用來特徵化一SSL之SPD的函數之一係數。一C參數串元是一組C參數，其會一起來滿足一用以特徵化一SSL之SPD的函數之解答。該等C參數係指該C參數串元組，其當組合時，會特徵化一SSL的SPD。
100‧‧‧受測裝置(DUT)
102‧‧‧發射的光能
104‧‧‧光譜獲得測試裝置
106‧‧‧未過濾的光譜功率分佈(SPD)
108‧‧‧C參數模組
110‧‧‧光譜選擇程序
112，122‧‧‧SPD
114‧‧‧波長臨界值
116‧‧‧訊號對雜訊臨界值
118‧‧‧散逸像元拒絕限制
120‧‧‧波節尋找程序
124，126‧‧‧波節
128‧‧‧波節參數
130‧‧‧波節分類程序
132‧‧‧波節邊界
134‧‧‧最佳級序
136‧‧‧最初解答程序
138‧‧‧最初C參數
140‧‧‧最初雜訊參數
142‧‧‧解答程序
144‧‧‧信任係數
146‧‧‧C參數
148‧‧‧正常化C參數
150‧‧‧雜訊參數
200‧‧‧波節
202‧‧‧最小波長
204‧‧‧最大波長
302‧‧‧測量值
400，500‧‧‧CUBE 5010CP系統
402‧‧‧輸入電能
404‧‧‧測試器
600‧‧‧CUBE 5010CP網路連接系統
602‧‧‧網路聯線
第1圖為一圖表示出依據本發明的原理之一量化 一SSL光源的色彩和強度的C參數系統及方法之一實施例。
第2圖為一圖表示出依據本發明的原理之一找出一SPD中之波節的方法之一實施例。
第3圖為一圖表示出依據本發明的原理之一使用該量化一SSL光源之色彩和強度的C參數系統及方法來輸入該等C參數並輸出一SPD和各種測量值的程序之一實施例。
第4圖為一圖表示出一用於照明裝置的SSL製造測試裝置之一實施例。該裝置會實施依據本發明的原理之量化一SSL光源之色彩和強度的C參數系統及方法。
第5圖為一圖表示出一用於生物醫學裝置的SSL製造測試裝置之一實施例，其會實施依據本發明的原理之量化一SSL光源之色彩和強度的C參數系統及方法。
第6圖為一圖表示出一呈一網路式C參數模組構態的製造SSL測試裝置之一實施例，其會實施依據本發明的原理之量化一SSL光源之色彩和強度的C參數系統及方法。
第1圖示出本發明之一實施例，其中一SSL光源，譬如一要被測試的HBLED裝置100(以下稱為“DUT 100”)，會發射光能102進入一光譜獲得測試裝置104中，其會捕捉被發射的光能形成一光譜，其會描述功率或能量作為波長之一函數。為了HBLED測試和測量的目的，此光譜係為一未過濾的光譜功率分佈(SPD)106。該未過濾的SPD 106會輸入該C參數模組108。該C參數模組108會特徵 化該DUT 100所發射的能量或功率，以函數之一線性疊加的方式作為波長之一函數。使用於該系列之函數的特定形式係由該DUT 100的物理學來決定。在HBLED用途的情況下，該造成光發射的物理機制(電洞/電子在一帶隙複合半導體中放射性重組)係可以一被稱為高斯函數的函數來描述。在本發明之此實例中，該C參數模組108係被排列並構設成可解出高斯函數係數。每一個排列和構態皆會對一高斯函數提供係數。因此，就本發明之此例而言，該C參數模組108會鯆出包含多數組3個係數的C參數146，每一組各會決定一高斯曲線稱為一波節124。與一指定的SPD 112相關聯的C參數乃是被歸納為一組波節124之該系列高斯曲線的係數，因此當加總時，所形成的曲線對被測量的SPD 112之形狀和量值具有一有效的相關性。
又在第1圖中，一光譜選擇程序110會進行來輸入波長臨界值(高和低)114、訊號對雜訊(S/N)臨界值116，及散逸像元拒絕限制118等，而由該未過濾的SPD 106選出有用的光譜數據，並輸出該等輸入臨界值114、116、118和選擇的SPD112至一波節尋找程序120。
該波節尋找程序120嗣會進行來輸入波節126的數目以尋找該SPD 122，並輸出該SPD 122及各“找到的”波節124，與波節邊界132至一波節分類程序130。
該波節分類程序130嗣會針對各波節124來決定最佳的級序1…N 134。該等波節邊界132和級序134會被最初解答程序136用作限制。
該最初解答程序136會使用該等波節邊界132來反覆檢核每一波節124和每一級序134，以決定一組最初解答的最初C參數138，及針對各波節124和級序1…N 134的最初雜訊參數140。
