TWI536226B - 光學觸控裝置與觸控影像處理方法 - Google Patents

光學觸控裝置與觸控影像處理方法 Download PDF

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TWI536226B
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魏守德
張洵豪
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Description

光學觸控裝置與觸控影像處理方法
本發明係提供一種光學觸控裝置，尤指一種可適用於不同尺寸之觸控顯示單元之光學觸控裝置與觸控影像處理方法。
在現今各式消費性電子產品市場中，個人數位助理、行動電話，以及手機等可攜式電子產品皆已廣泛使用具有觸控裝置作為其資料溝通的界面工具。由於目前電子產品的設計皆以輕、薄、短、小為方向，因此在產品上無足夠空間容納如鍵盤、滑鼠等傳統輸入裝置，尤其在講求人性化設計的平板電腦需求的帶動下，搭配觸控裝置的顯示器已逐漸成為各式電子產品的關鍵零組件之一。然而現今所發展出之觸控技術眾多，例如電阻式、電容式、超音波式、紅外線感測式、光學影像式等觸控技術，且由於技術層面與成本有所差異，因此這諸多種類之觸控技術便運用在各種不同領域。舉例來說，光學觸控技術之作用原理為透過位於顯示器兩個角落的攝影機，偵測觸控物體所形成的陰影，經由三角定位找出觸控之位置，故與傳統電阻式或電容式觸控技術比較起來，其具有準確、穿透率高、可靠度佳、損壞率低、成本低以及支援多點觸控手勢等優點，在中大尺寸顯示器方面很容易切入市場。然而現有的光學觸控裝置常遇到的瓶頸在於當觸控目標顯示器(如電腦螢幕)之尺寸改變時，並沒有辦法快速且有效的直接使用，必須重新進行校正，且光源能量也必須重新調整，才可以正常使用，意即無法單純使用同一套光學觸控裝置至不同尺寸之觸控目標顯示器，此便造成組裝製造之限制。
本發明係提供一種可適用於不同尺寸之觸控顯示單元之光學觸控裝置與觸控影像處理方法，以解決上述之問題。
本發明之申請專利範圍係揭露一種光學觸控裝置，其包含有至少一光源、一第一取像模組、一第二取像模組與一控制模組。該至少一光源係設置於一觸控顯示單元之外側且用來發射光線，藉以照明於該觸控顯示單元上之一座標偵測區之一物體；該第一取像模組係安裝於該觸控顯示單元之一角落且用來擷取該物體之影像資料；該第二取像模組係安裝於該觸控顯示單元之另一角落且用來擷取該物體之影像資料，其中該第一取像模組與該第二取像模組之相對位置係可被調整；該控制模組係耦合於該第一取像模組與該第二取像模組，且該控制模組係用來依據該第一取像模組與該第二取像模組所擷取該物體之影像資料以及該第一取像模組與該第二取像模組之相對位置，計算該物體於該座標偵測區之一座標值。
本發明之申請專利範圍係另揭露該光學觸控裝置另包含一測距模組，其係耦合於該控制模組且用來偵測該第一取像模組與該第二取像模組之一距離值，該控制模組係用來依據該第一取像模組與該第二取像模組所擷取該物體之影像資料以及該測距模組所偵測該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值，計算該物體於該座標偵測區之該座標值。
本發明之申請專利範圍係另揭露該控制模組係另用來依據該第一取像模組與該第二取像模組之連線以及該第一取像模組與該物體之連線所形成之一第一夾角、該第一取像模組與該第二取像模組之連線以及該第二取像模組與該物體之連線所形成之一第二夾角，以及該測距模組所偵測該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值，計算該物體於該座標偵測區之該座標值。
本發明之申請專利範圍係另揭露該物體於該座標偵測區之一第一方向座標值係為(該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值)*(tan(該第二夾角))/(tan(該第一夾角)+tan(該第二夾角))，且該物體於該座標偵測區之一第二方向座標值係為(該第一方向座標值)*(tan(該第一夾角)。
本發明之申請專利範圍係另揭露該控制模組係另用來依據該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值、該第一取像模組與該第二取像模組之一最大距離值、該第一取像模組與該第二取像模組之一最小距離值、該第一取像模組與該第二取像模組於該最大距離值時所需之一最大光源強度值與該第一取像模組與該第二取像模組於該最小距離值時所需之一最小光源強度值，決定該至少一光源所發射光線之一強度值。
