TWI528042B - Logic analyzer and its probe - Google Patents

Description

邏輯分析儀及其探棒

本發明係與數位訊號解析有關；特別是指一種邏輯分析儀及其探棒。

隨著數位科技的進步，如電子晶片、液晶螢幕(LCD)之影像處理晶片、互補性氧化金屬半導體(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，CMOS)、以及電荷耦合元件(Charge Coupled Device，CCD)等使用數位訊號傳輸資料之電子裝置日漸普及。隨著數位科技的進步，如電子晶片、液晶螢幕(LCD)之影像處理晶片、互補性氧化金屬半導體(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，CMOS)、以及電荷耦合元件(Charge Coupled Device，CCD)等使用數位訊號傳輸資料之電子裝置日漸普及。

當研發人員在研發具有上述電子裝置時，通常會利用邏輯分析儀來擷取電子裝置所輸出之數位訊號，藉以與一基礎訊號進行比對來分析上述所擷取之數位訊號來判定上述電子裝置之設計是否正常。

然而，習用之邏輯分析儀於分析訊號時，通常是將數位訊號分析後，再將分析結果傳輸至電腦上顯示，而使得研發人員必須一邊將探棒接抵於電子裝置上，並一邊轉頭觀看電腦螢幕上顯示的分析結果，而此舉不僅徒增研發人員檢測時的困難度，當電子裝置之待檢測處數量較多而使用較多探棒時，則容易使得研發人員搞混各探棒對應之檢測頻道，進而容易造成檢測作業的延宕。

有鑑於此，本發明之目的用於提供一種邏輯分析儀及其探棒，可供研發人員快速且準確地知悉各探棒對應之數位訊號的分析結果。

緣以達成上述目的，本發明所提供邏輯分析儀包含一探棒、一第一傳輸線、一顯示幕、一第二傳輸線以及一主機。其中，該探棒用以接抵於一待測物上，以擷取該待測物輸出之數位訊號。該第一傳輸線電性連接該探棒。該顯示幕設置於該探棒上。該第二傳輸線電性連接該顯示幕。該主機電性連接該第一傳輸線以及該第二傳輸線，並供與一電腦電性連接，並用透過該第一傳輸線接收該探棒擷取之數位訊號，並分析該數位訊號，且於分析後，將分析結果傳輸至該電腦上顯示，同時將部分所設定之參數資訊透過該第二傳輸線傳導至該顯示幕上顯示。

藉此，透過上述之設計，研發人員使用該邏輯分析儀時，便可透過該探棒上之顯示幕快速且準確地知悉該探棒所擷取之數位訊號所對應設定之參數資訊。

10‧‧‧探棒

12‧‧‧握持部

121‧‧‧斜面

14‧‧‧探測部

21‧‧‧第一傳輸線

22‧‧‧第二傳輸線

30‧‧‧顯示幕

40‧‧‧主機

100‧‧‧待測物

200‧‧‧電腦

210‧‧‧螢幕

圖1係使用本發明較佳實施例邏輯分析儀之檢測系統。

圖2係本發明較佳實施例之探棒之立體圖。

為能更清楚地說明本發明，茲舉較佳實施例並配合圖示詳細說明如後。請參圖1所示，本發明一較佳實施 例之邏輯分析儀係用以擷取並解析一待測物100所產生之數位訊號，並將分析結果傳輸予一電腦200，且包含有一探棒10、一顯示幕30、一第一傳輸線21、一第二傳輸線22以及一主機40。其中：該探棒10包含有一握持部12以及一探測部14。請參閱圖2，該握持部12係用以供研發人員握持，並以絕緣體製成，且該握持部12之頂端係呈一斜面121。該探測部14係以導體製成，並設置於該握持部12之底端，且於本實施例中，該探測部14一端係呈尖錐狀，用以接抵於該待測物100之待測部位上，以擷取該待測物100輸出之數位訊號。當然，在實際實施上，該探測部14亦可是呈夾子形狀或是其他進行檢測時所須之形狀。

