TWI578218B - Touch panel device and touch panel device position detection method - Google Patents

Touch panel device and touch panel device position detection method Download PDF

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TWI578218B TW104139489A TW104139489A TWI578218B TW I578218 B TWI578218 B TW I578218B TW 104139489 A TW104139489 A TW 104139489A TW 104139489 A TW104139489 A TW 104139489A TW I578218 B TWI578218 B TW I578218B
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Description

觸控面板裝置及觸控面板裝置的位置偵測方法
本發明係關於一種觸控面板裝置及觸控面板裝置中的位置偵測方法。
觸控面板是一種可以在屏幕上直接進行輸入的輸入裝置，被設置在屏幕的前面使用。通過觸控面板，可根據從屏幕獲得的視覺資訊來進行輸入，因此被用於多種用途。
作為這種觸控面板，已知電阻膜方式的觸控面板。電阻膜方式的觸控面板是一種，形成於上部電極基板及下部電極基板的透明導電膜彼此相對設置，向上部電極基板施力時透明導電膜彼此接觸，從而能夠對該被施力位置進行位置偵測的結構。
電阻膜方式的觸控面板大致可分為4線式及5線式。4線式是指上部電極基板或下部電極基板的任一方設有X軸電極、另一方設有Y軸電極的方式(例如，專利文獻1)。相對而言，5線式是指X軸電極及Y軸電極均設於下部電極基板，上部電極基板則作為用於偵測電位的探頭發揮功能的方式(例如，專利文獻2)。
此外，還已公開能夠在4線式觸控面板中進行多點觸控偵測的技術(例如，專利文獻3)。
<先前技術文獻> <專利文獻>
專利文獻1：(日本)特開2004-272722號公報
專利文獻2：(日本)特開2008-293129號公報
專利文獻3：(日本)特開2009-176114號公報
然而，尚無能夠在5線式觸控面板中簡單地進行多點觸控偵測的技術。
對此，本發明鑑於上述問題，其目的在於提供一種能夠在5線式觸控面板中簡單地進行多點觸控偵測，並能夠偵測多點觸控所意圖的手勢操作的觸控面板裝置。
根據本實施方式的一形態，觸控面板裝置的特徵在於，其包括：具有第1導電膜的第1電極基板；具有第2導電膜的第2電極基板；分別設於該第2導電膜的4個角的第1供電端子、第2供電端子、第3供電端子、第4供電端子；控制器。該控制器，在該第1供電端子通過第1電阻連接於電源電位、該第2供電端子通過第2電阻連接於電源電位、第3供電端子及第4供電端子連接於接地電位的狀態下，算出該第1供電端子的電位與基準電位的電位差△V1X、及該第2供電端子的電位與基準電位的電位差△V2X，在該第2供電端子通過第3電阻連接於電源電位，該第3供電端子通過第4電阻連接於電源電位、第1供電端子及第4供電端子連接於接地電位的狀態下，算出該第2供電端子的電位與基準電位的電位差△V2Y、及該第3供電端子的電位與基準電位的電位差△V3Y，選擇該電位差△V1X、△V2X、△V2Y、△V3Y中的最大電位差，並根據該選擇的電位差，算出該第1導電膜與該第2導電膜接觸的2點間的位置關係。
根據上述的觸控面板裝置，在5線式觸控面板中，能夠偵測多點 觸控、更具體地偵測2點的方向‧距離‧坐標，從而能夠偵測多點觸控意指的手勢操作。
10‧‧‧上部電極基板
11‧‧‧透明導電膜
20‧‧‧下部電極基板
21‧‧‧透明導電膜
31‧‧‧第1供電端子
32‧‧‧第2供電端子
33‧‧‧第3供電端子
34‧‧‧第4供電端子
R1‧‧‧第1電阻
R2‧‧‧第2電阻
R3‧‧‧第3電阻
R4‧‧‧第4電阻
R5‧‧‧第5電阻
A‧‧‧接觸點
B‧‧‧接觸點
AD1‧‧‧第1電位測定部
AD2‧‧‧第2電位測定部
AD3‧‧‧第3電位測定部
AD4‧‧‧第4電位測定部
SW1‧‧‧第1開關
SW2‧‧‧第2開關
SW3‧‧‧第3開關
SW4‧‧‧第4開關
SW5‧‧‧第5開關
SW6‧‧‧第6開關
SW7‧‧‧第7開關
SW8‧‧‧第8開關
SW9‧‧‧第9開關
SW10‧‧‧第10開關
SW11‧‧‧第11開關
圖1是第1實施方式的觸控面板裝置的結構圖。
圖2是第1實施方式的觸控面板的結構圖。
圖3是第1實施方式的觸控面板的說明圖(1)。
圖4是第1實施方式的觸控面板的說明圖(2)。
圖5是第1實施方式的觸控面板的說明圖(3)。
圖6是第1實施方式的觸控面板的說明圖(4)。
圖7是與觸控面板接觸的2點的4種模式的說明圖。
圖8是S1模式下的2點間距離與電位差△V的相關圖。
圖9是S2模式下的2點間距離與電位差△V的相關圖。
圖10是S3模式下的2點間距離與電位差△V的相關圖。
圖11是S4模式下的2點間距離與電位差△V的相關圖。
圖12是關於產生電位差△V的說明圖。
圖13是第1實施方式的偵測方法的流程圖(1)。
圖14是第1實施方式的偵測方法的說明圖(1)。
圖15是第1實施方式的偵測方法的說明圖(2)。
圖16是第1實施方式的偵測方法的流程圖(2)。
圖17是第1實施方式的偵測方法的流程圖(3)。
圖18是第2實施方式的偵測方法的流程圖(1)。
圖19是第2實施方式的偵測方法的流程圖(2)。
以下說明用於實施本發明的形態。在此，關於相同的構件等，賦予相同符號，並省略說明。
〔第1實施方式〕 (觸控面板裝置)
關於第1實施方式的觸控面板裝置進行說明。本實施方式的觸控面板裝置為5線式觸控面板，其具有上部電極基板10與下部電極基板20，是一種能夠偵測多點觸控、及對觸控面板顯示的圖像等進行擴大縮小時的手勢操作(拉大：pinch-out，捏小：pinch-in)。
本實施方式的觸控面板裝置如圖1所示，其具有上部電極基板10、下部電極基板20、放大電路70、控制器80。控制器80具有控制部81、坐標偵測部82、1點/2點判別部83、距離算出部84、2點算出部85、方向偵測部86、AD(Analog-to-digital)轉換部87、記憶部88。
控制部81對觸控面板裝置整體進行控制。AD轉換部87，將由設在觸控面板裝置的各電位測定部測定之後由放大電路70放大的電壓，從模擬資訊轉換為數位資訊。為了在操作觸控面板時的電阻變化率小的情況下也能夠測定電位，設置了放大電路70。記憶部88記憶各種資訊。
坐標偵測部82偵測觸控面板的接觸點的坐標。1點/2點判別部83判別觸控面板的接觸點是1點還是2點。距離算出部84算出2個接觸點間的距離。2點算出部85算出2個接觸點各自的坐標。方向偵測部86偵測2個接觸點在哪個方向上排列。坐標偵測部82、1點/2點判別部83、距離算出部84、2點算出部85、方向偵測部86等各部，根據由AD轉換部87轉換成數位資訊的電壓值執行處理。
控制器80可由微處理器等構成。在此情況下，坐標偵測部82、1點/2點判別部83、距離算出部84、2點算出部85、方向偵測部86等各部的功能，可通過由控制器80執行記憶部88中記憶的程序而實現。