本發明之申請專利範圍係另揭露該至少一光源所發射光線之該強度值係為(該最小光源強度值)+[((該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值)-(該最小距離值))*(該最大光源強度值-該最小光源強度值)/(該最大距離值-該最小距離值)]。
本發明之申請專利範圍係另揭露該測距模組係為一電子捲尺，其兩端係分別連接於該第一取像模組與該第二取像模組。
本發明之申請專利範圍係另揭露該測距模組係為一光學測距儀。
本發明之申請專利範圍係另揭露一種光學觸控系統，其包含有一觸控顯示單元與一光學觸控裝置。該觸控顯示單元上係形成有一座標偵測區。該光學觸控裝置係結合於該觸控顯示單元，且該光學觸控裝置包含有至少一光源、一第一取像模組、一第二取像模組與一控制模組。該至少一光源係設置於該觸控顯示單元之外側且用來發射光線，藉以照明於該觸控顯示單元上之一座標偵測區之一物體；該第一取像模組係安裝於該觸控顯示單元之一角落且用來擷取該物體之影像資料；該第二取像模組係安裝於該觸控顯示單元之另一角落且用來擷取該物體之影像資料，其中該第一取像模組與該第二取像模組之相對位置係可被調整；該控制模組係耦合於該第一取像模組與該第二取像模組，且該控制模組係用來依據該第一取像模組與該第二取像模組所擷取該物體之影像資料以及該第一取像模組與該第二取像模組之相對位置，計算該物體於該座標偵測區之一座標值。
本發明之申請專利範圍係另揭露一種適用於一光學觸控裝置之觸控影像處理方法，其包含有下列步驟：該光學觸控裝置之至少一光源發射光線以照明一物體；該光學觸控裝置之一第一取像模組與一第二取像模組擷取該物體之影像資料，其中該第一取像模組與該第二取像模組之相對位置係可被調整；以及該光學觸控裝置之一控制模組依據該第一取像模組與該第二取像模組所擷取該物體之影像資料以及該第一取像模組與該第二取像模組之相對位置，計算該物體之一座標值。
本發明係提供可適用於不同尺寸之觸控顯示單元之光學觸控裝置與觸控影像處理方法，其可依據觸控顯示單元之尺寸(意即兩取像模組之擺設距離)計算出相對應光源能量強度與物體之觸控座標值，而無須重新進行校正或為了因應不同尺寸觸控顯示單元而需使用不同光學觸控裝置，故本發明可單純使用同一套光學觸控裝置至不同尺寸之觸控目標顯示器，如此一來便大幅節省製造成本且有效提升組裝便利性。
請參閱第1圖與第2圖，第1圖為本發明實施例一光學觸控系統50之功能方塊示意圖，第2圖為本發明實施例光學觸控系統50之示意圖。光學觸控系統50包含有一觸控顯示單元52，其係可為一顯示面板或一影像投影屏幕等，且其上係形成有一座標偵測區521。光學觸控系統50另包含有一光學觸控裝置54，其係可結合於觸控顯示單元52，舉例來說觸控顯示單元52與光學觸控裝置54係可整合於同一顯示器內，例如於顯示螢幕或一體式桌上型電腦(All In One PC)之內等；或是光學觸控裝置54係可單獨模組化，例如設置於用來外掛於觸控顯示單元52之一框架內，故可拆卸安裝於不同尺寸之觸控顯示單元52上。此外，光學觸控裝置54或可與影像投影屏幕結合，意即外掛於投影畫面之旁側。再者，光學觸控裝置54包含有至少一光源56、一第一取像模組58、一第二取像模組60、一測距模組62與一控制模組64。光源56係設置於觸控顯示單元52之外側且用來發射光線，藉以照明位於觸控顯示單元52之座標偵測區521之物體，其中光源56係可為一紅外線發光二極體或一雷射發光二極體等，於此實施例中兩光源56係分別安裝於觸控顯示單元52外側之兩角落，而其設置位置與數量可不侷限於本實施例中所述，端視實際設計需求而定。
再者，第一取像模組58與第二取像模組60係分別安裝於觸控顯示單元52之相異兩側角落，第一取像模組58與第二取像模組60係用來擷取物體之影像資料，其中第一取像模組58與第二取像模組60係可分別為一影像感測器，如一攝影機等，而取像模組之設置位置與數量可不侷限於本實施例中所述，端視實際設計需求而定。此外，第一取像模組58與第二取像模組60之相對位置係可被調整，請參閱第3圖，第3圖為本發明實施例調整第一取像模組58與第二取像模組60之相對位置之示意圖，舉例來說可固定其中一取像模組(如第一取像模組58)，而另一取像模組(如第二取像模組60)則可相對於該取像模組移動，藉以調整兩取像模組之相對距離，如此一來便可因應不同尺寸之觸控顯示單元52，而相對應地將第一取像模組58與第二取像模組60分別安裝於觸控顯示單元52之相異兩側角落；舉例來說，第一取像模組58與第二取像模組60之相對位置調整機制可為利用連接於兩取像模組間之滑桿移動或是直接將分離之兩取像模組分別安裝於觸控顯示單元52之兩角落之方法，其端視實際設計需求而定，只要是能調整第一取像模組58與第二取像模組60之相對位置之機制皆屬於本發明所保護之範疇。