該等最初C參數138和最初雜訊參數140會被輸入一解答程序142，其會找出每一級序1…N134所界限的波節(124，132)之高斯函數的最適配解答之係數，並將它們成一組N級序的C參數146與一信任係數144和雜訊參數150一起輸出。
又在第1圖中，一組正常化C參數148可被選擇地造成。該等正常化C參數148係為一種C參數，其中個別曲線的總和量值已被正常化來移除該強度的影響，而保留相關的色彩含量或波長。
應請瞭解該等C參數係為一組實數，其會精確地描述一光源的光輸出功率作為波長之一函數(例如色彩含量)。該C參數系統及方法會定型一光源的光輸出功率成一組函數，例如一系列的高斯函數。在本發明之一實施例中，其中一高斯函數會被用來定型一SSL的光輸出功率，有3個高斯函數係數(以下稱為一C參數串元)會分別地描述增益、中心波長和標準偏差。在本發明之一實施例中，當構設一第二級的適配時，二組C參數串元將會被產生，每一級序各有一組。概括而言，一“n”級的適配會造成“n”組C參數串元。在本發明之一實施例中，因有3個高斯函數係數及一第2級的適配，故該方法會輸出6個C參數。在本發明之 一實施例中，就一具有2個主動發光元件的SSL而言，譬如一藍色的灌磷HBLED，該SSL SPD會被定型成一具有二波節的雙型分佈。一波節係為包含位在一最小波長至一最大波長內的全部各點之SPD中的一個獨有的次組(an exclusive subset)。功能上，每一波節對應於該DUT內之一光產生機構，例如：{藍色LED，磷}，{紅色LED，綠色LED，藍色LED}，{紅色LED，綠色LED，藍色LED，黃色LED}。在本發明之一實施例中，具有二各別的發光源故而有二波節，該方法會輸出12個實數，組織成2組(每一主動元件或SPD波節各有一組)的2個C參數串元(該曲線適配解答的每一級序各有一個)，每一C參數串元包含3個高斯函數係數，而總共有12個實數的C參數。
第2圖為不同的SSL光源的SPD輸出之一圖表，各SSL包含一藍色HBLED裝置及一磷塗層，而示出所造成的雙型SPD。在本發明之一實施例中，各SPD係被定型為具有二波節200，各波節200係被係被一最小波長202和一最大波長204界限，並與一第2級的高斯函數適配。
第3圖示出本發明之一實施例，其中用於一裝置的C參數146係被用來輸出該SPD 122，以及該裝置之其它可由該SPD 122獲得的測量值302。如所示，既有測量值之不可逆性的問題係可藉重構建該SPD再由該重構建的SPD獲得光輸出測量值來克服。第3圖亦示出該壓縮一SPD將其編碼成一組C參數的方法能被用來將編碼的資訊以最小的資訊損失解壓縮回復成原來的SPD。其損失量逆相關於該適 配函數的級序。
第4圖示出本發明之一實施例，其中一CUBE 5010CP系統400會實施該C參數方法來測試一白色HBLED SSL。在此實施例中，該DUT 100是一白色HBLED SSL包含2個光發射源，一藍色LED及一黃色磷塗層。一測試器，例如一CUBE 5010LED測試器404，會輸入電能402至該DUT 100。該DUT 100會發射光能102，其會被該測試器404獲得並傳送至該CUBE 5010CP系統400。該CUBE 5010CP系統400包含一C參數模組108，其會與該測試器404整合來輸入光能102，並實施該C參數方法來輸出C參數146。
第5圖示出本發明之一實施例，其中一CUBE 5010CP系統500會實施該C參數方法來測試一為生物醫學用途所製造的紅色/紅外線SSL。於此實施例中，該DUT 100為一紅色和紅外線LED SSL，包含2個光發射源，即一紅色LED與一紅外線LED。一測試器，一可能之例為一CUBE 5010 LED測試器404，會輸入電能402至該DUT 100。該DUT 100會發射光能102，其會被該測試器404獲得，並傳送至該CUBE 5010CP系統500。該CUBE 5010CP系統500包含一C參數模組108，其會與該測試器404整合來輸入光能102，並實施該C參數方法來輸出C參數146。