根據圖2，關於本實施方式的觸控面板進行更詳細的說明。本實施方式的觸控面板的上部電極基板10是一個在由玻璃或透明樹脂材料形成的4角形的基板的表面上，由ITO(Indium Tin Oxide)等形成作為上 部導電膜的透明導電膜11的結構。另外，下部電極基板20是一個在由玻璃或透明樹脂材料形成的4角形的基板的表面上，由ITO等形成作為下部導電膜的透明導電膜21的結構。在此，上部電極基板10與下部電極基板20被設置成，透明導電膜11與透明導電膜21相對的狀態。
在下部電極基板20的4個角，透明導電膜21上設有第1供電端子31、第2供電端子32、第3供電端子33及第4供電端子34。在本實施方式中，以連接第1供電端子31及第2供電端子32的直線、連接第3供電端子33及第4供電端子34的直線均與Y軸平行的方式，形成各供電端子。並且，以連接第1供電端子31及第4供電端子34的直線、連接第2供電端子32及第3供電端子33的直線均與X軸平行的方式，形成各供電端子。
在第1供電端子31上連接著第1開關SW1的一方端子，第1開關SW1的另一方端子連接於作為分壓電阻的第1電阻R1的一方端子。第1電阻R1的另一方端子連接於電源電位Vcc。另外，在第1供電端子31上連接著第2開關SW2的一方端子，第2開關SW2的另一方端子連接於電源電位Vcc。另外，在第1供電端子31上連接著第3開關SW3的一方端子，第3開關SW3的另一方端子連接於接地電位(0V)。另外，在第1供電端子31上連接著第1電位測定部AD1，由第1電位測定部AD1測定第1供電端子31的電位。
在此，“電位測定部AD1”是指具有能夠測定第1供電端子31的電位的功能的控制器內的要素的總稱，本實施形態中包含AD轉換部87。第1供電端子31的輸出首先被輸入到AD轉換部87。以下說明的電位測定部AD2~AD4也同樣。
在第2供電端子32上連接著第4開關SW4的一方端子，第4開關SW4的另一方端子連接於作為分壓電阻的第2電阻R2的一方端子。第2電阻R2的另一方端子連接於電源電位Vcc。另外，在第2供電端子32 上連接著第5開關SW5的一方端子，第5開關SW5的另一方端子連接於作為分壓電阻的第3電阻R3的一方端子。第3電阻R3的另一方端子連接於電源電位Vcc。另外，在第2供電端子32上連接著第6開關SW6的一方端子，第6開關SW6的另一方端子連接於電源電位Vcc。另外，在第2供電端子32上連接著第2電位測定部AD2，由第2電位測定部AD2測定第2供電端子32的電位。
在第3供電端子33上連接著第7開關SW7的一方端子，第7開關SW7的另一方端子連接於作為分壓電阻的第4電阻R4的一方端子。第4電阻R4的另一方端子連接於電源電位Vcc。另外，在第3供電端子33上連接著第8開關SW8的一方端子，第8開關SW8的另一方端子連接於電源電位Vcc。另外，在第3供電端子33上連接著第9開關SW9的一方端子，第9開關SW9的另一方端子連接於接地電位(0V)。另外，在第3供電端子33上連接著第3電位測定部AD3，由第3電位測定部AD3測定第3供電端子33的電位。
在第4供電端子34上連接著第10開關SW10的一方端子，第10開關SW10的另一方端子連接於接地電位(0V)。
在上部電極基板10的透明導電膜11上連接著作為分壓電阻的第5電阻R5的一方端子，第5電阻R5的另一方端子連接於第11開關SW11的一方端子。第11開關SW11的另一方端子連接於接地電位(0V)。另外，在透明導電膜11上連接著第4電位測定部AD4，由第4電位測定部AD4測定透明導電膜11的電位。
在此，電阻R1與電阻R2的電阻值相同。同樣，電阻R3與電阻R4的電阻值相同。
(接觸點為1點或2點的中點的偵測)
在本實施方式的觸控面板裝置中，偵測X坐標時，如圖3所示，接通第2開關SW2、第6開關SW6、第9開關SW9、第10開關SW10，切 斷第1開關SW1、第3開關SW3、第4開關SW4、第5開關SW5、第7開關SW7、第8開關SW8、第11開關SW11，以使在透明導電膜21產生X方向的電位分布，並由第4電位測定部AD4測定電位。
另外，偵測Y坐標時，如圖4所示，接通第3開關SW3、第6開關SW6、第8開關SW8、第10開關SW10，切斷第1開關SW1、第2開關SW2、第4開關SW4、第5開關SW5、第7開關SW7、第9開關SW9、第11開關SW11，以使在透明導電膜21產生Y方向的電位分布，並由第4電位測定部AD4測定電位。
在此，上述偵測出的X坐標及Y坐標，在接觸點為1點的情況下即為該接觸點的坐標，在接觸點為2點的情況下是2個接觸點的中點的坐標。
(接觸點為2點的情況)
以下，關於接觸點為2點的情況下的接觸點偵測進行說明。在本實施方式的觸控面板裝置中，對接觸點為2點的情況下的操作進行偵測時，通過電阻以使在透明導電膜21產生X方向及Y方向的電位分布。並且，偵測出2點接觸之後執行以下處理。
為使在透明導電膜21產生X方向的電位分布時，如圖5所示，接通第1開關SW1、第4開關SW4、第9開關SW9、第10開關SW10，切斷第2開關SW2、第3開關SW3、第5開關SW5、第6開關SW6、第7開關SW7、第8開關SW8、第11開關SW11。Vcc通過電阻R1、R2被分別施加到第1供電端子31、第2供電端子32。在如此產生電位分布的狀態下，由第1電位測定部AD1與第2電位測定部AD2測定電位。
另外，為使在透明導電膜21產生Y方向的電位分布時，如圖6所示，接通第3開關SW3、第5開關SW5、第7開關SW7、第10開關SW10，切斷第1開關SW1、第2開關SW2、第4開關SW4、第6開關SW6、第8開關SW8、第9開關SW9、第11開關SW11。Vcc通過電阻 R3、R4被分別施加到第2供電端子32、第3供電端子33。在如此產生電位分布的狀態下，由第2電位測定部AD2與第3電位測定部AD3測定電位。
在此，通過擴大、縮小與觸控面板接觸的2點間的間隔，來進行使觸控面板上顯示的圖像擴大、縮小的手勢操作，即拉大、捏小操作。
以下，作為與觸控面板接觸的2點間的位置關係，簡單起見，在此考慮如圖7所示的S1、S2、S3、S4的4種模式。S1是2點沿著X方向(左右方向)遠離的模式。S2是2點沿著自左上向右下延伸的傾斜線遠離的模式。S3是2點沿著Y方向(上下方向)遠離的模式。S4的模式是2點沿著自右上向左下延伸的傾斜線遠離的模式。
其次，圖8~圖11表示與觸控面板接觸的2點間的間隔、測定到的電位相對於基準電位的電位差△V之間的關係。在此，基準電位是無觸控狀態下的分壓電位。另外，圖8~圖11中，AD1(X)是如圖5所示通過電阻R1、R2使透明導電膜21產生X方向的電位分布並由第1電位測定部AD1測定的第1供電端子31的分壓電位與基準電位的電位差，AD2(X)是通過電阻R1、R2產生X方向的電位分布並由第2電位測定部AD2測定的第2供電端子32的電位與基準電位的電位差。另外，AD2(Y)是如圖6所示通過電阻R3、R4使透明導電膜21產生Y方向的電位分布並由第2電位測定部AD2測定的第2供電端子32的電位與基準電位的電位差，AD3(Y)是通過電阻R3、R4產生Y方向的電位分布並由第3電位測定部AD3測定的第3供電端子33的電位與基準電位的電位差。
圖8是表示2點間的距離沿著圖7的S1方向變化時的電位差△V變化的圖。圖7的S1模式下，即，2個接觸點沿著X方向遠離的模式下，如圖8所示，AD1(X)、AD2(X)在2個接觸點間的X方向距離擴大時電位 差△V增大。而2個接觸點在Y方向的距離大致為0，因此AD2(Y)、AD3(Y)即使在2個接觸點間的X方向距離擴大時，電位差△V也幾乎不變，大致為0V。另外，2個接觸點間的距離擴大時，AD1(X)與AD2(X)的電位差△V的變化傾向呈相近關係。