此外，各光源56可與其相對應取像模組以模組化設計，意即在調整第一取像模組58與第二取像模組60之相對位置時，可同時調整其相對應光源56之相對位置。再者，測距模組62係用來偵測第一取像模組58與第二取像模組60之一距離值D，舉例來說，測距模組62係可為一電子捲尺，其兩端係分別連接於第一取像模組58與第二取像模組60，如其一端可固定於其中一取像模組且另一端可隨著另一取像模組拉伸，當第一取像模組58與第二取像模組60間產生相對移動而改變其間之距離值D時，該電子捲尺之延伸長度亦會相對應改變而輸出相對應之電子訊號至控制模組64；測距模組62或可為一光學測距儀，其係利用光束達到量測第一取像模組58與第二取像模組60之距離值D之功能。承上所述，只要是能量測第一取像模組58與第二取像模組60間距離之機制皆屬於本發明所保護之範疇。
再者，控制模組64係耦合於第一取像模組58、第二取像模組60與測距模組62，控制模組64係用來依據第一取像模組58與第二取像模組60所擷取物體之影像資料以及第一取像模組58與第二取像模組60之相對位置，以計算物體於座標偵測區521之一座標值。例如控制模組64係可用來依據第一取像模組58與第二取像模組60所擷取物體之影像資料以及測距模組62所偵測第一取像模組58與第二取像模組60之距離值D，計算物體於座標偵測區521之該座標值。此外，控制模組64係可另用來依據第一取像模組58與第二取像模組60之距離值D、第一取像模組58與第二取像模組60之一最大距離值Dmax、第一取像模組58與第二取像模組60之一最小距離值Dmin、第一取像模組58與第二取像模組60於最大距離值Dmax時所需之一最大光源強度值Pmax與第一取像模組58與第二取像模組60於最小距離值Dmin時所需之一最小光源強度值Pmin，決定光源56所發射光線之一強度值P，意即強度值P係可為距離值D之函數。
請參閱第4圖與第5圖，第4圖為本發明實施例一物體66位於座標偵測區521之示意圖，第5圖為本發明光學觸控系統50執行觸控影像處理方法之流程圖，該方法包含有下列步驟：
步驟100：於第一取像模組58與第二取像模組60之相對位置調整完畢後，測距模組62偵測第一取像模組58與第二取像模組60之距離值D。
步驟102：控制模組64依據距離值D、最大距離值Dmax、最小距離值Dmin、最大光源強度值Pmax與最小光源強度值Pmin，控制光源56以強度值P發射光線，藉以照明物體66。
步驟104：第一取像模組58與第二取像模組60分別擷取物體66之影像資料。
步驟106：控制模組64依據第一取像模組58與第二取像模組60所擷取物體66之影像資料以及第一取像模組58與第二取像模組60之距離值D，計算物體66於座標偵測區521之該座標值。
步驟108：結束。
於此對上述步驟作更進一步說明，首先第一取像模組58與第二取像模組60之相對位置係可被調整，意即可因應不同尺寸之觸控顯示單元52，而相對應地將第一取像模組58與第二取像模組60分別安裝於觸控顯示單元52之相異兩側角落(如第3圖所示)，當第一取像模組58與第二取像模組60之相對位置調整完畢後，測距模組62可偵測第一取像模組58與第二取像模組60之水平距離值D，如利用電子捲尺或光學測距儀等機制來達到量測之目的，之後再將相關數據傳輸至控制模組64，藉以作為計算光源56之強度值P與物體66之該座標值之依據。於調整光源能量強度方面，若光源56之間距以及第一取像模組58與第二取像模組60之距離太近時，第一取像模組58與第二取像模組60可能會過渡曝光；但若光源56之間距以及第一取像模組58與第二取像模組60之距離太遠時，則可能造成第一取像模組58與第二取像模組60所擷取影像能量強度不夠，而無法清晰辨識，故必須設定相對應尺寸之觸控顯示單元52之較佳光線能量強度值。