該顯示幕30係設置於該握持部12之斜面121上，而與該探測部14分別位於該握持部12上相反位置之頂端與底端，於本實施例中，該顯示幕30係一液晶螢幕，當然在實際實施上，亦可使用其它可顯示字元之元件代替。

該第一傳輸線21與該第二傳輸線22的一端分別埋設於該握持部12中，且分別與該探測部14以及該顯示幕30電性連接，而透過將該等傳輸線21、22一端埋設於該握持部12中而呈一體之目的，在於避免線材過於混亂而影響研發人員之操作，當然，在實際實施上，更可將該等傳輸線21、22外露於該握持部12之外的部位包裹於一束套(圖未示)內，而可避免該等傳輸線21、22產生線材相互纏繞而影響操作之情事發生。

該主機40設定有複數參數資訊(如波形、頻率、觸發點、擷取之頻道等)，且電性連接該第一傳輸線21以及該第二傳輸線22，並供與該電腦200電性連接。如此一來，當研發人員進行檢測而將該探棒10之探測部14接抵 於該待測物100之待測部位上時，該探棒10擷取之數位訊號透過該第一傳輸線21傳送該主機40後，該主機40便依據所設定之參數資訊進行分析，且於分析後，該主機40便將分析結果傳輸至該電腦200，使該電腦200之螢幕210上顯示分析結果(如波形、頻率、觸發點、擷取之頻道等)，同時將取樣頻率、觸發點與頻道名稱等較為基礎的部分所設定之參數資訊透過該第二傳輸線22傳導至該握持部12上之該顯示幕30顯示。而在本實施例中，該主機40內建有一編譯器用以將該主機40分析之部分所設定之參數資訊編譯成對應之I²C訊號後輸出至該第二傳輸線22，且該顯示幕30內建有一對應之解譯器，用以將解譯該第二傳輸線22傳輸之I²C訊號，而取得該I²C訊號對應之部分所設定之參數資訊(即取樣頻率、觸發點與頻道名稱)，以顯示於該顯示幕30上(如圖2)。

如此一來，研發人員便可於檢測時，直接由該顯示幕30上知悉所擷取之數位訊號的基礎資料，而可快速且確實地知悉所設定之參數資訊對比於該待測物100所產生之訊號，而不會有誤視之情形發生。另外，透過將該探測部14與該顯示幕30分別設置於該握持部12相反兩端之設計，研發人員握持該握持部12而將該探測部14壓抵於該待測物100上進行檢測時，其手部便不會遮蔽到該顯示幕30之呈現，且透過將該顯示幕30設置於該握持部12頂部之斜面121，更可使得研發人員之視線可方便地直視該顯示幕30，而可直接且方便地觀看該顯示幕30顯示之資訊，進而大幅地增加檢測時的便利性。

綜上所述可知悉，研發人員使用該邏輯分析儀時，不僅可透過電腦200之螢幕210觀看分析結果，便可直接透過觀看該探棒10上之該顯示幕30，而可快速且準確地 知悉該探棒10所擷取之數位訊號對應的參數資訊，不僅方便研發人員操作，更可提升研發人員檢測與分析作業之效率。

另外，以上所述僅為本發明較佳可行實施例而已，舉凡應用本發明說明書及申請專利範圍所為之等效變化，理應包含在本發明之專利範圍內。

10‧‧‧探棒

12‧‧‧握持部

14‧‧‧探測部

21‧‧‧第一傳輸線

22‧‧‧第二傳輸線

30‧‧‧顯示幕

40‧‧‧主機

100‧‧‧待測物

200‧‧‧電腦

210‧‧‧螢幕

Claims (10)