圖9是表示2點間的距離沿著圖7的S2方向變化時的1電位差變化的圖。圖7的S2模式下，即，2個接觸點沿著連接觸控面板裝置的左上與右下的直線遠離的模式下，2點在X方向、Y方向的距離分別有變化。另外，如圖7所示，S2大致位於連接第1供電端子31與第3供電端子33的線上，因此在2個接觸點間的距離沿著S2變化的情況下，由第1電位測定部AD1、第3電位測定部AD3測定的電位差的變化程度比由第2電位測定部AD2測定的電位差的變化程度大。由此，如圖9所示，以AD2(Y)、AD2(X)、AD3(Y)、AD1(X)的順序，2個接觸點間的距離擴大時的電位差△V的變化增大。具體是，2個接觸點間的距離擴大時，AD1(X)及AD3(Y)的電位差△V變化大，而AD2(X)及AD2(Y)的電位差△V的變化充分小。
圖10是表示2點間的距離沿著圖7的S3方向變化時的電位差變化的圖。圖7的S3模式下，即，2個接觸點沿著Y方向遠離的模式下，如圖10所示，AD2(Y)、AD3(Y)在2個接觸點間的Y方向距離擴大時電位差△V增大，由於X方向的2點間的距離大致為0，因此AD1(X)、AD2(X)即使在2個接觸點間的距離沿著S3擴大的情況下電位差△V也幾乎不變，大致為0V。在此，2個接觸點間的距離擴大時，AD2(Y)與AD3(Y)的電位差△V的變化傾向呈接近關係。
圖11是表示2點間的距離沿著圖7的S4方向變化時的電位差變化的圖。圖7的S4模式下，即，2個接觸點沿著連接觸控面板的右上與左下的線分離的模式下，如圖11所示，按著AD3(Y)、AD1(X)、AD2(Y)、AD2(X)的順序，2個接觸點間的距離擴大時的電位差△V的變化增大。 具體是，2個接觸點間的距離擴大時，AD2(X)及AD2(Y)的電位差△V的變化大，而AD1(X)及AD3(Y)的電位差△V的變化充分小。
如圖8至圖11所示，可知AD1(X)、AD2(X)、AD2(Y)及AD3(Y)分別是與2個接觸點的X方向距離及Y方向距離關係相應的值。因此，通過參照2點接觸時的AD1(X)、AD2(X)、AD2(Y)及AD3(Y)各自的值，能夠求出2個接觸點間的距離。
其次，關於2個接觸點間的距離擴大時電位差△V增大的理由進行說明。作為一例，說明如圖5所示通過電阻R1、R2在透明導電膜21產生X方向的電位分布的狀態下，上下透明導電膜11、21在2個接觸點接觸的情況。在該狀態下，如圖12所示，透明導電膜11與透明導電膜21在接觸點A與接觸點B接觸，因此在接觸點A與接觸點B之間，透明導電膜11的電阻R1與透明導電膜21的電阻R2並聯連接而形成合成電阻。如此形成的接觸點A與接觸點B之間的合成電阻的電阻值，比透明導電膜21的電阻R2及透明導電膜11的電阻R1低。隨之，串聯連接有合成電阻的第1供電端子31與接地電位的供電端子之間的觸控面板的電阻也降低。從而，由第1電位測定部AD1測定的電位，即，Vcc被第1供電端子31與接地電位之間的觸控面板的電阻及第1電阻R1分壓之後的電位，比1點接觸時的分壓電位低。另外，接觸點A與接觸點B之間的距離越遠，合成電阻相對於第1供電端子31與接地電位的供電端子之間的電阻的比率就大，因此第1供電端子31與接地電位的供電端子之間的觸控面板的電阻就越低，隨之由第1電位測定部AD1測定的電位也降低，相比於接觸點A與接觸點B接近的情況而言，電位差△V增大。
同樣，包含該合成電阻的第2供電端子32與接地電位的供電端子之間的觸控面板的電阻也降低。從而，由第2電位測定部AD2測定的電位，即，在第2供電端子32偵測出的電位，換言之電源電位Vcc被第 2供電端子32與接地電位之間的觸控面板的電阻及第2電阻R2分壓之後的電位也降低。另外，接觸點A與接觸點B之間的距離越遠，第2供電端子32與接地電位之間的觸控面板的電阻就越低，隨之，由第2電位測定部AD2測定的電位也低下，電位差△V增大。
以上的內容，在通過電阻產生Y方向的電位分布的情況下也相同。
另外，在接觸點A與接觸點B的距離極近的情況下，2個接觸點間的合成電阻在第1供電端子31或第2供電端子32與接地電位的供電端子之間的電阻中所占的比率會變得極小，因此在第1供電端子31或第2供電端子32偵測出的分壓電位成為與1點接觸時的分壓電位相近的電位。從而，在2點間的距離極近的情況下，由第1電位測定部AD1及第2電位測定部AD2偵測的電位差△V有時會成為大致0V。
(位置偵測方法)
以下，參照圖13說明本實施方式的觸控面板裝置的接觸點的位置偵測方法。本實施方式的位置偵測方法用於偵測是否在進行拉大、捏小等操作。
首先，在步驟102(S102)，進行用於判斷觸控面板是否***作的觸摸偵測處理。具體是，如圖14所示，在接通第2開關SW2、第6開關SW6、第8開關SW8、第11開關SW11，並切斷第1開關SW1、第3開關SW3、第4開關SW4、第5開關SW5、第7開關SW7、第9開關SW9、第10開關SW10的狀態下，由第4電位測定部AD4測定電位，從而進行觸摸偵測。並且，在該狀態下，第1供電端子31、第2供電端子32、第3供電端子33的電位成為電源電位Vcc。
另外，在進行觸摸偵測時，可以接通第2開關SW2、第6開關SW6、第8開關SW8中的任2個，以使第1供電端子31、第2供電端子32、第3供電端子33中的任2個的電位成為電源電位Vcc，或者，也可 以接通第2開關SW2、第6開關SW6、第8開關SW8中的任1個，以使第1供電端子31、第2供電端子32、第3供電端子33中的任1個的電位成為電源電位Vcc。
其次，在步驟104(S104)，判斷有無觸摸。當手指或筆接觸到觸控面板時，透明導電膜11與透明導電膜21在接觸點接觸，因此第4電位測定部AD4可偵測出電源電位Vcc被透明導電膜11的電阻與第5電阻R5分壓之後的電位。由此，當第4電位測定部AD4偵測出電位時，判斷為觸控面板正被觸摸，並移至步驟106。第4電位測定部AD4未偵測出電位時，判斷為觸控面板未被觸摸，結束圖13的處理。
然後，在步驟106(S106)，偵測接觸點的坐標。具體是，如圖3所示，使透明導電膜21產生X方向的電位分布，並由第4電位測定部AD4測定電位。然後，坐標偵測部82根據由第4電位測定部AD4測定到的電位，偵測接觸點的X坐標。同樣，如圖4所示，在透明導電膜21產生Y方向的電位分布，由第4電位測定部AD4測定電位，坐標偵測部82根據由第4電位測定部AD4測定到的電位，偵測接觸點的Y坐標。由此，偵測接觸點的X坐標及Y坐標。如上所述偵測出的X坐標及Y坐標，在觸控面板的接觸點為1點時，即為該接觸點的坐標，在接觸點為2點時，是2個接觸點的中點。
然後，在步驟108(S108)，偵測最大電位差△Vm。最大電位差△Vm是指，由各電位偵測部測定的測定電位與基準電位的電位差中的值最大的電位差。具體而言，進行後述的偵測最大電位差的子程序。
然後，在步驟110(S110)，由1點/2點判別部83判斷在步驟108獲得的最大電位差△Vm是否超過閾值△Vth。閾值△Vth是指，在判斷觸控面板的接觸點是1點還是2點時被作為基準的閾值。在最大電位差△Vm未超過閾值△Vth的情況下，判斷為接觸點是1點，並移至步驟112。在最大電位差△Vm超過閾值△Vth的情況下，判斷為接觸點是2點，並移 至步驟114。
然後，在接觸點是1點的情況下，在步驟112(S112)，將步驟106中偵測出的坐標作為接觸點的坐標輸出。