第6圖示出本發明之一實施例，其中一CUBE 5010CP網路連接系統600會實施該C參數方法來測試一呈一網路連接構態的SSL。於此實施例中，該DUT 100日一SSL。一測試器，例如一CUBE 5010 LED測試器404，會輸 入電能402至該DUT 100。該DUT 100會發射光能102，其會被該測試器404獲得，並透過一網路聯線602傳送至該CUBE 5010CP網路連接系統600。該CUBE 5010CP網路連接系統600包含一C參數模組108，其會透過一網路連結與該測試器404整合來輸入該光能資料102，並實施該C參數方法來輸出C參數146。
本發明之用以提供一量化SSL光源之色彩與強度的C參數系統及方法之特徵、特點和優點乃包括，但不限於，如下所述：
1.該C參數系統及方法會將存在於一SPD中的波節呈現成一組曲線適配函數係數。
2.本發明之一實例會產生如一組高斯函數係數的C參數，其代表存在於一SPD中的一或多個波節。
3.該C參數系統及方法會由該等C參數重構建一SPD。
4.該C參數系統及方法會壓縮一SPD而沒有資訊損失。
5.該C參數系統及方法會特徵化SSL光源包括但不限於LEDs的SPD。
6.該C參數系統及方法會正常化一SPD的色彩含量。
7.該C參數系統及方法會檢測存在於LEDs之光譜測量值中的非訊號資料，譬如但不限於，構態錯誤，測量雜訊，製造瑕疵等。
8.該C參數系統及方法會過濾存在於SSLs之SPD測量值中的雜訊，而使其改良雜訊過濾更優於精習該技術者所知的傳統系統與方法譬如車廂過濾法或高斯過濾法。
9.該C參數系統及方法會在測試時去除存在於LEDs之一SPD的光譜測量值中的暗雜訊和散雜訊，並增加LEDs的訊號對雜訊比。
10.該C參數系統及方法會產生對SSL製程有用的測量值。
11.本發明之一實例會產生製程控制資料，其會改良供用於SSL用途的半導體LEDs之製程。
12.本發明之一實例會產生製程控制資料，其會改良供用於生物醫學用途的半導體LEDs之製程。
13.該C參數系統及方法會改良SSL裝置在製造時的貯存、分類及分級。
14.該C參數系統及方法可被用來貯存和匹配顏色混合用途的LEDs，譬如磷/藍色，以最佳化一SSL的組合輸出。
15.該C參數系統及方法是一種比光通量更改良的LED強度之測量法。
16.該C參數系統及方法是一種比在一色彩空間中之色彩座標更改良的LED色彩之測量法。
17.本發明之一實例會改良光學系統設計軟體更優於傳統技術譬如N帶(RGB)重現法。
18.C參數會提供精確地計算一發光體與一LED 或其它SSL裝置的機械、化學、光學部件之間的光學交互作用所需的色彩含量資訊。
19.該C參數系統及方法會消減當使用包含會反射和吸收放射光之間接發光器材的光測量描述時所發生的問題。
20.該C參數系統及方法會為不同於被人類眼睛直接觀看的用途精確地呈現LEDs的SPD。該等用途之例包括光活性有機材料，及人類對光的生理反應譬如生理週期節奏，及被製造血清素與褪黑激素的藍光刺激。
21.該C參數系統及方法係為一種可將多個LEDs的SPDs組合成單一SPD的改良系統及方法。
22.該C參數系統及方法會隔離在一組合或複合的功率分佈中之每一發光體的SPD，譬如一白色HBLED或一RGB白色LED的發射光。
23.該C參數系統及方法會分開量化LEDs的色彩和強度宛如各別的元件。
24.該C參數系統及方法會改良超過該“選擇鞍部”系統及方法來評估一LED的接面溫度。
25.該C參數系統及方法會為在一複合發光裝置或SSL中的每一LED鑑定一分開的接面溫度曲線。
100‧‧‧受測裝置(DUT)
102‧‧‧發射的光能
104‧‧‧光譜獲得測試裝置
106‧‧‧未過濾的光譜功率分佈(SPD)
108‧‧‧C參數模組
110‧‧‧光譜選擇程序
112，122‧‧‧SPD
114‧‧‧波長臨界值
116‧‧‧訊號對雜訊臨界值
118‧‧‧散逸像元拒絕限制
120‧‧‧波節尋找程序
124，126‧‧‧波節
128‧‧‧波節參數
130‧‧‧波節分類程序
132‧‧‧波節邊界
134‧‧‧最佳級序
136‧‧‧最初解答程序
138‧‧‧最初C參數
140‧‧‧最初雜訊參數
142‧‧‧解答程序
144‧‧‧信任係數
146‧‧‧C參數
148‧‧‧正常化C參數
150‧‧‧雜訊參數

Claims (21)