首先可先定義出光學觸控系統50可適用之最大尺寸與最小尺寸之觸控顯示單元52，而分別得出第一取像模組58與第二取像模組60之最大距離值Dmax以及第一取像模組58與第二取像模組60之最小距離值Dmin。之後可經由實驗得出當第一取像模組58與第二取像模組60處於最大距離值Dmax時所需要之最大光源強度值Pmax，以及得出當第一取像模組58與第二取像模組60處於最小距離值Dmin時所需要之最小光源強度值Pmin。舉例來說，當第一取像模組58與第二取像模組60處於最大距離值Dmax時，可設定第一取像模組58或第二取像模組60偵測座落於座標偵測區521之對角最遠端之物體66所需之光源強度值為最大光源強度值Pmax；且當第一取像模組58與第二取像模組60處於最小距離值Dmin時，可設定第一取像模組58或第二取像模組60偵測座落於座標偵測區521之對角最遠端之物體66所需之光源強度值為最小光源強度值Pmin。其中光源56所發射光線之強度值P與距離值D、最大距離值Dmax、最小距離值Dmin、最大光源強度值Pmax與最小光源強度值Pmin之關係可為：
P(D)=Pmin+[(D-Dmin)*(Pmax-Pmin)/(Dmax-Dmin)]；
意即以內插關係代入變數距離值D，以得出當第一取像模組58與第二取像模組60之距離值D時之相對應光源56所發射光線之強度值P，以因應相對應尺寸之觸控顯示單元52，之後控制模組64便可控制光源56以強度值P發射光線，藉以照明物體66。
為了達到於光學觸控系統50實施觸控之目的，使用者可於座標偵測區521內進行觸控操作，例如以手指(物體66)於座標偵測區521內移動。請參閱第4圖，當物體66位於座標偵測區521之內部時，第一取像模組58與第二取像模組60係會分別擷取物體66之影像資料，且將所擷取之影像資料分別傳輸至控制模組64，之後控制模組可先對其影像資料進行影像處理分析，例如去除雜訊等，之後再對經影像處理過後之影像資料進行座標轉換計算，例如可依據第一取像模組58與第二取像模組60所擷取物體66之影像資料以及第一取像模組58與第二取像模組60之距離值D，以三角定位方式計算物體66於座標偵測區521之該座標值，最後便可提供電腦主機執行相關觸控操作之依據。舉例來說，(X,Y)係為物體66於座標偵測區521之該座標值，第一取像模組58與第二取像模組60之連線以及第一取像模組58與物體66之連線形成有一第一夾角θL、第一取像模組58與第二取像模組60之連線以及第二取像模組60與物體66之連線形成有一第二夾角θR，則可藉由第一取像模組58與第二取像模組60所擷取之影像分別與座標軸X之夾角θL、θR以及距離值D以三角定位方式找出物體66之觸控位置，其推導關係如下：
tanθL=Y/X；
tanθR=Y/(D-X)；
(D-X)*tanθR=X*tanθL；
D*tanθR=X*(tanθL+tanθR)；
X=(D*tanθR)/(tanθL+tanθR)；
Y=[(D*tanθR)/(tanθL+tanθR)]*tanθL；
如此一來便可得出物體66於座標偵測區521之一第一方向(X方向)與一第二方向(Y方向)之座標值(X,Y)，其中該第一方向(X方向)與該第二方向(Y方向)係可實質上互相垂直。
相較於先前技術，本發明係提供可適用於不同尺寸之觸控顯示單元之光學觸控裝置與觸控影像處理方法，其可依據觸控顯示單元之尺寸(意即兩取像模組之擺設距離)計算出相對應光源能量強度與物體之觸控座標值，而無須重新進行校正或為了因應不同尺寸觸控顯示單元而需使用不同光學觸控裝置，故本發明可單純使用同一套光學觸控裝置至不同尺寸之觸控目標顯示器，如此一來便大幅節省製造成本且有效提升組裝便利性。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。
50．．．光學觸控系統
52．．．觸控顯示單元
521．．．座標偵測區
54．．．光學觸控裝置
56．．．光源
58．．．第一取像模組
60．．．第二取像模組
62．．．測距模組
64．．．控制模組
66．．．物體
第1圖為本發明實施例光學觸控系統之功能方塊示意圖。
第2圖為本發明實施例光學觸控系統之示意圖。
第3圖為本發明實施例調整第一取像模組與第二取像模組之相對位置之示意圖。
第4圖為本發明實施例物體位於座標偵測區之示意圖。
第5圖為本發明光學觸控系統執行觸控影像處理方法之流程圖。
50．．．光學觸控系統
52．．．觸控顯示單元
521．．．座標偵測區
54．．．光學觸控裝置
56．．．光源
58．．．第一取像模組
60．．．第二取像模組
62．．．測距模組
64．．．控制模組

Claims (17)