另外，在步驟110判斷為最大電位差△Vm超過閾值的情況下，在步驟114(S114)，測定最大電位差△Vm。具體是，在與步驟108中獲得最大電位差△Vm的条件相同的開關連接条件下，通過電阻在透明導電膜21產生電位分布，並由獲得了最大電位差△Vm的電位測定部測定電位，求出最大電位差△Vm。如上所述，對最大電位差△Vm進行2次測定的目的在於，根據觸控的資訊來偵測手勢操作。
然後，在步驟116(S116)，判斷最大電位差△Vm是否超過閾值△Vth。在最大電位差△Vm未超過閾值△Vth的情況下，判斷為錯誤，並結束圖13的處理。相反，在最大電位差△Vm超過閾值△Vth的情況下，判斷為接觸點是2點，並移至步驟118。
然後，在步驟118(S118)，算出與觸控面板接觸的2點間的距離。具體是，由控制器80的距離算出部84，根據最大電位差△Vm，按照數1所示的算式或數2所示的算式，算出與觸控面板接觸的2點間的距離L。由此，算出與觸控面板接觸的2點間的距離。在此，數1所示的算式中的α1、β1、γ1是比例係數。另外，數2所示的算式中的α2、β2是比例係數。
另外，可根據圖15所示的最大電位差△Vm與距離L的相關關係的圖表等，算出與觸控面板接觸的2點間的距離L。在此，圖15所示的圖表相當於將圖8等所表示的圖表的縱軸與橫軸調換而成的圖表，其被記憶在控制器80的記憶部88等。
(數1)L=α 1×(△Vm)2+β 1×△Vm+γ 1
(數2)
然後，在步驟120(S120)，輸出與觸控面板接觸的2點的坐標資訊。具體是，根據在步驟118算出的2點間的X方向或Y方向的距離、在步驟106偵測出的坐標，由控制器80的2點算出部85，算出並輸出2個接觸點的坐標資訊。
例如，算出2點的X坐標時，對於在步驟106中偵測出的X坐標，通過加上在步驟118中算出的2點的距離的一半值，可算出一方的接觸點的X坐標，而通過減去在步驟118中算出的2點的距離的一半值，則可算出另一方的接觸點的X坐標。2點的Y坐標均為在步驟106中偵測出的Y坐標。另外，作為輸出資訊，取代2點的坐標之外，還可以是中點坐標與2點間距離資訊。
另外，算出2點的Y坐標時，對於在步驟106中偵測出的Y坐標，通過加上在步驟118中算出的距離的一半值，可算出一方的接觸點的Y坐標，而通過減去在步驟118中算出的距離的一半值，則可算出另一方的接觸點的Y坐標。2點的X坐標均為在步驟106中偵測出的X坐標。
在本實施形態中，通過如上所述的步驟，能夠求出有2個與觸控面板接觸的點的情況下的2個接觸點的距離以及各接觸點的坐標。由此，在5線式觸控面板上也能夠偵測多點觸控。
另外，通過反復進行以上的步驟，並追蹤每次偵測出的2點間的距離變化，能夠偵測是使與觸控面板接觸的2點間的距離擴大的操作，還是縮小的操作。由此，能夠在本實施方式的觸控面板裝置上偵測拉大、捏小。
然後，關於步驟108所示的偵測最大電位差的子程序，參照圖16進行說明。
首先，在步驟202(S202)，通過電阻R1、R2而使透明導電膜21產 生X方向的電位分布。具體是，如圖5所示，接通第1開關SW1、第4開關SW4、第9開關SW9、第10開關SW10，並切斷第2開關SW2、第3開關SW3、第5開關SW5、第6開關SW6、第7開關SW7、第8開關SW8，通過電阻R1、R2產生X方向的電位分布。並且，切斷第11開關SW11。
然後，在產生了X方向的電位分布的狀態下，在步驟204(S204)，由第1電位測定部AD1測定第1供電端子31的分壓電位。將該測定到的電位作為AD1(X)測定電位。
然後，在通過電阻產生X方向的電位分布的狀態下，在步驟206(S206)，由第2電位測定部AD2測定第2供電端子32的分壓電位。將該測定到的電位作為AD2(X)測定電位。
然後，在步驟208(S208)，通過電阻R3、R4而使透明導電膜21產生Y方向的電位分布。具體是，如圖6所示，接通第3開關SW3、第5開關SW5、第7開關SW7、第10開關SW10，並切斷第1開關SW1、第2開關SW2、第4開關SW4、第6開關SW6、第8開關SW8、第9開關SW9，通過電阻R3、R4產生Y方向的電位分布。並且，切斷第11開關SW11。
然後，在通過電阻產生了Y方向的電位分布的狀態下，在步驟210(S210)由第2電位測定部AD2測定第2供電端子32的分壓電位。將該測定到的電位作為AD2(Y)測定電位。
然後，在通過電阻產生了Y方向的電位分布的狀態下，在步驟212(S212)由第3電位測定部AD3測定第3供電端子33的分壓電位。將該測定到的電位作為AD3(Y)測定電位。
然後，在步驟214(S214)，算出AD1(X)測定電位與基準電位的電位差△V1X=|AD1(X)測定電位-AD1(X)基準電位|。在此，AD1(X)基準電位是，在通過電阻產生了X方向的電位分布的狀態下，預先由第1 電位測定部AD1測定的電位。
然後，在步驟216(S216)，算出AD2(X)測定電位與基準電位的電位差△V2X=|AD2(X)測定電位-AD2(X)基準電位|。在此，AD2(X)基準電位是，在通過電阻產生了X方向的電位分布的狀態下，預先由第2電位測定部AD2測定的電位。
然後，在步驟218(S218)，算出AD2(Y)測定電位與基準電位的電位差△V2Y=|AD2(Y)測定電位-AD2(Y)基準電位|。在此，AD2(Y)基準電位是，在通過電阻產生了Y方向的電位分布的狀態下，預先由第2電位測定部AD2測定的電位。
然後，在步驟220(S220)，算出AD3(Y)測定電位與基準電位的電位差△V3Y=|AD3(Y)測定電位-AD3(Y)基準電位|。在此，AD3(Y)基準電位是，在通過電阻產生了Y方向的電位分布的狀態下，預先由第3電位測定部AD3測定的電位。
然後，在步驟222(S222)，選擇電位差△V1X、△V2X、△V2Y、△V3Y中最大的電位差，作為最大電位差△Vm，並記憶最大電位差△Vm的電壓施加方向及測定與最大電位差△Vm対応的電位時使用的電位測定部。
然後，參照圖17說明基準電位的測定方法。基準電位是，在觸控面板上進行偵測之前，即，執行圖13所示的流程圖之前預先測定的電位，被存儲在控制器80的記憶部88。具體是，作為基準電位，測定AD1(X)基準電位、AD2(X)基準電位、AD2(Y)基準電位、AD3(Y)基準電位。
首先，在步驟252(S252)，進行觸摸偵測處理。具體是，在圖14所示的狀態下，由第4電位測定部AD4測定電位。在此，該狀態下，透明導電膜21的電位成為電源電位Vcc。
然後，在步驟254(S254)，判斷有無觸摸。當觸控面板被觸摸 時，由第4電位測定部AD4偵測電源電位Vcc被透明導電膜11的電阻與第5電阻R5分壓之後的電位。從而，第4電位測定部AD4偵測出電位的情況下，判斷為觸控面板正被觸摸，並結束圖17的處理。相反，第4電位測定部AD4未偵測出電位的情況下，判斷為觸控面板未被觸摸，並移至步驟256。
然後，在步驟256(S256)，通過電阻使透明導電膜21產生X方向的電位分布。具體是，在圖5所示的狀態下，通過電阻R1、R2產生X方向的電位分布。並且，切斷第11開關SW11。在步驟256的狀態下，透明導電膜11與透明導電膜21未接觸。
然後，在通過電阻產生了X方向的電位分布的狀態下，在步驟258(S258)由第1電位測定部AD1測定電位。將該測定到的電位作為AD1(X)基準電位。
然後，在通過電阻產生了X方向的電位分布的狀態下，在步驟260(S260)由第2電位測定部AD2測定電位。將該測定到的電位作為AD2(X)基準電位。
