TWI541645B - 測試系統及其測試方法 - Google Patents

Description

測試系統及其測試方法

本發明是有關於一種測試系統，特別是指一種結構簡單且成本低廉的測試系統及其測試方法。

現有的一種測試系統，如安裝一致茂電子所生產型號為Chroma 2233B的訊號產生器，該訊號產生器具有多種影像輸出接頭，如DVI、HDMI、Displayport、HDCP、TV等影像輸出型式，配合內建的影像訊號產生軟體，而可對多種類的顯示面板或顯示面板的驅動板進行測試。

然而，在對同一種固定類別的顯示面板或顯示面板的驅動板進行測試時，上述的多種功能中僅有一種是可供使用的，因此在建構測試系統時，使用該類產品則有成本高昂的缺點。

因此，本發明之目的，即在提供一種結構簡單且成本低廉的測試系統及其測試方法。

於是，本發明測試系統，用於對一待測板進行測試，測試系統包含一電腦主機及一電源控制單元，電腦主機包括一處理器、一儲存模組，及一顯示卡，儲存模組電連接處理器，顯示卡電連接處理器，儲存模組儲存有多組測試參數，顯示卡具有一顯示連接插座，電源控制單元分別電連接待測板及電腦主機，電腦主機輸出一控制訊號至電源控制單元，藉此控制電源控制單元對待測板供應一主電壓訊號，處理器接收一選擇訊號，並根據選擇訊號挑選一組測試參數，並透過顯示連接插座輸出一包括測試參數的測試訊號至待測板，從而待測板將測試訊號轉換為一驅動訊號集合。

於是，本發明測試方法，用於對一待測板進行測試，先於一電腦主機中裝設一具有顯示連接插座的顯示卡，接著電腦主機以程式控制使測試參數透過顯示卡的顯示連接插座而顯示於待測板，另一方面並由程式透過並列埠控制繼電器模組達成對待測板與顯示單元之背光電源的開啟或關閉的控制。

本發明之功效在於：利用具有顯示連接插座的該顯示卡及該電源控制單元的設置，而能夠以簡易的測試方式對該待測板進行測試，進而達到降低成本的功效。

有關本發明之前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之較佳實施例的詳細說明中，將可清楚的呈現。

在本發明被詳細描述之前，要注意的是，在以下的說明內容中，類似的元件是以相同的編號來表示。

參閱圖1、2，本發明測試系統之該較佳實施例用於對一待測板5進行測試，該待測板5是用以產生一供顯示用的驅動訊號集合501，該測試系統包含一電腦主機2、一電源控制單元3，及一顯示單元4。於本實施例中，該驅動訊號集合501具有一影像訊號及一背光驅動訊號，該影像訊號例如是RSDS(Reduced-Swing Differential Signaling)訊號。

該電腦主機2包括處理器21、儲存模組22、顯示卡23，及並列埠24(printer port)，其中，處理器21用以接收選擇訊號601，儲存模組22電連接處理器21，顯示卡23電連接處理器21，並列埠24電連接該處理器21並用以輸出一控制訊號602。於本實施例中，選擇訊號601是來自於電腦主機2的輸入介面(圖未示)所下的指令，例如利用滑鼠或鍵盤執行螢幕中的相對應功能指令。

該儲存模組22儲存有多組測試參數，顯示卡23具有顯示連接插座231，顯示連接插座231符合視訊電子標準協會(Video Electronics Standards Association,VESA)所開發的規格且用以輸出測試訊號603。於本實施例中，該等測試參數代表欲進行測試的圖像資訊，所述的顯示連接插座231為DisplayPort插座。

該電源控制單元3分別電連接待測板5及電腦主機2，且包括繼電器模組31、電源供應模組32，及背光電源模組33，其中，繼電器模組31電連接於電腦主機2及待測板5間以接收電腦主機2的並列埠24輸出的控制訊號602、電源供應模組32電連接並對繼電器模組31輸入一電源訊號集合701，背光電源模組33電連接於繼電器模組31及待測板5間。其中，待測板5是顯示面板的驅動板。

該電源訊號集合701具有主電壓訊號702及背光控制訊號703。於本實施例中，主電壓訊號702為DC 3.3V的電壓訊號，背光控制訊號703為DC 5V的電壓訊號。