  1. 一種適用於不同尺寸之觸控顯示單元之光學觸控裝置，其包含有：至少一光源，其係設置於一觸控顯示單元之外側，該至少一光源係用來發射光線，藉以照明於該觸控顯示單元上之一座標偵測區之一物體；一第一取像模組，其係安裝於該觸控顯示單元之一角落，該第一取像模組係用來擷取該物體之影像資料；一第二取像模組，其係安裝於該觸控顯示單元之另一角落，該第二取像模組係用來擷取該物體之影像資料，其中該第一取像模組與該第二取像模組之相對位置係可被調整；一測距模組，其係用來偵測該第一取像模組與該第二取像模組之一距離值；以及一控制模組，其係耦合於該第一取像模組、該第二取像模組以及該測距模組，該控制模組係用來依據該第一取像模組與該第二取像模組所擷取該物體之影像資料以及該測距模組所偵測之該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值，計算該物體於該座標偵測區之一座標值。
  2. 如請求項1所述之光學觸控裝置，其中該控制模組係另用來依據該第一取像模組與該第二取像模組之連線以 及該第一取像模組與該物體之連線所形成之一第一夾角、該第一取像模組與該第二取像模組之連線以及該第二取像模組與該物體之連線所形成之一第二夾角，以及該測距模組所偵測該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值，計算該物體於該座標偵測區之該座標值。
  3. 如請求項2所述之光學觸控裝置，其中該物體於該座標偵測區之一第一方向座標值係為(該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值)*(tan(該第二夾角))/(tan(該第一夾角)+tan(該第二夾角))，且該物體於該座標偵測區之一第二方向座標值係為(該第一方向座標值)*(tan(該第一夾角)。
  4. 如請求項1所述之光學觸控裝置，其中該控制模組係另用來依據該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值、該第一取像模組與該第二取像模組之一最大距離值、該第一取像模組與該第二取像模組之一最小距離值、該第一取像模組與該第二取像模組於該最大距離值時所需之一最大光源強度值與該第一取像模組與該第二取像模組於該最小距離值時所需之一最小光源強度值，決定該至少一光源所發射光線之一強度值。
  5. 如請求項4所述之光學觸控裝置，其中該至少一光源所發射光線之該強度值係為(該最小光源強度值)+[((該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值)-(該最小距離值))*(該最大光源強度值-該最小光源強度值)/(該最 大距離值-該最小距離值)]。
  6. 如請求項1所述之光學觸控裝置，其中該測距模組係為一電子捲尺，其兩端係分別連接於該第一取像模組與該第二取像模組。
  7. 如請求項1所述之光學觸控裝置，其中該測距模組係為一光學測距儀。
  8. 一種光學觸控系統，其包含有：一觸控顯示單元，其上係形成有一座標偵測區；以及一光學觸控裝置，其係結合於該觸控顯示單元，該光學觸控裝置包含有：至少一光源，其係設置於該觸控顯示單元之外側，該至少一光源係用來發射光線，藉以照明於該座標偵測區之一物體；一第一取像模組，其係安裝於該觸控顯示單元之一角落，該第一取像模組係用來擷取該物體之影像資料；一第二取像模組，其係安裝於該觸控顯示單元之另一角落，該第二取像模組係用來擷取該物體之影像資料，其中該第一取像模組與該第二取像模組之相對位置係可被調整；一測距模組，其係用來偵測該第一取像模組與該第二取像模組之一距離值；以及一控制模組，其係耦合於該第一取像模組、該第二 取像模組以及該測距模組，該控制模組係用來依據該第一取像模組與該第二取像模組所擷取該物體之影像資料以及該測距模組所偵測之該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值，計算該物體於該座標偵測區之一座標值。
  9. 如請求項8所述之光學觸控系統，其中該控制模組係另用來依據該第一取像模組與該第二取像模組之連線以及該第一取像模組與該物體之連線所形成之一第一夾角、該第一取像模組與該第二取像模組之連線以及該第二取像模組與該物體之連線所形成之一第二夾角，以及該測距模組所偵測該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值，計算該物體於該座標偵測區之該座標值。
  10. 如請求項9所述之光學觸控系統，其中該物體於該座標偵測區之一第一方向座標值係為(該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值)*(tan(該第二夾角))/(tan(該第一夾角)+tan(該第二夾角))，且該物體於該座標偵測區之一第二方向座標值係為(該第一方向座標值)*(tan(該第一夾角)。