然後，在步驟262(S262)，通過電阻R3、R4使透明導電膜21產生Y方向的電位分布。具體是，在如圖6所示的狀態下，通過電阻R3、R4產生Y方向的電位分布。並且，切斷第11開關SW11。在步驟262的狀態下，透明導電膜11與透明導電膜21未接觸。
然後，在通過電阻產生了Y方向的電位分布的狀態下，在步驟264(S264)由第2電位測定部AD2測定電位。將該測定到的電位作為AD2(Y)基準電位。
然後，在通過電阻產生了Y方向的電位分布的狀態下，在步驟266(S266)由第3電位測定部AD3測定電位。將該測定到的電位作為AD3(Y)基準電位。
通過以上步驟，測定觸控面板的各供電端子的基準電位。並且， 將測定到的各基準電位記憶在記憶部88中，用於算出電位差△V。
如上所述，在本實施方式的觸控面板裝置中，能夠偵測多點觸控時的接觸點的距離及坐標，並能夠偵測拉大、捏小。
〔第2實施方式〕
以下，關於第2實施方式進行說明。本實施方式除了能夠偵測拉大、捏小的操作之外，還能夠偵測為了使畫面顯示的圖像旋轉等而進行的手勢操作。作為本實施方式的觸控面板裝置，採用與第1實施方式相同的觸控面板裝置。
在此，若注目於圖8~圖11中電位差△V的值的變化大的點，安全不同於圖7所示的S1~S4方向的電位差△V大的點的組合。這是因為2個接觸點的位置與供電端子的距離短。由於作為透明導電膜21的ITO膜的電阻分布相等，因此，距離短即意味著電阻值小。並且，形成合成電阻的2點間的電阻值比其他點小。從而，電流容易通過電阻值最小的徑路，即，從接近2個按壓位置的電極流向GND。換言之，根據電位差△V最大的電極與第2大的電極的組合，能夠決定2點的方向。
即，在圖7所示的S1模式下，即，2個接觸點沿著X方向遠離的模式下，如圖8所示，電位差△V的值中，AD2(X)最大，第2大的是AD1(X)。因此，最大電位差與第2大電位差的組合為AD2(X)、AD1(X)。
另外，在圖7所示的S2模式下，即，2個接觸點沿著從左上向右下的直線遠離的模式下，如圖9所示，△V值中AD1(X)最大，第2大的是AD3(Y)。因此，最大電位差與第2大電位差的組合為AD1(X)、AD3(Y)。
另外，在圖7所示的S3模式下，即，2個接觸點沿著Y方向遠離的模式下，如圖10所示，△V值中AD3(Y)最大，第2大的是AD2(Y)。因此，最大電位差與第2大電位差的組合為AD3(Y)、AD2(Y)。
另外，在圖7所示的S4模式下，即，2個接觸點沿著從右上向左下的直線分離的模式下，如圖11所示，△V值中AD2(X)最大，第2大的是AD2(Y)。因此，最大電位差與第2大電位差的組合為AD2(X)、AD2(Y)。
如上所述，△V中最大電位差與第2大電位差的組合為，S1模式下是AD2(X)與AD1(X)，S2模式下是AD1(X)與AD3(Y)，S3模式下是AD3(Y)、AD2(Y)，S4模式下是AD2(X)與AD2(Y)。
如上所述，2個接觸點排列的方向與獲得最大電位差及第2大電位差的供電端子之間存在相關關係，最大電位差與第2大電位差的組合根據模式S1~S4而各異。因此，根據最大電位差與第2大電位差的組合，能夠掌握2個接觸點的位置關係，即2個點的具體排列方向。
如果△V中最大的電位差與第2大電位差的組合為AD2(X)、AD1(X)，2個接觸點為S1模式，即，2個接觸點沿著X方向遠離的模式。
另外，如果△V中最大電位差與第2大電位差的組合為AD1(X)、AD3(Y)，2個接觸點為S2模式，即，2個接觸點沿著左上至右下方向分離的模式。
另外，如果△V中最大電位差與第2大電位差的組合為AD3(Y)、AD2(Y)，2個接觸點為S3模式，即，2個接觸點沿著Y方向遠離的模式。
另外，如果△V中最大電位差與第2大電位差的組合為AD2(X)、AD2(Y)，2個接觸點為S4模式，即，2個接觸點沿著右上至左下方向遠離的模式。
另外，在觸控面板為2點接觸的情況下，2個接觸點還有可能在偏離S1~S4方向的方向上排列。在此情況下，也可以根據S1~S4各模式的最大電位差與第2大電位差的關係，判別2個接觸點的方向。
本實施方式的觸控面板位置偵測方法是利用上述最大電位差及第2大電位差的組合的方法。
根據圖18，關於本實施方式的觸控面板的接觸點偵測方法進行說明。
首先，在步驟302(S302)，進行觸摸偵測處理。具體是，在圖14所示的狀態下，由第4電位測定部AD4測定電位。在此，在該狀態下，第1供電端子31、第2供電端子32、第3供電端子33的電位是電源電位Vcc。
然後，在步驟304(S304)，判斷有無觸摸。在手指等正在觸摸觸控面板的情況下，第4電位測定部AD4可偵測出電源電位Vcc被透明導電膜11的電阻與第5電阻R5分壓之後的電位。因此，在第4電位測定部AD4偵測到電位的情況下，即判斷為觸控面板正被觸摸，並移至步驟306。相反，第4電位測定部AD未偵測到電位的情況下，則判斷為觸控面板未被觸摸，並結束圖18的處理。
然後，在步驟306(S306)，偵測接觸點的坐標。如圖3所示，使透明導電膜21產生X方向的電位分布，並由第4電位測定部AD4測定電位。然後，坐標偵測部82根據由第4電位測定部AD4測定到的電位，偵測接觸點的X坐標。同樣，如圖4所示，使透明導電膜21產生Y方向的電位分布，並由第4電位測定部AD4測定電位。然後，坐標偵測部82根據由第4電位測定部AD4測定到的電位，偵測接觸點的Y坐標。與第1實施形態同樣，偵測出的X坐標及Y坐標，在觸控面板的接觸點為1點的情況下即是該接觸點的坐標，在接觸點為2點的情況下是2個接觸點的中點。
然後，在步驟308(S308)，偵測最大電位差△Vm。具體是，進行如圖16所示的用於偵測最大電位差的子程序。
然後，在步驟310(S310)，與第1實施形態同樣，由1點/2點判別部 83判斷在步驟308偵測出的最大電位差△Vm是否超過閾值△Vth。在最大電位差△Vm未超過閾值△Vth的情況下，判斷為觸控面板的接觸點是1點，並移至步驟312。在最大電位差△Vm超過閾值△Vth的情況下，判斷為觸控面板的接觸點是2點，並移至步驟314。
在判斷為接觸點是1點的情況下，在步驟312(S312)，將步驟306中偵測出的坐標作為接觸點的坐標輸出。
另一情況，在判斷為接觸點是2點的情況下，在步驟314(S314)，測定各電位測定部的電位差△V。具體是，進行後述的測定電位差的子程序。
然後，在步驟316(S316)，將電位差△V1X、△V2X、△V2Y、△V3Y中最大的電位差作為最大電位差△Vm，並判斷最大電位差△Vm是否超過閾值△Vth。在最大電位差△Vm未超過閾值△Vth的情況下，判斷為錯誤，並結束處理。在最大電位差△Vm超過閾值△Vth的情況下，判斷為接觸點是2點，並移至步驟318。
然後，在步驟318(S318)，偵測2個接觸點的排列方向。具體是，由方向偵測部86從電位差△V1X、△V2X、△V2Y、△V3Y中選擇最大的電位差及第2大電位差，並根據所選電位差的組合，偵測2個接觸點的位置關係(2點間的方向)。電位差△V1X、△V2X、△V2Y、△V3Y中的最大及第2大電位差的組合是電位差△V1X及△V2X的情況下，即，AD1(X)及AD2(X)的情況下，2個接觸點是S1模式。
另外，最大及第2大電位差的組合是電位差△V1X及△V3Y的情況下，即，AD1(X)及AD3(Y)的情況下，2個接觸點是S2模式。
另外，最大及第2大電位差的組合是電位差△V2Y及△V3Y的情況下，即，AD2(Y)及AD3(Y)的情況下，2個接觸點是S3模式。
另外，最大及第2大電位差的組合是電位差△V2X及△V2Y的情況下，即，AD2(X)及AD2(Y)的情況下，2個接觸點是S4模式。