  1. 一種特徵化一固態光(SSL)源之色彩的系統，包含：一能源，用以激發該SSL源來發射光；一光譜獲得裝置，用以獲得由該SSL源所發射的光之一光譜功率分佈(SPD)；一計算裝置，其中該計算裝置包含一C參數模組，其構設成用於：尋找該SPD中之一波節，其中該SPD中之波節係包含具有一預定之最小及最大波長的該SPD的一連續之次組，其中該波節對應至一特定的光產生機構；決定用於曲線適配該波節的一或多個高斯函數之係數，其中該一或多個高斯函數之係數係以一組C參數來表示；及輸出該組C參數，該組C參數描述該SSL源的SPD。
  2. 如請求項1之系統，其中各個一或多個高斯函數之係數及該組C參數包含至少：一增益、一中心波長和一標準偏差。
  3. 如請求項1之系統，其中該計算裝置係進一步構設成用於：使用該組C參數、經由加總由該組C參數界定的該一或多個高斯函數，來重建該SPD，其中該重建的SPD具 有該SPD的一有效形狀及量值。
  4. 如請求項3之系統，其中該計算裝置係進一步構設成用於：產生一組源自該重建的SPD之量測值。
  5. 如請求項1之系統，其中該計算裝置係進一步構設成用於：接收該SPD中找出的波節的數目並且決定用於曲線適配該SPD中找出的波節數目之每一波節的一或多個高斯函數之係數。
  6. 如請求項1之系統，其中該計算裝置係進一步構設成用於：最適化用於曲線適配該波節的一或多個高斯函數之係數，其中最適化該一或多個高斯函數之係數的一程序係包含獲得一組雜訊參數及一組信任值。
  7. 如請求項1之系統，其中該計算裝置係進一步構設成用於：正常化該組C參數以移除強度的影響，同時保留相關色彩含量及波長。
  8. 如請求項1之系統，其中該計算裝置係進一步構設成用於：在該SSL源的製造程序中，產生該SSL源的該組C參數；及根據該組C參數，提供製程控制反饋資料，用於該SSL源之製造程序的評估及改良。
  9. 如請求項8之系統，其中該SSL源之製造程序包含該SSL源的貯存、分類及分級。
  10. 如請求項1之系統，其中該C組參數被用來比較該SSL源與一第二SSL源的色彩及強度。
  11. 如請求項1之系統，其中該計算裝置係進一步構設成用於：貯存使用該組C參數的該SSL源。
  12. 如請求項1之系統，其中該特定的光產生機構係為選自下列中之一者：磷光產生機構、具有用於產生藍光之能量帶間隙的電子和電洞之重組、具有用於產生綠光之能量帶間隙的電子和電洞之重組、具有用於產生黃光之能量帶間隙的電子和電洞之重組、具有用於產生紅光之能量帶間隙的電子和電洞之重組、具有用於產生紅外線之能量帶間隙的電子和電洞之重組。
  13. 如請求項1之系統，其中該SSL源係一紅外線LED。
  14. 如請求項1之系統，其中該組C參數被用於偵測該SSL的構態錯誤、測量雜訊或製造瑕疵中之一者。
  15. 如請求項1之系統，其中該組C參數將該SSL源的光輸出功率定型成一系列高斯函數。
  16. 如請求項1之系統，其中該組C參數被用於偵測存在於該SPD中的非訊號資料。
  17. 如請求項1之系統，其中該SPD包含多數波節，其中該等多數波節之每一者包含具有一預定之最小及最大波長的該SPD的一連續之次組，其中該等多數波節之每一者 對應至一特定的光產生機構。
  18. 如請求項1之系統，其中該計算裝置係進一步構設成用於：選定該SPD中的一第二波節；決定用於曲線適配該SPD中的該第二波節的一或多個高斯函數之係數，其中該一或多個高斯函數之係數係以一第二組C參數來表示；及輸出該第二組C參數。
  19. 如請求項1之系統，其中該組C參數使用有限組的實數來編碼該SPD。
  20. 如請求項1之系統，其中該計算裝置係進一步構設成用於：決定該波節的一級序，其中該級序界定使用於高斯序列中以適配該SPD之波節的高斯之數目，其中該級序也決定欲產生的C參數之組數。
  21. 一種特徵化一固態光(SSL)源之色彩的方法，包含：使用一能源來激發一SSL源來發射光；使用一光譜獲得裝置來獲得由該SSL源所發射的光之一光譜功率分佈(SPD)；使用一計算裝置來尋找該SPD中的一波節，其中該SPD中的該波節係包含具有一預定之最小及最大波長的該SPD的一連續之次組，其中該波節對應至一特定的光產生機構；決定用於曲線適配該SPD中的該波節的一或多個 高斯函數之係數，其中該一或多個高斯函數之係數係以一組C參數來表示；及輸出該組C參數，該組C參數描述該SSL源的SPD。
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