  11. 如請求項8所述之光學觸控系統，其中該控制模組係另用來依據該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值、該第一取像模組與該第二取像模組之一最大距離值、該第一取像模組與該第二取像模組之一最小距離值、該第一取像模組與該第二取像模組於該最大距離值 時所需之一最大光源強度值與該第一取像模組與該第二取像模組於該最小距離值時所需之一最小光源強度值，決定該至少一光源所發射光線之一強度值。
  12. 如請求項11所述之光學觸控系統，其中該至少一光源所發射光線之該強度值係為(該最小光源強度值)+[((該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值)-(該最小距離值))*(該最大光源強度值-該最小光源強度值)/(該最大距離值-該最小距離值)]。
  13. 一種適用於一光學觸控裝置之觸控影像處理方法，其包含有：該光學觸控裝置之至少一光源發射光線以照明一物體；該光學觸控裝置之一第一取像模組與一第二取像模組擷取該物體之影像資料，其中該第一取像模組與該第二取像模組之相對位置係可被調整；偵測該第一取像模組與該第二取像模組之一距離值；以及該光學觸控裝置之一控制模組依據該第一取像模組與該第二取像模組所擷取該物體之影像資料以及所偵測該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值，計算該物體之一座標值。
  14. 如請求項13所述之觸控影像處理方法，其中該光學觸控裝置之該控制模組依據該第一取像模組與該第二取像模組所擷取該物體之影像資料以及所偵測該第一取 像模組與該第二取像模組之該距離值，計算該物體之該座標值包含：該光學觸控裝置之該控制模組依據該第一取像模組與該第二取像模組之連線以及該第一取像模組與該物體之連線所形成之一第一夾角、該第一取像模組與該第二取像模組之連線以及該第二取像模組與該物體之連線所形成之一第二夾角，以及該測距模組所偵測該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值，計算該物體於該座標偵測區之該座標值。
  15. 如請求項14所述之觸控影像處理方法，其中該物體之一第一方向座標值係為(該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值)*(tan(該第二夾角))/(tan(該第一夾角)+tan(該第二夾角))，且該物體之一第二方向座標值係為(該第一方向座標值)*(tan(該第一夾角)。
  16. 如請求項13所述之觸控影像處理方法，其另包含依據該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值、該第一取像模組與該第二取像模組之一最大距離值、該第一取像模組與該第二取像模組之一最小距離值、該第一取像模組與該第二取像模組於該最大距離值時所需之一最大光源強度值與該第一取像模組與該第二取像模組於該最小距離值時所需之一最小光源強度值，決定該光學觸控裝置之該至少一光源所發射光線之一強度值。
  17. 如請求項16所述之觸控影像處理方法，其中該至少一光源所發射光線之該強度值係為(該最小光源強度 值)+[((該第一取像模組與該第二取像模組之該距離值)-(該最小距離值))*(該最大光源強度值-該最小光源強度值)/(該最大距離值-該最小距離值)]。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI636714B (zh) * 2017-10-27 2018-09-21 朝陽科技大學 數位影像化之零組件組裝導引方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI507947B (zh) * 2013-07-12 2015-11-11 Wistron Corp 修正觸控訊號的裝置、系統以及其方法
TWI498794B (zh) * 2013-11-28 2015-09-01 Wistron Corp 光學觸控的感測方法
TWI511006B (zh) * 2014-02-07 2015-12-01 Wistron Corp 光學影像式觸控系統與觸控影像處理方法