然後，在步驟320(S320)，算出與觸控面板接觸的2點間的距離的X成分。具體是，由距離算出部84根據電位差△V1X及△V2X，通過數1所示的算式或數2所示的算式等，算出與觸控面板接觸的2點間的距離的X成分。在S1模式的情況下，根據電位差△V1X及△V2X中較大的一方，在S2模式或S4模式的情況下，根據電位差△V1X及△V2X的任一方，算出與觸控面板接觸的2點間的距離的X成分。
然後，在步驟322(S322)，算出與觸控面板接觸的2點間的距離的Y成分。具體是，由控制器80的距離算出部84，根據電位差△V2Y及△V3Y，通過數1所示的算式或數2所示的算式等，算出與觸控面板接觸的2點間的距離的Y成分。例如，在S3模式的情況下，根據電位差△V2Y及△V3Y中較大的一方，在S2模式或S4模式的情況下，根據電位差△V2Y及△V3Y中的任一方，算出與觸控面板接觸的2點間的距離的Y成分。
然後，在步驟324(S324)，輸出與觸控面板接觸的2點的坐標資訊。在本實施方式中，由2點算出部85根據在步驟320算出的2點間的距離的X成分、在步驟322算出的2點間的距離的Y成分、在步驟306偵測出的坐標，算出與觸控面板接觸的2點的坐標。將該算出的2點的坐標作為坐標資訊輸出。
在與觸控面板接觸的2點間的位置關係為S1模式的情況下，對於在步驟306中偵測出的X坐標，通過加上在步驟320中算出的2點間的距離的X成分的一半值，算出一方的X坐標，而通過減去在步驟320中算出的距離的一半值，算出另一方的X坐標，從而算出2點各自的X坐標。2點的Y坐標均為步驟306中偵測出的Y坐標。將該算出的2點的坐標作為坐標資訊輸出。
另外，在與觸控面板接觸的2點間的位置關係為S2模式的情況下，對於在步驟306中偵測出的X坐標，通過加上在步驟320中算出的 2點間的距離的X成分的一半值，算出一方的X坐標，通過減去在步驟320中算出的距離的一半值，算出另一方的X坐標，從而求出2點各自的X坐標。對於在步驟306中偵測出的Y坐標，加上在步驟322中算出的2點間的距離的Y成分的一半值，算出一方的Y坐標，通過減去在步驟320中算出的距離的一半值，算出另一方的Y坐標，從而求出2點各自的Y坐標。S2模式是與觸控面板接觸的2點沿著左上至右下的傾斜線方向遠離的模式，因此，能夠根據算出的2個X坐標及Y坐標，確定2點的坐標，並將該算出的2點的坐標作為坐標資訊輸出。
另外，與觸控面板接觸的2點間的位置關係是S3模式的情況下，對於在步驟306中偵測出的Y坐標，通過加上在步驟322中算出的2點間的距離的Y成分的一半值，算出一方的Y坐標，通過減去在步驟320中算出的距離的一半值，算出另一方的Y坐標，從而求出2點各自的Y坐標。2點的X坐標均是步驟306中偵測出的X坐標。將該算出的2點的坐標作為坐標資訊輸出。
另外，與觸控面板接觸的2點間的位置關係是S4模式的情況下，對於在步驟306中偵測出的X坐標，通過加上在步驟320中算出的2點間的距離的X成分的一半值，算出一方的X坐標，通過減去在步驟320中算出距離的一半值，算出另一方的X坐標，從而求出2點各自的X坐標。對於在步驟306中偵測出的Y坐標，通過加上在步驟322中算出的2點間的距離的Y成分的一半值，算出一方的Y坐標，通過減去在步驟320中算出的距離的一半值，算出另一方的Y坐標，從而求出2點各自的Y坐標。S4模式是與觸控面板接觸的2點沿著右上至左下的傾斜線方向遠離的模式，因此，能夠根據算出的2個X坐標及Y坐標，確定2點的坐標，並將該算出的2點坐標作為坐標資訊輸出。
在本實施方式中，通過執行以上步驟，能夠判別2個接觸點的坐標及2個接觸點的排列方向。另外，通過反復進行以上步驟來判別2個 接觸點排列的方向或2點間距離的變化，從而能夠偵測捏小/拉大或旋轉等手勢操作。
在本實施方式中，能夠分別偵測與觸控面板接觸的2點的坐標，因此，能夠偵測多點觸控時的各接觸點的坐標，並能夠偵測包含與觸控面板接觸的2點的縮小/擴大及旋轉等在內的種種手勢操作。
另外，在本實施方式中，與觸控面板接觸的2點間的位置關係的模式按照S1→S2→S3→S4→S1的順序變化的情況下，由於與觸控面板接觸的2點順時針移動，因此，通過判別2點的模式變化，能夠偵測出順時針旋轉的手勢操作。另外，與觸控面板接觸的2點間的位置關係的模式按照S1→S4→S3→S2→S1的順序變化的情況下，由於與觸控面板接觸的2點逆時針移動，因此，通過判別該模式變化，能夠偵測出逆時針旋轉的手勢操作。
另外，就性質而言，從S1模式變化為S2模式，或從S2模式變化為S1模式的情況下，維持AD1(X)的值大的狀態，而從S2模式變化為S3模式，或從S3模式變化為S2模式的情況下，維持AD3(Y)的值大的狀態，從S3模式變化為S4模式，或從S4模式變化為S3模式的情況下，維持AD2(Y)的值大的狀態，從S4模式變化為S1模式，或從S1模式變化為S4模式的情況下，維持AD2(X)的值大的狀態。
以下，關於步驟314所示的電位差測定的子程序，根據圖19進行說明。
首先，在步驟402(S402)，通過電阻R1、R2產生X方向的電位分布。具體是，以圖5所示的方式，產生X方向的電位分布。並且，切斷第11開關SW11。
然後，在步驟404(S404)，在通過電阻產生了X方向的電位分布的狀態下，由第1電位測定部AD1測定電位。將該測定到的電位作為AD1(X)測定電位。
然後，在步驟406(S406)，在通過電阻產生了X方向的電位分布的狀態下，由第2電位測定部AD2測定電位。將該測定到的電位作為AD2(X)測定電位。
然後，在步驟408(S408)，通過電阻R3、R4產生Y方向的電位分布。具體是，以圖6所示的方式，產生Y方向的電位分布。並且，切斷第11開關SW11。
然後，在步驟410(S410)，在通過電阻產生了Y方向的電位分布的狀態下，由第2電位測定部AD2測定電位。將該測定到的電位作為AD2(Y)測定電位。
然後，在步驟412(S412)，在通過電阻產生了Y方向的電位分布的狀態下，由第3電位測定部AD3測定電位。將該測定到的電位作為AD3(Y)測定電位。
然後，在步驟414(S414)，算出並記憶電位差△V1X=|AD1(X)測定電位-AD1(X)基準電位|。在此，AD1(X)基準電位是，在通過電阻產生了X方向的電位分布的狀態下，預先由第1電位測定部AD1測定的電位。
然後，在步驟416(S416)，算出並記憶電位差△V2X=|AD2(X)測定電位-AD2(X)基準電位|。在此，AD2(X)基準電位是，在通過電阻產生了X方向的電位分布的狀態下，預先由第2電位測定部AD2測定的電位。
然後，在步驟418(S418)，算出並記憶電位差△V2Y=|AD2(Y)測定電位-AD2(Y)基準電位|。在此，AD2(Y)基準電位是，在通過電阻產生了Y方向的電位分布的狀態下，預先由第2電位測定部AD2測定的電位。
然後，在步驟420(S420)，算出並記憶電位差△V3Y=|AD3(Y)測定電位-AD3(Y)基準電位|。在此，AD3(Y)基準電位是，在通過電阻產 生了Y方向的電位分布的狀態下，預先由第3電位測定部AD3測定的電位。
在本實施方式中，通過判別與觸控面板接觸的2點間的位置關係的變化，能夠偵測旋轉等手勢操作。另外，在本實施方式中，能夠分別偵測與觸控面板接觸的2點的坐標，因此能夠偵測包括多點觸控的判別、與觸控面板接觸的2點的旋轉等在內的種種手勢操作。
另外，上述之外的內容與第1實施方式相同。
以上，說明了本發明的實施方式，然而本發明的內容並不限定於上述內容。

Claims (10)