1. 一種邏輯分析儀，包括：一探棒，用以接抵於一待測物上，以擷取該待測物輸出之數位訊號；一第一傳輸線，電性連接該探棒；一顯示幕，設置於該探棒上；以及一第二傳輸線，電性連接該顯示幕；以及一主機，設定有複數參數資訊，且電性連接該第一傳輸線以及該第二傳輸線，並供與一電腦電性連接，並用透過該第一傳輸線接收該探棒擷取之數位訊號，並依據所設定之參數資訊分析該數位訊號，且於分析後，將分析結果傳輸至該電腦上顯示，同時將部分所設定之參數資訊透過該第二傳輸線傳導至該顯示幕上顯示；其中該探棒具有一握持部以及一探測部，該握持部係以絕緣體製成，且該顯示幕係設置於該握持部上；該探測部係以導體製成，且與該握持部連接，用以供接抵於該待測物；其中該第一傳導線與該第二傳導線之一端分別埋設於該握持部中，並分別於該探測部以及該顯示幕連接。
2. 如請求項1所述邏輯分析儀，其中該探測部與該顯示幕係分別設置於該握持部相反之兩端。
3. 如請求項1所述邏輯分析儀，其中該握持部之一端具有斜面，且該顯示幕係設置於該斜面上。
4. 一種邏輯分析儀，包括：一探棒，用以接抵於一待測物上，以擷取該待測物輸出之數位訊號；一第一傳輸線，電性連接該探棒；一顯示幕，設置於該探棒上；以及一第二傳輸線，電性連接該顯示幕；以及一主機，設定有複數參數資訊，且電性連接該第一傳輸線以及該第二傳輸線，並供與一電腦電性連接，並用透過該第一傳輸線接收該探棒擷取之數位訊號，並依據所設定之參數資訊分析該數位訊號，且於分析後，將分析結果傳輸至該電腦上顯示，同時將部分所設定之參數資訊透過該第二傳輸線傳導至該顯示幕上顯示；其中，該主機具有一編譯器用以將該主機分析後之部分所設定之參數資訊編譯成一對應之訊號後輸出至該第二傳輸線，且該顯示幕具有一解譯器，用以將解譯該第二傳輸線傳輸之訊號，而取得該訊號對應之部分所設定之參數資訊，以顯示於該顯示幕上。
5. 如請求項4所述邏輯分析儀，其中該編譯器係將該主機分析後之部分結果編譯成I²C訊號，該解譯器係用以解譯該I²C訊號以取得對應之部分所設定之參數資訊。
6. 一種邏輯分析儀，包括：一探棒，用以接抵於一待測物上，以擷取該待測物輸出之數位訊號；一第一傳輸線，電性連接該探棒； 一顯示幕，設置於該探棒上；以及一第二傳輸線，電性連接該顯示幕；以及一主機，設定有複數參數資訊，且電性連接該第一傳輸線以及該第二傳輸線，並供與一電腦電性連接，並用透過該第一傳輸線接收該探棒擷取之數位訊號，並依據所設定之參數資訊分析該數位訊號，且於分析後，將分析結果傳輸至該電腦上顯示，同時將部分所設定之參數資訊透過該第二傳輸線傳導至該顯示幕上顯示；其中該主機係將該數位訊號之取樣頻率、擷取之觸發點以及擷取之頻道名稱其中之一者透過該第二傳輸線傳輸予該顯示幕上顯示。
7. 一種邏輯分析儀之探棒，用以接抵於一待測物上，以擷取該待測物輸出之數位訊號，並傳輸至該邏輯分析儀之主機進行分析；其特徵在於，該探棒上設置有一顯示幕，且該顯示幕顯示有該主機分析該數位訊號所設定之參數資訊；其中係透過一第一傳輸線傳輸該數位訊號至該主機，而該顯示幕則透過一第二傳輸線接收該主機分析該數位訊號後所得之部分所設定之參數資訊。
8. 如請求項7所述之探棒，更具有一握持部以及一探測部，該握持部係以絕緣體製成，且該顯示幕係設置於該握持部上；該探測部係以導體製成，且與該握持部連接，用以供接抵於該待測物。
9. 如請求項8所述探棒，其中該探測部與該顯示幕係分別設置於該握持部相反之兩端。
10. 如請求項8所述探棒，其中該握持部之一端具有斜面，且該顯示幕係設置於該斜面上。