US9465486B2 (en) * 2014-07-14 2016-10-11 Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited Portable interactive whiteboard module
TWI506479B (zh) * 2014-07-15 2015-11-01 Quanta Comp Inc 光學觸控系統
TWI562046B (en) * 2015-06-25 2016-12-11 Wistron Corp Optical touch apparatus and width detecting method thereof
TWI578487B (zh) 2015-09-24 2017-04-11 聯詠科技股份有限公司 薄膜覆晶封裝
US11054982B2 (en) * 2017-07-30 2021-07-06 Htc Corporation Electronic device, method and system for detecting fingers and non-transitory computer-readable medium

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4033582B2 (ja) * 1998-06-09 2008-01-16 株式会社リコー 座標入力／検出装置および電子黒板システム
DE19855296C1 (de) * 1998-12-01 2000-08-31 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur Entfernungsmessung mittels eines Halbleiterlasers im sichtbaren Wellenlängenbereich nach dem Laufzeitverfahren
US7460117B2 (en) * 2004-05-25 2008-12-02 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Sliding texture volume rendering
CN101171621B (zh) * 2006-01-06 2012-02-15 夏普株式会社 便携终端装置
WO2007112742A1 (en) * 2006-03-30 2007-10-11 Flatfrog Laboratories Ab A system and a method of determining a position of a scattering/reflecting element on the surface of a radiation transmissive element
US20100207912A1 (en) * 2009-02-13 2010-08-19 Arima Lasers Corp. Detection module and an optical detection system comprising the same
US7932899B2 (en) * 2009-09-01 2011-04-26 Next Holdings Limited Determining the location of touch points in a position detection system
TWI569174B (zh) * 2010-06-01 2017-02-01 林卓毅 可攜式光學觸控系統
US9063616B2 (en) * 2011-06-02 2015-06-23 Uc-Logic Technology Corp. Optical touch device with symmetric light sources and locating method thereof
TWI479390B (zh) * 2011-08-19 2015-04-01 Tpk Touch Solutions Inc 一種光學式觸控系統及其定位方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI636714B (zh) * 2017-10-27 2018-09-21 朝陽科技大學 數位影像化之零組件組裝導引方法

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