  1. 一種觸控面板裝置，其特徵在於，該觸控面板裝置包括：具有第1導電膜的第1電極基板；具有第2導電膜的第2電極基板；分別設於該第2導電膜的4個角的第1供電端子、第2供電端子、第3供電端子、第4供電端子；及控制器，其中，該控制器在該第1供電端子通過第1電阻連接於電源電位、該第2供電端子通過第2電阻連接於電源電位、該第3供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，算出該第1供電端子的電位與基準電位的電位差△V1X、及該第2供電端子的電位與基準電位的電位差△V2X，在該第2供電端子通過第3電阻連接於電源電位，該第3供電端子通過第4電阻連接於電源電位、該第1供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，算出該第2供電端子的電位與基準電位的電位差△V2Y、及該第3供電端子的電位與基準電位的電位差△V3Y，選擇該電位差△V1X、△V2X、△V2Y、△V3Y中的最大電位差，根據該選擇的電位差，算出該第1導電膜與該第2導電膜接觸的2點間的位置關係。
  2. 一種觸控面板裝置，其特徵在於，該觸控面板裝置包括：具有第1導電膜的第1電極基板； 具有第2導電膜的第2電極基板；分別設於該第2導電膜的4個角的第1供電端子、第2供電端子、第3供電端子、第4供電端子；及控制器，其中，該控制器在該第1供電端子通過第1電阻連接於電源電位、該第2供電端子通過第2電阻連接於電源電位、該第3供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，算出該第1供電端子的電位與基準電位的電位差△V1X、及該第2供電端子的電位與基準電位的電位差△V2X，在該第2供電端子通過第3電阻連接於電源電位、該第3供電端子通過第4電阻連接於電源電位、該第1供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，算出該第2供電端子的電位與基準電位的電位差△V2Y、及該第3供電端子的電位與基準電位的電位差△V3Y，選擇該電位差△V1X、△V2X、△V2Y、△V3Y中的最大電位差及第2大電位差，根據該選擇的2個電位差的組合，偵測該第1導電膜與該第2導電膜接觸的2點間的位置關係。
  3. 根據請求項2之觸控面板裝置，其中，該控制器，根據該選擇的最大電位差，算出該2點間的距離。
  4. 根據請求項2之觸控面板裝置，其中，該控制器，根據該選擇的最大電位差及第2大電位差，算出該第1導電膜與該第2導電膜接觸的2點間的距離。
  5. 根據請求項3或4之觸控面板裝置，其中，該控制器 在該第1供電端子及該第2供電端子連接於電源電位、該第3供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，通過測定該第1電極基板的電位，偵測第一方向的坐標，在該第2供電端子及該第3供電端子連接於電源電位、該第1供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，通過測定該第1電極基板的電位，偵測第二方向的坐標，根據該第一方向的坐標、該第二方向的坐標及該距離，偵測該2點的坐標。
  6. 一種觸控面板裝置，其特徵在於，該觸控面板裝置包括：具有作為電位測定探頭的第1導電膜的第1電極基板；具有第2導電膜的第2電極基板；分別設於該第2導電膜的4個角的第1供電端子、第2供電端子、第3供電端子、第4供電端子；及控制器，其中，該控制器在該第1供電端子通過第1電阻連接於電源電位、該第2供電端子通過第2電阻連接於電源電位、該第3供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，測定該第1供電端子的電位及該第2供電端子的電位，在該第2供電端子通過第3電阻連接於電源電位、該第3供電端子通過第4電阻連接於電源電位、該第1供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，測定該第2供電端子的電位及該第3供電端子的電位，算出該測定的各電位與各供電端子的基準電位的電位差，根據該算出的電位差，偵測該第1導電膜與該第2導電膜接觸 的2點。
  7. 根據請求項6之觸控面板裝置，其中，該控制器求出該算出的電位差中的最大電位差，根據該求出的電位差，算出該2點間的位置關係。
  8. 根據請求項7之觸控面板裝置，其中，該控制器還求出第2大電位差，根據該最大電位差及該第2大電位差的組合，算出該2點間的位置關係。
  9. 一種觸控面板裝置的位置偵測方法，其特徵在於，該觸控面板裝置包括：具有第1導電膜的第1電極基板；具有第2導電膜的第2電極基板；及分別設於該第2導電膜的4個角的第1供電端子、第2供電端子、第3供電端子、第4供電端子，在該位置偵測方法包括：在該第1供電端子通過第1電阻連接於電源電位，並且該第2供電端子通過第2電阻連接於電源電位、該第3供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，算出該第1供電端子的電位與基準電位的電位差△V1X、及該第2供電端子的電位與基準電位的電位差△V2X的步驟；在該第2供電端子通過第3電阻連接於電源電位，並且該第3供電端子通過第4電阻連接於電源電位、該第1供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，算出該第2供電端子的電位與基準電位的電位差△V2Y、及該第3供電端子的電位與基準電位的電位差△V3Y的步驟；選擇該電位差△V1X、△V2X、△V2Y、V3Y中的最大電位差的步 驟；及，根據該選擇的電位差，算出該第1導電膜與該第2導電膜接觸的2點間的距離的步驟。
  10. 一種觸控面板裝置的位置偵測方法，其特徵在於，該觸控面板裝置包括：具有第1導電膜的第1電極基板；具有第2導電膜的第2電極基板；及分別設於該第2導電膜的4個角的第1供電端子、第2供電端子、第3供電端子、第4供電端子，該位置偵測方法包括：在該第1供電端子通過電阻連接於電源電位、該第2供電端子通過電阻連接於電源電位、該第3供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，算出該第1供電端子的電位與基準電位的電位差△V1X、及該第2供電端子的電位與基準電位的電位差△V2X的步驟；在該第2供電端子通過電阻連接於電源電位、該第3供電端子通過電阻連接於電源電位、該第1供電端子及該第4供電端子連接於接地電位的狀態下，算出該第2供電端子的電位與基準電位的電位差△V2Y、及該第3供電端子的電位與基準電位的電位差△V3Y的步驟；選擇該電位差△V1X、△V2X、△V2Y、V3Y中的最大電位差及第2大電位差的步驟；及根據該選擇的2個電位差的組合，偵測該第1導電膜與該第2導電膜接觸的2點間的位置關係的步驟。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6495573B2 (ja) * 2014-02-25 2019-04-03 富士通コンポーネント株式会社 タッチパネル
CA3071758A1 (en) 2019-02-07 2020-08-07 1004335 Ontario Inc. Methods for two-touch detection with resisitive touch sensor and related apparatuses and sysyems