該繼電器模組31根據接收後的控制訊號602以決定是否將主電壓訊號702輸出至待測板5，以及決定是否將背光控制訊號703輸出至背光電源模組33，該背光電源模組33於接收背光控制訊號703後對待測板5輸入一背光電源訊號704。

該顯示單元4電連接待測板5以接收驅動訊號集合501。於本實施例中，顯示單元4為一顯示面板。

本發明更進一步提供對待測板5進行測試之測試方法，請參照圖3，圖3為本發明測試方法之一流程步驟圖，該測試方法是對待測板5以一測試流程進行測試，於本實施例中，該顯示卡23是事先裝設於電腦主機2中，測試流程包括下列步驟81~88。

於步驟81中，待測板5進行測試時，該處理器21透過並列埠24輸出該控制訊號602，以控制繼電器模組31將該主電壓訊號702送至該待測板5。

進一步說明如下，於步驟81中，先將欲進行測試的待測板5安裝至定位後，由處理器21接收選擇訊號601，並根據選擇訊號601挑選一組測試參數後，透過電腦主機2的並列埠24輸出控制訊號602至電源控制單元3的繼電器模組31。

接著電源控制單元3的繼電器模組31根據該控制訊號602的控制而將由電源供應模組32產生的主電壓訊號702供應至待測板5。

於步驟82中，處理器21透過顯示連接插座231輸出一包括該組測試參數的測試訊號603至待測板5。

於步驟83中，待測板5於接收測試訊號603後，將測試訊號603轉換為驅動訊號集合501中的影像訊號，並輸出至顯示單元7。

於步驟84中，繼電器模組31於接收控制訊號602後，控制開啟顯示單元7的背光電源，而將畫面顯示出來。

進一步說明如下，於步驟84中，繼電器模組31根據控制訊號602的控制而將由電源供應模組32產生的背光控制訊號703供應至背光電源模組33，而使背光電源模組33產生的背光電源訊號704供應至待測板5，從而待測板5於接收測試訊號603及背光電源訊號704後，將測試訊號603及背光電源訊號704轉換為驅動訊號集合501，並輸出至顯示單元7進行顯示，進而使顯示單元7顯示相對應測試參數所代表的畫面。於本實施例中，該測試訊號603及該背光電源訊號704是分別經過待測板5的處理而轉換成由影像訊號及背光驅動訊號所構成的驅動訊號集合501。

於步驟85中，使用者目測顯示單元7是否正常顯示相對應測試參數所代表的畫面，並藉以判斷待測板5是否功能正常。要說明的是，使用者可以切換不同的測試參數以進行檢測，而不限於單一測試參數。

於步驟86中，當待測板5檢測完畢後，處理器21關閉顯示單元7的背光電源。

進一步說明如下，於步驟86中，當該待測板5檢測完畢後，由處理器21接收停止測試的選擇訊號601後，即可根據選擇訊號601而由並列埠24輸出相對應的控制訊號602，以驅使繼電器模組31停止供應背光控制訊號703，此時背光電源模組33就會停止供應背光電源訊號704。

於步驟87中，處理器21關閉測試訊號603，也就是指由處理器21要求顯示連接插座231停止輸出測試訊號603。

於步驟88中，處理器21關閉待測板5的電源，以完成測試。

進一步說明如下，於步驟88中，處理器21透過控制訊號602驅使繼電器模組31停止繼續供應主電壓訊號702，此時待測板5不再接受到任何電氣訊號，而可將待測板5安全取出以結束該測試流程。

值得一提的是，本發明也可以是取消該顯示單元4，此時待測板5是包括一顯示面板及一顯示面板的驅動板，而同樣可達到相同的功效。

參閱圖4，為本發明的另一測試方法流程步驟圖，其差異之處在於：該測試流程中的該步驟82及該步驟83是同時進行，該步驟87及該步驟88是同時進行。如此，可達到相同的目的與功效。

要說明的是，上述所舉之測試方法，其測試流程分別僅為單一使用例，熟悉此技術領域的人員在得知本發明之後即能自行變化出的其它測試流程，仍然不脫離本發明專利之涵蓋範圍。

綜上所述，利用具有顯示連接插座231的該顯示卡23及該電源控制單元3的設置，而能夠以簡易的測試方式對該待測板5進行測試，相較於現有的測試系統，本發明不僅結構簡單且成本低廉，進而達到降低成本的功效，故確實能達成本發明之目的。

惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。

2．．．電腦主機

21．．．處理器

22．．．儲存模組

23．．．顯示卡

231．．．顯示連接插座

24．．．並列埠

3．．．電源控制單元

31．．．繼電器模組

32．．．電源供應模組

33．．．背光電源模組

4．．．顯示單元

5．．．待測板

501．．．驅動訊號集合

601．．．選擇訊號

602．．．控制訊號

603．．．測試訊號

701．．．電源訊號集合

702．．．主電壓訊號

703．．．背光控制訊號

704．．．背光電源訊號

圖1是本發明較佳實施例的示意方塊圖；

圖2是本發明較佳實施例的系統方塊圖；

圖3是本發明之一測試方法流程圖；及

圖4是本發明之另一測試方法流程圖。

2．．．電腦主機

21．．．處理器

22．．．儲存模組

23．．．顯示卡

231．．．顯示連接插座

24．．．並列埠

3．．．電源控制單元

5．．．待測板

Claims (8)

1. 一種測試系統，用於對一待測板進行測試，該測試系統包含：一電腦主機，包括一處理器、一儲存模組，及一顯示卡，該儲存模組電連接該處理器，該顯示卡電連接該處理器，該儲存模組儲存有多組測試參數，該顯示卡具有一顯示連接插座；及一電源控制單元，分別電連接該待測板及該電腦主機；該電腦主機輸出一控制訊號至該電源控制單元，藉此控制該電源控制單元對該待測板供應一主電壓訊號，該處理器接收一選擇訊號，並根據該選擇訊號挑選一組測試參數，並透過該顯示連接插座輸出一包括該組測試參數的測試訊號至該待測板，從而該待測板將該測試訊號轉換為一驅動訊號集合。
2. 根據申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中，該電源控制單元包括一繼電器模組及一電源供應模組，該繼電器模組電連接於該電腦主機及該待測板間，該電源供應模組電連接並對該繼電器模組輸入一電源訊號集合，該電源訊號集合具有該主電壓訊號，該繼電器模組根據接收後的該控制訊號以決定是否將該主電壓訊號輸出至該待測板。
3. 根據申請專利範圍第2項所述之測試系統，還包含一顯示單元，該顯示單元電連接該待測板以接收該驅動訊號集合，該電源訊號集合還具有一背光控制訊號，該電源控制單元還包括一背光電源模組，該背光電源模組電連接於該繼電器模組及該待測板間，該繼電器模組根據接收後的該控制訊號以決定是否將該背光控制訊號輸出至該背光電源模組，該背光電源模組於接收該背光控制訊號後對該待測板輸入一背光電源訊號，該待測板於接收該測試訊號及該背光電源訊號後，將該測試訊號及該背光電源訊號轉換為該驅動訊號集合並輸出至該顯示單元。
4. 根據申請專利範圍第3項所述之測試系統，其中，該電腦主機還包括一並列埠，該並列埠電連接該處理器，該處理器透過該並列埠輸出該控制訊號。
5. 根據申請專利範圍第4項所述之測試系統，更進一步包括對該待測板以一測試流程進行測試，該測試流程包括下列步驟：(A)透過該並列埠驅使該繼電器模組輸出該主電壓訊號至該待測板；(B)透過該顯示連接插座輸出該測試訊號至該待測板；(C)該待測板將該測試訊號經過處理後轉換成一影像訊號後輸出至該顯示單元；(D)該繼電器模組控制使該背光電源模組對該待測板輸入該背光電源訊號，進而使該顯示單元顯示畫面； (E)使用者目測該顯示單元是否正常顯示相對應測試參數所代表的畫面，並判斷該待測板是否功能正常；(F)驅使該背光電源模組停止供應該背光電源訊號；(G)驅使該顯示連接插座停止輸出該測試訊號；及(H)驅使該繼電器模組停止供應該主電壓訊號。
6. 根據申請專利範圍第5項所述之測試系統，其中，該步驟(B)及該步驟(C)是同時進行。
7. 根據申請專利範圍第5項所述之測試系統，其中，該步驟(G)及該步驟(H)是同時進行。
8. 一種測試方法，用於對一待測板進行測試，該測試方法包括下列步驟：(A)於一電腦主機中裝設一具有顯示連接插座的顯示卡；(B)該電腦主機透過該顯示連接插座輸出一包括一測試參數的測試訊號至該待測板；及(C)該電腦主機透過一並列埠控制一繼電器模組，以決定是否將一主電壓訊號及一背光電源訊號輸出至該待測板。