TWI714198B (zh) * 2019-08-06 2020-12-21 緯創資通股份有限公司 多點電阻式觸控面板
US11947766B2 (en) * 2020-11-02 2024-04-02 Fujitsu Component Limited Touch panel device

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200617756A (en) * 2004-11-23 2006-06-01 Ind Tech Res Inst Coordinate positioning system of touch panel
TW201013503A (en) * 2008-06-30 2010-04-01 Tyco Electronics Corp Method and apparatus for detecting two simultaneous touches and gestures on a resistive touchscreen
TW201209668A (en) * 2010-07-22 2012-03-01 Fujitsu Component Ltd Method of detecting position on touchscreen panel, touchscreen panel, and method of initializing touchscreen panel
CN102736814A (zh) * 2011-04-06 2012-10-17 富士通电子零件有限公司 触摸面板
TW201333785A (zh) * 2012-01-31 2013-08-16 Fujitsu Component Ltd 觸控面板之位置檢測方法及觸控面板
US20140028586A1 (en) * 2012-07-24 2014-01-30 Fujitsu Component Limited Touch panel

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7254775B2 (en) * 2001-10-03 2007-08-07 3M Innovative Properties Company Touch panel system and method for distinguishing multiple touch inputs
JP2004272722A (ja) 2003-03-11 2004-09-30 Gunze Ltd タッチパネル装置
JP2008293129A (ja) 2007-05-22 2008-12-04 Tokai Rubber Ind Ltd タッチパネル
TWI379227B (en) * 2007-11-16 2012-12-11 Asustek Comp Inc Touch display device and a method of determining a plurality of touch points thereof
JP2009176114A (ja) 2008-01-25 2009-08-06 Mitsubishi Electric Corp タッチパネル装置及びユーザインタフェース装置
JP5071338B2 (ja) * 2008-10-09 2012-11-14 ヤマハ株式会社 タッチパネル装置
JP2010092347A (ja) * 2008-10-09 2010-04-22 Yamaha Corp タッチパネル装置
EP2204726A1 (en) 2008-12-30 2010-07-07 STMicroelectronics R&D Oy Touch screen controller
CN101644983B (zh) * 2009-05-20 2012-09-26 无锡中星微电子有限公司 触摸屏检测方法及装置
TWI403931B (zh) * 2009-06-03 2013-08-01 Higgstec Inc 矩陣式平行電極串之觸控面板及觸碰偵測方法
JP5086394B2 (ja) * 2009-07-07 2012-11-28 ローム株式会社 タッチパネルの制御回路、制御方法およびそれらを用いたタッチパネル入力装置、電子機器
CN102033674B (zh) * 2009-09-25 2013-05-15 展讯通信（上海）有限公司 电阻式触摸屏两点检测方法及设备
JP2012128676A (ja) * 2010-12-15 2012-07-05 Fujitsu Component Ltd タッチパネル
JP2012234419A (ja) * 2011-05-05 2012-11-29 Shinsedai Kk タッチパネル制御装置及びタッチパネル制御方法
ITMI20111540A1 (it) * 2011-08-23 2013-02-24 Haptyc Technology S R L Metodo per determinare tocchi multipli su uno schermo a sfioramento di tipo resistivo.
JP5831101B2 (ja) * 2011-09-29 2015-12-09 ぺんてる株式会社 座標入力システム
CN103412699B (zh) * 2013-06-28 2017-02-15 北京君正集成电路股份有限公司 一种四线电阻触摸屏两点触控手势识别的方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200617756A (en) * 2004-11-23 2006-06-01 Ind Tech Res Inst Coordinate positioning system of touch panel
TW201013503A (en) * 2008-06-30 2010-04-01 Tyco Electronics Corp Method and apparatus for detecting two simultaneous touches and gestures on a resistive touchscreen
TW201209668A (en) * 2010-07-22 2012-03-01 Fujitsu Component Ltd Method of detecting position on touchscreen panel, touchscreen panel, and method of initializing touchscreen panel
CN102736814A (zh) * 2011-04-06 2012-10-17 富士通电子零件有限公司 触摸面板
TW201333785A (zh) * 2012-01-31 2013-08-16 Fujitsu Component Ltd 觸控面板之位置檢測方法及觸控面板
US20140028586A1 (en) * 2012-07-24 2014-01-30 Fujitsu Component Limited Touch panel

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